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Este documento describe diferentes modos de operación del diodo Gunn, incluyendo el modo de acumulación de carga, el modo acumulación de carga espacial limitada, el modo de dominios estable, el modo suprimido, el modo de dominio extinguido y el modo de dominio demorado. Explica cómo la frecuencia de operación depende del tiempo de tránsito a través del dispositivo y cómo la potencia de salida y la impedancia disminuyen con el aumento de la frecuencia.
Este documento describe diferentes modos de operación del diodo Gunn, incluyendo el modo de acumulación de carga, el modo acumulación de carga espacial limitada, el modo de dominios estable, el modo suprimido, el modo de dominio extinguido y el modo de dominio demorado. Explica cómo la frecuencia de operación depende del tiempo de tránsito a través del dispositivo y cómo la potencia de salida y la impedancia disminuyen con el aumento de la frecuencia.
Este documento describe diferentes modos de operación del diodo Gunn, incluyendo el modo de acumulación de carga, el modo acumulación de carga espacial limitada, el modo de dominios estable, el modo suprimido, el modo de dominio extinguido y el modo de dominio demorado. Explica cómo la frecuencia de operación depende del tiempo de tránsito a través del dispositivo y cómo la potencia de salida y la impedancia disminuyen con el aumento de la frecuencia.
Cuando Ln0<10^12 cm ^-2 la inestabilidad de carga no llega a desarrollarse completamente en el tiempo de trnsito. Se produce una zona de acumulacin de electrones (electrones lentos del mnimo 2), lo que cambia la distribucin de campo en el interior del dispositivo. Una pequea fluctuacin en el ctodo genera un exceso local de electrones que va aumentando a medida que es arrastrado hacia el nodo (figura c). El campo en el dispositivo va cambiando, como consecuencia de la discontinuidad generada por la zona de acumulacin de electrones (figura b). Dado que la carga debe conservarse, la inestabilidad se desarrolla a partir de los electrones que entran por el ctodo y que se van acumulando. Los electrones se acumulan porque, al ser transferidos al mnimo 2, se ralentizan. La acumulacin de carga en el dispositivo hace disminuir la corriente en el circuito exterior (figura d). En el punto 6 la corriente vuelve a aumentar por la llegada de los electrones de la zona de acumulacin al nodo. La zona de acumulacin desaparece y el dispositivo vuelve al punto de trabajo 1, de manera que se puede iniciar una nueva inestabilidad. La frecuencia de trabajo estar, bsicamente, determinada por el tiempo de trnsito. Modo acumulacin de carga espacial limitada (LSA). - No damos tiempo a formar dominio (<varias veces R-) - Se deben eliminar los electrones cercanos al ctodo cuando la seal est bajo el umbral (>> R+) - electrones llegan al nodo a travs de muestra de conductividad negativa. Modo de dominios estable: Pulsos cortos de corriente, pequeo rendimiento.
Mayor rendimiento: en cavidad resonante de microondas
Modo suprimido (quenched): para trabajar a frecuencias mayores (<t) se
aniquila el dominio antes de llegar al nodo. Modos extinguido y de dominio demorado Considrese un dispositivo electrnico transferido colocado en una cavidad resonante de Q alto y polarizado en la regin de polaridad negativa. El voltaje V(t) a travs del dispositivo es la suma del voltaje de polarizacin Vb ms en valor instantneo del voltaje de RF V1 cos(Wot +). El voltaje total se puede escribir como: w 0 t + V ( t )=V b+ V 1 cos
Donde w0 es la frecuencia de resonancia de la cavidad,
correspondiente a un periodo T 0 =2/w 0 . Si V1 es comparable a
V b , el voltaje total V(t) puede fluctuar abajo del umbral durante partes del ciclo y dar lugar o bien a un colapso del dominio o a evitar la nucleacin de un nuevo dominio.
a) Modo de dominio extinguido TD < T0 < T t : Dado que T 0 es
mayor que T D , un dominio que nuclea en el ctodo cuando el
voltaje flucta arriba del valor del umbral tiene el tiempo suficiente para madurar. No obstante, como T0 es menor que T t , el voltaje
oscilar abajo de VT antes de que el dominio llegue al nodo.
VT es el voltaje de umbral correspondiente al campo ET de
umbral. Cuando el voltaje flucta abajo del voltaje Vs de sostn de
dominio (que es menor que V T ) el dominio se extinguir an antes
de alcanzar al nodo. Como se vio antes, Td es menor que TD y
consecuentemente Td es mucho menor que T 0 ; es decir, la
constante de tiempo de extincin es pequea comparado con el tiempo de oscilacin. En el modo extinguido de operacin el tiempo de vida del dominio es funcin de la polarizacin, de la fluctuacin de RF (y por tanto del Q del circuito) y de la relacin entre T0 y Tt .
b) Modo de dominio demorado TD < Tt < T0 : Cuando Tt es
menor que T0 un dominio puede alcanzar el nodo antes que el
voltaje caiga abajo que Vs . El dominio siguiente no nuclear antes
de que el voltaje exceda al valor del umbral. Por tanto, el resonador demora la formacin de los dominios y de este modo se denomina inhibido o demorado. En consecuencia, seleccionando un circuito resonante para tener un dominio extinguido o demorado, puede hacerse que el TEO opere tanto arriba como debajo de la frecuencia del tiempo de trnsito intrnseca. En los tres modos que se trataron la frecuencia de oscilacin est relacionada con el tiempo de trnsito y por tanto con la dimensin fsica (espesor del dispositivo). Puesto que el dispositivo opera en un valor fijo de campo electrnico, el voltaje a travs del dispositivo decrece linealmente en la medida en que aumenta la frecuencia del diseo. Adems, como la capacitancia aumenta al disminuir el espesor la impedancia del dispositivo tambin decrece con la frecuencia. En virtud de estas consideraciones, el producto de la 2 potencia de salida por la impedancia cae en la razn 1/ f . Esta es una caracterstica de todos los dispositivos de tiempo de trnsito. BIBLIOGRAFA [1] M. Golio "The RF and Microwave handbook" CRC Press 2001 [2]DISPOSITIVOS EMISORES DE MICROONDAS (DISPOSITIVOS GUNN), Universidad de Valencia, leccin 10 [3] Generacin de microondas con tubos de vaco-