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DETERMINACIN DE EXCENTRI CIDAD DE VARIAS


ORBITAS PARA UN TOMO
Johan Sebastin Acevedo Quiroga, Carlos Rodrigo Bernal Bernal, David Roberto Moreno Moreno
e-mail:jacevedoq1@ucentral.edu.co,cbernalb1@ucentral.edu.co,dmorenom6@ucentral.edu.co
Departamento Ingeniera Electrnica, Universidad Central
Bogot, Colombia
Resumen En este laboratorio se obtuvieron los parmetros cuestin tenido como base los indicies de Miller que
de red de la calcita, para ello fue necesario realizar corresponden a la estructura de cristal analizado en cuestin.
mediciones con un equipo especial del laboratorio de
optoelectrnica. En primer lugar la muestra fue expuesta a Una vez obtenidos dichos valores para los parmetros de red,
rayos x, se utiliz un contador Geiger-Muller que arroja un se hace una simulacin mediante el software de Matlab que
dato en CPM (conteo por minuto) dependiendo el ngulo en el nos permite analizar el comportamiento y la oscilacin de las
cual se est midiendo. Dicho ngulo se vari de -90 hasta 90 bandas de dicho material ante la exposicin al mismo de los
para tomar datos suficientes que permitieran obtener una rayos x con una longitud de onda especifica. Con ello se
grfica para determinar los parmetros de red de la estructura permite determinar propiedades que corresponden al material
cristalina de dicho material.
y en esencial su piezoelectricidad ante la deformacin del
mismo
ndice de Trminos Rayos X, optoelectrnica, cristal,
Geiger Muller, CPM, difraccin.
Por ltimo se hace un anlisis de error de los parmetros de
red obtenidos experimentalmente contra los suministrados por
Abstract In this lab itself obtained parameters Red
la literatura y se hace analizan las causas posibles de los
calcite, para This was necessary measurements with special
errores arrojados.
equipment Optoelectronics Laboratory. First, the sample was
exposed by x-rays, the UN Geiger-Mller counter yielding
Dato UN CPM (counts per minute) depending on the angle at
II. MARCO TERICO.
which it is being measured was used. This angle was varied
from -90 to 90 para Take sufficient data to enable a
graphical para Determine Network Parameters of the crystal III. MARCO TERICO
structure of the material.
Los rayos X comenzaron con experimentos hechos por el
Index Terms Crystal, Diffraction, X-ray,CPM, diffraction cientfico britnico William Crookes, que investig en el siglo
XIX los efectos de ciertos gases al darles energa. Los rayos X
fueron descubiertos por Rontgen. Estos se definen como una
I. INTRODUCCIN radiacin electromagntica de longitud de onda corta. El
intervalo de longitudes de onda de los rayos X va desde
aproximadamente 10-5 hasta alrededor de 100 ; sin
La tcnica de cristalogrfica consiste en hacer pasar un haz de
embargo, la espectroscopia de rayos X convencional abarca la
luz a travs del material a estudiar; En este caso particular
regin de aproximadamente 0.1 a 25.
corresponde a una muestra de calcita suministrada por el
Cuando una radiacin X interacciona con la materia produce
docente, posteriormente se realizada un barrido a diferentes
unos procesos. Existen varios sistemas de deteccin para rayos
ngulos de incidencia y simultneamente se hace la medicin
X: pelculas fotogrficas, dispositivos de ionizacin, cmaras
con un detector de radiacin ionizante llamado Geiger
CCD, etc.
Mller que arroja el dato obtenido segun la variacion de
ngulos de la incidencia del haz y con ello determinar las Difraccin de Rayos X: Las relaciones angulares
variables necesarias para el clculo de los parmetros de red, entre las caras de un cristal no quedan afectadas por la simetra
adicionalmente se busca determinar caractersticas propias del de traslacin ya que originan desplazamientos tan pequeos
material y condiciones presentes en el estudio como energa, que no pueden observarse morfolgicamente. Slo las tcnicas
iones, distancias entre otros. [1] de rayos X y difraccin electrnica permiten su deteccin.
La difraccin de rayos X se produce al bombardear un metal
A partir de los datos obtenidos por el dispositivo de medida con electrones de alta energa. Cuando los electrones penetran
con relacin a los ngulos de barrido que se realizan para la en el metal se desaceleran y emiten radiacin en un intervalo
incidencia del haz de luz sobre el cristal, se construye una de longitudes de onda, denominndose esta radiacin continua
grfica de CPM (conteos por minuto) contra los ngulos de freno rayo. Sobre esta aparecen superpuestos pocos agudos
barrido y de dicha grafica se toman los picos ms de alta intensidad. Estos pocos tienen origen en la interaccin
significativos para la adquisicin de los datos necesarios para de electrones incidentes con los electrones de las capas
realizar los posteriores clculos matemticos. Ms adelante internas de los tomos: una colisin expulsa un electrn y un
mediante la ley de Bragg y de Von Laue se determina los electrn de mayor energa desciende a la vacante, emitiendo el
parmetros de red correspondientes al material analizado en exceso de energa como un fotn de rayos X. [2]
2

