UNIVERSIDAD AUTNOMA DE BAJA CALIFORNIA

ESCUELA DE CIENCIAS DE LA INGENIERA Y TECNOLOGA (ECITEC)

CIENCIAS DE LOS MATERIALES

INVESTIGACIN DE MICROSCOPA

ALUMNO

ESPINOZA GARAYZAR CLAUDIA ITZEL

MATRCULA

1238255

GRUPO

556

LUNES 28 DE AGOSTO DEL 2017

MICROSCOPA PTICA.
La microscopia ptica es una tcnica empleada para ver de cerca una muestra con la
magnificacin de un lente con la luz visible. ste es el formulario tradicional de la microscopia,
que primero fue inventada antes de los 18th siglo y sigue siendo utilizada hasta hoy.

La microscopia ptica es de uso general en muchas reas de investigacin incluyendo la

microbiologa, microelectrnicas, nanophysics, la biotecnologa y la investigacin farmacutica.
Puede tambin ser til ver las muestras biolgicas para los diagnsticos mdicos, conocidas como
histopatologa.

La potencia de la magnificacin de un microscopio ptico compuesto depende del ocular y de los

lentes de objetivo. Es igual al producto de las potencias de estos lentes (por ejemplo, para un
lente ocular 10x y el lente de objetivo 100x usados junta, la magnificacin final es 1000x.)

Un microscopio ptico puede generar un microgrfo usando cmaras sensibles a la luz estndar.
La pelcula Fotogrfica fue utilizada tradicionalmente para capturar las imgenes. Los progresos
Tecnolgicos ahora han permitido a imgenes digitales ser tomados con el CMOS y las cmaras
del dispositivo (CCD) del carga-par de fuerzas para los microscopios pticos. Como consecuencia,
la imagen se puede proyectar sobre una pantalla de ordenador en tiempo real examinar una
muestra con estos microscopios digitales. Esto aumenta la conveniencia del uso mientras que los
oculares dejan de ser necesarios.

TIPOS DE MICROSCOPIOS UTILIZADOS

Hay muchos tipos de microscopios pticos. Pueden variar de un diseo muy bsico a una alta
complejidad que ofrezca ms de alta resolucin y contraste.

Algunos de los tipos de microscopios pticos son:

Microscopio Simple: un nico lente para magnificar la imagen de la muestra, similar a una
lupa.
Microscopio Compuesto: una serie de lentes para magnificar la imagen de la muestra a
un ms de alta resolucin, usada generalmente en la investigacin moderna.
Microscopio de Digitaces: puede tener lentes simples o compuestos, pero aplicaciones un
ordenador de visualizar la imagen sin la necesidad de un ocular de ver la muestra.
Microscopio Estreo: proporciona a una imagen estereoscpica, que es til para las
disecciones.
Microscopio de Comparacin: tiene en cuenta la vista simultnea de dos diversas
muestras, una en cada aro.
Microscopio Invertido: ve la muestra de debajo, que es til para examinar cultivos
celulares lquidos
MODELOS DE MICROSCOPIOS PTICOS

Microscopio LEICA, mod. SP5 II

Caractersticas:

Objetivos: 10x, 20x , 40x inmersin aceite, 63x inmersin aceite, 63x inmersin glicerol y 100x
inmersin aceite.
Oculares: 10x/20
Iluminacin transmitida (12V 100W).
Contraste de fases paran todos los objetivos y contraste de fases interferencial (DIC) para
todos los objetivos salvo el 10x.
Iluminacin para sistema de epiflorescencia EL6000 (lmpara de mercurio de larga vida) y
filtros para visualizar I3 (FITC), N2.1 (Rodamina) y A (DAPI).
Bancada lser que incluye los lseres:

Ar de 100 mW con lneas de emisin en 458, 476, 488, 496 y 514 nm.
DPSS 561 nm.
HeNe 2 mW 594nm.
HeNe 10 mW 633nm.
Diodo 50 mW 405 nm.

