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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P.

Reyes /
enero de 2009

CONTROL ESTADSTICO
DEL PROCESO

Con base en el Texto de Control Estadstico de la Calidad de


Douglas Montogomery

DR. PRIMITIVO REYES AGUILAR


Diciembre, 2008

Mail. Primitivo_reyes@yahoo.com / Cel. 044 55 52 17 49 12

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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes /
enero de 2009

CONTENIDO

Contenido
1. IMPORTANCIA DE LA MEJORA CONTINUA 6
1.1 CALIDAD Y MEJORAMIENTO........................................................................6
1.2 HISTORIA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO..............................8
Antecedentes................................................................................................ 8
CEP en occidente......................................................................................... 11
CEP en Japn............................................................................................... 12
Desarrollo del Control Estadstico del Proceso.............................................14
Teorema del lmite central...........................................................................15
Interpretacin.............................................................................................. 16
1.3 LAS 7 HERRAMIENTAS BSICAS PARA LA SOLUCIN DE PROBLEMAS.......18
Hoja de verificacin o registro.....................................................................18
Diagrama de Pareto..................................................................................... 20
Diagrama de Dispersin.............................................................................. 24
Histogramas................................................................................................ 31
Lluvia de ideas (Brainstorming)...................................................................32
Diagrama de Causa efecto..........................................................................33
Carta de tendencias.................................................................................... 38
Diagrama de flujo........................................................................................ 39
Pasos para la elaboracin de un diagrama de flujo.....................................40
Diagrama de flujo de tiempo valor agregado...........................................44
Diagrama de Flujo Fsico............................................................................. 45
Estratificacin.............................................................................................. 46
Las cartas de control................................................................................... 46
1.4 MTODOS LEAN PARA LA MEJORA............................................................47
Los 7 desperdicios o Muda..........................................................................47
Mtodos Lean para la mejora......................................................................48
Mapeo de la cadena de valor......................................................................48
Las 5 Ss y la administracin visual..............................................................51
Preparaciones rpidas (SMED)....................................................................52
Poka Yokes o A prueba de error...................................................................53
Trabajo estandarizado................................................................................. 54
1.5 LAS SIETE HERRAMIENTAS ADMINISTRATIVAS..........................................55
Diagrama de Afinidad.................................................................................. 56
Fig. 1.26 ejemplos de diagrama de interrelacionesDiagrama de rbol........60
Diagrama de rbol....................................................................................... 61
Diagrama Matricial...................................................................................... 64
Matrices de Prioridades o prioritizacin.......................................................68
1.6 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE CALIDAD.........................78
Cartas de control......................................................................................... 78
Diseo de experimentos.............................................................................. 79
Muestreo de aceptacin.............................................................................. 80
1.7 ADMINISTRACIN POR CALIDAD TOTAL....................................................82
Costos de calidad........................................................................................ 83
2. MTODOS Y FILOSOFA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO (CEP) 85

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Concepto de variacin................................................................................. 85
2.1 DISTRIBUCIN NORMAL........................................................................... 85
Estandarizacin de valores reales...............................................................91
2.2 PRUEBA DE NORMALIDAD........................................................................93
2.3 LA CARTA DE CONTROL COMO PRUEBAS DE HIPTESIS...........................95
2.4 BASES ESTADSTICAS DE LAS CARTAS DE CONTROL................................99
Tamao de muestra y frecuencia de muestreo..........................................106
Subgrupos racionales................................................................................ 107
Anlisis de patrones en cartas de control..................................................108
2.5 IMPLEMENTACIN DEL CEP.....................................................................109
3. CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES 111
3.1 INTRODUCCIN..................................................................................... 111
3.2 CARTAS DE CONTROL DE MEDIAS-RANGOS............................................111
Interpretacin de cartas de control X R ................................................116
Capacidad o habilidad del proceso............................................................128
La curva caracterstica de operacin.........................................................135
3.3 CARTAS DE CONTROL PARA X y S........................................................138
3.4 CARTAS PARA LECTURAS INDIVIDUALES.................................................145
3.5 SELECCIN ENTRE CARTAS POR VARIABLES Y POR ATRIBUTOS.............149
3.6 APLICACIN DE CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES..........................152
4. CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS 154
4.1 INTRODUCCIN...................................................................................... 154
4.2 CARTA DE CONTROL PARA FRACCIN NO CONFORME - p.......................155
4.3 CARTA DE CONTROL np..........................................................................167
4.4 TAMAO DE MUESTRA VARIABLE............................................................168
4.5 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN Y ARL.....................................172
4.6 CARTAS DE CONTROL PARA NO CONFORMIDADES (DEFECTOS) c y u.176
Tamao de muestra constante - CARTA c.................................................176
Seleccin del tamao de muestra.............................................................182
Carta de control de defectos por unidad U................................................183
Sistema de demeritos............................................................................... 189
La curva caracterstica de operacin.........................................................190
4.7 CARTAS DE CONTROL PARA TASAS DE DEFECTOS EN ppm....................192
5. OTRAS CARTAS DE CONTROL ESPECIALES 193
5.1 CARTAS DE CONTROL PARA CORRIDAS CORTAS DE PRODUCCIN.........193
Cartas de control dnom............................................................................. 193
Cartas de control de medias rangos estandarizada..................................194
Cartas de control por atributos..................................................................195
5.2 CARTAS DE CONTROL MODIFICADAS Y DE ACEPTACIN.........................195
Cartas de control modificadas...................................................................195
Cartas de control de aceptacin................................................................197
5.3 CARTA DE CONTROL PARA DESGASTE DE HERRAMIENTA O MATERIAL...199
5.4 CARTA DE PRECONTROL O DE ARCOIRIS...............................................202
5.5 CARTAS DE CONTROL PARA PROCESOS DE SALIDA MLTIPLE...............205
5.6 CARTAS DE CONTROL Cusum.................................................................206
Cusum normal........................................................................................... 206
Cusum en forma tabular............................................................................211
EL PROCEDIMIENTO DE LA MASCARILLA EN V..............................................214

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5.7 CARTA DE CONTROL DE MEDIAS MOVILES EXPONENCIALMENTE


PONDERADAS (EWMA).................................................................................. 219
5.8 CARTA DE CONTROL DE MEDIA MOVIL...................................................224
6. ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO 229
6.1 INTRODUCCIN...................................................................................... 229
Condiciones para realizar un estudio de capacidad del proceso...............232
6.2 NDICES DE CAPACIDAD.........................................................................234
ndice de capacidad potencial Cp..............................................................234
ndice de capacidad real Cpk....................................................................237
ndice de capacidad potencial Cpm o PCRm y Cpkm o PCRkm.................239
6.3 CAPACIDAD DEL PROCESO CON HISTOGRAMA O PAPEL DE PROBABILIDAD
NORMAL....................................................................................................... 241
Histograma................................................................................................ 241
Papel de probabilidad normal....................................................................243
Capacidad del proceso con cartas de control............................................247
Capacidad de procesos con Minitab: normales y no normales................250
Capacidad de procesos no normales.........................................................254
Anlisis de capacidad con experimentos diseados..................................255
6.7 ESTUDIOS DE CAPACIDAD DE SISTEMAS DE MEDICIN..........................256
Error del equipo de medicin....................................................................256
Repetibilidad y reproducibilidad (R&R)......................................................259
R&R Capacidad de los sistemas de medicin - AIAG...............................262
Definiciones............................................................................................... 263
Exactitud :................................................................................................. 264
Estudios R&R - Mtodo Corto del Rango....................................................266
Estudio de R&R Mtodo largo....................................................................267
Mtodo de Promedios- Rango....................................................................268
Clculos con Excel o manual:....................................................................268
Interpretacin de los resultados................................................................274
Estudios de R&R por atributos...................................................................279
Interpretacin de resultados.....................................................................287
7. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS 289
7.1 EL PROBLEMA DE LA ACEPTACIN POR MUESTREO...............................289
7.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS.......................................................293
Muestreo aleatorio simple.........................................................................293
La curva OC............................................................................................... 293
Puntos especficos en la curva OC.............................................................296
Inspeccin rectificadora............................................................................ 297
Muestreo doble, mltiple y secuencial......................................................300
7.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859).................308
Descripcin de la norma............................................................................308
7. 5 PLANES DE MUESTREO DE DODGE- ROMIG (1920)..............................315
Planes de AOQL......................................................................................... 316
Planes de LTPD.......................................................................................... 316
8. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES 318
Ventajas y desventajas.............................................................................. 318
8.1 CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA..................................................319
8.2 DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO POR VARIABLES.............................322
8.3 TABLAS ASQC Z1.9 1993.....................................................................324

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8.4 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES.....................332


Muestreo secuencial por variables............................................................332

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1. IMPORTANCIA DE LA MEJORA CONTINUA

1.1 CALIDAD Y MEJORAMIENTO


Las dimensiones de la calidad segn Garvin son:

1. Desempeo (sirve el producto para el uso adecuado?)

2. Confiabilidad (qu tan frecuentemente falla el producto?)

3. Durabilidad (cul es la vida til del producto?)

4. Serviciabilidad (qu tan fcil se repara el producto?)

5. Esttica (tiene el producto el estilo, color, forma, empaque y apariencia


adecuada?)

6. Caractersticas (qu hace el producto ms all de su desempeo bsico?)

7. Calidad percibida (cul es la reputacin de la empresa o del producto?)

8. Cumplimiento de estndares (el producto est hecho de acuerdo a


estndares de diseo original?)

As la calidad tradicionalmente es adecuacin al uso.

Dentro de la adecuacin al uso existen la calidad de diseo y la calidad de


conformancia. La de diseo se refiere al diseo original del producto, los
materiales utilizados, especificaciones, y mtodos empleados. La calidad de
conformancia se refiere a que tan bien cumple el producto los requerimientos
de las especificaciones de su diseo, que bsicamente depende del proceso de
manufactura.

Una definicin ms moderna es que la calidad es inversamente


proporcional a la variabilidad.

De esta forma se define la mejora de calidad como:


Mejoramiento de la calidad es la reduccin de la variabilidad en
productos y servicios.

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EUA JAPON

LIE Objetivo LSE


Fig. 1.1 Enfoques de conformancia

Como los mtodos estadsticos tienen un papel importante en el mejoramiento


de la calidad, son objeto de estudio de la Ingeniera de calidad. Los datos
relacionados con la calidad se clasifican en atributos y en variables. Los de
atributos son discretos, enteros. Los de variables corresponden a mediciones
con valores reales como longitud, voltaje, etc. Existen diferentes herramientas
estadsticas para tratar con ambos tipos de datos.

Los productos no conformes o defectivos son los que no cumplen una o


varias especificaciones.

Un tipo especfico de no cumplimiento de especificaciones es llamado


defecto o no conformancia.

Caractersticas del producto: Son los elementos que en conjunto describen la


calidad del producto, evaluadas respecto a especificaciones, como son:

1. Fsicos: Longitud, peso, voltaje, viscosidad


2. Sensoriales: Gusto, apariencia, color
3. Relacionados con el tiempo: Confiabilidad, durabilidad, serviciabilidad.

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1.2 HISTORIA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL


PROCESO

Antecedentes
La teora de la administracin se desarroll bsicamente en los pases
industrializados, en respuesta a los problemas que presentaron las grandes
empresas caractersticas del sistema capitalista. 1 Sus primeros indicios se
observan con el economista Adam Smith con el concepto de divisin del
trabajo para aumentar la productividad en 1776. 2
Smith not que en una industria de fabricacin de alfileres, diez
personas, cada una realizando una tarea especfica, podran
producir 48,000 alfileres por da. Propuso que si cada uno
trabajara por separado y en forma independiente, los diez
trabajadores tendran suerte en hacer 200 (o an 10) alfileres al
da.3

Smith concluy que la divisin del trabajo incrementaba la productividad sin


embargo se consideraba al trabajador como extensin de la mquina. Durante
la revolucin industrial, iniciada en el siglo XVIII en Gran Bretaala mano de
obra era sustituida por mquinas de una manera acelerada. 4 Esto, a su vez,
abarat la fabricacin de productos en las fbricas. Surge la administracin
cientfica con Frederick Taylor.

Frederick Winslow Taylor (1856-1915): l no desarroll una teora de


administracin, sino que haca nfasis en los aspectos empricos. 5 En 1911
public sus Principios de la Administracin Cientfica 6 donde describe la
administracin cientfica, y us este trmino para definir la nica y mejor
manera de realizar un trabajo. Los estudios realizados antes y despus de

1
Simn, Nadima S., Evaluacin Organizacional, SICCO, Mxico, 1997, p. 7
2
Smith, Adam, An Inquiry into the Nature and Causes of the Wealth of Nations,
A. Strahan and T. Cadell, London, 1793, pp. 7-8
3
Robbins, Stephen P., Management: Concepts and Applications, Englewood
Cliffs, Nueva Jersey, 1987, p. 31.
4
Ibidem, p. 31.
5
Simn, Nadima, op. cit., p. 9
6
Taylor, Frederick W., Principles of Scientific Management,, Harper & Bros.,
Nueva York, Estados Unidos de Amrica, 1911

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esta publicacin, lo erigieron como el padre de la administracin cientfica. 7 Sus


cuatro principios son:
1. Crear una ciencia para cada elemento del trabajo del individuo,
que sustituya al mtodo emprico; 2. Escoger cientficamente y
luego entrenar, ensear y desarrollar al trabajador; 3. Colaborar
ampliamente con los trabajadores para asegurar que todo el
trabajo se realice conforme a los principios de la ciencia que se ha
ido desarrollando; 4. Hay una divisin casi igual del trabajo y la
responsabilidad entre la administracin y los trabajadores. La
administracin se encarga de todo el trabajo para el cual est
mejor dotada que los trabajadores. 8

Taylor9 seal que la creacin de nuevos mtodos de trabajo era


responsabilidad nica de gerentes y administradores. La mayor desventaja del
taylorismo es que los trabajadores pueden ser descalificados como si fueran
extensin de las mquinas,10 como consecuencia, se tiene poca motivacin y
alto ausentismo.

Frank (1864-1924) y Lillian Gilberth: disearon arreglos laborales para eliminar


movimientos manuales y corporales intiles, tambin experimentaron en el
diseo y uso de herramientas y equipo adecuado para optimizar el desempeo
del trabajo.11 Encontraron que no es el trabajo montono la causa de tanta
insatisfaccin laboral, sino la falta de inters que muestran los gerentes por los
trabajadores.12

El Fordismo de Henry Ford: se implant en empresas con lneas de productos


durables en Estados Unidos de Amrica, foment la modificacin de las normas
de consumo y de vida de los trabajadores, considerados como verdaderos
consumidores potenciales, para lo cual era necesario aumentar su poder de
compra y reducir costos de produccin, con sistemas de proteccin social. 13

7
Robbins, Stephen, op cit. p. 33.
8
Ibidem, p. 34 tomado de la obra de Frederick Taylor, Principles of Scientific
Management, Nueva York, Harper and Brothers, 1911, pp. 36-37.
9
Taylor, op. cit. 1911, p.20.
10
Hall, Richard, Organizaciones: Estructura y proceso. Mxico, Prentice Hall
Hispanoamericana, 1982, p. 304
11
Ibidem, p. 33
12
Koontz, Harold, op. cit. , p. 34.

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Con las crisis de los aos ochenta, la produccin masiva uniforme ya no es


competitiva, surge un nuevo paradigma que hace nfasis en la respuesta
flexible frente a los cambios impredecibles del mercado. 14

Control de calidad por inspeccin


Durante la primera guerra mundial el sistema de manufactura se volvi ms
complejo, involucrando a ms trabajadores reportando a un supervisor de
produccin, con Taylor aparecen los primeros inspectores de control de calidad;
los trabajadores y el supervisor se enfocaron a la produccin, desligndose del
auto - control de calidad de los artculos que producan, esto tuvo auge entre
los aos 1920's y 1930's. Para evitar quejas y devoluciones de los clientes, los
productos se revisaban y separaban al final del proceso, identificando los
defectuosos por un departamento de Control de Calidad, sin embargo como la
inspeccin 100% realizada por personas tiene errores, se estableci un
departamento de Servicio para corregir los productos defectuosos en el
mercado.15 Se establecen despus planes de muestreo militares, asumiendo
que cualquier proceso producir defectos, los esfuerzos se enfocan a
detectarlos, no a prevenirlos. Los productos defectuosos, eran reprocesados o
desechados, incrementando los costos de produccin entre un 20 a 30% e
incrementando el precio final del producto al menos 20% 16, absorbiendo el
cliente las ineficiencias de la empresa. El departamento de Control de Calidad
se convierte en el "polica de la calidad" y se le responsabiliza de todos los
problemas de calidad en la empresa, est formado por especialistas y tcnicos
que se encargan principalmente de detectar defectos en el producto final.

Con objeto de reducir el costo de la no calidad se desarroll y aplic el Control


Estadstico del Proceso como una siguiente etapa.

13
Neffa, Julio Cesar, Transformaciones del proceso del trabajo y de la relacin
salarial en el marco del nuevo paradigma productivo. Sus repercuciones sobre
la accin sindical, en Sociologa del Trabajo, Nueva poca, nm. 18, primavera
de 1993, pp. 80-82
14
Ibidem, p. 83-84
15
Vid. Valdez, Luigi, Conocimiento es futuro, CONCAMIN, Mxico, 1995, pp.
122-123
16
Ibidem, pp. 125-126

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Control estadstico del proceso (CEP)

CEP en occidente
Durante la segunda guerra mundial se requirieron cantidades masivas de
productos, las inspecciones de rutina de los inspectores no eran suficientes, en
algunas compaas, tales como la Western Electric, bajo contrato de la
American Bell Telephone Company, estableci mtodos de control de calidad
ms rigurosos que infundieran confianza en sus instrumentos y
electrodomsticos, en 1924 se form su departamento de Ingeniera de
Inspeccin, entre sus primeros miembros se encuentran Harold F. Dodge,
Donald A. Qaurles, Walter A. Shewhart, Harry G. Romig y otros.

Segn Duncan Walter Shewhart de los Laboratorios Bell fue el primero en


aplicar las cartas de control en 1924 haciendo un esbozo de la carta de
control17. Por otra parte H. Dodge y H. Romig desarrollaron las tablas de
inspeccin por muestreo de Dodge-Romig18, como una alternativa a la
inspeccin 100% al producto terminado, sin embargo su adopcin en occidente
fue muy lenta, Freeman, sugiere que esto se dio por la tendencia de los
ingenieros americanos a eliminar la variacin, y su desdn por las teoras
probabilsticas, as como a la falta de estadgrafos industriales, adecuadamente
entrenados.19

El trabajo de Shewhart, Dodge y Romig, constituye la mayor parte de lo que


hoy se conoce como Control Estadstico del Proceso. De esta forma con
objeto de hacer ms eficientes a las organizaciones de inspeccin, se
proporciona a los inspectores con unas cuantas herramientas estadsticas,
tales como cartas de control y tablas de muestreo 20. Se reduce el nivel de
variacin del proceso hasta los lmites predecibles y se identifican las
oportunidades de mejora. Se establecen sistemas de medicin formales desde
los proveedores hasta el producto final y el proceso se "estandariza. Hoy en

17
Duncan, Acheson, op. cit.p. 16.
18
Ibidem, p. 1
19
Freeman, H.D., Statistical Methods for Quality Control,
MechanicalEngineering, April 1937, p. 261.
20
Feigenbaum, A.V., op. cit., 1986, p. 16

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da la herramienta de las cartas de control (CEP) es utilizada por los crculos de


control de calidad para la identificacin de problemas.
En 1931, W.A. Shewhart publica su libro Economic Quality Control of Quality of
Manufactured Product, donde describe las cartas para el control estadstico
del proceso. En medio de los aos 30s los mtodos de control estadstico de
calidad se empezaron a aplicar en la Western Electric, brazo de manufactura de
los laboratorios Bell, sin embargo no fueron reconocidos estos mtodos
ampliamente.

Durante la II guerra mundial se expandi el uso de los mtodos estadsticos de


control de procesos en la industria de la manufactura, la American Society for
Quality Control se form en 1946 para promover su uso. De 1946 a 1949 W.
Deming es invitado a Japn a dar seminarios sobre control estadstico de
calidad a sus industriales, extendiendo el uso de stos mtodos. Aparecen las
obras de Eugene L. Grant y A.J. Duncan sobre control estadstico del proceso.
En occidente es hasta la dcada de los ochenta cuando se voltea hacia los
mtodos estadsticos ya muy comunes en Japn dado el xito industrial de este
pas.

En los aos recientes, empresas de alta tecnologa como Motorola, General


Electric, Xerox, AT&T, etc., desarrollan e implantan una metodologa de calidad
total denominada Calidad 6 sigma con el objetivo de reducir los errores y
defectos a un mximo de 3.4 partes por milln (ppm), donde una de las
herramientas clave es el control estadstico del proceso, que permite obtener
ahorros de costos muy importantes.

CEP en Japn
En 1950 el experto Edwards W. Deming inici el entrenamiento en mtodos
estadsticos en el Japn, incluyendo conferencias dirigidas a los lderes
industriales, en esta poca Kaoru Ishikawa experto japons en control de
calidad inici sus estudios sobre conceptos de control de calidad, describe su
propia motivacin como sigue:

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Yo desarroll un gran respeto por el Dr. Shewhart por medio del


estudio profundo de sus conceptos en cartas de control y
estndares... Sin embargo, me sorprend un poco que en EUA,
donde efectu una visita de estudio, sus mtodos casi no se
aplicaban. Yo deseo importar sus conceptos al Japn y asimilarlos
para adaptarlos a situaciones en Japn, de tal forma que los
productos japoneses mejoraran su calidad21

En 1955, Kaouru Ishikawa introdujo las tcnicas de cartas de control en Japn,


los japoneses aprendieron el control de calidad de occidente, invitaron a
Deming, Juran y otros eruditos a Japn para que les enseasen el control
estadstico del proceso. Sin embargo la implantacin de estas tcnicas fue
posible despus de su modificacin y adaptacin a las empresas japonesas,
incluyendo la creacin de varias herramientas tiles como refinamiento del
control estadstico de calidad, tales como las 7 herramientas estadsticas
utilizadas normalmente por los crculos de control de calidad y la aplicacin de
tcnicas estadsticas avanzadas.

Entre las 7 herramientas estadsticas se encuentran: Diagrama de Ishikawa,


Diagrama de Pareto, Hoja de verificacin, Diagrama de dispersin,
Estratificacin, Histogramas y Cartas de control.

Estas tcnicas junto con las computadoras han alcanzado un alto nivel en
Japn, todas las industrias japonesas confan en los mtodos estadsticos
avanzados para el diseo de productos,22 esto tambin ha permitido que los
supervisores de las fbricas japonesas utilicen estadstica de alto nivel para
analizar problemas. Por ejemplo para el caso del diseo de experimentos se
tiene: el diseo estadstico de experimentos es el arreglo, bajo el cual se
efecta un programa experimental, incluye la seleccin de los niveles ptimos
de los factores que tienen influencia en la calidad del producto 23, ayuda a
optimizar el tiempo y los elementos de diseo, determinando los materiales
ms baratos de tal forma que el producto cumpla las especificaciones, y

21
Ishikawa, Kaouru, "Tributes to Walter A. Shewhart," Industrial Quality Control,
Vol. 22, No. 12, 1967, pp. 115-116.
22
Amsden, R., op. cit. , p. 537.
23
Winer, B., Statistical Principles in Experimental Design, McGraw Hill, 1971. p.
5.

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todava se asegure que el producto se desempear en forma satisfactoria bajo


condiciones variables.

Con la aplicacin del Control Estadstico del Proceso, el trabajador tiene de


nuevo la oportunidad de controlar la calidad de su trabajo, no a travs de
inspeccin 100%, sino a travs de tcnicas de muestreo y de cartas de control,
como mtodo preventivo de defectos, lo que permite su autocontrol para
reducir la variabilidad del proceso de produccin, se complementa con las
siete herramientas estadsticas y el ciclo de control de Deming (planear, hacer,
verificar y actuar).

Desarrollo del Control Estadstico del Proceso


W. A. Shewhart demostr que cuando se extraen muestras de tamao 4 6 de
distribuciones casi normales, triangulares, uniformes, etc., y se calculan las
medias de esas muestras, al graficar las medias en un histograma siguen una
distribucin normal.24

* * * *
** **
*** **
*** **

Distribucin de promedios
Universo de las muestras

Fig. 1.2 Experimentos de Shewhart para las cartas de control

24
Shewhart, W.A., Economic Control of Quality of Manufactured Product, Van
Nostrand Reinhold Co., 1931, p. 182

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Encontr que las medias de las muestras correspondan a las medias de la


poblacin y que la desviacin estndar de las medias de las muestras se
relacionaban con la desviacin estndar de la poblacin, como sigue
(TEOREMA DEL LMITE CENTRAL):


__ (1.1)
X n
Donde n es el tamao de la muestra y es la desviacin estndar de la
poblacin.

Poblacin con media y desviacin estndar y cualquier distribucin.

X1 X2 X3
X-media 1 X-media 2 X-
media 3

Conforme el tamao de muestra se incrementa las muestras se distribuyen


normalmente con media de medias y desviacin estndar de las medias de
las muestras / n. Tambin se denomina Error estndar de la media.

Histogram of Promedios

14

12

10
Frequency

0
3 4 5 6 7
Promedios

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Fig. 1.3 Distribucin de las medias muestrales - Normal

En general si las x i estn distribuidas en forma idntica y su distribucin se


asemeja a la normal, el teorema del lmite central trabaja bien para n>=3 o 4,
condiciones propicias para el control estadstico de los procesos.

Teorema del lmite central


La distribucin normal tiene muchas propiedades tiles, una de estas se refiere
a la combinacin lineal de variables aleatorias independientes. Si x 1, x2 x3, ....,
xn son variables aleatorias independientes no necesariamente normales, con
media 1, 2, ... n y varianzas 12, 22 , ..., n2 respectivamente, entonces la
distribucin del estadstico siguiente:
y = a1x1 + a2x2 + ............. + anxn
es normal con media
y = a11 + a22 + ... + ann
y varianza
y2 = a1212 + a2222...,+ an2n2
donde a1, a2, ... an son constantes.

El Teorema del Lmite Central establece que la distribucin de la variable:

n n
[y -
i 1
i ] i
2
(2.5)
i 1

Se aproxima a la distribucin normal conforme n tiende a infinito. Es decir que


la suma de las n variables aleatorias independientemente distribuidas es
aproximadamente normal, independientemente de la distribucin de las
variables individuales.

La aproximacin se mejora conforme se incrementa n, en general si las x i estn


distribuidas en forma idntica y su distribucin se asemeja a la normal, el
teorema del lmite central trabaja bien para n>=3 o 4, condiciones propicias
para el control estadstico de los procesos.

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Interpretacin
Normalmente para conocer el estado de un proceso en determinado momento,
es necesario obtener un histograma de la caracterstica de inters, tomando al
menos 30 piezas. Se calcula la media y la desviacin estndar de la muestra y
se trata de inferir sobre las caractersticas del proceso. Haciendo esto
peridicamente se pueden tener los comportamientos siguientes:

Hora 4
Hora 2
Hora 3
Hora 1

a) Proceso fuera de control b)Proceso en control


en media y variabilidad en media y esv. est.

Fig. 1.4 Comportamiento de procesos en control y fuera de control 25

Llevando un control de proceso a travs de histogramas no sera prctico y


aprovechando sus hallazgos del comportamiento de las medias Shewhart
sugiri llevar un control del proceso tomando muestras no de 50 piezas, sino
de slo 5 consecutivas, monitoreando el comportamiento del proceso a travs
de las cartas de control de Shewhart, la media del proceso con las medias de
las muestras y la variabilidad con su rango. Tomado lmites de control
establecidos a 3 de medias o rangos.

25
Ford Motor Co., Continuing Process Control and Process Capability
Improvement, Dearborn, Michigan, 1983

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1.3 LAS 7 HERRAMIENTAS BSICAS PARA LA SOLUCIN


DE PROBLEMAS

Figura 3.1 Las 7 herramientas estadsticas de calidad

Fig. 1.5 Las 7 herramientas estadsticas para la mejora y solucin de


problemas

Hoja de verificacin o registro


Se utiliza para reunir datos basados en la observacin del comportamiento de
un proceso con el fin de detectar tendencias, por medio de la captura, anlisis
y control de informacin relativa al proceso. Bsicamente es un formato que
facilita que una persona pueda tomar datos en una forma ordenada y de
acuerdo al estndar requerido en el anlisis que se est realizando. Las hojas
de verificacin tambin conocidas como de comprobacin o de chequeo
organizan los datos de manera que puedan usarse con facilidad ms adelante.

Pasos para la elaboracin de una hoja de verificacin:

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1. Determinar claramente el proceso sujeto a observacin. Los integrantes


deben enfocar su atencin hacia el anlisis de las caractersticas del
proceso.
2. Definir el perodo de tiempo durante el cul sern recolectados los datos.
Esto puede variar de horas a semanas.
3. Disear una forma que sea clara y fcil de usar. Asegrese de que todas las
columnas estn claramente descritas y de que haya suficiente espacio para
registrar los datos.
4. Obtener los datos de una manera consistente y honesta. Asegrese de que
se dedique el tiempo necesario para esta actividad.

Anotar frecuencia de ocurrencia de los eventos (con signos |, X, *, etc.)

Figura 1.6 Ejemplo de hoja de verificacin o registro

Consejos para la elaboracin e interpretacin de las hojas de


verificacin
1. Asegrese de que las observaciones sean representativas.
2. Asegrese de que el proceso de observacin es eficiente de manera que las
personas tengan tiempo suficiente para hacerlo.
3. La poblacin (universo) muestreada debe ser homognea, en caso
contrario, el primer paso es utilizar la estratificacin (agrupacin) para el
anlisis de las muestras/observaciones las cuales se llevarn a cabo en
forma individual.

Ejercicio: Hacer hoja de registro con las antigedades en la


organizacin y concluir:
Antigedad Registro
0.5 -1 aos

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1.1 2 aos
2.1 4 aos
4.1 7 aos
Ms de 7 aos
Conclusiones:

Diagrama de Pareto
Se utiliza para identificar problemas o causas principales:
Herramienta utilizada para el mejoramiento de la calidad para identificar y
separar en forma crtica los pocos proyectos que provocan la mayor parte de
los problemas de calidad.

El principio enuncia que aproximadamente el 80% de los efectos de un


problema se debe a solamente 20% de las causas involucradas.

El diagrama de Pareto es una grfica de dos dimensiones que se construye


listando las causas de un problema en el eje horizontal, empezando por la
izquierda para colocar a aquellas que tienen un mayor efecto sobre el
problema, de manera que vayan disminuyendo en orden de magnitud. El eje
vertical se dibuja en ambos lados del diagrama: el lado izquierdo representa la
magnitud del efecto provocado por las causas, mientras que el lado derecho
refleja el porcentaje acumulado de efecto de las causas, empezando por la de
mayor magnitud.

Pasos para desarrollar el diagrama de Pareto:


1. Seleccione qu clase de problemas se van a analizar.
2. Decida qu datos va a necesitar y cmo clasificarlos. Ejemplo: Por tipo de
defecto, localizacin, proceso, mquina, trabajador, mtodo.
3. Defina el mtodo de recoleccin de los datos y el perodo de duracin de la
recoleccin.
4. Disee una tabla para el conteo de datos con espacio suficiente para
registrarlos.

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5. Elabore una tabla de datos para el diagrama de Pareto con la lista de


categoras , los totales individuales, los totales acumulados, la composicin
porcentual y los porcentajes acumulados
6. Organice las categoras por orden de magnitud decreciente, de izquierda a
derecha en un eje horizontal construyendo un diagrama de barras. El
concepto de otros debe ubicarse en el ltimo lugar independientemente
de su magnitud.
7. Dibuje dos ejes verticales y uno horizontal.

Ejes verticales:
- Eje izquierdo: Marque este eje con una escala desde 0 hasta el total
general
- Eje derecho: Marque este eje con una escala desde 0 hasta 100%

Eje horizontal:
- Divida este eje en un nmero de intervalos igual al nmero de
categoras clasificadas.
8. Dibuje la curva acumulada (curva de Pareto), Marque los valores
acumulados (porcentaje acumulado) en la parte superior, al lado derecho de
los intervalos de cada categora, y conecte los puntos con una lnea
continua.
9. Escriba en el diagrama cualquier informacin que considere necesaria para
el mejor entendimiento del diagrama de Pareto.

Ejemplo de Diagrama de Pareto:


El departamento de ventas de un fabricante de materiales de empaque tiene
registrada una lista de las quejas que se han recibido durante el ltimo mes.
Tipo de queja No. Total Composici Porcentaj
de Acumula n e
quej do Porcentua Acumula
as l do

A) Entregas fuera de tiempo 25 25 35.71 35.71

B) Calibre fuera de 23 48 32.85 68.56


especificaciones

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C) Material sucio y maltratado 7 55 10 78.56

D) Material mal embalado 6 61 8.57 87.13


E) Dimensiones fuera de
especificaciones 3 64 4.28 91.41

F) Inexactitud en cantidades 2 66 2..85 94.26

G) Mala atencin del personal 1 67 1.42 95.68

H) Maltrato del material por 1 68 1.42 97.7


transportistas
I) Fallas en documentacin 1 69 1.42 98.52

J) Producto con cdigos 1 70 1.4 99.94


equivocados

50 99.94
98.52
DIAGRAMA PARETO 97.7
95.68
94.26
91.41

87.13
N %
O 78.56
A
D C
68.56
E U
M
Q U
U L
25 35.71
E A
J
23 D
A O
S 7
6

3
2 Pgina 23
1

A B C D E F G H I J
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Figura 1.7a Diagrama de Pareto

Las quejas A, B y C representan el 78.56%, siendo en estas en las que


debemos de enfocarnos primero a resolver.

Ejemplo: Se tienen los gastos siguientes:


TIPO_GT
O GASTO CANT
Papeler
A a 20
B Toners 60
Vatico
C s 80
Gasolin
D a 30
Copiad
E o 10

Diagrama de Pareto en Minitab


Capture los datos en la columna C1 (tipo de defecto), en la columna C2
(frecuencias)
Seleccione: Stat>Quality Tools>Pareto Chart

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Escoja la opcin Chart defects table , en el campo labels in seleccione:


C1 y en Frequencies in seleccione: C3. Combine defects alter the first
80%.
Clic en OK
El sistema despliega la grfica de Pareto:

Construir un diagrama de Pareto y su lnea acumulativa

Pareto Chart of C1

200 100

80
150

Percent
60
Count

100
40

50
20

0 0
C1 C B D A Other
Count 80 60 30 20 10
Percent 40.0 30.0 15.0 10.0 5.0
Cum % 40.0 70.0 85.0 95.0 100.0

Figura 1.7b Diagrama de Pareto


En la grfica observamos que aproximadamente el 85% de los gastos es
debido a los gastos C, B, D.
Ejercicio: Hacer un diagrama de Pareto con los gastos principales:
Ordenarlos de mayor a menor
Tipo de Descripcin Frecuencia
Gasto

Frecuencia %

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Diagrama de Dispersin
Se utiliza para analizar la correlacin entre dos variables, se puede
encontrar: Correlacin positiva o negativa, fuerte o dbil o sin
correlacin.

El diagrama de dispersin es una tcnica estadstica utilizada para estudiar la


relacin entre dos variables. Por ejemplo, entre una caracterstica de calidad y
un factor que le afecta.

La ventaja de utilizar este tipo de diagramas es que al hacerlo se tiene una


comprensin ms profunda del problema planteado.

La relacin entre dos variables se representa mediante una grfica de dos


dimensiones en la que cada relacin est dada por un par de puntos (uno para
cada variable).

La variable del eje horizontal x normalmente es la variable causa, y la variable


del eje vertical y es la variable efecto.

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Fig. 1.8 Grfica de dispersin donde se observa una correlacin positiva

La relacin entre dos variables puede ser: positiva o negativa. Si es positiva,


significa que un aumento en la variable causa x provocar una aumento en la
variable efecto y y si es negativa significa que una disminucin en la variable
x provocar una disminucin en la variable y.

Por otro lado se puede observar que los puntos en un diagrama de dispersin
pueden estar muy cerca de la lnea recta que los atraviesa, o muy dispersos o
alejados con respecto a la misma. El ndice que se utiliza para medir ese grado
de cercana de los puntos con respecto a la lnea recta es la correlacin. En
total existen cinco grados de correlacin: positiva evidente, positiva, negativa
evidente, negativa y nula.

Figura 1.9 Diagrama de dispersin y su correlacin entre X,Y

Si todos los puntos estuvieran completamente sobre la recta la ecuacin lineal


sera y = a + bx. Como la correlacin no siempre es perfecta, se calculan a y b
de tal forma que se minimice la distancia total entre puntos y la recta. Los
clculos son:

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a
y x 2
x xy
n x x
2 2

n xy x y
b
n x 2 x
2

El ndice de correlacin (r) se puede calcular estadsticamente mediante las


ecuaciones que a continuacin se presentan

SCxy
r
SCx SCy

x y
SCxy xy n

SCx x 2

x 2

SCy y 2

y 2

n
Donde:
r = Coeficiente de correlacin lineal
SCxy = Suma de cuadrados de xy
SCx = Suma de cuadrados de x
SCy = Suma de cuadrados de y

x 2
Sumatoria de los valores de la variable x al cuadrado

y 2
Sumatoria de los valores de la variable y al cuadrado

xy Sumatoria del producto de xy

x 2
Cuadrado de la sumatoria de la variable x

y 2
Cuadrado de la sumatoria de la variable y

n = nmero de pares ordenados (pares de datos x, y)

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El factor de correlacin es un nmero entre 1 (correlacin negativa evidente) y


+1 (correlacin positiva evidente), y r = 0 indicara correlacin nula.
La correlacin se utiliza para cuantificar el grado en que una variable provoca
el comportamiento de otra. Por ejemplo si se encuentra que la variable
temperatura tiene una correlacin positiva con el porcentaje de artculos
defectuosos, se deben buscar soluciones al problema de los artculos
defectuosos mediante acciones asociadas con la variable temperatura; de lo
contrario, sera necesario buscar la solucin por otro lado.

Ejemplo: Un ingeniero que trabaja con botellas de refresco investiga la


distribucin del producto y las operaciones del servicio de ruta para mquinas
vendedoras. El sospecha que el tiempo requerido para cargar y servir una
mquina se relaciona con el nmero de latas entregadas del producto. Se
selecciona una muestra aleatoria de 25 expendios al menudeo que tienen
mquinas vendedoras y se observa para cada expendio el tiempo de solicitud-
entrega (en minutos) y el volumen del producto entregado (en latas). Calcular
el coeficiente de correlacin y graficar. Los datos se muestran a continuacin:
Observacin No. Latas, x tiempo, y x^2 y^2 xy
1 2.00 9.95 4.00 99.00 19.90
2 8.00 24.45 64.00 597.80 195.60
3 11.00 31.75 121.00 1,008.06 349.25
4 10.00 35.00 100.00 1,225.00 350.00
5 8.00 25.02 64.00 626.00 200.16
6 4.00 16.86 16.00 284.26 67.44
7 2.00 14.38 4.00 206.78 28.76
8 2.00 9.60 4.00 92.16 19.20
9 9.00 24.35 81.00 592.92 219.15
10 8.00 27.50 64.00 756.25 220.00
11 4.00 17.08 16.00 291.73 68.32
12 11.00 37.00 121.00 1,369.00 407.00
13 12.00 41.95 144.00 1,759.80 503.40
14 2.00 11.66 4.00 135.96 23.32
15 4.00 21.65 16.00 468.72 86.60
16 4.00 17.89 16.00 320.05 71.56
17 20.00 69.00 400.00 4,761.00 1,380.00
18 1.00 10.30 1.00 106.09 10.30
19 10.00 34.93 100.00 1,220.10 349.30
20 15.00 46.59 225.00 2,170.63 698.85
21 15.00 44.88 225.00 2,014.21 673.20
22 16.00 54.12 256.00 2,928.97 865.92
23 17.00 56.63 289.00 3,206.96 962.71
Pgina 29
24 6.00 22.13 36.00 489.74 132.78
25 5.00 21.15 25.00 447.32 105.75
TOTALES 206.00 725.82 2,396.00 27,178.53 8,008.47
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Utilizando las ecuaciones para obtener el coeficiente de correlacin tenemos:

SCxy = 2027.71
SCx = 698.56
SCy = 6105.94
r = 0.98

El coeficiente de correlacin r = 0.98 por lo cual tenemos suficiente evidencia


estadstica para afirmar que el tiempo de entrega est relacionado con el
nmero de latas.

Figura 1.10 Diagrama de dispersin con tendencia

En la grfica observamos que al aumentar el nmero de latas el tiempo de


entrega aumenta.

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Para realizar el grfico de dispersin en Excel realice el siguiente


procedimiento:

1. Seleccione el icono asistente para grficos.


2. Seleccione el tipo de grfico xy(dispersin), y subtipo de grfico:
dispersin, compara pares de valores.(siguiente)
3. En la pestaa rango de datos seleccione los valores de x y y de la tabla
de datos. En la pestaa serie agregue el ttulo, el rango de valores x, y
se da por default al haber seleccionado el rango de datos .(siguiente)
4. Ponga el titulo del grfico y eje de valores x y y de la tabla de datos. En
esta pantalla puede agregar lneas de divisin al grfico y otras opciones
(siguiente) (finalizar)
5. Para realizar algn cambio, por ejemplo en la escala haga clic en la
escala de valores y aparecer un men que le permitir realizarlos.

Para determinar la funcin de regresin y correlacin en Minitab se siguen los


pasos siguientes (despus de cargar los datos correspondientes a X y a Y en las
columnas C1 y C2):

Minitab > Stat >Regresin ... Indicar la columna de Respuestas Y y la de


predictores X y aceptar con OK. Observar el valor del coeficiente de correlacin
y de determinacin.

Para obtener la lnea de mejor ajuste de la regresin, se procede como sigue en


Minitab:
Minitab > Stat >Fitted Line Plot ... Indicar la columna de Respuestas Y y la de
predictores X, seleccionar si se quiere ajustar con los datos con una lnea, una
funcin cuadrtica o cbica y aceptar con OK. Observar el mayor valor del
coeficiente de correlacin que indica el mejor ajuste.

Ejercicio: Hacer un diagrama de dispersin con los datos siguientes:


Errores (escala 5 por divisin)

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Antige
dad Errores
4 20
2 12
8 36
6 28
10 44
5 25
7 32
1 5

Antiguedad
Conclusiones:

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Histogramas
Se utilizan para ver la distribucin de frecuencia de una tabla de datos

Figura 3.5 Distribucin de frecuencias o histograma

Figura 1.11 Histograma en Excel

Pasos para hacer un histograma:

1. Contar el nmero de datos, identificar el valor mximo, el mnimo y el


rango.

2. Determinar el ancho de clase = Rango / 5 a 8.

3. Contar cuantos datos entran dentro de cada celda.

4. Graficar las frecuencias de cada celda.

Ejercicio: Realizar un histograma con los datos de edades siguientes:


2.41 17.87 33.51 38.65 45.70 49.36 55.08 62.53 70.37 81.21
3.34 18.03 33.76 39.02 45.91 49.95 55.23 62.78 71.05 82.37
4.04 18.69 34.58 39.64 46.50 50.02 55.56 62.98 71.14 82.79
4.46 19.94 35.58 40.41 47.09 50.10 55.87 63.03 72.46 83.31
8.46 20.20 35.93 40.58 47.21 50.10 56.04 64.12 72.77 85.83
9.15 20.31 36.08 40.64 47.56 50.72 56.29 64.29 74.03 88.67
11.59 24.19 36.14 43.61 47.93 51.40 58.18 65.44 74.10 89.28
12.73 28.75 36.80 44.06 48.02 51.41 59.03 66.18 76.26 89.58
13.18 30.36 36.92 44.52 48.31 51.77 59.37 66.56 76.69 94.07
15.47 30.63 37.23 45.01 48.55 52.43 59.61 67.45 77.91 94.47

Paso 1. Nmero de datos = Valor mayor = Valor menor =


Rango =

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Paso 2. Ancho de clase = Rango / 6 = redondear a:


Paso 3. Contar elementos para cada clase:
Columna Intervalo Registro de frecuencias
Frecuencia
1 0 -17
2 18-35
3 36-53
4 54-71
5 72-89
6 90 en
adelante
Paso 4. Hacer la grfica del histograma:

Conclusiones:

Lluvia de ideas (Brainstorming)

En las sesiones de lluvia de ideas se generan nuevas ideas mediante la


participacin de todo el equipo.Para comenzar con el proceso de tormenta de
ideas, en el cual se genera informacin la gente se rene en una sala en la cual
se recomienda la disposicin de las mesas en forma de U para facilitar el
debate. La gente que participa en la sesin deber de pertenecer a diferentes
reas o tener puntos de vista diferentes, esto con el objeto de enriquecer la
sesin.

