Fsica del estado slido

LD
Hojas
de Fsica

Propiedades de cristales
Anlisis estructural mediante rayos X

P7.1.2.3

Mtodo de Debye-Scherrer:
Determinacin de la distancia
reticular interplanar de muestras
de polvo policristalino
Objetivos del experimento
g Evaluacin de fotografas de Debye-Scherrer en una muestra de NaCl y una de LiF.
g Estudio de la estructura reticular de cristales de NaCl y LiF.
g Determinacin de las constantes de red y de la distancia reticular interplanar.

Principios
Fotografas de Debye-Scherrer:
Para tomar fotografas con el mtodo de Debye-Scherrer
se transilumina una muestra de polvo cristalino con rayos X
monocromticos. El patrn de interferencia de la radiacin
dispersada se congela en una pelcula para rayos X. La
muestra de polvo contiene diminutos monocristales de
aproximadamente 5-50 m de dimetro, denominados
cristalitos. Un conjunto de planos reticulares en un cristalito
lleva a una reflexin - difraccin sobre una pelcula para
rayos X si est alineado de tal manera que se cumpla la
condicin de Bragg
n = 2 d sin
(I)
n: orden de difraccin, : longitud de onda
d: distancia reticular interplanar,
: ngulo de Bragg relativo al rayo primario.
(ver Fig. 2 y experimento P6.3.3.1). El ngulo entre la
reflexin - difraccin y la pelcula, que est alineada en
forma perpendicular al rayo primario, es 2.
Fig. 1

Esquema del montaje para tomar fotografas de DebyeScherrer

Tubo de rayos X
Filtro de Zr
Colimador

d Muestra
e: Pelcula para rayos X

Cuanto ms fino es el polvo, ms uniformemente se

alinearn las reflexiones individuales de los cristalitos para
formar un crculo.
El patrn de difraccin completo es un conjunto de crculos
concntricos. Por las ecuaciones (I) y (II), cada radio R
corresponde a una determinada distancia reticular
interplanar d y un determinado orden de difraccin n o,
d
ms precisamente, a una determinada relacin d = .
n
Fig. 2

Ste - 1008

a
b
c

Por lo general, los cristalitos estn orientados al azar, sin

ninguna direccin privilegiada, de modo que siempre hay
algunos cristalitos en el polvo cristalino que corresponden
a una rotacin del cristalito en cuestin alrededor del eje
primario. En la disposicin de la pelcula seleccionada en
este caso, sus reflexiones - difracciones forman un crculo
sobre la pelcula de rayos X de radio
R = L tan 2
(II)
L: distancia entre la muestra y la pelcula

Reflexin de Bragg en un conjunto adecuado de planos

reticulares de un cristalito en particular en una muestra de
polvo (1: colimador, 2: conjunto de planos reticulares, 3:
pelcula).

P7.1.2.3

LD Hojas de Fsica
Se puede escribir en la forma abreviada
sin2 = F Z

Materiales
1 aparato de rayos X
o
1 aparato de rayos X

554 811

con

554 812

1 soporte de pelcula para rayos X

1 Filmpack 2

554 838
554 892

F =

2 a0

1 pistilo de porcelana de 100 mm

1 mortero de porcelana de 63 mm
1 calibre vernier de precisin

667 091
667 092
331 54

(III);

h + k2 + l2
ao: constante de red

(VII).

Dada la naturaleza de sus componentes, Z siempre es un

nmero entero. Para cristales cbicos simples, se permiten
todas las combinaciones de enteros n, h, k y l; sin
embargo, la intensidad de la reflexin - difraccin es ms
dbil para mayores rdenes de difraccin n, y mayores
ndices de Miller h,k, l.
Cristales con estructura de NaCl:
En el caso de cristales con estructura de NaCl, la situacin
es ms complicada porque aqu los tomos alcalinos (por
ejemplo, Na) y los tomos halogenuros (por ejemplo Cl) se
van alternando en una red cbica. La red espacial ya no
est compuesta de puntos reticulares sencillos con
distancia a0, sino que es una serie de celdas elementales
cbicas con una longitud de arista a0 (ver Fig. 3).