Platina galvanomtrica SperZ tipo H, con un rango de movimiento de 500 micras y paso de 3
nm.
Mdulo de excitacin con AOBS, gracias al cual se eliminan los filtros de excitacin.
 Mdulo confocal de scanner para cuatro canales, cada uno de ellos dotado con un
fotomultiplicador. Dispone de un sistema espectral de deteccin, totalmente modulable, con
un paso mnimo de 2 nm.
Tambin incluye un mdulo adicional para la luz transmitida que permite la digitalizacin de
imgenes en cualquiera de las modalidades de las que dispone el microscopio (campo claro,
polarizacin y DIC).
Todo el sistema est controlado por un programa informtico, Leica LAS AF que facilita la
obtencin y manejo de las imgenes capturadas. Incluye como mdulos adicionales anlisis
FRAP, FRAP XT, FRET y estudio de clulas in vivo con una cabina de marca Okolab.ul

MICROSCOPIO NIKON, MODELO ECLIPSE E 800

Caractersticas:

Objetivos: 2x, 4x, 10x (DIC), 20x (DIC), 40x (DIC), 60x (DIC) inmersin y 100x (DIC)
inmersin.
Oculares: 10x/25
Iluminacin transmitida (12V 100W).
Sistema de contraste interferencial Nomarski (DIC).
Iluminacin para sistema de epiflorescencia (lmpara de mercurio de alta presin,
100W).
Filtros para visualizar TRIC (EX 540/25; DM 565; BA 605/55), FITC (EX 465-495; DM 505;
BA 515-555), DAPI (EX 340-380; DM 400; BA 435-485)y UV-2 (EX 330-380; DM 400; BA
420).
 Cmara digital de alta resolucin, Nikon DXM1200, conectada al microscopio y a un
ordenador (PC) donde est instalado el programa ACT-1 diseado para la captacin,
almacenaje y tratamiento de fotografas.

CONSIDERACIONES ESPECIALES NECESARIAS PARA SU OPERACIN

Para utilizar un microscopio ptico eficazmente, es importante asegurarse de que el microscopio

est fijado correctamente.

El lente de objetivo se debe traer cerca de la muestra del estudio para permitir la luz dentro del
tubo del microscopio. Esto crea una imagen aumentada, invertida de la muestra, que se puede
ver a travs del ocular del microscopio.

Hay algunos casos cuando la microscopia ptica no est bien adaptada al a mano de la tarea
debido a las limitaciones de la tcnica. Por ejemplo, en las magnificaciones muy altas los discos
airosos pueden ser visibles, que son discos confusos rodeados por los anillos de difraccin, que
aparecen en lugar de objetos de la punta.
MICROSCOPA ELECTRNICA DE BARRIDO
El microscopio electrnico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es una
tcnica de microscopa electrnica capaz de producir imgenes de alta resolucin de la superficie
de una muestra utilizando las interacciones electrn-materia. Utiliza un haz de electrones en
lugar de un haz de luz para formar una imagen

Todo microscopio electrnico basa su funcionamiento en tres ejes fundamentales:

Fuente de electrones que ilumina la muestra.

Lentes electromagnticas que dirigen el haz de electrones haca la muestra de la manera

ms conveniente.
Sistema que capta los efectos de dicho haz al incidir sobre el espcimen y los visualiza.

TIPOS DE MICROSCOPIOS UTILIZADOS

Al entrar en ms detalles veremos que, segn a que tipo de microscopio nos refiramos, estos
principios se implementan tcnicamente de distintas maneras. La fuente de energa. En los
microscopios electrnicos considerados se utiliza un mismo caudal energtico: electrones. stos
pueden ser generados mediante tres tipos de fuente:

Filamento de tungsteno: el ms econmico, pero tambin el que produce un haz de

mayor tamao. Corta duracin.
Filamento de hexaboruro de lantano: mayor duracin y haz ms fino. Tambin es ms
caro y precisa un vaco mayor.
Emisor de efecto de campo: continuando la progresin, es ms caro y precisa an mayor
vaco, pero ofrece el haz ms fino.
MODELOS DE MICROSCOPIOS ELECTRNICOS DE BARRIDO

MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO JEOL JSM-840

Microscopio electrnico de barrido JEOL JSM-840, ampliado con un sistema de adquisicin digital
de imgenes, con las siguientes caractersticas:

Voltaje de aceleracin: desde 0,2 hasta 40kV.

