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INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

CENTRO DE INVESTIGACIN EN CIENCIA APLICADA


Y TECNOLOGA AVANZADA UNIDAD LEGARIA
APLICACIN DEL MTODO DE ANGSTROM PARA LA
CARACTERIZACIN TRMICA DE FLUIDOS

TESIS
QUE PARA OBTENER EL GRADO DE:
MAESTRO EN TECNOLOGA
AVANZADA
PRESENTA:

Ing. Ernesto Hernndez Rosales

DIRECTORES:
Dr. Ernesto Marn Moares
Dr. Antonio Gustavo Jurez Gracia

CICATA
Mxico, D.F. Agosto del 2013

DEDICATORIA

A dios que me ha regalado el tesoro ms valioso que se


le puede dar a un hijo Sus padres. Con la mayor
gratitud a quienes nunca podr pagar todos
sus desvelos y sacrificios, ni aun con las
riquezas ms grandes del mundo.

Con amor y agradecimiento infinito su hijo Ernesto.

AGRADECIMIENTOS.
A travs de estas lneas quiero expresar mi ms sincero y profundo agradecimiento a
todas aquellas personas que con su ayuda han colaborado en la realizacin del presente
trabajo.
Agradezco a mi Alma Mater el Instituto Politcnico Nacional, por abrirme las puertas
para llevar a cabo mis estudios profesionales desde la Vocacional hasta el Posgrado.
Muy especialmente a mi tutor y director de esta tesis al Dr. Ernesto Marn Moares, por
su excelente asesora, sus conocimientos invaluables, su incondicional dedicacin, y
sobre todo su apoyo en la realizacin de esta tesis.
Al Dr. Antonio Manoel Mansanares, de la UNICAMP, Campinas, SP, Brasil, por sus
tiles comentarios y sugerencias sobre algunos aspectos de esta tesis.
A todo el cuerpo acadmico del CICATA-Legaria: Dr. Fernando Trejo Zrraga, Dra.
Roco Alejandra Muoz Hernndez, Dr. Miguel ngel Aguilar Frutis, Dra. Mara de los
ngeles Mantilla y dems profesores, por su excelente disponibilidad y conocimientos
para mi formacin durante la maestra.
A mi Co-director de tesis el Dr. Gustavo Jurez Gracia, al Dr. Jos Antonio Iran Daz
Gngora, Dr. Jos Antonio Caldern Arenas, Dr. Jos Bruno Rojas Trigos, por el
tiempo dedicado a este trabajo y su participacin como sinodales en el examen de
grado.
A todo el grupo de trabajo que conforma el Posgrado en Tecnologa Avanzada (PTA),
C. Laura Vega Haro, C. Leticia Cardona Gmez, Ing. Pablo Mndez, por su amable
ayuda y atencin en el transcurso de la maestra. A cada uno de mis compaeros de
generacin y del PTA por su amistad y colaboracin, tambin a Enrique Cedeo Bernal
por el trabajo en conjunto realizado en el laboratorio de fsica aplicada.
A mi novia Paty, a mis hermanos, y dems familiares ya que me brindan el apoyo, la
alegra y me dan la fortaleza necesaria para seguir adelante.
Agradezco a CONACYT, a la SIP por el apoyo brindado a travs de los proyectos de
investigacin 20120226 y 20130416, y al programa PIFIIPN por el apoyo econmico
brindado durante la realizacin de esta tesis.

ii

CONTENIDO.
Pgina
Resumen
Abstract
Captulo 1
1.1
1.2
1.3
1.4
1.4.1
1.4.2
1.4.3
1.4.4
1.4.5
Captulo 2
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
Captulo 3
3.1
3.1.1
3.1.2
3.2
3.2.1
3.2.2
3.3
3.3.1
3.3.2
3.3.3
3.4
3.5
3.5.1
3.5.2
3.5.3
3.6

Introduccin.
Tcnicas Fototrmicas.
Onda Trmica.
Propiedades Fundamentales de las Ondas Trmicas.
Reflexin y Refraccin de Ondas Trmicas.
Tcnicas de Deteccin de Ondas Trmicas.
Tcnica Fotoacstica.
Radiometra Infrarroja.
Deteccin por medio de la deflexin de un haz de energa
(Efecto Mirage).
Tcnica Fotopiroelctrica.
Mtodo de ngstrom.

v
vi
01
03
05
07
10
12
12
14
16
17
19

Microscopio Fototrmico.
Instrumentacin.
Automatizacin de los dispositivos para realizar un
Microscopio Fototrmico.
Sistema de Potencia.
Componentes de Entrada y Salida.
Descripcin del Software.

21
22
24

Desarrollo experimental.
Caracterizacin del detector PZT.
Metodologa Experimental.
Resultados Obtenidos.
Caracterizacin del detector PVDF.
Metodologa experimental.
Resultados Obtenidos.
Implementacin de los detectores PZT y PVDF en una
muestra (Tarjeta SIM).
Montaje Experimental en el detector PZT.
Montaje Experimental en el detector PVDF.
Discusin de los resultados obtenidos implementando
ambos detectores en una muestra (Tarjeta SIM).
Resolucin de la platina de posicionamiento.
Demostracin del uso potencial del sensor PZT en una
muestra multicapa.
Pelculas de CdTe/CdS.
Metodologa Experimental.
Resultados Obtenidos.
Aplicacin del mtodo de ngstrom para determinar
difusividad trmica en aire y en fluidos.

41
42
42
43
45
45
46
47

iii

27
31
36

48
50
52
52
57
57
58
58
61

3.6.1
3.6.2
3.7

Referencias
Apndice A
Apndice B
Bibliografa

Metodologa Experimental.
Discusin y resultados para la determinacin de la
difusividad trmica en lquidos.
Conclusiones.

ndice de Figuras
ndice de Tablas

61
63
66

67
70
71

iv

RESUMEN.

Las tcnicas fototrmicas son un grupo de mtodos experimentales basados en la


medicin del calor generado sobre una muestra dada, mismo que est determinado por
las propiedades pticas y trmicas del material [1]. Para llevar a cabo la presente tesis
se tuvo que construir un microscopio fototrmico acoplado a un microscopio ptico.
Dicho microscopio esta automatizado para diferentes propsitos. Uno de ellos es utilizar
su platina de posicionamiento para colocar una celda para caracterizacin trmica de
muestras liquidas, con una configuracin especial basada en la tcnica fotopiroelctrica,
usando una variante del mtodo de ngstrom.
Se caracterizaron sensores piro-piezoelctricos de PVDF y PZT en el microscopio
fototrmico, haciendo barridos superficiales, esto con la finalidad de demostrar que se
tiene una seal estable en toda la superficie donde la muestra haga contacto con ellos.
Se coloc una misma muestra en los dos sensores para analizar las ventajas y
desventajas de cada uno y se demostr que el PZT ofrece una mejor prestacin para los
objetivos de este trabajo. Se hicieron algunas imgenes para demostrar la funcionalidad
del equipo. Por ltimo se propone un mtodo novedoso para determinar la difusividad
trmica del aire y de algunos lquidos. El mismo se basa en el mtodo de ngstrom y
usa deteccin piroelctrica. Entre sus ventajas sobre la tcnica fotopiroelctrica
convencional se pueden mencionar el pequeo volumen de muestra empleado, que el
mtodo no requiere de ningn proceso de normalizacin en los datos ni de preparacin
especial en la muestra. Tambin es libre de partes mviles que pueden provocar
movimientos indeseados del fluido en investigacin.

ABSTRACT.
The Photothermal techniques are a group of experimental methods based on measuring
the heat generated on a given sample, which will depend on the optical and thermal
properties of the material [1]. To carry out this thesis a photothermal microscope was
build coupled to an optical microscope. This microscope is automatized for different
purposes. One is to use the positioning stage for placing a sample cell for liquids
thermal characterization, with a special photopyroelectric configuration based in a
variant of the ngstrom method.

PZT and PVDF pyro-piezoelectric sensors have been characterized using the
photothermal microscope, in order to demonstrate that there is a stable signal over the
entire surface in contact with the samples. The same sample was characterized with
both sensors in order to account for advantages and disadvantages of the work with
them. It has been concluded that the PZT sensor offers a better performance for the
objectives of this work. Different images have been taken in order to demonstrate the
functionality of the device. Finally a novel method has been proposed for measurement
of the thermal diffusivity of liquids. It is based on the ngstrom method and uses a
pyroelectric sensor as a detector. The method has several advantages respecting the
conventional photopyroelectric technique: it becomes free of moving parts inside the
sample that can generate inappropriate fluid movements, it is also free on normalization
procedures and reference samples, no special sample preparation is required and the
required volumes of sample are low.

vi

INTRODUCCIN.
La difusividad trmica , es uno de los parmetros involucrados en los fenmenos de
transferencia de calor, cuya descripcin matemtica se basa en la ecuacin de difusin de
calor:
2T (r , t )

1 T
Q
(r , t ) (r , t )
t
k

(0.1)

donde T es la temperatura, t el tiempo, k la conductividad trmica, Q representa la fuente (o


sumideros) de calor y es el operador de Laplace. En esta ecuacin se supone que k es
independiente de la temperatura e isotrpica. Por esa razn los mtodos experimentales
basados en la ecuacin (0.1) deben involucrar pequeas variaciones de temperatura.
2

La difusividad trmica es considerada como una importante cantidad fsica ya que determina
la velocidad de propagacin del calor en procesos de estado transitorio. Este parmetro es
extremadamente sensible a cambios estructurales y de composicin, y est directamente
interrelacionada con otras tres propiedades trmicas a travs de:

k
C

(0.2)

donde la capacidad calorfica especfica C c , depende de la densidad del material , y


del calor especfico c. Es por ello que se desarrollan y se proponen constantemente
diferentes tcnicas para obtener este parmetro. Para una revisin de los mtodos utilizados
para encontrar la difusividad trmica en slidos y lquidos se pueden consultar los trabajos
reportados en [3].
De acuerdo al tipo de experimento, los mtodos utilizados para la medicin de la difusividad
trmica pueden clasificarse en dos clases principales, los mtodos de flujo de calor
transitorios y los de flujo de calor peridicos.
Los primeros se basan en medir directamente k y C para poder determinar indirectamente
usando la ecuacin (0.2). Para una revisin se puede consultar [3].
Los mtodos de flujo de calor peridicos se basan en la ecuacin (0.1). Entre ellos se
pueden mencionar las tcnicas fototrmicas [1] y el mtodo de ngstrom [2], los cuales
sern abordadas en este trabajo de tesis.
1

Planteamiento del problema.


Diferentes tcnicas han sido utilizadas a travs de los aos para la obtencin de la
difusividad trmica en lquidos. Entre ellas se encuentran las fototrmicas y en particular la
fotopiroelctrica. En la variante ms utilizada la muestra [4] se intercala entre el sensor y
una fuente de ondas trmicas y se mide la seal fototrmica en funcin de la frecuencia de
modulacin del calor para un espesor fijo de la muestra, o en funcin del espesor dejando
fija la frecuencia. En este ltimo caso, si bien se evita normalizar la seal para eliminar la
funcin respuesta del sistema, se presentan algunos inconvenientes que limitan su
implementacin. En primer lugar se requiere de un paralelismo muy preciso entre el sensor y
la fuente de ondas trmicas. En segundo lugar la presencia de partes mviles en el interior de
la muestra puede provocar movimientos del fluido y aparicin de burbujas que pueden a su
vez falsear los resultados. Por ltimo el tratamiento matemtico puede complicarse al
considerarse las situaciones anteriores. Por eso surgi la idea de extender el mtodo de
ngstrom, cuyo basamento matemtico es muy simple, para medir la difusividad trmica de
lquidos usando un sensor piroelctrico y la infraestructura de un microscopio fototrmico,
de manera que se eliminen las limitaciones mencionadas.
Objetivo general.

Mediante un microscopio fototrmico y la construccin de una celda especial, proponer un


mtodo para medir la difusividad trmica en lquidos y de gases.

Objetivos particulares.

Construccin de un microscopio fototrmico.

Escritura de un programa en LabView, para el ptimo control automtico del


microscopio fototrmico.

Caracterizacin trmica del medio de deteccin piroelctrico para ajustar la correcta


dependencia a los parmetros de la celda a disear.

Construccin y montaje de la celda.

Determinar la difusividad trmica del aire.

Determinar la difusividad trmica en lquidos conocidos para validar la exactitud del


experimento.

CAPITULO
TCNICAS

FOTOTRMICAS.

