ENQUALAB-2013 - Congresso da Qualidade em Metrologia

27 a 29 Agosto de 2013 | 1/10

ENQUALAB-2013 - Congresso da Qualidade em Metrologia

ANLISE DE MATERIAIS E DIMENSIONAMENTO DE PEAS METLICAS

UTILIZANDO TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA DE RAIOS X
Diogo Cesar Borges Silva1* (Pesquisador Assistente)
Crhistian Raffaelo Baldo1* (Coordenador Tcnico de Projetos)
1 Laboratrio de Micromanufatura (LMI), Ncleo de Bionanomanufatura (BIONANO)
Instituto de Pesquisas Tecnolgicas do Estado de So Paulo (IPT),
Av. prof. Almeida Prado, 532, 05508-901, So Paulo, SP, Brasil
* Autor correspondente / e-mail: diogoc@ipt.br,
TEL: +55-11-3767-4475

A tomografia computadorizada por absoro de raios X, originalmente concebida para

visualizar de forma no invasiva estruturas internas do corpo humano, nos ltimos anos
tem se tornado uma importante ferramenta de controle de qualidade de materiais e de
avaliao dimensional de componentes e geometrias. Sem danificar o objeto em
anlise, descontinuidades, trincas, poros e incluses podem ser detectados, e
geometrias fisicamente no acessveis, ou complexas, podem ser avaliadas. Para
componentes automotivos, a tomografia computadorizada por absoro de raios X
pode trazer contribuies significativas aos processos de controle de qualidade de
produto. Neste artigo so delineados e discutidos, sob o ponto de vista metrolgico, a
anlise de materiais em peas automotivas e a avaliao dimensional de geometrias
intricadas nas mesmas. A apropriada seleo dos parmetros de uma medio e a
interpretao de resultados so discutidas para cada caso. A fuso de diversas janelas
de medio, que possibilita aumentar virtualmente o tamanho do detector, tambm
discutida para os casos de aplicao apresentados.
Palavras-chave: Metrologia Industrial, Tomografia Computadorizada, Anlise de Falhas

1. Introduo
Nos anos 1970, os primeiros usos da
Tomografia
Computadorizada
por
absoro de Raios X (TCRX), em
diagnsticos radiolgicos deu incio a

uma revoluo no campo da engenharia

biomdica. Atravs da TCRX, imagens
representando sees do corpo humano
podiam ser obtidas, proporcionando
inmeras aplicaes de tratamento e
diagnstico. Desde ento, a TCRX

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tornou-se parte essencial em praticas

mdicas.
Avanos na capacidade de distino
de menores diferenas de densidade e o
aumento na velocidade de obteno de
resultados tornaram essa tecnologia
adequada inicialmente para inspeo
no destrutiva de peas mecnicas,
realizando inspees de segurana de
integridade de palhetas de turbinas de
helicpteros e peas em alumnio
fundido [1]. Descontinuidades, incluses
e porosidades podiam ser detectadas
sem interveno fsica na amostra,
oferecendo possibilidades de anlise
inteiramente novas.
Recentemente, com a evoluo da
tecnologia, a TCRX tem sido utilizada
como tcnica de medio dimensional
de geometrias internas e externas de
peas, de modo no destrutivo. Estudos
tm sido realizados reportando aspectos
gerais e especficos da tecnologia de
TCRX aplicados metrologia, em
especial relacionados incerteza de
medio e rastreabilidade [2-5].

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uma fonte de raios X. A distribuio de

intensidade da radiao aps atravessar
o objeto determinada por meio de um
detector e digitalmente armazenada
como uma projeo 2D. As projees
resultantes da rotao completa da
amostra definem a entrada do algoritmo
matemtico usado para construir um
volume que representa a amostra
interna e externamente.
Neste artigo, a anlise do material de
bielas automotivas, produzidas atravs
de processos de fundio e de
forjamento, bem como a anlise
dimensional de geometrias complexas
encontradas nesse tipo de pea, so
descritas e discutidas. A escolha
adequada dos parmetros de medio
de uma TCRX, tais como a tenso e a
corrente aplicadas, o passo angular da
medio, o tempo de exposio em
cada posio angular e o nmero de
imagens tomadas por posio angular,
estudado para a tarefa de medio de
bielas automotivas. tambm discutido
o uso da fuso de diversas janelas de
medio (doravante denominado raster),
que aumenta virtualmente o campo de
medio, permitindo obter em um nico
volume informaes de mais de uma
janela de medio.
2. Bielas - Anlise de material

Figura 1 Princpio de funcionamento de uma

mquina de TCRX com detector 2D plano.