Can de electrones: termoinico con filamento de W.
Corriente del haz: de 10-5 a 10-12 A.
Resolucin segn distancia de trabajo (WD):
a 8 mm: 4 nm.
a 39 mm: 10 nm.
Nivel de vaco en la columna: 10-4 Pa
Rango de aumentos: x10 hasta x300000
Aperturas de la lente objetivo: 0,05 mm, 0,07 mm, 0,11mm y 0,17 mm.
Movimientos de la muestra:
Direccin X - 50mm.
Direccin Y - 70 mm.
Direccin Z - 40 mm (8, 15, 25, 39 y 48 mm).
Inclinacin de -5 a 90.
Rotacin de 360 (sin fin).
Captacin digital de la seal analgica en 256 tonos de gris.
Tamao de la imagen: hasta 2048x1536
MICROSCOPIO DE BARRIDO JEOL JSM-6490LV

El JSM-6490LV es un microscopio electrnico de barrido verstil y de alta resolucin: de 3.0 nm

en el modo de alto vaco y 4.0 nm en el modo de bajo vaco. El modo de bajo vaco permite la
observacin y anlisis de muestras no conductivas, hmedas o no compatibles con el alto vaco.

El microscopio tiene le pueden ser acoplados cuatro detectores:

o Detector de electrones secundarios tipo E-T (Everhart-Thornley): la seal producida se

forma a partir de una delgada capa superficial de la muestra (cientos de nanmetros) y
con una energa inferior a 50 eV. Debido a la baja energa de estos electrones, en su
trayectoria hacia el exterior de la muestra van perdiendo energa por diferentes
interacciones, por tal razn, slo los que estn muy prximos a la superficie tienen cierta
probabilidad de salir del material y llegar al detector, dando una imagen en relieve o
tridimensional.
o Detector de electrones retrodispersados de estado slido multielementos: debido a que
la emisin de estos electrones es causada por choques de tipo elstico, con energa
equivalente a la de los electrones incidentes (mayor de 50eV), depende fuertemente del
nmero atmico (Z) de la muestra. Esto implica que dos zonas de la muestra con
composicin heterognea se manifiestan con distinta intensidad; aunque no haya
ninguna diferencia de topografa entre ellas. A mayor Z mayor intensidad. Las zonas con
menor Z se vern ms oscuras.
o Detector de espectroscopa por dispersin de energa de rayos X (EDS): Cuando el haz
de electrones incide sobre la superficie de la muestra, se produce la ionizacin (prdida
de electrones internos) de los tomos presentes. En este estado un electrn de una capa
ms externa salta a ocupar el hueco originado. Este salto produce una liberacin de
energa, equivalente a la diferencia entre las energas que tena cada electrn en su orbital
correspondiente. Esta energa de rayos X es nica para cada elemento. Al representar la
intensidad de esta radiacin electromagntica frente a su energa, se adquiere un
 espectro de rayos X, compuesto por una serie de picos, denominados lneas de intensidad
variable, que se conocen como rayos X caractersticos.
o Detector de electrones secundarios para observaciones en el modo de bajo vaco.

Otras caractersticas:

o La ptica electrnica permite magnificaciones desde 5X hasta 300.000X, facilitando la

bsqueda y observacin de las reas de inters.
o La nueva interface grfica ajustable para el usuario (GUI) tiene funciones automticas, la
navegacin por la plataforma es sencilla mediante joystick y mouse, permite el
almacenamiento de frmulas, se puede tener visualizacin de imagen activa mltiple y
combinacin de seales.
o El editor es sencillo y la base de datos de las imgenes es fcil de operar desde la
observacin hasta la creacin del informe.
o Se pueden introducir muestras de hasta 70 mm (altura mxima), ya que la cmara de
muestras es amplia.

CONSIDERACIONES ESPECIALES NECESARIAS PARA SU OPERACIN

Recubrimiento de muestras en bajo vaco

Con este mtodo se realizan dos tipos de recubrimientos: spputtering de oro para obtener las
mejores condiciones de imagen y, si se requiere microanlisis por rayor X, el recubrimiento por
hilo de carbono.

