Espectrometra de Fluorescencia de Rayos X

La tcnica de Fluorescencia de Rayos X se basa en el estudio de las emisiones de

fluorescencia generadas despus de la excitacin de una muestra mediante una fuente
de rayos X. La radiacin incide sobre la muestra excitando los tomos presentes en la
misma, que emiten a su vez radiacin caracterstica denominada fluorescencia de rayos
X. Esta radiacin, convenientemente colimada, incide sobre un cristal analizador (con
espaciado interatmico d) que la difracta en un ngulo () dependiente de su longitud de
onda () por la ley de Bragg (sen =n/2d). Un detector que puede moverse sobre un
determinado rango de dicho ngulo mide el valor de la intensidad de radiacin en un
ngulo determinado y por tanto para una longitud de onda especfica, que es funcin
lineal de la concentracin del elemento en la muestra que produce tal radiacin de
fluorescencia.

Aplicaciones

Anlisis cuantitativo de:

Mayoritarios por perla de arenas, aluminosilicatos, cales y calizas (UNE 80-211-94)
(0.6 g de muestra minimo).
Aceros de baja y media.
Aceros inoxidables.
Algunas aleaciones de plomo.
Determinacion de trazas por pastilla en muestras geologicas con Geoquant de
Bruker (9 g. de muestra).
Semicuantitativo del Fluor al Uranio (con Quant Express de Bruker) para aleaciones
y muestras de tipo variado ( 3 g ).

Fluorescencia de rayos X (XRF)

Anlisis elemental, control de procesos y control de calidad
Anlisis de fluorescencia de rayos X (XRF): una de las mejores tcnicas analticas
para realizar anlisis elementales en cualquier tipo de muestras, independientemente de
que se deban analizar lquidos, slidos o polvos sueltos.
XRF combina una exactitud y una precisin superiores con una preparacin de
muestras rpida y sencilla para el anlisis de elementos, que incluyen desde el berilio
(Be) hasta el uranio (U) y en una gama de concentracin desde el 100% hasta el
subnivel de ppm.
La fluorescencia de rayos X de dispersin por longitud de onda (EDXRF) es la mejor
opcin para aplicaciones especializadas en control de calidad y procesos con requisitos
de facilidad de uso y tamao compacto. Ofrece flexibilidad analtica para tareas de
investigacin y supervisin.
La espectrometra de fluorescencia de rayos X de dispersin por longitud de onda
(WDXRF) se conoce por su exactitud, precisin y fiabilidad incomparables. Esta
tecnologa analtica slida se ha implementado en toda clase de aplicaciones
industriales, tales como el cemento, los polmeros, las refineras, la minera y los
minerales industriales.
Bruker desarrolla y ofrece soluciones de XRF exclusivas que cubren todas las tareas
analticas en mbitos industriales y de investigacin.