Cristalografia El Trabajo Real

UNIVERSIDAD NACIONAL
Ing. Mecnica y elctrica
TECNOLGICA DEL CONO SUR DE LIMA
ciencia de los materiales
Curso:
Ciencia de los Materiales
Trabajo de investigacin:
Cristalografa
Alumnos:
Gutirrez Chuquispuma
Roggers
Huamn Yucra Jos.
Araucano Bobadilla Arnaldo.
Docente:
Ing. Yarn Achachagua, Anwar
Lima Villa el Salvador 6 de junio del 2012
UNTECS - CRISTALOGRAFIA
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Dedicatoria
A DIOS
Por su amor incomparable, la gua y fortaleza
En cada trabajo realizado.
A NUESTROS QUERIDOS PADRES

Por su apoyo, sacrificio y cario constante
Motivos de superacin para cada da.
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Agradecimiento
A todas las personas que nos engrandecen con su sola compaa.
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OBJETIVOS
Esta investigacin tiene como finalidad otorgar al lector una serie de
informacin general acerca de los diversos procesos de cristalizacin
aplicables a los materiales, as como la forma en que estos se logran, las
cualidades que le otorgan al material y las aplicaciones prcticas que estos
tienen.
Tambin tiene gran importancia lo que se conoce como el eje cristalogrfico,
que es un eje de referencia terico, que tiene el centro de coordenadas en el
centro de simetra terico del cristal.
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Introduccin
Se espera sensibilizar al lector para una mayor apreciacin de cristales

naturales y sus formas. La CRISTALOGRAFA simplemente es un palabra con
un significado elegante:" el estudio de cristales." En alguna ocasin la palabra
cristal slo se refiri a cristal de cuarzo, pero en la actualidad ha asumido una
definicin tan amplia que incluye a todas las formas cristalinas bien
expresadas.
La cristalografa puede estudiarse en muchos niveles, pero no importa cmo
sea, elemental o a profundidad la discusin del tema que se tenga, siempre
ser en algo de geometra y ms an en geometra slida. Pero si se medita
sobre lo cotidiano, es clara la evidencia con que se usa la geometra; cuando
se usa el paraguas, cuando se entrega el correo o cuando se trabaja en la
computadora. La geometra simplemente trata con relaciones espaciales. En
dichas relaciones se ha familiarizado, aunque no se ha profundizado. La
palabra importante aqu es "familiar". Se trata esta serie de artculos para
ayudar a familiarizarse y, por consiguiente estar ms cmodo, con la geometra
involucrada con el estudio de formas cristalinas.
INDICE
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1. CRISTALOGRAFA:
1.1. CONCEPTO.
1.2. CLASIFICACIN:
Cristalografa geomtrica.
Cristalografa qumica.
Cristalografa fsica.
2. CRISTALOGRAFA GEOMTRICA:
2.1. INTRODUCCIN A LA CRISTALOGRAFA:
Antecedentes histricos.
El estado cristalino.
Propiedades de los slidos en estado cristalino.
Cristal. Mono cristal.
Agregado cristalino. Estructura cristalina.
2.2. PERIODICIDAD,
REDES
CRISTALINAS,
SMBOLOS
Y
NOTACIONES:
a) Redes:
Traslacin, red cristalina, plana y espaciales, origen de la red.
Celda elemental y de unidad, parmetro y volumen de celda.
Propiedades de la red cristalina, el cristal como redes paralelas
interpenetradas.
b) Elementos de la red:
Nudos, filas, planos y espaciado reticular, planos tautozonales.
Cara y arista cristalina, densidad reticular, red reciproca.
Relaciones generales entre la red directa y la red reciproca.
2.3. SIMETRA Y REDES:
Simetra contenida en las redes, Concepto de simetra, Operaciones
de simetra, Elementos de simetra.
Traslacin, Rotacin y eje de rotacin, Inversin
Reflexin y plano de reflexin, rotacin inversin y eje de rotacin
inversin.
Rotacin reflexin y eje de rotacin reflexin.
Simetra con traslacin asociada para rotacin - traslacin (de
deslizamiento y ejes helicoidales.
Reglas que condicionan la presencia de varios elementos de simetra
en un mismo grupo puntual.
Sistemas
cristalinos.
Formas
cristalinas.
3. CRISTALOGRAFA QUMICA (CRISTALOQUMICA):
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3.1. ESTRUCTURAS CRISTALINAS:

Introduccin, estructuras cristalinas y enlaces.
Cristales inicos, covalentes y metlicos.
Empaquetados compactos, tamao de los tomos, coordinacin,
reglas de Pauling, posiciones de los tomos.
3.2. MODELOS ESTRUCTURALES BSICOS:
Estructuras cbicas compactas, hexagonales compacta y cubicas
centradas en el interior.
Estructuras derivadas de cubicas compactas.
o Estructuras tipo halita (NaCl).
o Estructuras tipo fluorita (CaF2) y antifluorita.
o Estructuras tipo esfalerita (ZnS).
o Estructura del diamante.
Estructuras derivadas de las hexagonales compactas.
o Estructuras tipo niquelita (NiAs).
o Estructuras tipo wurtzita (ZnS).
Otros tipos estructurales.
o Estructura tipo (CsCl).
o Estructura de la calcita (CaCO3).
o Estructura de la espinela (AB2O4).
Estructuras de los silicatos.
4. CRISTALOGRAFA FSICA (CRISTALOFSICA):
5.1. SIMETRA Y PROPIEDADES FSICAS:
Introduccin
Propiedades escalares: densidad, peso especfico, calor especfico.
4.2. LOS CRISTALES Y LOS RAYOS X:
La naturaleza y produccion de los rayos X. tubo de rayos X.
Espectro continuo y caracteristico. Teoria de la difraccin de rayos X.
Ecuaciones de Laue. Ley de Bragg. Esfera de Ewald.
Intensidad de los rayos X. Factor de difusin atmica. Factor de
estructura.
Simetra de los efectos de difraccin. Clases de Laue.
Mtodos de difraccin de rayos X. Aplicaciones en cristales y
minerales.
5. APLICACIN:
6. GRAFICAS:
7. FORMULAS:
8. EJEMPLOS:
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9. CONCUSIONES:
10.
BIBLIOGRAFIAS:
CRISTALOGRAFA GEOMTRICA
1.1 INTRODUCCION A LA CRISTALOGRAFIA
ANTECEDENTES HISTORICOS:
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El nacimiento de la cristalografa como ciencia se considera en le

momento en que Stense presenta la constancia de los ngulos diedros
de las caras de los cristales de cuarzo, aunque fuera Rome de l`Isle el
que generalizara posteriormente sus descubrimientos.
El descubrimiento de los elementos y las posibilidades de los anlisis
qumicos dieron pie a una de las grandes controversias en el mundo de
la Cristalografa: la que afecto al polimorfismo del carbono clcico. Otro
problema fue el isomorfismo. La configuracin de los procesos que
explicase estos fenmenos ha sido de gran importancia en la
Cristalografa y mineraloga.
A la Ciencia rusa se debe importantes progresos en el dominio de la
cristalografa, personalmente a federov, por su obra simetria de los
sistemas regulares de las figuras(1890).
Los descubrimientos del fsico M. Laue, en 1912, sobre la difraccin de
los rayos X al pasar por un cristal y las investigaciones posteriores en
este campo, llevados a cabo por el fsico ruso G. Wulff, los Bragg (padre
e hijo), Pauling y otros, permitieron comprobar con toda claridad la
estrecha relacin que existe entre la estructura cristalina de los
minerales, su composicin qumica y propiedades fsicas.
Son tambin de suma importancia las realizaciones en el dominio de la
Qumica Fsica y, en particular, en la teora de las fases y de los
equilibrios de los sistemas fsicos - qumicos. En este campo se debe
mucho a Gibbs, autor de la teora de las fases.
ESTADO CRISTALINO:
Es el estado de equilibrio termodinmico de un slido que bajo unas
condiciones termodinmicas (P y T) y con una composicin determinada
le corresponde una determinada estructura cristalina.
La Unin Internacional de cristalografa redefini en 1992 el termino de
cristal, en el sentido ms amplio de material en estado cristalino, con el
objetivo de dar cabida a un nuevo tipo de ordenamiento de los
constituyentes atmicos del mismo en el espacio.
As, actualmente se entiende por material en estado cristalino a
cualquier solido que posea un diagrama de difraccin esencialmente
discreto de este modo la periosidad microscpica es una condicin
suficiente, pero no necesaria para la condicin del cristal. As se puede
distinguir entre materiales en estados cristalinos peridicos y
aperidicos.
La principal propiedad es la Periodicidad:
De la que se derivan otras caractersticas macroscpicas que son la:
homogeneidad anisotropa y simetra.
Homogeneidad
Desde el punto de vista macroscpico, significa
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Invariabilidad de una propiedad F medida en un punto x, en relacin a su

