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INTRODUO
Um trabalho anterior relata a preparao de amostras utilizando a metodologia de fuso e espectrometria de fluorescncia de raios X (XRF) na anlise para calibrao de materiais relacionados com a indstria de cimento[1]. As experincias foram feitas segundo as diretrizes do International Standard Methods, usando dois conhecidos procedimentos de
anlise qumica de cimento. Os resultados apresentados provaram que se trata de uma metodologia de anlise consistente e que se qualifica segundo as normas ASTM C 114[2] e ISO/DIS 29581-2[3].
Este mtodo de anlise foi desenvolvido utilizando um Claisse M4TM, instrumento automtico de fuso para a preparao de amostras, e o espectrmetro Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence (WDXRF) para determinao de todos
os elementos importantes relacionados com a indstria do cimento. O mtodo foi utilizado na preparao de produtos
acabados, assim como uma grande variedade de matrias-primas que sero descritas neste segundo trabalho. Cimento, cimento misturado, cimento com adies, cimento de aluminato, clnquer, farinha de alimentao do forno, mistura
crua, gesso, areia, argila, bauxita, slica, escrias, cinzas e minrio de ferro esto entre as matrias-primas utilizadas na
anlise. Esta amostra foi transferida e potencializada pelo TheOX, instrumento de fuso inteiramente eltrico, atravs
de uma efetiva validao de desempenho do mtodo.
Como os ps so afetados pela mineralogia e pelos efeitos do tamanho de partcula[4, 5], quase impossvel o uso de
uma nica curva de calibrao XRF para a anlise de uma gama to ampla de materiais diferentes, utilizando o mtodo
de preparao de p prensado. Quando fundidos em recipientes de borato, todos os efeitos do tamanho de partcula
e da mineralogia so eliminados. Pode ser feita apenas uma curva de calibrao XRF cobrindo toda a gama de concentraes para a anlise de matrias-primas de elementos de interesse para da indstria do cimento.
Este ensaio examina todas as condies de anlise XRF para a calibrao de uma gama de matrias-primas, empregando-se a metodologia de preparao de amostras em fuso de borato. Nesta anlise, empregam-se inmeros materiais
de referncia (RMs). Os resultados desta anlise XRF nica e geral da calibrao de matrias-primas originais tambm
apresentaro dados em termos de exatido, preciso e limite de deteco.
EXPERINCIA
Preparao de calibrao
A calibrao do instrumento WDXRF foi executada com
uma ampla variedade de RMs provenientes de:
Bureau of Analysed Samples Ltd. (BAS): British Chemical
Standard Certified Reference Materials
Domtar Inc. Research Center: Canadian Certified Reference
Materials
China National Analysis Center for Iron and Steel: NCS DC
Reference Material
European Committee for Iron and Steel Standardization
European Coal and Steel Community (ECSC): Euro-Standard
Geological Institute for Chemical Minerals: GBW Reference
Material
Institut de Recherches de la Sidrurgie (IRSID) : chantillonType
Instituto de Pesquisas Tecnolgicas (IPT) : Reference Material
Japan Cement Association (JCA): Reference Materials for Xray Fluorescence Analysis
National Institute of Standards & Technology (NIST):
Standard Reference Material
Slovak Institute of Metrology (SMU): Slovak Reference Material
South Africa Bureau of Standards: SARM Certified Reference
Material
Composto
SiO2
0,02 - 99,78
0,03 - 99,86
Al2O3
0,004 - 85,07
0,005 - 85,32
Fe2O3
0,005 - 85,3
0,005 - 91,03
CaO
0,006 - 70
0,006 - 98,58
MgO
0,001 - 21,25
0,001 - 39,66
SO3
0,02 - 46,3
0,02 - 58,54
Na2O
0,001 - 4,81
0,001 - 4,84
K2O
0,001 - 4,99
0,001 - 5,02
TiO2
0,004 - 3,76
0,004 - 3,77
P2O5
0,003 - 8,42
0,003 - 8,62
Mn2O3
0,0001 - 4,93
0,0002 - 5,05
SrO
0,001 - 0,638
0,001 - 0,649
Cr2O3
0,0002 - 0,474
0,0004 - 0,486
ZnO
0,0001 - 0,107
0,0001 - 0,109
ZrO2
0,005 - 0,14
0,005 - 0,2
V2O5
0,0006 - 0,72
0,0007 - 0,75
BaO
0,0012 - 0,66
0,0012 - 0,66
Dois conjuntos de diferentes discos de vidro padronizados foram produzidos nos fundentes M4TM e TheOx. O
primeiro conjunto foi utilizado para a calibrao. Uma vez
completada a calibrao, os dois conjuntos de discos de
vidro foram analisados. Os resultados foram depois utilizados para avaliao da preciso e da exatido da metodologia
RESULTADOS E DISCUSSO
1)
Cimento
118
118
9)
Bauxita
2)
Cimento com
AditivosA
15
15
10)
Areia
3)
Cimento de
Aluminato
4)
Clnquer
13
13
12)
Cinza Fina
5)
Mistura Crua
11
11
13)
Escria
6)
Cal
19
12
7)
Gesso
15)
Outro
90
8)
Argila
Total
242
233
80
A. Aqui esto enumerados apenas os cimentos com aditivos conhecidos; a categoria cimento inclui provavelmente alguns cimentos com aditivos.