Cristales cbicos:
Si la consideracin se restringe a cristales cbicos, la
distancia reticular interplanar se puede expresar de la
siguiente forma

a0

(VI)

Z = (n h )2 + (n k )2 + (n l )2

Por ejemplo, polvo de LiF, NaCl

materiales adicionales:

d=

(V)

donde los enteros h, k, l son los ndices de Miller del

conjunto de planos reticulares en cuestin (ver
experimento P7.1.2.2). Al insertar la ecuacin (III) en la
ecuacin (I), se obtiene la forma cuadrtica
2

(n h )2 + (n k )2 + (n l )2
sin2 =

2a0

(IV)

Notas de seguridad
El aparato de rayos X cumple con todas las normas
vigentes para equipos de rayos X; es un dispositivo
totalmente protegido para usos educativos, y es del
tipo cuyo uso en escuelas est permitido en Alemania
(NW 807 / 97 R).

Fig. 3

Celda elemental de un cristal de NaCl.

Cada celda elemental contiene cuatro tomos alcalinos

con las coordenadas

La proteccin integrada y las medidas del blindaje

reducen la intensidad de dosis local en el exterior del
aparato de rayos X a menos de 1 Sv/h. Este valor se
encuentra en el orden de magnitud de la radiacin de
fondo natural.

a
a
a
a
r1 = (0, 0, 0 ) , r 2 = 20 , 20 , 0 , r3 = 20 , 0, 20 ,

a
a
r 4 = 0, 20 , 20

g Antes de comenzar a utilizar el aparato de rayos X,

verifique que no se encuentre daado y asegrese
de que la alta tensin se interrumpa cuando se
abren las puertas corredizas (ver Hoja de
Instrucciones para el aparato de rayos X).

y cuatro tomos halogenuros con las coordenadas

g No permita el acceso de personas no autorizadas

al aparato de rayos X.

El rayo X entrante es dispersado en cada tomo de la

celda elemental, por lo que las amplitudes de las ondas
parciales dispersadas dependen del nmero atmico del
tomo. La diferencia de recorrido i de las ondas parciales
se puede calcular a partir de las coordenadas ri de los
tomos:

Evite el sobrecalentamiento del nodo del tubo de

rayos X de Mo.
g Al encender el aparato de rayos X, verifique que el
ventilador en la cmara del tubo est girando.

r5 =

a0
2

a
a
, 0, 0 , r 6 = 0, 20 , 0 , r7 = 0, 0, 20 ,

r8 =

a0
2

a0
2

a0
2

i = (s1 s 2 ) r i

(VIII)

s1: vector unitario en la direccin del rayo primario

s2: vector unitario en la direccin de la reflexin - difraccin

P7.1.2.3

LD Hojas de Fsica
Las ondas parciales dispersadas en los tomos alcalinos A
y los tomos halogenuros H interfieren y forman una onda
comn que es dispersada en la celda elemental. La
amplitud de esta onda tiene la forma
A = A A + AH
(IX)
con

2
2
2
2
1 + cos
2 + cos
3 + cos
AA = fA cos
4

2
2
2
2
AH = fH cos
5 + cos
6 + cos
7 + cos
8

Todas las ondas que comienzan a partir de las celdas

elementales interfieren constructivamente si se cumple la
condicin de Bragg (I), lo que equivale a la condicin de
Laue, que se puede expresar de la siguiente forma
1
s1 s 2 = G con G = (h, k, l )
(X)
a0
Fig. 4

para cristales cbicos (ver experimento P7.1.2.2). Al

insertar las ecuaciones (X) y (VIII) en (IX) se obtiene

A A = f A (1 + cos((h + k ) ) + cos((h + l ) ) + cos((k + l ) ))

y

AH = fH (cos(h ) + cos(k ) + cos(l ) + cos((h + k + l ) ))

Un breve clculo muestra que

A=

4 fA + 4 fH ,

si h, k y l son pares

4 fA 4 fH ,

si h, k y l son impares

0,

si h, k y l son mixtos

(XI)

Montaje experimental para tomar una fotografa de

muestras de polvo policristalino con el mtodo de DebyeScherrer.

La granulosidad fina con un dimetro de grano inferior a los

10 m se logra moliendo cuidadosamente la sal, por
ejemplo NaCl o LiF en un mortero una vez seca. Dado que
las sales son muy transparentes, la capa transiluminada
debe ser de un grosor suficiente para que aparezcan
patrones de difraccin marcados.
Si se eligen muestras metlicas con una fuerte atenuacin,
por ejemplo polvo de Fe o Al, stas deben ser muy finas.
En el caso de polvos metlicos, el tamao de los grnulos
es generalmente fijo; por lo tanto el polvo metlico de
grano grueso no es para nada apropiado.

