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INGEMMET
Derechos Reservados. Prohibida su reproduccin
Presidente del Consejo Directivo: Walter Casquino
Secretario General: Juan Carlos Lam
Comit Editor: Walter Casquino, Humberto Chirif, Lionel Fdel,
Vctor Carlotto, Yorri Carrasco
Direccin encargada del estudio: Direccin de Recursos
Minerales y Energticos
Unidad encargada de edicin: Unidad de Relaciones
Institucionales.
Correcin Geocientfica: Csar Cnepa
Correccin gramatical y de estilo: Juan Enrique Quiroz
Diagramacin: Sonia Bermdez
Portada: Cristal de anfbol en corte basal
Referencia bibliogrfica
Chirif H. (2010) - Microscopa ptica de minerales.
INGEMMET, Boletn, Serie J: Tpicos de Geologa, 1, 118p.
Contenido
RESUMEN ................................................................................................................................................................................ 1
CAPTULO I
NATURALEZA DE LA LUZ ........................................................................................................................................................ 3
CAPTULO II
CRISTALOGRAFA Y CARACTERSTICAS PTICAS DE LOS MINERALES ........................................................................ 21
CAPTULO III
ESTUDIO CON ILUMINACIN ORTOSCPICA TRANSMITIDA ........................................................................................... 31
CAPTULO IV
ESTUDIO CON ILUMINACIN CONOSCPICA ................................................................................................................... 49
CAPTULO V
PROPUESTAS DE INTERVENCIN ...................................................................................................................................... 59
CAPTULO VI
SISTEMTICA PARA LA DETERMINACIN DE MINERALES ............................................................................................... 73
BIBLIOGRAFA ........................................................................................................................................................................ 85
ANEXO 1: PROPIEDADES DE LOS MINERALES TRANSPARENTES .................................................................................. 87
ANEXO 2: PROPIEDADES DE LOS MINERALES OPACOS ................................................................................................ 103
ANEXO 3: EL MICROSCOPIO DE POLARIZACIN Y SUS PARTES ................................................................................... 115
Figuras
Figura 1.1.
Figura 1.2.
Figura 1.3.
Figura 1.4.
Figura 1.5.
Figura 1.6.
Figura 1.7.
Figura 1.8.
Interferencia de ondas
Figura 1.9.
Refraccin y reflexin
Figura 1.10.
Dispersin de la luz
Figura 1.11.
Ley de Snell
Figura 1.12.
ngulo crtico
Figura 1.13.
El microscopio compuesto
Figura 1.14.
El microscopio de polarizacin
Figura 1.15.
Figura 1.16.
Figura 1.17.
Figura 1.18.
Figura 1.19.
Figura 1.20.
Figura 2.1.
Figura 2.2.
Figura 2.3.
Figura 2.4.
Figura 2.5.
Figura 2.6.
IV
Figura 2.7.
Figura 2.8.
Figura 2.9.
Figura 2.10.
Figura 3.1.
Figura 3.2.
Figura 3.3.
Figura 3.4.
Refractmetro de Pulfrich
Figura 3.5.
Figura 3.6.
Figura 3.7.
Figura 3.8.
Figura 3.9.
Tipos de extincin
Figura 3.10.
Figura 3.11.
Figura 3.12.
Figura 3.13.
Figura 3.14.
Figura 3.15.
Compensadores
Figura 3.16.
Figura 3.17.
Tipos de elongacin
Figura 3.18.
Figura 3.19.
Figura 3.20.
Zonamiento de plagioclasas
Figura 3.21.
Figura 4.1.
Secuencia de las partes del microscopio de polarizacin para la observacin con luz transmitida con iluminacin
conoscpica
Figura 4.2.
Figura 4.3.
Figura 4.4.
Figura 4.5.
Figura 4.6.
Figura 4.7.
Figura 4.8.
Figura 4.9.
Figura 4.10.
Figura 4.11.
Platina Universal
Figura 5.1.
Figura 5.2.
Curvas de dispersin de longitud de onda del rayo incidente vs. reflectancia de diversos minerales
Figura 5.3.
Figura 5.4.
Dureza relativa
Figura 5.5.
Microdureza Vickers
Figura 5.6.
Figura 5.7.
Registro de intercrecimientos
Figura 6.1.
Figura 6.2.
Tablas
Tabla 1.1.
Tabla 2.1.
Tabla 2.2.
Tabla 2.3.
Tabla 5.1.
Tabla 5.2.
Tabla 5.3.
Tabla 5.4.
Tabla 5.5.
Tabla 6.1.
Tabla 6.2.
Tabla 6.3.
Tabla 6.4.
Tabla 6.5.
RESUMEN
La microscopa ptica de minerales es una importante herramienta
para investigaciones geolgicas de diversa ndole. Con su ayuda
se pueden determinar minerales, describir texturas, identificar tipos
de rocas, alteraciones y asociaciones de minerales de mena, entre
otras aplicaciones. En el presente trabajo se explican los
fundamentos de la ptica necesarios para comprender el
funcionamiento del microscopio de polarizacin y se explican las
caractersticas cristalogrficas y pticas de los minerales, tanto
transparentes como opacos, que pueden ser estudiadas bajo el
microscopio.
El presente trabajo est dividido en seis captulos en los se explica
de manera sistemtica las caractersticas de la luz y las propiedades
de los minerales determinantes para su identificacin. En ellos, las
explicaciones en texto estn profusamente complementadas con
ilustraciones, las cuales permiten un acceso simplificado al
normalmente difcil terreno de la ptica de polarizacin y su
interaccin con la materia cristalina; adicionalmente hay tres anexos
con abundante material fotogrfico.
El captulo 1 est enfocado principalmente a explicar la naturaleza
de la luz, para ello se empieza con una breve resea de la evolucin
AGRADECIMIENTOS
Este trabajo no hubiera podido ser concluido sin la participacin
del estudiante Richard Osorio y de la Ing. Teresa Velarde, quienes
se encargaron de la seleccin de secciones delgadas y la toma de
CAPTULO I
NATURALEZA DE LA LUZ
BREVE HISTORIA DE LAS TEORAS SOBRE LA
LUZ
Hasta mediados del siglo XVII fue creencia general que la luz
consista en una corriente de corpsculos emitidos por focos
luminosos, como el sol o las llamas, y que aquella se propagaba
en lnea recta. La luz poda penetrar las sustancias transparentes
y se reflejaba en las superficies de los cuerpos opacos. Cuando
los corpsculos penetraban en el ojo, excitaban el sentido de la
vista.
