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CIRCUITOS DE MUESTREO Y RETENCIN

(SAMPLE & HOLD)


INTRODUCCIN
Los circuitos de muestreo y retencin se utilizan para muestrear una seal analgica en un
instante dado y mantener el valor de la muestra durante tanto tiempo como sea necesario.
Los instantes de muestreo y el tiempo de retencin estn determinados por una seal lgica
de control, y el intervalo de retencin depende de la aplicacin a la que se destine el
circuito. Por ejemplo, en los filtros digitales las muestras deben ser mantenidas durante el
tiempo suficiente para que tenga lugar la conversin de analgica a digital.
CIRCUITOS DE MUESTREO Y RETENCIN
La mayora de los circuitos de muestreo y retencin utilizan un condensador para mantener
la tensin de muestra. El interruptor controlado electrnicamente es el medio para cargar
rpidamente el condensador hasta la tensin de muestra y luego suprimir la entrada de
manera que el condensador pueda retener la tensin deseada. Tal circuito est representado
en la Figura 1-1a, en la que VA es la fuente analgica y Rg su impedancia interna. Las
formas de onda ideales estn representadas en la Figura 1b. El interruptor est cerrado
mientras la forma de onda lgica de control vc est en nivel alto y, en el supuesto de que la
constante de tiempo RgC sea muy pequea, la tensin de salida seguir muy estrechamente
a la tensin de entrada y ser igual a ella en el instante en que el circuito lgico de control
est a nivel bajo, abriendo el interruptor. Durante el intervalo de retencin, mientras la
seal de control est en nivel bajo, el interruptor est abierto y el condensador C mantendr
el ltimo valor de la entrada. Idealmente la salida se mantendr constante en ese valor
durante todo el intervalo de retencin.

Figura 1. Circuitos de muestreo y retencin: (a) circuito simple con interruptor, (b)
formas de onda.

En la prctica, los interruptores electrnicos y los condensadores no son perfectos y


presentan discrepancias respecto a los valores o estados ideales. Entre las especificaciones
ms importantes estn las de tiempo de apertura y tiempo de adquisicin. Se puede
explicar lo que es el tiempo de apertura haciendo referencia a la Figura 2 en la cual vemos
que dicho tiempo es el mximo retardo entre el instante en que la lgica de control ordena
al interruptor que se abra y el instante en que realmente ocurre la apertura. El tiempo de
apertura de un sistema determina esencialmente el tipo de interruptor que se debe utilizar.
Si este tiempo es del orden de milisegundos, S puede ser un rel. Con interruptores FET
los tiempos de apertura son normalmente de 50 a 100 ns, mientras que con interruptores
con diodo muy rpidos el tiempo de apertura es mucho menor de 1 ns. A consecuencia del
tiempo de apertura hay una incertidumbre en el ritmo o cadencia de muestreo que puede
degradar las prestaciones del sistema. Se suele seleccionar un interruptor cuyo tiempo de
apertura sea mucho menor que la inversa del ritmo de muestreo.
Como el circuito de salida es capacitivo, tarda un cierto tiempo antes de que la tensin del
condensador (salida) sea idntica a la entrada. El tiempo de adquisicin (Figura 1-3) es el
intervalo ms corto transcurrido desde que se da la orden de muestra hasta que se puede dar
la orden de retencin y se obtenga como resultado una tensin de salida que sea
aproximadamente la tensin de entrada con la exactitud necesaria. El caso ms
desfavorable ocurre cuando la entrada es una funcin escaln cuya amplitud es igual a la
mxima excursin de tensin cresta a cresta del circuito. En el circuito de la Figura 1a, la
velocidad con que la salida puede seguir a tal entrada depende de las caractersticas de la
fuente de seal vA. Considerando el efecto de la impedancia de fuente Rg, vo ser una
funcin exponencial con constante de tiempo RgC, y para que vo no difiera ms de 0,01 por
100 de la entrada en el instante requerido el tiempo necesario es, aproximadamente, 9 RgC.
Adems, la fuente de seal debe ser capaz de suministrar la corriente de carga requerida por
el condensador C. Usualmente, entre la entrada analgica y el interruptor se intercala un
operacional seguidor de tensin para conseguir que Rg sea muy pequea.

Figura 2. Tiempo de apertura y su efecto.

