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A Metalografia quantitativa automtica utilizada como ferramenta

no controle de qualidade de aos para estruturas metlicas
LTIMAS NOTCIAS

Resumo
Atravs do emprego de diferentes equipamentos e aliado a modernas tcnicas, pode-se analisar pequenas e

21.11.11 - Luvas de borracha

nitrlica garantem proteo no
trabalho

microscpicas estruturas.
O aprimoramento das tcnicas de caracterizao microestrutural necessrio, pois o desenvolvimento de bons
produtos requer, cada vez mais, o real domnio das relaes entre os parmetros dos seus processos de
obteno e suas caractersticas microestruturais.
A metalografia quantitativa vem sendo beneficiada pelas tcnicas de processamento digital de imagens, no que
se refere a medies como, tamanho de gro, frao volumtrica de fases e microdureza, devido a um
considervel aumento na confiabilidade estatstica dos resultados e na velocidade de anlise.

21.11.11 - Seminrio reunir

profissionais do setor de
esquadrias de alumnio
21.11.11 - Perfis Laminados e
produtos certificados so
destaque da Gerdau na
Construir Rio 2011

Introduo

21.11.11 - Museu do ao
participa da 9 bienal

O conhecimento da composio microestrutural de um material de fundamental importncia nas suas

propriedades mecnicas. A quantificao dessas microestruturas permite um melhor controle de qualidade do
material.

internacional de arquitetura
18.11.11 - Expo Estdio contar
com a participao da Mehler

Atualmente com a possibilidade da utilizao de uma placa de digitalizao targa adaptada a um

microcomputador e com o programa exclusivo do analizador de imagem que se processa em ambiente
Windows, obtm-se as quantificaes das microestruturas com preciso e rapidez.

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Mais notcias

Uma imagem torna visvel para o olho humano tal como uma srie contnua de brilho e cor. Basicamente, o
procedimento para a anlise de imagens realiza transformaes sobre trs tipos de imagem : a) imagem de
vdeo, que um conjunto de sinais eletrnicos; b) imagem digitalizada, que uma traduo padronizada e
congelada da imagem de vdeo ou analgica; c) imagem binria, a partir da qual a informao desejada
poder ser extrada.
Quando uma imagem digitalizada esta convertida em valores numricos, isto , transformada em um padro
de elemento de imagem, ou pixel. Cada pixel tem um valor numrico correspondente a sua posio, brilho e/ou
cor. Usando esses valores, a imagem pode ser medida e analisada matematicamente, modificada e
armazenada como um arquivo de imagem. O processo baseado em modificaes da localizao do pixel e
brilho.
A passagem da imagem digitalizada para imagem binria se faz atravs de uma discriminao : os valores dos
pixels, que podem variar de 0 a 255, so reduzidos para dois nicos valores : (0 e 1 ou preto e branco).
Esta resduo feita atravs de algortimos de segmentao. Geralmente, as regies brancas correspondem
aos objetos e as regies pretas ao fundo, podendo ser tambm o inverso.

Metalografia Quantitativa
A metalografia quantitativa uma ferramenta extremamente til no estudo de fenmenos metalrgicos, gerando
informaes que eventualmente podem embasar o correto dimensionamento de processos industriais.
A seguir, alguns exemplos da aplicao desta tcnica no estudo de fenmenos metalrgicos.
recristalizao e crescimento de gro: determinao do tamanho e da superfcie especfica dos gros
cristalizados, bem como medida da frao recristalizada, aps laminao a quente ou tratamento trmico;
precipitao: determinao de frao volumtrica, tamanho e grau de disperso dos precipitados;
transformao de fases: determinao de frao volumtrica e dureza de fases como auxlio na determinao
de diagramas TRC ou aps a laminao a quente de aos bifsicos;
solidificao: determinao da morfologia da grafita e da microestrutura dos ferros fundidos em termos gerais.
Quanto caracterizao da microestrutura e sua correlao com as propriedades mecnicas, h mais de uma
dcada esto sendo feitos estudos sistemticos, particularmente no aso dos aos. Tais trabalhos so de
fundamental importncia, pois no s a dureza e as fraes das fases presentes na microestrutura definem a
resistncia mecnica e a dutilidade do material: a morfologia ou formato das fases, bem como a natureza e
a densidade dos contornos presentes podem atuar de maneira fundamental. Dentro desta linha de pesquisa h
estudos voltados para diversos tipos de aos:

