ANLISE DE MTODOS PARA DIMENSIONAMENTO DE SUPERFCIES

COM GEOMETRIA COMPLEXA

Roberto Stajn, robertostajn@yahoo.com.br1
Marco Antonio Moraes Machado, markinho.machado@hotmail.com1
Anderson Hisashi Hirakuri, ah.hirakuri@hotmail.com 1
Marcio Fontana Catapan, marciocatapan@gamil.com 1
Universidade Positivo, Rua Prof. Pedro Viriato Parigot de Souza, 5300. Bairro Campo Comprido. Curitiba Pr. CEP:
81280-330
Resumo: A metrologia , na atualidade, uma das reas do conhecimento cientfico mais relevante e das que maior
aplicabilidade tem nos meios industriais, representando um dos mais importantes instrumentos de desenvolvimento
tecnolgico das empresas e contribuindo em grande parte para a sua competitividade. A concorrncia que existe entre
empresas faz com que seus produtos tenham uma aparncia mais criativa e diferente para que conquiste o cliente,
entretanto, isso traz desafios s indstrias devido complexidade dos produtos e de seus componentes mecnicos.
Esses problemas vm sendo resolvidos com equipamentos de fabricao e dimensionamento mais sofisticados que so
criados de acordo com a necessidade do mercado. O objetivo deste trabalho demonstrar quais mtodos de
metrologia adotados pela equipe tm a maior eficincia, qualidade e confiabilidade no dimensionamento de
superfcies com geometria complexa. Com o projeto e a confeco de duas peas prottipos, so realizadas medies
mediante o mtodo por contato, com o auxlio de gabarito e mquina de medir por coordenadas e medies sem
contato, com a utilizao do aparelho ptico de digitalizao tridimensional. Aps executadas as medies e realizada
a coleta de dados e resultados, foram feitas anlises para evidenciar qual mtodo estudado contempla as
necessidades. O equipamento ptico de digitalizao tridimensional apresentou resultados mais completos, tambm
confiveis e precisos quando comparados aos outros estudados e existentes. O controle dimensional e geomtrico de
peas complexas chave na garantia da qualidade, pois, durante a fabricao, alguns defeitos podem surgir que
comprometam a funcionalidade da pea, dependendo da confiabilidade das medies. Assim, a gerao de solues de
medio robustas um objetivo desafiador e de retorno econmico.
Palavras-chave: Geometria complexa, dimensionamento,medio por contato, medio sem contato, digitalizao 3D.

1. INTRODUO
O ambiente extremamente competitivo existente no mercado atual requer das empresas uma preparao adequada
para atender a uma clientela cada vez mais exigente. Preparar as pessoas e empresas para disputarem este mercado
tornou-se um grande desafio. A orientao ter competitividade, produtividade e qualidade. A intensificao do
comrcio entre consumidor e produtor resulta em uma combinao de estilo inovador de produtos, mquinas de
produo mais rpidas, versteis e precisas, equipamentos e mtodos de controle com maior abrangncia de
dimensionamento conforme as variaes de complexidade nas formas e geometrias de peas, normas e regulamentos
que abrangem desde o projeto, fabricao, controle e demais processos indiretos relacionados ao produto.
Ao longo dos ltimos anos, dispositivos cada vez mais complexos tm sido desenvolvidos para a fabricao e
metrologia. A criao de dispositivos novos e modernos no setor da metrologia faz-se necessrio com o avano da
tecnologia na produo de produtos inovadores, pois, o dimensionamento de peas com geometrias complexas
existentes nos projetos carecem de um controle maior. Isso faz com que as mquinas convencionais de medio se
tornem limitadas para este tipo de controle, ocasionando buscas por mtodos alternativos, onde a digitalizao ptica
parece ser uma soluo vivel.
Nos primeiros estgios do projeto mecnico, o projetista imagina o produto ideal, ou seja, tendo dimenses e
formas perfeitas. Porm, os processos de fabricao e de montagem so inerentemente inexatos, produzindo peas que
variam de dimenso, forma e textura da superfcie que podem prejudicar a funcionalidade da pea ou do componente
projetado.

