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Fsica Geral IV
Denilson C. Resende
Interferncia
Princpio de Huygens
A Lei da Refrao
Difrao
O Experimento de Young
Intensidade das Franjas de Interferncia
Interferncia em Filmes Finos
O Interfermetro de Michelson
Princpio de Huygens
Christiaan Huygens (1629-1695), fsico holands, apresentou a
primeira teoria ondulatria da luz em 1678.
http://www.colorado.edu/physics/2000/index.pl
i r
i = r
Refrao e Lei de Snell
Verificamos a Lei de Snell:
c t
ni
vi
Frequncia e Comprimento de Onda
na Refrao
Temos:
n i sin t 4 t AD
= =
n t sin i 4 i AD
ni i
logo: t= i
nt
t
se ni = 1 (vcuo):
t=
nt
Quanto a freqncia ( f ) :
f t vt / t vt i c / nt / ni ni nt
= = = = =1
f i vi / i vi t c / ni / nt nt ni
L L n12
N12 = =
n
logo 1 2
N 2 N1 = n2 n1
L nar nar
f = parte decimal de N 2 N1
Difrao
A difrao ocorre quando a abertura da ordem do comprimento de
onda da onda incidente.
<< a <a a
Usando o Princpio de Huygens:
Thomas Young (1773-1829)
Young lia em Ingls aos 2 anos, Latim aos 6 e da
aprendeu outras lnguas dominando 10 idiomas com
apenas 16 anos.
Fsico e mdico ingls, estudou a sensibilidade das
cores ao olho humano. Props a existncia de trs
cones diferentes que tm sensibilidade para as
cores vermelho azul e verde: o princpio usado na
TV colorida.
Em 1800, no trabalho Outlines of Experiments and
Enquires Respecting Sound and Light , comparou
os modelos de Newton e Huygens dando suporte
interpretao ondulatria .
Deu contribuies importantes na teoria da
elasticidade (mdulo de Young), e na egiptologia.
O Experimento de Young (1801)
Interferncia:
S1 e S2 so
Fontes Coerentes
e em fase.
Viso tridimensional:
http://vsg.quasihome.com/interf.htm
Temos a formao de franjas devido a diferena de
percursos (pticos):
R a meia distancia
Ondas em Fase: Interferncia Construtiva entre P e Q.
Localizao das Franjas:
L >> d
=r2 r1 d sen
d sen=m
d tan m
ym
d m
L
L
ym m
d
1 L
Analogamente, para os ym m +
mnimos mais centrais: 2 d
Posies no anteparo
L L
ym m ym+1 m +1
d d
L
y=ym+1 y m
d
Se d e so pequenos, a distncia
entre as franjas independe de m
Intensidade das Franjas de Interferncia
A interferncia entre S1 e S2, de intensidades I0 na tela, leva
a energia luminosa a ser redistribuda no anteparo segundo a
equao:
1
I = 4I 0cos
2
2
onde
2 d
= sen
Os mximos de intensidade ocorrem em: ( m = 0, 1, 2,..)
1 d
=m sen =m d sen =m
2
Os mnimos em:
1 1
= m + d sen = m +12
2 2
2
=k L= L
Demonstrao da Eq. para a Intensidade das Franjas:
Interferncia
Geral
r1
r2
No caso do experimento de
Young temos:
E 01 =E 02
Assim, os campos eltricos
s diferem na fase.
Prova: Frmula da Intensidade
O campo eltrico gerado por duas fontes coerentes:
Er ,t = E1 r ,t + E2 r ,t
onde E1 r ,t e E2 r ,t so devidos s fontes 1 e 2.
supondo:
E1 r ,t = E01cos k r t
E02
e
E2 r ,t = E02cos k r t E01 //
Podemos escrever para o ponto P no anteparo:
E P, t = E cos k r1 t + E cos k r2 t +
2 2 2 2 2
01 02
+ 2 E01 E02cos k r1 t cos k r2 t
Usando a relao:
a+b a b
cos a+ cos b= 2cos cos ; e E01 E02 E01 E02
2 2
b = k r1 r2
a = k r1 + r2 2t ;
+ E01.E02 [ cos(k (r1 + r2 ) 2t) + cos(k (r1 r2 ))]
Tomando a mdia temporal, temos:
k r1 r2
E 2 P = E 2 2 + E 2 2 + E0 1E0 2cos
01 02
2
c 0 E
Multiplicando por: c 0 I=
2
k r1 r2
I P = I 1 P + I 2 P + 2 I1 P I 2 P cos
2
1+ cos( / 2 + / 2 ) = 1+ cos 2 ( / 2 ) sen 2 ( / 2 ) = 2cos 2 ( / 2 )
1 2 d
I = 4I 0cos 2
= sen
2
Mas a histria no est completa:
a
a
a > !
Exemplos
Interferncia em Filmes Finos
A luz incidente em um filme fino apresenta efeitos de
interferncia associados diferena de caminho ptico
dentro do filme.
Considere: 0 e n2 >n1
Fatos:
i) Incidncia de 1 para 2, onde
n2 >n1 , o raio refletido tem n1
defasagem de 1800 e o
n2 L
refratado est em fase com
o incidente;
ii) Incidncia de 1 para 2, onde
n2 <n1 , o raio refletido no
tem defasagem.
Para n2 >n1 ou n1 >n 2 :
Interferncia construtiva: 1
2L = m + 2
2
2 n 2 = 1 n1 =
n2 1 1
2L = m + 1 ou: 2Ln 2 = m + ; m=0, 1, 2,....
n1 2 2
Interferncia destrutiva: 2L =m 2
n2
2L =m 1 ou: 2Ln 2 =m ; m=0, 1, 2,....
n1
Espessura do filme muito menor que :