Protocolos Practicas

rdoba
Universidad de Co
OPTICA II

PROTOCOLOS DE PRACTICAS
3o GRADO DE FISICA
Prof. Dr. Antonio Dengra Santa-Olalla

Prof. Dra. Encarnaci
on Mu
noz Serrano
Prof. Dr. Antonio M. Diaz Soriano
Prof. Dr. Antonio Ortiz Mora
Departamento de Fsica
Campus Univ. de Rabanales
Edificio Einstein-C2
Resumen
Este documento recoge de forma programada y secuenciada los Protocolos

de Pr acticas que los alumnos matriculados en la asignatura obligatoria

de OPTICA II, encuadrada seg un el plan de estudios vigentes (BOE
11/02/2011) en el 3o curso del Grado de Fsica de la Universidad de
Cordoba, deberan seguir para la realizacion tutorizada de los experimentos

montados en el Laboratorio de Optica. Con ello se completan los contenidos
practicos de la asignatura con los que se pretende conseguir el desarrollo de
la formacion y competencia de los alumnos en los aspectos experimentales
dentro del estudio de la Fsica.
Indice general
1. Interferencia y Difracci on 2
1.1. Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.2. Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.3. Breve desarrollo teorico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.3.1. Interferencia y difraccion de la luz . . . . . . . . . . . . 3
1.3.2. Redes de difraccion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.4. Metodo Operativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.4.1. Longitud de onda utilizando una red de difraccion. . . 9
1.4.2. Interferencia producida por dos focos puntuales. . . . . 9
2. Interferencia en laminas delgadas (Placa de mica) 11

2.1. Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.2. Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3. Breve desarrollo teorico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.4. Metodo operativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.5. Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
3. Interferometros de Michelson y de Fabry-Perot 17

3.1. Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.2. Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.3. El interferometro de Michelson . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.3.1. Introduccion teorica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.3.2. Metodo operativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
3.4. Medida del ndice de refraccion del aire en funcion de la presion 24
3.4.1. Desarrollo teorico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.4.2. Metodo operativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.5. El interferometro de Fabry-Perot . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.5.1. Introduccion teorica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.5.2. Metodo Operativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
1
Pr
actica 1
Interferencia y Difracci
on
Difracci
on en una rendija.
Medida de la longitud de onda de un l
aser mediante una red
de difracci
on.
Patrones de interferencia y difracci
on superpuestos.
1.1. Objetivos
Poner de manifiesto las propiedades ondulatorias de la luz mediante la
obtencion de diagramas de interferencia y difraccion. Medir la longitud de
onda de la luz emitida por el laser que se usa en la sesion.
1.2. Material
Laser. Banco optico. Metro. Regla graduada. Lentes. Rendijas dobles.
Redes de difraccion. Dispositivos con obstaculos varios.
Figura 1.1: Imagenes con detalles del montaje experimental.
2

PRACTICA n
1. Interferencia y Difraccio
1.3. Breve desarrollo te

orico
1.3.1. Interferencia y difracci
on de la luz
Se denomina interferencia al fenomeno que se produce cuando sobre un
mismo punto incide mas de una onda. En tal circunstancia, por simple
adicion de las amplitudes de las oscilaciones parciales, la suma de dos o mas
ondas puede ser reforzada o disminuida con respecto a cada una de ellas por
separado. Esto es debido a que dicha suma puede llevarse a cabo de manera
que las fases de oscilacion de cada una de ellas sean iguales o no. En todo
caso hay que resaltar que si se trata de ondas transversales polarizadas, para
que se de interferencia deben tener la misma direccion de polarizacion.
Cuando las fases de oscilacion que poseen ambas ondas en ese punto son
iguales, la interferencia resulta constructiva y la amplitud resultante es la
suma aritmetica de las amplitudes de las ondas parciales. Por el contrario, si
las fases de oscilacion son opuestas, la interferencia resulta destructiva y la
amplitud resultante es la diferencia aritmetica de las amplitudes parciales.
En general, pueden contemplarse muchas situaciones de interferencia ya
que dos ondas en un punto del espacio pueden tener un desfase relativo con
cualquier valor entre 0 y 2 radianes.
Por su parte la difracci on ocurre cuando una onda encuentra un
obstaculo en su camino o pasa a traves de un orificio, su direccion de
propagacion deja de ser rectilnea y su amplitud presenta anomalas o
cambios respecto a la ondas incidente. Estos fenomenos reciben el nombre
de difraccion de ondas y dependen de las dimensiones de los obstaculos u
orificios y de la longitud de onda. Como veremos mas adelante, los fenomenos
de difraccion tienen su explicacion en los de interferencia.
Supongamos una onda plana que llegan a la rendija S1 S2 de anchura d
(ver figura). Seg un el principio de Huygens, cada punto comprendido entre
S1 y S2 se convierte en un emisor de ondas fundamentales, todas en igualdad
de fase. En cada punto de la pantalla situada a una distancia L, dichas ondas
elementales combinaran sus efectos interfiriendo para producir un resultado
que dependera de la diferencia de caminos opticos existentes entre los de
la rendija y el punto de la pantalla considerado. Las ondas elementales que
procedan de los puntos extremos S1 y S2 alcanzaran en el mismo instante el
punto P (situado sobre la pantalla paralela a la rendija) ya que este punto se
encuentra frente a M que es el centro de la rendija y las distancias S1 P y S2 P
son iguales. Eso implica que en P ambas ondas produciran una oscilacion en
igualdad de fase puesto que la velocidad de propagacion es la misma para
ambas ondas elementales. Por lo tanto, en ese punto se produce un aumento
de amplitud al tener lugar una interferencia constructiva. Para otro punto P