Em geral, em um sistema de TCRX,

a amostra a ser inspecionada,
rotacionada sob a radiao emitida por

Atualmente, em sua maioria, as

bielas automotivas so compostas por
ligas de ao. Produzidas por fundio,
forjamento ou metalurgia do p, o corpo
resultante precisa ser inspecionado uma
vez que, durante o processo de
produo, descontinuidades no material
podem estar presentes. Esses defeitos
podem afetar o desempenho e a vida til
do produto final. Para analisar o material

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das bielas, uma mquina de TCRX, com

as caractersticas descritas na Tabela 1,
foi utilizada.
Parmetro
Volume de
medio
Tenso mx. da
fonte de Raios X
Potncia mx. da
fonte de Raio X
Detector plano
Ampliao

Valor
165 mm
H 150 mm
350 mm
H 350 mm

Tipo
na imagem
por raster

225 kV
microfoco
320 W
(200 x 200) mm
(200 x 200) m
1x a 10x

dimenso fsica
dimenso pixel
pr-calibrada

Tabela 1 Especificaes tcnicas da mquina

de TCRX empregada para inspecionar bielas
automotivas (: dimetro do cilindro virtual; H:
altura do cilindro virtual).

Considerando a alta densidade do

metal e a natureza polienergtica dos
raios X produzidos na mquina, a
inspeo de peas de ao de
geometrias complexas e com longos
comprimentos radiogrficos (distncia a
ser percorrida pelos raios X atravs do
material, maior que 40 mm), no uma
tarefa trivial.
As sees a seguir descrevem a
inspeo de bielas usando TCRX dos
seguintes pontos de vista: definio dos
parmetros de medio, posicionamento
e alinhamento da pea, e resultados da
tomografia.
As bielas utilizadas nesse trabalho
geraram um cilindro de rotao virtual
de aproximadamente 100 mm x 300
mm, sendo assim, maiores que o
detector plano da mquina de TCRX
utilizada, sendo tambm empregado o
recurso de raster.
2.1 Parmetros da tomografia
Para realizar um escaneamento por
TCRX, diversos parmetros da mquina

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precisam ser selecionados pelo usurio.

A seleo adequada do fator de
ampliao depende do tamanho da pea
e da resoluo necessria para anlise
a ser realizada. Posicionar a pea mais
perto da fonte de raios X produz maior
ampliao e, por consequncia, melhor
resoluo. Em contrapartida, uma vez
que a rea do detector no se modifica,
aproximar a pea da fonte de raio X
reduz tambm a janela de medio,
aumentando o tempo total de medio
para a pea completa.
Ao escanear materiais densos, que
necessitam elevados nveis de energia,
um contraste de imagem inadequado,
consequncia de uma m seleo de
parmetros, pode ocasionar saturao
do detector ou pontos de contraste igual
a zero, i.e., regies onde nenhum fton
teve energia suficiente para atravessar,
gerando volumes no representativos.
Deve ser selecionado um valor de
tenso e corrente para a fonte de raios
X (fatores que determinam a quantidade
e o nvel de energia dos ftons gerados)
e um tempo de exposio do detector,
de forma que seja obtida uma imagem
no detector com contraste otimizado,
garantindo um volume adequado. O uso
de filtros, i.e., a colocao de lminas
delgadas de metal entre a fonte de raios
X e a pea, para filtrar ftons de baixa
energia, permitindo assim o uso de mais
potncia, tambm um recurso para
que se obtenha um melhor contraste.
Para um detector de 16 bits de
resoluo, como regra geral, o limite
superior do contraste da imagem deve
ser ajustado para um valor inferior a
220. O limite inferior do contraste, por
outro lado, depende da densidade do
material e da geometria da pea em
anlise e deve ser sempre maior do que

