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7. Variaes transitrias de tenso de curta durao a

As Variaes Transitrias de Curta Durao (VTCD) so eventos de afundamento e elevao
de tenso com durao de 0,5 ciclo a alguns minutos, dependendo da norma a ser considerada.
H uma dificuldade de classificao para os transitrios com durao menor que 1 ciclo da
tenso fundamental da rede eltrica, os surtos e transitrios rpidos de tenso. Esses distrbios so de
difcil identificao e classificao principalmente os distrbios oscilatrios, que no podem ser
definidos nem como afundamento e nem como elevao de tenso. Alguns eventos deste tipo foram
analisados no captulo anterior.
Algum tipo de classificao de eventos encontrado em todas as normas. Em termos prticos,
no entanto, no tem valor alm do que concerne identificao dos eventos em categorias, dando-lhes
uma nomenclatura. Sua utilidade , principalmente, permitir um estudo de possveis causas para o mau
funcionamento de equipamentos e processos e no como requisito de QEE a ser cumprido.
O que se considera variao toma como referncia o valor nominal da tenso do alimentador.
O PRODIST [2] determina faixas para os valores de regime permanente, de acordo com a Figura 7.1

a) Tenso de Referncia (TR);

b) Faixa Adequada de Tenso (TR ADINF, TR + ADSUP);
c) Faixas Precrias de Tenso (TR + ADSUP, TR + ADSUP + PRSUP
ou TR ADINF PRINF, TR ADINF);
d) Faixas Crticas de Tenso (>TR + ADSUP + PRSUP ou <TR
ADINF PRINF).

Figura 7.1 Faixas de operao para a tenso de suprimento.

Os valores de tenso obtidos por medies devem ser comparados tenso de referncia (TR),
a qual deve ser a tenso nominal ou a contratada, de acordo com o nvel de tenso do PAC.
Para cada referncia, a Tenso de Leitura (TL) associada classificada em uma de trs
categorias: adequadas, precrias ou crticas, baseando-se no afastamento do valor da TL em relao
TR. Para diferentes faixas de tenso so estabelecidos diferentes limiares.
O conjunto de leituras para gerar os indicadores individuais compreende o registro de 1008
leituras vlidas, obtidas em intervalos consecutivos (perodo de integralizao) de 10 minutos cada,
salvo as que eventualmente sejam expurgadas. No intuito de se obter 1008 leituras vlidas, intervalos
adicionais devem ser agregados, sempre consecutivamente.
Os valores eficazes devem ser calculados a partir das amostras coletadas em janelas sucessivas.
Cada janela compreende uma sequncia de doze ciclos (0,2 segundos) a quinze ciclos (0,25 segundos).
a

Trechos e figuras deste captulo foram obtidos na dissertao de mestrado de Ernesto Kenji Luna, com orientao do prof.
Sigmar M. Deckmann. Uma Contribuio ao Estudo de VTCDs Aplicado a Equipamentos Eletrnicos Alimentados por
Conversor CA-CC, 2005.

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Aps a obteno do conjunto de leituras vlidas, devem ser calculados os ndices de durao
relativa da transgresso para tenso precria (DRP) e o para tenso crtica (DRC). nlp e nlc
representam o maior valor entre as fases do nmero de leituras situadas nas faixas precria e crtica,
respectivamente. Os indicadores DRP e DRC sero associados a um ms civil.
DRP =

nlp
nlc
100[%] DRC =
100 (%)
1008
1008

(7.1)

O valor da Durao Relativa da Transgresso Mxima de Tenso Precria estabelecido em

3%. O valor da Durao Relativa da Transgresso Mxima de Tenso Crtica estabelecido em 0,5%.
Tabela 7.1 Definies de limites de tenso em regime permanente, inferior a 1 kV.