Laboratorio OPTICA II -3-

PRACTICA n
Figura 1.2: Esquema del experimento de interferencia en rendija.
cualquiera de la pantalla, los caminos recorridos por las ondas que parten de
estos mismos puntos extremos S1 y S2 seran diferentes:
S1 P 6= S2 P
y se producira el aumento o la disminucion de la amplitud (interferencia

constructiva o destructiva) seg
un sea la diferencia entre estos dos segmentos,
es decir, seg
un el valor del desfase relativo entre las dos ondas. El valor de
esta diferencia de caminos opticos, que representa dicho desfase, sera:
BI = d sen
siendo el angulo que mide la inclinacion de los rayos respecto a la direccion

normal de la pantalla L, y d la separacion entre los puntos S1 y S2 . Cuando
esta diferencia de caminos opticos sea igual a un numero entero de longitudes
de onda, obtendremos una franja brillante o de m aximo de intensidad
luminosa debido a que las amplitudes de las ondas parciales se han sumado,
es decir, cuando:
d sen = n
donde n es un numero entero (tanto negativo como positivo) y la longitud
de onda. Esto se debe a que entonces las dos oscilaciones en P siempre esten
en igualdad de fase y se produce interferencia constructiva.


PRACTICA n
Figura 1.3: Patrones de interferencia.
Esto es lo que realmente ocurre cuando solo existen los puntos S1

y S2 separados entre s una distancia d que emiten ondas luminosas
coherentemente1 , cuando se observa la interferencia sobre la pantalla. En
este caso particular de solo dos puntos luminosos, para distintos valores de n
aparecen distintas franjas brillantes o de amplitud reforzada (interferencias
constructivas).
El primer maximo de intensidad sin contar = 0, o maximo central
correspondiente a n = 0, lo obtendremos para n = 1:

d sen 1 = sen 1 =
d
El angulo de interferencia 1 correspondiente a ese primer maximo
se puede calcular facilmente ya que, al ser peque no, se puede hacer la
aproximacion:
y1
sen 1 tan 1 =
D
donde y1 es la distancia desde el centro del maximo central hasta el primer
maximo de interferencia y D es la distancia rendija-pantalla. Otros maximos
de interferencia o franjas brillantes apareceran para otros angulos 2 , 3 ,. . .
que seran dobles y triples,. . . de 1 , ya que se obtienen de la misma expresion
para n=2, 3, . . . Para valores negativos de n, aparecen los mismos valores de
angulos de interferencia pero negativos.
Estos son los maximos de amplitud e intensidad luminosa debido a la
interferencia constructiva producida por dos focos puntuales coherentes se-
parados una distancia d. Los mnimos de amplitud e intensidad luminosa
1
Con la misma fase de oscilaci
on inicial.


PRACTICA n
debido a la interferencia destructiva apareceran sobre la pantalla aproxima-

damente entre cada dos maximos consecutivos y podra encontrarse para ellos
expresiones matematicas analogas a las anteriores.
Pero, realmente, en una rendija como la que aparece en la figura, existe
una infinidad de puntos luminosos entre sus extremos S1 y S2 , infinitamente
proximos unos a otros. La interferencia de ondas que observemos sobre la
pantalla sera la producida por esta infinidad de emisores puntuales coherentes
en vez de la producida solo por los puntos S1 y S2 .
Figura 1.4: Efectos de la difraccion por una rendija.
En este otro caso, existe interferencia m ultiple e igualmente aparecen

sobre la pantalla franjas brillantes y franjas oscuras que se corresponden
con las interferencias constructivas y destructivas respectivamente. Pero
ahora, la expresion matematica que determina la existencia de maximos y
mnimos de amplitud e intensidad luminosa es diferente. En particular, puede
demostrarse que la condicion para encontrar una franja oscura o mnimo de
intensidad luminosa debido a la interferencia de todos esos infinitos focos
puntuales es identica a la ecuacion anterior:
a sen = n
donde ahora a es realmente la anchura de la rendija y n no puede tomar el

valor 0. A esta interferencia producida por la infinidad de focos elementales


PRACTICA n
contenidos en S1 S2 se llama difraccion producida por una rendija. Observada

sobre la pantalla, la iluminacion que produce la rendija sobre la misma difiere
mucho del perfil proyectado sobre la pantalla y ha implicado una desviacion
de la direccion de propagacion de la luz por un obstaculo.
Figura 1.5: Patron de difraccion producido por una rendija.
Figura 1.6: Distribucion de intensidades a lo largo de un plano normal a la

luz incidente que resulta de dos ranuras paralelas largas y delgadas.
Las mismas ecuaciones anteriores son validas, por tanto, para los
distintos mnimos de difraccion que aparecen, siendo igualmente valida la
aproximacion matematica dada respecto al sen . Los maximos de amplitud
e intensidad luminosa apareceran sobre la pantalla aproximadamente
consecutivos, pudiendose encontrarse para ellos expresiones matematicas
similares. Existira un maximo central de intensidad luminosa correspondiente
al hecho de que en el punto P la interferencia producida por todos los puntos
luminosos de la rendija es constructiva.