medida en otro punto x + x', es decir,
F(x) = F(x + x')
Ecuacin 1
De la condicin de homogeneidad se obtiene, a nivel macroscpico, la
constancia de la composicin qumica y estado de fase a travs de todo
el volumen de la sustancia en estado cristalino.
El concepto de homogeneidad hace que se pueda considerar a una
sustancia en estado cristalino como un continuo.
Este concepto es muy importante en Cristalografa ya que se pueden dar
descripciones fenomenolgicas de muchas propiedades fsicas de los
cristales sin hacer referencia a su estructura atmica discreta. Cuando se
consideran las propiedades fsicas de los cristales a nivel macroscpico,
se trata con distancias considerablemente mayores que el espaciado
interplanar y con volmenes que exceden con mucho el de la celda
unidad.
Anisotropa
Existen ciertas propiedades de los cristales que son independientes de la
direccin en la que se miden; se dice que son propiedades escalares,
como el peso especfico, la capacidad calorfica, etc.
Existen otras propiedades que dependen de la direccin en la que se
miden; de algunas se dice que son propiedades vectoriales y de otras,
tensoriales, como la conductividad trmica, la constante dielctrica, el
ndice de refraccin, etc.
Si la descripcin de una propiedad es independiente de cualquier
orientacin, se dice que la sustancia es istropa respecto a esa
propiedad.
Si una propiedad es dependiente de la orientacin, se dice que la
sustancia es anistropa para dicha propiedad.
En cualquier caso, una sustancia en estado cristalino siempre ser
anistropa para alguna propiedad, como puede ser la diferente
disposicin de los tomos a lo largo de distintas direcciones (anisotropa
estructural).
Simetra
Es la propiedad que hace que un objeto no se distinga de su posicin
original despus de haberle aplicado una transformacin.
Teniendo en cuenta estas caractersticas, a nivel macroscpico,
podemos definir a una sustancia en estado cristalino como un medio
homogneo continuo, anistropo y simtrico.
Sin embargo, como se ver ms adelante, una sustancia en estado
cristalino no es un ente esttico, ya que los tomos vibran y lo hacen en
a sus propiedades fsicas, mostrando defectos y variaciones locales de su
composicin y tambin una desviacin de la estructura respecto de lo ideal.
Estas imperfecciones no se consideran cuando se trata al medio cristalino
desde un punto de vista macroscpico.
Habr sustancias cuyas propiedades sean poco sensibles a defectos
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estructurales y puedan ser descritos utilizando un modelo de cristal ideal; en

otras habr que considerar su estructura real, ya que presentarn propiedades
que dependern en mayor o menor extensin de los defectos estructurales.
CRISTAL
Se define como un slido en estado cristalino que bajo determinadas
condiciones de formacin aparece con la forma de un poliedro, es decir,
limitado por caras cristalinas.
Ejemplos: En la Figura, se puede apreciar un cristal de granate presentando
caras (superficies planas limitando el cristal) en forma de rombo.
MONOCRISTAL:
Se define como cristal nico.
Ejemplo: Cada uno de los cristales de granate espesartita de la imagen
inferior constituye un monocristal porque est constituido por un nico
cristal.
AGREGADO CRISTALINO:
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Se define como un grupo de cristalitos (cristales de tamao pequeo) que

crecen juntos. Pueden aparecer con diversas formas.
Ejemplos de agregados: En la Figura de la izquierda puede apreciarse un

agregado radial de cristales de wavellita, en la del centro un agregado botroidal
y en la figura de la derecha una geoda de cuarzo amatista.
ESTRUCTURA CRISTALINA:
Es la disposicin peridica y ordenada en el espacio de tres dimensiones de los
constituyentes atmicos de un slido en estado cristalino.
Ejemplo: El cristal de halita (Figura 1.3 derecha) est constituido por iones cloro
e sodio dispuestos en el espacio (Figura 1.3 izquierda).
AGREGADO CRISTALINO:
Se define como un grupo de cristalitos (cristales de tamao pequeo) que

crecen juntos. Pueden aparecer con diversas formas.
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Ejemplos de agregados: En la Figura de la izquierda puede apreciarse un

agregado radial de cristales de wavellita, en la del centro un agregado botroidal
y en la figura de la derecha una geoda de cuarzo amatista.
ESTRUCTURA CRISTALINA:
Es la disposicin peridica y ordenada en el espacio de tres dimensiones de los
constituyentes atmicos de un slido en estado cristalino.
Ejemplo: El cristal de halita (Figura 1.3 derecha) est constituido por iones cloro
e sodio dispuestos en el espacio (Figura 1.3 izquierda).
1.2 PERIODICIDAD, REDES CRISTALINAS, SMBOLOS Y NOTACIONES

TRASLACION:
Es la distancia, a la que se repite el motivo en la estructura cristalina,
paralela e idnticamente a lo largo de una direccin dada (figura).
Debido a ello, y como esta repeticin montona del motivo constituye la
caracterstica fundamental de un cristal, el medio cristalino puede
abstraerse de su contenido material y tratarlo nicamente en funcin de
las traslaciones presentes.
Esta abstraccin constituye lo que se llama teora de las redes
cristalinas.
La traslacin es una transformacin, es decir una operacin de simetra.
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Es la operacin de simetra ms simple e inherente a la estructura

cristalina, por eso se le denomina simetra trivial.
La traslacin se representa por un vector llamado vector de traslacin ,y
se define por su direccin y mdulo.
Traslaciones fundamentales o unidad son las traslaciones ms
pequeas en las tres direcciones del espacio.
o sus mdulos se representan por a, b y c, se les asigna el valor
unidad.
o Este tro de traslaciones constituye el sistema de coordenadas de
la red.
Se les denomina constantes reticulares debido a que sus
valores son fijos para un cristal.
se expresan por los mdulos mencionados - a, b y c- y por
los ngulos entre ellos , y .
RED CRISTALINA:
Definiciones:
1. Es una representacin tridimensional del motivo que se repite en
la estructura cristalina.
o En la Figura se muestra a una imagen de la estructura del mineral
cordierita tomada (con un microscopio electrnico de transmisin1
(TEM) (en A. Putnis, 1992: Introduction to Mineral Sciences,
Cambridge University Press).
En ella, las manchas negras representas huecos y cada mancha

blanca representa una regin con alta densidad electrnica y
podra corresponderse con cada uno de los tetraedros
imaginarios en los que los vrtices estaran ocupados por oxgeno
y el centro por silicio. La distancia entre dos manchas negras
equivalentes es de 9,7 .
Representacin tridimensional de la simetra traslacional de la
estructura cristalina.
Disposicin de nudos a lo largo de tres direcciones.
Conjunto de planos reticulares paralelos e idnticos, debido a que
la extensin de las redes infinita. En este caso, a este conjunto de
planos lo denominaremos familia de planos (hkl).
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Red mono dimensional

