Propiedades Birrefrigerantes de la Calcita

ALUMNO: EFRAIN ALVAREZ LIMAYLLA

CODIGO:19960478A
Asignatura:
MINEROLOGIA DESCRIPTIVA
CODIGO:G-3323
SECCION:R3

FACULTAD DE INGENIERIA GEOLOGICA MINERA

METALURGICA
UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERIA

1.- RESUMEN
Anisotropa ptica .-

Los medios anistropos se

caracterizan
porque
sus
propiedades fsicas dependen de
la direccin donde se miden en el
medio.
De
esta forma,
la
respuesta
de
los
medios
cristalinos anistropos a la luz
que se propaga en su interior
depende de la direccin del
campo elctrico de la misma, es
decir,
de
su
polarizacin
(anisotropa ptica natural). Por
otra parte, un medio istropo se
puede convertir en anistropo por
medio
de
ciertos
agentes
externos
(campos
elctricos,
magnticos, ...) que modifiquen
su permitividad dielctrica, y por
tanto sus propiedades pticas de
manera direccional. De manera
anloga, en un medio previamente
anistropo, su anisotropa se ver
modificada en alguna medida por
el agente externo (anisotropa
ptica inducida).

En la primera parte de este

captulo se describe el fenmeno
de la birrefringencia. Se estudian
los
modos
normales
de
propagacin de la luz, junto con
sus propiedades de polarizacin,
utilizando
las
ecuaciones
macroscpicas
de
Maxwell.
Seguidamente se realiza una
clasificacin de los medios
cristalinos y se explica el mtodo
del elipsoide de ndices.
La segunda parte de este captulo
se centra en la actividad ptica,
dando
una
descripcin
fenomenolgica de la misma, para
pasar a estudiar los modos
normales de propagacin de la
luz a partir de las ecuaciones de
Maxwell
en
un
medio
birrefringente. Se introducen los
conceptos
fundamentales
de
vector y tensor de girotropa, se
establece el importante principio
de
superposicin
de
la
birrefringencia y de la actividad
ptica, para pasar a realizar una
clasificacin ptica de los medios
cristalinos atendiendo a sus
propiedades
de
simetra.

Finalmente,
se
introducen
algunos modelos microscpicos
de descripcin de la actividad
ptica. Por ltimo, se explica
cmo
los
fenmenos
de
absorcin
afectan
a
las
propiedades de anisotropa antes
mencionadas.
Birrefringencia .Erasmus Bartholinus (1670),
describe por primera vez el
fenmeno de la doble refraccin
(birrefringencia) de la luz en un
medio anistropo, observada en
una
variedad
incolora
y
transparente
de
calcita
denominada espato de Islandia. l
consider que existan dos
ndices de refraccin diferentes,
uno de los cuales permaneca
constante, mientras que el otro
cambiaba dependiendo de la
orientacin de la luz incidente.
Estos
ndices
fueron
denominados como ne y no, donde
los
sufijos
significan
extraordinario
y
ordinario
respectivamente.
Bartholinus
propuso
que
este
extrao
comportamiento deba reflejar
aspectos de la estructura interna
de la calcita. Posteriormente,
Huygens establece las bases de
la teora ondulatoria de la luz en
1690, las cuales le llevaron a dar
una interpretacin estructural de
la doble refaccin [1, 2].
La birrefringencia se debe a la
diferencia de velocidades de
propagacin
de
las
dos
componentes ortogonales de
polarizacin lineal en la que se
divide una onda al atravesar un
medio no magntico y no
absorbente, producindose un
desfase de una componente
respecto a la otra dado por

2.-INTRODUCCIN

G 2Snd

produce una doble imagen o

doble refraccin.

(1.1) O

Anisotropa
Hasta ahora hemos asumido que
el ndice de refraccin de un
medio no depende de la direccin
de propagacin de la luz en el
medio, es decir, las propiedades
pticas del medio material son las
mismas en todas las direcciones.
Se dice entonces que el medio es
istropo. Sin embargo, existen
materiales en los que el ndice de
refraccin vara con la direccin
de propagacin en el material. A
estos materiales se les denomina
anistropos.
En la naturaleza
existen
muchos
materiales
pticamente anistropos. Los
medios
materiales
estn
formados por agregados de
tomos y molculas. Segn el
estado de agregacin en que se
encuentren, los materiales se
pueden comportar de forma
istropa o anistropa al paso de
la luz.

