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Universidad Nacional Autnoma de Mxico

Dr. Enrique Luis Graue Wiechers


Rector

Dr. Leonardo Lomel Vanegas


Secretario General

Dr. Alberto Ken Oyama Nakagawa


Secretario de Desarrollo Institucional

Dr. Javier Nieto Gutirrez


Coordinador de Estudios de Posgrado

Dr. Gabriel Ascanio Gasca


Coordinador del Programa de Maestra y Doctorado en Ingeniera

Dra. Cecilia Silva Gutirrez


Subdirectora Acadmica de la Coordinacin
de Estudios de Posgrado

Lic. Lorena Vzquez Rojas


Coordinacin Editorial

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Refractometra ptica de medios opacos

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Universidad Nacional Autnoma de Mxico

Coordinacin de Estudios de Posgrado

Programa de Maestra y Doctorado en Ingeniera

La Coleccin Posgrado publica, desde 1987, las tesis de maestra y doctorado


que presentan, para obtener el grado, los egresados de los programas del Sistema
Universitario de Posgrado de la unam.
El conjunto de obras seleccionadas, adems de su originalidad, ofrecen al
lector el tratamiento de temas y problemas de gran relevancia que contribuyen
a la comprensin de los mismos y a la difusin del pensamiento universitario.

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Humberto Contreras Tello

Refractometra ptica
de medios opacos

Universidad Nacional Autnoma de Mxico


Mxico, 2016

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Contreras Tello, Humberto, autor.
Refractometra ptica de medios opacos / Humberto Contreras Tello
Primera edicin. - Mxico, D.F. : Universidad Nacional Autnoma
de Mxico, Coordinacin de Estudios de Posgrado, 2016.
188 pginas : ilustraciones ; 21 cm. -- (Coleccin posgrado)
Programa de Maestra y Doctorado en Filosofa.
Incluye ndice.
Bibliografa: pginas 175-182
ISBN 978-607-02-8226-3
1. Refractmetros . 2. Instrumentos pticos. 3. Espectroscopia de
alta resolucin. 4. Anlisis espectroscpico. 5. Materiales inhomog-
neos. I. Universidad Nacional Autnoma de Mxico. Coordinacin
de Estudios de Posgrado. II. Ttulo. III. Serie.
543.0853-scdd21 Biblioteca Nacional de Mxico

Correccin de estilo y formacin de planas: Julio Gustavo Jasso Loperena


Lectura de pruebas: Lorena Vzquez Rojas y Consuelo Yerena Capistrn
Diseo de portada: Columba Citlali Bazn Lechuga

Primera edicin, 29 de julio de 2016

D.R. Universidad Nacional Autnoma de Mxico


Coordinacin de Estudios de Posgrado
Ciudad Universitaria, 04510, Coyoacn, Mxico, D.F.
D.R. Humberto Contreras Tello

ISBN: 978-607-02-8226-3

Prohibida la reproduccin total o parcial por cualquier medio sin


la autorizacin escrita del titular de los derechos patrimoniales.

Impreso y hecho en Mxico

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Agradecimientos

Q
uiero dar gracias a todas las personas que han confiado en m,
que de una u otra forma me han apoyado con sus palabras y
acciones, de manera directa e indirecta. Gracias a todos aque-
llos que he conocido en este largo camino de exploracin y aprendizaje,
por darme grandes enseanzas, no slo de conocimiento sino de vida.
Agradezco a la Universidad Nacional Autnoma de Mxico por ser
el lugar que me ha brindado absolutamente todo, educacin, amigos
y experiencia, entre muchas cosas ms.
Agradezco a mi tutor, tanto de maestra como de doctorado, el doc-
tor Augusto Garca Valenzuela, por las grandes charlas que hemos tenido
sobre nuestro pensar en diferentes mbitos: cientficos, sociales, cultu-
rales, deportivos y, en general, de cuanto tema se nos ocurra. Tambin
agradezco a quienes han sido parte, durante mi estancia, del Grupo de
Sensores pticos y Elctricos del Centro de Ciencias Aplicadas y Desa-
rrollo Tecnolgico, de quienes disfrut mucho su pltica.
Gracias al doctor Jos Alberto Olivares por su enseanza y conoci-
mientos, por ser un cuate en todo momento, as como al CIP-Comex
por su apoyo al facilitarme el uso de sus instalaciones.
De manera especial quiero agradecer a mi familia, a mi gran familia,
gracias a su apoyo y motivacin he logrado lo que me he propuesto, de
verdad los quiero mucho.
Gracias a Guadalupe, por todos estos aos de estar conmigo, en las
buenas y en las malas, simplemente gracias.
Finalmente, gracias a todos aquellos que se tomen la molestia de
leer este trabajo.

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Resumen

U
n parmetro esencial para cuantificar el comportamiento de la
luz, as como su propagacin a travs de un material, es su ndice
de refraccin. En este libro se muestran algunas metodologas
para medir parmetros de luz en medios turbios y se analizan sus li-
mitaciones. El objetivo fundamental de este trabajo es investigar expe-
rimentalmente la determinacin del ndice de refraccin efectivo de
suspensiones turbias de partculas. Se propone medir el ndice de refrac-
cin efectivo de coloides turbios mediante la obtencin de un perfil an-
gular de intensidad de luz difusa transmitida de un coloide altamente
turbio hacia el interior de un prisma de vidrio de ndice de refraccin
mayor, alrededor del ngulo crtico de la interfase. Se describe el arre-
glo experimental y la metodologa de medicin. Se desarrolla un modelo
para los perfiles de intensidad angular en el que asumimos que la luz
difusa se propaga en un medio efectivo con un ndice de refraccin
efectivo complejo. El modelo reproduce muy bien las mediciones expe-
rimentales. Mediante el ajuste del modelo a los perfiles experimentales
es posible obtener el ndice de refraccin efectivo del coloide turbio
bajo estudio.

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10 Refractometra ptica de medios opacos

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ndice

Introduccin

1. Propiedades pticas de medios inhomogneos....................................... 23


Ideas generales sobre la absorcin y el esparcimiento de luz................... 23
Seccin transversal y amplitud de esparcimiento..................................... 26
Matriz de esparcimiento............................................................................30
Teora de transferencia radiativa............................................................... 32
Irradiancia y razn de fluencia............................................................ 33
Propiedades pticas de medios inhomogneos................................... 36
La aproximacin de difusin.................................................................... 38
La aproximacin P1 ..............................................................................39
Coeficiente de esparcimiento reducido ms ........................................ 41
Teora de Kubelka-Munk..........................................................................42
Teoras de medio efectivo.........................................................................46
Modelo de Van de Hulst......................................................................48
Modelo de Keller.................................................................................48

2. Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios............ 53


Absorbedor aadido.................................................................................53
Implementacin de la tcnica de absorbedor aadido.................... 56
Medicin del coeficiente de extincin para una longitud de onda........ 59
Obtencin de los coeficientes de esparcimiento reducido y
absorcin a una longitud de onda.......................................................64
Mediciones con tubo fotomultiplicador.............................................. 68
Medicin con espectrofotmetro......................................................... 69
Medicin espectroscpica de suspensiones de ltex............................ 69
Conclusin........................................................................................... 74
El refractmetro de Abbe.........................................................................75

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12 Refractometra ptica de medios opacos

Limitaciones del refractmetro de Abbe con fluidos


absorbentes..........................................................................................78
Modelo terico para una muestra fluida con absorcin..................... 79
Diseo experimental y pruebas experimentales para
la medicin de una muestra fluida con absorcin.............................. 84
Comparacin de los perfiles experimentales con el modelo
ptico...................................................................................................88
Ejemplos numricos.............................................................................90
Comentarios........................................................................................ 91

3. Refactmetro por reflexin difusa........................................................... 93


Modelo ptico con medios esparcidores de luz........................................ 97
Diseo experimental para la obtencin del ndice
de refraccin efectivo.............................................................................. 105
Montaje experimental............................................................................. 107
Escala angular del arreglo experimental................................................. 109
Preparacin de muestras de ltex PMMA y TiO2................................... 112

4. Resultados y anlisis................................................................................117
Medicin del IR efectivo por reflexin difusa.........................................117
Comparacin del IR efectivo obtenido con dos modelos existentes..... 144
Valores de la constante de atenuacin de los campos de excitacin...... 148
Usando el punto de inflexin para determinar la parte real
del IR efectivo......................................................................................... 149
Comentarios finales................................................................................150

5. Aplicaciones............................................................................................153
Medicin de sangre.................................................................................153
Resultados experimentales................................................................. 155
Medicin del tamao de partculas en la polimerizacin
en emulsin.............................................................................................158
Polimerizacin en emulsin............................................................... 160
Viabilidad de medicin..................................................................... 162

Conclusiones..........................................................................................................169
Bibliografa............................................................................................................ 175

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13
Introduccin

Introduccin

D
e enominamos luz a la radiacin electromagntica que puede ser
percibida por el ojo y que se propaga en forma de ondas. stas
se pueden propagar en el vaco as como en la materia. La inte-
raccin de la luz con la materia siempre ha sido de gran inters para la
comunidad cientfica, es por ello que muchos investigadores han bus-
cado la manera de describirla. Una forma de hacerlo es mediante la
medicin del ndice de refraccin de los materiales.
La velocidad de la luz en el vaco es la misma para todas las longi-
tudes de onda l, pero cuando se propaga en un medio material es dife-
rente para cada una. La frecuencia n de una onda est determinada por
la fuente y no vara al cambiar de medio. La velocidad de propagacin
de la luz en un medio es menor que en el vaco, mientras que su fre-
cuencia no cambia. Por lo tanto, dado que ln = c donde c es la veloci-
dad de la luz, sta debe variar al cambiar de medio. Para comparar la
velocidad de la luz en un medio, con la que alcanza en el vaco, se uti-
liza el ndice de refraccin n.
El ndice de refraccin (IR) n de un medio material transparente
se define como el cociente de la velocidad de la propagacin de la fase
de la luz en el vaco c y la velocidad de la luz en el medio n.

(1)

Cuando la luz que viaja en el vaco entra a un nuevo material transpa-


rente, por ejemplo el aire, agua o vidrio, la velocidad se reduce en
proporcin al ndice de refraccin del nuevo material. La medida del
ndice de refraccin se puede relacionar con la microestructura de dicho
material.

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14 Refractometra ptica de medios opacos

La luz viajando en un medio homogneo y transparente se propaga


en una lnea recta a una velocidad constante, a menos que sea refracta-
da, reflejada, o perturbada de alguna manera. La intensidad de la luz
y de cualquier radiacin electromagntica proveniente de una fuente
puntual es inversamente proporcional al cuadrado de la distancia via-
jada, as, despus de que la luz ha viajado dos veces una distancia dada,
la intensidad decae por un factor de cuatro.
Se han desarrollado diferentes tcnicas experimentales para deter-
minar el ndice de refraccin de medios homogneos transparentes.
Una de las tcnicas ms socorridas es determinar el ndice de refraccin
por medio de la determinacin del llamado ngulo crtico.
La refraccin es el cambio de direccin que experimenta una onda
al pasar de un medio a otro. Se produce cuando sta incide oblicuamen-
te sobre la superficie de separacin de dos medios que tienen ndices
de refraccin diferentes. La ley de Snell describe dicho cambio en la
direccin y est dado por (vase figura 1).

(2)

donde n1 es el ndice de refraccin del primer medio, n2 es el ndice
de refraccin del segundo medio, q1 y q2 son los ngulos de incidencia
y refraccin, respectivamente, medidos con respecto a la normal de la
interfase.

Figura 1. Fenmeno de refraccin, representacin de la ley de Snell.

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15
Introduccin

De acuerdo con la ley de Snell, una onda electromagntica se refleja,


refracta o transmite de un medio a otro dependiendo del ngulo de
incidencia y de los ndices de refraccin de los medios. Cuando la luz
pasa de un medio de ndice de refraccin mayor a uno de ndice de
refraccin menor, la luz se refracta alejndose de la normal. Eventual-
mente, la luz saldr rasante a la superficie, por lo que el ngulo de re-
fraccin toma un valor de 90 con respecto a la normal. De esta forma
se define el ngulo crtico qc:


(3)

De esta manera se visualiza una forma de medir el ndice de refraccin


de un medio material. Si se conoce el ndice de refraccin de un medio
y el ngulo de incidencia de la luz, ser posible determinar el ndice de
refraccin del medio bajo estudio. ste es precisamente el principio
de operacin del refractmetro de Abbe.1
La refractometra es una tcnica analtica que permite determinar
el ndice de refraccin (IR) de una sustancia para conocer su composi-
cin o microestructura. El conocimiento del IR tiene una gama muy
amplia de aplicaciones, desde determinar la pureza de una sustancia
hasta aplicaciones ms especficas, por ejemplo, determinar la cantidad
de azcar en vinos, o estimar el peso molecular en lquidos orgnicos.
Existen diferentes tcnicas para medir el IR en sustancias homogneas
transparentes, pero una de las ms socorridas tanto en laboratorios de
investigacin como en la industria es la medicin por la determinacin
del ngulo crtico de la interfase entre la muestra y un medio conocido;
esto probablemente se debe a su robustez y facilidad de uso.
Se ha buscado extender e interpretar el ndice de refraccin a siste-
mas coloidales, es por ello que se han desarrollado diferentes tcnicas
experimentales desde hace ms de 40 aos2-8 y en algunos de estos tra-
bajos se han empleado refractmetros de ngulo crtico tipo Abbe.2,4,7,8
Por suspensin coloidal debemos entender un sistema formado por dos
o ms fases, principalmente una denominada continua, normalmente
fluida a la cual nos referiremos como la matriz, y otra dispersa en

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16 Refractometra ptica de medios opacos

forma de partculas, por lo general slidas. Cuando la luz es transmitida


a travs de un medio coloidal, el esparcimiento de la luz por cada part-
cula localizada aleatoriamente da origen a un campo electromagntico
que puede ser dividido en una componente promedio y una fluctuan-
te. La componente promedio es llamada usualmente la componente
coherente de la luz y la fluctuante es referida como la componente difu-
sa de la luz. La componente coherente es aquella que mantiene una re-
lacin determinista entre su fase y la de la luz incidente y decrece en
intensidad conforme la luz penetra en el coloide debido al esparcimien-
to y la absorcin; la componente difusa es la luz esparcida en todas
direcciones. Conforme el coloide se vuelve ms turbio el haz coherente
eventualmente desaparecer, y toda la luz ser difusa, por ende toda la
informacin estar contenida en dicha componente. La figura 2 ilustra
mediante una sucesin de fotografas las componentes coherente y di-
fusa de luz al viajar por una suspensin turbia de partculas.

Figura 2. Ilustraciones de las componentes coherente y difusa de luz. Cuando la


concentracin de partculas es muy baja, la componente coherente domina sobre la difusa
(imagen ms a la izquierda), conforme la concentracin se incrementa la componente
difusa domina hasta que eventualmente la componente coherente desaparece (imagen
ms a la derecha).

Desde hace ya algn tiempo, mucho trabajo y mucho esfuerzo se ha diri-


gido a tratar de interpretar la informacin contenida en el haz difuso
para determinar las caractersticas bsicas del sistema coloidal, tales como:
la distribucin de tamaos de las partcula y las propiedades pticas in-
trnsecas de stas. A esto se le conoce como la diffuse-wave spectroscopy
y cuenta, entre una de sus grandes ventajas, con que puede seguir la
evolucin dinmica del sistema en tiempo real, pero su aplicabilidad se
encuentra limitada a bajas concentraciones de partculas. Por otro lado,
tambin se ha trabajado mucho en tratar de obtener informacin an-
loga, pero a partir de mediciones del haz coherente, midiendo por ejem-

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17
Introduccin

plo su amplitud y direccin al ser reflejado y transmitido a travs de una


muestra con interfases planas, donde se propone un modelo para el
clculo de la amplitud de reflexin por el sistema coloidal utilizando
la aproximacin de campo efectivo, pero tambin resulta prctico slo
para sistemas con muy baja concentracin de partculas.9
El problema de medir un ndice de refraccin efectivo neff para la com-
ponente coherente de la luz en sistemas coloidales ha sido estudiado
experimentalmente en varias ocasiones,2,4,10-12 pero las mediciones slo
han sido posibles a bajas concentraciones. Cuando la concentracin de
partculas es alta, hasta donde sabemos, no existe bibliografa en la cual
se busque medir explcitamente un ndice de refraccin efectivo para la
componente difusa de luz.

Coloides no
turbios: medio
efectivo
Coloides
Medios turbios
homogneos
transparentes Extensin
Medio efectivo

ndice de
refraccin

Figura 3. Diagrama que muestra que inherentemente tanto medios homogneos como
medios inhomogneos pueden ser caracterizados mediante un ndice de refraccin (siendo
un IR efectivo para suspensiones coloidales).