PRACTICA n
Cuanto mayor sea D mejor se podra realizar la medida de y1 , y2 ,...yn .

De esta u ltima expresion se deduce que, para que exista un fenomeno de
difraccion apreciable, es decir, para que los angulos i sean apreciables,
aunque peque nos, el cociente entre la longitud de onda y la anchura de
rendija d ha de ser considerables. En otras palabras, las dimensiones del
obstaculo deben ser comparables con la longitud de onda de la luz empleada
en el experimento de difraccion.
En esta sesion tendremos la ocasion de analizar tanto difraccion producida
por una rendija de anchura determinada como la interferencia producida por
dos fuentes o focos luminosos.
1.3.2. Redes de difracci

on
Finalmente, para realizar la practica completa necesitamos una fuente de
luz coherente. Utilizaremos para ello un laser de He-Ne, cuya longitud de
onda habra que medir2 .
Figura 1.7: Redes y rendijas de difraccion.
Con ese fin emplearemos una red de difraccion. Este artificio consiste
en un medio transparente al que se le han practicado estras opacas muy
finas y proximas entre s, de modo que cuando un haz de luz lo atraviesa
emergera como si hubiese sido producido por muchos focos puntuales y la
luz que uno de ellos emite interferira con la de todos los demas. Es como el
experimento de Young pero con muchos focos y separados una distancia d,
a diferencia de infinitos focos infinitamente proximos que sera el caso de un
rendija de difraccion.
El resultado de esta interferencia es un conjunto de franjas de luz,
maximos de interferencia, ubicadas en los mismos puntos que los maximos
del experimento de Young, es decir:
d sen = n
2
Y que es de 632.8 nm.


PRACTICA n
pero mucho mas estrechos que aquel. Dado que d sera pequeno, sera muy
grande, hasta tal punto que no vale la aproximacion sen tan .
1.4. M
etodo Operativo
1.4.1. Longitud de onda utilizando una red de difrac-
ci
on.
1. El banco optico se construye sobre la mesa disponiendo el laser en un
extremo.
2. Sit
ue la red de difraccion en el soporte de diapositivas y tenga cuidado
en no rayarla. Anote la constante de red ,esto es, el n umero de lneas
3
por unidad de longitud. Con ello obtiene d.
3. Mida la distancia D entre la red y la pantalla (empiece alrededor de 50

cm)
4. Mida la distancia del maximo central al primer maximo, y1 para n = 1.

Como observara el angulo no es pequeno porque d es muy pequeno, por
lo que no se puede aproximar sen tan . As calcule tan y a
partir de ella sen . Con ello puede calcular .
5. Repita el apartado anterior para los distintos yn , con n=2,3,...
6. Modifique la distancia D y repita los apartados anteriores las veces que

sea necesario. Con ello puede determinar el valor de . Comparelo con
el valor dado (632.8 nm).
1.4.2. Interferencia producida por dos focos puntuales.

1. Coloque la diapositiva que tiene un par de rendijas en el soporte.
2. Ilumine con el laser el par de rendijas y observe la interferencia,

identificando las franjas brillantes de las oscuras.
3. Elija un orden de interferencia determinado, caracterizado por un valor

de n, y mida sobre la pantalla la distancia yn que va desde el maximo
central hasta el maximo correspondiente a ese orden. Mida la distancia
D entre la pantalla y la rendija. Aqu s que vale la aproximacion seno-
tangente-angulo, ya que y es pequena y D es grande.
3
En general puede usar la red de 80 lneas por mm.


PRACTICA n
Figura 1.8: Patron de interferencia-difraccion producido por una rendija

doble.
4. Con ello puede calcular la separacion entre las dos rendijas, d.
5. Modifique la distancia D y repita el apartado anterior las veces que sea

necesario. Con ello puede determinar el valor de d mas adecuadamente.
6. Observe el diagrama de interferencia-difraccion debido a que el

experimento se hace con dos rendijas y no con dos focos puntuales.
Se podra calcular la anchura de cada rendija a porque la distancia
entre el primer mnimo de difraccion y el maximo central , n = 1, vale
a sen = . Calculela para cada distancia D elegida en los apartados
anteriores. Con ello determinara mejor el valor de a.
CAUTELAS
NO MIRE DIRECTAMENTE LA LUZ DEL LASER, PUEDE

DANARLE LOS OJOS.
Cuide el laser al moverlo, es muy delicado.
Apague el laser cuando no lo utilice y cuando termine.
Deje todo el material recogido y limpio.

