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Unidad II
RESISTIVIDAD DEL
TERRENO
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Contenido
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Resumen
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DistriLuz
RESISTIVIDADES TPICAS
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Naturalezadelterreno resistividad
Ohmios-m
Terreno pantanoso Hasta 30
Limo 20 a 100
Humos 10 a 150
Turba Hmeda 5 a 100
Arcilla Plstica 50
Margas y arcillas compactas 100 a 200
Margas de jursico 30 a 40
Arena arcillosa 50 a 500
Arena silcea 200 a 3000
Suelo pedregoso cubierto de csped 300 a 500
Suelo pedregoso desnudo 1500 a 3000
Caliza blanda 100 a 300
Caliza compacta 1000 a 5000
Caliza agrietada 500 a 1000
Pizarra 50 a 300
Rocas de mica y cuarzo 800
Granito y gres procedentes de alteracin 1500 a 10000
Granito y gres muy alterados 100 a 600
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Influencia en el comportamiento
elctrico del suelo.
La tierra representa generalmente un
mal conductor (gran contenido de oxido
de silicio y xido de aluminio que son
altamente resistivos) pero gracias al
amplio volumen disponible, se puede
lograr a travs de ella los niveles
conductivos necesarios para su
utilizacin auxiliar.
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Tipodesuelooag Valortpicode
Los suelos son buenos, ua Resistividad
regulares o malos (-m)
conductores de la Aguademar 2
electricidad en funcin de su
naturaleza. El anlisis y Arcilla 40
conocimiento de esta
naturaleza es el primer paso Aguassubterrneas 50
para la instalacin adecuada
Arena 2000
del sistema de puesta a
tierra. Granito 25000
Hielo 100000
La humedad
La resistividad que presenta un terreno
esta en relacin directa a los porcentajes de
humedad contenida en l; es decir, depende de
su estado hidromtrico, al aumentar la
humedad disminuye la resistividad y al
disminuir la humedad aumenta la resistividad.
En todo caso siempre que se aade agua a un
terreno disminuye su resistividad respecto al
que tendra en seco.
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% Humedad
15% lsayas@softhome.net
DistriLuz
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DistriLuz
La Temperatura
Rho (Ohm -m)
hielo
agua
Temp. ( C )
-20 -10 4 10 50 90 100
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DistriLuz
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Concentracin De Sales
Rho (Ohm -m)
% de Sal
2%
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Infuencia de la compactacin
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% Humedad
W1
W2
W3
Compactacin
2%
Influencia De La
Estratificacin
10
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Influencia De La
Estratificacin
1 2
1
2
I I
1 2
1 2
I
I
DistriLuz
OTROS FACTORES
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DistriLuz
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DistriLuz
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MEDICIN DE LA
RESISTIVIDAD
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Un estrato superficial
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DistriLuz
Un estrato subyacente
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DistriLuz
SUPERFICIEDELSUELO
ESTRATO
SUPERFICIAL
TIERRA LIMOSA h1
O ARENOSA
CONGLOMERADO
ESTRATO
2 TIERRA FINA
PIEDRA MENUDA
SUBYACENTE Y GRUESA
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DistriLuz
Finalidad de la medicin de la
resistividad.
Obtener la resistividad de cada estrato
o capa.
Encontrar la profundidad de los estratos
o capa.
Ubicacin ptima de las instalaciones
de puesta a tierra.
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DistriLuz
En la Fig. se puede 1 1 2
observar el flujo de
2
I I
dispersin de la corriente h
en un terreno de dos
estratos en la que se
indica los espesores que 1 2
1
I
2
respectiva resistividad.
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Componentes del
instrumento
Fuente de potencia
Dispositivos para eliminar corrientes
electrolticas y de induccin.
Sistema de medida
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Fuente de potencia
Recomendable alterna o alterna pulsante,
capaz de vencer la resistencia propia del
circuito y del terreno, tensin entre 50 y 500
V. a una frecuencia diferente de 60 Hz.,
ejemplo 111Hz.
Debido a la probabilidad de electrlisis no es
recomendable fuente de tensin continua.
En el caso de instrumentos a batera deber
disponer de rectificador esttico DC/AC.
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DistriLuz
Sistema de medida
Bsicamente se conocen tres sistemas de medida:
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DistriLuz
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Ensayos tipos
Certificaciones de los siguientes ensayos tipos
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CONSIDERACIONES PARA LA
MEDICIN
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DistriLuz
Precauciones para la
medicin
Las mediciones deben efectuarse en pocas apropiadas en la sierra en estiaje
y en la costa en verano.