Es una disposicin de nudos a lo largo de una direccin, como la de la
Figura.
Red bidimensional
Es una disposicin de nudos a lo largo de dos direcciones, como la de la
Figura.
REDES PLANAS:
Hay 5 redes planas. Las relaciones entre las traslaciones fundamentales
y el ngulo entre ellas pueden apreciarse en la Tabla.
REDES ESPACIALES:
Son 14 y se denominan redes de Bravais.
Se obtienen por apilamiento de las redes planas.
Pueden ser primitivas y mltiples; o Las primitivas se simbolizan por P.
Las mltiples pueden ser:
o centradas en las bases (A, B C).
o centradas en las caras (F).
o centradas en el interior (I).
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o Se denominan segn sean las relaciones entre las traslaciones

fundamentales y el ngulo entre ellas, como figuran en la Tabla.
ORIGEN DE LA RED:
Es un punto de la red elegido como punto inicial en la descripcin de
una red.
Puede elegirse en cualquier posicin de la estructura cristalina y no
necesita coincidir con ningn tomo o in.
CELDA ELEMENTAL:
Es un paraleleppedo limitado por las traslaciones fundamentales no
coplanares en una red y constituye la parte ms pequea caracterstica
del cristal.
o Celda elemental primitiva es la que contiene un nudo de la red.
o Celda elemental mltiple contiene ms de un nudo de la red.
Ejemplos de ellas pueden observarse en la Figura.
(Las celdas A y B son primitivas y la B es mltiple).

Las celdas elementales (Tabla 2.3) son 14 y se denominan como las
correspondientes redes de Bravais.
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CELDA UNIDAD:
Celda apropiada primitiva o mltiple, seleccionada de acuerdo a unos
requisitos.
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PARMETROS DE CELDA
Son las traslaciones fundamentales a, b, c y los ngulos entre ellas , y en
la Figura.
VOLUMEN DE CELDA:
Viene dado por la ecuacin:
PROPIEDADES DE LA RED CRISTALINA:

La red debe caracterizarse por las mismas propiedades que los materiales en
estado cristalino, ya que stos pueden tratarse con el concepto de red.
Dichas propiedades son:
Homogeneidad
En una red todos los nudos son equivalentes, no se distinguen entre ellos. La
distribucin de nudos alrededor de uno dado es la misma, independientemente
del nudo tomado como referencia (en la Figura 2.7 el nudo 0 coloreado en azul
o el coloreado en rojo).
Anisotropa
En la red todos los nudos son equivalentes, pero la distancia de un nudo a sus
vecinos no es constante, depende de la direccin que se tome para medir dicha
distancia.
Ejemplo: La distancia desde el origen O a cualquier otro nudo a su alrededor
(A, B o C) no es la misma.
OA<OB>OC
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Simetra:
La aplicacin de una traslacin (simetra trivial) b a un nudo O tomado
como origen genera otros nudos 1, 2 equivalentes a l (ver Figura).
EL CRISTAL COMO REDES PARALELAS INTERPENETRADAS:

El cristal, en realidad, est formado por un nmero infinito de redes
paralelas y de dimensiones constantes, interpenetradas entre s.
En el NaCl se pueden considerar dos redes:

1. una la formada a partir de los iones Cl-, tomando este in como motivo
de repeticin.
2. otra formada a partir de los iones Na+, tomando este in como motivo de
repeticin.
Ambas son idnticas en dimensiones y son paralelas, pero una de ellas est
desplazada 1/2 de la traslacin, en las tres dimensiones del espacio,
respecto de la otra.
Sin embargo, el cristal queda definido por una nica red, tanto dara
describirlo mediante la red de los iones cloro (nudos y entramado verde),
como la de los iones sodio (nudos y entramado marrn).
ELEMENTOS DE LA RED: NUDO:

Es un punto equivalente por la traslacin.
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El nudo de la red cristalina sustituye al motivo que se repite en la

estuctura cristalina.
En la red cristalina existen puntos, adems de los nudos.
Los puntos no son equivalentes y se sitan entre los nudos.
Los tomos en la estructura cristalina pueden ocupar la posicin de un
nudo o de un punto, considerando el concepto de red.
La posicin de un nudo puede especificarse mediante una traslacin t:
m, n y p son las coordenadas de un nudo de la red referidas a un nudo

que se toma como origen del sistema de coordenadas, definido por a, b
y c.
La posicin de un punto B cualquiera como el de la Figura 2.11 se puede
especificar por el vector:
r es la distancia entre el punto B y el origen.

ri es la distancia entre el punto A y el origen. Viene definida por:
ri = xia + yib + zic
xi, yi y zi son las coordenadas del punto definido por ri y son tres
nmeros positivos menores que la unidad. Todos los puntos definidos
por ri ocupan un espacio limitado por las traslaciones fundamentales, es
decir, constituyen la celda elemental.
Este espacio llena todo el espacio cristalino aplicndole las traslaciones
fundamentales.
El punto B queda especificado por el vector
r = ri + (2a+4b)
ELEMENTOS DE LA RED: FILA RETICULAR:

Es una disposicin de nudos a lo largo de una direccin.
o Una direccin de red es, por lo tanto, una direccin que contiene
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nudos.
o Cada par de nudos de la red define una fila reticular.
SMBOLO DE FILA RETICULAR
Son las coordenadas p, q y r de un nudo de la red, contiguo a otro nudo
tomado como origen se escriben entre corchetes, [pqr], describen
totalmente a la fila reticular.
Se denominan filas fundamentales de la red a las filas con smbolos
[100], [010] y [001],
son paralelas respectivamente a las traslaciones fundamentales a, b y c.

Definen las aristas de la celda elemental de la red.
ELEMENTOS DE LA RED: PLANO RETICULAR:

Es una disposicin de nudos a lo largo de dos direcciones.
Cada tro de nudos no dispuestos en una misma direccin de la red
definen un plano reticular.
SIMBOLO DE UN PLANO RETICULAR
Parmetros de Weiss
Son las intersecciones de un plano reticular con las traslaciones
fundamentales.
ndices de Miller
Serie de tres nmeros enteros positivos o negativos entre parntesis,
(hkl), que se refieren a las intersecciones de un plano con las
traslaciones fundamentales.
Cuando aparece un nmero negativo se sita una rayita encima de l;
ejemplo:
y se lee uno menos, dos, cero.
Si aparecen nmeros de 2 dgitos se ponen separados por comas;
ejemplo: (10,2,2).
El plano ms prximo al origen de una familia de planos y que pase por
tres nudos, uno en cada fila fundamental de la red, es aqul cuyas
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coordenadas son:
A=Ha, B=Kb y C=Lc
donde:
H, K y L son las intersecciones del plano con las filas fundamentales, es
decir los parmetros de Weiss a, b y c son las traslaciones
fundamentales.
El nmero de planos existentes entre el plano con coordenadas A, B y C
y el origen de la red viene dado por el producto HxKxL=N.
Los cocientes N/H=h, N/K=k y N/L=l, son nmeros enteros y se
denominan ndices de Miller. Son los inversos de los parmetros de
Weiss.
En esta figura se muestra el plano AB, paralelo al eje cristalogrfico c,
por lo que sus ndices de Miller son (320).
Los planos cristalinos que cortan a los tres ejes de coordenadas de la
red se
simbolizan por (hkl).
El ms sencillo es el (111).
Los planos que cortan a dos ejes y son paralelos al tercero se simbolizan
por (hk0), (h0l) y (0kl), segn que sean parelos al eje c, al b o al a,
respectivamente.
Los ms sencillos son los planos (110), (101) y (011).
Los planos que cortan a un eje y son paralelos a los otros dos se
simbolizan por (h00), (0k0) y (00l).
Los planos de smbolo ms sencillo son (100), (010) y (001) y se les
denomina planos fundamentales.
Definen las caras de la celda elemental de la red.
Los planos con mayor densidad de nudos son los que tienen ndices de
Miller ms simples y constituyen caras cristalinas.
LEY DE NDICES RACIONALES

Ya desde antiguo, al estudiar los cristales se descubri que para
determinadas caras los ndices podan expresarse por nmeros enteros
simples o por ceros. Se trata de la ley de los ndices racionales.
ESPACIADO RETICULAR:
Es la distancia entre los planos de una familia de planos (ver Figura
2.14).
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Se mide sobre la perpendicular a los planos de la familia.