Tabela 7.2 Limites para redes 220/127 V

No que se refere variao da frequncia, o sistema de distribuio e as instalaes de gerao

conectadas ao mesmo devem, em condies normais de operao e em regime permanente, operar
dentro dos limites de frequncia situados entre 59,9 Hz e 60,1 Hz.
As instalaes de gerao conectadas ao sistema de distribuio devem garantir que a
frequncia retorne para a faixa de 59,5 Hz a 60,5 Hz no prazo de 30 segundos aps sair desta faixa,
para permitir a recuperao do equilbrio carga-gerao.
Havendo necessidade de corte de gerao ou de carga para permitir a recuperao do equilbrio
carga-gerao, durante os distrbios no sistema de distribuio, a frequncia:
a) no pode exceder 66 Hz ou ser inferior a 56,5 Hz em condies extremas;
b) pode permanecer acima de 62 Hz por no mximo 30 s e acima de 63,5 Hz por no mximo 10 s;
c) pode permanecer abaixo de 58,5 Hz por no mximo 10 segundos e abaixo de 57,5 Hz por no
mximo 5 segundos.
7.1 Metodologia da Magnitude e Durao do Evento (M&D)
A metodologia da Magnitude e Durao do Evento (M&D) caracteriza um evento de VTCD
por dois parmetros como prprio nome da metodologia j explicita: a magnitude e a durao.
Todas as normas utilizam-se do valor eficaz da tenso (Vef) para verificar o desvio mais
significativo da tenso, esse desvio define a magnitude do evento.
7.1.1 Norma Brasileira [1,2]
A Magnitude (VMag) do evento, desvio mais significativo da tenso, definido segundo a
norma americana e a recomendao brasileira como sendo: Nvel extremo do valor eficaz da tenso,
tenso residual ou remanescente (Vres) em relao tenso nominal (Vn) no ponto de observao,

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expresso em porcentagem (%) ou valor por unidade (pu).

VMag =

Vres
( pu )
Vn

ou

VMag % =

Vres
100 (%)
Vn

(7.2)

A Durao (t) do evento definida como: O intervalo de tempo decorrido entre o instante
(ti) em que o valor eficaz da tenso ultrapassa determinado limite de referncia (Vref) e o instante (tf)
em que a mesma varivel volta a cruzar esse limite, expresso em segundos ou ciclos da fundamental.
t = tf ti ( segundos ou ciclos )

Na figura 7.2 apresentado um exemplo da caracterizao de um afundamento de tenso, em

que a magnitude do evento de V 32,0 % ou V 0,32 pu e durao de t 92,0 ms (5,52 ciclos).
2

Comportamento da Tenso na Fase (ex: Va)

Comportamento do Valor Eficaz da Tenso (Vef)

1.5

Vn
Vref

TENSAO (PU)

0.5

Vn
Vres

-0.5

-1

-1.5

t (Durao)

ti
-2

0.05

0.1

0.15

tf
0.2

0.25

TEMPO (s)

Figura 7.2 Caracterizao de um Afundamento de Tenso (Normas Brasileira e Americana).

A recomendao brasileira, submdulo 2.2, dos procedimentos de rede aplicvel rede
bsica do Operador Nacional do Sistema Eltrico (ONS).
Para a rede de distribuio tem-se a regulamentao da ANEEL, estabelecida no mdulo 8,
Qualidade da Energia Eltrica, do Prodist. As definies ali apresentadas so as seguintes:
Tabela 7.3 - Classificao das VTCD
Classificao

Variao
Momentnea de
Tenso

Variao
Temporria de
Tenso

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Denominao
Interrupo Momentnea
de Tenso
Afundamento
Momentneo de Tenso
Elevao Momentnea de
Tenso
Interrupo Temporria de
Tenso
Afundamento Temporrio
de Tenso
Elevao Temporria de
Tenso

Durao do Evento

Amplitude da Tenso (valor

eficaz) em relao tenso de
referncia

Inferior ou igual a 3 s

Inferior a 0,1 pu

Superior ou igual a 1 ciclo

e inferior ou igual a 3 s
Superior ou igual a 1 ciclo
e inferior ou igual a 3 s
Superior a 3 s e inferior ou
igual a 1 minuto
Superior a 3 s e inferior a
igual a 1 minuto
Superior a 3 s e inferior ou
igual a 1 minuto

Superior ou igual a 0,1 pu e

inferior a 0,9 pu

Superior a 1,1 pu
Inferior a 0,1 pu
Superior ou igual a 0,1 pu e
inferior a 0,9 pu
Superior a 1,1 pu

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Metodologia de medio

Alm dos parmetros durao e amplitude j definidos, a severidade da VTCD, medida entre fase
e neutro, de determinado barramento do sistema de distribuio tambm caracterizada pela
frequncia de ocorrncia. Esta corresponde quantidade de vezes que cada combinao dos
parmetros durao e amplitude ocorrem em determinado perodo de tempo ao longo do qual o
barramento tenha sido monitorado.

