6

Interferencias en los equipos

electrnicos de medida

6.1 Introduccin
En el captulo 1 se comprob que el ruido y las seales externos no deseados se acoplan
a todo equipo electrnico de un laboratorio o cadena de produccin industrial,
provocando errores en los procesos de medida, que pueden afectar de forma decisiva a
la aplicacin objeto de inters.
Las seales de interferencia pueden tener origen externo o interno al quipo. En el
primer caso, los efectos son ms serios, y es importante detectar el mecanismo de
acoplo; en el segundo interesan componentes electrnicos ad hoc para aplicaciones de
bajo nivel, ya que el origen del ruido es propio de la operacin de los circuitos
microelectrnicos. El problema de las interferencias se hace extensivo a otros equipos,
no necesariamente electrnicos.
En este tema se abordan las interferencias de origen externo, ms propias de un
ambiente industrial y con efectos ms perjudiciales. Las interferencias son seales que
afectan al equipo de medida como consecuencia del principio de medida empleado. En
consecuencia, se adopta como criterio de clasificacin el mecanismo de acoplo. Para
cada tipo de acoplo, primero se realiza una apreciacin cualitativa y luego se trata con
rigor cuantitativo. La Fig. 1 muestra los mecanismos de acoplo de las interferencias
entre la fuente y el receptor.

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

Fuente
de
Ruido
- Cables de
potencia AC
- Monitores
- Transitorios
lgicos
- Altas Tensiones
y Corrientes
- Transitorios de
Potencia

Medio de transmisin
- Impedancia Comn
(Conductiva o Resistiva)
- Campo Elctrico
(Capacitiva)
- Campo Magntico
(Inductiva)
- Seales
electromagnticas
(Radiacin)

Receptor
de la Seal
de Ruido
- Transductor
- Acondicionadores
de Seal

Fig. 1. Esquema del mecanismo de acoplo de las

interferencias de origen externo.

La reduccin de los efectos de las interferencias se realiza aplicando tcnicas que

dependen del mecanismo de acoplo. Segn presenta la Fig. 1, existen 3 mecanismos de
acoplo: una impedancia comn, un campo elctrico y un campo magntico. En
consecuencia, respectivamente se denominan interferencias resistivas, capacitivas e
inductivas. Las interferencias electromagnticas tienen su origen tambin en campos
magnticos, pero esta vez asociados a energa radiada.
Antes de abordar cada tipo de interferencia se introduce el concepto de pseudoimpedancia como mecanismo de diagnstico cualitativo, descrito en [1], y empleado en la
deteccin de ruido externo.
6.2 Pseudo-impedancia
Esta magnitud experimental ayuda a la identificacin de la fuente externa de ruido que
afecta al equipo en consideracin. Se define como el cociente experimental de la tasa de
variacin de tensin entre la tasa de variacin de corriente (en el circuito objeto de
estudio) y su unidad es el ohmio, :
Pse Im p =

dv
di

dt
dt

En funcin de la cuanta de esta magnitud, existe ms probabilidad de darse un tipo

de acoplo externo. La frontera se sita en los 377 . Si la pseudo-impedancia es mucho
menor se considera el acoplo inductivo, y si es mucho mayor que este valor emprico el
acoplo se considera capacitivo.
6.3 Acoplo capacitivo o elctrico
6.3.1 Concepto, caractersticas y condiciones de acoplo
Es una interferencia de tipo electrosttico (producida por un campo elctrico); en
consecuencia, dos conductores cercanos se acoplan elctricamente por efecto capacitivo.
Los conductores afectados por estas interferencias son los que forman parte de
transductores de bajo nivel. En general, las fuentes de interferencia capacitiva son

JJGDR-UCA

6 Interferencias

conductores que soportan grandes tensiones variables, como los fluorescentes o

enchufes sin usar. La Fig. 2 muestra el mecanismo de acoplo capacitivo. En ella se
aprecia que, sin elementos de blindaje, una corriente adicional no deseada circula por la
carga, que es la resistencia de entrada del circuito de medida. La conexin de blindaje
desva esta corriente.

Capacidad parsita virtual

-

RS
Vn

VS
Seal de
ruido

RL
Seal de
inters

Amplificador
Diferencial
genrico

Vo

Circuito
susceptible a la
interferencia

Apantallamiento o blindaje

Capacidad parsita virtual: Ahora se forma aqu

-

RS
VS

Vn

Seal de
ruido

RL
Seal de
inters

Amplificador
Diferencial
genrico

Vo

Fig. 2. Mecanismo de acoplo capacitivo (figura superior) y eliminacin de la corriente parsita

por medio de un blindaje electrosttico (figura inferior). El blindaje debe conectarse a tierra.

Las condiciones que deben cumplirse para que se d esta interferencia son:

Proximidad entre circuitos,

Frecuencias superiores a 1 kHz, y
Pseudo-impedancia muy superior a 377 .