Pr
actica 2
Interferencia en l
aminas
delgadas (Placa de mica)
2.1. Objetivos
Poner de manifiesto procesos de interferencia en l
amina
delgada.
Medir el espesor de una l

amina delgada.
Medir el ndice de refracci

on del material que constituye la
l
amina.
Medir la longitud de onda de la luz que interfiere en una

l
amina delgada.
2.2. Material
Banco optico. Lampara espectral de Hg. Filtros. Placa de mica. Pantalla.
Regla
2.3. Breve desarrollo te

orico
Cuando una luz de longitud de onda incide con un angulo sobre una
placa de grosor d e ndice de refraccion n es parcialmente reflejado en la
superficie de arriba (rayo a)1 y parcialmente refractado (rayo b). Este rayo
1
V
ease la figura
11

PRACTICA minas delgadas (Placa de mica)
2. Interferencia en la
Figura 2.1: Esquema de las m

ultiples reflexiones en una lamina delgada.
refractado es, a su vez, parcialmente reflejado y refractado en la superficie

de abajo. As mismo, el reflejado abajo, repite el proceso en la superficie de
arriba. Tenemos diferentes rayos que emergen paralelos de la cara superior
de la placa y que interferiran entre s dando lugar a anillos de interferencia
que se observaran en la pantalla. Este fenomeno tambien se produce con los
rayos que emergen de la cara de abajo; sin embargo el contraste de los anillos
de interferencia es mejor para el caso de los rayos que emergen de la placa
superior.
De la geometra de la figura se puede obtener para que angulos se
dan interferencias constructivas o destructivas, respectivamente, ya que la
diferencia entre los caminos opticos de los rayos a y b es:

= 2 n S2 + S1
2
donde se tiene:
d
S1 = 2 d tan sen S2 =
cos
El desfase de /2 se debe a la reflexion del rayo a en la lamina delgada de
mica.
Usando la ley de la refraccion n = sen
sen
y sustituyendo:
2nd sen
= 2nd sen +
cos cos 2


Figura 2.2: Detalle del montaje experimental.
que es igual a:

= 2 n d cos + = 2 d n2 sen2 +
2 2
Los anillos de interferencia constructiva se observan para = m mientras
que los anillos de interferencia destructiva se observan para = m + 2
con m entero. Si desarrollamos en serie la ecuacion general obtenida para
queda:
r
1 sen2
sen 2
2 dn 1 2dn 1
n 2 n2
2
donde se ha utilizado senn2 1 . De ese modo tenemos una aproximacion
para los anillos oscuros, de interferencia destructiva:
d
m =2nd sen2
n
As pues, una representacion de m frente a sen2 tendra por pendiente el
valor nd . El orden de interferencia aumenta al disminuir el radio de los anillos
de interferencia, es decir, aumenta cuando disminuye. Dado que el valor
absoluto de m para un anillo en particular no es conocido, el valor inicial m0
se atribuye arbitrariamente al anillo oscuro de radio mas peque no. De este


modo, los sucesivos anillos de oscuridad tendran el valor m0 1, m0 2, . . . 2

De la misma manera, los anillos de interferencia constructiva, que estan
en medio de los de oscuridad, se corresponderan con los valores m0 21 ,
m0 23 , . . .
2.4. M
etodo operativo
1. Disponga el filtro de 580 nm (amarillo) en el portalamparas.
2. Disponga la placa de mica a 10 cm del portalamparas, de acuerdo con
la figura:
Figura 2.3: Esquema de la disposicion geometrica del montaje experimental

de interferencias en lamina delgada de mica.
3. Identifique los anillos. Observe que el centro de los mismos queda

marcado por la luz que sale de un peque no orificio practicado en la
parte trasera de la lampara.
4. Determine el valor de para varios anillos de interferencia constructiva
y destructiva. El valor de se obtiene a partir de rm y l.
5. Represente m (constructiva y destructiva) frente a sen2 .
6. Teniendo en cuenta que para la mica n = 1,6 y la longitud de onda de
la luz que deja pasar el filtro es de 580 nm , determine la anchura de
la placa.3
2
N
otese que el desconocimiento del valor absoluto de m s
olo afecta al valor de la ordenada en el origen y no al de la
pendiente.
3
Su valor real es de 0,032 0,001 mm.


Figura 2.4: Anillos de interferencia producidos por la lamina delgada de mica.
7. Disponga el filtro verde4 frente al portalamparas y repita los apartados

anteriores, salvo que en este caso tomara el valor de d calculado como
dato y medira el ndice de refraccion de la mica n.
8. Para el caso del filtro azul5 tome los valores obtenidos de n y de d y

calcule .
9. Compruebe todos los resultados con el otro filtro.
2.5. Resultados
Definicion de las variables.
Tablas de valores de m frente a rm y .
Graficas de m frente a sen2 .
Comparacion de los valores medidos con los reales.
4
g = 525 nm.
5
b = 440 nm. .


CAUTELAS
NO TOQUE LOS VIDRIOS DE LOS FILTROS
Mantenga seco el lugar de trabajo.6
Antes de comenzar a medir debe dejar que las lamparas espectrales

adquieran su temperatura de trabajo para emitir con todo el brillo del
que son capaces. Espere, por lo tanto, dos o tres minutos a que se
estabilice.
No toque la lampara espectral despues de usarla, puede quemarse.
6
Las l
amparas espectrales funcionan con tensiones elevadas.