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Na metrologia h diversos mtodos, instrumentos e equipamentos de medio, entretanto, cada um com seu grau de
limitao e incerteza de medio. Os instrumentos convencionais de dimensionamento existentes possuem diversas
limitaes quanto as suas aplicabilidades. Considerando peas de superfcie com geometrias complexas, as limitaes
so amplificadas atingindo a condio de inviabilidade na utilizao destes instrumentos.
Por este motivo, as indstrias recorrem a equipamentos mais sofisticados, de modo que satisfaam suas
necessidades. Atualmente, os aparelhos pticos de digitalizao tm proporcionado um timo mtodo que garante
agilidade, preciso e confiabilidade elevada na medio de peas com geometrias complexas.
O objetivo desta anlise comparativa entre os mtodos de medio convencionais (com contato) e ptico
tridimensional (sem contato) comprovar a viabilidade, confiabilidade e aplicabilidade do mtodo de medio por
digitalizao tridimensional, com base nos resultados dimensionais.
2. REVISO BIBLIOGRFICA
Segundo Brito Neto (2003), a metrologia uma ferramenta essencial para a reduo dos custos de produo de bens
de consumo em geral, no entanto, os custos envolvidos com a aquisio, instalao, manuteno e calibrao dos
padres, equipamentos e sistemas de medio, bem como os custos com a implantao e implementao de sistemas da
qualidade e a utilizao de mo-de-obra especializada so bastante elevados, o que certamente ir refletir no preo final
do produto. Aes devem ser realizadas para diminuir estes custos, desde a fase de estabelecimento das tolerncias da
pea, escolha dos padres e sistemas de medio que devero ser utilizados, at a fase de medio ser efetivamente
realizada. Portanto a correta utilizao da metrologia ir proporcionar o aumento e a eficincia no dimensionamento, o
que acarretar uma minimizao dos custos metrolgicos do produto.
Soares (2010) cita que a complexidade na medio de superfcies com geometria complexa reside na falta de
elementos substitutos como planos, cilindros, linhas, crculos, oblongos ou quaisquer outros elementos com geometria
regular para comparao. Na inspeo geomtrica de superfcies livres duas metodologias so normalmente
empregadas: a comparao direta e a indireta.
De acordo com Nerosky (2001), o princpio bsico da comparao direta consiste em verificar o desvio entre a
superfcie a ser analisada e a fsica considerada como padro, atravs da medio das distncias (folgas) existentes entre
as duas quando sobrepostas. A principal desvantagem de se usar superfcies padro em medies geomtricas a
incerteza de medio, que se torna fortemente dependente da habilidade do metrologista e da manuteno e calibrao
dos prprios padres.
Nerosky (2001) salienta que a comparao indireta baseia-se na tecnologia de medio por coordenadas. Nesse
caso, as coordenadas de diversos pontos da superfcie da pea so determinadas e os erros geomtricos so definidos
como sendo a diferena entre os valores medidos e os de referncia. Como a posio e magnitude dos erros so
fornecidas explicitamente, sua incerteza de medio menor que no caso da comparao direta.
No dimensionamento tridimensional, ocasionalmente, o sistema de coordenadas do projeto diferente do sistema
de coordenadas dos pontos medidos da pea real. necessrio, portanto, coloc-los em um sistema comum, de modo
que se possam comparar as duas superfcies. Esse relacionamento entre coordenadas complexo, partindo da referncia
mnima de trs pontos. Conforme Soares (2010), independente da metodologia utilizada, as informaes sobre a
orientao, posio e forma so essenciais para uma caracterizao unvoca da superfcie livre, exigindo uma anlise
bastante criteriosa.
2.1. Medio por Contato
O instrumento ou equipamento obrigatoriamente entra em contato com a pea para realizao do dimensionamento,
ou seja, deve-se sempre buscar um contato entre eles que gere uma linha ou um ponto para uma maior preciso das
medidas.
De acordo com Pinheiro (2007), medio direta pode ser definida como aquela cujo resultado obtido diretamente
dos dados experimentais. O valor da grandeza procurado obtido comparando diretamente com padres ou atravs de
instrumentos de medida graduados segundo as unidades respectivas. So exemplos: medida do comprimento com uma
escala, temperatura utilizando um termmetro, presso por meio de um manmetro, deformao atravs de um
extensmetro longitudinal, entre outros.
2.2. Medio sem Contato