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DistriLuz
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Mtodos de medida de la
resistividad
Por el tipo de fuente:
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Mtodos de medicin de resistividad
Mtodo de Lee
Mtodo de Schlumberger-Palme
Mtodo de Frank Wenner (1915)
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DistriLuz
Recomendacin prctica
DistriLuz
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DistriLuz
2 V
I 1
1 r4
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DistriLuz
Configuracin de Wenner
Para esta
configuracin, los
cuatro electrodos
se colocan en
una lnea recta,
con igual
separacin y
profundidad de
penetracin en el
terreno.
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CPP
C 1=2 a R1
PCCP
CCPP 2=6 a R2
PPCC
CPCP 3=3 a R3
PCP-C
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I -I
V
a=20L a=20L a=20L
L
c1 p1 p2 c2
a 2 a R m
a: Separacin entre electrodos de exploracin.
L: Profundidad de enterramiento del electrodo de referencia.
a:Resistividad aparente.
R=V/A resistencia medida.
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Medicin de parmetros
DistriLuz
a 2 a R m
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DistriLuz
Configuracin de Schlumberger
Para esta configuracin los
cuatro electrodos se colocan tambin en
lnea recta, manteniendo la separacin
entre electrodos centrales o de
potencial (a) constante; mientras que
los electrodos exteriores varan su
separacin a partir de los electrodos
interiores, a distancias mltiplos (na) de I
la separacin base de los electrodos V
centrales (a). CPPC
La ecuacin fundamental para este caso
1122
naana
es:
asch = R.n(n+1) a
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DistriLuz
RECOMENDACIN
PRCTICA
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DistriLuz
DistriLuz
Parmetros de Diseo
Medida Indirecta.
Considerando idnticas restricciones de
espacio til, se puede aplicar la medida
de la resistencia de dispersin (R) de un
electrodo
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DistriLuz
de diseo en valor
ESTRATO SUAVE
equivalente. Esta 1m
PENETRACIONFACIL
alternativa muchas
veces no se posibilita
por la dificultad del ESTRATO DURO
PENETRACIONDIFICIL
clavado.
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DistriLuz
i = 1,10 Ri
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DistriLuz
Despliegue de medidas
indirectas
Procedimiento y Ejemplo
ab 295 305
300 - m
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Suelo homogneo
El valor de la resistividad aparente medida para cualquier separacin entre
los electrodos se va a mantener constante y coincide con el valor de la
resistividad del suelo.
1 a = Suelo homogneo
1
2
2 > 1
Punto de inflexin
<
3 2 1
2
1
a (m)
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DistriLuz
INTERPRETACIN DE RESULTADOS
a a
2 1
2 1 1 2
1 2
a a
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INTERPRETACIN DE RESULTADOS
Suelo estratificado de tres capas
En el modelo de tres capas, existen cuatro tipos posibles de combinaciones
donde se puede observar que las curvas correspondientes a este modelo
poseen puntos de inflexin. En general, una curva de n capas puede tener
2(n-1) tipos de combinaciones y (n 1) puntos de inflexin.
a a
1
1
1 2 3 1 2 3
a (b) a
(a)
a a
1 2 3
1 1 2 3
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(c) a
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DistriLuz
INTERPRETACIN MEDIANTE
CURVAS PATRN
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DistriLuz
INTERPRETACIN MEDIANTE
CURVAS PATRN
Consiste en comparar los grficos obtenidos en las
mediciones de campo con curvas patrn. En la prctica,
existen curvas patrn para las configuraciones de Wenner y
Schlumberger, siendo ms utilizadas las primeras, cuya
familia de curvas ha sido obtenida a partir de la ecuacin de
Tagg.
A :RESISTIVIDAD APARENTE, DETERMINADA
POR EL MTODO
DE W ENNER (OHMIOS METRO)
1 :RESISTIVIDAD DE LA PRIMERA CAPA
Ecuacin deTagg (OHMIOS METRO)
2 :RESISTIVIDAD DE LA SEGUNDA CAPA
(OHMIOS METRO)
n00 H :PROFUNDIDAD DE LA PRIMERA CAPA
a Kn Kn (METROS)
14 2 A :ESPACIAMIENTO ENTRE ELECTRODOS
1
2
n1 2nH 2nH USADO EN EL MTODO
1 4 de W enner (metros)
A A
2 1
K : Factor de reflexin K
2 1
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DistriLuz
DistriLuz
Ploteo de datos obtenidos
Grafico de campo
a(m) 1 2 4 8 12
a(m) 1 2 4 8 12
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Procedimiento:
1=3600 -m
h1=3,0 m
K= 2/ 1=1/12
2=3600/12=300-m
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DistriLuz
Curvas patrn
resistividad Vs.
distancia de
separacin
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DistriLuz
Resultados de
mediciones de
resistividad en
subestaciones y
torres de AT
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