Muchas sustancias en la naturaleza y otras ms creadas por el hombre


son turbias, ejemplos de ello son la leche, las pinturas, la gelatina, la nie-
bla, los polmeros, el papel, etctera; por ello es importante extender la
caracterizacin de dichos sistemas con base en su ndice de refraccin

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18 Refractometra ptica de medios opacos

efectivo para la componente difusa de luz, pues su aplicabilidad sera


tan amplia como la actual, de medios homogneos trasparentes.
El ndice de refraccin de un medio coloidal depende del tamao,
forma, concentracin e ndice de refraccin de las partculas coloidales,
as como del ndice de refraccin del medio matriz y de la longitud de
onda. Un coloide ser ms turbio cuanto ms contraste diferencia
exista entre el IR de las partculas coloidales y la matriz; en trminos
generales, ser ms difcil medir un sistema cuanto ms turbio sea.13
Es difcil realizar mediciones de IR con un refractmetro de Abbe
para suspensiones coloidales turbias, menos a concentraciones grandes;
el problema es que la luz no puede atravesar el coloide y adems no se
puede investigar la naturaleza de este IR efectivo.
Las mediciones del neff han sido hechas por varios caminos, pero
todas son aplicables nicamente a suspensiones diluidas de partculas
y otras son imprcticas para propsitos de ingeniera. Los mtodos que
usan transmisin desviacin, interferometra estn restringidos a
dispersiones bastantes diluidas para medir la propagacin coherente.
Aquellos que emplean reflexin cerca del ngulo crtico o refraccin
son ms prometedores teniendo buena precisin (0.0001 en Re {neff}) y son
fciles de usar y mucho ms robustos. Los instrumentos comerciales mo-
dernos, ya sea en el laboratorio u on-line, invariablemente usan el mtodo
de ngulo crtico para obtener Re {neff}.
Por experiencia propia, sabemos que cuando el tamao de partcu-
la es comparable a la longitud de onda l la turbidez del sistema comien-
za a ser importante, degradando el borde del ngulo crtico, como se
puede ver en un refractmetro de Abbe y, por ende, modificando el
ndice de refraccin. Debido a esta degradacin no es posible determi-
nar la parte real del neff con este tipo de instrumentos.
Actualmente existen dos formas muy generales de estudiar la propa-
gacin de la luz en medios turbios, la primera es estudiando la radiacin
difusa de luz mediante teoras de transferencia radiativa, y la segunda
mediante teoras de medio efectivo. Transferencia radiativa es una he-
rramienta muy til cuando la concentracin y el esparcimiento de la
sustancia a medir es alto; sin embargo, no se conocen los lmites de su
validez y su instrumentacin es algo ms compleja de implementar que
la de muchos sistemas pticos. Las teoras de medio efectivo buscan ca-

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19
Introduccin

racterizar un sistema inhomogneo mediante la respuesta ptica de un


sistema homogneo equivalente, asociando propiedades pticas pro-
medio al sistema bajo estudio. Desafortunadamente, esta tcnica se
encuentra limitada a concentraciones pequeas de partculas, pero pare-
ce prometedora para explicar qu ocurre a concentraciones ms grandes.

Planteamiento del problema

En este trabajo se aborda un problema bsico y otro de ingeniera e ins-


trumentacin. Cuando la luz difusa, viajando en un coloide turbio, se
refleja y transmite en una interfase plana donde existe un cambio de
ndice de refraccin, no es claro si se debera de asumir que la luz difusa
est viajando en un medio con el ndice de refraccin del medio en el
que se encuentran las partculas coloidales usualmente referido como
la matriz, o si se debera asumir un ndice de refraccin efectivo. Mu-
chos autores simplemente evitan este tema y la mayora usa el ndice de
refraccin de la matriz. La reflexin y transmisin de la luz difusa en la
interfase de un medio inhomogneo es comnmente tratada usando
las relaciones de Fresnel, asumiendo que el ndice de refraccin del me-
dio inhomogneo es el de la matriz ejemplo de ello son las referencias
Vlz, Marcus y Pierce, Murphy y Kokhanovsky et al..14-17 La cuestin
que surge es si se debera considerar un ndice de refraccin efectivo
cuando se calcula la reflectancia y transmitancia de la luz difusa, en lu-
gar del ndice de refraccin de la matriz solamente. Tambin se puede
cuestionar la validez de las relaciones de Fresnel en este caso.9
El ndice de refraccin de lquidos transparentes se mide comn-
mente por la determinacin del ngulo crtico de la interfase entre la
muestra lquida y la base de un prisma ptico de ndice de refraccin ma-
yor. Si la muestra es iluminada con luz difusa, la luz transmitida dentro
del prisma es confinada a un cono de luz limitado por el ngulo crtico
de la interfase. Midiendo el ngulo del borde del cono iluminado en el
lado del prisma, se obtiene el ngulo crtico de la interfase y de ste es
posible determinar el ndice de refraccin de la muestra lquida. ste
es el principio bsico del refractmetro de Abbe introducido muchos
aos atrs.1 El refractmetro de Abbe original es an el ms popular re-
fractmetro para caracterizar lquidos en laboratorios de investigacin

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20 Refractometra ptica de medios opacos

y en la industria, debido probablemente a su robustez y alta precisin,


sin embargo, su aplicabilidad se limita a medios transparentes siendo
imprctico en la medicin de medios turbios.
Hace un par de dcadas, Meeten y North investigaron el uso de
refractmetros tipo-Abbe con coloides turbios.2 El uso de otras tcni-
cas de ngulo crtico con medios turbios han sido estudiadas.10-12 De
nuestro conocimiento, el trabajo fundamental de Meeten y North con
un refractmetro tipo-Abbe en la referencia Meeten y North (1991) no
ha sido continuado. En dicha referencia se observ que los perfiles de
intensidad obtenidos de la luz transmitida dentro del prisma, alrede-
dor del ngulo crtico, se suavizan comparados con aquellos obtenidos
para un lquido transparente, conforme la muestra llega a ser ms y
ms turbia. La razn es que el ndice de refraccin de los coloides tur-
bios es complejo, incluso en la ausencia de absorcin ptica, debido
al esparcimiento, degradando el borde del cono de luz difusa. Ellos
asumieron que el ngulo crtico de la interfase con el coloide turbio era
el ngulo ms pequeo para el cual no se transmitiera luz dentro del
prisma. Esta afirmacin no puede ser siempre correcta y el error puede
ser relativamente grande para algunas suspensiones altamente turbias,
pues hasta este punto se desconoca qu le ocurra al borde del cono
de luz difusa que se generaba para concentraciones altas de partculas
en las muestras medidas. Una alternativa adecuada es realizar medicio-
nes bajo caractersticas controladas y observar el efecto en los perfiles
medidos, para posteriormente desarrollar un modelo para los perfiles de
intensidad angular de luz transmitida alrededor del ngulo crtico y re-
cuperar el ndice de refraccin complejo de un ajuste del modelo a los
perfiles experimentales, ste es el trabajo realizado en esta investigacin.
La hiptesis inicial es que existe un IR efectivo neff para la luz difusa en
un medio turbio.
El trabajo presentado aqu consiste en medir primero las propie-
dades de difusin de la luz en medios turbios mediante una tcnica ya
establecida en la referencia18 y explorar su extensin a mediciones es-
pectroscpicas. El objetivo es mostrar las limitaciones de estas tcnicas
impuestas por el esparcimiento dependiente, lo que muestra claramente
la importancia de investigar la medicin de la parte real del ndice de
refraccin efectivo Re {neff} en medios turbios. Posteriormente se desa-

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21
Introduccin

rrolla la instrumentacin necesaria, as como un modelo ptico para


medir e interpretar el ndice de refraccin efectivo en un coloide tur-
bio. ste es el tema central de la investigacin. Los resultados indican
que se puede medir a concentraciones altas de partculas donde se
observa claramente la ventaja de medir la Re {neff} en medios turbios.
El libro est estructurado de la siguiente manera: en el captulo 1 se
describen algunos conceptos bsicos para entender la caracterizacin de
medios turbios mediante sus propiedades pticas. El captulo 2 analiza
algunas tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios,
mostrando sus limitantes. El captulo 3 describe el refractmetro por
reflexin difusa propuesto en este trabajo para medir el IR efectivo.
El captulo 4 muestra los resultados obtenidos. El captulo 5 discute
algunas aplicaciones de la tcnica propuesta para medir el IR efectivo,
y finalmente se presentan las conclusiones.

Notas
1 Malacara, 1988.
2 Meeten y North, 1991.
3 Chou y Kerker, 1956.

4 Meeten y North, 1995.

5 Mohammadi, 1995.

6 Alexander et al., 1981.

7 Meeten, 1997a.

8 Meeten, 1997b.

9 Garca-Valenzuela et al., 2005.

10 Calhoun et al. 2010.

11 Reyes-Coronado et al., 2005.

12 Zilio, 2012.

13 Bohren y Huffman, 1983.

14 Vlz, 2001.

15 Marcus y Pierce, 1994.

16 Murphy, 2007.

17 Kokhanovsky et al., 2001.

18 Zaccanti et al., 2003.

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22 Refractometra ptica de medios opacos

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Captulo 1

Propiedades pticas
de medios inhomogneos

M
uchos fenmenos que ocurren da con da en la naturaleza son
producto del esparcimiento y la absorcin de la luz, y muchos
de ellos los podemos percibir de manera visual debido a la in-
teraccin de la luz con nuestros ojos. Fenmenos como el azul del cielo
o el rojo del atardecer, el contraste del blanco de las nubes con el azul
del cielo o el verde del follaje de los rboles, son manifestaciones de la
interaccin de la luz por fenmenos de esparcimiento y absorcin.
El estudio del esparcimiento de la luz tiene un enorme campo de
aplicaciones. Bajo este contexto, el presente trabajo est limitado a sis-
temas coloidales con partculas esfricas, o en promedio esfricas, los
cuales nos permitirn entender el comportamiento de sistemas ms com-
plejos. A continuacin se presentan algunos conceptos bsicos para
entender el desarrollo de la investigacin.

Ideas generales sobre la absorcin y el esparcimiento de luz

El esparcimiento de las ondas electromagnticas en un sistema est rela-


cionado con la no homogeneidad de dicho sistema: heterogeneidad
sobre la escala molecular o sobre la escala de agregados de muchas
partculas. Independientemente del tipo de homogeneidad, el funda-
mento fsico del esparcimiento es el mismo para todos los sistemas.
La materia est compuesta por cargas elctricas discretas: electrones y

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24 Refractometra ptica de medios opacos

protones. Si un obstculo puede ser un simple electrn, un tomo o


una molcula, una partcula slida o lquida es iluminado por una
onda electromagntica, las cargas elctricas en l empiezan a oscilar
debido al campo elctrico de la onda incidente. Las cargas elctricas
aceleradas radian energa electromagntica en todas direcciones; a esta
radiacin secundaria se le llama radiacin esparcida utilizaremos la
palabra esparcimiento como traduccin de la palabra en ingls scattering
por el obstculo:

Esparcimiento = onda incidente + onda re-radiada

En adicin a la energa re-radiada, las cargas excitadas pueden transfor-


mar parte de la energa electromagntica incidente en otras formas de
energa trmica, por ejemplo, en un proceso llamado absorcin. El
esparcimiento y la absorcin no son procesos mutuamente indepen-
dientes.
El problema fundamental que siempre consideramos es el esparci-
miento y la absorcin de partculas aisladas; sin embargo, en ambientes
reales usualmente nos confrontamos con colecciones de muchas part-
culas. Incluso en el laboratorio, donde es posible hacer experimentos
con partculas aisladas, es ms usual hacer mediciones sobre muchas
partculas.
Las partculas en una coleccin estn electromagnticamente aco-
pladas: cada partcula es excitada por un campo externo y tambin por
el campo esparcido resultante por todas las otras partculas; pero el
campo esparcido por una partcula depende del campo total al cual es
expuesto. Podemos simplificar considerablemente el anlisis si asumi-
mos un esparcimiento simple: el nmero de partculas es suficiente-
mente pequeo y su separacin suficientemente grande para que, en la
vecindad de alguna partcula, el campo total esparcido por todas las par-
tculas es pequeo comparado con el campo externo. Con esta suposi-
cin, el campo total esparcido es slo la suma de los campos esparcidos
por las partculas individuales, donde cada una acta por sobre el cam-
po externo en forma aislada de las otras partculas. En experimentos
de laboratorio es posible preparar suspensiones diluidas de tamao
suficientemente pequeo para asegurar esparcimiento simple pero,

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 25
como veremos en el desarrollo de este trabajo, es difcil establecer los
lmites de esta condicin
Se asume que, adems del esparcimiento simple, las partculas son
muchas y su separacin es aleatoria, lo cual implica esparcimiento in-
coherente, esto es, no hay relacin sistemtica entre las fases de las ondas
esparcidas por las partculas individuales; as, la irradiancia total espar-
cida por la coleccin es slo la suma de la irradiancia esparcida por las
partculas de forma individual.1
Como lo describen muchos autores,1,2,3 existen dos clases genera-
les de problemas en la teora de interaccin de la luz con las partculas:

1. El problema directo. Dada una partcula de forma, tamao y com-


posicin especfica, la cual es iluminada por un haz de irradian-
cia, polarizacin y frecuencia especficas, determinar el campo
en todo punto.
2. El problema inverso. Por un anlisis adecuado del campo esparci-
do, describir la partcula o partculas que son responsables del
esparcimiento.

El problema que es de inters con ms frecuencia es el inverso; para so-


lucionarlo es necesario poder resolver el problema directo. En inves-
tigaciones de laboratorio, las tcnicas de esparcimiento de luz son a
menudo usadas para determinar el tamao de las partculas de forma
conocida as como su composicin. Para entender las dificultades del
problema inverso, consideremos que la informacin necesaria para espe-
cificar una nica partcula es: 1) el vector de amplitud y fase del campo
esparcido en todas direcciones, y 2) el campo dentro de la partcula.1,3
El campo dentro de la partcula usualmente no es susceptible a la medi-
cin directa, aunque bajo ciertas condiciones, este campo puede ser
aproximado por el campo incidente. Incluso en este caso especial, la
amplitud y la fase del campo esparcido son requeridas; aunque esto no
es imposible en principio, es raramente alcanzado en la prctica. Las me-
diciones usualmente disponibles para el anlisis son la irradiancia y la
fluencia de la luz esparcida dentro de un conjunto de direcciones.
Estamos por lo tanto siempre frente a la tarea de tratar de describir
una partcula o peor an, una coleccin de partculas con menos

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26 Refractometra ptica de medios opacos

que el conjunto terico ideal de datos en la mano.2 Pero esto no es ne-


cesariamente motivo de desesperacin e intriga. A menudo es posible
obtener informacin suplementaria sobre las partculas, algunas de las
cuales son obtenidas por medios diferentes a las tcnicas de esparci-
miento de luz, y son suficientes para ayudar en la descripcin y reso-
lucin del problema. As, no se debe descartar la ms pequea infor-
macin disponible o que pudiese llegar a estarlo.

Seccin transversal y amplitud de esparcimiento

Cuando una partcula es iluminada por un haz de luz de caractersticas


especficas, la cantidad y distribucin angular de la luz esparcida por la
partcula, as como tambin la luz absorbida, depende de manera espec-
fica de la naturaleza de la partcula, esto es, de su forma y tamao, del
material del que est compuesta, as como del material en el que est
inmersa. Esto representa una cantidad infinita de posibilidades. Sin em-
bargo, existen caractersticas comunes al fenmeno de esparcimiento y
absorcin por las partculas.
Cuando un objeto es iluminado por una onda, una parte de la po-
tencia incidente es esparcida y otra parte es absorbida por el objeto.
Las caractersticas de esos dos fenmenos, esparcimiento y absorcin,
pueden ser expresadas ms convenientemente por asumir una onda plana
incidente. Consideremos una onda plana electromagntica, linealmente
polarizada, propagndose en un medio con constante dielctrica e0 y
permeabilidad magntica m0 con el campo elctrico dado por:

(4)

La amplitud se elige para ser 1 volt/metro, k es el nmero de onda,


l es la longitud de onda en el medio, i es un vector unitario en la di-
reccin de la propagacin de la onda, y i es un vector unitario en la
direccin de su polarizacin.
El objeto puede ser una partcula dielctrica tal como una gota de
lluvia o una partcula de hielo, o un cuerpo conductor tal como un
avin. El campo total a una distancia R de un punto de referencia

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 27
del objeto, en la direccin del vector unitario , consiste del campo
elctrico incidente i y el campo esparcido por la partcula s (vase
figura 4). Dentro de una distancia donde D es tpicamente
el dimetro del objeto, el campo s es muy complicado por las va-
riaciones de amplitud y fase debido a la interferencia entre las contri-
buciones de diferentes partes del objeto, y el punto de observacin se
dice que est en el campo cercano del objeto. Cuando > , sin
embargo, el campo esparcido s se comporta como una onda esfrica
y est dada por:

(5)

representa la amplitud, fase y polarizacin de la onda esparci-


da en el campo lejano en la direccin cuando el objeto es iluminado
con una onda plana propagndose en la direccin i, con una ampli-
tud unitaria y se le denomina amplitud de esparcimiento.

Figura 4. Consideremos una onda plana Ei (r) incide sobre un objeto y el campo esparcido
Es (r) es observado en una direccin a una distancia R.

