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et a` la mecatronique
Cours GMC-16433
1 Lapproche exp
erimentale
1.1 Design dexperience . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2 Analyse des incertitudes . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2.1 Concepts de base . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2.2 Analyse detaillee des incertitudes . . . . . . . . .
1.3 Importance des etalonnages . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.1 Etalonnage
statique . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.2 Etalonnage
dynamique . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.3 Fonction de transfert et reponse en frequence dun
lineaire a` coefficients constants . . . . . . . . . . .
1.3.4 Realisation dun etalonnage dynamique . . . . . .
2 Introduction `
a l
electronique
2.1 Lelectronique et le genie mecanique . . . . . .
2.2 Notions de base . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.1 Source de tension . . . . . . . . . . . .
2.2.2 Source de courant . . . . . . . . . . . .
2.2.3 Conduction et resistance electrique . .
2.2.4 Le condensateur . . . . . . . . . . . . .
2.2.5 Linductance . . . . . . . . . . . . . .
2.2.6 Combinaisons RCL . . . . . . . . . . .
2.3 Amplificateur operationnel et circuits de base
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syst`eme
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5
5
7
7
13
15
15
19
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21
24
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29
29
30
30
32
34
39
41
44
48
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3 Acquisition de donn
ees
53
3.1 Generalites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
3.2 Echantillonnage
et recouvrement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3.3 Conversion A/N . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
i
3.4
3.5
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resistance electrique (RTD)
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62
69
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71
72
78
79
81
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85
85
89
94
95
6 Mesure de la pression
107
6.1 Concepts de base . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
6.2 Capteurs de pression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
7 Mesure du d
ebit
119
7.1 Conservation de la masse, debit massique et debit volumique . . . . . . . 119
7.2 Classification des debitm`etres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
7.3 Exemple de standard international: la Norme ISO 5167 . . . . . . . . . . 136
8 Mesure des forces et des d
eformations
8.1 Rappel sur les contraintes et les deformations . . . . . . . . . . . . . .
8.2 Extensometrie et jauges a` variation de resistance electrique . . . . . . .
8.3 Mesure dune variation de resistance electrique: le pont de Wheatstone
8.4 Utilisation des jauges de deformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.5 Les cellules de charge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.5.1 Principaux types de cellules de charge . . . . . . . . . . . . . .
8.5.2 Quelques applications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
9 Mesure de la position
9.1 Potentiom`etres . . . . . . . . . . . . . . . .
9.2 LVDT, RVDT . . . . . . . . . . . . . . . . .
9.3 Techniques basees sur des principes optiques
9.4 Capteurs ultrasoniques . . . . . . . . . . . .
9.5 Capteurs magnetostrictifs . . . . . . . . . .
ii
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153
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162
164
170
171
175
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177
177
179
180
183
184
9.6
9.7
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193
193
194
194
197
200
200
201
202
Annexes
203
A Exercices
205
221
221
222
222
223
223
226
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C Compl
ement de la section 3.2 sur le recouvrement et le
diagramme de repliement
229
C.1 Exemple de recouvrement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
C.2 Construction du diagramme de repliement . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
D R
eponse en fr
equence dun capteur s
eismique:
analyse dimensionnelle
233
Bibliographie
235
iii
iv
denomination
Unites SI
de base
[A]
amp`ere
[A]
Courant electrique
[C]
coulomb
[As]
Charge electrique
[cd]
candela
[cd]
Intensite lumineuse
farad
[A2 s4 /(kgm2 ]
[s/]
Capacitance
[H]
henry
[kgm2 /(A2 s2 )]
[s]
Inductance
[Hz]
hertz
[1/s]
[J]
joule
[kgm2 /s2 ]
[Nm]= [Ws]
Frequence
Energie
[K]
kelvin
[K]
Temperature
[kg]
kilogramme
[kg]
Masse
[m]
m`etre
[m]
Longueur
[mol]
mole
[mol]
newton
[kgm/s2 ]
[Pa]
pascal
[kg/(ms2 )]
[s]
seconde
[s]
[T]
tesla
[kg/(As2 )]
volt
[kgm2 /(As3 )]
watt
[kgm2 /s3 ]
weber
[kgm2 /(As2 ]
ohm
[kgm2 /(A2 s3 )]
[F]
[N]
[V]
[W]
[Wb]
[]
Unites
equivalentes
Quantite
physique
Force
[N/m2 ]
Pression, contrainte
Temps
[Vs/m2 ]
[J/s]
Puissance
Flux magnetique
[H/s]
Resistance
Unites
Definition
[m2 ]
Ac , Ap
[m2 ]
Af
[m2 ]
~a
[m/s2 ]
Vecteur acceleration
~ac
[m/s2 ]
aj
~ B
B,
[...]
[T]
Bx
[...]
[F]
C
~ C
C,
[1]
Coefficient de decharge
[Nm]
CD , CF
[1]
[Ns/m]
Facteur damortissement
ci
[...]
cp
[J/(kgK)]
[m]
[N]
[m]
di
[...]
[V]
Tension continue
[1]
[N/m2 ]
Ei
[V]
EF SR
[V]
vi
Notation
Unites
Definition
ei
[...]
eQ
[V]
[N]
F , K, T
F~c , Fc
[...]
[N]
[Hz]
Frequence
fc
[Hz]
fech.
[Hz]
Frequence dechantillonnage
fN
[Hz]
Frequence de Nyquist
fn
[Hz]
[N/m2 ]
Ga
[1]
[m/s2 ]
Acceleration gravitationnelle
[A/m]
H()
[1]
HA (f )
[1]
[m]
[J/kg]
I, i
~i
[A]
[1]
ig
~j
[A]
[1]
[1]
Nombre imaginaire (j 2 = 1)
[...]
[1]
Facteur de jauge
[W/(mK)]
k
~k
[N/m]
[1]
ks
[Nm/rad]
Rigidite en torsion
L
~ L
L,
[H]
Inductance
[m]
[m]
[1]
[Nm]
Moment de flexion
M, m
[kg]
Masse
[kg/s]
Debit massique
vii
Notation
Unites
Definition
[1]
[1]
~n
[1]
Px
[...]
[1]
Densite de probabilite
[Pa]
Pression
pabs
[Pa]
Pression absolue
patm
[Pa]
Pression atmospherique
pjauge
[Pa]
[C]
[V/bit]
Q
Q
[m3 /s]
Debit volumique
[W]
Q J
Q P
[W]
[W]
Q T
[W]
[N/m]
Chargement
qm
[kg/s]
qv
[m3 /s]
[]
Ra , Ro
[]
Re
[1]
Nombre de Reynolds
Rm
[]
rxy
[1]
rye y
[1]
Coefficient de regression
[...]
St
[1]
sx , s
[...]
Nombre de Strouhal
Ecart-type
dun echantillon x ou estimateur de
sxy
[1]
[K] ou [ C]
[s]
[s]
Temps
t, t,p
~, U
U
[...]
[m/s]
Ua
[m/s]
Uc
[m/s]
viii
Notation
Unites
Definition
Un
[m/s]
Us
~t
U
[m/s]
[m/s]
ux
[...]
[N]
Effort tranchant
[V]
[V]
vi vo
[V]
vm
[V]
W
~
W
[J]
Energie
[m/s]
~ =U
~ U
~ t)
Vecteur de vitesse relative (W
X(f )
[...]
x(t)
[...]
x(t)
[...]
x(t)
[m]
[m]
~xa
[m]
y(t)
[...]
y(t)
[...]
y(t)
[m]
ye
[...]
Z, Zeq.
ZC , ZL
[]
[]
[m]
z(t)
[m]
z, zp
[...]
Symboles
grecs
Unites
Definition
[deg]
Angle dincidence
[/( C]
[1]
3 , 4
[1]
AB
[V/K]
[...]
[...]
ix
Symboles
grecs
Unites
Definition
[1]
[N/m3 ]
[1]
[...]
[m]
Erreur totale
Elongation
totale
[t]
[...]
[1]
Deformation unitaire
[1]
[rad]
[rad]
[m]
Longueur donde
[...]
[Pas]
[H/m]
[1]
[...]
Moment dordre r
[m2 /s]
[1]
[m2 /N]
Piezoresistance
AB
[V]
[kg/m3 ]
[m]
, 2
[...]
Resistivite electrique
Ecart-type
et variance dune population
[V/K]
[N/m2 ]
Contrainte normale
[s]
[N/m2 ]
Contrainte de cisaillement
[rad]
[Wb]
Flux magnetique
[...]
[rad/s]
~,
[rad/s]
Autres
notations
Unites
A/N
Definition
Analogique/Numerique
bit
[m3 ]
Volume
()
()
[...]
[...]
d( )/dt
()
[...]
d2 ( )/dt2
E[ ]
[...]
( )
[...]
( )R , ( )I
[...]
||
[...]
xi
Introduction
Lorsque lon cherche `a resoudre un probl`eme dingenierie, deux approches generales peuvent etre considerees: lune fait appel a` la theorie et lautre a` lexperimentation. Dans
bien des cas, le probl`eme sera resolu en ayant recours aux deux approches; cela depend
de la nature du probl`eme. En fait, il nexiste pas de fronti`ere nette entre les deux approches (et notre but nest pas den etablir ...). Lexperimentation pure sappuie sur
de la theorie alors que toute theorie doit etre corroboree par des observations qui sont
souvent de nature experimentale... Les probl`emes se situant aux fronti`eres de la connaissance requi`erent souvent un emploi extensif de lexperimentation et de la theorie.
Les approches theorique et experimentale devraient donc etre considerees comme etant
complementaires lune de lautre. En general, un ingenieur qui adopte ce point de vue
sera beaucoup plus efficace pour resoudre des probl`emes que celui qui neglige lune ou
lautre de ces approches.
Le tableau 0.1 resume les principales caracteristiques des deux approches.
Approche theorique
Approche experimentale
Donne souvent des resultats dutilisation Donne souvent des resultats qui
generale plutot que dapplication
sappliquent specifiquement au
restreinte.
syst`eme etant `a lessai. Des
techniques telles que lanalyse
dimensionnelle peuvent toutefois
conduire `a quelques generalisations.
Requiert presque toujours des
Aucune hypoth`ese simplificatrice
hypoth`eses simplificatrices.
necessaire si les essais sont
On etudie donc plutot un mod`ele
effectues directement sur le syst`eme
mathematique simplifie du syst`eme
reel. On doit disposer de la technique
au lieu du syst`eme physique reel.
de mesure appropriee (celle-ci
Cela signifie que le comportement
doit exister ...). Dans ces conditions,
reel pourra differer du comportement
le comportement reel du syst`eme
theorique predit.
physique peut etre revele.
Lorsque lon fait appel `a lapproche experimentale, une selection pertinente des instruments de mesure necessite une bonne connaissance de ce qui est disponible sur le
marche. Pour bien connatre le marche, il nest pas necessaire de repertorier tous les
fabriquants ainsi que tous leurs produits. Il est plus important de connatre quels sont
les differents elements sensibles qui servent a` fabriquer les instruments de mesure. Il est
aussi important de savoir ce a` quoi ces elements sont sensibles (temperature, pression,
vitesse, deformation, deplacement . . .) et pourquoi ils le sont. Si on adopte cette optique
on peut en quelque sorte demystifier le marche et realiser que personne ne propose de
capteurs miracles. En fait, la plupart des capteurs sont bases sur des principes relativement simples qui sont ensuite bonifies a` laide de circuits electroniques (generalement
pour rendre leur reponse lineaire, sans hysteresis, compensee pour differents facteurs de
derive . . .). Pour faire de la recherche, il faut aller au del`a de lemballage (comprendre
comment ca marche . . .) et meme quelques fois verifier les caracteristiques des capteurs que le fabriquant propose. Differentes verifications peuvent etre faites par le biais
detalonnages adequats. Le but du cours nest pas de faire une revue des differents cap2
teurs. Il est plutot (entre autres) de rendre letudiant `a laise et minutieux lorsquil fait
de lexperimentation.
Les capteurs qui sont `a la base de tout syst`eme de mesure peuvent etre classes en
deux categories: les capteurs actifs et les capteurs passifs. Les instruments de nouvelle
generation utilisent generalement des capteurs actifs.
Une composante dont lenergie de sortie est enti`erement ou presque enti`erement
fournie par le signal dentree est appele un capteur passif. Un thermom`etre de verre a`
dilatation de mercure est un capteur passif. Un tube de pitot combine a` un manom`etre
est aussi un capteur passif. Par opposition, un capteur actif poss`ede une source de puissance auxiliaire. Celle-ci lui fournit la majeure partie de la puissance de sortie alors que
le signal dentree nen fournit quune portion insignifiante. Un accelerom`etre, un pont
de jauges de deformations ou un capteur de pression a` elements piezoelectriques sont
tous des exemples de capteurs actifs.
Dans le cours, on sinteresse plus particuli`erement aux capteurs actifs. Ceux-ci peuvent etre integres a` une chane de mesure automatisee, approche que nous favoriserons dans le cours. Cependant, cela ne veut pas dire que les capteurs passifs naient
pas dinteret; au contraire, certains de ces capteurs servent souvent de reference lors
detalonnages de capteurs actifs.
Chapitre 1
Lapproche exp
erimentale
1.1
Design dexp
erience
r Sassurer que linformation acquise soit suffisante pour atteindre les objectifs.
r Le plan doit faire appel si possible `a des methodes concomitantes de telle
sorte que lon puisse minimiser le biais sur les mesures.
Methodologie devaluation des methodes
r Identifier une ou plusieurs methodes de mesure candidates.
r Se baser sur un examen de la litterature des techniques et instruments disponibles.
r Une large gamme dinformations existe dans les livres specialises et les journaux scientifiques (methodes detaillees, theorie...), dans les codes nationaux
(techniques), dans les journaux commerciaux specialises (techniques, instrumentation...) et dans les bulletins techniques ou brochures des fabriquants et distributeurs dinstruments de mesure (techniques, details des caracteristiques des instruments...).
Analyse des incertitudes
r Decider du niveau minimum dexactitude que lon peut tolerer.
r Faire ce choix de telle sorte que les donnees finales puissent toujours rencontrer
les objectifs de depart.
r Le seuil dexactitude depend de lapplication (recherche seuil eleve, estimation industrielle seuil moyen ou faible...).
r Choisir les methodes de mesure et les instruments qui peuvent respecter le
niveau dexactitude fixe.
Co
uts
r Classer chaque candidat retenu au point 4 en fonction du co
ut.
r Determiner sil y a une methode candidate qui rencontre les contraintes
budgetaires.
r Sil y a un probl`eme on doit:
- reviser le budget `a la hausse avec les groupes administratifs...
- reviser le point 4 avec un seuil dexactitude a` la baisse... (il est possible que
lon doive alors reviser les objectifs de depart).
Etalonnage
r Les etalonnages reduisent les erreurs de mesure; ils sont cependant co
uteux
(investissements, temps...).
6
1.2
1.2.1
Concepts de base
Chaque mesure x peut etre visualisee comme etant accompagnee dune erreur telle que
lintervalle x contiendra la valeur vraie, que lon note ici xV . Lerreur de mesure
est generalement exprimee en terme de deux composantes: = + , o`
u est lerreur
systematique et lerreur aleatoire.
Erreur al
eatoire
r Dispertion des mesures autour dune valeur moyenne notee x.
r Mesures generalement reparties autour de la moyenne suivant une distribution
gaussienne.
r Peut etre causee par les caracteristiques du syst`eme de mesure.
7
histogramme de
l'chantillon de
taille N
xV
k
erreur totale sur
la mesure de xk
x
xk
- EXEMPLE
Considerons un processus impliquant un four dans lequel on mesure une
montee en temperature en fonction du temps. Ce processus est repetitif
de facon precise; cest-`a-dire que lon peut repeter plusieurs fois la meme
montee de temperature en fonction du temps. Pour cet exemple, supposons
que lon connaisse la valeur vraie `a laide dune sonde RTD (ces sondes
sont les plus precises).
8
T (oC)
biais
4 s1
t1
t (s)
On sinteresse `a analyser les erreurs que lon retrouve dans les mesures effectuees par un thermocouple qui est place dans le four juste au voisinage
de la sonde RTD. On rep`ete ce processus N fois et on compile des statistiques avec les mesures faites par les deux sondes. Le graphique de la figure
1.2 illustre les resultats obtenus. On observe par exemple quau temps t1 ,
le thermocouple donne une valeur moyenne T 1 et un ecart-type s1 ; la
sonde RTD qui fournit les valeurs vraies donne une valeur moyenne TV 1 .
Exactitude et pr
ecision
Les quatre schemas de la figure 1.3 illustrent bien la difference fondamentale que lon
etablit entre lexactitude et la precision. De facon generale, les mesures sont considerees
comme etant precises si s est petit et exactes si (x xV ) est egalement petit.
bonne prcision
mauvaise exactitude
xV
mauvaise prcision
mauvaise exactitude
xV
mauvaise prcision
bonne exactitude
xV
bonne prcision
bonne exactitude
xV
= lim
ou =
(1.1)
r ecart-type de la population
= lim
v
u
u
t
N
1 X
(xi )2
N i=1
(distribution discr`ete)
(1.3)
N
1 X
xi
N i=1
(1.4)
v
u
u
t
N
1 X
(xi x)2
N 1 i=1
(1.5)
- EXEMPLE
Un experimentateur utilise un capteur de pression differentielle dont on lui
a dit que la plage de precision etait de 2%, pour une difference de pression de 20 P a. Afin de verifier cette affirmation, il etalonne le capteur
en effectuant 100 mesures de la tension v donnee par le capteur lorsque
la pression differentielle est p = 20 P a (il controle cette pression de
facon tr`es precise). `a partir de son echantillon de 100 mesures, il calcule
v = 5 V et s = 0.2V . Il pretend que le capteur nest pas aussi precis quon
le lui avait certifie. Afin de bien comprendre pourquoi, regardons de plus
pr`es ses donnees. Une precision de 2% serait obtenue en considerant
lintervalle v s/2 (en fait, n s/v = 0.02 n = 1/2). Si on consid`ere une distribution gaussienne, cet intervalle comprend seulement 38%
des observations. On a donc plus dune chance sur deux deffectuer une
mesure qui ne soit pas incluse dans la plage de precision annoncee. Ceci est
evidemment inacceptable. Un intervalle de s/2 est donc trop mince pour
etre considere comme plage de precision. Si on veut effectuer des mesures
se situant dans la plage de precision avec une probabilite de 95%, on doit
dire que la precision de ce capteur de pression est de 8% (2 s/v = 0.08).
Lorsque la taille N dun echantillon est elevee, on peut decrire une observation
discr`ete x comme suit: x zp avec une probabilite p dinclure dans cet intervalle (dapr`es la loi normale: zp = 1 p = 68%, zp = 2 p = 95% et
zp = 3 p = 99.7%). Cela signifie par exemple quune mesure discr`ete doit se situer
dans lintervalle x 3 avec une probabilite de 99.7%.
Lorsque la taille N est petite, on doit utiliser dans un sens plus stricte la notation
des estimateurs et la loi de Student. Une observation discr`ete est alors decrite par:
x t,p s. De facon generale, la description compl`ete dune mesure discr`ete comporte
trois elements:
r x la mesure proprement dite
11
- EXEMPLE
Reprenons les donnees de lexemple precedent (v = 5 et s = 0.2)
avec un echantillon de 5 mesures au lieu de 100. La loi de Student doit etre appliquee avec t4,95 = 2.776. La precision relative est
donnee par t,p s/v = 0.11. On obtient donc une precision
de 11% avec une probabilite de 95% quune mesure discr`ete soit
incluse dans cet intervalle. Si on compare au resultat obtenu dans
lexemple precedent avec 100 mesures (precision de 8%), on constate
que lincertitude saccrot lorsque la taille de lechantillon diminue. Ceci
est du au fait que lon commet une erreur de biais sur lestimation
de et que la loi de Student majore la valeur de s en consequence.
Ecart-type
des moyennes
Supposons que lon mesure N fois une variable x dans des conditions doperation fixes
et que lon calcule la valeur moyenne de cet echantillon (x). Si on rep`ete cette procedure
M fois, on obtiendra M valeurs moyennes, chacune correspondant `a un echantillon (x1 ,
x2 , x3 , . . ., xM ). Si M est grand, les valeurs moyennes seront distribuees suivant une
gaussienne et ce, peu importe la fonction de densite de probabilite propre `a la variable
mesuree. Ceci est une consequence du theor`eme central limite.
Imaginons que la taille de chacun des echantillons soit petite (N petit) et que lecarttype de chacun de ces echantillons soit eleve (sx eleve). Dans ce cas, les valeurs moyennes
calculees pour ces echantillons seront dispersees et lecart-type des xi sera eleve (sx eleve).
Ce probl`eme est inherent aux echantillons de taille finie. Considerant que sx depend en
quelque sorte de N et de sxi , on peut estimer lecart-type de la distribution des valeurs
moyennes a` partir dun seul echantillon:
sx
sx =
N
(1.6)
a` partir de cette definition et dun seul echantillon, on peut considerer que la valeur
moyenne vraie, xV , doit etre incluse avec une probabilite de p % dans un intervalle:
x t,p sx
12
(1.7)
1.2.2
Analyse d
etaill
ee des incertitudes
(p %)
(1.8)
1- Etalonnage
2- Acquisition des donnees
3- Traitement des donnees
Chacune de ces etapes constitue une source derreur potentielle. Il est donc important
detablir la liste la plus compl`ete possible des types derreurs qui peuvent intervenir
dans la mesure. Chaque element dune telle liste est appele erreur elementaire. De plus,
chaque erreur elementaire peut etre identifiee comme faisant partie de la caterorie des
erreurs de biais ou des erreurs de aleatoires.
Propagation des erreurs
el
ementaires
Tel que decrit precedemment, on mesure x avec un instrument sujet a` plusieurs types
derreurs elementaires (linearite, repetabilite, hysteresis, etc...) notees ei . On estime
lincertitude sur x due `a K erreurs elementaires comme suit:
q
(1.9)
Sachant que ei peut etre une incertitude reliee au biais ou `a la precision, on ecrit de
facon plus detaillee:
q
(1.10)
(1.11)
Biais:
Precision:
(P %)
(1.12)
R
R
R(xi , yi ) = R(x , y ) +
(xi x ) +
(yi y ) + O(2)
x x ,y
y x ,y
(1.13)
o`
u xi et yi sont des echantillons de mesure (i = 1 a` N ). En utilisant la notation
Ri
R
R
= R(xi , yi )R(x , y ), xi = xi x , yi = yi y , x =
et y =
,
x x ,y
y x ,y
(1.14)
Ri 2 =
N
X
i=1
(x xi )2 +
N
X
(y yi )2 + 2
i=1
N
X
(x y xi yi )
(1.15)
i=1
(1.16)
R 2 =
L
X
xj 2 xj 2
(1.17)
j=1
L
X
xj Bxj
2
et
L
X
PR 2 =
j=1
xj Pxj
2
(1.18)
j=1
uR = BR 2 + (t,P PR )2
(P %)
(1.19)
j=1
R = P
L
j=1
j Pxj
j Pxj
2 2
4
/xj
= P
L
j=1
PR 4
j Pxj
4
(1.20)
/xj
Notons finalement que si N est le meme pour toutes les variables, on peut developper
la relation donnant uR comme suit :
uR =
v
u
L
uX
2
u
t
xj uxj
(1.21)
j=1
1.3
Importance des
etalonnages
Dans la section precedente, nous mentionnons que lerreur systematique peut etre minimisee si les etalonnages sont effectues adequatement. Il est donc primordial dintroduire
ici deux categories detalonnages: ceux de type statique et ceux de type dynamique. Le
choix des etalonnages est fait en considerant linstrument de mesure utilise, la quantite
physique `a mesurer ainsi que les differents param`etres qui sont susceptibles devoluer
pendant lexperience.
1.3.1
Etalonnage
statique
statiques des instruments utilises. En effet, la plupart des instruments de mesure sont
simultanement sensibles aux variations de plusieurs param`etres physiques (pression, temperature, vitesse, vibrations . . . ).
Toutes les caracteristiques statiques dun instrument de mesure sont obtenues par un
procede denomme etalonnage statique. De facon generale, un etalonnage statique est effectue en gardant tous les param`etres dentree de lexperience constants sauf un. On doit
alors faire varier ce param`etre dentree sur un intervalle de valeurs constantes1 , obtenant
ainsi des valeurs de sortie qui varient aussi sur un intervalle de valeurs constantes. La
relation entree/sortie developpee de cette facon constitue un etalonnage statique; celuici est valide tant que les autres param`etres dentree restent constants. On peut repeter
cette procedure en variant a` tour de role chacun des param`etres dentree; on developpe
alors une famille de relations entree/sortie. Letalonnage complet, menant a` la connaissance globale des caracteristiques statiques de linstrument, est realise en superposant
de facon adequate tous les effets individuels.
TV = TRTD
TV1
Histogramme des mesures de
la sonde RTD au temps t1
T1
Tthermocouple
Cet etalonnage nous permet donc de connatre les caracteristiques statiques de linstrument de mesure employe. Parmi les caracteristiques dinteret, on note les suivantes:
+ Precision et exactitude
Nous avons dej`a discute de ces deux caracteristiques a` la section precedente.
Nous avons alors simplifie lapproche en considerant une incertitude sur un seul
1
On entend par valeurs constantes des valeurs stationnaires ou stables au niveau temporel.
16
Drive de zro
vo
Drive de sensibilit
xi
Figure 1.5: Illustration des deux types de derive dun etalonnage.
17
- EXEMPLE
Considerons le cas dun capteur de pression qui est etalonne `a temperature
constante de 20 o C. Si on utilise ce capteur `a une temperature
de 30 o C, il est fort possible quune erreur de biais soit introduite dans les mesures. En effet, dans bien des cas, une variation
de temperature constitue un facteur de derive non negligeable. On
doit donc effectuer letalonnage de telle sorte que lon puisse identifier les derives. Signalons cependant que plusieurs instruments de
mesure sont compenses en temperature (capteurs de pression, ponts
de jauges de deformations montes en compensation de temperature . . . ).
+ Linearite
Plusieurs instruments poss`edent des plages dutilisation lineaire. Ceux-ci ont donc
une sensibilite constante sur une certaine gamme de vo ou xi . La connaissance
dune plage lineaire propre a` un instrument peut saverer utile pour des questions
de simplicite dutilisation de la loi detalonnage (vo = K xi + b). On doit cependant
bien connatre cette plage de facon a` ne pas exceder ses limites dutilisation.
+ Seuil (treshold), resolution et hysteresis
Le seuil est la limite inferieure xi min dutilisation dun instrument de mesure. Sous
la valeur de xi min , aucune valeur de vo nest detectee. La resolution est definie
par la plus petite variation xi min detectable. Une variation inferieure `a xi min
ne produit aucune variation de vo (vo = 0 si xi < xi min ). Letalonnage
doit nous permettre didentifier le seuil et la resolution (lorsquils sont inconnus
ou lorsque lon doute des valeurs connues . . . ). Letalonnage doit aussi etre fait de
facon `a determiner si linstrument est sujet au phenom`ene dhysteresis.
+ Limite superieure doperation (span)
Ce param`etre, ainsi que plusieurs autres, est normalement specifie par le fabriquant. Dans le cas o`
u lon ne connat pas cette limite, on doit la determiner par
letalonnage et sassurer de ne pas lexceder lors des utilisations subsequentes.
