Tema:

1.6. Efectos de cuantizacin y muestreo

Objetivos
El alumno implementar un dispositivo de muestreo y un dispositivo de retencin para comprobar dos
de los procesos empleados en la discretizacin de seales analgicas.
El alumno analizar las variaciones que se producen en ambos procesos al cambiar los parmetros del
sistema para diferentes seales de entrada.

lntroduccin
En los sistemas dscretos, en los sistemas de datos muestreados y en los sistemas de control digital, por lo
general una o varias de las seales que intervienen en el proceso son seales analgicas que deben ser
transformadas a seales discretas para poder ser empleadas de forma adecuada dentro de este tipo de
sistemas. Para lograr la discretizacin de las seales, se debe aplicar primero el proceso de muestreo y
obtener as una seal formada nicamente por las muestras discretas en tiempo de la seal analgica.
El proceso de muestreo puede representarse a travs de un interruptor que se cierra cada

--

kf

segundos

durante un tiempo de muestreo (p), generndose una seal de muestreo como la mostrada en la figura 1.1.
I

t = Instante de muestreo

a
a

k = 0, L,7,3, ...
T = Periodo de muestreo

F = Tiempo de muestreo

Figura 7.7
La ecuacin t = kT describe al muestreo peridico ya que las muestras estn equiespaciadas, es decir las
muestras son tomadas en instantes de tiempo gue son mltiplos enteros del periodo de muestreo. Tambin
existen otros tipos de muestreo empleados para diferentes propsitos, los cuales se describen con
ecuaciones similares a la mostrada anteriormente.
La entrada de este interruptor es una seal analgica y la salida es una seal muestreada como se puede
observar en la figura 1.2.

x*{t}

H
Muestre adar

Figura 7.2

-i'-iiii
Otra forma de representar el proceso de muestreo es a travs de un modulador en amplitud, que realiza la
modulacin de un tren de impulsos unitarios discretos generados en los instantes kf que se emplean como
seal portadora y la seal analgica que se desea muestrear que se emplea como seal moduladora,
obtenindose como salida los pulsos discretos pero modulados en amplitud por la seal de entrada, a esta
salida se le denomina la seal muestreada, tal y como se observa en la figura 1.3.

Seal Analgica

Secl Muesfreada

Tren de impulsos unitarios

x*ft)

Figura 7.3
La operacin que realiza el modulador puede representarse matemticamente a travs del producto del
tren de impulsos unitarios y la seal analgica de entrada dando como resultado la siguiente expresin que

define a la seal muestreada.

S a esta expresin se le aplica la transformada de Laplace

obtiene la transformada Z de la funcin x{t}.

y se toman las consideraciones necesarias,

se

Otro dispositivo empleado en la digitalizacin de las seales analgicas para utilizarlas en los sistemas de
datos muestreados, es el retenedor, el cual tiene la funcin de reconstruir la seal muestreada a partir de
los valores de las muestras generadas por el muestreador, empleando para ello, polinomios de diferentes
grados. Entre los ms empleados estn los retenedores de orden cero y de primer orden.
Este proceso tambin se emplea para que los cuantizadores tengan en su entrada una seal constante que
representa a la muestra actual y puedan tener el tiempo suficiente para realizar la conversin de cdigo ya
que la muestra original que se obtiene del muestreador tiene una duracin muy corta.

Seal Muestreada

Seal Retenida

Figura 1.4

En la figura 1.4 se presenta un retenedor de orden cero Zo y las formas de onda de su entrada y su salida.

En esta prctica se implementarn 2 circuitos que realizan las funciones de muestreo y retencin
respectivamente. Estos circuitos se implementan a travs de circuitos analgicos y amplificadores
operacionales para poder visualizar las funciones que se realizan en estos 2 procesoi, pero haciendo la
anotacin de que en los sistemas de control digital estas funciones se realizan a travs de los convertidores
analgico digitales que contienen de manera intrnseca a dichas funciones de muestreo y retencn (S/H,
Sample and Hold).
Actividades pranias a la realizacin de la prctca
1.

El alumno deber realizar la lectura de la prctica.

2.

El alumno realizar la simulacin de los circuitos del procedimiento experimental considerando las
figuras 1.5 y 1.7 en el simulador Proteus siguiendo los pasos del desarrollo. Considere emplear el
circuito DG417 en sustitucin del circuito D6201 de la prctica, considerando que las terminales de
ambos circuitos difieren en posicin.