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microligados: relao entre resistncia mecnica, dutilidade e propriedades de impacto em funo do

tamanho de gro ferrtico e frao volumtrica de perlita;
bifsico dual phase: caracterizao topolgica da microestrutura dual; relaes estatsticas entre as
propriedades mecnicas e o tamanho de gro e frao volumtrica das fases; modelamento matemtico da
microestrutura e propriedades mecnicas; relaes estatsticas entre o espaamento da segunda fase e
sua frao em volume como o coeficiente de encruamento do material;
incluses no metlicas: determinao do grau de limpeza do ao, caracterizando a frao em volume e a
morfologia das incluses no metlicas xidos, sulfetos, nitretos que ele possas conter.

Descrio dos Programas

Os projetos sempre estipulam que as amostras devem ser analisadas em termos de:
- tamanho de gro da microestrutura
- frao volumtrica fase
- dureza Vickers ( global ou de fases discretas );
Normalmente a microestrutura varia estatisticamente de um ponto a outro da amostra que est sendo
analisada. Logo, para que o valor final do parmetro em estudo tenha significado estatstico, necessrio que
ele seja calculado a partir da mdia de um nmero mnimo de observaes ou campos metalogrficos - , o
qual funo grau de flutuao estatstica das medidas na microestrutura e da preciso desejada. A
necessidade de clculos estatsticos motivou o desenvolvimento dos programas para microcomputador para o
clculo dos parmetros acima e de sua anlise estatstica a partir de um nmero relativamente grande de
campos metalogrficos - o qual variou normalmente entre 20 e 130.
Tais programas permitem entrada flexvel dos dados (via teclado e/ou arquivo em disco flexvel, com recursos
de supresso da dados errados e insero de novos dados via teclado e/ou arquivo), sua listagem em monitor
ou impressora e seu armazenamento em disco flexvel. Como resultado estes programas calculam o respectivo
parmetro de metalografia quantitativa juntamente com sua anlise estatstica, que consiste no clculo de sua
mdia, desvio padro, nmero de medidas necessrio para se alcanar preciso de 1, 3 e 5%, a preciso
percentual efetivamente obtida, preciso da mdia e sua faixa de variao. O relatrio de resultados pode ser
visto no monitor ou impresso.
Tamanho de gro da microestrutura A determinao do tamanho feita atravs da sobreposio de uma
linha-teste sobre a imagem da microestrutura em estudo e contando-se o nmero de intersees dos contornos
de gro da microestrutura com ela. Essa linha-teste pode ser um segmento de reta ou um crculo, com
comprimento conhecido. Recomenda-se o uso de crculos quando se quer evitar o efeito da orientao
preferencial dos gros, minimizando-se desta forma o erro estatstico produzido.

(clique nas imagens para ampli-las)

Frao Volumtrica A determinao da frao volumtrica de uma fase particular presente na microestrutura
feita atravs da aplicao de uma rede sobre a imagem da microestrutura, e contando-se o nmero de pontos
coincidentes entre a rede e a fase em estudo. Essa contagem pode ser feita em fotos ou diretamente no
microscpio. A frao volumtrica da fase calculada a partir da mdia do quociente do nmero de pontos total
da rede a partir das diversas medidas efetuadas

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Dureza Vickers Como se sabe, o ensaio de dureza Vickers consiste em se aplicar, sob uma carga
preestabelecida, um penetrador piramidal sobre a superfcie polida do material em estudo. A impresso, assim,
tem o aspecto de uma pirmide, e o valor de dureza calculado a partir da mdia das duas diagonais de sua
base, que forma um losango regular. Essas diagonais so medidas atravs de uma ocular presente na mquina
de dureza.
A magnitude da carga a ser aplicada no ensaio funo da dureza do material em estudo, gerando uma
impresso regular, sem deformao e com tamanho adequado para medio atravs da ocular da mquina.
Obviamente, para um mesmo material, quanto maior o valor da carga maior ser a impresso produzida. A
seleo do valor de carga permite ainda a medio da dureza de fases discretas da microestrutura, que devem
ser reveladas previamente atravs de polimento e ataque metalogrfico. Neste caso, o valor da carga tem de
ser pequeno 25 a 50g, ou at menos. A dureza assim medida representa um grande auxlio na identificao
de fases ou dos mecanismos metalrgicos que a geraram. O programa requer os seguintes dados: carga
utilizada, e para cada ensaio, o tamanho das duas diagonais da impresso