El espaciado de una familia de planos (hkl) se simboliza por dhkl y es
caracterstico de cada familia.
Est relacionado con las constantes reticulares y con los ndices de

Miller mediante una expresin, que para el caso ms general es:
PLANOS TAUTOZONALES:
Conjunto de planos no paralelos que se caracterizan por tener una arista
comn, es decir, son paralelos a una direccin cristalogrfica
denominada eje de zona y cuyo smbolo es [uvw].
En la Figura 2.15 pueden observarse algunas familias de planos
paralelas al eje c (perpendicular al plano de la pantalla).
Tambin se puede observar que cada conjunto de planos paralelos,
idnticos e igualmente distanciados tienen el mismo smbolo y la misma
densidad reticular.
La condicin para que un plano (hkl) sea paralelo a un eje [uvw] viene
dada por la ley de zonas de Weiss:
hu + kv + lw = 0
Si dos planos (hkl) y (h'k'l') pertenecen a la misma zona o lo que es lo
mismo, son paralelos a la misma direccin cristalogrfica [uvw] debe
cumplirse:
hu + kv + lw = 0
h'u + k'v + l'w = 0
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Resolviendo ambas ecuaciones se obtiene el smbolo del eje de zona.

u = hl' - lk'
v = lh' - hl'
w = hk' - kl'
CARA CRISTALINA:
Es la manifestacin en el cristal de planos que se caracterizan por
poseer la mayor densidad reticular plana y como ndices de Miller
nmeros sencillos.
Ejemplo: En la Figura 2.16 pueden apreciarse diferentes superficies
planas numeradas, limitando el cristal de pirita, que son caras cristalinas.
ARISTA DE UN CRISTAL:
Es la manifestacin en el cristal de una fila reticular que se caracteriza
por poseer la mayor densidad reticular lineal y tener el smbolo de eje
ms sencillo.
En la imagen de cristal de yeso (Figura 2.17) se ha remarcado con trazo
discontinuo rojo alguna arista.
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DENSIDAD RETICULAR:
o
o
o
o
Densidad reticular lineal

Es el nmero de nudos por unidad de longitud.
Es el inverso del mdulo del vector de traslacin.
Las filas de ndices de Miller ms sencillos son las que tienen mayor
densidad de nudos. Estas son: [100], [010] y [001].
o Densidad reticular plana

o Es el nmero de nudos por unidad de superficie.
o Es el inverso del rea,
o Los planos de mayor densidad reticular son los que tienen un
espaciado mayor.
o Densidad reticular espacial Es el nmero de nudos por unidad de
volumen. Es el inverso del volumen.
RED RECPROCA:
Como su nombre indica, la recproca de la red cristalina o red directa.
Se obtiene de la siguiente manera.
Se toma un punto cualquiera de la red directa como origen de la nueva
red, se trazan las perpendiculares a los planos fundamentales de la red
directa -(100), 010) y (001)- es decir, se trazan los espaciados
interplanares d100, d010 y d001 que se toman como ejes de
coordenadas de la red recproca.
RELACIONES ENTRE LA RED DIRECTA Y LA RECPROCA:
Una de las caractersticas de la red recproca es poseer la misma
simetra que la red directa, cuando se considera la mtrica de la red.
o A cada red directa le corresponde una sla red recproca.
o Toda red recproca posee la misma simetra que la red directa de la que
procede.
o Una red recproca deriva de la red directa primitiva por giro de 90
alrededor del nudo tomado como origen.
o Si la red directa es centrada en el interior, su recproca ser de caras
centradas.
o Si la red directa es de caras centradas, su recproca ser centrada en el
interior.
o Si la red directa es de caras centradas, su recproca ser centrada en el
interior.
o Si la red directa es primitiva su recproca tambin lo es.
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1.3 SIMETRA:
Concepto:
Es aquella transformacin que al aplicarse a un objeto hace que ste
conserve todas sus dimensiones, y lo deje en una posicin indistinguible
de su posicin original. Definicin, en el medio cristalino, es la simple
traslacin entre un motivo y otro.
La celda unidad es la porcin mnima del espacio cristalino que contiene
en s misma toda la simetra de la red cristalina. El medio cristalino, por
ser peridico, es un medio simtrico, y todas sus propiedades derivan de
este hecho.
Elementos de simetra:
Los elementos de simetra puntual (la operacin de simetra deja un
punto particular del diagrama inmvil), sin traslacin, son:
El plano de simetra, el eje de rotacin y el centro de simetra o centro de
inversin.
El plano de simetra,( m) o de reflexin: refleja partes, o todos, idnticos del

objeto a travs de un plano.
El eje de rotacin: origina una rotacin al objeto de 360/n alrededor del eje
(de derecha a izquierda).
eje monario
n=1 (360/1=360)
(perpendicular
eje binario
al
plano)
(paralelo al
n=2 (360/2=180)
plano)
eje ternario
n=3 (360/3=120)
eje cuaternario
n=4 (360/4=90)
eje senario
n=6 (360/6=60)
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(La restriccin cristalogrfica limita los giros permisibles a estos cinco para
que su orden sea compatible con la existencia de redes.)
Las combinaciones de ambos elementos de simetra originan los ejes de
rotacin impropios:
- eje de rotorreflexin, rotacin de 360/n seguida por reflexin en un plano
perpendicular al eje.
- eje de rotoinversin, rotacin de 360/n seguida por inversin a travs de un
punto en el eje.
orden 1
orden 3
orden 4
orden 6
* Nota: Los ejes de rotoinversin se representan por el orden del eje (2, 3, 4 o
6) con el smbolo negativo encima de ellos. En esta Web, ese smbolo se
identifica tambin por el signo negativo bien delante o inferior al nmero de
orden del eje.
Pgina 27
(el esquema superior representa una rotoreflexin de orden 4, y el inferior una

rotoinversin del mismo orden)
el centro de simetra, i, o centro de inversin: es un elemento de

simetra puntual que invierte el objeto a travs de una lnea recta.
1.4 COMBINACIN DE ELEMENTOS DE SIMETRIA:

La combinacin de elementos de simetra no se produce al azar, est regida
por una serie de normas y limitaciones que son:
Los elementos que se combinan guardan unas relaciones angulares
caractersticas.
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La combinacin de algunos elementos de simetra genera directamente

la presencia de otros
o Eje de orden par + centro de simetra ------- plano de simetra
perpendicular al eje
o Eje de orden n contenido en un plano de simetra -------- n-1 planos
de simetra que interceptan en el eje
o Dos ejes que se cortan --------- un tercer eje que pasa por el punto
de corte (entre propios e impropios slo es posible: un propio y dos
impropios)
o Eje de orden n + eje binario perpendicular -------- n-1 ejes binarios
tambin normales a l
o Eje de inversin de orden n(impar) + eje binario perpendicular -------n ejes binarios y planos de simetra
o Eje de inversin de orden n(par) + eje binario perpendicular -------n/2 ejes binarios y planos de simetra
o Los ejes de inversin realizan una operacin de simetra equivalente
a la de dos elementos de simetra (excepto el de orden 4)
3=3+i
Eje de rotoinversin de orden impar = eje propio del mismo orden +
centro de simetra
(6 = 3 + m)
Eje de rotoinversin de orden par = eje propio de mitad de orden +
un plano de simetra perpendicular a l
1.5 CLASES DE SIMETRA:
Es fcil prever que en el medio cristalino los elementos de simetra se