Las tcnicas fototrmicas son mtodos experimentales muy verstiles para el estudio de
materiales ya que pueden aplicarse a la caracterizacin de slidos, polvos, lquidos, pastas,
geles, gases, etc. [5,6]. En los ltimos aos su aplicacin se ha ido difundiendo
gradualmente hacia una gran variedad de campos como la ciencia de los materiales, la
agricultura, la medicina, las ciencias ambientales, etc. [6,7]. Se ha demostrado que las
tcnicas fototrmicas constituyen uno de los mtodos ms efectivos para realizar estudios no
destructivos en la materia permitiendo, entre otras cosas la medicin de propiedades pticas
y trmicas que mediante mtodos opto-convencionales no se podan realizar. Cuando un
material es calentado de alguna forma, ya sea irradindolo o ponindolo en contacto directo
con una fuente de calor, el calor absorbido se transmite al entorno por diversos mecanismos,
como pueden ser la conduccin, la conveccin y la radiacin. Las primeras dos ocurren
solamente cuando el material en cuestin se encuentra en contacto con algn medio (slido
para el primer caso o lquido para el segundo), mientras que para la radiacin
electromagntica es emitida constantemente por todos los cuerpos y depende de la
temperatura a la que se encuentran.
El principio bsico de un experimento fototrmico consiste en una fuente de radiacin cuyo
haz de luz es modulado y se hace incidir sobre una muestra, generando en su interior ondas
trmicas, las cuales, al ser detectas, son transformadas en una seal elctrica que
posteriormente es amplificada como se puede ver en el esquema de la Figura I.1.
Las tcnicas fototrmicas pueden aplicarse para medir diferentes propiedades de materiales
o para estudiar diferentes procesos cinticos fisicoqumicos que tienen lugar en ellos [8].
Para comprender por qu es esto posible es necesario observar que el proceso de generacin
de una seal fototrmicas consta de tres pasos fundamentales, que dependen a su vez de un
grupo particular de estas propiedades.

1. Absorcin de la radiacin luminosa: este proceso depende de las propiedades pticas


del material, entre ellas del coeficiente de absorcin ptico b , que determina cuanta
energa luminosa es absorbida para la radiacin electromagntica de una determinada
longitud de onda.
2. Transformacin de la energa luminosa en calor. Este mecanismo depende de
aquellos tomos y molculas que componen el material de la muestra, realizan dicha
transformacin, y por lo tanto de las propiedades que los caracterizan. La eficiencia
de conversin, es decir, la razn o cociente entre la energa total absorbida y la
porcin de ella transformada en calor, es una de estas propiedades.
3. Difusin del calor generado a travs de la muestra, que depende de sus propiedades
trmicas, como la conductividad trmica, k, la capacidad calorfica por unidad de
volumen, C pc , donde p es la densidad y c el calor especifico, la difusividad
trmica k C , y la efusividad trmica, (kC1 2 ) .

Figura I.1 Esquema de un fenmeno fototrmico que incide sobre la muestra.


A las variaciones peridicas de la temperatura de la muestra se les denomina ondas trmicas.
Como resultado del calentamiento peridico en el material tambin variaran sus propiedades
y las del medio circundante que sean dependientes de la temperatura.
La deteccin de estas variaciones constituye el fundamento de las diferentes tcnicas
Fototrmicas. Como ellas dependen de las propiedades trmicas de cada material se pueden
disear experimentos para su anlisis.

1.1 ONDA TRMICA.


Una onda trmica es la respuesta de un medio a una fuente de calentamiento peridico,
cuando una fuente de energa incide sobre la superficie de un slido opaco, este absorber
parte de esta energa y producir un flujo localizado de calor. El flujo peridico de calor
resultante en el material es un proceso difusivo que produce una distribucin de
temperaturas peridicos, la cual ser conocida como onda trmica [1]. Las ondas trmicas
pueden ser producidas en el interior de un material que haya absorbido energa. Estas ondas
interactuaran con las caractersticas trmicas de un material de una manera anloga como la
luz interacciona con las caractersticas pticas en los procesos de dispersin, reflexin y
refraccin en las interfaces. El anlisis matemtico de Fourier fue publicado en 1822 como
La theorie Analitique de la chaleur, [9] en el que demostr que los problemas de
transferencia de calor en los materiales se pueden resolver mediante la aplicacin de
distribuciones de temperaturas arbitrarias interpuestas como una serie de ondas.
Las ondas trmicas se generan en un slido, lquido o gas si se presentan fuentes de calor
peridicas en el tiempo. La difusin de calor desde una fuente hacia la materia circundante
produce una distribucin de temperatura oscilatoria en el tiempo y el espacio. Una
caracterstica destacada de estas ondas de calor u ondas trmicas es la fuerte atenuacin de
su amplitud con la distancia desde la fuente de calor [10].
Generacin y propagacin de las ondas trmicas.
Consideremos un medio homogneo isotrpico semi-infinito cuya superficie es sujeta a un
plano de calentamiento armnico, de la forma (Q0/2)[1+cos(

)], donde Q0 es la intensidad

de la fuente (W/m ), es la frecuencia de modulacin angular de la fuente de calor y t es el


tiempo, vase Figura I.2.
Si la superficie de calentamiento se toma para ocupar el plano x = 0, la distribucin de
temperatura T dentro del slido puede ser obtenida resolviendo una ecuacin unidimensional
a la ecuacin de difusin de calor en x y t [11]:
T 2 1 T

0,
x 2 t

x 0, t 0

(1.1)

Figura I.2. Un slido homogneo Semi-infinito iluminado uniformemente con un flujo


modulado de radiacin en la superficie x = 0.
Sujeto a la condicin de frontera que la energa aplicada a la superficie es disipada por
conduccin en el slido, es decir:

T
x

Re
x 0

Q0
1 e jt ,
2

t 0

(1.2)

En las ecuaciones anteriores es la difusividad, k la conductividad trmica del medio y


, donde la
. Ntese que el flujo de calor se divide en dos partes: Q0/2 y (Q0/2)
primera representa la componente estacionaria o dc, del flujo; mientras que la segunda hace
referencia a la componente dependiente del tiempo o componente ac. La componente dc
produce un aumento de temperatura y es la responsable del transporte de energa, mientras
que la componente ac es responsable de las variaciones armnicas de la temperatura.
Estamos interesados principalmente en la componente ac y omitiremos la componente dc en
la solucin siguiente. Para resolver la ecuacin (1.1) permitiendo asumir que la componente
peridica tiene una solucin de la forma:

T ( x, t ) Re ( x)e jt

(1.3)

Sustituyendo (1.3) en la ecuacin (1.1), obtenemos que para todo tiempo t:


d 2 ( x) j

( x) 0
dx 2

(1.4)

De este modo, la dependencia espacial de la temperatura ac puede escribirse en la siguiente


forma:
6

( x) Ae( x ) Be( x ) ,

(1 j )

(1.5)

Donde A y B son constantes arbitrarias y es el llamado coeficiente complejo de difusin


trmica. Para evaluar estas constantes, notamos que cuando x tiende a

, ( x) debe ser

finita y por consiguiente la constante B es cero. Aplicando la condicin de frontera de (1.2),


tenemos que:
Q0
d ( x)
k
(k )( ) A
2
dx x 0

(1.6)

Y por tanto:
. Finalmente obtenemos que la componente Tac de la temperatura
est dada como sigue [32]:
x
Q0 et x
Q0
T ( x, t ) Re
e

2k 2 ck
ac


cos t x

2 4

(1.7)

1.2 PROPIEDADES FUNDAMENTALES DE LAS ONDAS TRMICAS.


Las principales caractersticas de la ecuacin (1.7) son las siguientes:
I. Del nmero de onda | |

pueden determinarse la longitud de la onda trmica y

la velocidad de propagacin de la temperatura mxima o mnima:

ot

2
2 / f ; vot ot f 2 f
k ot

(1.8)

II. Existe un retraso de fase entre el proceso de calentamiento peridico y la respuesta


trmica dada por (1.5):

(1.9)

III. La amplitud de la onda se amortigua fuertemente a una distancia denominada longitud


de difusin trmica, , la cual est dada por:

f
7

(1.10)

A dicha distancia, la amplitud de la onda trmica decae a un valor de 1/e de su valor inicial y
por tanto a la distancia 2 de propagacin, la onda trmica esta amortiguada por un factor
= 0.0019, lo cual significa que la solucin dada por la ecuacin (1.7) para el
slido opaco semi-infinito puede aplicarse an a muestras relativamente delgadas en tanto
que su espesor sea comparable a la longitud de onda trmica.
IV. Ya que la longitud de difusin trmica S y el retraso de fase varan con la frecuencia de
modulacin, f, selecciones apropiadas de la frecuencia de modulacin pueden usarse para
realizar inspecciones de profundidad bajo la superficie de muestras slidas, por lo cual el
amortiguamiento en la amplitud y el cambio de fase son las cantidades a medir. Sin
embargo, la drstica disminucin de la amplitud, ocasionada por el factor de
amortiguamiento exponencial, presenta una limitacin natural para profundidades de
penetracin grandes.

Figura I.3 Onda trmica despus de alcanzar una barrera slida para la onda de baja
frecuencia.
La Figura I.3 muestra que las ondas trmicas tienen la misma amplitud pero a diferentes
frecuencias. La propagacin de la onda trmica en un slido es un fenmeno de
amortiguamiento, que est muy marcado en todos los casos, sin embargo, a frecuencias
bajas, la lnea punteada corresponde a un decaimiento puramente exponencial. Adems la
velocidad de propagacin es tambin diferente para las dos ondas trmicas, ya que depende
de la frecuencia de modulacin [12].
V. La trayectoria que sigue cada punto de fase constante puede obtenerse de (1.7)
manteniendo la fase sin cambio. En particular, para el caso en el que la fase es cero, la
trayectoria es la envolvente de la onda trmica y est dada por:
8

T ( x, t )

Q0
2 k c

(1.11)

Importancia fsica de los parmetros que gobiernan el comportamiento de las ondas


trmicas.
La difusividad trmica es el parmetro importante para los procesos de difusin
dependientes del tiempo dentro de los materiales isotrpicos homogneos, dndonos una
medida de la rapidez con la que el calor es difundido a travs del medio; mientras que la
cantidad:

k c

(1.12)

se define como la efusividad o inercia trmica, nos da una medida de la capacidad del medio
para intercambiar calor con su medio ambiente. Estos parmetros son en extremo relevantes
para los procesos de calentamiento y enfriamiento de superficies [13, 14].
En los desarrollos anteriores no fue explicit el origen del plano de calentamiento. Para los
fenmenos fototrmicos, la fuente de calentamiento es la absorcin de la energa de un haz
monocromtico que incide sobre una de las superficies de este. Si consideramos que el haz
de excitacin tiene una intensidad de flujo radiante I0, el flujo de energa absorbida por el
slido estar en general dado como:
I ( x, t , , )

I0
F ( x, , ) 1 e jt
2

(1.13)

Donde la expresin precisa de la funcin F depende del modelo de absorcin ptico


apropiado al tipo de material que compone a la muestra slida. Los parmetros pticos y
describen la intensidad y la localizacin de la fuente de calor, respectivamente. Si se
consideran muestras opacas u pticamente gruesas donde el recproco del parmetro de
absorcin ptica

es mucho menor que el espesor de la muestra , y si se

consideran solo procesos de desexcitacin no radiativos, entonces el parmetro

puede

interpretarse como la eficiencia de la conversin fototrmica. En general, el valor del


parmetro

es desconocido para muchos materiales y superficies individuales.

Siguiendo la definicin
, la cantidad
puede determinarse de medidas de la
reflectividad R, donde para superficies con reflexin difusa la distribucin de la intensidad
local de la radiacin reflejada debe tomarse en cuenta.
9

Expresin prctica de la ecuacin de onda trmica.


Otra forma de expresar la ecuacin de onda trmica (1.7) es usar otra analoga ms prctica,
la propagacin de las ondas trmicas tiene una dependencia oscilatoria espacial de la forma
exp( jkx) , con un vector de onda dado por:

Re( )

(1.14)

Utilizando la ecuacin (1.10) y substituyndola en (1.14) la ecuacin (1.7) se convierte en:

T ( x, t )


exp( x / ) cos t x

2

4
2 ck

Q0

(1.15)

donde c, son la capacidad calorfica especfica y la densidad volumtrica de masa del


medio semi-infinito, respectivamente. Esta expresin es similar a la obtenida para la
amplitud una onda electromagntica monocromtica, que bajo condiciones de incidencia
normal, penetra al interior de un conductor elctrico [15]. Utilizando la relacin de (1.12) en
(1.15), la ecuacin final se puede expresar como:

T ( x, t )

x
x
exp cos t
4
2

Q0

(1.16)

1.3 REFLEXIN Y REFRACCIN DE ONDAS TRMICAS.


Las ondas trmicas son reflejadas y refractadas en una interfaz al igual que en el caso de
ondas acsticas o electromagnticas.
Consideremos una onda trmica que se propaga desde un medio a otro de
propiedades trmicas distintas. En general, la onda trmica tiene la forma:

T ( x, t ) Ae qr jt Ae q ( x cos y sin ) jt

10

(1.17)

donde se considera que la frontera entre dos medios es el plano x 0 y que el ngulo que
hacen las ondas incidente, reflejada y transmitida con el eje x es

i , r y t ,

respectivamente, como se muestra en la Figura I.4.

Figura I.4. Reflexin y Refraccin de ondas trmicas.