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28 Refractometra ptica de medios opacos

Consideremos la densidad del flujo de potencia esparcido Ss a una


distancia R desde el objeto en la direccin causado por una densi-
dad de flujo de potencia Si. Definimos la seccin transversal de esparci-
miento diferencial como sigue:

(6)

donde Si y Ss son las magnitudes de los vectores de la densidad de flujo


de potencia incidente y esparcida,

(7)

donde es la impedancia caracterstica del medio. sd tiene


dimensiones de rea/ngulo-slido. Esto puede definirse fsicamente
como: supongamos que la densidad del flujo de potencia observado
en la direccin se extiende uniformemente sobre un estereorradin de
ngulo slido alrededor de . Entonces la seccin transversal de un
objeto que causara slo esta cantidad de esparcimiento debera de ser sd,
por lo que sd vara con . La cantidad adimensional p (,i) se llama la
funcin de fase y se usa comnmente en la teora de transferencia ra-
diativa. st es la seccin transversal total que se definir ms adelante.
Consideremos la potencia total esparcida observada a todos los n-
gulos alrededor del objeto. La seccin transversal de un objeto que pro-
duce esta cantidad de esparcimiento es llamada la seccin transversal
de esparcimiento ss, y est dada por:

(8)

donde dw es un elemento de ngulo slido diferencial. Alternativa-
mente, tambin se suele representar como:

(9)

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 29
donde S0 es una superficie arbitraria que encierra al objeto (vase fi-
gura 5) y da es una representacin vectorial del rea superficial dirigida
hacia afuera.

Figura 5. rea rodeando el objeto.

Ahora consideremos la potencia total absorbida por el objeto. La sec-


cin transversal de un objeto que debera corresponder a esta potencia
es llamada sa, la seccin transversal de absorcin. Se puede expresar
en trminos del flujo de potencia total entrando al objeto como:

(10)

Donde y son los campos totales. Finalmente,


la suma de las secciones transversales de esparcimiento y absorcin se
llama seccin transversal total st o la seccin transversal de extincin:

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30 Refractometra ptica de medios opacos

st = ss + sa (11)

La relacin W0 de la seccin transversal de esparcimiento a la seccin


transversal total es llamada el albedo del objeto y est dada por:

(12)

Las secciones transversales son tambin normalizadas por las secciones
transversales geomtricas sg y son llamadas la eficiencia de absorcin
Qa, la eficiencia de esparcimiento Qs y la eficiencia de extincin Qe,

(13)

Matriz de esparcimiento

La solucin exacta del esparcimiento de una onda plana electromag-


ntica por una esfera dielctrica homognea e isotrpica, de tamao
arbitrario, usualmente es referido como la teora de Mie.1,2 En general,
la amplitud de esparcimiento la definimos como


, (14)

para una onda incidente polarizada linealmente dada por



i i
(15)

Para generalizar la descripcin de la onda electromagntica esparcida


para incluir ondas con cualquier polarizacin, parcialmente polariza-
das o no polarizadas, es conveniente elegir el siguiente sistema de coor-
denadas: seleccionar el eje z en la direccin de la onda incidente, y el
plano yz como el plano de esparcimiento, el cual se define como el pla-
no que incluye la direccin de la onda incidente i y la direccin de ob-
servacin (vese figura 3). La onda incidente tiene dos componentes,

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 31
y i en la direccin perpendicular y paralela, respectivamente, al
plano de esparcimiento. La onda esparcida tiene dos componentes, y
s , perpendicular y paralela, y por lo tanto podemos escribir:
8

(16)
s i

EPii y E^i son evaluados en el origen , y EPss y E^s estn a la


distancia R del origen. f11, f12, f21 y f22 son funciones de q y j, y estn
relacionados a las funciones de esparcimiento S1, S2, S3 y S4 usadas por
van de Hulst y en la solucin de Mie para una esfera:

(17)

Debido a la linealidad de las condiciones a la frontera, la amplitud del
campo esparcido es una funcin lineal de la amplitud del campo inci-
dente. La relacin entre el campo incidente y el campo esparcido es
convenientemente escrito en forma matricial :

(18)

Los elementos de la matriz de amplitud de esparcimiento dependen,


en general, de q, el ngulo de esparcimiento, y del ngulo azimutal f.
Si la partcula es esfricamente simtrica, S3 = S4 = 0 y por lo tanto la
matriz contiene slo dos elementos.

s i
(19)

En la direccin de incidencia (forward direction) q = 0, tenemos:

(20)

Donde nos referimos a S = (0) como la amplitud de esparcimiento en


la direccin de incidencia.

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32 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 6. Esparcimiento por una partcula esfrica.

Teora de transferencia radiativa

La interaccin de la luz con medios no homogneos es un problema co-


tidiano que se ha estudiado desde hace muchos aos. Desde un punto
de vista terico se ha abordado desde dos puntos de vista diferentes:
los mtodos rigurosos y los heursticos.
Los mtodos rigurosos o analticos parten o se basan de las ecua-
ciones de Maxwell. En ellas se introducen las propiedades pticas y
estadsticas de los medios y se obtienen expresiones para cantidades es-
tadsticas como el promedio, la varianza o funciones de correlacin. El
procedimiento puede considerarse riguroso ya que, en principio, los
efectos de esparcimiento, absorcin, difraccin e interferencia pueden
ser incluidos. Sin embargo, es difcil avanzar en esta lnea, ya que en al-

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 33
gn momento se tiene que recurrir a aproximaciones. Esto restringe la
validez de los resultados a un rango especfico de parmetros.
Por otro lado, la teora de transporte o teora de transferencia
radiativa no empieza con la ecuacin de onda. En sta se hacen con-
sideraciones sobre el transporte de energa en un medio con hetero-
geneidades. Se trata de una teora heurstica en la que se desprecian
los efectos de interferencia entre las ondas esparcidas. La justificacin
de esto se basa en la idea de que al promediar sobre configuraciones,
o sobre longitudes de onda, los efectos de interferencia desaparecen,
de manera que podemos considerar sumas de intensidad en lugar de
sumas de amplitudes de campo esparcido.
La teora de transferencia radiativa fue iniciada por Schuster en
1905 al estudiar la fsica de las atmosferas estelares, interesado en cono-
cer la transferencia radiativa en atmosferas con niebla, definidas por
tener una cantidad significativa de esparcimiento de luz.4,5 La ecuacin
integro-diferencial bsica se conoce como la ecuacin de transferencia
radiativa y la forma ms conocida fue establecida por Chandrasekhar.5
Se ha implementado con xito en una gran diversidad de problemas,
tales como el estudio de la visibilidad atmosfrica, la iluminacin en
medios acuticos y biolgicos, en la ptica de papeles y pinturas, y en el
intercambio de energa radiativa en la atmosfera de planetas, estrellas
y galaxias.

Irradiancia y razn de fluencia

La potencia ptica se define como la energa por unidad de tiempo. La


unidad de energa es el Joule (J) y la potencia tiene unidades de Joule
por segundo o Watts (W). Tambin existen otras cantidades normali-
zadas por unidades de rea. Usualmente se escriben cantidades expre-
sadas en W/m2 sin especificar si el rea es plana o curva y cul es su
orientacin.
Generalmente, los sistemas de medicin pticos se calibran usando
luz con una direccin especfica; sin embargo, frecuentemente la luz
ambiente que reciben muchos sistemas pticos no tienen una direccin
especfica, es decir, no reciben luz colimada.

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34 Refractometra ptica de medios opacos

Es por ello que debemos considerar que los detectores que utili-
zamos suelen tener una superficie plana de deteccin y creemos que
siempre los alineamos a la fuente de medicin; sin embargo, considere-
mos tambin que existen muchos sistemas donde el esparcimiento de
la luz hace necesario poder medir en todas direcciones, hacindolos
insensibles al ngulo de incidencia de la luz que se desea medir. De esta
forma es posible definir las siguientes cantidades:

Irradiancia. Es la potencia incidente en una superficie plana de


rea unitaria.
Razn de fluencia energtica (razn de fluencia). Es la potencia inci-
dente sobre una esfera de seccin transversal unitaria. El termi-
no fluencia fue definido por Rupert (1974).6,7

Las figuras 7a y 7b ilustran el concepto de irradiancia y fluencia en dife-


rentes situaciones.

a) b)

Figura 7. Los conceptos de irradiancia y razn de fluencia con iluminacin direccional. En el


caso de incidencia normal la irradiancia y la fluencia son iguales. Para incidencia oblicua
el sensor de irradiancia recibe solamente una fraccin de lo que percibe el detector de la
razn de fluencia.

En la figura 7a se tiene luz colimada incidiendo perpendicularmente


al plano del detector de irradiancia. En este caso la superficie unitaria
y la esfera de seccin transversal de rea unitaria interceptaran el haz de

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 35
luz de forma equivalente y la irradiancia ser la misma que la razn
de fluencia.
En la figura 7b se muestra el caso cuando se incide luz colimada
que hace un ngulo y con respecto a la normal al plano del detector
de irradiancia. En este caso la luz interceptada por la superficie plana de
rea unitaria es menor que la interceptada por la esfera de seccin trans-
versal unitaria. La irradiancia y razn de fluencia diferirn por un fac-
tor cos y. Debido a que cos y es menor que la unidad, en este caso la
irradiancia ser menor que la razn de fluencia.

a) b)

Figura 8. En el caso de iluminacin difusa por la parte superior la razn de la fluencia ser
el doble de la irradiancia. Si iluminamos de manera difusa en todas direcciones el detector
de irradiancia recibir solamente luz de la parte superior. En este caso la razn de fluencia
es cuatro veces la irradiancia.

En la figura 8a se ilustra el caso de luz difusa incidiendo por el hemis-


ferio superior en la parte superior. En este caso la irradiancia ser la
mitad de la fluencia. Finalmente, en la figura 8b mostramos el caso de
luz difusa incidiendo de manera isotrpica. La esfera es iluminada en
todas direcciones pero la superficie plana slo recibe luz del hemisfe-
rio superior. En este caso la irradiancia es un cuarto de la razn de fluen-
cia. Es posible ver esto recordando que el rea de un crculo es un cuarto
del rea de la esfera con el mismo radio.

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36 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 9. Definicin de irradiancia.

Tambin tenemos que considerar la potencia de luz emitida que se distri-


buye en diferentes direcciones, de manera que tambin es interesante
especificar la potencia de emisin por estereorradin. Esta cantidad es
llamada la intensidad radiativa en esa direccin y se mide en .
La intensidad radiativa por unidad de rea en un plano perpendicular a
la direccin de propagacin de la luz es llamada radiancia y su unidad
es . La radiancia, que la denotaremos por I (vase figura 9), es
la potencia radiante P que es emitida por un elemento de rea dife-
rencial dS en un ngulo slido dW que est centrado en una direccin
especificada por un ngulo q ngulo entre la normal a dS y la direc-
cin de observacin. La cantidad de potencia dP fluyendo a travs del
rea dS dentro del ngulo slido dW en una direccin especfica cos q
en un intervalo de frecuencia dn est dada por:

dP = I cosqdSdWdn (21)

Si integramos la radiancia sobre todas las direcciones (4p radianes), ob-


tenemos la razn de fluencia.

Propiedades pticas de medios inhomogneos

Consideremos la interaccin de la luz con un medio no homogneo


compuesto por partculas separadas entre s, una distancia suficientemen-

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 37
te grande para tener esparcimiento independiente, que Van de Hulst8
establece a ms de tres veces el radio de la partcula.
Supongamos que tenemos iluminacin direccional colimada con
una irradiancia I0. Si consideramos procesos lineales de absorcin, la po-
tencia absorbida por partcula ser proporcional a la irradiancia inci-
dente. Es decir:

(22)

donde sa es el coeficiente de proporcionalidad entre la potencia y la
irradiancia. Las unidades son de rea, por lo que tambin se le nombra
como seccin transversal de absorcin. De manera similar, la poten-
cia esparcida por partcula se puede escribir como:

(23)

donde ss es la seccin transversal de esparcimiento. La suma de las


secciones transversales de absorcin y esparcimiento se denomina como
la seccin transversal de extincin por partcula.

(24)

Consideremos un haz de irradiancia I y seccin transversal sb, que


incide sobre una rebanada de un medio no homogneo de espesor .
Por simplicidad supondremos que el haz tiene irradiancia uniforme den-
tro de su seccin transversal. El volumen del medio iluminado es V
y contiene N = rV partculas, donde r es la densidad volumtrica.
Suponiendo que la densidad de partculas es demasiado baja para que
no haya efectos de esparcimiento mltiple, cada partcula absorbe una
potencia saI0 y esparce una potencia ssI0, por lo que la potencia que
pierde el haz al atravesar la rebanada es:

(25)

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38 Refractometra ptica de medios opacos

Dividiendo entre la seccin transversal del volumen considerado encon-


tramos la reduccin de irradiancia del haz al pasar a travs del medio:

(26)

Definimos mt = rsext llamndolo coeficiente total de extincin y tiene


unidades de longitud-1. Podemos escribir la siguiente ecuacin diferen-
cial:
(27)

mt representa una propiedad del medio que, a travs de la relacin


mt = rsext, podemos relacionar con las propiedades de las inhomogenei-
dades.
Podemos escribir el coeficiente de extincin en trminos de las
propiedades de absorcin y esparcimiento de las partculas:

(28)


Donde los coeficientes de absorcin y esparcimiento se denotan
por ma + ms, respectivamente. Suponiendo que tenemos partculas idn-
ticas y que las propiedades estadsticas del medio son independientes
de la posicin, estas cantidades representan la probabilidad de que la
luz sea absorbida o esparcida por unidad de longitud y que se pueden
escribir en trminos de las propiedades de las partculas como

(29)

La aproximacin de difusin

La propagacin de luz a travs de medios inhomogneos puede ser


modelada con la ecuacin de transporte,3

(30)

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 39

Donde I es la intensidad especifica o radiancia en la posicin r, esto


es, la energa, emitindose en la direccin s al tiempo t, por unidad de
ngulo slido, por unidad de tiempo y por unidad de rea normal a la
direccin s; c es la velocidad de la luz en el medio difusivo, re-
presenta la funcin de fase, que es una funcin de densidad de proba-
bilidad que describe los cambios en la direccin de la luz entre s y s ,
s t) siendo la distribucin de fuentes.
y S (r, ,
El lado izquierdo de la ecuacin de transporte representa la tasa del
cambio temporal de la radiancia. En el lado derecho, el primer trmi-
no describe el decremento del flujo a lo largo de s, el segundo trmino
la absorcin dentro del elemento de volumen o el esparcimiento fuera
de la direccin s, el tercer y cuarto trminos representan el incremento
en la radiancia por esparcimiento en la direccin s, de cualquier otra
direccin s o de la introduccin de fotones por fuentes. La ecuacin de
transporte es una descripcin heurstica del transporte de luz, que tra-
ta a los fotones como partculas sometidas a colisiones elsticas aleato-
rias o eventos de absorcin. Los efectos de coherencia y polarizacin
son ignorados en esta representacin de la ecuacin de transporte.
Es muy complicado obtener soluciones analticas para esta ecuacin
integro-diferencial, excepto para geometras y fuentes con distribuciones
sencillas, como medios infinitos plano, donde se han desarrollado estra-
tegias para obtener soluciones aproximadas.
Uno de los mtodos ms comunes es la secuencia de aproximacio-
nes que desemboca en la llamada aproximacin Pn. La descripcin de
esta aproximacin est basada en el desarrollo presentado por Hull 9 y
parcialmente en las de Ishimaru,3 Case y Zweifel10 y Boas.11

La aproximacin P1

En la aproximacin P1, la radiancia, el trmino de la fuente, y la funcin


de fase, pueden ser escritos como la suma de un trmino isotrpico y un
trmino anisotrpico lineal:


(31)

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40 Refractometra ptica de medios opacos

(32)

Donde

(33)

es la irradiancia esfrica (o tasa de fluencia) y

(34)

es el vector de densidad de flujo radiante. En estas expresiones, S0
y S1 estn relacionados con los momentos monopolar y dipolar de la
fuente. Sustituyendo las ecuaciones anteriores en la ecuacin de trans-
ferencia radiativa, e integrando sobre todos los ngulos slidos, encon-
tramos una ecuacin diferencial que involucra a F y a j:

(35)

Encontramos una segunda ecuacin multiplicando la ecuacin (35) por


s e integrando sobre todos los ngulos:

(36)

Tomando la divergencia de (36), estas ecuaciones pueden ser desacopla-
das, con lo que se encuentra una ecuacin individual para F:

(37)

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 41

donde se conoce como el coeficiente de difusin y ms


= ms (1 g) como el coeficiente de esparcimiento reducido. La ecuacin
(37) constituye la aproximacin P1 a la ecuacin de transferencia radia-
tiva. La ecuacin para la difusin de luz dependiente del tiempo se
obtiene cuando los dos ltimos trminos del lado izquierdo de la ecua-
cin (37) son despreciados. La validez de esta suposicin se discute en
Hull.9 As, la ecuacin de la aproximacin P1 se expresa como:

(38)

Asumiendo una fuente isotrpica, las componentes estables de la ecua-
cin (38) producen la ecuacin de difusin:

(39)

La funcin de Green de la ecuacin de difusin asumiendo un medio
infinito homogneo est dado por:12

(40)

donde matt es el coeficiente de atenuacin y est dado por:

Coeficiente de esparcimiento reducido ms

En la aproximacin P1 el coeficiente de esparcimiento reducido siempre


aparece multiplicado por un factor (1g). Este producto es llamado el
coeficiente de esparcimiento reducido. El hecho de que ms entre en la
aproximacin P1 de esta manera indica que, en situaciones donde
la aproximacin P1 es vlida fronteras lejanas y fuentes isotrpicas, el
esparcimiento anisotrpico puede ser modelado como esparcimiento
isotrpico, pero con un coeficiente de esparcimiento reducido por un
factor (1g). De esta forma, cuando se trabaja con medios en los que do-

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42 Refractometra ptica de medios opacos

mina el esparcimiento mltiple es costumbre describir sus propiedades


pticas en trminos de sus propiedades pticas reducidas, definidas por:

(41)

donde me es el coeficiente de extincin total reducido y a es el al-


bedo reducido. Otras cantidades de inters son el camino libre medio
l = 1/ms y el camino libre medio de transporte l* = 1/ms.