La tensin de interferencia inducida es proporcional a la variacin de tensin con el

tiempo e inversamente proporcional a la separacin entre conductores. Esto es
consecuencia de la expresin de la corriente que circula por un condensador y de la
consideracin de los dos conductores como un condensador de placas plano-paralelas,
segn la expresin:
i =C

JJGDR-UCA

dv
S dv
=
dt
d dt

(1)

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

Una observacin muy importante es que el blindaje es conveniente realizarlo en el

conductor, y no en la fuente de la interferencia (como podra ser un fluorescente). En
efecto, al realizarlo en el conductor, los potenciales en el blindaje y en el conductor son
muy pequeos, en consecuencia tambin lo es la capacidad parsita y la corriente
parsita que circula por ella. Pero si se blinda el origen de la interferencia se consigue
que la diferencia de potencial entre la fuente de ruido y el blindaje sea pequea (eso ya lo
hemos apuntado), pero entre el blindaje y el circuito habr una gran diferencia de
potencial. Seguiremos pues teniendo un acoplo capacitivo considerable.
6.3.2 Cuantificacin de la capacidad parsita
Si entre dos conductores hay una diferencia de potencial se establece entre ellos un
campo elctrico. Si el campo es variable, se produce una interferencia capacitiva entre
ambos. La situacin se muestra en la Fig. 3, en la que aparece un conductor de seal al
que se acopla capacitivamente una seal de interferencia con origen en el conductor de
alto nivel (de mayor voltaje).

Fig. 3. Produccin de interferencia por acoplo capacitivo.

Con el fin de concretar la situacin en un ejemplo se considera el circuito de la Fig. 4,

en el que se observan dos conductores prximos con distinto potencial y las distintas
corrientes parsitas inducidas por efecto capacitivo, y que tienen lugar como
consecuencia de la alternancia en signo y magnitud de la tensin en el conductor origen
de la interferencia.

Fig. 4. Circuito bsico de modelado de acoplo capacitivo.

Esta situacin lleva consigo el modelado que se usa comnmente en la cuantificacin de

la capacidad parsita y que se aprecia en la Fig. 5, en una situacin de medida con un
multmetro.

JJGDR-UCA

6 Interferencias

Fig. 5. Formacin de interferencia capacitiva en la medida con multmetro.

La corriente eficaz inducida se calcula a partir de la tensin eficaz de interferencia que

circula por la malla blanco de las interferencias:
I rms int er =

Vrms int er
Req

donde Req es la resistencia equivalente en la malla donde se producen las interferencias.

La capacidad parsita forma parte de la impedancia de la malla. Esta impedancia se
reduce a la impedancia del condensador en nuestro caso porque se supone pequeo el
valor de la capacidad parsita C:
Z = R2 +

1
w2C 2

1
wC

La fuente de esta interferencia suele ser la tensin de red y se relaciona con esta
impedancia segn:
Vrms fuente = I rms int er Z I rms int er

V
1
1
= rms int er
wC
Req
wC

De aqu se obtiene la capacidad parsita originada:

C=

Vrms int er
1

Vrms fuente 2f Req

(2)

Considerando valores tpicos de nanoamperios en la corriente eficaz inducida:

C=

10 3 (Vef )
Vrms int er
1
1

Vrms fuente 2f Req

220 (Vef ) 2 50 ( Hz ) 10 6 ()
1,4468631 10 14 ( F ) 0,01 ( pF )

Esto significa que capacidades parsitas muy pequeas pueden ocasionar corrientes
parsitas inducidas perjudiciales en aplicaciones de bajo nivel.
Esta situacin es clsica en un laboratorio ya que las impedancias de entrada de los
instrumentos, como el osciloscopio y el multmetro suele ser elevada. Esta condicin se
debe cumplir para el acoplo capacitivo.
Por otra parte, al aumentar la frecuencia, a partir de la ecuacin (2) se comprueba que
la tensin de interferencia inducida aumenta. En efecto,

JJGDR-UCA

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

V rms int er = 2f R eq C V rms fuente

Para evitar la interferencia capacitiva se suelen rodear los conductores de un blindaje

electrosttico, como hemos visto.
El siguiente ejemplo muestra el tratamiento de un acoplo capacitivo de un modo
genrico. Como dos conductores cualesquiera constituyen un condensador, si uno de
ellos est a un cierto potencial respecto a un tercer conductor (el plano de masa de la
figura 6), entonces el segundo conductor alcanza tambin un potencial respecto al
tercero. Las operaciones se muestran sobre la Fig. 6.

Fig. 6. Circuito con distintas capacidades parsitas. A la izquierda la

fuente de interferencia y a la derecha la resistencia de entrada del
instrumento, que es donde se acopla la interferencia.

La Fig. 7 muestra su circuito equivalente. En ella, R representa el circuito que sufre los
efectos de la interferencia, que en este caso hemos llamado Vn (con subndice de ruido).