(clique nas imagens para ampli-las)

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Clculo e Levantamento dos Parmetros de Metalografia Quantitativa

a) Tamanho de Gro e Frao Volumtrica de Fases Para a determinao de parmetros e implementao
destes ao sistema, utiliza-se basicamente os conceitos de anlise pontual e anlise do nmero de
configuraes com respectivas equaes.
Anlise Pontual : Onde o elemento geomtrico usado para quantificar o ponto e seu principal
parmetro Pp (frao pontual, ou seja nmero de pontos que caem no interior da configurao de
interesse, em relao ao nmero total de pontos de ensaio). comum utilizar-se grelhas ou reticulados para
a contagem de pontos quando se deseja determinar a frao volumtrica de determinadas fases em
materiais. Esta (Vv), guarda estreita relao com a frao pontual, pois Vv = Pp .
Anlise do Nmero de Configuraes : Onde determina-se o nmero de configuraes interseccionadas
por uma linha ou rea de ensaio determinadas, podendo-se extrapolar para o clculo de configuraes por
unidade de volume, atravs dos parmetros de NL e 3 . Estes parmetros so ento relacionados pelas
seguintes equaes :

Nmero de Configuraes por Unidade de Comprimento da Linha de Ensaio, NL

determinada pela contagem do nmero de configuraes cortadas (NC) por uma linha de ensaio (L),
sobreposta ao campo mais o nmero de configuraes que caem nos extremos (Ni).
-1
NL = (NC + Ni) / L (mm )
Este tipo de anlise bastante utilizado quando se deseja determinar reas mdias de uma segunda fase,
podendo-se obter tambm o tamanho mdio de gros de materiais monofsicos. Para tal, conta-se o nmero
de pontos de intersees das configuraes da fase em questo com a linha de ensaio, alm das interfaces
destas com a outra fase, que tambm sejam cortadas pela linha. Estes valores so quantificados pela equao
:
-1
NL = {(2PL) + (PL)} / 2 (mm )
Onde NL corresponde ao nmero de configuraes por unidade de comprimento da fase de interesse, PL o
nmero de pontos de interseo da linha com a fase de interesse e PL o nmero de pontos de interseo da
linha de ensaio com as interfaces das duas fases.
Se as partculas estiverem todas separadas, teremos PL = 0. Da mesma forma, para materiais monofsicos,
PL = 0 e PL = NL , ou seja, o espao todo ocupado por gros ou clulas.
Para obter-se ento, medidas referentes a tamanho mdios de partculas/gros, utiliza-se, em conjunto com a
equao acima, a equao descrita a seguir :
3 = d = Vv / NL (cm)
onde 3 se caracteriza como o tamanho mdio dos gros ou partculas da fase a qual se deseja estudar, em
centmetros, que tambm corresponde ao dimetro mdio destes, d , obtidos a partir da frao volumtrica da
fase em questo sobre o nmero de configuraes por unidade de comprimento da linha de ensaio. Para
materiais monofsicos, em que VV assume o valor de 1, a equao se resume a :
3= d= 1 / NL (cm)
O valor de d, pode tambm ser obtido por :
d = LT / P . M (cm)
onde LT o comprimento total da linha teste, P o nmero de intersees com contornos e M o aumento.
Tamanho de Gro A implementao do tamanho mdio de gro tambm se realiza de forma anloga
metalografia quantitativa, seguindo a norma ASTM E 112 . Utiliza-se a anlise do nmero de configuraes,
com a sobreposio imagem de certa quantidade de linhas. Sendo assim, efetuada uma verificao ao
longo da linha a qual a reta ocupa para determinar-se as transies entre branco e preto e vice-versa, ou seja,
as intersees da reta de medida com os aspectos a serem quantificados. Desta forma, obtm-se NL e a partir
da efetua-se facilmente a determinao de L3 . Com isto o tamanho de gro quantificado para materiais
bifsicos e monofsicos.
A medida do tamanho de gro (G) padro ASTM utiliza-se da expresso :
TG = - 10,00 6,64 log (Ltotal / P)
Onde Ltotal o comprimento total da reta de medida em centmetros e P o nmero de interceptos da reta
com os contornos de gro. A reta de medida pode ser composta de um nmero grande de retas menores.
Estas retas podem ser geradas sob a forma de um conjunto de retas paralelas de mesmo comprimento,
horizontais ou verticais, retas concntricas ou retas de comprimento aleatrio com distribuio tambm
aleatria.
Este tipo de medida envolve uma calibrao que permita relacionar um certo nmero de pixels com uma
distncia real (1m = 1,06667 pixels para distncias na horizontal e aumento de 50x, para um aumento de 20x,
a relao pixel/m ser de 0,4228 pixel/m). Para isso utiliza-se uma micro-rgua de 1mm dividido em 100
partes cuja imagem digitalizada em diversos aumentos. Em seguida, utiliza-se um recurso do programa
denominado corte em linha, que permite medir o nmero de pixels entre dois pontos horizontais ou verticais
quaisquer da imagem. Estas medidas fornecem os seguintes padres : 100 m = 24 pixels na horizontal (100x)
, 100 m = 30 pixels na vertical (100x) e proporcionalmente para outros aumentos. Estes valores esto de
acordo com a razo de aspecto esperada entre distncias horizontais e verticais (0,8 0,9). Isto indica que as
distores geradas pelo sistema no so substnciais.
Frao em rea O levantamento dos parmetros para frao volumtrica realizado de forma anloga a da
metodologia utilizada em metalografia quantitativa para obteno de PP por rede de pontos, seguindo a norma
ASTM E 562 .
P / V x 100