Las expresiones para la onda incidente, reflejada y transmitida estn dadas por:

Ti Ae q1 ( x cosi y sin i ) jt
Tr RAe q1 ( x cosr y sin r ) jt

(1.18)

Tt TAe q2 ( x cost y sin t ) jt


Donde R y T son los coeficientes de reflexin y transmisin respectivamente. Haciendo
algunas consideraciones para la continuidad de la temperatura y del flujo de calor en la
interfaz, se llega a:
Ley de reflexin trmica:

i r

(1.19)

Ley de Refraccin Trmica:


q1 sin(i ) q2 sin(t )

(1.20)

Coeficiente de Reflexin:

cos i b cos t
cos i b cos t

(1.21)

Coeficiente de Transmisin:

2 cos i
cos i b cos t
11

(1.22)

Constante adimensional b, donde los coeficiente 12 indican que pasa del medio 1 al medio 2

b12

kc
k2 q2 k2 / 2 2 k2 k1 / 1c2

2 2 2 2
k1q1 k1 / 21 k1 k2 / 2c2
k11c1 1

(1.23)

Para incidencia normal (i t 0) y los coeficientes de reflexin y transmisin en x=0 se


reducen a:
R12

1 b12
1 b12

2
T12
1 b12

(1.24)

1.4 TCNICAS DE DETECCCIN DE ONDAS TRMICAS.


Las tcnicas de deteccin de ondas trmicas son mtodos experimentales muy verstiles para
el estudio de materiales ya que pueden aplicarse a la caracterizacin de slidos, polvos,
lquidos, pastas, geles, gases, etc. [5, 16]. En los ltimos aos su aplicacin se ha ido
difundiendo gradualmente hacia una gran variedad de campos como: la ciencia de los
materiales, la agricultura, la medicina, las ciencias ambientales, etc. [16, 17]. Se ha
demostrado que las tcnicas fototrmicas constituyen uno de los medio ms efectivos para
realizar estudios no destructivos en la materia.
1.4.1 Tcnica Fotoacstica.
El efecto Fotoacstico o en ingls PA (Photoacoustic Detection) ha tenido un papel muy
importante en el desarrollo histrico de las ciencias fototrmicas y es un mtodo
ampliamente utilizado. En las ltimas dos dcadas, la deteccin fotoacstica ha probado ser
una tcnica muy til y confiable para la caracterizacin de las propiedades pticas y trmicas
de los materiales [18]. La tcnica consiste en una celda cerrada donde se coloca la muestra,
como puede verse en la Figura I.5, y en una de las caras de la celda se coloca un micrfono.

12

Figura I.5 Diagrama Esquemtico de una celda Fotoacstica (Configuracin de deteccin


Frontal).
Cuando la muestra es calentada se puede detectar una seal acstica, de aqu el nombre de la
tcnica. La seal fotoacstica es generada por los cambios de presin que tienen lugar en la
celda al calentar peridicamente la muestra. Estos cambios de presin se originan debido a
uno o ms de los siguientes mecanismos:

Al ser calentada una delgada capa de gas adyacente a la regin calentada


pticamente se produce una expansin del gas.

Por la dilatacin trmica peridica producida en la superficie de la muestra.

Por evaporacin de sustancias voltiles.

Por la vibracin elstica de una muestra delgada.

Por emisin, absorcin y/o adsorcin de gases provocados por el calentamiento.

Los cambios de presin dentro de la celda producen lo que fue llamado un efecto-pistn por
Rosencwaig y Gersho [1]. La seal detectada por el micrfono depende de las propiedades
trmicas de la muestra y de la fuente de excitacin. La tcnica Fotoacstica tiene dos
variantes, la deteccin frontal o inversa y la deteccin trasera o directa. En la primera, la
cara de la muestra que recibe el calentamiento, es decir, la cara en la que incide el haz
pulsado es la cara que se encuentra en contacto con el gas de la celda, tal como se muestra
en la Figura I.5. En el caso de deteccin trasera (Figura I.6), la cara de la muestra que est en
contacto con el gas, y por ende, la cara dnde se realiza la medicin, es opuesta a aquella en
donde incide el haz.
Para entender mejor esto, se debe considerar que la cara frontal de la muestra es siempre
aquella en donde incide el haz, de tal manera, cuando la medicin se realiza en la cara
frontal (es decir, la cara frontal est dirigida al interior de la celda) la deteccin en frontal y
cuando la medicin se realiza en la cara posterior se habla de deteccin trasera.
13

Cabe mencionar que en una celda Fotoacstica se requiere la presencia de una ventana:
una de las tapas de la celda (o parte de ella) debe estar hecha de una material que sea
transparente a la radiacin de la fuente de calentamiento. En el caso de deteccin trasera, la
muestra es colocada sobre la ventana, que en esta variante, funge tambin como soporte .

Figura I.6 Diagrama Esquemtico de una celda Fotoacstica (Configuracin de deteccin


Trasera).
Las ventajas de utilizar la tcnica fotoacstica son: que no se requiere destruir la muestra
para su anlisis, por lo que tambin permite trabajar con tejidos vivos como por ejemplo,
hojas; que su implementacin es econmica y su montaje es relativamente sencillo. Una
desventaja de la tcnica es que se requiere que la celda sea cerrada por lo que analizar
muestras de gran tamao resulta imposible en la prctica.
1.4.2 Radiometra Infrarroja.
La tcnica de Radiometra infrarroja, o en ingles PTR (Photo-Thermal Radiometry) se vale
de la radiacin electromagntica que emite cualquier sustancia en todo momento debido a su
temperatura (fenmeno de cuerpo negro). Cuando un material cambia su temperatura, su
espectro de emisin tambin cambia. Este cambio se observa principalmente como un
desplazamiento del espectro. Es por esto que cuando el material a analizar es sometido a un
calentamiento modulado, las variaciones de temperatura originadas desplazan el espectro de
emisin de la muestra en funcin del calentamiento. Los cambios en el espectro de emisin
pueden ser entonces asociados a las variaciones de temperatura en la muestra.
La radiacin electromagntica puede ser medida con sensores de infrarrojo dirigidos a la
superficie de la muestra (Figura I.7 y I.8).
14

La radiometra infrarroja es particularmente deseable para ciertas aplicaciones debido al


hecho de que la medicin se realiza en completa ausencia de contacto con la muestra.
Algunas desventajas de esta variante fototrmicas es que los detectores son relativamente
caros y su implementacin es delicada (bombas de vaco, calibracin, blindaje, etc.).
La seal radiomtrica puede utilizarse en modos diferentes de deteccin:

Deteccin en la superficie frontal (propagacin en retroceso).

Deteccin trasera de la superficie (transmisin) [19,20].

En la propagacin en retroceso, la deteccin de las ondas trmicas se lleva a cabo en el


mismo lado de la muestra como se muestra en la Figura.I.7. La emisin infrarroja a partir de
la luz lser trmicamente excitada es enfocada a un detector infrarrojo. Deben tomarse
precauciones para prevenir la dispersin modulada del lser de alta intensidad en la
recepcin en el detector. Esto podra producir seales equivocadas a la misma frecuencia de
las ondas trmicas. La dispersin de la luz lser puede eliminarse utilizando un filtro de
germanio en la apertura del detector. En este modo de deteccin, las caractersticas de la
subsuperficie est expuesta a las ondas de dispersin trmica que producen un cambio en la
temperatura de la superficie frontal.

Figura I.7 Deteccin en la superficie frontal (Propagacin en retroceso).


La propagacin en retroceso es particularmente susceptible en la deteccin de defectos
cercanos a la superficie (hasta dos veces la longitud de difusin trmica), pero no hay lmite
en el espesor de la muestra.
En transmisin (Figura I.8), las ondas trmicas son generadas en el lado opuesto de la
muestra [20]. El mtodo de transmisin de la onda trmica es utilizado para muestras con un
espesor hasta cuatro veces la longitud de la difusin trmica ().
15

Figura I.8. Deteccin trasera de la superficie (Transmisin).


1.4.3 Deteccin por medio de la deflexin de un haz de energa (efecto Mirage).
La deteccin por medio de la deflexin de un haz de energa o en ingles OBD (Optical Beam
Deflection), conocida comnmente como efecto Mirage fue introducida primeramente por
Boccara et al. [21]. Esta tcnica evita las dificultades de tener una buen contacto del detector
y la muestra. El mtodo utiliza un lser para la deteccin y un mtodo de detector en lnea.
El calentamiento modulado de la muestra produce un calentamiento peridico del gas (aire)
adyacente a la muestra provocando una variacin peridica en el ndice de refraccin del gas
[22]. El cambio en el ndice de refraccin del aire deflexiona el rayo lser, esta deflexin es
medida por un detector ptico sensitivo. La tcnica de deflexin ptica del rayo es un
mtodo de no contacto y puede operar en un amplio rango de frecuencias.
Una desventaja de esta tcnica es la dificultad prctica de mantener en posicin dos lseres
(bombeo y prueba) y especialmente cuando se controla la altura del rayo de prueba durante
el escaneo [21]. El requerimiento es que la muestra debe tener una superficie plana o
cilndrica, que limita ms el mtodo. El la Figura I.9, se muestra un esquema del mtodo
Mirage.

16

Figura I.9. Representacin esquemtica del mtodo Mirage.

1.4.4 Tcnica Fotopiroelctrica.


La tcnica Fotopiroelctrica en ingles PPE (Photo-Pyroelectric Detecction) en sus varias
configuraciones experimentales ha cobrado gran atencin en los ltimos aos debido a su
capacidad para realizar la caracterizacin trmica de materiales [23, 24].
El sensor piroelctrico (PE) suele ser una pelcula de polmero de polivinidinil difluoro
(PVDF) o un PZT (Lead Zirconate Titanate) con superficies metalizadas que sirven de
electrodos proporcionando una tensin de salida (dependiente de la temperatura debido al
efecto piroelctrico), pero un cristal de cermico piroelctrico (por ejemplo, LiTaO3) puede
tambin ser utilizado [24, 25].

Figura I.10. Diagrama esquemtico de la deteccin fotopiroelctrica directa.

17

La configuracin fotopiroelctrica directa o trasera (Figura I.10), es aquella en donde la


muestra a analizar est en contacto directo con una de las superficies metalizadas del sensor,
y la radiacin modulada incide directamente sobre la superficie de la muestra, mientras que
en mtodo inverso (Figura I.11), incide sobre la superficie del sensor, tras la absorcin de la
energa del haz, la temperatura del PE flucta peridicamente en funcin de la frecuencia de
modulacin del haz incidente (estas oscilaciones de temperatura son ondas trmicas)
generando una tensin, cuya amplitud a una frecuencia determinada puede medirse mediante
un amplificador Lock-In.

Figura I.11. Diagrama esquemtico de la deteccin fotopiroelctrica inversa.


Ambas configuraciones presentan una dependencia distinta en las propiedades trmicas de la
muestra y el sensor. Al utilizar esta tcnica se debe asegurar un buen contacto entre la
muestra y el sensor para que exista un canal de transferencia de calor y debido al buen
contacto trmico que se puede lograr entre muestras lquidas y gaseosas con el detector, la
mayora de las obras publicadas hacen referencia a la caracterizacin de este tipo de
materiales.
Se ha encontrado que esta tcnica es adecuada principalmente para mediciones de efusividad
trmica () y supervisin de transiciones de fase. Las aplicaciones en los campos de la
caracterizacin de alimentos, de estudio de mezclas de lquidos [26], caracterizacin trmica
de suspensiones coloidales de partculas de tamao nanomtrico (los llamados nanofluidos)
[28], mediciones en gases [27] entre otros, demuestran la utilidad de esta tcnica
fototrmica.

18

Sensores piroelctricos.
Un material piroelctrico es aquel que tiene la capacidad de detectar cambios de
temperatura. Estos sensores, producen cargas elctricas superficiales cuando son calentados.
La seal elctrica que de ellos se obtiene, proviene de la remocin de esta carga mediante
electrodos metlicos colocados en la superficie del material. Un cambio de temperatura en el
material produce un cambio en la carga de la polarizacin. Entonces se genera una seal
elctrica que es proporcional a la tasa de cambio de la carga, y por esta razn no puede ser
empleado para medir temperaturas fijas. Existen sensores piroelctricos hechos a partir de
cristales piezoelctricos, donde los cambios de temperatura inducen tensiones en el cristal, lo
que genera cargas sobre la superficie del cristal o lo que se conoce como el efecto
piezoelctrico.
1.4.5 Mtodo de ngstrom.
Un mtodo que al igual que las tcnicas fototrmicas pertenece a la clasificacin de flujo de
calor peridico, es el mtodo de ngstrom [2]. El famoso cientfico sueco A. J ngstrom
propuso un mtodo en 1861 para medir la difusividad trmica de un slido en forma de barra
mediante la deteccin de ondas trmicas, en un extremo de la barra metlica se aplica una
calefaccin peridica, mientras se deja enfriar libremente el otro extremo. La temperatura en
un punto dado de la barra realizara oscilaciones peridicas, aproximadamente armnicas.
Este mtodo es utilizado todava con ese objetivo, siendo la base de una tcnica
mundialmente aceptada como una de las ms precisas para medir ese parmetro trmico. Se
basa en la ecuacin de onda trmica descrita anteriormente. El experimento original de
ngstrom consisti en utilizar como fuente de ondas trmicas en uno de los extremos de la
barra un flujo alterno de agua fra y caliente. En l, meda la temperatura a diferentes
distancias de dicha fuente. La Figura I.12 muestra el experimento que utiliz ngstrom
donde la fuente de calor peridica era una resistencia calefactora.