A mediados del siglo XVII haba comenzado a progresar la idea de
que la propagacin de la luz se daba con movimiento ondulatorio.
Christian Huygens demostr, en 1670, que las leyes de la reflexin
y la refraccin podan explicarse basndose en la teora ondulatoria
y que sta proporcionaba una interpretacin sencilla a la doble
refraccin, recientemente descubierta. La teora ondulatoria, sin
embargo, no fue aceptada en ese momento.
Recin en 1827, los experimentos sobre la interferencia, de
Thomas Young y Agustn Fresnel, y las medidas de la velocidad
de la luz en los lquidos, realizadas por Leon Foucault, en fecha
algo posterior, demostraron la existencia de fenmenos pticos
para cuya explicacin resultaba inadecuada la teora corpuscular.
El siguiente gran avance en la teora de la luz fue el trabajo del
fsico escocs James Clerk Maxwell, quien en 1873 demostr que
un circuito elctrico oscilante deba irradiar ondas electromagnticas.
La velocidad de propagacin de las ondas, calculada a partir de
medidas puramente elctricas y magnticas, result ser
aproximadamente 3x108 m/seg. Dentro de los lmites de los errores
experimentales, mostraba un resultado igual a la velocidad de
propagacin de la luz determinada experimentalmente.
Pareca evidente que la luz consista en ondas electromagnticas
de longitud de onda extremadamente corta. Quince aos ms
tarde del descubrimiento de Maxwell, Heinrich Hertz, utilizando un
circuito oscilante de pequeas dimensiones, logr producir ondas
de corta longitud de indudable origen electromagntico y demostr
que posean las propiedades de las ondas luminosas, ya que
podan ser reflejadas, refractadas, concentradas por un lente,
polarizadas, etc., lo mismo que las ondas luminosas. A finales del
Humberto Chirif
EL ESPECTRO ELECTROMAGNTICO
La radiacin electromagntica presenta un componente vectorial
magntico y otro elctrico; ambos son perpendiculares a la direccin
de propagacin y tambin perpendiculares entre s (ver figura
1.1).
El efecto del vector elctrico sobre la materia es el que determina
principalmente el comportamiento y propiedades de la luz, por ello,
para efectos de mineraloga ptica, no tomaremos en cuenta al
vector magntico.
Las radiaciones electromagnticas presentan diferentes longitudes
de onda; slo las comprendidas entre 3900 y 7700 pueden ser
captadas por el ojo humano (luz visible). Segn sus longitudes de
onda, las radiaciones presentan diferentes caractersticas, as por
ejemplo, las de menor longitud tienen mayor energa y mayor
poder de penetracin. Los rangos de variacin definen los tipos
de emisiones (ver figura 1.2), los cuales son empleados por el
hombre para diferentes fines.
El componente elctrico consta de un fotn que se desplaza
vibrando perpendicularmente a la direccin de propagacin. Su
movimiento vibratorio define una onda cuya longitud () determina
el tipo de radiacin, mientras que la frecuencia y la amplitud
determinan el color y la intensidad, respectivamente. Su velocidad
(V) depende del medio; de esta manera, la velocidad de la luz en
el vaco (c) es igual a 2,9979x108 m/seg.
La frecuencia (f) es el nmero de longitudes de onda que pasan
por un punto en un segundo (f = V/). La frecuencia no depende
del medio. Si un rayo de luz, emitido con una determinada longitud
de onda, cambia de medio, su velocidad y su longitud de onda
variarn, pero su frecuencia permanecer constante (ver figura
1.3).
Componente
elctrico
Direccin de
propagacin
Figura 1.1
10 -5
390
39000
RAYOS GAMMA
VIOLETA
INDIGO
AZUL
RAYOS X
ULTRAVIOLETA
VERDE
LUZ VISIBLE
10 5
4450
4450
4640
4640
5000
5000
AMARILLO
ANAR ANJADO
INFRAROJO
5780
5780
5920
5920
6200
6200
ROJO
ONDAS CORTAS
DE RADIO
10 1 0
77000
770
BANDA DE RADIODIFUSIN
10 1 5
-10
(1= 10
(1
= 10m)-10 m)
Figura 1.2
Direccin de vibracin
A
Direccin de
propagacin
V 1 1
Velocidad
(depende del medio)
V2 2
F= V
Figura 1.3
Humberto Chirif
Figura 1.5
Frente de onda
Frente de onda y normal al frente de onda.En medios istropos la normal coincide con la trayectoria;
mientras que en medios anistropos la normal de onda y la trayectoria forman un ngulo.
POLARIZACIN
La luz natural es aquella en que la radiacin vibra en todos los
planos perpendiculares a la trayectoria. La luz cuyas vibraciones
estn restringidas a determinadas direcciones en el espacio se
denomina luz polarizada. Existen tres tipos de polarizacin: lineal,
circular y elptica. En la luz linealmente polarizada el fotn se
desplaza vibrando perpendicularmente a la trayectoria y
describiendo una onda contenida en un plano. En el caso de la luz
elpticamente polarizada el fotn avanza describiendo una hlice
en torno a la trayectoria (ver figura 1.6). La polarizacin circular es
un caso especial de la elptica.
Figura 1.6
Figura 1.7
REFRACCIN Y REFLEXIN
Refraccin es el fenmeno por el cual un rayo de luz cambia su
direccin de propagacin al pasar oblicuamente de un medio a
otro. Reflexin es el fenmeno por el cual un rayo de luz cambia su
direccin de propagacin al incidir sobre una superficie de
separacin de dos medios sin poder atravesarla.
Los rayos incidente, reflejado y refractado discurren en el mismo
plano. Los ngulos de incidencia (i), de reflexin (R) y de refraccin
(r) se definen como los ngulos entre la normal a la interfase y los
rayos incidente, reflejado y refractado respectivamente (ver figura
1.9). El ngulo de reflexin (R) ser siempre igual al de incidencia
(i), el ngulo de refraccin es funcin de la diferencia de ndices de
refraccin entre los dos medios.
Humberto Chirif
1/2
Figura 1.8
Representacin de dos ondas que interfieren (dibujadas con color negro y azul) y la resultante (rojo). En la parte superior se
representa una interferencia constructiva. En la parte central una interferencia totalmente destructiva generada por dos ondas
de la misma longitud desfasadas en media longitud de onda. En la parte inferior se representa la interferencia de dos ondas
desfasadas una distancia diferente a n/2 longitudes de onda (n entero).