3.

Entregar los resultados de la simulacin de forma impresa al profesor

laboratorio.

4.

El

5.

lnvestigue las ecuaciones de funcionamiento del oscilador en modo astable implementado con el
circuito LM555. Para este paso refirase a la hoja tcnica del dispositivo LM555 para calcular los
parmetros de funcionamiento del circuito y obtener matemticamente el valor.

al inicio de la sesin

de

alumno investigar el concepto de teorema de muestreo de Nyquist y el concepto de Aliasing.

Material
1 C.r. 1M555
1 C,r. UA741
1 C.l. DG201 Switch Analgico CMOS SPST

2 Resistencias de 0.1 kfl ayzW.

1 Resistencia de 10 kf) a % W .
1 Resistencia de 2.2 kf) a YrW.
L Potencimetro de 50 kf).
1 Capacitor de 1 nF.
1 Capacitor de 22 nF.
1 Capacitor de 0.1 pF.
2 Capacitor de 100 pF electroltico.

Equipo
1 Fuente bipolar.
l- Generador de funciones,
1 Multmetro
1 Osciloscopo.
Proced i m iento Experimental

1.

lmplemente el circuito de la figura 1.5, el cual realiza la operacin de muestreo sobre la seal Ve{t} y
genera una seal muestreada Ve*(t), este circuito consta de las siguientes partes:
a
a

Generador de pulsos de muestreo en configuracin astable.

lnterruptor analgico {interruptor bdirecconal} controlado por pulsos,

2-

3,

Calibre el generador de funciones con una seal Ve(t) senoidal de frecuencia 1 KHz y un voltaje pico a
pico de 5V.
Pruebe el sistema por partes, verificando el correcto funcionamiento de cada una de ellas.
a
a

Generador de pulsos de muestreo. {Terminal 3 del 1M555}

lnterruptor analgico {interruptor bidireccional} controlado por pulsos. {Terminal 3 del
DG201)

4.

Compruebe y analice el proceso de muestreo para diferentes seales de entrada adems de la senoidal
del punto anteror.

P1

I
I
50k

vq*{t}

I
Figura 1.5

5.
6.
7.
8.

9.

Mida los valores de periodo de muestreo (T) y el tiempo de muestreo {p} mnimo y mximo de la seal
de salida del generador de pulsos variando el potencimetro P1 a su valor mnimo y a su valor mximo.
Calcule la frecuencia de muestreo mnima y mxima que se puede obtener con este circuito.

Empleando el teorema de Nyquist determine la frecuencia mxima de la seal de entrada Ve{t} que
puede ser muestreada con este sistema.
Vare la frecuencia de la seal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a 50KHz y observe el
comportamiento simultneo de las seales de entrada Ve{t} y de salida Ve*{t}, ajuste el valor de
frecuencia para obtener un proceso de muestreo equivalente.{Aliasing o Seal de salida que no es
muestreada adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para representarla).
Grafique las seales para cada punto y anote los rangos de funcionamiento de cada una de las etapas,
es muv importante lleear a una conclusin orctica de oorque con este tipo de circuito no se ouede

10.

11. Aada el circuito de la figura 1.6 a la salida del circuito de la figura 1.5, el cual realizar la funcin de
retencin.

12. Anote los comentarios en cuanto a las formas obtenidas as como las grficas correspondientes,
haciendo las pruebas tambin para seales de diferentes tipos y frecuencias {triangular y cuadrada}.

I
Figura 7.6

Cuestionario
1.

lnvestigue el concepto de Aliasing y explique la relacin gue tienen con respecto al muestreo de seales
analgicas.

3.

Obtenga la funcin de transferencia en Laplace del retenedor empleado en la prctica (figura 1.6)
indicando de que tipo es y explicando su funcionamiento.
Calcule el valor de la constante de tiempo del retenedor y el tiempo de carga del capacitor al 98% de su

4.

Verifique que se cumple la relacin de tiempos siguiente, para el punto de mxima frecuencia de

2.

valor de carga final.

muestreo.

Sr
5.

Explique de manera grfica lo que sucedera si la frecuencia de muestreo es elevada y la constante de

RC del retenedor es mayor al periodo de muestreo T.
Describa los procesos de muestreo de orden mltiple, de ritmo mltiple y aleatorio.

tiempo
5.

<p <T