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Conforme Nikon Instruments Inc. (2013), a medio sem contato executada normalmente com tecnologias pticas
ou de laser. Desta forma, no h contato entre o instrumento de medio e o mensurando, proporcionando a vantagem
de eliminar possveis danificaes, deformaes, arranhes ou contaminaes da pea de trabalho atravs do seu
contato com uma ferramenta de medio. Isso se torna importante, por exemplo, ao medirem-se materiais frgeis ou
flexveis.
A medio sem contato, especialmente utilizando sistemas de viso ou vdeo, pode ser uma vantagem quando so
necessrios velocidade e preciso. Alm disso, a operao automatizada pode eliminar erros do operador e pode
aumentar o rendimento de amostras. (NIKON INSTRUMENTS INC., 2013)
2.3. Anlise do Sistema de Medio (MSA)
A anlise do sistema de medio uma metodologia estatstica desenvolvida para estudar e analisar o
comportamento do sistema de medio quando este posto em operao nas suas condies reais de trabalho. Desta
forma, o MSA assegura o aumento da confiana nas leituras obtidas nos instrumentos. (CARDOSO, 2009)
O principal ponto para anlise consiste na interpretao do sistema de medio como um processo. Sendo assim,
importante ressaltar que no se avaliam simplesmente os equipamentos, mas o processo no qual se utiliza estes
equipamentos, o mtodo e as pessoas para obter resultados. (MSA, 2010)
a coleo de instrumentos ou dispositivos de medio, padres, operaes, mtodos, dispositivos de fixao,
software, pessoal, ambiente e premissas utilizadas para quantificar a unidade de medio ou corrigir a avaliao de uma
caracterstica sendo medida, ou seja, o processo completo para obter medies. (MSA, 2010)
De acordo com MSA (2010), a aplicao de um sistema com m qualidade pode mascarar a variao real do
processo ou produto, conduzindo a concluses erradas. Existem certas propriedades fundamentais que definem um bom
sistema de medio:
Adequada discriminao ou sensibilidade do equipamento de medio;
Sistema de medio sob controle estatstico;
Variabilidade do sistema de medio para controle de produto;
Variabilidade do sistema de medio para controle do processo.
Conforme MSA (2010), a medio se inicia com a especificao da grandeza, do mtodo e procedimento de
medio. Entretanto, existem fatores que impactam diretamente no resultado da medio:
Mtodo;
Pea/Produto;
Meio ambiente;
Equipamentos de medio;
Pessoal.
O sistema de medio pode ser replicvel ou no, sendo considerado replicvel aquele que se pode medir diversas
vezes a mesma caracterstica de uma pea sem danific-la e o no replicvel consiste em destruir a amostra, realizando
apenas uma nica medio. Nas duas situaes a obteno de dados dimensionais pode ser por atributo ou varivel.
Todo este processo utilizado para atribuir resultado a um determinado produto que est sendo medido, pois, a
realizao de medies est ficando cada vez mais rigorosa com o passar do tempo, sempre exigindo melhores
equipamentos e profissionais capacitados para garantia da qualidade de medies. (MSA, 2010)
Portanto os mtodos de medio sem contato demonstram uma vantagem maior quando comparadas aos mtodos
que necessitam entrar em contato com a pea. Isso ocasiona ganho de tempo e a no danificao da pea, porm, no
somente a medio em si que acarretar um resultado final de grandeza, mas sim o processo como um todo. Por este
motivo, a anlise do sistema de medio de suma importncia para o enriquecimento dos resultados.
3. MATERIAIS E MTODOS
Para iniciar as anlises referentes aos processos de medio, projetou-se um modelo de pea exclusiva com a
finalidade em demonstrar uma superfcie com geometrias complexas significativas, conforme figura 1. Em seguida, a
partir do modelo projetado, em uma fresadora CNC fabricaram-se dois prottipos para permitir um comparativo entre
os trs mtodos de medio definidos.