Un ejemplo es el cristal de calcita

(CO3Ca).
Cuando la luz pasa a travs de un
cristal de calcita, en determinadas
direcciones se

En la figura se ha colocado un cristal de

calcita encima de un papel donde se han
dibujado una flecha y casi perpendicular a
ella, una raya ms gruesa. Se puede
observar que la flecha se ve doble, mientras
que la raya no. As pues, segn en la
direccin en que se propague la luz,

componente del campo elctrico podr

vibrar en la direccin del eje ptico
tendiendo a desplazar al tomo de calcio
respecto del grupo carbonato, mientras que
la otra componente del campo elctrico
vibra en el plano del grupo carbonato y
tender a mover a este grupo de tomos
cuyos enlaces son distintos que los que
existen entre el calcio y el grupo carbonato.
Ello conducir a dos ndices de refraccin
diferentes para cada componente de la onda.

tendremos doble o simple refraccin.

(b)

FIGURA C

La razn de este comportamiento est en la

estructura molecular de la calcita. El grupo
carbonato se compone de tres tomos de
oxigeno y un tomo de carbono descansa en
un mismo plano, con el tomo de carbono en
el centro de un tringulo formado por los
tomos de oxgeno. El tomo de calcio est
en otro plano. Si miramos el cristal a lo largo
de una lnea imaginaria que pasa por los
tomo de calcio, y que es perpendicular al
plano del grupo carbonato, encontraramos
una distribucin atmica como la que se
muestra en la figura (c). Esta lnea la
denominaremos eje ptico del cristal. Si una
onda se propaga en la direccin del eje
ptico, el campo elctrico asociado vibra
perpendicularmente a esta direccin, esto
es, en el plano de los tomos de carbono y
oxgeno. El campo se encuentra la misma
distribucin
atmica
en
todas
las
direcciones, por lo que el cristal presentar
un mismo ndice de refraccin en todas las
direcciones. Sin embargo, si la onda incide
perpendicularmente al eje ptico, una

Para ver las consecuencias sobre la

propagacin, supongamos que un haz de luz
polarizado en el plano del papel, incide sobre
un cristal de calcita en una direccin que no
coincide con el eje ptico. Podremos entonces
descomponer el campo en una componente
paralela al eje ptico y otra perpendicular. El
campo paralelo al eje ptico generar una onda
que se propaga a una velocidad ve y en
direccin perpendicular al eje ptico. Por su
parte, la componente de campo que vibra
perpendicularmente al eje ptico experimenta
un ndice de refraccin diferente, por lo que
generar una onda que se propaga a una
velocidad vO. El resultado ser una onda
deformada que dar lugar a la onda
extraordinaria

Si el campo incidente vibra

perpendicularmente al plano
del eje ptico del cristal, se
generar una onda esfrica ya
que ahora no hay componente
en la direccin del eje ptico.
La onda resultante se
propagar en la misma
direccin del haz incidente.

Los medios materiales estn formados por

agregados de tomos y molculas. Segn el
estado de agregacin en que se encuentren,
los materiales se pueden comportar de
forma istropa o anistropa al paso de la luz.
El fenomeno de la
Birrefringencia presentada el los
minerales de calcita puede ser
explicado por el modelo
electromagntico del oscilador
de lorentz
Sea la ecuacin de incidencia del campo
electromagntico creado por la luz al entrar
al material anistropo de calcita:
F = e E mev/ me 02 r .1
Se observa que la fuerza que actua sobre el
electron corresponde a la accin del campo
elctrico
e E y la accin de una fuerza disipativa: m ev/
y la ultima fuerza restitutiva de oscilacin
del electron con el nucleo atomico de la
calcita
F la fuerza media sobre el electron : me 2 r
V velocidad media : V=-i r .2
entonces la aceleracin ser :a = i2 r ..3
E= Eo exp( it).4
r= ro exp( it) .5
entonces reemplazando todos los datos en
la ecuacin general de incidencia del campo
sobre el electron tenemos:
: -me 2 r = e E+ ime r / me 02 r .6
Hallando la polarizacin elctrica:
P= eNr..7
Reemplazando el vector posicin r en la
polarizacin obtenemos:
P=(N e2 E /me)/( 2+i / - 02 )..8