Teora de Kubelka-Munk

La teora de Kubelka Munk es una aproximacin de dos flujos a la teora


general de transferencia radiativa describiendo la propagacin a travs
de un medio que absorbe, emite y esparce luz. sta asume que la luz se
propaga slo en dos direcciones opuestas, con las variaciones del flujo
en algn punto del medio siendo proporcionalmente lineales a los dos
flujos opuestos locales. Las constantes de proporcionalidad, K y S, se
estiman dependiendo de las propiedades de esparcimiento y absorcin
del medio. Debido a su simplicidad y por tanto su utilidad la teora
ha sido el modelo terico aplicado ms ampliamente usado en el estu-
dio de la propagacin de luz en medios turbios desde su introduccin
en 1931.13,14 Mientras que este modelo disfruta de gran xito en un am-
plio rango de aplicaciones cientficas e industriales, existen deficiencias
que limitan su aplicabilidad a sistemas especficos con medios que con-
tienen componentes absorbentes.14
La teora original de Kubelka Munk (KM) fue desarrollada para la
propagacin de luz en capas de colorantes paralelas, de extensin infi-
nita en el plano XY.13,15,16 Las suposiciones fundamentales de la teora

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 43
de KM eran que las capas fueran homogneas y que la distribucin de
la luz dentro de la capa fuera completamente difusa. De esas suposicio-
nes, la propagacin de la luz en la capa era simplemente representado
por dos flujos de luz difusa a travs de la capa, uno entrando al medio y
el otro de manera simultnea saliendo de l. Despus de su introduc-
cin en los aos treinta, la teora de KM fue extendida removiendo
algunas de las suposiciones originales. Entre otras, una correccin para
la reflexin en la frontera en la interfase entre dos medios adyacentes la
cual fue introducida por Saunderson,17-19 las cuales son llamadas las
correcciones de Saunderson.
Inicialmente formulado en 1931, este modelo considera una pelcu-
la de material h, la cual es iluminada con radiacin difusa semiisotrpi-
ca no polarizada, de modo que dentro del material se dan dos flujos de
radiacin difusa: uno propagndose hacia adelante respecto a la direc-
cin de incidencia normal y el otro propagndose en sentido contrario
(vase figura 10). Estos flujos surgen de mltiples procesos de dispersin
de la radiacin incidente sobre los esparcidores de la materia.13,15,20 La
intensidad de la radiacin difusa propagndose en uno u otro sentido
decae debido a que se dispersa parcialmente en sentido contrario co-
rrespondiente, y a que es absorbida. Este grado de decaimiento es de-
terminado por los coeficientes efectivos de dispersin S, y de absorcin
K. La intensidad de la radiacin difusa que se propaga en uno u otro
sentido tambin se incrementa, debido a que es dispersada parcialmente
en el mismo sentido que la radiacin difusa que viaja en sentido opues-
to. Este efecto es determinado por el coeficiente efectivo de dispersin
S. Ambos coeficientes efectivos, definidos positivos y con dimensiones
inversas de longitud, se suponen independientes de las coordenadas es-
paciales. Los coeficientes S y K, denominados coeficientes de Kubelka-
Munk, son caractersticos de cada material y podemos pensar en ellos
como coeficientes efectivos que determinan el grado de dispersin y
absorcin por unidad de longitud, de la intensidad de radiacin difusa
propagndose por el material no homogneo.

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44 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 10. Flujo positivo F+ y negativo F-. K y S representan la atenuacin y el coeficiente


de esparcimiento, respectivamente.

El modelo de KM supone que la intensidad de radiacin difusa es iso-


trpica, esto es, F+ (z,m) se supone independiente de m, donde m = cos q,
con q como la coordenada polar mediante la cual se especifica la depen-
dencia angular de la radiacin difusa, respecto a la normal a la interfase
iluminada, y z la profundidad fsica a travs del material a partir de la
interfase iluminada. Definimos a t= rsTz como la distancia ptica don-
de la densidad en nmero r es el nmero de partculas por unidad de
volumen, sT es la seccin transversal total de una sola partcula. El pun-
to de partida del modelo de KM lo constituyen, para una longitud de
onda dada de la luz incidente, las siguientes ecuaciones diferenciales
acopladas:15,16,19,21

(42)

donde la profundidad a la que penetra la luz comienza de la superficie


del sustrato z = 0 a travs del medio material. F+ [F] corresponde a
la intensidad de la radiacin difusa propagndose hacia adelante [atrs].

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 45
A partir de la interfase iluminada del material, F+ disminuye debido a los
procesos de esparcimiento mltiple y absorcin, en tanto que aumenta
debido a contribuciones a partir de la radiacin difusa que, propagn-
dose hacia atrs, es mltiplemente esparcida hacia adelante. En el sis-
tema de ecuaciones lineales se supone que el grado de decaimiento de
F+ es idntico al grado de decaimiento de F en ambos casos debido al
esparcimiento mltiple y la absorcin. Tambin se supone que el grado
de amplificacin de F+ debido al fenmeno de esparcimiento mltiple de
la radiacin difusa propagndose hacia atrs [F], es igual al grado
de intensificacin de F debido al esparcimiento mltiple de la radia-
cin difusa propagndose hacia adelante [F+]. Estas suposiciones a priori
establecen lo que se denomina la condicin de simetra. Siguiendo la
derivacin de KM,15 podemos resolver el sistema de ecuaciones acopla-
das. La solucin a la ecuacin (42) la podemos expresar como

(43)

Con

(44)

Si suponemos un semi-espacio de un medio inhomogneo uniforme y
sin reflexin de superficie sobre el que incide un flujo Fi se tienen las
condiciones siguientes

(45)

De la segunda condicin se tiene que necesariamente c1 = 0 y de la pri-


mera se obtiene
(46)

Indicando que para un semi-espacio infinito el flujo que penetra en el


medio tiene una dependencia decayente de forma exponencial conforme
ingresa al medio.

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46 Refractometra ptica de medios opacos

Teoras de medio efectivo

Cuando la luz es trasmitida a travs de un medio turbio coloide, el


esparcimiento de la luz de cada partcula localizada aleatoriamente da
origen a un campo de propagacin que puede ser dividido en un com-
ponente promedio y una fluctuante. La componente promedio es usual-
mente llamada la componente coherente de la luz y la fluctuante es refe-
rida como la componente difusa de la luz. Si el tamao de la partcula es
muy pequea comparada con la longitud de onda de la radiacin inci-
dente, la componente difusa transporta una pequea cantidad de poten-
cia y as la descripcin de la propagacin de la luz puede ser descrita
nicamente en trminos de la componente coherente. Sin embargo,
si el tamao de las partculas no es pequeo comparada con la longitud
de onda de la radiacin incidente, la potencia llevada por la componen-
te difusa llega a ser importante, dando origen a una apariencia turbia
del sistema.
Histricamente, el problema de la propagacin de ondas en partcu-
las localizadas aleatoriamente ha sido investigado desde dos puntos de
vista: uno es el de las teoras analticas y el otro el de la teora de tras-
ferencia radiativa, ya mencionada.
Las teoras analticas en las que se incluyen las teoras de single scat-
tering y multiple scattering la segunda es una generalizacin de la prime-
ra comienzan con una ecuacin de onda, se obtiene la solucin para
el esparcimiento con una sola partcula (single scattering), se introducen
los efectos de interaccin con muchas partculas (multiple scattering), y
entonces se consideran los promedios estadsticos o configuracionales.
En la teora analtica se empieza con una ecuacin diferencial bsica a
partir de las ecuaciones de Maxwell o de la ecuacin de onda, se intro-
ducen las caractersticas de absorcin y esparcimiento de las partculas
y se obtiene una apropiada ecuacin diferencial o integral. Este camino
es riguroso fsica y matemticamente en el sentido que en principio to-
dos los efectos de esparcimiento, absorcin, difraccin e interferencia
pueden ser incluidos. Sin embargo, en la prctica, es imposible obtener
una formulacin que incluya todos los efectos mencionados y varias
teoras que producen tiles soluciones son aproximadas, cada una es
til en un rango especifico de parmetros.

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 47
En general, cuando una onda plana con un vector de onda k excita
un sistema coloidal, el resultado es una onda plana que se propaga a
travs del coloide con un vector de onda diferente,22 comnmente lla-
mado vector de onda efectivo keff producto de la superposicin de los
campos esparcidos por cada partcula localizada al azar. La magnitud
de dicho vector de onda efectivo depende de la forma, tamao, ndice de
refraccin y densidad de partculas en el coloide. Dependiendo de la
magnitud del parmetro de tamao x, definido como x = k0a, donde
k0 = 2p/l es la magnitud del vector de onda en la matriz y a es el tama-
o de las partculas o inclusiones, el anlisis de la propagacin de la luz
a travs del coloide se considera en dos casos extremos: i) cuando las
partculas son pequeas en comparacin a l0 (x = 1), y ii) cuando las in-
clusiones son comparables o ms grandes que l0 (x 1). As, en el caso
de partculas pequeas se ha encontrado que el vector de onda efectivo
keff existe y se han establecido las teoras de medio efectivo (TME). En
estas teoras la idea es reemplazar un sistema coloidal por un sistema
homogneo ficticio, pero conservando las mismas propiedades electro-
magnticas promedio. Este sistema ficticio es llamado medio efectivo
y es caracterizado por un conjunto de propiedades efectivas las cuales
describen la propagacin de la componente coherente a travs del co-
loide. En el caso de partculas muy pequeas la energa que transporta
la componente difusa es mucho menor que la componente coherente,
de modo que es posible despreciarla. ste es justo el caso cuando se uti-
liza la electrodinmica continua para describir el comportamiento de
medios homogneos, pues se puede considerar que los tomos o mo-
lculas son las partculas inmersas en una matriz vaco en donde la
componente difusa es despreciada completamente. Cuando el tamao
de partculas es grande comparado a l0 (x 0) se han hecho esfuerzos
por extender la validez de las TME, las cuales son denominadas teo-
ras de medio efectivo extendidas (TMEE) para una perspectiva ms
detallada de las teoras TME y TMEE lase la introduccin de las refe-
rencias.22,23 Mientras que en el caso de partculas pequeas es suficien-
te considerar el campo radiado en la aproximacin dipolar, en el caso de
partculas grandes el patrn de radiacin de los campos electromagnti-
cos incluye trminos de mayor orden en una expansin multipolar. En
las TMEE, el concepto de medio efectivo est asociado nicamente a

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48 Refractometra ptica de medios opacos

la parte coherente o promedio de los campos, y la energa transportada


por la componente difusa slo aparece en el balance de energa como
una contribucin a la parte imaginaria de las funciones de respuesta
efectiva. Se debe enfatizar que, en general, en ambas teoras se tienen
funciones de respuesta complejas, en las cuales la parte imaginaria
toma en cuenta la energa absorbida pero tambin la energa esparci-
da en todas direcciones conformando el campo difuso a diferencia de
la electrodinmica continua macroscpica en donde la parte imaginaria
es proporcional nicamente a la absorcin de la energa por el sistema.

Modelo de Van de Hulst

El primer intento para dar una frmula del ndice de refraccin efec-
tivo neff de un coloide turbio, compuesto por esferas idnticas de radio
a localizadas aleatoriamente en el vaco, fue dado por Van de Hulst
como:8

(47)

donde x = k0nma y S (0) es la amplitud de esparcimiento en la direccin de


incidencia, f es la fraccin de llenado y nm es el ndice de refraccin del
medio en el que se encuentran inmersas las partculas. Aqu K0 = 2p/
l0 es el nmero de onda de la radiacin incidente y l0 es la longitud
de onda de la radiacin incidente. Note que S (0) es una cantidad com-
pleja, as que incluso en la ausencia de absorcin neff puede tener una
parte imaginaria debido al esparcimiento de luz.

Modelo de Keller

Muchos investigadores se han dedicado a explicar la extincin de la luz


en sistemas con partculas. Sin embargo, en la mayora de la literatura
cientfica sobre el esparcimiento de luz, los autores parecen coincidir en
que la eficiencia de esparcimiento de las partculas se reduce conforme
la fraccin de volumen de las partculas se incrementa. Por ejemplo,

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 49
un modelo comn y exitoso para calcular la seccin transversal de es-
parcimiento en sistemas densos de partculas es la llamada interference
approximation.24,25 Este modelo siempre predice que la eficiencia de es-
parcimiento decrece conforme la fraccin de volumen se incrementa.
Sin embargo, en Ishimaru26 y Hespel27 se encontr, experimentalmente,
que el esparcimiento efectivo por partcula puede incrementarse con la
fraccin de volumen cuando las partculas son comparables o incluso
ms grandes que la longitud de onda. Un modelo que ha demostrado
ser til para el anlisis de sistemas de partculas de tamao comparable
o ms grande que la longitud de onda es el modelo de Keller.28
El modelo de Keller, originalmente fue derivado en Keller 1964,29
y recientemente derivado en Durant et al. 200730 donde se obtiene la
siguiente ecuacin para la constante de propagacin efectiva:

(48)
donde k = 2pmn/l0 y keff es la constante de propagacin efectiva, g (u)
es la denominada funcin de distribucin por pares. En general, la l-
tima funcin puede ser aproximada usando la funcin de correlacin de
dos partculas Percus-Yevick hasta fracciones de volumen de 30%,28
pero si la fraccin de volumen es menor a 10%, la simple aproximacin
hole-correlation g (u) es suficiente.26 En la ecuacin (48), un nombre apro-
piado para la ecuacin de dispersin para la constante de propagacin
efectiva es: la aproximacin de Keller auto-consistente (self-consistent
Kellers approximation).28

Tomando la raz cuadrada en ambos lados de la ecuacin (48), expan-


diendo en potencias de la densidad de partculas y manteniendo los
trminos hasta de segundo orden nicamente, obtenemos:

(49)

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50 Refractometra ptica de medios opacos

donde

(50)

Puesto que la aproximacin en la ecuacin (49) mantiene los trminos
de hasta segundo orden en la fraccin de llenado de las partculas, nos re-
feriremos a sta como la aproximacin cuadrtica de Keller.
Finalmente, dados los antecedes explicados anteriormente podemos
establecer algunas tcnicas para medir las propiedades pticas de me-
dios turbios, tema que tomaremos en el siguiente captulo.

Notas
1 Bohren y Huffman, 1983: 9-10.
2 Ishimaru, 1991.
3 Ishimaru 1999.
4 Schuster, 1905.
5 Chandrasekhar, 2013.
6 Rupert, 1974.
7 Rupert y Latarjet, 1978.
8 Hulst, 1957.
9 Hull, 1999.
10 Case y Zweifel, 1967.
11 Boas, 1996.

12 Farrell et al., 1992.


13 Kubelka y Munk, 1931.

14 Vargas, 1999.
15 Kubelka, 1948.

16 Yang et al., 2004b.

17 Saunderson, 1942.
18 Yang y Kruse, 2004a.

19 Marcus y Pierce, 1994.


20 Vargas, 2011.

21 Yang y Miklavcic, 2005.

22 Barrera y Garca-Valenzuela, 2003.


23 Plass et al., 1973.

24 Huang y Sevick-Muraca, 2004.


25 Dick y Ivanov, 1999.

26 Ishimaru y Kuga, 1982.

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Propiedades pticas de medios inhomogneos 51
27 Hespel et al., 2001.
28 Garca-Valenzuela et al., 2013.
29 Keller, 1964.
30 Durant et al., 2007.

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52 Refractometra ptica de medios opacos

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Captulo 2

Tcnicas establecidas
para la caracterizacin
de medios turbios

E
n este captulo se describe una tcnica experimental denominada
absorbedor aadido. Se presentan los fundamentos tericos y la
tcnica experimental utilizada para obtener los coeficientes de extin-
cin, absorcin y esparcimiento reducido, permitindonos comprender,
desde una perspectiva de transferencia radiativa, en su aproximacin de
difusin, la forma en que la luz interacta con los medios coloidales
y las limitaciones actuales para monitorear procesos en medios alta-
mente turbios. Se mostrarn resultados experimentales con ltex y
dixido de titanio (TiO2) medidos a una longitud de onda y tambin
se presentarn resultados espectroscpicos.

