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%C3%B3nica-No-dejes-de-ver-esta-gu%C3%ADa

Un estudio completo de la siguiente gua te ayudar a ser un maestro en las


siguientes reas:

Testeo de diodos,SCRS Y Triacs


Testeo de BJTs, JFET y MOSTETS

Amplificadores operacionales

Cmo usar un multmetro para testear componentes

Bueno antes de meternos al lo te quiero hacer saber una regla de oro que me
ha llevado al xito en mis reparaciones. "LOS CIRCUITOS DE EJEMPLO" Todo
parte de pensar de que esta tarjeta ha sido diseada por uno o un equipo de
ingenieros para llevar a cabo X tipo de funciones en la mquina. Dicho esto,
sabrs que los diseadores al igual que los tcnicos reparadores utilizan las
hojas de datos "Datasheet" de los componentes para saber si estos les van a
servir en el procesado de seales que ellos buscan, en esa misma bsqueda
es donde ellos tambin se valen y se apoyan en los circuitos de ejemplo
expresados en los datasheet.

Estos mismos circuitos nos pueden servir a nosotros cuando no tenemos


esquemas ni informacin sobre la tarjeta, que lamentablemente es el 97% de
los casos. Siempre acabamos lidiando con la tpica situacin de una tarjeta con
una nota atada con un cordn que pone "no funciona".

Esto me ha servido mucho, particularmente para detectar todos aquellos


componentes discretos de alrededor de transistores, opto acopladores,
amplificadores operacionales etc.

Si an, no eres muy experto y vas a ojear la siguiente gua de como testear, mi
consejo es que intentes entender bien los circuitos que testees, comprende lo
que estas midiendo, haz pequeas reingenieras inversas, te llevar tiempo la
primera vez, pero las dems, para m ha sido como "montar en bici", con suerte
casi todo es repetitivo o los siguientes casos los puedes interpretar mucho ms
rpido.

Testeando diodos:
El diodo es un dispositivo semiconductor, el cual conduce corriente tan solo en
una direccin. En otras palabras, el diodo muestra una muy baja resistencia
cuando es polarizado directamente (A-K) y una resistencia muy alta cuando es
polarizado inversamente (K-A). Como ya sabemos, un hmetro aplica un
voltaje conocido desde su fuente interna (Bateras) para medir resistencia.
Tericamente este voltaje puede alcanzar entre 1.5 y 3 V. El diodo requiere un
voltaje de 0.7v mnimo para ser polarizado. Por lo tanto, si el cable positivo de
hmetro est conectado al nodo (A) y el negativo al Ctodo (K) el diodo ser
directamente polarizado. En este caso el hmetro leer una resistencia muy
baja. Si le damos la vuelta a las sondas, llevando el negativo al nodo (A) y el
positivo a ctodo (K) el diodo es inversamente polarizado, entonces el hmetro
deber medir una resistencia muy alta.

Por lo que cualquier hmetro puede ser utilizado para testear un diodo.

La mayora de los multmetros digitales DDM tiene un modo de prueba de


diodo, que est marcada en el selector normalmente con smbolo pequeo
caracterstico de un diodo. Cuando el diode test-mode es seleccionado, este
proporciona suficiente voltaje interno al test del diodo en ambas direcciones. La
sonda positiva del DMM (Color Rojo) conectada al nodo (A) y la sonda
negativa (Color negro) conectada al ctodo (K).

Si el diodo est en buenas condiciones el multmetro deber mostrar un valor


de entre 0.5 y 0.9 v (tpicamente 0.7v).

Una vez revisado este valor, le damos la vuelta a las sondas, y en este caso el
diodo aparecer como un circuito abierto en el multmetro.

Un diodo defectuoso aparece en ambas direcciones ya sea como un


cortocircuito o un circuito abierto. En el caso del circuito abierto, el fallo ms
comn, ya que este suele ser causado por un dao en la unin PN del
componente debido a un sobrecalentamiento, estos diodos presentan una
impedancia muy alta tanto si es polarizado directamente como inversamente
polarizado. Por otro lado, en el caso de corto circuito, el multmetro leer 0v en
ambas direcciones. A veces, un diodo no presenta un corto circuito complejo
(0v), por lo que aqu se comportar como una resistencia, en este caso el
multmetro medir la misma resistencia en ambos sentidos.