Pr
actica 3
Interfer
ometros de Michelson y
de Fabry-Perot
3.1. Objetivos
Estudio experimental del fen
omeno de interferencia de la luz.
Medir la longitud de onda de un haz de luz l

aser.
Medir el ndice de refracci

on del aire en funci
on de la presi
on.
Figura 3.1: Detalle del montaje experimental con el laser y el interferometro.
17

PRACTICA metros de Michelson y de Fabry-Perot
3. Interfero
3.2. Material
Laser de HeNe. Interferometro de Michelson. Camara de vaco. Bomba
de vaco con manometro.
3.3. El interfer
ometro de Michelson
3.3.1. Introducci
on te
orica
El interferometro de Michelson es un dispositivo interferencial por division
de amplitud. En la figura se representa un esquema del mismo:
Figura 3.2: Detalle esquematico del interferometro de Michelson.
Se trata de un haz de luz laser que es separado en dos haces por una
lamina semirreflectante (H) y que tras reflejarse cada uno de ellos en los
espejos E1 y E2 , se superponen en la pantalla P donde se puede observar el
fenomeno de interferencia. Se debe interponer en el rayo que se dirige hacia
el espejo E1 una lamina de vidrio C, que llamaremos compensador, de la
misma anchura y material que el espejo para compensar los caminos opticos
que siguen los rayos. En la figura, el ojo del observador esta representado
por la lente L y una pantalla en su plano focal imagen. El cono de rayos que
subtienden el mismo angulo respecto del eje del sistema iran a parar a la
misma cicunferencia del plano focal de L, as el problema tiene simetra de


3. Interfero
revolucion respecto del eje del sistema, siempre que el espejo esta a 45 del
haz de entrada.1
Los rayos que han viajado por cada brazo tienen un recorrido diferente
desde la fuente al observador, aunque el camino optico a traves de las laminas
de vidrio es el mismo para ambas debido a la lamina compensadora C. E1
es la imagen de E1 producida por H , tal y como la vera un observador
colocado en O. Entre cada par de haces de rayos emergentes existe cierta
diferencia de fase que viene dada por la distancia d entre E1 y E2 . En estas
condiciones, el observador vera franjas circulares y concentricas si E1 y E2
son perpendiculares entre s. La alternancia de circunferencias luminosas y
oscuras fruto de la interferencia viene dada por la expresion:
2 n d cos = m
siendo n el ndice de refraccion del medio, d es la distancia entre E1 y E2 , es

el angulo que forman los rayos con la normal a los espejos, m es el orden de
interferencia del anillo2 y la longitud de onda de la luz empleada. Puesto
que los dos haces de rayos que interfieren para la formacion de franjas se han
reflejado en la cara plateada, pero uno exterior y el otro interior al vidrio,
existe un cambio de fase relativo entre las dos reflexiones de radianes, por
lo que la expresion anterior no rige la formacion de maximos brillantes, sino
la de mnimos (franjas oscuras).
Si el centro de la figura de interferencia ( = 0) es un maximo se verifica
que:
2 d1 = m1
siendo d1 la distancia E1 E2 correspondiente al orden m1 . Este valor de m1

es el orden mas alto correspondiente a la separacion d1 , puesto que, para el
resto de anillos cos < 1 y por tanto m < m1 . Un aumento (disminucion)
de la distancia entre espejos E1 E2 produce un aumento (disminucion) del
orden maximo de anillos y por tanto una aparicion (desaparicion) de sus
correspondientes anillos.
Si ahora desplazaramos el espejo E2 una distancia x, la nueva distancia
E1 E2 valdra d1 + x y el orden m2 de maximo verificara:

2 (d1 + x) = m2
1
Esta ser
a la configuraci
on que busquemos.
2
Ser
a un n
umero entero.


3. Interfero
Se puede comprobar que al restar las dos expresiones anteriores se obtiene:
2 x = (m2 m1 ) = m
Esta ecuacion permite calcular si se conoce x y el n

umero de anillos m
que aparecen al mover el espejo E2 .
3.3.2. M
etodo operativo
Alineamiento del l
aser:
1. El primer paso antes de montar cualquier dispositivo de interferometra
es alinear el laser, de modo que el haz de luz sea paralelo a la base del
interferometro. Para facilitar el proceso de alineamiento disponemos
de un banco optico en el que colocamos el laser, que esta unido a la
base del interferometro (ver figura). Tanto el banco como la base del
interferometro se apoyan en el suelo mediante tornillos de nivel variable.
Figura 3.3: Vistas en detalle del interferometro de Michelson.
2. Coloque el espejo movil3 en el hueco que hay en la base del

interferometro y aseg
urelo con el tornillo peque
no (son de color dorado
y tienen una anilla de plastico).
3. Coloque el laser en el banco y enciendalo.