Recubrimiento de muestras en alto vaco

Sus aplicaciones van ms all de la necesidad de obtener una muestra conductora para el SEM.
Consigue recubrimientos de grano mucho ms fino y est preparado para realizar spputtering
con distintos metales. Tambin trabaja por el mtodo de evaporacin, con lo que aumenta el
rango de posibles elementos de recubrimiento. Utiliza electrodos de carbono para evaporarlo y
obtener films que recubren las rejillas destinadas al TEM.

Observacin de muestras criofijadas

El microscopio electrnico de barrido (SEM) puede dotarse de un sistema capaz de observar la

muestra a muy baja temperatura de forma que su preservacin estructural es mxima y la
capacidad de trabajo del microscopio no se afecta en absoluto, pues ya no tratamos con una
muestra hidratada sino congelada.

El proceso se inicia fuera del microscopio, enfriando la muestra a la mxima velocidad posible
mediante nitrgeno nieve. A continuacin ya pasa al sistema de criobservacin, donde se puede
fracturar, sublimar el hielo superficial y recubrir con oro o carbono para su observacin y/o
anlisis. La ventaja de este sistema es que se puede observar cualquier muestra biolgica o
hidratada con una preparacin mnima y rpida con una buena preservacin estructural.
MICROSCOPA DE TRANSMISIN ELECTRNICA
Los microscopios de transmisin tienen una capacidad de resolucin de hasta 0.23 nanmetros
entre puntos y 0.14 nanmetros entre lneas, lo que permite aplicarlo en mltiples campos de
investigacin: biologa vegetal, nuevos materiales, medicina, farmacologa, arqueologa, control
de calidad, investigacin forense, catlisis, combustibles fsiles, energa solar, biodegradacin de
materiales, etc. Realizamos caracterizacin de materiales avanzados en el campo de la
nanociencia y la nanotecnologa (nanofibras, nanotubos, partculas core-shell, capas delgadas,
materiales nanoestructurados, etc). En el terreno mdico y biolgico se estudian y analizan
tejidos animales y vegetales de todo tipo (procedentes de enfermedades degenerativas, con
tratamientos regenerativos, biomodificacin de especies, inmunolocalizacin, etc).

MODELOS DE MICROSCOPIO DE TRANSMISIN ELECTRNICA

PHILIPS CM-200

Caractersticas:

Filamento de hexaboruro de lantano

Voltaje mximo de aceleracin: 200 kV
Mxima resolucin punto a punto: 0.27 nm
Modos TEM/STEM
Sistema EDS
Sistema PEELS 766
Sistema de adquisicin de imgenes CCD
 Portamuestras de calentamiento
Anlisis de imagen con resolucin de 0.25nm (2.5 x 10-10)
Anlisis de imagen en el modo STEM (microscopa electrnica de transmisin modo
barrido)
Anlisi elemental por Espectroscopa de Discriminacin de energa de Rayos X (EDS)
Anlisi electrnica por prdida de energa EELS (Composicin, Estados de oxidacin y
Propiedades pticas)
Difraccin de electrones por rea selecta, haz convergente y micro-difraccin

Portamuestras y especificaciones de la muestra

(CompuStage Specimen Holder)

Single Tilt PW 6596/05

Low Background Double Tilt PW 6595/15
Heating Holder PW 6592/05 with Automatic Temperature Control Unit
Reflection Diffraction Holder PW 6593/05

FEI TECNAI T20

Este es un TEM / STEM de 200 kV con un filamento LaB6. El microscopio tambin se puede utilizar
a tensiones de aceleracin ms bajas, hasta 80 kV. Est equipado con un detector de STEM anular
de ngulo oscuro de alto ngulo, un sistema EDS y un software para realizar tomografa en modo
TEM y STEM. Tambin estn disponibles soportes para experimentos dinmicos in situ STM y
AFM de Nanofactory Instruments.
Tensin de servicio: 80, 120 y 200 kV
Pistola: LaB6
Equipado con:
- detector HAADF-STEM
- Cmara Orius CCD
- Sistema de rayos X EDAX
CONSIDERACIONES ESPECIALES NECESARIAS PARA SU OPERACIN