Absorbedor aadido

En este captulo se plantea el estudio, el desarrollo y la aplicacin de


la tcnica de absorbedor aadido propuesta por Zacantti1 para carac-
terizar medios turbios y densos, por medio de la medicin de los pa-
rmetros pticos denominados como coeficiente de atenuacin matt,
coeficiente de esparcimiento reducido ms y el coeficiente de absorcin
ma descritos en el captulo de antecedentes.
La difusin de luz en un medio turbio se puede describir con un
coeficiente de absorcin ma, un coeficiente de esparcimiento ms y la fun-
cin de fase del esparcimiento p (q). Si la concentracin volumtrica

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54 Refractometra ptica de medios opacos

de partculas, esto es, el volumen ocupado por las partculas al volumen


total, es suficientemente pequea, la distancia promedio entre partcu-
las es grande con respecto a sus dimensiones. En este caso las propieda-
des de esparcimiento y absorcin sern proporcionales a su densidad.
En un medio con una densidad alta, la distancia entre partculas
llega a ser comparable con la longitud de onda, por lo que la correlacin
entre cada una de las partculas deber de ser tomada en cuenta y las
propiedades pticas sobre la densidad exhiben desviaciones significa-
tivas de la simple dependencia lineal con la densidad de partculas a
bajas densidades.
El TiO2 es un pigmento que es ampliamente utilizado en la indus-
tria de recubrimientos debido a su habilidad para esparcir luz en el
espectro visible. La capacidad de esparcimiento de una partcula en
general depende de muchos factores que incluyen: el tamao de part-
cula, la estructura cristalina, el contraste de ndice de refraccin entre
la partcula y la matriz, y el grado de aislamiento entre las diferentes
partculas de TiO2 esto es, el grado de dispersin. A este ltimo
factor se le da en general mucha importancia debido a que cuando las
partculas estn muy prximas, interfieren unas a otras en su capacidad
de esparcir la luz. Esto se refleja en una curva de esparcimiento como
funcin de la concentracin en volumen del TiO2. A bajas concen-
traciones la respuesta del esparcimiento se espera lineal, conforme la
concentracin se incrementa la distancia entre las partculas se reduce
y se espera que disminuya la capacidad de esparcir la luz, es decir, a con-
centraciones ms altas la eficiencia del esparcimiento comienza a dis-
minuir debido al aglomeramiento de las partculas. A la fecha no se han
reportado resultados experimentales del esparcimiento debido a par-
tculas de TiO2 a concentraciones relativamente altas 12% a 20% de
concentracin en volumen, nicamente se han establecido grficos
orientativos2 pero sin establecer a qu concentraciones el comporta-
miento en el esparcimiento de la luz por partculas con gran ndice de
refraccin deja de ser lineal con la concentracin, por lo que ha sido
indispensable medirlas para entender el comportamiento de la luz a con-
centraciones altas de partculas con un alto poder de esparcimiento.
Cuando se trabaja con una onda electromagntica en un medio que
contiene muchas partculas es ventajoso considerar dos casos extremos,

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 55
baja y alta densidad de partculas. Cuando sta es baja, se puede usar la
aproximacin de esparcimiento simple; en esta aproximacin se asu-
me que la onda incidente proveniente del transmisor recae en el recep-
tor despus de encontrar muy pocas partculas. La onda esparcida se
asume como debida al esparcimiento simple por una partcula y todos
los dobles y mltiples eventos de esparcimiento pueden ser ignorados.
La formulacin en este caso es simple y ha sido usada extensivamente.
Conforme la densidad de partculas se incrementa, es imposible asu-
mir que la onda de la fuente sea idntica a la onda incidente al sistema,
y es necesario tomar en cuenta la atenuacin debido al esparcimiento y
la absorcin a lo largo del camino de la partcula en cuestin. La onda
esparcida en esta aproximacin es aquella que ha sido esparcida una vez
por la partcula, pero esta vez la onda incidente sobre esta partcula ha
sido previamente atenuada por el esparcimiento y la absorcin a lo largo
del camino hasta el esparcidor. Esto toma en cuenta algunos de los ml-
tiples eventos de esparcimiento y por lo tanto se nombra a sta como
esparcimiento mltiple de primer orden.3
Es posible emplear el esparcimiento simple; sin embargo, esta aproxi-
macin llega a ser inadecuada conforme la densidad de partculas se
incrementa y la intensidad coherente llega a ser comparable o menor
que la intensidad incoherente.
La aproximacin de esparcimiento simple y las soluciones de pri-
mer orden son aplicables a medios pticamente tenues. En general, son
vlidos nicamente cuando la densidad de volumen, la cual es la rela-
cin del volumen ocupado por las partculas al volumen total del me-
dio, es considerablemente ms pequeo que 0.1%. Cuando la densi-
dad en volumen es mucho mayor que 1% la aproximacin de difusin da
soluciones relativamente simples y buenas.3 Para una densidad de volu-
men en la vecindad de 1% ni la solucin de primer orden ni la aproxi-
macin de difusin puede ser vlida, y la ecuacin completa de trans-
ferencia radiativa debe ser resuelta.4
Esas dos aproximaciones, esparcimiento simple y aproximacin de
primer orden, son aplicables a muchos problemas prcticos y son ex-
tremadamente tiles porque su formulacin es relativamente simple.
Sin embargo, ambas aproximaciones son aplicables nicamente a den-
sidades bajas de partculas. En contraste, cuando la concentracin de

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56 Refractometra ptica de medios opacos

partculas es alta se puede utilizar otra tcnica til llamada la aproxi-


macin de difusin.
En la aproximacin de difusin se asume que la intensidad difusa
encuentra muchas partculas y stas se esparcen casi uniformemente en
todas direcciones y, por lo tanto, su distribucin angular es casi uni-
forme. La dependencia angular no puede ser constante, porque si lo
fuera, el flujo sera cero y no habra propagacin neta de potencia.
Para un medio con una densidad alta, la propagacin de la luz ocu-
rre en un rgimen difusivo. En dicha aproximacin, la fluencia F (r)
(componente isotrpica de la radiancia [potencia/rea-ngulo slido]),
debida a una fuente puntual se puede modelar como:1

(51)

donde matt es el coeficiente de atenuacin y , siendo
ma el coeficiente de absorcin y ms el coeficiente de esparcimiento re-
ducido. Esto es vlido en el caso en que ms? ma.1 Los coeficientes de
atenuacin, esparcimiento y absorcin son funciones del tamao de par-
tcula, del contraste de ndice de refraccin entre las partculas y el me-
dio que las contiene y la longitud de onda de la radiacin con que se
iluminen.

Implementacin de la tcnica de absorbedor aadido

El mtodo que estudiamos para estimar la absorcin ptica y el espar-


cimiento de la luz en un medio inhomogneo muy turbio se conoce
como el mtodo del absorbedor aadido. El coeficiente de extincin
es funcin del esparcimiento y de la absorcin. La obtencin de este
coeficiente es el paso previo para culminar con la tcnica del absorbe-
dor aadido, de ah su importancia. El objetivo es preparar un experi-
mento con un medio inhomogneo en una situacin tal que la ecuacin
de difusin describa adecuadamente el comportamiento de la fluencia
F (r) componente isotrpica de la radiancia. Es necesario que la
absorcin de las partculas sea pequea y que las fronteras estn lejos
de la fuente y el detector.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 57
El absorbedor aadido es una tcnica de medicin que permite
obtener en una primera instancia el coeficiente de atenuacin y poste-
riormente, mediante la adicin de pequeas cantidades de una sustan-
cia absorbedora de luz, los coeficientes de absorcin y esparcimiento
de manera separada. La configuracin experimental se muestra en la
figura 11.

Figura 11. Esquema del montaje experimental para la medicin del coeficiente de extin-
cin: a) con luz lser verde, y b) con luz policromtica y espectrofotmetro.

La tcnica requiere preparar en un recipiente suficientemente grande el


medio inhomogneo, en este caso una mezcla de agua y partculas de
TiO2 o simplemente agua y ltex. Dentro del medio se coloca una fibra
ptica que sirve como fuente puntual emitiendo luz lser en el caso

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58 Refractometra ptica de medios opacos

monocromtico o luz blanca en caso de una medicin espectrosc-


pica en el visible. En el extremo final se coloca una pequea esfera
con material difusor una mezcla de cemento ptico con TiO2 para
que la fuente acte como fuente isotrpica a concentraciones bajas.
Se coloca otra fibra ptica que acta como detector, que tambin
posee una esfera difusora en la punta. Cuando la medicin es a una
longitud de onda lser, la fibra detectora es conectada a un tubo fo-
tomultiplicador y la seal captada es enviada a un amplificador lock-in
para su medicin. Para la deteccin espectroscpica la fibra detectora es
conectada a un espectrofotmetro y la fuente de alimentacin es una
luz blanca. En ambos casos la seal es capturada y analizada mediante
una interfaz programada en Labview, en la cual se realiza gran parte del
proceso de la seal adquirida durante el experimento.
Para cada longitud de onda se mide la fluencia F (r) dentro del me-
dio inhomogneo como funcin de la separacin r entre la fuente y el
detector. De la ecuacin (51) se puede hacer un ajuste lineal y el valor de
la pendiente es el coeficiente de atenuacin.

(52)

Para obtener los coeficientes de absorcin y esparcimiento reducido se
agregan pequeas cantidades de una solucin de tinta calibrada de ah
el nombre de absorbedor aadido y se mide el valor de la extincin.
Por calibrada se quiere decir una sustancia a la cual se le ha medido el
coeficiente de absorcin. De esta forma se va variando poco a poco
este coeficiente ma para luego realizar otro ajuste lineal, pero esta vez
proveniente de la ecuacin

(53)

de este ajuste se obtiene

(54)

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 59
Donde m y b son la pendiente y la ordenada al origen de la recta
, respectivamente.
La contribucin de la tinta calibrada se puede obtener por
medio de la ley Beer-Lambert.5 El decaimiento de la intensidad de la
luz dI en un medio homogneo es proporcional a la intensidad I y al
elemento de la distancia diferencial d

(55)

La intensidad decae exponencialmente:

(56)

La constante de absorcin g es dependiente de la concentracin c y del
coeficiente de absorcin a unidades de distancia-1 de la sustancia
bajo estudio g = ca. Por lo tanto, para caracterizar la solucin absor-
bedora base basta con conocer la transmitancia (T) de una celda de
longitud d y mediante un ajuste determinar el coeficiente de absorcin.

(57)

La primer parte de la experimentacin con la tcnica del absorbedor
aadido se centr en estudiar a una longitud de onda diferentes suspen-
siones de TiO2 a diferentes concentraciones y tamaos de partculas.

Medicin del coeficiente de extincin para una longitud de onda

Se utilizaron partculas de TiO2 de un dimetro promedio de 190 nm


suspendidas en agua para obtener diferentes concentraciones volum-
tricas. Se agreg un dispersante para mantener estabilizada la suspen-
sin.
Como fuente de alimentacin para la tcnica del absorbedor aa-
dido se utiliz un lser argn-kriptn a 52 mW con longitud de onda
de l=514 nm. La luz lser se introduce mediante la fibra al medio in-
homogneo (vase figura 11a). La seal es recogida por otra fibra y un

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60 Refractometra ptica de medios opacos

detector. El detector se caracteriza por estar ajustado a una ganancia de


20 dB. Se utiliz una deteccin tipo lock-in con una frecuencia de refe-
rencia chopper igual a 150 Hz. La ganancia en el amplificador lock-in
es de 30 dB teniendo una sensibilidad de 5 mV. La separacin r entre
las fibras fuente-detector se vari por medio de un micro-posiciona-
dor controlado por computadora.
Para satisfacer las condiciones de aplicabilidad de la aproximacin
de difusin se prepar una muestra de TiO2 grande. Se prepararon 1800
grs de agua con dispersante al 4% en peso. El agua con dispersante se
coloc en un recipiente grande para medir el coeficiente de extincin.
El contenedor se coloc sobre una base agitadora con el objetivo de que
la mezcla se mantuviera en agitacin constante. Se agreg TiO2 de tal
forma que se tuviera una fraccin de llenado de alrededor de 24%. Se
procedi a hacer una medicin de la fluencia como funcin de la distan-
cia entre la fuente y el detector. Posteriormente se fue agregando agua
de tal forma que fuera disminuyendo la fraccin de llenado de TiO2 y
nuevamente se midi la fluencia al variar la separacin de las fibras que
actan como fuente y detector. La figura 12 muestra una curva tpica ob-
tenida durante la medicin. Cuando las dos fibras fuente-detector
se encuentran muy pegadas, no se cumplen las condiciones de difusin
de la luz y por eso la medicin de la fluencia es errnea, despus de
una separacin mayor, la curva de fluencia muestra un comportamien-
to lineal con la separacin entre las fibras, finalmente, cuando la sepa-
racin es grande el detector es incapaz de hacer una medicin correcta
y nuevamente se pierde la linealidad. Conociendo la fraccin volum-
trica FV y tomando la parte lineal de la curva haciendo un ajuste lineal
de acuerdo con la ecuacin (52) tenemos,

(58)

De donde se puede extraer el coeficiente de atenuacin matt a partir de
la pendiente.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 61
En la figura 12 se muestra un ejemplo de las mediciones realizadas.
Se observa que en una regin amplia, la relacin entre la separacin de
las fibras y el logaritmo de la fluencia tiende a ser lineal. Cuando la
fuente y el detector estn muy cercanos, o cuando la seal detectada es
ruidosa debido a que la intensidad es baja, se observa una desviacin
del comportamiento lineal.

Figura 12. Resultado de una medicin de fluencia al variar la separacin entre las fibras.

La medicin de la figura 12 corresponde a una fraccin de volumen


de FV = 2.76%. Mediante un ajuste a la parte lineal, de acuerdo con
la ecuacin (58), es posible determinar el valor del coeficiente de ate-
nuacin matt.
Se procedi a realizar la medicin ejemplificada en la figura 12 para
diferentes fracciones volumtricas de un mismo tipo de TiO2. Los re-
sultados se muestran a continuacin:

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62 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 13. Grfica del coeficiente de atenuacin como funcin de la fraccin de volumen
de partculas para diferentes concentraciones de TiO2.

La grfica mostrada en la figura 13 corresponde a dos mediciones realiza-


das para el mismo tipo de TiO2 con el objetivo de observar la repeti-
bilidad en el mtodo. De la tcnica de medicin se estima que el error
asociado es de alrededor de 7%. Podemos observar en la grfica de la
figura 13 que la curva de la segunda medicin puntos en color rojo
presentan una variacin de alrededor de 5%. Esta variacin se debi a
que por cerca de una hora se dej el sistema sin agitar y posteriormente
se retom la medicin pero se encontraba asentado, en el fondo del
contenedor, algo del TiO2; no percibimos esta variacin hasta que ana-
lizamos los datos, al trmino del experimento.
Con base en los resultados anteriores, y ya que disponamos de di-
ferentes tamaos de TiO2, tomamos otras mediciones: para 190 nm,
405 nm y el tercero con tamao desconocido. La figura 14 muestra los
resultados obtenidos.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 63

Figura 14. Comparacin del coeficiente de atenuacin para diferentes tipos de TiO2 al
incrementar la fraccin de volumen.

Dado que la absorcin del dixido de titanio es muy pequea para la


longitud de onda con la cual se realiz el experimento (l = 514 nm), se
puede considerar que el coeficiente de extincin est dominado por
la luz esparcida por las partculas, con lo cual el grfico de la figura 14
indicara que de los tres diferentes dixidos de titanio utilizados el mejor
sera el de tamao de 190 nm, pues ste es el que esparce la luz ms efi-
cientemente o por lo menos se encuentra optimizado para esta longi-
tud de onda. Comparando las tres curvas de la figura 14 se observa una
variacin de alrededor de 17% entre el TiO2 de tamao desconocido y
el de 405 nm, el valor de matte llega a tener una variacin de 52% para
la concentracin ms alta medida. Esto es una diferencia significativa
debido a la diferencia de tamao de las partculas de TiO2, observacin
importante que, por ejemplo, puede ser muy importante para la indus-
tria de pinturas.

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64 Refractometra ptica de medios opacos

Obtencin de los coeficientes de esparcimiento reducido y absorcin


a una longitud de onda

Para determinar ms y ma es necesario repetir el experimento pero ahora


agregando pequeas cantidades de un material absorbedor calibrado.
Para esto, se prepar una solucin base que consisti en:

200 ml de agua destilada.


1 ml de tinta china Stafford.

Se caracteriz la solucin absorbedora base al realizar diferentes dilu-


ciones en agua. Sabiendo que la transmitancia de una celda de longitud
d est dada por

(59)

Donde a es el coeficiente de absorcin de la solucin absorbedora base
y c es la concentracin de sta en la dilucin. Utilizando una celda
cuadrada de 1 cm por lado, se midi el coeficiente de extincin de nueve
diluciones. Por medio de un ajuste de mnimos cuadrados, se determi-
n que a = 2.88 mm-1.

Figura 15. Datos experimentales y ajuste lineal de los valores de transmitancia para ca-
racterizar la solucin absorbedora. El valor de la pendiente es 28.8 1.6 [cm-1].

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 65
Con la calibracin de la solucin absorbedora, se procedi a aumen-
tar la absorcin de la mezcla base de dixido de titanio agregndole
solucin absorbedora con base en incrementos muy pequeos. Utili-
zando la expresin para calcular los coeficientes pticos de una mezcla
de dos medios inhomogneos c1ma(1) + c2ma(2) donde cj = Vj/ (V1 + V2)
donde V1 y V2 son los volmenes de las sustancias base, se encuentra
que el nuevo coeficiente de absorcin est dado por:

(60)

donde

a es el coeficiente de absorcin de la solucin absorbedora base, ma(0)


es el coeficiente de absorcin de la mezcla base de dixido de titanio.

Tenemos entonces que,

(61)

con (que en este caso era de ).
Con los conocimientos mostrados antes se procedi a agregar pe-
queas cantidades de la solucin de mezcla base absorbedora a diferen-
tes FV para el TiO2 de 190 nm de dimetro. La tcnica del absorbedor
aadido se implement para fracciones de volumen de 1, 3, 5, 7 y 9%.
Se verific que los valores del coeficiente de atenuacin fueran concor-
dantes con las mediciones anteriores, por lo cual se midi el coeficiente
de extincin de las mezclas sin absorbedor agregado. Se comprob que
las mezclas de TiO2 eran adecuadas y que los valores medidos eran
adecuados.