Fig. 7. Circuito equivalente a la Fig. 6.

Vn es la tensin que provoca interferencia, y Vm la tensin medida en el instrumento o

circuito afectado (blanco de la interferencia). Para realizar el anlisis, se plantea un
simple divisor de tensin (en rgimen sinusoidal permanente):

JJGDR-UCA

6 Interferencias

R
1 + jwRC 2M
jwRC 12
jwRC 12
Vm = Vn
= Vn
= Vn
1
R
(
1 + jwRC 2M ) + jwRC 12
1 + jwR (C 12 + C 2M
+
jwC 12 1 + jwRC 2M

El condensador C1M no interviene porque est en paralelo con Vn. Se observa que la
tensin medida depende de la resistencia del circuito y de las capacidades parsitas.
Esta expresin suele considerarse segn la magnitud de la resistencia del circuito de
medida. Considerando que las capacidades parsitas son muy pequeas, si R tambin lo
es, entonces podemos aproximar la ecuacin anterior a:
V m V n jwRC 12

(3)

Entonces, si R es pequea la interferencia en nuestro circuito aumenta

proporcionalmente a la frecuencia. Sin embargo si R es grande se cumplir:
jwR (C 12 + C 2M ) >> 1

Entonces se desprecia la unidad en el denominador, y se verifica la relacin

proporcional a las capacidades parsitas:
Vm Vn

jwRC 12
C 12
= Vn
jwR (C 12 + C 2M )
C 12 + C 2M

(4)

En este caso en el que la impedancia de nuestro circuito es muy elevada, la tensin de

interferencia es independiente de la frecuencia y mayor que en el caso anterior. En
ambos casos la interferencia aumenta al hacerlo C12.
En los equipos de medida la fuente usual de interferencias es la tensin de la red (50
Hz), por lo que al tener frecuencia pequea y capacidad pequea, tenemos un caso
descrito por la ecuacin (3), independientemente del valor de R.
Este ejercicio permite deducir las soluciones a tomar para disminuir el efecto de la
interferencia capacitiva. En efecto:

Aumentar la distancia entre los conductores, en especial de los que portan

seales de alta frecuencia, y ms an si nuestro circuito presenta impedancia
elevada.
Apantallamiento de conductores.

6.4 Acoplo inductivo

6.4.1 Concepto, caractersticas y condiciones de acoplo
Es una interferencia de origen magntico, asociada a los conductores que transportan
cargas elctricas en movimiento. Esta corriente, crea campos magnticos en las
proximidades del conductor blanco o diana de las interferencias. Si la corriente es
variable, el campo magntico tambin lo ser. Por otra parte, la corriente fija origina un
campo magntico constante, pero si este campo constante atraviesa un rea variable, el

JJGDR-UCA

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

flujo magntico ser variable. En ambos casos se producen flujos magnticos no

deseados que son el origen de corrientes inducidas segn la ley de Faraday-Lenz.

d B S
d

=
=
dt
dt

(5)

La Fig. 8 ilustra la formacin de interferencia inductiva y su eliminacin empleando

pares de conductores trenzados (twisted pairs) que provocan flujos magnticos opuestos.
La reduccin del rea del blanco de las interferencias reduce el acoplo inductivo.

Fig. 8. Formacin de interferencia inductiva y

eliminacin
por
pares
trenzados
de
conductores.

Para que se d este tipo de interferencia deben cumplirse las siguientes condiciones:

Existencia de un flujo magntico variable,

Frecuencia superior a 3 kHz, y
Pseudo-impedancia inferior a 377 .

Con el fin de realizar un planteamiento cuantitativo consideremos la Fig. 9, en el un

circuito, por el que circula una corriente variable, provocando un campo magntico
variable, provoca una interferencia de tipo inductivo en otro circuito prximo. Esto
permite introducir el concepto de inductancia mutua.

JJGDR-UCA

6 Interferencias

Fig. 9. Interferencia de tipo inductivo y concepto de inductancia mutua.

La tensin de ruido es una f.e.m inducida que provoca un campo magntico opuesto al
producido por la corriente interferente. Esta relacin, en trminos absolutos se plantea a
continuacin:
v NOISE (t) = L M

di(t)
dt

i NOISE (t) = C M

dv(t)
.
dt

(6)

LM es la inductancia mutua entre los dos circuitos y slo depende de su geometra y no

de las corrientes que circulan por ellos.
La Ec. (6) pone de manifiesto la equivalencia entre los parmetros del acoplo
capacitivo y los parmetros del acoplo inductivo. En efecto, la inductancia mutua es el
elemento equivalente a la capacidad parsita. En el acoplo inductivo se produce una
tensin parsita y en el capacitivo se produce una corriente parsita.
En el caso particular de una corriente sinusoidal: i(t ) = I M sen(wt ) , se tiene una tensin
de ruido inducida:
v NOISE (t) = L M

di(t)
= L M I M wcos(wt )
dt

De aqu se deduce que la tensin est desfasada respecto de la corriente interferente.