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zero. Parmetros como a mdia de

imagens por posio e o nmero de
passos dados para completar uma volta
de 360, podem melhorar a imagem,
mas, da mesma forma que o tempo de
exposio do detector, aumentam o
tempo de escaneamento.
2.2 Posio e alinhamento
O feixe de raios X produzido pela
mquina contm ftons de diferentes
nveis de energia que podem ser
descritos por uma curva normal. Desse
modo, entre os ftons produzidos so
encontrados ftons de baixa energia, de
mdia energia (a maior parte) e de alta
energia. Ftons de baixa energia ao
interagirem com o material da amostra
em anlise tendem a ser absorvidos,
no alcanando o detector. Ftons de
alta energia sofrem atenuao, mas so
capazes de atravessar o material,
chegando ao detector sem praticamente
sofrer desvios. Para os ftons de nvel
de energia intermedirio so observados
tanto efeitos de absoro, quando de
passagem sem desvio, porm, devido
alta densidade do material medido neste
estudo, uma grande quantidade desses
raios sofre efeitos de espalhamento, i.e.,
os raios ao atravessarem o material so
atenuados e mudam de direo,
podendo ou no chegar ao detector [2].
A fim de investigar o comportamento
do espalhamento em peas de ao com
comprimento radiogrfico relativamente
longo, testes foram realizados em um
anel de ao capaz de simular a resposta
da TCRX ao escanear a extremidade de
maior dimetro de bielas automotivas.
Efetuaram-se trs escaneamentos, cada
um com uma orientao diferente, em
relao ao eixo da mesa rotativa:

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a) Centro do anel inclinado aprox. 45

em relao ao eixo de rotao:
setup que minimiza a variao da
distncia a ser percorrida pelos
raios e evita que superfcies planas
estejam ortogonais ao eixo de
rotao.
b) Centro do anel inclinado aprox. 90
em relao ao eixo de rotao:
setup que produz dois extremos de
distncia de penetrao e possui
superfcies ortogonais ao eixo de
rotao.
c) Centro do anel inclinado aprox. 70
em relao ao eixo de rotao:
setup que produz dois extremos de
distncia de penetrao e evita
que superfcies estejam ortogonais
ao eixo de rotao.
Para todos os casos, o anel de ao
foi fixado em um suporte de isopor e o
centro do anel posicionado no centro da
janela de medio. A Tabela 2 lista os
parmetros de TCRX utilizados. Os
modelos 3D resultantes so exibidos na
Figura 2. Na imagem, observa-se que
para os alinhamentos (a) e (c), onde foi
evitado que partes da pea estivessem
perpendiculares ao eixo de rotao, i.e.,
paralelos ao feixe de raios X, pde-se
verificar o efeito do espalhamento dos
raios, nas regies indicadas pelas setas.
Parmetro
Tenso aplicada
Corrente aplicada
Tempo de exposio
Mdia de n imagens
Incremento angular
Filtro
Fuso de imagens (raster)

Configurao
200 kV
750 A
2000 ms
n=3
0,225
3 mm (estanho)
no utilizada

Tabela 2 Parmetros utilizados para realizar o

escaneamento por TCRX do anel de ao, para
todos os alinhamentos.