Figura 3. Tiempo de adquisicin


El fabricante suele especificar el tiempo de establecimiento. Este es el tiempo que
transcurre desde la apertura del interruptor (retencin) hasta que la salida ha alcanzado su
valor final, dentro de un porcentaje especificado (generalmente, el 0,01 por 100 del valor a
fondo de escala). Si el circuito de muestreo y retencin est seguido de un convertidor
A(D, la conversin no comienza hasta que la seal sea estable o de lo contrario la tensin
convertida puede ser errnea.
Tambin se especifica algunas veces la velocidad de cada de la salida. Esta representa la
variacin de tensin entre las placas del condensador durante el tiempo de retencin y es
inversamente proporcional a la capacidad ya que dvo / dt = I/C, donde I es la corriente de
fugas del condensador. La corriente de fugas puede ser consecuencia de la de polarizacin
del operacional, la de fugas en el interruptor o las fugas internas en el condensador.
Circuito prctico
Los circuitos prcticos de muestreo y retencin usan operacionales para obtener una baja
impedancia en el circuito de excitacin y una alta impedancia de carga en el condensador
de retencin. Estos circuitos utilizan conmutadores FET en vez de BJT a causa de la
linealidad y carencia de offset en sus caractersticas de transferencia en la proximidad del
origen, donde tiene lugar la accin de conmutacin. Si se requiere una velocidad
extremadamente alta se utilizan puentes de diodos para la conmutacin.
La Figura 4a, representa un circuito inversor de muestreo y retencin. Opera tal como
sigue. Cuando S est cerrado (muestreo), el circuito acta como un filtro RC convencional
realizado con un operacional. Si se aplica un escaln de amplitud VA a la entrada, la salida
ser:
t / R2C
R2
(1
v o (t ) = V A
R1

)
3

Evidentemente, la constante de tiempo R2C debe ser mucho ms corta que el intervalo de
muestreo para que la salida pueda seguir a la entrada.
Cuando se abre el interruptor se mantiene la tensin VA en el condensador. Como antes
dijimos, el condensador no puede mantener esta tensin indefinidamente debido a la
corriente de polarizacin de entrada requerida por el operacional y a la corriente interna de
fugas del condensador y del interruptor. Para minimizar este efecto de cada se debe
utilizar el mayor valor de C consistente con los requisitos de tiempo de adquisicin. El
operacional debe tener la menor corriente de polarizacin posible por lo que es adecuado
un operacional con etapa de entrada FET. Adems, el condensador debe ser del tipo de alta
calidad y bajas fugas.

Figura 4. Circuito inversor de muestreo y retencin: (a) circuito con interruptor, (b)
uso del interruptor FET.
La Figura 4b representa el circuito inversor de muestreo y retencin con FET, T1 es el
conmutador, que es un FET de empobrecimiento de canal p. En este tipo de transistor la
corriente circula cuando la tensin fuente-puerta es cero y disminuye a medida que se hace
ms negativa. Una tensin umbral tpica es VT = VSG = -4 V. Veamos cmo funciona este
conmutador en el circuito de la Figura 4b Primero consideramos que la tensin de control
Vc sea + 5V, es decir, que estamos en el intervalo de retencin, en el que el interruptor est
abierto, y que la tensin de entrada analgica VA es positiva. En este caso, toda corriente
que pase por T1 debe circular desde a hasta b, de modo que a actuar realmente como
fuente y b ser el drenaje. La presencia del diodo D hace que la tensin en a sea fijada en
el nivel de 0,7 V, por lo que VSG nunca superar los 0,7 - 5 = 4,3 V, independientemente de
VA. As, T1 se mantendr en corte (interruptor abierto) y si la tensin umbral VT es -4 V, la
tensin fuente-puerta ser 0,3 V ms negativa que la necesaria para poner a T1, en corte.
Entonces, tendremos un margen de seguridad de 0,3 V.
4