Por lo tanto, las amplitudes A de las ondas que comienzan

a partir de las celdas elementales slo difieren de cero si
todos los ndices h, k, l son pares o si son todos impares.
Una combinacin de ndices pares lleva a una amplitud A
mayor que una combinacin de ndices impares. Para otras
estructuras cristalinas se aplican otras reglas de seleccin.

Montaje y realizacin del experimento

La Fig. 4 muestra el montaje del experimento.

Evaluacin de una fotografa de Debye-Scherrer:

En este experimento se toman fotografas a cristales con
estructura de NaCl con el mtodo de Debye-Scherrer. Los
ngulos de Bragg se obtienen segn la ecuacin (II) a
partir de los radios R de los anillos de difraccin y la
distancia L entre la muestra y la pelcula. Para la
2
evaluacin,
los
valores
asociados
de
sin se
descomponen en un factor constante F y el entero Z ms
pequeo (ver ecuacin (V)) cuyos ndices de Miller h, k, l
satisfagan las reglas de seleccin (XI).
A partir del valor medio de los factores F obtenidos de la
fotografa de Debye-Scherrer y la longitud de onda de la
radiacin K del molibdeno ( = 71,1 pm), se puede
calcular la constante de red a0 aplicando la ecuacin (VI).
Luego, las distancias reticulares interplanares d se
obtienen con la ecuacin (III).

- De ser necesario, retire el gonimetro o el capacitor de

placas para rayos X.
- Desmonte el colimador, coloque el filtro de Zr (a) (de los
elementos suministrados con el aparato de rayos X) en
el lado donde entran los rayos en el colimador y vuelva
a insertar el colimador.
a) Fotografa de Debye-Scherrer del NaCl:
- Muela cuidadosamente la sal seca de NaCl en el
mortero e incruste una capa de aproximadamente 0,4
mm de espesor entre dos trozos de cinta adhesiva
transparente.
-

Seleccin de la muestra:

Sujete cuidadosamente la muestra (c) al diafragma de

agujero (b) usando cinta adhesiva (de los elementos
suministrados con el soporte para pelculas para rayos
X), y coloque el diafragma sobre el colimador.

Sujete la pelcula de rayos X (d) al soporte para

pelculas de modo que quede centrado en el rea
marcada, y asegrese de que toda la superficie de la
pelcula se mantenga plana.
- Sujete el soporte para pelculas al riel, y coloque el riel
dentro de la cmara de experimentacin del aparato de
rayos X.
-

Una muestra apropiada consiste en una pequea cantidad

de polvo fino incrustado entre dos trozos de cinta adhesiva
transparente en una capa de aproximadamente 0,1 a 0,5
mm de espesor. Esta muestra queda centrada en el rayo
primario que atraviesa el diafragma de agujero.

P7.1.2.3

LD Hojas de Fsica

Fabrique un separador de cartn de 13 mm de largo y

mueva el soporte para pelculas de modo que la
distancia entre la muestra y la pelcula sea de 13 mm
(modificando la distancia entre la muestra y la pelcula,
se modifica el rea cubierta en la fotografa).
- Fije la alta tensin del tubo U = 35 kV, la corriente de
emisin I = 1,0 mA y = 0,0.

Evaluacin

- Determine el dimetro D de los anillos de difraccin con

el calibre vernier de precisin.
- Calcule el ngulo de Bragg usando la ecuacin (II)
2
para obtener sin .
- Adivine el factor entero Z y use la ecuacin (V) para
calcular el factor F.

Seleccione el tiempo de medicin t = 14400 s, e inicie

el temporizador de exposicin con el botn SCAN.
Si el tiempo de exposicin es mayor, las reflexiones
cerca del centro se hacen borrosas por los rayos X sin
dispersar; sin embargo, se pueden discernir las
estructuras que estn ms lejos del centro.

a) Fotografa de Debye-Scherrer del NaCl:

Tabla 1: Descomposicin de los valores de sin2 en los
factores F y Z.

Una vez transcurrido el tiempo de exposicin, retire el

riel con el soporte para pelculas de la cmara de
experimentacin.
- Quite la pelcula de rayos X del soporte y revlela segn
la hoja de instrucciones de la pelcula para rayos X.
-

b) Fotografa de Debye-Scherrer del LiF:

- Cambie la muestra de NaCl por la muestra
cuidadosamente molida de LiF.
- Coloque una nueva pelcula de rayos X en el soporte, y
realice nuevamente el montaje del riel de
experimentacin con el soporte para pelculas.
- Inicie el temporizador de exposicin con el botn SCAN.
- Una vez transcurrido el tiempo de exposicin, retire la
pelcula de rayos X del soporte y revlela.