N
Ri
RR
i
r
Rr
Figura 1.9
Rayo incidente (Ri), reflejado (Rl) y refractado (Rr) y sus respectivos ngulos con la normal: ngulo de incidencia
(i), de reflexin (l) y de refraccin (r).
DISPERSIN
Dispersin es el fenmeno por el cual un haz de luz blanca se
separa en sus colores componentes al atravesar un medio de
mayor ndice de refraccin (ver figura 1.10).
El grado de separacin angular entre dos rayos luminosos de dos
longitudes de onda diferentes depende de las diferencias entre los
dos ndices de refraccin para esas longitudes de onda.
La diferencia entre los ndices en una sustancia para los rayos con
= 4861 (azul, lnea F de Fraunhofer) y = 6563 (rojo, lnea
C de Fraunhofer) se conoce como coeficiente de dispersin. Este
coeficiente tiene un valor caracterstico para cada material.
V11
V22
V33
Coeficiente de
Coeficiente
deDispersin
Dispersin = nF - nc
Figura 1.10
Dispersin de un rayo luminoso al atravesar un medio de ndice de refraccin mayor a uno. El coeficiente de
dispersin (separacin angular entre los rayos rojo y violeta refractados) depende del valor del ndice de refraccin
del material del prisma.
10
Humberto Chirif
R =
(n + no)2
ni Sen i = nr Sen r
Ri
(n - no)2
i
ni
nr
Rr
Figura 1.11
ni nr == ndices
ndices
de refraccin
de refraccin
i r ==ngulos
de incidencia
Angulos de incidencia
y de refraccin
y de refraccin
Normal a a
la la
interfase
N = Normal
interfase
11
1
r1
r2
Nr = 1,0
Ni = 2,0
i4
i2
i3
2
r3
i1
l4 = i4
3
2
Figura 1.12
25
5741`24``
26
6115`00``
27
6513`12``
28
6952`12``
29
7550`24``
30
90
31
Reflex.Total
32
Reflex.Total
33
Reflex.Total
0334`
0358`
0439`
0558`
1410`
ngulo crtico. Los rayos incidentes de luz linealmente polarizada discurren en un medio de mayor ndice de
refraccin. Los rayos 1 y 2 inciden con ngulos inferiores al ngulo crtico y en consecuencia cruzan la interfase y
se refractan. El rayo 3 incide con ngulo crtico, pues se refracta con un ngulo de 90. El rayo 4 incide con ngulo
superior al ngulo crtico y por ende sufre reflexin total. A modo de ejemplo notamos en la tabla, que conforme se
incrementa el ngulo de incidencia en un grado acercndose al valor del ngulo crtico, el ngulo de refraccin
aumenta cada vez ms.
R =
(n - no)2 + k2
(n + no)2 + k2
EL MICROSCOPIO DE POLARIZACIN
R =
(n 1 - n o )2 + k 12
(n1 + n o) 2 + k 12
(n 2 - n o )2 + k22
(n 2 + n o )2 + k 22
Cos21 +
Cos 22
12
Humberto Chirif
Figura 1.13
Base
Los microscopios de polarizacin de luz transmitida tienen la fuente
luminosa en la base, donde adems se ubican el vidrio mate, un
espejo o prisma para desviar los rayos hacia arriba verticalmente,
el diafragma de campo luminoso y el filtro azul. La fuente luminosa
emite luz blanca y su intensidad puede ser regulada. El vidrio mate
permite que pase la luz sin dejar pasar la imagen del filamento de
la lmpara; la luz sale de toda la superficie del vidrio en forma
homognea, como luz natural, es decir que sus rayos componentes
no estn polarizados.
El prisma o espejo de la base en algunos modelos de microscopio
es ligeramente movible de tal manera que se pueda regular el
direccionamiento del haz hacindolo coincidir lo mejor posible con
el eje del microscopio.
El diafragma de campo luminoso restringe la cantidad de luz que
va a pasar y permite as centrar el haz con el eje del microscopio.
Figura 1.14
Conjunto subplatina
El conjunto subplatina est conformado por el condensador de
bajo poder, el polarizador, el diafragma de apertura y el
condensador de alto poder. Los condensadores son lentes
convergentes que acercan a los rayos para que la cantidad de luz
se conserve sin iluminar sus paredes internas.
El condensador de bajo poder genera luz ortoscpica y el de alto
poder, en conjuncin con un objetivo de alto poder, genera luz
conoscpica; es decir, rayos que viajan convergentemente hacia
un punto formando as un cono de luz (ver figura 1.17).
El diafragma de apertura impide el paso de los rayos externos del
haz permitiendo aislar detalles pequeos de la muestra sin cambiar
de objetivo.
13
OCULAR
LENTE AMICCIBERTRAND
ANALIZADOR
ESTATIVO
CAVIDAD PARA
COMPENSADORES
OBJETIVO
TORNILLO
DE ENNFOQUE
MUESTRA
PLATINA
CONDESADOR
DE ALTO PODER
DIAFRAGMA
DE APERTURA
TORNILLO DEL
CONJUNTO
SUBPLATINA
POLARIZADOR
CONDENSADOR
DE BAJO PODER
BASE
FILTRO AZUL
Figura 1.15
VIDRIO
MATE
DIAFRAGMA
DE CAMPO
LMPARA DE
LUZ TRANSMITIDA
POLARIZADOR
TUBO ILUMINADOR
DE LUZ REFLEJADA
(TUBO EPI-ILUMINADOR)
DIAFRAGMA
DE APERTURA
DIAFRAGMA
DE CAMPO
OCULAR
CONDENSADOR
LENTE AMICCIBERTRAND
FILTRO AZUL
VIDRIO MATE
ANALIZADOR
LMPARA
ESPEJO
SEMIREFLECTOR
CAVIDAD PARA
COMPENSADORES
ESTATIVO
OBJETIVO
MUESTRA
PLATINA
TORNILLO
DE ENFOQUE
Figura 1.16
14
Humberto Chirif
LuzORTOSCPICA
Ortoscpica
LUZ
(Haz de rayos paralelos)
LuzCONOSCPICA
Conoscpica
LUZ
(Haz de rayos cnico con el
vrtice enfocado en la muestra)
Figura 1.17
Platina
Objetivos
15
AA=
NA=
Largo del tubo vertical (distancia entre la parte inferior del tambor
objetivo y la superior del ocular). Mayormente es de
160 mm en los microscopios de luz transmitida, y 210
mm en los de luz reflejada.