El facilitador debe de contar con experiencia en la conduccin de sesiones de


tormentas de ideas, o al menos haber tenido experiencias previas.

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Para conducir un grupo se lleva a cabo la siguiente metodologa:


1. Seleccionar el problema a tratar.
2. Pedir a todos los miembros del equipo generen ideas para la solucin del
problema, las cuales se anotan en el pizarrn sin importar que tan buenas o
malas sean estas.
3. Ninguna idea es evaluada o criticada antes de considerar todos los
pensamientos concernientes al problema.
4. Aliente todo tipo de ideas, ya que al hacerlo pueden surgir cosas muy
interesantes, que motivan a los participantes a generar ms ideas.
5. Apruebe la naturalidad y el buen humor con informalidad, en este punto el
objetivo es tener mayor cantidad de ideas as existirn mayores
posibilidades de conseguir mejores ideas.
6. Se les otorga a los participantes la facultad de modificar o mejorar las
sugerencias de otros.
7. Una vez que se tengan un gran nmero de ideas el facilitador procede a
agrupar y seleccionar las mejores ideas por medio del consenso del grupo
de trabajo.
8. Las mejores ideas son discutidas y analizadas con el fin del proponer una
solucin.

La tcnica tormenta de ideas puede ser aplicada con gran frecuencia al llevar a
cabo otras herramientas, como por ejemplo, diagramas causa-efecto
(Ishikawa), Diseo de experimentos, pruebas de confiabilidad, etc.

EJERCICIO: Realizar una lluvia de ideas para solucionar el problema de llegar a


tiempo a algn lugar.

Diagrama de Causa efecto


Muestra la relacin entre una caracterstica de calidad y los factores de
influencia, para encontrar las causas posibles. Se usa la lluvia de ideas,
debe hacerse sin juicios previos y respetando las opiniones.

Tcnica para generar ideas creativas cuando la mejor solucin no


es obvia.

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Reunir a un equipo de trabajo (4 a 10 miembros) en un lugar


adecuado
El problema a analizar debe estar siempre visible
Generar y registrar en el diagrama de Ishikawa un gran nmero de
ideas, sin juzgarlas, ni criticarlas
Motivar a que todos participen con la misma oportunidad
El diagrama causa-efecto, tambin llamado espina de pescado por la
semejanza de su forma, tambin es conocido por diagrama de Ishikawa.

Es utilizado para explorar, e identificar todas las causas posibles y relaciones


de un problema (efecto) o de una condicin especfica en las caractersticas de
un proceso.

Una vez elaborado, el diagrama causa-efecto representa de forma clara,


ordenada y completa todas las causas que pueden determinar cierto problema.

Constituye una buena base de trabajo para poner en marcha la bsqueda de


las verdaderas causas de un problema.

Los pasos para elaborar el diagrama de causa- efecto son los siguientes:

1. Seleccione el efecto (problema) a analizar. Se puede seleccionar a travs de


un consenso, un diagrama de Pareto, otro diagrama o tcnica.
2. Realice una lluvia de ideas para identificar las causas posibles que originan
el problema.
3. Dibuje el diagrama:
- Coloque en un cuadro a la derecha la frase que identifique el efecto
(caracterstica de calidad)
- Trace una lnea horizontal hacia la izquierda del cuadro que contiene la
frase. A esta lnea se le conoce como columna vertebral.
- Coloque lneas inclinadas que incidan en la columna vertebral (causas
principales).
- Dibuje lneas horizontales con flechas que incidan en las lneas
inclinadas conforme a la clasificacin de las causas (causas secundarias)

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- Dibuje lneas inclinadas que incidan en las lneas de las causas


secundarias (causas terciarias)

4. Clasifique las causas derivadas de la lluvia de ideas, de la siguiente manera:


- Causas principales.
- Causas secundarias.
- Causas terciarias.

5. Jerarquice las causas por grado de importancia y defina aquellas que tengan
un efecto relevante sobre la caracterstica especfica.
6. Elabore y ejecute un programa de correccin de las causas relevantes.

Figura 1.12 Diagrama de causa efecto, de Ishikawa o espina de pescado

Ejemplo: En una fbrica de componentes electrnicos se detectaron fallas en


la lnea de ensamble al realizar la prueba de un circuito, por lo cual se procedi
a realizar una investigacin utilizando el diagrama causa-efecto.

El problema es soldadura defectuosa, siendo el efecto que se va a analizar.

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Primero se determinan las causas principales Ms:


Mquinas
Mano de obra
Mtodos
Materiales
Mediciones
Medio ambiente

Estas constituyen las causas primarias del problema y es necesario desafiarlas


para encontrar causas ms especficas secundarias y terciarias.
Se construye el diagrama espina de pescado con las causas primarias (Ms), a
partir de estas causas se agrupan las causas secundarias y terciarias derivadas
de la lluvia de ideas.

MEDICIONES MAQUINAS MANO DE OBRA

DIMENSIONES
VELOCIDAD DE
INADECUADAS FORMACION
FUERA DE AVANCE
DIMENSIONES
TEMPERATURA HABILIDAD
ESPECIFICADS
ANGULO LIMITES
INCORRECTO DE PUNTA OXIDADA ERGONOMICOS
FORMA
LA FLAMA PUNTA

SOLDADURA DEFECTUOSA

UNION
SUPERFICIE SOLDADURA
S CON LACA DE
POLVO E SECUENCIA PROTECCION
IMPUREZAS SOLDADURA
TIEMPOS DE TERMINALES
ESPERA DESOXIDANTE

CORTOS OXIDADOS
MEDIO AMBIENTE MTODOS MATERIALES

Figura 1.13 Diagrama de causa efecto

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El equipo analiza cada causa y por medio de eliminacin y consenso determina


cuales son las verdaderas causas que estn ocasionando el problema. Una vez
determinada las causas se realiza un anlisis Por qu, Por qu, por qu (Why-
Why Why), el cual consiste en preguntarnos cinco veces por qu?, para
encontrar la causa raz del problema.

En el ejemplo anterior las causas primarias fueron agrupadas en (Ms):


mediciones, mquinas, personal, medio ambiente, mtodos y materiales. Es
posible realizar este diagrama con causas primarias diferentes a las Ms, ej:

Problema: Por qu la versin del sistema Abacab, no satisface los


requerimientos del cliente.
Las causas primarias en las que se organiza este problema son las siguientes:

Polticas y procedimientos del sistema


Funcionalidad.
Diseo
Accesibilidad
Tiempo de respuesta
Confiabilidad

Diagrama de Causa Efecto en Minitab


Capture los datos en la columna C1 (tipo de defecto), en la columna C2
(frecuencias)
Seleccione: Stat>Quality Tools>Cause and Effect Diagram

Llenar las columnas C1 a C5 con las diferentes causas correspondientes


a los conceptos de Personal, Mquinas, Materiales, Mtodos, Mediciones
y Medio ambiente.

Introducir los datos en la pantalla de entrada, indicando el problema en


Effect y aceptar con OK.

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Ejercicio: Realizar un Diagrama de Causa efecto para identificar las


causas potenciales de un problema y concluir.

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Carta de tendencias
Definicin:
Es una ayuda grfica para el control de las variaciones de los procesos
administrativos y de manufactura.

Usos:
Saber el comportamiento de un sistema o proceso durante el tiempo.
Tomar las acciones correctivas a tiempo si la tendencia afectar en forma
negativa.

Ejemplo: Se tienen los datos siguientes de errores de planeacin de la


produccin durante 15 semanas: Se puede hacer en Minitab con Stat, Quality
Tools, Run Chart, Subgroup size = 1

Permite observar el comportamiento de los datos durante un periodo de


tiempo determinado.

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Fig. 1.14 Carta de tendencias

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Diagrama de flujo
Dentro de los sistemas de calidad resulta de gran utilidad representar la
estructura y relaciones de los sistemas mediante diagramas de flujo.

Ventajas de los diagramas de flujo


Proveen una secuencia grfica de cada uno de los pasos que componen una
operacin desde el inicio hasta el final. Permitiendo una mejor visualizacin
y comprensin del proceso.
Los diagramas de flujo pueden minimizar grandes volmenes de
documentacin, incluyendo la documentacin ISO 9000.
Facilitan el desarrollo de Procedimientos Estndar de Operacin.
Al tener un procedimiento de operacin estndar se reduce en gran medida
la variacin y el tiempo de ciclo.
Los diagramas de flujo permiten detectar reas de mejora en los procesos.

Se utiliza para identificar los procesos, las caractersticas crticas en


cada uno, la forma de evaluacin, los equipos a usar, los registros y plan
de reaccin, se tienen los tipos siguientes:
Diagramas de flujo de proceso detallados
Diagramas fsicos de proceso
Diagramas de flujo de valor

Fig. 1.15 Smbolos utilizados en los diagramas de flujo

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Descripcin de smbolos
En la construccin de diagramas de flujo de procesos se utilizan los smbolos
descritos a continuacin:

Operacin de transformacin: de la cual resulta un


cambio fsico o qumico del producto.

Inspeccin: Verificacin de alguna caracterstica mediante


un estandar de calidad prestablecido.

Transporte: Movimiento fsico del producto o un


componente.

Demora: Indica la necesidad de un periodo de inactividad


en espera de operacin inspeccin o transporte.

Almacenamiento: Mantener un producto en


almacenamiento hasta
que contine su procesamiento o sea vendido.

Pasos para la elaboracin de un diagrama de flujo

1. Describir el proceso a evaluar: Es importante comenzar con los


procesos que se consideran de mayor impacto en la organizacin.

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2. Definir todos los pasos que componen un producto o servicio:


Existen diferentes maneras de hacerlo. Una de ellas consiste en que el
equipo de trabajo anote en tarjetas los diferentes pasos que conforman
el proceso, con este mtodo el equipo puede arreglar y ordenar los
pasos del proceso. Otra manera de hacerlo es mediante el uso de
programas de diagramas de flujo en computadoras, de esta manera se
tiene mayor flexibilidad que en el mtodo anterior y se ahorra bastante
tiempo.
Cada paso deber de ser discutido y analizado a detalle utilizando la
pregunta por qu se hace de esta manera?

3. Conectar las actividades: Cuando los pasos que componen el proceso


han sido descritos se construye el diagrama de flujo, conectando las
actividades mediante flechas, cada smbolo debe describir la actividad
que se realiza con pocas palabras.

4. Comparar el proceso actual con el proceso considerado como


ideal las siguientes preguntas pueden servir de gua:
Existen pasos demasiado complejos?
Existe duplicidad o redundancia?
Existen puntos de control para prevenir errores? deberan de existir?
El proceso funciona en la manera en la cual debera de hacerse?
Se puede realizar el proceso de diferente manera?

5. Mejoras del proceso: Una vez que se contestan las preguntas


mediante tormenta de ideas se realizan mejoras. Definiendo los pasos
que agregan valor y los que no agregan se puede llevar a cabo una
simplificacin sustancial del proceso.
Las mejoras son priorizadas y se llevan a cabo planes de accin.

6. Implementar el nuevo procedimiento: Una vez realizadas las


mejoras se dan a conocer a las personas involucradas en el proceso y se
verifica su efectividad.

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Diagrama de flujo: Una visita a la farmacia 26

Ejemplo: Operacin de despacho de una frmula.

EVENTO SMBOL TIEMP DISTANCI


O O A (pies)
(min.)
Abrir la puerta, caminar hacia el rea de la 0.8 50
farmacia del almacn.
Esperar para ser atendido. 1

Sacar la frmula de la billetera o del 0.4


bolsillo y entregarla al dependiente.
Esperar hasta cuando el dependiente 10
despache la frmula y calcule el valor.
Sacar la tarjeta de crdito de la billetera y 0.4
entregarla al dependiente.
Esperar que el dependiente diligencie el 1
desprendible de la tarjeta de crdito.
Verificar el desprendible 0.2

Firmar el desprendible 0.1

Esperar el desprendible y el medicamento 0.3

Colocar la tarjeta y el desprendible dentro 0.2


de la billetera
Recoger el medicamento y caminar de 0.8 50
regreso hasta la puerta

Figura 1.16 Ejemplo de diagrama de flujo

26
Adaptado de Hamid Noori/Russell Radford, Administracin de Operaciones y
produccin, Ed. Mc.Graw Hill Pp.282

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Ejercicio: Hacer el diagrama de flujo de un proceso e identificar reas


de oportunidad

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Diagrama de flujo de tiempo valor agregado


Es utilizado para detectar cuales son las actividades que agregan valor al
proceso y las que no agregan valor.

Pasos para realizarlo:


Dibujar una lnea horizontal para representar el tiempo total que se ocupa en
el proceso.
Relacione todos los pasos del proceso detalladamente, despus decida si el
paso tiene valor para el cliente.
Dibujar una lnea vertical fina que represente el tiempo que se requiere para
completar el paso.
Dibjela arriba de la lnea, si representa valor agregado, o debajo si no lo
representa.
En cada lnea vertical seale el paso del proceso.
Puede dibujar una barra con el tiempo de valor agregado como porcentaje de
tiempo total del proceso.

Ventajas:
Delinea grficamente la cantidad de tiempo sin valor que se usa en el
proceso.
Ayuda a reducir el tiempo sin valor y eliminar pasos innecesarios.

Ejemplo

Visita al consultorio mdico

Espera Espera

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Figura 1.17 Diagrama de flujo de valor

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Diagrama de Flujo Fsico


Pasos para realizarlo:
Dibuje el esquema fsico de su rea de trabajo, incluyendo estaciones de
trabajo, reas de espera, reas de mquinas, etc.
Use flechas para delinear el flujo de la parte dentro del rea. Cada flecha debe
delinear un paso del proceso.
Ventajas

Muestra el nmero de movimientos para completar el proceso.


Muestra la complejidad del flujo y las curvas.
Puede aadir tiempo a cada paso, para mostrar cuellos de botella y tiempo
sin valor agregado Vs tiempo con valor agregado.

Edificio A

Edificio B

Figura 1.18 Ejemplo de diagrama de flujo fsico

EJERCICIO: Realizar un diagrama de flujo de un proceso

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Estratificacin
Se utiliza para separar un aspecto general en los estratos que lo
componen, por ejemplo, por regiones, estados, municipios, etc.
Clasificacin de los datos o factores sujetos a estudio en una serie de
grupos con caractersticas similares.

Problemas con boletas


Por regin

Por estado

Por municipio

Figura 1.19 Estratificacin de un problema

Ejercicio: Describir un ejemplo de estratificacin de un aspecto


poblacional
Inicio:
Primer paso:

Segundo paso:

Tercer paso:

Las cartas de control


Sirven para monitorear el proceso, prevenir defectivos y facilitar la
mejora. Hay dos tipos de cartas de control: por atributos (juzga
productos como buenos o malos) y por variables (variables como,
temperaturas).

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Figura 1.20 Carta de control con sus lmites de control y lnea central

Figura 1.21 Patrones de anormalidad en cartas de control

Las cartas de control detectan la variacin anormal en un proceso,


denominadas causas especiales o causas asignables de
variacin.
El patrn normal de un proceso se llama causas de variacin
comunes.
El patrn anormal debido a eventos especiales se llama causa
especial de variacin.

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1.4 MTODOS LEAN PARA LA MEJORA


A continuacin se muestran los mtodos para hacer ms flexibles y esbeltas
las operaciones en las organizaciones:

Los 7 desperdicios o Muda

Son aspectos que no agregan valor al cliente, es decir no est dispuesto a


pagar por ellos y hacen que la operacin sea costosa y lenta:

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Servicios no requeridos
Movimientos excesivos
e innecesarios
Transportes innecesarios
Inventarios innecesarios
Esperas o firmas innecesarios
Errores
Retrabados o reinspecciones

Ejercicio: Identificar tres Mudas en la organizacin


_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Mtodos Lean para la mejora

Para reducir el Muda se utilizan diversos mtodos Lean como son:


Mapeo de la cadena de valor
Las 5 Ss
Cambios rpidos (SMED)
Poka Yokes o A Prueba de error
Trabajo estandarizado

Mapeo de la cadena de valor


Se trata de realizar un mapeo de los procesos, identificando las actividades que
no agregan valor (Muda) para su reduccin o eliminacin, as como las
actividades que agregan valor para su optimizacin, a continuacin se presenta
un ejemplo:

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Ejercicio: Mejora del tiempo de ciclo de atencin en una sala de


emergencia:

Se realiza un mapeo del proceso con todas las actividades relacionadas con la
atencin en una sala de emergencia, considerando tiempos y distancias.

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Se identifican las actividades que representan Muda y que son actividades que
no agregan valor y se reducen o eliminan, quedando el proceso mejorado
como sigue:

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Las 5 Ss y la administracin visual

Objetivo: Encontrar cualquier cosa y tener idea del estado de la


operacin en menos de 30 segundos, por una persona familiarizada con
el rea de trabajo.
Palabras japonesas que inician con s: Seiri, Seiton, Seiso, Seiketsu y
Shitsuke.

1.- SEIRI significa: ORGANIZAR y SELECCIONAR:


Trabajo en proceso, Herramientas innecesarias, Maquinaria no
ocupada, Productos defectuosos, Papeles y documentos, lo ms
importante en este punto es:

Diferenciar entre lo necesario y lo innecesario.

Fig. 1.22 reas de oportunidad para 5Ss

2.- SEITON significa PONER LAS COSAS EN ORDEN.


Las cosas deben mantenerse en orden de manera que estn listas para
ser utilizadas cuando se necesiten.

Fig. 1.23 Implementacin del orden de 5Ss

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3.- SEISO significa: LIMPIEZA.


Mantener limpio el lugar de trabajo.

4.- SEIKETSU significa: LIMPIEZA ESTANDARIZADA.


Hacer del aseo y de la pulcritud un hbito,
principiando con la propia persona.

5.- SHITSUKE (DISCIPLINA).


Seguir los procedimientos en los procesos administrativos y de
manufactura.

Las 5s se han definido como Seleccin u Organizacin, Orden,


Limpieza, Estandarizacin y Disciplina. Los dos elementos ms
importantes son la Organizacin y el Orden ya que de ellos depende el
xito de las actividades de Mejora.

Trabajan en medio del polvo, suciedad, desorden, aceite, etc.


dificulta la bsqueda de piezas, tiles, informacin, requisiciones,
herramientas etc. evitando esto se previenen los accidentes, no se
generan defectos y todo se encuentra.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad de aplicacin de las 5Ss en


la organizacin
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Preparaciones rpidas (SMED)

Objetivo: Cambiar el proceso para un servicio diferente en menos de 10


minutos
1. Formar un equipo de trabajo
2. Filmar las actividades de preparacin
3. Separar actividades de preparacin internas y externas
4. Convertir actividades de preparacin internas a externas
5. Afinar las operaciones (paralelo, externas, etc.)
6. Verificar resultados y dar reconocimiento al equipo

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La Preparacin interna (IED), son las operaciones realizadas con el


servicio suspendido.
La Preparacin externa (OED), son las operaciones realizadas mientras
se estn proporcionando los servicios.

Ejemplo de Cambio rpido SMED: Se redujo el tiempo de


preparacin en una estacin de servicio de 11 minutos a 1 minuto, ya
que antes primero se detena, llamaban al dependiente, buscaba las
mercancas, etc. ahora las mercancas clave estn cerca del mostrador y
no se pierde tiempo. Otro ejemplo es la obtencin de pasaportes en 40
minutos o un trmite en las oficinas de hacienda.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar cambios


rpidos.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Poka Yokes o A prueba de error

Objetivo: Prevenir o detectar la ocurrencia de errores humanos.


Causas de los errores:
Procedimientos incorrectos
Variacin excesiva en procedimientos
Procesos o procedimientos no claros o no documentados
Errores humanos mal intencionados
Cansancio, distraccin, Falla de memoria o confianza, etc.

Pasos para el desarrollo de Poka Yokes


1. Describir el defecto: Formar un equipo de trabajo, mostrar la tasa de
errores
2. Identificar el lugar donde se descubren o producen los errores
3. Detalle de los procedimientos de la operacin donde se producen los
errores
4. Identificar desviaciones de los procedimientos donde se producen los
errores. Identificar las condiciones donde se ocurren los errores
(investigar)
6. Identificar el tipo de dispositivo Poka Yoke requerido para prevenir el
error.
7. Desarrollar un dispositivo Poka Yoke

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Ejemplo: Instalacin de puertas automticas para permitir la entrada


solo a personal autorizado.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar A Prueba


de error / Poka Yokes.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Trabajo estandarizado
Objetivo: Documentar en instructivos, procedimientos y ayudas
visuales, la forma como deben realizarse las operaciones y actividades
para que todos las realicen de la misma manera, para tener productos
homogneos.

Por estandarizacin se entiende:


Siempre seguir la misma secuencia de trabajo
Los mtodos totalmente documentados
Los mtodos estn visibles en cada estacin de trabajo
El material y documentos de trabajo estn colocados siempre en el
mismo lugar
La informacin se presenta de la misma forma en toda la
organizacin
Se tiene el registro del movimiento detallado del cuerpo humano

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar


procedimientos e instructivos para estandarizar las operaciones.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

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1.5 LAS SIETE HERRAMIENTAS ADMINISTRATIVAS

Diagrama de afinidad:
o Organiza grandes cantidades de informacin

Diagrama doble de interrelaciones:


o Muestra los enlaces de causas y efectos entre aspectos
relacionados

Diagrama de rbol:
o Diagrama los niveles de destalle para alcanzar un objetivo
principal y los objetivos secundarios relacionados

Diagrama Matricial:
o Muestra las relaciones y correlaciones entre ideas

Matrices de prioridad:
o Asigna prioridades a asuntos, tareas o posibles opciones con
base en criterios conocidos

Carta de Programa de Decisin de Procesos (CPDP):


o Revela cadenas de eventos y planes de contingencia

Diagrama de redes y actividades:


o Desarrolla u programa para tareas complejas

APLICACIONES

Las herramientas para la mejora continua se emplean de manera ideal


en los casos siguientes:
Dividir un requerimiento general de detalles especficos
Identificar y eliminar las causas raz de un problema
Programar actividades complejas
Planeacin de contingencia
Ayudar a una organizacin a pasar de la manera antigua de pensar
a otras formas ms novedosas de hacerlo
Realizar una seleccin final de una lista de opciones
Evaluar opciones de diseo de producto

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Diagrama de Afinidad

Es una herramienta que se emplea para organizar grandes cantidades


de informacin agrupando los aspectos de la misma con base en
relaciones clave entre ellos; tambin se conoce como mtodo KJ. Cuando
se emplea este diagrama, se organizan las ideas o reas generales de
problemas para adquirir la comprensin de un problema o asunto
complejo, as como para identificar las causas potenciales de un
problema. La herramienta ayuda a mejorar el compromiso y el apoyo del
equipo.

- Usar cuando existe un caos, el equipo aporta ideas, se requiere un


pensamiento trascendental o el tema es un aspecto amplio.

PASOS
1. Reunir el equipo y elegir un lder, todos relacionados con el asunto
a tratar.
2. Establecer el asunto o problema en forma de pregunta.
3. Realizar una tormenta de ideas respecto al problema o aspecto y
registrarla en fichas de trabajo.
4. Desplegar las tarjetas en una mesa grande o muro.
5. Acomodar las tarjetas en pilas similares o por familias.
6. Crear tarjetas de encabezado
7. Dibujar el diagrama de afinidad
a. Trazar un crculo en torno a cada agrupamiento
b. El diagrama queda completo cuando el equipo alcanza el
consenso

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8. Discutir el diagrama de afinidad

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FUENTE
HTTP://WWW.SAPDESIGNGUILD.ORG/RESOURCES/GLOSSARY_USAB/IMAGES/AFFINITYE
E1.JPG

FUENTE:
HTTP://WWW.MEX.OPS-
OMS.ORG/DOCUMENTOS/TUBERCULOSIS/MEJORA/4_DIAGRAMA_AFINIDAD.PDF

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Fig. 1.24 ejemplos de diagrama de afinidad

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Diagrama doble de Interrelaciones

Un diagrama doble de interrelaciones es una herramienta grfica que se


emplea para organizar problemas o aspectos complejos y que implican
muchas variables, se emplea para estudiar las relaciones entre los
elementos de un problema e identificar las causas raz o las soluciones,
es similar al diagrama de afinidad en la medida que el proceso de
construccin de una grfica doble interrelaciones es creativo.

Ayuda a identificar las causas potenciales de un problema. permite que


el equipo observe al mismo tiempo muchos efectos y trace la relacin
entre dichos efectos y varias causas.

PASOS
1. Reunir el equipo y elegir un lder.
2. Poner el asunto o problema en forma de pregunta.
3. Realizar una tormenta de ideas respecto al problema o aspecto y
registrarla en fichas de trabajo.
4. Analizar las relaciones.
5. Revisar el Diagrama doble de interrelaciones.
6. Identificar causas y efectos raz.
a. Una causa raz es una categora de la que sale la gran
cantidad de flechas.

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b. Un efecto raz es una categora a la que llega una gran


cantidad de flechas.
7. Estudiar el Diagrama doble de interrelaciones.

FUENTE: PRIMER CERTIFIED QUALITY MANAGER WWW.QUALITY


COUNCIL.COM

FIG. 1.25 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE INTERRELACIONES

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FUENTEHTTP://WWW.CALIDADEDUCATIVA.ORG/CONGRESO2008/MEMORIA/
TUFINO_COMPLEMENTARIO/TUFINO_INTERRELACION.PDF

Fig. 1.26 ejemplos de diagrama de interrelaciones

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Diagrama de rbol

Un diagrama de rbol (diagrama sistemtico) es una tcnica que se


emplea para buscar la forma ms apropiada y eficaz de alcanzar un
objetivo especfico. Esta herramienta grfica de diagrama los diversos
niveles de detalle, estos representan acciones (o tareas) que siguen
rutas lgicas para implantar un objetivo amplio. Al implantar los puntos
detallados de accin, se crea un efecto de dominio que lleva al logro del
objetivo principal.

Cuando se trabaja sobre un objetivo amplio, un diagrama de rbol ayuda


a orientar tareas especficas, es posible emplearlo para planear la
implantacin de una solucin detallada en forma ordenada. El diagrama
de rbol funciones para dividir un aspecto u objetivo ms complejo.

PASOS
1. Reunir un equipo apropiado.
2. Elegir la declaracin de objetivo.
3. Generar los encabezados de primer nivel del rbol
4. Completar el diagrama de rbol bajo cada encabezado principal
5. Revisar el diagrama de rbol terminado.

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FUENTE:
HTTP://WWW.PROGRAMAEMPRESA.COM/EMPRESA/EMPRESA.NSF/PAGINAS/B274A80F363DE0
39C12570290041808D?OPENDOCUMENT

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FUENTE
HTTP://DGPLADES.SALUD.GOB.MX/2006/HTDOCS/HG/NUEVAS/HESTRA7.PD
F
FIG. 1.27 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE RBOL

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FIG. 1.28 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE RBOL

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Diagrama Matricial

FIG. 1.29 EJEMPLO DE DIAGRAMA MATRICIAL

Los diagramas matriciales son herramientas que se emplean para


revelar las correlaciones entre ideas, tares y responsabilidad y que
aparecen en diversas formas matriciales, es posible emplear estas
herramientas para organizar y comparar dos o ms conjuntos de
artculos para mostrar cules de ellos estn relacionados, asimismo
pueden mostrar la fortaleza estadstica y la direccin de influencia de
cada relacin.

Pueden tener cualquiera de las siguientes formas: L, T, Y, X y C

PASOS
1. Reunir a un equipo apropiado
2. Elegir las consideraciones clave
a. Qu tipo de informacin se desea mostrar en la matriz?
3. Elegir la forma apropiada de la matriz
4. Definir los smbolos de relacin a emplear y crear una leyenda
5. Concluir la matriz.

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FUENTE: CQM PRIMER WWW.QUALITYCOUNCIL.COM


FIG. 1.30 EJEMPLOS DE DIAGRAMA MATRICIAL

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DIAGRAMAS MATRICIALES 27

FIG.
1.31 DIAGRAMA MATRICIAL EN L DIAGRAMA
MATRICIAL A

FIG.
1.32DIAGRAMA MATRICIAL EN T DIAGRAMA MATRICIAL
EN Y

27
Diagramas tomados de la direccin www.fundibeq.org 28 de diciembre de
2008

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FIG.1.33 DIAGRAMA MATRICIAL EN X DIAGRAMA MATRICIAL


EN C TRIDIM

FIG.
1.34 APLICACIN EN EL DESARROLLO DEL PRODUCTO
(MATRIZ DE QFD):

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Matrices de Prioridades o prioritizacin

Las matrices de prioridades son herramientas para tomas decisiones.


Utilizando criterios ponderados y acordados, se emplean tales
herramientas para asignar prioridades a aspectos, tareas u opciones
posibles. Se basan en la combinacin de un diagrama de rbol y uno
matricial.

Pueden ayudar a reducir el nmero de opciones; de modo que sea


posible tomar decisiones con mayor facilidad, debido a que las matrices
de prioridades proporcionan un enfoque lgico a la eleccin de un
conjunto de opciones, son ideales para elegir un problema para que lo
ataque el equipo y estrechar una lista de soluciones potenciales para un
problema.

PASOS

1. Reunir un equipo apropiado.


2. Establecer el objetivo principal a alcanzar y las opciones
que ayuden a lograrlo.
3. Generar los criterios por los que se juzgarn las opciones.
4. Juzgar cada criterio contra todos los dems.
5. Comparar entre s las opciones para todos los criterios
retenidos.
6. Compara cada opcin con base en todos los criterios
combinados.

Brassard28 proporciona tres tipos de matrices de prioridades:

El mtodo del criterio analtico completo


El mtodo del criterio de consenso
El mtodo combinado de Diagrama de relaciones y Matriz

Loa criterios son prioritizados, ponderados y aplicados contra las


opciones de decisin generadas, seleccionando una decisin con base
en nmeros como resultado.

28
Brassard, M. (1989), The Memory jogger plus +, Methuen, Goal/QPC

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Fuente: CQM PRIMER www.qualitycouncil.com

Fig. 1.35 Ejemplos de matrices de priorizacin

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Carta de Programa de Decisin de Procesos (CPDP)

Cambiar fecha
de reunin
Reservar sala Sala de reuniones
de reuniones no disponible
Reservar otro
sitio

Rentar equipo
audiovisual
Planeacin de Verificar equipo Equipo audiovisual
una reunin audiovisual no disponible
Reservar otro
sitio

Banquete no
Ordenar a otro
disponible
proveedor
Efectuar los
arreglos de
alimentacin Solicitar un
men distinto
Men no
disponible
= Seleccionado Ordenar otro
= No factible proveedor de
banquetes

Fig. 1.36 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP -


reunin

Una Carta de programa de decisin del proceso (CPDP) es una


herramienta dinmica de planeacin que se emplea para diagramar en
forma sistemtica todas las posibles cadenas de eventos para alcanzar
un objetivo amplio o para implantar una solucin compleja.

Se enumeran todos los eventos concebibles y una contramedida


apropiada en este flujo cronolgico, se emplea este mtodo cuando
existe incertidumbre en un proceso de implantacin, cuando el problema
u objetivo es nico o desconocido.

Las Cartas de programa de decisin del proceso se clasifican por las


herramientas que se emplea:
CPDP planeado por adelantado: anticipan lo inesperado antes
de la implantacin verdadera. Se efecta una tormenta de ideas
de todas las distintas posibilidades y se elaboran planes de
contingencia con anticipacin.

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CPDP en tiempo real: se desarrollan alternativas durante la


implantacin.

La CPDP se clasifica por el formato grfico:


Grfico: combinacin de diagrama de rbol y diagrama de flujo.
Descripcin: lista numerada de eventos y contramedidas.

Se emplea una CPDP para describir de manera sistemtica una solucin


u objetivo complejos, otro propsito es probar teoras durante la
implantacin de una solucin compleja.

PASOS
1. Reunir el equipo apropiado
2. Elegir el flujo bsico de implantacin
3. Elegir el formato de la carta
4. Establecer el objetivo principal
5. Enumerar los pasos del proceso
6. Determinar contramedidas
7. Evaluar las contramedidas
- Evaluar las contramedidas y marcarlas en la forma
siguiente
= Seleccionada
= No factible

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Fig. 1.37 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP en


general

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FUENTE HTTP://SYQUE.COM/QUALITY_TOOLS/TOOLS/TOOLS12.HTM

Fig. 1.38 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP


para manufactura

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Diagrama de redes de actividades

Un diagrama de redes de actividades (tambin conocido como diagrama


de flechas) es una tcnica de administracin de redes de uso
generalizado para la planeacin e implantacin de tareas complejas, en
particular las ms comunes que cuentan con subtareas conocidas. Es
una combinacin de la Tcnica de Revisin y Evaluacin y Programas
(PERT) y el Mtodo de Ruta Crtica (CPM).

Se emplea el diagrama de redes de actividades para desplegar


soluciones complejas con programas muy estrictos de tiempo. Identifica
los pasos y subtareas y muestra el flujo de rutas simultneas de
implantacin

PASOS
1. Reunir el equipo apropiado.
a. Los miembros del equipo debern conocer a fondo las tareas
y subtareas
2. Identificar todas las tareas que requiere el proyecto.
3. Determinar la secuencia de actividades.
4. Calcular el tiempo que se requiere cada actividad.
5. Calcular la ruta crtica del proyecto.
6. Calcular la fecha ms tarda de inicio y ms temprana de
conclusin de cada subtarea.
7. Calcular la holgura total.
8. Disear el diagrama de redes de actividades.

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EJEMPLO: INAUGURACIN DE UN NUEVO RESTAURANTE

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Fig. 1.39 Ejemplo de diagrama de flechas (PERT)

El TE de un evento representa el tiempo ms breve posible en que el


evento puede alcanzarse, y se calcula sumando los tiempos t de la secuencia
de actividades que conduce al mismo.
Cuando hay ms de un camino que conduce a un evento, el camino que
consume el mayor tiempo, determina el tiempo ms breve posible en que
puede esperarse alcanzar dicho evento.
El valor TE de un evento N se calcula de la siguiente manera:
a) Se empieza con el primer evento (su TE es igual a cero), considerando sus
directos sucesores etc..., hasta llegar al ltimo evento del proyecto. (Su TE
indica el tiempo mnimo esperado para terminar el proyecto).
b) Se identifican todos los eventos que preceden directamente al evento N.
c) Para cada uno de estos eventos se aade a su TE la duracin t de la
actividad que le conecta con el evento N.

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d) Se elige entre los resultados as obtenidos el mayor. Este ser el nico TE del
evento N. Los dems valores obtenidos son irrelevantes y no se volvern a
considerar.
Los valores TE as obtenidos, se escribirn en el Diagrama de Flechas por
encima del respectivo evento.
El TL de un evento representa el tiempo mximo en que debe
alcanzarse el evento para poder seguir el proyecto tal y como ha sido
planificado, siendo el TL del ltimo evento el tiempo establecido para finalizar
el proyecto.
El valor TL de un evento N se calcula de la siguiente manera:
a) Se empieza con el ltimo evento (= fin del proyecto), operando en sentido
inverso hasta el primero. El TL del ltimo evento se considera aqu como un
dato externo, ya establecido. (Deseo del cliente, compromiso, fecha
"orientativa" interna, a menudo el valor TE obtenido en el Paso 4 para el
evento final del proyecto, etc...).
b) Se identifican todos los eventos sucesores del evento N.
c) Para cada uno de estos eventos se resta de su TL la duracin t de la
actividad que le conecta con el evento N.
d) Se elige entre los resultados as obtenidos el menor. Este ser el nico TL
del evento N. Los dems valores obtenidos son irrelevantes y no se volvern a
considerar.

Los valores TL as obtenidos, se escribirn en el Diagrama de Flechas debajo


del respectivo evento.

La holgura de un evento es la diferencia entre el tiempo mximo permisible y


el tiempo mnimo posible para alcanzarlo.
La holgura indica entonces el margen de seguridad de tiempo de que se
dispone para alcanzar este evento, sin comprometer el plan de marcha del
proyecto. La holgura de un evento puede ser positiva, negativa o igual a cero.

El camino crtico es aquella secuencia de actividades, desde el primer evento


hasta el ltimo, en la que los eventos disponen de la holgura mnima.

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Se identificar en el Diagrama de Flechas, el camino crtico, sealando las


actividades que lo constituyen con lneas ms gruesas.

Fig. 1.40 Determinacin de la Ruta Crtica en el diagrama de flechas


(PERT)

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1.6 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE


CALIDAD

Se utilizan tres mtodos estadsticos principales para la mejora de la calidad y


la solucin de problemas: las cartas de control, el diseo de experimentos y el
muestreo estadstico, adems de las herramientas estadstica para la solucin
de problemas en planta por grupos de trabajo o Crculos de calidad.

Cartas de control
En 1924 WALTER SHEWHART realiz experimentos y desarroll las Cartas de
Control en la planta telefnica Western Electric de los los Bell Labs, las cuales
tienen las siguientes caractersticas:
Tcnicas tiles para el monitoreo de procesos
Permiten identificar situaciones anormales en 6Ms
Sirven para prevenir la generacin dekrajewski
defectivos

Fig. 1.41 Carta de control


LSC = Lmite superior de control
LC = Lnea central
LIC = Lmite inferior de control
Fig. 1.4 Carta de control de Shewhart y sus lmites de control

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La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos,
cuando se presentan variaciones anormales donde las medias o los rangos
salen de los lmites de control, es seal de que se debe tomar accin para
remover esa fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico proporciona un
excelente medio para reducir la variabilidad.

Diseo de experimentos
Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que
tienen influencia en las caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un
mtodo para variar en forma sistemtica los factores controlables del proceso y
determinar los efectos que tienen esos factores en los parmetros finales del
producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que
optimicen el desempeo del proceso. Fisher inicia el desarrollo del diseo de
experimentos en la agricultura en Inglaterra en los aos 1920s.
ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP

INSUMOS DEL PROCESO Y CARACT.DE


CALIDAD PROCESO

Materias primas,
Componentes, etc.

Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES

Fig. 1.42 Proceso de produccin, entradas y salidas

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El principal mtodo para disear experimentos es el diseo factorial, en el cual


los factores son variados de tal forma de probar todas las posibles
combinaciones de los niveles de los factores.

El diseo de experimentos es una herramienta fuera de lnea es decir se utiliza


durante el desarrollo de los productos o procesos, ms que durante su
fabricacin.

Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del
proceso, normalmente es necesario modelar la relacin entre estas variables y
la caracterstica de calidad de inters. Para lo cual se puede utilizar el anlisis
de regresin.

El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las


caractersticas de calidad se hace por medio de cartas de control.

Muestreo de aceptacin
Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona
e inspecciona una muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una
aceptacin o rechazo de ese lote mayor, esto ocurre en la recepcin de
materias primas y componentes y en el producto terminado.

Tiene las siguientes ventajas:

- El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%


- Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas
destructivas.
- Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que
con una pequea muestra puede ser rechazado el total de us lote.
Entre sus desventajas se encuentran:
- Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad
finita de encontrar productos defectivos en la muestra.
- Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.

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- No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.

LOTE MUESTRA ALEATORIA


Fig. 1.43 Esquema del muestreo estadstico
En 1926 HAROLD F. DODGE Y HARRY G. ROMIG, desarrollaron las tcnicas
de Muestreo Estadstico.

A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.

a) INSPECCIN EN LINEA ENVIO

PROCESO INSPECCION CLIENTE

b) INSPECCION DE RECIBO
ENVIO
PROCESO INSPECCION CLIENTE

c) INSPECCION RECTIFICADORA ACEPTAR ENVIO

CLIENTE
PROCESO INSPECCION

RECHAZO

SCRAP RETR
ABAJO

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DISPOSICIN DE LOTES

Fig. 1.44 Variaciones del muestreo de aceptacin

El muestreo de aceptacin tiende a reforzar el apego o conformancia a


especificaciones pero no tiene un efecto de retroalimentacin en el proceso de
produccin o diseo que mejoren la calidad.

En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido
la evolucin siguiente:
100%

MUESTREO DE
ACEPTACION

CONTROL DE
PROCESO

0% DISEO DE
EXPERIMENTOS
Tiempo
Fig. 1.45 Evolucin de la aplicacin de mtodos estadsticos

1.7 ADMINISTRACIN POR CALIDAD TOTAL

Para que sean efectivas las herramientas estadsticas, su aplicacin debe ser
parte de un programa mayor de Calidad Total (Total Quality Management en
EUA, Company Wide Quality Control en Japn, Seis Sigma de Motorola, Modelo
de Direccin por Calidad de Mxico (PNC), Malcolm Baldrige de EUA, QS 9000,
ISO TS 16949, VDA 6.1 VW, ISO 9000:2000, etc.), donde la alta direccin lleve
el liderazgo por la calidad, no funcionarn como elementos aislados.

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La filosofa de Deming y Juran implica que la responsabilidad por la calidad se


expande a toda la organizacin, sin embargo para no caer en el error de que
la responsabilidad de todos es la de nadie, la calidad debe planearse.

Deming impulso el uso del CEP y los mtodos estadsticos en Japn para la
reduccin de la variabilidad y mejora continua de calidad, con sus 14
recomendaciones a la direccin.

Fig. 1.46 Modelo de gestin de calidad ISO 9000

Costos de calidad
Son costos asociados con producir, identificar, evitar o reparar productos que
no cumplan especificaciones. Normalmente se clasifican en cuatro categoras:
Prevencin, Apreciacin, Falla interna y Falla externa, algunos de los elementos
que incluyen son los siguientes:

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Costos de prevencin Costos de falla interna


Planeacin e Ingeniera de calidad Scrap o desperdicio
Revisin de nuevos productos Retrabajos
Diseo de productos y procesos Re-inspeccin
Control de proceso Anlisis de falla
Entrenamiento Ineficiencias
Coleccin y anlisis de datos de calidad Descuentos

Costos de apreciacin Costos de falla externa


Inspeccin y prueba en recibo Atencin de quejas
Inspeccin y prueba de productos Producto regresado
Materiales usados en pruebas Cargos por garanta
Mantenimiento de equipo de prueba Costos legales

Costos de prevencin
Son los costos asociados con los esfuerzos de diseo y manufactura enfocados
a la prevencin de defectos, de tal forma de hacer bien las cosas a la primera
vez.

Costos de apreciacin
Son los costos asociados con la medicin, evaluacin, o auditora a productos,
componentes y materiales comprados para asegurar su conformancia a los
estndares establecidos.

Costos de falla interna


Son los costos incurridos cuando los productos, componentes o materiales y
servicios no cumplen los requerimientos de calidad, y los defectos son
descubiertos antes de embarcar al cliente.

Costos de falla externa


Son los costos incurridos cuando el desempeo del producto no es el adecuado
una vez que lo utiliza el cliente.

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2. MTODOS Y FILOSOFA DEL CONTROL


ESTADSTICO DEL PROCESO (CEP)

Concepto de variacin
Los mtodos estadsticos se basan en que no existen dos productos
EXACTAMENTE iguales de un proceso de manufactura, por tanto la VARIACIN
es inevitable, su anlisis se hace con el apoyo de la estadstica.

2.1 DISTRIBUCIN NORMAL

Un proceso opera en condiciones normales, si tiene los materiales dentro de de


especificaciones y del mismo lote, un mtodo consistente, un medio ambiente
adecuado, el operador capacitado, y el equipo ajustado correctamente, si se
toman mediciones en alguna caracterstica del producto, mostrar el siguiente
comportamiento:

Fig. 2.1 Construccin de la distribucin normal

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La distribucin normal es una de las distribuciones ms usadas e importantes.