Figura I.12. Esquema basado en el mtodo de ngstrom.

19

Despreciando efectos de borde y para modulacin sinusoidal del calor la evolucin de la


temperatura con el tiempo en cualquier punto x de la barra est dada por

T T0exp( x / )cos(2 ft x / 0 ) Acos(2 ft )

(1.25)

Esta ecuacin tiene la misma forma matemtica que la que describe a las ondas trmicas y
que se mostr arriba. En esta ecuacin (1.26), A es la amplitud y

A T0exp( x / ) o ln A x / )
(1.26)

x / 0

(1.27)

(1.27) es el desfasaje. Ntese que T0 y 0 son constantes independientes de la longitud de la


muestra. Puede verse que la difusividad trmica puede determinarse a partir de las
pendientes de las lneas rectas que se obtienen en los grficos de ln(A) versus x y versus x,
si f se conoce. Aunque este mtodo da buenos resultados en el caso de slidos (una
aplicacin prctica es la medicin de la difusividad trmica de suelos), su principal
limitacin es que se requiere un volumen muy grande de muestra. Pero en el caso de
lquidos la tcnica fotopiroelctrica puede ayudar a superar esta limitacin, como se ver en
esta tesis ms adelante.

20

CAPITULO

MICROSCOPIO

FOTOTRMICO

La construccin y puesta a punto de un microscopio automatizado de tipo fototrmico,


permite llevar a cabo diferentes aplicaciones. La platina de posicionamiento del
microscopio, permite colocar diferentes celdas de deteccin y caracterizar diferentes
materiales. Este es un punto muy importante ya que se puede escanear diferentes reas del
material y realizar un barrido en l.
Ventajas de construir un microscopio fototrmico automatizado.
Hardware:

Reduce considerablemente el tiempo invertido para llevar a cabo las mediciones en


cada punto de una muestra al realizar su mapeo.

Se puede generar el mismo escaneo del rea seleccionada, ajustando los parmetros
iniciales de la medicin.

Uso del joystick para el posicionamiento del spot laser en la platina X-Y.

Se agiliza mucho la adquisicin de los datos permitiendo graficar la fase y la


amplitud de la seal en tiempo real, los datos generados pueden ser extrados y ser
procesados en otro software matemtico.

Se tiene un control ms preciso de los parmetros involucrados en la interpretacin


de los datos y ajustando el modelo en el diseo experimental.

Software:

Debido al conocimiento de cada una de los bloques de programacin del software es


posible adecuarlo a nuevas necesidades del usuario, si es que ste demandara ms o
menos caractersticas de l.

Las celdas de deteccin estn adaptadas de tal forma que solo basta con colocar la
muestra en ella y realizar el mapeo, la cual es visualizada en un monitor.

21

Se puede controlar el sistema de automatizacin, a distancia mediante otra


computadora, por medio de la web, y a su vez se puede realizar un monitoreo
constante del microscopio usando una webcam ya colocada en el microscopio.

La organizacin y distribucin de los comandos de cada pantalla permiten al usuario,


un manejo fcil, para entender su entorno.

El software es compatible principalmente con computadoras que ejecutan sistemas


operativos Windows XP y Windows 7.

2.1 INSTRUMENTACIN.
Para llevar a cabo el desarrollo de un microscopio fototrmico se parti de un microscopio
ptico convencional (ubicado en el laboratorio de fsica aplicada del CICATA Unidad
Legara) modelo 01-1001-01XYZ, el cual se debi automatizar por completo. El software de
usuario desarrollado, se program con el entorno de programacin LabView de la empresa
National Instruments versin 11.0.0, en una plataforma de 32 bits & 64 bits. El software
desarrollado permite controlar el sistema mecnico electrnico del microscopio. El
software permite obtener y almacenar los datos adquiridos por el microscopio en archivos de
texto con formato .dat, que posteriormente pueden ser procesados mediante otras
herramientas de software como Origin Matlab, entre otros. El software permite
reconstruir una imagen trmica y tener un control preciso en la platina de posicionamiento,
la distancia del barrido, y el tamao del paso.
Descripcin de los dispositivos iniciales.
El microscopio ptico cuenta con dos cabezales micromtricos (MITUTOYO Micrometric
SPC Data Output), que permiten controlar de forma manual las posiciones X y Y de la
platina de posicionamiento. Para la adquisicin de la imagen, se cuenta con una cmara
digital Panasonic modelo GP-KR222.
Para controlar la intensidad de luz en la muestra se cuenta con una lmpara de halgeno
(Fiberoptic Light Source) de 150W marca ROI modelo 150. La imagen adquirida se muestra
digitalmente en un monitor marca Sony Triniton (Figura II.1).

22

Platina de Posicionamiento

Longitud en el eje X 25.5 cm


Longitud en el eje Y 25.5 cm

Cabezal Micromtrico MITUTOYO

Resolucin: 0,001 mm o 0.00005 "/ 0,001 mm


Pantalla: LCD
Conversin: (pulgadas / mm )
Salida del vstago: Gama 0-0-50.8mm 2 pulgadas
Masa: 490 g
Retencin de Datos
Fijado de Origen/Preset
Lmpara de Luz

Generador Digital de Punta de Mira

Render de posicionamiento
Crosshair & Sincro
Retencin de Datos
Lampara de Halogeno 21V/150W
Transmisin de luz por Fibra ptica
Cmara Digital

Monitor de Imagen

CCD con 768 (H) x 494 (V) pxeles


480 lneas de resolucin horizontal
Iluminacin de la escena mnima de 3 lux a F1.4
Relacin seal-ruido de 50 dB
Circuito de procesamiento digital de la seal
permite una excelente calidad VHS (Y / C)

Balance de Colores seleccionable ATW y AWC


(con balance de blancos R / B VR)
Apertura seleccionable - SUAVE (off) / SHARP
BLC (Compensacin de Contraluz) norma
seleccionable

Figura II.1 Instrumentos de medicin del Microscopio ptico.

23

2.2

AUTOMATIZACIN DE LOS DISPOSITIVOS PARA REALIZAR UN

MICROSCOPIO FOTOTRMICO.
Partiendo de los cabezales micromtricos se decidi acoplar dos motores de ngulo de paso
corto unipolares tanto para el control del eje X como para el control del eje Y que
permitieran el desplazamiento de la platina de posicionamiento. Este tipo de motores
permite movimientos desde un paso hasta una secuencia interminable de pasos, dependiendo
de la cantidad de pulsos que se les aplique en sus terminales elctricas. Un paso puede ir
desde pequeos movimientos de 1.8 hasta 90.
Es por eso que este tipo de motores son muy utilizados para dispositivos de medicin, ya
que pueden moverse a deseo del usuario segn la secuencia que se les indique a travs de
una interfaz por computadora u otro dispositivo electrnico. Los motores que se utilizaron
tienen suficiente potencia para poder mover la platina en X y Y al igual que se us un
juego de engranes con una banda dentada. Se logr montar este mecanismo en una base de
acrlico con un disipador de calor y un pequeo ventilador para evitar sobrecalentamientos
hacia los cabezales micromtricos, logrando as, un acople perfecto entre ellos. La Figura
II.2 muestra el montaje final.

Figura II.2 Montaje de los motores de ngulo de paso corto. Montaje Final.
Estos motores, poseen la habilidad de quedar enclavados en una posicin si una o ms de sus
bobinas estn energizadas, o totalmente libres si no existe corriente alguna circulando por
sus bobinas. Estos motores estn constituidos normalmente por un rotor, en el que se
encuentra un imn fijado en l. Alrededor del rotor hay un cierto nmero de bobinas que
funcionan como estator. Toda la conmutacin (o excitacin de las bobinas) est en funcin
de la posicin en la que se imanten dichas bobinas, y su velocidad de giro depender de la
rapidez con la que se realice la conmutacin.
Se utiliz un motor unipolar modelo PM55L-048 el cual tiene 5 cables de salida (Figura
II.3). A su vez se utilizaron tres secuencias para manejarlo, las cuales se detallan a
continuacin.
24

Todas las secuencias comienzan nuevamente por el paso 1 una vez alcanzado el paso (4 u 8).
Para revertir el sentido del giro, simplemente se deben ejecutar las secuencias en modo
inverso.

Caractersticas:
Tipo de Motor: PM55L-048 Unipolar
Numero de pasos por rotacin: 48(7.5/Step)
Sistema de conduccin: 2-2 Phase
Construccin: Unipolar Const. Volt
Voltaje de operacin:12-24[V]

Figura II.3 Modelo del motor utilizado en el sistema.


Trenes de pulsos utilizados.
Con esta secuencia el motor avanza un paso por vez y debido a que siempre hay al menos
dos bobinas activadas, se obtiene un alto torque de paso y de retencin. Cabe mencionar que
este paso se puede habilitar en el programa para mayor velocidad al posicionar la platina. En
la Tabla II.A se muestran los valores de voltaje que deben suministrarse al motor para la
realizacin de los pasos:
Paso
Bobina A Bobina B Bobina C Bobina D
+V
+V
-V
-V
1
-V
+V
+V
-V
2
-V
-V
+V
+V
3
+V
-V
-V
+V
4
Tabla II.A Secuencia Normal de pasos para motores unipolares.

Secuencia del tipo Wave Drive.


Es esta secuencia se activa solo una bobina a la vez. Esta secuencia brinda un
funcionamiento ms suave, pero por otro lado al estar solo una bobina activada, el torque de
paso y retencin es menor. Este tipo de paso no es utilizado en el programa. En la tabla II.B,
se muestran los valores que deben suministrarse al motor.

25

Paso Bobina A Bobina B Bobina C Bobina D


+V
-V
-V
-V
1
-V
+V
-V
-V
2
-V
-V
+V
-V
3
-V
-V
-V
+V
4
Tabla II.B Secuencia de tipo Wave Drive para motores unipolares.
Secuencia del tipo Medio Paso.
Es esta secuencia se activan las bobinas de tal forma que se realice un movimiento igual a la
mitad del paso real. Para ello se activan primero 2 bobinas y luego solo 1 y as
sucesivamente. Este tipo de paso es el que utilizamos en el programa ya que se program
como configuracin predeterminada ya que en el podemos alcanzar una mxima resolucin
posible en los desplazamientos de la platina de (0.002mm), es por eso que para no perder
ningn paso y obtener esa mxima resolucin se recomienda trabajar tanto en el escaneo, los
desplazamientos y el barrido en esa configuracin. En la tabla II.C se ve la secuencia
completa que consta de 8 movimientos en lugar de 4.
Paso Bobina A Bobina B Bobina C Bobina D
+V
-V
-V
-V
1
+V
+V
-V
-V
2
-V
+V
-V
-V
3
-V
+V
+V
-V
4
-V
-V
+V
-V
5
-V
-V
+V
+V
6
-V
-V
-V
+V
7
+V
-V
-V
+V
8
Tabla II.C Secuencia del tipo de medio pas para motores unipolares.
Cabe destacar que los motores de ngulo de paso corto son dispositivos mecnicos y como
tal deben vencer ciertas inercias e histresis, el tiempo de duracin y la frecuencia de los
pulsos aplicados es un punto muy importante a tener en cuenta.
En tal sentido el motor debe alcanzar el paso antes que la prxima secuencia de pulsos
comience, si la frecuencia de pulsos es muy elevada, el motor puede reaccionar en alguna de
las siguientes formas:

Puede que no realice ningn movimiento en absoluto.

Puede comenzar a vibrar pero sin llegar a girar.

Puede girar errticamente.

Puede llegar a girar en sentido opuesto.

26

Para asegurar la precisin en la platina de posicionamiento se tuvo en cuenta realizar una


calibracin a punto, es decir al momento de llegar el vstago a las posiciones de inicio se
realiz un despliego de retroceso a velocidad baja dos veces, y gradualmente se incrementa.
2.3 SISTEMA DE POTENCIA.
Para poder controlar todos los dispositivos de control se realiz una tarjeta de potencia
gobernada por una DAQ (NI USB-6008), para poder realizar la manipulacin correcta de los
motores, los sensores y los ventiladores, para asegurar una correcta manipulacin de todo un
sistema automatizado, a travs de una interfaz en LabView.
Esta tarjeta de potencia tiene como finalidad asegurar la correcta alimentacin de todos los
dispositivos que en l se utilizan, evitar cadas de tensiones, poder retirar algn integrado
daado por otro, asegurar que todos los componentes realicen la funcin programada, y
poder extender dicha tarjeta si se necesita, acoplando ms integrados en l. Esta tarjeta se
puede adecuar a las necesidades particulares.
Tarjeta de Potencia.
Inicialmente se hizo un circuito en un protoboard (Figura II.4), con la finalidad de poder
realizar cambios en l. Una vez probada cada parte, se pas a realizar el diseo digital
mediante el programa PROTEUS 7.1, para hacer el circuito impreso en una sola placa o
PCB (Printed Circuit Board). Este software es uno de los ms utilizados en la industria por
su potencia de trabajo, versatilidad y capacidad de adaptacin en cada proyecto.