Correcciones.- Se refiere a si el objetivo puede ser usado para
observacin de muestras con cubreobjeto o sin
cubreobjeto. Si se indica 0,17 significa que dicho
objetivo se puede utilizar para estudio de secciones
delgadas (0,17 mm es el espesor del cubreobjeto). Si
se indica 0 es un objetivo que puede ser usado
indistintamente para secciones con o sin
cubreobjeto.
Otros conceptos importantes relacionados a los objetivos son los
siguientes:
Distancia libre de trabajo (DLT).- Distancia entre la parte ms baja
Lente Amicci-Bertrand
El lente Amicci-Bertrand, que es un lente biconvexo asimtrico y
de alto poder de amplificacin, se utiliza en combinacin con el
condensador de alto poder y un objetivo de gran aumento, para
obtener luz conoscpica para la observacin de figuras de
interferencia (captulo 4).
Tubo epi-iluminador
Se emplea exclusivamente para el estudio de minerales opacos
(luz reflejada). Es un tubo que segn los modelos de microscopios
Tabla 1.1
Caractersticas de los objetivos. Relacin numrica entre apertura angular,
apertura numrica, distancia libre de trabajo, profundidad de enfoque cantidad de
lneas que pueden ser reconocidas y lmite de resolucin para objetivos de
diferentes amplificaciones iniciales
AI
AA
NA
DLT
PE
16
Humberto Chirif
Figura 1.18
Caractersticas de los oculares (arriba) y objetivos (centro). En la parte inferior se representa la distancia libre
de trabajo (DLT) y profundidad de enfoque (PE) para un objetivo con poder de amplificacin bajo (izquierda) y
alto (derecha).
Oculares
El lente ocular es el que aumenta la imagen producida por el obje-
17
CORRECCIONES AL MICROSCOPIO DE
POLARIZACIN
Con el uso del microscopio algunas de sus partes se aflojan y
descentran y por ello es necesario regularmente hacer ciertas
correcciones, siendo las principales el centrado de objetivos,
centrado de fuente luminosa y la correccin de perpendicularidad
entre polarizador y analizador.
6)
7)
8)
9)
Correccin de perpendicularidad de
polarizadores
1)
2)
3)
1)
2)
3)
4)
5)
1)
2)
3)
4)
18
Humberto Chirif
CorreccinDE
deOBJETIVOS
Objetivos Descentrados
CORRECCIN
DESCENTRADOS
(1)
(2)
(4)
(3)
(5)
Correccin
FuenteLUMINOSA
Luminosa Descentrada
CORRECCIN
DEde
FUENTE
DESCENTRADA
Figura 1.19
19
Seccin delgada
Seccin pulida
Abrasivos:
ABRASIVOS:
Carburundum
Almina
Polvo de diamante
Lubricantes:
LUBRICANTES:
Agua
Alcohol
Aceites
Figura 1.20
Superficie de
SUPERFICIE
Pulido:
DE
PULIDO:
Vidrio
Plomo
Plstico
Hierro fundido
PGINA EN BLANCO
CAPTULO II
CRISTALOGRAFA Y CARACTERSTICAS PTICAS
DE LOS MINERALES
GENERALIDADES SOBRE LOS MINERALES
CARACTERSTICAS CRISTALOGRFICAS Y
PTICAS DE LOS MINERALES. INDICATRICES
PTICAS
a)
b)
Molcula
Figura 2.1
Retculo
Cristal
Desarrollo tridimensional de los minerales. Existiendo la disponibilidad qumica y las condiciones fsicas apropiadas, los
elementos se unen ordenadamente formando un arreglo cristalogrfico caracterstico. El desarrollo de las caras externas
depende de las condiciones fsicas particulares del yacimiento.
22
Humberto Chirif
Sistema
Caractersticas
Cbico
Clases de Simetra
Hexaquisoctadrica
Girodica
Hexaquistetradrica
Diplodrica
Tetratodica
Tetragonal
Bipiramidal tetragonal
Trapezodrica tetragonal
Piramidal ditetragonal
Escalenodrica tetragonal
Piramidal tetragonal
Biesfenodica tetragonal
Hexagonal
Bipiramidal dihexagonal
Trapezodrica hexagonal
Piramidal dihexagonal
Bipiramidal ditrigonal
Bipiramidal hexagonal
Piramidal hexagonal
Bipiramidal trigonal
Trigonal
Escalenodrica hexagonal
Trapezodrica trigonal
Piramidal ditrigonal
Rombodrica
Piramidal trigonal
Rmbico
Bipiramidal rmbica
Biesfenodica rmbica
Piramidal rmbica
Monoclnico
Prismtica
Esfenodica
Domtica
Triclnico
Figura 2.2
Pinacoidal
Pedial
23
b)
Figura 2.3
c)
24
Humberto Chirif
Figura 2.4
En minerales anistropos
En los minerales anistropos, en el caso de cortes basales, se
obtendrn secciones circulares en las cuales el comportamiento
de la luz linealmente polarizada es semejante al caso de minerales
istropos, y para cualquier otro corte se tendrn secciones con
dos ndices de diferentes magnitudes dispuestos en direcciones
Figura 2.5
Orientacin del corte, forma de los cristales y valores de ndices en la seccin. A la izquierda se muestra la forma
tridimensional de un cristal, donde X, Y y Z indican las direcciones en que se encuentran los ndices a, b y g, respectivamente. Si se hace un corte segn el plano A, se obtendr una seccin con ndices b y g; si se hace un corte
como B, se obtendr una seccin con ndices a y b,y si se hace un corte como C, se obtendr una seccin con un
ndice a y otro ndice intermedio entre b y g, al que se denomina g. Obsrvese que los ndices siempre estn incluidos
en direcciones perpendiculares entre s.
Figura 2.6.
25
A. Cristal de piroxeno atravesado por tres rayos de diferentes trayectorias. El rayo 1 encontrar los ndices de refraccin y , el rayo 2
encontrar los ndices y y el rayo 3 a los ndices y .
