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Resumo
Palavras-chave: Testes de burn-in, Perodo de burn-in, Fiabilidade, Curva da banheira, Taxa instantnea
de falhas, Risco de falha, Probabilidade condicionada de falha, Perodo de garantia
Introduo
Este artigo sobre testes de burn-in, vem juntar-se a outros trs [1], [2], [3] que escrevi para a
revista QUALIDADE. Embora no tenha focado a minha vida profissional no tema Qualidade,
verdade que ele sempre andou por perto e interrelacionado. Todos estes temas surgiram em algum,
ou mais momentos e, como de costume, espicaaram a minha curiosidade de Engenheiro e
levaram-me a estud-los. Em algumas ocasies, mesmo, a p-los em prtica em empresas diversas
na minha actividade de consultor em Economia Operacional. Tratei-os tambm no mbito de
aulas em Universidades e em aces de formao inter e intra empresas. O tema de testes de burnin surgiu-me por trs vezes: pela primeira vez, h muitos anos, na fabricao de lmpadas na
Philips em Eindhoven, na fabricao de cabinas de comutao telefnica digital na Alcatel em
Cascais e na fabricao de autorrdios na Pioneer no Seixal. No primeiro caso como actor e no
segundo e terceiro casos como espectador. Mais uma vez me entusiasmou a perspectiva da
eficincia, em complemento da sempre necessria eficcia, em todas as actividades de natureza
operacional desenvolvidas em empresas industriais. Conforme j deixei escrito no artigo sobre
garantias e contratos de assistncia aps-venda [2], a fiabilidade a expresso da qualidade ao
longo do tempo. Mais uma vez, a fiabilidade surge nesta perspectiva neste quarto e ltimo artigo.
Conforme j foi referido na sinopse, um teste (ou ensaio) de burn-in um processo pelo qual se
garante (com um determinado nvel de confiana) que um sistema no sofrer falhas antes de
decorrido um determinado perodo de utilizao. Para tal, os componentes que compem o
sistema so ensaiados em condies simuladas da realidade ou, por vezes, mais exigentes, de
modo a que as falhas infantis se manifestem e os componentes falhados sejam substitudos ou
reparados, antes de o sistema chegar ao mercado e ser colocado em servio. No caso de
componentes electrnicos ou de circuitos integrados complexos, os testes so realizados
frequentemente em condies de vida acelerada causando-lhes stress, fazendo-os funcionar em
condies de temperatura e de humidade elevadas seguindo perfis temporais predefinidos, ao
mesmo tempo que sujeitos a sobretenses. As placas de circuitos impressos, e quadros elctricos
completos podem tambm ser sujeitos a vibraes e, mesmo, choques. No caso dos quadros
elctricos, tambm a jactos de gua se forem destinados a funcionar no exterior.
Por vezes, as falhas podem surgir da interaco entre diferentes componentes, circunstncias nas
quais os sistemas so testados j montados com todos os seus componentes. , por exemplo, o
caso de motores de combusto interna, tendo-se popularizado, neste caso, o termo rodagem,
teste este que hoje realizado em fbrica, de modo a prevenir reclamaes resultantes da
manifestao de falhas infantis nas viaturas j nas mos dos clientes.
Os testes de burn-in constituem todavia um custo importante de produo, pelo que devem ser
criteriosamente concebidos, seguindo Normas e optando, sempre que possvel, por testes (ou
Ensaios) No Destrutivos (END). Obviamente, que ser sempre prefervel eliminar as causas
raiz das falhas infantis em lugar da realizao de testes de burn-in. Porm, no incio da
fabricao de novos produtos, estes ensaios tero de ser realizados idealmente, aproveitando-se
a circunstncia para identificar e eliminar cada nova causa raiz surgida.
1. Conceitos bsicos
1.1 Curva de Mortalidade (ou de Sobrevivncia) [4], [6]
Conforme j ilustrado em [2], as funes de fiabilidade so usadas como representaes da vida
de um componente na verdade, so leis de vida, pois podem generalizar-se a todos os seres
vivos, incluindo os humanos (ver a este propsito a aplicao EXCEL Esperana de vida_20122014 em http://www.rassis.com/estatistica.html). So elas as seguintes:
1 dRt f t
.
Rt dt
Rt
(1)
F(t)
R(t)
h(t)
f(t)
f(t)
0
0
Perodo de
infncia
Ti
Tn
Perodo de maturidade
ou de vida til
T
Perodo de degradao
Quando os itens de uma amostra so novos e entram em funcionamento, apresentam uma taxa
instantnea elevada de falhas h(t), a qual decresce rapidamente at que os componentes atingem
a idade Ti. Este perodo designa-se por perodo de infncia (ou de mortalidade infantil, early-life
period, burn-in period, debugging period, etc.). Aqueles defeitos devem-se a vrias causas
intrnsecas possveis: projecto deficiente, defeitos de fabrico (um vazio numa pea fundida...),
controlo de qualidade deficiente, instalao/montagem incorrecta,...