Figura II.4 Primeras pruebas (Protoboard).


Dispone de libreras estndares con infinidad de componentes de diferentes fabricantes.
Cada componente est parametrizado para realizar simulaciones de los circuitos antes de su
fabricacin, al igual de crear un enrutado predeterminado de las pistas en la placa final.
27

Para desarrollar la tarjeta de potencia se utilizaron los siguientes circuitos de la Tabla II.D.
CODIGO
COMPONENTE
Terminal de 2 puntos
J3, J4
Terminal de 4 puntos
J1, J2, J7, J8, J10
Terminal de 5 puntos
J5, J9
CI 74LS04
U1:D, U2:D
Resistencias 1k 1W
R1-8
Transistores TIP122
Q1-8
Drivers ULN2803
U3, U4
Capacitor dielctrico 2200 F
JD
Diodos 1N4007
D1-8
Resistencias 330 W
RA1-4 [R9-12]
Tabla II.D Circuitos de la tarjeta de potencia.
En las Figuras II.5 y II.6 se muestra el circuito elctrico que fue diseado en el protoboard y
simulado en el programa de PROTEUS como diagrama esquemtico. En los dos diagramas
se puede apreciar las conexiones de cada componente, al igual que las entradas y salidas
hacia los dems dispositivos.

28

Figura II.5 Diagrama elctrico de la tarjeta de potencia realizado en PROTEUS.


(1ra Parte).

Figura II.6 Diagrama elctrico de tarjeta de potencia realizado en PROTEUS.


(2da Parte).

29

Una vez realizado el diagrama esquemtico se crea un documento PCB en PROTEUS, en


donde ya aparecen los footprints de los dispositivos en la superficie de la placa, a su vez se
genera el layout inferior con las pistas del Routing que se hizo.
Para realizar el circuito se utiliz el procedimiento de transferencia de tner, el cual consiste
en imprimir las pistas en imagen con efecto espejo, sobre un papel termo transferible, se
ejerce calentamiento en el papel sobre una de las caras de la baquelita, hasta que se
transfieran las pistas, posteriormente se detalla con un plumn indeleble las pistas ms
complicadas y finalmente se realiza un ataque qumico de Cloruro Frrico (FeCl 3) sobre la
placa de baquelita para poder revelar las pistas (Figura II. 7).

Figura II.7 Vista 3D trasera de la tarjeta de potencia.


En la Figura II.8 se logra apreciar la tarjeta de potencia ya terminada, y en l, se pueden
observar la distribucin de todos los componentes electrnicos que se utilizaron ya soldados,
al igual de que se sealan los mdulos de entrada y salida en los que se conectaran los dems
dispositivos, para controlar el microscopio fototrmico.

30

Figura II.8 Tarjeta de Potencia terminada.


2.4 COMPONENTES DE ENTRADA Y SALIDA.
DAQ NI USB-6008.
La DAQ es un dispositivo multifuncional de adquisicin de datos, con el cual se pueden
realizar mediciones de voltaje, soporte para la mayora de los sistemas operativos ya que
constan de 12 canales compatibles con niveles TTL, canales se manejan por el software.
Tiene una capacidad de corriente de 8.5 mA por canal y 10 mA entre todas las lneas. Consta
de un microcontrolador USB, un ADC de entrada de 8 canales de entre 12 y 14 bits y dos
convertidores DAC de salida de 12bits. Este dispositivo en un hardware muy potente si se
usa con el software de LabView de NI debido a que funciona como una interface de
comunicacin entre el puerto y las mediciones de posicionamiento, las ventajas de la DAQ
son las siguientes:

Las DAQ realiza la funcin de acondicionamiento de la seal y a travs de circuitera


interna sustituye componentes que se usaran en instrumentos tradicionales.

La DAQ es un circuito embebido con una serie de convertidores anlogo-digitales y


digitales-analgicos, que estn controlados por un microcontrolador de no muy alta
potencia, el cual interacta tambin con el sistema USB.

La potencia de la DAQ radica en su compatibilidad y en su fcil empleo, utilizacin


en aplicaciones didcticas as como en otras ms avanzadas, adems de su bajo
costo.
31

En la Figura II.9 se puede apreciar el gabinete de la etapa de potencia ya terminado, en el


interior se encuentra la tarjeta de potencia, un fusible de seguridad y un ventilador para la
circulacin del aire y evitar sobrecalentamientos. De igual forma se puede apreciar todos los
perifricos de entrada y salida que de ella emanan. Se trat de realizar las conexiones de tal
manera que se pudieran quitar y poner de manera fcil.

(a) Conector DB9 Motor X


(b) Conector DB9 Motor Y
(c) Conector DB15 Hacia la DAQ
(d) Interruptor paralelo de encendido
para el sistema de enfriamiento
(e) Conector PS/2 hacia los sensores
(f) DAQ conectado a la PC
(g) Fuente conmutada hacia el sistema
de potencia
(h) Interruptor de encendido para todo el
sistema de potencia
Figura II.9 Componentes de entrada y salida hacia la unidad de potencia.

DAQ
Terminales
Digitales I/O
P0.0
P0.1
P0.2
P0.3
P0.4
P0.5
P0.6
P0.7
P1.0
P1.1
P1.2
P1.3
PFIO
+2.5V
+5V
GND

Conector
Tipo
DB15
(Pines)
01
09
02
10
03
11
04
12
06
05
13
NC
NC
NC
NC
08
15

Cableado

Naranja
Verde Agua
Caf/Blanco
Negro/Blanco
Amarillo
Rosa
Rojo/Blanco
Caf
Azul
Verde
Blanco
NC
NC
NC
NC
Gris
Negro

Tabla II.E Conector tipo DB 15 con sus respectivas conexiones de E/S.

32

DAQ
Conector
Terminales
Tipo
Componente
Digitales
DB9
I/O
(Pin)
1
P0.0
6
2
P0.1
7
Motor
3
X
P0.2
8
4
P0.3
9
Tabla II.F Conector tipo DB 9 con sus respectivas conexiones de E/S.

Componente

DAQ
Conector
Terminales
Tipo
Digitales
DB9
I/O
(Pin)
P0.4
1
Motor
6
Y
P0.5
2
7
P0.6
3
8
P0.7
4
9
Figura II.G Conector tipo DB 9 con sus respectivas conexiones de E/S.

DAQ
Conector
Terminales
Tipo
Componente
Cableado
Digitales
PS/2
I/O
(Pin)
P1.0
01
Blanco/Caf
Sensor Y
P1.1
NC
NC
Relevador
P1.2
03
Verde
Agua
Sensor X
Comn
02
Caf
Sensores
04
+12V
Rojo
05
Ventiladores
06
GND
Azul
Base
Ventiladores
Tabla II. H Conector tipo PS/2 con sus respectivas conexiones de E/S.

33

Sensores de contacto.
Al inicio de carrera de cada vstago, se coloc un sensor de contacto con el fin de tener un
punto de referencia en la calibracin del sistema, y de que el software tuviera un punto en el
cual dimensionara la posicin exacta de la platina de posicionamiento, ya sea desplazndose
o realizando un barrido en el eje X & Y (Figura II.10).

Figura II.10 Sensor de Contacto.


Diodo lser.
El lser que se utiliza en el sistema es de 750 nm con una potencia regulable de hasta 500
mW modelo BWF1 (Edmond-Optics). Este laser est acoplado a una fibra ptica, que
permite focalizar un haz de energa muy fino. La fibra est colocada en la parte superior a un
lado de la lente que obtiene la imagen ptica (Figura II.11), de manera que la platina se va a
desplazar hacia la posicin del lser cuando se le asignen las coordenadas apropiadas. En
este tipo de laser la modulacin se realiza mediante TTL, por lo que no se necesita un
modulador mecnico externo, lo que nos garantiza un rea de trabajo mayor.

Figura II.11 Montaje de la fibra ptica al microscopio.

34

Cmara de posicionamiento.
El monitor que dispona el microscopio ptico para poder focalizar la muestra fue sustituido
por una Capturadora de VIDEO USB para ser mostrado en la computadora (Figura II.12).
Esto se hizo con la finalidad de tener una mayor nitidez al momento de elegir los puntos.

(a)
(b)
Figura II.12 Monitor de escaneo. (a) Sistema Anterior, (b) Sistema Implementado.
En la Figura II.13 se muestra un esquema general de todos los instrumentos utilizados en el
microscopio fototrmico con las conexiones que existe entre ellos.

Figura II.13 Esquema general de los instrumentos utilizados.

35

Obtencin de la seal.
Con el software que se program en LabView, podemos controlar el amplificador LockIn
mediante una GPIB (General Purpose Instrument Bus) la cual se conecta a la computadora
en un puerto USB. El Lock-In controla la modulacin del lser y la adquisicin de los datos
que fueron proporcionados por un sensor. A la entrada del Lock-In se puede colocar un
preamplificador. Los datos obtenidos son llevados a la computadora, para su graficacin y
procesamiento (Figura II.14). Las celdas de deteccin pueden ser acsticas o piroelctricas.

Figura II.14 Esquema para la obtencin de la seal Fotopiroelctrica.


2.5 DESCRIPCION SOFTWARE.
El software fue desarrollado en el ambiente grafico LabView 2011 de National
Instruments. A travs de este software se pueden controlar:

La direccin, velocidad y resolucin de desplazamiento de la plataforma de los eje


X y Y.

El posicionamiento de la plataforma por medio de un joystick.

El tipo de medicin ya sea completo o personalizado.

El rea escaneada.

La calibracin del sistema.

El sistema de enfriamiento.

La frecuencia del lser.

El tipo de adquisicin de datos, ya sea la componente en fase y cuadratura o tambin


en amplitud y fase.
36

El bloqueo y desbloqueo del panel frontal del Lock-In.

La duracin de la medicin y la cantidad de muestras que toma el Lock-In en cada


punto.

El tiempo de estabilizacin.

La longitud de paso entre mediciones.

El nombre asignado a los archivos para su almacenamiento segn el tipo de


adquisicin de datos.

La graficacin y rotacin en 3D y 2D de la de la seal en tiempo real para cada lnea


capturada en el eje x.

La graficacin en 3D y 2D de la separacin de fase y los grados para esta.

Mediante las siguientes ecuaciones se puede obtener la componente en-fase (x) y la


componente en cuadratura (y) (Figura II.15) si se conocen los valores de la amplitud (A) y la
fase (). Es por eso que de aqu en adelante solo se hace mencin a la adquisicin de los
datos solo en la amplitud y la fase.

Figura II.15 Representacin de las componentes.


A x2 y 2
.

y r sin

arctan
x
x r cos

37

(2.1)

2.5.1. Descripcin de las partes principales del software.


El software se puede describir en tres partes principales:
1. Panel de control.
2. Medicin.
3. Grficas.
La funcin y el contenido de cada una son descritos a continuacin:
1. Panel de control.
En esta parte, estn las herramientas para desplazarnos sobre la muestra y seleccionar el rea
que queremos usar para la medicin. Tambin se encuentran indicadores de coordenadas,
distancias y los controles del sistema de enfriamiento (Figura II.16).

Figura II.16 Panel de control del software.

El panel de control est dividido en 4 partes segn su funcin:

A. Posicionamiento: en esta seccin se podrn encontrar todos los controles e


indicadores relacionados con el movimiento de la platina, como la velocidad y el
modo del desplazamiento de ambos ejes. Tambin se encuentran los controles que
llevan a la plataforma a su origen mecnico y de software.

38

B. Seleccin del rea: esta parte del panel de control nos permite seleccionar o
modificar el rea que se quiere escanear.
C. Indicadores de coordenada y distancia: Estos nos permiten visualizar la coordenada
y la distancia recorrida hasta ese momento, as como la distancia total a recorrer con
el rea escogida para la medicin.
D. Controles del sistema de enfriamiento: estos controles encienden y apagan los
ventiladores del sistema y tambin des energizan las bobinas de los motores a pasos
para evitar un sobrecalentamiento cuando no se estn utilizando.
2. Medicin.
En esta parte se pueden configurar todos los parmetros del sistema de medicin y se puede
ver la graficacin en tiempo real de las muestras tomadas de la amplitud y de la fase de cada
punto. Tambin cuenta con indicadores de la medicin (Figura II.17).

Figura II.17 Parmetros y Medicin.


La pestaa de medicin est dividida en 3 partes segn su funcin:
A. Configuracin de la medicin: En esta parte se introducen los parmetros del LockIn como el tipo de datos a adquirir (componente en fase y cuadratura o amplitud y
fase), la frecuencia de modulacin, el tiempo de la medicin en cada punto y la
cantidad de muestras que toma en ese tiempo determinado. Se inicia la medicin y se
establece la distancia y el tiempo de estabilizacin entre cada punto.
39

B. Graficacin de la adquisicin de datos: en esta seccin se grafica en tiempo real las


muestras tomadas de la amplitud y de la fase de cada punto en particular.
C. Indicadores de la medicin: Nos dicen la cantidad de mediciones totales en los ejes
x-y, as como la medicin en la cual se encuentre en ese momento. Tambin permite
visualizar cuando el sistema est realizando una medicin o cuando se est
desplazando.
3. Graficas de Fase y Amplitud
En esta parte el software grafica el promedio de las muestras que fueron adquiridas en cada
punto, tanto de la amplitud como de la fase. La graficacin se realiza en tiempo real una vez
que todos los puntos de una lnea del eje x fueron adquiridos. La grafica se redibuja y se
ajusta con cada nueva lnea introducida. Se pueden seleccionar 4 vistas diferentes en las
grficas: una vista 3D y vistas 2D X-Y, X-Z y Z-Y. La vista 3D puede ser
rotada en todas direcciones para facilitar la exploracin (Figura II.18).