B. Cristal de piroxeno y superficie de corte de una seccin delgada.
C. Los rayos de luz linealmente polarizada del microscopio que atraviesan a la seccin delgada cortada como se muestra en B encontrarn
a los ndices de refraccin y . Si la seccin delgada est orientada sobre la platina de tal manera que la direccin de uno de los ndices
de refraccin coincide con la direccin de vibracin del rayo incidente, entonces la luz pasar por el mineral sin que cambie su direccin
de vibracin. Esta situacin se repite si giramos la platina 90.
26
Humberto Chirif
Analizador
Analizador
Polarizador
Polarizador
Figura 2.7
27
Vci ci
Analizador
Analizador
V 1 1
Polarizador
Polarizador
Figura 2.8
ROCA
PLANO DE CORTE
SECCIN
DELGADA
Seccin
Delgada
Figura 2.9
28
Humberto Chirif
Analizador
Analizador
Polarizador
Polarizador
Mineral anistropo
Mineral istropo
Figura 2.10
Luz linealmente polarizada reflejada sobre una seccin de un mineral opaco. Esta luz se refleja en el espejo semireflector e
incide en la superficie de la seccin pulida. Si se trata de un mineral istropo (izquierda), la luz se reflejar sin cambiar su
direccin de vibracin y al llegar al analizador no habr componente en la direccin privilegiada de ste, por ello, no podr pasar.
Si se trata de un mineral anistropo (derecha), la luz se reflejar cambiando su direccin de vibracin y al llegar al analizador
habr un componente en la direccin privilegiada de ste, por ello, pasar luz.
Tabla 2.1
Propiedades mineralgicas que se estudian con el microscopio de polarizacin
Tipo de Iluminacin
Luz Ortoscpica
Ncoles paralelos
Tipo de
Propiedades
pticas
Estructurales
Ncoles cruzados
pticas
Estructurales
Luz Conoscpica
Ncoles cruzados
pticas
Luz Transmitida
Color
Pleocrosmo
Relieve
Tamao
Morfologa
Clivaje
Anisotropa
Color de
Interferencia
Birrefringencia
Extincin
Elongacin
Maclas
Zonamiento
Carcter ptico
Signo ptico
ngulo 2V
Luz Reflejada
Color Pleocrosmo
Reflectancia
Birreflectancia
Dureza relativa
Tamao
Morfologa
Clivaje
Anisotropa
Reflexiones
Internas
Maclas
Zonamiento
(Carcter ptico)*
(Signo ptico)*
29
Tabla 2.2
Principales minerales transparentes ordenados por clase, subclase, grupo y especie
Sub
clase
NSILs
Grupo
SSILs
CSILs
ISILs
PXs
ANFs
Especie
Olivino
Andalucita
Cianita
Silimanita
Topacio
Circn
Titanita
Dumortierita
GRANATE
Vesubiana
Epdota
Turmalina
Berilo
Cordierita
Omfacita
Egirina-augita
Jadeita
Egirina
Dipsido
Hedenbergita
Augita
Pigeonita
Clinoenstatita
Clinoferrosilita
Ortoenstatita
Hiperstena
Ortoferrosilita
Espodumena
Rodonita
Wollastonita
Antofilita
Cummingtonita
Tremolita
Actinolita
Hornblenda
Riebeckita
Glaucofana
Abreviaturas:
NSILs = Nesosilicatos
ARCs = Arcillas
HLs = Haluros
SSILs = Sorosilicatos
MCs = Micas
OXs = xidos
CSILs = Ciclosilicatos
SPTs = Serpentinas
HOXs = Hidrxidos
ISILs = Inosilicatos
CLOs = Cloritas
CBTs = Carbonatos
FSILs = Filosilicatos
FPs
= Feldespatos
SFTs = Sulfatos
Sub
clase
FSILs
Grupo
Especie
Clase
ARCs
Caolinita
Dickita
Illita
Esmectita
Montmorillonita
Pirofilita
Talco
Muscovita
Paragonita
Glauconita
Flogopita
Biotita
Margarita
Lepidolita
Antigorita
Crisotilo
Clorita
Apofilita
Cuarzo
Tridimita
Cristobalita
Coesita
Estishovita
palo
Ortosa
Hialofana
Celsiana
Sanidina
Microclina
Anortoclasa
Albita
Oligoclasa
Andesina
Labradorita
Bytownita
Anortita
Nefelina
Leucita
Sodalita
Noseana
Hayna
Analcita
Cancrinita
Escapolita
Natrolita
Thomsonita
Phillipsita
Chabasita
Laumontita
HLs
MCs
SPTs
CLOs
TSILs
Slice
FPs
PGs
FDs
ZEOs
TSILs
PGs
FFs
PXs
= Tectosilicatos
= Plagioclasas
= Fosfatos
= Piroxenos
FDs = Feldespatoides
ANFs = Anfboles
ZEOs = Zeolitas
OXs
HOXs
CBT
SFTs
FFTs
Sub
Clase
Especie
Halita
Silvita
Cerargirita
Bromargirita
Fluorita
Atacamita
Corindn
Periclasa
Rutilo
Anatasa
Espinela
Perovskita
Brookita
Casiterita
Brucita
Gibbsita
Diaspora
Goethita
Lepidocrocita
Calcita
Rodocrosita
Siderita
Smithsonita
Magnesita
Aragonito
Estroncianita
Cerusita
Witherita
Dolomita
Anquerita
Baritina
Celestita
Anglesita
Anhidrita
Yeso
Calcantita
Melanterita
Epsomita
Goslarita
Jarosita
Alunita
Xenotimo
Monacita
Vivianita
Apatito
Piromorfita
Vanadinita
Lazulita
Turqueza
30
Humberto Chirif
Tabla 2.3
Principales minerales opacos ordenados por clase, grupo y especie
Clase
ENs
SULs
Abreviaturas:
ENs
=
PGRs =
SULs =
PRJs =
SFSs =
CGRs =
OXs =
SFSsPb=
WFTs =
Grupo
Especie
Abrev.
Oro
Plata
Cobre
Arsnico
Antimonio
Bismuto
Grafito
Argentita
Calcosita
Digenita
Bornita
Calcopirita
Galena
Escalerita
Pirrotita
Pentlandita
Covelita
Rejalgar
Oropimente
Estibnita
Bismutinita
Pirita
Bravoita
Marcasita
Arsenopirita
Molibdenita
Au
Ag
Cu
As
Sb
Bi
gf
arg
cc
dg
bn
cp
gn
ef
po
pnt
cv
rj
orp
stb
bmt
py
bv
mc
apy
mb
Elementos nativos
Platas grises
Sufuros
Platas rojas
Sulfosales
Cobres grises
xidos
Sulfosales de plomo
Wolframatos.