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66 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 16. Comparacin del coeficiente de atenuacin del TiO2 medido anteriormente
(verde) con el implementado para la tcnica de absorbedor aadido (rojo).

Se determin la contribucin de la solucin absorbedora agregada a


cada fraccin volumtrica para la cual se aplic la tcnica del absorbe-
dor aadido obtenindose los siguientes valores:

Fraccin Contribucin de la solucin


volumtrica absorbedora

1% a = 7.036X104 [mm-1].
3% a = 5.36X103 [mm-1].
5% a = 5.314X103 [mm-1].
7% a = 0.351X103 [mm-1].
9% a = 0.358X103 [mm-1].

Con la tcnica del absorbedor aadido se espera que la grfica de


m2att contra Dma sea una lnea recta cuando la contribucin de la sustan-

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 67
cia absorbedora adicionada a la mezcla de TiO2 sea pequea. La figura
17 muestra dos ejemplos de la medicin obtenida.

Figura 17. Grficas de m2atte contra Dmabs para diferentes concentraciones de TiO2.

Mediante un ajuste a la parte lineal de cada una de las grficas ante-


riores y con el conocimiento de la pendiente y de ordenada al origen,
de acuerdo con las expresiones, es posible determinar los coeficientes de
absorcin y esparcimiento para cada fraccin de volumen. Los resulta-
dos se presentan en la tabla 1.

FV M b s [mm-1] a [mm-1]
1% 216.70552 0.48882 72.24 2.56% 2.26e-3 7.10%
3% 452.47444 2.01051 150.82 1.28% 4.33e-3 6.9 %
5% 763.01418 7.01642 254.34 3.02% 9.2e-3 12. 03%
7% 760.1674 14.68143 253.38 7.03% 19.31e-3 16.52%
9% 2185.8769 25.61105 728.63 2.42% 11.72e-3 7.23%

Tabla 1. Resumen de los parmetros encontrados mediante la tcnica de absorbedor aa-


dido, se muestra la pendiente M y la ordenada b obtenida mediante un ajuste lineal de
los datos obtenidos; tambin se muestran los valores para los coeficientes de absorcin y
esparcimiento reducido obtenidos a partir de los datos experimentales.

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68 Refractometra ptica de medios opacos

De los resultados mostrados en la tabla 1 podemos observar que los


valores obtenidos para el coeficiente de esparcimiento reducido ms es
mucho mayor que el coeficiente de absorcin, siendo este resultado
congruente con la hiptesis de aplicacin de la tcnica de absorbedor
aadido. En general, es importante destacar que ms es aproximadamen-
te cinco rdenes de magnitud mayor que ma. Los errores obtenidos en
la estimacin del coeficiente de esparcimiento reducido fueron meno-
res a 7%, contrastando con los errores obtenidos para el coeficiente de
absorcin que estuvieron por debajo de 17%, este error es debido a la
baja absorcin mostrada por el TiO2 haciendo ms difcil su medicin.

Mediciones con tubo fotomultiplicador

Empezados los experimentos tuvimos acceso a un tubo fotomultipli-


cador, el cual nos sirvi para repetir los experimentos del absorbedor
aadido con el lser, adems de mejorar la tcnica de medicin. El tubo
fotomultiplicador nos permiti medir coeficientes de extincin a con-
centraciones ms altas de partculas.
Se encontr que cuando la lectura dada por el tubo fotomultipli-
cador es menor a 5 nA el error que se obtiene en la medicin es de
alrededor de 2%, esto se hizo midiendo una mezcla con una FV a 2%
determinando la magnitud y la desviacin estndar de la seal medida.
Tambin por debajo de 5 nA medidos en el amplificador lock-in, se
observa que la fase de la seal puede variar en un rango muy grande,
indicndonos que los puntos obtenidos ya no son confiables. Se hizo
una medicin completa para el TiO2 de 190 nm y se obtuvieron los valo-
res del coeficiente de extincin, comparndolos con los ya obtenidos
con el detector convencional, resultados mostrados en la figura 8.
Se encontr que los valores obtenidos mediante el tubo fotomulti-
plicador empatan con los obtenidos por el detector convencional. Tam-
bin se encontr que es posible medir el coeficiente de extincin hasta
FV de 24% comparado con el 11% que se alcanzaba a medir con el
detector convencional.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 69

Figura 18. Comparativo entre las mediciones hechas para el TiO2 de 190 nm de dime-
tro, realizadas con el detector convencional (puntos color rojo) y el tubo fotomultiplica-
dor TFM (puntos color azul).

Medicin con espectrofotmetro

Continuando con la comprensin de los parmetros pticos en la


aproximacin de difusin, procedimos a medir suspensiones turbias de
partculas de PMMA (ltex). Para ello se dise una interfase en Lab-
view la cual nos facilitara la adquisicin de datos para su posterior
anlisis.

Medicin espectroscpica de suspensiones de ltex

Las mediciones experimentales se llevaron a cabo con la metodologa


experimental descrita en la figura 11a. Los cambios que se hicieron
fueron agregar como detector un espectrofotmetro de la marca Ocean
Optics y como fuente se utiliz un monocromador.

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70 Refractometra ptica de medios opacos

Llevamos a cabo mediciones de la tasa de fluencia para 1 r 50


mm dentro del medio turbio para longitudes de onda l de 400 l
800 nm. El volumen del medio turbio medido fue de alrededor de 3
litros. Pudimos obtener ln [r F (r)] como funcin de r para diferentes
concentraciones de partculas de ltex de dimetros de 250 nm y 450
nm, posteriormente obtuvimos el mejor ajuste lineal que se apegaba a
los resultados, de cuya pendiente obtenemos matt. Podemos medir con
esta tcnica concentraciones en volumen de partculas desde 2.6% hasta
alrededor de 50% en una amplia regin del espectro.
En la figura 19 se muestran las mediciones matt para partculas de
ltex de dimetro de 250 nm inmersas en agua destilada. La figura 19a
muestra los espectros de matt obtenidos para diferentes concentraciones
de partculas. La figura 19b muestra algunos ejemplos del coeficiente de
atenuacin versus la concentracin en volumen de partculas para dife-
rentes longitudes de onda. Podemos ver en la figura 19 que, debido a
que el tamao de las partculas son del mismo orden que la longitud de
onda, pequeos cambios causan variaciones significativas en las propie-
dades de atenuacin. Los resultados mostrados en la figura 19b mues-
tran que para l < 600 nm las curvas del coeficiente de atenuacin
crecen conforme la concentracin de partculas se incrementa, y esto
es ms evidente para pequeas longitudes de onda. Para l < 600 pode-
mos ver en la figura 19b que cuando la concentracin en volumen se
incrementa el coeficiente de atenuacin alcanza su mximo para una
concentracin de partculas relativamente baja.
En la figura 20 mostramos mediciones del coeficiente de atenua-
cin matt de partculas de ltex de alrededor de 450 nm inmersas en agua
destilada. Podemos observar que esas partculas esparcen luz menos efi-
cientemente comparadas con aquellas de dimetro de 250 nm.
La figura 21 muestra los espectros de absorcin como funcin de
la fraccin de llenado para partculas de ltex de 250 nm, en donde se
aprecia que los valores medidos de dicho coeficiente son muy peque-
os alrededor de cinco rdenes de magnitud comparados con los
valores obtenidos para su esparcimiento.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 71

Figura 19. a) Espectros experimentales obtenidos de suspensiones coloidales de ltex con


dimetro de 250 nm a diferentes fracciones de llenado de partculas; b) ejemplos de coefi-
cientes de atenuacin obtenidos para diferentes longitudes de onda.

Figura 20. a) Espectros experimentales obtenidos con suspensiones coloidales de ltex con
un dimetro de 450 nm a diferentes fracciones de volumen de partculas; b) ejemplos de
mediciones del coeficiente de atenuacin obtenidos para diferentes longitudes de onda.

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72 Refractometra ptica de medios opacos

a) b)

Figura 21. a) Espectro experimental del coeficiente de absorcin obtenido con una sus-
pensin coloidal de ltex de 250 nm a diferentes concentraciones de partculas; b) ejem-
plos de mediciones del coeficiente de absorcin obtenidos para diferentes longitudes de
onda.

a) b)

Figura 22. a) Espectros experimentales del coeficiente de esparcimiento reducido obteni-


dos para suspensiones coloidales de ltex de 250 nm de dimetro a diferentes fracciones
de volumen; b) ejemplos de mediciones del coeficiente de esparcimiento reducido obte-
nidos para diferentes longitudes de onda.

En la figura 22a se observa el espectro del coeficiente de esparcimiento


reducido medido en partculas de PMMA de 250 nm de dimetro, ha-
ciendo un anlisis selectivo de longitudes de onda se obtiene el grfico
mostrado en la figura 22b. Se mustran resultados de hasta 25% de con-
centracin en volumen. Para fracciones de volumen ms grandes hubo

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 73
cambios ms bruscos que pudieran deberse a un orden parcial induci-
do por la alta concentracin.
Podemos utilizar la relacin entre el coeficiente de atenuacin a una
fraccin de volumen FV (mattexp) y aqul estimado en el mismo valor
de FV bajo la suposicin de esparcimiento independiente (mattind) para
medir la fuerza del esparcimiento6,7 asumiendo que en el rgimen
difusivo la absorcin es muy pequea. A esta relacin nos referiremos
como el factor de eficiencia de atenuacin h

(62)

La figura 23 muestra la eficiencia de atenuacin para partculas de


PMMA de 250 nm, respectivamente. Podemos apreciar que la eficien-
cia de atenuacin disminuye a concentraciones relativamente bajas de
partculas. El coeficiente de atenuacin est relacionado con la parte
imaginaria del ndice de refraccin del medio turbio. La grfica de la
figura 23 muestra una prdida de sensibilidad conforme se aumenta
la concentracin, esto justifica investigar mediciones de la parte real
del ndice de refraccin de un coloide turbio como una alternativa para
sensar medios muy turbios de este tipo.

Figura 23. Grfica del factor de eficiencia de atenuacin h versus la concentracin en vo-
lumen de las partculas de ltex con np = 1.48 y un dimetro de 250 nm, para varias
longitudes de onda.

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74 Refractometra ptica de medios opacos

Conclusin

En la suspensin de ltex es posible medir el coeficiente de extincin


como funcin de la fraccin de llenado de las partculas a muchas lon-
gitudes de onda en el rango visible hasta concentraciones en volumen
altas, superiores a 30%. Para el sistema de TiO2 la configuracin expe-
rimental permite medir el comportamiento de la extincin con la frac-
cin de llenado a valores de alrededor de 25%.
Para el sistema de partculas de ltex se encuentra que las curvas
del coeficiente de atenuacin versus la fraccin de llenado se desva de
un comportamiento lineal a concentraciones volumtricas entre 5%
y 20% dependiendo de la longitud de onda de la luz. A algunas longi-
tudes de onda, las curvas de extincin se doblan considerablemente
mostrando que a altas concentraciones la turbidez del sistema decae
de su valor mximo alrededor de 5% de la concentracin. Este com-
portamiento ha sido descrito por muchos investigadores en el pasado y
es acorde con los modelos tericos disponibles para el coeficiente de ate-
nuacin de un coloide turbio. La desviacin de una relacin lineal es
comnmente explicada por los efectos de esparcimiento dependiente.
ste se entiende como la luz que es esparcida por una partcula, y que
proviene de luz que ha sido esparcida previamente por otra partcula,
en suma va a depender del nmero y disposicin de las partculas a su
alrededor.
Sorpresivamente, para el sistema de TiO2 la relacin entre el coefi-
ciente de atenuacin y la fraccin de llenado es aproximadamente lineal
hasta alrededor de 20%, significando que en este sistema de partculas
el esparcimiento por las partculas puede ser considerado independien-
te, inclusive a esas altas densidades y fuerte esparcimiento. Ntese que
los valores del coeficiente de atenuacin para suspensiones de partculas
de TiO2 son ms altos que con las partculas de ltex. Nosotros hemos
sido capaces de medir coeficientes de esparcimiento reducido tan al-
tos como 100 mm-1. Las consecuencias predecibles de tener un rango
extendido de esparcimiento independiente en esos sistemas puede ser
importante en muchas aplicaciones. Por ejemplo, es posible que median-
te la mezcla de diferentes TiO2 se alcancen valores mayores de espar-
cimiento permitiendo disminuir la cantidad de pigmento requerido en

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 75
una pintura. Los resultados obtenidos sern tiles para aclarar la fsica
detrs del esparcimiento dependiente e independiente en una suspen-
sin de partculas con mltiple esparcimiento mediante la compara-
cin de modelos establecidos.

El refractmetro de Abbe

El refractmetro de Abbe es el ms conveniente y ampliamente usado


debido a su facilidad de uso.8 La figura 24 muestra un diagrama es-
quemtico de su sistema ptico. La muestra a analizar con este tipo
de instrumento tpicamente est contenida como una capa delgada de
aproximadamente 100 m de grosor, contenida entre dos prismas. El
prisma superior est firmemente sujetado sobre un cojinete que per-
mite su rotacin. El inferior est articulado al superior para permitir
el limpiado y la colocacin de la muestra. La cara del prisma inferior
esta esmerilada: cuando la luz blanca emerge del prisma, esta superficie
acta como una fuente de un nmero infinito de rayos que pasan a
travs de la muestra a todos los ngulos, desde el punto de vista de an-
lisis clsico. La radiacin es refractada en la interfase de la muestra y la
cara del prisma superior. Despus sta pasa por un sistema de lentes
fijas. Dos prismas Amici, que pueden ser rotados uno con respecto al
otro, sirven para recoger los rayos divergentes en el ngulo crtico de
diferentes longitudes de onda en un solo rayo de color blanco, que co-
rresponde a la lnea de sodio D (589 nm). Al ser movidos ligeramente
los prismas Amici, vuelven ntida la lnea de separacin luz-sombra,
consiguiendo que se pueda medir el IR. El ocular del sistema de lentes
est dotado con un punto de mira: al hacer una medicin, el ngulo
del prisma es cambiado hasta que la interfase de luz-oscuridad coin-
cide con el punto de mira. De esta forma, leyendo la escala fija, se
obtiene el ndice de refraccin de la sustancia bajo estudio.
El refractmetro de Abbe es muy popular y esto se debe a su con-
veniencia, su amplio rango n=1.3 a 1.9 tpico en los refractmetros
comerciales, y a la mnima muestra que se requiere para medir. La
exactitud del instrumento es de aproximadamente 0.0002,9 su preci-
sin es la mitad de esa cifra. El error ms grave en el refractmetro de
Abbe es causado por el hecho de que los rayos ms cercanos a ngulos

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76 Refractometra ptica de medios opacos

rasantes se cortan por la disposicin de los prismas; la frontera es as


menos ntida de lo deseable.10
De manera clsica, el principio de funcionamiento del refract-
metro de Abbe se describe mediante la ptica de rayos. El ndice de re-
fraccin de una sustancia homognea transparente ordinariamente se
determina midiendo el cambio de direccin de la radiacin colima-
da de luz conforme sta pasa de un medio a otro. La ley de Snell des-
cribe este comportamiento,

(63)

Donde v1 es la velocidad de propagacin en el medio 1 y v2 es la veloci-


dad de propagacin en el medio 2. n1 y n2 son los ndices de refraccin
correspondientes, y q1 y q2 son los ngulos de incidencia y refraccin,
respectivamente.
Cuando el medio 1 es el vaco, n1 es unitario debido a que la ve-
locidad es la del vaco c , por lo que usando la ecuacin (63) se tiene:

(64)

donde nabs es el ndice de refraccin absoluto del medio 2. As, nabs


se puede obtener por medir dos ngulos, q1 y q2.
Usualmente, con el refractmetro de Abbe no podemos hacer me-
diciones en la cual tengamos el vaco, por lo que, conociendo el ndice
de refraccin del prisma de medicin n2 y asumiendo que es ms alto
que el del medio a medir, podemos medir el ngulo de la frontera de
la interfase luz-oscuridad, pudiendo localizar el ngulo crtico entre las
dos interfases y mediante la ley de Snell podemos determinar el ndice
de refraccin relativo de la sustancia bajo estudio,

(65)

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 77

Figura 24. Esquema de construccin del refractmetro de Abbe.

Existen varios factores que afectan la medicin del ndice de refraccin:

1. Temperatura. sta influye en el ndice de refraccin de un me-


dio debido principalmente a un cambio de densidad. Para mu-
chos lquidos, el coeficiente de temperatura cae en el rango de
35104 a 6534 (dn/dT)/C.11 El agua es una importante
excepcin, con un coeficiente de alrededor de 0.76 5104 a
0.8 5104 (dn/dT)/C.11,12
2. Longitud de onda de la luz utilizada. El ndice de refraccin de un
medio transparente decrece gradualmente con el incremento de
la longitud de onda. Este efecto es referido como dispersin nor-
mal. En la vecindad de las bandas de absorcin ocurren cambios

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78 Refractometra ptica de medios opacos

rpidos en el ndice de refraccin, esta se denomina dispersin


anmala.
3. Presin. El ndice de refraccin de una substancia se incrementa
con la presin debido a un acompaamiento de incremento en
la densidad. El efecto es ms pronunciado en gases, donde el
cambio en n es de alrededor de 35104 por atmosfera. Esta can-
tidad es menor por un factor de 10 para lquidos, y es an ms
pequea para slidos.