18
1.3.2
Etalonnage
dynamique
est f (t) dt
(1.22)
te
s:
Quelques proprie
r Linearite
L{c1 f1 (t) + c2 f2 (t)} = c1 L{f1 (t)} + c2 L{f2 (t)} = c1 F1 (s) + c2 F2 (s) (1.23)
r Deuxi`eme propriete de linearite
(
et
g(t) =
f (t a)
0
t>a
t<a
(1.24)
(1.25)
r Translation
L{f (t)} = F (s) = L{eat f (t)} = F (s a)
r Derivees
d f (t)
L
dt
(1.26)
= s F (s) f (0)
(1.27)
r Transformee inverse
L{f (t)} = F (s) = f (t) = L1 {F (s)}
(1.28)
r Convolution
si f (t) = L1 {F (s)}
alors
L1 {F (s) G(s)} =
et
Z t
0
commutativite: f g = g f
19
g(t) = L1 {G(s)}
(1.29)
f (u) g(t u) du = f g
(1.30)
f (t)
1
t
tn pour n = 0, 1, 2, . . .
eat
sin at
cos at
0 t<a
echelon U(t a) =
1 t>a
impulsion unitaire (t)
(ou fonction de Dirac)
(t a)
F (s)
1/s (s > 0)
1/s2 (s > 0)
n!/(sn+1 ) (s > 0)
1/(s a)
a/(s2 + a2 ) (s > 0)
s/(s2 + a2 ) (s > 0)
eas /s
1
eas
- EXEMPLE
L{cos 2t} =
s2
s
+4
et
s+1
(s + 1)2 + 4
F (s) =
- EXEMPLE
L1
1
s2
=t
et
(
Convolution
=
= L
L1
1
2
s (s + 1)2
1
(s + 1)2
)
Z t
= t et (par translation)
ue
(tu)du =
Z t
0
t
(ut u2 ) (eu ) (t 2u)(eu ) + (2) (eu )
0
(
)
L1
s2
1
(s + 1)2
20
= t et + 2 et + t 2
(utu2 )eu du
1.3.3
Fonction de transfert et r
eponse en fr
equence dun
syst`
eme lin
eaire `
a coefficients constants
Considerons un syst`eme de mesure, pour lequel il existe une relation dynamique entre
lentree xi et la sortie vo , telle que:
a0 v o + a1
dvo
d2 vo
d2 xi
dn vo
dxi
dn xi
+ a2 2 + . . . + an n = b 0 x i + b 1
+ b2 2 + . . . + bn n (1.31)
dt
dt
dt
dt
dt
dt
Soulignons que xi et vo representent des quantites instantanees qui sont toutes deux des
fonctions du temps.
Instrument dordre zero
Dans ce cas, on consid`ere: a1 = a2 = . . . = an = 0 et b1 = b2 = . . . = bn = 0. Cela
signifie que vo = K xi , o`
u K = b0 /a0 represente la sensibilite statique.
Instrument du premier ordre
Dans ce cas, on consid`ere: a2 = . . . = an = 0 et b1 = b2 = . . . = bn = 0. Cela
signifie que vo + dvo /dt = K xi , o`
u K = b0 /a0 represente la sensibilite statique et
= a1 /a0 definit la constante de temps.
+ Fonction de transfert dun syst`eme du premier ordre:
vo (t) +
dvo (t)
= K xi (t)
dt
y = vo (t) et x = xi (t)
L{ } avec y(0) = 0
(1.32)
dy
=Kx
dt
Y (s) + s Y (s) = K X(s)
y+
(1.33)
(1.34)
K
X(s)
(1.35)
s+1
K
H(s) =
(1.36)
s+1
La fonction de transfert que lon note H(s) sert `a etablir une relation entre Y (s) et X(s).
Y (s) =
+ Reponse dun syst`eme du premier ordre `a un signal dentree de type fonction echelon:
xi (t) = x(t) = xis pour t > 0
X(s) =
xi s
s
Y (s) =
K xi s
1
s(s + 1 )
vo (t)
= 1 et/
K x is
(1.37)
(1.38)
+ Reponse dun syst`eme du premier ordre `a un signal dentree de type fonction sinusodale:
xi (t) = x(t) = xiA sin t avec = 2f
(1.39)
1
(1.40)
X(s) = xiA 2
Y
(s)
=
K
x
i
A
s + 2
( s + 1) (s2 + 2 )
On cherche A, B et C tels que:
A
Bs+C
1
+ 2
=
2
s+1
s +
( s + 1) (s2 + 2 )
(1.41)
B=
1 + ( )2
et
C=
1
1 + ( )2
(1.42)
s
1
K x iA
1
2
+ 2
Y (s) =
2
2
1 + ( )
s + 1/
s +
s + 2
(1.43)
i
K x iA h
t/
e
+
sin
t
cos
t
1 + ( )2
(1.44)
e
+
1
+
(
)
1 + ( )2
y(t) =
(1.45)
t/
A
| e{z }
+ B sin(t )
r
eponse transitoire
avec : A =
{z
(1.46)
r
eponse stationnaire
K xiA
K x iA
B=q
= tan1 ( )
2
2
1 + ( )
1 + ( )
(1.47)
2. Pour un temps t donne, plus la constante de temps du syst`eme est petite, moins
la reponse transitoire prend dimportance et plus le dephasage est faible.
3. Plus la frequence du signal dentree est faible devant 1/ , plus le dephasage est
faible.
La figure 1.6 illustre les reponses de differents syst`emes du premier ordre.
y(t)
=0.05
=0.2
0.5
0.5
0.5
-0.5
-0.5
-0.5
-1
0
-1
temps (s)
=0.4
-1
2
=0.6
0.5
0.5
-0.5
-0.5
-0.5
-1
2
=1.2
2
=2
0.5
-0.5
-0.5
-0.5
-1
-1
-1
=0.8
2
=4
0.5
-1
0.5
0.5
-1
=0.3
Figure 1.6: Reponses de differents syst`emes dynamiques du premier ordre (pour differentes
valeurs de ) exposes au signal dentree x(t) = sin 4t (ici = 4 rad/s); lignes: pointillee =
entree x(t); pleine = sortie y(t) (totale et partie transitoire).
Les cas illustres par ces figures sont obtenus avec les valeurs de indiquees dans le
tableau 1.2 (on y indique aussi les valeurs de B et de obtenues avec = 4 rad/s et
K xiA = 1).
23
4
4
4
4
4
4
4
4
4
0.05
0.2
0.3
0.4
0.6
0.8
1.2
2
4
B
0.981
0.781
0.640
0.530
0.385
0.298
0.204
0.124
0.062
11.3
38.7
50.2
58
67.4
72.6
78.2
82.9
86.4
1
B
= Gain
=q
K xi A
1 + ( )2
() = tan1 ( ) = Phase
1.3.4
(1.48)
(1.49)
R
ealisation dun
etalonnage dynamique
Plusieurs probl`emes de mesure sont relies a` des quantites ou phenom`enes qui varient
rapidement dans le temps (fluctuations, impulsions, explosions, chocs, vibrations . . . ).
Dans ce cas, nous nous interessons aux relations dynamiques existant entre les signaux
dentree et de sortie de linstrument. On doit donc determiner les caracteristiques dynamiques des instruments, telles que la constante de temps, la frequence de coupure
etablissant la bande passante, la fonction de transfert, la reponse en frequence (gain et
phase), le depassement . . . Considerons le cas de linstrument du premier ordre soumis
a` un signal dentree de type fonction echelon; comme nous avons fait le developpement
a` la section precedente, nous savons que la reponse aura la forme suivante:
h
vo = K xis 1 et/
24
(1.50)
90
1
()
(Phase)
0.8
90
-10
20 log M ()
(Gain en dB)
()
(Phase)
60
60
0.6
-20
0.4
30
30
0
0
20
40
asymptote
de pente =
-20 dB/decade
-30
M ()
(Gain)
0.2
60
80
0
100
-40
0.01
0.1
10
0
100
Figure 1.7: Reponse en frequence (gain et phase) dun syst`eme du premier ordre en fonction
du produit .
Les courbes de la figure 1.8 representent cette equation pour deux valeurs de differentes:
vo
petit
lev
K xis
t
Figure 1.8: Reponse de deux syst`emes du premier ordre `a une excitation de type echelon.
On peut egalement tracer vo /(K xis ) vs t/ ; on obtient alors une courbe universelle
(figure 1.9) qui sapplique a` tous les instruments du premier ordre soumis a` un signal
dentree de type echelon.
25
vo
K xis
t/
0
1
2
3
4
0.8
0.6
0.4
0.2
0
vo /(K xis )
0.000
0.632
0.865
0.950
0.982
1.000
t/
Figure 1.9: Reponse universelle dun syst`eme du premier ordre `a un echelon.
(1.51)
de coupure
1
(1.52)
2
De part et dautre de fc , il existe deux asymptotes: une a` basse frequence dont la pente
est nulle et une a` haute frequence dont la pente est de -20 dB/decade (voir le graphique
presente precedemment). Si les mesures ne suivent pas ces asymptotes, cela signifie
que linstrument considere nest pas un instrument du premier ordre. Si on a trace le
graphique du gain de la reponse en frequence et que lon ne connat pas la valeur de fc , on
peut en determiner la valeur comme suit: il sagit de trouver le point correspondant soit
a` une attenuation de -3 dB ou soit `a lintersection du prolongement des deux asymptotes.
fc =
27
28
Chapitre 2
Introduction `
a l
electronique
2.1
L
electronique et le g
enie m
ecanique
Vrin
hydraulique / pneumatique
Position
Temp.
Moteur
lectrique
Pres.
Force
Distributeur
Balance
Entranement
lectronique
(drive)
Systme ordin
ements dun syst`eme mecanique moderne: syst`eme mecatronique flexible inFigure 2.1: El
cluant de linstrumentation specialisee associee aux technologies de pointe en informatique.
2.2
Notions de base
2.2.1
Source de tension
Une source de tension est un dipole electrique capable de maintenir une difference de
potentiel electrique (la tension electrique) constante peu importe la nature de la charge `a
laquelle elle est raccordee. Le graphique de la figure 2.2 presente les caracteristiques v i
dune telle source. Lorsque la tension est constante, i.e. independante du temps, il sagit
dune source de tension continue. La batterie dune automobile en est un bon exemple.
Lorsque la tension varie en fonction du temps, nous parlons dune source a` tension
alternative. Une prise electrique raccordee au reseau de distribution de lelectricite
(Hydro Quebec) est un bon exemple dune source de tension alternative. La figure
2.3 illustre les symboles utilises pour representer une source de tension. En pratique,
il nexiste pas de source de tension ideale, capable de debiter un courant infini sans
probl`eme (puissance infinie). Une source reelle poss`ede une impedance interne (figure
2.2) qui provoque une chute de tension en fonction du courant debite. La source de
tension est dite quasi ideale lorsque limpedance de la charge est largement superieure a`
limpedance interne de la source. Par exemple, une batterie dautomobile est une source
parfaite lorsquelle est utilisee pour alimenter un recepteur radio (variation de tension
30
v
Source idale
Sortie d'un
capteur
Pile
chimique
imax (capteur)
negligeable). Par ailleurs, lorsque le demarreur de la voiture est active, la tension aux
bornes de la batterie peut varier de plusieurs volts et, dans ce cas, le type de pile et
sa capacite sont des facteurs determinants. Le tableau 2.1 presente quelques dipoles
electriques consideres comme sources de tension.
Source de
Source de
tension continue tension alternative
(E)
(V )
(2.1)
(2.2)
Lorsque lon utilise un capteur possedant un signal de sortie en tension proportionnelle a` une grandeur mecanique, nous considerons que cette source est ideale jusqu`a la
valeur de courant nominal specifiee par le fabriquant.
Un poste de soudure de type GMAW1 impose une caracteristique de type source de
tension aux bornes de larc. La puissance de soudage est fonction du niveau de la source
et du debit du cable de soudage.
1
Gas Metal Arc Welding aussi denomme MIG Welding (Metal Inert Gas Welding)
31
Pile chimique
Generatrice a` courant continu
Pile `a combustible
Jonction thermocouple
Machine synchrone (alternateur)
CC
CC
CC
CC
CA
2.2.2
Source de courant
Le courant electrique est une mesure du debit des electrons `a travers un materiau conducteur. Une source de courant est un dipole electrique capable dimposer un courant
dans une charge peu importe sa nature. Le graphique de la figure 2.4 presente les caracteristiques v i dune telle source.
v
vmax
Source
relle performante
Source
idale
Source typique
d'un poste de
soudage classique
i
Figure 2.4: Diagramme v i de quelques sources de courant.
La figure 2.5 illustre les symboles utilises pour representer une source de courant.
Lorsque le courant est constant et independant du temps, il sagit dune source de courant
continu. Il nexiste pas de source de courant dans la nature. Les sources utilisees en
electronique et en electrotechnique sont synthetisees a` partir de sources de tension et de
composantes electroniques. La figure 2.6 presente le schema de principe dune source
de courant variable utilisee dans les capteurs. Il est impossible de concevoir une source
de courant ideale, capable dimposer une tension infinie dans une impedance infinie. La
source de courant continue impose le courant aussi longtemps que la tension maximale
de la source de tension utilisee pour la realiser nest pas atteinte.
32
Source de
courant
(I)
ou
Les postes de soudure a` la baguette et de type GTAW2 reproduisent les caracteristiques dune source de courant continu ou alternatif aux bornes de larc. Les capteurs
ayant une sortie en courant fonction de la grandeur mecanique mesuree sont largement
utilises dans le monde industriel pour le transport de signaux sur de grandes distances
(standard 4-20 mA). Le courant est une grandeur conservatrice. En labsence de fuites,
le courant qui entre dans un equipement doit obligatoirement en sortir. Cette affirmation
est mise a` profit dans les prises electriques differentielles utilisees dans les salles de bain.
Ces prises int`egrent un dispositif electronique qui mesure et amplifie la difference entre
le courant entrant et le courant sortant. Aussitot que la mesure differentielle nest plus
nulle, ceci indique que le courant circule par un autre chemin, quil y a une fuite (par
exemple `a travers le corps humain). Un disjoncteur integre a` la prise coupe lalimentation
electrique et elimine le danger delectrocution.
IRef
IRef +
Rgulateur
Mesure
Gas Tungsten Arc Welding aussi denomme TIG Welding (Tungsten Inert Gas Welding).
33
2.2.3
Conduction et r
esistance
electrique
Le ph
enom`
ene de conduction
electrique
Pour transporter lenergie electrique, nous utilisons des cables en cuivre ou en aluminium. Ces materiaux font partie de la famille des conducteurs.
Les atomes ont des electrons qui gravitent sur plusieurs orbites (figure 2.7). Les
electrons des couches pr`es du noyau servent `a creer des liens avec les atomes voisins et
il faut une tr`es grande energie pour les dissocier de latome. Ces electrons font partie de la bande de valence (figure 2.8). Sous leffet dun champ electrique resultant de
lapplication dune tension ou sous leffet dune elevation de temperature, les electrons
sur les orbites externes sont facilement soustraits de lattraction du noyau et peuvent
circuler dans le metal en sautant dun atome a` lautre (figure 2.9). Ces electrons font
partie dune bande energetique appelee bande de conduction. Les electrons en perpetuel
mouvement voyagent `a une vitesse inter-atomique de plus de 1000 km/s. Ces electrons
libres de circulation sont en tr`es grande quantite dans les bons materiaux conducteurs.
Lorsquil y a beaucoup delectrons, il y a beaucoup de collisions qui produisent de la
chaleur. Plus la temperature du conducteur est elevee plus il y a delectrons disponibles
pour la conduction, plus il y a de collision. Un bon conducteur est un element atomique possedant un nombre minimal delectrons dans la bande de conduction pour la
circulation, mais pas trop eleve pour ne pas offrir un une trop grande probabilite de
collisions.
13+
29+
Aluminium
Cuivre
Figure 2.7: Schema illustrant les orbites des electrons dans des conducteurs.
Le ph
enom`
ene disolation
electrique
Les isolants sont des materiaux dont la bande de conduction est vide, noffrant ainsi
aucune possibilite de circulation. Les semi-conducteurs sont des materiaux qui poss`edent
peu delectrons dans la bande de conduction. Les niveaux energetiques des bandes de
valence et de conduction sont proches. Une augmentation de la temperature apporte
suffisamment denergie pour provoquer la migration delectrons depuis la bande de valence vers la bande de conduction.
34
N
E
R
G
I
E
lectron
libre
+
Lien de covalence
Bande de
conduction
Bande de
conduction
W ~ 6 eV
Bande de
conduction
W ~ 1 eV
Bande de
valence
Bande de
valence
Bande de
valence
Isolants
Semi-conducteurs
Conducteurs
lectron de valence
+ + + + + +
i+
+ + + + +
Vitesse de
propagation
du courant:
vitesse de
la lumire
Vitesse moyenne
d'un lectron dans
l'axe du courant:
5 cm/h
Vitesse instantane
d'un lectron:
1000 km/s
- - - - - -
- - - - - -
35
Le ph
enom`
ene de r
esistance
electrique
La resistance electrique est une mesure de la difficulte `a faire circuler un courant
aux bornes dun conducteur, dune charge ohmique (figure 2.10). La convention sur le
sens du courant est `a linverse du deplacement des electrons. La figure 2.11 presente le
symbole de la resistance et lequation qui etablit sa valeur en fonction des dimensions
geometriques du conducteur. La resistivite electrique (e ) est un param`etre intrins`eque
dun materiau et le tableau 2.2 fournit quelques valeurs utiles.
Materiau [symbole]
Proprietes electriques
et
resistivite electrique e
composition
a0 C
`
nm
masse
conduct.
temper. de
volum.
therm. k
fusion Tf
`a 0 C
nm
`a 20 C
10
kg/m
W/(m C)
Aluminium [Al]
26.0
28.3
4.39
2703
218
660
Argent [Ag]
15.0
16.2
4.11
10500
408
960
-0.03
8900
4.27
8890
7.34
7900
' 0.03
' 2500
'5
3600
Constantan
500
500
22.6
1190
Cuivre [Cu]
15.88
Fer [Fe]
88.1
Graphite/Carbone [C]
8000 `
a 30000
Manganin
17.24
101
394
79.4
1083
1535
482
482
0.015
8410
20
1020
1080
1082
0.11
8400
11.2
1400
Nichrome
80%Ni, 29%Cr
Nickel [Ni]
78.4
85.4
4.47
8900
90
1455
Or [Au]
22.7
24.4
3.65
19300
296
1063
Platine [Pt]
98
3.9
21400
71
1773
Tungst`ene [W]
49.6
5.5
19300
20
3410
106
55.1
La relation tension courant aux bornes dun element resistif est donnee par la loi dOhm.
vR (t) = R iR (t)
(2.3)
avec
36
ZR = R
(2.4)
i
direction
convenue du dbit
de courant
anode
cathode
+ source de
tension
chute de
tension
charge
direction
relle du dbit
d'lectrons
Figure 2.10: Schema illustrant un circuit electrique de base et la circulation du courant dans
un conducteur.
Rsistance
(R)
R=
Ac
e l
Ac
La resistivite est un param`etre qui est fonction de la temperature. Cette propriete est
mise a` profit pour la realisation de sondes de temperature (par exemple, les sondes RTD
en platine). Dans le cas des conducteurs, il est a` noter que la resistivite, cest-`a-dire
la difficulte de faire circuler un courant, crot avec la temperature. La variation de
resistance avec la temperature sexprime, au premier ordre, par la relation suivante:
R = R0 [1 + (T T0 )]
(2.5)
Il existe des materiaux qui sont parfaitement conducteurs. Ils sont appeles supraconducteurs. Malheureusement, cette propriete apparat a` de tr`es faibles temperatures,
lorsque lagitation electronique est tr`es faible. Les supraconducteurs sont utilises pour
la construction de bobines qui produisent de tr`es forts champs magnetiques dans des
appareils medicaux (scanner). Ces bobines sont refroidies par de lazote liquide. Nous
sommes a` la recherche de materiaux supraconducteurs a` la temperature de la pi`ece. La
decouverte de tels materiaux serait une revolution pour le monde de lelectrotechnique.
Les resistances utilisees dans les montages electroniques standards sont des resistances
dites `a basse temperature (moins de 155 C). En general, la valeur de la resistance est
indiquee par un code a` quatre bandes de couleur: les deux premi`eres bandes indiquent
les deux premiers chiffres, la troisi`eme bande indique le nombre de zeros et la quatri`eme
la precision (or 5% et argent 10%). La figure 2.12 illustre un exemple de codage par
bandes de couleur.
Couleur
noir
brun
rouge
orange
jaune
vert
bleu
violet
gris
blanc
Chiffre
or = 5%
vert =5
bleu = 6
rouge =2
Figure 2.12: Codage de la valeur dune resistance electrique par bandes de couleur.
Notons enfin que la puissance electrique (en Watt) est le produit de la tension et du
courant. Lenergie (en Joule) debitee par la source est lintegrale de la puissance par
rapport au temps.
W =
vi dt
(2.6)
Dans le cas dune chute de tension a` travers une resistance (v = Ri), on obtient:
W =
Ri2 dt
(2.7)
Cette energie est alors dissipee sous forme de chaleur. Ce phenom`ene est denomme effet
Joule.
38
2.2.4
Le condensateur
Considerons le schema presente a` la figure 2.13 illustrant deux plaques metalliques parall`eles. Lorsque lon ferme linterrupteur (initialement ouvert), on applique une source
de tension continue aux bornes du dispositif. Un courant circule alors pendant un court
instant, des electrons quittant la plaque de polarite positive pour se retrouver sur la
plaque de polarite negative (sens inverse du courant). Un champ electrique se developpe
ainsi entre les deux plaques. Lintegrale du courant permet de calculer la charge Q
deplacee sur les plaques. Le rapport entre la charge deplacee et la tension appliquee
definit la capacitance C et sexprime en Farad.
C = Q/E
(2.8)
A
+++++++++
d
- - - - - - - - -
Figure 2.13: Schema de chargement initial dun condensateur lorsquune source de tension
est soudainement imposee.
Le dispositif ainsi forme est appele condensateur et le symbole utilise en electronique est
illustre a` la figure 2.14.
Condensateur
(C)
Pour deux plaques parall`eles dont la largeur et la profondeur sont dix fois superieures a`
la distance qui les separent, la capacitance sexprime par
39
C = r 0 A/d
(2.9)
o`
u A est laire dune plaque, d est la distance entre les plaques, r est la permittivite
relative du materiau se trouvant entre les deux plaques (par rapport au vide, ce qui
implique r 1 pour le vide) et 0 est la permittivite du vide (8.8542 1012 Farad/m).
La capacitance varie de facon inversement proportionnelle a` la distance d. Cette
propriete est utilisee dans les capteurs de proximite capacitifs. Par exemple, ce type de
capteur est utilise pour mesurer lepaisseur dune couche de peinture sans alterer le fini
de surface.
Lenergie stockee dans un condensateur est
1
1
(2.10)
W = Q E = C E2
2
2
Lorsquon ins`ere un materiau isolant entre les deux plaques (materiau dielectrique),
les orbites des electrons du dielectrique sont deformees sous linfluence du champ electrique. Cette deformation fait apparatre des dipoles atomiques et provoque un deplacement
additionnel de charge. Lajout de lisolant augmente la valeur du condensateur. Le
tableau 2.3 presente les principaux materiaux utilises dans la conception des condensateurs.
La presence dun milieu non-conducteur entre les deux plaques rend impossible la
circulation dun courant continu. Le condensateur est utilise dans les circuits o`
u la tension est variable. Lequation du courant instantane en fonction de la tension instantanee
est :
d vC (t)
(2.11)
dt
Cette equation nous indique quun condensateur soppose `a une variation brusque de
la tension a` ses bornes. Lorsquun condensateur de grande capacite est court-circuite,
le courant peut atteindre plusieurs milliers damp`eres. Le condensateur se comporte
comme une inertie de tension. Durant un court instant, le dispositif reagit comme une
source de tension. Cette propriete est utilisee pour filtrer les signaux de tension bruites.
iC (t) = C
40
Type
Gamme
Mica
1 pF 0.01 F
10 pF 1 F
Fuites
Remarques
Bonne
Stabilite
en temperature
Bonne
Faibles
50 - 30 000
Mauvaise
Mauvaise
Moderees
0.001 F 50 F
100 pF 50 F
50 - 600
Bonne
Mauvaise
Faibles
100 - 800
Excellente
Bonne
Tr`es
faibles
Tantalum
0.1 F 500 F
6 - 100
Mauvaise
Mauvaise
Moderees
Electrolytique
0.1 F 1.6 F
3 - 600
Tr`es
mauvaise
Tr`es
mauvaise
Tr`es
grandes
Excellent,
bon aux RF
Petite taille,
faible co
ut,
tr`es populaire
Faible co
ut,
populaire
Bonne qualite,
faible absorption
dielectrique
Capacitance
elevee, co
ut
eleve, petite taille
Courte duree
de vie, faible
co
ut, capacitance
elevee
Ceramique
Polyester
Polypropyl`ene
Tension
maximum
(Volts)
100 - 600
Precision
iC = j C VC ejt = j C vC
(2.12)
1
iC = ZC iC
jC
avec ZC =
1
jC
(2.13)
2.2.5
Linductance
iL =
dl
41
Hdl
(2.14)
Cette loi exprime le fait que le champ magnetique est une quantite conservative.
Lorsque le conducteur forme dans lair une bobine torode de N spires, de section A et
de petit diam`etre devant la longueur lT , on obtient, en negligeant les effets de bouts:
I
Hdl = H lT = N iL H =
N iL
lT
(2.15)
iL
section A
N spires
contour ferm
de longueur lT
N
iL
Le symbole utilise en electronique est illustre `a la figure 2.16.
L=
(2.17)
A
lT
(2.18)
La tension instantanee vL (t) induite aux bornes dune bobine de N spires est decrite par
la loi de linduction magnetique de Faraday:
vL (t) = N
42
d
(t)
dt
(2.19)
Inductance
(L)
d
iL (t)
dt
(2.20)
Lenergie emmagasinee dans le champ magnetique ( representant un volume) est exprimee par:
1
1
W = B H = L i2L
2
2
(2.21)
Il est important de noter que linductance emmagasine de lenergie sous la forme dun
champ magnetique, alors que le condensateur emmagasine de lenergie sous la forme
dun champ electrique.
Lorsquun noyau magnetique est introduit dans la bobine, la permeabilite est augmentee dun facteur r , la permeabilite relative du materiau. La valeur de linductance
crot. Cette propriete est utilisee pour realiser des capteurs de proximite.
La tension moyenne aux bornes dune inductance est toujours nulle. Pour maintenir
une tension continue aux bornes dune inductance, il faudrait utiliser une source capable
de debiter un courant infini et une bobine en mesure de supporter ce courant. En effet, la
tension etant definie par vL = L diL /dt, il faudrait que le courant augmente lineairement
dans le temps pour obtenir une tension constante; donc apr`es un certain temps, la valeur
du courant deviendrait tr`es elevee et devrait eventuellement tendre vers linfini.
Lorsquune inductance ideale (resistance nulle) est parcourue par un courant continu a` travers un court-circuit, celui-ci circule indefiniment (figure 2.17). Si lon tente
dinterrompre brusquement ce courant en ouvrant linterrupteur, lequation vL = LdiL /dt
indique que la bobine soppose au changement en developpant une tr`es grande tension
43
iL
iL
ouverture de
l'interrupteur
interrupteur
initialement
ferm
diL
dt
(2.22)
Figure 2.17: Schema dune inductance debitant un courant dans un interrupteur initialement
ferme et que lon ouvre subitement.
(vL ). On observera alors la formation dun arc electrique aux bornes des contacts de linterrupteur. En realite, lenergie stockee doit etre rendue et larc electrique
est le lieu de cette restitution. Linductance se comporte comme une inertie de courant.
Durant un tr`es court instant, linductance reagit comme une source de courant.
Lorsque le courant circulant dans linductance est de type harmonique (courant sinusodal pur de frequence , soit iL = IL ejt ), la relation exprimant la tension secrit:
vL = j L IL ejt = j L iL
(2.23)
avec ZL = jL
(2.24)
2.2.6
Combinaisons RCL
Lanalyse presentee dans cette section est faite en considerant des tensions harmoniques
v = V ejt . Le calcul des circuits composes dimpedances de type R, L et C fait ainsi
appel a` la resolution dequations complexes dans lesquelles les impedances capacitives
et inductives sont fonctions de la frequence complexe j. La combinaison RC presentee
a` la figure 2.18 represente le schema dun filtre passe-bas du premier ordre. La figure 2.20 presente un filtre passe-bas du second ordre. Le comportement des syst`emes
44
iR
vR
iC
vC
vC
v
1 + R C j
= ZR + ZC =
i
C j
(2.25)
ZC
v
v
=
)
v (puisque i = iC =
Zeq.