Si la tensin analgica VA tiende a ser negativa, las misiones de los terminales a y b se


invertirn, convirtindose b en la fuente. Con el terminal de entrada del operacional a la
tensin virtual de masa, T1 se mantiene en corte a causa de que los 5 V aplicados en la
puerta dan un margen de 1 V por encima de la tensin umbral de -4 V.
En el intervalo de muestreo, VC tiende a cero, y T1 est en conduccin (el interruptor est
cerrado). Entonces el circuito acta esencialmente como el circuito simplificado de la
Figura 4a. Cuando T1 conduce, el diodo D est conectado en paralelo con el interruptor
FET. Como la cada en el FET es pequea, la tensin en los terminales del diodo ser
pequea y mucho menor de los 0,7 V de muestreo. Es interesante observar que en este
circuito el funcionamiento del FET es reversible o bilateral, en cuanto que fuente y drenaje
son intercambiados cuando cambia la polaridad de la entrada.
Muestreo de una seal de audio.
Por definicin, el muestreo es el registro parcial de un conjunto de datos. Aplicado al
muestreo de una seal de audio, que vara con el tiempo, el muestreo consiste en la
medicin intermitente, discontinua, de la seal. Para simplificar, el tiempo transcurrido
entre una observacin y otra se hace constante. En la Fig. 5 se muestra el proceso bsico
seguido por una seal de audio (o cualquier otro tipo de seal) para ser convertida en una
secuencia de sus muestras. A esta secuencia de muestras nosotros la conoceremos como
seal modulada por amplitud de pulso, o sencillamente seal PAM (del ingls "Pulse
Amplitud Modulation ").

Fig. 5 Modulacin PAM.


Observe ( Fig. 5) que la seal PAM podemos imaginar que se produce al meter a la seal de
audio por un circuito de conmutacin, controlado por las seales de muestreo y descarga.
El proceso de muestreo se describe con ms detalle en la Fig. 6. Cuando la seal de
muestreo cierra al interruptor SW1 en t0, con SW2 abierto, el voltaje que en ese momento
tenga la seal de audio carga al capacitor C. Luego, en t1, el interruptor SW1 se abre, y
durante un tiempo el capacitor C se mantiene cargado, reteniendo el voltaje de la muestra.
Posteriormente, en t2, el interruptor SW2 se cierra, descargando al capacitor C. El
interruptor SW1 se mantendr abierto y el interruptor SW2 se mantendr cerrado hasta el

momento que se inicie el prximo ciclo de muestreo, en t3. Debido al comportamiento


descrito, a los circuitos que se comportan como ste se les llama circuitos de muestreo y
retencin, abreviadamente S/H (del ingls, "Sample and Hold").

Fig. 6. - Proceso de muestreo y retencin.


Para generar una seal PAM como la mostrada en la Fig. 5. se requiere que el tiempo entre
una muestra y otra sea constante, a este tiempo se le llama perodo de muestreo, Ts (del
ingls, "Sampling Time"). Al valor inverso de este tiempo se le llama, consecuentemente,
frecuencia de muestreo, fs (del ingls, "Sampling frequency"):
fs = 1 / Ts
Segn veremos (inciso 2.3.1), la frecuencia de muestreo escogida en audio digital es de
44.1 KHz.

Observando a la seal PAM (Fig. 5) se hace evidente que la seal de audio original est
contenida en la envolvente de los pulsos de voltaje. La seal PAM es cualitativamente
semejante a la que se obtiene en un circuito recortador de seal AM ( Fig.7). Una seal AM
recortada (Fig.7) tambin es una secuencia de pulsos. En una seal AM recortada la
envolvente contiene la informacin de la seal original (de audio, por ejemplo). Esta
envolvente puede ser recuperada haciendo pasar a la seal AM recortada por una red RC
configurada como filtro paso bajo (Fig.7).

Fig. 7. - Demodulacin de una seal AM.

As mismo, como la seal AM recortada, la seal PAM puede hacerse pasar por un filtro
paso bajo, de tal forma que se recupere su envolvente (Fig.8)

Fig. 8. - Proceso bsico de modulacin y demodulacin PAM.


ELECCIN DE LA FRECUENCIA DE MUESTREO
Cambiemos el tema - Qu tal si hablamos de poltica?
Al hacerse las votaciones para la eleccin de un presidente nacional es importante que vote
la mayora de los habitantes con derecho al voto, pero no es del todo necesario que voten
todos. Y efectivamente es as, es imposible que voten todos.

