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Estructura Cristalina
Los slidos pueden clasificarse en dos amplias categoras: cristalinos y
amorfos. Los slidos cristalinos, debido a la estructura ordenada de sus tomos,
molculas o iones tienen formas bien definidas. Los metales son cristalinos y
estn compuestos por cristales o granos bien definidos. Los granos son pequeos
y no son observables claramente dada la naturaleza opaca de los metales.
En los minerales, principalmente de naturaleza translcida a transparente, las
formas cristalinas bien definidas se pueden observar con claridad. Las siguientes
imgenes muestran la naturaleza cristalina de los minerales como a) celestita
(SrSO4) de color azul celeste, b) pirita (FeS2), tambin llamada el oro de los
tontos por su color amarillo dorado, c) amatista (SiO2), una variedad prpura del
cuarzo y d) halita (NaCl), mejor conocida como sal de roca. En contraste, los
slidos amorfos presentan un orden pobre o de corto alcance y no se identifican ni
con la simetra ni la regularidad de los slidos cristalinos.
Segn el tipo de enlace atmico, los cristales pueden ser de tres tipos:
2. ndices de Miller
Notacin utilizada para identificar direcciones y planos en un cristal. La ventaja
de su uso reside en que con ella, y sobre todo en los sistemas cbicos, resulta
fcil evidenciar las simetras del cristal. Los valores de los ndices se determinan
basndose en un sistema de coordenadas cuyo origen est situado en un vrtice
de la celdilla unitaria y cuyos ejes (x,y,z) coinciden con las aristas de la celda
unitaria como lo indica la figura 2.
Figura 2.
Para conocer a los planos cristalinos en una red cristalina se utiliza el sistema
Miller, que se conoce como el recproco de las fracciones de interseccin (con
fracciones simplificadas) que el plano presenta en los tomos de las tres aristas no
paralelas a la celda unitaria.
3. Difraccin de rayos X
El conocimiento actual de las estructuras cristalinas se ha obtenido
principalmente por la tcnica de difraccin de rayos X que utiliza radiacin de
aproximadamente la misma longitud de onda que la distancia entre los planos de
la red cristalina. Sin embargo, antes de exponer de qu forma los rayos X son
difractados por los cristales, se debe considerar cmo se obtienen los rayos X
para aplicaciones experimentales.
3.1. Fuentes de rayos X
Los rayos X utilizados en la difraccin son radiaciones electromagnticas con
longitudes de onda entre 0.05 a 0.25 nm (0.5 a 2.5 ). Para poder comparar, la
longitud de onda de la luz visible es del orden de 600 nm (6 000 ). Para producir
rayos X para fines de difraccin, se debe aplicar un voltaje de unos 35 kV entre un
ctodo y un nodo metlicos, ambos en el vaco, como se presenta en la figura 3.
Cuando el filamento del ctodo de volframio se calienta, se liberan electrones por
emisin termoinica y se aceleran a travs del vaco debido a la gran diferencia de
voltaje entre el ctodo y el nodo aumentando su energa cintica. Cuando los
electrones golpean al metal blanco (por ejemplo, molibdeno) se emiten rayos X.
Sin embargo, la mayor parte de la energa cintica (aproximadamente 98%) se
convierte en calor, por lo que el metal blanco debe refrigerarse externamente.
Figura 3. Diagrama esquemtico de la seccin transversal de un tubo de rayos
X de filamento sellado.
X en un intervalo de longitudes de onda desde 0.2 a 1.4 (0.02 a 0.14 nm) y dos
picos de radiacin caracterstica que se designan por lnea K y K. Las
longitudes de onda K y K son caractersticas de este elemento. Para el
molibdeno, la lnea K tiene lugar a una longitud de aproximadamente 0.7 (0.07
nm). El origen de la radiacin caracterstica puede explicarse de la siguiente
manera: primero, los electrones K (electrones en el nivel n = 1) son expulsados del
tomo por bombardeo del blanco con electrones de alta energa, dejando a los
tomos excitados.
Figura 4. Espectro de emisin de rayos X producidos cuando el molibdeno
metlico es utilizado como blanco en un tubo de rayos X operando a 35 kV.
Mtodo del polvo: En este mtodo se tiene que pulverizar de una manera
muy fina los cristales de la muestra los cuales se mezclan con un material
amorfo para compactarlo y poder obtener una reflexin de los rayos. El
mtodo consta de tener una placa fotogrfica y en el centro de la muestra
un polvo cristalino, cuando el efecto del haz incide en el polvo los rayos se
reflejan sobre la placa fotogrfica. En los anlisis modernos de cristales se
utiliza un difractmetro de rayos X que tiene un contador de radiacin que
detecta el ngulo y la intensidad del haz difractado (figura 6).