Cuando un Cristal difracta rayos X, las ondas dispersadas n = numero entero


electromagnticas re emitidas interfieren entre si =longitud de onda de los rayos x
constructivamente slo en algunas direcciones, es decir, se d =distancia entre los planos de la red cristalina.
refuerzan anulndose en el resto. Los rayos 1 y 2 estarn en = Angulo entre los rayos incidentes y los planos de
fase y por tanto se producir difraccin cuando la distancia dispersin.
AB represente un nmero entero de longitud de onda, esto
cuando siendo un numero entero (0, 1, 2, 3n).
Se encuentra en la teora los parmetros de red
Para que la difraccin tenga lugar en las tres dimensiones de asociados al tomo de calcita y se tiene que para una
un cristal es necesario que se satisfagan las siguientes tres celda unitaria de la calcita sus parmetros de red
ecuaciones, conocidas como las ecuaciones de Lave: correspondientes son a = b = 4.99 y, c = 17.06 ,
= = 90 y = 120.[5][6]
Donde , y c son distancias reticulares en las tres dimensiones,
llamados tambin parmetros de red; son nmeros enteros y
llamados ndices de Miller; el nmero 1 representa el ngulo
Tomando como soluciones la forma de ondas vibracionales
incidente y la fila de tomos y el nmero 2 entre sta y el haz
viajeras ( ), ahora con diferentes amplitudes de
difractado en cada una de las dimensiones.
vibracin A y B en planos alternos.
Dosimetra: La dosimetra de radiacin es el clculo
Representando la coordenada x del tomo de acuerdo con su
de la dosis absorbida en tejidos y materia como resultado de la
posicin a lo largo de la red:
exposicin a la radiacin ionizante, tanto de manera directa
como indirecta. Es una subespecialidad cientfica, en el campo
de la fsica de la salud y la fsica mdica, la cual se enfoca en
el clculo de las dosis internas y externas de la radiacin = (1 )
ionizante. Casi desde el descubrimiento de los rayos-x y la
radioactividad, surgi la metrologa de la radiacin ionizante. +2 = 2
No poda ser de otro modo pues los estudios sobre la
naturaleza y propiedades de las radiaciones y los radionclidos +1 = ((+1)2)
que las emiten, requieren cuantificar y medir estas propiedades
y sobre todo sus efectos. [3] 1 = +1 2
En este momento no se puede saber si las frecuencias de
Ley de Bragg: Bragg se dio cuenta que los rayos X vibracin son iguales, aunque esto ocurre en este caso.
dispersados por todos los puntos de la red en un plano deban
estar en fase para que las ecuaciones de Lave se vieran
satisfechas y an ms, la dispersin a partir de sucesivos
planos deban estar as mismo en fase. Para una diferencia de Sustituyendo La ecuacin se obtiene:
fase igual a cero las leyes de la simple reflexin deben
mantenerse para un plano sencillo y la diferencia de camino
para reflexiones de planos sucesivos debe ser un nmero 2
= ( ((+1)) + ((1))
entero de longitudes de onda. [3] 2
Como se observa en la figura 2, un haz incidente se difracta 2( () ))
2
por dos planos sucesivos con espaciado entre planos.
2 = [ ((+1)) + ((1))

Bragg encontr que las trayectorias de difraccin de rayos X 2 () ]
2
en los cristales podan explicarse como si hubieran producido
por reflexin de rayos-x por planos, pero slo cuando la 2 = { +

ecuacin se cumple. [4] 2( )}

Un haz incidente se difracta por dos planos sucesivos con La solucin satisface la ecuacin de movimiento si la
espaciado entre planos . La diferencia de camino recorrido frecuencia est relacionada con la constante de propagacin
por los dos haces de planos sucesivos viene dada por la k por una correlacin de dispersin, ().
ecuacin:
ECUACIONES TEORICAS
+ = 2_ (())
Masa atmica de
Para que la difraccin sea mxima: = . . = .
= . = .
= 2
3

El valor de la masa de la red Diatmica se calcula como:



= (1)
+ III. DESARROLLO DE LA PRCTICA

Aplicando Para poder hacer una descripcin detallada del


= (6.75288 1023 9.96 1023 ) comportamiento de una estructura cristalina frente a la
=
9.96 1023 + 6.75288 1023 radiacin electromagntica, es necesario tener en cuenta que
los tomos forman enlaces de diferente tipo; inico, covalente,
= . polar y otros. Esta y otras caractersticas hacen posible la
organizacin de los tomos en una estructura cristalina o
La velocidad del sonido en el respectivo cristal est dada como: amorfa. Para poder determinar experimentalmente el tipo de
estructura de una configuracin atmica, se utiliza un equipo
de rayos X, un sistema lser o un sistema de espectroscopia
= (2) atmica. En el montaje propuesto para la presente prctica

experimental, los enlaces atmicos se simulan como un
despejando el coeficiente de elasticidad sistema masa resorte cuya frecuencia de oscilacin depende
de la clase de tomos enlazados en la red. En la figura 1, se
( ) muestra esquemticamente el montaje experimental asociado
= (3)
al comportamiento de una estructura cristalina bajo la accin
de una fuente de radiacin electromagntica (Rayos X).

En este caso la estructura tiene un coeficiente de elasticidad


mximo y mnimo y se calcularon tomando el rango de la
velocidad del sonido

12002 4 2 (4.0254 103 )


= ( = .
(5 105 )2

50002 4 2 (4.0254 103 )


= ( = .
(5 105 )2

Finalmente el rango que se obtiene para el coeficiente de


elasticidad
[916 15890] 10

El modelo simulado para la red del cristal de la calcita es :

Figura 2. Equipo de rayos X

Despus de tener todo el montaje listo se procedi a tomar


mediciones variando el ngulo del Geiger-Mller y este arrojo
Figura. 1 Grafica obtenida de la simulacin en Matlab para las unos datos que se observan en la siguiente tabla:
iteraciones de las bandas
4

Para el clculo de la distancia de red se utiliza la ley de Bragg


RELACION ENTRE GRADOS Y CPM que plantea que para la incidencia de un Rayo X a la
estructura se cumple con la ecuacin: = 2 sin
2 CPM CPM Dnde:
-90 280 28000 n es el nmero de los picos de absorcin en el diagrama de
-85 290 29000 refraccin de los rayos
es la longitud de onda del Rayo X. Dato tomado del equipo
-80 270 27000 de Rayos X.
-75 260 26000 es el ngulo de incidencia.
-70 280 28000
-65 320 32000 De esta manera obtenemos nuestros valores de d terico:
-60 400 40000
-55 500 50000
= 2
90 200 20000
85 200 20000
= (4)
80 160 16000 2
75 140 14000 Los resultados obtenidos se muestran la tabla de resultados
70 100 10000 que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
65 90 9000
60 80 8000
55 80 8000 La teora nos dice que para una estructura Rombodrica sus
50 90 9000 ndices de Miller se pueden tomar como (111). De acuerdo a
esto se hallaron los parmetros de red (a,b,c) utilizando la ley
45 160 16000 de De Von Laue definida como:
40 300 30000
35 400 40000
30 500 50000 =

Tabla 1. Relacin de grados Vs CPM de Calcita


=

CPM
=

60000 Los resultados obtenidos se muestran la tabla de resultados
que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
50000

40000

30000
Porcentajes de error:
20000

10000 Los resultados obtenidos se muestran la tabla de resultados


que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
0
-100 -50 0 50 100
ANGULO EN GRADOS (2)

Figura 6. Grfico de mximos y mnimos correspondiente a la


tabla 1
5

IV. ANALISIS DE RESULTADOS

Se comprob que se puede determinar la conformacin de una VI.REFERENCIAS


estructura atmica sobre un material cristalino a partir de la
difraccin de Rayos X y aplicaciones de la mecnica clsica 1. http://hps.org/publicinformation/ate/q4148.html
como las leyes de la elasticidad en resortes. 2. http://www.fcnym.unlp.edu.ar/catedras/fisica_taller/T
esisPetrucci/Tesis_Petrucci.pdf
Con ayuda de la simulacin en Matlab fue posible observar 3. https://es.wikipedia.org/wiki/Ley_de_Bragg
como oscilaban los tomos expuestos a una frecuencia; este 4. http://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/8250/4/T6ray
efecto provocado por la exposicin de rayos X, es decir, como osX.pdf
la red del carbono sufra una deformacin mecnica. 5. http://www.geociencias.unam.mx/~bole/eboletin/Tesi
sHaydar1005.pdf
Se pretende determinar la propiedad de piezoelectricidad del 6. http://www.asturnatura.com/mineral/calcita/1256.htm
material analizado, mediante la vibracin de sus bandas. l