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Figura 1. Modelo matemtico da pea prottipo

3.1. Inspeo com Gabaritos
O gabarito um instrumento que estabelece os limites mnimos e mximos das dimenses das peas ou de
equipamentos que se deseja conferir. So normalmente empregados na produo de peas em srie. So instrumentos de
medio relativamente simples, confeccionados normalmente em ao, podendo ser fabricados pela prpria empresa ou
setor responsvel (prprio mecnico/operador) pelo controle de determinado parmetro da pea analisada. Dependendo
da natureza e necessidade do trabalho a ser realizado, suas formas, tipos e tamanhos variam. (LIMA, 2006)
Esses instrumentos operam como padres contra os quais a curva ou superfcie comparada de forma direta.
Assim, sua forma deve apresentar um desvio consideravelmente menor que a tolerncia da superfcie a ser controlada.
Usualmente, a comparao visual, atravs da observao do fio de luz entre o gabarito e a pea. A inspeo feita por
atributos, portanto, no informa o valor do desvio em cada ponto da superfcie controlada, resultando apenas na
informao de pea conforme ou no conforme. (SOARES, 2010)
De acordo com Soares (2010), a principal limitao de se usar superfcies padro (gabaritos) em medies
geomtricas a incerteza de medio, que se torna fortemente dependente da habilidade do inspetor e da manuteno e
calibrao dos prprios gabaritos.
Para este trabalho foi projetado um gabarito com a forma negativa do prottipo, permitindo avaliar toda a forma
superior simultaneamente, tornando-se um dispositivo de controle dedicado e exclusivo para este modelo de pea. A
medio realizada por contato e o gabarito posicionado sobre a pea.
Feito o posicionamento, aproxima-se suavemente o gabarito da pea at um apoiar no outro. necessria a
aplicao de uma leve presso em quatro pontos distintos e alternados do gabarito, verificando, portanto, se h um
correto assentamento entre as superfcies. (Figura 2)

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Figura 2. Inspeo por gabarito

3.2. Mquinas de Medir por Coordenadas (MMC)
Uma mquina de medir por coordenadas cartesianas um sistema mecatrnico de medio cujo objetivo obter as
coordenadas cartesianas de pontos sobre superfcies de peas de diversos formatos e de maneiras diferentes. Existem
variados tipos de mquinas de medir, apresentando todas elas caractersticas comuns tais como: uma mesa, trs eixos e
um apalpador. (SOARES, 2010)
De acordo com (SOARES 2010), essa variedade de construo mecnica aliada rapidez e flexibilidade para
medio de diferentes formas geomtricas contriburam para a disseminao dessa tecnologia nas atividades de
desenvolvimento de produtos, controle dimensional e geomtrico. Na medio por contato nessas mquinas, a
informao sobre a geometria da pea obtida apalpando-se fisicamente sua superfcie, de tal maneira, que as
coordenadas desses pontos so expressas num sistema de referncia j pr-determinado.
Em relao qualidade geomtrica da pea, podem-se identificar basicamente duas formas de avaliao. Na
primeira forma, as coordenadas dos pontos medidos so usadas para estimar, atravs de um algoritmo de ajuste, os
parmetros de elementos geomtricos ideais, tambm chamados de geometrias substitutas, tais como: cilindros, planos,
cones, etc. A avaliao de conformidade realizada comparando esses parmetros com as especificaes. Na segunda
maneira, os pontos medidos so posicionados com relao o modelo CAD tridimensional da pea usando um critrio
matemtico de ajuste. A partir desse ajuste podem ser determinados os desvios das superfcies extrados com relao
superfcie do modelo, realizando a avaliao de conformidade com as especificaes. Esse o modo mais frequente
quando se faz medio de peas com superfcies de forma livre. (SOARES, 2010)
Praticamente todo mtodo de medio 3D capaz de adquirir pontos nicos da superfcie de uma pea apropriado
para medies de superfcies de formas livres. As mquinas de medir por coordenadas equipadas com apalpadores para
medio por contato contnuo podem medir um grande nmero de pontos na superfcie de uma pea num pequeno
intervalo de tempo, gerando, assim, informao mais detalhada sobre a geometria. Para geometrias regulares (planos,
cilindros, esferas, cones, crculos) a definio da quantidade mnima de pontos para medio normalizada e disposta
nos programas computacionais de medio. No entanto, na medio de superfcies livres, a escolha do nmero de
pontos e da sua distribuio mais complexa, gerando normalmente uma quantidade densa de pontos sobre a superfcie.
(NEROSKY, 2001)
Para as limitaes do uso da mquina de medir por coordenadas com relao aos mtodos pticos, destacam-se a
necessidade de fixao da pea, portabilidade, a velocidade de medio e a limitao quanto ao tamanho da pea a
inspecionar. (SOARES, 2010)
Segundo Cavaco (2002), diversos ensaios so necessrios para avaliar a incerteza de medio da MMC,
destacando-se aqueles que verificam os erros dos movimentos no espao e que verificam o comportamento metrolgico
do apalpador. Este equipamento realiza seu dimensional baseado em coordenadas cartesianas (X, Y e Z), para que
ocorra a relao entre a pea dimensionada e o modelo CAD. Existem pontos de referncia do sistema (RPS) utilizados