B. As duas amostras de escria que falharam continham alto nvel de cobre.
C. As amostras de minrio de ferro que falharam continham alto nvel de cobre.
O mtodo universal de fuso demonstrou uma boa eficcia para preparar os discos de vidro de borato de ltio, homogneos e estveis, com todos os materiais exceto trs:
minrios de ferro que continham alto nvel de magnetita,
minrios de ferro ricos em cobre e escrias de cobre.
Calibrao
60
50
40
30
20
10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
90
100
Coeficiente de Correlao
ao Quadrado
Al K
Alphas fixas
---
1,0000
Ba L
Alphas fixas
Sobreposto a Ti
0,9982
Ca K
Alphas fixas
---
1,0000
Cr K
Alphas fixas
Sobreposto a V
0,9997
Fe K
Alphas variveis
---
1,0000
K K
Alphas fixas
---
0,9999
Mg K
Alphas fixas
---
0,9999
Mn K
Alphas fixas
Sobreposto a Cr
0,9998
Na K
Alphas fixas
---
0,9998
P K
Alphas fixas
---
1,0000
S K
Alphas variveis
---
1,0000
Si K
Alphas variveis
---
1,0000
Sr K
Alphas fixas
---
0,9995
Ti K
Alphas fixas
---
0,9999
V K
Alphas fixas
Sobreposto a Ba & Ti
1,0000
Zn K
Alphas fixas
---
0,9986
Zr K
Alphas fixas
Sobreposto a Sr
0,9988
70
60
50
40
30
20
10
20
30
40
50
60
70
80
Correo Interelemento
80
10
70
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
LLD
(ppm)
Max. Dev.A
entre
Duplicados
M4TM
(%)
Max. Dev.A
entre
Duplicados
TheOxTM
(%)
Software
Desvio
Padro
(%)
Max. Dev.A
para
Valor
Certificado
(%)
SiO2
40
0,10
0,15
0,16
0,59
Al2O3
61
0,11
0,16
0,105
0,34
Fe2O3
51
0,12
0,11
0,089
0,36
CaO
41
0,17
0,19
0,16
0,34
MgO
84
0,04
0,04
0,081
0,22
SO3
47
0,11
0,05
0,062
0,19
Na2O
85
0,02
0,02
0,018
0,07
K2O
17
0,02
0,02
0,011
0,04
TiO2
42
0,02
0,01
0,0130
0,06
P2O5
58
0,02
0,03
0,0074
0,03
Mn2O3
25
0,009
0,012
0,012
0,04
SrO
14
0,01
0,006
0,0044
0,014
Cr2O3
34
0,006
0,005
0,0024
0,008
ZnO
13
0,003
0,002
0,0010
0,003
ZrO2
11
0,002
0,002
0,0032
0,007
V2O5
15
0,003
0,001
0,0019
0,004
BaO
57
0,01
0,006
0,0060
0,014
por fuso permite fundir cimentos e todas as matriasprimas que so normalmente encontrados na indstria
de cimento. A calibrao est em conformidade com os
requisitos de preciso e exatido dos mtodos padronizados internacionais para a anlise de cimento (ISO/DIS
29581-2 y ASTM C114).
Neste trabalho, foi provado que possvel obter uma calibrao universal precisa e exata, capaz de cobrir uma vasta gama de matrias-primas utilizadas pela indstria de
cimento mundial. A gama de materiais incluem cimento,
cimento misturado, cimentos com aditivos, cimento de
aluminato, clnquer, mistura crua, calcrio, gesso, areia,
argila, bauxita, slica ativa, escrias, cinzas e minrio de
ferro, para citar alguns.
REFERNCIAS
1.
BOUCHARD, M., ANZELMO, J.A., RIVARD, S., SEYFARTH, A., ARIAS, L.,
BEHRENS, K., DURALI-MLLER, S., Global Cement and Raw Materials
Fusion/XRF Analytical Solution, Advances in X-ray Analysis, Vol. 53, Proceedings of the 58th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis
(Denver X-ray Conference), International Centre for Diffraction Data, ISSN
1097-0002, 2010, p. 263-279.
2.
3.
4.
5.
6.
BOUCHARD, M., ANZELMO, J.A., RIVARD, S., SEYFARTH, A., ARIAS, L.,
BEHRENS, K., DURALI-MLLER, S., Global Cement and Raw Materials
Fusion/XRF Analytical Solution. II, Powder Diffraction, Vol. 26, No. 2,
International Centre for Diffraction Data ISSN 0885-7156, 2011, p. 176-185.
Um mtodo analtico universal de fuso / XRF para materiais da indstria do cimento foi descrito neste documento
e em documento anterior[1]. Este mtodo de preparao
w w w. c l a i s s e. c o m
CLAISSE CANADA
CLAISSE USA
CLAISSE AUSTRALIA