Adems se deduce el comportamiento paso-alto.
6.4.2 Reduccin de la interferencia inductiva
Segn se ha visto, la cuanta de la interferencia inductiva depende de la intensidad del
campo magntico, de su tasa de variacin y del rea del circuito que constituye el blanco
y la interferencia. Por tanto, esta interferencia es la ms sencilla de combatir. Se toman
las siguientes medidas:

Empleo de conductores trenzados para reducir el rea de induccin,

proteger a los transformadores y otras fuentes de campos magnticos en cajas
ferromagnticas, con el fin de debilitar el campo magntico, y
evitar la formacin de circuitos parsitos hacia tierra con elevadas corrientes.

JJGDR-UCA

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

6.5 Acoplo electromagntico

6.5.1 Origen del acoplo electromagntico
La Fig. 10 muestra el mecanismo de acoplo electromagntico, que requiere antenas de
radiacin y recepcin. Esta interferencia se fundamenta en la energa radiada a altas
frecuencias en forma de ondas electromagnticas de frecuencias comparables con las de
radio.
Adems de los transmisores habituales de radio y TV, son fuentes artificiales las
descargas de gas en tubos fluorescentes y de rayos X; tambin los arcos elctricos en
motores, generadores e interruptores. Las fuentes naturales estn asociadas a las
radiaciones csmicas y a fenmenos elctricos de la naturaleza.

Fig. 10. Acoplo electromagntico.

6.5.2 Condiciones de existencia y reduccin

Se deben dar tres condiciones para que se d el acoplo electromagntico:

Frecuencias mayores que 20 MHz,

Conductores mayores que /20, y
Peudo-impedancia con valor aproximado de 377 .

En las ondas electromagnticas se propagan simultneamente los campos magntico

y elctrico, como indica la Fig. 11. Por tanto, la eliminacin de un componente lleva
consigo la del otro.

Fig. 11. Propagacin del campo electromagntico.

A tal efecto se emplean blindajes electrostticos para eliminar el componente elctrico

de un campo electromagntico; eliminando en consecuencia la energa radiada, que
viene cuantificada por el vector de Pointing.
P = x H

10

JJGDR-UCA

6 Interferencias

Por tanto, un buen blindaje contra la interferencia electromagntica lo constituye una

caja metlica conectada a tierra a travs de una impedancia pequea.
6.6 Interferencias conductivas
6.6.1 Concepto y tipos
El mecanismo de acoplo conductivo requiere la formacin de un circuito cerrado entre
el emisor y el receptor de la interferencia. Las causas ms frecuentes son:

Existencia de impedancia comn hacia tierra,

Transformadores de potencia, y
Fuentes de alimentacin conectadas incorrectamente.

Se detallan a continuacin estas interferencias conductivas.

6.6.2 Impedancia comn hacia tierra
Esta interferencia conductiva se presenta cuando varios circuitos se conectan a tierra
mediante el mismo conductor. El caso ms frecuente se presenta cuando la tierra
analgica y la tierra digital se conectan al mismo conductor, como muestra la Fig. 12.
Circuito
Analgico

Transitorios
conmutacin

DGND

AGND
Tierra analgica

Circuito
Digital

RT

Tierra digital

Fig. 12. RT es una impedancia comn hacia

tierra; si es elevada, pasan transitorios digitales
hacia los circuitos analgicos.

Si la impedancia del conductor de tierra (RT) es elevada, con mucha probabilidad se

acoplarn estados transitorios de los circuitos lgicos digitales a las seales analgicas.
Por ello, esta impedancia debe mantenerse tan baja como sea posible.
Como precauciones adicionales, las tierras analgicas deben mantenerse separadas de
las lneas de potencia y de las tierras digitales, hasta que las tierras analgicas, de
potencia y digitales se unan finalmente en un punto, que debe ser nico.
Otro ejemplo sencillo se muestra en la Fig. 13, en el que se trata la medida de una
seal que est referida a un punto fsicamente alejado del punto de referencia del
amplificador. Ambos puntos se representan por smbolos distintos. Cada punto, en su
zona respectiva, est conectado a tierra.

JJGDR-UCA

11

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

Fig. 13. Interferencia de acoplo resistivo asociada a la

cada de tensin provocada por corrientes parsitas
que circulan entre dos puntos de referencia
fsicamente alejados.

Es bien conocido que como consecuencia de emplear la tierra como camino de retorno
de las corrientes de fugas de los equipos electrnicos, entre dos tomas de tierra distintas
existe siempre una diferencia de potencial, que suelen ser entre 1 y 2 V en las
instalaciones industriales comunes.
Un amplificador diferencial como el utilizado en la Fig. 14 resuelve el problema si el
factor de rechazo al modo comn total reduce la interferencia en la salida por debajo del
nivel esperado. En lo expuesto se supone que la tensin de modo comn presente en
los terminales de entrada del amplificador operacional no excede los lmites impuestos
por el fabricante.