Como mencion, anteriormente si diode test-mode no est disponible en


nuestro multmetro podemos usar el hmetro, midiendo impedancia en ambos
sentidos.

Ponemos nuestro multmetros en Ohm. Cuando polarizo el diodo directamente


el multmetro leer de unos pocos cientos a unos miles ohmios. La resistencia
de un diodo normalmente no excede los 100 ohm, pero el voltaje interno del
muchos multmetros es relativamente bajo en el rango de ohm y no es
suficiente para polarizar completamente la unin PN. Por esta razn el valor
que muestra es ms alto. Cuando el diodo es polarizado inversamente, el
multmetro suele indicar fuera de rango OL porque la resistencia del diodo en
este caso es muy alta y no puede ser medida por el multmetro. Lo valores de
medida de resistencia son relevantes, lo que es importante, es asegurarse de
que hay una diferencia grande en la lecturas cuando el diodo es directamente
polarizado e inversamente polarizado. De hecho esto es lo ms importante a
destacar ya que este indica que un diodo esta funcionado propiamente.

Testeando SRC
El SCR es un diodo con una puerta de activacin adicional. Los SRC pueden
ser conducidos tan solo si estn polarizados directamente y se les aplica un
pulso a la Gate o puerta de activacin. Por esto, el SRC puede ser testeado
de una manera similar a la del diodo, mediante el uso de nuestro multmetro en
Diode test-mode o con un hmetro.

La sonda positiva se conecta al nodo y la negativa al ctodo de nuestro SRC.


El multmetro deber mostrar una resistencia muy alta. Hacemos un puente o
jumper para activar nuestro SCR mediante el la puerta Gate. Sin
desconectar las sondas, tan solo puenteamos entre la sonda positiva y la
puerta, entonces el multmetro deber mostrar un gran descenso de la
resistencia.

Cuando el puente entre nodo y puerta es desconectado el SRC tal vez siga
conduciendo o tal vez no.

Eso depende de las propiedades de ambos, tanto las del SRC como las del
multmetro. Si la corriente de retencin del SRC es pequea, el hmetro podra
ser capaz de suministrar suficiente corriente como para mantenerlo encendido.
Sin embargo, si la corriente de retencin del SRC es alta, este se apagar tras
la desconexin del puente.

Algunos SRC de alta potencia pueden que tengan una resistencia interna
conectada entre el ctodo y la puerta, para prevenir que el SRC se active
debido a pequeas interferencias que puedan surgir. Un tcnico de
mantenimiento que no es consciente de la existencia de esta resistencia puede
llegar a diagnosticar errneamente como siendo un SRC con fugas entre
ctodo y puerta. El valor de esta resistencia se puede medir con un hmetro
durante la prueba.

Testenando TRIACs:
El Triac es bsicamente un par SRC conectados en paralelo y en direccin
opuesta, por lo que el proceso de testeo es esencialmente el mismo que el del
SRC. La sonda positiva es conectada al MT2 y la negativa a MT1. Cuando la
puerta est abierta el hmetro debe indicar una resistencia infinita. Entonces de
manera similar al testeo del SRC, puenteamos entre nodo y puerta
observando as que se cumpla un gran descenso de la resistencia medida.
Esto nos indica que al menos uno de los SRC funciona.

Ahora le damos al vuelta a las sonda con respecto a nodo y ctodo. De


nuevo si la puerta est abierta, el multmetro deber displayar resistencia
infinita o fuera de rango. Puenteando desde MT2 con la puerta deberemos ver
como la resistencia medida desciende generosamente, lo que nos est
indicando un correcto funcionamiento del segundo par de SRC, fcil, sencillo y
para toda la familia.

Testeando transistores BJT


Los BJT son dispositivos que consisten en tres capas de material
semiconductor y que pueden ser NPN o PNP. Por lo tanto cada transistor
puede ser representado como una combinacin de dos diodos. El equivalente
de un transistor NPN aparecer con referencia a la base como los ctodos de
ambos diodos conectados. Si el transistor es un PNP, el equivalente ser con
respecto a la base de ambos diodos conectados por los nodos. En ambos
ejemplos los dos terminales sobrantes de los diodos representaran el colector
y emisor. Ambas uniones PN del transistor se testean por separado como si
fueran dos diodos independientes. Si ambos diodos no presentan falla
entonces el transistor funciona correctamente.