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P = mdia das fases contadas, V = nmero de ns da grade de medio

Uma grade quadrada de medida superposta imagem e as intersees entre os ns da grade e a fase de
interesse so contabilizadas. Esta rede de pontos gerada por algortimos de imagens pode conter at 52900
pontos (230 X 230). O nmero total de pontos da imagem (244 x 256 = 62464) no utilizado para evitar
problemas adivindos de defeitos das bordas da imagem. Esta rede colocada de forma a conhecer-se as
coordenadas dos pontos de interseo (ou ns) das retas horizontais e verticais da rede. Com isto, realiza-se
uma verificao sobre estes ns, checando-se a intensidade deste ponto, ou seja, se este ponto possui o tom
= 63 (branco), tom = 0 (preto) ou tom intermedirio (cinza). A frao pontual ento calculada pela razo entre
a quantidade de pontos pretos, brancos ou cinza, sobre a quantidade total de pontos da rede.
Como PP = VV, obtem-se facilmente as fraes volumtricas das fases presentes. A capacidade do sistema
produzir resultados satisfatrios dentro de um intervalo de confiana, est associado ao nvel de contraste
entre as fases que se deseja medir. Aps a imagem ser digitalizada e filtrada as fases em destaque so
separadas, remapeando-se as intensidades de pixel e ajustando-se o histograma da imagem rescalonando
seus nveis de cinza, de tal forma que a imagem fique exclusivamente em preto e branco.
b) Microdureza ASTM E 384 A microdureza a medida da dureza de formaes microscpicas ou cristais de
metais e sees extremamente delgadas. O processo consiste em trazer a superfcie do material altamente
polida e/ou atacada para baixo de uma ponta de diamante, lapidada com preciso, em trs factas, formando
entre si um ngulo slido, reto, sendo o ponto de interseo a ponta de trabalho, sob a presso determinada
de 3 gramas, para os casos comuns, e 9 gramas para materiais duros, durante um tempo de 15 segundos.
Para se obter o resultado, mede-se com preciso a largura da impresso, pelo uso de um microscpio ptico
perfeitamente calibrado. Assim se verifica que a dureza inversamente proporcional ao quadrado da largura do
corte. Matematicamente, isto expresso pela frmula :
-2
4
K = . 10
na qual K representa a microdureza e a medida da largura da impresso, em microns. A frmula
multiplicada por 10 elevado quarta potncia para evitar decimais longas.
O ensaio de dureza um controle indispensvel no exame e seleo de materiais. O mtodo de microdureza
Vickers o mais usado para o estudo das fases de uma estrutura, geralmente trabalhando com cargas que
oscilam entre 0,005 a 0,2 Kg. Este mtodo est baseado na resistncia que um material oferece penetrao
de uma pirmide de diamante de base quadrada e ngulo entre faces de 136, sob uma determinada carga. O
valor da dureza Vickers (HV) o quociente da carga aplicada F pela rea de impresso S :
HV = F / S
Para a medio da microdureza a amostra preparada colocada na platina do microscpio, a carga de ensaio
selecionada e ento aplicada sobre a rea de medio por cerca de 10 a 30 segundos. O penetrador
retirado, fazendo-se ento a medio das diagonais da penetrao. O resultado obtido desta medio
plotado na frmula seguinte ou lido diretamente em tabelas.