Fig. 14. Amplificador diferencial para eliminar la

interferencia resistiva.

Puede suceder adems que el CMRR del amplificador diferencial sea insuficiente, o que
se tengan otros circuitos conectados a la misma referencia. En estas situaciones es
necesario el empleo de otras tcnicas.
6.6.3 Transformadores de potencia
Los picos de potencia y las fluctuaciones de la tensin de la instalacin constituyen otra
fuente de interferencia conductiva que se transmite por las lneas de alimentacin hacia
los circuitos de distribucin de potencia comn.
El mecanismo de acoplo en el equipo de instrumentacin suele ser a travs de la
capacidad parsita entre primario y secundario de un transformador de la fuente de
alimentacin de un instrumento electrnico. Por ello se suele emplear un blindaje de
interferencia capacitiva o blindaje tipo Faraday.

12

JJGDR-UCA

6 Interferencias

6.6.4 Fuentes de alimentacin

Si no se conectan correctamente las cargas de una fuente de alimentacin se producen
interferencias entre ellas. Por ejemplo, si se conectan en paralelo varias cargas a la misma
fuente las fluctuaciones en la corriente de una carga se acoplan conductivamente a las
dems.
Uno de los efectos ms perjudiciales de la interferencia conductiva es la formacin de
lazos de tierra. A continuacin se profundiza un poco ms en ellos.
6.7 Lazos de tierra
6.7.1 Concepto y causas de captacin de interferencia
Como se estudi en el captulo 1, cuando la fuente de seal involucrada en la medida y
el instrumento estn conectados a la misma toma de tierra pero en distintos puntos, se
forma un circuito cerrado que incluye el conductor de tierra y el plano de tierra. En la
Fig. 15 (Fig. 13 captulo 1) se aprecia el lazo de tierra (tambin llamado bucle de
masa); se origina como consecuencia de que el conductor a tierra del equipo se ha
conectado en puntos diferentes (1,2). El lazo de tierra comprende la trayectoria de la
seal de inters y la estructura de tierra. En general, para eliminar el lazo de tierra hay
que conectar todas las tierras al mismo potencial.

Fuente de
seal

Rh
Impedancia de
retorno de seal

Ri Vi

DMM

Rs
Vs

V=Vmc
Fuente de ruido
Estructura de tierra

Fig. 15. Formacin de un lazo de tierra y circuito equivalente.

Se demostr tambin en el captulo 1 que en la entrada del multmetro est presente una
tensin de modo comn:
vi v s + v mc
Las dos causas ms comunes de circulacin de corriente por un lazo de tierra son las
diferencias de potencial entre los puntos del plano de tierra y la recepcin de
interferencia inductiva.

JJGDR-UCA

13

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

6.7.2 Formacin de lazos de tierra por acoplo capacitivo

Debido al acoplo capacitivo, se puede formar una trayectoria elctrica cerrada aunque
no haya camino conductivo u hmico completo (aunque no haya conexiones). Como
ejemplo se considera la Fig. 16.

Fig. 16. Formacin de un lazo de tierra

por acoplo capacitivo.

El blindaje del amplificador no est conectado a tierra fsica, sin embargo el camino 1-23-4 establece el lazo de tierra.
6.7.3 Formacin de lazos de tierra por mala conexin de blindajes
En la Fig. 17 se aprecia que si se conecta el blindaje del cable al del amplificador se
establece una trayectoria cerrada que origina otra tensin de modo comn parsita.

Fig. 17. Formacin de un lazo de tierra

por mala conexin del blindaje del
cable.

14

JJGDR-UCA

6 Interferencias

6.7.4 Reduccin de efectos de los lazos de tierra

Para reducir los efectos de los lazos de tierra, que suelen ser seales de modo comn, se
emplean las guardas de entrada en amplificadores de instrumentacin. Sin embargo, son
de consideracin tres mtodos o consejos prcticos ms sencillos y previos al estudio de
guardas de entrada. Estos mtodos se muestran en la Fig. 18.

Fig. 18. Reduccin del efecto

de los lazos de tierra.

Para cortas distancias se emplean lneas de transmisin balanceadas y aterrizaje en un

solo punto. Para distancias superiores se emplean transformadores de aislamiento o
fibras pticas.
6.8 Guardas de entrada
Un amplificador diferencial con guarda de entrada desva las corrientes del circuito del
lazo de tierra de la entrada del circuito de medida, como muestra la Fig. 19.

Fig. 19. Guarda de entrada en un amplificador diferencial.