3
El m
as peque
no.


3. Interfero
4. Gire los tornillos de nivel variable en la base del laser hasta que se
refleje el centro del espejo y vuelva a la misma altura que la apertura
del laser.
5. Gire el espejo y la parte trasera del laser hasta que el haz, despues de
reflejarse en el espejo, vuelva a entrar por la apertura del laser.
no.4
6. Asegure los tornillos de banco y no mueva el laser ni el espejo peque
Montaje del Interfer

ometro de Michelson:
1. Coloque el divisor del haz de modo que forme un angulo de 45 con el
haz y aseg
urelo con el otro tornillo peque
no, similar al anterior.
2. Sit
ue el vidrio compensador en el divisor del haz.
3. Monte la pantalla en uno de los soportes y coloquela en el lugar que le

indica la figura:
Figura 3.4: Seccion en planta del interferometro.
4. Coloque el espejo fijo y asegurelo con los tornillos grandes negros. En

este momento debe ver en la pantalla dos imagenes del haz, una que
procede del espejo fijo y otra del movil. Las imagenes consisten en un
4
Hasta aqu el dispositivo est
a preparado para el montaje de cualquiera de los dos interfer
ometros de la presente
sesi
on.


3. Interfero
punto central, muy luminoso, rodeado de una serie de puntos menos

luminosos y que proceden de las reflexiones m
ultiples.
5. Gire levemente el divisor del haz hasta que las imagenes esten lo mas
cerca posible una de otra.
6. Gire los tornillos x e y del espejo fijo para hacer coincidir las dos
imagenes.5
7. Monte la lente de 18 mm de distancia focal en uno de los soportes

y coloquela frente al laser. Desplace la lente hasta que vea rayas de
interferencia en la pantalla.
8. Vuelva a ajustar los tornillos x e y del espejo fijo hasta que los anillos
esten centrados en la region luminosa. Estos anillos seran nuestro
patron de interferencia.
Medida de la longitud de onda del l

aser:
Para medir la longitud de onda del laser se seguiran los siguientes pasos:
1. Cuando en la pantalla se vea claramente el patron de interferencia,

ajuste el tornillo micrometrico a una posicion intermedia (por ejemplo
5 mm).
Figura 3.5: Tornillo micrometrico.
5
Notar
a un peque
no parpadeo de las im
agenes debido a que ya interfieren entre s.


3. Interfero
2. Gire el tornillo una vuelta completa en el sentido de las agujas del reloj
(dextrogiro) y contin
ue girando en este sentido hasta que el cero del
tornillo coincida con una de las marcas.
3. A partir de ahora girara el tornillo en el sentido de las agujas del reloj,

evitando as el error de retroceso inherente al mecanismo del tornillo y
demas engranajes del interferometro. En este punto anote la posicion
del tornillo. Observe que la sensibilidad del tornillo es de 0001 mm.
4. Ajuste la pantalla de modo que una de las marcas de la se nal

milimetrada, que sera la marca de referencia, coincida con el anillo
central.
5. Gire lentamente el tornillo en el sentido de las agujas del reloj hasta

que hayan pasado un n umero determinado de anillos por la marca de
referencia. Anote la posicion final del tornillo micrometrico.
6. La diferencia entre las posiciones final e inicial del tornillo micrometrico

es la distancia que ha desplazado el espejo movil. Si como vimos en la
introduccion teorica llamamos x a esa distancia y m al n umero de
anillos que han pasado por la marca de referencia, se puede medir la
longitud del laser a partir de la expresion:
2x
=
m
7. Tome valores de m cada diez anillos y mida la distancia x con el

tornillo micrometrico.
Figura 3.6: Patron de interferencia en anillos concentricos.


3. Interfero
8. Represente los valores de m frente a x y encuentre el valor de la

longitud de onda del laser a partir de la recta de mejor ajuste.
3.4. Medida del ndice de refracci

on del aire
en funci
on de la presi
on
3.4.1. Desarrollo te
orico
En el interferometro de Michelson el patron de interferencia depende de
la diferencia existente entre las fases de los dos haces que interfieren. Una
manera de variar esa diferencia de fase es producir un cambio en el medio que
atraviesa uno de los haces en un brazo del recorrido. Este metodo se puede
utilizar para medir el ndice de refraccion del aire.
Figura 3.7: Vistas del dispositivo experimental con la camara de aire y la

bomba de vaco.
Para una determinada frecuencia de luz, la longitud de onda vara de

acuerdo a la siguiente expresion:
0
=
n
donde 0 es la longitud de onda en el vaco y n es el ndice de refraccion
del medio por el que se propaga la luz. Para bajas presiones, el ndice de


3. Interfero
refraccion del aire depende linealmente de la presion P , de modo que vale 1

para presion nula (vaco) y aumenta con la presion. Por lo tanto podemos
expresar el ndice de refraccion del aire como:
n=mP +1
De esta forma al medir experimentalmente el valor de m se conocera el ndice
de refraccion del aire en funcion de la presion.
Para ello podemos interponer una camara de vaco de longitud d en el
camino del haz que va hacia el espejo movil, de modo que se pueda variar
y medir la presion del aire en su interior. Si denominamos Pi a la presion
inicial, tendremos:
2d
Ni =
i
donde Ni es el n umero de longitud de onda que caben dentro de la camara6
y i es la longitud de onda de esa luz cuando el aire esta a la presion Pi . Si
se vaca la camara hasta una presion Pf analogamente tendremos
2d
Nf =
f
con Nf el numero de longitudes de onda en el interior de la camara.
Su diferencia N = Ni Nf sera el n umero de repeticiones del patron de
interferencia que hemos observado mientras hemos vaciado la camara. Se
puede expresar N como:
2d(ni nf )
N=
0
3.4.2. M
etodo operativo
1. Identifique la camara y la bomba de vaco. Conectelas. Observe que la
bomba de vaco tiene una llave a la salida que permite introducir aire
en el sistema.
2. Interponga la camara de vaco en el haz que se dirige al espejo movil.
3. Fije una presion inicial Pi que puede ser la atmosferica y cuente el
n
umero de pasos del patron interferencial por la referencia mientras
hace el vaco hasta alcanzar otra presion Pf .
0
4. Calcule ni nf = N , para ello tenga en cuenta que 0 = 632.8 nm.
2d
Necesita medir d.
6
Se multiplica por dos porque el haz recorre la c
amara de vaco dos veces, en la ida y en la vuelta