Se ha desenvuelto como una herramienta indispensable en cualquier rama de
la ciencia, la industria y el comercio.

Muchos eventos reales y naturales tienen una distribucin de frecuencias cuya


forma es muy parecida a la distribucin normal. La distribucin normal es
llamada tambin campana de Gauss por su forma acampanada.

Cuando se incluyen todos los datos de un proceso o poblacin, sus parmetros


se indican con letras griegas, tales como: promedio o media = (mu), y
desviacin estndar (indicador de la dispersin de los datos) = (sigma).

Para el caso de estadsticos de una muestra se tiene media = X y desv. est.= s.

Propiedades de la distribucin normal estndar

La distribucin normal estndar tiene media = 0 y desviacin estndar


=1. La media, Mediana y Moda coinciden, son iguales y se localizan en el
pico.

Fig. 2.2 Propiedades de la distribucin normal

El rea bajo la curva o probabilidad de menos infinito a ms infinito vale 1.


La distribucin normal es simtrica, la mitad de curva tiene un rea de 0.5.

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La escala horizontal de la curva se mide en desviaciones estndar.


La forma y la posicin de una distribucin normal dependen de los
parmetros , , por lo que hay un nmero infinito de distribuciones
normales.

Lmite inferior de especs. Lmite superior de especificaciones


Fig. 2.3 Distribuciones normales con varias desv. estndar

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LIE LSE
Fig. 2.4 Distribuciones normales con varias medias y desviaciones estndar

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Existe una relacin del porcentaje de probabilidad o rea bajo la curva normal
a la desviacin estndar. En la figura observamos por ejemplo que el rea bajo
la curva para 1 tiene un porcentaje de 68.26%, 2 = 95.46% y
3 99.73% .

-3s -2s -1s +1s +2s +3s

68.26%
95.46%

Fig. 2.5 rea bajo la curva de Distribucin


99.73% normal

Lo anterior se puede calcular con la Tabla de distribucin normal o con Excel


(Fx =distr.norm.estand(Z) proporciona el rea desde menos infinito hasta Z).

En la tabla normal, se busca el valor de Z y se encuentra el rea bajo la curva.

La primera tabla sirve para determinar el rea o probabilidad que se encuentra


fuera de los lmites de especificaciones. La segunda tabla proporciona valores
de rea bajo la curva para Zs mayores a cero. En cada una se muestran
ejemplos de su uso.

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Ejemplo 2.1
a) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = - 1.
P(Z<= -1) = 0.1587

b) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = - 2.


P(Z<= - 2) = 0.0228
c) Determinar el rea bajo la curva entre Z >= -2. hasta Z <= -1
P(- 2 <= Z<= -1) = 0.1359

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Ejemplo 2.2
a) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = 1.
P(Z <= 1) = 0.8413

b) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = 2.


P(Z <= 2) = 0.9772 8
c) Determinar el rea bajo la curva de menos Z = 1 a Z = 2
P(1 <= Z <= 2) = 0.9772 0.8413 = 0.1369
EJERCICIO 2.1:
Qu porcentaje del rea bajo la curva normal estndar o probabilidad est
incluido dentro de los siguientes rangos?
a) P(1.2 <= Z <= 2.2) = P(Z <= 2.2) P(Z <= 1.2) =
b) P(-2.1 <= Z <= -0.4) = P(Z <= - 0.4) P(Z <= -2.1) =
c) P( -1.3 <= Z <= 2.7) = P(Z <= 2.7) P(Z <= -1.3) =

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d) P( Z >= 2.4) = P(Z <= -2.4) =


e) P( Z<=-2.9) + P(Z>= 3.1) = P(Z <= -2.9) + P(Z <= -3.1) =
f) P(Z>= 1.9) = P(Z <= -1.9) =

Estandarizacin de valores reales

En la prctica, se tienen valores reales de promedio diferentes de cero y con


desviacin estndar diferentes de uno, para determinar la probabilidad o rea
bajo la curva, se determina el nmero de desviaciones estndar Z entre
algn valor X y la media de la poblacin o de la muestra X como sigue:

X
Z s se consideran los datos completos del proceso.

X X
Z s se consideran slo los datos de una muestra.
s

Ejemplo 2.3 El departamento de personal de una empresa requiere que los


solicitantes a un puesto en cierta prueba alcancen una calificacin de 500. Si
las calificaciones de la prueba se distribuyen normalmente con media 485
y desviacin estndar 30 Qu porcentaje de los solicitantes pasar la
prueba?

Calculando el valor de Z obtenemos:


X 500 485
Z = 0.5
30
Buscamos el valor correspondiente Z en las tablas de distribucin normal
estndar o por medio de Excel =distr.norm.estand(0.5). Z0.5 = 0.69146 =
69.146%. donde la probabilidad de que la calificacin sea menor a 500 es P (X
<= 500). Dado que el porcentaje pedido es P ( X 500) la solucin es 1-
0.69146 =0.3085, por tanto slo 30.85% de los participantes pasarn la
prueba.
Otra forma es tomando la Z como negativa con P(Z <= -0.5) = 0.3085.

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485

3 0 .8 5 %

Z.0 5
Fig. 2.6 rea bajo la curva de Distribucin normal

Ejemplo 2.4 Suponga que un proceso tiene una distribucin normal dada tiene
una media de 20 y una desviacin estndar de 4. Calcule la probabilidad
P (X >=24) = 1 P(X <= 24) =

En la barra de herramientas seleccione el icono de funciones


fx>Estadsticas>Distr.Norm.Estand. OK. El sistema muestra la siguiente
ventana, en la cual llenamos los siguientes datos:

Fig. 2.7 Clculo del rea bajo la curva normal sin requerir Z

El resultado de la frmula = 0.8413. , dado que esta es la probabilidad P(X


24), la probabilidad buscada es: P(X > 24) = 1 - 0.8413= 0.1587

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EJERCICIO 2.2:

Un producto tiene un peso promedio de 75 Kgs. con una desviacin estndar


de 10Kgs.

a) Cul es la probabilidad de que un producto pese ms de 85Kgs.?


b) Cul es la probabilidad de que un producto pese menos de 55Kgs.?
c) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 60 y 80 Kgs.?.
d) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 55 y 70 Kgs.?
e) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 85 y 100Kgs.?

2.2 PRUEBA DE NORMALIDAD


Para probar normalidad de datos, se pueden utilizar los mtodos de Anderson
Darling o Ryan si el tamao de muestra es mayor a 15 y se utiliza la prueba de
Kolmogorov Smirnov para 15 datos o menos de muestra, observando la grfica
de probabilidad normal.

a) En el mtodo de Anderson Darling o Ryan Joiner, si el valor de probabilidad P


de la prueba es mayor a 0.05, se considera que los datos son normales. Seguir
los siguientes pasos:

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin


estndar S = 32.02 con:
1. Calc > Random data > Normal
2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estandar deviation 32.02
OK

Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de


Anderson Darling o Ryan Joiner como sigue:

1. Stat > Basic statistics > Normality Test


2. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK

El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan
normalmente

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Fig. 2.7 Grfica de probabilidad de un proceso normal

b) Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:


3. Graph > Probability plot > Normal
4. Graph Variable C1
5. Distribution Normal OK
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es
normal la distribucin.

Fig. 2.8 Grfica de probabilidad normal con Int.de confianza

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2.3 LA CARTA DE CONTROL COMO PRUEBAS DE


HIPTESIS

Se pueden cometer dos tipos de errores cuando se prueban hiptesis:

Error tipo I, se rechaza Ho cuando es verdadera.


Error tipo II, no se rechaza Ho cuando es falsa.

Las probabilidades de esos dos tipos de errores son:


= P(error tipo I)
= P(error tipo II)

donde la potencia de la prueba es

Potencia = 1 - = Probabilidad de rechazar correctamente Ho.

Alfa a veces se denomina riesgo del productor, denotando la probabilidad de


que un lote bueno o un proceso que produce partes aceptables en relacin a
una caracterstica de calidad sea rechazado.

Beta a veces se denomina riesgo del consumidor denotando la probabilidad de


aceptar lotes de calidad pobre, o permitiendo que un proceso contine
operando de manera insatisfactoria respecto a una caracterstica de calidad.

El procedimiento general para pruebas de hiptesis es especificar una


probabilidad de error tipo I o , y disear un procedimiento de prueba que
minimice la probabilidad de error tipo II.

Conforme se incrementa el tamao n de muestra, se reduce la probabilidad de


error tipo II.

PROBABILIDAD DE ERROR TIPO II

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Tomando como estadstico de prueba Zc, y asumiendo que sigue una


distribucin normal N(0,1).


Z c X 0
n
(2.6)

Para encontrar la probabilidad de error tipo II, se debe asumir que Ho es falsa y
entonces hallar la distribucin de Zc. Suponiendo que la media de la
distribucin realmente es:

1 = 0 + con > 0

La hiptesis alterna H1 es verdadera y bajo esta suposicin, el estadstico Zc


es:


Zc N ,1
n
BAJO H0 BAJO H1

- Z/2 0 Z/2 Zc = n /
Fig. 2.9 La distribucin de Zc bajo Ho y H1

La probabilidad del error tipo II es la probabilidad de que Zc se encuentre entre


- Z/2 y Z/2 dado que la hiptesis alterna es verdadera.

Para evaluar esta probabilidad, se evaluan F(Z /2) ) F(-Z/2), donde F es la


distribucin acumulativa normal estndar. La probabilidad de error tipo II es
(funciona igual para cuando < 0):

n n
Z / 2 Z / 2

(2.7)

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Ejemplo 2.5: si los estndares especifican que la media de una lata de caf es
de 16.0 oz., y de acuerdo a la experiencia se sabe que la desviacin estndar
del contenido es de 0.1 oz. Las hiptesis son:
Ho: = 16.0
Ho: 16.0
Asumiendo una probabilidad de error tipo I de 0.05 y tomando una muestra de
9 latas, se tiene que el estadstico de prueba es:

Z 0 X 16
0 .1
9

Se rechaza Ho si Zo > Z0.025 = 1,96

Suponiendo que se desea encontrar la probabilidad del error tipo II si el valor


verdadero de la media es 1 =16.1 implicando que = 16.1 16.0 = 0.1, se
tiene:

n n
Z / 2 Z / 2


0.1 9 0.1 9
1.96 1.96


0.1 0.1

= (- 1.4 ) - ( -4.96 )
= 0.1492

Es decir que la probabilidad de no rechazar Ho si la media es 16.1 oz. Es de


0.1492, o que la potencia de la prueba es de 1 - = 1 0.1492 = 0.8508.

De la ecuacin anterior para , se observa que es una funcin de n, y de ,


tomando como 0.05 y graficando contra d = / , se obtienen las curvas
caractersticas de operacin (OC).

(ver grfica de curva OC)

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En las curvas OC se observa que:

1. Entre mayor sea el valor de , se reduce la probabilidad de error tipo II para


una n y dadas. Es decir que la prueba detecta ms fcilmente grandes
diferencias.
2. Conforme se incrementa n, la probabilidad de error tipo II es ms pequeo
para una y dadas. Es decir que la prueba se hace ms potente si se
incrementa el tamao de muestra.

Las cartas de control fueron desarrolladas por el Dr. Walter A. Shewhart de los
Bell Telephone Labs., se denominan Cartas de Control de Shewhart y se usan
para el monitoreo del proceso en lnea. A continuacin se explica la teora de
variabilidad de Shewhart.

Causas comunes y causas especiales

La variabilidad natural siempre existe en cualquier proceso de produccin, no


importa que tan bien diseado est. Esta variabilidad natural es denominada
causas comunes o aleatorias de variabilidad, un proceso que opera en estas
condiciones se dice que est en control estadstico.

Existen otras fuentes de variabilidad que pueden ser causadas por mquinas,
errores de operadores o materiales defectuosos. Esta variabilidad es muy
grande en relacin con la variabilidad natural y es originada por causas
especiales o asignables haciendo que el proceso opere fuera de control
estadstico (ver pgina siguiente).

De la figura cuando el proceso est en control, la mayor parte de la produccin


se encuentra dentro de los lmites de control (LSC y LIC). Sin embargo cuando
el proceso est fuera de control, una gran proporcin del proceso se encuentra
fuera de estos lmites.

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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes /
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El Objetivo del CEP es la deteccin oportuna de la ocurrencia de causas


especiales para tomar acciones correctivas antes de que se produzcan
unidades defectivas o no conformes, para esto se utilizan las cartas de control
en lnea, permitiendo tambin la estimacin de la capacidad o habilidad del
proceso y la reduccin continua de la variabilidad hasta donde sea posible.

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2.4 BASES ESTADSTICAS DE LAS CARTAS DE CONTROL

Una carta tpica representando un proceso en control estadstico se muestra a


continuacin. Contiene una lnea central que representa el valor promedio de la
caracterstica de calidad correspondiente al estado en control y dos lneas
adicionales llamadas lmites inferior y superior de control (LIC y LSC), los cuales
se seleccionan de tal forma que casi la totalidad de los puntos se encuentren
dentro de ellos, si esto ocurre no se requiere tomar ninguna accin.

LSC

LC

LIC Tiempo

Fig. 2.10 Carta de control de Shewhart

Un punto que se encuentre fuera de los lmites de control mostrar evidencia


que el proceso est fuera de control y ser necesario una investigacin de la
causa especial y la accin correctiva necesaria para eliminarla. Tambin se
tendr un alto riesgo de situacin fuera de control si los puntos se agrupan es
forma sistemtica dentro de los lmites de control o muestran una tendencia.

Por ejemplo, la carta de control de medias prueba la hiptesis de que la media


del proceso est en control y tiene un valor 0 si un valor de media muestral
X i cae dentro de los lmites de control; de otra forma se concluye que el

proceso est fuera de control y que la media del proceso tiene un valor
diferente del de 0, por decir 1, donde 1 0.

Se puede decir que las probabilidades de los errores tipo I y tipo II de la carta
de control, son esquemas de prueba de hiptesis para analizar el desempeo
de las cartas de control.

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La probabilidad del error tipo I de la carta de control se presenta cuando se


concluye que el proceso est fuera de control cuando en realidad no lo est.

La probabilidad de error tipo II de la carta de control se presenta cuando se


concluye que el proceso est en control cuando en realidad est fuera de
control. La curva caracterstica de operacin (OC), con en el eje vertical,
indica la capacidad de la carta para detectar corridas de la media o rango del
proceso de diferentes magnitudes.

Ejemplo 2.6: Para el caso de pistones, evaluando la caracterstica de calidad de


dimetro interno del anillo. Si la media del proceso es 74 y la desviacin
estndar es de 0.01mm, con un tamao de muestra de n=5, se tiene:

La desviacin estndar de las medias es:


.01
X 0.0045
n 5
Asumiendo que el proceso est en control y de acuerdo al teorema del lmite

central se asume que las medias X i se distribuyen normalmente, se debe

espera que el 100(1- )% se encuentren entre 74 Z/2 (0.0045).

Si se escoge arbitrariamente a Z/2 = 3, se obtienen los lmites de control a 3


sigma:
LSC = 74 + 3 (0.0045) = 74.0135
LIC = 74 3 (0.0045) = 73.9865

74.0135

74

74.9865 Tiempo

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Fig. 2.11 Carta de Control tpica

El ancho de los lmites de control es inversamente proporcional al tamao de


muestra n, para un mltiplo de sigma dado, La seleccin de los lmites de
control es equivalente a preparar la regin crtica para probar la hiptesis en el
tiempo:
H0 : = 74
H1 : 74
Con = 0.01 conocida.

Se puede definir un modelo general para una carta de control, si w es un


estadstico muestral que mide alguna caracterstica de calidad de inters y
asumiendo que su media es w con desviacin estndar w se tiene:

LSC = w + Lw (2.8)
LC = w
LIC = w - Lw

Donde L es la distancia de los lmites de control a partir de la lnea


central expresada en unidades de desviacin estndar.

El uso ms importante de la carta de control es la mejora del proceso, a travs


de su monitoreo, al principio se observar que los procesos no estn en control
estadstico, sin embargo con las cartas de control se podrn identificar causas
especiales que al ser eliminadas, resulten en una reduccin de la variabilidad
mejorando el proceso.

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DISTRIBUCION DISTRIBUCION COMPORTAMIENTO DEL


PROCESO
DE LOS VALORES DE LAS MEDIAS LSC = 74.0135, LC = 74, LIC =
73.9865
INDIVIDUALES =.01 X 0.0045

Fig. 2.12 Comparacin de la variabilidad de la poblacin y la de las medias y


operacin de la carta de control

El proceso de mejora usando la carta de control requiere la accin de la


supervisin, operador e ingeniera, la carta de control slo detecta causas
especiales o asignables.

Para identificar y eliminar las causas asignables, es importante encontrar las


causas raz del problema y atacarlas para lo cual se puede utilizar el Plan de
accin para situaciones fuera de control OCAP, activado con la ocurrencia de
cada evento. Incluye Puntos de chequeo que son causas potenciales asignables
y terminadores que son las acciones que resuelven la situacin fuera de
control. Este documento OCAP es un documento vivo que debe ser actualizado
constantemente.

ENTRADA PROCESO SALIDA

SISTEMA DE
EVALUACIN

Verificacin Deteccin de causa


y seguimiento asignable

Implantar Identificar causa

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Accin raz del


problema
Correctiva

Fig. 2.13 PROCESO DE MEJORA USANDO LA CARTA DE CONTROL

La carta de control es un dispositivo de estimacin de parmetros del proceso


una vez que exhibe control estadstico, se puede estimar la media, varianza,
proporcin, etc. que pueden ser utilizados para determinar la capacidad de los
procesos para producir productos aceptables, base de decisiones gerenciales y
contractuales.

Las cartas de control pueden ser clasificadas en dos clases: por atributos y por
variables dependiendo de cmo se evale la caracterstica de calidad.

Si la caracterstica de calidad se puede evaluar y expresar como un nmero


real en alguna escala de medicin continua, se denomina una variable. En tales
casos se utilizan cartas de control de medias, que describan la tendencia
central y cartas de control basadas en rango o desviacin estndar para
controlar la variabilidad del proceso.

Muchas caractersticas de calidad no pueden ser medidas en una escala


continua, en esos casos se puede juzgar cada producto como conforme o como
no conforme sobre la base de que posea o no ciertos atributos, o se pueden
contar el nmero de no conformidades o defectos que aparecen en una unidad
de producto. Las cartas de control para tales caractersticas de calidad, se
denominan cartas de control por atributos.

Un factor importante en la aplicacin de cartas de control es su diseo, es decir


la seleccin de tamao de muestra, lmites de control y frecuencia de
muestreo. Para la carta de control por variables del ejemplo se utiliz una
muestra de 5 partes, lmites de control a 3-sigma y una frecuencia de muestreo
cada hora.

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Si se incrementa el tamao de muestra, decrece la probabilidad del error tipo


II, aunque el diseo de la carta de control tambin debe tomar consideraciones
econmicas considerando los costos de muestreo, prdidas por fabricar
productos defectuosos y costo de investigar indicaciones fuera de control que
son falsas alarmas.

Otra consideracin en el uso de cartas de control es el tipo de variabilidad


exhibida por el proceso:

1. Procesos estacionarios: los datos del proceso varan alrededor de una


media fija de una manera fija y estable. Es decir se tiene un proceso en control
de acuerdo a Shewhart es el rea de aplicacin de las cartas de control ms
efectivo.

2. Procesos con datos no correlacionados: las observaciones dan la


apariencia de haberse extrado de una poblacin estable (normal u otra), en
anlisis de series de tiempo se denomina ruido blanco. En este caso los datos
pasados histricos no dicen nada en relacin a predecir su comportamiento
futuro.

3. Procesos estacionarios con datos correlacionados: las observaciones


sucesivas de en estos datos son dependientes; es decir un valor por arriba de
la media tiende a ser seguido por otro valor arriba de la media y viceversa,
esto produce corridas lentas y largas en algn lado de la media.

4. Procesos no estacionarios: ocurren en los procesos qumicos e industrias


de proceso, los procesos son muy inestables y tienen corridas inestables
alrededor de una media fija. En estos casos se estabiliza el desempeo de los
procesos por medio de control automtico por retroalimentacin.

Las cartas de control han sido muy populares por las siguientes razones:

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1. Son una herramienta probada para mejorar la productividad. Su aplicacin


exitosa ayuda a reducir desperdicios y retrabajos, que son factores que
reducen la productividad (productos buenos por hora).
2. Son efectivas como herramientas de prevencin de defectos. Apoyan el
concepto de hacerlo bien a la primera vez, es ms costoso seleccionar
productos buenos en un lote con productos defectuosos, que fabricarlos
bien desde el principio.
3. Evitan que se hagan ajustes innecesarios en el proceso. Apoyan el concepto
de si no esta mal, no lo arregles, ya que identifican las causas comunes
de las especiales, evitan que se hagan ajustes cuando slo se estn
teniendo variaciones aleatorias en el proceso.
4. Proporcionan informacin de diagnstico. Proporcionan un patrn de puntos
que permite la toma de decisiones para la mejora del proceso, al operador o
al ingeniero experimentado.
5. Proporcionan informacin acerca de la capacidad o habilidad del proceso.
Proporcionan informacin acerca de los parmetros importantes del proceso
y de su estabilidad con el tiempo, permitiendo la estimacin de la capacidad
del proceso para producir dentro de especificaciones.

SELECCIN DE LOS LMITES DE CONTROL

Abriendo los lmites de control decrece riesgo de error tipo I (falsa alarma) sin
embargo se incrementa el riego de error tipo II y viceversa. Con lmites de
control de 3-sigma la probabilidad de error tipo I es de 0.0027. Si se selecciona
el nivel de riesgo de error tipo I en 0.002 o 0.001 en cada lado, se tienen los
lmites de control a una distancia de 3.09-sigmas y los lmites de control sern:

LSC = 74 + 3.09 (0.0045) = 74.0139


LIC = 74 3.09 (0.0045) = 73.9861

Estos lmites de control se denominan lmites probabilsticos a 0.001. A


continuacin se presenta una comparacin entre lmites.

+3.09

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+3.0
LC

-3.00
-3.09

Fig. 2.14 Lmites de control de Shewhart y Europeos

Los lmites de control a 0.001 se utilizan en pases europeos.


Algunos analistas sugieren el uso de lmites preventivos trazados a 2-sigmas de
la lnea central, para el caso de lmites de control a 3-sigmas y a 0.025 de
probabilidad para lmites de control a 0.001. Estos lmites aumentan la
sensibilidad de la carta de control para identificar corrimientos de la media del
proceso, en forma ms rpida. Si un punto cae fuera de los lmites preventivos,
Una desventaja es que crean confusin con el personal y se incrementa el
riesgo de error tipo I (falsas alarmas).

Tamao de muestra y frecuencia de muestreo

Al disear una carta de control, se debe especificar tanto el tamao de muestra


como la frecuencia de muestreo, tamaos de muestra grandes permiten
detectar pequeas corridas en la media del proceso como se observa en las
curvas caractersticas de operacin.

Para la frecuencia de muestreo, la prctica industrial sugiere tomar muestras


pequeas frecuentes, principalmente en produccin masiva o cuando existe la
posibilidad de que existan muchas causas especiales, actualmente con las
computadoras esto es cada vez ms fcil.

Otra forma de determinar la frecuencia de muestreo y el tamao de muestra,


es a travs de la longitud media de racha de la carta de control (ARL), que es el
nmero de puntos que deben ser graficados antes de que un punto indique una
condicin fuera de control.

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1
ARL (2.9)
p

donde p es la probabilidad de que un punto exceda los lmites de control. Para


el caso de 3-sigma p=0.0027 y el ARL 0 = 370. Es decir que si el proceso est
en control, se generar un punto fuera de control como falsa alarma cada 370
puntos.

Si se toman muestras en intervalos fijos de tiempo en horas (h), entonces


aparecer una falsa alarma cada tiempo promedio de indicacin (ATS) en
horas.

ATS ARLh (2.10)

En el ejemplo si se toman muestras cada hora, se genera una falsa alarma


cada 370 horas.

Para evaluar que tan efectiva es la carta para detectar corrimientos en la


media del proceso, se utilizan las curvas caractersticas de operacin. Por
ejemplo, si n=5 y la media se corre de 74.015mm, la probabilidad de que un
punto caiga dentro de los lmites de control es aproximadamente 0.50, por
tanto utilizando p=0.50, se puede calcular el ARL 1 para una situacin fuera de
control como sigue:

1 1
ARL1 2
p 0.5

Esto significa que el proceso requiere 2 muestras antes de detectar el


corrimiento. Si el muestreo se hace cada hora, el ATS = 2 h, si esto fuera
inaceptable, se podran tomar muestras ms frecuentes por ejemplo cada
media hora o incrementar el tamao de muestra. Si n=10, de la curva
caracterstica de operacin se observa que p=0.9 y el ARL 1 = 1.11 y el ATS =
1.11 h, lo cual puede ser ms aceptable.

En resumen las dos alternativas siguientes dan un resultado similar:

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Diseo 1 Diseo 2
n=5 n = 10
Frec. Cada hora Frec. cada hora.

Las muestras se toman de manera ms frecuente a la ocurrencia de cambios


en el proceso registrados en bitcoras (cambio de turno, cambio de materiales,
ajustes, fallas, etc.), con objeto de detectar las causas de situaciones fuera de
control.

Subgrupos racionales

La idea fundamental en las cartas de control es colectar los datos de la


muestra de acuerdo al concepto de subgrupo racional es decir que el subgrupo
debe seleccionarse de tal forma que si estn presentes causas asignables, la
diferencia entre los subgrupos sea maximizada, minimizando la diferencia
dentro del subgrupo.
El tiempo en que se tomen las muestras es una buena base para formar
subgrupos, evitando que algunas observaciones se tomen al final de un turno y
las restantes al inicio del siguiente ya que ocasiona diferencias dentro del
subgrupo.

Por lo anterior se recomienda tomar productos consecutivos de produccin


para formar la muestra (cuyo tamao puede ser entre 4 y 6), minimizando
diferencias dentro del subgrupo. En algunos procesos como los qumicos, es
suficiente tomar una sola unidad de producto como muestra, dado que existe
homogeneidad.

Anlisis de patrones en cartas de control

Una carta de control indicar una condicin fuera de control cuando uno o ms
puntos caigan ms all de los lmites de control o cuando los puntos graficados
formen un patrn no aleatorio de comportamiento.

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En general una racha o corrida es una secuencia de observaciones del mismo


tipo. Adems de las corridas ascendentes o descendentes, se encuentran las
que estn por debajo o sobre la media.

Dado que una corrida de 8 o ms puntos tiene una probabilidad de ocurrencia


muy baja, se considera que una racha o corrida con una longitud de 8 puntos
indica una condicin fuera de control.

Fig. 2.15 Proceso fuera de control por tendencias o corridas

Otro patrn de inestabilidad se presenta cuando el comportamiento del


proceso muestra patrones cclicos.

Para reconocer un patrn de comportamiento no slo se requiere conocer las


tcnicas estadsticas, sino tambin es necesario tener un conocimiento
profundo del proceso.

En el libro de la Western Electric (1956) se recomiendan las reglas siguientes


para detectar patrones no aleatorios en las cartas de control:

1. Un punto fuera de los lmites de control de 3-sigma.


2. Dos de tres puntos consecutivos sobre los lmites preventivos a 2-sigma.
3. Cuatro de cinco puntos consecutivos que se encuentren a una distancia de
1-sigma o ms all a partir de la lnea central.
4. Ocho puntos consecutivos graficados hacia un lado de la lnea central.

Algunas reglas adicionales recomendadas por la industria son:

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5. Siete puntos formando una tendencia creciente o decreciente.


6. Quince puntos consecutivos encontrados entre ms menos 1-sigma de la
lnea central (adhesin a la media).
7. Catorce puntos en un rengln alternndose arriba y abajo.
8. Siete puntos que se encuentren ms all de 1-sigma de la lnea central.
9. Un patrn no usual o no aleatorio de datos.
10.Uno o ms puntos cerca de los lmites preventivos.

Debe tenerse cuidado de no exagerar en la aplicacin de las reglas ya que se


pueden tener muchas falsas alarmas quitndole efectividad al programa del
CEP.

2.5 IMPLEMENTACIN DEL CEP

El CEP proporciona un retorno sobre la inversin apreciable cuando se implanta


exitosamente, ya que permite la mejora continua a travs de la reduccin de la
variabilidad. Las cartas de control son una herramienta importante para esta
mejora.

El CEP no sirve si se implanta y despus no se mantiene, ya que la mejora


continua debe ser parte de la cultura de la organizacin.

Para su implantacin es necesario el liderazgo gerencia y el trabajo en equipo,


as como evaluar los avances y comunicarlos a la organizacin, lo cual puede
motivar a mejorar otros procesos.

Los elementos recomendados para un programa de CEP exitoso son:

1. Liderazgo gerencial
2. Un enfoque de grupo de trabajo
3. Educacin y entrenamiento de empleados en todos los niveles
4. nfasis en la mejora continua
5. Un mecanismo para reconocer el xito y comunicacin hacia la
organizacin.

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3. CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES

3.1 INTRODUCCIN

Una caracterstica que se mide en una escala numrica se denomina una


variable. Por ejemplo temperaturas, dimensiones, volumen, tiempo, etc. Las
cartas de control de X R son ampliamente utilizadas para monitorear la
media y la variabilidad de las variables, con objeto de evitar o minimizar que se
tengan productos fuera de especificaciones y estabilizar los procesos.

LIE MEDIA LSE LIE MEDIA LSE LIE


MEDIA LSE

MEDIA Y DESV. ESTANDAR MEDIA CORRIDA DESVIACION


ESTANDAR
EN NIVELES NORMALES MAYOR A LA
REQUERIDA

Fig. 3.1 Estados posibles de un proceso en control

3.2 CARTAS DE CONTROL DE MEDIAS-RANGOS

Asumiendo que una caracterstica de calidad est distribuida normalmente con


media y desviacin estndar ambas conocidas. Si x1, x2, .... xn forman una
muestra de tamao n entonces se puede calcular la media de la muestra X .
Ahora como las medias de las muestras estn normalmente distribuidas con

media Xi = / n , y siendo que la probabilidad 1- de que cualquier media

muestral caer entre los lmites:

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Z / 2 X Z / 2 (3.1)
n
y

Z / 2 X Z / 2
n
Lo anterior ser vlido an si la distribucin de la poblacin no es normal pero
si estable.

En la prctica los lmites de control se estiman a partir de 20 o 25 muestras


preliminares o subgrupos, el tamao de subgrupo es de 4, 5 o 6 normalmente.
Si se tienen m subgrupos, la gran media se calcula como sigue:

X i
(3.2)
X i 1

m
Representa la lnea central de la carta de medias.

Para estimar la del proceso, se pueden utilizar los rangos de los subgrupos,
para cada uno de los subgrupos el rango es calculado como:

R = xmax xmin
(3.3)
Si R1, R2, ....., Rm , son los rangos de los diferentes subgrupos, el rango
promedio es:

R i
(3.4)
R i 1

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DESARROLLO DE LA FORMULA PARA LOS LMITES DE CONTROL

La variable W de rango relativo relaciona al rango con la desviacin estndar


como sigue:

W=R/ (3.5)

Los parmetros de la distribucin de W son funcin de n. La media de W es d2.


Por tanto un estimador de es R / d2 , donde d2 est tabulado para diferentes
valores de n, de esta forma si R es el rango promedio de las primeras
muestras, usando:
R
(3.6)
d2

Los lmites de control de la carta de medias son:

3R
LSC X Lmite superior de control (LSC)
d2 n

3R
LIC X Lmite inferior de control (LIC)
d2 n

(3.7)

X Lnea central (LC)

3R
Si de define a A2 se tienen las ecuaciones siguientes:
d2 n

LSC = X + A2 R (3.8)

LIC = X - A2 R

El valor de A2 se encuentra tabulado en una tabla de constantes.

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Para el caso de los rangos, la lnea central es R . El estimador para R puede


hallarse de la distribucin del rango relativo W = R / , si la desviacin
estndar de W es d3 en funcin de n, se tiene:

R=W (3.9)
La desviacin estndar de R es:
R = d3
Como es desconocida, se puede estimar de = R / d2, resultando:
R
R d3 (3.10)
d2

De esta forma los lmites de control para el rango son:

R d3
LSC = R + 3 R = R + 3 d 3 = R [ 1+ 3 ] = D4 R
d2 d2
(3.11)
R d3
LIC = R - 3 R = R - 3 d 3 = R [ 1- 3 ] = D3 R
d2 d2
Donde las constantes A2 , d2 D3 y D4 se encuentran tabuladas en funcin de n
para facilitar el clculo de los lmites de control como sigue:

Tabla 3.1 Constantes para lmites de control en cartas X-R

n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.072 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078

Para valores pequeos de n, el rango es un buen estimador de la varianza tal


como lo hace la varianza de la muestra S 2. La eficiencia relativa del mtodo del
rango a la S2 se muestra abajo:

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Eficiencia
n Relativa
2 1.000
3 0.992
4 0.975
5 0.955
6 0.930
10 0.850

Para n >= 10 el rango pierde eficiencia rpidamente ya que ignora los valores
intermedios entre xmax y xmin sin embargo para valores pequeos de n (4,5 o 6)
empleados en las cartas de control, es adecuado. Para cuando n>10 se utiliza
la desviacin estndar en vez del rango.

EQUIPO DE MEDICIN
La resolucin del equipo debe ser de al menos 1/10 de la tolerancia y debe
tener habilidad para realizar la medicin con un error por Repetibilidad y
Reproducibilidad (R&R) menor al 10% (ver procedimiento de estudios R&R).

LIMITES PRELIMINARES
Siempre que un proceso este siendo analizado a travs de una carta de control,
es muy importante llevar una bitcora registrando todos los cambios (tiempo y
descripcin) conforme ocurran, por ejemplo: cambio de turno, cambio de
materiales, ajuste de mquina, interrupcin de energa, arranque de mquina,
etc. Con objeto de identificar las causas asignables en caso de presentarse
para la toma de acciones correctivas.

Al iniciar una carta de control tomando m subgrupos (20 a 25) se calculan y


grafican los lmites de control preliminares para determinar si el proceso estuvo
en control (ver procedimiento de Grficas de Control). Para probar esta
hiptesis, se analizan todos los puntos graficados y se hace un anlisis para
identificar si hay puntos fuera de los lmites de control o patrones anormales de

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comportamiento, si as fuera, los lmites de control preliminares se pueden


utilizar para el control futuro del proceso.

Si no se prueba la hiptesis de que el proceso est en control, por algn patrn


de anormalidad presente, se determina la causa especial de la anormalidad, se
toman acciones correctiva para que no vuelva a presentar, se eliminan los
puntos correspondientes al patrn de anormalidad y se re-calculan o revisan
los lmites de control. Se analiza la carta de control para observar un
comportamiento aleatorio, si aun no se tiene, se repite el proceso anterior
hasta lograrlo. Una vez teniendo todos los puntos en control, los nuevos
lmites de control ms cerrados que los originales se utilizan para el control
futuro del proceso.

Cuando no sea posible encontrar causas especiales para los patrones de


anormalidad o puntos fuera de control, no se eliminan y se consideran para la
determinacin de los lmites de control revisados para el control futuro del
proceso.

Interpretacin de cartas de control X R

Se debe iniciar con la interpretacin de la carta R, identificando causas


especiales y despus analizar la carta X . Adems de la situacin de un punto
fuera de control, se tienen otros patrones de anormalidad como los siguientes:
Patrones cclicos: Puede ser ocasionado por cambios ambientales, fatiga del
operador, o fluctuaciones en las presiones u otras variables del proceso.

LSC

LC

LIC
Fig. 3.2 Patrn de anormalidad cclico

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Mezclas de lotes: Se presenta cuando los puntos graficados se localizan cerca o


fuera de los lmites de control, con muy pocos puntos cerca de la lnea central,
puede ser causada por un sobre control de los operadores sobre el proceso o
cuando se toman productos de varias fuentes con diferente media.

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LSC

LC

LIC

Fig. 3.3 Patrn de anormalidad con mezcla de lotes

Corrimiento en la media del proceso. Esto puede ser generado por un cambio
en mtodos, operadores, materias primas, mtodos de inspeccin, etc.
LSC

LC

LIC

Fig. 3.4 Patrn de anormalidad con corrimiento en media

Una tendencia ascendente o descendente: Son causadas por deterioracin


gradual de herramientas u otro componente crtico del proceso, en los procesos
qumicos puede deberse a la separacin de algn componente.
LSC

LC

LIC
Fig. 3.5 Patrn de anormalidad de tendencia ascendente

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Estratificacin: Se muestra como una adhesin a la media, puede ser causado


por lmites mal calculados, tomar piezas de procesos diferentes o falta de
resolucin del equipo de medicin.

LSC

LC

LIC

Fig. 3.6 Patrn de anormalidad de estratificacin

Por lo general la carta R es ms sensible a cambios en la normalidad de los


procesos, por ejemplo cuando n = 4 el error tipo I no es 0.00027 sino 0.00461.

En resumen los patrones de anormalidad ms comunes son:


- Un punto fuera de los lmites de control
- Siete puntos formando una tendencia ascendente o descendente
- Dos de tres puntos a ms de dos sigma de la lnea central en el mismo lado
- Cuatro de cinco puntos a ms de una sigma de la lnea central del mismo
lado.
- Siete puntos en secuencia sobre o bajo la lnea central
- Catorce puntos alternndose arriba y debajo de la media
- Quince puntos dentro de una sigma de la lnea central en ambos lados
- Cualquier otro patrn de anormalidad

Ejemplo 3.1 Para el caso de anillos de pistones de automvil, se desea


establecer un control estadstico para el dimetro interno de los anillos, a
travs de una carta de medias-rangos. Se toman 25 subgrupos de 5 piezas
cada uno.

El anlisis se inicia con la carta R ya que los lmites para la carta X dependen
de la variabilidad del proceso, y a menos que esta variabilidad se encuentre en
control, esos lmites tendrn poco significado.

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De las cartas de control se calcula un rango promedio R de 0.023mm (ver


tabla de constantes para D3 y D4 con n=5):

LICR = R D3 = 0.023 (0) = 0


LSCR = R D4 = 0.023 (2.115) = 0.049

Si la carta de control para R se encuentra en control estadstico, se puede


ahora calcular los lmites para la carta X donde la lnea central X es 74.001
(ver tabla de constantes para obtener el valor de A 2 con n=5).

LSC = X + A2 R = 74.001 + (0.577) (0.0023) = 74.014


LIC = X - A2 R = 74.001 - (0.577) (0.0023) = 73.988

Si no se observan condiciones fuera de control en la carta X . Si ambas


cartas estn en control, se puede concluir que el proceso est en control y se
pueden adoptar los lmites actuales para el control futuro del proceso.

Ejemplo 3.2: Se toman datos de la dimensin crtica de una parte, con el


proceso corriendo normalmente, en 25 subgrupos de tamao n=5, uno cada
hora:

Media Rang Desv.


X11 X12 X13 X14 X15 s os Est.
138.1 110.8 138.7 137.4 125.4 130.1 27.9 12.1
149.3 142.1 105.0 134.0 92.3 124.5 57.0 24.7
115.9 135.6 124.2 155.0 117.4 129.6 39.1 16.2
118.5 116.5 130.2 122.6 100.2 117.6 30.0 11.1
108.2 123.8 117.1 142.4 150.9 128.5 42.7 17.7
102.8 112.0 135.0 135.0 145.8 126.1 43.0 17.9
120.4 84.3 112.8 118.5 119.3 111.1 36.1 15.2
132.7 151.1 124.0 123.9 105.1 127.4 46.0 16.7
136.4 126.2 154.7 127.1 173.2 143.5 47.0 20.2
135.0 115.4 149.1 138.3 130.4 133.6 33.7 12.3
139.6 127.9 151.1 143.7 110.5 134.6 40.6 15.9
125.3 160.2 130.4 152.4 165.1 146.7 39.8 17.9

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145.7 101.8 149.5 113.3 151.8 132.4 50.0 23.2


138.6 139.0 131.9 140.2 141.1 138.2 9.2 3.6
110.1 114.6 165.1 113.8 139.6 128.6 55.0 23.5
145.2 101.0 154.6 120.2 117.3 127.7 53.6 21.8
125.9 135.3 121.5 147.9 105.0 127.1 42.9 16.0
129.7 97.3 130.5 109.0 150.5 123.4 53.2 20.7
123.4 150.0 161.6 148.4 154.2 147.5 38.2 14.4
144.8 138.3 119.6 151.8 142.7 139.4 32.2 12.1

Los clculos y grficas se hicieron utilizando


el paquete MINITAB y se muestran a continuacin.

Las cartas de control quedan como sigue:

Xbar-R Chart of X11, ..., X15


UCL=154.45
150
Sample Mean

140
__
130 X=130.88

120

110
LCL=107.31
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

UCL=86.40
80
Sample Range

60
_
40 R=40.86

20

0 LCL=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Fig. 3.7 Cartas de control iniciales

El proceso se observa en control estadstico, con estos lmites de control


calculados, se contina corriendo el proceso para otros 10 datos con el
comportamiento siguiente:
X11 X12 X13 X14 X15 Medias Rangos Desv.

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Est.
131.0 184.8 182.2 143.3 212.8 170.82 81.8 33.2801
181.3 193.2 180.7 169.1 174.3 179.72 24.1 9.0461
154.8 170.2 168.4 202.7 174.4 174.1 47.9 17.5943
157.5 154.2 169.1 142.2 161.9 156.98 26.9 9.9693
216.3 174.3 166.2 155.5 184.3 179.32 60.8 23.222
186.9 180.2 149.2 175.2 185.0 175.3 37.7 15.2797
167.8 143.9 157.5 171.8 194.9 167.18 51 18.8798
178.2 186.7 142.4 159.4 167.6 166.86 44.3 17.1516
162.6 143.6 132.8 168.9 177.2 157.02 44.4 18.3454
172.1 191.7 203.4 150.4 196.3 182.78 53 21.5062

Xbar-R Chart of X11, ..., X15


1
1 1
180 1 1
1
UCL=169.04
165
Sample Mean

150 __
X=144.26
135

120 LCL=119.47
1
1
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

UCL=90.9
80
Sample Range

60
_
40 R=43.0

20

0 LCL=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

Fig. 3.8 Cartas de control con 10 puntos adicionales del proceso

Suponiendo que se identificaron las causas asignables responsables de los


puntos fuera de control identificados en la carta de medias y que se hicieron
ajustes al proceso para corregirlo, se tomaron otros diez datos con los
resultados siguientes:
X11 X12 X13 X14 X15 Medias Rangos
131.5 143.1 118.5 103.2 121.6 123.6 39.9
111.0 127.3 110.4 91.0 143.9 116.7 52.9
129.8 98.3 134.0 105.1 133.1 120.1 35.7

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145.2 132.8 106.1 131.0 99.2 122.9 46.0


114.6 111.0 108.8 177.5 121.6 126.7 68.7
125.2 86.4 64.4 137.1 117.5 106.1 72.7
145.9 109.5 84.9 129.8 110.6 116.1 61.0
123.6 114.0 135.4 83.2 107.6 112.8 52.2
85.8 156.3 119.7 96.2 153.0 122.2 70.5
107.4 148.7 127.4 125.0 127.2 127.1 41.3

Las cartas de control quedan como sigue:

Xbar-R Chart of X11, ..., X15


160
UCL=153.18
Sample Mean

140
__
X=127.06
120

100 LCL=100.95
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

100
UCL=95.7

75
Sample Range

50 _
R=45.3

25

0 LCL=0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

Fig. 3.9 Cartas de control con causas identificadas y eliminadas de puntos


anormales

Ejemplo 3.3 Se considera otro ejemplo con los datos individuales siguientes,
procesados con el paquete Minitab:
Rango
HORA X1 X2 X3 X4 X5 Medias s
1 -30 50 -20 10 30 8 80
2 0 50 -60 -20 30 0 110
3 -50 10 20 30 20 6 80
4 -10 -10 30 -20 50 8 70
5 20 -40 50 20 10 12 90

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6 0 0 40 -40 20 4 80
7 0 0 20 -20 -10 -2 40
8 70 -30 30 -10 0 12 100
9 0 0 20 -20 10 2 40
10 10 20 30 10 50 24 40
11 40 0 20 0 20 16 40
12 30 20 30 10 40 26 30
13 30 -30 0 10 10 4 60
14 30 -10 50 -10 -30 6 80
15 10 -10 50 40 0 18 60
16 0 0 30 -10 0 4 40
17 20 20 30 30 -20 16 50
18 10 -20 50 30 10 16 70
19 50 -10 40 20 0 20 60
20 50 0 0 30 10 18 50

Las cartas de control quedan como sigue:

Xbar-R Chart of X1, ..., X5


UCL=47.53
40
Sample Mean

20 __
X=10.9
0

-20
LCL=-25.73
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

150
UCL=134.3
Sample Range

100

_
R=63.5
50

0 LCL=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Fig. 3.10 Cartas de control iniciales

Se realizan pruebas de normalidad a las medias y a los rangos para ver si se


tienen un proceso normal:

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Probability Plot of Medias


Normal
99
Mean 10.9
StDev 8.065
95 N 20
AD 0.355
90
P-Value 0.425
80
70
Percent

60
50
40
30
20

10

1
-10 0 10 20 30
Medias

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Fig. 3.11 a y b Prueba de normalidad en medias y rangos de un proceso estable

Probability Plot of Rangos


Normal
99
Mean 63.5
StDev 22.54
95 N 20
AD 0.478
90
P-Value 0.210
80
70
Percent

60
50
40
30
20

10

1
0 20 40 60 80 100 120
Rangos
e
Por las pruebas de normalidad de rangos y medias, se deduce que el proceso
est en Control Estadstico (en ambos casos el P value es mayor a 0.05).

