Estudios Microscpicos Mineralgicos

Aplicados a la Exploracin Minera y

Tratamiento Geometalrgico

INFORME DE LABORATORIO
ESTUDIO DE ANALISIS MINERALOGICO POR DIFRACCIN DE RAYOS X
(DRX) DE UNA MUESTRA.

PARA:
INSUMOS NO METALICOS Y QUIMICOS DE
EXPORTACION E IMPORTACION S.A. - INSUMEX S.A.
CSM-284-2015_Rev.0
IL-OTSM 132-2015_Rev.0
Diciembre, 2015.

MSc. Jos Andrs Yparraguirre

CIP N 128651
Gerente de Laboratorio

Ing. Fanny Blas Rodrguez

CIP N 84066
Gerente General

FA INGENIEROS E.I.R.L.
Av. Anglica Gamarra 1385 Urb. Santa Rosa Mz M Lote 03 Lima 39 Per T. (511) 5318475
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Fecha: Diciembre 2015

CONTENIDO

Pg.

I.

INTRODUCCIN.......................................................................................................... 3

II.

ABREVIATURAS DE LAS ESPECIES MINERALES ...................................................... 4

III.

ANLISIS MINERALGICO POR DIFRACCIN DE RAYOS X...................................... 5

Muestra Caoln Cumbe ......................................................................................... 5

IV.

OBSERVACIONES....................................................................................................... 6

V.

ANEXOS...................................................................................................................... 7

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I.

INTRODUCCIN

A solicitud del Ing. Alfredo Alvarez Palomino de la Empresa INSUMOS NO METALICOS Y

QUIMICOS DE EXPORTACION E IMPORTACION S.A. - INSUMEX S.A. se ha realizado el
Anlisis Mineralgico por Difraccin de Rayos X (DRX) de una muestra de Caoln.
En los Anlisis Mineralgicos semicuantitativos por DRX se han determinado todos los
minerales presentes (fases cristalinas) con un lmite de deteccin (L.D.) de 1.00 %, obtenido
del procedimiento de validacin del mtodo. Los silicatos de cobre presentan un bajo nivel
de cristalinidad por lo que su evaluacin por DRX es limitada.
La muestra ha sido proporcionada por el cliente para los fines de estudio descritos
anteriormente.

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II.

ABREVIATURAS DE LAS ESPECIES MINERALES

Abreviaturas, nomenclaturas y composicin qumica de las especies minerales mencionadas

en el informe.

Densidad Dureza
(g/cm3)
Mohs

Nombre

Smbolo

Composicin qumica

Anatasa

ats

TiO2

3,9

5,5

Caolinita

kao

Al2Si2O5(OH)4

2,60

1,5

Cuarzo

cz

SiO2

2,62

7,0

Nota: El termino trazas se aplica en valores menores a 0.5%.

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III.

ANLISIS MINERALGICO POR DIFRACCIN DE RAYOS X.

Muestra Caoln Cumbe

Nombre del mineral

Frmula general

Resultado
Aproximado (%)

Arcillas (Caolinita)

Al2Si2O5(OH)4

77

Amorfo

17

Anatasa

TiO2

Cuarzo

SiO2

L.D.: Lmite de Deteccin.

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IV.

OBSERVACIONES

Las variables de cuantificacin Rexp, Rwp y GOF determinan la validez del refinamiento
(mtodo cuantificacin).
- Los resultados aproximados han sido redondeados a su menor valor entero, por lo que la
sumatoria de los resultados no siempre suma el 100%. Este criterio ha sido definido en el
procedimiento de validacin del mtodo.
- El valor de aproximacin ha sido calculado a partir de los resultados obtenidos en los
ensayos para la acreditacin.
- El presente informe no puede ser utilizado como certificado.
- Los resultados corresponden a las muestras proporcionadas por el cliente, las cuales han
sido entregadas en las instalaciones del laboratorio de FA INGENIEROS EIRL.
- Est prohibida la reproduccin total o parcial de este documento sin la autorizacin de FA
INGENIEROS EIRL.
- %: Porcentaje masa relativa (g/g)
Criterios de ajuste para el refinamiento
Los criterios de ajuste ms utilizados son:
a) El residuo del patrn pesado (Rwp).- Este criterio muestra el progreso del refinamiento,
ya que el numerador contiene la funcin residuo que est siendo minimizada durante el
refinamiento Rietveld. El residuo del patrn pesado se calcula de la siguiente manera:

Donde:
yi (obs) es la intensidad observada en el paso i
yi (calc) es la intensidad calculada en el punto i
Wi es el peso asignado.

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b) El valor esperado (Rexp).- Dicho criterio refleja la calidad de los datos obtenidos en la
medicin del patrn de difraccin (conteos estadsticos). La frmula del residuo del valor
esperado es:

Donde:
N es el nmero de datos observados
P el nmero de parmetros a refinar.
Wi es el peso asignado
yi(obs) es la intensidad observada en el paso i
c) El ajuste de bondad S (goodness of fit).- Si el tiempo de toma de los datos fue
suficientemente grande, no dominarn los errores estadsticos, Rexp podra ser muy
pequea y la GOF para una estructura cristalina refinada podra ser mayor que 1. Si los
datos son obtenidos pobremente, Rexp podra ser grande y GOF podra ser menor que 1, el
valor de GOF debe estar entre 1 a 1.3. El ajuste de bondad se define como;
S (goodness of fit) = Rwp/Rexp
Donde:
Rwp es el residuo del patrn pesado; Rexp es el residuo del valor esperado
V.

ANEXOS

CONDICIONES DE OPERACIN y ANLISIS:

Equipo: DIFRACTMETRO D8 Advance
Tubo Co (38kV, 25mA): KAlfa1: 6930.48eV
KAlfa2: 1.7891
Filtro: Kbeta: Ni
Detector: LynxEye
Rango de medida desde 2 = 4 hasta 2 = 70
Identificacin: Base de datos del Centro Internacional de Datos para Difraccin (ICDD).
Cuantificacin: Mtodo Refinamiento Rietveld (TOPAS Structure Database y Fiz Karlsruhe
ICSD).

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F ig u ra 1 . D ifra c to g ra m a d e la M u e s tra C a o ln -C u m b e .

F A IN G E N IE R O S E .I.R .L
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