LABORATORIO GEOFISICA DE EXPLORACION:

TALLER 3
Metodos Electricos. Interpretacion de Anomalas.
Luis Felipe Duarte L. - 201416474
Profesor : Daniel Rojas Ruiz.

13 de Noviembre, 2016

1. Geoel
ectrica.
1.1. Sondeos El
ectricos Verticales (SEV) de Paipa
a.) Modelos de capas para satisfacer los datos.
Habiendo utilizando un arreglo tipo Schlumberger se obtuvieron 5 sets de datos de los cuales es posible
crear un modelo indicativo del n umero de capas existente en el subsuelo, y sus propiedades electricas
pertinentes para la exploraci
on. La obtencion de este modelo se obtiene a partir de evidencias en contrastes
de resistividad de las capas presentes.
El modelo de ajuste obtenido es para el Sondeo Vertical 2 fue:

Figura 1: Curva de ajuste de resistividades para los datos del Sondeo 2.

1
 Capa Grosor de capa (m) Resistividad aparente ( m)
1 0.55 6.0
2 2.77 2.5
3 0.0 8.0
RMS
0.5443

Tabla 1: Ajustes para el primer set de datos: SEV 2.

El modelo de ajuste obtenido es para el Sondeo Vertical 4 fue:

Figura 2: Curva de ajuste de resistividades para los datos del Sondeo 4.

Capa Grosor de capa (m) Resistividad aparente ( m)

1 0.68 7.1
2 1.95 20.15
3 91.0 14.5
4 0.0 2.5
RMS
1.0336

Tabla 2: Ajustes para el segundo set de datos: SEV 4.

El modelo de ajuste obtenido es para el Sondeo Vertical 5 fue

2
 Figura 3: Curva de ajuste de resistividades para los datos del Sondeo 5.

Capa Grosor de capa (m) Resistividad aparente ( m)

1 1.9 239.85
2 19.7 13.25
3 8.97 83.9
4 0.0 6.35
RMS
1.3461

Tabla 3: Ajustes para el tercer set de datos: SEV 5.

El modelo de ajuste obtenido es para el Sondeo Vertical 12 fue

Capa Grosor de capa (m) Resistividad aparente ( m)

1 0.81 232.5
2 22.3 22.87
3 0.0 138.6
RMS
1.0951

Tabla 4: Ajustes para el cuarto set de datos: SEV 12.

3
 Figura 4: Curva de ajuste de resistividades para los datos del Sondeo 12.

Finalmente, el modelo de ajuste obtenido es para el Sondeo Vertical 13 fue

Figura 5: Curva de ajuste de resistividades para los datos del Sondeo 13.

4
 Capa Grosor de capa (m) Resistividad aparente ( m)
1 0.858 13.9
2 20.0 48.00
3 0.0 0.1
RMS
0.9640

Tabla 5: Ajustes para el quinto set de datos: SEV 12.

b.) Comentarios sobre los resultados obtenidos.

- Sondeo Vertical 2 (SV2):

Respecto a lo obtenido en este perfil de resistividad, pudo observarse que el modelo considerado por 3 capas
es suficiente para describir el sistema. Ademas el comportamiento de la curva muestra un aumento en la
resistividad en las capas a medida que se hacen mas profundas. En cuanto a la profundidad de prospecci on
puede decirse que el metodo tuvo una penetracion de un poco mas de 100 m en la que, con los datos
obtenidos puede concluirse que a partir del diagrama de curvas de resistividad:

Figura 6: Curvas molde de interpretacion para modelos de mas de 2 capas.

para este caso se trata de una curva de tipo A - (II) en la que se evidencia un notorio aumento progresivo
en la resistividad de las capas a medida que el espaciamiento entre los electrodos aumenta (es decir, la
profundidad de prospecci on aumenta). As, se evidencia que la primera capa (la mas superficial) posee una
resistividad mas baja respecto con las otras dos; y la tercera (mas profunda) posee una resistividad mayor.

- Sondeo Vertical 4 (SV4):

En cuanto al perfil de resistividad de este muestreo, se observa la presencia de cambios abruptos en la pen-
diente de la curva, lo que hace que resulta mas incomodo encontrar una curva de ajuste a las resistividades
medidas. Sin embargo, considerando un sistema de 4 capas ya que es el menor n umero de capas para el
cual se obtiene un valor para el RMS menor a 1.5 ; es importante mencionar que usar un sistema de 5 o
mas capas puede resultar en una representacion poco probable del terreno, por lo que es mas conveniente

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 seguir el principio de parsimonia y ajustar las mediciones a un modelo de 4 capas.