O indicador a ser utilizado para conhecimento do desempenho de um determinado barramento do

sistema de distribuio com relao s VTCD corresponde ao nmero de eventos agrupados por
faixas de amplitude e de durao, discretizados conforme critrio estabelecido a partir de
levantamento de medies.

Num determinado ponto de monitorao, uma VTCD caracterizada a partir da agregao dos
parmetros amplitude e durao de cada evento fase-neutro. Assim sendo, eventos fase-neutro
simultneos so primeiramente agregados compondo um mesmo evento no ponto de monitorao
(agregao de fases).

Os eventos consecutivos, em um perodo de trs minutos, no mesmo ponto, so agregados

compondo um nico evento (agregao temporal).

O afundamento ou a elevao de tenso que representa o intervalo de trs minutos o de menor

ou de maior amplitude da tenso, respectivamente.

A agregao de fases deve ser feita pelo critrio de unio das fases. A durao do evento
definida como o intervalo de tempo decorrido entre o instante em que o primeiro dos eventos faseneutro transpe determinado limite e o instante em que o ltimo dos eventos fase-neutro retorna
para determinado limite.
As seguintes formas alternativas de agregao de fases podem ser utilizadas:
a) agregao por parmetros crticos - a durao do evento definida como a mxima durao
entre os trs eventos fase-neutro e o valor de magnitude que mais se distanciou da tenso de
referncia;
b) agregao pela fase crtica - a durao do evento definida como a durao do evento faseneutro de amplitude crtica, ou seja, amplitude mnima para afundamento e mxima para
elevao.

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7.1.2 IEEE Std. 1159 [3]

Na norma americana no existe um equivalente para VTCD, os afundamentos e elevaes de
tenso so denominados respectivamente de voltage sag e voltage swell. A Tabela 7.4 apresenta as
denominaes de VTCD segundo a norma americana e suas faixas de magnitude e durao.
Tabela 7.4 Classificao das VTCD segundo IEEE - Std 1159 [3].
Classificao

Variaes de
Curta Durao
(Short duration
variations)

Variaes de
Longa Durao
(Long duration
variations)

Denominao
Afundamento Instantneo
(Instantaneous sag)
Elevao Instantnea
(Instantaneous swell)
Interrupo Momentneo
(Momentary Interruption)
Afundamento Momentneo
(Momentary sag)
Elevao Momentnea
(Momentary swell)
Interrupo Temporria
(Temporary Interruption)
Afundamento Temporrio
(Temporary sag)
Elevao Temporria
(Temporary swell)
Interrupo Sustentada
(Interruption sustained)
Subtenso (Undervoltage)
Sobretenso (Overvoltage)

Durao do Evento

Amplitude do Evento

0,5 30 ciclos

0,1 0,9 pu

0,5 30 ciclos

1,1 1,8 pu

0,5 ciclo 3 segundos

< 0,1 pu

30 ciclos 3
segundos
30 ciclos 3
segundos
3 segundos 1
minuto
3 segundos 1
minuto
3 segundos 1
minuto

0,1 0,9 pu
1,1 1,4 pu
< 0,1 pu
0,1 0,9 pu
1,1 1,2 pu

> 1 minuto

0,0 pu

> 1 minuto
> 1 minuto

0,1 0,9 pu
1,1 1,2 pu

7.1.3 EN 50160 Norma Europeia (CENELEC) [4]

A norma europeia com relao a VTCDs, apresenta abordagem para afundamentos de tenso,
sendo estes denominados de voltage dips. As elevaes de tenso passaram a ser tratadas nas
verses mais recentes da norma (2010), sendo denominadas voltage swells.
A caracterizao de uma VTCD pela M&D do evento era diferente das normas americana e
brasileira, definindo o evento pela amplitude do afundamento (dip). A partir da edio de 2010 passouse a usar a mesma definio a partir do valor residual da tenso durante o evento.
VMag =