3.-PRESENTACIN DEL PROBLEMA

Modelo de Lorentz para la birrefringencia

En
efecto,
supongamos
que
haz
linealmente polarizado con azimut con el
5

eje
OX,
incide sobre una lmina
birrefringente de espesor e. Podemos
descomponer el campo elctrico en las
dos direcciones ortogonales. De esta
manera, cada una de las componentes,
inducir un movimiento en los electrones o
iones cuya ecuacin, en cada direccin,
ser similar a la ya estudiada en el modelo
de Lorentz:

diamantes, ...), hasta polmeros y muestras

minerales. En el caso de materiales
cristalinos anistropos, la medida de la
birrefringencia es de gran inters en el
campo de las comunicaciones pticas. En
particular, en el estudio de la polarizacin
de la luz en el interior de fibras pticas
cristalinas. Asimismo, el anlisis de la
birrefringencia con la temperatura es
importante en la investigacin
fenomenolgica de las transiciones de
fase entre dos estados de un cristal.
La presencia de actividad ptica es una
consecuencia directa de la existencia de la
quiralidad molecular, la cual se evidencia
por cambios en el estado de polarizacin
de la luz tras su paso por una muestra. La
quiralidad es una caracterstica
compartida por todos los polmeros. Por
tanto, sera natural esperar que las
medidas de efectos quiropticos fueran
una herramienta habitual en el anlisis de
clulas

5.-METODOLOGIA

Esto conduce a que los ndices de

refraccin experimentados por cada
componente del campo al atravesar la
lmina vendrn dados por

4.-OBJETIVOS
La birrefringencia se ha utilizado para
caracterizar todo tipo de muestras, desde
clulas (por ejemplo, fibras de msculos y
huesos), efectos de estrs y tensin en
materiales istropos (vidrios,

Modulador fotoelstico a alta frecuencia

El
mtodo
que
utiliza
moduladores
fotoelsticos, es ms sensible para medir
con precisin los retardos muy pequeos. El
dispositivo opera bajo luz monocromtica y
consta de, un modulador fotoelstico, una
muestra birrefringente, un analizador y el
detector (figura 2.4). La disposicin no es
nica, pudindose intercambiar muestra y
modulador o en algunos casos fuente y
detector. Segn Modine y col. [38], la mejor
orientacin de los componentes pticos
resulta cuando el eje de los sucesivos
componentes est a 45 con relacin al
anterior.
El modulador fotoelstico convierte la luz
linealmente polarizada en luz elpticamente
polarizada oscilante levgira y dextrgira a
la frecuencia de resonancia de dicho
modulador.
Por clculo de Jones puede demostrarse
que la intensidad transmitida por el
analizador viene dada por
I (Io /2)>1senAsenG@
donde A = A0 senZt, siendo A0 la amplitud del
retardo del modulador que es proporcional a

la corriente de oscilacin aplicada e inversa

a la longitud de onda. De esta manera,
cualquier birrefringencia en la muestra da
lugar a una modulacin de la intensidad que
es fcilmente leda por el detector. En la
prctica se suele maximizar la componente
fundamental de la intensidad modulada que
presenta una funcin armnica descrita por
senA 2Jm (A0)sen(mZt)
m
donde m es un nmero impar y Jm(A0) son
las funciones de Bessel. As, la funcin de
Bessel J1(A0) es mxima cuando A0 = 105o.

Mc

L1
P

M.F.

D
A

L2
Figura 2.4 F: fuente; Mc: monocromador; L1,
L2: lentes focalizadoras; P: polarizador; M.F.:
modulador fotoelstico; M: muestra; A:
analizador; D: detector

Usando dispositivos electrnicos tales como

fotomultiplicadores o cmaras CCD, es
posible determinar la birrefringencia a travs
del anlisis del cambio en intensidad para
los diferentes caminos pticos de la luz.
Tales sistemas automatizados son ms
sensibles a cambios en la birrefringencia
que la inspeccin visual [35]. Un cambio en
el camino ptico de la luz puede conseguirse
variando la orientacin o el desfase de los
diferentes elementos pticos del sistema.
Analizador rotante
Este mtodo [37] se utiliz para medir
rotacin magnetoptica y es conveniente
para observar cambios relativos en la
birrefringencia en funcin de una variable
continua (temperatura, posicin de la
muestra, etc.). Los componentes pticos de
este dispositivo son (figura 2.3): (a) un
polarizador inicial; (b) una lmina de cuarto
de onda colocada a 45 respecto del
polarizador, produciendo luz circularmente
polarizada incidente sobre la muestra; (c) la
muestra, con orientacin To y diferencia de
fase G; (d) un analizador, rotando a una
frecuencia angular Z.
En estas condiciones la intensidad de luz
que pasa a travs del analizador toma la
forma
y
n

x
P

Figura 2.5 Esquema del dispositivo Metripol

implementado en un microscopio ptico
convencional. Los componentes adicionales
se denotan en kursiva

eje
rpido T

O/4

A
Figura 2.2 Polarizador (P) con su eje de
transmisin paralelo al eje x; muestra (M)
con su eje rpido formando un ngulo de 45
respecto al eje x; lmina de cuarto de onda;
analizador cuyo eje de transmisin forma
un ngulo T con el eje y