Clase
Grupo
PGRs
PRJs
CGRs
SFSs
SFSsPb
OXs
WFTs
Especie
Abrev.
Pearcita
Polibasita
Proustita
Pirargirita
Tetraedrita
Tennantita
Bournonita
Boulangerita
Jamesonita
Enargira
Luzonita
Cuprita
Tenorita
Magnetita
Hematina
Ilmenita
Rutilo
Pirolusita
Casiterita
Cromita
Wolframita
prc
plb
pro
pgt
tet
ten
bnn
blg
jm
en
luz
cup
tn
mt
hm
il
rt
prl
cst
crm
Wfm
CAPTULO III
ESTUDIO CON ILUMINACIN ORTOSCPICA TRANSMITIDA
ESTUDIO CON NCOLES PARALELOS
Las propiedades que se estudian con luz ortoscpica transmitida y
ncoles paralelos son el color, el pleocrosmo, el relieve, el tamao,
la morfologa y el clivaje, tal como se vio en el captulo 2.
Color
El color de un mineral en lmina delgada no presenta tantas
variaciones como se veran macroscpicamente; esto se debe a
que con un espesor de 30 m el efecto de las impurezas es mnimo
(por ejemplo, tanto el cuarzo rosado como el blanco o el gris los
veremos incoloros en seccin delgada).
La descripcin del color la hacemos tomando en cuenta el color
principal, la intensidad y la tonalidad (por ejemplo, amarillo claro
verdoso). Es preferible evitar las comparaciones. A continuacin
citamos algunos ejemplos de colores de minerales en seccin
delgada:
Incoloro: Cuarzo, feldespato, circn, apatito, cloritoide, espinela,
fluorita, calcita, dolomita, anhidrita, baritina, muscovita.
Rojizo:
Pleocrosmo
Es la capacidad de algunos minerales de mostrar diferentes colores
(o intensidad o tonalidad) cuando la luz es transmitida en direcciones
diferentes. Como se vio en el captulo inicial (punto 1.8), el grado
de absorcin depende del espesor de la muestra, en consecuencia,
hay que resaltar que el pleocrosmo observado en secciones
delgadas de 30 mm de espesor ser radicalmente diferente al
observado en muestras gruesas. En funcin a la magnitud del
cambio podemos calificar al pleocrosmo como fuerte (por ejemplo,
biotita, glaucofana), moderado (clorita, hornblenda) o dbil
(cordierita, sillimanita).
32
Humberto Chirif
Figura 3.1
Mtodos para la estimacin del ndice de refraccin relieve (arriba), lnea de Becke (centro) y mtodo de la
sombra (abajo).
Figura 3.2
Formacin de la lnea de Becke. Al aumentar la distancia entre el objetivo y el objeto, se observa que se desenfoca el borde
y aparece una lnea brillante que se dirige hacia el material de mayor ndice de refraccin.
33
34
Humberto Chirif
Malla 100
Malla 170
Figura 3.3
Determinacin del ndice de refraccin por comparacin con aceites de inmersin. (A) Tomar algunos pequeos fragmentos
del mineral problema y tratarlo con el mortero de percusin. (B) Colocar el material pulverizado en una luna de reloj y controlar
su pureza con ayuda de un estereoscopio. (C) Tamizar el material y trabajar con la fraccin granulomtrica -100+170 M. En
cada paso se debe desechar la primera porcin de muestra tratada y tener especial cuidado con la contaminacin. (D)
Preparacin de la muestra: espolvorear con una esptula unos cuantos granos sobre un portaobjeto limpio y seco; colocar
una gota del aceite de inmersin elegido en la superficie inferior de un trozo de cubreobjeto sin tocar la muestra ni el vidrio con
la bagueta; tapar y presionar ligeramente para expulsar las burbujas. (E) Determinar el ndice o el rango de los ndices del
mineral problema haciendo comparaciones con diferentes aceites.
35
Gema
GEMA
Ocular
OCULAR
Aceite
ACEITE
Hemisferio
HEMISFERIO
DEVidrio
VIDRIO
de
PANTALLA
Pantalla
GRADUADA
2
1
Graduada
Para rayo
2: 2:
Para
rayo
NVIDRIO
NGEMA
Entonces:
Entonces:
1,80
Sen 90
Sen ic
1,70
Sen ic
1,60
1,50
NACEITE
NGEMA
= 1,55
1,40
1,30
Figura 3.4
Refractmetro de Pulfrich. Por la ventana frontal ingresan rayos luminosos con diferentes ngulos; slo nos
interesan los que inciden en el centro del hemisferio de vidrio, o lo que es lo mismo, en el centro de la ventana
superior. En dicha ventana se coloca una gota de aceite de ndice conocido (1,81), y sobre sta una cara plana y
limpia del cristal; el aceite permite expulsar el aire y conseguir un buen contacto entre el refractmetro y la gema.
Los rayos que inciden en la interfase vidrio-gema con ngulo inferior al crtico (como el rayo 1) cruzan la gema y
se pierden. Los rayos que inciden con ngulo superior al crtico se reflejan e iluminan la pantalla graduada. El lmite
de la zona iluminada en la pantalla indica el ndice de refraccin de la gema. El aceite es muy txico y corrosivo.
Despus de usar el refractmetro, la ventana superior y la gema deben ser cuidadosamente limpiadas con alcohol.
Tamao
Para la medicin del tamao de los cristales, se requiere previamente
saber la medida de las unidades marcadas en el ocular. Para ello,
comparamos las unidades del ocular con las de un objeto
micromtrico para cada objetivo. Conociendo el valor de las
unidades del ocular se puede medir el tamao de los minerales
(ver figura 3.5). Para determinar el espesor de los granos, se
requiere previamente conocer la magnitud del desplazamiento
vertical de la platina al girar una unidad el tornillo de enfoque
(aproximadamente 2 m). Luego, bastar pasar de la posicin de
enfoque de la superficie superior a la de enfoque de la superficie
inferior del grano, observando la cantidad de unidades del tornillo
giradas.
36
Humberto Chirif
Figura 3.5
Medicin del tamao de grano. Estimar el largo y ancho del cristal del dibujo inferior. Hacer una tabla de los dimetros
de los campos visuales para cada uno de los objetivos.