combinan entre s hasta engendrar los modelos cristalinos regulares, que se
combinan de treinta y dos maneras distintas y dan lugar a las treinta y dos
posibles clases cristalinas o grupos puntuales (la operacin de simetra
deja un punto particular del diagrama inmvil) existentes.
Estas treinta y dos clases cristalinas se han obtenido mediante las siguientes
combinaciones de elementos de simetra:
DIFRACCIN DE RAYOS X
Introduccin
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Aunque los grupos espaciales caractericen la estructura interna del material

cristalino, las relaciones angulares entre las caras de un cristal no quedan
afectadas por la simetra de traslacin ya que originan desplazamientos tan
pequeos que no pueden observarse morfolgicamente. Slo las tcnicas de
rayos X y difraccin electrnica permiten su deteccin.
La cristalografa de rayos X nos proporciona la imagen ms adecuada que
podemos tener de las estructuras cristalinas. Los mtodos de difraccin de
rayos X han constitudo y constituyen la herramienta ms poderosa de que se
dispone para el estudio de la estructura ntima de la materia cristalina, dotando
de una extensa base de resultados estructurales a la qumica, a la mineraloga
y a la biologa, donde el impacto que ha originado ha sido absolutamente
revolucionario.
Una vez que se comprende el orden interno del medio cristalino se est en
disposicin de estudiar la determinacin de la geometra de la celda unidad,
mediante difraccin de rayos X, para obtener las dimensiones de la celda
unidad, el tipo de retculo, el sistema cristalino y los posibles grupos espaciales.
El estudio de la dependencia de las intensidades de los haces de rayos
refractados de las posiciones de los tomos dentro de una celda unidad, y el
estudio de los mtodos para obtener las posiciones atmicas a partir de valores
experimentales de las intensidades constituye en campo profundo de estudio
de la qumica inorgnica y la qumico-fsica.
El descubrimiento de la difraccin de rayos X

La mayor parte de la informacin que poseemos de las estructuras internas
cristalinas es mediante la tcnica de difraccin de rayos X. De Broglie y de
Thompson cada uno por su cuenta demostraron que era posible difractar la
luz.
La luz como onda que es puede ser desdoblada en haces mediante una rejilla
de difraccin que consiste en una serie de lneas muy cercanas y regularmente
espaciadas trazadas en una superficie plana. La difraccin de la luz se produce
si su longitud de onda es prcticamente la misma que la distancia que hay
entre las lneas trazadas.
De la relacin de De Broglie es posible calcular el espaciamiento aproximado
de las lneas que difractaran un haz de electrones: sera del orden de 1.8 x 10 -8
m o lo que es lo mismo 18 nm (nanmetros). Crear una rejilla con esta
separacin es materialmente imposible, pero afortunadamente existen rejillas
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naturales representadas por los cristales naturales cuyos espaciados

reticulares son de algunos nm y que por tanto son capaces de difractar los
electrones.
Los rayos X fueron descubiertos accidentalmente por Wilhelm Conrad
Rntgen en 1895 cuando experimentaba con la produccin de rayos catdicos
en tubos de descarga cubiertos con papel negro. Descubri que el haz de
electrones producido en el ctodo incida en el vidrio del tubo y produca una
radiacin X de pequea intensidad. No obstante, Rntgen no lleg a determinar
la longitud de onda de ese nuevo tipo de radiacin electromagntica.
En 1912, el fsico alemn Max Von Laue y su equipo, sugirieron que los
tomos de un cristal estn espaciados a una distancia tan pequea que les
permite servir como elementos de una rejilla de difraccin tridimensional para
los rayos X
Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de cobre, CuSO 4. 5H2O al

que se le someti a la accin de los rayos X haciendo que el haz incidiera en
una placa fotogrfica. El resultado fue la impresin de la placa por una serie de
manchas distribuidas geomtricamente alrededor de una mancha central
grande producida por el haz directo de rayos X demostrndose as que se
produca difraccin. Este era el comienzo de la cristalografa de rayos X. La
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disposicin de los puntos resultantes del modelo de Laue depende de las

disposiciones relativas de los tomos del cristal.
ECUACIONES DE LAUE
LEY DE BRAGG
Tras el descubrimiento de los rayos X en 1895 por Rntgen, en 1912 von Laue,
basndose en tres hiptesis (que el medio cristalino es peridico, que los rayos
X son ondas, y que la longitud de onda de los rayos X es del mismo orden de
magnitud que la distancia que se repite en los cristales) confirm la difraccin
de rayos X (DRX) y dio la pauta para el comienzo de la ciencia de la
Cristalografa de rayos X.
Poco despus, Bragg descubri que la geometra del proceso de DRX es
anloga a la reflexin de la luz por un espejo plano. As, en una estructura
cristalina tridimensional, debido a su periodicidad, es posible construir
conjuntos de muchos planos que son paralelos entre s, igualmente espaciados
(distancias perpendiculares mnimas) y conteniendo idnticas disposiciones
atmicas. El proceso consiste en la dispersin de los rayos X por las nubes
electrnicas que rodean a los tomos del cristal originando un patrn de
difraccin regular (al igual que la estructura atmica del cristal), resultado de la
interferencia constructiva y destructiva de la radiacin dispersada por todos los
tomos.
Las circunstancias en las que el resultado de esta interferencia es constructivo
vienen reguladas por la ecuacin de Bragg, que no suministra ms informacin
que la dada por las ecuaciones de von Laue, pero s facilita enormemente la
interpretacin del resultado.
El modelo geomtrico de la DRX es complicado debido a que las longitudes de
onda de los rayos X son aproximadamente comparables a los espaciados entre
planos reticulares del cristal. Los patrones de DRX de los cristales ofrecen una
cierta representacin de la red del cristal, que variar su grado de distorsin
segn el mtodo utilizado: luz policromtica o filtrada, cristal oscilatorio, etc.
El mecanismo de la difraccin
La difraccin de las ondas electromagnticas se produce porque los elementos
de una rejilla, absorben la radiacin y actan a su vez como fuentes
secundarias remetiendo la radiacin en todas direcciones. Cuando hacemos
incidir un haz de rayos X sobre un cristal, ste choca con los tomos haciendo
que los electrones que se encuentren en su trayectoria vibren con una
frecuencia idntica a la de la radiacin incidente. Estos electrones actan como
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fuentes secundarias de nuevos frentes de onda de rayos X con la misma

longitud de onda y frecuencia.
Cuando un cristal difracta rayos X, las ondas dispersadas electromagnticas
remetidas interfieren entre s constructivamente slo en algunas direcciones, es
decir se refuerzan, anulndose en el resto. Los rayos 1 y 2 estarn en fase y
por tanto se producir difraccin cuando la distancia AB represente un nmero
entero de longitud de onda, esto es cuando AB=n , siendo n un nmero entero
(0, 1, 2, 3...n).
Para cada n el ngulo es constante y el conjunto de los rayos difractados

forma un cono cuyo eje central est formado por una fila de tomos. Ese cono
tiene otro simtrico al otro lado del haz incidente.
(En la figura ha quedado representado cada cono formado por un conjunto de
haces difractados correspondientes a cada n)
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Para que la difraccin tenga lugar en las tres dimensiones de un cristal es