(a)

(b)

Figura II.18 Graficas finales de la amplitud y la fase.


Una vez descrito todo el proceso de automatizacin se puede mostrar el microscopio
fototrmico instalado en el laboratorio (Figura II.19). Una vez puesto a punto todo el sistema
se procede a realizar el proceso experimental que nos atae.

Figura II.19 Microscopio Fototrmico.


40

CAPITULO
DESARROLLO

EXPERIMENTAL.

Para caracterizar diferentes materiales en el microscopio fototrmico se deben tener en


cuenta dos aspectos muy fundamentales.
1. La onda trmica es una onda amortiguada. Su longitud de penetracin (1.10) es la
distancia a la cual la onda se atena e veces en relacin a su valor en la superficie. La
longitud de onda trmica es 2 y su valor depende de la frecuencia de modulacin.
2. La propagacin de las ondas trmicas tarda un tiempo finito, que depende de las
propiedades trmicas de la muestra. Este tiempo de retardo conduce a una diferencia de fase
entre la excitacin ptica y la onda trmica que depende de la frecuencia de modulacin.
Componente en Amplitud y ngulo de fase.
La amplitud es una seal dependiente no solo de manera directa de las propiedades pticas
de la superficie de la muestra, sino tambin de las caractersticas trmicas subsuperficiales.
Sin embargo, el ngulo de fase es una seal que depende principalmente de las estructuras
en profundidad del material y es insensible a las estructuras pticas de la superficie. El
ngulo de fase refleja caractersticas por debajo de la superficie mucho ms profundas que la
amplitud. [29]
Componente en-fase y cuadratura
Todas las componentes de la seal fotopiroelctrica estn relacionadas, por lo tanto cuando
se escanea un material y se incide un haz de luz en las superficie de la muestra,
inhomogeneidades del material no solo afectan a la seal de amplitud, tambin provocan
variaciones en la fase. Por lo tanto una imagen en la componente en-fase refleja
principalmente las estructuras pticas superficiales. La componente de cuadratura, sin
embargo es ms sensible por los cambios en el ngulo de fase, que los cambios de la
amplitud en la componente en-fase. Por lo tanto una imagen de la cuadratura esta
principalmente afectada por las estructuras de la subsuperficie.

41

Sensores fotopiroelctricos.
Con el microscopio fototrmico se realizaron mediciones con 2 sensores piroelctricos, un
PVDF y un PZT. Estas mediciones nos muestran como en toda la superficie de los sensores
se tiene una seal estable, adems de que nos proporciona informacin sobre qu sensor es
ms recomendado utilizar para cada experimento.
3.1

CARACTERIZACIN DEL DETECTOR PZT (TITANATO-ZIRCONATO-

PLOMO).
Un material PZT es un cermico de color blanco que es insoluble en todos los disolventes.
Su frmula molecular es PbZrxTi1-xO3 (0x1). El sensor PZT no necesita de ninguna
preparacin especial para poder trabajar con l. El utilizado se obtiene de un buzzer
comercial modelo BGD (Steren), que ya tiene una configuracin de tipo directa. Esto brinda
una mayor facilidad de trabajar con l ya que son, rgidos, econmicos y fciles de
manipular para usarlos en diferentes materiales. El PZT tiene un espesor de 0.481 mm y est
soportado por dos electrodos, uno de cobre con un espesor de 0.323mm y por el otro lado
una fina capa de plata (Figura III.1a). Al no haber datos del fabricante los materiales se
identificaron mediante EDS (Energy Dispersive Spectroscopy).
3.1.1 Metodologa experimental.
Se coloc el sensor PZT sobre la platina de posicionamiento de manera que el haz de luz
lser incida directamente sobre l. Se colocaron los parmetros de la Tabla III.A en el
software y se realiz un barrido tratando de escanear toda la superficie del sensor ya que esta
superficie es la que hace contacto con el material que se quiera caracterizar. La lnea
punteada de la Figura III.1b, muestra el rea que fue escaneada.

42

(b)
(a)
Figura III.1. Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la lnea
punteada corresponde al rea escaneada.
Nmero de puntos

204

Frecuencia

1000 Hz

Cu

107.45x106 m2/s
[3]

Tiempo de
estabilizacin
Longitud por
paso
Distancia
en X

0.5 seg.
1.8 mm.
30.6 mm.

Ag

Distancia
173.86 x106 m2/s
21.6 mm.
en Y
[3]
Tabla III.A. Parmetros utilizados al realizar el barrido en el PZT.
3.1.2 Resultados obtenidos.

(a)

(b)

(c)

(d)

Figura III.2. Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud, (b) Fase, (c)
Componente en-fase (d) Cuadratura.

43

Una vez obtenidas las imgenes fototrmicas de todas las componentes de la seal
piroelctrica Figura III.2, se puede llegar a determinar que en toda la superficie del cermico
PZT se tiene una seal estable, sin necesidad de acoplar algn preamplificador a la entrada
del Lock In, salvo algunos casos particulares donde se requiere un acople de impedancias.
Se puede apreciar que tanto la fase es el complemento de la amplitud y viceversa, y que lo
mismo ocurre entre la componentes en-fase y cuadratura.

(a)

(b)

Figura III.3. Graficas realizadas en Matlab con los datos obtenidos. (a) Amplitud vs
Distancia (b) Fase vs Distancia.
En la Figura III.3 se muestran dos graficas hechas en Matlab con la finalidad de interpretar
mejor los resultados. Se colocaron las dimensiones reales que existen entre cada uno de los
puntos, y se graficaron la amplitud y la fase. Se puede observar un grfico continuo y
estable cuando el lser incide sobre el material PZT, pero cuando el lser se posiciona e
incide sobre la superficie del electrodo de cobre el grafico tiene demasiados picos sin que se
tenga una seal estable. Esto se hace ms evidente en la fase (Figura III.3b).

44

3.2

CARACTERIZACIN

DEL

DETECTOR

PVDF

(POLIFLUORURO

DE

VINILIDENO).

El Material PVDF es un fluoropolmero termoplstico altamente inerte qumicamente. Se


suele emplear en condiciones que requieren mucha pureza, fortaleza y elevada resistencia a
cidos, bases y disolventes, a altas temperaturas, al envejecimiento y a los rayos ultravioleta.
Adems, es fcil de moldear en comparacin con otros fluoropolmeros debido a su punto de
fusin relativamente bajo, 177 C. Su frmula molecular es (C2H2F2)n.
El sensor PVDF (Measurement Specialties) es una membrana muy delgada, la cual se debe
de seccionar y preparar en una celda que pueda hacer como medio de soporte y de electrodo
a su vez (Figura III.4b). La desventaja de este tipo de sensor es su fragilidad, lo que limita
su aplicabilidad.
3.2.1 Metodologa experimental.
Se coloc el sensor PVDF sobre la platina de posicionamiento y se realiz un barrido
tratando de escanear toda la superficie del sensor. El material PVDF est metalizado con
Cobre y con una capa delgada de Nquel. Su espesor total es de 0.2 mm. La Figura III.4a,
muestra la celda en que se debe de colocar el sensor para poder ser utilizado, est fabricada
con dos tablillas fenlicas con sus respectivas pistas elctricas.
La lnea punteada de la Figura III.4b es el rea escaneada sobre la muestra. En este sensor se
logr escanear toda el rea que hace contacto con algn material ya que no existen contactos
soldados en l. La Tabla III.B muestra los datos utilizados para realizar la medicin.

Figura III.4. Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la lnea
punteada corresponde al rea escaneada.

45

Nmero de puntos

506

Frecuencia

1000 Hz

Cu

107.45x106 m2/s
[3]

Tiempo de
estabilizacin
Longitud por
paso
Distancia
en X

1 seg.
0.64 mm.
14.72 mm.

Ni

Distancia
12.926 m2/s
14.08 mm.
en Y
[3]
Tabla III.B. Parmetros utilizados al realizar el barrido en el PVDF.
3.2.2 Resultados obtenidos.

(a)

(b)

(c)

(d)

Figura III.5. Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud, (b) Fase, (c)
Componente en-fase (d) Cuadratura.
Una vez obtenidas las imgenes fototrmicas de todas las componentes de la seal
piroelctrica (Figura III.5), se puede llegar a determinar que en toda la superficie del PVDF
se tiene una seal estable similar a la del PZT. En la medicin se utiliz un preamplificador
(Measurement Specialties) a la entrada del Lock-In debido a que para este tipo de sensores
se recomienda utilizarlo. Se puede apreciar que las imgenes son muy similares a las del
PZT.
46

(a)

(b)

Figura III.6. Graficas realizadas en Matlab con los datos obtenidos. (a) Graficas obtenidas
de Amplitud vs Distancia (b) Graficas obtenidas de Fase vs Distancia.
En la Figura III.6 se pueden observar las dos graficas realizadas en Matlab con los datos
obtenidos del PVDF, con la finalidad de interpretar mejor los resultados con otro tipo de
grficas. Se colocaron las dimensiones reales que existen entre cada uno de los puntos y se
graficaron la amplitud y la fase. Se puede observar una grfica continua y estable cuando el
lser incide sobre la superficie del material. No obstante, cuando el lser se posiciona e
incide sobre la superficie de la baquelita la grfica tiene demasiados picos sin que se tenga
una seal estable, siendo ms representativos en la fase (Figura III.6a).
3.3 IMPLEMENTACIN DE LOS DETECTORES PZT Y PVDF EN UNA MUESTRA
(TARJETA SIM).
Conociendo que la seal es estable en los dos tipos de sensores siempre y cuando se coloque
la muestra en las superficies del material piroelctrico, se decidi utilizar una muestra solida
con propiedades trmicas similares, haciendo barridos superficiales en l. Esto con la
finalidad de conocer que atribuciones y ventajas tiene utilizar el PZT y el PVDF.

47

Barrido superficial del chip telefnico.


Un chip telefnico es un circuito integrado de dimensiones muy reducidas, el conector tiene
ocho contactos metlicos visibles y debidamente estandarizados, que establecen contacto al
insertar la tarjeta en la ranura del lector, son tambin conocidas como tarjetas SIM.
Se decidi utilizar el chip telefnico ya que al separar los contactos metlicos se realizan en
la superficie pistas que estn hendidas, el material con el que est compuesto mayormente es
de cobre. Las pistas que estn en la superficie siguen patrones o caminos de inicio a fin. Esto
es muy til para nosotros ya que podemos conocer que sucede cuando entra y sale en el haz
de luz.
3.3.1 Montaje experimental en el detector PZT.
Se coloc el chip telefnico sobre la superficie del cermico PZT y haciendo un buen
contacto entre ellos, se utiliz pasta trmica, para sellarlo perfectamente. El chip telefnico
que se utilizo tiene unas dimensiones de 15 mm de largo x 12 mm de ancho y un espesor de
0.76 mm, la Figura III.7a, muestra como el lser incide sobre la superficie del chip. En la
Figura III.7b se puede observar las pistas que tiene el chip las cuales tienen una longitud no
mayor a 0.5 mm, la lnea punteada muestra el rea escaneada sobre la muestra. La Tabla
III.C, muestra los datos utilizados para realizar la medicin.

Figura III.7. Barrido superficial (a) Lser incidiendo sobre la superficie del chip (b) Vista
superior del chip tomada directamente del sistema, la lnea punteada corresponde al rea
escaneada.
Nmero de puntos
Frecuencia

Cu
Sn

8745
4200 Hz.

107.45x106 m2/s
[3]

Tiempo de
estabilizacin
Longitud por
paso
Distancia
en X

Distancia
40 x106 m2/s
en Y
[3]
Tabla III.C. Datos utilizados en la medicin.
48

0.5 seg.
0.036 mm.
5.94 mm.
1.908 mm.

RESULTADOS

1.26 mm

(a)

1.26 mm

(b)

1.26 mm

(c)

1.26 mm

(d)
Figura III.8. Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud 3D y 2D, (b)
Fase 3D y 2D, (c) Componente en-fase 3D y 2D (d) Cuadratura 3D y 2D.

49

3.3.2 Montaje experimental en el detector PVDF.


En la celda creada para usar el PVDF se coloc otro chip telefnico con demasiado cuidado
sobre la superficie de la membrana, usando pasta trmica se realiza un buen contacto entre
ellos. El chip telefnico que se utilizo tiene las mismas dimensiones 15 mm de largo x 12
mm de ancho y un espesor de 0.76 mm, lo nico que vario en l fueron los recorridos que
hacen las pistas. La Figura III.9a, muestra como el lser incide sobre la superficie del chip.
En la Figura III.9b se pueden observar las pistas que tiene el chip las cuales tienen una
longitud no mayor a 0.5 mm, la lnea punteada muestra el rea escaneada sobre el chip. La
Tabla III.D muestra los datos utilizados para realizar la medicin.