3. Interfero
5. Repita este paso anterior para otras presiones tomando como Pi la

anterior Pf , hasta que llegue a la mnima presion que le permita la
bomba.
6. Represente estos valores de ni nf frente a Pi Pf y calcule el valor

de la pendiente m que relaciona el ndice de refraccion con la presion.
Procure que los valores de Pi Pf sean diferentes entre s para que la
grafica sea lo mas amplia posible.
3.5. El interfer
ometro de Fabry-Perot
3.5.1. Introducci
on te
orica
Este interferometro se fundamenta en la interferencia de un haz laser al
propagarse m ultiples veces a traves de una lamina de aire que se encuentra
entre dos laminas de vidrio paralelas P1 y P2 cuyo factor de reflexion interior
se ha aumentado al recubrirlo parcialmente con una pelcula de material de
alta reflectividad parcialmente transparente. Un esquema del interferometro
de Fabry-Perot se muestra en la figura siguiente:
Figura 3.8: Esquema del funcionamiento del interferometro de Fabry-Perot.
Este interferometro esta basado en las interferencias de ondas m

ultiples
generadas mediante dos laminas plano-paralelas iluminadas en incidencia
proxima a la normal.
De acuerdo con la figura anterior, a la intensidad I en el punto P del
plano focal imagen de una lente contribuiran cada uno de los rayos que salen


3. Interfero
de la lamina con el mismo angulo tras m

ultiples reflexiones. Sumando cada
una de estas contribuciones se obtiene:
t4
I = I0
(1 r 2 )2 + 4r 2 sen2
2
donde I0 es la intensidad total de la luz incidente, r y t son, respectivamente,

el coeficiente de reflexion y transmision de las laminas y es el desfase
introducido entre dos rayos transmitidos consecutivos debido a la diferencia
de camino optico (siendo = k , con k = 2
y es la longitud de onda
de la luz). En este caso se tiene que = 2 d cos y por tanto,
= 2 k d cos
siendo el angulo que forma con la normal a las laminas el rayo que incide
sobre ellas. As la intensidad en cada punto depende de la distancia d de
separacion entre placas y del angulo . Esto hace que la figura interferencial
tenga simetra cilndrica respecto del eje del sistema, produciendose anillos
concentricos.
Segun la expresion de la intensidad, se tendra un maximo principal de
interferencia, cuando:

sen2 = 0 = 2n
2
donde n es entero y representa el orden de interferencia. A partir de

aqu tenemos la ecuacion que determina el valor de los angulos que subtienden
los correspondientes anillos brillantes (maximos de interferencia) desde el
centro de la lente:
4 n
2n = 2kd cos = d cos = cos =
2d
Si el centro de la figura de interferencia (=0) es un maximo se verifica que:
2d = nm
Este nm es el orden mas alto correspondiente a la separacion d, puesto que

para el resto de los anillos cos < 1 y por tanto n < nm .


3. Interfero
3.5.2. M
etodo Operativo
Nuestro montaje experimental se puede esquematizar en la siguiente
figura:
Figura 3.9: Esquema experimental del interferometro de Fabry-Perot.
Se puede observar como de este modo, la luz procedente de una fuente

laser se hace pasar por una lente y posteriormente a traves de dos laminas
paralelas de modo que el rayo incidente da lugar a un haz de rayos paralelos
que se superpondran en el infinito dando lugar a un determinado patron
interferencial en forma de anillos concentricos, similar al del interferometro
de Michelson.
Evidentemente si movemos una de las laminas una distancia dm , el
anillo central pasara de luz a oscuridad, verificandose que el desfase que
existira entre los haces para repetir dos patrones interferenciales iguales
consecutivos (luz a luz u oscuridad a oscuridad) sera una longitud de onda
, luego lo que hay que mover el espejo movil para conseguir esto sera 2 , ya
que el rayo va y viene al reflejarse en el espejo movil.
1. Alinee el laser, como se ha indicado anteriormente.
2. Coloque el espejo fijo en la base del interferometro, tal y como se

muestra en la imagen y asegurelo con los tornillos grandes negros.
3. Monte la pantalla en uno de los soportes y coloquela en la base del

interferometro. En este punto debera ver en la pantalla una imagen
multiple del haz, procedente de las distintas reflexiones en los espejos.
4. Gire los tornillos x e y del espejo fijo hasta que vea un solo punto
brillante en la pantalla.