Ademas, estos cambios pronunciados de pendiente en la curva evidencian contrastes bruscos de resisti-
vidades causados por estructuras como fallas o incluso discordancias que alteran el ideal de estratificaci
on
horizontal, esto es se hace evidente cuando se observa la localizacion del area donde fue tomado el perfil:

Figura 7: Ubicacion de las

areas de estudio. El area del SEV4 se evidencia justo encima de una falla regional.

En cuanto a la profundidad de prospeccion, el perfil arrojo una profundidad de 120 m ; la curva puede
ser clasificada como una tipo K - (II) debido a que de las 4 capas propuestas, la mas superficial y la m
as
profunda poseen las resistividades m as bajas e incluso la capa mas profunda posee una resistividad un
poco menor que la primera; d andole su caracterstico comportamiento de mnimos en los extremos.

- Sondeo Vertical 5 (SV5):

En cuanto al perfil obtenido para el Sondeo 5 puede notar una clara tendencia decreciente de la curva con
un pequeno maximo local. Este comportamiento de la resistividad pudo modelarse mediante un arreglo de
4 capas, a pesar de no tener estructuras evidentes que alteren la anomala obtenida.

Para este caso, contrario a lo sucedido con el perfil SEV2, se observa un descenso caracterstico en la
resistividad con la profundidad; con lo que podra decirse que tiene un comportamiento de tipo Q - (I).
Sin embargo, existe un comportamiento intermedio de aumento en la resistividad que no contempla una
curva Q - (I) y que es mas parecido al de una curva K - (I) en el que la segunda capa intermedia tiene una
resistividad mayor a la de las capas supra- y sub- adyacentes; lo que genera un maximo local en el perfil
de la anomala.

As, la capa m
as superficial muestra la mayor resistividad, la segunda es muchsimo menos resistiva, la
tercera posee una resistividad intermedia y finalmente la u
ltima posee la menor resistividad de todas. En
cuanto a la profundidad de prospeccion, al igual que el SEV4, fue de 120 m.

- Sondeo Vertical 12 (SV12):

Para este perfil de sondeo obtenido se observa un comportamiento de la curva de ajuste como una curva
tipo H - (I) ya que es evidente como existe un mnimo de resistividad rodeado por altas resistividades. Para

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 satisfacer esto, el modelo con 3 capas fue suficiente para tener un MRS de 1.0951. Ademas es de resaltar que
la capa superficial tiene una resistividad de un poco mas de 100 m , la capa intermedia posee una resisti-
vidad de un poco m as de 20 m y finalmente la capa mas profunda tiene una resistividad de casi 100 m.

As se observa el mnimo caracterstico para esta curva. En cuanto a la profundidad de prospecci

on,
para este sondeo fue de un poco menos de 120 m.

- Sondeo Vertical 13 (SV13):

Por u
ltimo, en el perfil de resistividad para el SEV13 se evidencia que el sistema se logra modelar bien con
3 capas. Es evidente que existe un alto contraste de resistividades que entre la segunda y la tercera capa,
lo que hace que haya un pico cerca al fin del registro de los datos.

La curva obtenida se comporta como una de tipo K - (IV) ya que es evidente que en general, se ob-
serva un ascenso en la resistividad seg
un la profundidad. Ademas, la profundidad de prospecci
on para este
caso vuelve a ser aproximadamente 120 m.

c.) Consideraciones finales sobre los datos y la Geologa Regional.

En cuanto a los perfiles obtenidos, s se puede establecer una correlacion con la geologa regional.

Figura 8: Mapa del area de sondeo.

En este mapa geol ogico donde se observan los puntos de muestreo de resistividades se puede observar que
los sondeos fueron realizados sobre las unidades Q, Kc e I2, que representan Arenas, limos y conglomerados
de depositos fluviales, Shales negros y limolitas, y Flujos de pomez y ceniza respectivamente.

Es con estas litologas que es posible hacer la conexion entre los perfiles y el mapa. Dado que en ge-
neral todos los estudios muestran resistividades aparentes con valores oscilantes entre 1 y 10 m para las
capas superficiales; se puede atribuir estos valores y comportamientos de resistividades justamente a lito-
logas como arenas, arcillas, e incluso p
omez y cenizas ya que son rocas lo suficientemente porosas y poco
permeables, recordando la relaci on entre porosidad y resistividad mediante la Ley de Archie, como para
generar estos valores de resistividad tan caractersticos. A continuacion se muestra tambien un diagrama

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en el que efectivamente estas litologas caracterizan estos valores de resistividad:

Figura 9: Conductividad y Resistividad caracterstica de rocas comunes.