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para alinhamento da amostra. Estes pontos devem obrigatoriamente permitir a formao de elementos geomtricos
simples, sendo estes um plano, uma linha e um ponto, para que haja o travamento do sistema.
Foram escolhidos pontos na base do prottipo para referncia do sistema. Estes pontos atendem a solicitao de
elementos geomtricos simples, pois, os pontos P3, P4 e P5 formam um plano, enquanto os pontos P1 e P2 formam uma
linha e P1 um ponto. Desta forma, permite-se um alinhamento confivel da amostra. (Figura 3)

Figura 3. Pontos de alinhamento definidos para o dimensional

A amostra que est sendo dimensionada deve ter sua fixao garantida para que durante toda a etapa de medio
permanea esttica, pois, qualquer movimento que ocorra causar erros de medio. Outro cuidado com a fixao para
que no haja deformao da amostra, ou seja, alterando sua forma, tornou-se necessria a confeco de um dispositivo e
fixao conforme apresentado na figura 4.

Figura 4. Dispositivo de fixao da amostra durante o dimensionamento

3.3. Digitalizador ptico Tridimensional
Atualmente, existem vrios campos no qual a digitalizao tridimensional um mtodo estabelecido na aquisio
de dados. Na engenharia mecnica, por exemplo, scanners 3D so muitas vezes utilizados para a inspeo da pea,
anlise de deformao, engenharia reversa e reengenharia de moldes e matrizes, procedimentos de controle de qualidade
em geral, etc. Na engenharia civil, por sua vez, tambm se utiliza a varredura tridimensional durante a fiscalizao de
obras, design de mobilirio, ajuste personalizado e proteo do patrimnio cultural. Por outro lado, forenses aplicam

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digitalizao ptica durante a investigao da cena do crime e preservao de dados. Ou seja, diversos profissionais de
diferentes reas utilizam deste mtodo para uma melhor aquisio de dados e avaliao dos resultados. (BRAJLIH,
2010)
Alm disto, mtodos pticos de medio esto se tornando solues cada vez mais atrativas para o controle
geomtrico de peas e componentes mecnicos. A elevada velocidade de medio, os excelentes nveis de incerteza, a
grande riqueza de detalhes, a flexibilidade e o nvel de automao so fatores positivos que tm aproximado estas
tcnicas da indstria. (Albertazzi, 2012)
Segundo Brajlih (2010), um leitor ptico tridimensional adquire dados de geometria a partir de um objeto fsico
existente. As informaes adquiridas so utilizadas na construo de um modelo virtual tridimensional do objeto
digitalizado.
De acordo com Fantin (1999), a grande maioria dos mtodos pticos de medio de forma baseada no princpio
da triangulao, isto , no clculo da distncia absoluta atravs da definio de um tringulo. Para tomada de imagens,
so usadas cmeras de padres de franjas para serem projetadas em um objeto alvo. A fim de digitalizar um objeto
completo, vrias medies individuais so necessrias a partir de diferentes ngulos.
Da mesma maneira que a MMC utiliza um sistema de coordenadas como referncia, a digitalizao tambm utiliza,
porm, a medio ocorre sem contato. A ausncia de contato entre pea e equipamento durante a medio exige outras
referncias constantes. So aplicados sobre a pea pequenos alvos que o escaneamento identifica e consegue posicionar
as imagens em sequncia, sem alterar o dimensional real da amostra.
Os alvos permitem o escaneamento de todas as superfcies da pea, limitando apenas o acesso aos pontos que o
conjunto luz e cmeras no alcance simultaneamente. Este sistema permite que a pea seja movimentada durante a
medio para encontrar a melhor posio de foco, sem que ocorra perda da referncia, necessitando apenas do cuidado
em no alterar a posio dos alvos colados sobre a pea.
Com base nos marcadores circulares, que esto ligados diretamente na pea, o equipamento de medio ptico
correlaciona e transforma estas medies individuais automaticamente para uma coordenada comum do sistema.
A figura 5 apresenta uma pea prottipo com os marcadores de pontos de referncia em sua superfcie, utilizados
para aquisio dos dados de dimensionamento.