ZR + ZC
Zeq.
(2.26)
1
1 + (R C )2
(2.27)
(2.28)
45
Circuit `
a deux composantes en parall`
ele
i
v
iR
iL
vR
vL
ZR ZL
R L j
v
=
=
i
ZR + ZL
R + L j
(2.29)
Circuit combin
e s
erie/parall`
ele (3 composantes)
i
iL
L
vL
iR
iC
vR
vC
vC
v
ZR ZC
= ZL +
i
ZR + ZC
(2.30)
ZC
iC
R
(2.31)
(2.32)
La reponse en frequence definie ici par le rapport entre la tension aux bornes du condensateur et la tension `a lentree secrit comme suit:
vC
ZC R
= H() =
v
Zeq. (ZC + R)
(2.33)
L C
1
+
L
R
(2.34)
j + 1
1
(1 L C 2 )2 +
L
(R
)2
=q
1
(1
( n )2 )2
+ (2
2
)
n
(2.35)
1
et =
2R
L
C
(2.36)
1
(1
( n )2 )2
+ (2
(2.37)
2
)
n
20 log (|H()|)
= 0.1
10
= 0.707
= 1.5
-10
-20
Attnuation de
-40 dB/dcade
-30
-1
log(/n)
47
2.3
Amplificateur op
erationnel et circuits de base
Amplificateur op
erationnel
Un amplificateur operationnel est en quelque sorte un circuit integre compose de transistors, diodes, resistances et capacitances miniaturises (figure 2.22). Cette composante
peut etre utilisee pour realiser differents circuits, tels que les amplificateurs lineaires, les
amplificateurs differentiels, les differenciateurs, les integrateurs... Il sagit dajouter au
circuit des composantes externes passives, telles que des resistances et des capacitances
de facon `a obtenir la fonction desiree.
dc+ dc- alimentation
entre
inverse
vi1
vi2
entre
non inverse
Ra
+
du circuit
(5V 15V)
Ga
sortie
vo
(2.38)
48
Amplificateur lin
eaire inverseur
Dans ce circuit, la tension dentree vi est appliquee au port dentree negatif (entree
inversee) de lamplificateur operationnel a` travers une resistance R1 . Le port positif
(entree non inversee) de lamplificateur operationnel est branche `a la masse. La tension
de sortie vo retroagit sur le port dentree negatif de lamplificateur operationnel a` travers
la resistance de retroaction R2 (figure 2.23).
R2
R1
i1
ia
3
va
vi
i2
Ra
vo
Le gain Ga et limpedance dentree Ra etant tous deux tr`es eleve, on observe que le
courant interne et la difference de potentiel `a lentree sont pratiquement nuls (ia ' 0 et
va ' 0). On peut donc ecrire la somme des courants au point 3 comme etant:
i1 + i2 ' 0 i1 ' i2
(2.39)
(2.40)
R2 i2 = vo va ' vo
(2.41)
Le rapport de la tension de sortie sur la tension dentree secrit alors comme ceci:
vo
R2 i2
R2 i1
R2
=
=
=
vi
R1 i1
R1 i1
R1
(2.42)
vo (t) =
R2
vi (t)
R1
49
(2.43)
R2
R1
R1 + R2
vo (t) =
vi (t)
R1
+
vo
vi
vo (t) = vi (t)
+
vo
vi
Z2
vo (t) =
Z2
vi (t)
Z1
Z1
vi
vo
vo (t) =
R2
R1
R2
vi (t)
R1
vi
50
vo
Amplificateur differentiel
vo (t) =
R2
R1
R2
vi2 (t) vi1 (t)
R1
vi1
vi2
R1
+
vo
R2
Integrateur
C
Z1 = R et Z2 =
1
C j
Z2
1
Vi
Vi =
Z1
R C j
1 Z
vo (t) =
vi (t)dt
RC
vi
Vo =
+
vo
Differenciateur
Z1 =
1
C j
R
C
et Z2 = R
Z2
Vi = RCj Vi
Z1
dvi
vo (t) = RC
dt
vi
Vo =
+
vo
Notons enfin que lamplificateur operationnel etablit de facon generale une relation fonctionnelle entre une entree et une sortie: vo (t) = h{vi (t)} o`
u h{} est un fonction. Comme
toute composante de ce type, sa reponse en frequence est finie et la gamme de tension
dentree est limitee.
51
52
Chapitre 3
Acquisition de donn
ees
3.1
G
en
eralit
es
Quantites
` mesurer
a
BMB
B
B
hension
Compre
Action
Capteurs
actifs
Signaux
analogiques
(tension,
courant,
r
esistance ...)
- Conditionneurs - Pre-traitement
de signaux
Tensions
analogiques
Echantillons
de signaux
continus dans
le temps
Amplificateurs
Filtres passe-bas
passe-haut
passe-bande
Pr
eparation des
signaux analogiques
en vue de les rendre
compatibles avec
les convertisseurs A/N
?
Analyse des
Ordinateur
Depouillement
Convertisseurs
resultats par
(post-traitement)
A/N
en temps reel
lexperimentateur
6
Depouillement
en differe
53
?
Sauvegarde des
informations
Conversion des
signaux analogiques
en informations
num
eriques
Informations
compatible avec les
composantes
num
eriques
(ordinateurs ...)
Echantillons
de
valeurs discr`
etes
des signaux
originaux
Ces trois caracteristiques definissent bien une chane de mesure qui est couramment employee. Les capteurs actifs, situes en debut de chane, fournissent des signaux
analogiques; les modules situes en milieu de chane convertissent les signaux en informations numeriques; ces informations sont traitees en emmagasinees par un ordinateur
situe en fin de chane. Dans cette categorie de chanes de mesure, nous considerons les
trois options illustrees sur la figure 3.1.
option 1
instruments
numriques
interface
RS-232, GPIB,
VXI, PXI, SCXI...
option 2
carte
d'acquisition
de donnes
option 3
systme
d'acquisition
de donnes
Nous terminons cette section en faisant une br`eve revue du vocabulaire utilise en
acquisition de donnees.
D
efinition de quelques termes anglo-saxons
r BIT
(Binary unIT) Unite binaire (0 ou 1) utilisee pour coder des informations compatibles avec les composantes electroniques dun syst`eme numerique. On peut
54
ainsi coder des nombres ou des informations logiques. On peut considerer un bit
comme etant un interrupteur on/off (1/0) pouvant transmettre des informations `a
une composante electronique. Il est possible de combiner des bits pour coder des
nombres entiers plus grands que 1 ou 0. Une telle combinaison est appelee un mot
(word). Si lon code sur 2 bits, on pourra representer les entiers 0, 1, 2 et 3 par les
codes binaires 00, 01, 10 et 11 respectivement. Dans ces mots de 2 bits, le bit qui
represente la valeur decimale 1 (20 ) se trouve a` droite et on lappelle le bit 0; le bit
representant la valeur decimale 2 (21 ) est donc celui de gauche et on lappelle le bit
1. Ainsi, dans un mot de M bits, le bit de gauche appele bit M 1 represente
la valeur decimale 2M 1 . Notons enfin que si lon code sur M bits, on pourra
representer 2M entiers differents.
r LSB
(Least Significant Bit) Bit le moins significatif; il sagit du bit 0, dapr`es la definition
donnee au paragraphe precedent.
r MSB
(Most Significant Bit) Bit le plus significatif; il sagit du bit de gauche ou du bit
M 1 sur un mot de M bits.
r BYTE
Mot de 8 bits traduit par OCTET. Un octet peut representer 256 (28 ) entiers
differents. Loctet est, entre autre, lunite de base representant un espace
memoire dordinateur.
r MUX
(analog MUltipleXer) Abreviation couramment utilisee pour le mot multiplexeur
analogique. Un multiplexeur est, de facon schematique, un interrupteur multiport qui permet de brancher plusieurs entrees analogiques a` une sortie unique
commune. Ces dispositifs comprennent generalement 8 ou 16 entrees qui sont
branchees sequentiellement `a la sortie `a une frequence determinee par une horloge
externe.
r A/D CONVERTER
(Analog/Digital Converter) Un convertisseur analogique/numerique sert `a convertir lamplitude dun signal analogique en un nombre binaire. Les convertisseurs les
plus couramment utilises codent les donnees sur des mots de 12 bits (on retrouve
aussi des convertisseurs qui codent sur 8, 10, 16 ou 32 bits). Notons que des mots
55
On peut par exemple vouloir tracer `a lecran les signaux convertis au fur et a`
mesure que lacquisition seffectue. Ce mode dacquisition est relativement lent.
r DMA
(Direct Memory Access) Terme qui definit un mode dacquisition qui permet un
acc`es memoire direct. Ce mode dacquisition peut etre jusqu`a 500 fois plus rapide
que le mode PIO. Il consiste simplement `a remplir une memoire tampon `a laquelle on peut acceder a` un taux eleve.
r GPIB
(General Purpose Interface Bus) En 1965, la compagnie Hewlett-Packard met sur
le marche linterface HPIB. Cette interface sert alors a` connecter leur gamme dins
truments programmable `a leurs ordinateurs. Etant
donne son taux de transfert
de donnees eleve (jusqu`a 1 M B/s compare `a 2 kB/s pour RS-232), linterface
HPIB gagne rapidement en popularite. On etend alors son champ dapplication
vers la communication inter-ordinateur et vers le controle dunites peripheriques.
En 1975, lindustrie laccepte comme un standard; lassociation IEEE lui donne
alors le numero IEEE 488. En 1978, la situation evolue et on definit le standard
AN SI IEEE 488. Linterface porte desormais le nom de General Purpose
Interface Bus ou GPIB.
r ALIASING
Terme traduit par le mot recouvrement. Ce phenom`ene est discute a` la section 3.2
et `a lannexe C.
3.2
Echantillonnage
et recouvrement
- EXEMPLE
Prenons comme exemple x(t), le signal sinusodal suivant damplitude X:
x(t) = X sin 2f t
avec
X = 10
et
f = 1 Hz
10
n =1
3
4
5
5
10
-5
6
-10
9
7
0.2
0.4
0.6
8
0.8
n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
x(nt)
5.9
9.5
9.5
5.9
0
5.9
9.5
9.5
5.9
0
Temps (s)
Th
eor`
eme d
echantillonnage et recouvrement
La frequence dechantillonnage a un effet significatif sur la reconstruction dans le domaine temporel dun signal analogique. La perception que lon peut avoir dun signal
mal echantillonne peut etre tout a` fait fausse si lon compare au signal original. Lorsque
la frequence dechantillonnage diminue, la quantite dinformations par unite de temps
servant a` decrire le phenom`ene diminue.
Le theor`eme dechantillonnage stipule que pour reconstruire correctement le contenu
en frequence dun signal analogique, la frequence dechantillonnage fech. doit etre plus
de deux fois la frequence la plus elevee fm contenue dans le signal.
fech. > 2 fm
(3.1)
(3.2)
3.2
3fN
2.8
2.6
2.4
2.2
2fN
1.8
1.6
1.4
0
0.2
0.4
0.6
1.2
0.8
fN
Figure 3.3: Diagramme de repliement; la frequence du signal analogique est lue sur les axes
inclines et la frequence restituee apr`es echantillonnage est lue sur laxe horizontal.
3.3
Conversion A/N
Une tension analogique donnee est convertie ou codee en valeur numerique `a laide
dune composante que lon appelle convertisseur Analogique/Numerique. Un convertisseur A/N poss`ede un cote analogique et un cote numerique, chacun ayant ses propres
59
bit 2
22
4
bit 1
21
2
bit 0
20
1
10
11
12
13
14
15
16
16
32
64
128
256
512
1024
2048
4096
8192
16384
32768
65536
Tableau 3.1: Nombre dentiers codes par des convertisseurs de differentes resolutions.
(3.3)
En fait, il sagit de la valeur en volt du LSB. Un convertisseur de 12 bits dont le seuil est
de 10 V aura une resolution de 10/4096 Q = 2.44 mV/bit. Un convertisseur de
60
16 bits ayant le meme seuil aura une resolution de 0.15 mV/bit alors que celui de 8 bits
aura Q = 39 mV/bit. La resolution est parfois donnee en terme de gamme dynamique:
gamme dynamique (en dB) = 20 log Q/EF SR = 20 log 1/2M
On dit generalement que la resolution dun convertisseur 12 bits est de une partie
dans 4096 ou de -72 dB (20 log 1/4096), ce qui est equivalent.
Erreur de quantification
Considerons un convertisseur A/N codant sur 2 bits et fonctionnant en tension unipolaire
entre 0 et 4 V. La figure 3.4 illustre la relation entree analogique / sortie numerique
associee a` ce convertisseur. On constate en premier lieu que la resolution est Q = 1
V/bit. La resolution etant toujours une grandeur finie et non nulle, il y aura possibilite
derreur entre la valeur reelle de lentree analogique et la valeur numerique determinee
par le convertisseur A/N. Par exemple, une tension vi = 0.3 V sera codee par 00 tout
comme une tension de 0 V ou 0.49 V. On voit que la resolution limitee du convertisseur
conduit a` une imprecision dans le codage de linformation; lerreur resultante est appelee
erreur de quantification et on la note eQ . La valeur de eQ est definie par:
eQ = Q/2
(3.4)
Erreur de saturation
Lorsque la valeur de la tension analogique vi exc`ede le seuil EF SR. , le convertisseur ne
peut plus coder correctement linformation et donne systematiquement sa valeur maximale; le convertisseur est alors sature. Dans ce cas, si la tension analogique augmente,
la valeur numerique demeure inchangee. La figure 3.4 illustre cette situation.
De plus, pour le convertisseur A/N correspondant a` la figure 3.4, on note que
lerreur de quantification est superieure `a Q/2 pour la plage de tension analogique correspondant `a 3.5 V < vi 4 V. De facon generale cette plage de tension sur laquelle on observe une erreur de quantification superieure a` Q/2 est definie comme suit:
EF SR Q/2 < vi EF SR . Pour un convertisseur standard, cette plage sera tr`es restreinte et aura relativement peu dimportance. Dans le cas du convertisseur A/N codant
sur 12 bits dans la gamme 0-10 V, cette plage sera definie par 9.9988 V < vi 10 V.
Generalement, on cherchera `a utiliser le convertisseur dans des conditions telles que les
probl`emes de saturation puissent etre evites. On utilisera donc une amplification permettant deviter cette plage (voir la section 3.5).
61
Sortie
numrique
Conversion
idale
Saturation
11
10
01
00
Entre
analogique (V)
Erreur de conversion
Un convertisseur est un instrument qui peut etre expose a` des probl`emes dhysteresis,
de linearite, de sensibilite, de zero et de repetabilite. Ces probl`emes peuvent apparatre
de facon plus ou moins importante avec des variation de temperature par exemple. Ceuxci sont a` la source de la precision et du biais pouvant resulter en ce que lon denomme une
erreur de conversion. Ce type derreur est fonction de la conception du convertisseur.
3.4
Nous faisons ici une br`eve description des principales composantes que lon retrouve
generalement dans les syst`emes dacquisition de donnees. La figure 3.5 illustre un schema
typique de carte dacquisition de donnees que lon peut inserer dans un micro-ordinateur
(toutes les valeurs numeriques sont donnees a` titre dexemple). On y retrouve dans
lordre habituel: le multiplexeur (MUX), lamplificateur `a gain programmable (PGA),
le module echantillonneur / bloqueur (S/H) et enfin, le convertisseur A/N (A/D). Sur
62
la plupart des cartes, on retrouve egalement des ports dentrees / sorties numeriques
(Digital I/O) ainsi que des ports de sorties analogiques.
autres ports d'entre / sortie
(vers d'autres cartes)
entres
analogiques
vi0, vi1, vi2,...
MUX
16 SE /
8 DIFF
PGA
convertisseur
A/N
12 ou 16 BIT
S/H
entres /
sorties
numriques
8 sorties
8 entres
G = 1, 10, 100
sortie
analogique
convertissseur N/A 12 BIT
sortie
analogique
interface
compteur
BUS
La pi`ece matresse dun syst`eme dacquisition de donnees est bien entendu le convertisseur analogique / numerique. Afin de comprendre les principes de fonctionnement des
differents types de convertisseurs, il est utile de se referer au chapitre 2 qui traite des
notions elementaires relatives a` lamplificateur operationnel; celui-ci est `a la base de la
conception des differents convertisseurs.
Convertisseurs Num
eriques / Analogiques
Lavantage principal des cartes dacquisition de donnees reside dans le fait quil soit
possible deffectuer des mesures assistees par ordinateur. Comme nous lavons vu precedemment, cette tache est principalement accomplie par le groupe MUX-PGA-S/HA/D (voir le schema de la carte dacquisition de donnees presente precedemment). La
plupart des cartes offrent cependant dautres avantages qui permettent par exemple
deffectuer une action destinee `a une tache de controle ou de regulation. Ces actions
63
sont en fait des tensions qui transitent par les ports de sorties analogiques (12 bits D/A)
et les ports numeriques (Digital I/O). Lorsque lon desire imposer un certain niveau de
tension analogique `a laide dun ordinateur, on doit se rappeler que celui-ci fonctionne
sur une base numerique. On doit donc convertir des donnees numeriques (par exemple
des mots de 12 bits) en tensions analogiques. Cette operation est effectuee par un
convertisseur N/A du meme type que celui illustre sur la figure 3.6.
2M-1
MSB
2M-2
Eref
2M-3
2R
Rr
4R
2M-4
20
LSB
8R
vo
2M-1R
Rr
,
Req.
(3.5)
o`
u Req. = resistance equivalente du reseau de resistances en parall`ele et Eref = tension dentree de lamplificateur inverseur ( voir le schema precedent). La resistance
equivalente du reseau de resistances en parall`ele est donnee par:
M
X
cm1
1
=
,
M
m R
Req.
m=1 2
(3.6)
o`
u cm = 0 ou 1 dependant de la valeur du bit (cm = 1 interrupteur ferme,
cm = 0 interrupteur ouvert). Lexpression de Req. permet donc decrire:
vo = Rr Eref
M
X
m=1
64
cm1
M
2 m R
(3.7)
contrle
logique
amplificateur
diffrentiel
(comparateur)
v >
horloge
flip/flop
porte
AND logique
convertisseur
N/A
registre
M - bit
flip/flop sortie
numrique
65
Notons enfin que du point de vue de la vitesse de conversion, les limitations actuelles
de ce type de convertisseur proviennent du comparateur et du convertisseur numerique
analogique. Ces composantes analogiques poss`edent des constantes de temps qui sont
finies et on doit attendre letablissement dun regime permanent avant de poursuivre
une operation.
- EXEMPLE
Considerons un convertisseur 4 bits avec EF SR = 10 V en option
unipolaire. Selon ce que nous avons vu precedemment, la resolution de ce
convertisseur est Q = 0.625 V/bit. Prenons ici , le seuil de comparaison,
comme etant egal `a Q/2, soit 0.3125 V. Le tableau 3.4 retrace les
differentes etapes de la conversion par approximations successives pour 4
tensions analogiques differentes.
Entree
Sortie
vi = 7 V
Sortie =
1011
vi = 6.5 V
Sortie =
1010
vi = 8.3 V
Sortie =
1101
vi = 1.45 V
Sortie =
0010
Mot de
4 bits
3210
1000
1100
1010
1011
1000
1100
1010
1011
1000
1100
1110
1101
1000
0100
0010
0011
Tension
analogique
de comparaison
5
7.5
6.25
6.875
5
7.5
6.25
6.875
5
7.5
8.75
8.125
5
2.5
1.25
1.875
-2
0.5
-0.75
-0.125
-1.5
1
-0.25
0.375
-3.3
-0.8
0.45
-0.175
3.55
1.05
-0.2
0.425
v ?
si oui, bit
teste = 1
O
N
O
O
O
N
O
N
O
O
N
O
N
N
O
N
Decision
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
3
2
1
0
3
2
1
0
3
2
1
0
3
2
1
0
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
1
0
1
1
1
0
1
0
1
1
0
1
0
0
1
0
+ Rampe
Cet autre type de convertisseur est caracterise par lemploi dun integrateur (generateur
de rampe) et dun amplificateur differentiel. Lorsque linterrupteur du generateur de
rampe est en court-circuit, la rampe est mise a` zero. En ouvrant linterrupteur (circuit
ouvert), lintegration commence et on compare alors la tension analogique a` convertir
66
avec la tension analogique de la rampe. Au meme moment, le registre compte les valeurs
numeriques bit par bit en synchronisation avec lhorloge. La tension analogique de la
rampe augmentant avec le temps, on cherche `a determiner `a quel instant les deux tensions
analogiques sont egales. Lorsque celles-ci sont effectivement egales, le registre est arrete
et fournit ainsi la valeur numerique correspondant a` la tension analogique dentree.
Porte
logique
signal du
contrleur
C
gnrateur
de rampe
horloge
impulsion
de dpart
interrupteur
lectronique
flip/flop
comparateur
Eref
1 au dpart
0 pour vi = rampe
AND
0
0
1
1
et
et
et
et
0
1
0
1
=
=
=
=
0
0
0
1
registre
compteur
(arrt lorsque
vi = rampe)
sortie
numrique
vi entre
analogique
convertir
+ Flash
Le convertisseur de type Flash, aussi appele convertisseur parall`ele, est caracterise
par lemploi dun diviseur de tension et de plusieurs comparateurs (figure 3.9). Il est
tr`es simple a` concevoir, mais son principe de fonctionnement requiert lemploi de 2M
resistances en serie, constituant un diviseur de tension, ainsi que de 2M 1 comparateurs (M representant la resolution du convertisseur exprimee en bits).
La tension de reference dun comparateur donne est superieure `a la tension de
reference du comparateur situe directement au niveau precedent. Cette difference de
tension est egale `a la tension correspondant a` la resolution (1 LSB).
Les convertisseurs parall`eles sont les plus rapides (> GHz) mais aussi les plus co
uteux,
car le principe de fonctionnement necessite lemploi de nombreuses composantes. Leur
` titre dexemple, un convertisresolution est generalement limitee `a 8 bits ou moins. A
seur Flash de 8 bits est compose de 256 resistance et de 255 comparateurs. Comme
ils comportent un tr`es grand nombre de composantes, ils seront aussi moins precis. Ce
type de convertisseur est habituellement utilise dans les oscilloscopes numeriques ainsi
que dans les numerisateurs de signaux transitoires (transient digitizers).
67
Eref
3R/2
comparateurs
5/8 Eref
R
3/8 Eref
Eref
+
-
C2
dcodeur
logique
C1
bit 0 = C0.C1+C2
sortie
numrique
2 bits
bit 1 = C1
1/8 Eref
C0
R/2
vi entre
analogique
- EXEMPLE
Considerons un convertisseur de type flash codant sur 2 bits avec une
tension pleine echelle EF SR = 4 V en option unipolaire. Selon ce que
nous avons vu precedemment, la resolution de ce convertisseur est Q = 1
V/bit. Le schema de quantification de ce type de convertisseur est le
meme que celui illustre sur la figure 3.4. Les resultats obtenus avec ce convertisseur sont presentes dans le tableau 3.4. Les valeurs numeriques sont
determinees en appliquant les relations booleennes inscrite sur la figure 3.9.
Gamme de
tension
dentree vi
0.0
0.5
1.5
2.5
0.5
1.5
2.5
4.0
Etat
logique
`a la sortie
du comparateur
C0
C1
C2
0
0
0
1
0
0
1
1
0
1
1
1
Sortie
numerique
sur 2 bits
00
01
10
11
68
La consommation denergie (et la dissipation en chaleur) constitue un autre desavantage relie a` lutilisation des convertisseurs parall`eles. Un convertisseur codant sur 8
bits et fonctionnant `a une cadence de 1 GHz (109 conversions par seconde) consommera
typiquement plus de 5 W. Il dissipera donc une quantite de chaleur considerable si lon
compare par exemple a` un convertisseur `a approximations successives codant lui aussi
sur 8 bits (16 000 fois plus !). Le convertisseur `a approximation successive dont il est
question sera cependant 40 000 fois plus lent.
En resume, lavantage du convertisseur de type parall`ele est sa tr`es grande rapidite
et ses faiblesses se situent au niveau de son co
ut eleve, de sa consommation denergie
et de sa precision. Lorsque la frequence dechantillonnage nest pas tr`es elevee, on
utilisera habituellement un convertisseur a` approximation successive dont la precision
est generalement superieure.
3.5
Pr
e-traitement des signaux
dechantillonnage. Evidemment,
la frequence dechantillonnage devra etre definie
selon le theor`eme dechantillonnage (fech. > 2 ff iltre puisque ff iltre = fm ).
Si on na pu determiner la frequence maximum du signal ou si cette derni`ere est
superieure a` la moitie de la frequence dechantillonnage maximum dont on dispose,
alors la facon de faire les choses le plus proprement possible est la suivante: on
doit utiliser la frequence dechantillonnage maximum dont on dispose et filtrer en
69
passe-bas a` une frequence leg`erement inferieure `a fech. /2. Dans tous les cas, lorsque
la frequence dechantillonnage est choisie, le signal doit etre filtre en passe-bas a`
moins de fN = fech. /2, afin deviter les probl`emes de frequences de recouvrement.
Le filtre alors utilise est appele filtre anti-recouvrement ou filtre anti-repliement
ou filtre anti-aliasing.
0010
0101
1001
1100
...
Signal d'un
capteur =
entre analogique
Amplificateur
Filtre
anti-repliement
chantillonneur /
bloqueur
Convertisseur
analogique /
numrique
0010
0001
0110
1000
1000
0110
1001
0111
Sauvegarde
des valeurs
numriques
Figure 3.10: Illustration des differentes etapes dacquisition dun signal analogique.
70
Chapitre 4
Introduction au post-traitement des
signaux
Generalement, quatre types de fonctions statistiques sont utilisees pour decrire les proprietes de base dun signal aleatoire:
1. Moyenne et ecart-type (valeur rms)
Ces quantites donnent une description rudimentaire de lintensite dun signal. Un
voltm`etre rms peut generalement fournir ces informations.
2. Fonctions de densite de probabilite
Ces fonctions fournissent de linformation concernant les proprietes du signal dans
le domaine de lamplitude. On sinteresse a` la distribution de x(t) (valeur instantanee dun phenom`ene x) autour de la valeur moyenne; on devra alors utiliser un
syst`eme dacquisition de donnees plus performant que celui du cas precedant.
3. Fonctions dauto-correlation et de correlation temporelle
Ces fonctions fournissent des informations sur levolution temporelle du signal. Un
syst`eme dacquisition de donnees performant est requis ainsi quun pre-traitement
adequat (frequence dechantillonnage, filtre, amplification ...).
4. Fonctions de densite spectrale
La fonction de densite spectrale fournit des informations equivalentes `a la fonction dauto-correlation sauf que ces informations sont donnees dans le domaine
frequentiel et non temporel. Cette analyse requiert les memes conditions dacquisition de donnees que celles definies a` litem precedent. On aura souvent recours a`
un outil, appele analyseur de spectre, qui est specifiquement dedie a` cette tache.
Dans ce cours, nous nous limitons a` lutilisation des fonctions statistiques simples
servant a` faire une analyse dans le domaine temporel.
71
4.1
Notions de statistiques
Dans les prochains paragraphes, nous definissons des outils statistiques qui font appel a` lhypoth`ese dergodicite du phenom`ene etudie. Cela signifie que les moyennes
densemble (grandeurs moyennes prises au sens large) sont egales aux moyennes temporelles prises sur un echantillon. Lhypoth`ese dergodicite implique que le nombre
dechantillons N pour les moyennes densemble dune part et que, dautre part,
le temps dintegration T pour les moyennes temporelles. En pratique, il est
evident que la realisation dun echantillon infiniment long et lacquisition dune infinite
dechantillons sont irrealisables. Cela signifie que les grandeurs moyennes seront toujours estimees et non calculees de mani`ere exacte. Lerreur de biais resultante est dune
importance majeure en analyse de donnees.