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Ejemplo 3.4 Para elaborar la carta, inicialmente se toman al menos 25


subgrupos con muestras de cinco partes cada cierto periodo (por
ejemplo cada hora).
Se toman varios datos de hilos y se construye una carta de medias
rangos con m = subgrupos, donde el rango se calcula tomando el valor
mayor menos el valor menor del subgrupo, con n = 5.
Por ejemplo:
Variabl Subgru Subgru Subgru
es po 1 po 2 po m
X1 2 5 3
X2 4 3 4
X3 3 6 1
X4 5 7 5
X5 1 4 2
09:00 10:00 11:00
a.m. a.m. a.m.
Media 3 5 3
Rango 4 4 4

Se obtiene una media de medias X y un rango promedio R, para


proceder a determinar los lmites de control como sigue:

LSC = X + 0.577x R
LIC = X - 0.577x R

Para el caso de los rangos, la lnea central es R los lmites de control


para el rango son:
LSC = 2.114x R
LIC = 0

Se identifican situaciones fuera de control, se investigan las causas y se


toman acciones preventivas para prevenir la reincidencia y se recalculan
los lmites de control futuros.

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Figura 3.12 Carta de control X-R fuera de control

Despus de identificar las causas de las situaciones fuera de control en los


subgrupos 2 y 14 y tomando acciones preventivas para evitar la reincidencia,
se eliminan los subgrupos fuera de control y se recalculan los lmites de
control.
Xbar-R Chart of Supp2
UCL=602.247
602

601
Sample Mean

_
_
600 X=599.938

599

598
LCL=597.629
2 4 6 8 10 12 14 16 18
Sample

UCL=8.465
8
Sample Range

_
4 R=4.003

0 LCL=0
2 4 6 8 10 12 14 16 18
Sample

Figura 3.13 Carta de control de medias rangos X-R estable


.
Ejercicio Hacer una carta X-R utilizando las fichas de ejemplo por
equipos.

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Capacidad o habilidad del proceso

Una vez que se tiene un proceso en control estadstico, se puede estimar su


capacidad o habilidad, tomando como referencia la desviacin estndar del
proceso estimada .

Ejemplo 3.3 (continuacin..)


R 0.023
= = = 0.0099
d2 2.326
Donde el valor de d2 se encuentra en las tablas de constantes para una n=5. Si
la especificacin de los anillos de pistones es de 74.000 0.05 mm, se tienen
como lmites inferior y superior de especificaciones los siguientes:

LIE = 73.950
LSE = 74.0500

Los lmites de tolerancia naturales del proceso inferior y superior (LTNI y LTNS)
se encuentran a 3-sigma del proceso por abajo y por arriba de la media del
proceso, o sea en:

LTNS = X + 3 = 74.001 + 3 (0.0099) = 74.0307


LTNI = X - 3 = 74.001 - 3 (0.0099) = 73.9713

LIE LTNI MEDIA LTNS LSE


Fig. 3.14 Localizacin de Lmites de especificaciones y naturales

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Se observa que los lmites de tolerancia naturales del proceso se encuentran


dentro de los lmites de especificacin, por tanto en principio no se observa
que haya partes fuera de especificaciones.

Otra forma de expresar lo anterior es con el ndice de habilidad potencial Cp (o


PCR) siendo:

LSE LIE
Cp = (3.12)
6

74.05 73.95 0.10


Cp = 1.68
6(0.0099) 0.05984
Se pueden presentar tres casos:

Caso 1. Si Cp es menor que 1, implica que la banda entre los lmites de


tolerancia naturales es mayor que la banda permitida por los lmites de
especificacin.

LTNI LIE LSE LTNS

Caso 2. Si Cp es igual a 1, implica que las bandas para los lmites de tolerancia
natural y de especificaciones coinciden (aunque para el caos de 3-sigma aun
hayan 2700 ppm fuera de especificaciones).

LIE LSE
LNTI LNTS

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Caso 3. Si Cp es mayor que 1, implica que la banda entre los lmites de


tolerancia natural del proceso, es menor que la banda permitida por las
especificaciones.

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LIE LTNI LTNS LSE

La fraccin de la banda de las especificaciones utilizada por el proceso se


estima como sigue:

CR = (1 / Cp) 100%
(3.13)
CR = (1 / 1.68) 100% = 59.2%

Es decir que el proceso utiliza aproximadamente el 60% de la banda


especificada.

Se puede estimar la fraccin de anillos no conformes producidos, con ayuda de


la distribucin normal, como sigue:

p = P { x < 73.950 } + P { x > 74.001 }


73.950 74.001 74.050 74.001
=
0.0099 0.0099
= (-5.15) + 1 - (4.04)
0 + 1 0.99998
0.00002
Por lo anterior alrededor de 0.002% o 20 partes por milln (ppm) de los anillos
producidos estarn fuera de especificaciones.

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Ejemplo 3.2 (continuacin...). Para la carta de control de las medias,


despus de haber eliminado las causas especiales y tomado acciones para
prevenir su recurrencia, se tiene el clculo de habilidad como sigue
(considerando que los lmites de especificacin son 85 y 175):

Process Capability of X11, ..., X15

LSL USL
Process Data Within
LSL 85 Overall
Target *
USL 175 Potential (Within) Capability
Sample Mean 127.063 Cp 0.77
Sample N 150 CPL 0.72
StDev(Within) 19.4626 CPU 0.82
StDev(Overall) 19.8965 Cpk 0.72
Overall Capability
Pp 0.75
PPL 0.70
PPU 0.80
Ppk 0.70
Cpm *

60 80 100 120 140 160 180


Observed Performance Exp. Within Performance Exp. Overall Performance
PPM < LSL 26666.67 PPM < LSL 15338.42 PPM < LSL 17253.10
PPM > USL 6666.67 PPM > USL 6888.71 PPM > USL 7991.57
PPM Total 33333.33 PPM Total 22227.13 PPM Total 25244.67

Fig. 3.15 Capacidad de proceso del ejemplo 3.2

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Ejemplo 3.3. Para las cartas X-R se tiene el clculo de la capacidad o habilidad
del proceso, una vez estable (considerando que los lmites de especificacin
son -80 y +80):

Process Capability of X1, ..., X5

LSL USL
Process Data Within
LSL -80 Overall
Target *
USL 80 Potential (Within) Capability
Sample Mean 10.9 Cp 0.98
Sample N 100 CPL 1.11
StDev(Within) 27.3001 CPU 0.84
StDev(Overall) 25.2301 Cpk 0.84
Overall Capability
Pp 1.06
PPL 1.20
PPU 0.91
Ppk 0.91
Cpm *

-60 -30 0 30 60
Observed Performance Exp. Within Performance Exp. Overall Performance
PPM < LSL 0.00 PPM < LSL 434.76 PPM < LSL 157.38
PPM > USL 0.00 PPM > USL 5684.82 PPM > USL 3083.22
PPM Total 0.00 PPM Total 6119.59 PPM Total 3240.59

Fig. 3.16 Capacidad de proceso del ejemplo 3.3

Para el clculo de otros ndices que toman en cuenta la posicin de la media,


revisar el captulo de capacidad del proceso o el procedimiento de cartas X R.

REVISIN O RE-CLCULO DE LA LNEA CENTRAL Y LMITES DE CONTROL

Los lmites de control calculados como lmites preliminares, deben ser


revisados en forma peridica que puede ser por semana, mes o cada 25, 50 o
100 puntos dependiendo del proceso en particular.

Lo recomendable en cada revisin es tomar las acciones necesarias para que la


media del proceso X se acerque cada vez ms a la media de las

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especificaciones (en caso de ser bilaterales) o se aleje lo ms posible de la


especificacin (en caso de ser unilateral).

En cada carta de control X o R es necesario identificar las causas especiales


que originen condiciones fuera de control, tomar acciones correctivas para
prevenir su reincidencia, eliminar esos puntos tanto en la carta X como en la
carta R y recalcular los lmites de control, para usarse en el control futuro del
proceso.

LMITES DE CONTROL, DE ESPECIFICACIN Y DE TOLERANCIA NATURAL

Es importante hacer notar que no existe ninguna relacin matemtica entre los
lmites de especificacin y los de control o los de tolerancia natural.

Los lmites de especificacin son establecidos externamente al proceso por


ingenieros de manufactura, el cliente o por los diseadores del producto.

SUBGRUPOS RACIONALES
Para el caso de la carta de medias-rangos, los subgrupos se seleccionan de tal
forma de minimizar la variabilidad entre muestras individuales, observando
slo su variabilidad aleatoria y maximizando la posibilidad de detectar corridas
en la media del proceso en funcin del tiempo.

De esta forma la carta X monitorea la variabilidad entre subgrupos respecto


al tiempo y la carta R monitorea la variabilidad interna entre muestras en un
tiempo dado.

CAMBIO DE TAMAO DE MUESTRA


Cuando el proceso ya mostr estabilidad durante un periodo largo de tiempo,
es posible reducir el esfuerzo y costo de control a travs de reducir el tamao
de muestra. Los lmites de control se pueden recalcular sin tomar muestras
adicionales como sigue:

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R ant rango promedio para el tamao de subgrupo anterior


R nuevo rango promedio para el tamao de subgrupo nuevo
nant = tamao de subgrupo anterior
nnuevo = tamao de subgrupo nuevo
d2 ant = factor d2 para el tamao de subgrupo anterior
d2 nuevo = factor d2 para el tamao de subgrupo nuevo

Los nuevos lmites de control para la carta X son (seleccionando A2 en base al


nuevo tamao de subgrupo nnueva , la lnea central no se cambia):
LSCX = X + A2 [d2 nuevo / d2 ant ] R ant (3.14)

LICX = X - A2 [d2 nuevo / d2 ant ] R ant

Para el caso de la carta R los nuevos lmites de control son (seleccionando D 3 y


D4 para el nuevo tamao de muestra nnueva):
LSCR = D4 [d2 nuevo / d2 ant ] R ant (3.15)

LCR = R nuevo [d2 nuevo / d2 ant ] R ant

LICR = max { 0, D3 [d2 nuevo / d2 ant ] R ant }

Si en Ejemplo 3.1 de trabajo se quisiera cambiar de n=5 a n=3, se tendra:

De la tabla de constantes se tiene: d 2 ant. = 2.326, d2 nueva = 1.693, A2 nueva =


1.023, por tanto los lmites nuevos son:

LSCX = 74.001 + (1.023) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 74.018


LICX = 74.001 - (1.023) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 73.984

Para la carta R, de la tabla de constantes para n=3 se tiene D 3 = 0, D4 = 2.578,


por tanto:

LSCR = (2.578) ) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.043


LICR = (0) ) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.0
LCR = [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.017

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LIM.SUP.NVO

LIMITES
ANTERIORES CARTA X

LIM.INF.NVO.

LIMITE SUP. ANT.


LIMITE SUP.NVO.

CARTA R

Fig. 3.17 Revisin de lmites de control cambiando de n=5 a 3

Como se puede observar el efecto de reducir el tamao de muestra hace que


se incremente el ancho de los lmites de control en la carta X (porque es
n
ms pequeo con n=5 que con n=3) y se reduzca la media de R y su lmite
superior en la carta R.

La curva caracterstica de operacin


La habilidad de las cartas de control X R para detectar corrimientos en la
media del proceso es indicada por su curva caracterstica de operacin (OC).
Su determinacin se muestra a continuacin.
Si en la carta para X se conoce la desviacin estndar del proceso y es
constante, cuando la media del proceso 0 cambia a otro valor 1 = 0 + k , la
probabilidad de no detectar el cambio en la primera muestra subsecuente es el
riesgo , donde:

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= P { LIC <= X <= LSC 1 = 0 + k }


(3.16)
dado que X N (, 2/n) y que los lmites de control son:
LSC = 0 + L / n (3.17)
LIC = 0 - L / n

La probabilidad de que un punto de X i caiga dentro de lmites de control


sabiendo que la media del proceso ya es 1, es igual a la probabilidad de que el
punto se encuentre abajo del lmite superior (LSC) menos la probabilidad de
que se encuentre abajo del lmite inferior de control (LIC). Considerando la
desviacin Estndar de las medias, o sea:
+
LSC ( ZLSC, x)
Xi

LC
( ZLIC, x)
LIC
-

Fig. 3.18 Clculo del error Beta o tipo II

LSC ( 0 k ) LIC ( 0 k )
Entonces = -
/ n / n

0 L / n ( 0 k ) 0 L / n ( 0 k )
= - (3.18)
/ n / n

Donde es la distribucin normal acumulativa. La expresin anterior se reduce


a:

=(Lk n )-(-Lk n )

(3.19)

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Ejemplo 3.4 Para una carta X R con L=3 (lmites a 3-sigma de medias),
tamao de muestra n=5, y se desea determinar el corrimiento a 1 = 0 + 2
en la primera muestra subsecuente al corrimiento de la media del proceso, se
tiene:

=(32 5 )-(-32 5 )

= (-1.47) - (-7.37)
= 0.0708

Este es el riesgo o la probabilidad de no detectar tal corrimiento. La


probabilidad de s detectarlo es 1- =
= 1 0.0708 = 0.9292.

Con las frmulas anteriores se construyen las curvas caractersticas de


operacin para diferentes valores de n en funcin de k.

Si n=5 y el corrimiento es de +1, de las curvas OC se tiene que = 0.75 y la


probabilidad de detectar el corrimiento en la segunda muestra se calcula como
(1- ) = 0.19, y as sucesivamente. La longitud de la corrida media es el
nmero esperado de muestras antes de que el corrimiento sea detectado, se
denomina ARL o :

1
ARL = (3.20)
1

En este caso ARL = 1 / 0.25 = 4. Es decir que el se requieren tomar


cuatro muestras antes de detectar un corrimiento de 1.0 con n = 5.

Para construir la curva OC para la carta de rangos, se utiliza la distribucin del


rango relativo W=R/. Si el valor de la desviacin estndar cuando el proceso
est en control es 0, entonces la curva OC muestra la probabilidad de no

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detectar un corrimiento a un nuevo valor 1, donde 1>0 , en la primera


muestra despus del corrimiento. Se grafica contra = 1/0.

Por ejemplo si = 2 con n=5, slo se tienen una probabilidad del 40% de
detectar este corrimiento en cada muestra subsecuente. Por tanto la carta R
tiene poca sensibilidad de detectar pequeos corrimientos en sigma, para cual
se debe usar la carta S con n>10.

LONGITUD DE CORRIDA MEDIA

La longitud de corrida media para la carta de Shewhart cuando el proceso est


en control es:

ARL = 1 / P ( un punto fuera de control) = ARL 0 = 1 /


(3.21)

Cuando el proceso est fuera de control es:

ARL1 = 1 / ( 1 - ) (3.22)

De las grficas de ARL anexas, se observa que para detectar un corrimiento de


1.5 con n=3, se requiere un ARL 1 = 3. Se puede reducir el ARL 1 a 1 si se
incrementa la n=16.

3.3 CARTAS DE CONTROL PARA X y S

Estas cartas de control son recomendadas cuando:

1. El tamao de muestra es moderadamente grande n>10 o 12 (donde el


rango pierde eficiencia por no tomar en cuenta valores intermedios).
2. El tamao de muestra es variable.

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Su construccin es similar a la de la carta de medias-rangos, excepto que en


lugar del rango R en cada subgrupo se calcula la desviacin estndar S.

Xbar-S Chart of X1, ..., X5


UCL=46.91
40
Sample Mean

20 __
X=10.9
0

-20
LCL=-25.11
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

60
UCL=52.71
45
Sample StDev

30 _
S=25.23

15

0 LCL=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Figura 3.19 Ejemplo de carta X-S

S2 es un estimador insesgado de la varianza poblacional 2 sin embargo S no es


un estimador insesgado de . Si la distribucin es normal, entonces S estima a
c4 donde c4 es una constante que depende del tamao de muestra n. Adems

la desviacin estndar de S es 1 c 4 .

1/ 2
2 ( n / 2)
c4 (3.18)
n 1 ((n 1) / 2)

CASO DE n CONSTANTE

Con esta informacin se pueden establecer los lmites de control para la carta
X y S, cuando se conoce el valor de dado que existe un historial.

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Para la carta S se tiene: Para la carta X se tiene:


LSCs = c4 + 3 1 c 4 = B6 LSCX = + A
(3.20)
LCs = c 4 LC =

LICs = c4 - 3 1 c 4 = B5 LICX = - A

Los valores para las constantes se encuentran tabuladas para diferentes


valores de n en la tabla de constantes.

En el caso de que no se conozca la desviacin estndar de la poblacin, se


puede estimar utilizando diversas muestras m con datos histricos, donde se
obtenga la desviacin estndar en cada una de ellas y se promedien.

1 m
S Si
m i 1
(3.21)

__
S (3.22)

c4

Como el estadstico S /c4 es un estimador insesgado de , los parmetros de la


carta sern los siguientes:

S
LSCs = S 3 1 c 42 = B4 S (3.23)
c4

LCs = S
S
LICs = S 3 1 c 42 = B3 S
c4

Para el caso de la carta X , cuando S /c4 se una para estimar los lmites de
control para esta carta son:

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S
LSCx = X + 3 = X + A3 S
c4 n

(3.24)
LCx = X
S
LICx = X - 3 = X - A3 S
c4 n

Todas las constantes c4, As y Bs se encuentran tabuladas en funcin de n en la


tabla de constantes, como sigue:

Tabla 3.2 Constantes para lmites de control en cartas X-S

n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .
5 0.94 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.03 1.97 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.61
13 0.9794 0.832 0.85 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.75 0.763 0.448 1.552 0.44 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.49 1.483
20 0.9869 0.671 0.68 0.51 1.49 0.504 1.47
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.64 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.6 0.606 0.565 1.435 0.559 1.42

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CASO DE n VARIABLE

En el caso de tamao de muestra variable, se utiliza el promedio ponderado de


las medias y de las desviaciones estndar como sigue:

n X i i
X i 1
m
(3.25)
n
i 1
i

1/ 2

(n i 1) S
i
2

S (3.26)
m

ni m
i 1
Ejemplo 3.4 Para una carta X-S con lmites variables, se tomaron los datos
siguientes, corriendo en Minitab:
Muest Muest Muestr
Datos ra Datos ra Datos a Datos Muestra
74.030 1 74.000 7 73.994 14 74.009 21
74.002 1 73.985 8 74.000 14 74.005 21
74.019 1 74.003 8 73.984 14 73.996 21
73.992 1 73.993 8 74.012 15 74.004 22
74.008 1 74.015 8 74.014 15 73.999 22
73.995 2 73.998 8 73.998 15 73.990 22
73.992 2 74.008 9 74.000 16 74.006 22
74.001 2 73.995 9 73.984 16 74.009 22
73.998 3 74.009 9 74.005 16 74.010 23
74.024 3 74.005 9 73.998 16 73.989 23
74.021 3 73.998 10 73.996 16 73.990 23
74.005 3 74.000 10 73.994 17 74.009 23
74.002 3 73.990 10 74.012 17 74.014 23
74.002 4 74.007 10 73.986 17 74.015 24
73.996 4 73.995 10 74.005 17 74.008 24
73.993 4 73.994 11 74.006 18 73.993 24
74.015 4 73.998 11 74.010 18 74.000 24
74.009 4 73.994 11 74.018 18 74.010 24
73.992 5 73.995 11 74.003 18 73.982 25
74.007 5 73.990 11 74.000 18 73.984 25

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74.015 5 74.004 12 73.984 19 73.995 25


73.998 5 74.000 12 74.002 19 74.017 25
74.13
74.014 5 74.007 12 74.003 19 25
74.009 6 74.000 12 74.005 19
73.994 6 73.996 12 73.997 19
73.997 6 73.983 13 74.000 20
73.985 6 74.002 13 74.010 20
73.995 7 73.998 13 74.013 20
74.006 7 74.006 14 73.998 21
73.994 7 73.967 14 74.001 21

Xbar-S Chart of Datos


74.02 UCL=74.02046

74.01
Sample Mean

__
74.00 X=74.0009

73.99

LCL=73.98134
73.98
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
Sample

0.024 UCL=0.02403

0.018
Sample StDev

0.012
_
S=0.00736
0.006

0.000 LCL=0

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
Sample

Tests performed with unequal sample sizes

Fig. 3.20 Ejemplo de carta X-S con lmites variables

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Ejemplo 3.5 Otro ejemplo con n variable, la X = 74.001 y la S = 0.0098, por


tanto los lmites de control son:

LSCX = 74.015
LCX = 74.001
LICX = 73.987

Para la carta S
LSCS = 0.020
LCS = 0.0098
LICS = 0

Como mtodo alterno para n variable se puede utilizar la n si no hay mucha


variacin entre los diferentes tamaos de muestra (dentro de n 25%).

ESTIMACIN DE

El valor de la desviacin estndar puede ser estimado del valor de S como


sigue:

S

c4

Para el ejemplo:
S
= 0.0094 / 0.94 = 0.01, tomando el valor de c 4 para n=5.
c4

Existe una variante de las cartas de medias-desviacin estndar denominadas


cartas de medias-varianza.

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3.4 CARTAS PARA LECTURAS INDIVIDUALES

Existen muchas situaciones donde el tamao de muestra es n =1, por ejemplo:


1. Cuando hay inspeccin automtica de piezas individuales.
2. La tasa de produccin es muy baja y no es inconveniente tomar muestras
de ms de una pieza.
3. Las mediciones entre unidades muestra difieren muy poco (slo por errores
de medicin de laboratorio) como en procesos qumicos.
4. En plantas de proceso como las de papel, el espesor de los acabados tiene
una variabilidad muy baja a travs del rollo.

En tales situaciones se utiliza la carta de control por lecturas individuales. Los


rangos mviles se empiezan a calcular a partir de la segunda muestra como

MR i = X i X i 1 .
Para este caso, los lmites de control para la carta X son:
MR
LSCx = X 3
d2
__
LCx = X (3.27)
MR
LICx = X 3
d2

n=2

Ejemplo 3.6 Se toman varios datos de viscosidades y se construye una carta de


lecturas individuales, donde el rango se calcula tomando cada dos valores
consecutivos, por tanto el valor de n = 2 y habr (m 1) rangos en total. Con
m = nmero de subgrupos.

Viscocid
Lote ad
1 33.75
2 33.05

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3 34.00
4 33.81
5 33.46
6 34.02
7 33.68
8 33.27
9 33.49
10 33.20
11 33.62
12 33.00
13 33.54
14 33.12
15 33.84

I-MR Chart of Viscocidad


UCL=34.802
34.5
I ndividual Value

34.0
_
33.5 X=33.523

33.0

32.5
LCL=32.245
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Observation

1.6 UCL=1.571

1.2
Moving Range

0.8
__
MR=0.481
0.4

0.0 LCL=0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Observation

Fig. 3.21 Carta de lecturas individuales o rango mvil (I-MR)

El proceso est en control estadstico.

Ejemplo 3.7: Se toman varios datos de edades y se construye una carta


de lecturas individuales, donde el rango se calcula tomando cada dos
valores consecutivos, por tanto el valor de n = 2 y habr (m 1) rangos
en total. Con m = nmero de valores individuales.

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Por ejemplo:
Valores
individuales Rango
23 -
15 8
11 4
24 13
38 14
19 19

Al final se hace un promedio de los valores individuales X y un promedio


de rangos mviles R y los lmites de control para la carta I-MR se
calculan con las frmulas siguientes:

Para la carta I: LSCx X (2.66 * R ) LICx X (2.66 * R )


y para la carta R: LICr 0 LSCr 3.27 * R

I-MR Chart of Supp1


1 1
UCL=601.176
601
I ndividual Value

600
_
X=599.548

599

598 LCL=597.920
1
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Observation

2.4
1
UCL=2.000
Moving Range

1.8

1.2
__
0.6 MR=0.612

0.0 LCL=0
1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Observation

Figura 3.22 Carta de control I-MR. El proceso no est en control


estadstico.

Ejercicio Hacer una carta I-MR utilizando las fichas de ejemplo por
equipos.

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3.5 SELECCIN ENTRE CARTAS POR VARIABLES Y POR


ATRIBUTOS

Las cartas por atributos tiene la ventaja que consideran varias caractersticas a
la vez clasificando la unidad como conforme o no conforme, si no cumple
alguna de esas caractersticas. Por otra parte si esas caractersticas se
controlan como variables, debe llevarse una carta de control para cada una de
esas caractersticas, lo cual es ms laborioso, otra alternativa es el C.E.P.
multivariado.

Las cartas por variables proporcionan mayor informacin del proceso que las
de atributos, tal como la media del proceso y su variabilidad, tambin
proporcionan informacin para realizar estudios de capacidad de los procesos.

Las cartas por variables permiten tomar acciones cuando se presentan


situaciones fuera de control, antes de que se produzcan artculos no
conformes, lo que no sucede con las cartas por atributos hasta que el proceso
genere ms disconformes.

LIE 1 2 3 LSE
Reaccin de carta X-R Reaccin de carta p

Fig. 3.23 Comparacin de sensibilidad entre cartas de control

Tal vez la ventaja ms importante de la carta X-R es que proporciona un


indicador de inicio de problemas y permite al personal operativo tomar
acciones correctivas antes que se produzcan defectivos realmente, de esta
forma las cartas X-R son indicadores gua de falla, mientras que las cartas p (o
c o u) no reaccionan a menos que el proceso haya cambiado tanto que se
produzcan ms defectivos.

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En la figura, cuando la media del proceso esta en 1 se producen pocas no


conformidades, si la media del proceso se corre hacia arriba, cuando llegue a 2
la carta X-R habr mostrado un patrn anormal o puntos fuera de control para
tomar acciones correctivas, mientras que la carta p no reaccionar hasta que la
media del proceso se haya recorrido hasta 3, o hasta que el nmero de
unidades no conformes producidas se haya incrementado. Por tanto las cartas
X-R son ms poderosas que las cartas p.

Para el mismo nivel de proteccin contra corrimientos del proceso, la carta p


requiere un tamao de muestra mayor, la X-R requiere tomar mucho menos
unidades aunque las mediciones toman ms tiempo. Esta consideracin es
importante para el caso de pruebas destructivas.

Ejemplo 3.8 Si el proceso se controla con una carta X , donde el valor medio
de la caracterstica de calidad es 50 y la desviacin estndar es 2, para lmites
de 3-sigma y especificaciones LIE=44 y LSE=56, cuando el proceso est en
control en el valor nominal de 50, la fraccin no conforme es 0.0027.

Suponiendo que la media del proceso del proceso se corre a 52, la fraccin
defectiva producida ser aproximadamente 0.0202, si se desea que la
probabilidad de detectar este corrimiento en la siguiente muestra subsecuente
sea del 0.50, entonces el tamao de muestra en la carta X debe ser tal que se
cumpla que el LSC sea 52 o sea:

3(2)
50 52
n
donde n=9,

Si se utiliza una carta p entonces el tamao de muestra requerido para tener la


misma probabilidad de detectar el corrimiento es:

2
k
n p (1 p )

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Con k = 3, que es el ancho de los lmites de control, p = 0.0027 y es la


magnitud de incremento en fraccin defectiva o sea = 0.0202 0.0027 =
0.0175, de esta forma,

n = 79.23 80

Donde se observa que a menos que el costo de medir 9 muestras sea mayor
que 9 veces el costo de inspeccin por atributos, las carta X es ms
econmica de aplicar.

GUA PARA IMPLEMENTAR CARTAS DE CONTROL

Se sugiere lo siguiente:
1. Determinar cual es la caracterstica a controlar.
2. Seleccionar un tipo de carta de control.
3. Identificar el proceso donde se implantarn las cartas de control.
4. Tomar acciones para mejorar el proceso, como resultado de la aplicacin de
la carta de control.
5. Seleccionar el sistema de coleccin de datos y software de C.E.P.

SELECCIN DE LA CARTA DE CONTROL ADECUADA


A. Se prefiere una carta por variables en las situaciones siguientes:
1. Se inicia un proceso o producto nuevo.
2. El proceso ha estado mostrando un comportamiento inconsistente en forma
crnica.
3. Se requieren pruebas destructivas.
4. Se desea economizar el control cuando el proceso es estable.
5. Existen tolerancias muy cerradas u otros problemas de manufactura.
6. El operador debe decidir si ajustar el proceso o no, o cuando evaluar el
ajuste.
7. Se debe presentar evidencia de estabilidad y de capacidad como en
industrias reguladas.

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B. Se prefiere una carta por atributos en las situaciones siguientes:


1. Los operadores controlan las causas asignables y es necesario mejorar el
proceso.
2. El proceso es una operacin de ensamble compleja y la calidad se evala
por la ocurrencia de no conformidades (computadoras, autos, etc.).
3. Es necesario un control del proceso, pero no se pueden hacer mediciones.
4. Se requiere un historial del desempeo del proceso para revisin ejecutiva.

C. Cartas de control por lecturas individuales

1. Es inconveniente o difcil obtener ms de una medicin por muestra, o la


repeticin de muestras slo mostrar errores de medicin de laboratorio, tal
como ocurre en proceso qumicos.
2. Se cuenta con inspeccin automatizada de cada unidad de producto. Para
estos casos tambin se deben considerar las cartas de sumas acumuladas o
de media mvil ponderada.
3. Los datos disponibles son muy lentos en el tiempo, por ejemplo datos
contables mensuales.

3.6 APLICACIN DE CARTAS DE CONTROL POR


VARIABLES

Algunas de las aplicaciones de las cartas de control por variables son:

1. Mejora de procesos de proveedores. Reducir su variabilidad a travs de


centrar su proceso y tomar acciones correctivas.
2. Seleccin de equipo productivo a travs de demostracin de su capacidad
antes de su embarque.
3. Corridas cortas en talleres de manufactura. Se controla la desviacin
respecto a la media especificada, de una caracterstica especfica de
calidad para diferentes productos similares.
4. Aplicaciones no manufactureras. En estos casos se tiene que: (1) no hay
especificaciones, (2) se requiere ms imaginacin para aplicar las cartas de

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control. Se usan por ejemplo para reducir el tiempo de proceso de las


cuentas por pagar (pago de cheques).

TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL


Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son:

n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.072 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078

n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .
5 0.94 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.03 1.97 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.61
13 0.9794 0.832 0.85 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.75 0.763 0.448 1.552 0.44 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.49 1.483
20 0.9869 0.671 0.68 0.51 1.49 0.504 1.47
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.64 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.6 0.606 0.565 1.435 0.559 1.42

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4. CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS


4.1 INTRODUCCIN

Muchas caractersticas de calidad no pueden ser representadas


numricamente, denominndose atributos. En tales casos cada artculo
completo se clasifica como conforme o no conforme a especificaciones y/o
estndares, es decir como defectivo o no defectivo, no defectuoso o
defectuoso, bueno o malo, discrepante o no discrepante.

Fig. 4.1 Cuando el producto no es funcional es no conforme, defectivo o


defectuoso. Puede ser reparado o desperdicio.

Para controlar productos defectivos o no conformes, se utiliza la carta de


control p de fraccin defectiva o la np para el nmero de defectivos o de no
conformes. Se aplica a productos simples (tornillos, lpices, botellas, etc.)

Cuando ms bien se controla el nmero de defectos o no conformidades que se


observan en un producto, se utiliza la carta de control para no conformidades o
defectos c cuando la muestra es constante o la u cuando es variable o
constante. Se aplica a productos complejos (coches, TV, cmaras de video,
escritorios, refrigeradores, etc.) Un defecto o no conformidad es una
discrepancia respecto a los estndares establecidos o a las especificaciones.

Fig. 4.1 El producto puede ser funcional pero puede tener defectos o no
conformidades, que pueden ser corregidas con retrabajo o no se pueden
corregir y ser desperdicio.

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4.2 CARTA DE CONTROL PARA FRACCIN NO CONFORME


-p

La fraccin no conforme es la relacin entre el nmero de artculos


discrepantes entre el total de artculos, se expresa como fraccin decimal,
aunque tambin se puede expresar en porcentaje. El artculo puede tener
varias caractersticas de calidad que son examinadas por un inspector, si el
artculo no est de acuerdo a los estndares, se le considera como defectuoso
o no conforme.

La fraccin defectiva o no conforme en la muestra se define como la relacin


entre el nmero de unidades no conformes D al tamao de muestra n, o sea:

Di
pi (4.1)
ni

La distribucin de este estadstico sigue la distribucin binomial por tanto:

__
p (4.2)

p(1 p )
2p (4.3)
n

Del modelo general para la carta de control de Shewhart, si w es un estadstico

que mide una caracterstica de calidad, con media w y varianza w2 , los


lmites de control son:

LSC = w + Lw
LC = w (4.4)
LIC = w - Lw

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Donde L es la distancia de la lnea central hasta los lmites de control, es


comn usar L = 3.

Por tanto los lmites de control de la carta p considerando L = 3 son:

__ __

LSCp = p 3 p (1 p )
__

n
__
LCp = p (4.5)

__ __

LICp = p 3 p (1 p )
__

Durante la operacin, se toman muestras de n unidades, se calcula la fraccin

defectiva pi y se grafca en la carta, mientras no se observe ningn patrn

anormal y pi se localice dentro de lmites de control, se puede concluir que el


proceso est en control, de otra forma, se concluir que la fraccin no
conforme se ha desplazado de su valor original y el proceso se encuentra fuera
de control.

Cuando la fraccin defectiva del proceso es desconocida, se estima de los


datos observados en m muestras iniciales, cada una de tamao n , por lo
general se toman 20 a 25 de estas. As si D i son unidades no conformes en la
muestra i , la fraccin defectiva de la muestra i - sima estar dada como:

pi = D i / n i = 1, 2, 3,....., m (4.6)

y el promedio de las fracciones individuales no conformes cuando p es


desconocida es:

m m

D p i i
(4.7)
p i 1
i 1

mn m

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El estadstico p estima la fraccin desconocida p, y los lmites preliminares de


control son:

p (1 p )
LSC p p 3 (4.5) anterior
n
LC p p

p(1 p )
LIC p p 3
n

Una vez hecha la grfica trazando los lmites anteriores, cualquier punto que se
encuentre fuera de control debe ser investigado, si se encuentra una causa
asignable o especial, deben tomarse medidas correctivas para prevenir su
recurrencia, los puntos correspondientes a la situacin fuera de control se
eliminan y se calculan de nuevo los lmites de control preliminares.

Ejemplo 4.1 Para el llenado de cajas de concentrado de jugo de naranja de 6


oz., se inspecciona cada caja y se inspecciona el sello para evitar fugas, se
lleva una carta de control para tomar acciones y mejorar el desempeo de la
maquina selladora.

Para establecer la carta de control, se toman 30 muestras de 50 piezas cada


una en intervalos de una hora.
Defect Defect
Hora os Hora os
1 12 16 8
2 15 17 10
3 8 18 5
4 10 19 13
5 4 20 11
6 7 21 20
7 16 22 18
8 9 23 24
9 14 24 15
10 10 25 9
11 5 26 12

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12 6 27 7
13 17 28 13
14 12 29 9
15 22 30 6

Como en total se encontraron 347 cajas no conformes, se estima p como


sigue:
m m

Di p i
=
347
= 0.2313
p i 1
i 1 (30)(50)
mn m
Los lmites de control usando Minitab son:
LSCp = 0.4102
LCp = 0.2313
LICp = 0.0524

P Chart of Defectos
0.5 1

0.4 UCL=0.4102

0.3
Proportion

_
P=0.2313
0.2

0.1
LCL=0.0524

0.0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

Figura 4.1 Carta de control p fuera de control

De la carta de control se observa que las muestras 15 y 23 estn fuera de los


lmites de control, de tal forma que el proceso esta fuera de control.

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Del anlisis de los datos de la bitcora se encontr que la muestra 15


corresponde a el cambio de un nuevo lote de cajas el cual fue diferente y que
la muestra 23 corresponde a un operador sin experiencia asignado
temporalmente a la mquina.

Tomando acciones correctivas para evitar la recurrencia de las causas


anteriores y calculando nuevos lmites preliminares con los puntos 15 y 23
eliminados, se tiene con Minitab:

LSCp = 0.3893
LCp = 0.2150
LICp = 0.0407

P Chart of Defectos
1
0.4
UCL=0.3893

0.3
Proportion

_
P=0.215
0.2

0.1

LCL=0.0407

0.0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

Figura 4.2 Carta de control p fuera de control en un punto

En la grfica de lmites revisados, se observa que la muestra 20 excede el


lmite superior de control, sin embargo no se encontr una causa asignable, por
tanto se retiene este punto para el clculo de los lmites preliminares. Tampoco

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se observan patrones de anormalidad, la mayor racha o corrida tiene 5 puntos


sobre la lnea central, lo cual no representa una situacin fuera de control.
De esta forma se concluye que el proceso est en control a una p = 0.2150
adoptando los lmites preliminares para control futuro.

P Chart of Defectos
0.4
UCL=0.3804

0.3
Proportion

_
0.2 P=0.2081

0.1

LCL=0.0359
0.0
1 4 7 10 13 16 19 22 25
Sample

Figura 4.3 Carta de control p en control estadstico

Se observa que a pesar de que el proceso est en control, no se tienen


presentes problemas controlables por el operador, por tanto las causas de
variabilidad son comunes y su reduccin depende slo del control de la
administracin, una vez que interviene e Ingeniera realiza una serie de ajustes
a la mquina, se monitorea la mejora.

Continuando con el ejemplo, se toman 24 muestras adicionales durante los


siguientes 3 turnos, la grfica se hizo utilizando Minitab:

Se observa que la p media del proceso ha mejorado con los ajustes y una
mejor atencin de los operadores.

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Se puede probar la hiptesis que la fraccin no conforme en los ltimos 3


turnos, difiere de la fraccin no conforme preliminar, con el procedimiento de
prueba de hiptesis:

H0: p1 = p 2
H1: p1 > p 2

Donde p1 es la fraccin no conforme de los datos preliminares


(p1 = p 1 = 0.2182) y p2 es la fraccin no conforme del periodo actual. Para
estimar p2 se toman las ltimas 24 muestras o sea:

m m

Di p i
=
133

133
0.1108
p2 i 31
i 31 (50)(24) 1200
mn m

El estadstico de prueba aproximado para probar la hiptesis anterior es:

p1 p 2
Z0 n1 p1 n2 p 2
n1 n 2 con p
p (1 p ) n1 n 2
n1n 2

por tanto:
(1400)(0.2150) (1200)(0.118)
p 0.1669
1400 1200

0.2150 0.1108
Z0 7.10
1 1
(0.1669)(0.8331)
1400 1200

Para un nivel de significancia del 0.05 en la distribucin normal, se encuentra


que:

Z0 = 7.10 > Z.05 = 1.645

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Por tanto se rechaza la hiptesis H o concluyendo que hubo una reduccin en la


fraccin defectiva promedio del proceso.

Usando slo los ltimos 24 puntos para calcular nuevos lmites se tiene:

LSCp = 0.2440
LCp = 0.1108
LICp = -0.0224 = 0

Continuando con el ejemplo, usando los nuevos lmites de control, para las
siguientes 40 muestras se observa una mejora del proceso, dentro de control.
Es muy importante que para identificar fcilmente las causas asignables, se
lleve una bitcora de cambios, donde se anote cada cambio que ocurra,
independientemente que afecte o no al proceso.

Figura 4.4 Carta de control p con nuevos puntos tomados

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Diseo de la carta de control

Determinacin del tamao de muestra:

Mtodo 1.
El tamao de muestra n se escoge de tal forma que la probabilidad de
encontrar al menos una unidad no conforme por muestra sea al menos .

Ejemplo 4.2, si p = 0.01 y se desea que la probabilidad de hallar al menos una


unidad no conforme sea al menos 0.95, si D es el nmero de artculos no
conformes, entonces:

P{ D >= 1 }>= 0.95

Con la distribucin de Poisson se encuentra que = np debe ser mayor a 3.00,


por tanto si p = 0.01, implica que el tamao de muestra debe ser al menos de
300.

Mtodo 2.
Duncan sugiere que el tamao de muestra debe ser tal que se tenga
aproximadamente un 50% de probabilidad de detectar el corrimiento de la
media de un proceso en una cierta cantidad.

Asumiendo que la distribucin normal es una buena aproximacin a la


binomial, se selecciona n de tal forma que el lmite superior de control coincida
con la fraccin defectiva en el estado fuera de control.

Entonces n debe satisfacer:

p (1 p )
L (4.8)
n

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Donde L es la distancia de la lnea central a los lmites de control en


desviaciones estndar, por tanto,

2
L
n p (1 p ) (4.9)

Ejemplo 4.3, si p = 0.01 y se desea que la probabilidad de detectar un


corrimiento a p = 0.05 sea de 0.50, entonces = 0.05 0.01 = 0.04 y si L = 3-
sigma, se tiene:

2
3
n= (0.01)(0.99) 56
0.04

Mtodo 3.
Otro mtodo a usar si la fraccin p en control es pequea, consiste en
seleccionar n tan grande de tal forma que el lmite inferior tenga un valor
positivo, para poder investigar la causa de generacin de muy bajas cantidades
de artculos defectuosos con objeto de identificar errores de inspeccin o de los
equipos de medicin. Se tiene:

p (1 p )
LIC p p L 0 (4.10)
n
Implica que,
(1 p ) 2
n L (4.11)
p

Ejemplo 4.4, si p = 0.05 y se tienen lmites de control a 3-sigma, el tamao de


muestra ser:

0.95
n (3) 2 171
0.05

Si n>171 unidades, la carta de control tendr un lmite inferior de control


positivo.

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Es importante notar que la carta de control p se basa en la distribucin normal,


es decir que la probabilidad de ocurrencia de artculos defectivos es constante
y que las unidades producidas son independientes. Si no es el caso, se debe
desarrollar una carta de control basada en el modelo de probabilidad
adecuado.
Ejemplo 4.3 Para un servicio de mantenimiento se tomaron datos de 30
muestras de 50 servicios contabilizando las quejas en cada uno como
sigue:

No No No
conforme conforme conforme
Servicio s Servicio s Servicio s
1 12 11 5 21 20
2 15 12 6 22 18
3 8 13 17 23 24
4 10 14 12 24 15
5 4 15 22 25 9
6 7 16 8 26 12
7 16 17 10 27 7
8 9 18 5 28 13
9 14 19 13 29 9
10 10 20 11 30 6
Como en total se encontraron 347 quejas o servicios no conformes, se
estima p como sigue:
m m

Di p i
=
347
= 0.2313
p i 1
i 1 (30)(50)
mn m
Los lmites de control usando Minitab son:
LSCp = 0.4102 LCp = 0.2313 LICp = 0.0524

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Fig. 4.4a. Carta de control P para la fraccin de servicios no conformes.