Figura III.9. Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la lnea
punteada corresponde al rea escaneada.
Nmero de puntos
Frecuencia

Cu
Sn

2176
4000 Hz

107.45x106 m2/s
[3]

Tiempo de
estabilizacin
Longitud por
paso
Distancia
en X

Distancia
40 x106 m2/s
en Y
[3]
Tabla III.D. Datos utilizados en la medicin.

50

1 seg.
0.066 mm.
4.224 mm.
2.244 mm.

Resultados.

0.924 mm

(a)

0.924 mm

(b)

0.924 mm

(c)

0.924 mm

(d)
Figura III.10. Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud 3D y 2D,
(b) Fase 3D y 2D, (c) Componente en-fase 3D y 2D (d) Cuadratura 3D y 2D.

51

3.3.3 Discusin de los resultados obtenidos implementando ambos detectores en una


muestra (Tarjeta SIM).
Los resultados mostrados en las Figuras III.8 y III.10 demuestran que aunque ambos tipos de
sensores permiten obtener las imgenes deseadas, el PZT ofrece una mejor resolucin. Esto
se atribuye, por una parte, a que con l se logra un mejor contacto mecnico con la muestra
que en el caso del PVDF. Este resultado puede entenderse de la siguiente manera: El chip
analizado tiene un espesor de aproximadamente 1mm. Supongamos que su material es
bsicamente Cu. A la frecuencia de modulacin utilizada (aproximadamente 4 kHz en los
dos detectores), la longitud de difusin trmica es de unas 100 m. Por tanto se genera
informacin debido a la interaccin de la onda trmica con estructuras del chip donde
existen diferencias notables en propiedades trmicas en escalas espaciales de esa misma
magnitud. Pero las ondas trmicas, al ser atenuadas en esas mismas distancias, no son
capaces de alcanzar el sensor. La informacin generada por ellas es portada hacia el sensor
por ondas de ultrasonido no atenuadas y de longitud de onda milimtrica. Aunque ambos
sensores muestran piro y piezoelectricidad, el sensor PZT tiene mejores propiedades
piezoelctricas que el PVDF (y viceversa), por lo que es capaz de resolver mejor la
informacin generada.

3.4 RESOLUCIN DE LA PLATINA DE POSICIONAMIENTO.


Un punto importante que se debe tener en cuenta para utilizar la platina de posicionamiento
en diferentes experimentos, es conocer la resolucin mxima que se puede alcanzar en ella.
Mediante el siguiente experimento, se puede asegurar que la platina se posiciona en el punto
que nosotros le indiquemos al momento de realizar un barrido en X o Y. La resolucin
mxima por paso en el microscopio fototrmico es de 0.002mm.
Metodologa experimental.
El experimento realizado consiste en utilizar el microscopio fototrmico colocando una
muestra solida con dimensiones ya conocidas sobre el sensor. Por comodidad y rapidez se
utiliz un PZT, aunque podra haberse usado un PVDF. Se eligi como muestra un disco
metlico, ya que en l se pueden conocer todas sus dimensiones ( exterior de 4.72 mm y un
interior de 2.88 mm), adems de aprovechar los contornos que tiene. El disco metlico se
coloca en la superficie del sensor, asegurando un buen contacto entre ellos usando pasta
trmica (Figura III.11), y se realiz un barrido en todo el contorno del disco.
Los datos de la Tabla III.E son los parmetros utilizados para todas las mediciones
realizadas en el disco metlico. El experimento consiste en escanear todo el contorno del
material, variando nicamente el paso de la platina de posicionamiento.
52

Frecuencia

Acero

100 Hz.

Espesor

18.80 x106 m2/s


[3]

Dimetro
Externo
Tiempo de
Dimetro
0.25 seg.
estabilizacin
interno
Tabla III.E. Datos utilizados en la medicin.

0.420 mm.
4.70 mm.
2.88 mm.

Figura III.11. Imagen ptica del disco metlico.


Resultados obtenidos.

2.4 mm

2.4 mm

(a)
(b)
Figura III.12. Imagen 2D del paso mnimo incrementado 600 veces. Se obtuvieron
36 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

53

1.2 mm

1.2 mm

(a)
(b)
Figura III.13. Imagen 2D del paso mnimo incrementado 300 veces.
Se obtuvieron 100 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

1 mm

1 mm

(a)
(b)
Figura III.14. Imagen 2D del paso mnimo incrementado 100 veces.
Se obtuvieron 900 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

0.768 mm
mm

0.768 mm
mm

(a)
(b)
Figura III.15. Imagen 2D del paso mnimo incrementado 64 veces.
Se obtuvieron 1936 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
54

0.528 mm
mm

0.528 mm
mm

(a)
(b)
Figura III.16. Imagen 2D del paso mnimo incrementado 24 veces.
Se obtuvieron 10404 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

(a)
(b)
Figura III.17. Imagen 3D del paso mnimo incrementado 600 veces.
Se obtuvieron 36 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

(a)
(b)
Figura III.18. Imagen 3D del paso mnimo incrementado 300 veces.
Se obtuvieron 100 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
55

(a)
(b)
Figura III.19. Imagen 3D del paso mnimo incrementado 100 veces.
Se obtuvieron 900 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

(a)
(b)
Figura III.20. Imagen 3D del paso mnimo incrementado 64 veces.
Se obtuvieron 1936 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

(a)
(b)
Figura III.21. Imagen 3D del paso mnimo incrementado 24 veces.
Se obtuvieron 10404 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.

56

Los resultados obtenidos se muestran en las figuras III.12 hasta III.21. Como se esperaba, la
resolucin aumenta en la medida que lo hace el nmero de pixeles, aunque sobrepasado
cierto nmero de estos se resuelven detalles cuya interpretacin merece ms experimentos,
como en la Fig. II.21.
3.5. DEMOSTRACIN DEL USO POTENCIAL DEL SENSOR PZT EN UNA
MUESTRA MULTICAPA.
Con la finalidad de validar el mtodo y la potencialidad del sensor PZT se decidi conocer
su efectividad si se tienen pelculas delgadas. Esto abre el camino para diferentes
aplicaciones, como poder utilizar el microscopio fototrmico para medir espesores de
sistemas multicapa.
3.5.1 Pelculas de CdTe/CdS.
El CdTe y el CdS son materiales semiconductores del grupo II-VI. La fase estable del CdTe
es cubica con parmetro de red a 6.477 y una energa de la banda prohibida a
temperatura ambiente de 1.5 eV. La fase estable del CdS es hexagonal y sus parmetros de
red son a 4.136 y c 6.713 , con una energa de la banda prohibida de 2.53 eV. La
energa del ancho de la banda prohibida del CdTe coincide con el mximo del espectro de
emisin del espectro solar, lo cual quiere decir que un grosor de capa de unos cuantos
micrmetros es suficiente para absorber el 90% de los fotones de la luz incidente. Estos
factores son los que lo hacen un material sumamente atractivo en la produccin de celdas
solares fotovoltaicas [32].

En la Figura III.22 se muestra un sistema CdTe/CdS/Vidrio que fue depositado por medio
de la tcnica CSVT-HW (Close Space Vapour Transport-Hot Wall). Las muestras fueron
suministradas por el grupo de fotovoltaicos de la Escuela Superior de Fsica y Matemticas
del IPN.

Figura III.22. Sistema CdTe/CdS/Vidrio.

57

3.5.2 Metodologa Experimental.


Utilizando el microscopio fototrmico se realiz un barrido en la superficie de la muestra
iluminando por la pelcula de CdTe y con el sustrato de vidrio en contacto con el sensor
PZT. Se utiliz pasta trmica para garantizar un buen contacto termo-acstico. El rea
analizada se muestra en la figura III.23, y se escogi de manera tal que se observen las
interfaces Vidrio-CdS y CdS-CdTe. El espesor de la capa de CdTe es de 0.004mm y el de
de CdS de 0.00012mm, de acuerdo con el proveedor.
3.5.3 Resultados obtenidos.

La Tabla III.F muestra los parmetros utilizados para realizar la medicin.

Nmero de puntos
Frecuencia

8745
4200 Hz

Cu

Tiempo de
estabilizacin
Longitud por
paso
Distancia
en X

107.45x106 m2/s
[3]
Distancia
40 x106 m2/s
Sn
en Y
[3]
Tabla III.F. Datos utilizados en la medicin.

0.5 seg.
0.036 mm.
5.94 mm.
1.908 mm.

(a)
(b)
Figura III.23. Imagen ptica del sistema multicapa (a) Vista 2D (b) Vista 3D.
En las imgenes (Figura III.24 y III.25) se observan claramente las tres interfaces que
existen en el material siendo la imagen en cuadratura (III.25 c y d) ms parecida a la imagen
real en cuanto al orden de los distintos materiales en la muestra.

58

0.468 mm
mm

(a)

(b)

0.468 mm
mm

(c)
(d)
Figura III.24. Imagen del sistema multicapa. (a) Vista 2D Amplitud (b) Vista 3D Amplitud
(c) Vista 2D Fase (d) Vista 3D Fase.

0.468 mm
mm

(a)

(b)

0.468 mm
mm

(c)
(d)
Figura III.25. Imagen del sistema multicapa. (a) Vista 2D En-Fase (b) Vista 3D En-Fase (c)
Vista 2D Cuadratura (d) Vista 3D Cuadratura.
59

Para poder interpretar mejor la informacin en la componente en cuadratura se procesaron


los datos en Matlab, con la finalidad de utilizar otro tipo de grficos. Matlab puede graficar
el contorno de una superficie extrayendo los puntos. El resultado se puede observar en la
Figura III.26.

Figura III.26. Imagen del contorno de la superficie de la componente En-Fase.


Se utiliz otro tipo de grafico en Matlab (mesh plot), en la cuadratura con la finalidad de
conocer las 3 interfaces que existen en l, en la Figura III.27, se puede observar cuando
inicia y termina la pelcula de CdS y CdT.

Figura III.27. Imagen 3D con efecto de malla procesada en Matlab.


Mediante este tipo de vistas de la Figura III.28 se puede proponer un modelo matemtico en
el cual su pueda conocer el espesor de las pelculas, o hacer una relacin de equivalencia por
valor de cuadratura a espesor de la pelcula, esto abre camino para diferentes aplicaciones en
materia de caracterizacin de sistemas multicapa e incrementa el potencial uso de los PZT
para realizar mediciones fototrmicas en diferentes materiales.

60

Figura III.28. Vista Superior y lateral con efecto de malla, localizando la interfaz del CdTe
y el vidrio.
3.6 APLICACIN DEL MTODO DE NGSTROM
DIFUSIVIDAD TRMICA EN AIRE Y EN FLUIDOS.

PARA

DETERMINAR

3.6.1 Metodologa Experimental.


Una vez caracterizado el sensor PZT y evaluada la potencialidad del microscopio, se decidi
utilizarlos para medir difusividad trmica en lquidos. Para ello, y basndonos en la
metodologa que describiremos ms adelante, se dise una celda de medicin que se
muestra esquemticamente en la Figura III.29.

61

Figura III.29. Vista esquemtica de la seccin transversal de la celda de medicin.


La celda es colocada sobre la platina de posicionamiento. Asegurando que la celda est bien
alineada, se colocan los parmetros de medicin en el software y se realiza un barrido
longitudinal en el eje X. El lser modulado incide sobre la superficie del silicio. Se
adquieren los datos del PZT en cada punto en que el lser se posicione. El silicio tiene una
difusividad alta de =8.8x10-5 m2/s [3]. A una frecuencia de modulacin de 18 Hz el silicio
se comporta como una muestra trmicamente delgada. Esto quiere decir que las ondas
trmicas generadas en su superficie por absorcin superficial de la luz se difunden hacia el
lado no iluminado pasando por el fluido, donde son detectadas por el sensor piroelctrico.
De esta manera se podr medir la amplitud y la fase de la seal en funcin del espesor Li de
la muestra. Podemos entonces hacer las suposiciones necesarias para garantizar que las
ecuaciones (1.26) y (1.27). Y las consideraciones hechas en la seccin 1.4.5 sean vlidas, de
manera que se pueda determinar la difusividad trmica de la muestra a partir de las
pendientes de los grficos de logaritmo de la amplitud y fase versus espesor. La tensin del
piroelctrico, Vi, ser proporcional a la temperatura de la muestra.
Por otra parte, la placa de silicio tiene una superficie lisa y plana la cual hace contacto con el
lquido, garantizando la uniformidad del espesor de la muestra deseada. La rigidez de ambas
placas (Si), y la del cermico (PZT), evitan problemas relacionados con la flexin que puede
aparecer cuando se usan lminas delgadas de PVDF. En cada punto de incidencia del haz de
luz i, la longitud de la muestra correspondiente se convierte en Li. El volumen para cada
muestra no sobrepasa los 0.5 ml. Adems de las ventajas antes mencionadas, esta pequea
cantidad de muestra puede hacer que el mtodo sea muy til para varias aplicaciones
relacionadas con la caracterizacin trmica de lquidos para los que solo se dispongan
cantidades muy pequeas, por ejemplo suspensiones coloidales de partculas de tamao
nanomtrico [28].
62

3.6.2 Discusin y Resultados para la determinacin de la difusividad trmica en


lquidos.
La Figura III.30 muestra las curvas tpicas de amplitud y fase en funcin de la longitud de la
muestra para el aire, y la Figura III.31 muestra los resultados para los lquidos que se
refieren en la Tabla III.G.