La funcin Diode test-mode de nuestro multmetro puede ser utilizada para


testear transistores. Por ej, supongamos que tenemos un transistor tipo PNP
para testear. La sonda negativa la conectamos a la base del transistor y la
sonda positiva al emisor y luego al colector. De esta manera las uniones PN
sern directamente polarizadas.

El multmetro deber leer entre 0.5v y 0.9 en ambos casos. Cuando la sonda
positiva es conectada a la base del transistor en vede la negra y repetimos el
proceso, los diodos sern inversamente polarizados y el multmetro deber leer
resistencia muy alta en ambos casos. El procedimiento para testear un
transistor NPN es idntico, pero empezando por testear los diodos con la sonda
positiva en la base.

Si el multmetro no tiene diode test-mode el transistor puede testearse con el


hmetro. La ejecucin es similar a la descrita previamente. Pero es importante
enfatizar de nuevo, que la lectura de unos pocos cientos a unos pocos miles de
ohmios de la polarizacin directa no necesariamente indica un transistor con
falla. Es ms bien una seal de que la fuente de alimentacin de nuestro
multmetro no es suficiente como para polarizar directamente la unin PN. La
indicacin de fuera de rango para la polarizacin inversa del mismo transistor
indica claramente que el dispositivo esta funcionando correctamente. Lo
importante aqu es la diferencia entre los valores medidos y no su valor
numrico como tal.

Qu puede pasar con un transistor en falla?

Un transistor con falla presentar en las uniones PN aproximadamente la


misma resistencia en ambas direcciones. De la misma manera que los diodos,
la uniones PN de un transistor fallado mostrarn una resistencia muy alta en
ambas direcciones (Un circuito abierto interno), o cero resistencia en ambas
direcciones (corto circuito interno). Algunas veces una unin PN daada
muestra una ligera resistencia, que es igual en ambos sentidos. Por ejemplo. El
multmetro mide en ambas direcciones 1.2v en vez de el correcto 0.7v. En este
caso el transistor es defectuoso y tiene que ser reemplazado.

La mayora de multmetros son capaces de medir la ganancia en corriente de


los transistores bDC. Los tres terminales del transistor son conectados a un
socket especial marcado como E, B y C respectivamente. Entonces un valor
conocido IB es aplicado al transistor y el IC respectiva es medida. Como ya
sabes, el ratio de IC/IB es igual a bDC. A pesar de que este es un mtodo muy
rpido y conveniente para comprobar un transistor, uno debe ser consciente de
que algunos multmetros miden el valor BDC con una precisin muy baja. Las
especificaciones del multmetro han de ser comprobadas antes de confiar en el
valor medido de la ganancia de corriente. Algunos multmetros tienen la
caracterstica til de chequear la BDC dentro del circuito, aqu no hay
necesidad de desconectar el transistor bajo sospecha del resto del circuito y se
puede comprobar directamente en la PCB.

Cuidado!! En ocasiones el transistor como tal no est daado, sino que el fallo
puede ser debido a que su circuitera externa no est operando correctamente.
Por ejemplo, una soldadora fra en la base del transistor que asla el contacto
de la base del resto del circuito, por lo que la tensin de polarizacin del
transistor es de 0V, que har que el transistor este en corte. Al comprobar un
transistor como este desde el lado de los componentes de la PCB, puede
parecer estar funcionando correctamente.

Sin embargo, no hay seal a la salida.

Consejo: Haz los clculos en papel fijndote en circuito tpico y haciendo una
pequea reingeniera inversa de ese transistor y los componentes de alrededor.
Una vez puestos lo nmeros sobre el papel, deberas medir los mismos en el
circuito. De esta manera conseguirs comprender bien que estas midiendo y
podrs determinar un anlisis ms lgico de las posibles causas de la falla. El
tema de investigar las causas de la falla es tan importante como el proceso de
bsqueda de fallos en s, aunque ya estemos tirando cohetes al descubrir los
componentes fallados, analizar las posibles causas nos pueden conducir a ms
fallas y en el mejor de los casos a reconocer sntomas similares en el futuro.
Hablar ms a fondo de esto en el articulo de estragetia de "Troubleshooting
PCB" estrategia de solucion de problemas.