Vn Vres
( pu )
Vn

ou VMag % =

Vn Vres
100 (%)
Vn

(7.3)

A diferena entre o valor nominal e o valor residual da tenso, tambm era definida como
tenso de afundamento Voltage Dip (VDip).
V Dip = Vn Vres (V )

(7.4)

A durao do evento definida da mesma maneira que a norma americana e recomendao

brasileira. A norma prope uma classificao dos eventos a partir de uma matriz de severidade e
durao, como mostra a Tabela 7.5. O valor a ser colocado em cada clula corresponde quantidade
de eventos, avaliados de acordo com o tratamento estatstico definido na norma.
O tratamento das elevaes de tenso anlogo, seguindo a distribuio mostrada na Tabela
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7.6, com durao limitada a eventos de 1 minuto.

Tabela 7.5- Classificao das voltage dips segundo EN 50160 e IEC TR 61000-2-8 [8]

Tabela 7.6- Classificao das voltage swell segundo EN 50160

Na figura 7.3 apresentado o mesmo evento da figura 7.2. A magnitude determinada pela
equao(7.4), assim V 68,0 % ou V 0,68 pu e durao de t 92,0 ms (5,52 ciclos).
2

Comportamento da Tenso na Fase (ex: Va)

Comportamento do Valor Eficaz da Tenso (Vrms)

1.5

Vn
Vref

TENSAO (PU)

VDip

0.5

Vn
Vres

-0.5

-1

-1.5

t (Durao)

ti
-2

0.05

0.1

tf
0.15

0.2

0.25

TEMPO (s)

Figura 7.3 - Caracterizao de voltage dip pela definio da Norma Europeia.

7.2 Tolerncia de equipamentos a VTCDs

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Uma prtica indevida a aplicao da metodologia da M&D comparando os resultados com os

limites de tolerncia de equipamentos, como o caso da curva CBEMA/ITIC [5,6] e da curva SEMI
F47 [7]. A tcnica de M&D foi definida para caracterizao do evento no contexto de QEE, enquanto
os limites de tolerncias so de utilizao especfica de fabricantes de equipamentos que definem tais
limites como critrios de projeto para condies mnimas de suportabilidade dos equipamentos por
eles fabricados.
7.2.1 Limites CBEMA/ITIC
Com a expanso do uso de equipamentos de informtica e eletrnicos domsticos, que so
bastante sensveis s variaes da tenso de alimentao, tornou-se necessrio padronizar as condies
de teste para verificar a suportabilidade dos equipamentos aos distrbios provenientes da rede. Como
guia para os fabricantes de equipamentos na rea de informtica, os EUA estabeleceram a norma
ANSI/IEEE Std. 446 [5], conhecida como curva CBEMA, propondo metas a serem satisfeitas pelas
fontes e dispositivos que alimentam computadores com relao s variaes de tenso e respectivas
duraes suportveis. O objetivo uniformizar os limites de suportabilidade de variaes da tenso de
alimentao a dispositivos eletrnicos, particularmente os destinados ao processamento de dados.
Foram estabelecidas curvas magnitude x durao para variaes de tenses abaixo e acima da nominal
como mostra a figura abaixo. Como de se esperar, eventos de menor durao podem ter maiores
excurses. Essa norma trata os eventos isoladamente, e por isso no avalia o efeito das flutuaes de
tenso com relao ao efeito flicker.
Como mostra a figura 7.4.a, a norma prescreve que os equipamentos de informtica devem
suportar interrupes completas da tenso da rede durante intervalos de at meio ciclo. Para isso os
fabricantes das fontes devem prever suficiente capacidade de armazenamento de energia em
capacitores e/ou baterias para suprir a carga eletrnica durante a falta da rede. De at 30 ciclos
(meio segundo) as cargas devem suportar subtenses que variam inversamente com a durao e, no
caso de subtenses sustentadas, as cargas devem suportar at 13% de reduo da tenso nominal.
Para o caso de sobretenses, est previsto que as cargas devem suportar em regime aumentos
de 6% do valor nominal e no caso de surtos muito rpidos (durao < 0.01 ciclo), at quase 300% de
sobretenso. Para eventos com durao de 1 ciclo, os valores suportveis so 70% para subtenso e
15% para sobretenso.
Em geral as sobretenses tm a ver com a ruptura do dieltrico ou o breakdown de
semicondutores, enquanto que as subtenses se relacionam com a deficincia de energia armazenada.
Aps algumas modificaes, foi apresentada em 1997 uma nova verso para os limites de
tolerncia conhecida como CBEMA/ITIC ou simplesmente ITIC [6] (Information Tecnology Industry
Council) e mostrada na figura 7.4.b, sendo aprovada no ano de 2000, para ser aplicada a equipamentos
eletrnicos e computadores relacionados tecnologia da informao (TI).

