Las dos combinan la posibilidad de obtener imgenes de gran resolucin con

anlisis qumico de pequeas reas del material.

La ventaja que tiene los electrones sobre otras partculas es que son fcilmente
acelerados mediante una diferencia de potencial y es fcil modificar su
trayectoria en presencia de campos elctricos o magnticos.
Ina haz de electrones inside sobre una muestra y de la interaccion de estos
electrones con los atomos de la misma, surgen seales que son captadas por
un deteector y proyectadas sobre una pantalla.
Al resolucin depende del voltaje acelerador , dela calidad y grado de correcion
de aberraciones

MEB
- revoluciono la microscopia.
Permite el anlisis de la morfologa y caractersticas superficiales.
Este equipo utiliza una fuente de electrones (con un voltaje entre 0,1 y 30 keV
y lentes electromagnticas para enfocar, sobre una muestra recubierta
(conductora), una haz de electrones muy concentrado. esta interaccin hazmuestra, arranca electrones de la muestra (electrones secundarios)que son
captados por detectores situados en la columna del microscopio . a partir de la
informacin proporcionada por estos detectores , el sistema de control del
microscopio elabora una imagen en escala de grises de la superficie de la
muestra. Normalmente para visualizar las muestras en el MEB se puede
trabajar a bajos kev , dependiendo de la muestra a observar , de igual forma el
equipo tiene la capacidad de realizar anlisis quimico dela muestra, y en este
caso debe trabar con voltajes mayores, entre 15 y 30 kev.
Principales variables operativas.
1. Sistema de vacio:
1. Permitir el desplazamiento de electrones: la distancia entre el haz de
electrones y la pantalla es de 1 m aprox pueden haber desviaciones.
2. Para evitar descargas de alta tensin en el caon electrnico: cualquier
mlecula de gas se puede convertir en ion positivo al bombardear
electroesn y producira una descarga elctrica entre el filamento y el
anodo.
3. Evitar contaminacin de las muestras.
4. Para incrementar la vida til del filamento.

2. Medidores de vacio

Utiliza
ndo

diferentes tipos
de manometros

tubos de
descarga de
gases y
manometros
trmicos.
Medidor de pirani:
1906, da una medida de
la presin a travs de la
variacin de la
conductividad trmica
del gas. Este
dispositivo
consta de un
filamento metalico
suspendido en un tubo en el sistema de vacio y conectado a una fuente de
voltaje o una corriente constante. El alambre puede serde tugsteno otro
material cuya resisstencia varie con la temperatura .al aumentar el vacio, se
reduce la perdida de calorpor conduccin a travs del gas y aumenta la
temperatura y la resistencia del conductor .
3. sistema de refligeracion:

sistema que permite enfriar las bombas difusoras y las lentes

electromagnticas , para esto se hace circular a su alrededor agua tratada ,
filtrada y
refrigerada. Las lentes mas criticas
tienenun serpentin interior por
donde fluye el agua.
4. Unidad ptico
4.1
Filamento de
electrones
el anodo
unelectrodo
wehnel o
electrones

electrnica:
Caon electrnico:
tugsteno es la fuente emisora de
calienta al rojo blando a 10-6 torr. Entre
acelerador y el filamento se coloca
adicional llamado cilindro de
placa catdica que permite que los
se focalicen debajo del cilindro-

Voltaje

variable de 0,5 a 30 keV.

La
entre 10-7

intensidad de la corriente fluctua

y 10 -12 A

Se puede
mas
DE LANTANO)

obtener una fuente de electrones

brillante con LaB6 (HEXABORURO
pero requiere mas vacion.
4,2
Sistemas

de lentes electrnicas:
2,3 o 4 lentes que disminuyen el dimetro del haz de electrones de 50
micrometros a entre 25 y 10 nm. Hazdelectrones extremadamente fino
penetrando un poco mas de aqu se determina un volumen de interaccion
haz/muestra de donde se desprenden electrones secundarios, retrodispersados
y rayos x.

La

resolucin
esta
relacionadao con nlas dimensiones de la zona de la muestra exitada por un haz
primario.
Intensidad de las seales emitidas. Influenciada por las dimensiones de las
zonas dedonde ellas se generan y por la absorcin de la muestra lo que
determina la composicop dela muestra y la energa de los electrones en el haz
incidente.
Deector de electrones secundarios:
4,3 sistema de barrido:
Consiste en un campo de deflexin simpleo doble que puede ser electrosttico
o electromagntico y produce el desplazamiento del haz electrnico sobre la
superficie del amuestra . este campo se localiza cerca de la ultima lente
condensadora .
El haz se muede en linesas rectas superpuestas barriend enun rea regular
La misma seal que se aplica a las bobinas deflectoras se utiliza para barrer en
forma sisncronizada el haz del tubo de rayos catdicos producindose una
correspondencia punto a punto entre la superficie del a muestra, que es
barrida por el haz de electrones y la oantalla donde se observa la imgenes
barrido entre 0,5 y 500 segundos gral/ 10 segundos.
Micrografas 50segundos, mayor resolucin.
5. Portamuestra