La manipulacin de los electrones se consigue mediante la combinacin de dos efectos fsicos. La

interaccin de los electrones con un campo magntico hace que estos se muevan de acuerdo a
la frmula vectorial F= (q.v) x B (siendo v y B, el vector velocidad del electro, B el vector campo
magntico y "x" el producto vectorial). Este efecto permite que los electrones emitidos puedan
ser manipulados por medio de electroimanes. Esta tcnica permite la formacin de una lente
magntica de distancia focal variable, dependiendo de la distribucin del flujo magntico.
Adems un campo elctrico puede deflectar la trayectoria de los electrones en un ngulo fijo.
MICROSCOPA DE FUERZA ATMICA
El Microscopio de Fuerza Atmica (MFA) es un instrumento importante para la elucidacin de la
microestructura de materiales tanto biolgicos como no-biolgicos. Basado en la interaccin
local entre una punta muy fina (aproximadamente 2 a 50 nm de radio) que se localiza en la parte
final de un cantilver y la superficie de una muestra, es capz de generar imgenes
tridimensionales de superficies con alta resolucin espacial en el orden de los nanmetros.

Las imgenes que se obtiene con el MFA se generan a travs del barrido de la punta sobre la
superficie. La parte dorsal del cantilver esta cubierta por un material reflector sobre el cual
incide un rayo laser. El reflejo del laser sobre el cantilver es captado por un foto detector.
Conforme se realiza el movimiento de barrido de la punta sobre la superficie, el cantilver sufre
deflexiones verticales que dependen de las caractersticas de la muestra. Las deflexiones del
cantilver, promueven deflexiones en el ngulo de incidencia del rayo laser las cuales son
captadas por el foto detector. Un sistema electrnico usa esta informacin para generar una
micrografa digital de la superficie de la muestra.

Los principales modos de operacin del MFA son: Modo Contacto, Modo Contacto intermitente
(Tapping) y No-Contacto que se combinan para obtener imgenes de la topografa de la superficie
de la muestra. La eleccin de los diferentes modos de operacin y de la punta dependen del tipo
de muestra que se analiza. El MFA tambin determina las propiedades mecnicas de los
materiales como son la elasticidad, las fuerzas de adhesin, las fuerzas elctricas y fuerzas
magnticas
MODELOS DE MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA

VEECO DIMENSION 3000 ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Especificaciones tcnicas:

Dos escneres que operan en modo contacto y no-contacto (tapping):

a) Tipo trpode con barrido de 100x100 m (x,y) y 8 m (z) con una resolucin
lateral sobre 1.5 nm y una resolucin vertical menor de 0.15 nm.
b) Tipo tubo con barrido de 2x2 m (x,y) y 0.8 m (z) con resolucin lateral sobre
0.03 nm y una resolucin vertical sobre 0.012 nm.

Tamao de muestra < 50x50x15 mm si se utiliza la base de traslacin (movilidad 10x10

mm).
Puntas de fibra ptica recubiertas de aluminio Acutune de 50 a 80 nm de apertura
ptica operadas en modo shear force mediante piezo escner de tipo tubo (30 x 30 x 5
m). En el anlisis topogrfico puede alcanzar una resolucin lateral sobre 0.5 nm y una
resolucin vertical sobre 0.08 nm.
Porta muestras 50 x 50 x 3 mm.
Lnea de excitacin de 488 nm de lser de Ar inico.
Fotomultiplicador con una respuesta espectral entre 185 y 900 nm y alta sensibilidad.
BIOSCOPE CATALYST (BRUKER INSTRUMENTS, USA)