Esta frmula pode ser ainda expressa como:

onde : Z o comprimento da aresta em mcrons.

Concluso
A metalografia quantitativa automtica uma ferramenta simples e rpida que vem se firmando cada vez mais
como uma tcnica experimental de grande utilidade tanto no estudo de fenmenos metalrgicos como na
caracterizao das microestruturas e sua correlao com as propriedades mecnicas.

Bibliografia
[1] CHERMANT, J.L. Les memoires el etudes scientifiques de la revue de metallurgie, Janvier 1986, 15 34.
[2] EXNER, H.E. Acta stereologica, 1987, 6/III, 1023 1028.
[3] UNDERWOOD, E. Quantitative Stereology, Addison Wesley Publishing Company, Reading, 1970, 274 p.
[4] PADILHA. A F. E AMBROZIO, F. Tcnicas de anlise microestrutural. So Paulo, Hemus Editora, 1985,
Cap. 5.
[5] ROCHA, A. C. e PACIORNIK, S. Levantamento de Parmetros e Implementao de Clculo de
Metalografia Quantitativa por Processamento Digital de Imagens. In.: 49 Congresso da ABM, Vol.: III, So
Paulo, outubro de 1994.

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[6] CASARIN, S. J. e ROLLO, J. M. D. A. Aplicao da Tcnica de Anlise de Imagem em um Ao C-Mn-B,

para Caracterizao Quantitativa de Fases e Precipitados. In.: 50 Congresso da ABM, Vol.: 2 , So Pedro, SP,
agosto de 1995.
[7] SILVA, E. C. ; ROLLO, J. M. D. A. ; LORENZO, P. L. Correlao entre Anlise de Imagem e Microestrutura
de Aos de Alta Resistncia e Baixa Liga . In.: 50 Congresso da ABM, Vol.: 2 , So Pedro, SP, agosto de 1995.
[8] PUJOL, J. F. C. et all Um Analisador de Imagens de Materiais para Avaliao Quantitativa de
Microestruturas. In.: 47 Congresso da ABM, Vol.: I, Belo Horizonte, MG , 1992.

Autores:
Shimeni Batista Ribeiro Daer
Engenheira Metalurgista
Depto. de Ps Graduao em Engenharia - Metalrgica da Universidade Federal Fluminense.
Pesquisadora Cientfica
Eva Rolim
Pesquisadora Cientfica Independente
Especialista em Marketing e Gesto de Recursos Humanos
Professora de MKT Empresarial da FASF
Aluna de Mestrado em Engenharia Metalrgica da UFF
Andr Luis de Brito Baptsta
Tcnico de Mtodos e Processos / Ensino e Pesquisa da UFF / EEIMVR
Pesquisador da Diviso de Metalurgia da Spectru Ltda
Aluno de Graduao Bacharelado em Administrao de Empresas
Faculdade SulFluminense FASF
Ivaldo Assis do Nascimento
Engenheiro Mecnico Senior
Gerente Tcnico da Spectru Ltda
Assis Moura Nascimento
Tcnico de Desenvolvimento Especializado em Sistemas Informatizados.- Responsvel Tcnico pela Diviso
de Informtica e Informaes Tecnolgicas da Spectru Instrumental Cientfico Ltda
Leandro Andr Chaves Baptsta
Pesquisador Junior
Diviso de Metalurgia da Spectru Ltda

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