Esta en la base de la columna del microscopio y en lnea con el haz electrnico

la pieza que sostien el espcimen permite dos movimientos:
Desplayamiento en X y Y a lo largo e la superficie
Movimiento de rotacin +- 180 e inclinacin horizontal entre -5 y +45
Se puede comprimir y prensar las muestras. Entre mas pequea mas resolcuio
6. Sistema de deteccin:
Cada muestra presenta un coeficiente de emisin secundaria caracterstico =
relacin entre electrones emitidos por superficie respecto a los primarios que
impactan.
Los electrones secundarios son de menor energa que los primarios solo
abandona la muestra y son detectaos lo sque se generan muy superficialmente
<5 A
Lo selectrones se detectan mediante un cristal de centello cuya superficie
mantiene un potenical de positivo de 10 a 12 kV . este cristal esta unido al
extremo de un baston de lucita que tiene otro extremo descanzando contra la
ventana del tubo fotomultiplicador .
Los elctrone secundarios colectados alcanzaran un centellaron donde se
genera una seal luminosa que amplificada por un fotomultiplicador se
convierte en una cascada de fotones
estos inciden el el fotoctodo que es parte del fotomultiplicador y se genera
una seal elctrica amplificada capaz de modular el haz de un tubo de rayos
catdicos obtenindose un rayo correspondiente a la imagene.
Como tiene baja energa pueden captar regiones muy inclinadas.
Electrones retordispersados
Viajan en lnea recta produciendo imgenes de contraste muy marcado con
efectos de luz y sombra bien definidos.
La variacin de las seales generadas se convierten en seales elctricas que
permite obtener imgenes en un microscopio de barrid parsando de una seal
o impulso electroco anlogo a digotal.
Sistema de proyeccin o visualizacin de las imagnes.
La simagenes se proyectan en dos tubos de rayos catdicos. Funcionan
sincronizado con el barrido

Una tiene una pantalla de alta resistencia barrido de 10 s obtencin de

imagne de 500 linesas
La segunda es azul para registro de micrigrafia y baja resistencia incluida una
cmara fotogrfica barrido 1000 o mas lneas mas resolucin A= aumento de
la imagne
Aumentos desde 15 A 300.000 veces

Tipos de imgenes obtenidas por electrones secundarios

Imagen tridimensional de la muestra. Mas protuberancias mas electrones
emitidos secndarios , hendiduras menos electrones .
Factores que influyen en el contraste de la imagen:
a) Angulo de incidencia del haz electrnico sobre la superficie.
Cuando mas al raz sea el hazmas electrones sern emitidos.
b) Composicin qumica del material
Variaciones de contraste debido a variaciones en la extructura atmica
Sombras suaves y difusas Parte de los electrones secundarios tiene
trayectorias curvas
Microanaliss y distribucon de elementos por rayoz x
Cuando un ahaz de electrones bombardea la muestra se producen rayos x que
son caracteristicos de los elementos especficos alcanzados EDAX
espectroscopia de rayos x por dispersin de energa.
Al met y meb se les puede adicionar analizadores aproppiados paa determinar
la cantidad de cada elemento siempre que sean con numero atomico superior a
4.
El EDAX recibe el espectro tota emitido por todos los elementos de la muestra
a la vez
Para cada foton de rayos x incidente el detector genra un impulso elctrico
cuya altura sea proporcional a la alenergia del foton
Los distintos impulsos generados son separados y almacenados en funcin de
su valor con ayuda de un analizador de altura de impulsos multicanal

El espectro de radiacin de rayosx emitido para cualquier material puede se

utilizado para hacer un microanlisis quimico semicuajtitativo mediante
espectrometra de diseprsion de longitudes de onda
Los electrones incidentes excitan a los atomos de la muestra y provocan la
emisin de rayos x cuya longitud de onda es caracterstica de los elementos
presentes en la muestra y cuya intensidad , para una determinada longitud de
onda es proporciona ala concentracin relativa del elemento.
Generalemente se determinan elementos mas no concentraciones pero en
muestras muy pulidas y planas es posible hacer anlisis cuantitativos al
comparar la intensisdad de los rayos x a cualquier longitud de onda con la
producida en una muestra patrn decomposiscio conocida.
MET
- primer microscopio.
Permite observaciones de la morfologa y microextructura interna de una
muestra.
En 1932 ruska y knoll en
Alemania publicaron un trabajo
donde proponan la idea de n
microscopio electrnico de
transmisin detallaban
esquemas de construccin de
las lentes y mostraban
imgenes obtenidas.
En 1986 recibio el nobel pero
muri en 1969
Filamento de tugsteno se uda
Voltaje de 10 y 120 keV
Dimetro de 7 micrometros a 5 micrometros
Alto vacio tiene una columna
Lentes condensadores:
Cilindro de acero con un hueco interno coaxial alrededor de este se forma un
campo electromagntico el poder de graduacin delas lentes se hace aun
mayor

