Microscpia tica

Arranjo do equipamento: Sistema de oculares/Lentes objetivas/Revlver/Platina/Diafragma/

Condensador/Boto macromtrico.

Fonte de energia: luz visvel.

Ambiente de trabalho: nenhuma condio especial.

Formao da imagem: objetiva, posicionada diante do objeto, forma uma imagem real, invertida
e ampliada do mesmo. A ocular funciona como uma lupa que amplia a imagem no do objeto
inicial mas de uma imagem intermdia formada pelo sistema de lentes da objetiva, formando
uma imagem virtual e ampliada da imagem formada pela objetiva. A imagem observada pelo
olho humano quando olhamos atravs da ocular do microscpio ptico, resulta assim numa
imagem ampliada, virtual e invertida (em ambos os sentidos) em relao ao objeto.

Preparao das amostras: sem preparao, exceto quando para um fim especfico
(metalografia).

MEV

Arranjo do equipamento: coluna ptico-eletrnica adaptada a uma cmara com porta-amostra

aterrado, sistema eletrnico, detectores e sistema de vcuo.

Fonte de energia: feixe primrio de eltrons acelerados.

Ambiente de trabalho: sistema de alto vcuo.

Formao da imagem: o feixe primrio de eltrons acelerados interage com a amostra

produzindo raios-X, eltrons retroespalhados (BSE) e eltrons secundrios (SE). Os detectores
de eltrons coletam o sinal e a imagem visualizada em um monitor simultaneamente a
varredura do feixe de eltrons.

Preparao das amostras: amostras devem estar secas e desidratadas (orgnicos), as superfcies
devem estar livres de contaminantes (limpeza por solvente orgnico num aparelho de limpeza
ultra-snica), amostras no condutoras devem ser revestidas por uma camada de ouro ou por
uma fita de carbono.