JJGDR-UCA

15

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

6.9 Caracterizacin de interferencias

Aunque se han modelado y caracterizado las interferencias en apartados anteriores, en
este apartado, se utiliza el ejemplo de conexin de un termopar a un multmetro para el
modelado y caracterizacin, y para el clculo de factor de rechazo al modo comn en el
amplificador diferencial del instrumento electrnico.
6.9.1 Modelado y caracterizacin
La Fig. 20 muestra un termopar conectado a un multmetro (conexin flotante) y su
circuito de medida equivalente, una vez modeladas todas las fuentes de interferencia. El
multmetro utiliza un amplificador con entrada diferencial flotante.
El modelado de interferencias incluye la tensin de modo comn entre las tierras de
la seal y del instrumento. sta ltima se adopta como referencia absoluta.
En la prctica, se desprecia la resistencia de modelado de la fuente de modo comn y
se hace infinita la resistencia de entrada al multmetro. En consecuencia, el circuito
queda como en la Fig. 21. Obsrvese que las capacidades y resistencias modelan los
parsitos asociados a los acoplamientos capacitivos y resistencias de los cables del
termopar, respectivamente. Si se suprimieran (zona marcada en la Fig. 21), quedara el
modelo de circuito de amplificador diferencial clsico, con las entradas diferencial y de
modo comn. El orden escogido para las entradas slo afecta al signo del resultado
(cambio de signo en las ganancias diferencial y de modo comn) y no nos desva de los
objetivos marcados.
Se pretende comprobar que los parsitos estn presentes en la nueva ganancia
diferencial y en el trmino en modo comn. A partir de ah se estudiarn los mbitos de
relevancia segn la cuanta de la frecuencia de operacin del circuito o seal aplicada.

Fig. 20. Circuito de medida con termopar y

modelado de interferencias de sus interferencias.

16

JJGDR-UCA

6 Interferencias

R1

Vi1
C1
VD

Vs
+

C2
Vi2

R2

Amplificador
diferencial

Vo

G
+

Parsitos

Vmc
-

Tierra del chasis del instrumento

Fig. 21. Modelado lgico del circuito de medida con termopar y

multmetro, con amplificador diferencial flotante. Sin parsitos, la
tensin diferencial de entrada coincidira con la tensin de seal.

Vi1

R1

V1

C1

Vs/2

+
+

Vmc

Vs/2

+
-

VD

C2

Amplificador
diferencial

Vo

G=1

R2

V2

Vi2

Tierra del chasis del instrumento

Fig. 22. Simplificacin del circuito de la Fig. 21.

Empleando la simplificacin de que la impedancia de entrada del dispositivo es infinita,

se cumplen las siguientes expresiones para las tensiones auxiliares de la Fig. 22:
V1 = Vmc

Vs
2

V2 = Vmc +

Vs
2

Vi1 =

V1
1 + jwR1C1

Vi 2 =

V2
1 + jwR2 C 2

Por tanto, la salida del amplificador diferencial (suponiendo unitaria la ganancia G del
circuito de la zona triangular, el amplificador diferencial) resulta:
Vo = Vi1 Vi 2 =
=

V1
V2

1 + jwR1C1 1 + jwR 2 C 2

V1 (1 + jwR 2 C 2 ) V2 (1 + jwR1C1 )
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2 C 2 )

V
V

Vmc s (1 + jwR 2 C 2 ) Vmc + s (1 + jwR1C1 )

2
2

=
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2 C 2 )
=

JJGDR-UCA

Vmc (1 + jwR 2 C 2 ) Vmc (1 + jwR1C1 )

Vs
(2 + jwR1C1 + jwR2 C 2 )
2
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2 C 2 )

17

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

En sntesis:
Vo = Vmc

( jwR2C2 jwR1C1 ) Vs (2 + jwR1C1 + jwR2C2 ) = V A ( jw) + V A ( jw)

mc
mc
s
D
(1 + jwR C4
(1 + jwR2C2 ) 2 (1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 )
1 )2
14441 4
44444
3
14444
4244444
3
Amc ( jw )

AD ( jw )

Al inspeccionar la expresin anterior se observa que la salida presenta un trmino en

modo comn, y que tanto la ganancia diferencial como la ganancia en modo comn del
circuito dependen de la frecuencia a travs de las constantes de tiempo de los parsitos.
A las frecuencias de inters, el mdulo de la ganancia de modo comn es
aproximadamente:
w(R2 C 2 R1C1 )

Esto se debe a que el denominador puede aproximarse a la unidad. En efecto, el mdulo

de la tensin de modo comn es:
Vmc

jw(R2C2 R1C1 )
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 )

w(R2C2 R1C1 )

= Vmc

1 + w2 R12C12 1 + w2 R22C22

Los trminos del radicando del denominador de la forma w2R2C2 son mucho menores
que la unidad a la frecuencia de inters (50 Hz) ya que las capacidades son muy
pequeas (la mayor por ejemplo 10.000 pF), quedando evaluados en un caso concreto:

(
) 2,47 10
= 4 (50 ) (2000) (10.000 10 ) 3,95 10

w 2 R12 C12 = 4 f 2 R12C12 = 4 2 (50 )2 (1000)2 500 10 12

w 2 R22 C22 = 4 f 2 R22C22

12 2

Por tanto, la seal de modo comn de interferencia viene dada por:

v mc (t ) = [Vmc (wR2 C 2 wR1C1 )] sen(2ft )

Y a las frecuencias de inters, y considerando un ejemplo numrico:

v mc (t ) = 10 250 1000 10 8 2000 5 10 10 sen(250t )

= 10 250 10

10

) sen(250t )

28,274334 sen(250t ) mV
28,3 sen(250t ) mV

En termopares y galgas extensiomtricas (sensores de deformacin), donde el rango de

tensiones es 10-50 mV, esta seal enmascara totalmente la medida. Es necesario
observar que el excesivo valor se debe al elevado valor de las resistencias de los cables
de conexin del multmetro.

18

JJGDR-UCA

6 Interferencias

6.9.2 Factor de rechazo al modo comn (CMRR)

A partir de la expresin anterior, que se vuelve a escribir por simplicidad, se calcula el
CMRR de la cadena de medida.
2 + jwR1C1 + jwR2C2

( jwR2C2 jwR1C1 ) V
2
= V A ( jw) + V A ( jw)
Vo = Vmc
s
mc
mc
s
D
(11 4
+ jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 )
(
1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 )
444
4244444
3
14444
4244444
3
Amc ( jw )

AD ( jw )

Se plantea la expresin del CMRR(jw), es decir, en rgimen sinusoidal permanente. Ya se

intua su dependencia con la frecuencia debido a que las impedancias parsitas son
complejas.
jwR1C1 + jwR2C2

1 +

2
R C + R2C2

1 + jw 1 1

A ( jw)
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 ) =
2

CMRR( jw) D
=
( jwR2C2 jwR1C1 )
Amc ( jw)
jw(R2C2 R1C1 )
(1 + jwR1C1 ) (1 + jwR2C2 )

En el dominio de Laplace y definiendo las constantes de tiempo resulta:

A (s )
CMRR (s ) D
=
Amc (s )

+
+
1 + 1 2 s
1 + 1 2 s
2

=
2
( 2 1 )s
(1 2 )s

Se observa que si las constantes de tiempo son idnticas (balanceo), el

comportamiento diferencial es ideal. Esta situacin es bastante improbable.
Con el fin de ponderar el efecto del desequilibrio de las impedancias de la conexin,
se definen las siguientes variables promedio y diferencias:
R

R1 + R2
2

R R1 R2

C1 + C 2
2

C C1 C 2

A partir de ellas, es sencillo obtener:

1 - 2 = R C + C R

1 + 2
R C
= RC +
2
4

Se obtiene finalmente una nueva expresin del CMRR en funcin de estas nuevas
variables promedio e incrementales:
+ 2
R C

1 + 1
s
RC +
s + 1

4
2

CMRR(s ) =
=
( 1 2 )s
(R C + C R )s

JJGDR-UCA

19

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

Teniendo en cuenta que las interferencias de modo comn vienen originadas

principalmente por la red (50 60 Hz), que es de baja frecuencia; y que la diferencia de
capacidades es mnima, entonces se verifican las condiciones (en rgimen sinusoidal
permanente):
R C

RC +
jw << 1
4

R C << C R

Por tanto, finalmente:

CMRR(s )

(C R )s

s = jw = j22

CMRR( j2 f ) =

1
2 f C R

Con lo que se demuestra que si el balanceo de resistencias es perfecto se pueden

conseguir CMRRs muy elevados.
Utilizando el anlisis realizado en este apartado, se estudia en el siguiente el efecto de
conectar una guarda activa.
6.9.3 Amplificador diferencial con guarda activa
Hemos visto que es usual el apantallamiento elctrico de los cables de seal mediante
mallas conductoras coaxiales conectadas a tierra. Si la malla se conecta a una
determinada tensin, prxima a la del cable interno (terminal de guarda G), entonces
constituye una guarda activa (driven guard). La situacin se muestra en la Fig. 23, en la que
se utiliza un aislador (buffer) para realizar la conexin a la guarda activa.
Vi1

V1
-

Vs/2

R1

+
+

Vmc

AD

RG

V2

Vo
G

Vs/2

R2

Vi2

Fig. 23. Amplificador diferencial (AD) que emplea la terminal de guarda (G).
R1 y R2 representan las resistencias internas del transductor y de la conexin
(resistencias de los hilos). Las capacidades parsitas de las figuras anteriores
tienen su origen en el apantallamiento elctrico.