D
mm

sin 2

10,0

10,5

0,033

0,0042

12,5

12,8

0,049

12

0,0041

3*

14,5

14,6

0,063

16

0,0040

17,0

16,6

0,082

20

0,0041

19,3

18,3

0,099

24

0,0041

6*

23,0

20,7

0,125

32

0,0039

25,0

21,9

0,139

6
4

0
4

0
2

36

0,0039

28,0

23,6

0,160

40

0,0040

* slo dbil

Ejemplo de medicin
b) Fotografa de Debye-Scherrer del LiF: (ver Fig. 6)

En la Tabla 1 se enumeran los factores F y Z como

resultado de la descomposicin de los resultados
2
experimentales para sin , as como tambin los ndices
de Miller h, k, l asociados, y el orden de difraccin n.

Fig. 5

Fig. 6

a) Fotografa de Debye-Scherrer del NaCl: (ver Fig. 5)

Seccin de la fotografa de Debye-Scherrer del NaCl

(U = 35 kV, I = 1 mA, L = 13 mm, t = 4 h, espesor = 0,4
mm).

Seccin de la fotografa de Debye-Scherrer del LiF

(U = 35 kV, I = 1 mA, L = 13 mm, t = 4 h, espesor = 0,4
mm).

P7.1.2.3

LD Hojas de Fsica
El valor medio de los factores F es 0,00403. A partir de ah
se puede calcular la constante de red del NaCl:

a0 =

= 560 pm
2
F

Valor citado en la bibliografa [1]: a0 = 564,02 pm

En la Tabla 2 se proporcionan las distancias reticulares
interplanares calculadas a partir del valor de bibliografa de
a0 y la ecuacin (III).
Tabla 2: Distancias reticulares interplanares d que aportan
a la fotografa de Debye-Scherrer del NaCl.
N

d
mm

199

163

En la Tabla 3 se enumeran los factores F y Z como

resultado de la descomposicin de los valores
experimentales para sin2, as como tambin los ndices
de Miller h, k, l asociados, y el orden de difraccin n. El
valor medio de los factores F es 0,00767. A partir de ah se
puede calcular la constante de red del LiF:

a0 =

= 406 pm
2 F

Valor citado en la bibliografa [1]: a0 = 402,8 pm

En la Tabla 4 se proporcionan las distancias de plano
reticular calculadas a partir del valor de bibliografa de a0 y
la ecuacin (III).
Tabla 4: Distancias de plano reticular d que aportan a la
fotografa de Debye-Scherrer del LiF.
N

d
mm

141

201

126

142

115

116

100

101

6
4

0
4

0
2

94

90

89

82

Resultados

b) Fotografa de Debye-Scherrer del LiF:

2
Tabla 3: Descomposicin de los valores de sin en los
factores F y Z.

D
mm

sin 2

10

10,5

0,033

0,0083

14

14,2

0,060

0,0075

18

17,4

0,089

12

0,0074

22

20,1

0,118

16

0,0074

27

23,0

0,153

20

0,0077

32

25,5

0,185

24

0,0077

Una fotografa de Debye-Scherrer es una fotografa de

difraccin de una muestra de polvo con rayos X
monocromticos.
En un plano perpendicular al rayo primario, las reflexiones
individuales de los cristalitos forman un sistema de anillos
de difraccin concntricos. stos son ms densos y ms
uniformes cuanto ms fino es el polvo cristalino. Los
mximos de intensidad que se presentan en los anillos son
causados por cristales ms grandes, probablemente
resultantes de un molido insuficiente.
Se pueden sacar conclusiones referentes a la estructura
del cristal a partir de las reglas de seleccin relativas a los
conjuntos de planos reticulares.

Bibliografa
[1] Handbook of Chemistry and Physics, Edicin N 57
(1976-77), CRC Press Inc., Cleveland, Ohio, USA.

LD Didactic GmbH Leyboldstrasse 1 D-50354 Huerth / Alemania Tel.: (02233) 604-0 Fax: (02233) 604-222 e-mail: info@ld-didactic.de
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Impreso en la Repblica Federal de Alemania

Se reservan las alteraciones tcnicas