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LABORATORIO EE-435

INFORME FINAL N1

Circuitos de Control y Disparo sobre


SCR
Alumno:
Rojas Laura, Kevin Harnold
Fecha de Entrega:
22 de Abril de 2014

Facultad de Ingeniera Elctrica y Electrnica

Universidad Nacional de Ingeniera

Laboratorio de Electrnica Industrial

1.-

RESULTADOS DE LA EXPERIENCIA

1.1.- CIRCUITO A:

Figura1. Circuito A simulado en Proteus ISIS.


RESULTADOS EXPERIMENTALES:
De la experiencia obtuvimos los siguientes resultados
%POT (R3)

VR2=10K*2.4mA

VL

7.5

24.8V

46V

4.84

29.4K

25.2V

95V

19.17

60.5K

23.8V

155V

33.12

91K

24.8V

180V

54

Laboratorio 1

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Laboratorio de Electrnica Industrial

Figura2. Resultados de la experimentacion, visualizado en osciloscopio. Angulo de


dispara entre 0-45.

Figura3. Resultados de la experimentacion, visualizado en osciloscopio. Angulo de


dispara entre 45-90.

Laboratorio 1

Pgina 3

Laboratorio de Electrnica Industrial


CONCLUSIONES:

Se pudo comprobar cmo se pudo variar el ngulo de de disparo desde < 0 90>.
Esto se muestra en las Figuras2 y 3.
Experimentalmente se verifico que la corriente de disparo IGT vari un poco ya que en
la resistencia de 2K el voltaje oscilo en valores cercano a 24V, este valor no fue fijo y
eso se debe a q las caracterstica elctricas del SCR varan segn la temperatura o el
voltaje entre ctodo y nodo.

1.2.- CIRCUITO B:

Figura 4. Esquema de la simulacion en Proteus.

Datos tomados en la experimentacin el Laboratorio:

Laboratorio 1

%POT (R6)

VDisparo

7.5
17.1K
30K
56.5K

30V
76V
108V
164V

5.55
14.18
20.37
31.92

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Laboratorio de Electrnica Industrial


89K

210V

47.3

Comparando los valores tericos con los experimentales:

i (Teorico)

i (experimental )

Error (%)

5.15
13.38
19.77
33.9
55.8

5.55
14.18
20.37
31.92
47.3

7.767
5.979
2.95
5.84
15.233

CONCLUSIONES:

En el circuito 2 pudimos observar como el ngulo de disparo poda aumentar


gracias a que el condensador produce un retraso en la corriente de disparo con lo
cual se puede alcanzar valores mayores a 90, incluso cercano al 180.
Se desarrollo una frmula para calcular el ngulo de disparo en funcin del valor
del condesador y esto lo pudimos corroborar con los datos teoricos.

1.3.- CIRCUITO C:

Circuito de Disparo con UJT, simulado en Laboratorio


Datos de Obtenidos en la experimentacin:
Laboratorio 1

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Laboratorio de Electrnica Industrial


%POT R6
7K
20K
30K
50K
100K

V Disparo
52V
122V
148V
182.1V
39.30V

Datos tomados en el laboratorio:


%POT R6
7K
20K
30K
50K
100K

V Disparo
60V
120V
150V
182V
35V

Comparando los valores tericos con los experimentales:

V Disparo (Teorico)

V Disparo (experimental)

Error (%)

52V

60V

13.32%

122V

120V

1.67%

148V
182.1V

150V
182V

1.334%
0.05%

39.30V

35V

12.2%

Laboratorio 1

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Laboratorio de Electrnica Industrial

Figura x. Disparo en el rango de 10 -180 grados.

CONCLUSIONES:

Como pudimos observar en este circuito se pudo alcanzar un gran barrido del
ngulo de disparo desde 0 hasta 180 , esto se debe a que el oscilador de
relajacin permite un retraso mejor que el condensador, ya que este oscilador
funciona como carga y descarga.

1.4.- CIRCUITO D:

Laboratorio 1

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Laboratorio de Electrnica Industrial

Figura. Circuito propuesto para la experiencia, simluado en ISIS.


Datos obtenidos en el experimento:
POTENCIOMETRO
114
193.7
296
386
508
984
23 K

Laboratorio 1

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Voltaje de disparo
304
180
136
100
74
42
12

Laboratorio de Electrnica Industrial

Figura . Circuito D en funcionamiento implementado en el laboratorio.


CONCLUSIONES:

En el circuito D pudimos observar como el ngulo de disparo del SCR variaba


inversamente con el potencimetro.
Tambien se pudo observar como el el Volatje de disparo mantena una relacin
inversamente proporcional con el potenciometro

Laboratorio 1

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