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Figura 7.4.a.Curva CBEMA: Limites de durao de sub e sobretenses.

Figura 7.4.b. Curva ITIC para durao de sub e sobretenses. Envelope de tolerncia de tenso tpico
para sistema computacional (adaptado da norma IEEE 466).
Essa curva passou a ser uma referncia para verificao do nvel de vulnerabilidade de
equipamentos comparando-se a curva de sensibilidade do equipamento com a curva das variaes
permitidas ou observadas durante um determinado intervalo de tempo (por ex. 1 ano).
Nota-se na figura 7.4.b que, em regime, a tenso deve estar limitada a uma sobretenso de 10%
e uma subtenso de 10%. Quanto menor a durao da perturbao, maior a alterao admitida, uma
vez que os elementos armazenadores de energia internos ao equipamento devem ser capazes de
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absorve-la. Assim, por exemplo, a tenso pode ir a zero por um ciclo, ou ainda haver um surto de
tenso com 2 vezes o valor nominal (eficaz), desde que com durao inferior a 1ms.
Outra definio em termos da tenso suprida a Distoro Harmnica Total que tem um limite
de 5%. Alm disso, para alimentao trifsica, tolera-se um desbalanceamento entre as fases de 3 a
6%. No que se refere frequncia, tem-se um desvio mximo admissvel de +0,5 Hz (em torno de 60
Hz), com uma mxima taxa de variao de 1 Hz/s.
7.2.2 Limites SEMI
O limite de tolerncia da SEMI F47 [7], desenvolvido e apresentado pelo Semiconductor
Equipment and Materials Institute SEMI abrange apenas os distrbios de afundamento de tenso,
no contemplando as elevaes de tenso. Esta norma aplicada a equipamentos e processos ligados a
fabricantes de semicondutores para verificar a imunidade contra afundamentos de tenso. Um ponto
peculiar nesta norma que os processos dos fabricantes devem atender os limites estabelecidos pela
SEMI F47 sem a utilizao de suprimento auxiliar de energia, como por exemplo, UPS
(Uninterruptable Power Supply ou No-Breaks).

% DA TENSAO NOMINAL (EFICAZ OU EQUIV. DE PICO)

120

100

Regio de Operao Normal

80

Limite para Afundamentos de Tenso

60

40

Regio de Desligamento

20

0 -1
10

10

10
10
DURAAO EM CICLOS DE 60Hz

10

10

Figura 7.5 Limites de Tolerncia SEMI F47 [7].

7.3 Comportamento de cargas eletrnicas frente a VTCDs

Os efeitos de uma VTCD sobre uma carga dependem fortemente do tipo de evento e do tipo de
carga.
Cargas cuja operao depende do valor eficaz da tenso so bem caracterizadas pelos valores
M&D. J as cargas eletrnicas que possuem no estgio de entrada um retificador a diodos com filtro
capacitivo (o que engloba a maior parte das cargas eletrnicas de baixa e mdia potncia), o
comportamento muito distinto.
A figura 7.6 mostra o circuito e o decorrente comportamento da tenso de sada de um
retificador monofsico com filtro capacitivo. Note-se que a tenso CC a que interessa para o circuito
alimentado por este retificador. A figura indica um hipottico ponto de desligamento (PD) no qual o
equipamento deixaria de operar. Observe-se tambm que a resposta a uma elevao de tenso
imediata, pois o circuito sensvel ao valor de pico da tenso de entrada e no ao seu valor eficaz.