10

Si el nmero de votantes resultara muy inferior al nmero de habitantes con derecho al


voto, el liderazgo del presidente escogido sera cuestionable. Posiblemente la gente no vot
porque no haba candidatos aceptables, o alguna otra razn. Por este motivo, antes de las
votaciones se lanzan campaas publicitarias en donde se invita a la gente a votar. Y ms
an, existen pases en donde constitucionalmente se establece que el nmero de votos
captados por algn candidato debe ser superior a cierto porcentaje de la poblacin.
Las votaciones son en realidad un muestreo de opinin en donde se intenta descubrir lo que
piensa la mayora. Adems, como hemos mencionado, para que tengan validez se requiere
que el nmero de muestras (votantes) sea aceptable.
Retomando nuestro tema - O quiere seguir hablando de poltica? - Con respecto a las
votaciones, en el muestreo de una seal de audio tenemos el mismo problema en cuanto al
nmero de muestras que debern ser tomadas. Afortunadamente todo el control lo tenemos
nosotros y no tenemos que hacer campaas publicitarias.
El nmero de muestras que se tomen en un proceso de muestreo est controlado por la
frecuencia de muestreo. Mientras ms frecuencia, ms muestras. Por lo tanto, para que la
seal muestreada (seal PAM) sea representativa requerimos establecer cul debe ser esta
frecuencia. Para deducir la regla que nos diga cul ha de ser la frecuencia de muestreo,
haremos algunos experimentos que describimos a continuacin.

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En la Fig.9 se presenta el muestreo de una seal de audio de 22 KHz por una seal de
muestreo de 176 KHz. Note que la forma de la envolvente de la seal PAM resultante es
bastante semejante a seal original.

Fig. 9. - Muestreo a 176 KHz.

En la Fig.10 se presenta a la misma seal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
seal de 88 KHz. La forma de la envolvente de la seal PAM resultante sigue siendo
12

semejante a seal original.

Fig. 10. - Muestreo a 88 KHz.

13

En la Fig. 11 se presenta a la misma seal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
seal de 44 KHz. La forma de la envolvente de la seal PAM resultante sigue siendo
semejante a seal original, aunque ahora el trazo de esta envolvente no es tan claro

Fig. 11 - Muestreo a 44 KHz.

14

En la Fig. 12 se presenta a la misma seal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
seal de 29.33 KHz. La forma de la envolvente de la seal PAM aparenta que la seal
original tiene una frecuencia de 7.33 KHz. Con esta frecuencia de muestreo se genera una
frecuencia nueva, inexistente en la seal original.

Fig. 12 - Muestreo a 29.33 KHz.

Habiendo comprendido la mecnica de estos experimentos, en la Fig 13 presentamos


nuevamente a la seal de audio de 22 KHz muestreada a las frecuencias de 176 KHz,
15

88KHz, 44 KHz, 29.33 KHz y, adems, se considera el muestreo a 22 KHz, 17.6 KHz y
14.66 KHz. Observe que la envolvente de la seal PAM resultante mantiene la frecuencia
de la seal de audio original solamente si la frecuencia de muestreo es igual o superior a 44
KHz. Para frecuencias de muestreo inferiores a 44 KHz, la frecuencia aparente de la
envolvente vara al variar la frecuencia de muestreo. A estas frecuencias aparentes, no
contenidas en seal original, las llamaremos frecuencias seudnimas (en ingls, "alias
frequency" o "foldover frequency").

Fig. 13. - Seal PAM resultante para diferentes frecuencias de muestreo.


La frecuencia de muestreo de 44 KHz es dos veces la frecuencia de la seal de audio
muestreada, de 22 KHz. Este experimento ilustra la ms importante de las conclusiones
relacionadas con el procedimiento de muestreo de una seal:
16

Para que la seal original pueda ser recuperada de su correspondiente seal PAM, la
frecuencia de muestreo deber ser mayor que el doble de la mxima frecuencia contenida
en la seal original.
Esta conclusin, llamada Teorema de Muestreo, puede que le haya parecido complicada.
Realmente, su interpretacin es muy sencilla. Considere el espectro de amplitud frecuencia de una seal arbitraria (de audio si gusta) que se muestra en la Fig.14
Fig. 14. - Espectro de amplitud - frecuencia de una seal de audio arbitraria.