Testeando amplificadores operacionales:


Los amplificadores operacionales son complejos y sofisticados dispositivos que
estn sujetos a muchos fallos internos mientras se encuentran funcionando. Sin
embargo, un amplificador operacional como tal no puede ser testeado.

Si hubiera algn problema interno, no es posible detectarlo y repararlo.

Por lo tanto si el amplificador no funciona la nica opcin es reemplazarlo.

Por lo general hay tan solo unos pocos componentes externos a los
amplificadores operaciones. Un circuito tpico consiste en una resistencia de
entrada, una resistencia de feedback y un potencimetro para la compensacin
del voltaje offset.

Si el circuito funciona mal, los componentes de alrededor son los que tienen
que ser testeados primero. Puede haber soldaduras fras, o componentes
quemados o fuera de rango. Si no es ninguna de las anteriores, tenemos que
chequear los contactos del mismo amplificador operacional. Es posible que
alguno de ellos este daado. Finalmente, si todo lo dems parece estar en
buen funcionamiento, pero el circuito sigue sin funcionar, podemos asumir que
el amplificador operacional: Esta daado. Es este caso el amplificador es
reemplazado tal y como reemplazaras una resistencia, un transistor o
cualquier otro componente. Algunos fallo tpicos de amplificadores
operacionales:

Voltaje de alimentacin: Esta es una de las primeras cosas que se


deben ser comprobadas (como en el caso de testea cualquier otro
circuito). Un correcto voltaje de alimentacin y tierra tiene que estar
presentes. Debe recordarse que el nivel de voltaje de alimentacin es
bastante crtico para los CI.
Resistencia de feedback abierta: este fallo se traduce en un
importante recorte de voltaje a la salida, ya que el amplificado funciona a
su mxima ganancia de voltaje (por ej. El circuito para como esta como
un amplificador en bucle abierto)

Cortocircuito de la resistencia de feedback: En este caso, la salida


tiene que ser de la misma que la entrada de la seal.

Entrada de circuito abierta: Es el caso de un amplificador inversor, no


hay seal a la salida, ya que no hay seal a la entrada. En el caso de un
amplificador no inversor, la ganancia es igual a 1 y la salida de voltaje
sigue exactamente lo que haya a la entrada. En otras palabras el
amplificador actuar como un seguidor de voltaje.

Potencimetro mal ajustado: es fallo te traduce en tan solo el pico


positivo o negativo en la tensin salida.

Testeando FETs & MOSFET


Estos amigos son mucho ms complicados que los compaeros BJT, por eso
aunque os dejo aqu explicado lo bsico, ms adelante har un articulo con
tcnicas para diagnsticar estos transistores dentro y fuera del circuito.

Antes de testear un FET, es necesario saber si el transistor es un JFET o un


MOSFET. A partir de ah se tiene verificar si es de canal N o canal P. JFETs
pueden ser testeados con un hmetro ordinario.

Aparecer en el hmetro como dos diodos conectados en serie entre el


drenador y el surtidor, la polaridad de los diodos est invertida. El terminal de la
puerta es tomado desde el punto medio entre ellos. En el caso de uno de tipo
canal-N, la puerta est conectada a los nodos de ambos diodos. Si el
transistor es de tipo canal-P, la puerta est conectada a los ctodos de ambos
diodos. La capa de aislamiento de SiO2 aparecer en el hmetro como una
resistencia conectada ente el drenador y el surtidor en paralelo a ambos
diodos.

Por lo tanto los JFETs se pueden testear usando un hmetro testeando las
uniones PN ente la puerta y drenador por un lado y por otro la puerta y el
surtidor. Si el JFET est en buenas condiciones ambas uniones PN se
comportarn de manera como un diodo normal, mostrando una muy alta
resistencia en una direccin y muy baja en la otra. Luego se mide la resistencia
entre drenador y surtidor, esta nos debe dar un cierto valor de resistencia que
depender de las caractersticas del JFET.

En el mejor de los casos la medicin de un MOSFET con un hmetro es una


tarea muy difcil.

Esto es as porque una capa muy fina de metal-oxido separa la unin de la


puerta con el canal. Esta propiedad de los MOSFET asegura una impedancia
de entrada muy alta en el dispositivo, pero lo hace vulnerable a daos
permanentes incluso cuando se producen pequeas tensiones estticas en los
terminales del transistor.

