Prctica N6: Interfermetro de Michelson

Francisco Nicola Tovar Cecere

Laboratorio de Ondas y Optica, Departamento de Fsica,
Facultad Experimental de Ciencias y Tecnologa, Universidad de Carabobo, Valencia - Venezuela
Se describe el funcionamiento del interfermetro de Michelson. Se utiliza este dispositivo para determinar la longitud de onda de una luz lser He-Ne el cual tiene
un valor de (646 13) nm y discrepa 2,05% del valor asociado al equipo. Se determina el ndice de refraccin del aire a diferentes presiones y se analizo un grafico
que demuestra que al aumenta la presin aumenta el ndice de refraccin, Finalmente se determina el ndice de refraccin de un vidrio acrlico el cual toma el valor de
n= (1,40 0,09). Los errores causados fueron la sensibilidad del sistema experimental, y en el conteo de franjas ya que es muy facil perder la cuenta.

I.

N
INTRODUCCIO

El interfermetro de Michelson es uno de los

instrumentos de interferencia ms conocido, tanto por
sus mltiples aplicaciones como por su implicancia en
el desarrollo de nuestro entendimiento del mundo fsico.
Usando este dispositivo, Michelson y Morley pusieron
en evidencia la inconsistencia de la teora del ter. Este
hecho contribuy al desarrollo de la teora de la
relatividad. El objetivo principal de este experimento es
medir la longitud de onda de la luz emitida por un laser,
determinar la variacin del ndice de refraccin del aire
con la presin y evaluar el ndice de refraccin de un
vidrio usando un interfermetro de Michelson.
II.

RICOS
FUNDAMENTOS TEO

Un rayo de luz es una onda electromagntica, de

campos E y B variables. Cuando dos rayos de luz se
encuentran, los campos se superponen, y en cada
punto del espacio el vector E o B ser la suma
vectorial de los campos de los rayos individuales. Si
los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en
general no hay relacin constante entre los campos de
cada haz, de manera que cuando estos se superponen
el campo resultante oscila con el tiempo, y el ojo
humano percibe una intensidad promedio uniforme [1].
Thomas Young fue el primero en disear un mtodo
para producir y visualizar los mximos y mnimos de
intensidad descritos anteriormente. La luz que,
procedente de una misma fuente, llega a una pantalla
tras haber atravesado dos rendijas estrechas y juntas,
forma un patrn regular de bandas brillantes y oscuras.
Este patrn de interferencia constituy una evidencia
concluyente de la naturaleza ondulatoria de la luz [1].
Aunque inicialmente Michelson dise este
interfermetro (1881) para detectar el ter, una vez
que fue imposible demostrar su existencia se utiliza su
dispositivo para medir longitudes de onda o para,
conocida la longitud de onda de una fuente emisora,
medir distancias muy pequeas o ndices de refraccin
de distintos medios [1].

Un rayo procedente del lser es desdoblado mediante

un espejo semitransparente ES (espejo que refleja slo
el 50% de la luz que incide sobre l, dejando pasar el
otro 50%). Uno de los rayos se refleja en el espejo fijo
EF, y el otro en el espejo mvil EM. Ambos rayos
vuelven a juntarse en la pantalla. Sobre la pantalla
vemos la superposicin o interferencia de los dos haces
de luz, cuyas fases (estados de oscilacin de los
campos), estn altamente correlacionadas por proceder
de la misma fuente. Si con una lente abrimos el haz
justo antes de ser desdoblado, se podr observar en
pantalla el modelo de interferencia formado por anillos
alternativamente claros y oscuros. Inicialmente los dos
haces desdoblados estaban en fase. La diferencia de
fase que haya entre ellos cuando se encuentren de
nuevo en un mismo punto del espacio depender de la
diferencia de camino que hayan recorrido. Si EF y EM
estn a la misma distancia del espejo semitransparente,
el camino recorrido por ambos rayos es el mismo, y por
tanto llegarn en fase a la pantalla, y la interferencia en
cualquier punto ser mxima o mnima pero constante
en el tiempo, lo que nos permite observar el patrn de
interferencia [1].

Figura N2: Franjas de interferencia producidas por el

interfermetro de Michelson.
Por tanto, moviendo EM una distancia dm y
contando m, el nmero de veces que el patrn de
interferencia vuelve a ser como inicialmente, se puede
calcular la longitud de onda de la luz utilizada [2].

(1)
Para cada Pi, calcular el ndice de refraccin segn:

Figura N1: Diagrama de interfermetro de Michelson

Aplicado

(2)

Siendo n0 el ndice de refraccin del vaco y d la

longitud de la cmara de vaco [2].
El ndice de refraccin del vidrio n se determinara
mediante la ecuacin [2]:

(3)
Donde N es el nmero de franjas
III.

PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

Alineamiento de interfermetro
Colocar el lser y el interfermetro sobre una
superficie plana, y colocar una pantalla frente al espejo
EF, y encender el laser. A continuacin aflojar los
tornillos de EM y rotarlo ligeramente hasta colocarlo en
incidencia normal: el haz tiene que ser reflejado de
nuevo hacia la apertura de salida del lser, pudiendo no
coincidir exactamente con el orificio de salida, pero s
debe estar sobre la misma vertical. Fijar entonces la
posicin de EM. Aparecern dos conjuntos de puntos
en la pantalla, y se debe ajustar el ES para que las dos
series de puntos estn lo ms prximas posible.
Ajustar el ngulo de EF para que las dos series de
puntos coincidan en pantalla. Poner la lente de 18 mm
de distancia focal a la salida del haz (se adhiere con
imanes) de forma que el haz abierto por la lente incida
en el centro de ES. Si el alineamiento se ha realizado
correctamente, aparecer en pantalla un patrn de
interferencia de anillos concntricos Figura 2. Si no se
ve el centro, ajustar el alineamiento de EF lentamente
para centrar los anillos interferenciales.
Medida de la longitud de onda de la luz aplicada
Alinear el lser y el interfermetro como se describe
anteriormente para observar claramente el patrn de
interferencias en pantalla. Luego Ajustar el tornillo
micromtrico de forma que el brazo sea casi paralelo a
la base del interfermetro, ya que as la relacin entre la
rotacin del tornillo y el movimiento de EM es
prcticamente lineal. Despus Hacer una marca sobre
la pantalla. Esta referencia debe estar entre dos anillos,
y si se hace dos o tres anillos lejos del centro ser ms
fcil contar los desplazamientos. Girar el tornillo
micromtrico en el sentido contrario a las agujas del
reloj lentamente, y contar los anillos conforme van
pasando por la marca de referencia hasta un total de m.
Repetir este proceso para varios anillos y anotar la
distancia (dm) recorrida por el espejo en cada caso
Medida de ndice de refraccin variando la presin
Si la presin es baja, el ndice de refraccin de un
gas vara linealmente con la presin. Mediremos el
ndice de refraccin del aire a varias presiones. El
fundamento de estas medidas es que variar el ndice de
refraccin en parte del camino ptico, equivale a variar

la longitud de onda y por tanto produciremos un cambio

en la fase relativa de los rayos, cambiando las
posiciones de mximos y mnimos en el patrn de
interferencia. Nunca se debe sobrepasar la presin
atmosfrica
Insertar la cmara de vaco en el orificio dispuesto en la
base del interfermetro, en el camino de ES a EF.
Rotarla de forma que est perpendicular al rayo (nos
podemos
ayudar
observando
los
anillos
interferenciales), luego, hacer entrar lentamente el aire
en la cmara hasta un presin P1, y mientras ir
contando el nmero de anillos que pasan por la
referencia marcada en la pantalla.
Medida del ndice de refraccin de un vidrio acrlico
Para medir el ndice de refraccin de un vidrio es
necesario variar la longitud del camino ptico del haz
que atraviesa el mismo. Este procedimiento se realizar
montando el vidrio sobre la platina de rotacin (con
sujecin magntica), luego, posicionar la platina de
modo que su vernier est alineado con el cero de la
escala en grados que est en la base del interfermetro.
Remover la lente enfrente del laser y colocar la pantalla
entre la placa de vidrio y el espejo movible. Se debe
girar la platina hasta que en la pantalla se observe un
nico punto brillante. Ahora la placa de vidrio estar
perpendicular al haz laser. Corregir el cero de la escala
en grados y colocar nuevamente la pantalla y la lente.
Introducir ajustes menores en el espejo fijo de forma
que las franjas de interferencia se observen en la
pantalla. Rotar lentamente la platina y contar las
transiciones de franjas.
IV.

RESULTADOS Y ANLISIS

Experiencia #1 medicin de la longitud de onda de

la luz aplicada
Para el primer experimento se determino la longitud
de onda, el cual posee un valor de (646 13) nm y
discrepa 2,05% del valor marcado en el equipo laser.
Los errores presentados en este experimento se
presentan el conteo de las franjas, ya que es un
experimento muy sensible, y tambin se debe
considerar las perturbaciones de agentes externos,
como vibraciones de la mesa donde se soporta el
equipo, aire, entre otros.
Tabla N1: Determinacin de la longitud de onda

Franjas (1)

310

Lectura inicial
Lectura final
del micrmetro del micrmetro
(0,00001)m
(0,00001)m

0,05000

0,06002

Longitud de
Onda
Calculada
(13)nm
646

Experiencia #2 medicin de ndice de refraccin

variando la presin.