37
Forma
Segn el desarrollo de sus formas externas, los cristales pueden
ser euhedrales, subhedrales o anhedrales. Son euhedrales o
idiomorfos si presentan totalmente formas externas geomtricas
definidas; son subhedrales o hipidiomorfos si presentan slo
parcialmente dichas formas, y son anhedrales o xenomorfos si no
las presentan. La forma de los cristales depende en gran medida
de las condiciones del medio en que stos se han desarrollado, y
por lo tanto, no es una caracterstica distintiva del mineral. Por el
desarrollo preferencial de una, dos o tres dimensiones, los cristales
Figura 3.6
Figura 3.7
Arriba. Forma de los cristales segn el desarrollo de las caras. Abajo. Forma segn
el nmero de dimensiones preferentemente desarrolladas. (Fuente desconocida).
Formas bidimensionales propias de los diferentes sistemas cristalinos (tomado de CHUDOBA, 1932).
38
Humberto Chirif
Clivaje
La calidad del clivaje la podemos calificar como perfecta, buena,
mediana, mala, imperfecta o ausente. Para el estudio de esta
propiedad se debe indicar tanto la calidad como las direcciones;
para ello es conveniente buscar cortes perpendiculares al plano
de clivaje, esto es, cortes con trazas de clivaje ntidas y finas (ver
figura 3.8).
Anisotropa
La anisotropa se refiere a la capacidad de ciertos minerales de
dejar pasar luz entre ncoles cruzados. Los minerales que poseen
esta propiedad son los minerales anistropos en cortes diferentes
PLANO DE
CLIVAJE
Extincin
Como se vio en el captulo anterior, cuando las direcciones
privilegiadas del mineral y del microscopio coinciden, la direccin
de vibracin del rayo de luz linealmente polarizada, que incide en
el mineral, no cambia al atravesarlo y en consecuencia no pasa
luz a travs del analizador (ver figura 2.6). Decimos, entonces,
que el mineral se encuentra en su posicin de extincin, la cual se
repite cada 90.
Si tenemos cristales subhedrales o euhedrales, podremos relacionar
las direcciones de los ndices de refraccin con las formas externas
del cristal. Si el ngulo entre la direccin de uno de los ndices y la
direccin de uno de los ejes cristalogrficos es cero, diremos que
el mineral presenta extincin paralela; si es diferente a cero, diremos
que se trata de extincin oblicua. Si las direcciones privilegiadas
coinciden con las trazas de planos de simetra en ese corte, diremos
que el mineral presenta extincin simtrica. Si el grano estudiado
es anhedral y no presenta clivaje o algn otro rasgo estructural
que nos sirva de referencia para indicar las direcciones de los
ndices de refraccin, entonces, no se podr calificar la propiedad
extincin. En la figura 3.9 se presentan los diferentes tipos de
TRAZAS
GRUESAS
Y DIFUSAS
SECCIN
OBLICUA
SECCION
PERPENDICULAR
TRAZAS
FINAS Y
NTIDAS
CLIVAJE
PERFECTO
CLIVAJE
BUENO
CLIVAJE
MEDIANO
CLIVAJE
MALO
CLIVAJE
IMPERFECTO
trazas
contnuas
trazas
discontnuas
largas
trazas
discontnuas
largas
trazas
discontnuas
cortas
trazas
irregulares
Figura 3.8
39
Extincin
paralela o
recta
Figura 3.9
Extincin
oblicua
Extincin
simtrica
Extincin
oblicua
respecto
al clivaje
No se puede
calificar la
extincin
Tipos de extincin. Arriba. Representacin de cristales en posicin de extincin, tal como se observan en el microscopio.
Abajo. Representacin de las relaciones entre la forma del cristal y las direcciones de los ndices de refraccin.
t = d/Vr + /V
donde t es el lapso, d es el espesor de la muestra, Vl es la velocidad
del rayo lento, Vr es la velocidad del rayo rpido, D es el desfase
y V es la velocidad de la luz en el aire. Igualando ambas ecuaciones
tenemos:
d/Vl = d/Vr + /V
= d(V/Vl - V/Vr) = d(nl - nr) = d
Color de interferencia
40
Humberto Chirif
Figura 3.10
Tipo de extincin segn sistema cristalogrfico y orientacin del corte (fuente desconocida).
= 1000 d
(nm)
(m)
El valor 1000 es la correccin por el empleo de dos unidades de
longitud diferentes (nanmetros y micras). Esta ecuacin
corresponde a una recta que pasa por el origen de coordenadas
de un sistema XY, donde X representa a los valores del retardo ,
Y a los valores del espesor d, y la pendiente vendra a ser
1/1000. Tenemos, entonces, en el diagrama vs. d, una serie
de rectas que pasan por el origen de coordenadas y cada recta
corresponde a un determinado valor de , es decir, a un conjunto
de minerales.
La recta de un determinado valor de permite ver la retardacin
de los colores de interferencia para diferentes valores de espesor
d de la lmina. As por ejemplo, un mineral de birrefringencia 0,021
en una lmina de 30 m de espesor producir una retardacin de
630 nm. Tal mineral en su posicin de mxima anisotropa se ver
azul de 2.o orden.
En la parte inferior de la figura 3.14 se explican los dos principales
usos de la tabla de Michel-Lvy: uno de ellos es calcular el espesor
de la lmina a partir del color de interferencia observado en un
mineral de r conocido, y el otro uso es el de calcular la birrefringencia
de un mineral en lmina de 30m a partir del color de interferencia
observado.
Figura 3.11
41
42
Humberto Chirif
Figura 3.12
Figura 3.13
Figura 3.14
Carta de colores de interferencia de Michel-Lvy. En la parte superior se explica la posicin en que deben observarse los
colores de interferencia (posicin 45). Algunas aplicaciones en la parte inferior: Determinando el color de interferencia de un
mineral conocido (r conocido), se puede saber el espesor de la seccin delgada. Conociendo el espesor de la seccin y
observando el mximo color de interferencia de cualquier mineral, se puede determinar su birrefringencia.
43
44
Humberto Chirif
Compensadores
Los compensadores son accesorios pticos que se interponen en
ESPESOR
COMPENSADOR
RETARDO (nm)
COLOR DE
INTERFERENCIA
Yeso ()
550
Mica (/4)
150
Cua de cuarzo
(/2 a 3)
275 a 1650
Variable
Constante
Variable
COMPENSADORES DE YESO
COMPENSADORES DE MICA
CUA DE CUARZO
Figura 3.15
SECUENCIA PARA EL
ESTUDIO DE LA RETARDACIN
Caractersticas de los diferentes tipos de compensadores. A la derecha se representa la secuencia correcta para el
estudio de la retardacin: polarizador, mineral en su posicin de mxima anisotropa, compensador y analizador.