necesario que se satisfagan las siguientes tres ecuaciones conocidas como
ecuaciones de Laue:
a(cos 1 cos 2) = h (eje X)
b(cos 1 cos 2) = k (eje Y)
c(cos 1 cos 2) = l (eje Z)
Donde:
a, b y c son las distancias reticulares en las tres dimensiones;
h, k, l son nmeros enteros;
(, , )1 representa el ngulo entre el haz incidente y la fila de tomos
y (,, )2 entre sta y el haz difractado en cada una de las dimensiones.
As para que se produzca un haz difractado es necesario que tres conjuntos de
conos representantes de tres posibles soluciones de las ecuaciones de Laue
deben intersectarse a lo largo de tal direccin. Esto sucede en rarsimas
ocasiones por lo que en la prctica se utiliza la ecuacin propuesta por Bragg.
La ecuacin de Bragg
Bragg se dio cuenta que los rayos X dispersados por todos los puntos de la red
en un plano (hkl) deban estar en fase para que las ecuaciones de Laue se
vieran sastisfechas y an ms, la dispersin a partir de sucesivos planos (hkl)
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deban estar as mismo en fase. Para una diferencia de fase igual a cero las
leyes de la simple reflexin deben mantenerse para un plano sencillo y la
diferencia de camino para reflexiones de planos sucesivos debe ser un nmero
entero de longitudes de onda .
En la figura presentada arriba se ve como un haz incidente es difractado por

dos planos sucesivos hkl con espaciado interplanar d hkl. La diferencia de
camino recorrido por los dos haces de planos sucesivos viene dada por la
ecuacin
AB+BC = 2dhkl sen ,
y de ah la condicin para que la difraccin sea mxima:
2dhkl sen = n
Bragg encontr que las trayectorias de difraccin en los cristales podan
explicarse como si hubieran producido por reflexin de rayos X por planos hkl,
pero slo cuando la ecuacin se satisface.
La mayor aplicacin de la ley de Bragg se encuentra en la interpretacin de
diagramas de difraccin de rayos X de cristales completamente pulverizados
(diagramas de polvo). A partir del mtodo de difraccin del polvo se determinan
los parmetros de la red y en algunos casos las estructuras cristalinas a partir
de las intensidades de difraccin.
La red recproca y la esfera de Ewald

Un cristal consiste en una repeticin peridica de la celda unidad (rellena por el
motivo y sus equivalentes generados por simetra) en una red. Igualmente,
podemos definir la red recproca como aquella red cuyas dimensiones son
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recprocas a la celda original y corresponden a las posiciones de reflexin, y

cuyo tamao la intensidad de la reflexin.
Cada uno de los puntos de la red correspondientes a la difraccin de un grupo

especfico de planos de la red cristalina se define por el ndice hkl. Las
dimensiones de la red recproca estn recprocamente relacionadas con la red
real. En el caso de la figura anterior, sistema rmbico, las relaciones son
simples: c*=1/c, etc, pero en un sistema genrico oblicuo la relacin es ms
complicada.
La longitud del vector d(hkl)* de la red recproca (desde el origen al punto hkl
de la red recproca) es la distancia recproca d(hkl) de los planos de la red
cristalina con este ndice. As, d(001)*=1/c; d(002)*=1/2c.
La intensidad observada, I, de los puntos de difraccin puede extraerse del
tamao correspondiente del punto de la red recproca (I(hkl) es proporcional a |
F(hkl)2|. Claramente cada uno depende de los contenidos de la celda unidad y
a su vez el grupo espacial de simetra tendr implicaciones sobre la simetra
del patrn de difraccin.
Una herramienta muy til para conocer la aparicin de los puntos de difraccin
es la esfera de Ewald:
1. Se dibuja una esfera de radio 1/lambda en el centro de la cual
imaginamos al cristal real.
2. El origen de la red recproca se marca en el haz transmitido, en el borde
de la esfera de Ewald.
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La mxima difraccin (reflexiones, puntos de difraccin) ocurre solamente

cuando las tres ecuaciones de Laue, o la equivalente ecuacin de Bragg, son
satisfechas. Estas condiciones se cumplen cuando un punto de la red
recproca cae exactamente sobre la esfera de Ewald.
Es necesario rotar el cristal para mover los puntos de la red recproca a travs
de la esfera de Ewald. Dibujando la red recproca en el origen en un principio
slo (101) y (10-1) dan lugar a una reflexin. Rotando la red, el cristal, a travs
del eje vertical, el punto de la red recproca (201) entrar en la esfera y crear
un punto de difraccin.
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DETERMINACIN DE LAS POSICIONES ATMICAS POR DRX

La determinacin de las posiciones de los tomos dentro de la celdilla unidad,
relacionadas con la intensidad de Bragg, requiere de amplios estudios de la
interaccin de los rayos X con electrones no apareados, de los fenmenos de
interferencia que ocurren cuando los rayos X son dispersados por los
electrones en los tomos, y de la interferencia entre los rayos dispersados por
tomos diferentes.
Aunque las intensidades de las reflexiones de Bragg estn relacionadas con las
posiciones atmicas; sin embargo, el problema de las fases nos impide
proceder automticamente a partir de las intensidades medidas para deducir la
estructura.
Problema de las fases

Los detectores de rayos X miden intensidades acumulativas en el tiempo, no
pueden detectarse las diferentes fases; todo lo que se puede hallar
directamente es el mdulo del factor de estructura que sera la suma de varias
variables extendida a todos los tomos de la celda elemental.
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El problema central de la Cristalografa de rayos X es obtener estas fases del

conjunto de mdulos.
El conjunto completo de intensidades suministra suficiente informacin para
que puedan resolverse las estructuras cristalinas y mtodos para resolver el
problema de las fases. Existen una serie de mtodos tradicionales (Mtodo de
estimacin de errores, Mapas de Patterson, Mtodos directos, Sustitucin
isomorfa, Mtodos de superposicin) que proporcionan una solucin parcial
de la estructura.
MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X

Los mtodos experimentales de difraccin de rayos X ms utilizados son
los siguientes:
A partir de las medidas de las posiciones de las manchas de difraccin en una
pelcula fotogrfica se pueden determinar las dimensiones de una celdilla
unidad. Para la deduccin del sistema cristalino debe determinarse la simetra
del patrn de difraccin. Ausencias sistemticas de ciertos tipos de reflexiones
evidencian la presencia de celdillas unidad no primitivas, de planos de
deslizamiento, de ejes helicoidales que ayudar a deducir los grupos
espaciales.
El mtodo de Lae
Histricamente ste fue el primer mtodo de difraccin. Utiliza un haz
policromtico de rayos X que incide sobre un cristal fijo; por ello, el ngulo de
Bragg es invariable para cada grupo de planos hkl.
Cada uno de stos conjuntos de planos de espaciado dhkl satisface la
ecuacin de Bragg para un determinado valor de longitud de onda. As, cada
haz difractado tiene distinta longitud de onda.
Existen dos variantes del mtodo de Lae:
por transmisin, en la que el haz de rayos X incide sobre el cristal y los
haces transmitidos y difractados por l se recogen sobre una pelcula.
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por reflexin hacia atrs: en este montaje, la pelcula se sita entre la fuente
de rayos X y el cristal. Por un orificio practicado en la pelcula pasa un
colimador que selecciona un pincel de rayos X que incide sobre el cristal; y la
pelcula recoge los haces difractados hacia atrs.
La difraccin tiene lugar en el mtodo de Lae de acuerdo con la construccin
de Ewald.
Mtodos del cristal giratorio

