ALUMNO: ROMAN NOLE MANUEL HERNAN

CODIGO : 12160020

La idea original del microanlisis utilizando los rayos X secundarios,

generados por un haz de electrones focalizados sobre una muestra
slida pulida, fue de Raimond Castaing (Castaing y Guinier, 1950;
McGee y Keil, 2001). Indiscutiblemente, la comunidad geolgica
est en una eterna deuda de gratitud con Raimon Castaing
(vase revisin de McGee y Keil, 2001).

QU ES LA MICROSONDA
ELECTRNICA?
Es un mtodo no destructivo de anlisis elemental muy valiosa en
mineraloga y petrologa, la cual permite el anlisis qumico cualitativo y
cuantitativo de sustancias solidas.
Los anlisis cualitativos : identifican los elementos presentes mediante un
espectrmetro de rayos X.
Los anlisis cuantitativos: estos comparan las lneas de rayos X con valores
estndares de composicin conocida.

En los anlisis de microsonda electrnica, el bombardeo de electrones

sobre la muestra genera rayos X que son exhaustivamente analizados.
As, con la longitud de onda o la intensidad de las lneas en el espectro de
rayos X, los elementos presentes pueden ser identificados y sus
concentraciones estimadas.

FUNDAMENTOS DE LA MICROSONDA ELECTRONICA

Cuando un haz electronico incide sobre la superficie de un solido, se
generan una serie de ondas electromagneticas, entre la catadoluminicencia y los rayos X, y se producen una emision electrnica,
Integrada por :
Electrones secundarios.
Auger.
Retrodispersados.
Transmitidos.
Absorbidos.

De todos estas complejas seales, la microsonda utiliza esencialmente los rayos X.

Ya que estos se originan como consecuencia de la ionizacin
Que sufren los tomos al ser bombardeados por electrones (o por
Otros rayos X).
En este proceso ocurre una perdida de energa que implica un salto
de un electrn a otra capa. Y esto se traduce en la emisin de una
radiacin electromagntica la radiacin de rayos X.

El sistema automatizado para el microanlisis de

rayos-X, el cual corre en ambiente Windows, tiene
las siguientes caractersticas:
1.- automatizacin computarizada completamente interactiva que
incluye haz de electrones, detectores, platina y
automatizacin de la columna
2.-adquisicin de imgenes computarizadas con anlisis de imgenes y
anlisis de fases multi-elementales
3.- mapas de rayos-X WDS y EDS, barridos lineales, y adquisicin
de mapas WDS y EDS; el procesador de pulso digital
suministra el filtro ptimo para obtener la mejor
seal.

COMPONENTE ESENCIALES DE UNA MICROSONDA ELECTRONICA

CUERPO DE SONDA
Esta integrado por el can de electrones y las lentes
electromagnticas.

Consiste en:
filamento de
Wolframio
Ctodo
nodo

Esquema de una microsonda convencional

CUERPO DE MUESTRA MICROSCOPIO OPTICO

Es el compartimiento en que se albergan las muestras y los standars.
Esta parte esta conectada a un ampermetro que mide la intensidad del
haz incidente y/o la corriente absorbida.

ESPECTROMETROS DE RAYOS X
El anlisis de la radiacin X emitida por la muestra se realiza mediante
espectrmetros de dispersin de longitudes.
Estos espectrmetros consisten en un cristal analizador, tallado de forma
que los planos de difraccin queden paralelos a su superficie, y un
detector que es normalmente un contador proporcional.

 Espectrometro dispersor de longitud de onda (WDS)

Es usado para anlisis cuantitativos, y consta de un
monocrmetro y un detector. El monocrmetro es un
cristal que dispersa los rayos-X segn la ley de
reflexin de Bragg. La mayora de microsondas
electrnicas estn equipadas con varios cristales de
diferente espaciamiento d para permitir el anlisis de
un amplio rango de longitudes de onda de rayos-X.
Espectrometro dispersor de energia (EDS)
Utiliza un detector en estado slido para analizar
simultneamente todas las energas de los fotones de
rayos-X, lo cual es una ventaja para muchas
aplicaciones tales como el mapeo composicional, el
cual requerira un largo tiempo usando el WDS

IMAGENES
El EPMA permite obtener una gran variedad de imgenes:

Electrones secundarios
Electrones retrodispersados
Rayos x
Catoluminiscencia
Las cuales son usadas con el fin de documentar visualmente
las caractersticas de una muestra.

 Imgenes de electrones secundarios (SEI):

son obtenidas por el detector de electrones
secundarios y reflejan la topografa de la
muestra.

 Imgenes de electrones retrodispersados

(BSE): son obtenidas por el detector de
electrones retrodispersados y reflejan la
composicin del espcimen.

Amgdala rellena con esmectita (borde claro) celadonita

(borde oscuro)

Imgenes de rayos-X: son producidas por

las seales de salida de los espectrmetros.
Cuando los espectrmetros
son calibrados para elementos particulares,
la imagen reflejar la concentracin de cada
elemento en el rea escaneada, facilitando
as el mapeo de rayos-X del elemento de las
fases minerales.

Detectado por espectrmetros

dispersores de longitud de onda
(WDS).

 Imgenes de ctodoluminiscencia (CL):

La CL (e.g., Hanchar & Rudnick,
1995; Kniseley & Laabs, 1973) es un
mtodo convencionalmente usado para
analizar la estructura cristalina de un
espcimen, incluyendo trazas de impurezas,
defectos reticulares y distorsin cristalina.
Algunos minerales emitirn luz en el
espectro visible cuando son excitados por un
haz de electrones

JUSTIFICACIONES PARA SU USO

Las razones que justifican la gran aplicacin del anlisis de microsonda electrnica
a la geologa, particularmente en mineraloga y petrologa, son:
Favorece el uso de las tcnicas convencionales de preparacin de secciones con slo
algunas modificaciones; es una tcnica no destructiva; permite obtener de forma
rutinaria un anlisis elemental cuantitativo con una precisin en la regin del 1% (para
Elementos mayores)
permite la determinacin de todos los elementos arriba del nmero
Atmico 10 con una gran precisin y sensibilidad, aunque con una menor sensibilidad
para aquellos entre 5 y10 (H, He y Li no son detectados)
Lmites de deteccin (tpicamente en la regin de 50 ppm) lo suficientemente bajos
para facilitar la determinacin de elementos menores y trazas en muchos casos.

Tiempo de anlisis relativamente corto (usualmente de 1 a 5 minutos); resolucin

espacial del orden de 1m, facilitando la obtencin de la mayor parte de los rasgos de
Inters.
Permite el anlisis in situ de granos minerales individuales con sus relaciones
texturales no distorsionadas y visibles.