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Por essa razo, para inspecionar

bielas automotivas optou-se pelo uso do
alinhamento (b), onde o centro do anel
inclinado aprox. 90 em relao ao eixo
de rotao. importante notar que em
todos os casos o nvel de energia
empregado foi insuficiente para evitar
problemas por absoro durante o
escaneamento. Como o comprimento
radiogrfico similar ao de bielas de
ligas de ao, o mesmo comportamento
seria esperado ao escane-las usando a
mesma mquina.
Renderizao (s)
Inclinao de
45 (a)

Inclinao
de 90 (b)

Inclinao
de 70 (c)

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estruturas
internas
de
materiais
utilizando a TCRX a identificao, sem
danificar a amostra, de vazios, incluses
e descontinuidades. Os parmetros de
medio utilizados esto contidos na
Tabela 3, para cada biela inspecionada.
O modelo do volume reconstrudo foi
investigado por meio de secionamento e
inspeo visual nas direes x (frente), y
(lateral) e z (altura). A Figura 3a ilustra a
renderizao em escala de cinza de
uma seo da biela de ao fundido. A
Figura 3b ilustra a mesma seo, porm
renderizada utilizando diferentes cores
para diferentes faixas de densidades,
oferecendo outras possibilidades de
visualizao do comportamento do
material da pea.

Parmetro

Renderizao (t)
Inclinao de
45 (a)

Inclinao
de 90 (b)

Inclinao
de 70 (c)

Tenso aplicada
Corrente aplicada
Tempo de
exposio
Mdia de n
imagens
Incremento angular
Filtro
Secionamento
da medio
Fuso de imagens
(raster)

Configurao
Biela
Biela
fundida
forjada
200 kV
220 kV
850 A
910 A
2000 ms

1000 ms

n=3

n=4

0,225
3 mm
(estanho)

0,225
3 mm
(estanho)

3 sees

2 sees

no
utilizada

no
utilizada

Tabela 3 - Parmetros de escaneamento por

TCRX, utilizados na medio das bielas fundida
e forjada.
Figura 2 Na renderizao slida (s), maiores
deformaes devido ao espalhamento so
observados nos alinhamentos (a) e (c); falhas
so observadas para todos os alinhamentos na
renderizao com transparncia (t)

2.3 Resultados da medio

O objetivo principal da inspeo de

visvel em ambas as imagens uma

variao de densidade do material
devido limitao de energia dos raios
X da mquina utilizada, na parte
superior e inferior do dimetro na
imagem,
representado
por
um
escurecimento no tom de cinza na

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Figura 3a e por regies esverdeadas na

Figura 3b. Apesar desses efeitos, a
presena de falhas na densidade do
material tambm perceptvel, indicada
pela seta, sendo representada como
uma mancha escura na Figura 3a e por
uma mancha definida, em tons de verde,
na Figura 3b.
(a)

(b)

Figura 3 - (a) Imagem renderizada em escala de

cinza, de uma seo da biela fundida; (b)
Imagem renderizada utilizando diferentes cores
para diferentes densidades da mesma seo da
biela fundida. As setas indicam descontinuidade
de material.

Figura 4 - Imagem renderizada em escala de

cinza de uma seo do volume resultante da
medio da biela forjada. A seta indica
descontinuidade de material.

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Para a biela forjada, uma seo

apresentada sendo renderizada em
escala de cinza (Figura 4). Da mesma
forma que nas imagens da biela fundida,
uma variao de densidade do material
devido limitao de energia dos raios
X da mquina utilizada, observada na
parte superior e inferior do dimetro da
imagem, e tambm possvel observar
falhas do material, indicadas pela seta.
Os resultados do escaneamento por
TCRX para anlise e visualizao de
estruturas internas tornam possveis
melhorias no ciclo de desenvolvimento
de produtos. Por ser uma tcnica de
inspeo no destrutiva, as falhas
encontradas podem ser correlacionadas
aos resultados de outros testes.
No entanto, o nvel de energia que a
mquina utilizada nos testes capaz de
alcanar torna limitada sua utilizao na
avaliao de peas de ligas de ao de
maior tamanho. Considerando a mesma
mquina, para bielas feitas em ligas de
alumnio, dada a sua menor densidade,
a avaliao de peas de maior tamanho
possvel.
3. Bielas - Avaliao dimensional
Seria de grande valor a possibilidade
de realizar a medio de geometrias
com o mesmo volume utilizado para a
inspeo do material. Contudo, efeitos
de espalhamento de raios X observados
nos escaneamentos do anel de ao,
descritos no item 2.2, tambm estavam
presentes nos resultados das bielas.
Considerando o dimetro maior,
observaram-se desvios da ordem de 2
mm em relao ao valor de referncia,
tornando o modelo resultante da pea
como um todo inapropriado para os
objetivos de uma avaliao dimensional.