AMPLITUD

10

17

15

FRECUENCIA
[KHz]

Observe (Fig.14) que esta seal contiene armnicas de 5 KHz, 10 KHz y 15 KHz. La
frecuencia mxima es, evidentemente, 15 KHz. Por lo tanto, para muestrear a esta seal se
requerir una frecuencia de muestreo superior a:
2 x 15 KHz = 30 KHz
La seal podr muestrearse con una frecuencia de muestreo de 50 KHz, por ejemplo.
Como sabemos la percepcin humana del sonido est entre las frecuencias de 20 Hz y
20000 Hz. Por lo tanto, si de alguna manera eliminramos a las frecuencias superiores a 20
KHz, la seal de audio resultante mantendr casi que todas las propiedades audibles de la
seal original (Fig.15).
Siendo rigurosos, realmente la seal resultante pierde frecuencias que por s solas no son
audibles, pero que al formar parte de una seal compleja contribuyen a resaltar las
frecuencias audibles, por el efecto de suma de sonoridades. Sin embargo, esta leve
diferencia con respecto a la seal original slo ser percibida por personas con un vasto
entrenamiento musical.

18

Fig. 15. - Eliminacin de las componentes de frecuencia superiores a 20 KHz.


El lmite de frecuencia inherente a la percepcin auditiva humana hace posible que
definamos la frecuencia de muestreo usada en audio digital. Ya que en un sonido audible la
frecuencia mxima a considerar es de 20 KHz, la frecuencia de muestreo de una seal de
audio se especifica de 44.1KHz, mayor que 40 KHz (2 x 20 KHz).
Para garantizar que la seal de audio muestreada no contenga componentes armnicas
superiores a los 20 KHz, antes de muestrear se requiere filtrar a la seal original. Si no se
filtrara, y si la seal original contuviera frecuencias arriba de 20 KHz, al detectar la
envolvente de la seal PAM resultante obtendramos componentes audibles de sonido que
no
existan
en
el
sonido
original.

19

Fig. 16. - Prevencin contra la formacin de falsas armnicas mediante la inclusin de un


filtro pasa bajo previo al circuito de muestreo y retencin.
Al filtro paso bajo que evita la aparicin de frecuencias seudnimas, por su funcin se le
conoce como filtro contra frecuencias seudnimas (del ingls "antialiasing filter").

EJERCICIOS Y APLICACIONES
20

EJERCICIOS.

EJERCICIOS RESUELTOS.
1. - Un circuito de muestreo y retencin tiene un condensador de 50 pF y la corriente de
fugas en modo de retencin es de 1 nA. Si el intervalo de retencin es de 50 s y la tensin
de retencin es 1 V, hallar el porcentaje de cada.
La resolucin del ejercicio esta dirigida en la ecuacin por la ecuacin de la corriente en el
condensador:

Ic = C

Vo
t

(1)

donde: Ic = 1[nA] .
t = 50[s ] .
C = 50[ pF ].
con estos valores reemplazndolos en la ecuacin (1), se tiene:

10 9 50 10 6
Vo =
50 10 12
Vo = 10 3 [V ]
Para obtener el porcentaje de cada, se tiene una simple regla de tres.
10 3 100
1
%caida = 0.1%

%caida =

21

2. - En un circuito dado de muestreo y retencin el condensador es de 100 pF y la


resistencia de fugas equivalente en el modo de retencin es de 15 G. Calcular el
porcentaje de cada si el intervalo de retencin es de 100 s.
En la solucin de este problema se utiliza la ecuacin del voltaje del condensador en el
tiempo.
Vc ( t ) = Vf + (Vi Vf ) e

Donde:

RC

Vf = 0
Vi = Vo
t = 100[s ]
R = 15[G].
C = 100[ pF ].

Reemplazando los valores en la ecuacin se tiene:


Vc ( t ) = Vo e

100 10

15 10

100 10

12

Vc ( t ) = 0 . 99993 Vo

%caida = 0.007%

De aqu se puede concluir que mientras ms grande sea la resistencia de fugas en modo
retencin el circuito de SAMPLE & HOLD sigue con mayor precisin a la entrada.

3. - En el siguiente circuito, R1=R2=15 K y en el intervalo de muestreo de 50 ns. Hallar


C para que la salida siga a la entrada con una diferencia que no exceda de 0.1 por 100.
22

R1

R2

Va
Muestra

C
Vo

(a)

En la solucin de este problema se ocupa la siguiente ecuacin:


Vo(t ) = Va

t
R2
+ (1 e RC )
R1

donde:
t = 50 s
R1 = R 2 = 15 K
Adems se quiere que Vo = 0.9Va
Reemplazando los valores se tiene:

Vo(t ) = Va(1 e
1.9 = e

5010 9

5010 9

15103 C

15103 C

Aplicndole logaritmo natural a la ecuacin para despejar C, se tiene:

23

ln(0.1) =

C=

50 10 9
15 10 3 C

50 10 9
15 10 3 2.3

C = 1.45[ pF ]

EJERCICIOS PROPUESTOS.