Luego, viene el componente estructural de la zona que explicara los contrastes de resistividad en los
perfiles, especialmente en el sondeo 4 (SEV4).

Figura 10: Mapa estructural de la zona.

Con este mapa puede evidenciarse que la region esta altamente gobernada por fallas que, en sentido general,
tienen vergencia hacia el NE. Especialmente esta la presencia del SEV4 cuya estacion se observa ubicada
sobre la Falla El Bizcocho, permitiendo entender los cambios tan abruptos de resistividad observados
en el perfil. Finalmente, est
an las fuentes de fluido de altas y bajas temperaturas que representan las
modificaciones (positivas y negativas) de los valores de resistividad al introducir, posiblemente, fluidos
como agua a ciertas temperaturas que alteran la resistividad de las capas.

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2. Tomografa Geoel
ectrica.
2.1. Tomografas el
ectricas de las Fuentes Termales de Paipa
a.) Inversiones de los datos para las Tomografas 1 y 2.
Una vez corregido el formato de los datos provistos a uno que el programa res2Dinv pudiera leer para
generar los perfiles de sondeo 2D, se hizo la inversion de los datos y, para las Tomografas 1 y 2 se
obtuvieron los siguientes perfiles:

Figura 11: Tomografa 2D del primer set de datos.

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 Figura 12: Tomografa 2D del segundo set de datos.

b.) Comparaci
on SEV - Tomografa para el Sondeo 4 (SEV4).
Recordando la estacion de muestreo 4 donde se dedujo que exista una complicacion estructural de falla
que generaba cambios abruptos en la resistividad, y por ende, en la pendiente en la curva de ajuste del
perfil haciendo m
as difcil hallar una curva de ajuste fiel.

Es de reconocerse que para este punto de medicion resulta mas conveniente realizar una tomografa por
diversas razones: la mas importante es que mientras que el sondeo vertical se realiza en una sola dimension
a profundidad solamente es posible intuir la presencia de una falla, con la tomografa es posible hacer un
barrido de sondeo, en el que gracias a la densa cantidad de datos que se toman es posible construir un
perfil 2D que permita no solamente ver la presencia de la falla sino observar el contraste de resistividades
vertical (como en el SEV) y horizontal. Con esto es posible observar detalladamente que capas est an siendo
afectadas por la falla, c
omo esta ocurriendo el contraste de resistividades y el comportamiento alrededor
de la falla. En conclusion, una tomografa resulta mejor que un Sondeo Vertical ya que aporta todas las
ventajas de una observaci on en 2D.

c.) An
alisis de las Tomografas 1 y 2 relacionado a lo observado en SEV4.
-Tomografa 1:
Para este perfil el modelo muestra que, en el lado W, una capa superficial de resistividad media que es
supra yacente a una capa muy profunda de una muy alta resistividad que tiene un grosor aproximado de
15 m y un ancho de 330 m.

Este perfil presenta un comportamiento caracterstico en el que la parte superficial esta sectorizada e
intercalada con resistividades bajas a intermedias las cuales empiezan a aumentar con la profundidad.
Esto se evidencia cuando desde el metro 43 hasta el 91 en la parte superficial hay una capa de resistividad
media que no es continua, y vuelve a aparecer hasta el metro 190. La causa de estos contrastes de resis-
tividad puede asociarse con la proximidad a fuentes de agua superficiales. Sin embargo, en el lado E del

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 perfil ocurre la situaci
on inversa a la establecida antes; en este caso solo se observa una capa de resistividad
media y una aun m as superficial de alta resistividad.

-Tomografa 2:
Para la inversi
on obtenida de estos datos, el modelo de resistividades que mejor se ajusta muestra una
capa mas o menos uniforme de resistividad constante en casi todo el perfil. A pesar de esto, hay zonas
aisladas donde existen contrastes de resistividades altas y bajas en el perfil de medicion que, dado a que
son anomalas muy locales, el modelo de ajuste ignora en el perfil de anomala producido.

Por ejemplo, el perfil de datos de resistividad aparente tomados muestra peque nas zonas de contrastes
de resistividad altas y bajas en la zona central y E del terreno el modelo de inversion no logra mostrar.
Por u
ltimo el origen de esta anomala tambien podra asociarse a una fuente de agua superficial cercana.

d.) Perfil de Inversi

on de los Datos Dipolo-Dipolo.
Una vez corregido el formato para los datos del arreglo dipolo-dipolo, el perfil de inversion obtenido fue:

Figura 13: Tomografa 2D del tercec set de datos habiendo usado un arreglo Dipolo-Dipolo.

Perfil que evidentemente es muy exacto con el de resistividad aparente medida.

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