Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
I.
DRX........................................................................................2
1. Definicin.2
2. Aplicaciones....3
3. Resultados..............6
II.
ESPECTROFOTOMETRA..............9
1. Definicin...9
2. Cuantificacin9
3. Instrumentacin.10
4. Aplicaciones...11
III.
IV.
BIBLIOGRAFIA18
DRX
1
1. DEFIINICION
Difraccin es un fenmeno de dispersin de rayos X en el que participan
todos los tomos que constituyen el material irradiado. Debido al
ordenamiento peridico de los tomos en una estructura cristalina, los
rayos dispersados en distintos tomos llevan entre si un cierto desfase,
interfiriendo en su trayectoria posterior, y solo algunos presentarn
interferencia constructiva. Las condiciones para esta interferencia, entre
ondas diferentes, se cumplen cuando:
n = 2 d sen (Ley de Bragg)
Dnde: Longitud de onda del haz incidente de rayos X (definido) d
distancia interplanar ngulo entre planos y haz incidente (especfico)
2. APLICACIONES EN DRX
DIFRACTOGRAMA
SEPARACIN DE
GRANULOMTRICA
ORIENTACIN
PREFERENCIAL
SATURACIN CON
ETILENGLICOL
3. RESULTADOS
ESPECTROFOTOMETRIA
1. DEFINICION
La espectrofotometra UV-visible es una tcnica analtica que permite
determinar la concentracin de un compuesto en solucin. Se basa en
que las molculas absorben las radiaciones electromagnticas y a su
vez que la cantidad de luz absorbida depende de forma lineal de la
concentracin. Para hacer este tipo de medidas se emplea un
espectrofotmetro, en el que se puede seleccionar la longitud de onda
de la luz que pasa por una solucin y medir la cantidad de luz absorbida
por la misma.
2. CUANTIFICACION
Ley de Lambert-Beer: La cantidad de radiacin
electromagntica absorbida por un analito se puede relacionar
cuantitativamente con la concentracin de dichas sustancias
en solucin. La transmitancia (T) se define como la fraccin de
radiacin incidente trasmitida por la disolucin. Si la potencia
radiante que incide sobre la disolucin es Po y P la potencia
radiante que sale, entonces:
Adems se
observa que la
potencia de la
energa
trasmitida
disminuye
4. APLICACIONES
10
12
1. DEFINICIN
Instrumento que permite la observacin y caracterizacin superficial de
materiales inorgnicos y orgnicos, entregando informacin morfolgica del
material analizado. A partir de l se producen distintos tipos de seal que se
generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus
caractersticas. Con l se pueden realizar estudios de los aspectos
morfolgicos de zonas microscpicas de los distintos materiales con los que
trabajan los investigadores de la comunidad cientfica y las empresas privadas,
adems del procesamiento y anlisis de las imgenes obtenidas.
2. DETECTORES
Detector de electrones secundarios (SE): es el que ofrece la tpica
imagen en blanco y negro de la topografa de la superficie examinada.
Es la seal ms adecuada para la observacin de la muestra por ser la
de mayor resolucin.
13
14
15
3. APLICACIONES
Determinacin de espesores
17
BIBLIOGRAFIA
http://www.ibt.unam.mx/computo/pdfs/met/espectrometria_de_absorc
ion.pdf
https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_electr
%C3%B3nico_de_barrido
http://www.upv.es/entidades/SME/info/753120normalc.html
http://revista.ismm.edu.cu/index.php/revista_estudiantil/article/viewFil
e/14/pdf
http://www.tecnologiaminera.com/tm/biblioteca/pdfart/131220073756
_APLICACION.pdf
http://www.congresominas.co.pe/WEB/ti/1/9/9c.pdf
18