Dans les paragraphes qui suivent, nous adoptons le schema de presentation suivant:
Outils
Outils
Outils
statistiques
statistiques
statistiques
definis pour Ergodicite redefinis pour Discretisation redefinis pour
un
un
une
echantillon
continu
population
echantillon
discretise
Densit
e de probabilit
e dune population
Considerons les densites de probabilites p(x), p(y) ou p(x, y) dune ou deux variables
aleatoires x et y; on verifie que:
Z +
p(x) dx = 1 ,
Z +
p(y) dy = 1
et
Z + Z +
p(x, y) dxdy = 1
(4.1)
r Esperance mathematique:
Par definition, lesperance mathematique E[x] de la variable aleatoire x secrit:
E[x] =
Z +
x p(x) dx = x
(4.2)
E[x ] =
Z +
x2 p(x) dx = 2x
72
(4.3)
Z +
(x x )2 p(x) dx = x2
(4.4)
(4.5)
r Moments:
De facon generale, on definit un moment dordre r comme etant lesperance mathematique de la quantite (x x )r ; soit
r
E[(x x ) ] =
Z +
(x x )r p(x) dx = r
(4.6)
Si on compare cette expression aux expressions precedentes, on constate que pour les
moments dordre 1 et 2, on doit avoir 1 = 0 ainsi que 2 = x2 .
Il est souvent pertinent de sinteresser aux moments dordre eleve (r > 2). Precisons
que dans bien des cas, on se limite `a lutilisation des moments dordre 3 et 4. Dans ce
type danalyse, on consid`ere habituellement des coefficients normalises (sans dimensions)
plutot que des moments bruts. On definit alors deux coefficients:
Coefficient de Dissymetrie (Skewness Factor)
3 =
3
3/2
2
3
3
(4.7)
4
4
= 4
2
2
(4.8)
Soulignons que 3 peut etre de signe positif ou negatif; cela depend du signe de 3 .
Quant a` 4 , on constate que par definition, il doit toujours etre de signe positif. Dans
le cas dune distribution de probabilites normale ou Gaussienne, on peut demontrer que
3 = 0 et 4 = 3.
73
- EXEMPLE
Afin dillustrer limportance fondamentale de lutilisation de ces deux coefficients, analysons les quatre densites de probabilites des variables aleatoires
w, x, y et z. Ces variables representent des phenom`enes ergodiques.
La figure suivante represente les evolutions temporelles de chacun des
phenom`enes w(t), x(t), y(t) et z(t), ainsi que les densites de probabilites
p(w), p(x), p(y) et p(z) de leur population respective. Soulignons ici que
les quatre variables sont centrees (w = 0, x = 0, y = 0 et z = 0).
Rappelons de plus que, par definition, lintegrale de chacune des densite de
probabilites est egale `a 1.
w
3 0
4 3
p(w)
t
x
3 < 0
4
p(x)
3 0
4
p(y)
z
p(z)
3 0
4
cr = mr = lim
avec
1ZT
x dt
T T 0
x = b = lim
(4.9)
Si x0 = x x, on peut noter:
1 Z T 0r
mr = lim
x dt = x0r
T T 0
(4.10)
m2 =
x02 = xrms
(4.11)
La notation valeur rms est largement employee pour signifier lecart-type dun
echantillon; on ecrit r pour la racine (root), m pour le surlignage qui signifie la
moyenne (mean) et s pour le carre de x0 (square). Pour les coefficients 3 et 4 ,
on ecrit:
c3 = S =
m3
3/2
m2
x03
x02
3/2
c4 = F, K ou T =
m4
x04
=
2
m22
x02
(4.12)
o`
u la lettre S est utilisee pour Skewness, F pour Flatness, K pour Kurtosis et T
sans raison speciale sauf quelle suit S dans lalphabet . . .
chantillon de valeurs discre
`tes
Moyennes sur un e
Lorsque lon utilise un syst`eme dacquisition de donnees qui effectue des conversions analogique/numeriques des signaux, nous avons seulement acc`es `a des echantillons
75
de valeurs discr`etes. Considerons un echantillon de N valeurs discr`etes de la variable aleatoire x: x = (x1 , x2 , x3 , . . ., xN ). Le temps dobservation du phenom`ene
est T = N/fech . Les quantites definies precedemment sont estimees comme suit:
N
1 X
r
mr =
x0i
N i=1
x0i
avec
= xi x
et
N
1 X
x=
xi
N i=1
(4.13)
- EXEMPLE
Pour illustrer lutilisation des moments dordre 3 et 4, considerons un signal
de fil chaud u(t) place dans une couche de melange turbulente. On analyse
des echantillons de 10240 valeurs discr`etes dont on a fait lacquisition `a
une frequence dechantillonnage de 10 kHz. Deux de ces signaux sont
representes et pour chacun dentre eux, on trace lhistogramme brut de
meme que lestimateur de la densite de probabilites (en variable centree et
reduite: p(u0 ) vs u0 / avec u0 = uu). Ainsi, lintegrale de lhistogramme
donne 10240 et lintegrale de la densite de probabilite donne 1.
u
45
(m/s)
40
35
30
25
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
-2
0.9
(s)
p(u')
250
0.5
200
0.4
150
0.3
100
0.2
50
0.1
0
25
30
35
40
45
-4
u'/
3 = 0.048
u = 33.25 m/s
q
4 = 2.643
76
Remarquons que sur les figures 4.2 et 4.3, nous avons choisi de representer
le signal en reliant les points discrets par des droites. Cette representation
permet de mieux visualiser le signal et de suivre son evolution temporelle. Il
faut cependant garder `a lesprit que les extremites des droites representent
des valeurs discr`etes (en temps et en amplitude) et quune interpolation lineaire peut etre quelques fois hasardeuse (on ne peut obtenir plus
dinformation que lechantillonnage ne nous en donne).
u
45
(m/s)
40
35
30
25
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
-2
0.9
(s)
p(u')
500
0.5
400
0.4
300
0.3
200
0.2
100
0.1
35
40
45
u'/
3 = 1.511
u = 40.13 m/s
q
-4
4 = 6.936
Le premier echantillon est presque gaussien alors que le deuxi`eme est caracterise par un coefficient de dissymetrie negatif. On observe effectivement sur ce dernier des bouffees negatives importantes (loin de la valeur
moyenne et inferieures `a celle-ci) qui ont relativement peu doccurrences
par rapport `a la valeur la plus probable (elles sont intermittentes). Notons que la valeur la plus probable est differente de la valeur moyenne
meme si dans bien des cas elle en sera tr`es pr`es. Ce phenom`ene est
alors represente par ce quon appelle une queue negative de densite
de probabilites. On se sert habituellement de la gaussienne comme base
de comparaison pour analyser les estimateurs de densites de probabilites.
77
4.2
Calculs de r
egression
dN
(xN ,yN )
(x4 ,y4 )
y4
y1
ye
d4
(x1 ,y1 )
d1
x1
xN
x4
Plusieurs fonctions telles que di 2 ou |di | peuvent etre utilisees pour obtenir une
certaine qualite dajustement de la courbe ye aux donnees (xi , yi ). Le cas le plus classique concerne la regression de type moindres carres.
P
d1 + d2 + . . . + dN =
uN
uX
t
d2
i
(4.14)
i=1
Cette definition de kdk est aussi appelee la norme euclidienne. Une regression dans le
sens dune minimisation de la norme euclidienne est appelee une regression des moindres
carres 1 . Nous nous limitons dans le cadre du cours a` ce type de regression.
1
P
Les autres normes les plus courantes sont: la norme de Laplace
|dP
i |, la norme du minimax de
Laplace-Tchebychef max |di | et la norme des carres ponderes de Legendre
di 2 i (i 0).
78
4.2.1
Fonctions impliquant la r
esolution dun syst`
eme lin
eaire
Dans cette section, nous nous interessons aux fonctions dans lesquelles les param`etres
(a0 , a1 , . . . , an ) apparaissent sous forme lineaire. Ces mod`eles lineaires incluent:
Les polynomes simples:
yei = a0 + a1 xi + a2 xi 2 + . . . + an xi n
(4.15)
(4.16)
(4.17)
o`
u les coefficients 0 , 1 , . . . , n sont connus.
Les formes de Fourier:
yei = a0 + a1 sin(xi ) + a2 sin(2xi ) + . . . + an sin(nxi )
(4.18)
o`
u la frequence est connue.
Les formes exponentielles:
yei = a0 + a1 e1 xi + a2 e2 xi + . . . + an en xi
(4.19)
o`
u les coefficients 0 , 1 , . . . , n sont connus.
Comme nous le verrons, les regressions effectuees sur ce type de fonction impliquent
la resolution dun syst`eme dequations lineaires. Pour illustrer la methode, nous allons
considerer dans cette section seulement des polynomes simples.
` partir de N points (xi , yi ), on cherche a` definir une regression de type ye =
A
i
P 2
P
2
n
2
a0 + a1 xi + a2 xi + . . . + an xi telle que di = (yei yi ) soit minimale (moindres
carres).
On peut ecrire la fonction estimee comme:
yei =
n
X
k=0
79
ak x i k
(4.20)
Le probl`eme revient `a determiner les coefficients ak qui minimisent Q qui est defini par
le carre de la norme euclidienne:
Q=
N
X
di =
i=1
N
X
yi
i=1
n
X
!2
ak x i k
(4.21)
k=0
N
X
ak
xi
j+k
i=1
k=0
N
X
yi xi j (j = 0 n)
(4.22)
i=1
Ces n + 1 equations sont appelees equations normales; elles forment un syst`eme lineaire:
k=0
k=1
...
k=n
j = 0 a0
PN
xi 0 +
a1
PN
xi 1
+ ... +
j = 1 a0
PN
xi 1 +
a1
PN
xi 2
+ . . . + an
i=1
i=1
i=1
i=1
..
.
..
.
j = n a0
PN
x i n + a1
PN
PN
y i xi 0
xi n+1 =
PN
y i xi 1
i=1
PN
i=1
..
.
i=1
PN
an
xi n
i=1
i=1
..
.
i=1
xi n+1 + . . . +
an
PN
i=1
..
.
xi 2n
PN
i=1
y i xi n
B
PN
i=1
xi 0
N
1
i=1 xi
..
PN
n
i=1
xi
PN
i=1
PN
i=1
xi 1
xi 2
...
...
..
.
PN
i=1
xi n+1 . . .
PN
xi n
a0
n+1
x
i=1 i
..
PN
2n
a1
..
.
i=1
PN
i=1
xi
an
C
PN
y i xi 0
N
1
i=1 yi xi
..
PN
n
i=1
i=1
y i xi
C = T Y
(4.23)
o`
u T represente la matrice transposee et Y = [{y}] est un vecteur colonne compose
des elements y1 , y2 , . . . , yN .
Le syst`eme secrit finalement:
B A = C avec B = T et C = T Y
(4.24)
Si B est une matrice non-singuli`ere, alors sa matrice inverse B1 existe. Les coefficients
a0 , a1 , . . . , an du polynome de regression sont trouves par:
A = B1 C
(4.25)
En fait, plusieurs algorithmes sont destines a` resoudre de tels syst`emes; on peut citer par
exemple ceux utilisant les methodes delimination de Gauss (de loin la plus repandue),
de Gauss-Jordan, de substitution ou iterative.
Note
Lorsque n + 1 > N , on a un syst`eme sous-determine qui a une infinite de solutions
(cest le cas de la droite passant par un point).
Lorsque n + 1 = N , on a un syst`eme qui fournira une solution unique (cest le cas
de la droite passant par deux points).
Lorsque n + 1 < N , on a un syst`eme sur-determine et on obtient une solution pour
le vecteur A qui produit un vecteur ye qui approche y dans le sens des moindres
carres.
4.2.2
Coefficients de corr
elation et de r
egression
Coefficient de corr
elation
Le coefficient de correlation defini par
N
(xi x)(yi y)
sxy
=
= qP i=1
PN
N
sx sy
2
2
i=1 (xi x)
i=1 (yi y)
rxy
(4.26)
represente le degre de linearite dun ensemble de points. Rappelons que sxy represente
la covariance entre les distributions x et y alors que sx et sy representent les ecart-types
81
Coefficient de r
egression
Considerons une regression quelconque (ye = mx, ye = a0 + a1 x + a2 x2 + a3 x3 ,
ye = A + BxC , ye = AeBx , . . . ). Le coefficient de correlation lineaire etabli entre les
distributions ye et y est defini par:
N
s ye y
(ye ye )(yi y)
=
= qP i=1 i
PN
N
s ye s y
2
2
i=1 (yei ye )
i=1 (yi y)
rye y
(4.27)
Cas de la r
egression polynomiale
Dans le cas o`
u ye = a0 + a1 x + a2 x2 + . . . + an xn , on peut definir dune autre facon la
mesure dajustement de la courbe de regression. Cette mesure est obtenue en definissant
un autre coefficient a` partir de la relation triviale:
yi y = (yi yei ) + (yei y)
(4.28)
De cette expression valide pour chacun des points, on obtient en elevant au carre et en
faisant la sommation sur tous les points i, lequation suivante:
N
X
i=1
(yi y)2 =
N
X
(yi yei )2 +
i=1
N
X
(yei y)2
i=1
82
(4.29)
Cette equation nest evidemment valable que pour une regression de type polynomiale
pour laquelle on peut verifier que
N
X
(4.30)
i=1
(yi y)2
(4.31)
i=1
(yi yei )2
(4.32)
i=1
ecart explique
N
X
(yei y)2
(4.33)
i=1
r =
PN
2
i=1 (yei y)
PN
2
i=1 (yi y)
PN
(yi yei )2
2
i=1 (yi y)
= 1 Pi=1
N
(4.34)
Comme tous les termes impliques sont positifs ( ( )2 > 0), le dernier terme de droite
doit etre 1 (en dautres termes, lecart residuel doit evidemment etre inferieur a` lecart
total). Cela implique aussi r2 1.
P
Dans le cas dune regression polynomiale, on sait que y = ye ; on peut donc ecrire le
coefficient r sous la forme:
r=
v
u PN
u
t i=1 (yei
PN
sy
ye )2
= e
2
sy
i=1 (yi y)
(4.35)
s ye
sye y
=
= rye y
sy
s ye s y
83
(4.36)
Le coefficient r represente donc bel et bien une coefficient de regression pour les fonctions
polynomiales.
Cas de la regression lineaire
La regression lineaire, pour laquelle ye = a0 + a1 x, constitue un cas particulier de la
regression polynomiale. On retrouve donc ici aussi r = rye y . Dans le cas de la regression
lineaire, on peut de plus demontrer que rxy = r = rye y . Ainsi pour ce cas particulier, le
coefficient de correlation lineaire peut servir de coefficient de regression.
Cas de la regression de type ye = mx
Il sagit dun type de regression utilise pour certains etalonnages (capteurs de pression par exemple . . . ). Dans ce cas, rxy 6= r 6= rye y . Le seul coefficient valable pour
apprecier le degre dajustement de la courbe de regression est rye y .
84
Chapitre 5
Mesure de la temp
erature
5.1
G
en
eralit
es
Etat
de reference
Point triple de lhydrog`ene
Equilibre
liq./vap. de lhydrog`ene `a 1 atm
Point triple du neon
Point triple de loxyg`ene
Point triple de largon
Point triple de leau
Equilibre
sol./liq. du gallium `a 1 atm
Equilibre
sol./liq. du zinc `a 1 atm
Equilibre
sol./liq. de largent `a 1 atm
Equilibre
sol./liq. du cuivre `a 1 atm
Temperature
C
K
13.8033 -259.3467
20.3
-252.87
24.5561 -248.5939
54.3584 -218.7916
83.8058 -189.3442
273.16
0.01
302.9146
29.7646
505.078
231.928
692.677
419.527
1234.93
961.78
1337.33
1064.18
1357.77
1084.62
85
C. On effectue cette operation avec la sonde RTD en platine en suivant la norme ITS-90.
Thermom`
etres bas
es sur lexpansion thermique
Thermom`etres bimetalliques
Il sagit dune methode de mesure de temperature qui est largement utilisee. Cette
technique est basee sur lexpansion thermique differentielle de deux metaux. Le thermom`etre est constitue de deux pi`eces de metaux collees formant ainsi une bande bimetallique. Les coefficients dexpansion thermique des deux metaux etant differents,
une variation de temperature resulte en une deformation differentielle de la bande. Par
rapport a` la temperature de collage, la bande subira une deformation dans un sens ou
dans lautre suivant une augmentation ou une diminution de temperature.
La bande bimetallique peut avoir des formes variees suivant lapplication pour laquelle elle est destinee. La bande droite pouvant enclencher un interrupteur ainsi que la
spirale reliee a` une aiguille de lecture sont les formes les plus repandues.
Expansion dun liquide
Le thermom`etre le plus commun base sur le principe dexpansion dun liquide est le
thermom`etre a` bulbe de mercure ou dalcool. Le liquide est contenu dans une structure
de verre composee dun bulbe et dune colonne. Le bulbe sert de reservoir et contient
assez de liquide pour couvrir la pleine echelle de temperature. La colonne est en fait un
tube capillaire dans lequel le niveau de liquide sera fonction de la temperature.
86
Ce type de thermom`etre sera etalonne selon une des trois procedures suivantes:
1. Immersion compl`ete. Le thermom`etre est compl`etement immerge dans lenvironnement produisant la temperature detalonnage.
2. Immersion totale. Le thermom`etre est immerge dans lenvironnement produisant
la temperature detalonnage jusquau niveau de liquide dans le capillaire.
3. Immersion partielle. Le thermom`etre est immerge jusqu`a un niveau pre-determine
dans lenvironnement produisant la temperature detalonnage.
On devra idealement utiliser le thermom`etre dans les memes conditions quil a ete
etalonne. La figure 5.1 illustre ces trois procedures.
Totale
Complte
Niveaux
d'immersion
Figure 5.1: Illustration des trois types dimmersion que lon retrouve pour les thermom`etres
`a bulbe de liquide.
87
Thermom`etre
`a bulbe
dalcool
Thermom`etre
`a bulbe de
mercure
Bande
bimetallique
RTD
Thermistor
Gamme de
temperature
( C)
-70 `
a 65
Precision
approx.
( C)
0.5
Reponse
dynamique
Co
ut
Remarque
Mauvaise
Faible
Thermom`etre
bas de gamme
-40 `
a 300
0.25
Mauvaise
Variable
-70 `
a 550
0.25
Mauvaise
Faible
-180 `
a 1000
0.0025
-70 `
a 250
0.01
Passable
`a bonne
(selon
la taille)
Bonne
(selon
la taille)
Variable
(selon
lequipement
de lecture)
Faible
(lequipement
peut etre
cher)
Thermocouple1
Precision de
0.05 sur
certains
Largement utilise
pour faire du
controle de T.
de facon simple
La plus
pr
ecise des
m
ethodes
Utile pour
les circuits de
compensation
thermique
= f ()
type T
-200 `
a 350
0.25
Bonne
Faible
Bon `a tr`es
basse T.
type J
0`
a 750
0.5
Bonne
Faible
Mauvais `a
basse T.
type K
-200 `
a 1250
0.5
Bonne
Faible
Bon en milieu
oxydant
type S
0`
a 1450
0.25
Bonne
e
Elev
Bon `a haute T.
resiste `a
loxydation
type G
0`
a 2320
Bonne
Faible
-15 `
a 3300
2 `a 10
Mauvaise
Variable
650 et +
10
Mauvaise
Moyen
Pour tr`es
haute T.
Applications
tr`es diversifiees
Largement utilise
dans lindustrie
Thermom`etre
infrarouge
Pyrom`etre
optique
88
` la lecture du tableau 5.2, on constate quil existe une large gamme dinstruments
A
de mesure de la temperature. Dans les prochaines sections, nous faisons letude plus
detaillee des trois types de sondes suivants: les detecteurs a` variation de resistance
electrique (RTD), les thermistors et les thermocouples. Ces trois categories de capteurs
ont les caracteristiques suivantes:
RTD
Thermistor
R ()
Thermocouple
R ()
v (V)
Le plus stable
Le plus precis
Bonne linearite
Co
ut assez eleve
R/T faible
R absolue faible
Source de courant
necessaire
R/T eleve
R absolue elevee
R peut etre mesure
de facon standard
Bonne reponse
dynamique
Non-lineaire
Gamme de T. limitee
Fragile
Source de courant
necessaire
Auto-alimente
Simple
Robuste
Faible co
ut
Large gamme de T.
Non-lineaire
v/T faible
v absolue faible
Tref requise
Le moins stable
5.2
D
etecteurs `
a variation de r
esistance
electrique
(RTD)
Les sondes de type RTD ont comme element sensible un fil ou un film de metal dont la
resistance electrique varie avec la temperature. En fait, il sagit plus exactement de la
resistivite du metal qui varie avec la temperature. Ce changement de resistivite produit
un changement de resistance electrique suivant la relation:
R=
e l
Ac
avec
89
e = f (T )
(5.1)
Lelement sensible est monte sur un support isolant qui est par la suite scelle, de facon
a` prevenir toute variation de resistance electrique du fil due `a des facteurs autres que
les variations de temperature (corrosion ...). On doit donc sassurer que la variation de
resistance electrique du fil depend seulement de la variation de la resistivite du metal
avec la temperature. Cela implique que lelement ne doit subir aucune deformation (expansion thermique du support ...) susceptible de faire varier l ou Ac . La resistance
electrique R(T ) peut sexprimer a` partir dune expansion en serie de Taylor centree sur
T0 , cette derni`ere etant une temperature de reference `a laquelle la resistance est R0 .
Dans le cas o`
u seule la temperature fait varier la resistance, on obtient:
(T T0 )2 2 R
(T T0 )n n R
R
+
+
.
.
.
+
+ rn (T ) . (5.2)
R = R0 + (T T0 )
T T0
2!
T 2 T0
n!
T n T0
En notant
1 R
1
2 R
=
, =
, ...
R0 T T0
2! R0 T 2 T0
(5.3)
la serie de Taylor peut etre recrite sous la forme dun polynome de degre n (pour des
applications particuli`eres, certains utilisent jusqu`a n = 20 ...):
h
R = R0 1 + (T T0 ) + (T T0 )2 + . . . .
(5.4)
La figure suivante nous indique les evolutions de R/R0 vs T pour trois metaux communs, soit le platine, le nickel et le cuivre:
R/Ro
8
Nickel
7
6
Cuivre
Platine
4
3
2
1
-200
200
400
600
800
T (oC)
Par exemple 0 `
a 100 C.
90
(5.5)
(avec R0 = R a` 0 C)
(5.6)
Metal
Aluminium (Al)
Cuivre (Cu)
Fer (Fe)
Nickel (Ni)
Or (Au)
Plomb (Pb)
Platine (Pt)
Tungst`ene (W)
/( C)
0.0044
0.0043
0.0065
0.0068
0.0040
0.0042
0.003927
0.0048
e 108
m
0 C 20 C
2.44
2.65
1.54
1.67
8.58
9.70
6.02
6.84
1.86
2.01
19.00 20.60
9.83 10.6
5.49
6.01
Le metal ideal pour construire une sonde RTD doit: 1- etre stable3 ; 2- avoir une
resistivite qui varie le plus lineairement possible avec la temperature (utile pour interpoler); 3- avoir une valeur de resistivite relativement elevee (de facon `a minimiser
la longueur du fil). Selon ces crit`eres on comprend pourquoi lor, par exemple, nest
pas un element sensible ideal; comme sa resistivite electrique est faible, la longueur de
fil (donc le prix) devrait etre relativement grande. Le cuivre poss`ede egalement une
3
Pour une temperature donnee, sa resistivite ne change pratiquement pas avec le temps.
91
faible resistivite; son faible prix et sa bonne linearite (voir la courbe precedente) en font
neanmoins une alternative economique. Notons cependant que lon recommande de limiter lutilisation des RTD en cuivre `a des temperatures inferieures `a 120 C.
Les metaux les plus communs utilises pour fabriquer les sondes RTD sont le nickel
et le platine. Ceux-ci ont des valeurs de resistivite relativement elevees et poss`edent
une bonne linearite sur differentes gammes de temperature (excellente linearite pour le
platine). Le metal le plus stable de ce tableau etant le platine, on comprend pourquoi
les sondes RTD en platine sont utilisees comme standard dinterpolation dans la norme
ITS-90.
Le platine dont les proprietes sont presentees dans le tableau 5.4 est appele platine
de type classe de reference. Il sagit dun platine ayant une purete superieure `a 99.999%.
La valeur du coefficient pour la classe de reference est 0.003927 /( C). Il existe une
autre categorie de platine que lon appelle la classe IEC/DIN. Il sagit dun platine pur
que lon a intentionnellement contamine avec un faible pourcentage dun autre metal
(de liridium ou du rhodium par exemple) de facon `a obtenir precisement une valeur
du coefficient egale `a 0.00385 /( C). Au cours des derni`eres annees, plusieurs
comites internationaux ont adopte le platine de classe IEC/DIN comme standard. De
plus, la sonde RTD standard reconnue poss`ede une resistance nominale de 100 `a une
temperature de 0 C. La sonde de classe IEC/DIN aura donc une resistance de 138.5
a` une temperature de 100 C, alors que celle de classe de reference aura une resistance
de 139.27 . Quoique les sondes de classe de reference soient toujours disponibles sur
le marche, il est utile de noter que les sondes de classe IEC/DIN sont actuellement les
plus repandues.
Mesure de la r
esistance des sondes RTD
Considerons une sonde RTD standard de classe IEC/DIN, dont la valeur de est de
0.00385 /( C). La resistance electrique `a 0 C est de 100 . La sensibilite ( R0 )
sera donc de 0.385 / C. On constate que la valeur de resistance absolue ainsi que la
sensibilite de cette sonde RTD sont faibles. Il nest donc pas adequat de mesurer les
valeurs de resistance avec une configuration standard impliquant un montage en serie
de la sonde RTD avec un ohmm`etre. Afin dillustrer la problematique, considerons par
exemple deux fils reliant la sonde RTD et lohmm`etre, chacun des fils possedant une
impedance de 5 . Si on utilise letalonnage du fabriquant (qui effectuait ses mesures de
resistance correctement), ces deux fils introduiront une erreur de mesure de 10/.385 =
26 C.
92
D
RTD
C
Figure 5.3: Configuration de type Siemen avec sonde RTD `a trois fils et pont de Wheatstone.
D
RTD
C
Figure 5.4: Configuration avec sonde RTD `a quatre fils et pont de Wheatstone.
93
RTD
C
Figure 5.5: Configuration `
a potentiel flottant avec sonde RTD `a quatre fils et pont de Wheatstone.
reliant ce dernier a` la sonde. Cette configuration permet donc deviter tout probl`eme
produit par la resistance des fils de liaison.
I
Source
de courant
constant
Voltmtre
RTD
I
Figure 5.6: Configuration avec sonde RTD et multim`etre configure pour mesurer une
resistance par la methode `
a quatre fils.
5.3
Thermistors
Il existe des composantes avec une sensibilite positive, mais ce nest pas commun.
94
sensibilite des thermistors est obtenue au detriment dune perte de linearite. En fait, le
thermistor est un dispositif extremement non-lineaire.
La relation exprimant la resistance dun thermistor en fonction de la temperature est
generalement de la forme suivante:
R = R0 e
( T1 T1 )
(5.8)
T
T0
= ln R ln R0
ln R ln R0
1
1
=
+
T
T0
(5.9)
On obtient finalement:
1
= A + B ln R
(5.10)
T
Cette expression poss`ede seulement deux degres de liberte, ce qui ne laisse pas beaucoup
de latitude pour ajuster une courbe de regression sur un ensemble de points. Cest
pourquoi lexpression suivante est beaucoup plus utilisee:
1
= A + B ln R + C(ln R)3
T
(5.11)
Soulignons finalement que puisque la valeur de resistance absolue est elevee, on peut
effectuer la mesure de resistance avec un ohmm`etre en configuration standard.