Figura 5. Pea prottipo com alvos ou marcadores

O equipamento ptico de digitalizao utilizado apresenta uma srie de caractersticas nicas dos sistemas, que so
projetados para permitir relatrios de medio completos a serem desenvolvidos, sem interao do usurio. Alm disso,
o equipamento capaz de medir at 8 milhes de pontos de dados por meio de seus mtodos de triangulao,
permitindo assim, uma resoluo superior e preciso. (GOM 2013)
4.

RESULTADOS

O MSA orienta em seu manual que para a anlise de um sistema de medio sejam considerados todos os fatores.
No fator pea/produto a confeco das amostras de formas geomtricas particulares em material teflon proporcionou

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garantia nas medies sem deformao parcial ou total das peas. Para o fator meio ambiente a presena dentro de uma
sala com a temperatura e umidade controladas eliminou possibilidades de alterao de forma ou volume por dilatao.
Os dois equipamentos de medio utilizados possuem certificados de calibrao que informam a rastreabilidade dos
padres de calibrao, proporcionando confiabilidade dos resultados nas medies realizadas. O gabarito no sendo
considerado um equipamento, foi dimensionado, mas no calibrado, pois, no permite regulagem ou ajuste, desta
maneira, apenas seus desvios dimensionais so conhecidos e esto dentro da faixa de 10% da tolerncia de desenho da
pea.
O principal fator a pessoa que realiza a medio e para os equipamentos foi possvel realizar os dimensionais
com dois tcnicos de metrologia, garantindo a repetibilidade e reprodutividade. As inspees com gabarito foram
realizadas com os membros da equipe.
4.1. Inspees por gabarito
Cada amostra foi verificada trs vezes pelo mesmo operador, sendo trs operadores diferentes, totalizando ento em
nove inspees. O resultado obtido com a inspeo por gabarito, convergiu que as duas amostras foram aprovadas por
estarem em conformidade. Os resultados so apresentados na tabela 1.
Tabela 1. Relatrio do dimensionamento por gabarito

Uma dificuldade inicial detectada foi que o gabarito por ser opaco impede a visualizao das partes centrais durante
a medio, permitindo realizar inspeo equivocada, pois, o resultado est totalmente vinculado habilidade da pessoa
para a regio no visvel. Nas regies externas j se torna possvel uma inspeo eficaz, por ter bem visvel a face da
pea que entra em contato com o gabarito.
4.2. Medies por MMC
Na primeira etapa para pr-localizao da pea na MMC, os pontos de referncia so medidos em modo manual
sendo solicitado o clculo dos pontos para alinhamento, posteriormente executado em modo CNC com 3 interaes de
refino. A avaliao que confirma se o alinhamento realizado pode ser utilizado tem como base os resultados dos desvios
que so os valores da diferena entre o atual e o nominal.
Mantendo a amostra fixa e alinhada no dispositivo, dimensiona-se a superfcie de interesse. Para possibilitar uma
maior varredura foram programados 1100 pontos. Devido grande quantidade de pontos sobre uma pequena rea, as
etiquetas dimensionais se sobrepem, causando dificuldade de leitura dos valores. (Figura 6)

Figura 6. Resultado dimensional com 1100 pontos da amostra A ( esquerda) e B ( direita)