20

JJGDR-UCA

6 Interferencias

El anlisis del circuito arroja como resultado una ganancia de modo comn nula. En
la Fig. 24 se incluye el esquema interno del amplificador diferencial y el modelado de las
capacidades parsitas distribuidas del cable coaxial (C1 y C2).
+

R1

V1
+
+

Vmc

V2

Vi1
C1

Vs/2

R2

C2

R
I

I1

VG
Vs/2

Vo1

RG=aR

al amplificador
diferencial bsico

I2

Vi2

R
R

Vo2

G
-

Fig. 24. Esquema interno de un amplificador diferencial con guarda activa conectado a un
sensor, con apantallamiento de cable coaxial.

Se realiza el anlisis de la misma forma pero ahora teniendo en cuenta que la tensin
VG es la media de las salidas (que se demuestra que es la media de las entradas, o tensin
en modo comn) de los amplificadores operacionales de entrada del amplificador
diferencial. En efecto, de la Fig. 24 podemos expresar la tensin de guarda como:
VG = I R + Vo2 =

Vo1 Vo2
V +V
R + Vo2 = o1 o2
2R
2

Aplicando ahora el principio de superposicin a los AOs de entrada, se tiene que la

tensin en el terminal de guarda es el valor medio de las entradas:

R
R
Vi1
Vo1 = 1 +
Vi2

RG
RG
Vo1 + Vo2 Vi1 + Vi2

=
VG =
2
2

R
R

Vi2
Vo2 = 1 +
Vi1

RG
RG

JJGDR-UCA

21

Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa

Aprovechando esta relacin y, haciendo uso de las corrientes que circulan por los
condensadores parsitos, se obtiene una salida en la que no hay presencia del modo
comn:
Vo = G (Vi1 Vi2 ) =

G
Vs
1 + 2
s+1
2

Para demostrar esa expresin se plantean, como se ha indicado, las tensiones

auxiliares:
V1 = I1 R1 + Vi1

V2 = I 2 R2 + Vi 2

Luego, por otra parte, se plantean las corrientes por los condensadores parsitos:
V +V

V V
I1 = (Vi1 VG ) C1s = Vi1 i1 i 2 C1s = i1 i 2 C1s
2
2

V +V

V V
I 2 = (Vi 2 VG ) C2 s = Vi 2 i1 i 2 C2 s = i 2 i1 C2 s
2
2

Sustituyendo estas corrientes en las ecuaciones de las tensiones auxiliares, se obtiene:

s
V V
V1 = I1 R1 + Vi1 = i1 i 2 C1s R1 + Vi1 = 1 (Vi1 Vi 2 ) + Vi1
2
142424
43
I1

s
V V
V2 = I 2 R2 + Vi 2 = i 2 i1 C2 s R2 + Vi 2 = 2 (Vi 2 Vi1 ) + Vi 2
2
142424
43
I2

Se obtiene finalmente, restando las tensiones auxiliares:

V 2 V1 =

2 s
s
+
(Vi 2 Vi1 ) + 1 (Vi 2 Vi1 ) + (Vi 2 Vi1 ) = (Vi 2 Vi1 ) 1 2 s + 1
2
2
2

Considerando ahora las ecuaciones del principio:

V1 = Vmc

Vs
2

V2 = Vmc +

Vs
2

Se obtiene, como ya sabemos:

V 2 V1 = V s

Por lo que se obtiene la tensin diferencial de transductor en funcin de las tensiones

auxiliares:

22

JJGDR-UCA

6 Interferencias

+ 2

V 2 V1 = (Vi 2 Vi1 ) 1
s + 1 = V s
2

Finalmente se plantea la salida y en ella se sustituye la diferencia de tensiones auxiliares:

Vo =

GV s
1 + 2

s + 1

6.10 Fibras pticas

Este mtodo de transmisin de seal no est afectado siquiera por el ruido elctrico. Las
fibras pticas son hilos muy delgados de vidrio o plstico que trasladan la luz desde el
emisor al receptor. Gracias a su estructura cristalina, la luz se transmite por ella sin
apenas sufrir atenuacin, incluso si el cable da vueltas o est doblado. La fibra es inmune
a ruido porque la seal que porta no es de naturaleza elctrica, sino de naturaleza
luminosa.
Referencias
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]

K. Fowler, Grounding and Shielding, Part 1-Noise, IEEE Instrumentation &

Measurement Magazine, June 2000.
K. Fowler, Grounding and Shielding, Part 2-Grounding and Return, IEEE
Instrumentation & Measurement Magazine, June 2000.
W.D. Cooper and A.D. Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas
de medicin, Prentice-Hall. Hispanoamericana, 1991.
E. Mandado, P. Mario y A. Lago, Instrumentacin Electrnica. Marcombo.
Boixareu editores, 1995.
R. Palls, Instrumentacin Electrnica Bsica, Marcombo, Boixareu editores, 1987.

JJGDR-UCA

23