5.4
Thermocouples
Lorsque deux fils composes de metaux differents sont joints `a leurs extremites et que
celles-ci sont exposees `a des temperatures differentes, on observe une circulation de
courant dans ce quon appelle un circuit thermoelectrique. Thomas Seebeck a fait cette
decouverte en 1821. Dans le cas o`
u le circuit est ouvert, on observera une difference de
potentiel `a ses bornes. La figure 5.7 illustre un tel circuit.
mtal A
T1
mtal B
T2
mtal B
95
(5.12)
o`
u les indices A et B representent les deux materiaux constituant le thermocouple.
Comme le coefficient deffet Seebeck est defini par le taux de changement de la tension
avec la temperature, il represente donc la sensibilite statique du thermocouple en circuit
ouvert. Levolution du coefficient deffet Seebeck avec la temperature est illustre a` la
figure 5.8 pour differents types de thermocouple.
Coefficient 100
d'effet
Seebeck
AB (mV/oC)
80
E
J
60
40
20
0
-250
R
S
0
250
500
750
1000
1250
Temprature (oC)
Cest le cas lorsque lon mesure une tension avec un voltm`etre dont limpedance est tr`es eleve.
96
suit: QT = i (T1 T2 ), o`
u est le coefficient deffet Thomson. Sil y a transfert
de chaleur entre le milieu et le conducteur, il y aura induction dun courant par effet
Thomson.
Les effets Peltier et Thomson influencant le courant qui parcourt le circuit, ceux-ci
produisent tous deux une tension electrique qui sajoute `a la difference de potentiel due `a
leffet Seebeck. Ceci affecte evidemment la precision de la technique. On pourra reduire
ces effets en minimisant le courant circulant dans le circuit thermoelectrique.
Notons finalement que dans tous les cas, si un courant i parcourt les conducteurs
formant le circuit, on observera un transfert de chaleur par effet Joule, soit Q J = R i2 .
Cet effet ninfluencera la tension mesuree que si le transfert de chaleur influence la
temperature a` mesurer (ce qui sera generalement evite).
` lheure actuelle, on ne connat pas de facon exacte et detaillee les lois de comA
portement reel des thermocouples7 . On a donc recours `a une forte dose dempirisme et
letalonnage constituera la seule approche acceptable. Lempirisme dont il est question
se resume par quelques lois que lon appelle les lois des thermocouples.
97
mtal A
mtal A
mtal B
mtal C
mtal B
mtal B
bloc isotherme
Figure 5.9: Illustration de la loi des metaux intermediaires.
mtal A
T1
mtal B
v1
T2
mtal A
mtal B
T1
mtal A
T2
mtal B
v2
mtal B
T3
v3
T3
mtal B
v3 = v1 + v2
mtal B
du meme metal et sont `a la meme temperature. Dans ces conditions et selon le schema
de la figure 5.11, les deux circuits de la figure 5.12 sont equivalents.
mtal A
mtal C
+
T1
T2
mtal B
mtal A
+
T1
mtal C
mtal B
T2
mtal B
mtal B
v = -vBA + vAB
mtal A
mtal A
+
T1
mtal B
T2
v
+
mtal A
v = vAB - vBA
Figure 5.11: Trois schemas equivalents dun branchement de thermocouple.
T2
T1
mtal A
mtal B
T2
mtal B
T1
mtal A
mtal B
mtal A
T1
Cu
mtal B
mtal A
Cu
T3
T2
Figure 5.13: Illustration dun circuit de thermocouple avec une jonction de reference maintenue `a une temperature T2 .
- EXEMPLE
Prenons comme exemple le circuit de la figure 5.13. Nous considerons
ici le metal A comme etant du cuivre (Cu) et le metal B du constantan
(Cu-Ni); il sagit dun thermocouple de type T. Pour ce thermocouple,
les polarites seront les suivantes: borne positive Cu et borne negative Cu-Ni.
On cherche `a determiner la temperature T1 , sachant que lon a mesure les
param`etres suivants:
T2 = 20 C , v = 2.841 mV
Pour resoudre ce probl`eme, nous aurons recours `a la table du Bureau
National des Standards et `a la loi des temperatures intermediaires. La
table BNS est obtenue en utilisant une temperature de jonction froide
Tref = 0 C.
Selon la loi des temperatures intermediaires, on peut ainsi ecrire:
v(T1 Tref ) = v(T1 T2 ) + v(T2 Tref )
Tref = 0 C v(T1 0) = v(T1 T2 ) + v(T2 0)
Selon la table BNS, on obtient v(T2 0) = 0.789 mV, ce qui nous donne:
v(T1 0) = 2.841 mV + 0.789 mV v(T1 0) = 3.630 mV (5.13)
Finalement, nous obtenons T1 avec la table BNS qui nous donne pour la
tension 3.630 mV, une temperature T1 = 86 C.
100
Chromel
T1
Alumel
Cu
Chromel
Cu
T2
bain de glace
Figure 5.14: Illustration dun circuit de thermocouple de type K avec une jonction de
reference maintenue dans la glace.
Pour les travaux necessitant une bonne precision, on devra utiliser de leau distillee
de facon `a eliminer les derives de temperature de fusion causees par divers contaminants.
On devra egalement bien isoler le contenant, de telle sorte que le taux de fusion de la
glace soit minimum. Rappelons que les tables fournies par le Bureau National des Standards sont basees sur une temperature de jonction froide de 0 C.
Si on cherche a` mesurer des temperatures T1 pr`es de 0 C, il faudra evidemment
utiliser une autre temperature de reference (sinon on aura a` mesurer des tensions autour
de 0 mV). En fait, la temperature de reference peut etre quelconque; limportant est que
celle-ci soit stable et connue de facon precise.
associee. Notons egalement que des informations relatives aux gammes de temperature
dutilisation sont donnees dans la colonne de droite.
Code
ANSI
J
K
Combinaison d'alliages
borne +
borne -
Fer
Fe
Constantan
Cu-Ni
(magntique)
(Cuivre-Nickel)
Chromel
Ni-Cr
Alumel
Ni-Al
Code de couleur
(Nickel-Chrome) (Nickel-Aluminium)
(magntique)
Cuivre
Cu
Chromel
Ni-Cr
Constantan
Cu-Ni
(Nickel-Chrome)
(Cuivre-Nickel)
Constantan
Cu-Ni
(Cuivre-Nickel)
Gamme de
temprature
d'utilisation
usuelle:
0 750 oC
maximale:
-210 1200 oC
usuelle:
-200 1250 oC
maximale:
-270 1372 oC
usuelle:
-250 350 oC
maximale:
-270 400 oC
usuelle:
-200 900 oC
maximale:
-270 1000 oC
Figure 5.15: Code de couleur utilise en Amerique du Nord pour les principaux thermocouples.
Notons egalement quen vertu de ce code, tous les alliages de polarite negative
adoptent la couleur rouge alors que ceux de polarite positive adoptent la couleur associee au type de thermocouple en question. Ceci permet deviter de raccorder les fils de
102
polarites differentes appartenant a` un meme thermocouple. Il sagit dune erreur classique; une personne inexperimentee branchant par exemple le fil rouge (borne -) dune
rallonge de type K sur la borne de chromel (+) dun connecteur de type K commettrait
un mauvais raccordement.
Etalonnages
du Bureau National des Standards
Les lois detalonnage reliant la tension thermoelectrique fournie par un thermocouple
a` la temperature sont de forme polynomiale. La tension v et la temperature T sont
respectivement exprimees en micro-Volt (V) et en degre Celsius ( C) et la temperature
de la jonction de reference est de 0 C. Dans la plupart des cas, on utilise lequation
suivante:
v=
n
X
ci T i = c0 + c1 T + c2 T 2 + . . . + cn T n
(5.14)
i=0
v (mV) 15
E
J
T
10
K
5
type
type
type
type
-5
50
100
150
J
K
E
T
200
T (oC)
v=
n
X
ci T i + 0 e1 (T 126.9686) = c0 + c1 T + c2 T 2 + . . . + cn T n + 0 e1 (T 126.9686)
i=0
(5.15)
103
Les coefficients ci et i de ces lois sont etablies par le Bureau National des Standards.
Les valeurs des differents coefficients associes aux thermocouples de type J, K, E et T
sont indiquees dans le tableau 5.5 et la figure 5.17 presente les courbes obtenues en
utilisant ces lois detalonnage. Le tableau 5.6 presente les valeurs numeriques utilisees
pour tracer les courbes de la figure 5.17.
Coef.
c0
c1
c2
c3
c4
c5
c6
c7
c8
c9
c10
c11
c12
c13
c14
c0
c1
c2
c3
c4
c5
c6
c7
c8
c9
c10
0
1
type J
type K
type E
type T
210 T 760
270 T 0
270 T 0
270 T 0
0.0000000000E+00
5.0381187815E+01
3.0475836930E-02
-8.5681065720E-05
1.3228195295E-07
-1.7052958337E-10
2.0948090697E-13
-1.2538395336E-16
1.5631725697E-20
0.0000000000E+00
3.9450128025E+01
2.3622373598E-02
-3.2858906784E-04
-4.9904828777E-06
-6.7509059173E-08
-5.7410327428E-10
-3.1088872894E-12
-1.0451609365E-14
-1.9889266878E-17
-1.6322697486E-20
0.0000000000E+00
5.86655087080E+01
4.54109771240E-02
-7.79980486860E-04
-2.58001608430E-05
-5.94525830570E-07
-9.32140586670E-09
-1.02876055340E-10
-8.03701236210E-13
-4.39794973910E-15
-1.64147763550E-17
-3.96736195160E-20
-5.58273287210E-23
-3.46578420130E-26
0.0000000000E+00
3.8748106364E+01
4.4194434347E-02
1.1844323105E-04
2.0032973554E-05
9.0138019559E-07
2.2651156593E-08
3.6071154205E-10
3.8493939883E-12
2.8213521925E-14
1.4251159478E-16
4.8768662286E-19
1.0795539270E-21
1.3945027062E-24
7.9795153927E-28
760 T 1200
0 T 1372
0 T 400
0 T 400
2.9645625681E+05
-1.4976127786E+03
3.1787103924E+00
-3.1847686701E-03
1.5720819004E-06
-3.0691369056E-10
-1.7600413686E+01
3.8921204975E+01
1.8558770032E-02
-9.9457592874E-05
3.1840945719E-07
-5.6072844889E-10
5.6075059059E-13
-3.2020720003E-16
9.7151147152E-20
-1.2104721275E-23
0.00000000000E+00
5.86655087100E+01
4.50322755820E-02
2.89084072120E-05
-3.30568966520E-07
6.50244032700E-10
-1.91974955040E-13
-1.25366004970E-15
2.14892175690E-18
-1.43880417820E-21
3.59608994810E-25
0.0000000000E+00
3.8748106364E+01
3.3292227880E-02
2.0618243404E-04
-2.1882256846E-06
1.0996880928E-08
-3.0815758772E-11
4.5479135290E-14
-2.7512901673E-17
1.1859760000E+02
-1.1834320000E-04
104
Temperature
( C)
-40
-38
-36
-34
-32
-30
-28
-26
-24
-22
-20
-18
-16
-14
-12
-10
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
30
32
34
36
38
40
42
44
46
48
50
52
54
vJ
(mV)
-1.961
-1.865
-1.770
-1.674
-1.578
-1.482
-1.385
-1.288
-1.190
-1.093
-0.995
-0.896
-0.798
-0.699
-0.600
-0.501
-0.401
-0.301
-0.201
-0.101
0.000
0.101
0.202
0.303
0.405
0.507
0.609
0.711
0.814
0.916
1.019
1.122
1.226
1.329
1.433
1.537
1.641
1.745
1.849
1.954
2.059
2.164
2.269
2.374
2.480
2.585
2.691
2.797
vK
(mV)
-1.527
-1.453
-1.380
-1.305
-1.231
-1.156
-1.081
-1.006
-0.930
-0.854
-0.778
-0.701
-0.624
-0.547
-0.470
-0.392
-0.314
-0.236
-0.157
-0.079
0.000
0.079
0.158
0.238
0.317
0.397
0.477
0.557
0.637
0.718
0.798
0.879
0.960
1.041
1.122
1.203
1.285
1.366
1.448
1.530
1.612
1.694
1.776
1.858
1.941
2.023
2.106
2.188
vE
(mV)
-2.255
-2.147
-2.038
-1.929
-1.820
-1.709
-1.599
-1.488
-1.376
-1.264
-1.152
-1.039
-0.925
-0.811
-0.697
-0.582
-0.466
-0.350
-0.234
-0.117
0.000
0.118
0.235
0.354
0.472
0.591
0.711
0.830
0.950
1.071
1.192
1.313
1.434
1.556
1.678
1.801
1.924
2.047
2.171
2.295
2.420
2.545
2.670
2.795
2.921
3.048
3.174
3.301
vT
(mV)
-1.475
-1.405
-1.335
-1.264
-1.192
-1.121
-1.049
-0.976
-0.904
-0.830
-0.757
-0.683
-0.608
-0.534
-0.459
-0.383
-0.307
-0.231
-0.154
-0.077
0.000
0.078
0.156
0.234
0.312
0.391
0.470
0.549
0.629
0.709
0.790
0.870
0.951
1.033
1.114
1.196
1.279
1.362
1.445
1.528
1.612
1.696
1.780
1.865
1.950
2.036
2.122
2.208
Temperature
( C)
56
58
60
62
64
66
68
70
72
74
76
78
80
82
84
86
88
90
92
94
96
98
100
102
104
106
108
110
112
114
116
118
120
122
124
126
128
130
132
134
136
138
140
142
144
146
148
150
vJ
vK
vE
vT
(mV)
2.903
3.009
3.116
3.222
3.329
3.436
3.543
3.650
3.757
3.864
3.971
4.079
4.187
4.294
4.402
4.510
4.618
4.726
4.835
4.943
5.052
5.160
5.269
5.378
5.487
5.595
5.705
5.814
5.923
6.032
6.141
6.251
6.360
6.470
6.579
6.689
6.799
6.909
7.019
7.129
7.239
7.349
7.459
7.569
7.679
7.789
7.900
8.010
(mV)
2.271
2.354
2.436
2.519
2.602
2.685
2.768
2.851
2.934
3.017
3.100
3.184
3.267
3.350
3.433
3.516
3.599
3.682
3.765
3.848
3.931
4.013
4.096
4.179
4.262
4.344
4.427
4.509
4.591
4.674
4.756
4.838
4.920
5.002
5.084
5.165
5.247
5.328
5.410
5.491
5.572
5.653
5.735
5.815
5.896
5.977
6.058
6.138
(mV)
3.429
3.556
3.685
3.813
3.942
4.071
4.200
4.330
4.460
4.591
4.722
4.853
4.985
5.117
5.249
5.382
5.514
5.648
5.781
5.915
6.049
6.184
6.319
6.454
6.590
6.725
6.862
6.998
7.135
7.272
7.409
7.547
7.685
7.823
7.962
8.101
8.240
8.379
8.519
8.659
8.799
8.940
9.081
9.222
9.363
9.505
9.647
9.789
(mV)
2.294
2.381
2.468
2.556
2.643
2.732
2.820
2.909
2.998
3.087
3.177
3.267
3.358
3.448
3.539
3.631
3.722
3.814
3.907
3.999
4.092
4.185
4.279
4.372
4.466
4.561
4.655
4.750
4.845
4.941
5.036
5.132
5.228
5.325
5.422
5.519
5.616
5.714
5.812
5.910
6.008
6.107
6.206
6.305
6.404
6.504
6.604
6.704
105
106
Chapitre 6
Mesure de la pression
6.1
Concepts de base
La pression nest pas une quantite fondamentale, mais plutot une quantite derivee dune
force et dune surface, qui sont elles memes derivees des trois quantites fondamentales
standards que sont la masse, la longueur et le temps. La pression est la force normale
quexerce un medium, habituellement un fluide, sur une surface unitaire.
Pression jauge pression absolue
La pression absolue est definie par rapport au vide parfait (pabs = 0). Il ne peut donc
y avoir de pression absolue negative. La pression jauge quant a` elle, est definie comme
etant la pression relative par rapport a` la pression atmospherique (pjauge = pabs patm ).
La pression jauge pourra etre positive ou negative selon le cas o`
u la pression absolue
sera superieure ou inferieure `a la pression atmospherique. Une pression jauge negative
est appelee vacuum. La figure 6.1 illustre ce concept.
pabs
pression
jauge du
systme
pression absolue
du systme
patm
pression
atmosphrique
absolue
vide parfait
Figure 6.1: Schema illustrant les concepts de pression jauge et de pression absolue.
107
Unit
es de mesure de la pression
Les unites courantes de mesure de la pression sont les suivantes: Le Pascal (Pa ou
kPa pour 1000 Pa) en syst`eme SI et le psi (lbf/in2 ) en syst`eme BG. Plusieurs autres
unites sont egalement utilisees de facon courante: e.g. atmosph`ere (atm), bar, hauteur
dun liquide (mm H2 O, in H2 O, mm Hg, in Hg ...), etc... Le tableau 6.1 presente quelques
unites typiques ainsi que leur facteur de conversion en Pascal.
Pascal
psi (lbf/in2 )
atmosph`ere
bar
millibar
millim`etre deau (4 C)
pied deau (39.2 F)
pouce deau (39.2 F)
millim`etre de mercure (0 C)
pouce de mercure (32 F)
1Pa
= 1 N/m2
1 psi
= 6.8947572 103 Pa
1 atm
= 1.01325 105 Pa
1 bar
= 1 105 Pa
1 mbar
= 1 102 Pa
1 mm H2 O = 9.80638 Pa
1 ft H2 O
= 2.98898 103 Pa
1 in H2 O
= 2.49082 102 Pa
1 mm Hg
= 1.33322 102 Pa
1 in Hg
= 3.386389 103 Pa
Pression hydrostatique
La distribution de pression hydrostatique que lon observe en changeant daltitude,
par exemple dans une piscine, dans locean ou dans latmosph`ere, est causee par le champ
gravitationnel. Ceci est une consequence de lequation du mouvement. Considerons
un fluide en labsence de forces de cisaillement et en labsence de forces volumiques
exterieures autres que la force gravitationnelle (e.g. pas de champ magnetique pour un
fluide sensible a` ce phenom`ene ...). Dans ce cas, lequation du mouvement secrit:
p ~k = ~a
(6.1)
o`
u le vecteur unitaire ~k est oriente verticalement (vers le haut) et = g represente le
poids specifique1 . Pour un fluide au repos (~a = 0), cette equation devient:
p = ~k
dp
=
dz
(6.2)
1
En considerant g = 9.81 m/s2 , et une temperature de 20 C, on aura pour leau = 9.8 103 N/m3
et pour le mercure = 133 103 N/m3 .
108
Cette relation est lequation fondamentale de la statique des fluides. Elle signifie que la
pression decrot lorsque lon se deplace vers le haut dans un fluide au repos. Elle illustre
la variation de la pression hydrostatique avec lelevation. Cette equation est aussi valide
pour un fluide dont le poids specifique est constant, tel quun liquide, que pour un fluide
dont la valeur de varie avec lelevation, tel lair ou tout autre gaz.
Considerons un liquide ( = cte) et des changements delevation pour lesquels on
negligera les variations de lacceleration gravitationnelle (g = cte); on obtient par
integration:
p2 p1 = (z2 z1 )
(6.3)
Le schema suivant illustre une situation pour laquelle le point 1 est `a la surface libre
(soumis a` patm ) dun liquide et le point 2 au fond dun reservoir ouvert contenant ce
liquide.
p1 = patm
1
liquide
= g
h
2
p2 = h
(pression jauge)
On obtient ainsi:
p2abs patm = (z2 z1 ) = (z1 z2 )
p2abs = h + patm ou p2 = h
(6.4)
(6.5)
Notons que la pression p2 est une pression jauge (puisque nous avons retranche la pression atmospherique). Nous adopterons la convention habituelle qui consiste a` travailler
en pression jauge par defaut. Lorsque lon travaillera en pression absolue, on ajoutera
lindice abs.
Considerons maintenant un reservoir ferme tel que celui illustre sur le schema suivant.
Ce reservoir contient une hauteur h dun liquide et un certain volume dun gaz. En
109
(6.6)
p1
1
2
p2 = h + p1
Manom`
etres
Considerons le manom`etre en U ci-contre dont les deux extremites sont constituees de
reservoirs fermes contenant un meme gaz de densite .
p1
p2
p1 p2 = (m )h
110
Barom`
etres
Le barom`etre est un instrument servant a` mesurer la pression atmospherique. Une
des applications pratiques les plus simples de lequation fondamentale de la statique
des fluides est le barom`etre `a cuvette. Cet instrument, dont le principe fut elabore par
Torricelli2 , est compose dun tube plongeant dans une cuvette remplie de mercure. On
fabrique ce barom`etre en remplissant un tube avec du mercure et en inversant celui-ci
dans un reservoir alors quil est submerge. En ressortant le tube, tout en maintenant sa
partie ouverte submergee, on produit un vacuum presque parfait dans la partie superieure
fermee du tube. Ceci est d
u au fait que le mercure poss`ede une pression de vapeur tr`es
faible a` la temperature de la pi`ece (pv = 0.00016 kPa pour le mercure vs pv = 2.338 kPa
pour leau a` 20 C). On obtient ainsi un instrument simple tel que celui illustre sur la
figure 6.5.
vapeur de
mercure
pression pv
mercure
liquide (Hg)
patm
h=
patm pv
Hg
Pour des conditions standards de pression atmospherique (1 atm = 101.33 kPa), une
temperature de 20 C(Hg = 13 600 kg/m3 ) et une altitude correspondant au niveau
2
evangelista Torricelli (16081647) est le physicien italien `a qui lon doit lexperience qui a conduit
a linvention du barom`etre `
`
a cuvette.
111
Etalonnage
statique par la m
ethode du poids mort
La technique du poids mort est utilisee comme standard de laboratoire pour etalonner
des capteurs de pression dans la gamme 70 Pa p 70 MPa (7.1 mm H2 O p
7 100 m H2 O). Le principe de base de cette technique consiste `a imposer une pression
suivant la definition fondamentale de cette quantite, soit une force par unite de surface.
Un banc detalonnage par la methode du poids mort est illustre sur la figure 6.6.
poids (Mg)
capteur de pression
talonner
piston
rservoir
p=
Ap
piston ajustable
pour rgler le niveau
du piston d'talonnage
Mg
Ap
valve
trois voies
Ce banc detalonnage est constitue dune chambre interne contenant un liquide (habituelle112
ment de lhuile), dun piston mobile sur lequel on dispose les poids et dun piston
ajustable. Le piston ajustable sert a` regler le niveau du piston mobile de facon a` eviter
que le piston mobile ne vienne en butee. La pression imposee au capteur `a etalonner
est:
Mg
p=
(6.7)
Ap
o`
u M est le poids combine des masses et du piston mobile, g est lacceleration gravitationnelle et Ap est la section effective du piston.
Pour faire des mesures de haute precision, on devra considerer les sources derreur
suivantes:
Incertitude sur les valeurs des masses.
Incertitude sur la mesure de la section du piston mauvaise valeur de Ap .
Expansion thermique du piston variations de Ap .
Acceleration gravitationnelle depend du lieu... il faut connatre g.
Deformation elastique du piston mobile variation de Ap pour les masses importantes.
Effet visqueux (frottement statique) la pression resultant de la F normale
a` Ap supporte la majeure partie de la masse; le cisaillement statique le long du
piston peut avoir un effet partiel. On peut reduire cet effet en faisant tourner le
piston `a vitesse constante.
P
6.2
Capteurs de pression
Linstrument de mesure que lon denomme capteur de pression est constitue des elements
suivants:
ement sensible primaire
El
Il sagit de lelement qui est en contact avec le fluide et qui reagit aux variations
de pression se produisant au sein de celui-ci.
113
Le tube de bourdon
La capsule
mouvement
p2
p1
mouvement
p1
Le diaphragme
p1
p2
Le soufflet
p2
p1
mouvement
p2
mouvement
dune aiguille sur un cadran. Le tube de bourdon est lexemple typique delement primaire faisant appel a` un element secondaire de nature mecanique. Le capteur resultant
de cette combinaison est tr`es repandu dans les applications industrielles sujettes a` des
controles visuels du niveau de pression. Le schema de la figure 6.8 illustre un tel capteur.
A
p2
D
C
p1
Dans le cadre du cours, nous nous interessons davantage aux capteurs actifs; cest
pourquoi dans les paragraphes suivants nous nous limiterons `a la description des elements
secondaires convertissant le mouvement des elements primaires en signaux electriques.
Soufflet ou capsule avec potentiom`etre
p2
p1
vo
mouvement
Ei
115
bobinage
primaire
p2
bobinages
secondaires
p1
vi
vo
Diaphragme
Le diaphragme, autre element secondaire tr`es repandu, est une mince feuille de metal
(surtout dacier inoxydable) ou de silicone. La deformation du diaphragme peut etre
mesuree par divers elements, tels que:
- un pont de jauges de deformation (jauges adaptees a` la forme du diaphragme)
- des elements piezoresistifs
- un element capacitif
- un cristal piezoelectrique (sert a` mesurer les fluctuations de pression)
Conditionnement du signal et capteurs de pression
Un capteur de pression est constitue dun element sensible primaire auquel on a
ajoute un element sensible secondaire et un etage de conditionnement du signal. Letape
de conditionnement du signal est tr`es importante. Elle permet dameliorer grandement
la reponse des elements sensibles. La figure 6.11 illustre comment la tension de sortie
116
dun element sensible secondaire peut etre influencee par letage de conditionnement du
signal.
vo
vo
(% pleine
chelle)
120
120
100
100
80
80
60
60
40
40
20
20
lments sensibles
seuls
-20
0
(% pleine
chelle)
(% pleine
chelle)
100
lments sensibles
+
conditionnement
-20
(% pleine
chelle)
100
erreur sans
conditionnement
param`etre
en cause
erreur avec
conditionnement
50%
Sensibilite
1%
20%
Zero
1%
0.5%
10%
5%
0.5%
0.5%
Tableau 6.2: Quantification des differentes erreurs avec et sans conditionnement du signal.
117
118
Chapitre 7
Mesure du d
ebit
Plusieurs procedes industriels, probl`emes dingenierie ou projets de recherche impliquent
une mesure du debit. Cette mesure peut servir par exemple a` effectuer le controle
(asservissement, regulation, etc.) dun procede ou simplement a` etablir les conditions
doperation dune experience (recherche dans le domaine medical, en aeronautique, etc.).
Elle peut servir a` etablir de mani`ere precise les diverses composantes que lon doit
melanger pour obtenir un produit dans lindustrie alimentaire, pharmaceutique ou chimique (peintures de differentes couleurs, resines, etc.). La mesure du debit est egalement
requise dans les operations commerciales impliquant la vente dun liquide (essence et
huile dans les reseaux de distribution de lindustrie petroli`ere, eau potable domestique,
boisson dans les usine dembouteillage et les bars, etc.) ou dun gaz (gaz carbonique,
oxyg`ene, etc.).
Le debit peut etre exprime de deux facons: lecoulement dun volume de fluide par
unite de temps est appele debit volumique (Q) alors que lecoulement dune certaine
masse de fluide par unite de temps est appele debit massique (m).
Les unites SI de ces
deux quantites sont respectivement le m3 /s et le kg/s.
7.1
Conservation de la masse, d
ebit massique et d
ebit
volumique
Pour definir lequation de conservation de la masse, nous aurons recours aux concepts
de syst`eme et de volume de controle. Un syst`eme est un ensemble de particules de fluide
que lon identifie a` un instant t0 . La masse Msys de cet ensemble est donnee par:
Msys =
Z
sys
119
(7.1)
o`
u est la masse volumique et d un element de volume. Lequation de conservation de
la masse pour un syst`eme secrit:
dMsys
=0
(7.2)
dt
Cette equation exprime le fait que la masse de lensemble des particules de fluide composant le syst`eme demeure constante dans le temps. Pour que cette equation soit
plus facilement utilisable, nous allons la transposer `a un volume de controle fixe et
indeformable. Le theor`eme de transport de Reynolds, qui sert a` transposer les equations
appliquees a` un syst`eme vers un volume de controle, nous permet decrire:
Z
d Z
Z
~ ~n dA = 0
d =
d + U
dt sys
t vc
sc
(7.3)
.n=0
.n<0
.n>0
U
n
n
V.C.