La limitacin ms grande del mtodo de Lae es el desconocimiento de la
longitud de onda de los rayos X que se difractan para dar un determinado punto
en el diagrama.
Segn la Ley de Bragg, al fijar, entonces, el valor de la longitud de onda, no hay
otra posibilidad, para un determinado espaciado de un cristal que modificar el
ngulo. Esto se consigue haciendo un montaje del cristal que permita su giro,
en torno a un eje coaxial, a una pelcula cilndrica que se sita en su derredor.
As, para un valor discreto de ngulo que satisface la ecuacin, se produce un
haz de rayos Xque marcar un punto en la pelcula.
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Mtodo de Weissenberg
El hecho de que todos los puntos de una misma capa de la red recproca se
condensen en un mismo nivel del diagrama, dificulta sobremanera la correcta
asignacin de los ndices hkl a cada punto, mxime si de antemano no se
conoce con exactitud la red recproca del cristal en estudio.
El mtodo de Weissenberg adopta una cmara cilndrica y posee dos
caractersticas fundamentales:
una pantalla, que se conoce como pantalla de nivel, que slo permite el paso
de los haces difractados correspondientes a un nivel, y
un dispositivo mecnico que hace desplazar la pelcula cilndrica segn un
movimiento paralelo al eje de giro del cristal y sincronizado a este ltimo.
Mtodo de precesin
Es la tcnica de monocristal ms utilizada hoy en da. En este mtodo, un
cristal y una pelcula plana se mueven con un movimiento giratorio complejo,
compensando mecnicamente las distorsiones producidas por el mtodo de
Weissenberg.
El mtodo del polvo cristalino

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El mtodo del polvo cristalino presenta caractersticas muy interesantes para su

utilizacin; es el nico procedimiento de DRX que permite abordar el estudio
cristalogrfico de las especies que no se presentan, o no es posible obtener, en
forma de monocristales. La desorientacin relativa existente entre los
numerosos cristalitos que componen la muestra hace que en los diagramas de
difraccin quede reflejada, tanto cualitativa como cuantitativamente, la
identificacin de las fases cristalinas de la muestra.
En este mtodo la muestra se pulveriza lo ms finamente posible de forma que
est constituida idealmente por partculas cristalinas en cualquier orientacin.
Para asegurar la orientacin totalmente al azar de estas pequeas partculas
con respecto al haz incidente la muestra localizada en la cmara de polvo
generalmente se hace girar en el haz de rayos X durante la exposicin.
En la cmara de polvo
un haz monocromtico de rayos X pasa a travs de un colimador dentro de un

cilindro de metal en el centro del cual se encuentra la muestra de polvo. Los
haces difractados al incidir sobre la muestra se registran en una delgada
pelcula fotogrfica localizada en el interior de la pared del cilindro. Cuando el
haz monocromtico incide sobre la muestra se producen al mismo tiempo todas
las difracciones posibles. Para cada conjunto de planos atmicos (hkl) con su
caracterstico espaciado dhkl existen numerosas partculas con una orientacin
tal que forman el ngulo apropiado con respecto al rayo incidente capaz de
satisfacer la ley de Bragg.
Los mximos de difraccin de un conjunto de planos determinados forman 2
conos simtricos cuyo eje coincide con el haz incidente. El ngulo entre el haz
no difractado y los haces difractados que constituyen los conos es de y valores
enteros n, dando lugar a conjuntos diferentes de conos de haces difractados.
La interseccin de cada cono de haces difractados con la pelcula fotogrfica
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produce dos arcos simtricos con respecto a dos centros que representan el
lugar de entrada y salida del haz de rayos X de la cmara.
Cuando la pelcula se despliega se observa una serie de arcos concntricos y

simtricos con respecto a los dos orificios.
Con la cmara de polvo es posible registrar reflexiones de ngulos de hasta

180. Los conos de ngulos pequeos coinciden con el centro del orificio de
salida y representan los ndices hkl ms sencillos y los mayores espaciados.
Los arcos aumentan de radio conforme el ngulo del cono es mayor, hasta que
es 90 momento en el que el arco se convierte en una lnea recta. ngulos
mayores de 90 quedan representados como arcos concntricos en el orificio
de entrada de los rayos X.
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Aunque la mayora de los cristales de la muestra no producen difraccin

normalmente hay los suficientes cristales orientados correctamente como para
que la intensidad de la difraccin sea lo bastante importante como para quedar
registrada en la pelcula. De esta forma habr siempre una lnea representante
de cada familia de planos de la red cristalina. Una vez obtenida la fotografa de
polvo es necesario determinar el valor del ngulo de cada una de las lneas
presentes teniendo en cuenta que el radio de la pelcula fotogrfica es R y la
distancia entre 2 arcos simtricos es D mediante la relacin
S/2
Una vez calculados todos los valores de para los que se ha producido la
difraccin y mediante la ecuacin de Bragg se determinan los espaciados
correspondientes a cada familia de planos. Para ello se toma n como 1 y d se
considera que es una reflexin de primera orden dada la dificultad de
establecer el orden de una determinada reflexin. Cuando se ha indexado el
diagrama de polvo es decir se han asignado los ndices hkl para cada par de
lneas de difraccin pueden determinarse los parmetros de la celda a partir de
los espaciados.
La mayor aplicacin del mtodo del polvo es la identificacin mineral, para la
cual no es necesario conocer la estructura o simetra del mineral. Cada
sustancia mineral tiene su propio diagrama de polvo caracterstico diferente del
de cualquier otra. Para una ms rpida identificacin se comparan los
espaciados calculados as como sus intensidades con los recogidos en fichas
preparadas por el Joint Committee on Powder Diffraction Standars (JCPDS).
Adems es posible determinar las proporciones relativas de dos o ms
minerales presentes en una misma muestra comparando las intensidades de
las mismas lneas con aquellas de muestras de composicin conocida.
El difractmetro de polvo de rayos X utiliza la radiacin monocromtica y una
muestra en polvo y registra la informacin de las reflexiones mediante una
traza de tinta sobre una cinta de papel o mediante recuento electrnico que
puede ser almacenado en un ordenador. La muestra finamente pulverizada se
extiende sobre un porta de vidrio y se aglomera. El porta gira segn la
trayectoria del haz de rayos X al mismo tiempo que el detector gira a su
alrededor para captar las seales de los haces difractados. El detector no
registra todas las reflexiones a la vez en una pelcula sino que mantiene un
orden para recibir por separado cada mximo de difraccin.
El resultado es un diagrama de picos registrados en un papel en el que se
puede leer el ngulo 2
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6. APLICACIN:
La cristalografa tiene muchas aplicaciones en una gran variedad de
disciplinas
cientficas,
como
la mineraloga,
qumica, biologa
molecular, farmacologa, geologa, fsica
aplicada y ciencia
de
materiales. Entre los numerosos premios Nobel asociados a la
cristalografa, una alta proporcin se han concedido a aplicaciones de
difraccin por rayos X o desarrollo metodolgico relacionados con esta
tcnica. La informacin obtenida a partir de experimentos cristalogrficos
tambin se utiliza en campos no directamente relacionados con la
investigacin cientfica bsica o el desarrollo tecnolgico, como la ciencia
forense o la historia del arte.
Anlisis de minerales
La cristalografa de rayos X se utiliza no solo para obtener estructuras
desconocidas, sino tambin para determinar la composicin de muestras de
suelos o minerales, as como para la identificacin de metales y otros
Pgina 45
elementos. Cada sustancia mineral forma cristales con una celda unidad y
simetra determinada, que resulta en un patrn de difraccin caracterstico.
La difraccin por el mtodo de polvo es muy usada para este tipo de
aplicaciones, por ser sencillo comparar el espaciado entre los anillos de
difraccin con los valores compilados por el Joint Committee on Powder
Diffraction Standars (JCPDS). Las proporciones relativas de dos o ms
minerales presentes en una misma muestra se obtienen comparando las
intensidades de sus respectivas lneas con aquellas de muestras de
composicin conocida. Un ejemplo de esta aplicacin es la identificacin de
minerales arcillosos, la fraccin del suelo con tamao inferior a 2 m.
Diseo de frmacos
Desde finales de siglo XX se ha empezado a disear nuevos frmacos y
medicamentos basados en inhibidores y sustratos naturales de diversas
protenas y enzimas involucradas en ciclos celulares y metablicos. El
conocimiento de la estructura de la parte de la protena la forma y la
distribucin de cargas electrostticas que liga estos compuestos facilita
este proceso, gracias a la mejor comprensin de las interacciones entre la
protena y el ligando de inters; esto permite concentrarse en el diseo de
frmacos con las caractersticas especficas deseadas. Uno de los ejemplos
ms importantes de esta aplicacin es el compuesto vemurafenib, diseado
para bloquear una enzima mutante presente en el 60% de los casos
de melanoma.
7. GRAFICAS:
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Aplicaciones
Distintas aplicaciones
As, los estudios desarrollados por esta ciencia son de importancia fundamental
para los avances en materia de biologa molecular, industrias farmacuticas e
industrias
informticas.
La cristalografa es de importancia fundamental en los estudios en biologa
molecular. Ya que permite estudiar una bio-molcula - que es una molcula que
tenemos en nuestro cuerpo- y saber qu importancia tienen en distintas partes
de nuestro metabolismo, ya sea para cura o entender cmo funcionan, seal
Pgina 52
Schvezov.
Adems, hay otro trabajo muy importante a nivel local que se est llevando a
cabo que tiene que ver con la produccin de la primera vlvula cardaca (Ver
Tambin
en
la
vlvula
cardaca)
Gracias a la cristalografa, se puede hacer cristales a partir de molculas que
componen el cuerpo humano, lo que posibilita el entendimiento de la
interaccin entre las molculas humanas y las molculas que componen
determinado medicamento (ver Aplicaciones en la farmacologa).
Otra de las aplicaciones que tiene est ciencia tiene que ver con el auge y
avance de las industrias informticas, cristales semiconductores y pantallas de
cristal lquidos son inventos tecnolgicos hechos realidad por los estudios de la
cristalografa
(ver
Tecnologa
LCD).
Aplicaciones en la farmacologa
Hacer cristales de molculas que conforman el cuerpo humano permite