Caractersticas
Microscopios pticos invertidos
Leica Microsystems DMI 3000, 4000, 6000; Zeiss Axio Observador A1, D1, Z1 (tambin
Axiovert 100, 135, 200); Nikon Eclipse Ti-E / U / S (tambin TE2000-E / U / S); Olympus
IX51, IX71, IX81 (tambin IX70); (Tambin admite operaciones independientes)
Condensadores de Luz Transmitidos
Leica S28 (0,55 NA, 28 mm WD); Zeiss LD (0,55 NA, 26 mm WD); Nikon LWD (0,52 NA, 30
mm WD); Olympus IX2-MLWCD (0.50 NA, 45mm WD)
Microscopios confocales para escaneado lser Compatible con la mayora de los modelos
basados en los modelos de microscopio de luz invertida listados arriba
Soporte mejorado para las cmaras Andor iXonEM, Hamamatsu ORCA y Photometrics
CoolSNAP permite la adquisicin directa de imgenes a travs del software NanoScope
Controlador AFM NanoScope V
Rango de exploracin X-Y 150m, funcionamiento en bucle abierto o en bucle cerrado
Z Rango de exploracin 20m, funcionamiento en bucle abierto o en bucle cerrado
Deteccin de deflexin Diodo sper luminiscente IR (SLD), = 850nm
Ruido de altura
<0,1 nm de RMS (aire); <0.2nm RMS (fluido) (tpico con aislamiento de vibracin
apropiado)
Fuerza de ruido Medidas de fuerza de calidad PicoForce trmicamente limitadas, <10pN
RMS para cantilever con k = 20pN / nm
Etapa de la muestra XY
Etapa motorizada con rango de 10x10mm; Incluye abrazaderas magnticas de la muestra
para 1x3in. Diapositivas, cubreobjetos de 25 mm, platos de petri plsticos de 35 y 60 mm
y placas de petri de fondo de vidrio de 50 mm
MIRO Software
Permite la importacin y registro en tiempo real de imgenes pticas y AFM; Las imgenes
pticas se pueden utilizar para guiar imgenes AFM o mediciones de fuerza; Las funciones
offline permiten la superposicin de imgenes, el ajuste de los colores y las opacidades y
las opciones flexibles de exportacin de datos (incluidas con las configuraciones Catalyst
Premium)
 Perfusin de placas de Petri para placas de Petri de 50mm de fondo de vidrio; (Incluido
con la configuracin Catalyst Premium); Clula de perfusin de microvolumen (<60L de
volumen celular), (incluida con todas las configuraciones Catalyst); Incubadora de etapas
de perfusin para la investigacin de clulas vivas de larga duracin (opcional con todas
las configuraciones Catalyst)
Calefaccin de la muestra
Permite el funcionamiento hasta 40 C en lquido (incluido con las configuraciones
Catalyst Premium); Fisiolgicas rango de temperatura de imgenes (hasta 40 C)
ptica de visin superior
Disponible tanto en una configuracin autnoma como en una configuracin que permite
su uso mientras el AFM permanezca montado en el microscopio invertido
Paquete de Nanomecnica
PeakForce QNM, Cartografa cuantitativa de fuerza-volumen; Curvas de fuerza nica; Y
completo conjunto de herramientas de anlisis de curva de fuerza (PeakForce QNM
incluido con las configuraciones Catalyst Premium)
Aislamiento de Vibraciones
Potencia 1800W, monofsico; 100, 120 240 V; 50 o 60Hz, circuito dedicado

CONSIDERACIONES ESPECIALES NECESARIAS PARA SU OPERACIN

Algunas superficies parecen demasiado lisas al STM, la altura aparente o corrugacin es

de 1/100 a 1/10 dimetros atmicos.
Entonces, para resolver tomos individuales la distancia entre punta y muestra debe
mantenerse constante a menos de 1/100 de dimetro atmico o hasta 0.002 nm., por ello
el STM debe aislarse de las vibraciones.
Debe tomarse en cuenta que el resultado es una visualizacin que permite conocer
caractersticas de la muestra.
No es una fotografa de los tomos en la superficie. Los tomos parecen tener superficies
slidas en las imgenes de STM, pero en realidad no las tienen.
Sabemos que el ncleo de un tomo est rodeado de electrones en constante
movimiento. Lo que parece una superficie slida es en realidad una imagen de un
conjunto de electrones.
Las imgenes tambin dependen de ciertos mecanismos de interaccin punta-muestra
que no se entienden bien hasta la fecha.
Aun cuando no necesita alto vaco para su operacin, es deseable para eliminar
contaminacin y adems una cmara de vaco asla de vibraciones externas.
REFRENCIAS

http://mcff.mtu.edu/acmal/electronmicroscopy/AFM_Overview.htm

http://www.metrixlab.mx/no-cat/dime-que-observas-y-te-dire-que-microscopio-usas/

http://www.fempatrimoni.cat/esp/tecnicas/MO-es.htm

https://www.news-medical.net/life-sciences/What-is-Optical-Microscopy-(Spanish).aspx

https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_de_fuerza_at%C3%B3mica

http://www.iibce.edu.uy/microscopiofuerzaatomica.htm