6.-RESULTADOS

Mtodos de modulacin

eje
rpido
n

Zt

n
P

O/4
M

AZ
Figura 2.3 Polarizador (P) con su eje de
transmisin paralelo al eje x; lmina de
cuarto de onda con su eje rpido formando
un ngulo de 45 respecto al eje x; muestra
(M) con su eje rpido formando un ngulo To
con x; analizador cuyo eje de transmisin
forma un ngulo Zt con el eje y

I (Io /2)>1sen2(Zt To )senG@

resultando en una seal alterna de
frecuencia 2Z, fase 2To que da una medida
de la rotacin de la indicatriz ptica, y
amplitud proporcional a sen G.
Este dispositivo tiene dos modos de
operacin: x Si G = 0 o G = mS la seal ser
lineal y el sistema da una medida directa de
la diferencia de camino ptico. Este modo de
operacin es til en aquellos casos donde el
cambio en la birrefringencia es pequeo.
Para satisfacer el requerimiento de que G|
mSse puede insertar un compensador en el
camino ptico. La tcnica no depende
directamente de la intensidad de la luz y
debe de ser calibrada para obtener una
escala absoluta. x Si el cambio en el retardo
ptico es grande (L'n >> O), la salida del
instrumento ser peridica, obtenindose el
cambio en el retardo ptico por las
posiciones de los mximos y mnimos de la
seal.

7.-CONCLUSIONES

1.- Caracterizar completamente el tensor de

actividad ptica de un cristal perteneciente
a la clase cristalina triclnica. Los cristales
pertenecientes a este grupo presentan la

dificultad de que los ejes cristalogrficos no

son mutuamente ortogonales, y que no
coinciden
con
los
ejes
principales
dielctricos.
2.- Profundizar en el estudio de materiales
que presenten dicrosmo lineal y circular
moderados, con el fin de mejorar la
caracterizacin de la anisotropa ptica de
los mismos mediante las tcnicas HAUP y
TILTER

8.-.-REFERENCIA BIBLIOGRAFICA

1. R. Serway, Vol. II , Fsica, Editorial Mc

Graw Hill, 2005
2. Tipler,.Fisica, Editorial McGraw - Hill, 1999
3. Sears y Zemansky, Fisica General,
Editorial Aguilar S.A. , Espaa, 1980
4.-M.V. Klein, and T.E. Furtak. Optics. 2nd ed.
Wiley & Sons. New York (1986)
5.-W. Kaminsky. Rep. Prog. Phys. 63, 15751640 (2000)
6.-J. Casas.
(1994)

ptica. 7 ed. Librera Pons

7.-M. Born, and E. Wolf. Principles of optics.

7th ed. Cambridge University Press (1999

9.1ANEXOS
POLARIZADORES LINEALES .Todos
los
estados
de
polarizacin
previamente analizados se pueden generar y
manipular mediante la interaccin de la
radiacin con materiales de particulares
caractersticas pticas: polarizadores y
lminas retardadoras.
En las fuentes de luz habituales, tales
como
el
sol,
llamas
y
lmparas
incandescentes
y
fluorescentes,
los