Ejercicio Hacer una carta de control P por atributos.

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4.3 CARTA DE CONTROL np

En lugar de tener fracciones no conformes, si el tamao de muestra es


constante, se pueden utilizar directamente el nmero de artculos defectivos o
no conformes np, para evitarle operaciones aritmticas al operador, los
parmetros de esta carta son:

LSC np np 3 np (1 p )

LC np np (4.12)

LIC np np 3 np (1 p )

Si no se conoce el valor de p, se puede estimar con la p .


El nmero de defectivos o no conformes es un entero, por tanto es ms fcil de
graficar e interpretar por los operadores que llevan el C.E.P.

Ejemplo 4.5, con los ltimos 39 datos de las cajas de concentrado de jugo de
naranja, se tiene:

NP Chart of Defectos
20
UCL=19.02

15
Sample Count

__
10 NP=10.41

LCL=1.80
0
1 4 7 10 13 16 19 22 25
Sample

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Figura 4.5 Carta de control np en control estadstico con lmites de control


constantes

4.4 TAMAO DE MUESTRA VARIABLE

En algunas aplicaciones para la fraccin defectiva, la muestra es la inspeccin


100% de los lotes producidos en un periodo de tiempo, por tanto la muestra
ser variable. Se tiene varios mtodos para llevar una carta de control:

Mtodo 1. Lmites variables

Se calculan lmites de control para cada muestra en base en la fraccin

defectiva promedio p y su tamao de muestra con p 3 p (1 p ) / ni . La

amplitud de los lmites es inversamente proporcional a la raz cuadrada del


tamao de muestra.

Ejemplo 4.6, Se tomaron datos del resultado de la inspeccin diaria,


registrando la produccin total y los defectivos del da.

Fra- Des-
n-var nodef def LSC LIC est
0.1836 0.0073 0.02939
100 12 0.12 86 35 18
-
0.1940 0.0030 0.03286
80 8 0.1 93 7 11
-
0.1940 0.0030 0.03286
80 6 0.075 93 7 11
0.1836 0.0073 0.02939
100 9 0.09 86 35 18
0.0909 0.1795 0.0114 0.02802
110 10 09 82 38 4
0.1090 0.1795 0.0114 0.02802
110 12 91 82 38 4
0.1836 0.0073 0.02939
100 11 0.11 86 35 18
0.1836 0.0073 0.02939
100 16 0.16 86 35 18
90 10 0.1111 0.1884 0.0025 0.03098

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11 55 65 17
0.0666 0.1884 0.0025 0.03098
90 6 67 55 65 17
0.1818 0.1795 0.0114 0.02802
110 20 18 82 38 4
0.1760 0.0150 0.02683
120 15 0.125 03 17 1
0.1760 0.0150 0.02683
120 9 0.075 03 17 1
0.0666 0.1760 0.0150 0.02683
120 8 67 03 17 1
0.0545 0.1795 0.0114 0.02802
110 6 45 82 38 4
-
0.1940 0.0030 0.03286
80 8 0.1 93 7 11
-
0.1940 0.0030 0.03286
80 10 0.125 93 7 11
-
0.1940 0.0030 0.03286
80 7 0.0875 93 7 11
0.0555 0.1884 0.0025 0.03098
90 5 56 55 65 17
0.1836 0.0073 0.02939
100 8 0.08 86 35 18
0.1836 0.0073 0.02939
100 5 0.05 86 35 18
0.1836 0.0073 0.02939
100 8 0.08 86 35 18
0.1836 0.0073 0.02939
100 10 0.1 86 35 18
0.0666 0.1884 0.0025 0.03098
90 6 67 55 65 17

La fraccin defectiva media se calcula como sigue:

25

D i
234
p i 1
25
0.096
2450
n
i 1
i

Y los lmites de control se calculan como sigue:


(0.096)(0.904)
LSCp= p 3 p 0.096 3
ni

LC = 0.096

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(0.096)(0.904)
LICp= p 3 p 0.096 3
ni

NP Chart of nodef

1
20

UCL=16.94
15
Sample Count

10 __
NP=8.58

0 LCL=0.22

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23
Sample
Tests performed with unequal sample sizes

Figura 4.6 Carta de control np en control estadstico con lmites de


control variables

Se observa que la muestra 11 est fuera de control.

Cuando se toman lmites de control variables, el anlisis de patrones de


anormalidad no tiene sentido ya que la desviacin estndar en cada muestra
esta variando y no es posible visualizar corridas o rachas.

Mtodo 2. Tamao de muestra promedio


En este caso, se toma el promedio de los tamaos de muestra para calcular los
lmites de control aproximados, se asume que los tamaos de muestra no
diferirn en forma apreciable de los observados, aqu los lmites de control son
constantes. Si existen grandes diferencias mayores al promedio ms o menos
25%, este mtodo no es adecuado.

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m

n i
2450
n i 1
98
m 25

Con lmites de control basados en n 98 :

(0.096)(0.904)
LSCp= p 3 p 0.096 3 0.185
98
LC = 0.096
(0.096)(0.904)
LICp= p 3 p 0.096 3 0.007
98
Otra vez de la grfica se observa que el punto 11 est fuera de control.

Mtodo 3. Carta de control estandarizada.

En este mtodo, los puntos se grafican en unidades de desviacin estndar. En


la carta de control estandarizada, la lnea central es cero y los lmites de
control estn a +3 y 3 respectivamente, la variable a graficar en la carta es:

pi p
Zi
p (1 p ) (4.13)
ni

donde p (o p si no hay estndar) es la fraccin defectiva media del proceso en


su condicin de control estadstico; pi , ni son datos de la muestra.

Ejemplo 4.7 Con los 25 datos anteriores se obtiene una carta estandarizada,
por medio de Minitab.

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I-MR Chart of Z-Estand


1
3.0 UCL=2.871
I ndividual Value

1.5

_
0.0 X=-0.028

-1.5

-3.0 LCL=-2.926
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23
Observation

1
4
UCL=3.560
Moving Range

2
__
1 MR=1.090

0 LCL=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23
Observation

Figura 4.7 Carta de control p estandarizada (Zi)

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Esta carta tiene la ventaja de poder identificar patrones de anormalidad e


identificar curva caracterstica de operacin, lo que no puede hacerse con la
carta de lmites de control variables. Una aplicacin diferente de la
manufactura sera el control de rdenes de compra errneas para cada
semana.

4.5 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN Y ARL

La curva OC muestra en forma grfica la probabilidad de aceptar


incorrectamente la hiptesis de control estadstico (i.e. cometer un error tipo II
o ). Esta curva proporciona una evaluacin de la sensibilidad de la carta de
control, o sea la habilidad de detectar un corrimiento en la fraccin no
conforme del proceso, desde su valor nominal p a algn otro valor p .

La probabilidad de error tipo II para la carta de control de fraccin defectiva o


no conforme es:

P{ p LSC p} P{ p LIC p} = P{D nLSC p} P{D nLIC p}

(4.14)

Como D es una variable aleatoria binomial con parmetros n y p, el error


puede ser obtenido de la funcin de distribucin acumulativa (la distribucin de
Poisson se puede utilizar como una aproximacin).

Ejemplo 4.8 Si n = 50, LIC = 0.0303 y LSC = 0.3697, el error tipo II se calcula
como sigue:

P{D (50)(0.3697 ) p} P{D (50)(0.030) p} P{D 18.49 p} P{D 1.52 p}

Sin embargo como D debe ser un entero, se toma,

P{D 18 p} P{D 1 p}

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La curva OC se construy utilizando Excel y Minitab.

NOTA: Se debe usar la distribucin de Poisson para np <=5 y distribucin


Normal en caso contrario.
A continuacin se muestran curvas OC con 3 distribuciones.

CURVA OC POR BINOMIAL CURVA OC POR POISSON


LIC = 1, LSC =18, n = 50 LIC = 1, LSC =18, n =50

p P(d<=18|p) P(d<=1|p) Beta=dif np P(d<=18|p) P(d<=1|p) Beta=dif


0.01 1 0.910564687 0.089435313 0.5 1 0.90979599 0.090204
0.03 1 0.555279873 0.444720127 1.5 1 0.5578254 0.442175
0.05 1 0.279431752 0.720568248 2.5 1 0.2872975 0.712703
0.1 0.99999986 0.03378586 0.966214001 5 0.999998598 0.04042768 0.959571
0.15 0.999940418 0.002905453 0.997034965 7.5 0.999697003 0.00470122 0.994996
0.2 0.997488797 0.000192678 0.997296118 10 0.992813495 0.0004994 0.992314
0.25 0.97126684 1.0005E-05 0.971256835 12.5 0.948148253 5.031E-05 0.948098
0.3 0.859440124 4.0337E-07 0.85943972 15 0.819471712 4.8944E-06 0.819467
0.35 0.621587051 1.2349E-08 0.621587038 17.5 0.608934016 4.6453E-07 0.608934
0.4 0.335613264 2.7751E-10 0.335613263 20 0.381421949 4.3284E-08 0.381422
0.45 0.127345115 4.36961E-12 0.127345115 22.5 0.202192955 3.976E-09 0.202193
0.5 0.032454324 4.52971E-14 0.032454324 25 0.092040859 3.6109E-10 0.092041
0.55 0.005296752 2.84312E-16 0.005296752 27.5 0.036606283 3.249E-11 0.036606

CURVA OC POR NORMAL COMPARACION DE LAS


LIC = 0.0303, LSC = 0.3697, n = 50 BETAS CON 3 DECIMALES
p Sigma LSC Z-Value LIC Z Value PZLSC PZLIC Beta np BINOM POISSON NORMAL
0.01 0.014071247 25.56276589 1.442658181 1 0.925442 0.074558435 0.5 0.089 0.090 0.075
0.03 0.024124676 14.08101803 0.0124354 1 0.504961 0.495039094 1.5 0.445 0.442 0.495
0.05 0.03082207 10.37243767 -0.639152399 1 0.261362 0.738638167 2.5 0.721 0.713 0.739
0.1 0.042426407 6.356889963 -1.642844755 1 0.050208 0.949792486 5 0.966 0.960 0.950
0.15 0.050497525 4.350708304 -2.370413218 0.999993 0.008884 0.991109116 7.5 0.997 0.995 0.991
0.2 0.056568542 2.999900519 -2.999900519 0.99865 0.00135 0.997299184 10 0.997 0.992 0.997
0.25 0.061237244 1.954692815 -3.587685977 0.97469 0.000167 0.97452355 12.5 0.971 0.948 0.975
0.3 0.064807407 1.075494349 -4.161561348 0.858923 1.58E-05 0.858907423 15 0.859 0.819 0.859
0.35 0.067453688 0.292052231 -4.739548131 0.614877 1.07E-06 0.614875519 17.5 0.622 0.609 0.615
0.4 0.069282032 -0.437342829 -5.336159863 0.330931 4.76E-08 0.33093135 20 0.336 0.381 0.331
0.45 0.070356236 -1.141334502 -5.965356044 0.126865 1.22E-09 0.126865425 22.5 0.127 0.202 0.127
0.5 0.070710678 -1.842720272 -6.642561102 0.032685 1.55E-11 0.032684871 25 0.032 0.092 0.033
0.55 0.070356236 -2.562672611 -7.386694153 0.005194 7.58E-14 0.005193524 27.5 0.005 0.037 0.005

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La curva OC calculada con las diferentes distribuciones de probabilidad se


muestra a continuacin:

Para esta carta de control, tambin se puede calcular la longitud de corrida


media ARL.

Cuando es proceso est en control:

ARL0 = 1 /

Cuando el proceso est fuera de control:

ARL1 = 1 / (1 - )

Estas probabilidades de errores tipo I y II se pueden obtener o por calculo de


probabilidades o usando las curvas OC.
Figura 4.8 Curva caracterstica de operacin np

Ejemplo 4.9, suponiendo que el proceso se corre a p 1 = 0.3, siendo su valor


nominal p0 = 0.2. De la curva OC se observa que en este caso es 0.9973
estando en control, en este caso = 1 - = 0.0027 y el valor de ARL0 es:

ARL0 = 1 / = 1 / 0.0027 = 370

Indicando que cada 370 puntos se puede tener una falsa alarma.

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4.6 CARTAS DE CONTROL PARA NO CONFORMIDADES


(DEFECTOS) c y u

Una no conformidad o defecto es una caracterstica especfica que no cumple


con la especificacin del producto. Las no conformidades pueden tener una
gravedad diferente desde menores hasta crticas. Se pueden desarrollar cartas
de control para el nmero total de no conformidades en una unidad o el
nmero promedio de no conformidades por unidad.

Estas cartas asumen que la ocurrencia de no conformidades en muestras de


tamao constante son modeladas bien por la distribucin de Poisson, es decir
implica que las oportunidades o localizaciones potenciales para las no
conformidades sea muy infinitamente grande y que la probabilidad de
ocurrencia de una no conformidad en cualquier localizacin sea pequea y
constante. Adems cada unidad de inspeccin debe representar una rea de
oportunidad idntica para la ocurrencia de no conformidades. Si estas
condiciones no se cumplen, el modelo de Poisson no es apropiado.

Tamao de muestra constante - CARTA c

Una unidad de inspeccin es simplemente una entidad para la cual es


conveniente registrar el nmero de defectos, puede formarse con 5 unidades
de producto, 10 unidades de producto, etc. Suponiendo que los defectos o no
conformidades ocurren en la unidad de inspeccin de acuerdo a la distribucin
de Poisson, o sea:
e c c x
p( x )
x!
(4.15)
Donde la media y la desviacin estndar tienen valor c; para x = 0, 1, 2, .......
Por tanto considerando L = 3-sigma, los lmites de control para la carta de no
conformidades son:

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LSCc = c +3 c

LCc = c (4.16)
LICc = c - 3 c en el caso que sea negativo toma el valor cero.

Si no hay estndar definido c se estima con el promedio de no conformidades


observadas en una muestra preliminar inspeccionada, o sea con c , en este
caso los parmetros de la carta son:

LSCc = c + 3 c

LCc = c (4.17)
LICc = c - 3 c en el caso que sea negativo toma el valor cero

Cuando no hay datos histricos, se calculan lmites de control preliminares.

Ejemplo 4.18 Para el nmero de no conformidades observadas en 26 unidades


de inspeccin sucesivas de 100 muestras de circuitos impresos, se obtuvieron
los datos siguientes:
No Conformidades
21 19
24 10
16 17
12 13
15 22
5 18
28 39
20 30
31 24
25 16
20 19
24 17
16 15

Donde,
LSC = 33.22
LC = 516 / 26 = 19.85 = c

Pgina 199
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LIC = 6.48

De la carta de control preliminar, se observa que hay 2 puntos fuera de control,


el 6 y el 20.

C Chart of NoConform
40 1

UCL=33.21
30
Sample Count

_
20 C=19.85

10
LCL=6.48
1

0
1 4 7 10 13 16 19 22 25
Sample

Figura 4.9 Carta de control C fuera de control estadstico

Una investigacin revel que el punto 6 fue debido a que un inspector nuevo
calific los circuitos impresos pero no tena la suficiente experiencia, fue
entrenado. El punto 20 fue causado por una falla en el control de temperatura
de la soldadora de ola, lo cual fue reparado. Por lo anterior se toman acciones
para evitar recurrencia, se eliminan y se recalculan los lmites de control.

Pgina 200
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C Chart of NoConform
35
UCL=32.97

30

25
Sample Count

_
20 C=19.67

15

10

LCL=6.36
5
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23
Sample

Figura 4.9 Carta de control C dentro de control estadstico

Como el proceso ya se encuentra en control estadstico, estos lmites se


tomarn como base para el siguiente periodo, donde se tomaron 20 unidades
de inspeccin adicionales.

No Conformidades 1
16 18
18 21
12 16
15 22
24 19
21 12
28 14
20 9
25 16
19 21

Se observa en la grfica que no se tienen puntos fuera de control, sin embargo


el promedio de defectos es alto, requiere la accin de la administracin.

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C Chart of C4
35
UCL=32.98

30

25
Sample Count

_
20 C=19.67

15

10

LCL=6.36
5
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Figura 4.10 Carta de control C dentro de control estadstico para otras 20


muestras muy alta c

Haciendo un anlisis de Pareto de los principales defectos se observ que el


principal defecto de soldadura insuficiente y soldadura fra, acumulan el 69%
del total, por lo que se deben enfocar los esfuerzos a resolver estos problemas.

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Figura 4.11 Pareto de no conformidades

Pgina 203
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Puede ser necesario estratificar el problema identificando en que modelo de


circuito impreso se presentan los defectos principalmente.

Otra forma de anlisis es el diagrama de causa efecto para identificar las


diferentes fuentes de no conformidades.

Figura 4.12 Diagrama de Ishikawa de causas potenciales para la falla de


soldadura

Seleccin del tamao de muestra

Aumentando el tamao de muestra se tiene ms oportunidad de encontrar no


conformidades o defectos, sin embargo esto tambin depende de
consideraciones econmicas y del proceso, si en lugar de tomar 1 unidad de
inspeccin, se toman n unidades de inspeccin, entonces los nuevos lmites de
control se pueden calcular por los siguientes mtodos:

Mtodo 1. Con nc
En este caso tanto la lnea central como los lmites de control se modifican por
el factor n, quedando como sigue ( c es la media de las no conformidades
observada en la unidad de inspeccin anterior):

Pgina 204
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LSC nc nc 3 nc

LC nc nc (4.18)

LIC nc nc 3 nc

Por ejemplo si se deciden utilizar 2.5 unidades de inspeccin para el caso de


los circuitos impresos (es decir inspeccionar 250 tarjetas) con n=2.5, se tiene:

LSC nc nc 3 nc = (2.5)(19.67) + 3 ( 2.5)(19.67 ) 70.22

LC nc nc = (2.5)(19.67) = 49.18

LIC nc nc 3 nc = (2.5)(19.67) - 3 ( 2.5)(19.67 ) 28.14

Carta de control de defectos por unidad U


Mtodo 2. Carta u
Si se encuentra un total de c no conformidades en la muestra de n unidades de
inspeccin, entonces el promedio de no conformidades por unidad de
inspeccin u es:
c
u (4.19)
n

Como c es una variable aleatoria que sigue la distribucin de Poisson, los


parmetros de la carta u de nmero de no conformidades o defectos por
unidad son:

u
LSC u u 3
n
LC u u (4.20)

u
LSC u u 3
n

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Donde u representa el nmero promedio de no conformidades por unidad en


un conjunto de datos preliminar. Los lmites anteriores se consideran lmites
preliminares.

Ejemplo 4.10 Para un fabricante de computadoras registrando los defectos


en su lnea de ensamble final. La unidad de inspeccin es una computadora y
se toman 5 unidades de inspeccin a un tiempo.

No conformidades
en cada 5 unidades carta u
10 9
12 5
8 7
14 11
10 12
16 6
11 8
7 10
10 7
15 5

Se calculan los lmites de control con:

__
Suma.de.no.conformidades
u
Suma.de.unidades.inspeccionadas

u =38.60 / 20 = 1.93
LSC = 3.79
LIC = 0.07

La carta de control queda como sigue:

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U Chart of C6
4
UCL=3.794

3
Sample Count Per Unit

_
2 U=1.93

0 LCL=0.066

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Figura 4.13 Carta de control de defectos por unidad U con tamao de muestra
constante en control estadstico

En la carta de control no se observa falta de control estadstico, por tanto los


lmites preliminares se pueden utilizar en corridas futuras.

MUESTRA VARIABLE CARTA u

En algunos casos las cartas de control para no conformidades se utilizan en la


inspeccin 100% de la produccin o lotes de producto, por tanto las unidades
de inspeccin no son constantes. En esta carta se tiene una lnea central
constante y los lmites de control varan inversamente con la raz cuadrada del
tamao de muestra n.

La lnea central y los lmites individuales de control se calculan como sigue:

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u
LSC ui u 3
ni

LC u u (4.21)

u
LSC ui u 3
ni

Ejemplo 4.11 En una planta textil, se inspeccionan defectos por cada 50m 2 los
datos se muestran a continuacin.

Unidad No
es conform
10 14
8 12
13 20
10 11
9.5 7
10 10
12 21
10.5 16
12 19
12.5 23

153
La lnea central es u 1.42
107.5
Donde u = Total de defectos observados / Total de unidades de inspeccin
De la grfica no se observan puntos fuera de control.

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U Chart of No conform
3.0

2.5 UCL=2.436
Sample Count Per Unit

2.0

_
1.5
U=1.423

1.0

0.5
LCL=0.411

0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Sample
Tests performed with unequal sample sizes

Figura 4.14 Carta de control para defectos por unidad con tamao de muestra
variable

Existen otras dos alternativas para el manejo de la carta u con n variable:

1. Usando un promedio de tamaos de muestra.

m
ni
n (4.22)
i 1 m

2. Usando una de control estandarizada (opcin preferida). Se grafica Z i con


lmites de control en +3 y 3, lnea central cero.

ui u
Zi
u (4.23)
ni

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Ejemplo 4.11 (Cont...) Estandarizando la carta se tiene:

Unidad NoCo Sigm


es nf aU Ui-Uprom Zu
0.3772
10 14 61 -0.02325581 -0.06164
0.4217
8 12 9 0.07674419 0.181949
0.3308
13 20 79 0.11520572 0.34818
0.3772
10 11 61 -0.32325581 -0.85685
0.3870
9.5 7 61 -0.68641371 -1.7734
0.3772
10 10 61 -0.42325581 -1.12192
0.3443
12 21 9 0.32674419 0.948761
0.3681
10.5 16 69 0.10055371 0.273119
0.3443
12 19 9 0.16007752 0.464814
0.3374
12.5 23 32 0.41674419 1.235046

1.4232
U prom 56

La carta de control estandarizada para U, se encuentra en control estadstico


como se muestra abajo.

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I Chart of Zu

3 UCL=3

2
Individual Value

_
0 X=0

-1

-2

-3 LCL=-3

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Observation

Figura 4.15 Carta de control U estandarizada

Sistema de demeritos

Con productos complejos, se identifican diversos tipos de defectos, desde los


que se consideran menores hasta los que ponen en riesgo la salud del usuario.
Por lo cual es necesario dar una ponderacin a esos diversos tipos de defectos
de acuerdo a su gravedad, un esquema posible es el siguiente:

Defectos tipo A Muy serios: La unidad no puede funcionar o fallar en el


campo, o puede causar dao al usuario.
Defectos tipo B Serios: La unidad tendr menos vida til, o puede causar
una falla de funcionamiento mayor.
Defectos tipo C Poco serios: La unidad puede tener fallas pero continuar
funcionando, o puede incrementar los costos de mantenimiento, o tener una
mala apariencia como usada.
Defectos tipo D Menores: La unidad no fallar en servicio pero tiene
defectos de apariencia, terminados o calidad de trabajo.

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Supngase que para los defectos anteriores se tengan los nmeros ciA, ciB, ciC,
ciD respectivamente en la i-sima unidad inspeccionada. Se asume que cada
clase de defectos es independiente y que la ocurrencia de defectos de cada
clase es modelada bien con la distribucin de Poisson. Entonces se puede
definir el nmero de demritos en la unidad de inspeccin por ejemplo como:

di = 100ciA + 50ciB + 10ciC + ciD (4.24)

Suponiendo que se toma una muestra de n unidades de inspeccin, entonces

n
el nmero de Demritos por unidad es (con d i 1
i nmero total de demritos en

todas las unidades de inspeccin):

ui = D / n = d
i 1
i
(4.25)
n
Como u es una combinacin lineal de variables aleatorias independientes de
Poisson, el estadstico ui puede ser graficado en una carta de control con los
parmetros siguientes:

LSC = u + 3 u
LC = u (4.26)
LIC = u + 3 u,

Donde,
u 100u A 50u B 10u C 1u D (4.27)
1/ 2
(100) 2 u A (50) 2 u B (10) 2 u C (1) 2 u D
y u (4.28)
n
Los nmeros u A, u B , u C , u D , representan el nmero promedio de defectos de la
clase A, clase B, clase C y clase D respectivamente. Se determina a partir de
datos preliminares tomados cuando el proceso est en control estadstico.

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La curva caracterstica de operacin

La curva caracterstica de operacin (OC) puede ser obtenida tanto para la


carta c como para la carta u a partir de la distribucin de Poisson.

Para la carta c, la curva OC muestra la probabilidad del error tipo II contra la


media real del numero de defectos c, se expresa como sigue:

P{x LSC c} P{ x LIC c} (4.29)

Donde x es una variable aleatoria de Poisson con parmetro c.

Ejemplo 4.12, para el caso de la carta c anterior con LSC = 33.22, LIC = 6.48,
se tiene:
P{x 33.22 c} P{x 6.48 c}

cmo las cantidades deben ser enteras, esto es equivalente a:


P{x 33 c} P{x 7 c}

La curva OC se obtiene con la distribucin de Poisson como sigue:


P(x<=3 P(x< Pa=Bet
C 3) =7) a
1 1.000 1.000 0.000
3 1.000 0.988 0.012
5 1.000 0.867 0.133
7 1.000 0.599 0.401
9 1.000 0.324 0.676
11 1.000 0.143 0.857
13 1.000 0.054 0.946
15 1.000 0.018 0.982
17 1.000 0.005 0.994
19 0.999 0.002 0.997
21 0.994 0.000 0.994
23 0.981 0.000 0.981
25 0.950 0.000 0.950
27 0.892 0.000 0.892
29 0.801 0.000 0.801
31 0.682 0.000 0.682

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33 0.546 0.000 0.546


35 0.410 0.000 0.410
37 0.289 0.000 0.289
39 0.191 0.000 0.191
C
promedi
o 19.67

Figura 4.16 Curva caracterstica de operacin de la carta C con media 19.67

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Para el caso de la carta u, la curva OC puede generarse con:

P{ x LSC u} P{ x LIC u}

P{c nLSC u} P{c nLIC u} (4.30)


P{nLIC u c nLSC u}

4.7 CARTAS DE CONTROL PARA TASAS DE DEFECTOS EN


ppm

Las cartas por atributos c y u no son convenientes en estos casos ya que


tendran ceros la mayor parte del tiempo, una alternativa es graficar los
intervalos de tiempo entre ocurrencias de los defectos o eventos.

Asumiendo que los defectos ocurren de acuerdo a la distribucin de Poisson,


entonces la distribucin de tiempo transcurrido entre eventos sigue la
distribucin exponencial, sin embargo dara una carta de control muy
asimtrica.

Nelson, sugiere una alternativa transformando la variable aleatoria exponencial


a una variable aleatoria de Weibull de tal forma que sea una buena
aproximacin a la normal. Si y representa la variable aleatoria exponencial
original, la transformacin adecuada es:

x = y1/3.6 = y0.277 (4.31)

Por tanto se construye una carta de control para x, asumiendo que x sigue una
distribucin normal.

Por ejemplo para el monitoreo de fallas de una vlvula importante, se usar el


nmero de horas entre fallas como la variable a monitorear. En la pgina
siguiente se muestra este ejemplo.

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5. OTRAS CARTAS DE CONTROL


ESPECIALES

5.1 CARTAS DE CONTROL PARA CORRIDAS CORTAS DE


PRODUCCIN

Cartas de control dnom

Se pueden utilizar cartas de medias-rangos en situaciones las corridas de


produccin sean cortas, tomando las desviaciones respecto a la media de
especificaciones en lugar del valor como tal.

Ejemplo 5.1 Si se tienen 2 piezas la A y la B, donde la dimensin nominal de la


pieza A TA = 50mm, y la dimensin nominal de la pieza B es T B = 25mm,
cuando se produce las piezas A o B se toman muestras y se evala la
desviacin respecto a su media.

Rang
Muestra Pieza M1 M2 M3 D1 D2 D3 Media o
1 A 50 51 52 0 1 2 1.00 2
2 A 49 50 51 -1 0 1 0.00 2
3 A 48 49 52 -2 -1 2 -0.33 4
4 A 9 53 51 -1 3 1 1.00 4
5 B 24 27 26 -1 2 1 0.67 3
6 B 25 27 24 0 2 -1 0.33 3
7 B 27 26 23 2 1 -2 0.33 4
8 B 25 24 23 0 -1 -2 -1.00 2
9 B 24 25 25 -1 0 0 -0.33 1
10 B 26 24 25 1 -1 0 0.00 2

Ver carta en la pgina siguiente.

Se deben cumplir 3 premisas para estas cartas:


1. La desviacin estndar debe ser la misma para todas las partes, sin esto no
se cumple usar la carta de medias estandarizada.

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2. El procedimiento trabaja mejor cuando el tamao de muestra es constante


para todas las diferentes partes.
3. La media utilizada debe ser la media de las especificaciones, a excepcin de
cuando se tiene slo un lmite de especificacin.

Xbar-R Chart of D1, ..., D3


3.0 UCL=2.929

1.5
Sample Mean

__
0.0 X=0.167

-1.5

LCL=-2.596
-3.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Sample

UCL=6.950
6.0
Sample Range

4.5

_
3.0
R=2.7

1.5

0.0 LCL=0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Sample

Figura 4.1 Carta DNOM para corridas cortas

Cartas de control de medias rangos estandarizada

Si la desviacin estndar para las diferentes partes es diferente, se usan estas

cartas. Sean R i .....Ti el rango medio y el valor nominal de x para un nmero


de parte especfico. Para todas las muestras de este nmero de parte, graficar,

R
RS (5.1)
Ri

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Se toman de datos histricos o de especificaciones para el rango, o se puede

estimar de con R i Sd 2
c4 sus lmites de control son D 3 y D4. Para la media
graficar,
S x Ti
x (5.2)
Ri
La lnea central para la carta x estandarizada es cero, y sus lmites de control
son LSC = A2 y LIC = -A2 .

Cartas de control por atributos

Se utilizan cartas de control estandarizadas con lmites de control LSC=+3 y


LIC=-3. Los estadsticos a graficar son:
pi p
Carta p Zi
p (1 p ) / n

npi n p
Carta np Zi
n p(1 p )

(5.3)
ci c
Carta c Zi
c
ui u
Carta u Zi
u/n

5.2 CARTAS DE CONTROL MODIFICADAS Y DE


ACEPTACIN

Cartas de control modificadas


Las cartas de control modificadas se utilizan cuando la variabilidad es pequea
respecto a los lmites de especificaciones, es decir el Cp es mucho mayor que
1. En este caso la media del proceso puede variar sobre un rango permitido sin
afectar el desempeo del proceso.

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La carta de control modificada X esta diseada para detectar slo si la media


verdadera del proceso , est localizada de tal forma que el proceso genere
una fraccin de productos no conformes mayor de algn valor especificado .

Se permite que vare entre I y S de tal forma que no se exceda la fraccin


defectiva . Se asume que el proceso est normalmente distribuido y que sea
conocida y est en control.

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LIEsp. |--- 6 ---| LSEsp.

Figura 5.2 Proceso con habilidad alta, Cp>>1


LIE I S LSE
Z Z
/ n


LIC LSC
Z
nn

Figura 5.3 Localizacin de los lmites de control

Donde:
I LIE Z (5.4)
S LSE Z

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Donde Z es el punto superior 100(1-) de la distribucin normal, si se


especifica un error , los lmites de control superior e inferior son:

Z Z
LSC S LSE Z (5.5)
n n

Z Z
LIC I LIE Z
n n

Lo comn es que Z =3.

En las cartas modificadas, es una fraccin no conforme que se acepta con


una probabilidad (1-). Si la variabilidad del proceso cambia, stas cartas no
son apropiadas, de tal forma que se recomienda siempre usar en forma
adicional una carta R o S, de donde incluso se estime la inicial.

Cartas de control de aceptacin

En este caso se toma en cuenta ambos errores tipo I y tipo II, ya sea de
rechazar un proceso que opera en forma satisfactoria o de aceptarlo si opera
en forma insatisfactoria.

Los lmites de control para este caso se basan en una n especificada y una
fraccin no conforme del proceso que nos gustara rechazar con una
probabilidad (1-), por tanto:

Z Z
LSC S LSE Z (5.5)
n n

Z Z
LIC I LIE Z
n n

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Es posible tambin seleccionar un tamao de muestra de tal forma que se


obtengan los requerimientos para , , y . Igualando los lmites de control
superiores:

Z Z
LSC LSE Z = LSE Z
n n
Se obtiene
2
Z Z
n (5.6)
Z Z

Ejemplo 5.2 Si delta = 0.01, alfa = 0.00135, gama = 0.05 y beta = 0.20,
haciendo los clculos se obtiene una n = 31.43 32.

2
3.00 0.84
n
2.33 1.645

Ejemplo 5.3 De Duncan se tiene: 29

LSE =0.025

LSE-1.96

Amplitud de variacin 0.10


__
Aceptable para X

0.10

LIE+1.96

LIE =0.025

Figura 5.4 Carta de control de aceptacin


29
Duncan A., Control de Calidad y Estadstica Industrial, Alfaomega, Mxico,
1989, pp. 527-530

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En la figura si suponemos que =0.025 y = 0.10, asumiendo un proceso


normal, los lmites para la carta de control de aceptacin estarn en:

LSC = LSE 1.96 - 1.282/ n


LIC = LIE + 1.96 + 1.282/ n

5.3 CARTA DE CONTROL PARA DESGASTE DE


HERRAMIENTA O MATERIAL

Cuando un desgaste natural ocurre, se presenta una tendencia natural en la


carta de control, la distancia entre los lmites de especificacin debe
ser mucho mayor que 6X, por lo que se puede usar el concepto de la
carta de control modificada (X = R/d2).

El ajuste inicial de la herramienta se inicia a 3x arriba del lmite inferior de


especificacin, y el mximo que se le permite variar es hasta 3x
abajo del lmite superior de especificacin. Esto minimiza los ajustes a
realizar durante las corridas de produccin. Se puede utilizar un valor
diferente de Z = 3 si se requiere una mayor proteccin en la fraccin
defectuosa. Para este problema tambin se puede utilizar la carta de
regresin.

LSE

_
X

LSE-3x
Amplitud dentro de la cual
se espera encontrar las 6 X_

medias de las piezas Distribucin de


x
_
X

LIE+3x

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LIE

Fig. 5.5 Carta de control para desgaste de herramienta o material

Como se puede observar, slo se puede emplear sta carta si la amplitud de


los lmites de especificacin es suficiente mayor a 6x para alojar la
carta de control.

La pendiente b de la lnea central y lmites de control se pueden calcular por


los mtodos siguientes:

1. Dibujando una lnea central que pase por los puntos graficados y estimando
en forma grfica la pendiente.
2. Utilizando la tcnica de mnimos cuadrados, donde si se tienen un total de
m muestras con el nmero de muestra i = 1,2,3..m la pendiente b es (los
datos se pueden codificar para facilidad):

b [12 iX i /( m(m 2 1))] [6 X i /( m(m 1))]

(5.7)

3. Utilizando un paquete de computadora que incluye el clculo de mnimos


cuadrados.

Los valores sugeridos de inicio y paro del proceso son 1, , 2 donde:


1 LIE 3 x LIE 3R / d 2 (5.8)

2 LSE 3 x LSE 3R / d 2

El nmero de puntos que tienen que pasar para llegar de 1, , 2 es:

M* = ( 1, - 2 ) / b (5.9)

Es importante considerar que antes de llevar una carta de medias para


desgaste es indispensable asegurarse que la carta de rangos est en control

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estadstico. En caso de que la media en lugar de crecer, decrezca, las 1, , 2


se invierten:
_
Los lmites de control se encuentran a una distancia vertical A2 R de la lnea

central.

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Ejemplo 5.4 El dimetro exterior de una vlvula tiene una especificacin de


1.1555 0.0005. Se han tomado 13 muestras de 5 piezas cada una sin ajustar
la herramienta de corte, en intervalos de media hora. Los resultados son:

Muestra i
1 2 3 4 5 6 7 8
_
X i 1.15530, 1.15540,1.15544, 1.15546, 1.15550, 1.15556, 1.15568, 1.15570,

Ri 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00010, 0.00020

Muestra 9 10 11 12 13
_
X i 1.15576, 1.15578, 1.15580, 1.15586, 1.15590
Ri 0.00010, 0.00020, 0.00020, 0.00010, 0.00020

Los resultados obtenidos son:

R-medio=0.0001769; LSCR=0.000374, = 0.000076053;

b = 0.0000492

1, , 2 son respectivamente 1.155228 y 1.155772


_
m* = 11.056, los lmites de control estn a A2 R =
0.5768(0.0001769)=0.000102.

Es decir que tienen que pasar 11 puntos o 5.5 horas para reajustar el proceso
LSE
2

Pendiente b

LSC

1,
LIC
LIE

Fig. 5.6 Tiempo t o nmero de muestras antes de ajuste

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5.4 CARTA DE PRECONTROL O DE ARCOIRIS

Es una tcnica usada para detectar irregularidades en el proceso, que pueden


resultar en la produccin de unidades fuera de especificaciones. Pre-control,
principalmente se presta para el uso de aparatos de medicin hechos
previamente sobre los lmites de las especificaciones. El uso de stos aparatos
de medicin permite seleccionar fcilmente las unidades que proceden de las
que no. Pre-control es usado con frecuencia para determinar los valores de las
variables del proceso durante el perodo de arranque de la produccin.

Tambin se denomina carta de objetivo, utiliza los lmites de especificacin


para su establecimiento, situados a 3 es fcil de construir y usar, sin
embargo, no permite mejorar el proceso. La carta tiene tres reas:
ZONA ROJA Lmite superior de especificaciones

ZONA AMARILLA Esta zona comprende 1.5 o 7%

ZONA VERDE Esta zona comprende 1.5 o 86%


ZONA AMARILLA Esta zona comprende 1.5 o 7%

ZONA ROJA Lmite inferior de especificaciones


Figura 5.7 Carta de Pre Control y sus zonas

En la carta de pre control hay un 1/14 de probabilidad de que una parte caiga
en la zona amarilla y de 1/196 de que caigan dos consecutivas en sta zona, en
este caso se considera que el proceso se sali de control.

Pre-control se basa en la hiptesis de que si el proceso est operando


correctamente, la probabilidad de encontrar dos unidades fuera de los lmites
de control consecutivamente es demasiado pequea. Por lo tanto si dos
unidades son encontradas consecutivamente fuera de los lmites de control, es
razn suficiente como para indicar una falla en el proceso.

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Ventajas:
Pre-control es una tcnica simple que a diferencia con el control estadstico del
proceso (CEP) no requiere de grficas de control, ni de cmputos.

Desventajas:
No existen grficas de control, por lo tanto, las reglas y procedimientos para
reconocer patrones de fallas no pueden ser usados. Dado que se requiere una
cantidad muy pequea de muestras, es riesgoso inferir sobre la totalidad del
proceso. Finalmente, Pre-control no proporciona informacin suficiente para
someter el proceso bajo control o para reducir la variabilidad. Asume que el
proceso es hbil y que es normal.

Recomendaciones:
Pre-control slo debe ser usado cuando la capacidad del proceso (Cp) 30 es
mayor que uno (algunos textos recomiendan como mnimo Cp=2) 31, y cuando
se han alcanzado cero defectos en el proceso.

Definicin de los lmites de Pre-control.


Existen dos lmites de Pre-control (PC): Upper Pre-control limit (UPCL) y Lower
Pre-control limit(LPCL). Cada uno representa de la distancia entre el lmite de
especificaciones inferior (LSL) y el lmite de especificaciones superior (USL). La

LSL LPCL UPCL USL

0 1 1 3 1

C p USL LSL
4 2 4
30
, donde USL = Upper Specification Limit y LSL = Lower
6
Specification Limit.
31
Montogomery, Douglas C. Statistical Quality Control, John Wiley & Sons,
Inc., 1991, pp. 332-334.

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siguiente figura considera un proceso distribuido de acuerdo a la distribucin


normal.
Figura 5.8 Distribucin de reas de probabilidad para la carta de pre-control

Pasos a seguir para aplicar Pre-control.

A continuacin se muestran las reglas de uso de la carta:

1. Iniciar el proceso. Si el primer artculo sale de especificaciones, parar,


corregir e iniciar de nuevo. Debern caer en la zona verde.
2. Si un artculo cae en la zona amarilla, tomar un siguiente artculo. Si cae
nuevamente en la zona amarilla parar y corregir el proceso, de otra forma
continuar.
3. Si 25 artculos consecutivos caen en la zona verde, reducir frecuencia de
chequeo.

Figura 5.9 Pasos a seguir para el Pre-Control

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Notas:
1. Si cinco unidades estn dentro de los lmites de Pre-control, cambie a
verificacin intermitente.
2. Cuando se encuentre en verificacin intermitente, no ajuste el proceso
hasta que una unidad exceda algn lmite de Pre-control. Examine la
siguiente unidad, y proceda en A.
3. Si se reinicia el proceso, al menos cinco unidades consecutivas deben caer
dentro de los lmites de pre-control para cambiar a verificacin intermitente.
4. Si el operador toma ms de 25 muestras sin reiniciar el proceso, reduzca la
frecuencia de las verificaciones.

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5.5 CARTAS DE CONTROL PARA PROCESOS DE SALIDA


MLTIPLE

Se utiliza para procesos con muchas fuentes de produccin, por ejemplo


diversos husillos que en principio producen piezas similares. El usar
una carta de control para cada husillo por separado sera prohibitivo,
sin embargo se tiene la alternativa de sta carta de control siempre
que la produccin entre husillos no est correlacionada.

Para establecer una carta de este tipo, se toman n partes de cada salida, hasta
completar 20 o 25 subgrupos, por ejemplo si se toman muestras de n
= 4 de 6 husillos repetido en 20 subgrupos, se habrn tomado 20 x 6
= 120 medias y rangos de n = 4 observaciones. De stos se calculan

_
la media de medias X y el R , los lmites de control se calculan como

en una carta de medias-rangos convencional con n = 4, en este caso


A2 = 0.729, D3 = 0, D4 = 2.282:

_ _
LICX = X - A2 R LICR = D3 R (5.10)

_ _
LSCX = X + A2 R LSCR = D4 R

Con los lmites de control trazados, se grafica despus slo la mayor y la menor
de las 6 lecturas promedio considerando todas las salidas o en este
caso husillos de la mquina, si se encuentran en control, se asume
que las dems estn en control. Para el rango se grafica slo el mayor
de todos los rangos. Cada punto es identificado por el nmero de
husillo o salida que lo produjo. El proceso se encuentra fuera de
control si se algn punto excede los lmites de 3-sigma. No se pueden
aplicar pruebas de rachas a estas cartas.

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Es til observar que si una salida da el mayor o el menor valor varias en una
fila, puede ser evidencia de que es diferente a los otros. Si el proceso
tiene s salidas y si r es el nmero de veces consecutivas que se repite
como el mayor o el menor, el ARL para este evento es:

s r 1
ARL0 (5.11)
s 1

Para el caso de que s = 6 y r = 4, el ARL ser de 259, es decir que si el proceso


est en control, se esperar que una salida repita un valor extremo 4 veces en
la carta una vez de cada 259 muestras. Si esto sucede con ms frecuencia se
debe sospechar que la salida es diferente a las dems. Algunos de los pares
adecuados de (s,r) son (3,7), (4,6), (5-6,5), 7-10,4), todas las combinaciones
dan ARLo adecuados.

5.6 CARTAS DE CONTROL Cusum

Las cartas de control de Shewart utilizan slo informacin acerca del proceso
con los ltimos datos del subgrupo, e ignoran la informacin de la secuencia
completa de puntos, esto hace que estas cartas de control sean insensibles a
pequeos corrimientos de la media del proceso, de 1.5 o menos. Los lmites
preventivos y criterios mltiples de prueba de corridas o tendencias toman en
cuenta otros puntos de la carta, sin embargo esto reduce la simplicidad de
interpretacin de la carta as como reducir el ARL en control lo cual es
indeseable.

Cuando se trata de identificar pequeas variaciones o corridas en la media, se


pueden utilizar como alternativa, las cartas de sumas acumuladas (cusum), y
promedio mvil exponencialmente ponderado (EWMA).