1. A propsito del estudio del tiempo de adquisicin, demostrar que se requiere 9RgC
para que Vo no se diferencie en mas de 0.01 por 100 de la entrada.

24

2. - En el siguiente circuito C=500 pF, R1=R2=15 k y la corriente de polarizacin de


entrada del operacional es 300 mA. Calcular el porcentaje de cada si el intervalo de
retencin es 1 ms y la tensin correspondiente es 1 V.

R1

R2

Muestra

C
Vo

25

CIRCUITOS DE APLICACIONES

En las aplicaciones se tienen una infinidad de circuitos, en los cuales se tienen en sus
diversas estructuras, ya sea como una simple malla R-C o en circuitos integrados como los
de la serie LF198, LF298, LF398, de los cuales se muestran algunos a continuacin:
Generador de rampa con nivel variable de reset.

15V
R1
8K2

-15V

4
R2*

reset
level
imput

1
LF398
output

reset

D1
LM112
1.2V

Ch*

5V
0V

En este circuito la ecuacin de diseo para el tiempo de la rampa es con R2 > 10K.
Adems se tiene:

V
1.2V
=
T ( R 2) (Ch)

26

Amplificador de reset estabilizado (ganancia =1000).

1K

1M

V+
7

V-

2
4

Q1
2n5116
imput

output

LH0042H

12K

1
3
5

200K
-15
4

200K

+15
1

30K

3
LM398

8
7

5V
0V

6
0.033uF

reset pulse
>2ms

4K7

Las ecuaciones de este circuito son:


Vos 20 V
Zin 1 M
Vos
30 V sec
t
Vos
0 .1 V C
T

27

Interruptor de dos canales.


+15V

-15V

1
"A" Imput

4
Output
LF398
6
7
8

47K

"A" select
5V

"B" Imput

0V
"B" select

Tabla N2 Caractersticas de este circuito como interruptor de dos canales son:


Gain
Zin
BW
Crosstalk
@ 1 kHz
Offset

A
10.02%
1010
1MHz
-90db

B
10.2%
47k
400kHz
-90db

6mV

75 mV

28

Distribuidor de datos.

29

Distribuidor de datos.

Amplificador sample and hold.

30

Detector de mximo peak de pulsos rpidos.

Integrador de pulsos de ns.

31

Sistema de muestreo simultaneo de varios canales.

32

Sistema de restauracin de nivel DC.

Sensor remoto de temperatura de bajo costo.

33

Detector de peak.

Vout

TLC272

1N4148

Vin

Adems se puede notar que estas son una pequea parte de las grandes aplicaciones que
tienen este tipo de circuito como por ejemplo, en la instrumentacin de equipos
electrnicos de medicin, en estos se encuentra una rama muy importante que es los
equipos de mediciones medicas, que son muy importantes en la actualidad y en la vida de
todos.
Nota: Las aplicaciones propuestas fueron descargadas de los manuales de la NATIONAL y
de la BURR BROWN
Burr-Brown
WWW.NATIONAL.COM

34

35

36

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BIBLIOGRAFIA

1. Schilling, Donald L.
Circuitos electrnicos: discretos e integrados.
Madrid.
McGraw-Hill. 963 p.
Enc. Materia: CIRCUITOS ELECTRONICOS. CICUITOS DE TRANSISTORES.
2. - http://www.i-une.com/cgi-bin/go.cgi?0=http://obelix.umh.es/9900/teleco_sist/mpcm/public_html/nyquist.htm
3. Burr-Brown
4. - http://www.biopsychology.org/tesis_esteve/confund/confund.htm
5.-http://svc.sony-Spa.com/TechSupport/Entrenamiento/Discocompacto/FIGURAS/2-1.htm
6. - WWW.NATIONAL.COM
BIBLIOGRAFIA ANEXA

1. Nelson, Troy Nagle, Carroll, Anlisis y diseo de circuitos lgicos, Prentice Hall
1996
2.

Cuesta, Gil Padilla, Remiro, Electrnica Digital, McGraw Hill, 1996

3.

Remiro, Lgica Programable McGraw Hill, 1994

4.

Mano, Logica digital y diseo de computadoras, Prentice Hall, 1990

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