radiadores
elementales
(tomos
y
molculas), que son los que producen la luz,
emiten radiacin independientemente unos
de otros. Por otra parte no existe una
direccin privilegiada en la que vibren las
cargas aceleradas que generan la radiacin
electromagntica. En esta situacin el
nmero de planos de vibracin del campo
elctrico ser tan numeroso como el nmero
de cargas aceleradas que los genera. La luz
que se propaga en una cierta direccin est
formada por trenes de onda independientes
cuyos planos de polarizacin cambian su
orientacin muy rpidamente de forma
aleatoria. A este tipo de radiacin se le
denomina natural o despolarizada.
Cuando la luz despolarizada, con el
campo elctrico vibrando aleatoriamente en
cualquier direccin perpendicular a la de
propagacin, interacciona con la materia,
puede ocurrir que algunas direcciones de
vibracin se atenen respecto a otras de
forma que la radiacin se polarice total o
parcialmente. Todos los estados de
polarizacin se pueden generar y manipular
mediante el uso de materiales pticamente
activos, denominados polarizadores y
lminas retardadoras. En lo que sigue nos
centraremos en la generacin de luz
linealmente polarizada.
A partir del luz despolarizada, se puede
obtener luz linealmente polarizada mediante
el empleo de un polarizador. Habitualmente,
un polarizador est constituido por un
material dicroico. En el sentido ms amplio,
el trmino dicrosmo se refiere a la absorcin
selectiva de una de las dos componentes
perpendiculares del campo incidente, de
forma que a travs del material slo pasa el
campo elctrico que vibra en la direccin de
lo que se denomina eje de transmisin del
polarizador, mientras que la componente que
vibra en la direccin perpendicular es
absorbida. Para ilustrar el efecto de un
polarizador, consideremos que sobre l
incide un campo linealmente polarizado
dado por la ecuacin (7). Si el eje de
transmisin del polarizador se encuentra
orientado en la direccin del eje y, la
componente perpendicular, Ex=E0xcos(kz wt) , ser absorbida y solo se transmitir la
componente paralela, Ey=E0ycos(kz - wt) , tal
y cmo se muestra en la figura .

Tal y como se pone de manifiesto en las

ecuaciones (5) y (6), cualquier campo
elctrico se puede descomponer en la suma
de dos componentes perpendiculares entre
s. Si como direcciones para realizar la
descomposicin elegimos la direccin del
eje de transmisin del polarizador y su
perpendicular, esta ltima siempre ser
absorbida, por lo que a la salida del
polarizador tendremos luz linealmente
polarizada con el campo elctrico vibrando
en la direccin del eje de transmisin. A
partir de este razonamiento se hace evidente
que, Independientemente del estado de
polarizacin (despolarizada, circular, elptica
o lineal) de la radiacin que incida sobre el
polarizador, a la salida del mismo siempre
tendremos radiacin linealmente polarizada
con el campo elctrico vibrando en la
direccin del eje de transmisin.

En la direccin que a continuacin se

proporciona se puede visualizar una
animacin tridimensional interactiva que
representa el efecto que un polarizador lineal

tiene sobre radiacin lineal y circularmente

polarizada.

tendramos que recurrir a un dispositivo

como el que se muestra en la figura 8.

EFECTO DE UN POLARIZADOR .Ahora, cuantificaremos el efecto que sobre la

luz
linealmente
polarizada
tiene
un
polarizador lineal. Para ello, consideraremos
un campo elctrico, dado por la ecuacin (7),
linealmente polarizado que vibra en una
direccin que forma un ngulo q con el eje
de transmisin del polarizador, tal y cmo se
muestra en figura 7. En esta situacin, el
campo se puede descomponer en dos
componentes: una paralela al eje de
transmisin, Ex, y otra perpendicular al
mismo, Ey. Esta ltima ser absorbida y slo
se transmitira la componente paralela, que
estar dada por la expresin

siendo,
,
(12)
la amplitud del campo transmitido por el
polarizador.

LA LEY DE MALUS
La ley de Malus y proporciona la irradiancia
transmitida por el analizador en funcin del
ngulo que forman los ejes de transmisin
de los dos polarizadores cuando la
irradiancia del haz incidente sobre el
polarizador es I1.
La irradiancia promedio asociada a este
campo ser

.
(16)
Teniendo en cuenta
finalmente obtenemos

El sistema visual humano no es sensible a la

polarizacin, por lo que para analizar el
estado de polarizacin de la luz es necesario
recurrir
a
un
polarizador
lineal,
habitualmente llamado analizador. Es decir,
si quisiramos analizar el haz de luz
transmitido por el polarizador de la figura 7

la

expresin

(14)

.
(17)
perpendicularmente al eje de transmisin del
segundo polarizador y no pasarn. Por lo
tanto, no estarn presentes en la luz
transmitida. Ello hace que el espectro de la
luz transmitida difiera del de la luz de
entrada. En la figura adjunta se muestra el
espectro de la luz transmitida por una capa
de celo de varios milmetros.
En
determinados
materiales
sometidos
a

10

tensiones, las variaciones de ndice de

refraccin son proporcionales a dichas
tensiones por lo que el polariscopio se
puede utilizar parta su visualizacin y
medida.

11