Cusum normal
Para pequeos corrimientos menores a 1.5, la carta de Shewart es ineficiente,
en esos casos la carta de sumas acumuladas de Page, que funciona con n >=1

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es mejor, ya que incorpora toda la informacin anterior en el valor de la


muestra al graficar la suma acumulada de las desviaciones con referencia a un

valor objetivo 0. Si se colectan muestras de tamao n >= 1 siendo x j el valor


promedio de la muestra j-sima. La carta de sumas acumuladas se forma
graficando para cada muestra i la cantidad siguiente que representa la suma
acumulada hasta la muestra i,

i
Ci ( x j 0 ) (5.12)
j 1

Como esta carta es eficiente para n=1, es una buena alternativa para el control
de procesos qumicos y el C.E.P. automatizado. Si la media tiene un corrimiento
hacia arriba, la carta mostrar una tendencia ascendente y viceversa.

La carta Cusum no tiene lmites de control, sin embargo tiene un mecanismo


similar ya sea en forma tabular o por medio de una mascara en V, como la
mostrada en el ejemplo de las pginas siguientes.

Ejemplo
Suponiendo que la Posicin de una parte (A) se mueve hacia arriba y hacia
abajo una cierta distancia de la posicin ideal de referencia (B). AtoBDist es
esta distancia. Para asegurar la calidad, se toman 5 mediciones al da durante
el primer periodo de tiempo y despus 10 al da en un siguiente periodo de
tiempo.

AtoBDis
t
-0.44025 4.52023 4.75466 4.90024 3.81341 -1.15453 5.03945
5.90038 3.95372 1.1424 1.28079 -3.78952 2.29868 1.96583
2.08965 7.99326 0.9379 2.87917 -3.81635 5.15847 -0.21026
0.09998 4.98677 -7.30286 1.83867 -4.8882 0.08558 0.27517
2.01594 -2.03427 -5.22516 -0.75614 -3.24534 -3.09574 -5.32797
4.83012 3.89134 -4.06527 3.72977 -0.27272 5.16744
3.78732 1.99825 -1.91314 3.77141 -4.33095 0.29748
4.99821 0.01028 2.0459 -4.04994 -1.83547 -4.66858
6.91169 -0.24542 4.93029 3.89824 -3.98876 -2.13787
1.93847 2.08175 0.03095 1.76868 -4.97431 -0.0045

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-3.09907 -4.86937 -2.80363 2.2731 -5.1405 0.18096


-3.18827 -2.69206 -3.12681 -3.82297 -0.10379 4.30247
5.28978 -3.02947 -4.57793 -2.26821 2.21033 -2.21708
0.56182 2.99932 -3.17924 -2.07973 5.13041 7.17603
-3.1896 3.50123 -2.44537 0.01739 -1.89455 5.86525
7.93177 -1.99506 1.36225 3.71309 0.95119 0.95699
3.72692 -1.62939 0.92825 1.72573 -5.15414 -4.03441
3.83152 2.14395 -0.24151 3.07264 4.82794 -2.05086
-2.17454 -1.90688 -0.83762 0.15676 0.13001 -3.10319
2.81598 8.02322 -1.99674 -0.05666 -0.09911 -1.83001

Al llevar una carta X R en el subgrupo no se encontr una causa asignable,


ahora se desea tratar de detectar corridas pequeas en la media.

Corrida en Minitab
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
3. OK.

Xbar/R Chart for AtoBDist

5 UCL=4.802
Sample Mean

0 Mean=0.4417

LCL=-3.918
-5
Subgroup 0 5 10 15 20 25

UCL=15.98
15
Sample Range

10
R=7.559
5

0 LCL=0

Figura 5.10 Carta de control X media R


Se puede observar que no detecta ninguna situacin anormal

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CUSUM Chart for AtoBDist

Upper CUSUM
10
Cumulative Sum

5.67809
5

-5
Low er CUSUM
-5.67809

0 5 10 15 20 25
Subgroup Number

Figura 5.11 Carta de control Cusum

Se puede observar que detecta una situacin anormal debido a un corrimiento


lento de la media del proceso.

Otro ejemplo de Carta Cusum:


Considerar los datos siguientes con = 10 a 11 y una = 1:
Ci = (Xi-10)
Muestra Xi Xi - 10 + Ci-1
Media =
10 1 9.45 -0.55 -0.55
Sigma =
1 2 7.99 -2.01 -2.56
3 9.29 -0.71 -3.27
4 11.66 1.66 -1.61
5 12.16 2.16 0.55
6 10.18 0.18 0.73
7 8.04 -1.96 -1.23
8 11.46 1.46 0.23
9 9.2 -0.8 -0.57
10 10.34 0.34 -0.23
11 9.03 -0.97 -1.2
12 11.47 1.47 0.27
13 10.51 0.51 0.78
14 9.4 -0.6 0.18
15 10.08 0.08 0.26
16 9.37 -0.63 -0.37
17 10.62 0.62 0.25

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18 10.31 0.31 0.56


19 8.52 -1.48 -0.92
20 10.84 0.84 -0.08
Media =
11 21 10.9 0.9 0.82
Sigma =
1 22 9.33 -0.67 0.15
23 12.29 2.29 2.44
24 11.5 1.5 3.94
25 10.6 0.6 4.54
26 11.08 1.08 5.62
27 10.38 0.38 6
28 11.62 1.62 7.62
29 11.31 1.31 8.93
30 10.52 0.52 9.45

Figura 5.12 Carta I-MR casi en control estadstico

CUSUM Chart of Xi

5.0

UCL=4

2.5
Cumulative Sum

0.0 0

-2.5

LCL=-4
-5.0
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

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Figura 5.13 Carta Cusum muestra un corrimiento lento de la media del proceso
Con parmetros Media objetivo (Target) =10, S = 1

Cusum en forma tabular

La carta tabular Cusum trabaja con derivaciones acumuladas de 0 sobre el


objetivo con un estadstico C+ o debajo de este con un estadistico C -, tambin
llamados Cusums de lado superior o inferior respectivamente. Se calculan
como sigue:


C i max 0, xi ( 0 K ) C i1 (5.13)

C i max0, ( 0 K ) xi C i1 (5.14)

donde los valores iniciales para C+ y C- son cero.

En las ecuaciones anteriores K es el valor de referencia y se selecciona como


un valor intermedio entre la 0 objetivo y la 1 fuera de control en la que
estamos interesados en detectar.

As, si el corrimiento se expresa en unidades de desviacin estndar 1 = 0 +


, entonces K es la mitad de la magnitud del corrimiento:

K = / 2 = Valor absoluto de (1 - 0) / 2 (5.15)

Cuando cualquier estadstico C + y C- excede el intervalo de decisin H, se


considera al proceso fuera de control. Un valor razonable para H es cinco veces
el valor de .

Ejemplo: si 0 = 10, n=1, = 1, y asumiendo que se quiere detectar un


corrimiento de 1 = 1, para lo cual se utiliza H = 5 sigmas, se tiene:
1 = 10 + 1 = 11
K = = 1/2

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H = 5 = 5


C i max 0, xi 10.5 C i1
C i max 0,9.5 x i C i1

Para el caso de i=1, con xi = 9.5 se tiene:


C1 max 0,9.45 10.5 0 0

C1 max 0,9.5 9.45 0 0.05

Para el caso de i=2, con xi = 7.99 se tiene:


C1 max 0,7.99 10.5 0 0

C1 max 0,9.5 7.99 0.05 1.56

Si N+ y N- indican los periodos en que las sumas no han sido cero, se


obtiene la tabla de siguiente:
a b
Muestra Xi xi - 10.5 Ci+ N+ 9.5 - xi Ci- N
1 9.45 -1.05 0.00 0 0.05 0.05 1
2 7.99 -2.51 0.00 0 1.51 1.56 2
3 9.29 -1.21 0.00 0 0.21 1.77 3
4 11.66 1.16 1.16 1 -2.16 0.00 0
5 12.16 1.66 2.82 2 -2.66 0.00 0
6 10.18 -0.32 2.50 3 -0.68 0.00 0
7 8.04 -2.46 0.04 4 1.46 1.46 1
8 11.46 0.96 1.00 5 -1.96 0.00 0
9 9.20 -1.30 0.00 0 0.30 0.30 1
10 10.34 -0.16 0.00 0 -0.84 0.00 0
11 9.03 -1.47 0.00 0 0.47 0.47 1
12 11.47 0.97 0.97 1 -1.97 0.00 0
13 10.51 0.01 0.98 2 -1.01 0.00 0
14 9.40 -1.10 0.00 0 0.10 0.10 1
15 10.08 -0.42 0.00 0 -0.58 0.00 0
16 9.37 -1.13 0.00 0 0.13 0.13 1
17 10.62 0.12 0.12 1 -1.12 0.00 0
18 10.31 -0.19 0.00 0 -0.81 0.00 0
19 8.52 -1.98 0.00 0 0.98 0.98 1
20 10.84 0.34 0.34 1 -1.34 0.00 0
21 10.90 0.40 0.74 2 -1.40 0.00 0
22 9.33 -1.17 0.00 0 0.17 0.17 1
23 12.29 1.79 1.79 1 -2.79 0.00 0

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24 11.50 1.00 2.79 2 -2.00 0.00 0


25 10.60 0.10 2.89 3 -1.10 0.00 0
26 11.08 0.58 3.47 4 -1.58 0.00 0
27 10.38 -0.12 3.35 5 -0.88 0.00 0
28 11.62 1.12 4.47 6 -2.12 0.00 0
29 11.31 0.81 5.28 7 -1.81 0.00 0
30 10.52 0.02 5.30 8 -1.02 0.00 0

Corrida en Minitab
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1 Target 10.
3. Cusum Options: Standar deviation 1 Plan Type h 5 k 0.5 OK.

Figura 5.14 Carta Cusum en Excel para el ejemplo

CUSUM Chart of Xi_ 1

5.0 UCL=5

2.5
Cumulative Sum

0.0 0

-2.5

-5.0 LCL=-5

3 6 9 12 15 18 21 24 27 30
Sample

Figura 5.15 Carta Cusum en Minitab para el ejemplo

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De la tabla de Cusum Tabular se observa que en el periodo 29 su C 29+ fue de


5.28, lo que sugiere una situacin fuera de control, usando el contador N + cuyo
valor es 7, indica que el ltimo punto en control fue el 29 7 = 22, de tal forma
que el corrimiento ocurri entre el periodo 22 y 23.

Tambin se puede obtener una presentacin grfica de esta carta, denominada


Carta de Estatus de Cusum, graficando Ci+ y Ci- contra el nmero de muestra.
Esto da una idea grfica al operador del desempeo del proceso.

En forma similar a las cartas Cusum, se debe detener el proceso, identificar la


causa asignable o especial, tomar accin correctiva e iniciar de nuevo la
Cusum Tabular.

Cuando el proceso se corre, la nueva media puede estimarse de:

Ci
0 K
, si C i H (5.16)
N

Ci , si (5.17)
0 K Ci H
N


En el ejemplo, en el periodo 29 con C 29 = 5.28, la nueva media del
proceso es,
5.28
10 0.5 11.25
7
Esto es importante saberlo, por si el proceso tiene alguna forma de
ajuste.

Cuando se utiliza un tamao de subgrupo mayor a 1, en las frmulas anteriores


se debe remplazar a x i por xi y por la x = , aunque se recomienda usar
n

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un tamao de muestra 1 con frecuencia de muestreo mayor que para el


equivalente de Shewart.

La carta Cusum tabular tambin se puede utilizar para un solo lado con C + o C-.

EL PROCEDIMIENTO DE LA MASCARILLA EN V

Un procedimiento alterno al uso del mtodo tabular Cusum, es la mascarilla en


V propuesta por Barnard (1959), esta mascarilla es aplicada a valores
sucesivos del estadstico,

i
C i y j y i C i 1 (5.18)
j 1

donde yi = (xi - 0) / observacin estandarizada. Una mascarilla en V se


muestra a continuacin:

Ci

O d P

2A
1A

1 2 3 4 5 ............................................. i

Figura 5.16 Carta de control Cusum con mascarilla en V

El procedimiento consiste en colocar la mascarilla en V sobre la carta Cusum,


con el punto O sobre el ltimo valor de C i y la lnea OP paralela al eje
horizontal. Si todos los puntos anteriores C 1, C2,....,Cj se encuentran dentro de
los dos brazos de la mascarilla, el proceso est en control, sin embargo si

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cualquier punto de las sumas acumuladas se encuentra fuera de los brazos de


la mascarilla, se considera al proceso fuera de control.

En la prctica, la mascarilla en V se debe colocar a cada punto tan pronto como


es graficado, los brazos de la mascarilla se asumen extendidos hasta el origen.

La operacin de la mascarilla en V est determinada por la distancia


al vrtice d y el ngulo .

La Cusum Tabular es equivalente a la mascarilla en V si,

k = A tan () (5.19)
y
h = A d tan () = d.k
(5.20)

Donde A es la distancia horizontal en la mascarilla en V, entre puntos sucesivos


en trminos de unidades de distancia de la escala vertical.

Ejemplo 5.6 Para la forma tabular con k = y h = 5, seleccionando A =1 se


tiene

k = A tan () => = (1) tan ()


o = 26.57
de h = d.k => 5 = d (1/2)
o d =10

Estos son los parmetros de la mascarilla en V.

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Vmask Chart of AtoBDist

25

20
Cumulative Sum

15

10

0 Target=0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24
Sample

Figura 5.17 Ejemplo de carta de control Cusum con mascarilla en V para


AtoBDist

Corrida en Minitab con los datos de la Cusum Tabular:

Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1 Target 10.
Cusum Options: Standar deviation 1
Plan Type Seleccionar Two sided (V Mask) h 4 k 0.5
OK.

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Vmask Chart of Xi
30

20
Cumulative Sum

10

0 Target=0

-10
1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
Sample

Figura 5.18 Ejemplo de carta de control Cusum con mascarilla en V para Xi

Johnson y Leone han sugerido un mtodo para disear una mascarilla en V, con
las frmulas siguientes:


tan 1 (5.21)
2A
y

2 1
d 2
ln (5.22)

Donde 2 es la mxima probabilidad de una falsa alarma cuando el proceso


est en control y es la probabilidad de no detectar un corrimiento de
magnitud .

ln( )
d cuando es muy pequeo.

Ejemplo 5.7 si = 0.05 y = 0.05 y = 1, se obtiene la mascara en V


siguiente:

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2 1 0.05
d 2
ln
1 0.05 = 5.888
1
tan 1 26.56
2

No se recomienda el uso de la mascarilla en V ya que tiene algunas


desventajas como son:

1. Es un esquema de doble lado, no apta para control de un solo lado.


2. Es difcil determinar que tanto extender los brazos de la mascarilla en V,
dificultando la interpretacin del proceso.
3. Existe ambigedad asociada con alfa y beta.

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5.7 CARTA DE CONTROL DE MEDIAS MOVILES


EXPONENCIALMENTE PONDERADAS (EWMA)

El desempeo de esta carta, es equivalente al de sumas acumuladas, con n=1.

Su estadstico se define como sigue:

z i xi (1 ) z i 1

(5.23)

donde 0<<=1 es una constante y su valor inicial es el valor objetivo del


proceso, de tal forma que:
z 0 0 a veces igual a x

Si las observaciones xi son variables aleatorias independientes con varianza


2 , entonces la varianza de zi es:

zi2


1 (1 )
2i
(5.24)
2

Por tanto los lmites de control de zi versus el nmero de muestra o tiempo i,


son:

1 (1 )

LSC 0 L 2i
(5.25)
2
LC 0 (5.26)

LIC 0 L



1 (1 )
2i
(5.27)
2

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Note que el trmino [1 (1-)2i] se aproxima a la unidad conforme i se


incrementa, esto significa que cuando la carta EWMA ha corrido durante varios
periodos de tiempo, los lmites de control se estabilizan en:

LSC 0 L (5.28)
2
LC 0 (5.29)


LSC 0 L (5.30)
2

Ejemplo Utilizando los datos de la carta Cusum con = 0.10, L = 2.7, 0 = 0 y


= 3.5, se tiene la carta EWMA mostrada en la pgina siguiente.

Para x1= 9.45, calculando z1 = 9.945; LSC = 10.27 y LIC = 9.73 con la frmulas
anteriores.

Para x2= 7.99, calculando z2 = 9.7495; LSC = 10.36 y LIC = 9.64, conforme se
incrementa i los lmites se estabilizan en LSC = 10.62 LIC = 9.38.

La carta EWMA tiene un ARL0 500 y una ARL1 14.3 equivalente a la Cusum
con h=5 y k=1/2.
Esta carta no reacciona a cambios grandes de la media tan rpido como la
hace la carta de Shewart, este mismo comportamiento lo tienen tiene la carta
Cususm.

Corrida en Minitab:
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > EWMA
3. In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
4. Weight of EWMA 0.1
5. EWMA Options > Parameters Mean 0.0 Standar Deviation 3.5
S Limits These multiples of the estndar deviation 2.7
6. OK.

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EWMA Chart of AtoBDist

1.0 +2.7SL=0.967

0.5
EWMA

__
0.0 X=0

-0.5

-1.0 -2.7SL=-0.967

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
Sample

Figura 5.19 Ejemplo de carta de control EWMA

Otro ejemplo de carta EWMA:


Con los datos del ejemplo anterior, considerando una Lamda de 0.1, L = 2.7,
0=10, y la desviacin estndar = 1, a continuacin se muestran los clculos
de la carta EWMA:

Muestra Xi EWMA, Zi
1 9.45 9.945
2 7.99 9.7495
3 9.29 9.7036
4 11.66 9.8992
5 12.16 10.1253
6 10.18 10.1307
7 8.04 9.9217
8 11.46 10.0755
9 9.20 9.9880
10 10.34 10.0232
11 9.03 9.9238
12 11.47 10.0785
13 10.51 10.1216
14 9.40 10.0495
15 10.08 10.0525
16 9.37 9.9843
17 10.62 10.0478
18 10.31 10.0740

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19 8.52 9.9186
20 10.84 10.0108
21 10.90 10.0997
22 9.33 10.0227
23 12.29 10.2495
24 11.50 10.3745
25 10.60 10.3971
26 11.08 10.4654
27 10.38 10.4568
28 11.62 10.5731
29 11.31 10.6468
30 10.52 10.6341

Los lmites de control son los siguientes:

EWMA,
Muestra Xi Zi LSC LIC
1 9.45 9.945 10.2700 9.7300
2 7.99 9.7495 10.3632 9.6368
3 9.29 9.7036 10.4240 9.5760
4 11.66 9.8992 10.4675 9.5325
5 12.16 10.1253 10.4999 9.5001
6 10.18 10.1307 10.5247 9.4753
7 8.04 9.9217 10.5440 9.4560
8 11.46 10.0755 10.5591 9.4409
9 9.20 9.9880 10.5710 9.4290
10 10.34 10.0232 10.5805 9.4195
11 9.03 9.9238 10.5881 9.4119
12 11.47 10.0785 10.5942 9.4058
13 10.51 10.1216 10.5991 9.4009
14 9.40 10.0495 10.6030 9.3970
15 10.08 10.0525 10.6062 9.3938
16 9.37 9.9843 10.6087 9.3913
17 10.62 10.0478 10.6107 9.3893
18 10.31 10.0740 10.6124 9.3876
19 8.52 9.9186 10.6137 9.3863
20 10.84 10.0108 10.6148 9.3852
21 10.90 10.0997 10.6157 9.3843
22 9.33 10.0227 10.6164 9.3836
23 12.29 10.2495 10.6170 9.3830
24 11.50 10.3745 10.6174 9.3826
25 10.60 10.3971 10.6178 9.3822
26 11.08 10.4654 10.6181 9.3819
27 10.38 10.4568 10.6184 9.3816
28 11.62 10.5731 10.6186 9.3814
29 11.31 10.6468 10.6187 9.3813
30 10.52 10.6341 10.6189 9.3811

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Figura 5.20 Carta EWMA graficada en Excel


La carta con Minitab es:
1. Stat > Control Charts > Time weighted charts > EWMA
2. In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1.
3. Weight of EWMA 0.1
4. EWMA Options > Parameters Mean 10.0 Standar Deviation 1
S Limits These multiples of the estndar deviation 2.7
6. OK.

EWMA Chart of Xi_ 1


10.75
+2.7SL=10.619
10.50

10.25
EWMA

_
_
10.00 X=10

9.75

9.50
-2.7SL=9.381

3 6 9 12 15 18 21 24 27 30
Sample

Figura 5.21 Carta EWMA graficada en Excel

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5.8 CARTA DE CONTROL DE MEDIA MOVIL

Utilizada como un intermedio entre la carta de Shewart y la EWMA para


detectar pequeas corridas de la media. Asumiendo que se define un rango de
observaciones w en el tiempo i, su media mvil es:
xi xi 1 ..... xi w1
Mi (5.31)
w
Los lmites de control son:
3
LSC 0 (5.32)
w
LC 0 (5.33)
3
LIC 0 (5.34)
w
Por ejemplo usando los datos anteriores con w = 5. Graficando el
estadstico Mi para periodos i 5.

xi xi 1 ....xi 4
Mi (5.35)
5
Para periodos i<5 se grafica el promedio de las observaciones para los
periodos 1, 2, 3, ...i.
Ejemplo 5.9 Los lmites de control son con 0 =10 y =1, se tiene:
LSC = 10 + 3 (1.0) / 51/2 = 11.34
LSC = 10 - 3 (1.0) / 51/2 = 8.66

Ejemplo La carta de media mvil para los datos del ejemplo anterior con un
tamao de corrida de 5 es la siguiente:

Corrida en Minitab:
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time Weighted charts > Moving Average
3. In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
4. Lenght of MA 5
5. OK.

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Moving Average Chart for AtoBDist

5
4
3
Moving Average

UCL=2.346
2
1
Mean=0.4417
0
-1
LCL=-1.463
-2
-3
-4
-5
0 5 10 15 20 25
Sample Number

Figura 5.22 Ejemplo de carta de control de Media mvil

Otro ejemplo de carta de media mvil:


Se quiere monitorear el peso en libras de 45 lotes de arena embarcados
semanalmente a un cliente. Cada lote pesa aproximadamente 930 libras.
Comparar el monitoreo con una carta I-MR y una carta de promedio mvil.

Los datos son los siguientes:


Weight
905 875
930 985
865 970
895 940
905 975
885 1000
890 1035
930 1020
915 985
910 960
920 945
915 965
925 940
860 900
905 920
925 980
925 950

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905 955
915 970
930 970
890 1035
940 1040
860

Instrucciones de Minitab
1. Open worksheet EXH_QC.MTW.
2. Seleccionar Stat > Control Charts > Time-weighted charts > Moving
Average.
3. Seleccionar All observations for a chart are in one column, poner
Weight.
4. En Subgroup sizes, poner 1. Click OK.
La carta de promedio mvil es:

Moving Average Chart of Weight


1025

1000

UCL=979.6
975
Moving Average

950 _
_
X=936.9
925

900
LCL=894.1

875

850
4 8 12 16 20 24 28 32 36 40 44
Sample

Figura 5.23 Carta de media mvil del ejemplo


La carta I-MR es la siguiente:

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I-MR Chart of Weight


1050 1 1 1
1
UCL=1010.9
I ndividual Value

1000

950 _
X=936.9

900

LCL=862.8
850 1 1
4 8 12 16 20 24 28 32 36 40 44
Observation

100
UCL=91.0
Moving Range

75

50
__
25 MR=27.8

0 LCL=0
4 8 12 16 20 24 28 32 36 40 44
Observation

Figura 5.25 Carta I-MR del ejemplo


Se observa una mejor deteccin de corrida de la media en la carta EWMA

Ejemplo de media mvil:

Usando los datos siguientes con M = 5, con desviacin estndar = 1 y media =


10:

Muestra Xi Mi LSC LIC


13.0 7.00
1 9.45 9.450 000 00
12.1 7.87
2 7.99 8.720 213 87
11.7 8.26
3 9.29 8.910 321 79
11.5 8.50
4 11.66 9.598 000 00
11.3 8.65
5 12.16 10.110 416 84
11.3 8.65
6 10.18 10.256 416 84
11.3 8.65
7 8.04 10.266 416 84
11.3 8.65
8 11.46 10.700 416 84
11.3 8.65
9 9.20 10.208 416 84

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11.3 8.65
10 10.34 9.844 416 84
11.3 8.65
11 9.03 9.614 416 84
11.3 8.65
12 11.47 10.300 416 84
11.3 8.65
13 10.51 10.110 416 84
11.3 8.65
14 9.40 10.150 416 84
11.3 8.65
15 10.08 10.098 416 84
11.3 8.65
16 9.37 10.166 416 84
11.3 8.65
17 10.62 9.996 416 84
11.3 8.65
18 10.31 9.956 416 84
11.3 8.65
19 8.52 9.780 416 84
11.3 8.65
20 10.84 9.932 416 84
11.3 8.65
21 10.90 10.238 416 84
11.3 8.65
22 9.33 9.980 416 84
11.3 8.65
23 12.29 10.376 416 84
11.3 8.65
24 11.50 10.972 416 84
11.3 8.65
25 10.60 10.924 416 84
11.3 8.65
26 11.08 10.960 416 84
11.3 8.65
27 10.38 11.170 416 84
11.3 8.65
28 11.62 11.036 416 84
11.3 8.65
29 11.31 10.998 416 84
11.3 8.65
30 10.52 10.982 416 84

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Figura 5.26 Carta de media mvil en Excel

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6. ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO

6.1 INTRODUCCIN

Las tcnicas estadsticas ayudan durante el ciclo del producto a reducir la


variabilidad y a mejorar la capacidad de los procesos.

Definiciones bsicas.
Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas,
herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la
produccin.
Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud,
basada en el desempeo probado, para lograr resultados que se puedan
medir.

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Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir productos


dentro de los lmites de especificaciones de calidad.
Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del
proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el resultado de
la medicin del trabajo realizado por el proceso.
Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control estadstico,
es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles de variacin.
Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idnticos sino
que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso est bajo control,
solo actan las causas comunes de variacin en las caractersticas de
calidad.
Valor Nominal: Las caractersticas de calidad tienen un valor ideal
ptimo que es el que desearamos que tuvieran todas las unidades
fabricadas pero que no se obtiene, aunque todo funcione correctamente,
debido a la existencia de la variabilidad natural.

La aplicacin del anlisis de capacidad de los procesos tiene los objetivos


siguientes:

1. Predecir que tanto cumplir las tolerancias especificadas el proceso.


2. Apoyar a los diseadores en la seleccin o modificacin de un proceso.
3. Soportar la determinacin de intervalos de muestreo para monitoreo del
proceso.
4. Determinar el desempeo de un equipo nuevo.
5. Planear la secuencia de procesos productivos cuando hay un efecto
interactivo de procesos o tolerancias.
6. Seleccionar de entre diversos proveedores.
7. Reducir la variabilidad de un proceso de manufactura.

La capacidad de los procesos para cumplir especificaciones se refiere a la


uniformidad de los procesos medida como la variabilidad del producto, hay dos
formas de pensar en esta variabilidad:

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1. La variabilidad natural en un cierto tiempo (variabilidad instantnea).


2. La variabilidad en el tiempo.

Es usual tomar 6-sigma de la poblacin como la dispersin en la distribucin


de la caracterstica de calidad del producto como medida de la capacidad del
proceso.

Los lmites de tolerancia natural del proceso, superior (LTNS) e inferior (LTNI) ,
se encuentran en 3 , o sea:
LTNS = + 3 (6.1)
LTNI = - 3

Para un proceso normal, los lmites de tolerancia naturales incluyen 99.73% de


la variable, slo el 0.27% (2700 ppm) de la salida del proceso se encontrar
fuera de estos limites de tolerancia naturales. Sin embargo, si el proceso no es
normal, el porcentaje puede diferir grandemente. Esto se esquematiza en la
figura siguiente:

.00135 LTNI
LTNS .00135
Fig. 6.1 Localizacin de los lmites de tolerancia natural

Existen diversas tcnicas para evaluar la capacidad del proceso, entre las que
se encuentran: Histogramas o papel de probabilidad, cartas de control y
experimentos diseados.

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Fig. 6.2 Fraccin defectiva fuera de especificaciones

p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de


especificaciones.
En el rea sombrada observamos medidas fuera de los lmites de
especificacin.

Para solucionar este problema, podemos reducir la desviacin estndar.

Tambin podramos cambiar la media.

Lo ideal sera, por supuesto cambiar ambas.

Figura 6.3 Algunas alternativas para mejorar la capacidad

Condiciones para realizar un estudio de capacidad del


proceso

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Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los


siguientes supuestos32:

El proceso se encuentre bajo control estadstico, es decir sin la influencia de


fuerzas externas o cambios repentinos. Si el proceso est fuera de control la
media y/o la desviacin estndar del proceso no son estables y, en
consecuencia, su variabilidad ser mayor que la natural y la capacidad
potencial estar infravalorada, en este caso no es conveniente hacer un
estudio de capacidad.
Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para
minimizar el error de muestreo para los ndices de habilidad. Si los datos se
componen de menos de 100 valores, entonces deben calcularse los lmites
de confianza inferiores.
Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para
asegurar que las condiciones del proceso presentes durante el estudio sean
representativos de las condiciones actuales y futuras.
El parmetro analizado en el estudio sigue una distribucin de probabilidad
normal, de otra manera, los porcentajes de los productos asociados con los
ndices de capacidad son incorrectos.

Tambin es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos que la


variacin en el sistema de medicin no sea mayor al 10%.

Variacin a corto plazo y a largo plazo


Existen dos maneras de expresar la variabilidad:

Variacin a corto plazo (Zst) Los datos son recogidos durante un periodo de
tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya cambios y
otras causas especiales.

32
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill,
Pp.404

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Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los datos
considerados, slo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda a
determinar subgrupos racionales importantes.

Figura 6.4 Variabilidad a corto plazo

Variacin a Largo Plazo(Zlt) Los datos son recogidos durante un periodo de


tiempo suficientemente largo y en condiciones suficientemente diversas para
que sea probable que contenga algunos cambios de proceso y otras causas
especiales. Aqu todas las familias de variacin exhiben su contribucin en la
variacin del proceso general.

Figura 6.5 Variabilidad a largo plazo

Para el clculo de Z utilizamos las siguientes formulas:

Z st
lmite especif . nom.
(6.1)
desv.std ST
lmite especif . media
Z LT
desv.std LT

dnde:

Zst = variacin a corto plazo.


nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variacin a largo plazo.

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Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5


desviaciones estndar.

Zlt = Zst-1.5shift

6.2 NDICES DE CAPACIDAD

ndice de capacidad potencial Cp

El ndice de capacidad potencial Cp = PCR compara la amplitud de variacin


permitida por las especificaciones entre la amplitud de variacin entre los
lmites de tolerancia naturales del proceso.

LSE LIE
Cp PCR (6.2)
6

Ejemplo 6.1 para el caso de anillos de pistones, donde el LSE = 74.05mm y el

R
LIE= 73.95mm y de la carta R se estim 0.0099 por tanto se tiene:
d2

Cp = PCR = (LSE LIE) / 6


= (74.05 73.95) / 6 (0.0099) = 1.68

La funcin P (inverso de Cp) es el porcentaje de la banda de especificaciones


usada por el proceso.

1
P 100 (6.3)
Cp

Para el caso del ejemplo se tiene:

Pgina 264
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P = [(1/1.68)] 100 = 59.5%

Cuando slo existe un lmite de especificaciones, el ndice de capacidad


potencial Cp o PCR se define como:
LSE
Cps PCR S para el lmite superior (6.4)
3

LIE
Cpi PCR I para el lmite inferior
3

Ejemplo 6.2 Para el caso de la resistencia de las botellas de vidrio, si el LIE =


200psi,

264 200 64
Cp PCR I 0.67
3(32) 96

Lo cual indica falta de habilidad, la fraccin abajo del lmite inferior es:

LIE 200 264


ZI 2
32
P(x <= ZI) = 0.0228 o 2.28% por debajo del lmite inferior de especificaciones

Algunos de los ndices de capacidad potencial Cp y las piezas defectivas en


partes por milln (ppm) que estn fuera de especificaciones se muestran a
continuacin:

2-
Cp 1-lado lados
453,25
0.25 226,628 5
133,61
0.5 66,807 4
0.6 35,931 71,861
0.7 17,865 35,729
0.8 8,198 16,395
1 1,350 2,700

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1.1 484 967


1.2 159 318
1.3 48 96
1.4 14 27
1.5 4 7
1.6 1 2
1.7 0.17 0.34
2 0.0009 0.0018

Se recomienda que para procesos existentes el mnimo Cp sea de 1.33 y de


1.67 para procesos crticos, el ideal es 2.0 para procesos nuevos como es el
caso de Motorola en su programa 6-sigma.

Este ndice no toma en cuenta la localizacin relativa de la media del proceso


respecto a los lmites de especificaciones. Por lo que es necesario otro ndice
adicional.

ndice de capacidad real Cpk

Este ndice si toma en cuenta el centrado del proceso respecto a las


especificaciones, en este caso se denomina Cpk o PCRk, y se evala tomando
el mnimo entre los Cps correspondientes a cada lado de la media, como sigue,

Cpk PCRk min( PCR S , PCR I ) debe ser mayor a 1


(6.5)
donde,
LSE
Cps PCR S para el lmite superior (6.6)
3

LIE
Cpi PCR I para el lmite inferior
3

Ejemplo 6.3 Para un proceso donde los lmites de especificacin sean LSE=62,
LIE=38, la media del proceso sea =53 y su desviacin estndar =2, se tiene:

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62 53
Cps PCRS 1.5 para el lmite superior
32

53 38
Cpi PCR I 2.5 para el lmite inferior
32

Por tanto, el ndice de capacidad real es:


Cpk PCRk min( PCR S , PCR I ) min(1.5,2.5) 1.5

Note que el PCR a considerar corresponde al lmite de especificacin ms


cercano a la media del proceso. Siempre se cumple que,
Cpk <= Cp

Siendo el Cpk menor cuando el proceso no est centrado


NORMALIDAD Y CAPACIDAD DEL PROCESO

Las consideraciones anteriores se basan en la suposicin que el proceso tiene


un comportamiento normal, si no es as, puede ser necesario transformar los
datos con alguna funcin matemtica para dar la apariencia de normalidad, por
ejemplo la distribucin siguiente de acabado superficial en una parte
maquinada no es normal:

Frec.
a)

Microdureza

Se puede transformar cada valor x con su inverso o sea con y=1/x de esta
forma la distribucin transformada es la siguiente (ver mtodo de Box Cox con
Lamda ptima en Minitab):

Frec.

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b)

Y=1/x

Figura 6.6 Transformacin de datos para normalizarlos

Lo cual representa una distribucin normal.

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ndice de capacidad potencial Cpm o PCRm y Cpkm o


PCRkm

Dos procesos pueden tener un Cpk igual a uno, pero sin embargo no
necesariamente estn centrados respecto a la media de las especificaciones
como se muestra a continuacin:

LIE LSE LIE LSE


PROCESO A: Cpk = 1 PROCESO B: Cpk =1

Figura 6.7 Procesos con Cpk = 1 pero con centrado diferente

NDICE DE CAPACIDAD Cpm


Un nuevo ndice Cpm que toma en cuenta el centrado es el siguiente:

1
Si T ( LSE LIE ) (6.7)
2
2 ( T ) 2 (6.8)
T
(6.9)

Se tiene,
LSE LIE LSE LIE LSE LIE
Cp m PCRkm (6.10)
6 6 ( T )
2 2
1 2

Una condicin necesaria para que Cpm sea mayor de uno es:

1
T ( LSE LIE )
6

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Ejemplo 6.4 Para los procesos A y B ilustrados anteriormente se tiene:

Lmites de especificacin: LIE = 38, LSE = 62, T = 50


Proceso A: Media = 50, desv. estndar = 5
Proceso B: Media = 57.7, desv. estndar = 2.5

1
Entonces Cpm (A) = 1.0
1 0
2
Cpm (B) = 0.63
1 (3) 2

Por tanto es mejor el proceso A, centrado en la media.

NDICE DE CAPACIDAD Cpkm


En base a lo anterior se ha propuesto otro ndice de capacidad por Pearn
(1992), que toma en cuenta el descentrado de la media del proceso respecto
de la media de especificaciones, o sea:

Cpk
Cp pmk PCR pmk (6.11)
1 2

Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk

Ejemplo:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes, se obtuvo lo
siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:


= X media de medias = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23
[ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326]

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.


El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con
las especificaciones

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Ejercicio:
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus de que
el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE = 36, LSE =
46) se obtuvo lo siguiente:

Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5

a) Determinar la desviacin estndar del proceso

b) Determinar los lmites de tolerancia natural del proceso

c) Determinar la fraccin defectiva o porcentaje fuera de especificaciones

d) Determinar el Cp

e) Determinar el Cpk

f) Determinar el Cpm

g) Determinar el Cpkm

h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores

6.3 CAPACIDAD DEL PROCESO CON HISTOGRAMA O


PAPEL DE PROBABILIDAD NORMAL

Histograma

Para el estudio se requieren alrededor de 100 o ms observaciones para


permitir que el proceso se estabilice, deben seguirse los pasos previos
siguientes:

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Procedimiento:
1. Seleccionar un proceso especfico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operacin del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medicin debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la informacin
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
7. Calcular la media y desviacin estndar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso

El histograma junto con la media y la desviacin estndar de la muestra S,


proporciona informacin acerca de la capacidad del proceso.

Ejemplo 6.4 Se tiene la resistencia de botellas de vidrio de 1-litro en psi. Los


datos se muestran se muestran a continuacin.

HIST
265 346 265 221 261
205 317 254 176 248
263 242 281 248 260
307 258 294 263 274
220 276 223 231 337
268 300 260 334 250
260 208 308 280 278
234 187 235 265 254
299 264 283 272 274
215 271 277 283 275
197 280 200 265 278
286 242 235 262 250
274 260 246 271 265
243 321 328 245 270
231 228 296 301 298
267 250 276 280 257
281 299 264 274 210
265 258 269 253 280
214 267 235 287 269
318 293 290 258 251

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Summary for HIST


Anderson-Darling Normality Test
A-Squared 0.75
P-Value 0.049
Mean 264.06
StDev 32.02
Variance 1025.15
Skewness -0.129448
Kurtosis 0.518454
N 100
Minimum 176.00
1st Quartile 248.00
Median 265.00
3rd Quartile 280.00
180 210 240 270 300 330 Maximum 346.00
95% Confidence I nterval for Mean
257.71 270.41
95% Confidence I nterval for Median
260.00 271.00
95% Confidence I nterval for StDev
95% Confidence I ntervals
28.11 37.19
Mean

Median

258 260 262 264 266 268 270

Figura 6.8 Resumen grfico de los datos

X 264.06 S = 32.02

Consecuentemente la capacidad el proceso se estima en X 3S 264


96 psi.

Esta primera estimacin de la capacidad es independiente de las


especificaciones.

Papel de probabilidad normal

Es una herramienta que permite evaluar la capacidad aproximada del proceso


con resultados parecidos a los del histograma pero con un nmero menor de
muestras y sin las operaciones del histograma, a continuacin se muestra un
ejemplo de esta herramienta.

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Ventajas

1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos


como en el histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es ms sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable
en intervalos de clase como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la
lnea de ajuste
4. Permite identificar la media y la desviacin estndar aproximada del
proceso. As como la fraccin defectiva, el porcentaje de datos entre cierto
rango, el Cp y el Cpk.

Procedimiento

1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente,


asignndoles una posicin ( j ) entre 1 y n.
2. Se calcula la probabilidad de cada posicin con la frmula siguiente:
Pj = (j - 0.5) / n
3. En el papel especial normal se grafica cada punto (X j, Pj)
4. Se ajusta una lnea recta que mejor aproxime los puntos
5. Si no hay desviaciones mayores de la lnea recta, se considera normal el
proceso y se procede a hacer las identificaciones:

La media corresponde al percentil 50 y la desviacin estndar es estimada por


la diferencia del percentil 84 menos el percentil 50,

La media ser el punto en X correspondiente a P j = 0.5


La desviacin estndar es la diferencia en X j corresp. a Pj = 0.5 y Pj = 0.84

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Ejemplo 6.5
.-Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, calculamos la
probabilidad de su posicin (Pj)

Con ayuda del grfico podemos obtener la media, la desviacin estndar y el


porcentaje de valores que se encuentran fuera de especificaciones.

Pj

0.84

0.5

Desv. Estndar

Fraccin
Defectiva

LIE X Media Xj

Figura 6.9 Capacidad del proceso con papel normal

El trazo normal es el siguiente:

El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales.


El eje X es un rango lineal de la variable que se est analizando.

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Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi,


puede predecirse usando una lnea slida como modelo. Por ejemplo, slo
ms del 20% de los datos del proceso seran valores de 225 o inferiores.

Ejemplo 6.6 Clculo de capacidad con papel normal en Minitab


Datos
271 197
275 200
277 215
278 221
280 231
283 242
290 245
301 258
318 265
346 265

Probability Plot of Datos


Normal
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent

60
50
40
30
20

10

1
150 200 250 300 350
Datos

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De este diagrama se obtiene:


262.9
298 262.9 35.1 psi

Note que los valores no difieren mucho de los del histograma con media 264.06
y desviacin estndar S = 32.02.

Con esta grfica se pueden estimar tambin los porcentajes de partes fuera de
las especificaciones, por ejemplo si se traza el Lmite Inferior de Especificacin
LIE en 200 psi, se observa que se tiene un 5% aproximadamente fuera de
especificaciones.

Nota: Es muy importante que el proceso sea normal, de lo contrario se


obtendrn resultados inexactos. Cuando los procesos son ligeramente
anormales se pueden utilizar los mtodos de Pearson, transformar los datos
por Box Cox o usar Weibull.

Capacidad del proceso con cartas de control


La carta de control es un mejor instrumento para evaluar la capacidad del
proceso porque se puede observar que el proceso est en control ya sea en
forma instantnea o durante el tiempo antes de evaluar la capacidad.

Se puede observar que cuando el proceso est en control, no existen causas


asignables que puedan ser corregidas, y la nica alternativa para reducir la
variabilidad es con la intervencin de la administracin.

En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son


totalmente inesperadas tenemos un proceso inestable impredecible.

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?
? ?
? ?
? ?

Figura 6.10 Comportamiento de un proceso fuera de control

Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso


estable. La distribucin ser predecible en el tiempo.

Prediccin

Tiempo

Fig. 6.11 Comportamiento de un proceso dentro de control

Clculo de la desviacin estndar del proceso

R S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4
Donde,
El factor C4 = 4(n-1)/(4n 3), con esta desviacin estndar se determinan los
ndices de desempeo Pp y Ppk.

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S = Desviacin estndar de la poblacin


d2 = Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X - R
C4 = dem al anterior para una carta X - S

En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma


rangos / (n -1)

Ejemplo 6.7 (carta X - R)

De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,


despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes: x
= 64.06 , R = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

x media de medias

R 77.3
33.23
d 2 2.326

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.

200 264.06
El C pk = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3 33.23
especificaciones.

Ejemplo 6.8 (carta X - S)

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De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,


despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes:
x 100, s 1.05

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

x 100

s 1.05
= 1.117
C4 .094

C4 para n = 5 tiene el valor 0.94

Si el lmite de especificacin es: LIE = 85 y el LSE = 105.

105 100
El C pk 1.492
3 1.117

105 85
El C p 2.984
6 1.117

Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones.

Capacidad de procesos con Minitab: normales y no


normales

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin


estndar S = 32.02 con

1. Calc > Random data > Normal


2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estndar deviation
32.02 OK

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Considerando Lmites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330

Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de


Ryan como sigue:

3. Stat > Basic statistics > Normalita Test


4. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK

El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan
normalmente

Fig. 6.12 Datos normales Pvalue mayor a 0.05

Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:

5. Graph > Probability plot > Normal


6. Graph Variable C1
7. Distribution Normal OK

Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es
normal la distribucin.

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Fig. 6.13 Datos normales Pvalue mayor a 0.05

Determinacin de la capacidad del proceso

Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la capacidad con:

1. Stat > Quality tools > Capability anlisis > Normal


2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330
3. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:

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Fig. 6.14 Capacidad del proceso

Interpretacin:

La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y d2


(1.128 para n = 2), con esta se determinan los ndices de capacidad
potencial Cp y real Cpk, lo cual es adecuado para un proceso en control o
normal.

