norma

espaola

UNE-EN 61164

Junio 2005

Crecimiento de la fiabilidad

TTULO

Ensayos estadsticos y mtodos de estimacin

Reliability growth. Statistical test and estimation methods.

Croissance de la fiabilit. Tests et mthodes d'estimation statistiques.

CORRESPONDENCIA

Esta norma es la versin oficial, en espaol, de la Norma Europea EN 61164 de abril

de 2004, que a su vez adopta la Norma Internacional IEC 61164:2004.

OBSERVACIONES

ANTECEDENTES

Esta norma ha sido elaborada por el comit tcnico AEN/CTN 200 Normas Bsicas
Elctricas cuya Secretara desempea AENOR.

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN 61164

Editada e impresa por AENOR
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LAS OBSERVACIONES A ESTE DOCUMENTO HAN DE DIRIGIRSE A:

AENOR 2005
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28004 MADRID-Espaa

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91 432 60 00
91 310 40 32

Grupo 35

NDICE
Pgina
PRLOGO.............................................................................................................................................

INTRODUCCIN.................................................................................................................................

OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN...............................................................................

10

NORMAS PARA CONSULTA ...............................................................................................

10

TRMINOS Y DEFINICIONES.............................................................................................

10

SMBOLOS ................................................................................................................................

11

MODELOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD EN DISEO Y ENSAYOS....

15

MODELOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD USADOS PARA

SISTEMAS O PRODUCTOS EN LA FASE DE DISEO..................................................
Modelo modificado de la ley de potencia para la planificacin del crecimiento de la
fiabilidad en la fase de diseo del producto ...........................................................................
Modelo bayesiano modificado de IBM-Rosner para la planificacin del crecimiento
de la fiabilidad en la fase de diseo .........................................................................................

6.1
6.2
7
7.1
7.2
8
9
9.1
9.2
9.3
9.4
9.5
9.6

16
16
19

PLANIFICACIN DEL CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD EN LOS ENSAYOS

DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD DEL PRODUCTO........................................
Modelos continuos de crecimiento de la fiabilidad ...............................................................
Modelo discreto de crecimiento de la fiabilidad....................................................................

21
21
23

USO DEL MODELO DE LA LEY DE POTENCIA PARA LA PLANIFICACIN

DE PROGRAMAS DE ENSAYOS DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD............

25

ENSAYOS ESTADSTICOS Y PROCEDIMIENTOS DE ESTIMACIN PARA

EL MODELO DE LA LEY DE POTENCIA CONTINUO.................................................
Descripcin general ...................................................................................................................
Ensayos de crecimiento y estimacin de parmetros............................................................
Ensayos de bondad de ajuste....................................................................................................
Intervalos de confianza para el parmetro de forma ...........................................................
Intervalos de confianza para el MTBF actual .......................................................................
Tcnica de proyeccin...............................................................................................................

26
26
26
30
32
34
35

ANEXO A (Informativo)

EJEMPLOS PARA PLANIFICACIN Y MODELOS

ANALTICOS USADOS EN LAS FASES DE DISEO Y
ENSAYOS DEL DESARROLLO DEL PRODUCTO....................

39

MODELO DE CRECIMIENTO DE LA FIABILIDAD

SEGN LA LEY DE POTENCIA. ANTECEDENTES.................

53

BIBLIOGRAFA...................................................................................................................................

58

ANEXO B (Informativo)

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN 61164

Figura 1

Mejora planificada de la tasa media de fallos o de la fiabilidad..............................

15

Figura A.1 Crecimiento de la fiabilidad planeado y alcanzado. Ejemplo ..................................

42

Figura A.2 Planificacin del crecimiento de fiabilidad usando un modelo de crecimiento

de fiabilidad bayesiano ..................................................................................................

43

Figura A.3 Diagrama de dispersin de los tiempos de fallo en ensayos esperados y

observados basado en los datos de la tabla A.2 con el modelo de la ley de
potencia............................................................................................................................

51

Figura A.4 Fallos/Tiempo de ensayo acumulados observados y estimados basado en los

datos de la Tabla A.2 con el modelo de la ley de potencia ........................................

52

Tabla 1
Tabla 2

Categoras de modelos de crecimiento de la fiabilidad con los apartados de

referencia.........................................................................................................................
Valores crticos del ensayo de bondad de ajuste de Cramr-von Mises al
nivel de significacin del 10% ......................................................................................

16
36

Tabla 3

Intervalos de confianza bilaterales al 90% para el MTBF a partir de ensayos

de Tipo I ..........................................................................................................................

37

Tabla 4

Intervalos de confianza bilaterales al 90% para el MTBF a partir de ensayos

de Tipo II .........................................................................................................................

38

Tabla A.1 Clculo del modelo de planificacin para crecimiento de la fiabilidad en la

fase de diseo ..................................................................................................................

41

Tabla A.2 Datos completos. Todos los fallos a considerar y tiempos de ensayo
acumulados para ensayos de Tipo I.............................................................................

48

Tabla A.3 Datos agrupados para el Ejemplo 3 derivados de la tabla A.2 ................................

49

Tabla A.4 Datos completos para estimaciones proyectadas en el Ejemplo 4. Todos los
fallos a considerar y tiempos de ensayo acumulados ................................................

49

Tabla A.5 Tipos distintos de fallos de Categora B, de la tabla A.4, con tiempos de fallo,
tiempo de primera aparicin, nmero de observaciones y factores de eficacia........

50

EXTRACTO DEL DOCUMENTO UNE-EN 61164

1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN

Esta norma internacional proporciona modelos y mtodos numricos para evaluaciones de crecimiento de la fiabilidad
basados en datos de fallos generados en un programa de mejora de fiabilidad. Estos procedimientos tratan del
crecimiento, estimacin, intervalos de confianza de la fiabilidad del producto y ensayos de bondad de ajuste.
2 NORMAS PARA CONSULTA
Las normas que a continuacin se indican son indispensables para la aplicacin de esta norma. Para las referencias con
fecha, slo se aplica la edicin citada. Para las referencias sin fecha se aplica la ltima edicin de la norma (incluyendo
cualquier modificacin de sta).
IEC 60050-191:1990 Vocabulario Electrotcnico Internacional (VEI), Captulo 191: Confiabilidad y calidad de
servicio.
IEC 60300-3-5:2001 Gestin de la confiabilidad. Parte 3-5: Gua de aplicacin. Condiciones para los ensayos de
fiabilidad y principios para la realizacin de contrastes estadsticos.
IEC 60605-4 Ensayos de fiabilidad de equipos. Parte 4: Procedimientos estadsticos para la distribucin exponencial.
Estimadores puntuales, intervalos de confianza, intervalos de prediccin e intervalos de tolerancia.
IEC 60605-6 Ensayos de fiabilidad de equipos. Parte 6: Contraste para validar la hiptesis de tasa de fallo constante.
IEC 61014:2003 Programas de crecimiento de la fiabilidad.

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