De hecho un MOSFET puede ser daado cuando lo tocamos con los dedos.
Por esta razn, los MOSFETs viene en paquetes que proporcionan un conexin
elctrica entre todos los terminales para prevenir la acumulacin de electricidad
esttica.

MOSFETs pueden ser testeados cuidadosamente con un hmetro de bajo


voltaje, configurado al mayor rango de resistencia. N-MOSFET que funcionen
correctamente presentan una cierta continuidad entre el surtidor y el drenador.
Sin embargo no debera haber ninguna resistencia entre la puerta y el drenador
y la puerta y el surtidor. P-MOSFET que estn funcionando correctamente no
muestran continuidad entre ninguno de sus terminales.

Solucion de problemas en JFET polarizados:


No es una prctica recomendable desoldar un transistor FET para testarlo.
Despus de una inspeccin visual buscando componentes daados o malas
soldaduras, lo voltajes en el drenador y en el surtidor tiene que ser medidos
con respecto a tierra. Un sntoma de fallo tpico es el voltaje en el drenador, el
cual es casi igual que el voltaje de alimentacin. Esta condicin ocurre cuando
la corriente del drenador es cero y por lo cual no hay cada de voltaje a travs
de la resistencia de drenador RD, los siguientes fallos pueden ser la causa:

Soldadura fra en RS (Resistencia del Surtidor aparece como un circuito


abierto)
RS est daada o fuera de su rango

Soldadura fra en RD (Resistencia del Drenador aparece como un


circuito abierto)

RD est daada o fuera de su rango

Soldadura fra en el terminal del surtidor


Soldadura fra en el terminal del drenador

Circuito abierto interno en el JFET entre el surtidor y la puerta

Otro sntoma tpico de fallo es un voltaje mucho menor del normal en el


drenador. Esta condicin ocurre cuando la corriente del drenador es ms alta
de lo normal, en este caso la cada de voltaje a travs de la RD resistencia es
mayor. Los siguientes fallos pueden provocar que esto suceda:

Soldadura fra en RG (La resistencia de la puerta aparece como un


circuito abierto)
RG est daada o fuera de rango

Soldadura fra en el terminal de la puerta

Un circuito abierto interno en el JFET en el terminal de la puerta

Algunas de las fallas son muy difciles de solucionar. Un buen ejemplo es una
puerta abierta internamente en un D-MOSFET polarizado. Despus de que
este fallo ocurra, la tensin de la puerta el drenador sigue siendo la misma 0v.
Por esta razn la corriente del drenador no cambia su valor y la polarizacin
parece estar correcta. En general el testeo de FETs es una tarea mucho ms
difcil y requiere de ms habilidades y experiencia que al testear BJTs.

En resumen:

La mayora de los multmetros proporcionan funciones especiales para testear


diodos y BJTs. Sin embargo si tales funciones no estn disponibles, muchos
componentes electrnicos pueden ser testeados con un hmetro ordinario. Si
un diodo esta en buenas condiciones, las lectura del hmetro deben cambiar
de alta a baja y viceversa cada vez que la sondas se cambian entre nodo y
ctodo. Los SRCs son testeados de forma similar, la nica diferencia es un
puente entre la puerta y nodo para activar el SRC. Cuando un SRC es
activado, su resistencia cae significativamente de alta a baja. Los TRIACs son
testeados como los SCR pero en ambas direcciones. (ej. Las sondas son
puestas al revs y el test es repetido). BJTs son tratado como 2 diodos y cada
uno de ellos es comprobado independientemente. FETs son ms difciles de
testear, hay que tener especial cuidado de no ocasionar descargas
electroestticas en ellos cuando son testeados. Los transistores JFET pueden
ser representados como 2 diodos conectados en serie con una resistencia
adicional en paralelo a ellos. Ambos diodos son testeados de forma
independiente. Tambin se mide el valor de la resistencia. Para encontrar fallos
en transistores polarizados, en un principio, se calcula las tensiones
aproximadas en cada uno de los terminales del transistor y entonces medimos
los voltajes. Cualquier desviacin de los valores calculados son analizados
lgicamente, lo cual conduce esencialmente a encontrar y corregir el problema.
Los amplificadores operacionales no pueden ser testeados como los otros
dispositivos, sino que todos los componentes externos y soldaduras tienen que
ser chequeados y si el circuito sigue sin operar correctamente el AP es
reemplazado.