La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar de


todos los datos de la muestra dividido entre el factor C4 = 4(n-1)/(4n 3),
con esta desviacin estndar se determinan los ndices de desempeo Pp y
Ppk as como el desempeo Overall, no importando si el proceso est en
control o no, en este ltimo caso los valores no tienen significado prctico.

Opcin Six Pack


Para mostrar toda la informacin relevante:

Determinar la capacidad con:

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4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330
6. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:

Figura 6.15 Resultados de capacidad del proceso Six Pack

En este caso de la grfica de probabilidad normal, los datos siguen una


distribucin normal.

Capacidad de procesos no normales.

Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opcin para


realizar el estudio de capacidad de procesos es mediante la distribucin
Weibull.

Ejemplo en Minitab

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En una compaa se manufacturan losetas para piso, el problema que se tiene


es referente a la deformacin en las mismas. Se toman 100 mediciones
durante 10 das. El lmite superior de especificacin (USL) = 3.5 mm Realice un
estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e interprete los resultados.

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor de


escala = 1 con

6. Calc > Random data > Weibull


7. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale
parameter 1 Threshold parameter 0 OK

Considerando Lmites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5

Determinar la capacidad con:


7. Stat > Quality tools > Capability anlisis > NoNormal
8. Single column C1 Dsitribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5
9. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:


El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el
modelo y los datos, ya que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo
observamos que algunos datos caen fuera del lmite superior de especificacin.
Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformacin ser mayor a 3.5
mm.

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Fig. 6.16 Determinacin de la capacidad del proceso por Weibull - Datos no


normales

El ndice Ppk y Ppu33 = 0.85 lo cual nos dice que el desempeo del proceso no
es capaz ya que 0.85<.1.33

Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarn fuera de los lmites de especificaciones.

Tambin se cuenta con la opcin Six Pack para esta opcin.

Anlisis de capacidad con experimentos diseados


El diseo de experimentos es un mtodo sistemtico para variar el nivel de los
parmetros controlables del proceso y analizar sus efectos en los resultados
finales o productos. De esta forma se puede determinar el nivel de los
parmetros que optimizan el proceso.

33
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la
capacidad del proceso a largo plazo.

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6.7 ESTUDIOS DE CAPACIDAD DE SISTEMAS DE


MEDICIN

Error rror del equipo de medicin


En cualquier problema que involucre mediciones, de la variabilidad total parte
de la variabilidad observada es debida al producto mismo y parte es debida a
la variacin del equipo de medicin, o sea:

total
2
2producto equipo
2
. medicin (6.13)

Ejemplo 6.8 Tomando 20 partes y evalundolas 2 veces por un mismo operador


con el mismo instrumento de medicin, se obtienen los resultados mostrados a
continuacin:
PART OP1IN OP1I X-
S 1 N2 media Rango
1 21 20 20.5 1
2 24 23 23.5 1
3 20 21 20.5 1
4 27 27 27 0
5 19 18 18.5 1
6 23 21 22 2
7 22 21 21.5 1
8 19 17 18 2
9 24 23 23.5 1
10 25 23 24 2
11 21 20 20.5 1
12 18 19 18.5 1
13 23 25 24 2
14 24 24 24 0
15 29 30 29.5 1
16 26 26 26 0
17 20 20 20 0
18 19 21 20 2
19 25 26 25.5 1
20 19 19 19 0
Figura 6.16 Cartas X-R del estudio

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Xbar-R Chart of C1, ..., C2


30 1

1
Sample Mean

1
1
25
UCL=24.18
__
X=22.3

20 LCL=20.42
1 1
1
1 1
1
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

UCL=3.267
3
Sample Range

_
1 R=1

0 LCL=0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19
Sample

Figura 6.17 Cartas de control X-R de las mediciones del operador en sus dos
intentos

Notar que la carta X indica muchos puntos fuera de control, lo cual es normal
ya que se espera que el instrumento distinga las diferentes unidades de
producto. La carta R representa las diferencias entre mediciones de la
misma unidad con el mismo instrumento. En este caso la carta R est en
control, indicando que el operador no tiene dificultad para realizar las
mediciones en forma consistente. Si hubiera puntos fuera de control, indica
que el operador tiene dificultad para utilizar el instrumento.

La desviacin estndar del error de medicin, instrumento puede estimarse como:


R 1 .0
instrumento 0.887
d 2 1.128

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Como la distribucin del error de medicin es aproximadamente normal,


entonces 6instrumento es un buen estimador de la capacidad del instrumento de
medicin.

En este caso, 6instrumento = 6 (0.887) = 5.32, de tal forma que 2.66 de error de
medicin se puede asignar al error del instrumento de medicin.

Es usual comparar la capacidad del instrumento de medicin contra el rango


de las especificaciones (LSE LIE), denominado P/T, como sigue:

P 6 instrumento
(6.14)
T LSE LIE

Para el caso del ejemplo se tiene:

P 6(0.887) 5.32
0.097
T 60 5 55

Los valores de P/T menores a 0.1 implican una capacidad adecuada del
instrumento de medicin. Basado en su precisin debe ser al menos de 0.1 de
la tolerancia de la caracterstica evaluada.

La variabilidad total de los datos de las mediciones incluyen la variabilidad del


producto y las del instrumento de medicin. Por tanto,

total
2
S2

2producto total
2
instrument
2
o

De los datos del ejemplo se tiene:

Variable N Mean Median TrMean StDev SE Mean


OP1IN1 40 22.300 21.500 22.167 3.172 0.502

total
2
S 2 = 3.17 x 3.17 = 10.0615

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2producto total
2
instrument
2
o = 10.0615 0.7867 = 9.2748

Por tanto la desviacin estndar de la caracterstica del producto es:

= 3.045

La variabilidad del instrumento de medicin tambin puede expresarse como


un porcentaje de la variabilidad de la caracterstica del producto como sigue:

instrumento
x100 (6.15)
producto

Para el ejemplo se tiene:


instrumento 0.887
x100 = x100 29.13%
producto 3.045

6.6.2 Rrepetibilidad y reproducibilidad (R&R)

Se pueden determinar los componentes del error debidos a diferentes


operadores (repetibilidad) y debidos al instrumento de medicin en s
(reproducibilidad).

error
2
.medicin repetibili dad reproducib ilidad
2 2
(6.16)

Ejemplo 6.9 Se tienen los datos de mediciones de 20 partes por 3 operadores,


haciendo 2 intentos cada uno como sigue.

PART OP1IN OP1I RANG OP2IN OP2IN RANG OP3IN OP3IN RANG
S 1 N2 O1 1 2 O2 1 2 O3
1 21 20 1 20 20 0 19 21 2
2 24 23 1 24 24 0 23 24 1
3 20 21 1 19 21 2 20 22 2
4 27 27 0 28 26 2 27 28 1

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5 19 18 1 19 18 1 18 21 3
6 23 21 2 24 21 3 23 22 1
7 22 21 1 22 24 2 22 20 2
8 19 17 2 18 20 2 19 18 1
9 24 23 1 25 23 2 24 24 0
10 25 23 2 26 25 1 24 25 1
11 21 20 1 20 20 0 21 20 1
12 18 19 1 17 19 2 18 19 1
13 23 25 2 25 25 0 25 25 0
14 24 24 0 23 25 2 24 25 1
15 29 30 1 30 28 2 31 30 1
16 26 26 0 25 26 1 25 27 2
17 20 20 0 19 20 1 20 20 0
18 19 21 2 19 19 0 21 23 2
19 25 26 1 25 24 1 25 25 0
20 19 19 0 18 17 1 19 17 2
PARTS OP1IN1 OP1IN2 RANGO1 OP2IN1 OP2IN2 RANGO2
OP3IN1 OP3IN2 RANGO3
1 21 20 1 20 20 0 19 21 2
2 24 23 1 24 24 0 23 24 1
3 20 21 1 19 21 2 20 22 2
4 27 27 0 28 26 2 27 28 1
5 19 18 1 19 18 1 18 21 3
6 23 21 2 24 21 3 23 22 1
7 22 21 1 22 24 2 22 20 2
8 19 17 2 18 20 2 19 18 1
9 24 23 1 25 23 2 24 24 0
10 25 23 2 26 25 1 24 25 1
11 21 20 1 20 20 0 21 20 1
12 18 19 1 17 19 2 18 19 1
13 23 25 2 25 25 0 25 25 0
14 24 24 0 23 25 2 24 25 1
15 29 30 1 30 28 2 31 30 1
16 26 26 0 25 26 1 25 27 2
17 20 20 0 19 20 1 20 20 0
18 19 21 2 19 19 0 21 23 2
19 25 26 1 25 24 1 25 25 0
20 19 19 0 18 17 1 19 17 2

La media de los rangos medios para cada operador es:

1 1
R ( R 1 R 2 R 3 ) (1.0 1.25 1.20) 1.15
3 3

por tanto la desviacin estndar de la repetibilidad es:

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R 1.15
repetibili dad 1.02 tomando d2 para n=2 lecturas
d2 1.128

La reproducibilidad es causada por diferencias entre los 3 operadores, es decir,

x max max ( x 1 , x 2 , x 3 )

x min min( x 1 , x 2 , x 3 )

R x x max x min

Rx
reproducib ilidad
d2 considerando el nmero de operadores.

Del ejemplo, se tiene que para 3 operadores, d 2 =1.693, por tanto:


xmax = 22.60, xmin =22.28 y Rx=0.32, y

reproducibilidad = 0.32/1.693 = 0.19

Por tanto la variabilidad total del error de medicin es:


instrument
2
. medicin repetibili dad reproducib ilidad = 1.02 + 0.19 = 1.08
2 2 2 2

instrumento.medicin = 1.04

La relacin P/T = 6 (1.04) / (60-5) = 0.11

Por otra parte utilizando el paquete Minitab se obtuvieron las respuestas


siguientes (tomando 5.15 sigmas):

Gage R&R Study - XBar/R Method

Gage R&R for OP1IN1

Gage name: DISPOSITIVO DE PRUEBA


Date of study: 20 JULIO 2000
Reported by: P. REYES
Tolerance: 5

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Misc:

%Contribution
Source Variance (of Variance)

Total Gage R&R 1.0424 9.91


Repeatability 1.0394 9.88
Reproducibility 0.0030 0.03
Part-to-Part 9.4801 90.09
Total Variation 10.5225 100.00

StdDev Study Var %Study Var %Tolerance


Source (SD) (5.15*SD) (%SV) (SV/Toler)

Total Gage R&R 1.02096 5.2579 31.47 9.56


Repeatability 1.01950 5.2504 31.43 9.55
Reproducibility 0.05449 0.2806 1.68 0.51
Part-to-Part 3.07898 15.8568 94.92 28.83
Total Variation 3.24384 16.7058 100.00 30.37

Number of distinct categories = 4

De esta forma cuando se toman en cuenta ambas la repetibilidad y la


reproducibilidad, la capacidad del sistema de medicin se reduce. Es necesario
entrenar al operador en el uso del instrumento de medicin y en todo caso a
encontrar otro equipo de medicin.

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6.6.3 R&R Capacidad de los sistemas de medicin -


AIAG
En muchas ocasiones las organizaciones no consideran el impacto de no tener
sistemas de medicin de calidad, el hecho de que las mediciones no
sean exactas puede llevar a cometer errores en el clculo, y en los
anlisis y conclusiones de los estudios de capacidad de los procesos.

Cuando los operadores no miden una pieza de manera consistente, se puede


caer en el riesgo de rechazar artculos que estn en buen estado o aceptar
artculos que estn en mal estado. Por otro lado si los instrumentos de
medicin no estn calibrados correctamente tambin se pueden cometer
errores. Cuando sucede lo mencionado anteriormente tenemos un sistema de
medicin deficiente que puede hacer que un estudio de capacidad parezca
insatisfactorio cuando en realidad es satisfactorio. Lo anterior puede tener
como consecuencia gastos innecesarios de reproceso al reparar un proceso de
manufactura o de servicios, cuando la principal fuente de variacin se deriva
del sistema de medicin.

Posibles Fuentes de la Variacin del Proceso

Variacin del proceso

Variacin
Variacin deldel proceso,
proceso, real
real Variacin de la medicin

Variacin dentro de la Variacin


Equipooriginada
de
muestra medicin Reproducibilidad
por el calibrador

Repetibilidad Estabilidad Linealidad Sesgo

Calibracin

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Figura 6.18 Diagrama de variabilidad observada en el proceso

Definiciones
Reproducibilidad: Es la variacin, entre promedios de las mediciones hechas
por diferentes operadores que utilizan un mismo instrumento de medicin
cuando miden las mismas caractersticas en una misma parte.

O p e ra d o r -B

O p e ra d o r -C

O p e ra d o r -A

R e p r o d u c ib i l id a d

Figura 6.19 Evaluacin de la reproducibilidad

Repetibilidad: es la variacin de las mediciones obtenidas con un


instrumento de medicin, cuando es utilizado varias veces por un operador,
al mismo tiempo que mide las mismas caractersticas en una misma parte.

R E P E T I B IL I D A D

Figura 6.20 Evaluacin de la repetibilidad

Valor verdadero:

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Valor correcto terico / estndares NIST 34

Precisin: Es la habilidad de repetir la misma medida cerca o dentro de una


misma zona

Exactitud :
Es la diferencia entre el promedio del nmero de medidas y el valor verdadero.

Resolucin: La medicin que tiene exactitud y precisin.

Exacto pero no preciso Exacto y preciso


Preciso pero no exacto
(resolucin)

Figura 6.21 Evaluacin de la precisin y exactitud

- Estabilidad: es la variacin total de las mediciones obtenidas con un sistema


de medicin, hechas sobre el mismo patrn o sobre las mismas partes, cuando
se mide una sola de sus caractersticas, durante un perodo de tiempo
prolongado.

T i e m p o 2

34
En EUA se tiene el NIST (National Institute of Standards ando Technology),En Mxico
se tiene el CENEAM o el Centro Nacional de Metrologa
T i e m p o 1

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Figura 6.22 Evaluacin de la estabilidad

Linealidad: diferencia en los valores de la escala, a travs del rango de


operacin esperado del instrumento de medicin.

Valor Valor
verdadero verdadero

Sesgo Sesgo
Menor mayor

(rango inferior) (rango superior)


Rango de Operacin del equipo

Figura 6.23 Evaluacin de la linealidad


Sesgo: distancia entre el valor promedio de todas las mediciones y el valor


verdadero. Error sistemtico o desviacin.

V a lo r

V e rd a d e ro

S e s g o

Figura 6.24 Evaluacin de la exactitud o sesgo


Calibracin: Es la comparacin de un estndar de medicin con exactitud
conocida con otro instrumento para detectar, reportar o eliminar por medio
del ajuste, cualquier variacin en la exactitud del instrumento.

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Importante: para que el equipo de medicin tenga una discriminacin


adecuada en la evaluacin de las partes, su
resolucin debe ser al menos 1/10 de la variabilidad del proceso.

<10% Aceptable
10-30%. Puede ser aceptable, para caractersticas no crticas.
>30%. Inaceptable!

En otras industrias fuera de la automotriz se acepta un error total de R&R del


25% como mximo.

En cualquier problema que involucre mediciones, algunas de las variaciones


observadas son debidas al proceso y otras son debidas al error o variacin en
los sistemas de medicin. La variacin total es expresada de la siguiente
manera:

2 total 2 proceso 2 error medicin

Estudios R&R - Mtodo Corto del Rango

Es un mtodo que proporciona un valor aproximado del error R&R sin que
muestre las diferencias entre errores por el equipo y por los operadores.Se
usan dos evaluadores y cinco partes. Cada evaluador mide cada parte una sola
vez.Se calcula el rango de la medicin de cada parte y al final el rango
promedio.

La desviacin estndar de R&R se aproxima con la formula de rango medio


entre d2*. El % de R&R se calcula comparando la desv. Estndar de R&R con la
del proceso

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Partes Evaluador A Evaluador B Rango A,B


1 0.85 0.80 0.05
2 0.75 0.70 0.05
3 1.00 0.95 0.05
4 0.45 0.55 0.10
5 0.50 0.60 0.10

Rango medio = 0.35/5 = 0.07

GRR = Rmedio / d2* = 0.07 / 1.19 = 0.0588


Desv. Estndar del proceso = 0.0722
%GRR = 100 (GRR / Desv. Est. Proceso ) = 81.4%

Por tanto el sistema de medicin requiere mejora

Figura 6.25 Mtodo corto del rango

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Estudio de R&R Mtodo largo

Generalmente intervienen de dos a tres operadores


Generalmente se toman 10 unidades
Cada unidad es medida por cada operador, 2 3 veces.

La resolucin del equipo de medicin debe ser de al menos el 10% del


rango de tolerancia o del rango de variacin del proceso.

Las partes deben seleccionarse al azar, cubriendo el rango total del


proceso. Es importante que dichas partes sean representativas del proceso
total (80% de la variacin)

10 partes NO son un tamao de muestra significativo para una opinin slida


sobre el equipo de medicin a menos que se cumpla el punto anterior.

Procedimiento para realizar un estudio de R&R

1. Asegrese de que el equipo de medicin haya sido calibrado.


2. Marque cada pieza con un nmero de identificacin que no pueda ver la
persona que realiza la medicin.
3. Haga que el primer operador mida todas las muestras una sola vez,
siguiendo un orden al azar.
4. Haga que el segundo operador mida todas las muestras una sola vez,
siguiendo un orden al azar.

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5. Contine hasta que todos los operadores hayan medido las muestras una
sola vez (Este es el ensayo 1).
6. Repita los pasos 3-4 hasta completar el nmero requerido de ensayos
7. Determine las estadsticas del estudio R&R
Repetibilidad
Reproducibilidad
% R&R
Desviaciones estndar de cada uno de los conceptos mencionados
Anlisis del porcentaje de tolerancia
8. Analice los resultados y determine las acciones a seguir si las hay.

Mtodos de estudio del error R&R:

I.

Mtodo de Promedios- Rango


Permite separar en el sistema de medicin lo referente a la
Reproducibilidad y a la Repetibilidad.
Los clculos son ms fciles de realizar.

II. Mtodo ANOVA


Permite separar en el sistema de medicin lo referente a la
Reproducibilidad y a la Repetibilidad.
Tambin proporciona informacin acerca de las interacciones de un
operador y otro en cuanto a la parte.
Calcula las varianzas en forma ms precisa.
Los clculos numricos requieren de una computadora.
El Mtodo ANOVA es ms preciso

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Clculos con Excel o manual:


Introducir los datos en la hoja de coleccin de datos siguiente por cada
operador y hacer los clculos indicados en la zona gris:

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Una vez colectados los datos proceder a realizar la carta de rango R y observar
que est en control, de otra forma repetir las mediciones para ese operador y
parte especfica errnea.

Figura 6.26 Comportamiento de la carta de control de rangos para el ejemplo

Ahora revisar la carta X media, debe tener al menos el 50% de puntos fuera de
control indicando que identifica las variaciones en las diferentes partes
presentadas:
LSCX = 0.005143 X= 0.004717 LICX = 0.004290417

LSCX
X
LICX

Figura 6.26 Comportamiento de la carta de control de medias para el ejemplo

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Se procede posteriormente a determinar los errores o variabilidad del sistema


de medicin con la hoja de trabajo siguiente, calculando los campos con
sombra gris:

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Interpretacin de los resultados


1. El porcentaje de error R&R no debe exceder del 10%, si el equipo se usa
para liberar producto terminado la referencia es la tolerancia del cliente; si el
equipo se usa para control del proceso, la referencia es la variacin total del
proceso.

2. El nmero de categoras debe ser de al menos 4 indicando que el equipo


distingue las partes que son diferentes.

Ejemplo 2 (MINITAB)
Primero se visualizan las mediciones replicadas de cada operador en cada
parte como sigue:

Figura 6.27 Grfica que muestra el comportamiento de las mediciones de los


operadores

Mtodo X Barra - R

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Se seleccionan 10 muestras de un proceso de manufactura, cada parte es


medida dos veces por tres operadores. Realice un estudio R&R mediante el
mtodo Xbar-R.

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OPERAD
OR A.- B.- C.-
colum colum colum colum colum colum colum colum colum
na 1 na 2 na 3 na 5 na 6 na 7 na 9 na 10 na 11
1er 2do 3er 1er 2do 3er 1er 2do 3er
Muestra Intento Intento Intento Intento Intento Intento Intento Intento Intento

1 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0050 0.0045 0.0045

2 0.0045 0.0055 0.0045 0.0055 0.0050 0.0045 0.0055 0.0045 0.0045

3 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0040

4 0.0050 0.0050 0.0045 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050

5 0.0045 0.0045 0.0045 0.0040 0.0045 0.0040 0.0045 0.0045 0.0040

6 0.0050 0.0055 0.0045 0.0060 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050

7 0.0050 0.0045 0.0045 0.0055 0.0045 0.0050 0.0045 0.0050 0.0050

8 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0060 0.0050 0.0050

9 0.0050 0.0045 0.0050 0.0045 0.0045 0.0050 0.0055 0.0045 0.0045

10 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0045 0.0045 0.0045

Totales 0.0470 0.0475 0.0455 0.0485 0.0465 0.0465 0.0500 0.0470 0.0460

Capture los datos en la hoja de trabajo de Minitab en tres columnas C1, C2,
C3

Operador Medici Operador Medici Operador


Partes es n Partes es n Partes es Medicin
1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.005
2 1 0.0045 2 2 0.0055 2 3 0.0055
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.0045
4 1 0.005 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.004 5 3 0.0045
6 1 0.005 6 2 0.006 6 3 0.005
7 1 0.005 7 2 0.0055 7 3 0.0045
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.006
9 1 0.005 9 2 0.0045 9 3 0.0055
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045

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1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.0045


2 1 0.0055 2 2 0.005 2 3 0.0045
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.0045
4 1 0.005 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.0045 5 3 0.0045
6 1 0.0055 6 2 0.005 6 3 0.005
7 1 0.0045 7 2 0.0045 7 3 0.005
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.005
9 1 0.0045 9 2 0.0045 9 3 0.0045
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045
1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.0045
2 1 0.0045 2 2 0.0045 2 3 0.0045
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.004
4 1 0.0045 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.004 5 3 0.004
6 1 0.0045 6 2 0.005 6 3 0.005
7 1 0.0045 7 2 0.005 7 3 0.005
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.005
9 1 0.005 9 2 0.005 9 3 0.0045
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045

Seleccione en el men de la barra de herramientas STAT>QUALITY


TOOLS>GAGE STUDY > Gage R&R (Crossed)
Seleccione C1 (parte), C2 (operador), C3 (Medicin)
Mtodo de Anlisis X Bar and R
En Options Seleccionar: Study variation 5.15 Process tolerante 0.006

Los resultados se muestran a continuacin:


Gage R&R Study - XBar/R Method

%Contribution
Source VarComp (of VarComp)
Total Gage R&R 0.0000001 41.00
Repeatability 0.0000001 40.52
Reproducibility 0.0000000 0.48
Part-To-Part 0.0000001 59.00
Total Variation 0.0000001 100.00

Study Var %Study Var %Tolerance


Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV) (SV/Toler)
Total Gage R&R 0.0002476 0.0012750 64.03 21.25
Repeatability 0.0002461 0.0012675 63.65 21.12
Reproducibility 0.0000269 0.0001384 6.95 2.31
Part-To-Part 0.0002970 0.0015295 76.81 25.49
Total Variation 0.0003867 0.0019913 100.00 33.19

Number of Distinct Categories = 1

Anlisis de los resultados:

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El error de R&R vs tolerancia es 21.25% y vs variacin total del proceso es


64.03% lo que hace que el equipo de medicin no sea adecuado para la
medicin.

Por otro lado el nmero de categoras es slo de 1 cuando debe ser al menos 4
indicando que el instrumento discrimina las diversas partes diferentes.

Gage R&R (Xbar/ R) for Datos


Reported by:
Gage name: Tolerance:
Date of study: Misc:

Components of Variation Datos by Partes


80 0.006
% Contribution
%Study Var
Percent

% Tolerance
40 0.005

0.004
0
Gage R&R Repeat Reprod Part-to-Part 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Partes
R Chart by Operadores
1 2 3 Datos by Operadores
UCL=0.001073 0.006
0.0010
Sample Range

_ 0.005
0.0005
R=0.000417

0.004
0.0000 LCL=0
1 2 3
Operadores
Xbar Chart by Operadores
1 2 3 Operadores * Partes I nteraction
Operadores
UCL=0.005143
Sample Mean

0.0050 1
0.0050
Average

_ 2
X=0.004717 3
0.0045
0.0045
LCL=0.004290
0.0040
0.0040 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Partes

Figura 6.27 Resultados del estudio R&R por el mtodo de Xbarra-R

La grfica R se mantiene en control indicando que las mediciones se realizaron


en forma adecuada.

La grfica X barra slo presenta 5 de 30 puntos fuera de control, lo cual


debera ser al menos el 50%, indicando que el equipo no discrimina las
diferentes partes.

Ejemplo 3: por el Mtodo de ANOVA se tiene:

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Seleccione en el men de la barra de herramientas STAT>QUALITY


TOOLS>GAGE STUDY > Gage R&R (Crossed)
Seleccione C1 (parte), C2 (operador), C3 (Medicin)
Mtodo de Anlisis ANOVA
En Options Seleccionar: Staudy variation 5.15 Process tolerante 0.006
Alfa to remove interaction 0.25

Los resultados se muestran a continuacin:


Gage R&R Study - ANOVA Method

Two-Way ANOVA Table With Interaction

Source DF SS MS F P
Partes 9 0.0000086 0.0000010 12.2885 0.000
Operadores 2 0.0000002 0.0000001 0.9605 0.401
Partes * Operadores 18 0.0000014 0.0000001 0.7398 0.757
Repeatability 60 0.0000063 0.0000001
Total 89 0.0000165

Los operadores y la interaccin no fueron significativos, slo las


partes

Two-Way ANOVA Table Without Interaction

Source DF SS MS F P
Partes 9 0.0000086 0.0000010 9.67145 0.000
Operadores 2 0.0000002 0.0000001 0.75592 0.473
Repeatability 78 0.0000077 0.0000001
Total 89 0.0000165

Gage R&R

%Contribution
Source VarComp (of VarComp)
Total Gage R&R 0.0000001 50.93
Repeatability 0.0000001 50.93
Reproducibility 0.0000000 0.00
Operadores 0.0000000 0.00
Part-To-Part 0.0000001 49.07
Total Variation 0.0000002 100.00
Study Var %Study Var
%Tolerance
Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV)
(SV/Toler)
Total Gage R&R 0.0003150 0.0016222 71.36
27.04

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Repeatability 0.0003150 0.0016222 71.36
27.04
Reproducibility 0.0000000 0.0000000 0.00
0.00
Operadores 0.0000000 0.0000000 0.00
0.00
Part-To-Part 0.0003092 0.0015923 70.05
26.54
Total Variation 0.0004414 0.0022731 100.00
37.88

Number of Distinct Categories = 1

La interaccin no es significativa, y los errores de R&R indican que equipo de


medicin no es adecuado, ni el nmero de categoras.

Gage R&R (ANOVA) for Datos


Reported by:
Gage name: Tolerance:
Date of study: Misc:

Components of Variation Datos by Partes


80 0.006
% Contribution
%StudyVar
Percent

% Tolerance
40 0.005

0.004
0
Gage R&R Repeat Reprod Part-to-Part 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Partes
R Chart by Operadores
1 2 3 Datos by Operadores
UCL=0.001073 0.006
0.0010
Sample Range

_ 0.005
0.0005
R=0.000417

0.004
0.0000 LCL=0
1 2 3
Operadores
Xbar Chart by Operadores
1 2 3 Operadores * Partes I nteraction
Operadores
UCL=0.005143
Sample Mean

1
0.0050 0.0050
Average

_ 2
X=0.004717 3
0.0045
0.0045
LCL=0.004290
0.0040
0.0040 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Partes

Figura 6.28 Resultados del estudio R&R por el mtodo de ANOVA


Las conclusiones son similares que con el mtodo de X barra R.

Estudios de R&R por atributos


Ejemplo 4.
Se utiliza el anlisis de acuerdo por atributos para evaluar las calificaciones
nominales u ordinales proporcionadas por varios evaluadores. Las mediciones

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son calificaciones subjetivas de la gente en vez de mediciones fsicas. Algunos


ejemplos incluyen:
Calificaciones de desempeo de los automviles
Clasificacin de calidad de las fibras como buena o mala.
Calificaciones de color, aroma y gusto del vino en una escala de 1 a 10.
En estos casos la caracterstica de calidad es difcil de definir y evaluar. Para
obtener clasificaciones significativas, ms de un evaluador debe calificar la
medicin de respuesta. Si los evaluadores estn de acuerdo, existe la
posibilidad de que las apreciaciones sean exactas. Si hay discrepancias, la
utilidad de la evaluacin es limitada.
Los datos pueden ser texto o numricos. Las calificaciones asignadas pueden
ser Nominales u ordinales.
Los datos nominales son variables categricas que tienen dos o ms niveles sin
orden natural. Por ejemplo, los niveles en un estudio de gustacin de comida
que puede incluir dulce, salado o picoso.
Los datos ordinales son variables categricas que tienen tres o ms niveles con
ordenamiento natural, tales como: en desacuerdo total, en desacuerdo,
neutral, de acuerdo, y completamente de acuerdo.

Ejemplo 4. Comparacin pasa no pasa


Un sistema de medicin de atributos compara cada parte con un estndar y
acepta la parte si el estndar se cumple. La efectividad de la discriminacin es
la habilidad del sistema de medicin de atributos para discriminar a los buenos
de los malos.
1. Selecciona un mnimo de 20 unidades del proceso. Estas unidades deben
representar el espectro completo de la variacin del proceso (buenas, erroneas
y en lmites).
2. Un inspector experto realiza una evaluacin de cada parte, clasificndola
como Buena o No Buena.
3. Cada persona evaluar las unidades, independientemente y en orden
aleatorio, y las definir como Buenas o No Buenas.
4. Ingresa los datos en el archivo Attribute Gage R&R.xls para cuantificar la
efectividad del sistema de medicin.

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Sistema de Medicin de Atributos


Pasa no pasa Instrucciones en Minitab
1 Usar los datos anteriores.
2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Attribute Agreement Analysis.
3 En Multiple columns, con Persona 1A - Persona 2B.
4 En Number of appraisers, 2.
5 En Number of trials, 2.
6 En Known standard/attribute, poner Atributo
7 no Checar Categories of the attribute data are ordered y poner OK

Los resultados se muestran a continuacin:

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Figura 6.29 Resultados del estudio de R&R comparativo por atributos

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Figura 6.30 Resultados del estudio de R&R comparativo por atributos por
avaluador

Interpretacin de Resultados
% del Evaluador es la consistencia de una persona.
% Evaluador vs Atributo es la medida de el acuerdo que hay entre la
evaluacin del operador y la del experto.
% de Efectividad de Seleccin es la medida de el acuerdo que existe
entre los operadores.
% de Efectividad de Seleccin vs. el Atributo es una medida general de
la consistencia entre los operadores y el acuerdo con el experto.

Aunque el 100% es el resultado que deseamos obtener, en un estudio de


repetibilidad y reproducibilidad de atributos, la siguiente gua se usa
frecuentemente:

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Ejemplo 5.
Una empresa est entrenando a cinco evaluadores para la porcin escrita de
un examen estndar de doceavo grado. Se requiere determinar la habilidad de
los evaluadores para calificar el examen de forma que sea consistente con los
estndares. Cada uno de los evaluadores califica 15 exmenes en una escala
de cinco puntos (-2, -1, 0, 1, 2):
1 Abrir el archivo File > Openworksheet > ESSAY.MTW.
2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Attribute Agreement
Analysis.
3 En Attribute column, poner Rating.
4 En Samples, poner Sample.
5 En Appraisers, poner Appraiser.
6 En Known standard/attribute, poner Attribute.
7 Checar Categories of the attribute data are ordered y poner OK

El contenido del archivo es como sigue:


Sampl Attrib Sampl Attrib
Appraiser e Rating ute Appraiser e Rating ute
Simpson 1 2 2 Duncan 8 0 0
Montgomery 1 2 2 Hayes 8 0 0
Holmes 1 2 2 Simpson 9 -1 -1
Montgomer
Duncan 1 1 2 y 9 -1 -1
Hayes 1 2 2 Holmes 9 -1 -1
Simpson 2 -1 -1 Duncan 9 -2 -1
Montgomery 2 -1 -1 Hayes 9 -1 -1
Holmes 2 -1 -1 Simpson 10 1 1
Montgomer
Duncan 2 -2 -1 y 10 1 1
Hayes 2 -1 -1 Holmes 10 1 1
Simpson 3 1 0 Duncan 10 0 1
Montgomery 3 0 0 Hayes 10 2 1
Holmes 3 0 0 Simpson 11 -2 -2
Montgomer
Duncan 3 0 0 y 11 -2 -2
Hayes 3 0 0 Holmes 11 -2 -2

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Simpson 4 -2 -2 Duncan 11 -2 -2
Montgomery 4 -2 -2 Hayes 11 -1 -2
Holmes 4 -2 -2 Simpson 12 0 0
Montgomer
Duncan 4 -2 -2 y 12 0 0
Hayes 4 -2 -2 Holmes 12 0 0
Simpson 5 0 0 Duncan 12 -1 0
Montgomery 5 0 0 Hayes 12 0 0
Holmes 5 0 0 Simpson 13 2 2
Montgomer
Duncan 5 -1 0 y 13 2 2
Hayes 5 0 0 Holmes 13 2 2
Simpson 6 1 1 Duncan 13 2 2
Montgomery 6 1 1 Hayes 13 2 2
Holmes 6 1 1 Simpson 14 -1 -1
Montgomer
Duncan 6 1 1 y 14 -1 -1
Hayes 6 1 1 Holmes 14 -1 -1
Simpson 7 2 2 Duncan 14 -1 -1
Montgomery 7 2 2 Hayes 14 -1 -1
Holmes 7 2 2 Simpson 15 1 1
Montgomer
Duncan 7 1 2 y 15 1 1
Hayes 7 2 2 Holmes 15 1 1
Simpson 8 0 0 Duncan 15 1 1
Montgomery 8 0 0 Hayes 15 1 1
Holmes 8 0 0

Los resultados del anlisis se muestran a ontinuacin:

GageR&RforDatos
AssessmentAgreement

Appraiser#Inspected#MatchedPercent95%CI
Duncan15853.33(26.59,78.73)
Hayes151386.67(59.54,98.34)
Holmes1515100.00(81.90,100.00)
Montgomery1515100.00(81.90,100.00)
Simpson151493.33(68.05,99.83)

#Matched:Appraiser'sassessmentacrosstrialsagreeswiththe
knownstandard.

Kendall'sCorrelationCoefficient

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AppraiserCoefSECoefZP
Duncan0.897790.1924504.615540.0000
Hayes0.960140.1924504.939550.0000
Holmes1.000000.1924505.146670.0000
Montgomery1.000000.1924505.146670.0000
Simpson0.932580.1924504.796360.0000

BetweenAppraisers
AssessmentAgreement

#Inspected#MatchedPercent95%CI
15640.00(16.34,67.71)

#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewitheachother.
Fleiss'KappaStatistics
ResponseKappaSEKappaZ P(vs>0)
20.6803980.08164978.33310.0000
10.6027540.08164977.38220.0000
00.7076020.08164978.66630.0000
10.6424790.08164977.86870.0000
20.7365340.08164979.02070.0000
Overall0.6729650.041233116.32100.0000

Kendall'sCoefficientofConcordance

CoefChiSqDFP
0.96631767.6422140.0000

AllAppraisersvsStandard

AssessmentAgreement

#Inspected#MatchedPercent95%CI
15640.00(16.34,67.71)

#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewiththeknown
standard.

Fleiss'KappaStatistics

ResponseKappaSEKappaZP(vs>0)
20.8425930.1154707.29710.0000
10.7960660.1154706.89410.0000
00.8509320.1154707.36930.0000
10.8029320.1154706.95360.0000
20.8473480.1154707.33830.0000
Overall0.8314550.05891114.11360.0000

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Kendall'sCorrelationCoefficient
CoefSECoefZP
0.9581020.086066311.11000.0000

*NOTE*Singletrialwithineachappraiser.Nopercentageof
assessmentagreementwithinappraiserisplotted.
Date of study:
Assessment Agreement
Reported by:
Name of product:
Misc:

Appraiser vs Standard
100 95.0% CI
Percent

80

60
Percent

40

20

0
Duncan Hayes Holmes Montgomery Simpson
Appraiser

Figura 6.31 Resultados del estudio de R&R por atributos

Interpretacin de resultados

Minitab muestra tres tablas como sigue: Cada evaluador vs el estndar, Entre
evaluadores y Todos los evaluadores vs estndar. Los estadsticos de Kappa y
Kendall tambin se incluyen en cada una de las tablas. En general estos
estadsticos sugieren buen acuerdo.

El coeficiente de Kendall entre evaluadores es 0.966317 (p = 0.0); para todos


los evaluadores vs estndar es 0.958192 (p = 0.0). Sin embargo la
observacin del desempeo de Duncan y Haues indica que no se apegan al
estndar.

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La grfica de Evaluadores vs. Estndar proporciona una vista grfica de cada


uno de los evaluadores vs el estndar, pudiendo comparar fcilmente la
determinacin de acuerdos para los cinco evaluadores.

Se puede concluir que Duncan, Hayes y Simpson requieren entrenamiento


adicional.

Mtodo sencillo

Tomar 50 piezas, 40 de las cuales dentro de especificaciones y 10 fuera de


especificaciones

Probarlas con dispositivos pasa y no pasa por medio de 3 operadores

Si no coinciden todos los operadores en al menos el 90%, los dispositivos o


gages pasa, no pasa no son confiables

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7. MUESTREO DE ACEPTACIN POR


ATRIBUTOS

7.1 EL PROBLEMA DE LA ACEPTACIN POR MUESTREO

Se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin embargo ha


estado siendo desplazado por mtodos preventivos como el CEP y el diseo de
experimentos.

Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalan


algunas de las caractersticas del producto, en base a los resultados se toma
una decisin sobre la disposicin del lote, ya sea aceptados para su uso en
produccin, o rechazados para que el proveedor tome acciones.

Fig. 7.1 Proceso de inspeccin por muestreo

Hay 3 aspectos importantes del muestreo:


1. Su propsito es calificar los lotes, no estimar los parmetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan
o rechazan lotes.

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3. Sirven como herramienta de auditora para segurar que la calidad de un lote


est de acuerdo a especificaciones.

Existen 3 alternativas para calificar un lote:


1. Aceptar sin inspeccin. Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptacin.

La aceptacin por muestreo es ms util en las situaciones siguientes:


1. Cuando las pruebas son destructivas.
2. Cuando el costo de la inspeccin 100% es muy alto.
3. Cuando la inspeccin 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de
defectos baja, que haga que se causen errores al inspeccionar, dejando
pasar productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es
baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos crticos.

VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO

Cuando se utiliza inspeccin por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:


1. Es ms barato, requiriendo menos inspeccin.
2. Existe un menor manejo de producto o menor dao.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de slo las partes defectivas, motiva
al proveedor a mejorar su calidad.

El muestreo de aceptacin tambin presenta varias desventajas:


1. Existe el riesgo de aceptar lotes malos y de rechazar lotes buenos.
2. La informacin que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptacin requiere documentacin y planeacin, no as la
inspeccin 100%.

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TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables


y atributos. Una caracterstica se expresa en variables si se puede medir, o en
atributos si se califica como pasa no pasa.

Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes,


donde se toma una muestra aleatoria de n partes y la disposicin del lote es
determinada dependiendo de los resultados de la muestra, aceptndose si se
encuentran hasta c productos defectivos.

Un plan de muestreo doble implica que despus de tomar una muestra e


inspeccionar, se toma una decisin de (1) rechazar, (2) aceptar o (3) tomar una
segunda muestra, si esto sucede, se combina la informacin de la primera y de
la segunda para tomar una decisin.

Un plan de muestreo mltiple es una extensin del doble, en el cual ms de


dos muestras pueden ser necesarias antes de tomar una decisin. Los tamaos
de estas muestras son ms pequeos que en el muestreo doble.

El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una,
tomando decisiones de aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero
de unidades.

Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares


con cualquiera de las modalidades anteriores.

FORMACIN DE LOTES

Para inspeccin de lotes, estos deben cumplir las caractersticas siguientes:

1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas
corridas de produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones
correctivas para lotes mezclados.

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2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es


ms eficiente.
3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el
cliente, las partes deben estar empacadas adecuadamente para evitar
riesgos de dao y permitir la seleccin de muestra en forma sencilla.

MUESTREO ALEATORIO
Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes
de las capas superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero
y seleccionar con tablas de nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar
el lote.

GUA DE APLICACIN DE PLANES DE MUESTREO


Un plan de aceptacin es el establecimiento del tamao de muestra a ser
usado y el criterio de aceptacin o rechazo para calificar lotes individuales.

Un esquema de aceptacin es un conjunto de procedimientos de planes de


aceptacin en los cuales se relacionan los tamaos de lote, tamao de
muestra, criterio de aceptacin o rechazo, la cantidad de inspeccin 100% y de
muestreo.

Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los


procedimientos de muestreo de aceptacin son:

Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables

1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico Plan especfico


Para el consumidor y productor en base a curva OC en base a
curva OC

2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL


objetivo MIL-STD-105E MIL-STD-414

3. Asegurar el nivel de Sistema de AOQL Sistema de AOQL


calidad de salida de Dodge-Romig

6. Asegura la calidad no Planes LTPD de Planes LTPD


con

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menor que el objetivo de Dodge-Romig prueba de hiptesis.

Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores,


seleccionando a los mejores y trabajando en forma cercana para reducir su
variabilidad, con tcnicas de control estadstico del proceso. El muestreo de
aceptacin se utiliza mientras se mejora la calidad con el proveedor.

7.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS

Muestreo aleatorio simple


Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero
de aceptacin c. El tamao del lote se especifica como N.

Por ejemplo si se tiene el plan:


N=10,000
n=89
c=2
Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para
inspeccin, si el nmero de productos defectivos observados en la muestra d
es menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en caso contrario se rechaza.

La curva OC

La curva caracterstica de operacin (OC) muestra la probabilidad de aceptar el


lote (Pa o en el eje Y), versus la fraccin defectiva media en el lote (p en el
eje X), mostrando la potencia de discriminacin del plan de muestreo.

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Fig. 7.2 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo

La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la


probabilidad binomial de encontrar y aceptar a lo ms c defectivos o sea:

c
n! d nd
Pa P{d c) p (1 p) (7.1)

d 0 d!(n d )!
Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos
prcticos.

Se puede usar Excel para los clculos, un ejemplo utilizando la distribucin


binomial acumulada (opcin VERDADERA en Excel) se muestra a continuacin:

Binomial=distr.binom(c, n, p, 1) Poisson=Poisson(c, n*p, 1)

Fig. 7.3 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

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En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de


aceptacin es de 0.74. Significa que de cada 100 lotes recibidos, se aceptarn
74 y se rechazarn 26.

A continuacin se muestran algunas variaciones de la curva caracterstica de


operacin variando tanto como el criterio de aceptacin c manteniendo n
constante y despus manteniendo c como constante y variando n.