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tr
iT
e (t)

iC
C +
vret (t)

iR
R
vc (t)

vR(t)

TENSAO CA (V)
200
100

(a)

0
-100
-200
0

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

0.3

0.35

TEMPO (s)

TENSAO CC (V)
250
200

Vlim
150
PD

100

(b)

PD

Vmn

50
0

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

0.3

0.35

TEMPO (s)

Figura 7.6 Circuito de retificador monofsico com filtro capacitivo e formas de onda de entrada e sada
na ocorrncia de distrbios na tenso CA.
A figura 7.7 mostra possveis distrbios em uma alimentao trifsica, supondo um retificador
com filtro capacitivo. Note-se que no caso de afundamento de tenso em uma das fases no h efeito
muito pronunciado na sada CC, alm de um aumento na ondulao da tenso, pois o retificador passa
a operar como um retificador bifsico. Quando ocorre a interrupo, a queda da tenso depender da
potncia consumida pela carga. No restabelecimento da tenso o retorno muito rpido, assim como a
sobretenso que se observa quando ocorre uma elevao de tenso em uma das fases.
A figura 7.8 mostra duas formas de onda de tenso, ambas contm a 5 harmnica, porm uma
com fase invertida da outra. Em (a) a fase de 0 e em (b) a fase de 180. Os valores eficazes das
duas formas de onda so iguais, ou seja, qualquer afundamento de tenso que fosse igual tanto em (a)
quanto em (b) teriam o mesmo valor de magnitude, porque a evoluo do valor eficaz se d da mesma
maneira.
Porm, supondo-se que tais tenses (a) e (b) sejam aplicadas a uma carga eletrnica com um
retificador com filtro capacitivo, possvel notar que a dinmica de vC(t) do grfico (a) diferente de
vC(t) do grfico (b). Assim uma VTCD afetaria de modo diferente o equipamento eletrnico somente
pelo motivo de as componentes harmnicas terem diferena de fase.

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TENSAO (V)
300
Elevao FC

200 (A)(B)(C)
100

(a

0
-100
-200

Interrupo FA, FB e

Afundamento

-300
0

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

TEMPO (s)
400
vc(t)
300
200
o

PD

100

0.05

0.1

Vmn

PD

0.15

0.2

0.25

Figura 7.7 Formas de onda CA e CC em retificador trifsico com filtro capacitivo frente a distrbios
na alimentao.
1.5

1.5
vc(t) COM HARMONICA
vc(t) SEM HARMONICA
EVOLUAO DO VALOR EFICAZ (Vef)

0.72

0.72

0.5
0.36

0.5
0.36

TENSAO (PU)

TENSAO (PU)

vc(t) COM HARMONICA

vc(t) SEM HARMONICA
EVOLUO DO VALOR EFICAZ (Vef)

-0.5

-0.5

-1

-1.5
0.05

-1

COM HARMONICA
SEM HARMONICA
0.06

0.07

0.08

tafund

0.09
TEMPO (S)

0.1

0.11

0.12

COM HARMONICA
SEM HARMONICA
-1.5
0.05

0.13

0.06

0.07

0.08

tafund

(a) Harmnico fase 0

0.09
TEMPO (S)

0.1

0.11

0.12

0.13

(b) Harmnico fase 180

Figura 7.8 Cargas que No Respondem ao Valor Eficaz e Influncia de Harmnicos.

Nos grficos da figura 7.8 pode-se perceber dois efeitos que no so caracterizados pelo valor
eficaz da tenso: o primeiro que o equipamento responde pelo valor vc(t) e o segundo que a
composio harmnica e suas fases podem afetar o equipamento de modo distinto. Este ltimo tornase relevante principalmente porque muitos afundamentos de tenso perdem a caracterstica senoidal da
tenso.
A figura 7.9 mostra a inadequao da medio por M&D para bem caracterizar os distrbios.
Ambos eventos possuem os mesmos valores definidos para magnitude e durao, como se v na figura
7.10. No entanto, a depender da carga alimentada, o impacto da perturbao pode ser muito distinto,
uma vez que a medio do valor eficaz pode no representar adequadamente o resultado do fenmeno
sobre a carga, especialmente se for uma carga eletrnica.
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EVENTO 01 - AFUNDAMENTO RETANGULAR