45
Figura 3.16
Alternancia de las posiciones de adicin y sustraccin cada 90. Partiendo de un mineral de color de interferencia azul de
2.o orden (aproximadamente 550 nm), si insertamos el compensador de yeso (550 nm) al mineral, lo veremos verde en
la posicin de adicin y gris oscuro en la de sustraccin.
Maclas
La macla es el agrupamiento regular de dos o ms individuos de
un mismo mineral con diferente orientacin y segn alguna ley de
simetra (plano, eje o centro de macla).
46
Humberto Chirif
Largo // N mayor
NMENOR
Figura 3.17
ELONGACIN
NEGATIVA
ELONGACIN
POSITIVA
NMAYOR
NMENOR
NMAYOR
Largo // N menor
Largo // Rayo rpido
"Length-slow"
"Length-fast"
"Largo-lento"
"Largo-rpido"
c
Z
Extincin simtrica
Extincin paralela
Extincin oblicua
001
b
Y
Sustraccin
Sustraccin
X
Diagrama de Orientacin
Figura 3.18
Construccin de un esquema de orientacin. Izquierda. Observaciones a travs del microscopio (arriba) y esquemas
de orientacin bidimensionales (abajo). Derecha. Esquema de orientacin tridimensional, donde a, b c son ejes
cristalogrficos. X, Y, Z son ejes que contienen a los ndices a, b, g, respectivamente.
Desmezclas
Las desmezclas o exsoluciones son separaciones de un mineral a
partir de otro que ha dejado de ser estable. Las desmezclas pueden
presentar formas de discos, husos o lamelas de diferentes tamaos
y frecuencia de ocurrencia. Entre los minerales formadores de
rocas, las desmezclas ms frecuentes son de albita en ortosa
47
010
010
010
010
010
010
010
Baveno
Periclina
Karlsbad de
contacto
Karlsbad de
compenetracin
Albita
Albita
Polisinttica
Combinada
Albita-Karlsbad
E
010
Calcita
1011
Dolomita
Hornblenda
1011
010
110
Manebach
Figura 3.19
Lamelar polisinttica
Lamelar cruzada
Maclas frecuentes en minerales formadores de rocas y sus cortes tpicos en seccin delgada: A, B, C, D y E en
feldespatos; F en carbonatos, y G en anfboles. (Fuente desconocida)
Figura 3.20
Zonamiento
Durante el desarrollo de un cristal se presentan casos de variacin
de la composicin, ya sea a nivel de elementos mayores (caso de
las series isomrficas) o de elementos trazas.
La variacin de composicin se puede evidenciar por la
concentracin de inclusiones o de minerales de alteracin en
48
Humberto Chirif
Inclusiones
Las inclusiones son sustancias extraas (minerales, vidrio o fluido)
atrapados por un cristal durante su crecimiento. La naturaleza de
las inclusiones y la geometra de la distribucin en el cristal anfitrin
pueden dar pautas para interpretaciones petrolgicas. En el caso
de inclusiones fluidas (compuestas de gas y lquido), la medicin
de la temperatura a la cual se homogenizan el gas y el lquido da
pautas para la determinacin de la temperatura de formacin de la
roca. Tales mediciones se realizan con una platina trmica.
Alteraciones
Los minerales de alteracin (o secundarios) son aquellos que se
forman por descomposicin de un mineral preexistente. La
alteracin comienza a verificarse por los bordes o por los planos
de debilidad de los granos (clivaje, fracturas), y en algunos casos,
ataca selectivamente determinadas zonas. Si la alteracin llega a
destruir totalmente a un mineral preservando sus formas externas
Sin alteracin
Alteracin
incipiente
Alteracin
moderada
Figura 3.21
Alteracin
dbil
Alteracin
fuerte
CAPTULO IV
ESTUDIO CON ILUMINACIN CONOSCPICA
LUZ CONOSCPICA
A diferencia de la luz ortoscpica que est compuesta por rayos de
propagacin paralela (o subparalela), la luz conoscpica consiste
en un haz de rayos convergentes (ver figura 1.17).
Objetivo de
alto poder
Objeto
Condensador de
alto poder
Polarizador
Figura 4.1
Secuencia de las partes del microscopio de polarizacin para observacin con luz
transmitida conoscpica.
50
Humberto Chirif
Figura 4.2
Luz conoscpica incidiendo en mineral anistropo. Arriba. El cono de luz est compuesto por infinitos
rayos que salen de la superficie del condensador de alto poder, convergen en un punto dentro del mineral
y continan hasta la superficie del objetivo. Cada rayo tiene su propia direccin e inclinacin. Abajo. La
interseccin de la indicatriz del mineral con la superficie normal a la trayectoria de los rayos (superficie
de corte) tiene orientacin propia para cada uno de stos.
51
Figura 4.4
Figuras de interferencias unixica y bixica. Se forman por la integracin de las infinitas superficies de corte que
cada uno de los rayos encuentra en el mineral.
Figura 4.3
Signo ptico de los minerales unixicos. En la figura de interferencia unixica, el ndice de refraccin e presenta
distribucin radial, y el w, distribucin perpendicular a e. Al insertar un compensador se producir adicin en los
cuadrantes donde el ndice mayor del mineral coincida con el del compensador; esto ocurre en el I y el III cuadrante
en los minerales unixicos positivos (izquierda), y en el II y el IV cuadrante, en los negativos (derecha).
52
Humberto Chirif
n
Figura 4.5
cu
a
cu
a
n
/
4
n
/
4
53
FIGURA DE INTERFERENCIA
CENTRADA
OCULAR
OCULAR
FIGURA FLASH
OCULAR
Giro de
la platina
Giro de la
platina
CORTE BASAL DE
CRISTAL UNIAXICO
Figura 4.6
CORTE INCLINADO DE
CRISTALUNIAXICO
Formacin de figuras de interferencia unixica centrada (izquierda), descentrada (centro) y flash (derecha). Las isgiras de figuras
descentradas unixicas, al pasar por el campo visual, se mueven paralelamente a alguno de los hilos reticulares, sin inclinarse,
a diferencia de las figuras bixicas.