Manteniendo n constante y variando c se tiene:


n= n= n=
p 89, 89 89, c
c=0 c=1 =2
0.01 0.64 0.93 0.99
0.01 0.41 0.78 0.94
0.02 0.17 0.47 0.74
0.03 0.07 0.25 0.50
0.04 0.03 0.12 0.30
0.05 0.01 0.06 0.17
0.06 0.00 0.03 0.09
0.07 0.00 0.01 0.05
0.08 0.00 0.01 0.02
0.09 0.00 0.00 0.01

Pa

c=0, 1,
2

P (fraccin defectiva en el lote)

Figura 7.4 Curvas caractersticas de operacin diversas para n = 89 y c =


variable

Para el caso en que lo que se vare sea n se tiene:

n = n = n =
50, 100, 200, c
p c=2 c=2 =2
0.9979 0.985 0.9201
0.005 44 9 61

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0.9861 0.920 0.6766


0.01 83 6 79
0.9215 0.676 0.2351
0.02 72 7 48
0.8107 0.419 0.0592
0.03 98 8 91
0.6767 0.232 0.0124
0.04 14 1 89
0.5405 0.118 0.0023
0.05 33 3 36
0.4162 0.056
0.06 46 6 0.0004
0.3107 0.025 6.40E-
0.07 89 8 05
0.2259 0.011 9.66E-
0.08 74 3 06
0.1605 0.004 1.39E-
0.09 4 8 06

Pa
n=50, 100,
200 2

p (fraccin defectiva en el lote)

Figura 7.5 Curvas caractersticas de operacin diversas para n = variable y c


=2

Puntos especficos en la curva OC

Un consumidor frecuentemente fija de comn acuerdo con su proveedor, un


nivel de calidad aceptable (AQL), que representa el nivel ms pobre de calidad
que el consumidor considera aceptable como promedio, normalmente es la
fraccin defectiva que tiene un 95% de ser aceptada ( = 0.95).

Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los
casos cuando tengan una fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje
defectivo tolerable en el lote (LTPD), normalmente esta fraccin defectiva

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corresponde a una probabilidad de aceptacin del 10% o rechazo del 90% de


las veces. Tambin se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.

CURVAS OC TIPO A y B.

La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye


cuando se tiene un lote aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10.

La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N <


0.1, sin embargo en los niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy
parecidas.

DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO EN BASE A CURVA OC

En este mtodo se especifican 2 puntos por los que debe pasar la curva OC,
uno de ellos tiene coordenadas (p1, 1-) y el otro (p2 , ), con p1 > p2 . Se utiliza
el nomograma Binomial para encontrar los valores de n y c para el plan.

En el nomograma se hacen coincidir con una lnea recta el valor de p 1 en el eje


vertical izquierdo con 1- en el eje vertical derecho, y con otra lnea recta se
hace coincidir p2 en el eje vertical izquierdo con en el eje vertical derecho. En
el punto de cruce se encuentra el valor de n y de c del plan de muestreo
simple. Ver nomograma y ejemplo en la pgina siguiente.

Cuando p1 es igual al AQL y p2 es el LTPD, los puntos correspondientes en la


curva OC se denominan riesgo del productor (1-) y riego del consumidor .

Inspeccin rectificadora

Los programas de aceptacin por muestreo normalmente requieren accin


correctiva cuando los lotes son rechazados, de tal forma que el proveedor los
selecciona al 100% remplazando los artculos defectivos por buenos. Esta

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actividad se denomina inspeccin rectificadora por su impacto en la calidad de


salida final hacia la planta.

Fig. 7.6 Inspeccin rectificadora (las piezas malas son reemplazadas y


reintegradas al lote)
Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p 0 , despus
de la actividad de inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern
aceptados y otros sern rechazados. Los lotes rechazados sern seleccionados
al 100% por el proveedor remplazando los artculos defectuosos por buenos
despus se integran a los lotes que ingresan a la planta obtenindose una
fraccin defectiva p1 menor a la original, denominada calidad promedio de
salida AOQ, en lotes de tamao N se tiene:

1. n artculos de la muestra no contienen defectivos.


2. N-n artculos los cuales si el lote se rechaz no contenan defectivos.
3. N-n artculos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.

As los lotes despus del proceso rectificador, contienen un nemro esperado


de defectivos igual a Pap(N-n) con la cual se puede expresar una fraccin
defectiva media AOQ como sigue,

Pa p ( N n)
AOQ
N
(7.2)

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Ejemplo 7.1 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de entrada


p=0.01.
Como en la curva caracterstica de operacin (para n=89, c=2) cuando p=0.01,
Pa = 0.9397, entonces el AOQ es:

Pa p ( N n) (0.9397)(0.01)(10000 89)
AOQ 0.0093
N 10000
AOQ 0.93% en lugar del 1% entrante.

Cuando N es grande respecto al tamao de muestra n, se tiene,

AOQ Pa p (7.3)

La curva de AOQ versus p se muestra a continuacin:

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CURVA AOQ

n=89, c=2
Figura 7.7 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)

De la grfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor mximo o la


peor fraccin defectiva de salida hacia la planta o proceso, que se denomina
lmite de calidad de salida promedio AOQL el cual es aproximadamente 0.0155
o 1.55% defectivo.

El nmero promedio de inspeccin total por lote es ATI, igual a:

ATI n (1 Pa )( N n) (7.4)

Ejemplo 7.2 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa = 0.9397 se tiene:
ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 89) = 687

Siendo este el total de piezas que en promedio se inspeccionarn por lote,


algunas por el cliente (n) y otras por el proveedor (N-n) en base al plan de
muestreo.

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Las curvas ATI para diferentes tamaos de lote se muestra a continuacin, para
n = 89 y c = 2:

ATI- ATI- ATI-


p Pa N=1000 N=5000 N=10000
0 1 98 140 191
0 1 144 385 687
0 1 329 1383 2700
0 0 546 2552 5060
0 0 723 3506 6985
0 0 843 4155 8295
0 0 916 4549 9089
0 0 957 4770 9536
0 0 979 4887 9772
0 0 990 4947 9892

ATI

N=10000

N=5000

N=1000

Figura 7.8 Curvas de nmero de muestras inspeccionadas promedio por el


cliente y por el proveedor

Los planes de Dodge-Romig minimizan el ATI para un AOQL dado, haciendo


ms eficiente la inspeccin por muestreo.

Muestreo doble, mltiple y secuencial

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Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden


disear curvas CO equivalentes.

PLANES DE MUESTREO DOBLE

Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas


circunstancias, se requiere una segunda muestra para calificar el lote. El plan
se define por los parmetros siguientes:

n1 = tamao de muestra en la primera muestra.


c1 = criterio de aceptacin en la primera muestra.
n2 = tamao de muestra en la segunda muestra.
c2 = criterio de aceptacin en la segunda muestra.

Al aplicar el plan el nmero de defectivos observados en la primera muestra es


d1 y los defectivos observados en la segunda muestra es d 2.

Suponiendo que:
n1 = 50
c1 = 1
n2 = 100
c2 = 3

En la primera muestra de n=50 artculos, se acepta el lote si el total de


defectivos d1 <= c1=1, rechazndose si d1 >c2=3.

Si d1 es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artculos, se


inspecciona y se determina el nmero de defectivos d 2 .
Se acepta el lote si [d1+d2 <= c2=3] y se rechaza en caso contrario.

En ambas muestras la primera y segunda, la inspeccin se continua hasta


inspeccionar todos los artculos, por eso se denomina inspeccin completa, el
nmero promedio de artculos inspeccionados por muestra ASN es,

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ASN n1 n2 (1 P1 ) (7.5)

donde P1 es la probabilidad de tomar una decisin en la primera muestra o sea:


P1=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado
en la primera muestra}

Si por el contrario la inspeccin de los artculos se suspende cuando se


encuentra un nmero de defectivos mayor al criterio de aceptacin c 2 y no se
inspeccionan todos los artculos, el mtodo se denomina inspeccin recortada,
el comportamiento de ambos esquemas se muestra a continuacin,

ASN
Insp. completa

n = cte.
Insp. recortada

Figura 7.9 Diferencias en muestras inspeccionadas por el cliente promedio con


inspeccin completa y recortada

Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos
valores de p, ya que si p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando
mayores costos de inspeccin.

La inspeccin recortada si es ms econmica sin embargo proporciona menos


informacin acerca del lote.

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN


Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptacin, esta se forma con
la probabilidad de aceptacin en la primera muestra ms la probabilidad de

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aceptacin en la segunda muestra ya sea usando la distribucin binomial o la


de Poisson. O sea:

Pa PaI PaII (7.6)

PaI P ( d 1 1 n1 ) (7.7)

PaII P (d1 2 n1 ) xP (d 2 1 n2 ) P ( d1 3 n1 ) xP (d 2 0 n 2 ) (7.8)

Fig. 7.7 Curva caracterstica de operacin bajo muestreo doble


Pa (1 Pa(2a.mue En 1a.
p muestra) stra) Pa Total Muestra
0.005 0.974 0.023 0.997 0.976
0.01 0.911 0.060 0.971 0.929
0.02 0.736 0.083 0.819 0.877
0.03 0.555 0.056 0.611 0.908
0.04 0.400 0.027 0.428 0.971
0.05 0.279 0.011 0.290 1.022
0.06 0.190 0.004 0.194 1.047
0.07 0.126 0.001 0.128 1.052
0.08 0.083 0.000 0.083 1.046
0.09 0.053 0.000 0.053 1.036

Pa

Pa total
Pa
1 muestra
Pa 2 muestra
p
Figura 7.10 Probabilidad de aceptar en la primera o en la segunda muestra en
muestreo doble

DISEO DE PLANES DE MUESTREO DOBLE


Como en el caso del muestreo simple, es frecuentemente necesario disear un
plan de muestreo doble tomando como referencia las coordenadas de la curva

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OC (p1, 1-) y (p2, ) ya sea con n1=n2 o con n2 = 2n1. Para lo que se emplean
las tablas de Grubbs (ver pginas siguientes).

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INSPECCIN RECTIFICADORA

Cuando se usa el esquema de inspeccin rectificadora, la curva AOQ est dada


por,

{PaI ( N n1 ) PaII ( N n1 n2 )} p
AOQ (7.9)
N

Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en
los lotes rechazados, la curva de inspeccin total promedio es,

ATI nPaI (n1 n2 ) PaII N (1 Pa ) (7.10)

donde Pa Pa Pa
I II

PLANES DE MUESTREO MLTIPLE

Un muestreo mltiple es una extensin del doble, donde pueden requerirse


ms de dos muestras para calificar el lote, por ejemplo un plan de 5 etapas es
el siguiente:

Muestr
a
acumul
ada Aceptar Rechazar
20 0 3
40 1 4
60 3 5
80 5 7
100 8 9

Al terminar cada etapa de muestreo, si el nmero de defectivos es menor o


igual al nmero de aceptacin, se acepta el lote. Si en cualquier etapa el
nmero de defectivos acumulado excede el nmero de rechazo, se rechaza el
lote, de otra forma se sigue tomando una siguiente muestra.

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Una ventaja que tiene es que el tamao de muestra es ms pequeo que en el


caso del simple o del doble, con una mejor eficiencia de inspeccin. Sin
embargo es ms complejo de administrar.

MUESTREO SECUENCIAL

Es una extensin de los planes anteriores, aqu se toma una secuencia de


muestras del lote, cuya magnitud ser determinada por los resultados del
proceso de muestreo. Si el tamao del subgrupo inspeccionado en cada etapa
es mayor que uno, se denomina muetreo secuencial de grupo, si es uno, como
es nuestro caso, se denomina muestreo secuencial artculo por artculo, basado
en Wald (1947).

En este caso se tienen 2 lneas, una de aceptacin y otra de rechazo, teniendo


como dato las coordenadas de la curva OC (p 1, 1-) y (p2, ), las ecuaciones de
las lneas son:

X ACEPTACION h1 sn (7.11)
X RECHAZO h2 sn

1
h1 log k

1
h2 log k (7.12)

p 2 (1 p1 )
k log
p1 (1 p 2 )

1 p1
s log k
1 p2

Ejemplo 7.3 Si p1=0.01, p2=0.06, =0.05, =0.10, se tiene al substituir valores


en las ecuaciones anteriores:

k = 0.80066

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h1=1.22
h2=1.57
s=0.028

Por tanto las ecuaciones de las lneas de aceptacin y rechazo son:

XA= -1.22 + 0.028n Lnea de aceptacin


XB= 1.57 + 0.028n Lnea de rechazo

Haciendo una tabla de valores donde el nmero de aceptacin es el entero ms


prximo menor que o igual a X A y el nmero de rechazo es el entero ms
prximo superior que o igual a XR.

MUESTREO SECUENCIAL
n Xa Xr Xa Xr n Xa Xr Xa Xr
1 -1.192 1.598 -1 2 24 -0.548 2.242 -1 3
2 -1.164 1.626 -1 2 25 -0.52 2.27 -1 3
3 -1.136 1.654 -1 2 26 -0.492 2.298 -1 3
4 -1.108 1.682 -1 2 27 -0.464 2.326 -1 3
5 -1.08 1.71 -1 2 28 -0.436 2.354 -1 3
6 -1.052 1.738 -1 2 29 -0.408 2.382 -1 3
7 -1.024 1.766 -1 2 30 -0.38 2.41 -1 3
8 -0.996 1.794 -1 2 31 -0.352 2.438 -1 3
9 -0.968 1.822 -1 2 32 -0.324 2.466 -1 3
10 -0.94 1.85 -1 2 33 -0.296 2.494 -1 3
11 -0.912 1.878 -1 2 34 -0.268 2.522 -1 3
12 -0.884 1.906 -1 2 35 -0.24 2.55 -1 3
13 -0.856 1.934 -1 2 36 -0.212 2.578 -1 3
14 -0.828 1.962 -1 2 37 -0.184 2.606 -1 3
15 -0.8 1.99 -1 2 38 -0.156 2.634 -1 3
16 -0.772 2.018 -1 3 39 -0.128 2.662 -1 3
17 -0.744 2.046 -1 3 40 -0.1 2.69 -1 3
18 -0.716 2.074 -1 3 41 -0.072 2.718 -1 3
19 -0.688 2.102 -1 3 42 -0.044 2.746 -1 3
20 -0.66 2.13 -1 3 43 -0.016 2.774 -1 3
21 -0.632 2.158 -1 3 44 0.012 2.802 0 3
22 -0.604 2.186 -1 3 45 0.04 2.83 0 3
23 -0.576 2.214 -1 3 46 0.068 2.858 0 3

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En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan
transcurrido las suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin
tenga valores positivos en Xa, 44 en este caso, y no se puede rechazar hasta
en la 2. Muestra.

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No. de
defectos Lnea de
acumula aceptaci
3
2 Lnea de
Rechazo
1
Nmero
0 20 40 60 de
-1

Fig. 7.11 Comportamiento del muestreo secuencial

CURVA OC y ASN
Para esta curva se incluyen 3 puntos, (p 1, 1-), (p2, ) y el punto medio de la
curva en p=s y Pa = h2 /(h1+h2). Las muestras inspeccionadas promedio son:

A B
ASN Pa (1 Pa ) (7.13)
C C

Donde,

A log
1

1
B log

p 1 p2
C p log 2 (1 p ) log
p1 1 p1

INSPECCIN RECTIFICADORA

La calidad media de salida AOQ Pap y el nmero promedio de muestras


inspeccionadas total es:

A
ATI Pa (1 Pa ) N (7.14)
C

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7.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4,


ISO 2859)

Descripcin de la norma

Esta norma se desarroll durante la segunda guerra mundial emitindose en


1950 con la versin A. La versin D se public en 1963 y en 1971 fue adoptada
por la ANSI con pequeos cambios como la Z1.4 y en 1973 fue adoptada por la
ISO como la norma ISO 2859. En 1989 se liber la versin E.

La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):


- Muestreo simple.
- Muestreo doble.
- Muestreo mltiple

En cada uno de los casos se prevn los siguientes tipos de inspecciones:

- Inspeccin normal.
- Inspeccin estricta.
- Inspeccin reducida.

Se inicia con la inspeccin normal, se pasa a estricta cuando se observa


mala calidad del proveedor y se usa la reducida cuando la calidad del
proveedor es buena, reduciendo los tamaos de muestra.

El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre


0.1% y 10%), negociado entre cliente y proveedor. Los valores tpicos de
AQL para defectos mayores es de 1%, 2.5% para defectos menores y 0%
para defectos crticos. Cuando se utiliza para planes de defectos por
unidad se tienen 10 rangos adicionales de AQLs hasta llegar a 1000
defectos por cada 100 unidades, los noveles pequeos de AQL se
pueden utilizar tanto para controlar fraccin defectiva como defectos por
unidad.

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El tamao de muestra en el estndar est determinado por el tamao


del lote y por la seleccin del nivel de inspeccin. Se proporcionan tres
niveles de inspeccin, donde el nivel II se considera normal; el nivel I
requiere alrededor de la mitad de la inspeccin del nivel II y se usa
cuando se requiere menos discriminacin; el nivel III requiere alrededor
del doble de inspeccin del nivel II, y se usa cuando se requiere ms
discriminacin. Hay tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-
1, S-2, S-3 y S-4, estos usan tamaos de muestra muy pequeos y slo
deben usarse cuando los riesgos grandes del muestreo sean aceptables.

Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dado,


el estndar MIL-STD-105E proporciona un plan de muestreo normal que
se utilizar conforme el proveedor produzca productos con calidad AQL o
mejor. Tambin proporciona un mecanismo de cambio de cambio a
inspeccin estricta o reducida como se ilustra en la figura y se describe a
continuacin.

1. Normal a estricta. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin


estricta se instituye cuando cundo dos de cinco lotes consecutivos han
sido rechazados.

2. Estricta a normal. Cuando se tiene inspeccin estricta, la inspeccin


normal se instituye cuando cinco lotes consecutivos son aceptados.

3. Normal a reducida. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin


reducida se instituye cuando se cumple con todas las condiciones
siguientes:

a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspeccin normal.


b. El nmero total de defectivos en las muestras de los diez lotes
precedentes es menor o igual a el nmero lmite aplicable del estndar.
c. La produccin de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d. La inspeccin reducida se considera adecuada por la funcin
responsable de la inspeccin por muestreo.

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4. Reducida a normal. Cuando se tiene inspeccin reducida, la inspeccin


normal se instituye cuando se cumple cualquiera de las condiciones
siguientes:

a. Un lote es rechazado.
b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisin de
aceptacin o rechazo, el lote se acepta pero se cambia a inspeccin
normal en el prximo lote.
c. La produccin es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspeccin normal.

5. La Inspeccin se descontina. Cuando diez lotes se acepten con


inspeccin estricta y el proveedor tome acciones para mejorar su calidad.

Fig. 7.12 Reglas de cambio de planes de inspeccin

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Fig. 7.13 Comparacin entre los planes normal, reducido y estricto

PROCEDIMIENTO
Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:

1. Negociacin del AQL (cliente proveedor).


2. Decisin del nivel de inspeccin.
3. Determinacin del tamao del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apndice) y localizar la letra cdigo
correspondiente al tamao del lote y el nivel de inspeccin.
5. Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble,
mltiple).
6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas
se encuentran en el apndice).
7. Uso de la tablas para inspeccin reducida y estricta, cuando se requieran
hacer cambios.

Ejemplo 7.4 Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de inspeccin:

1. La tabla I indica la letra cdigo K.

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2. La tabla II-A para inspeccin normal indica el plan de muestreo n=125 y


c=2.
3. La tabla II-B para inspeccin estricta indica el plan de muestreo n= 125,
c=1.

La flecha descendente cambia la c, la letra de cdigo y el tamao de muestra,


lo mismo para la ascendente. Por ejemplo, un AQL de 1.5% y letra F ser
cambiado a letra G con tamao de muestra 32 en lugar de 20.

Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la letra cdigo es K y
de las III-A, III-B y III-C se obtienen los planes de inspeccin normal (n 1= n2=80,
c1a=0, cir=3, c2a=3), estricta (mismas que n 1 y n2, c1a=0, cir=2, , c2a=1, c2r=2) y
reducida (n1= n2=32, c1a= c2a=0, c2r=3, c2r=4).

DISCUSIN

Todas las curvas OC son tipo B, tambin se proporcionan curvas para el ASN y
datos del AOQL.

El estndar MIL-STD-105E est orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo


del productor de la curva OC, la parte restante de la curva depende de la
seleccin del nivel de inspeccin. Los tamaos de muestra seleccionados son
2, 3, 5, 8, 13, 20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 800, 1250 y 2000.

Si se grafica el tamao medio del rango de lotes contra el logaritmo del


tamao de muestra se obtiene una recta hasta n=80 y despus una recta con
una pequea pendiente. Como la razn de N a n es decreciente conforme
aumenta N se economiza en la inspeccin.

El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar


MIL-STD-105E, difiriendo en que:

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1. Se usa el trmino No conforme o no conformancia o porcentaje no


conforme.
2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregndose una opcin para
inspeccin reducida sin el uso de nmeros lmite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeo de los planes, como
el AOQL, fracciones defectivas para Pa = 0.1 y Pa = 0.95, curvas de ASN y
OC.
4. Hay una descripcin detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspeccin.

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.
Figura 7.14 Tablas de muestreo simple por atributos

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7. 5 PLANES DE MUESTREO DE DODGE- ROMIG (1920)

Desarrollaron dos tipos de planes usando inspeccin rectificadora:


1. Planes para el porcentaje defectuoso tolerable en el lote LTPD y
2. Los que proporcionan un lmite de la calidad mxima promedio de salida
AOQL especificado.

Los planes anteriores basados en AQL no son adecuados para el caso del
ensamble de productos complejos. La tabla siguiente muestra la fraccin
defectiva en ppm dependiendo del AQL aceptable.

AQL ppm
10% 100,000
1% 10,000
0.10% 1,000
0.01% 100
0.00% 10
0.00% 1

Ejemplo 7.5 Un equipo que tiene 100 componentes y que sus componentes
tienen en promedio un AQL = 0.5% , por tanto la probabilidad de que el equipo
trabaje es de:

P( funcin _ adecuada ) (0.995)100 0.6058

Por tanto es obvio que se requieran planes de proteccin del LTPD, aun cuando
el AQL sea muy bajo. Para esto se utilizan los planes de Dodge-Romig
principalmente para inspeccin de sub-ensambles.

Los planes de Dodge-Romig de AOQL y LTPD estn diseados para minimizar la


inspeccin total promedio (ATI).

Para ambos se tiene una tabla de muestreo doble y simple. Son tiles cuando
el rechazo medio del proceso es bajo (alrededor de 100 ppm).

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Planes de AOQL

Las tablas de Dodge-Romig (1959) tienen planes para valores de AOQL de


0.1%, 0.25%, 0.75%, 1%, 1.5%, 2.5%, 3%, 4%, 5%, 7% y 10% en cada una se
especifican seis valores para medias de proceso. Se tienen planes para
muestreo simple y doble.

Ejemplo 7.5 De la tabla para AQOL=3%; para N= 5,000, AOQL= 3% y la


fraccin disconforme del proveedor del 1%.

De la tabla 13.21 se obtiene n=65, c=3, LTPD=10.3%. Da una seguridad del


90% de que sern rechazados los lotes que tengan desde un 10.3%
defectuoso.

Suponiendo que los lotes recibidos tengan un promedio de 1% de defectivo y


la probabilidad de aceptacin sea Pa=0.9957, se tiene:

ASN= n + (1-Pa)(N-n)= 65 +(1-0.9957)(5000-65)=86.22.

De esta forma se inspeccionarn 86 partes del lote en promedio.

Planes de LTPD

Se disearon de tal forma que la probabilidad de aceptacin del LTPD sea 0.1.
Se proporcionan tablas para valores de LTPD de 0.5%, 1%, 2%, 3%, 4%, 5% 7%
y 10%.

Ejemplo 7.6 Suponiendo N=5,000 con fraccin promedio de defectivos del


proveedor de 0.25% de productos no conformes y el LTPD=1%.

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De la tabla 13.23, el plan obtenido es n=770 y c=4, si los lotes rechazados son
seleccionados al 100% y los artculos defectuosos se reemplazan por artculos
buenos, el AOQL=0.28%.

Cuando el promedio del proceso es mayor que la mitad del LTPD, la inspeccin
100% es mejor econmicamente.

ESTIMACIN DEL PROMEDIO DEL PROCESO

La utilizacin de los planes de Dodge-Romig depende del conocimiento de la


fraccin promedio no conforme del proveedor. Se puede estimar la fraccin
defectiva promedio del proceso por medio de carta de control p para los
primeros 25 lotes del proveedor, con las causas especiales eliminadas y el
proveedor haya tomado acciones para prevenir su reincidencia.

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8. MUESTREO DE ACEPTACIN POR


VARIABLES

Ventajas y desventajas

La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la


misma curva caracterstica de operacin con tamao de muestra menor que el
que requerira un plan por atributos. Otra ventaja es que los datos por variables
proporcionan ms informacin del proceso que los atributos. Cuando los AQLs
son muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra requerido en el
caso de muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo.
Cuando la inspeccin es del tipo destructivo, los planes por variables si se
aplican son ms econmicos.

Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus


juzgar por atributos, a pesar de que el tamao de muestra sea menor y que es
necesario un plan de muestreo para cada caracterstica importante del
producto.

Se debe conocer la distribucin de la caracterstica de calidad, la cual debe ser


normal ya que de otra forma se pueden cometer errores en la aplicacin del
plan de muestreo por variables. Esto es ms crtico cuando las fracciones
defectivas son muy pequeas.

En la figura de la pgina siguiente se muestran las diferencias para varias


distribuciones. Si la distribucin no es normal se puede disear un plan si se
puede determinar la fraccin defectiva a partir de la media y la desviacin
estndar de esa distribucin.

Los planes especifican el nmero de artculos a muestrear en los cuales se


hacen mediciones en la caracterstica de calidad seleccionada, y el criterio de
aceptacin de esos lotes.

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Una comparacin entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuacin,


considerando una p1 = 0.01, p2 = 0.08, = 0.05 y = 0.10:

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Tipo de muestreo n ASN


1. Muestreo simple por atributos n = 67.
2. Muestreo doble por atributos ASN en p1 = 45
3. Muestreo mltiple por atributos ASN en p1 = 41
6. Muestreo simple por variables, n=27
sigma desconocida, mtodo de s
7. Muestreo simple por variables n=10
Sigma conocida

Como se observa, si la distribucin es normal y la desviacin estndar es


conocida, el costo de muestreo por variables es menor.

TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la
fraccin defectuosa del lote y los que controlan un parmetro del proceso tal
como la media.

8.1 CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA

Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un


lmite de especificacin inferior LIE, lmite de especificacin superior o ambos,
que definan los valores aceptables de esa caracterstica.

Considerando una caracterstica de calidad x normalmente distribuida y un


lmite inferior de especificaciones LIE, la fraccin defectiva p es funcin de la
media del lote y su desviacin estndar .

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Asumiendo que la desviacin estndar del proceso es conocida, se desea


tomar una muestra del lote para determinar si o no el valor de la media es tal
que la fraccin defectiva p es aceptable. Para esto se tienen dos mtodos.

__
LIE X x

Figura 8.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.

Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el


estadstico

X LIE
Z LIE (8.1)

ZLIE expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite


inferior de especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la
muestra estar ms alejada del LIE y en consecuencia menor ser la fraccin
defectiva p.

Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad
establecida, se puede traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k
para ZLIE. De esta forma si ZLIE <= k, se aceptar el lote ya que
automticamente la fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario la
fraccin defectiva p es mayor que la aceptable y se rechazar el lote.

Ejemplo 8.1 Si =100, =10 y LIE= 82:

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X LIE 82 100
Z LIE 1.8
10

Donde (-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de


especificacin unilateral LSE.

LSE X
Z LSE (8.2)

Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la


fraccin defectiva (p) es:

p Zs Zi
0.25 0.6745
0.20 0.8416
0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.5 1.6449
0.2 2.0537
0.1 2.3263

Procedimiento 2.

A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula Z LIE o

QLIE Z LIE n /(n 1) (ms exacto) y se estima la fraccin defectiva p

como el rea bajo la curva normal debajo de Z LIE, si esta fraccin


estimada p, excede un valor mximo M, se rechaza el lote, de otra
forma se acepta.

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Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos Q LIE y QLSE.

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X LIE
Q LIE n /( n 1)

(8.3)
LSE X
Q LSE n /( n 1)

Se estiman las fracciones defectivas P(Q LIE) y P(QLSE) de la tabla mostrada


en el apndice para estimar las fracciones defectivas p I y pS, si la suma
de ambas fracciones defectivas no excede al valor mximo permitido M
se acepta el lote, en caso contrario se rechaza el lote.

Cuando la desviacin estndar es desconocida, se puede estimar de la


desviacin estndar de la muestra s, remplazando en las frmulas
anteriores a por s.

8.2 DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO POR VARIABLES


CON UNA CURVA CO ESPECFICA

Para disear un plan de muestreo por variables usando el procedimiento 1, el


mtodo de k, que tiene una curva OC especificada por dos puntos (p 1, 1-), (p2,
) donde p1 y p2 son las fracciones defectivas que corresponden a niveles de
calidad aceptables y rechazables respectivamente se utiliza un nomograma.

L. J. Jacobson propuso un nomograma mostrando dos escalas diferentes (ver


pgina siguiente), para estimar n y k con sigma conocida y sigma desconocida.

Utilizando este nomograma podemos obtener la curva caracterstica de


operacin CO, cambiando los valores de las fracciones defectivas p y hallando
sus probabilidades de aceptacin si se mantiene fijo n y k.

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Ejemplo 8.2 Un embotellador ha establecido que la resistencia mnima para


una botella de plstico sea de LIE= 225 psi, si a lo ms el 1% no pasa el lmite,
se aceptar el lote con una probabilidad del 95% (p 1=0.10 y 1-= 0.95),
mientras que si el 6% o ms estn abajo del lmite, el embotellador rechazar
el lote con una probabilidad de 90% (p 2=0.06, = 0.10).

Para hallar el plan de muestreo por variables n, k, se traza una lnea que une a
el punto 0.01 en la escala de fraccin defectivas con el punto 0.95 en la escala
de probabilidad de aceptacin. Despus se traza una lnea similar que conecta
los puntos p2 = 0.06 y Pa=0.10, en la interseccin de esas lneas se lee, k=1.9
y n=40 para desconocida (siguiendo la lnea curveada) o n=15 (bajando una
lnea perpendicular) para conocida.

a) Procedimiento 1
Si se desconoce la desviacin estndar, se toma una muestra aleatoria de n =
40 piezas calculando la media y la desviacin estndar s, se calcula ahora:

X LIE
Z LIE

Si ZI k = 1.9 se acepta el lote, de otra forma se rechaza.

Si se conoce la desviacin estndar, la n pasa de 40 a 15 con menos costos, al


bajar en forma perpendicular en el punto de interseccin hacia la escala de n.

b) Procedimiento 2.

Una vez obtenidas n 40 y k = 1.9, se obtiene el valor de M del nomograma de


la fig. 14.3,

La abscisa se calcula como sigue (con n = 40 y k = 1.9):

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1 k n 1 1.9 40
0.35
2 2( n 1) 2 2(39)

Esto indica que M = 0.30.

Por ejemplo si se toma una muestra de n=40 partes y se observa que la media
de la muestra X 255 y s = 15, el valor de ZLIE es:

X LIE 225 225


Z LIE 2
s 15

de las tablas para fraccin defectiva al final de este captulo se obtiene una p =
0.020, y siendo que es menor que M = 0.030, se acepta el lote.

Para lmites bilaterales se obtienen ambas p i y ps en base a Zi y Zs, si pi + ps M


se acepta el lote, si no se cumple lo anterior, el lote se rechaza.

8.3 TABLAS ASQC Z1.9 1993

Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente


fueron homologadas con las tablas MIL-STD-105E (incluyendo inspeccin
normal, reducida y estricta y concordancia en las letras cdigo de los planes
para cada AQL) para su uso en la industria dando lugar a las tablas Z1.9 de la
ASQC.

Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin
(el normal es el II), el nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se
pueden usar niveles ms bajos (S3 S4) para reducir costos muestrales si se
toleran riesgos mayores.

Tiene la siguiente organizacin:

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Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Mtodo de S

Especificacin Especificaciones
Unilateral Bilaterales

Procedimiento 1 Procedimiento 2 Procedimiento 2


(Mtodo de k) (Mtodo de M) (Mtodo de M)

Fig. 8.2 Organizacin del muestreo por variables

Tienen 4 secciones:

A. Descripcin general, con definicin de trminos, cdigo de letras de tamao


de muestra, y curvas OC de los planes.
B. Planes basados en la desviacin estndar de la muestra con sigma del
proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya
descontinuado).
D. Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del
proceso.

USO DE LAS TABLAS

Las tablas se encuentran en el apndice y su uso se ilustra con un ejemplo:

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Ejemplo 8.4 Para el caso del embotellador: Si el lmite inferior LIE = 225 psi,
suponiendo que el nivel de calidad aceptable en este lmite es AQL = 1% y que
las botellas se embarcan en lotes de
N = 100,000, con sigma desconocida se tiene:

Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la letra N y AQL=
1.00 negociado entre proveedor y cliente, se obtiene k = 2.03. Para el caso
de inspeccin severa (escala inferior) k = 2.18. Para el caso de inspeccin
reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y columna de AQL= 1%
obtenindose M= 2.05%. Para inspeccin severa M = 1.42%. Para
inspeccin reducida, de la tabla B-4 se obtiene k = 3.44%.
4. La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han sido rechazados
5. La inspeccin reducida se usa cuando los 10 lotes anteriores se han
aceptado y su fraccin defectiva estimada es menor que un lmite inferior
especificado y la produccin es estable.
6.La tabla B-6 se usa para obtener la desviacin estndar mxima que se debe
obtener en la muestra con base a la tolerancia. Si el valor de s excede este
valor, se rechaza el lote.

Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con
sigma conocida con menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s
para los lotes (al menos para 30). Los planes especficos para este tipo de
planes se deben consultar en el estndar.

EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993

VARIABILIDAD DESCONOCIDA MTODO DE LA DESVIACIN ESTNDAR

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B1. Plan de muestreo para lmite especificacin unilateral. Forma 1


a) De la tabla A2 seleccionar la letra cdigo de funcin del tamao del lote y el
nivel de inspeccin.
b) Usar tablas B1 (normal y estricta) y B2 (reducida) para obtener el plan.
n - tamao de muestra.
K - constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcular X y s.
d) Criterio de aceptacin.
LSE - Lmite superior de especificacin.
LIE - Lmite inferior de especificacin.

Comparar (LSE X) / s ( X LIE) / s con k.

Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Ejemplo 8.5 La mxima temperatura de operacin es de 209F. Un lote de 40


artculos se inspecciona, tomando AQL = 1%, nivel II.

Solucin.
a) De tabla A2, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B1, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 8.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 8.8 = 1.59
e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.

B5- Usando la forma 2


a) Usar tablas B3 ( normal y estricta) y B4 (reducida) y obtener el plan de
inspeccin, n y M Porcentaje mximo de no conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculando X y s.
c) Criterio de aceptacin.
Calcular el ndice de calidad QS= (LSE - X ) / s
QI= ( X LIE ) / s

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En tabla B5 entrar con QU o QL para encontrar porcentaje estimado no


conforme PS o PI.

Comparar PS o PI con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en


caso contrario.

Ejemplo 8.6 De lo anterior; X = 195 ; s = 8.8


a) De la tabla B3 se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y AQL = 1%.
b) De la taba B5 con QS= 1.59 se obtiene PS = 2.19%
c) Como PS M se acepta el lote.

B8. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin.


a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQLs
para cada lmite de especificacin, obtener el porcentaje mximo no
conforme para cada lmite MI y MS. Si se asigna el mismo AQL a ambos
lmites, designar el nivel mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
d) Calcular los Indices de Calidad QS = (LSE - X ) / s y QL =( X LIE ) /s
e) De tabla B5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS
f) Comparar Pest. Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso
contrario se rechaza.

Nota: Cuando hay diferente AQL para cada lmite:


Aceptar si PI MI y PS MS y P = PI + PS mayor (MS, MI)

Ejemplo 8.7 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel de inspeccin II,


inspeccin normal y en base a temperaturas de los ejemplos anteriores, n = 5,
_
X = 195; s= 8.8; considerando LIE= 180F; LSE= 209F; AQL= 1% donde de
tabla
B-3 M = 3.32%

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209 180
QS= 1.59 ; PS = 2.19% (de tabla B-5)
8.8
195 180
QI= 1.704; PI = 0.66% (de tabla B-5) por tanto la fraccin
8.8
defectiva total es de
p = 2.85%

Como P < M se acepta el lote.

Ejemplo 8.8 Si el AQLS= 1% y AQLI= 2.55% de tabla B3, MS= 3.32% ,


MI=9.8%
a) PS= 2.19% ; PI= 0.66% P = 2.85%
b) Comparando PS MS ; PI MI y P MI
Se acepta el lote.

VARIABILIDAD CONOCIDA

D.1 Slo un lmite de especificacin. Forma 1.


Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k

Ejemplo 8.9 Se toma un lote de 500 artculos para inspeccin. LIE=


58,000 psi. N= 500, nivel II, inspeccin Normal. AQL= 1.5%. La
variabilidad es conocida con valor 3,000 psi

a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1 obtenemos n = 10


Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Clculo de X= 63,000 ; ( X LIE) / = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando ( X LIE)/ < k y el lote se rechaza.

D.5 Usando la forma 2.


a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V

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b) Calcular QS= (LSE - X) V / y QL=( X LIE) V /


c) Usando tabla D5 estimar PS y PI
d) Comparar D= PS + PI M para aceptabilidad

Ejemplo 8.10 Sea LIE= 58,000 psi; tamao del lote 500 artculos; AQL =
_
1.5%; Inspeccin nivel II, normal. De los datos anteriores se obtuvo X =
63,000; n = 10 ; = 3,000. De tabla A-2 se obtiene la letra I.
a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054
respectivamente.
b) Clculo de QL =(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756
c) Determinar PL de tabla D5 con QL= 1.756 es 3.92%
Como PL > M se rechaza el lote.

D9. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin


a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje mximo aceptable M de tabla
D3 y D4. Si se especifican diferentes AQLs para cada lmite de
especificacin, obtener el porcentaje mximo no conforme para cada lmite
MI y MS. Si se asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel
mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad QS = (LSE - X ) v / y QL =( X LIE ) v /
f) De tabla D-5 encontrar PI y PS en base a QU y QL y el tamao de muestra n.
Pestimada= PI + PS

Ejemplo 8.11 La especificacin para una colada de acero es de 67,000 y


58,000 psi respectivamente. Un lote de 500 artculos se somete a inspeccin.
El nivel de inspeccin es II, inspeccin normal con AQL = 1.5%. La variabilidad
conocida con valor 3,000 psi.

a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%


_
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo X 63,000

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c) Los ndices QS con QL son respectivamente 2.459 y 3.162 con fracciones


estimadas defectuosas 0.697% y 0.078% de la tabla D-5.
d) Como la fraccin defectiva total no excede el valor de M = 3.63%, se acepta
el lote.

NOTA: Comparar Pestimada con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso


contrario se rechaza.

DISCUSIN DE LA NORMA ASQC Z1.9 e ISO 3951 (1981)

Una consideracin muy importante en el uso de las normas es que la


poblacin de donde se obtienen las muestras debe ser normal. Es ms
crtico para pequeos valores de AQL.

Es muy importante realizar pruebas de normalidad en los extremos de la


distribucin para asegurar que la norma Z1.9 es aplicable sin modificaciones.

Los ajustes que se hicieron en la norma ASQC Z1.9 (1980) e ISO 3951 (1981)
son:
1. Los rangos de tamao de lotes se ajustaron para corresponder con la MIL-
STD-105E por atributos.
2. Se ordenaron las letras cdigo para tener la misma proteccin que con la
MIL-STD-105E.
3. Los niveles de inspeccin originales I, II, III, IV y V se denominaron S 3, S4, I,
II y III.
4. En la ISO 3951 se eliminaron los planes que consideran a los rangos en vez
de las desviaciones estndar.
5. En la ISO 3951 y en la Z1.9 se eliminaron los AQLS de 0.04, 0.065 y 15%.
6. Cambios en las reglas de transferencia.
Se adoptan las mismas reglas que en la 105E para el paso de inspeccin
normal a severa y viceversa con ligeras modificaciones.
La norma Z1.9 permite el paso de inspeccin normal a reducida si:
10 lotes en inspeccin normal fueron aceptados.
La produccin es continua.

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La inspeccin reducida es aprobada.


La ISO 3951 permite el paso a inspeccin reducida si 10 lotes sucesivos han
sido aceptados y:
El AQL es un paso menor.
El proceso est bajo control estadstico.
La inspeccin reducida es aprobada.
7. La ISO 3951 permite el paso de un mtodo de sigma desconocida a sigma
conocida, utilizando como sigma el valor promedio estimado en la carta de
control estable con al menos 30 subgrupos. Requiriendo la continuacin de
la carta s o R.

Su ventaja principal es que se puede iniciar con un esquema de muestreo por


atributos con la MIL-STD-105E, obtener informacin suficiente y despus
cambiar a un esquema por variables manteniendo la misma combinacin de
letra para el AQL.

Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables de


cada lote.

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8.4 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR


VARIABLES

ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO


Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar
la calidad media de un material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo
general que aqu se emplea es el de prueba de hiptesis, lo cual se ilustra con
un ejemplo.

Ejemplo 8.12 Se considera aceptable un lote si tiene menos de 0.3 ppm de


emisiones de formaldedo en maderas. Se disea un plan de muestreo con una
probabilidad de aceptacin del 95% si las emisiones son en promedio de 0.3
ppm, y los lotes con un 0.4 ppm tengan una probabilidad de aceptacin del
10%. Si por experiencia se sabe que la desviacin estndar es 0.10 ppm, se
tiene:

Si X A es la media muestral debajo de la cual se aceptar el lote, est


normalmente distribuida y tiene una probabilidad de 0.95 de aceptacin,
entonces,

X A 0.3 X A 0.3
1.645
0.1 (8.4)
n n

En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisin de 0.40 ppm tienen
una probabilidad de 0.10 de aceptacin, entonces,

X A 0.4 X A 0.4
1.282 (8.5)
0.1
n n
resolviendo para X A y n se obtiene:

X A = 0.355 n= 9

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Muestreo secuencial por variables


Similar al de atributos graficando la suma acumulada de las mediciones de la
caracterstica de calidad. Las lneas para aceptacin del lote, rechazo del lote
y continuacin del muestreo se construyen en forma similar a las de atributos
(ver Duncan 1986).

APNDICES

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FORMULAS DE CARTAS DE CONTROL

CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES


CARTAS Xbarra-R
Lmites de control para medias n =5
LSC = X + A2 R
LIC = X - A2 R

Lmites de control para rangos n=5


LSC = D4 R
LIC = D3 R

CARTAS Xbarra-S
Lmites de control para medias
LSCx = X + A3 S
LCx = X
LICx = X - A3 S

Lmites de control para desviaciones estndar


LSCs = B4 S
LCs = S
LICs = B3 S

CARTAS I-MR de valores individuales


Para los valores individuales n=2
MR
LSCx = X 3
d2
__
LCx = X
MR
LICx = X 3
d2

Para el caso del rango se usan las mismas de la carta Xbarra-R con n=2

CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

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CARTA p

Di
pi
ni
m m

D p i i
p i 1
i 1

mn m
__ __

LSCp = p 3 p (1 p )
__

n
__
LCp = p

__ __

LICp = p 3 p (1 p )
__

CARTAS np

LSC np np 3 np (1 p )

LC np np

LIC np np 3 np (1 p )

CARTAS c

LSCc = c + 3 c

LCc = c
LICc = c - 3 c

CARTAS u

c
u
n

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Donde u representa el nmero promedio de no conformidades por unidad en


un conjunto de datos preliminar

u
LSC u u 3
n
LC u u

u
LSC u u 3
n

TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL


Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son:
n A2 D3 D4 d2
2 1.880 0.000 3.267 1.128
3 1.023 0.000 2.574 1.693
4 0.729 0.000 2.282 2.059
5 0.577 0.000 2.115 2.326
6 0.483 0.000 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.970
10 0.308 0.223 1.777 3.078

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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes /
enero de 2009

Las constantes para lmites de control en las cartas X-S son:


n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .

5 0.9400 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964


6 0.9515 1.225 1.287 0.030 1.970 0.029 1.874
7 0.9594 1..1341.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.9650 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1.000 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.610
13 0.9794 0.832 0.850 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.9810 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.750 0.763 0.448 1.552 0.440 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.490 1.483
20 0.9869 0.671 0.680 0.510 1.490 0.504 1.470
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.640 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.600 0.606 0.565 1.435 0.559 1.420

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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes /
enero de 2009

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