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Uma possvel alternativa para a reduo

dos efeitos sistemticos resultantes da
TCRX envolveria a medio adicional
com outros sensores, resultando numa
matriz de correo de erros que poderia
ser aplicada medio. Essa tcnica de
compensao no foi considerada para
a inspeo, devido baixa qualidade
dos dados obtidos.

de medio e facilitando a posterior

anlise.

3.1 Tomografia de regio de interesse

Tabela 4 - Parmetros do escaneamento por

TCRX utilizado para inspecionar o arco usinado
na superfcie do dimetro maior da biela.

Apesar de o completo escaneamento

de bielas automotivas no ter produzido
dados suficientemente confiveis para
permitir uma anlise dimensional, a
tomografia em regies de interesse, com
melhor resoluo, pode ser usada como
uma opo para inspeo dimensional
de partes especficas dum componente.
Algumas bielas, por exemplo, podem
apresentar, na regio do dimetro maior,
geometrias complexas e no acessveis
para medies por contato, sem que a
amostra seja cortada.
A tomografia de regio de interesse
foi empregada no escaneamento de
sulcos usinados na superfcie interna do
dimetro maior de uma das bielas. De
forma a alcanar um balano de
contraste adequado, a fonte de raios X e
a mesa rotativa foram posicionadas
prximas ao detector, proporcionando
uma reduo dos tempos de exposio,
oferecendo a possibilidade de se utilizar
menos potncia, garantindo uma melhor
resoluo ao preo de se aumentar o
chamado efeito de cone, i.e., erros de
provocados pela no ortogonalidade dos
planos de amostragem em relao
mesa. Desse modo, uma imagem de
melhor qualidade e de resoluo mais
alta foi obtida. Foi tambm utilizado o
recurso de raster, diminuindo o tempo

Parmetro
Tenso aplicada
Corrente aplicada
Tempo de exposio
Mdia de n imagens
Incremento angular
Filtro
Fuso de k imagens (raster)

Configurao
220 kV
250 A
1000 ms
n=3
0,225
3 mm (estanho)
k=2

A Tabela 4 resume os parmetros da

TCRX utilizados para a medio do
sulco, formado por dois cilindros parciais
que se interceptam em duas linhas,
formando um arco. A Figura 5 ilustra as
projees laterais e a renderizao 3D
da regio de arco. O perfil da geometria
pode ser verificado, sendo necessrios
alguns passos adicionais para uma
anlise dimensional confivel.
3.2 Determinao de superfcie
Para gerar um modelo de superfcie
poligonal a partir do volume resultante
da medio, algoritmos padro de
determinao de superfcie foram
utilizados, sem que tenha sido aplicada
qualquer tcnica de reduo da malha
ou simplificao dos pontos. A definio
do padro de superfcie baseia-se num
valor de densidade inserido ou no pelo
usurio e a partir dele calculada uma
malha de tringulos que descreve essa
densidade e, por consequncia, uma
superfcie.
A Figura 6 mostra, esquerda, a
superfcie que foi determinada para a
regio do arco usinado e, direita, uma
nuvem de pontos calculada a partir da

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superfcie determinada, que pode ser

utilizada para avaliao dimensional de
geometrias.

Figura 5 - Projees laterais renderizadas em

escala de cinza e renderizao 3D da regio do
arco usinado na superfcie do dimetro maior da
biela.

Figura 6 - esquerda, renderizao da

superfcie determinada, sendo indicadas regies
de menor profundidade (A) e maior profundidade
(B) do arco. direita, a nuvem de pontos
extrada a partir da superfcie determinada.