Sys.
U.n=0
~ ~n dA =
U
sc
m
sort.
m
entr.
(7.4)
~ ~n), on
De plus, en considerant Un le vecteur vitesse projete suivant ~n (Un = U
exprime le debit massique passant par une surface A comme:
m
A=
Z
A
Un dA
120
(7.5)
Z
A
Un dA
m
A Z
=
Q=
Un dA
et
(7.6)
o`
u Q est le debit volumique.
Ecoulement
stationnaire
Lorsque lecoulement est stationnaire, lequation de conservation de la masse ecrite pour
un volume de controle se simplifie. En effet, on a:
Z
d = 0
t vc
m
sort. =
m
entr.
(7.7)
Dautre part, si le fluide est incompressible et homog`ene dans tout le volume de controle,
on obtient:
X
X
Qsort. =
Qentr.
(7.8)
Vitesse moyenne
Dans des conditions decoulement incompressible et a` proprietes physiques homog`enes
( = cte sur toute la section A consideree), on definit la vitesse moyenne U par:
U=
Z
Q
avec Q = Un dA
A
A
(7.9)
Nombre de Reynolds
Dans la plupart des applications, on aura a` calculer le nombre de Reynolds dans un
tuyau ou une conduite. Ce nombre est defini par:
Re =
U D
UD
=
(7.10)
o`
u represente la viscosite dynamique (en Pas) et la viscosite cinematique (en m2 /s).
Le nombre de Reynolds est dune importance capitale en dynamique des fluides. Il
est sans dimension et exprime le rapport entre les forces dinertie et les forces dues `a
la viscosite. Ce nombre sert notamment a` faire des analyses de similitude ainsi qu`a
determiner le regime laminaire ou turbulent dun ecoulement. Pour lecoulement dans
un tuyau par exemple, on observera un regime laminaire pour Re < 2100 alors que
lecoulement sera turbulent pour Re > 4000 (approximativement). Pour un ecoulement
incompressible et `a proprietes physiques homog`enes, on peut aussi ecrire:
Re =
4Q
D
121
(7.11)
7.2
Classification des d
ebitm`
etres
Fluide
Pr
ecis.
Diam`
etre
(mm)
Temp
erature
( C)
D
ebit
(m3 ou kg /hr)
Perte
de ch.
Sensib.
instal.
Co
ut
Orifice
LG
++
50 `
a 1000
-180 `
a 540
1`
a 3 106 (L)
10 `
a 4 106 (G)
++++
++++
Venturi
LG
++
50 `
a 1200
-180 `
a 540
30 `
a 7000 (L)
400 `
a 105 (G)
++
++
+++
Cible
Tran
ee
LG
12 `
a 100
-45 `
a 540
1`
a 5 104 (L)
0.5 `
a 3000 (G)
++++
++++
++
Rotam`
etre
LG
15 `
a 150
-200 `
a 350
103 `
a 1000 (L)
104 `
a 2000 (G)
++
D
epl. posit.
LG
+++
4`
a 1000
-50 `
a 315 (L)
-50 `
a 120 (G)
0.01 `
a 2000 (L)
0.01 `
a 3000 (G)
++++
++++
Turbine
LG
+++
5`
a 600
-200 `
a 260
0.01 `
a 104 (L)
0.01 `
a 105 (G)
++
++++
em. tourb.
LG
++
12 `
a 200
-40 `
a 200
3`
a 2000 (L)
50 `
a 105 (G)
+++
++++
electroma.
++
2`
a 3000
-50 `
a 190
102 `
a 3 105
++
++
Ultrason.
LG
3`
a 3000 (L)
20 `
a 2000 (G)
-40 `
a 200
3`
a 3 105 (L)
3`
a 106 (G)
+++
+++
Thermique
3`
a6
0`
a 65
3 104 `
a 0.03
++
++
Coriolis
++
1`
a 150
-75 `
a 245
5`
a 5 105
++
++
++++
Type de
d
ebitm`
etre
Quantit
e de
mouvement
Volumique
Massique
Tableau 7.1: Classification des principaux debitm`etres; le debit est exprime en m3 /hr ou
en kg/hr selon le type de debitm`etre decrit (volumique ou massique).
D
ebitm`
etres `
a variation de quantit
e de mouvement
Dans la premi`ere categorie, on retrouve les debitm`etres bases sur un principe de
variation de la quantite de mouvement. En effet, ces instruments sont sensibles aux
variations de U 2 (en ecoulement uniforme, incompressible et homog`ene, on obtient
mU
= QU = AU 2 ). Les debitm`etres de type orifice, tube de venturi, rotam`etre et
122
cible ou force de tranee (target flowmeter ou drag force flowmeter) sont les plus connus
de cette categorie. Le cas des tubes de venturi et des orifices est presente en detail a` la
section 7.3.
Le principe de fonctionnement des rotam`etres et des debitm`etres de type cible est
presente sur la figure 7.2. Ces deux types de debitm`etres fournissent un signal qui est
proportionnel a` U 2 ; en effet, ils exploitent le phenom`ene de tranee aerodynamique (ou
hydrodynamique) dun corps non profile. Dans les deux cas, on utilise le dispositif dans
un regime decoulement pour lequel on observe un coefficient de tranee CD constant.
Rappelons que CD = F(Re), mais que dans une certaine plage de nombre de Reynolds,
on observe une valeur de CD constante. Ceci permet decrire, pour une cible de surface
frontale Af :
CD =
D
1
U 2
2
Af
(7.12)
(7.13)
CD
zone utile
laminaire
turbulent
Re
mg
Rotamtre
Cible
123
D
ebitm`
etres `
a d
ebit volumique
La deuxi`eme categorie regroupe les debitm`etres sensibles au debit volumique. Ceuxci sont donc sensibles soit directement `a Q (e.g. deplacement positif et turbine: mesure
de et de t) ou a` U (emission tourbillonnaire, electromagnetique, ultrasonique).
Debitm`etre a` deplacement positif
Ce debitm`etre est base sur un principe tr`es simple qui consiste `a transvider un volume
de liquide dun cote a` lautre du dispositif (figure 7.4).
124
R
Ua = Q/A
Ut
UW=
Ut
~t |
r
r
|U
=
Ua =
~|
Ua
tan()
|U
(7.14)
On constate tout dabord que le rapport r/ tan() doit etre constant; lhelice doit donc
etre vrillee afin de respecter cette contrainte. De plus, en considerant un ecoulement
incompressible et homog`ene (Q = A Ua ), on peut ecrire:
Q = A Ua = cte
(7.15)
Il sagit bien dun debitm`etre volumique. La figure 7.6 montre un exemple dun tel
debitm`etre.
125
126
Le corps non-profile classique est le cylindre. Il est bien connu quun cylindre dont
laxe longitudinal est dispose perpendiculairement a` un ecoulement produira un sillage
dans lequel on observera des tourbillons de signes alternes (un tourbillon tourne dans
un sens et le suivant tourne dans le sens inverse). En fait, ces tourbillons proviennent
du decollement de la mince couche limite evoluant sur la surface du cylindre. Sur la
partie aval du cylindre, cette couche limite se trouve dans une region de gradient de
pression adverse (la pression augmente dans le sens de lecoulement). Les particules de
fluide evoluent dans un environnement au sein duquel la resultante des forces de pression
soppose a` leur mouvement. Elles sont donc ralenties. Lorsque les forces inertielles ( ~a)
deviennent inferieures aux forces de pression, la nature produit un phenom`ene que lon
denomme decollement de la couche limite. Dans le cas du cylindre ou de tout autre
corps non profile du meme type, le phenom`ene de decollement est instationnaire. En
effet, dun cote du cylindre, la couche limite decollee setire et senroule sous la forme
dun tourbillon qui quitte brusquement la surface. Ceci produit un desequilibre de pression qui influence la distribution de pression de lautre cote du cylindre et declenche le
processus de decollement de ce cote. Le phenom`ene se repetant ainsi en alternance dun
cote a` lautre, on observe une emission de tourbillons caracterisee par une periodicite
tr`es precise (tant que la vitesse est constante).
Lors de lemission tourbillonnaire, on observe que le cylindre est soumis `a une force
de portance (force perpendiculaire `a lecoulement) instantanee de nature periodique et
damplitude presque equivalente a` la force de tranee. Cette force est donc relativement importante (cest pourquoi on etudie soigneusement laerodynamique des struc127
tures telles que les cheminees, les gratte-ciels et les ponts). On a mentionne que la
frequence demission des tourbillons est stable et est fonction de la vitesse. Ainsi, en
mesurant la frequence de la force de portance periodique generee par lemission tourbillonnaire, on obtiendra une information sur la vitesse qui sera traduite en information
sur le debit. La figure 7.9 montre des mesures de force instationnaire sur un cylindre.
On observe bien le caract`ere periodique de la force resultante.
0.005
0.01
0.015
0.02
Temps (s)
CF =
1
2
fd
F
= F(Red ) , St =
= F(Red )
2
U
U Af
avec Red =
U d
(7.16)
Pour le cas du cylindre, la figure 7.10 illustre de quelle facon le nombre de Strouhal
evolue en fonction du nombre de Reynolds. On constate que pour une grande plage
de nombre de Reynolds (600 < Red < 2 105 ), la valeur du nombre de Strouhal est
approximativement constante. Cette observation est en general valable pour plusieurs
corps non-profiles (les fronti`eres de la plage peuvent varier). Ainsi, pour cette gamme
de nombre de Reynolds et pour une conduite de section A, on obtient:
cte U
cte
fd
= cte f =
=
Q Q = cte f
(7.17)
U
d
Ad
Une mesure de la frequence demission tourbillonnaire f (par le biais dune mesure de
force sur le corps non-profile par exemple) donne directement acc`es a` la mesure du debit.
Il sagit bien dun debitm`etre volumique.
St =
128
St
0.30
Diamtre du
cylindre d
U
0.25
couche limite
turbulente
sur le cylindre
mission de tourbillons
une certaine frquence f
Nombre de Strouhal
St = fd/U
St = 0.205
0.20
sillage
laminaire
0.15
transition
dans le
sillage
2D
sillage turbulent
transition
dans la
couche limite
du cylindre
3D
0.12
49
180
240
104
106
Re
Dans le cas dun debitm`etre a` emission tourbillonnaire de type industriel, on utilisera une forme qui maximise la force des tourbillons emis tout en ayant une tranee
raisonnable, de mani`ere a` ne pas introduire une trop grande perte de charge. La forme
illustree sur la figure 7.8 est typique de ce que lon retrouve dans lindustrie.
Debitm`etre electromagnetique
La loi de linduction electromagnetique, decouverte par Faraday en 1831, constitue
un des phenom`enes les plus importants de lelectromagnetisme. Cette loi stipule que
lorsquon deplace a` vitesse U un conducteur de longueur L dans un champ magnetique
de densite de flux B, on observe une difference de potentiel entre les extremites du
conducteur. On dit alors quune tension electrique est induite dans le conducteur. La
forme generale de cette loi dinduction electromagnetique est de la forme suivante:
~ B
~ L
~
v=U
(7.18)
(7.19)
= voltage induit
= vitesse moyenne du liquide
= densit de flux magntique
= distance entre les lectrodes
(diamtre du tuyau)
B
v
lectrodes
v
coulement
U
Liquide
conducteur
Tuyau
Bobinage produisant
le champ magntique
(7.20)
On constate quil sagit l`a aussi dun debitm`etre volumique, car le debit est directe130
(7.21)
Ce type de debitm`etre est muni dun tube chauffant de tr`es faible diam`etre (presquun
tube capillaire) et ayant un grand rapport dallongement. Dans la plupart des cas, ce
tube poss`ede un seul element chauffant et deux capteurs de temperature. On le denomme
tube de mesure (figure 7.12). En imposant le taux de transfert de chaleur Q injecte par
lelement chauffant et en mesurant T , on obtient une mesure du debit massique m
par
la relation (7.21). La vitesse dans le tube capillaire etant limitee, on fabrique ce type de
debitm`etre en utilisant un dispositif de derivation de debit denomme bypass laminaire
(figure 7.13). Ce dispositif est constitue de plusieurs tubes de meme diam`etre et meme
longueur que le tube capillaire. En procedant ainsi, on fait passer une fraction connue
du debit total par le tube de mesure. Lequation detalonnage du debitm`etre massique
devient alors du type m
= cte T .
131
lment
chauffant
T1, capteur
de temprature
amont
le
ou
T2, capteur
de temprature
aval
Tube de mesure
ou Tube chauffant
ent
Pont pour
la dtection
du T
Source
d'alimentation
Amplificateur
Sortie
linarise
Valve de
contrle
du dbit
Tube de bypass
laminaire
Entre
lm
ent c
hauff
ant
Mesu
re de
T
Sortie
Tube de mesure
Figure 7.13: Illustration dun debitm`etre de type thermique ou `a tube chauffant utilise pour
mesurer le debit massique dun gaz. Une valve de controle peut aussi etre utilisee lorsquon
veut imposer un debit massique.
132
dm
dFc = ac dm
Figure 7.14: Schema dune particule de fluide se deplacant dans un tube en rotation.
(7.22)
~ et produit vectoriel
~ selon le pouce.
R`egle de la main droite: index selon
~ , majeur selon U
~ U
133
~ ) dm
dT~t = ~xa dF~t = 2 ~xa (~ U
(7.23)
Z L
0
dTc = 2 A
Z L
0
~ ) dl
~xa (~ U
(7.24)
x
dm
y
xa
L
U
Z L
0
(7.25)
puisque ~i ~k = ~j et m
= AU . Pour la seconde moitie du tube, on obtient de la meme
~
~ = T~0L + T~L0 agissant sur
facon TL0 = 2 m
xa L ~j. On obtient le couple resultant C
le tube comme etant:
~ =4m
C
xa L ~j
(7.26)
Pour le mouvement de rotation decrit sur les figures 7.15 et 7.16, on obtient un couple
imposant une deformation en torsion du tube dans le sens antihoraire. Pour des petites
deformations, langle de torsion du tube sexprime ainsi:
=
C
4m
xa L
=
ks
ks
134
(7.27)
o`
u ks represente la rigidite en torsion du tube. Pour ks , xa , et L fixes, on obtient:
ks
= cte
(7.28)
4 xa L
Il est important de noter quon ne peut evidemment faire tourner le tube en U a`
vitesse constante sur 360 . On le fait plutot osciller autour de laxe x a` laide dun
syst`eme de vibration electromecanique. Par le biais de la force de Coriolis, cette oscillation produit un mouvement de torsion periodique autour de laxe y. Le debit massique
est alors proportionnel a` lamplitude du mouvement de torsion. Un syst`eme optique
par exemple pourra servir a` mesurer lamplitude de langle , ce qui permet dobtenir le
debit m.
m
=
Force
coulement
Force
Tube vibrant
en forme de U
Angle de
torsion
135
7.3
La Norme ISO 5167 sintitule Measurement of fluid flow by means of orifice plates,
nozzles and venturi tubes inserted in a circular cross-section conduits running full. Elle
date de 1980 et constitue un bon exemple de standard que lon doit utiliser pour sassurer
que la mesure du debit avec les debitm`etres decrits dans la Norme est faite suivant
des crit`eres bien etablis. Le but principal de cette Norme est de specifier la g
eom
etrie
et la proc
edure dutilisation des debitm`etres de type orifice, tuy`ere et tube de Venturi. On y trouve donc les informations pertinentes a` linstallation et aux conditions
doperation de ces debitm`etres. On retrouve egalement dans la Norme les informations
necessaires au calcul du debit et des incertitudes associees `a cette mesure.
Il est utile de noter que la Norme ISO 5167 sapplique seulement:
aux instruments fournissant un p et pour lesquels lecoulement demeure subsonique au niveau de la section de mesure;
aux ecoulements statistiquement stationnaires (champ de vitesse moyenne constant
dans le temps);
aux ecoulements mono-phasiques;
aux tuyaux dont le diam`etre est inclus dans la gamme 50 mm < D < 1200 mm;
aux ecoulements dont le nombre de Reynolds Re > 3150.
La figure suivante illustre un tube de Venturi sur lequel on specifie la nomenclature
utilisee dans la Norme.
p1
p2
U
et E = 4
=
,
D
1 4
D d4
o`
u est le rapport des diam`etres et E le facteur de vitesse dapproche.
=
136
(7.29)
D
etermination du d
ebit
Considerons lecoulement stationnaire dun fluide ideal (non visqueux) et incompressible. Dans ces conditions, on peut utiliser lequation de Bernoulli le long dune ligne de
courant. Selon la figure suivante, on obtient entre les points 1 et 2:
p1 U1 2
p2 U2 2
+
+ z1 =
+
+ z2
2g
2g
(7.30)
Qideal = A2
2p
,
(1 4 )
(7.31)
Qreel = C A2
2p
(1 4 )
(7.32)
Notons que dans la Norme on utilise le symbole qv pour le debit volumique Qreel . En
utilisant les definitions du rapport des diam`etres , du facteur de vitesse dapproche E
et de la section A2 , on obtient:
s
d2 2p
d2 2p
qv = C E
=
,
(7.33)
4
sachant que lon definit le coefficient decoulement = C E. Notons que lon obtient
le debit massique ainsi: qm = qv (on consid`ere comme etant constant et homog`ene).
Le coefficient de decharge C et le coefficient decoulement dependent de la geometrie
et du nombre de Reynolds. La vitesse de reference utilisee pour calculer le nombre de
Reynolds est la vitesse moyenne observee a` la section 1 (U1 ). On peut alors calculer
deux nombres de Reynolds, selon le diam`etre de reference considere:
U1 d
U1 D
et Red =
.
(7.34)
1
1
Generalement, on utilisera le nombre de Reynolds ReD . Le coefficient de decharge varie
selon les tendances indiquees sur les schemas suivants:
ReD =
137
Orifice
0.65
Venturi
1.00
= 0.7
0.60
Gamme de valeurs
dpendant de la
gomtrie spcifique
= 0.2
0.94
104
105
106
104
ReD
105
106
ReD
Lextrait est constitue dune selection de 14 pages sur un total de 65 pages composant la Norme.
138
139
140
141
142
143
144
145
146
147
148
149
150
151
152
Chapitre 8
Mesure des forces et des
d
eformations
8.1
La theorie exposee dans cette section concerne les materiaux `a proprietes homog`enes et
isotropes possedant un comportement elastique. Nous nous limiterons ainsi a` lanalyse
des etats de contraintes dans le domaine elastique.
Mat
eriaux
elastiques Loi de Hooke
Considerons une barre droite et uniforme de longueur l que lon soumet a` un effort de
tension F . Celle-ci sallongera dune certaine distance que lon denomme lelongation
totale. La deformation unitaire () de cette barre et la contrainte normale () dans
celle-ci sexpriment respectivement comme:
=
F
et =
l
A
(8.1)
La loi de Hooke stipule que, dans certaines limites (domaine elastique), la contrainte
dans le materiau sera proportionnelle `a la deformation unitaire de ce dernier. Une barre
faite dun materiau elastique reprendra sa forme initiale si la contrainte est eliminee.
Tout materiau elastique ne suit pas forcement la loi de Hooke; precisons toutefois quun
materiau obeissant a` la loi de Hooke est un materiau elastique. De facon generale,
pour une contrainte normale () ou une contrainte de cisaillement ( ), la loi de Hooke
sexprimera comme:
= E et = G
153
(8.2)
o`
u represente la deformation en cisaillement. Les constantes de proportionalite sont
respectivement les modules delasticite (E) et de cisaillement (G). En reprenant le cas
de la barre en traction, on peut obtenir son elongation totale comme suit:
Fl
l
=
(8.3)
E
AE
Lexperience demontre que lorsque cette barre est soumise `a une force de traction axiale (direction x), il ny a pas seulement une deformation axiale (x ), mais aussi une
deformation laterale (y ). Lorsque lon demeure dans la plage de validite de la loi de
Hooke, ces deux deformations sont proportionnelles lune par rapport a` lautre. La
constante de proportionalite est le coefficient de Poisson (P ) et sexprime comme:
= l =
y
x
Les trois constantes elastiques sont reliees lune a` lautre comme suit:
P =
E = 2G(1 + P )
(8.4)
(8.5)
Etat
de contrainte
La figure 8.1 represente un element soumis a` un etat de contrainte generale tridimensionnelle. Par convention, toutes les contraintes 3 normales et 6 cisaillements
sont representees dans des directions positives.
y
y
yx
yz
xy
zy
xz
yx
z
Figure 8.1: Definition generale des contraintes.
Dans ce contexte de chargement general, les deformations sexpriment par la loi de Hooke
generalisee (sans dilatation thermique):
154
x =
x P (y + z )
E
xy =
y =
xy
G
y P (x + z )
E
yz =
z =
yz
G
z P (x + y )
E
xz =
xz
G
(8.6)
(8.7)
Etat
de contraintes biaxiales
Letat de contraintes biaxiales est egalement appele etat plan de contraintes. On
obtient cet etat lorsque, par exemple, z = xz = yz = 0. Supposons que toutes les
parties de lelement soumis a` cet etat de contraintes soient en equilibre. Si on le coupe
suivant un plan oblique de longueur ds et dont la normale forme un angle avec laxe
x tel quillustre sur la figure 8.2 le corps resultant sera aussi en equilibre.
x
xy
x
yx
y
Cet element a une largeur dx, une hauteur dy et une epaisseur uniforme t dans la
direction normale `a la feuille. La somme des forces normales `a ds peut ainsi secrire:
t ds = (x cos + xy sin ) t dy + (y sin + yx cos ) t dx
(8.8)
(8.9)
(x + y ) (x y )
+
cos 2 + xy sin 2
2
2
(8.10)
=0
(8.11)
2xy
2xy
et
(x y )
(x y )
(8.12)
tan 21 =
On constate que lon obtient deux valeurs dangle 21 opposes a` 180 . Ces angles
definissent les plans des contraintes normales maximale et minimale que lon denomme
contraintes principales et que lon note respectivement 1 et 2 . Les angles doubles
(21 ) `a 180 indiquent que les deux angles 1 sont `a 90 lun de lautre. Ceci constitue
un resultat tr`es important en analyse des contraintes: les plans des contraintes normales
minimale et maximale sont toujours perpendiculaires lun par rapport a` lautre.
En utilisant la relation issue de / = 0, on peut aussi ecrire:
(x y ) sin 21 = 2xy cos 21
(8.13)
(8.14)
cos 21 = q
(x y )
(x y )2 + (2xy )2
(8.15)
En introduisant ces resultats dans lequation donnant , on obtient les expressions donnant les contraintes principales en fonction de x , y et xy :
1q
1
1 = (x + y ) +
(x y )2 + (2xy )2
2
2
(8.16)
1q
1
(x y )2 + (2xy )2
2 = (x + y )
2
2
Contraintes de cisaillement
En suivant le meme raisonnement que pour le cas des contraintes normales, on obtient la contrainte de cisaillement dans un plan quelconque:
(x y )
sin 2 xy cos 2
(8.17)
2
En substituant les angles 1 dans cette expression, on constate que les contraintes de
cisaillement associees a` 1 et 2 sont nulles. On notes ainsi 1 = 2 = 0, ce qui justifie
lappellation de contraintes principales pour 1 et 2 .
=
Les angles s auxquels on observe les valeurs maximale et minimale sont determines par
la relation
tan 2s =
(x y )
(x y )
et
2xy
2xy
(8.18)
max =
1q
(x y )2 + (2xy )2
2
min =
1q
2
(x y )2 + (2xy )2
157
(8.19)
x
y
x y
x y
yx
x
y
sin
y co
xy
x y
158
x0
F
x
(8.22)
V+dV
M+dM
Figure 8.4: Conventions utilisees pour la charge repartie, leffort tranchant et le moment de
flexion (toutes les fl`eches sont dans le sens positif sur les faces positives).
8.2
Extensom
etrie et jauges `
a variation de
r
esistance
electrique
Lorsque lon doit analyser letat de contraintes dun element mecanique, on peut choisir
differents outils et ce, en fonction de la complexite du probl`eme et des moyens dont
on dispose. Les methodes analytiques seront choisies pour analyser les cas simples
(barres, poutres, plaques...), alors que les cas complexes necessiteront le recours aux
methodes numeriques (elements finis...). Dans certains cas complexes, on devra utiliser
une methode experimentale pour etudier les etats de contraintes et de deformations des
composantes mecaniques. Ceci permettra, en outre, de valider les approches numeriques
ou de definir des param`etres physiques inconnus (module delasticite de structures de
materiaux composites par exemple). La methode experimentale sert aussi a` definir le
chargement impose lors des etudes impliquant des cycles de fatigue. Enfin, la determination experimentale dun etat de contrainte sera aussi utile dans la conception de divers
instruments de mesure (balances, cellules de charge, capteurs de pression...).
159
dR
dL dAc de
=
+
R
L
Ac
e
(8.24)
(8.25)
Sachant que les variations de section et de longueur sont reliees par P , le coefficient de
Poisson, on obtient:
dAc
dL
= 2P
Ac
L
dR
dL
de
=
(1 + 2P ) +
R
L
e
(8.26)
1 de /e
E dL/L
(8.27)
o`
u E est le module delasticite du materiaux. En substituant de /e par 1 E dL/L, on
obtient:
dR
dL
=
(1 + 2P + 1 E)
R
L
160
(8.28)
dR/R
dL/L
(8.29)
Pour les jauges metalliques, on a generalement 1 E ' 0.4 et P ' 0.3. Le facteur
de jauges est donc K ' 2. Notons que le coefficient de piezoresistance des jauges `a
semi-conducteurs est tr`es eleve, ce qui leur conf`ere une tr`es grande sensibilite (facteur
de jauge K ' 200, soit jusqu`a 100 fois plus eleve que celui des jauges metalliques).
Cest pourquoi on les appelle aussi jauges piezoresistives.
Fabrication des jauges
Nous avons dej`a observe que la resistance dun conducteur electrique varie avec la
temperature suivant une relation du type:
h
R = R0 1 + (T T0 ) + (T T0 )2 + . . .
(8.30)
o`
u R0 correspond `a la resistance du conducteur a` la temperature T0 . Rappelons quil
sagit en fait du phenom`ene physique etant `a la base du principe de fonctionnement
dune sonde RTD. Pour T0 = 0 C et une gamme de temperature relativement petite, on
peut ecrire:
R = R0 (1 + T )
(8.31)
o`
u T est en C. On constate donc que lon a interet a` utiliser des metaux dont la
valeur du coefficient de temperature est la plus faible possible. En effet, on cherche
a` obtenir une jauge sensible a` lelongation et non `a la temperature. Le Constantan
( ' 0.00002/( C) sera par exemple un choix judicieux par rapport au cuivre
( ' 0.0043/( C) qui est beaucoup plus sensible aux variations de temperature.
Les alliages les plus communs servant `a fabriquer des jauges de deformation sont le
Constantan (55% Cu 45% Ni) et le Nichrome (80% Ni 20% Cr). Ils sont caracterises
par un facteur de jauge ne variant pratiquement pas avec la deformation et par une
faible sensibilite a` la temperature.
Les jauges sont generalement concues pour que leur resistance nominale soit de 120
ou de 350 . On retrouve egalement, de facon moins repandue, des jauges de resistance
nominale de 500, 1000 et 5000 . Le procede de fabrication moderne des jauges est base
sur les techniques de decapage photosensibles. Une mince feuille dalliage est collee sur
une feuille de materiau isolant et tr`es flexible (plastique, polyamide, epoxy-phenolique...).
161
Cette feuille sert dune part a` isoler electriquement la jauge de la surface sur laquelle on
viendra la disposer. Elle servira dautre part de support pour manipuler la jauge ainsi
que de rep`ere pour lorienter. En effet, la feuille de support sera marquee de symboles
indiquant lorientation et les axes principaux de la jauge. La figure 8.5 illustre la facon
dont une jauge est disposee sur une feuille de support.
largeur
de la jauge
longueur
de la jauge
feuille de
support
bornes
fils de
liaison
Notons que la feuille de support sert egalement a` disposer des bornes destinees `a souder
les fils de liaison raccordant la jauge aux instruments de mesure.