estudiar
la
composicin
y
comportamiento
del
mismo.
A travs de estudios sobre cmo se comporta, podemos descubrir por donde
atacarla mejor si es algo daino. Entonces, ah aparece la industria
farmacolgica, indic el doctor Carlos Schvezov. Es el entendimiento de cmo
es la interaccin de molculas nuestras con las molculas de los
medicamentos. Un ejemplo claro tiene que ver la aparicin de piedras en rin
o vescula, un problema muy frecuente en el ser humano. Cuando uno tiene
clculos en el rin o vescula es importante determinar no slo el tipo de
cristales que se estn formando -calcios y otros- para poder eliminarlos sino
tambin para encontrar un mecanismo de prevencin para que no se formen
ms,
seal
Schvezov.
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Tecnologa
LCD
La industria informtica logra cristales semiconductores que perfeccionan

dispositivos cada vez ms pequeos, seal Carlos Schvezov. En el caso de
pantallas de cristal lquido (LCD), estos cristales tienen un ordenamiento
especfico y fue la cristalografa la ciencia que permiti el desarrollo de todo
este
tipo
de
display.
Tambin en la vlvula cardaca
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En el recubrimiento de las vlvulas cardacas locales tambin va la

cristalografa.
El equipo de trabajo se orienta al comportamiento de ciertas partculas cuando
solidifican los cristales y tambin en la composicin cristalina que aparecen el
recubrimiento de las vlvulas mecnicas cardacas, indic el doctor Schvezov.
Son las vlvulas desarrolladas localmente y construidas con titanio y probadas
en
junio
en
el
Sincrotrn
de
Brasil.
Las estamos construyendo con titanio y que se depositan cristales que forman
pelculas muy pequeas y delgadas cuya caracterizacin es muy difcil.
La cristalografa en biologa:
La cristalografa asistida por rayos X es el principal mtodo de obtencin de

informacin estructural en el estudio de protenas y otras macromolculas
orgnicas (como la doble hlice de ADN, cuya forma se identific en patrones
de difraccin de rayos X). El anlisis de molculas tan complejas y, muy
especialmente, con poca simetra requiere un anlisis muy complejo
utilizndose ordenadores para ajustar el patrn de difraccin a las posibles
estructuras. El Banco de Datos de Protenas (PDB) contiene informacin
estructural de protenas y otras macromolculas biolgicas.
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La cristalografa en ingeniera de materiales:

Las propiedades de los materiales cristalinos dependen en gran medida de su
estructura cristalina. Los materiales de ingeniera son por lo general materiales
policristalinos. As como las propiedades del mono cristal estn dadas por las
caractersticas de los tomos del material, las propiedades de los policristales
son determinadas por las caractersticas y la orientacin espacial de los
cristales que lo componen.
La tcnica de difraccin de rayos X permite estudiar la estructura del
monocristal mediante la identificacin de los planos difractantes segn la ley de
Bragg, lo cual es til para la determinacin de fases. Adems, los mtodos
cristalogrficos permiten estudiar tambin la distribucin de orientaciones
cristalogrficas en un material, conocida tambin como textura cristalogrfica.
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Formas cristalogrficas:
Es el conjunto de caras iguales que estn relacionadas por su simetra:
Una sola cara:
Dos caras:
o Pinacoide: iguales y paralelas relacionadas por un plano o eje
binario.
o Domo: no paralelas que se relacionan por un plano.
o Esfenoide: no paralelas relacionadas por un eje binario.
Prismas, pirmides, bipirmides, trapezoedros, escalenoedros.
Clases cristalinas.
Las posibles agrupaciones de los elementos de simetra son treinta y dos y a

stos corresponden otras tantas clases cristalinas, ms una a la que no
corresponde ninguno de tales elementos de simetra. Todos los cristales se
hallan comprendidos en estas treinta y dos clases que, a su vez, se reagrupan
en siete sistemas (cbico o manomtrico, tetragonal, hexagonal, trigonal o
rombodrico, rmbico, monoclnico y triclnico).
Pgina 57
11. FORMULAS:
Conclusiones
Al finalizar esta investigacin se puede concluir que la cristalografa es un

proceso muy difundida en la industria de los materiales, debido a que los
procesos modernos exigen que los materiales tengan ciertas cualidades y
formas, es ah cuando los procesos de cristalizacin encuentran su papel.
Pgina 58
Como vimos la cristalizacin no solo se usa en os materiales y cristales

tambin se usa en la vida social como: en la biologa, frmacos, en la gentica.
En la industria, tecnologa, etc.
Casi todos minerales son cristalinos (es parte de la definicin de un mineral),
pero slo bajo condiciones especiales se forman minerales bien cristalizados.
El mineral puede crecer de una fusin como en las rocas gneas, de los slidos
bajo la temperatura elevada y altas presiones, o en fracturas abiertas o bolsas
de fluidos calientes o en minerales formados a bajas temperaturas.
As, cuando se examina cristales euhedrales de cualquier mineral, entindase
que ellos son objetos bastante notables. Probablemente 99% de todos los
minerales presentes en la corteza de la tierra, no presenta ninguna forma
cristalina externa. Un cristal euhedral es una flor del mundo mineral!. Trate a
los cristales con cuidado y respeto porque ellos han sobrevividos millones de
aos probablemente antes de que alguien los descubriera. Un momento de
descuido y ellos pueden destruirse para siempre.
A lo largo de una serie de artculos, se ha intentado mostrarle el mundo la
simetra presente en el mundo cristalino alrededor de este.
Bibliografa
Libros:
Askeland, D. R. (2004). Ciencia e Ingeniera de los Materiales. Mxico :
Thompson.
Smith, W. F. (2007). Fundamentos de la ciencia e ingeniera de materiales.
Mxico: Mc Graw-Hill.
Geologa General de Hugo Rivera Mantilla
Petrografa bsica de Paraninfo, s.a. (texturas, clasificacin y nomenclatura de
rocas) de A. Castro Dorado.
Introduccin a la geologa de Iriondo, Martin (2007).
Pginas webs:
Pgina con informacin sobre Cristalografa
Formas cristalogrficas interactivas en 3D
www.geologiaenlinea.com
www.webmineral.com
Pgina 59
Pgina 60

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