Figura III.30. Amplitud (crculos) y fase (tringulos) de la seal piroelctrica en funcin de


los espesores de la muestra. Las lneas continuas y discontinuas son los mejores ajustes
lineales.
Las mediciones se realizaron a temperatura ambiente (26,6 C). Las lneas continuas y
discontinuas son los mejores ajustes lineales de acuerdo a las ecuaciones 1.26 y 1.27 para la
amplitud y la fase respectivamente. A partir de la pendiente, p, la difusividad trmica se
calcula como f 2 . Los valores de difusividad trmica obtenidas en las mediciones se
muestran en la Tabla III.G, al igual que los valores reportados en la literatura. Las
incertidumbres relativas en la medicin son alrededor del 2-3%.

63

(a)

(b)

(c)

(d)

Figura III.31. Amplitud (crculos) y fase (tringulos) de la seal piroelctrica en funcin de


los espesores de la muestra. Las lneas continuas y discontinuas son los mejores ajustes
lineales. (a) Agua destilada; (b) Aceite de Oliva (c) Glicerol, (d) Etileno Glicol.
Vale la pena mencionar que a pesar de que la difusividad trmica de etilenglicol y la
glicerina tienen valores similares, el rango escaneado en el espesor de la muestra fue mayor
para el primer lquido. En este caso el ngulo de inclinacin entre el Sensor PZT - Placa de
Silicio, fue menor que en el caso de la glicerina, de manera que el rango en el que la
condicin =2 > L se cumple siendo ms grande.
Este resultado muestra que se debe tener cuidado en el diseo de la celda de deteccin con el
fin de mejorar la precisin experimental. En el modelo utilizado aqu las reflexiones de
ondas trmicas en las interfaces no se tomaron en cuenta y se observa que no hay ninguna
restriccin de acuerdo al espesor trmico de la muestra (es decir, en cuanto a si la muestra es
trmicamente fina o gruesa).

64

Esto tambin es una ventaja de la tcnica propuesta respecto a los reportes existentes acerca
del uso de la tcnica fotopiroelctrica para la caracterizacin trmica de fluidos.
Muestra

m2/s

m2/s

m2/s

Aire

[3]

Agua destilada

[3]

Etilenglicol
J T Baker
99.90%.
Glicerol
J T Baker 99.90%
Aceite de Oliva
Tipo estndar
pH=6

[30]

[3]

[31]

Tabla III.G. Valores de difusividad trmica determinados a partir de la amplitud y la fase,


en funcin del espesor. Se anexan los valores reportados en la literatura.

65

3.7 CONCLUSIONES.
Se dise y construy un microscopio fototrmico con detector piro y piezoelctrico. Para
poder conocer las ventajas que se tiene ya sea haciendo un barrido en la superficie del
material o utilizando la platina de posicionamiento, esto proporciona nueva informacin no
solo de un punto donde incida el haz de luz, como un clsico experimento fototrmico, si no
tambin informacin donde se dese iluminar la muestra.
Se desarroll un programa en LabView para el ptimo control automtico del microscopio
fototrmico, obteniendo como resultado un dispositivo eficaz en el cual, cualquier usuario
pueda hacer uso de l, para caracterizar diferentes materiales.
Se desarroll la caracterizacin trmica del sensor PZT y PVDF, logrando conocer que
contribuciones tiene utilizar una respecto de la otra. Los resultados que se obtuvieron
utilizando el sensor PZT, nos indican que es til para ser utilizado en muestras liquidas,
gaseosas o slidas. La construccin de una celda utilizando este tipo de detector para
facilitar diferentes experimentos fototrmicos permite abrir camino para conocer diferentes
parmetros trmicos.
Se dise y construy una celda para aplicar el mtodo de ngstrom a la caracterizacin
trmica de fluidos, y en l se propuso un mtodo para medir la difusividad trmica de fluidos
usando una variante de l, la cual fue validada, mediante mediciones de ese parmetro en
aire y varios lquidos. La tcnica propuesta es una forma directa, precisa y econmica para la
medicin de la difusividad trmica. Las pequeas cantidades de muestra requeridas hacen
que esta tcnica sea una herramienta til para la caracterizacin trmica de lquidos y gases,
pero tambin de semi-lquidos, tales como pastas y geles debido a que es libre de partes
mviles en el interior de la muestra.
Perspectivas.
Construir una celda de medicin compacta y robusta, la cual podra ser implementada para
la construccin de un dispositivo porttil til en mediciones de campo. Se podra controlar la
temperatura utilizando por ejemplo elementos Peltier a fin de que la dependencia de la
temperatura sobre la difusividad trmica pueda ser medida, con aplicaciones para la
deteccin de transiciones de fase y fenmenos relacionados.
Poder implementar en el microscopio fototrmico, no solo un mtodo de deteccin de ondas
trmicas, sino tambin un conjunto de tcnicas que puedan detectar este fenmeno fsico al
mismo tiempo, por ejemplo un detector IR o un foto detector sensitivo.

66

APENDICE A
Figura I.1
Figura 1.2
Figura I.3
Figura I.4
Figura I.5
Figura I.6
Figura I.7
Figura I.8
Figura I.9
Figura I.10
Figura I.11
Figura I.12
Figura II.1
Figura II.2
Figura II.3
Figura II.4
Figura II.5
Figura II.6
Figura II.7
Figura II.8
Figura II.9
Figura II.10
Figura II.11
Figura II.12
Figura II.13
Figura II.14
Figura II.15
Figura II.16
Figura II.17
Figura II.18
Figura II.19
Figura III.1

INDICE DE FIGURAS

Esquema de un fenmeno fototrmico que incide sobre la muestra.


Un slido homogneo Semi-infinito iluminado uniformemente con un
flujo modulado de radiacin en la superficie x = 0.
Onda trmica despus de alcanzar una barrera slida para la onda de baja
frecuencia.
Reflexin y Refraccin de ondas trmicas.
Diagrama Esquemtico de una celda Fotoacstica. (Configuracin de
deteccin Frontal).
Diagrama Esquemtico de una celda Fotoacstica. (Configuracin de
deteccin Trasera).
Deteccin en la superficie frontal (Propagacin en retroceso).
Deteccin trasera de la superficie (Transmisin).
Representacin esquemtica del mtodo Mirage.
Diagrama esquemtico de la deteccin fotopiroelectrica directa
Diagrama esquemtico de la deteccin fotopiroelectrica inversa
Esquema basado en el mtodo de ngstrom
Instrumentos de medicin del Microscopio ptico
Montaje de los motores de ngulo de paso corto. Montaje Final.
Modelo del motor utilizado en el sistema
Primeras pruebas (Protoboard).
Diagrama elctrico de la tarjeta de potencia realizada en PROTEUS.
(1ra Parte)
Diagrama elctrico de la tarjeta de potencia realizada en PROTEUS.
(2da Parte)
Vista 3D trasera de la tarjeta de potencia.
Tarjeta de potencia terminada
Componentes de E/S hacia la unidad de potencia
Sensor de contacto
Montaje de la fibra ptica al microscopio
Monitor de escaneo. (a) Sistema Anterior, (b) Sistema Implementado
Esquema general de los instrumentos utilizados
Esquema para la obtencin de la seal fotopiroelectrica
Representacin de las componentes
Panel de control del software.
Parmetros y Medicin
Graficas finales de la amplitud y la fase
Microscopio Fototrmico
Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la
lnea punteada corresponde al rea escaneada.

67

Figura III.2
Figura III.3
Figura III.4
Figura III.5
Figura III.6

Figura III.7

Figura III.8
Figura III.9
Figura III.10
Figura III.11
Figura III.12
Figura III.13
Figura III.14
Figura III.15
Figura III.16
Figura III.17
Figura III.18
Figura III.19
Figura III.20
Figura III.21

Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud, (b)


Fase, (c) Componente en-fase (d) Cuadratura.
Graficas realizadas en Matlab con los datos obtenidos. (a) amplitud vs
distancia (b) fase vs distancia.
Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la
lnea punteada corresponde al rea escaneada.
Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud, (b)
Fase, (c) Componente en-fase (d) Cuadratura.
Graficas realizadas en Matlab con los datos obtenidos. (a) Graficos
obtenidos de Amplitud vs Distancia (b) Graficas obtenidas de Fase vs
Distancia.
Barrido superficial (a) Lser incidiendo sobre la superficie del chip (b)
Vista superior del chip tomada directamente del sistema, la lnea punteada
corresponde al rea escaneada.
Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud 3D y
2D, (b) Fase 3D y 2D, (c) Componente en-fase 3D y 2D (d) Cuadratura
3D y 2D.
Sensor PZT (a) Imagen ptica (b) Imagen del sensor en un slido 3D la
lnea punteada corresponde al rea escaneada.
Imgenes obtenidas por el microscopio fototrmico (a) Amplitud 3D y
2D, (b) Fase 3D y 2D, (c) Componente en-fase 3D y 2D (d) Cuadratura
3D y 2D.
Imagen ptica del disco metlico.
Imagen 2D del paso mnimo incrementado 600 veces. Se obtuvieron
36 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 2D del paso mnimo incrementado 300 veces.
Se obtuvieron 100 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 2D del paso mnimo incrementado 100 veces.
Se obtuvieron 900 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 2D del paso mnimo incrementado 64 veces.
Se obtuvieron 1936 puntos (a) Amplitud, (b) Fase
Imagen 2D del paso mnimo incrementado 24 veces.
Se obtuvieron 10404 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 3D del paso mnimo incrementado 600 veces.
Se obtuvieron 36 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 3D del paso mnimo incrementado 300 veces.
Se obtuvieron 100 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 3D del paso mnimo incrementado 100 veces.
Se obtuvieron 900 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 3D del paso mnimo incrementado 64 veces.
Se obtuvieron 1936 puntos (a) Amplitud, (b) Fase.
Imagen 3D del paso mnimo incrementado 24 veces.
Se obtuvieron 10404 puntos (a) Amplitud, (b) Fase

68

Figura III.22
Figura III.23
Figura III.24
Figura III.25
Figura III.26
Figura III.27
Figura III.28
Figura III.29
Figura III.30

Figura III.31

Sistema CdTe/CdS/Vidrio.
Imagen ptica del sistema multicapa (a) Vista 2D (b) Vista 3D.
Imagen del sistema multicapa. (a) Vista 2D Amplitud (b) Vista 3D
Amplitud (c) Vista 2D Fase (d) Vista 3DFase.
Imagen del sistema multicapa. (a) Vista 2D En-Fase (b) Vista 3D En-Fase
(c) Vista 2D Cuadratura (d) Vista 3D Cuadratura.
Imagen del contorno de la superficie de la componente En-Fase.
Imagen 3D con efecto de malla procesada en Matlab.
Vista Superior y lateral con efecto de malla, localizando la interfaz del
CdTe y el vidrio.
Vista esquemtica de la seccin transversal de la celda de medicin.
Amplitud (crculos) y fase (tringulos) de la seal piroelctrica en funcin
de los espesores de la muestra. Las lneas continuas y discontinuas son los
mejores ajustes lineales.
Amplitud (crculos) y fase (tringulos) de la seal piroelctrica en funcin
de los espesores de la muestra. Las lneas continuas y discontinuas son los
mejores ajustes lineales. (a) Agua destilada; (b) Aceite de Oliva (c)
Glicerol, (d) Etileno Glicol.

69

APENDICE B
Tabla II.A
Tabla II.B
Tabla II.C
Tabla II.D
Tabla II.E
Tabla II.F
Tabla II.G
Tabla II.H
Tabla III.A
Tabla III.B
Tabla III.C
Tabla III.D
Tabla III.E
Tabla III.F
Tabla III.G

INDICE DE TABLAS

Secuencia normal de pasos para motores unipolares.


Secuencia de tipo wave drive para motores unipolares.
Secuencia del tipo de medio pas para motores unipolares.
Circuitos de la tarjeta de potencia.
Conector tipo DB 15 con sus respectivas conexiones de E/S.
Conector tipo DB 9 con sus respectivas conexiones de E/S en X.
Conector tipo DB 9 con sus respectivas conexiones de E/S en Y.
Conector tipo PS/2 con sus respectivas conexiones de E/S.
Parmetros utilizados al realizar el barrido en el PZT.
Parmetros utilizados al realizar el barrido en el PVDF.
Datos utilizados en la medicin del chip PZT.
Datos utilizados en la medicin del chip PVDF.
Datos utilizados en la medicin del disco metlico.
Datos utilizados en la medicin del CdTe.
Valores de difusividad trmica determinados a partir de la amplitud y la
fase, en funcin del espesor. Se anexan los valores reportados en la
literatura.

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