8.3
ig
B
R1
R2
i1
i2
-
vm
i4
i3
R3
R4
Rm
+
C
+ Ei
i1 R1 + i3 R3 + ig Rm = 0
(8.32)
Boucle B D C G B:
i2 R2 i4 R4 + ig Rm = 0
(8.33)
Boucle B A Ei D B:
i1 R1 + Ei i2 R2 = 0
(8.34)
Courants:
i1 = i2 ig
i2 = i1 + ig
(8.35)
et
i4 = i3 ig
(8.36)
vm = Rm ig =
R1 R2
(R3
Rm
+ R4 ) +
Ei (R1 R4 R2 R3 )
R3 R4
(R1 + R2 ) + (R1
Rm
+ R2 )(R3 + R4 )
(8.37)
On dit que le pont est equilibre lorsque le courant ig = 0. On obtient ceci lorsque
R1 R4 = R2 R3 . De plus, au lieu dutiliser un galvanom`etre, on peut aussi utiliser un
voltm`etre pour mesurer vm . Limpedance dun voltm`etre etant tr`es elevee (Rm ),
on peut dans ce cas ecrire:
163
vm '
8.4
Ei (R1 R4 R2 R3 )
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
(8.38)
ug
Ei (R1 R4 R2 R3 )
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
ja
vm '
R1
R2
Ei [(R1 + R1 )R4 R2 R3 ]
(R1 + R1 + R2 )(R3 + R4 )
vm
R3
R4
+ Ei
Ei R
Ei [(R + R)R R2 ]
=
vm '
(2R + R) 2R
4R + 2R
Si on consid`ere R R (ce qui sera toujours le cas dans le cadre de lutilisation des
jauges de deformations), on pourra ecrire:
vm '
Ei R/R
Ei K
'
4
4
(8.39)
F
matriau et temprature
identiques
jauge de compensation
(8.40)
Ei R [(R + R) (R + R)]
(2R + R)2
= vm ' 0
(8.41)
(8.42)
Le pont reste equilibre et est donc insensible aux variations de temperature. Signalons
enfin que lors du choix dune jauge de deformation, il est tr`es important de faire la
selection en fonction du materiau de la pi`ece sur laquelle la jauge sera collee. En effet,
les fabriquants indiquent la compatibilite des coefficients de dilatation de leurs differentes
familles de jauges avec la plupart des materiaux.
165
vm '
ja
R1
R2
ug
ja
ug
e
Lutilisation dune combinaison de deux jauges dans un meme pont donne ce quon
appelle un demi-pont. Analysons dans un premier temps le cas des jauges disposees
dans des branches adjacentes du pont, par exemple en R1 et R2 . Pour des variations de
resistance R1 et R2 , la tension de sortie du pont sera:
Ei [(R1 + R1 )R4 (R2 + R2 )R3 ]
(vm +vm ) '
(R1 + R1 + R2 + R2 )(R3 + R4 )
vm
R3
R4
Ei [(R + R1 )R (R + R2 )R]
(2R + R1 + R2 ) 2R
+ -
Ei (R1 /R R2 /R)
vm '
4 + 2R1 /R + 2R2 /R
Ei
"
R1 R2
R
R
(8.43)
Notons que si la variation de resistance R est causee par une variation de temperature
T et que les jauges sont collees sur la meme pi`ece (on suppose donc quelles sont `a la
meme temperature), on aura R1 = R2 et vm = 0. On constate que ce pont est alors
compense en temperature.
Exemple: barre en traction
Considerons une barre rectangulaire homog`ene soumise `a un etat plan de contraintes
produit par une force de traction F :
y
166
Deux jauges sont collees de facon `a obtenir une configuration en demi-pont similaire a`
celle que lon vient danalyser. La jauge 1 est sensible a` la deformation dans le sens axial
(x) et la jauge 2 est sensible a` la deformation dans le sens transversal (y). On sait que
les taux de deformation dans les directions x et y sont relies par le coefficient de Poisson:
y = P x . Avec les facteurs de jauge, on peut ecrire:
R1
= K1 x
R
et
R2
= K2 y = K2 P x
R
Ei
(K1 x + K2 P x )
4
Si on a K1 = K2 = K, comme cest habituellement les cas, on obtient:
vm '
vm '
Ei K(1 + P ) x
4
(8.44)
(8.45)
(8.46)
y
1
2
x
z
Les jauges 1 et 2 sont collees sur chacun des plans xz et elles sont sensibles aux
deformations longitudinales (suivant x). On consid`ere que les jauges sont placees de
facon symetrique par rapport a` laxe neutre passant par y = 0; on a donc y1 = y2 .
Ce type de chargement produit un etat plan de contraintes resultant dans les taux de
deformation suivants: x1 = x2 . Avec les facteurs de jauge, on obtient: R1 /R = K1 x
167
Ei Kx
2
(8.47)
vm '
ja
ug
R1
R2
R3
R4
vm
ja
ug
Ei [(R + R1 )(R + R4 ) R2 ]
(2R + R1 ) (2R + R4 )
+ -
Ei (R1 /R + R4 /R + R1 R4 /R2 )
vm '
4 + 2R1 /R + 2R4 /R + R1 R4 /R2
Ei
"
R1 R4
+
R
R
(8.48)
Notons que si la variation de resistance R est causee par une variation de temperature
T et que les jauges sont collees sur la meme pi`ece (on suppose donc quelles sont `a la
meme temperature), on aura R1 = R2 et vm = Ei R/(2R). On constate que ce pont
nest pas compense en temperature. Il faudrait ajouter des jauges de compensation en
2 et 3.
168
Pont `
a quatre jauges: pont complet
ja
vm
R4
ug
R3
#
e
ja
ug
R1 R4 R2 R3
+
R
R
R
R
R2
"
R1
ja
Ei
vm '
4
ug
ja
ug
e
+ Ei
y
4
3
1
2
x
z
Figure 8.10: Schema dune barre encastree en flexion avec quatre jauges montees en pont
complet.
Lorsque par exemple, les jauges sont disposees en pont complet sur une poutre encastree
en flexion (figure 8.10) on obtient:
vm ' Ei K x
169
(8.49)
8.5
8.5.1
Figure 8.12: Schema et illustration dune cellule de charge de type poutre en flexion.
171
mesurer. La poutre rigide constitue le bati et lelement sensible est une section intermediaire de la poutre qui a ete affaiblie par retrait de mati`ere, de facon `a augmenter
localement les contraintes et les deformations (figures 8.15 et 8.16).
Figure 8.15: Schema illustrant une cellule de charge de type poutre en cisaillement.
Pour une poutre subissant un effort tranchant, les contraintes de cisaillement maximales et les deformations correspondantes se retrouvent a` laxe neutre, sur les faces
laterales de la poutre et `a des directions de 45 par rapport a` laxe neutre.
Une paire de jauge est collee sur chacune des faces laterales de la poutre. Sur chaque
face on retrouve une jauge en tension et une en compression et les quatre jauges sont
connectees en pont de Wheatstone complet.
Un des avantages de ce type de cellule de charge est que le point dapplication de la
force na pas a` etre minutieusement controle puisquil leffort tranchant est le meme pour
toutes les sections de la poutre entre la force et lencastrement. Le point dapplication
de la charge ninfluence donc pas la mesure.
173
Figure 8.16: Illustration montrant des cellules de charge de type poutre en cisaillement.
Figure 8.17: Schema illustrant une cellule de charge de type compression `a coffret.
Ces cellules sont tr`es repandues dans les syst`emes de pesee puisque les elements
peuvent reposer directement dessus, ce qui simplifie grandement le montage.
Figure 8.18: Illustration montrant des cellules de charge de type compression (load button).
174
Pr
ecision des cellules de charge
Les cellules de charge sont des instruments de mesure extremement precis. Les mod`eles
de gamme moyenne, tr`es courants, presentent une precision de 0.05% de letendue de
mesure.
Les mod`eles de construction plus soignee presentent une precision de 0.03% de la
valeur mesuree, et la precision peut aller jusqu`a 0.01% de la valeur mesuree pour les
cellules haut de gamme.
8.5.2
Quelques applications
Les applications des cellules de charge sont tr`es variees. La plus grande famille dapplication est celle de la pesee (figure 8.20 et 8.21). En effet, toutes les balances electroniques
utilisent une forme de cellule de charge comme element sensible. Les balances de
precision de laboratoire pour peser de tr`es petites quantites, les cuves de pesee dans les
procedes industriels, les balances de controle routier, les p`ese-personnes que nous utilisons a` la maison, toutes ces applications utilisent des cellules de charge de geometries
et de tailles variees.
Elles sont egalement utilisees dans dautres applications: celles o`
u une mesure de couple est requise, dans les procedes o`
u une force precise doit etre appliquee, comme element
175
Figure 8.20: Illustration de differents syst`emes de pesee utilises dans lindustrie lourde (notamment balances pour camions, trains et autres).
Figure 8.21: Schema et illustration de syst`emes de pesee utilisant des cellules de type
poutre en S; lillustration de droite montre un appareil incluant une interface de traitement
numerique.
de protection contre la surcharge, ainsi que dans les essais destructifs de materiaux visant
a` determiner leurs proprietes mecaniques.
176
Chapitre 9
Mesure de la position
Les appareils de mesure de la position sont dune importance capitale en instrumentation,
car cette mesure intervient dans plusieurs applications. En plus de linteret de base
consistant a` mesurer la position (regulation, asservissement, etc...), on a recours a` ce
type dinstrument dans la conception de plusieurs capteurs (pression, debit, humidite,
etc...). En effet, il existe une multitude de capteurs dont lelement sensible produit
un deplacement qui doit etre converti en signal de sortie par le biais dune mesure de
position. Dans ce chapitre, on consid`ere des instruments utilises pour mesurer la position
ou le deplacement relativement `a un point de reference. Le deplacement pour aller
du point de mesure au point de reference se fera soit en translation, soit en rotation, ceci
en fonction des caracteristiques geometrique et cinematique propres a` ces deux points.
9.1
Potentiom`
etres
vo =
vo
x1
-
E
- i
x2
vo
- +
- +
Ei
Ei
177
Le mouvement de la pointe de contact peut etre une translation, une rotation ou une
combinaison des deux (mouvement helicodal donnant un dispositif rotatif multi-tour).
Lelement resistif de ces instruments peut etre constitue dune bobine de fil, dun plastique conducteur ou dun depot de carbone conducteur. Les elements en plastique ou
en carbone auront une duree de vie accrue, car les probl`emes de frottement sont reduits
par rapport au cas du bobinage de fil.
vo/Ei 1
0
x1
(ou 1)
x2
(ou 2)
Pour les deux types de potentiom`etre, la tension de sortie theorique est une fonction
lineaire de la position (figure 9.2). Dans la realite, la linearite ne sera jamais parfaite;
on obtient des reponses lineaires precises a` environ 0.1% pour les bobinages et a` pr`es
de 1% pour les plastiques et les carbones. De plus, dans le cas du bobinage, la reponse
reelle sera plutot en escalier, car le passage du curseur dun fil `a lautre impose un
caract`ere leg`erement discontinu au signal de sortie. Mentionnons enfin que les potentiom`etres sont de moins en moins utilises pour faire de la mesure, car on les delaisse au
profit des encodeurs. Les principaux avantages et inconvenients relatifs a` lutilisation
des potentiom`etres sont:
Avantages:
1. Faible co
ut,
2. Simplicite de raccordement,
3. Bande passante elevee (instrument dordre zero),
4. Rep`ere absolu (indique la position d`es la mise en marche, sans initialisation).
178
nients:
Inconve
1. Frottement (usure et force indesirable dans certaines applications),
2. Defauts de linearite ' 0.1% (surtout les elements en plastique et en carbone),
3. Resolution limitee (cas du bobinage),
4. Sensible au vibrations (augmente lusure et source de bruit).
9.2
LVDT, RVDT
Les termes LVDT et RVDT signifient respectivement Linear Variable Differential Transformer et Rotary Variable Differential Transformer. Ces instruments fonctionnent suivant le principe dinduction magnetique (figure 9.3); ils produisent une tension de sortie
ac dont lamplitude est proportionnelle au deplacement du noyau ferreux mobile.
bobinage
secondaire
mouvement
bobinage
primaire
bobinage
secondaire
V1
V2
Vi
noyau ferreux
rotatif
Vo
V1
Vi
Vo = V1 - V2
Avantages:
1. Aucun frottement,
2. Duree de vie illimitee,
3. Robuste,
4. Peu sensible a` lenvironnement,
179
V2
Vo
5. Position absolue.
nients:
Inconve
1. Co
ut eleve,
2. Bande passante limitee,
3. Plage de mesure limitee,
4. Linearite moyenne ' 0.2%,
5. Precision moyenne (0.5 `a 1%).
9.3
Techniques bas
ees sur des principes optiques
photosource
dtecteur
lumineuse
masque
Le principe est le suivant: la lumi`ere est emise par une source lumineuse et son passage est obstrue par un masque dont la fente est specialement concue `a cette fin. Lorsque
le masque se deplace, la dimension de la fente varie de facon telle que le pourcentage
180
x1
diode laser
x2
matrice de
photo-dtecteurs
Figure 9.5: Representation schematique dun capteur optique base sur la triangulation.
Avantages:
1. Excellente precision (10m et mieux),
2. Sans contact,
181
optique de
transmission
optique de
rception
nappe de lumire
matrice
de photodtecteurs
diode laser
jeu de
lentilles
filtre
passe-bande
obstacle
Figure 9.6: Representation schematique dun capteur optique fonctionnant selon le principe
de la nappe de lumi`ere et muni dune matrice de photo-detecteurs.
optique de
transmission
nappe de lumire
diode laser
jeu de
lentilles
obstacle
filtre
passe-bande
optique de
rception
photodtecteur
unique
Figure 9.7: Representation schematique dun capteur optique fonctionnant selon le principe
de la nappe de lumi`ere et muni dun seul photo-detecteur.
nients:
Inconve
1. Mesure discr`ete (depend de la resolution de la matrice de photo-detecteurs),
2. Co
ut relativement eleve,
3. Sensible a` lenvironnement.
9.4
Capteurs ultrasoniques
Avantages:
1. Sans contact,
2. Grande plage de mesure,
3. Co
ut relativement faible.
nients:
Inconve
1. Precision limitee (liee aux proprietes du milieu),
2. Temps de reponse.
183
metteur-rcepteur
ultrasonique
U
x = U t/2
t
impulsion
incidente
impulsion
rflchie
Figure 9.8: Representation schematique dun capteur ultrasonique servant `a mesurer des
dimensions lineaires (ruban `
a mesurer ultrasonique utilise par les decorateurs, les inspecteurs
en batiment, les architectes, etc...).
9.5
Capteurs magn
etostrictifs
onde de courant
impulsionnelle
mise par le
gnrateur
barre
magntostrictive
onde mcanique
impulsionnelle
se dplaant
vitesse Us
x = Us t
S
aimant
mobile
gnrateur
d'impulsions
de courant
effet Wiedemann
produisant localement
une dformation en
torsion de la barre et
mettant une onde
mcanique impulsionnelle
tube de
protection
en matriau
non ferreux
Uc =
et Us =
(9.1)
(9.2)
187
Les capteurs magnetostrictifs sont des instruments robustes utilises dans lindustrie
pour mesurer une position ou un deplacement lineaire dans des environnements sev`eres.
Ils sont par exemple largement utilises dans les cylindres hydrauliques. Les avantages et
les inconvenients de ces capteurs sont enumeres dans les paragraphes suivants.
Avantages:
1. Sans contact,
2. Precis (1 partie dans 10 000),
3. Large gamme (jusqu`a 10 m),
4. Robuste,
5. Utilise dans des environnements sev`eres.
nients:
Inconve
1. Co
ut relativement eleve,
2. Temps de reponse.
9.6
Ces deux types de capteur forment une categorie que lon appelle les capteurs de proximite; on utilise parfois le terme proxim`etre pour les denommer. Ils peuvent servir par
exemple `a mesurer des vibrations, a` detecter la presence de parois (interrupteur logique)
ou `a construire des tachym`etres.
Capteurs inductifs
Un capteur de proximite de type inductif (figure 9.10) est compose dun ensemble
ferrite/bobinage, dun oscillateur, dun circuit de detection et dune sortie de technologie
semi-conducteur1 (solid-state output).
Loscillateur cree un champ electro-magnetique `a haute frequence. celui-ci rayonne
depuis le bobinage vers lextremite du capteur par le biais du noyau ferreux (ferrite)
qui le concentre et le dirige vers lavant. Lorsque quun objet metallique pen`etre le
1
Par opposition `
a une sortie `
a relais.
188
champ
lectro-magntique
ferrite
dtecteur
cible
oscillateur
signal
de sortie
bobinage
champ magnetique, des courants de Foucault (eddy current) sont induits `a sa surface.
Ceci resulte en une perte denergie dans le circuit de loscillateur et, par consequent
reduit lamplitude des oscillations. Le circuit de detection reconnat les changements
specifiques damplitude et qui pourra se traduire par un signal de sortie de type ON
ou OFF. Lorsque lobjet metallique quitte la region couverte par le champ magnetique,
loscillateur revient `a son etat original.
Capteurs capacitifs
Un capteur de proximite de type capacitif (figure 9.11) est compose dun oscillateur
de type RC et dun element sensible multi-electrode.
cible
A = lectrode sensible
A
B
C
oscillateur
dtecteur
signal
de sortie
B et C = lectrodes de compensation
Les capteurs capacitifs peuvent detecter la proximite des surfaces des liquides, des
poudres ou des solides. Cette detection se fait par le biais dune mesure de changement
189
9.7
dtecteurs
vue en plan
metteurs et
dtecteurs
binaire
dcimal
00000
00001
00010
00011
00100
00101
00110
00111
01000
01001
01010
01011
01100
01101
01110
01111
10000
10001
10010
10011
10100
10101
10110
10111
11000
11001
11010
11011
11100
11101
11110
11111
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
Figure 9.12: Representation schematique dun encodeur lineaire de position absolue (5 bits).
Avantages:
1. Capteur de position absolue,
190
2. Tr`es stable,
3. Sans contact.
nients:
Inconve
1. Plage limitee,
2. Precision limitee,
3. Fragile.
dtecteur #1
index
RAZ
dtecteur #2
dplacement linaire
signal #2
signal #1
temps
Avantages:
1. Co
ut relativement faible,
2. Tr`es stable,
3. Precision elevee,
4. Sans contact.
nients:
Inconve
1. Fragile,
2. Capteur de position relative.
191
192
Chapitre 10
Mesure des vibrations
10.1
Quantit
es `
a mesurer et types de capteurs
10.2
Capteurs s
eismiques
10.2.1
R
eponse en fr
equence
Un capteur seismique est un dispositif qui utilise le principe dune masse seismique reliee
a` une base par le biais dun ressort et dun amortisseur. La figure 10.1 illustre un tel
capteur.
sortie du
capteur
y(t)
masse
sismique
ressort
z(t)
amortisseur
Figure 10.1: Representation schematique dun capteur de type seismique. Les positions
absolues de la base et de la masse sont respectivement notees x(t) et y(t). La position relative
de la masse est definie par z(t) = y(t) x(t).
(10.1)
(10.2)
Famort. = c [x(t)
y(t)]
= c z(t)
(10.3)
(10.4)
x(t) ej2f t dt
(10.5)
X(f ) ej2f t df
(10.6)
Derivees:
TdF{x(t)}
= j 2f X(f )
(10.7)
TdF{
x(t)} = j 2 4 2 f 2 X(f ) = 4 2 f 2 X(f )
(10.8)
x(t) cos(2f t) dt
(10.10)
x(t) sin(2f t) dt
(10.11)
avec
(10.12)
"
XR (f ) + XI (f ) et (f ) = tan
XI (f )
XR (f )
(10.13)
(10.14)
Z(f )
(f /fn )2
=
(10.16)
H(f ) =
X(f )
1 (f /fn )2 + j 2 f /fn
La reponse en frequence est une fonction complexe qui secrit sous sa forme polaire
comme ceci:
H(f ) = |H(f )| ej(f )
(10.17)
Le module |H(f )| (aussi appele le gain dans le contexte dun instrument de mesure) et
la phase (f ) secrivent comme suit:
(f /fn )2
|H(f )| = q
[1 (f /fn )2 ]2 + [2 f /fn ]2
|H(f)|
(f ) = tan
2 (f /fn )
1 (f /fn )2
(10.18)
acclromtre
= 0.1
sismomtre
= 0.707
= 1.5
0
0
8
f/fn
10.2.2
Comportements asymptotiques
D
efinition du s
eismom`
etre f /fn
Lorsque la frequence naturelle de linstrument est tr`es petite par rapport au contenu
frequentiel du phenom`ene vibratoire que lon doit mesurer (fn f ), on constate que
f
1
fn
!2 2
f
fn
!4
et
f
fn
!4
"
f
2
fn
#2
(10.19)
et on obtient alors
(f /fn )2
|H(f )| q
=1
(f /fn )4
et
(f ) = tan1 (0) = 0 ou .
(10.20)
Dans le cas present, on doit choisir (f ) = car f /fn est eleve. Cela signifie que
H(f ) = |H(f )| ej = 1 (cos() j sin()) = 1 Z(f ) = X(f )
z(t) = x(t) y(t) x(t) = x(t) y(t) = 0
(10.21)
(10.22)
On observe donc que y(t) = 0, ce qui signifie que la masse seismique demeure immobile
alors que la base se deplace (voir les conventions illustrees sur la figure 10.1). Les
instruments suivant ce comportement sont denommes s
eismom`
etres (figure 10.3). La
gamme de frequences dans laquelle on les utilise est identifiee sur la figure 10.2.
197
Quelques informations:
Les seismom`etres sont generalement de dimension relativement importante et,
selon le montage considere, cela peut parfois constituer un desavantage considerable.
La gamme typique de frequences naturelles est de 1 a` 5 Hz et la gamme de
frequences utile a` la mesure des vibrations est de 10 a` 2000 Hz.
Les deplacements typiques mesurables sont de lordre de 5 mm crete `a crete.
Le seismom`etre utilise par la NASA dans son programme lunaire avait les caracteristiques suivantes: fn = 1 Hz, deplacement crete `a crete de 2 mm, diam`etre de
150 mm et masse totale de 5 kg.
D
efinition de lacc
el
erom`
etre f /fn 1
Lorsque la frequence naturelle de linstrument est tr`es grande par rapport au contenu
frequentiel du phenom`ene vibratoire que lon doit mesurer (fn f ), on constate que
f
1
fn
!2
"
et
f
2
fn
#2
1
(10.23)
et on obtient alors
|H(f )|
(f /fn )2
= (f /fn )2
1
(f ) = tan1 (0) = 0 ou .
et
(10.24)
Dans le cas present, on doit choisir (f ) = 0 car f /fn est petit. Cela signifie que
H(f ) = |H(f )| e0 = (f /fn )2 Z(f ) =
TdF1 z(t) =
1 2
f X(f )
fn2
(10.25)
c
k
j 2f Z(f ) +
Z(f )
m
m
En manipulant et en introduisant les notations de fn et , on obtient:
A(f ) = j 2 4 2 f 2 Z(f ) +
HA (f ) = 4 2 fn2
(10.28)
Z(f )
1
=
2
A(f )
1 (f /fn ) + j 2 f /fn
(10.29)
A (f ) = tan1
|HA (f )| = q
[1 (f /fn )2 ]2 + [2 f /fn ]2
2 (f /fn )
1 (f /fn )2
(10.30)
Notons que la phase A (f ) est la meme que celle obtenue pour le capteur seismique. La
figure 10.4 illustre levolution du gain |HA (f )| en fonction de la frequence normalisee et
ce, pour differentes valeurs du coefficient damortissement.
|HA(f)|
20 log (|HA(f)|)
= 0.2
= 0.1
10
1.4
= 0.707
= 0.4
1.2
= 1.5
-10
= 0.707
0.8
-20
=1
0.6
-30
= 1.5
-1
log(f/fn)
0.4
0.2
0.4
0.6
0.8
f/fn
Quelques informations:
Pour un accelerom`etre caracterise par une faible valeur du coefficient damortissement (ex.: type piezoelectrique, 1), on constate que la gamme de frequences
utile est limitee a` environ f /fn 0.06 (voir la figure 10.4) Lorsque la valeur de
est voisine de 0.7, on peut considerer la plage de validite comme etant f /fn 0.2.
Un accelerom`etre de type piezoelectrique est caracterise par un tr`es faible coefficient damortissement et une frequence naturelle tr`es elevee. La gamme de
frequences utile de ce type daccelerom`etre est donc limitee a` f /fn 0.06. Pour un
accelerom`etre de ce type dont la frequence naturelle est par exemple de 50 000 Hz,
la gamme de frequences utile est de f 3000 Hz.
199
10.3
Acc
el
erom`
etres de type pi
ezo
electriques
10.3.1
Leffet pi
ezo
electrique
Sous leffet dun champ electrique, certaines structures cristallines tel le quartz subissent
une deformation des liens inters atomiques. Il en resulte une variation dimensionnelle
mesurable. Cette propriete est dite piezoelectrique. La figure 10.5 presente une source
de tension utilisee pour polariser un cristal de quartz. La presence du champ electrique
provoque un deplacement des charges electriques aux extremites du cristal. Certains
materiaux ceramiques composes dalumine ont une grande possibilite de deformation.
Ces materiaux sont employes pour realiser des actuateurs lineaires, utilises en nanotechnologies pour le positionnement et lusinage. Les ceramiques piezoelectriques servent a`
construire des emetteurs ultrasoniques de forte puissance. Les ultrasons sont utilises pour
le nettoyage, le polissage et meme le soudage de materiaux en plastique. Lagencement
des actuateurs permet de realiser des micromoteurs rotatifs puissants et compacts. Les
materiaux piezoelectriques sont tr`es rigides.
Q = charge
dplace
dformation
mcanique
+ + + + + +
+
Quartz
dformation
mcanique
- - - - - -
champ
lectrique
Leffet piezoelectrique est reversible. Lapplication dune force provoque une deformation du reseau cristallin et un deplacement de charge vers la surface (figure 10.6). La
charge Q est proportionnelle a` la force appliquee. La rigidite du quartz utilise comme
200
capteur de force permet de realiser des capteurs de pression et des accelerom`etres ayant
une frequence de resonance tr`es elevee. La compagnie KISTLER a concu un capteur de
pression utilise pour mesurer la pression dans une chambre `a combustion dun moteur a`
piston. Le capteur dune capacite de 5000 psi poss`ede une bande passante de 500 kHz.
force
+ + + + + +Q
+
+
Quartz
symbole
- - - - - -
10.3.2
Le capteur piezoelectrique gen`ere une charge electrique. Pour convertir le signal en tension, il est possible de placer un condensateur aux bornes du capteur, tel quillustre sur
la figure 10.7.
F(t)
Ccapteur
Cmesure
v(t)
Ccblage
(10.31)
Cette equation demontre quil est difficile dimposer une valeur calibree de capacitance.
Pour contourner le probl`eme, il est possible dutiliser un circuit integrateur tel quillustre
sur la figure 10.8.
201
i(t) = dQ(t)/dt
F(t)
C
i=0
v(t) = 0
vo(t)
Q(t)
1 Z
vo (t) =
=
i(t) dt
(10.32)
C
C
La charge Q est lintegrale du courant debite par le capteur. La tension aux bornes
du capteur demeure nulle. Les capacites en aval du capteur ne cumulent aucune charge
et ninfluencent pas la mesure. Le facteur de calibration depend du condensateur C en
retroaction. Ce circuit de conditionnement est appele amplificateur charge.
Certaines compagnies telles que PCB int`egrent lamplificateur de charge dans le capteur. Le capteur est alimente par une source de courant (4 mA), la tension en sortie est
proportionnelle `a grandeur physique `a mesurer.