200

EVENTO 02 AFUNDAMENTO COM PERFIL IRREGULAR

200

Vnominal=127V

Vnominal=127V

150

150

Vreferncia=90% Vnominal

Vref.=90% de Vnominal
100

100

Vresidual=50,8V

50
TENSAO (V)

TENSAO (V)

50
0

-50

-50

-100

-100

-200

Vresidual=50,8V

-150

-150

-200
0.02

0.02

0.04

0.06

0.08

tafund

0.1
0.12 0.14
TEMPO (s)

0.16

0.18

0.2

0.04

0.22

0.06

0.08

0.1

tafund

0.12
TEMPO (S)

0.14

0.16

0.18

0.2

0.22

(a)
(b)
Figura 7.9 Eventos de Afundamento de Tenso com mesma Magnitude e Durao
% da TENSAO NOMINAL (RMS ou PICO EQUIV.)

200
180
160
140

LIMITE DE SOBRETENSES

120

110

100
90

80
60

LIMITE DE SUBTENSES

40
EVENTOS 01 E 02
"MAGNITUDE E DURAO"

20
0 -3
10

10

-2

-1

10
10
DURACAO (S)

10

10

Figura 7.10 Eventos 01 e 02 Distintos com mesma Representao de M&D.

7.4 Dinmica Lenta do Clculo do Valor Eficaz Janela de 1 Ciclo
O clculo do valor eficaz da tenso uma mdia quadrtica com perodo T. Em aplicaes de
instrumentao, utilizando-se tcnicas de processamento digital de sinais, o valor eficaz da tenso
pode ser definido conforme equao (7.5) [1,3,12,17].

Vef [k ] =
N
v[k]

1 N 1 2
v [ k n]
N n =0

(7.5)

nmero de amostras da janela mvel

k-sima amostra da tenso

A utilizao da equao(7.5) baseia-se em uma janela mvel de N amostras no perodo de

integrao, equao (7.6) calculados de modo contnuo, atualizando-se a janela mvel amostra a
amostra.

T = N ta
ta

taxa de amostragem

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(7.6)

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S.M.Deckmann e J. A. Pomilio

A atualizao contnua das amostras no clculo do valor eficaz mostra que existe um perodo
de convergncia de N amostras que normalmente o prprio perodo da fundamental da rede eltrica.
Esse perodo de convergncia insere um erro na avaliao da durao de um evento, como mostrado na
figure 7.11. Na interrupo com durao de 1 ciclo, possvel perceber que o valor eficaz da tenso
levou 1 ciclo para atingir o valor da interrupo e aps o restabelecimento da tenso de entrada o valor
eficaz levou mais 1 ciclo para voltar ao valor da condio normal de operao.
250
Valor Eficaz da Tenso (Vef)
200

2 CICLOS

150

TENSAO (V)

100
50
0
-50
-100
-150
-200
-250
0.3

1 CICLO

0.31

0.32

0.33

0.34

0.35
0.36
TEMPO (s)

0.37

0.38

0.39

0.4

Figura 7.11 Resposta do Valor Eficaz para Janela Mvel de 1 Ciclo.