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Mesmo com uma grande quantidade de pontos, fica evidente a necessidade de uma quantidade ainda maior, para
que desta forma, obtenha-se uma varredura total da superfcie de interesse, apenas percebe-se uma alterao na
uniformidade de cores das etiquetas dimensionais apresentada nas amostras.
Ao aplicar uma avaliao cromtica na qual os pontos so interligados por tendncia de desvio, obtm uma
imagem mais ampla, limpa e enriquecida de informao para uma rpida interpretao. Verifica-se na amostra A que
uma mnima parte apresenta a cor azul, que representa a faixa de tolerncia entre -0,2mm -0,3mm, porm, ainda
encontra-se dentro do campo de tolerncias estipuladas em desenho e na amostra B, evidenciam-se desvios na
tonalidade roxa, isto significa que aquela regio est com desvios alm da faixa de tolerncia inferior. As outras regies
tendendo cor vermelha indicam para desvios alm da faixa de tolerncia superior. Regies provveis de coliso com a
contra pea ou ausncia de material. (Figura 7).

Figura 7. Resultado da avaliao cromtica da amostra A ( esquerda) e B (ao centro)

O quadro de tolerncias da figura 7 ( direita), com subdivises diferenciadas por cores informa uma evoluo
gradativa, sendo o tom roxo indicando o valor do desvio naquele ponto abaixo da tolerncia inferior estipulada e o
vermelho indicando o valor acima da tolerncia superior.
Na MMC utilizada para o trabalho, o apalpador possui sua ponta de dimetro dois milmetros, a largura do canal
que forma os caracteres de 1,5mm, portanto, esta diferena gerou um problema de acesso aos detalhes, no permitindo
que os caracteres fossem dimensionados.
4.3. Medies por Digitalizao
Realiza-se primeiro a digitalizao da amostra, gerando um grupo de imagens com a caracterstica particular de
formarem micro polgonos que relacionados entre si formam uma malha, esta utilizada para o comparativo com o
modelo construdo no CAD, conforme apresenta a figura 8.

Figura 8. Malha da amostra digitalizada

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Para realizar o alinhamento necessrio que a malha e o modelo CAD estejam pr-alinhados, portanto, a primeira
etapa para extrair dados efetivamente coincidir as formas digitalizadas com as apresentadas no CAD. Realizado o
alinhamento, pode-se dimensionar as amostras.
Com a finalidade de um comparativo dimensional entre equipamentos, aplicaram-se as mesmas coordenadas dos
1100 pontos utilizados na MMC para varredura de superfcie, mas devido a grande quantidade de pontos sobre uma
pequena rea, as etiquetas dimensionais no so apresentadas, causando dificuldade de leitura dos valores. Com a
ampliao da imagem, h visibilidade, mas no de todas as etiquetas simultaneamente.
Ao aplicar uma avaliao cromtica nas amostras, juntamente com a possibilidade de o equipamento apresentar
riqueza no nmero de pontos e mincias nos detalhes, a visualizao torna-se clara sobre as variaes dimensionais da
superfcie de interesse. Verifica-se para a amostra A da figura 9 ( esquerda) que uma mnima parte apresenta a cor azul
escurecida, que est na faixa de tolerncia entre -0,24mm -0,30mm, mas dentro do campo de tolerncias estipuladas
em desenho.
Na amostra B da figura 9 (ao centro) evidenciam-se desvios na cor azul escuro, significando que aquela regio est
com desvios alm da faixa de tolerncia inferior, outras regies tendendo cor vermelha apresentam desvios alm da
faixa de tolerncia superior, regies provveis de coliso com a contra pea ou ausncia de material.
O quadro de tolerncias com subdivises diferenciadas por cores da figura 9 ( direta) informa uma evoluo
gradativa, sendo que o azul escuro indica valor do desvio naquele ponto abaixo da tolerncia inferior estipulada, e o
vermelho indica acima da tolerncia superior.

Figura 9. Resultado da avaliao cromtica da amostra A ( esquerda) e B (ao centro)

O mtodo de digitalizao permite que sejam avaliadas caractersticas limitadas para outros mtodos. No caso das
amostras projetadas, fabricadas e dimensionadas, a limitao encontra-se na regio dos caracteres, comprovando que
apenas a digitalizao foi capaz de avaliar esta regio.
5.