A forma eficaz de minimizar este problema, para alm dos necessrios cuidados de projecto e
rigor de fabrico, consiste na prtica em testar a totalidade da produo em condies de servio
simulado (ou rodagem) antes da entrada em servio efectivo nas mos dos clientes. Este tipo
de teste conhecido por burn-in, conforme referido anteriormente.
Quando todos os itens originalmente deficientes j falharam, tendo sido eliminados ou
rectificados, verifica-se que a taxa instantnea de falhas h(t) estabiliza num valor quase constante
. Este perodo designa-se por perodo de maturidade (ou perodo de vida til) e estende-se por
parte significativa da vida em servio de um rgo.
No perodo de maturidade, a funo de risco h(t) praticamente constante e designa-se por taxa
de falhas, sendo representada por . A funo de risco h(t) e a taxa de falhas podem ser melhor
compreendidas atravs de uma analogia: uma viatura realizou uma viagem a uma velocidade
mdia de 100 Km/hora (equivalente taxa de falhas ), embora tenha percorrido diversas partes
do percurso a velocidades instantneas diferentes (equivalente a h(t)).
Neste perodo de maturidade, as falhas tm origem extrnseca, sendo frequentemente devidas a
solicitaes de operao superiores s projectadas, ocorrendo de forma casual, podendo dar
origem a acidentes graves (por exemplo, um furo num pneu, um rolamento que parte devido a
uma sobrecarga acidental provocada por um operador, uma placa electrnica que destruda por
correntes elctricas induzidas pelo campo electromagntico resultante de uma descarga
electrosttica na atmosfera...).
No caso, por exemplo, dos aparelhos electrnicos, as causas que mais contribuem para as falhas
so: a temperatura excessiva, a sobretenso, a humidade, as variaes bruscas de temperatura, a
vibrao e os choques mecnicos.
Conforme ilustrado na Figura 2, os componentes electrnicos apresentam uma curva de
mortalidade (ou de sobrevivncia), durante o perodo de vida til, praticamente constante. No
caso dos componentes mecnicos, a curva de mortalidade torna-se gradualmente crescente,
devido ao surgimento precoce de degradao.
h(t)
Componentes
mecnicos
Componentes
electrnicos
Tempo
Fluncia (Deformao plstica que ocorre num material em resultado de uma carga esttica
aplicada durante muito tempo e ampliada pelo efeito do calor);
Fadiga mecnica, trmica e oligocclica (Ciclos curtos de flutuao trmica como, por
exemplo, os ciclos pra-arranca);
Corroso (atmosfrica, qumica ou electroqumica);
Eroso (desgaste).
h(t)
Software
Hardware
Tempo
Se a quantidade de itens entregues a um teste de burn-in for N, a quantidade de itens que falharo
durante este teste nf(T) ser dada pela Expresso (3):
nf(T) = N.[1 R(T)]
(3)
E a quantidade que sobreviveu ao teste e que ir falhar durante a vida til especificada (ou
garantida) nf(t), tendo em conta a Expresso (2), ser calculada por:
nf(t) = N.R(T).[1 R(t|T)] = N.R(T).[1 R(t + T)/R(T)] = N.[R(T) R(t + T)]
(4)
Obviamente que um teste de burn-in s se justifica se a condio R(t) < R* for verdadeira.
O teste dever ser prolongado at que se verifique a condio R(t | T) R*. Ou seja, necessrio
que a fiabilidade do produto no incio da sua fase de operao apresente uma fiabilidade para a
misso t (vida til especificada), dado ter sobrevivido ao teste que durou o tempo T, igual ou
superior fiabilidade desejada R*.
A Expresso (2) pode tomar a forma da Expresso (5):
Rt | T .RT Rt T 0
(5)
R * . exp exp
0
(6)
Expresso na qual:
(7)
O perodo de burn-in pode tambm ser determinado em funo dos custos pertinentes em cada
contexto especfico. O custo total encontrado atravs de uma anlise de compromisso (tradeoff) entre os custos que ocorrero em resultado do teste de burn-in e os custos das falhas que
ocorrero j na fase de operao nas mos dos clientes (deve incluir o custo de eventuais
garantias). Trata-se pois de uma anlise custo-benefcio, na qual o teste pra quando o custo
incremental da sua extenso por mais uma unidade de tempo (custo) supera o custo decremental
(economia gerada ou benefcio) das falhas consequentes aps o teste. A Expresso (8) resulta
deste raciocnio [6], ou seja, o custo esperado E[C] por cada unidade submetida a teste deve ser
mnimo. Este custo igual soma:
[Custo do teste de burn-in de cada item Cb + Custo de cada item falhado e perdido durante o teste
Cf + Custo de cada item falhado durante o perodo de vida til Co]
Interessa pois saber qual dever ser o valor de T, de modo a que E[C] resulte mnimo, o que se
consegue adoptando um mtodo numrico de resoluo.