IIBCAUDO

modelo H600 hitachi

El caon esta

comspueto por tres electrodos un triodo

El primero es
electrones y
filamento de
unos 2200 c
les hace
El segundo
esta a un
que el
filamento de

el catodo, es la ffuente de
mantien yn potencial negatvo esta formado por un
wolframio que se calienta a temperatras de
mediante una corriente electrnica que
emitir electrones por efecto termoinico
electrodo es un cilindro de wehnelt, rodea el filamento
potencial de 20 a 400 v mas negativo
filamento. Este focaliza los electrones que salen del
manera similar a una lente
electrosttica

Por ultimo esta el anodo conectado a la tierra justo despus del cilindro de
wehnelt
Siguen tres lentes condensadoras concentran la luz sobre la muestra a
observar
Atraviezan la muestra con un dimetro de 0,2 micrometros auque se trabaja
normalemente con 2 micrometros
Portamuestras:
Muestra de 3mm de dimetro
Muestra tiene que ser transparente a los electrones se coloca general/ una
rejila metalica o un anillo circular de 3mm de dimetro perpedicular al eje
optico
Esta en la base de la columna en lnea con el haz electrnico
La platina que lo sostiene permite movimientos en X y Y y rotacin del propio
plano.
Mov +- 1mm permite observaciones de desplaamientos hasta de 0,25 nm
Formacin de imgenes
Una vez atravezada la muestra se encuentran el sistema de formacin de la
imgene (lente objetivo, una lente media y dos proyectoras)
La resolucin del lente objetivo depende de la calidad y la correcion de las
aberraciones

Lente objetvo forma una imagen del objeto real el invertida

La lente intermedia por medio de bobinas controla la magnificacin de la
imagen
Las lentes proyectoras aumentan la imagen y la proyectan sobre una placa
fluorescente o placa fotogrfica
La pantalla de bservacion emite una luz verde proporcional al haz incidente y
se visualiza la imagen
La placa esta debajo de la pantalla fluorescene
Un fotmetro cerca de la pantalla indica el tiempo idneo de exposicin
Imgenes de campo claro y oscuro
Campo claro:
Inserta un diafragma de 5 y 70 microm en el primer plano focal del objetivo
permitiendo nicamente el
paso del haz trasnsmitido
intesceptando los dems
Nosirve para tejidos vivos
atraviesa al muestra
Atraviesade abao a arribaa
all se observa

Campo oscuro:
Wl objetivo se desplaza con especto al eje ptico permite el paso de algunso
haces difractados imagen de baja calidad y sin contraste
Otra forma de tenereste campo es inclinar el sistema de iluminacin que los
electrones dispersados viajen paralelos al eje ptico (campo oscuro de alto
contraste)
En los modernos se cambia de canpo claro a oscuro con un botn

Revela contornos, bordes no indica mucho de la composicin pero si es muy

til para analza sangretejidos vivos

Formacin de patrones de difraccin

Se puede obtener diagramas ade difraccin lo que aporta informacin sobre la
extructura crstalina de la misma
Si se hace incidir el haz de
electrones sobre un cristal con un
angulo capaz de satisfacer la ley
de bragg para una determinada
dstancia entre planos atomicos
Como la longitud de onda de los
electrondes es pequela el angulo
tamien lo es porque le haz debe
incidir paralelo al os planos
rectangulares
El diagrama
de difaccion esta formado por los puntos de
contre de los haces difractados y trasnmitido don el plano en la panalla
representa la seccin de la red reciproca de crista en el plano normal alhaz de
electrones
Los haces difractados son focalizados por la lente objetivo sobre su plano focal
haceindo que la lente intermedia docalice sobre este plano y se obtiene sobre
la pantalla de observacin el diagrama de difraccin de electroens aumentado
en un cierto facto favorable
Pelcula fotogrfica para el met
Es unan pelcula de grano extremadamente fino sobre una base de polieter
Kodak cdigo 4489

Cuentan con fuertes bases de polister que no contiene solventes y son

altamente resistentes al desgarres
Deben exhibir compatibilidades
comparables respeco al ultra alto vacio
siempre que sean apropaidanente
epreevacades antes de ser insertadas
en el sistema de vacio