10.3.3
crou
masse
sismique
montant
lment
piezolectrique
202
Annexes
203
204
Annexe A
Exercices
Chapitre 1
1.1 On effectue 5 mesures de temperature dans une chambre maintenue a` temperature
constante. Les resultats sont les suivants:
T1 = 20.1 C T2 = 20.2 C T3 = 19.7 C T4 = 19.8 C et T5 = 20.2 C
Ecrire
la valeur moyenne ainsi que la precision de la mesure sous la forme T
avec une probabilite de 95% dinclure la vraie valeur. On suppose que lerreur de
biais est nulle.
1.2 Une machine fabrique de petites pi`eces dont lepaisseur est de 1 mm. La production
dans son ensemble presente un ecart type de 0.1 mm sur lepaisseur des pi`eces. Si
on prel`eve 40 pi`eces au hasard, determiner la probabilite quen empilant les pi`eces
la hauteur de la pile soit comprise entre 33.26 et 46.74 mm.
1.3 Calculer la transformee de Laplace de la fonction
f (t) = e2t (3 cos 6t 5 sin 6t)
1.4 Calculer la transformee de Laplace inverse de la fonction
F (s) =
s2
3s + 7
2s 3
1.6 On effectue letalonnage dynamique dun instrument du premier ordre a` laide dun
signal dentree de type echelon dont lamplitude est de 100 unites (on consid`ere
K = 1). Apr`es 1.2 secondes, linstrument indique une valeur de 80 unites.
a) Estimer la constante de temps de linstrument.
b) Estimer lerreur de la valeur indiquee par linstrument apr`es 1.5 secondes,
sachant que y(0) = 0 unites.
1.7 Considerons un instrument du premier ordre que lon soumet a` un signal dentree en
echelon. Il faut un temps de 0.5 seconde pour que le signal de sortie de linstrument
atteigne 80% de sa valeur finale (ou reponse statique). Determiner est la constante
de temps de linstrument.
1.8 On effectue letalonnage dynamique dun instrument du premier ordre en utilisant un signal dentree sinusodal damplitude xiA = 10 unites. Pour differentes
frequences du signal dentree, on enregistre les resultats suivants:
f (Hz) Amplitude du signal
de sortie Vo (V)
10
100
100
100
1 000
31.62
10 000
3.162
a) Quelle est la frequence de coupure de linstrument ?
b) Quelle est la constante de temps de linstrument ?
c) Quelle est la sensibilite statique de linstrument ?
1.9 Un instrument du premier ordre reagit selon lequation suivante:
50vo + 0.002
dvo
= xi
dt
206
Chapitre 2
2.1 Soit le circuit de la figure suivante.
i
vi
vo
vi
vo
R
L
vi
vo
C
Ce filtre est tr`es interessant lorsquil faut eliminer une composante frequentielle se
trouvant dans la zone dynamique dinteret (exemple le 60 Hz). Ce type de filtre
est frequemment utilise dans les syst`emes asservis.
Z2
Z3
Z1
vi
+
vo
Chapitre 3
3.1 On effectue une campagne dessais `a laide dune chane dacquisition de donnees
configuree de la facon suivante:
Frequence dechantillonnage:
50 kHz
Resolution du convertisseur A/N: 0.1526 mV/bit
Mode bipolaire avec EF SR =
5 V
On realise `a laide de cette chane des echantillons dune duree de 10 secondes
chacun. Calculer le nombre maximum dechantillons que lon peut sauvegarder
sur un disque rigide dune capacite de 40 G-octets (40 GB).
3.2 Considerons une camera CCD donnant des images numerisees de 512 512 pixels
et fonctionnant en noir et blanc.
a) Determiner la vitesse minimale du convertisseur A/N necessaire pour que la
camera puisse fournir 24 images par seconde.
b) Chacun des pixels est code suivant son niveau de gris. Si le convertisseur A/N
permet de coder 256 niveaux de gris (0 = noir et 255 = blanc), calculer lespace
memoire (en MB) occupe par un film durant 1 minute.
3.3 On desire echantillonner un signal sinusodal dont la frequence est de 32 Hz.
a)Quelle doit etre la frequence minimum du syst`eme dacquisition de donnees ?
b) Si on echantillonne le signal a` une frequence de 50 Hz, quelle sera la frequence
du signal mesure ?
3.4 Considerons le signal analogique suivant:
x(t) = sin 43.98t + sin 69.12t
Identifier le contenu frequentiel du signal discret resultant dun echantillonnage
effectue a` fech. = 10 Hz.
3.5 On desire mesurer des tensions provenant dune sonde de temperature thermocouple. Sachant que les tensions a` mesurer sont de lordre de 1 mV, avec des variations
significatives inferieures a` 0.1 mV, est-il approprie dutiliser un convertisseur A/N
ayant une gamme dentree de 5 V a` +5 V et une quantification numerique sur
12 bit ?
209
3.6 Un convertisseur N/A codant sur 4 bits est concu pour fournir une tension de
sortie analogique dans la gamme 0 10 V. Les resistances du circuit en parall`ele
ont des valeurs de R = 3 et la resistance utilisee dans lamplificateur lineaire a
une valeur de Rr = 8 .
a) Determiner la tension de reference Eref .
b) Determiner la tension de sortie correspondant a` lentier de valeur decimale 9
envoye comme commande dentree numerique.
Chapitre 4
4.1 Parmi les densites de probabilites illustrees ci-dessous, identifier celle qui a:
a) Le coefficient daplatissement le plus eleve.
b) Un coefficient de dissymetrie negatif.
c) Une valeur la plus probable inferieure a` la valeur moyenne.
p(x)
d
c
a
x-x
4.2 Calculer le coefficient 6 pour une densite de probabilites Gaussienne.
4.3 Considerons la densite de probabilites triangulaire suivante:
p(x) =
n12 x +
1
x
n2
1
n
1
n
0xn
n x 0
ni
N=
14
ni = 46
x = 5.413
2
2
2
3
2
9
1
10
1
11
4.7 Ecrire
lequation determinant la valeur de m pour une regression de type ye = mx.
4.8 Demontrer que pour une regression lineaire, on peut ecrire: rxy = rye y .
211
Chapitre 5
5.1 Considerons la figure suivante. Pour une temperature de jonction T1 = 50 C
identifier les schemas qui sont exacts.
a)
b)
c)
T1
T1
Cu-Ni
T1
Fe
Fe
Ni-Al
Cu-Ni
Ni-Cr
Fe
Cu-Ni
v = 2.268 mV
Ni-Cr
v = 2.585 mV
v = 2.585 mV
bain de glace
bain de glace
e)
d)
T1
T1
Ni-Al
Fe
Ni-Cr
Cu-Ni
Ni-Cr
Cu-Ni
v = 2.022 mV
v = 2.585 mV
bain de glace
5.2 Considerons des thermocouples de type J et K que lon utilise `a des temperatures
T1 = 90 C et T2 = 25 C (jonction froide). Estimer lerreur relative commise si
on utilise une relation du type vvoltm`etre = v(T1 T2 )etalonnage NBS .
5.3 Un thermocouple de type J est branche comme suit:
T1
Fe
J1
Cu
Cu-Ni
Fe
Cu
J2
bain de glace
Le voltm`etre donne une lecture de 9.667 mV. Sachant que la jonction J2 est a`
T2 = 0 C, determiner la temperature T1 de la jonction J1 .
212
Chapitre 6
6.1 a) Calculer la profondeur maximale `a laquelle il est possible de pomper de leau
dune nappe souterraine avec une pompe `a succion disposee au niveau du sol.
On suppose que la surface libre de la nappe deau est soumise a` une pression
atmospherique de 101 kPa et que leau est a` 20 C.
b) Si on mesure la pression a` lentree de la pompe avec un capteur absolu alors
quon tente de pomper de leau depuis une profondeur de 15 m, quelle sera la
pression mesuree par le capteur ?
6.2 Un capteur de pression dont letendue de mesure est de 2 po deau est utilise pour
mesurer des vitesses decoulement avec un tube de Pitot. La precision du capteur
est de 1 % de son etendue de mesure.
a) Calculer la vitesse maximum mesurable dans leau.
1
213
a) Ecrire
la relation reliant le niveau h aux autres param`etres.
b) Determiner letendue de mesure minimum que doit presenter le capteur p1 .
c) Considerant que le capteur choisi presente une precision de 0.1 % de son etendue
de mesure, quelle sera la precision correspondante sur le volume contenu dans le
reservoir ?
Chapitre 7
7.1 On utilise un debitm`etre de type orifice dans un tuyau de 250 mm de diam`etre.
Sachant quil y a un coude de 90 situe `a une distance de 4.5 m en amont de
lorifice, determiner le diam`etre que doit avoir lorifice (faire le calcul pour quil
ny ait aucune incertitude additionnelle).
7.2 On utilise un debitm`etre de type orifice dans un tuyau de 100 mm de diam`etre
dans lequel secoule de leau `a un debit de 50 l/s. On consid`ere les caracteristiques
suivantes:
orifice: = 0.5
prises de pression: flange tapping
eau: = 999 kg/m3
= 1 106 m2 /s
Estimer la difference de pression mesuree par ce debitm`etre.
7.3 Un debitm`etre de type turbine est installe dans un conduit de 100 mm de diam`etre.
` un rayon de 75 mm, langle
Le diam`etre du moyeu de la turbine est de 30 mm. A
des pales de la turbine est de 20 degres. La turbine tourne a` 200 RPM. Calculer
le debit.
214
Chapitre 8
8.1 Considerons un pont de Wheatstone initialement `a lequilibre, avec une jauge de
resistance nominale R = 350 (1/4 de pont) et un facteur de jauge K = 1.8. La
jauge est montee axialement sur une tige daluminium dont la section est de 1 cm2
(E = 70 GPa). Lorsque lon charge axialement la tige, la tension de sortie du pont
est de 1 mV (tension dalimentation Ei = 5 V). Determiner la charge appliquee.
8.2 Considerons une poutre soumise a` une charge axiale et `a un moment de flexion.
On desire utiliser deux jauges montees en demi-pont.
a) Comment doit-on les disposer sur la poutre et dans le pont pour obtenir un
ensemble sensible `a la charge axiale seulement.
b) Comment doit-on les disposer sur la poutre et dans le pont pour obtenir un
ensemble sensible au moment de flexion seulement.
c) Pour chacun des cas a) et b), etablir la relation entre la charge et la tension de
sortie du pont (le moment dinertie de la poutre est note Iz , la section est notee
A, la distance entre laxe neutre et les surface est notee Y et le module de Young
est note E).
8.3 Deux jauges (K = 2 et R = 120 ) sont montees en demi-pont en R1 et R4
(branches opposees). Elles sont disposees sur une pi`ece qui subit une contrainte
axiale. Pour une tension dalimentation Ei = 4 V et une tension de sortie de
120 V, estimer lelongation de la pi`ece (). Calculer la variation de resistance
electrique de chaque jauge.
8.4 Une jauge dont la resistance nominale est de 350 et le facteur de jauge est de
1.9 est collee sur une pi`ece dacier. Le facteur dexpansion thermique de la jauge
est 3 106 m/m C. Si la jauge a ete collee sur la pi`ece dacier a` une temperature
de 25 C, calculer la variation de resistance de la jauge due `a la temperature si
lensemble est soumis a` une temperature de 60 C. Le coefficient dexpansion
thermique de lacier est de 12 106 m/m C.
215
a) Ecrire
lexpression donnant vm en fonction des param`etres Ei , K et , la
deformation en cisaillement a` 45 .
b) Ecrire
lexpression reliant la force appliquee a` la deformation mesuree
Chapitre 9
9.1 Les capteurs optiques utilisant le principe de nappe laser sont utilises pour controler
les dimensions de pi`eces de precision produites `a la chane. Dans le cas de pi`eces
dont les dimensions sont comprises entre 1 et 5 cm, la resolution requise est de
5 106 m. Pour un tel instrument muni dune matrice de photodetecteurs:
a) Calculer le nombre de photodetecteurs.
b) Quelle doit etre la resolution du convertisseur ?
c) Calculer la vitesse requise du convertisseur, pour une bande passante de 1 kHz.
Chapitre 10
10.1 Un seismom`etre a les caracteristiques suivantes: fn = 4.75 Hz et = 0.65.
Determiner la plus basse frequence au del`a de laquelle lerreur de mesure devient
inferieure a`:
a) 1 % et b) 2 %.
Note: pour resoudre ce probl`eme, il est suggere de tracer la reponse en frequence
du syst`eme.
10.2 On fabrique une accelerom`etre a` laide dun cristal piezoelectrique ayant une
rigidite k = 1.8 109 N/m. On utilise une masse totale (cristal + seismique
+ ...) m = 18.238 grammes. Calculer la frequence naturelle de cet accelerom`etre
(en Hertz).
10.3 Un accelerom`etre de type piezoelectrique (coefficient damortissement ' 0)
mesure pour une frequence de vibration de 4000 Hz, une acceleration n2 Z(f ) =
10 m/s2 . Sachant que la valeur vraie de lacceleration est A(f ) = 9.6 m/s2 ,
determiner la frequence naturelle de cet instrument.
10.4 Laccelerom`etre du probl`eme precedent poss`ede un coefficient damortissement =
0.03, valeur typique associee aux accelerom`etres piezoelectriques. Verifier que le
fait davoir considere ' 0 etait une hypoth`ese justifiee.
216
R
eponses des exercices
1.1 20 0.29 C
1.8 a) fc = 316.2 Hz
b) = 5 104 sec.
1.2 90 %
1.3 F (s) =
c) K = 10 V/unite
3s 24
s + 4s + 40
2
b) K = 0.02
1
1.5 H(s) = s +
2
c)
-20
-54
1 + R C j
C j
b) H() =
e) fc =
RC
RC j
c) |H()| = q
log f
1
-34
b) Erreur = 13.4%
2.1 a) Zeq. =
4.6
f)
pente
-20 dB/dcade
1
2 R C
20 logH
-10
RC
(R C )2 + 1
-20
-30
d) |H()|=0 = 0 ; |H()|= = 1
0.1
10
100
RC
R C + (L C 2 1)j
b) |H()| = q
e) H 1
RC
0.8
(R C )2 + (L C 2 1)2
0.6
0.4
0.2
/n
c) |H()| = s
h
i2
Q n
2
2
0.05
0.1
0.15
0.2
2.3 a) H() =
1 L C 2
1 L C 2 + R C j
e) H 1
0.8
b) |H()| = q
|1 L C |
0.6
(1 L C 2 )2 + (R C )2
0.4
0.2
2
1 Q
n
2 2 h
c) |H()| = s
1 Q n
0.05
0.1
0.15
0.1
10
0.2
i2
2.4 a) H() =
Z2 Z3
Z1 Z2 + Z1 Z3
R2
b) H() =
R1
c) |H()| =
f)
20 log
0
-10
1
R2 C j + 1
-20
-30
-40
R2
1
q
R1 1 + (R2 C )2
-50
100
e) fc =
R2
=
; |H()|= = 0
R1
1
2 R2 C
3.6 a) Eref. = 2 V
b) vo = 6 V
218
4.1 a) a
b) c
b) rxy = 0.9990
c) d
c) rye y = 0.9990
d) y e = y = 7.048
4.2 6 = 15
e) y e = ax + b = 7.048
4.3 4 = 2.4
4.4 S = 0.790
N
X
4.5
a1 =
N
X
4.7
m=
xi y i N x y
i=1
N
X
xi y i
i=1
N
X
x2i
i=1
x2i N x2
i=1
a0 = y a1 x
avec x =
N
N
1 X
1 X
xi et y =
yi
N i=1
N i=1
5.1 d) et e)
5.3 T1 = 180 C
6.1 a) h = 10.077 m
b) pv = 2.338 kPa
b) 80.64 kPa
c) 26 litres
219
8.2 c) a: vm = (K Ei /2AE) Fa et
b: vm = (K Ei Y /2Iz E) Mf
8.3 = 3 105 et R = 0.0072
8.4 0.209
8.5 a) vm = Ei K
10.1 a) 15.9 Hz
b) 7.45 Hz
10.2 fn = 50 000 Hz
10.3 fn = 20 000 Hz
220
Annexe B
Rappel sur les probabilit
es et les
statistiques
B.1
Amplitude x(ti )
45
40
40
x
35
30
Nc Classes
35
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
Temps ti (sec)
100
200
300
400
500
Occurrence nk
Figure B.1: Schema illustrant la construction dun histogramme; le signal discret est constitue
de N = 10 240 points et lhistogramme est construit avec 101 classes.
nk = N
k=1
Nc
X
nk
= 1,
k=1 N
o`
u le terme nk /N represente la frequence doccurrence.
221
(B.1)
B.2
Densit
e de probabilit
es
La probabilite P (xk ) quun evenement damplitude xk se produise (xk etant inclus dans
lintervalle k de largeur x) est definie a` partir de la frequence doccurrence observee
sur un echantillon de taille infinie:
nk
(B.2)
N N
La densite de probabilites p(x) est definie `a partir de lhistogramme, en considerant
une largeur de classe infinitesimale (x 0) et un echantillon de taille infinie (N ).
On obtient ainsi:
P (xk ) = lim
p(x) = lim
x0
P (xk )
= lim
N
x
x0
nk
N x
(B.3)
Nc
X
p(x) dx = lim
x0 k=1
nk
1
N x
(B.4)
Cette relation tr`es importante indique que lintegrale de la densite de probabilite est
unitaire.
B.3
Esp
erance math
ematique
Il est important de noter que loperateur E[ ] est un operateur lineaire. Ainsi, on aura
E[a(b + c)] = a (E[b] + E[c]).
` partir de cette definition, lesperance mathematique de x, representant la valeur
A
moyenne (), est exprimee par:
E[x] =
x p(x) dx
(B.6)
E[(x ) ] =
(x )2 p(x) dx
Notons enfin que lecart-type est defini par la racine carree de la variance.
222
(B.7)
B.4
Variable centr
ee et r
eduite
Il est souvent tr`es utile dexprimer les quantites statistiques en fonction de la variable
centree et reduite definie comme suit:
z=
(B.8)
E[z] = E
x
1
1
= (E[x] E[]) = ( ) 0
(x )2
1
1 2
2
E[z ] = E
=
E[(x
)
]
=
1
2
2
2
"
et
La relation (B.4) indique que lintegrale dune densite de probabilite est unitaire et
ceci est valable, que la variable aleatoire soit brute ou quelle soit centree et reduite.
Ainsi,
Z
p(x) dx =
p(z) dz 1
(B.9)
B.5
On dit quune variable aleatoire suit une distribution normale ou Gaussienne si sa densite
de probabilites est definie par la relation suivante:
1
2
2
p(x) = e(x) /2 ,
(B.10)
2
o`
u, tel quintroduit precedemment, et representent respectivement lesperance mathematique et lecart-type de la variable aleatoire. En utilisant la notation de variable
centree et reduite, on obtient:
1
2
(B.11)
p(z) = ez /2 ,
2
Le graphique de la distribution normale centree et reduite est presente sur la figure B.2.
223
p(z)
0.4
0.3
0.2
0.1
p(z) dz = 1
0
-4
-2
Probabilit
e que la valeur de z se situe entre z1 et z1
La probabilite que la valeur de z se situe entre z1 et z1 est notee P (z1 z z1 ).
Cette probabilite est definie par la surface noire de la figure B.3.
p(z)
0.4
0.3
0.2
0.1
0
-4
-2
-z 1
z1
Z z1
p(z) dz = 2
z1
Z z1
0
224
p(z) dz = 2 f (z1 )
(B.12)
La moitie de lintegrale bornee par z1 est une fonction notee f (z1 ) que lon retrouve
dans la plupart des tables des livres de probabilites et statistiques. En fait, la valeur de
f (z1 ) represente la probabilite que z se situe entre 0 et z1 . Une autre quantite dinteret,
notee (z1 ), represente lintegrale de la Gaussienne calculee de z1 a` linfini. Selon la figure B.3, on peut ecrire P (z1 z z1 ) + 2(z1 ) 1, ou encore, 2(f (z1 ) + (z1 )) 1.
Ainsi, (z1 ) = 0.5 f (z1 ). Les valeurs de ces fonctions sont fournies pour differentes
valeurs de z1 dans le tableau B.1.
z1
f (z1 )
(z1 )
0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.0
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2.8
2.9
3.0
0.0000
0.0398
0.0793
0.1179
0.1554
0.1915
0.2257
0.2580
0.2881
0.3159
0.3413
0.3643
0.3849
0.4032
0.4192
0.4332
0.4452
0.4554
0.4641
0.4713
0.4772
0.4821
0.4861
0.4893
0.4918
0.4938
0.4953
0.4965
0.4974
0.4981
0.4987
0.5000
0.4602
0.4207
0.3821
0.3446
0.3085
0.2743
0.2420
0.2119
0.1841
0.1587
0.1357
0.1151
0.0968
0.0808
0.0668
0.0548
0.0446
0.0359
0.0287
0.0228
0.0179
0.0139
0.0107
0.0082
0.0062
0.0047
0.0035
0.0026
0.0019
0.0013
La figure B.4 illustre trois cas particuliers, soit les cas pour lesquels z1 = 1, 2 et
3. Pour ces trois cas, les probabilites que z se situe dans les intervalles cites sont
respectivement de 68.3%, 95.4% et 99.7%.
225
p(z)
p(z)
p(z)
0.4
0.4
0.4
0.3
0.3
0.3
0.2
0.2
0.2
68.3%
0.1
0
-4
-3
-2
-1
95.4%
68.3%
0.1
0
-4
-3
-2
-1
99.7%
68.3%
0.1
0
-4
-3
-2
-1
B.6
Distribution de Student
"
p(t )
#(+1)/2
(B.13)
p(t )
gaussienne
0.4
=3
=2
=1
0.3
0.3
0.2
0.2
0.1
0.1
-4
-2
= 15
=7
=4
gaussienne
0.4
-4
-2
226
x = m + 1 [m + 1] = m!
(B.14)
Z t,
t,
Z
t,
p(t ) dt = P
(B.15)
p(t ) dt =
(B.16)
= 15
0.4
0.3
0.2
0.1
-4
-2
-t
Figure B.6: Graphique de la distribution de Student presentee pour une valeur de = 15; la
probabilite P (t, t t, ) est egale `a P et la probabilite P (t t, ) est egale `a .
227
P =
0.8
0.9
0.95
0.98
0.99
0.100
0.050
0.025
0.010
0.005
t,
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
32
34
36
38
40
60
80
100
120
3.078
1.886
1.638
1.533
1.476
1.440
1.415
1.397
1.383
1.372
1.363
1.356
1.350
1.345
1.341
1.337
1.333
1.330
1.328
1.325
1.323
1.321
1.319
1.318
1.316
1.315
1.314
1.313
1.311
1.310
1.309
1.307
1.306
1.304
1.303
1.296
1.292
1.290
1.289
6.314
2.920
2.353
2.132
2.015
1.943
1.895
1.860
1.833
1.812
1.796
1.782
1.771
1.761
1.753
1.746
1.740
1.734
1.729
1.725
1.721
1.717
1.714
1.711
1.708
1.706
1.703
1.701
1.699
1.697
1.694
1.691
1.688
1.686
1.684
1.671
1.664
1.660
1.658
12.706
4.303
3.182
2.776
2.571
2.447
2.365
2.306
2.262
2.228
2.201
2.179
2.160
2.145
2.131
2.120
2.110
2.101
2.093
2.086
2.080
2.074
2.069
2.064
2.060
2.056
2.052
2.048
2.045
2.042
2.037
2.032
2.028
2.024
2.021
2.000
1.990
1.984
1.980
31.821
6.965
4.541
3.747
3.365
3.143
2.998
2.896
2.821
2.764
2.718
2.681
2.650
2.624
2.602
2.583
2.567
2.552
2.539
2.528
2.518
2.508
2.500
2.492
2.485
2.479
2.473
2.467
2.462
2.457
2.449
2.441
2.434
2.429
2.423
2.390
2.374
2.364
2.358
63.656
9.925
5.841
4.604
4.032
3.707
3.499
3.355
3.250
3.169
3.106
3.055
3.012
2.977
2.947
2.921
2.898
2.878
2.861
2.845
2.831
2.819
2.807
2.797
2.787
2.779
2.771
2.763
2.756
2.750
2.738
2.728
2.719
2.712
2.704
2.660
2.639
2.626
2.617
Gaussienne
1.282
1.645
1.960
2.326
2.576
228
Annexe C
Compl
ement de la section 3.2 sur le
recouvrement et le diagramme de
repliement
Nous presenterons ici un exemple de recouvrement (aliasing) dune frequence superieure `a la frequence de Nyquist de lechantillonneur vers une frequence inferieure. Nous
presenterons egalement la methode de construction du diagramme de repliement.
C.1
Exemple de recouvrement
C.2
Considerons un signal e1 (t) = sin(2f1 t) que lon echantillonne a` une frequence fech. .
Cela signifie que lon observe e1 (t) a` des temps discrets tn = nt, avec n = 0, 1, 2, ... et
t = 1/fech. . Le signal discret peut alors secrire comme:
229
1.0
0.5
0.0
-0.5
-1.0
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
f1
fech.
).
(C.1)
Nous supposerons ici que f1 est inferieure `a la frequence de Nyquist fN de lechantillonneur (fN = fech. /2). Considerons ensuite un signal e2 (t) = sin(2(rfech. f1 )t) avec
r = 1, 2, .... La frequence f2 du signal e2 (t) prendra ainsi les valeurs suivantes: fech. f1 ,
fech. + f1 , 2fech. f1 , 2fech. + f1 , ... Notons que f2min est obtenue pour f1 = fN , soit
f2min = fech. fN = fN . Le signal e2 (t) aura donc une frequence superieure ou egale a`
la frequence de Nyquist de lechantillonneur.
Le signal discret de e2 (t) peut secrire comme:
e2 (tn ) = sin (2(rfech. f1 )nt)
= sin 2(rfech. f1 )
n
fech.
(C.2)
ech.
Sachant que sin(2m+x) = sin(x) pour m entier, on peut reecrire lexpression precedente
comme1
e2 (tn ) = sin 2n
f1
fech.
).
(C.3)
Le signal e2 (t) sera donc percu comme un signal de frequence f1 < fN . En fait, f1
est la frequence repliee de toutes les frequences rfech. f1 , r = 1, 2, .... Ce raisonnement permet de construire le diagramme de repliement et denoncer le theor`eme
1
Nous conserverons ici uniquement le signe positif. Le signal de signe negatif est identique au premier,
mais en opposition de phase.
230
dechantillonnage: fm < fN ou 2fm < fech. ou fech. < 2fm , fm etant la frequence
la plus elevee dans le signal `a mesurer. On doit donc choisir un echantillonneur dont la
frequence est superieure a` 2fm .
231
232
Annexe D
R
eponse en fr
equence dun capteur
s
eismique: analyse dimensionnelle
Lequation de la reponse en frequence dun capteur seismique etablie au chapitre 10 peut
secrire sous la forme suivante:
Z(f ) =
m 4 2 f 2 X(f )
= G(m, f, X, k, c)
m 4 2 f 2 + k + j c 2f
(D.1)
(D.2)
[L T]
[L T]
[F L1 T2 ]
[T1 ]
[F L1 ]
[F L1 T]
(D.3)
233
1 = Z X a mb k c
2 = f X a mb k c
3 = cX a mb k c
(D.4)
Les termes etant sans dimension, on obtient donc pour chacun des termes:
1 a = 1 b = 0
c=0
1 = Z/X
q
2 a = 0
b = 1/2
c = 1/2 2 = f m/k
3 a = 0
b = 1/2 c = 1/2 3 = c/ km
(D.5)
Par commodite, on peut multiplier les termes par des constantes sans changer la
nature de lanalyse dimensionnelle. Ainsi, on adopte generalement les termes suivants:
c
m
f
=
et 3 = =
(D.6)
k
fn
2 km
Notons que lon a introduit la notation de frequence naturelle fn et de coefficient
damortissement . La frequence naturelle est definie par
Z(f )
1 = H(f ) =
, 2 = 2f
X(f )
1
fn =
2
On obtient finalement le resultat classique
k
m
f
H(f ) =
,
fn
234
(D.7)
(D.8)
Bibliographie
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