Limitaciones del refractmetro de Abbe con fluidos absorbentes

Todos los refractmetros desarrollados a la fecha asumen que sern usa-


dos con fluidos transparentes y su uso con lquidos absorbentes no
siempre es posible. Por otro lado, una de las formas ms robustas para
medir un ndice de refraccin de lquidos es mediante un refractme-
tro de Abbe, como ya se ha mencionado. Actualmente, muchos refrac-
tmetros en uso son de este tipo; sin embargo, no han sido explotados
en aplicaciones del orden micro por ejemplo micro fludica. Esto se
debe en parte a la falta de modelos rigurosos de ptica para medir con
el refractmetro de Abbe yendo ms all de la ptica geomtrica de ra-
yos. Por refractmetro tipo-Abbe queremos decir refractmetros en los
cuales la luz difusa es refractada desde una muestra fluida dentro de
un prisma de ndice de refraccin mayor, haciendo evidente el ngulo
crtico del cual el ndice de refraccin del fluido puede ser obtenido.
Aunque este refractmetro fue pensado para usarse con materiales
transparentes, en la prctica a menudo se usa con sustancias con algn
grado de opacidad sin precauciones. Muy pocos trabajos han sido dedi-
cados a entender su uso con medios opacos. Uno de ellos fue la investiga-
cin de Meeten y North13 muchos aos atrs. Pero muchas cuestiones
con respecto a la determinacin correcta de un ngulo crtico estn
abiertas a la fecha y ningn modelo ptico fue derivado en aquel en-
tonces.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 79
En el refractmetro estndar de Abbe la muestra est en forma de
una pelcula de fluido en la base de un prisma ptico de alto ndice
de refraccin. La luz difusa es transmitida a travs de la muestra del
prisma. La luz transmitida dentro del prisma es confinada a ngulos
de refraccin ms pequeos que el ngulo crtico. As, localizando la
frontera del cono de luz se obtiene el ndice de refraccin de la mues-
tra. Sin embargo, cuando la muestra no es pticamente transparente,
la frontera se hace difusa y la determinacin del ndice de refraccin
puede no ser tan sencilla. En esta seccin desarrollamos un modelo para
el perfil angular de intensidad de luz alrededor del ngulo crtico en
refractmetros de Abbe con fluidos absorbentes homogneos. Supo-
nemos que la luz esparcida dentro del fluido es despreciable. Nuestro
objetivo es proveer una frmula simple para el perfil de intensidad
angular alrededor del ngulo crtico en un refractmetro de Abbe es-
tndar, que puede ser relacionado con el ndice de refraccin complejo
de la muestra.

Modelo terico para una muestra fluida con absorcin

En los refractmetros de Abbe estndar la muestra fluida se coloca en-


tre la base de un prisma de vidrio y una superficie difusora translucida.
La luz incide en la superficie difusa desde el lado opuesto al prisma y
se esparce dentro de la pelcula de la muestra fluida como se muestra
en la figura 25. La luz transmitida dentro del prisma se refracta dentro
de un cono angular, limitado por el ngulo crtico. En la metodologa
estndar, el ndice de refraccin de la muestra fluida se obtiene de lo-
calizar el ngulo crtico del borde del cono de luz. Cuando sta tiene
un ndice de refraccin complejo, el perfil angular alrededor del cono
de luz se modifica con respecto al de la muestra que tiene un ndice de
refraccin real. Sin embargo, del perfil de intensidad angular es posible
obtener la parte real e imaginaria del ndice de refraccin de la mues-
tra fluida o simplemente variaciones de su valor.

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80 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 25. Esquema de la operacin bsica de un refractmetro de Abbe.

El modelo establecido aqu sigue muy de cerca el modelo desarrollado


en la siguiente seccin para los perfiles de intensidad angular de luz
esparcida dentro de un fluido coloidal y transmitido dentro de un me-
dio transparente de ndice de refraccin mayor. La diferencia aqu es
que las fuentes de radiacin efectivas que ocasionan el esparcimiento
no son distribuidas a travs de la muestra sino que estn todas locali-
zadas en un plano paralelo a la interfase entre el lquido absorbente y
el vidrio transparente de ndice de refraccin mayor, como se ilustra en
la figura 25.
Se considera una superficie rugosa opaca, plana en promedio, co-
locada a una distancia d de la superficie de abajo plana de un pris-
ma de vidrio transparente. Se asume que el espacio entre la superficie
irregular y la parte inferior del prisma se llena con un lquido homo-
gneo absorbente de ndice de refraccin complejo nm. Se coloca el
origen de coordenadas sobre la superficie entre el prisma y la muestra
lquida con el eje z apuntando dentro del prisma como se muestra en
la figura 25. Se asume que incide luz monocromtica de frecuencia
w a la superficie rugosa desde z < d y que es esparcida en todas las
direcciones. Se puede considerar la superficie rugosa iluminada como
un arreglo aleatorio de fuentes emitiendo incoherentemente en todas
direcciones. Las fuentes pueden ser modeladas como corrientes elctri-

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 81

cas embebidas en la muestra lquida de ndice de refraccin nm y distri-


buidas dentro de una pelcula muy delgada justo debajo de la muestra
lquida. Se divide la corriente que irradia en un gran nmero de co-
rrientes independientes. El campo elctrico radiado por la n-sima
corriente puede ser expresada como
1
(66)
1
Donde Vn es el volumen ocupado por la n-sima corriente y es
la funcin didica de Green de la ecuacin vectorial de Helmholtz, en
el medio muestra la frecuencia w. La dependencia en el tiempo est im-
plcita en todas las ecuaciones. Para puntos de observacin arriba de
todas las corrientes que irradian, podemos usar la siguiente expansin
en ondas planas de la funcin didica de Green.14
1
1
(67)

Donde k=kxax+ kyay kzaz y haciendo el cambio de variable r = rn + rs


donde rs es el vector de posicin relativo a el centro del volumen Vn con-
teniendo la n-sima corriente, se obtiene para puntos arriba de la super-
ficie rugosa

(68)

donde
1

(69)

Puesto que se asume que nm es una cantidad compleja, la ecuacin (68)


es una superposicin lineal de ondas planas inhomogneas en la mues-
tra. Ntese que el kernel es dividido por kz el cual es cero cuando k2x
+ k2y = k20n2m. Esto corresponde a ondas planas viajando paralelas a la
interfase entre la muestra lquida y el prisma el plano z = 0.
Ahora, se propagan esas ondas planas a travs de la muestra hasta la
superficie interior del prisma. Por simplicidad, se asume que el plano

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82 Refractometra ptica de medios opacos

de deteccin est fuera del prisma, a gran distancia de la interfase y


viendo hacia ella con la muestra lquida. Primero, se propaga el cam-
po justo antes de la interfase al evaluar la ecuacin (68) en z = 0. Se
obtiene,

(70)

Entonces, el campo en el otro lado de la interfase en z = 0+ se obtiene


por dividir los campos en sus componentes transversal elctrico, TE, y
transversal magntico, TM, y multiplicar por el correspondiente coefi-
ciente de transmisin. Entonces se cambia sn (kx,ky) por
1
(71)

Donde tTE y tTM son los coeficientes de transmisin para ondas con pola-
rizacin TE y TM, respectivamente, snTE (kx,ky) y snTM (kx,ky) son las proyec-
ciones de sn (kx,ky) sobre los vectores unitarios y
Puesto que nicamente la componente z de
k+ puede ser compleja, podemos ver que ^sTE es un vector real unitario.
Sin embargo, ^sTM es en general un vector complejo unitario.
Ahora se introduce el factor con
en el kernel de la ecuacin (70) para propagar el campo dentro del me-
dio incidente de ndice de refraccin np. Por lo que es posible propagar
el campo transmitido a la zona de campo lejano usando el mtodo de
fase estacionaria para evaluar las integrales.15 Para este fin, se asume
que la interfase transmite luz a travs de una apertura con una grande
pero finita rea A sobre el plano z = 0 . Y llevando el punto de obser-
vacin lejos en comparacin a las dimensiones laterales de la apertura.
Se obtiene,
1
(72)

Donde k1 = kp sin q cos f y k2 = kp sin q cos f son las coordenadas del


punto de fase estacionaria en el espacio (kx,ky) y (r, q, f) son coordenadas
esfricas del punto de observacin r. Tambin, ahora k+ = k1^ax + k2^ay+ kz^az

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 83
con el cual es en general complejo. Esto es, aho-
ra se tiene kz = Re(kz) + iIm(kz). La intensidad de luz est dada por la
magnitud del vector de Poynting promediado en el tiempo, el cual en el
caso de ondas planas auto-propagantes est dado por

Para obtener el perfil de intensidad en el plano de deteccin se debe


adicionar la contribucin de todas las corrientes localizadas que emi-
ten incoherentemente luz hacia el plano de deteccin. Por lo que se
suma la intensidad en el plano de deteccin debido a todas las corrien-
tes no sumamos los campos para fuentes incoherentes.
Por simplicidad se asume que todas las corrientes estn localizadas
dentro de una pelcula muy delgada de grosor h y dimensiones latera-
les de rea A. Sumando la intensidad debido a todas las corrientes y
tomando el lmite cuando el volumen ocupado por alguna de las co-
rrientes localizadas tiende a cero, se produce,
1

(73)
donde es la densidad de las corrientes que emiten
incoherentemente, y se asume que el rea A es grande comparada con
la profundidad de la muestra d. Puesto que los vectores unitarios sTE y
sTM son ortogonales uno a otro y asumiendo que la luz est polarizada
aleatoriamente se tiene,
1
(74)

Recordar que k1 y k2 son funciones de los ngulos de observacin q y f.


El perfil de intensidad se mide sobre un rango muy pequeo compa-
rado a 2p a lo largo del ngulo polar q alrededor del borde del cono
de luz y alrededor del plano de incidencia, esto es alrededor de f = 0.
Ntese que sn (k1,k2) es inversamente proporcional a kz, y la magnitud de
kz es mnima cuando es mnimo.
De esta forma es posible referirse al ngulo de observacin q que mini-
miza la ltima expresin como el ngulo crtico. Si el ndice de refrac-

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84 Refractometra ptica de medios opacos

cin efectivo se aproxima a un nmero real, el mnimo de la magnitud


de kz se aproxima a cero y sn (k1,k2) posee una singularidad. Sin embargo,
el coeficiente de transmisin tTE y tTM estn en la forma de los coeficien-
tes de transmisin de Fresnel. Entonces, ambos tTE y tTM son proporcio-
nales a kz. As, la ecuacin (74) no presenta singularidad cuando kz = 0.
1
As, en general, deber ser una funcin suave
de k1 y k2 y, por lo tanto, para una fija se pude aproximar sta como una
constante dentro de un pequeo rango de inters de las direcciones de
observacin. Ntese que la magnitud de sn deber ser proporcional so-
bre el promedio de la intensidad de la luz incidente I0. La integral en
la ecuacin (73) se simplifica a:

(75)

Donde y C es una constante determinada


experimentalmente. Se ha asumido un valor de h muy pequeo. ste
es el principal resultado aqu presentado. Debemos poner atencin en
el hecho de que q en la ecuacin (75) es el ngulo de viaje de la luz den-
tro del prisma. En un diseo prctico, el detector se coloca fuera del
prisma y se debe tomar en cuenta la refraccin de la luz cuando sale
del prisma.

Diseo experimental y pruebas experimentales para la medicin


de una muestra fluida con absorcin

Se ensambla el arreglo experimental mostrado en la figura 26. ste es


prcticamente el mismo descrito en el siguiente captulo con la diferen-
cia de que la muestra es iluminada con un diodo laser de 635 nm por
el lado del contenedor, el cual est formado por un empaque de plstico
sostenido a la base del prisma de medicin mediante una lmina semi-
traslcida opaca de plstico. Los detalles del funcionamiento general
del sistema de medicin as como su funcionamiento se describen en
el captulo 3.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 85

Figura 26. Esquema del arreglo experimental diseado para medir perfiles angulares de
intensidad de luz refractada desde una muestra lquida dentro de un prisma de ndice
de refraccin mayor cerca del ngulo crtico.

Una de las hiptesis del modelo derivado antes es que las dimensiones
laterales del rea iluminada en la base del prisma pueden ser conside-
radas como infinitas. Pero, en la prctica, el rea iluminada es finita y
podemos cuestionar si la luz esparcida viaja muy de cerca a ngulos
rasantes tal que la luz se refracte en el ngulo crtico. De hecho, cuando
el espesor de la muestra es muy grande comparado con la longitud de
onda, se hace muy difcil, si no es que hasta imposible, iluminar la base
del prisma a ngulos rasantes. La pregunta sigue siendo si para una
muestra con un espesor suficientemente pequeo existe suficiente luz
que alcance la interfase del prisma a incidencia rasante. En este punto,
la forma ms simple para responder a esta pregunta es investigar experi-
mentalmente. Para este fin, se suspendi una pelcula difusora en una
montura diseada especialmente para permitirnos variar la distancia a
la interfase del prisma d, en pasos de 20 m utilizando un micrmetro
operado manualmente. Se registr el perfil angular de la luz refractada

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86 Refractometra ptica de medios opacos

alrededor del ngulo crtico para diferentes valores de d. Observamos


que cuando d es mayor a 1 mm los perfiles angulares de intensidad mues-
tran una fuerte cada a un valor cercano de intensidad cero, a un ngulo
de refraccin claramente ms pequeo que el ngulo crtico de la inter-
fase. Sin embargo, conforme d decrece, los perfiles de intensidad angu-
lar eventualmente llegan a ser insensibles a d y la posicin angular del
fuerte descenso a cero de los perfiles de intensidad alcanza su mximo
valor, el cual debe ser el ngulo crtico. En la figura 27 se graficaron dos
perfiles de agua destilada, uno tomado para d de alrededor de 100 m
y el otro con la pelcula difusora presionada manualmente en la interfa-
se del prisma. El ltimo perfil muestra franjas de interferencia debido
a la mltiple reflexin de la luz dentro de la pelcula delgada de agua,
indicando que d ya no es muy grande con respecto a la longitud de
onda. De la localizacin angular del mximo en el patrn de interferen-
cia, se estima el grosor de la pelcula de agua que en este caso fue de
alrededor de 16 l.
Posteriormente, aprovechando tambin la versatilidad del arreglo
experimental, se coloc la pelcula difusora a una separacin inicial
d de 3.9 mm con respecto a la base del prisma, para posteriormente ir
acercndola con el micrmetro manual, midiendo los perfiles de inten-
sidad de manera constante a lo largo de la modificacin de la distancia.
En la figura 28 se muestran algunos de los perfiles obtenidos. La grfica
demuestra que para mediciones del ndice de refraccin es suficiente
tener una capa de muestra en un refractmetro tipo Abbe por debajo
de 500 m para asegurar que se est midiendo el ndice de refraccin
adecuadamente. Estas observaciones experimentales aseguran que en
el diseo experimental para valores de d por debajo de 500 m existe
suficiente luz esparcida a ngulos rasantes que alcanzan la interfase del
prisma iluminando el ngulo crtico.

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 87

Figura 27. Grfica de los perfiles angulares de intensidad obtenidos con una pelcula de
agua de dos diferentes espesores de alrededor de 100l y 16l. La curva para el espesor
ms delgado presenta efectos de interferencia.

Figura 28. Grfica de los perfiles de intensidad angular para encontrar adecuadamente
el punto de inflexin.

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88 Refractometra ptica de medios opacos

Comparacin de los perfiles experimentales con el modelo ptico

Tambin se diluyeron diferentes cantidades de tinta china en agua des-


tilada y se midi su coeficiente de absorcin a la longitud de onda del
lser utilizado en el diseo experimental con una cubeta rectangular. Se
midieron los perfiles de intensidad angular de luz refractada para cada
muestra preparada. Una pequea cantidad de muestra lquida fue colo-
cada en la interfase del prisma y la pelcula de plstico difusora fue
ligeramente presionada contra el prisma para formar un contenedor
de pelcula delgada con una pared difusora de luz. El espesor exacto de
esta pelcula resultante era desconocido. El haz lser se hizo incidir
de manera normal sobre la parte trasera de la pelcula difusora como se
muestra en la figura 26 y se midieron los perfiles de intensidad alrede-
dor del ngulo crtico. Se ajust el modelo de la ecuacin (75) al variar
el grosor de la muestra fluida y la parte real del ndice de refraccin al
mejor ajuste de los datos experimentales. En la figura 29 se muestran
las grficas de los perfiles angulares de intensidad y sus correspondien-
tes ajustes del modelo terico para las primeras cuatro muestras con
coeficientes de absorcin a = 1.70, 2.66, 3.00 y 4.07 mm-1. Se puede apre-
ciar que el modelo reproduce muy bien los datos experimentales en los
cuatro casos. La ltima muestra tiene un coeficiente de absorcin ele-
vado de a = 6.46 mm-1. En este caso, se presion ms fuerte el difusor
para formar una pelcula delgada. El correspondiente perfil de inten-
sidad angular y su mejor ajuste del modelo terico se muestra en la
figura 30.
Vase nuevamente que el modelo reproduce bien las curvas expe-
rimentales. El espesor de la muestra para los mejores ajustes del modelo
ptico son d = 106 l, 130 l, 90 l, 120 l, para las grficas en la figura 29
(a), (b), (c) y (d), respectivamente, y d = 52 l para la grfica en la figura
30. Para generar las curvas tericas en las ltimas grficas, se asume que
el ndice de refraccin del prisma es de 1.515 y se usa una longitud de
onda de 635 nm. La parte imaginaria del ndice de refraccin de la mues-
tra corresponde al coeficiente de absorcin medido y se obtiene de la
relacin a = 4pIm(nm)/l y estn indicados en cada figura. Aunque se
puede apreciar un pequeo corrimiento angular del punto de cambio
drstico de intensidad para mayores ngulos de refraccin para altos coe-

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 89

Figura 29. Perfiles angulares de intensidad alrededor del ngulo crtico para cuatro solu-
ciones de tinta china en agua destilada y los mejores ajustes del modelo ptico obtenido
por ajustar d y Re {nm}. Los coeficientes de absorcin fueron medidos para cada muestra,
(a) a = 1.70 mm-1; (b) a = 2.76 mm-1; (c) a = 3.00 mm-1; (d) a = 4.07 mm-1. Para las
curvas tericas, usamos np = 1.515, l = 635 nm, d = (a) 106 l, (b) 130 l, (c) 90 l y (d)
120 l, y Re {nm} = (a) 1.3338, (b) 1.3353, (c) 1.3348 y (d) 1.3368.