La longitud de onda calculada fue de 643 13

nm, el cual discrepa del valor real (633 1) un
2,05%.
Se debe evitar perturbaciones sobre el soporte
del equipo aplicado, ya que un mnimo
movimiento puede interferir en toda la
experimentacin.
Observar detalladamente las franjas a medida
que se realiza un movimiento al sistema.

Se obtuvo la siguiente grafica en el mtodo

experimental aplicado.

Indice de Refraccion (n)

Indice de Refraccion Vs Presion

1,0003
1,00025
1,0002
1,00015
1,0001
1,00005
1
0,99995

1,00027129

y = 2E-05x + 1
R = 1

10

15

Grafica N1: Variacin del ndice de refraccin debido

al cambio de presin en el sistema.
Donde fcilmente se puede apreciar que a medida que
aumenta la presin aumenta el ndice de refraccin, y
tiene comportamiento lineal [3]. A travs de esta
ecuacin descrita en la Grafica N1, podremos conocer
el ndice de refraccin a cualquier presin en las misma
condiciones experimentales.
Experiencia #3 medicin del ndice de refraccin de
un vidrio acrlico
Finalmente se determino el ndice de refraccin del
vidrio acrlico el cual nos da un valor de n= (1,40 0,09)
el cual discrepa 6,67% del valor real. Los datos se
encuentran reflejado en la Tabla N2. Estos errores de
precisin en el valor real son causados por razones
expuestas previamente.
Tabla N2: Determinacin del ndice de refraccin de un
vidrio acrlico.
Espesor de la
cmara de
vacio
(0,001)m

Franjas
(1)

633

0,018

62

V.

No es necesario que el patrn de interferencias

sea perfectamente simtrico. Tanto mejor se
puedan distinguir los mximos de los mnimos,
tanto ms precisas sern las medidas.
Es fcil perder la cuenta del nmero de anillos.
Se sugiere la siguiente tcnica para facilitarla:

Presion [kPa]

Longitud de
Onda
(1)nm

Recomendaciones:

Lineal (Indice de
Refraccion Vs
Presion)

1
0

Indice de
Refraccion Vs
Presion

Angulo
ndice de
desplazado refraccin
(0,2)(Deg)
(0,09)

5,0

1,40

CONCLUSIONES Y DISCUSIONES

El ndice de refraccin del acrlico determinado

a nivel experimental fue de 1,40 0,09
A medida que aumenta la presin aumenta el
ndice de refraccin, ya que este depende de
varios factores, tambin posee comportamiento
lineal.

Centre el patrn de interferencia en la

pantalla, utilizando los tornillos que hay
en la parte trasera del espejo fijo.

Seleccione una lnea de referencia en la

escala milimtrica y superpngala con
el contorno entre un mximo y un
mnimo.

Mueva el tornillo micromtrico hasta

que el contorno entre el siguiente
mximo y mnimo alcance la misma
posicin que el primer contorno ( el
patrn de interferencia debe tener el
mismo aspecto que el inicial)

Cuando gire el tornillo micromtrico para contar

anillos, hgalo siempre (muy suavemente) una
vuelta completa, antes de empezar a contar, y
contine girndolo en el mismo sentido mientras
cuenta. Proceder de esta manera elimina, casi
enteramente, los errores debidos a la holgura del
cambio de sentido en el movimiento del tornillo
El Interfermetro del Michelson es un experimento
que requiere paciencia y buena observacin.
VI.

BIBLIOGRAFIA

[1] Universidad de Almera. Prctica 4. Interferencias por

divisin de amplitud, recuperado de:
http://www.ual.es/~mjgarcia/interferencias.pdf

[2] Facultad de Ciencias Exactas, Ingeniera y

Agrimensura. Interfermetro de Michelson, recuperado
de:
http://www.fceia.unr.edu.ar/fisicaexperimentalIV/CATEDRA/Int
erferometro%20de%20Michelson.pdf
[3] Introduccin a la Fsica Experimental Gua de la

experiencia, Introduccin a la interferometra de las

ondas luminosas, recuperado de:
http://personales.unican.es/lopezqm/IFE/laspracticas/experime
ntosPDF/opticapdf/24inter_michelson.pdf

VI.

APENDICES

Figura N3: Patrn experimental

interfermetro de Michelson.

generado

en

Figura N4: Patrn experimental generado para

determinar el ndice de refraccin de un vidrio acrlico.

Calculo N1: ndice de refraccin del vidrio acrlico.

Calculo N2: Longitud de Onda.

Calculo N3: ndice de refraccin a una presin

experimental.