T
T
T t
Expresso na qual:
(8)
E[C]
E[C]mn
Cf
Cb
Co
T*
2. Exemplos de aplicao (as resolues em EXCEL dos dois casos aqui descritos
encontram-se em http://www.rassis.com/manutencao.html
Exemplo 1
Um teste de fiabilidade (sobrevivncia) mostrou que um determinado produto apresenta um
comportamento a falhas infantis segundo uma distribuio de Weibull com os parmetros = 0,6
e = 50.000 horas de operao. Determinar o perodo recomendado de burn-in para que a
fiabilidade especificada de R* = 0,9 para uma vida garantida de 1.500 horas seja conseguida.
Sem realizao do teste de burn-in, o produto apresenta uma fiabilidade para uma misso t =
1.500 horas, R(t = 1.500), igual a [2]:
Rt 1.500
1.500
e 50.000
0,5
0,885170 0,9
Como este valor de fiabilidade para a misso de 1.500 horas, inferior ao valor
exp
0
50.000
50.000
( 9)
Resolvendo a equao (9) por um mtodo numrico (usando o algoritmo GRG Nonlinear do
SOLVER no EXCEL, por exemplo), obtm-se: T = 75,22 75 horas. Logo, R(t = 1.500 | 75) =
0,9. Ou seja, 0,9 ser a fiabilidade (probabilidade de sobrevivncia) de qualquer item para um
perodo de 1.500 horas de funcionamento, depois de ter sobrevivido durante 75 horas s condies
de burn-in.
Complementarmente, podemos determinar quantas unidades do produto falharo durante o teste
recorrendo Expresso (3) e ao EXCEL. Teremos, ento, por cada N = 100 unidades:
nf(T) = N.[1 R(T)] = 100 x WEIBULL(75; 0,6; 50.000; 1) = 2 unidades
Ou seja, aproximadamente 2% das unidades ensaiadas falharo no teste e perder-se-o.
Pela Expresso (4) podemos tambm conhecer quantas unidades falharo provavelmente durante
a fase operacional do produto.
nf(t) = N.[R(T) R(t + T)] = 100 x [(1 WEIBULL(75; 0,6; 50.000; 1)) +
(1 WEIBULL(1.500 + 75; 0,6; 50.000; 1))] = 100 x (0,979955 0,881959) = 9,8 10 unidades
Ou seja, aproximadamente, 10% das unidades que passaram o teste falharo durante a vida
garantida. Esta informao poder servir para o clculo de uma eventual garantia.
Este resultado pode tambm ser confirmado por simulao de Monte-Carlo. Com efeito, se
simularmos a falha de uns milhares de itens numa coluna do EXCEL, programando a Expresso
do processo gerador dos TTF (Time To Failure) da distribuio de Weibull [5], eliminarmos os
TTF inferiores a 75 horas noutra coluna, tratarmos em frequncia os TTF assim filtrados e
calcularmos a frequncia dos TTF superiores a 1.500 horas (sobrevivero, pelo menos, at 1.500
horas), encontraremos o valor 90%. Os outros 10% falharo durante a vida garantida, conforme
calculado anteriormente.
Exemplo 2
A substituio de um determinado produto se ele falhar durante a sua vida garantida de 5 anos (5
x 365 = 1.825 dias), Co = 8.200 /unidade. O custo do teste de burn-in por cada dia e unidade
testada Cb = 80 /dia.unidade. Cada unidade falhada durante o teste custar Cf = 780 /unidade.
Um teste de fiabilidade (sobrevivncia) mostrou que o comportamento em falha do produto pode
ser representado por uma distribuio de Weibull com os parmetros = 0,37 e = 3.800 dias de
operao. Qual ser o perodo de burn-in mais econmico?
Substituindo estes valores na Expresso (6), obtm-se:
T 0,37
T 0,37
T 1.825 0,37
8
.
200
1
exp
exp
3
.
800
3
.
800
3
.
800
Resolvendo esta equao por um mtodo numrico (usando o algoritmo GRG Nonlinear do
SOLVER no EXCEL, por exemplo), obtm-se: T* = 1,94 dias e E[C]min = 4.095 .
alterar e adaptar em funo das consequncias das falhas luz da sua realidade especfica) e estas
j na perspectiva do utilizador.
Referncias bibliogrficas
[1] Assis, Rui, Impacto da no-qualidade em Processos de Produo, Revista Qualidade,
edio 02, 2015 (ver aqui)
[2] Assis, Rui, Garantias e Contratos de Assistncia Ps-venda, Revista Qualidade, edio
03, 2015 (ver aqui)
[3] Assis, Rui, Avaliao Multicritrio de Fornecedores, Revista Qualidade, edio 04, 2015
(ver aqui)
[4] Assis, Rui, Apoio Deciso em Manuteno na Gesto de Activos Fsicos, 2 edio,
LIDEL, 2014 (ver aqui)
[5] Assis, Rui, EXCEL na Simulao de Sistemas e Anlise de Risco, AMAZON, 2014 (ver
aqui)
[6] Ebeling, Charles E., Reliability and Maintainability Engineering, Mc Graw-Hill, 1997
[7] Finn Jensen and Niels Erik Petersen, Burn-in, Wiley, New York, USA, 1982