V. CONCLUSIONES
El porcentaje de error ms bajo de acuerdo a los
parmetros de red tericos y prcticos que se obtuvo
fue del 14% , dicho error es debido a que se tom el
mismo parmetro de red terico para contrarrestar ls
mediciones experimentales, y no se tomaron los
valores reales correspondientes.
De acuerdo al comportamiento de la grfica de
difraccin de los Rayos X, a travs de la calcita
(CaCO3) y con aplicacin de las leyes de Bragg y
Von Laue, se determin que la estructura de la calcita
es ROMBOEDRICA.
Para un red diatmica sin presencia de campo
elctrico se puede determinar el coeficiente de
elasticidad que va permitir obtener una frecuencia de
oscilacin de la red
Con ayuda de simulacin en Matlab se observa a
determinados valores de frecuencia la oscilacin de
los tomos. Generando as el efecto por los rayos X,
es decir, una deformacin.
A travs de la simulacin de Matlab se puede
determinar la conductividad del material expuesto a
los r rayos X haciendo un anlisis del GAP que se
forma entre las bandas
Mediante el anlisis de la banda de conduccin y la
banda de valencia respectivas, es posible determinar
propiedades conductivas, resistivas y magnticas del
material expuesto
A travs de la simulacin de Matlab , se puede
analizar el comportamiento de vibracin de la celda
atmica cuando es expuesta a los rayos x y con ello
determinar propiedades especificas del material,
como por ejemplo su Piezoeletricidad
Se concluye que los materiales piezoelctricos
generan curvas de histresis, y dicha propiedad puede
ser usada en la implementacin de actuadores
elctricos o magnticos.
6

ANEXOS

CDIGO EN MATLAB PARA EL MUESTREO GRFICO DE RED DIATMICA CALCITA

clear all;
close all;
clc;
m1=(((1.66*10^(-24))*(60))); %Masa atmia de Ca
m2=(((1.66*10^(-24))*(40.68))); %Masa atmica CO3
a=(4.99*10^(-10)); %Parmetro de red Carbonato de Calcio
k=linspace(-(1/3)*pi/a,(1/3)*pi/a,20); %Vector nmero de onda

for c=(700:1000:5000) %Iteraciones constante de elasticidad

%Soluciones a la ecuacion de dispersin para una red diatmica unidimensional

W=((sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))+(sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-
(2*((c^2)/(m1*m2))*(1-cos(k*a))))))))*100;
r=(abs(sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))-((sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-
(2*((c^2)/(m1*m2))*(1-cos(k*a)))))))))*100;
p=abs(-((sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))+(sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-
(2*((c^2)/(m1*m2))*(1-cos(k*a)))))))))*100;
y=abs(-(abs(sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))-((sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-
(2*((c^2)/(m1*m2))*(1-cos(k*a))))))))))*100;
colormap(copper(64));
figure;
plot(k,y,'og',k,p,'xr',k,r,k,W);
title('RELACIN DE DISPERSIN RED DIATMICA 1D');ylabel('Frecuencia w');
end

Matlab donde se simula la red calculando la frecuencia de oscilacin de la red y se determina el valor de .

2
=


=
2

2
=

4(sin( ))2
2

REPRESENTACIN GRFICA POR ITERACIONES DE LAS BANDAS SUPERIOR E INFERIOR RED DIATOMICA
CALCITA
7

TABLA DE DATOS TOMADOS EN EL LABORATORIO Y RESULTADOS OBTENIDOS

RELACION ENTRE GRADOS Y CPM DISTANCIA


2 CPM CPM
d (-1.073)^(10)
-90 280 28000
-85 290 29000
d (-2.988x10)^(-10)
-80 270 27000
-75 260 26000
d ( 6.052x10)^(-10)
-70 280 28000
-65 320 32000
d (4.533x10)^(-10)
-60 400 40000
-55 500 50000
d (5.106x10)^(-10)
90 200 20000
85 200 20000 PARMETROS DE RED
80 160 16000 a (-1,4x10)^(-10)
75 140 14000 b (-3,368x10)^(-10)
70 100 10000 c (6,44x10)^(-10)
65 90 9000 d (5,713x10)^(-10)
60 80 8000 e (6,925X10)^(-10)
55 80 8000 PORCENTAJE DE ERROR
50 90 9000 E 72%
45 160 16000 E 32%
40 300 30000 E 14.6%
35 400 40000 E 38.4%
30 500 50000 E 29%

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