CONCLUSO
No presente trabalho foram enfatizados mtodos sobre a medio de superfcies com geomtrica complexa
utilizados na indstria, como analisar um sistema de medio considerando os fatores que envolvem o
dimensionamento das amostras, o projeto e confeco da forma em uma amostra de maneira singular e representativa.
As metodologias propostas para verificao metrolgica dessas amostras foram apresentadas visando garantir a
qualidade das medies. Por outro lado, em virtude da metrologia ptica ser cada vez mais aplicada no meio industrial,
foi apresentado e avaliado um sistema ptico de medio baseado em digitalizao.
As principais concluses encontradas tm como base um conjunto de fatores, no somente o resultado dimensional,
itens referentes s pessoas, ambiente e calibrao dos equipamentos influenciaram, considerando que o gabarito no
permite ajuste para calibrao.
O gabarito possui um custo baixssimo comparado com os demais equipamentos, porm, o fator do resultado ser
por atributo limita a identificao detalhada da falha na pea, podendo considerar uma pea dimensionalmente boa
como uma pea rejeitada ou vice-versa.
Analisando os resultados dimensionais obtidos nas medies de superfcies livres, pode-se afirmar que o
equipamento ptico oferece amplos recursos e solues com sua versatilidade, superando a mquina de medir por
coordenadas, pois, possibilitou uma varredura completa de toda a superfcie de interesse.

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A possibilidade de fazer medies sem contato garante que a superfcie permanea intacta, por mais frgil e
complexa que ela seja e, tambm, nota-se sua alta velocidade de medio se comparado com MMC. O controle
dimensional e geomtrico de peas complexas chave na garantia da qualidade, pois, durante a fabricao, alguns
defeitos podem surgir que comprometam a funcionalidade da pea, dependendo da confiabilidade das medies.
6.

REFERNCIAS

Albertazzi, A., 2012, Controle Geomtrico Atravs da Metrologia ptica, Chegando Onde Nenhum Outro Meio de
Medio Consegue Chegar,
Brajlih, T., 2010, Possibilities of Using Three-Dimensional Optical Scanning in Complex Geometrical Inspection,
Cardoso,
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2010
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de
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da
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Disponvel
em:
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7.

RESPONSABILIDADE AUTORAL

Os autores so os nicos responsveis pelo contedo deste trabalho.

ANALYSIS METHODS FOR SIZING OF SURFACES WITH COMPLEX

GEOMETRY
Stajn, Roberto, robertostajn@yahoo.com.br1
Machado, Marco Antonio Moraes, markinho.machado@hotmail.com1
Hirakuri, Anderson Hisashi, ah.hirakuri@hotmail.com1
Catapan, Mrcio Fontana, marciocatapan@gamil.com1
Universidade Positivo, Rua Prof. Pedro Viriato Parigot de Souza, 5300. Bairro Campo Comprido. Curitiba Pr. CEP:
81280-330

VIII Congresso Nacional de Engenharia Mecnica, 10 a 15 de agosto de 2014, Uberlndia - Minas Gerais

Abstract. Metrology is, today, one of the most important areas of scientific knowledge and to have greater applicability
in industrial circles, representing one of the most important instruments of technological development of enterprises
and contributing largely to its competitiveness. The competition between companies makes their products have a more
creative and different look to win the customer, however, it brings challenges to industries due to the complexity of the
product and its mechanical component. These problems have been solved with manufacturing and design more
sophisticated equipment that are created according to the market need. The objective of this work is to demonstrate
that metrology methods adopted by the team have the highest efficiency, quality and reliability in the design of surfaces
with complex geometry. With the design and manufacturing of two prototype pieces, measurements are carried out by
the method of contact, with the aid of feedback and measure coordinate and non-contact measurements, using the
three-dimensional scanning optical apparatus machine. After performed the measurements and performed the data
collection and outcomes, analyzes were conducted to show which method comprises studied needs. The threedimensional optical scanning equipment presented more complete also reliable and accurate when compared to other
existing results and studied. The dimensional and geometric control of complex parts is key in ensuring the quality
because during manufacturing, some defects can arise that compromise the functionality of the piece, depending on the
reliability of the measurements. Thus, the generation of robust measurement solutions is a challenging goal and
economic return.
Keywords: Complex geometry, sizing, contact measurement, non-contact measurement, 3D scanning.