3. Interfero
Figura 3.10: Montaje experimental del interferometro de Fabry-Perot.
5. Monte la lente de 18 mm D.F. en un soporte y coloquela en la base del

interferometro como se indica en la figura. Vuelva a ajustar los tornillos
x e y del espejo fijo hasta que vea los anillos de interferencia centrados
en la zona luminosa.
Figura 3.11: Seccion esquematizada en planta del montaje experimental del

interferometro de Fabry-Perot.
6. Gire lentamente el tornillo en el sentido de las agujas del reloj hasta

que hayan pasado un n umero determinado de anillos por la marca de
referencia. Anote la posicion final del tornillo micrometrico.
7. La diferencia entre la posicion final e inicial del tornillo micrometrico es

la distancia que ha desplazado el espejo movil. Si como denominamos
dm a esta distancia y nm al n umero de anillos hasta el orden m que han


3. Interfero
pasado por la marca de referencia, se puede medir la longitud de onda

de la luz que emite el laser a traves de la ecuacion ya vista:
2 dm
=
nm
8. Repita el procedimiento las veces que considere necesario y haga un

tratamiento adecuado de los valores experimentales.
CAUTELAS
Trate el tornillo microm

etrico del interfer
ometro con sumo
cuidado, no lo fuerce.
No mire directamente la luz del l

aser, puede da
narle los ojos.
Apague el laser cuando no lo utilice y cuando termine.
Deje todo el material limpio, recogido y ordenado.

Bibliografa
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2007.
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Protocolos Practicas

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rdoba

Prof. Dr. Antonio Dengra Santa-Olalla

Campus Univ. de Rabanales

Este documento recoge de forma programada y secuenciada los Protocolos

2. Interferencia en laminas delgadas (Placa de mica) 11

3. Interferometros de Michelson y de Fabry-Perot 17

Figura 1.1: Imagenes con detalles del montaje experimental.

1.3. Breve desarrollo te

Figura 1.2: Esquema del experimento de interferencia en rendija.

y se producira el aumento o la disminucion de la amplitud (interferencia

siendo el angulo que mide la inclinacion de los rayos respecto a la direccion

Figura 1.3: Patrones de interferencia.

Esto es lo que realmente ocurre cuando solo existen los puntos S1

debido a la interferencia destructiva apareceran sobre la pantalla aproxima-

Figura 1.4: Efectos de la difraccion por una rendija.

En este otro caso, existe interferencia m ultiple e igualmente aparecen

donde ahora a es realmente la anchura de la rendija y n no puede tomar el

contenidos en S1 S2 se llama difraccion producida por una rendija. Observada

Figura 1.5: Patron de difraccion producido por una rendija.

Figura 1.6: Distribucion de intensidades a lo largo de un plano normal a la

Cuanto mayor sea D mejor se podra realizar la medida de y1 , y2 ,...yn .

1.3.2. Redes de difracci

Figura 1.7: Redes y rendijas de difraccion.

3. Mida la distancia D entre la red y la pantalla (empiece alrededor de 50

4. Mida la distancia del maximo central al primer maximo, y1 para n = 1.

5. Repita el apartado anterior para los distintos yn , con n=2,3,...

6. Modifique la distancia D y repita los apartados anteriores las veces que

1.4.2. Interferencia producida por dos focos puntuales.

2. Ilumine con el laser el par de rendijas y observe la interferencia,

3. Elija un orden de interferencia determinado, caracterizado por un valor

Figura 1.8: Patron de interferencia-difraccion producido por una rendija

4. Con ello puede calcular la separacion entre las dos rendijas, d.

5. Modifique la distancia D y repita el apartado anterior las veces que sea

6. Observe el diagrama de interferencia-difraccion debido a que el

NO MIRE DIRECTAMENTE LA LUZ DEL LASER, PUEDE

Cuide el laser al moverlo, es muy delicado.

Apague el laser cuando no lo utilice y cuando termine.

Deje todo el material recogido y limpio.

Medir el espesor de una l

Medir el ndice de refracci

Medir la longitud de onda de la luz que interfiere en una

2.3. Breve desarrollo te

Figura 2.1: Esquema de las m

refractado es, a su vez, parcialmente reflejado y refractado en la superficie

Figura 2.2: Detalle del montaje experimental.

modo, los sucesivos anillos de oscuridad tendran el valor m0 1, m0 2, . . . 2

Figura 2.3: Esquema de la disposicion geometrica del montaje experimental

3. Identifique los anillos. Observe que el centro de los mismos queda

Figura 2.4: Anillos de interferencia producidos por la lamina delgada de mica.

7. Disponga el filtro verde4 frente al portalamparas y repita los apartados

8. Para el caso del filtro azul5 tome los valores obtenidos de n y de d y

9. Compruebe todos los resultados con el otro filtro.

Tablas de valores de m frente a rm y .

Graficas de m frente a sen2 .

Comparacion de los valores medidos con los reales.

NO TOQUE LOS VIDRIOS DE LOS FILTROS

Mantenga seco el lugar de trabajo.6

Antes de comenzar a medir debe dejar que las lamparas espectrales

No toque la lampara espectral despues de usarla, puede quemarse.

Medir la longitud de onda de un haz de luz l

Medir el ndice de refracci

Figura 3.1: Detalle del montaje experimental con el laser y el interferometro.

Figura 3.2: Detalle esquematico del interferometro de Michelson.