Assim, para qualquer distrbio de VTCD, a durao apresentada pelo valor eficaz da tenso
acrescentar um ciclo na durao do evento. Esse erro mais crtico em evento de curta durao pois o
erro de um ciclo torna-se significativo, como no caso da figura 7.11. Esse erro pode ser observado na
norma brasileira, j que considera o menor distrbio de VTCD quando seu valor for maior ou igual a
1ciclo.
Considerando a norma europia e americana, nas quais o menor evento classificado como
VTCD tem durao maior ou igual a ciclo e supondo a utilizao de uma janela mvel de um ciclo,
tem-se um novo problema na avaliao do distrbio, alm do descrito anteriormente, na durao do
evento.
Devido ao tempo de convergncia, eventos menores que um ciclo no so avaliados
corretamente quanto sua magnitude, justamente porque a janela mvel, sendo uma mdia quadrtica
de um ciclo, nunca ser preenchida por completo, no conseguindo atingir o valor correto de
magnitude, como no caso da figura 7.12 para uma interrupo de ciclo.
Poderia ser sugerida a utilizao da janela mvel de ciclo, diminuindo o erro na avaliao da
durao e o valor da magnitude atingiria o valor correto, mas isso tambm pode no ser adequado, e
o que ser discutido a seguir.
7.4.1 Assimetria de Onda - Clculo do Valor Eficaz Janela de Ciclo
Utilizando-se uma janela de meio ciclo, o problema de convergncia ainda existe, porm o erro
na avaliao de uma VTCD se reduz a ciclo. O erro ainda seria significativo para VTCD de curta
durao inferior a ciclo.
A utilizao da janela mvel de ciclo ainda apresenta outro problema que est relacionado
assimetria de meia onda, ou seja, o semi-ciclo positivo ser diferente do semi-ciclo negativo. Na figura
7.14 mostrada a tenso de entrada com 2 harmnica em que seu valor 20% da fundamental.
Devido assimetria de meia onda causada pela 2 harmnica, o valor eficaz da tenso torna-se
oscilante o que no ocorreria se a janela mvel aplicada fosse de um ciclo do perodo da fundamental.

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S.M.Deckmann e J. A. Pomilio

250
Valor Eficaz da Tenso (Vef)

Tenso Residual No Vai a Zero

200
150

TENSAO (V)

100
50
0
-50
-100
-150
-200

Interrupo de 1/2 Ciclo

-250
0.3

0.31

0.32

0.33

0.34

0.35
0.36
TEMPO (s)

0.37

0.38

0.39

0.4

Figura 7.12 Janela Mvel de 1 Ciclo e Interrupo de Ciclo.

250
Valor Eficaz da Tenso (Vef)

1 1/2 CICLOS

200
150

TENSAO (V)

100
50
0
-50
-100
-150
1 CICLO

-200
-250
0.3

0.31

0.32

0.33

0.34

0.35
0.36
TEMPO (s)

0.37

0.38

0.39

0.4

Figura 7.13 Resposta do Valor Eficaz para Janela Mvel de 0,5 Ciclo.
250
Valor Eficaz da Tenso (Vef)
200
150

TENSAO (V)

100
50
0
-50
-100
-150
-200
Fundamental + 2 Harmnico
-250
0.3

0.31

0.32

0.33

0.34

0.35
0.36
TEMPO (s)

0.37

0.38

0.39

0.4

Figura 7.14 Janela de Ciclo e Assimetria de Meia Onda (Fundamental + 2 harmnica).

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
[1]

Operador Nacional do Sistema Eltrico - ONS, Padres de Desempenho da Rede Bsica

Submdulo 2.2, Procedimentos de Rede, reviso 2, 2002, Brasil.

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Avaliao da Qualidade da Energia Eltrica

S.M.Deckmann e J. A. Pomilio

[2]

ANEEL (2016), Procedimentos de Distribuio de Energia Eltrica no Sistema Eltrico

Nacional PRODIST. Mdulo 8 Qualidade da Energia Eltrica

[3]

IEEE Standard 1159; IEEE Recommended Practice for Monitoring Electric Power Quality,
Institute of Electrical and Electronics Engineers, junho, 1995 e IEEE Task Force p1159
Monitoring Electric Power Quality, Institute of Electrical and Electronics Engineers,
fevereiro, 2002.

[4]

CENELEC EN 50160; Voltage Characteristics of Electricity Supplied by Public Distribution

Systems, European Committee for Electro technical Standardization, 2010 + A1 2015.

[5]

IEEE Standard 446; IEEE Recommended Practice For Emergency And Standby Power
Systems For Industrial And Commercial Applications, Institute of Electrical and Electronics
Engineers, dezembro, 1995.

[6]

ITIC (CBEMA) curve Application Note; Technical Committee 3 (TC3) of the Information
Technology Industry Council; Disponvel em: http://www.itic.org/technical/iticurv.pdf.

[7]

SEMI F47; Specification for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity,
SEMI Semiconductor Equipment and Material Institute.

[8]

IEC Technical Report 61000-2-8: Environment Voltage dips and short interruptions on
public electric power supply systems with statistical measurement results, 2003

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