3.3 Resultados da medio

A partir da nuvem de pontos da
regio em forma de arco, uma avaliao
dimensional dos dois cilindros parciais
que formam o perfil foi conduzida. Os
pontos no relacionados s geometrias
de interesse foram excludos, cilindros
foram ajustados aos pontos pelo mtodo
dos mnimos quadrados, relacionados
com as zonas A e B (Figura 6). A
distncia entre cada ponto e o cilindro
ajustado pelo mtodo dos mnimos
quadrados foi calculada e pode ser
observada na forma de cdigo de cores
na Figura 7.

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A maior parte dos desvios residuais

calculados ficou dentro do intervalo de
0,01 mm, o que se deve provavelmente
a efeitos causados pela preciso da
reconstruo do volume. Alguns desvios
residuais excederam o limite de 0,10
mm (regio da borda externa do perfil,
em vermelho, na Figura 7), relacionados
a efeitos de espalhamento dos raios.
Considerando que a tolerncia para
um arco usinado como este no deve
ser maior que 0,01 mm, os erros
residuais observados, tornam os dados
inadequados para o dimensionamento.
4. Consideraes finais
Este artigo descreveu a utilizao da
TCRX para inspecionar a qualidade do
material e realizar avaliao dimensional
de bielas automotivas de ligas de ao.
Efeitos parasitas aos registros dos raios
X, responsveis por causar anomalias
no volume resultante, puderam ser
minimizados com a utilizao de um
alinhamento adequado e de uma
determinao de superfcie adequada.
Apesar das descontinuidades causadas
por absoro, que podem levar a uma
interpretao errnea dos resultados,
caso uma avaliao inadequada seja
empregada, concluses puderam ser
tiradas sobre defeitos no material.
No que se refere ao controle
dimensional, entretanto, os efeitos
parasitas remanescentes drasticamente
afetaram a nuvem de pontos obtida.
Verificaram-se resultados no confiveis
para o dimetro maior, quando dados
no corrigidos foram utilizados. Apesar
da possibilidade de se realizar medidas
de referncia, utilizando-se sensores de
medio por contato para formar uma
matriz de correo de erros, tal tcnica

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produziria resultados questionveis para

a medio de detalhes usinados, os
quais no poderiam ser medidos sem
que a pea fosse cortada.

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REFERNCIAS
1. Weckenmann,
A.,
Krmer,
P.,
Application of computed tomography
in
manufacturing
metrology,
Technisches Messen, 76 (2009), 7-8.
2. Kruth, J.P., Bartscher, M., Carmignato,
S., Schmitt, R. De Chiffre, L.,
Weckenmann,
A.,
Computed
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for
dimensional
metrology,
CIRP
Annals
Manufacturing Technology, Volume 60,
No. 2, Pages 821-842, 2011.
3. Weckenmann,
A.,
Krmer,
P.,
Assessment
of
measurement
uncertainty caused in the preparation
of measurement using computed
tomography, XIX IMEKO World
Congress Fundamental and Applied
Metrology, Sept. 6-11, 2009, Lisbon,
Portugal.

Figura 7 Cdigo de cores mostrando a

comparao de cada um dos arcos com cilindros
gaussianos ajustados calculados a partir deles.

Na tomografia de regio de
interesse, por outro lado, os desvios
observados tiveram em sua maioria uma
variao da ordem de 0,01 mm. Nesse
caso, a utilizao de uma matriz de
correo tem grande potencial como
soluo para a reduo da incerteza de
medio, sendo necessrio, porm, que
a pea fosse cortada, permitindo assim
que a regio pudesse ser medida com
sensores convencionais, o que deve ser
objeto de trabalhos futuros. esperado
que a combinao da correo dos
dados originais com uma determinao
de superfcie avanada, no baseada
apenas num nico valor de cinza, mas
em valores locais e adaptativos, produza
resultados mais adequados.

4. Weckenmann,
A.,
Krmer,
P.,
Computed tomography new and
promising chances in manufacturing
metrology,
Int.
J.
Precision
Technology, Vol. 1, Nos. 3/4, 2010.
5. Schmitt,
R.,
Niggemann,
C.,
Uncertainty in measurement for x-raycomputed tomography using calibrated
work pieces, Measurement Science
and Technology, Vol. 21, 2010.