Figura 30. Perfiles de intensidad angular alrededor del ngulo crtico para una solucin de
tinta china en agua destilada con un coeficiente de absorcin a = 6.46 mm-1 y el mejor
ajuste del modelo ptico obtenido por ajustar d y Re {nm}. Para la curva terica, se us
np = 1.515, l = 635 nm, d = 52 y Re {nm} = 1.3363.

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90 Refractometra ptica de medios opacos

ficientes de absorcin, indicando que la parte real del ndice de refrac-


cin se incrementa, es demasiado pequeo para precisar su determina-
cin con nuestro arreglo experimental actual. Sin embargo, el excelente
ajuste del modelo a los perfiles experimentales asegura la validez del
modelo ptico.

Ejemplos numricos

Se ha validado el modelo ptico, se puede usar para estudiar la depen-


dencia de los perfiles de intensidad angular de luz refractada para di-
ferentes valores de la parte imaginaria del ndice de refraccin de la
muestra. En la figura 31a se dibuj el perfil angular de intensidad de luz
refractada cerca del ngulo crtico asumiendo un grosor de la muestra
de d = 100 mm y el fluido con un ndice de refraccin nm = 1.33 + ix.
Se muestran grficas para x = 106 ,105 ,104 y 103. Obsrvese que una
substancia con x = 103 deber ser completamente opaca en una cubeta
de 1 mm de grosor. Para los dibujos en la figura 31 se asume que el n-
dice de refraccin del prisma de vidrio es 1.515 y la longitud de onda
en el vaco es 635 nm.

Figura 31. Grfica de la intensidad versus el ngulo de refraccin (dentro del prisma) cerca
del ngulo crtico para una muestra fluida de ndice de refraccin nm = 1.33 + ix con
x = 106, 105, 104 y 103. El ndice de refraccin del prisma es de 1.515, la longitud de
onda es de 635 nm y el grosor de la muestra es de 100 m. (b) Grfica de la derivada
angular de las curvas en a).

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Tcnicas establecidas para la caracterizacin de medios turbios 91
Vase que para una pequea parte imaginaria del ndice de refraccin,
el perfil de intensidad se parece a una funcin escaln, a un ngulo cr-
tico determinado por la parte real del ndice de refraccin y el ndice
de refraccin del prisma. Conforme la parte imaginaria del ndice de
refraccin de la muestra fluida se incrementa, la curva del perfil angu-
lar se suaviza, pero ste decae a cero en el mismo ngulo. En los gr-
ficos para x = 106, 105 y 104 se puede observar que hay un punto de
inflexin. Se debe tomar el punto de inflexin como el ngulo crtico
qc. De ste, se puede obtener la parte real del ndice de refraccin de la
muestra usando la frmula usual ns = np sin1 qc, donde np es el ndice
de refraccin del prisma y ns deber ser en este caso la parte real del
ndice de refraccin de la muestra.
En la figura 31b se muestra la derivada angular de las curvas mos-
tradas en la figura 31a. Claramente, las primeras tres grficas para
x= 106, 105 y 104 muestran un mnimo agudo a bsicamente el mismo
ngulo. Sin embargo, la curva para x = 103 no muestra un mnimo y
por lo tanto su correspondiente grfica en la figura 31a no tiene punto
de inflexin. Es posible concluir que la refractometra con el refract-
metro de Abbe estndar ya no puede llevarse ms a cabo. Sin embargo,
ajustando el modelo de la ecuacin (75) al perfil angular de intensidad
se pueden recuperar las partes real e imaginaria del ndice de refraccin
de la muestra. Se puede apuntar aqu que si la dimensin d se reduce,
el perfil angular de intensidad para x = 103 cambia y el punto de infle-
xin aparece. Sin embargo, si d se reduce demasiado, el perfil de intensi-
dad empieza a extenderse ms all del punto de inflexin. De cualquier
forma, dependiendo del diseo particular de un refractmetro basado
en la refraccin de la luz difusa cerca del ngulo crtico, se puede usar
la ecuacin (75) tanto como el esparcimiento dentro de la muestra sea
despreciable.

Comentarios

En esta seccin derivamos una frmula simple del perfil de intensidad


angular de luz refractada de un fluido absorbente homogneo dentro de
un prisma transparente de ndice de refraccin mayor. La frmula pue-

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92 Refractometra ptica de medios opacos

de ser usada para modelar el diseo de un refractmetro basado en la


refraccin de luz difusa de una muestra de un fluido absorbente cerca
del ngulo crtico. Esto podra ser usado ventajosamente para obtener
la parte real e imaginaria del ndice de refraccin de una muestra flui-
da desde el perfil de intensidad angular alrededor del ngulo crtico en
refractmetros tipo Abbe.

Notas
1 Zaccanti et al., 2003.
2 Diebold et al., 2013.
3 Ishimaru, 1999.

4 Schuster, 1905.

5 Bohren y Huffman, 1983.

6 Ishimaru y Kuga, 1982.


7 Hespel et al., 2001.

8 Malacara, 1988.

9 Tilton, 1942.

10 Dodd, 1932.

11 Kohanzadeh et al., 1973.


12 Dobbins y Peck, 1973.

13 Meeten y North, 1991.

14 Barrera et al., 2007.

15 Collin, 1985.

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Captulo 3

Refractmetro por
reflexin difusa

E
n esta seccin se plantea un modelo para determinar el ndice de
refraccin (IR) efectivo de una suspensin turbia de partculas, par-
tiendo de la dependencia angular de la luz esparcida por las partcu-
las y transmitida al interior de un prisma transparente de alto IR. En la
parte experimental se mostrar como se ensambla un dispositivo expe-
rimental verstil que puede ser reconocido como un refractmetro de
Abbe modificado, en el cual se coloca la muestra bajo estudio y se ilu-
mina desde el lado del prisma, pudiendo medir el perfil de intensidad
de luz difusa refractada al interior del prisma alrededor del ngulo cr-
tico. Por medio de un ajuste del modelo aqu planteado, se puede extraer
el IR complejo de las suspensiones turbias de partculas desde los perfi-
les medidos.
El propsito es establecer y explicar un modelo matemtico que sea
capaz de describir el comportamiento del borde del cono de luz difusa
proveniente de un medio bajo estudio. Se asume que el medio matriz,
con las partculas inmersas en l, es un medio efectivo con propiedades
efectivas, esto se apoya en que la descripcin de la luz a travs del medio
se puede describir mediante su ndice de refraccin efectivo. El modelo
que se plantea establecer cantidades promediadas en la posicin, lo que
implica que la luz difusa total esparcida por las partculas no depender
de la posicin de cada partcula en el medio matriz.

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94 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 32. Transmisin de luz esparcida por una partcula en un coloide turbio a un medio
de mayor IR. El ngulo crtico y la direccin de observacin estn indicadas.

Existen frmulas que dan una expresin matemtica explcita para cal-
cular el ndice de refraccin de un material microscpico modelo de
Clausios-Mossotti en trminos de las propiedades pticas de los com-
ponentes moleculares. La gran limitante de estas frmulas es que slo
tienen validez cuando el tamao de las partculas es muy pequeo com-
parado con la longitud de onda de la radiacin incidente y es baja la
densidad de partculas.1
Van de Hulst 2 resuelve el problema de la transmisin de una onda
plana que incide sobre una capa de esferas de espesor finito cuando el
tamao de las partculas es comparable a la longitud de onda de la
radiacin incidente, considerando que el campo lejano esparcido es pro-
ducto de la superposicin de la luz esparcida por cada esfera y prome-
diada espacialmente, dando lugar a una onda plana que da origen a un
campo coherente que se propaga con un vector de onda efectivo. Actual-
mente, se asume que esta aproximacin es vlida para concentraciones
en volumen pequeo, limitando su aplicacin, aunque no es claro hasta
qu concentracin puede ser vlida la aproximacin.
Un parmetro esencial para cuantificar el comportamiento de la luz,
as como su propagacin a travs de un material, es su ndice de refrac-

Refractometra-03.indd 94 14/09/16 13:05


Refractmetro por reflexin difusa 95
cin. La medicin del IR de materiales se usa a menudo para deter-
minar la pureza de un material, para inferir la concentracin de una
sustancia en solucin, o para monitorear un proceso fsico o qumico,
entre muchas otras aplicaciones. A la fecha, sin embargo, nicamente
la medicin del IR de materiales homogneos est bien establecida. No
obstante, muchos materiales de inters cientfico y tecnolgico no son
homogneos a escalas comparables a la longitud de onda de la radia-
cin incidente. En tal caso, la luz viajando dentro del material se esparce
debido a las inhomogeneidades y alguna porcin de sta, o toda, se con-
vierte en luz difusa. En esos casos, el concepto de IR ha sido revisado y
su medicin se debe ejercer con cuidado. Durante las pasadas dcadas se
han realizado algunos trabajos para tratar de entender y establecer ca-
minos para medir la constante de propagacin efectiva y el IR de medios
inhomogneos y turbios.3-28 Sin embargo, an quedan muchos retos que
superar.
Existe un gran potencial para nuevas aplicaciones de una refracto-
metra robusta de medios turbios. De esta forma, el IR efectivo asocia-
do con una suspensin coloidal depende del tamao, forma e IR de las
partculas que la constituyen, as como de su concentracin. De esta
manera, la medicin propia del IR de coloides puede ser usada para ca-
racterizar a las partculas coloidales. Un coloide es pticamente turbio
cuando el tamao de las partculas suspendidas no es pequeo com-
parado a la longitud de onda de la radiacin. A mayor contraste de IR
entre la matriz y las partculas, ms turbio ser el coloide. Cuando un
medio coloidal es turbio ste tiene un IR efectivo complejo incluso en
la ausencia de absorcin de luz. La parte real del IR efectivo describe
el retraso de fase de la luz viajando al interior del medio, mientras que
la parte imaginaria se relaciona con la cantidad de luz que se esparce o
se absorbe en el medio.16,21
El concepto y la medicin del IR efectivo ha sido asociada nica-
mente con la llamada componente coherente de la luz.13,16,17,18,19,21,27 Por
lo tanto, su medicin en medios turbios ha sido perseguida primaria-
mente usando la propagacin o reflexin de la componente coherente
de la luz. Sin embargo, la luz difusa, propagndose dentro de un medio
turbio, tambin ve el IR efectivo del medio. En efecto, usar luz difusa
para medir el IR de un medio turbio puede ofrecer muchas ventajas.

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96 Refractometra ptica de medios opacos

A pesar de ello, la medicin del IR efectivo desde el comportamiento


de la luz difusa ha sido escasamente investigada. El nico trabajo cono-
cido, que investiga especficamente la medicin del IR efectivo de coloi-
des turbios y usa luz difusa, es el de Meeten y North, en 1991.8 En ese
trabajo los autores modificaron un refractmetro de Abbe comercial y
midieron el perfil angular de intensidad alrededor del ngulo crtico
cuando la muestra presentaba algo de turbidez. Encontraron que podan
medir la parte real del IR efectivo, pero asumieron que el ngulo crtico
era el ngulo de refraccin dentro del prisma donde el perfil de intensi-
dad alcanzaba cero. Esta afirmacin no es enteramente correcta, como
se aclarar ms adelante. Sin embargo, desde un punto de vista experi-
mental, la posibilidad de medir la parte real del IR efectivo de coloides
turbios fue claramente demostrada.
Cuando el esparcimiento ptico es importante dentro de un mate-
rial, es til dividir la luz en dos componentes: una componente coheren-
te y otra difusa. La componente coherente corresponde al promedio de
los campos electromagnticos sobre todas las configuraciones micros-
cpicas permitidas del sistema, mientras que la componente difusa se re-
laciona con las fluctuaciones de los campos electromagnticos alrededor
de su promedio.3,7,16,21,22,27 Cuando el esparcimiento es fuerte, la compo-
nente coherente decae rpidamente dentro del bulto del material y toda
es convertida a luz difusa o es absorbida. Cuando la absorcin del ma-
terial es pequea, el flujo de energa es transportado por la componente
difusa. El IR efectivo asignado a la componente coherente de luz ha sido
investigado en aos recientes,14-25,27-29 y su naturaleza no local ha sido es-
tablecida.21,27 Sin embargo, como ya se ha dicho, el IR efectivo visto
por la luz difusa ha sido escasamente investigado y la nica referencia
que reporta esfuerzos en el pasado que ayuda a direccionar esta cues-
tin es la de Meeten y North.8 Como se muestra en esta referencia, un
refractmetro de tipo Abbe puede ser usado ventajosamente en este
caso. Sin embargo, puesto que la muestra por s misma esparce luz, es
posible y ms prctico iluminar la muestra del fluido desde el lado del
prisma. De esta manera la luz entra a la muestra y se esparce en todas di-
recciones, y alguna porcin de luz difusa se refleja de regreso al interior
del prisma. La luz reflejada en el prisma es restringida a un cono de luz
con un ngulo de apertura determinado por los ndices de refraccin

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Refractmetro por reflexin difusa 97
de la muestra y el prisma. Localizar el borde del cono de luz permite
inferir el IR de la muestra. Cuando la muestra es homognea el ngulo
de apertura del cono de luz es igual al ngulo crtico. Sin embargo, con
muestras altamente turbias, no existe un ngulo crtico bien definido y
es necesario algn modelado adicional. ste es el tema de anlisis del
presente captulo.
El modelo que se describir a continuacin no es un modelo del
ndice de refraccin, es un modelo que describe el comportamiento de
la luz difusa retroesparcida al interior de un prisma donde se asume
que la luz viaja en un medio con un ndice de refraccin efectivo, el
cual se busca obtener para poder caracterizar al medio bajo estudio.
Se ha demostrado19 que es posible derivar un ndice de refraccin
efectivo dependiente slo de la frecuencia, el cual puede ser utilizado
en el problema inverso: dado el ndice de refraccin efectivo, poder ob-
tener las propiedades del coloide, como son el radio de la partcula y el
ndice de refraccin de las partculas, principalmente.30
Cuando las partculas son comparables a la longitud de onda, el IR
efectivo sigue siendo un parmetro til para describir la propagacin y
la refraccin de la luz, pero no es posible usar el ndice de refraccin
efectivo en las relaciones de Fresnel para calcular la reflexin en una
interfase plana, ya no son vlidas.31 Esto se verific experimentalmente
en Garca-Valenzuela et al.30 y Reyes-Coronado et al.18

Modelo ptico con medios esparcidores de luz

Se considerar un conjunto de partculas embebidas en un material ho-


mogneo sin fronteras y transparente el cual ser llamado la matriz
de ndice de refraccin nm, y localizado aleatoriamente dentro del se-
miespacio z > 0. Se asume que la matriz es no magntica, su permeabi-
lidad magntica es m0. Se asume tambin que todas las partculas estn
completamente dentro del semiespacio z > 0. Esto significa que, para
una partcula esfrica de radio a, su centro est localizado en z < a.
La idea del modelo desarrollado se basa primero en enfocar la aten-
cin en una de las partculas, la n-sima partcula localizada en rn. Se
propaga el campo esparcido por esta partcula en el coloide a travs del
medio turbio, y posteriormente se transmite dentro del medio incidente,

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98 Refractometra ptica de medios opacos

el cual se asume como un vidrio ptico de ndice de refraccin mayor


que el del medio turbio. Entonces, se propaga el campo transmitido al
plano de deteccin, el cual, por simplicidad en los clculos, se asume
que est en el mismo medio y en la regin de campo lejano. Se obtiene
la intensidad ptica debido al campo esparcido por la n-sima partcu-
la en el plano de deteccin. Finalmente, se suma incoherentemente la
intensidad debido a todas las otras partculas localizadas en otras posi-
ciones en la muestra coloidal y se toma el promedio configuracional
asumiendo una densidad uniforme de probabilidad de encontrar algu-
na de las partculas debajo de la interfase. Se hacen muchas simplifica-
ciones a lo largo de la derivacin, la cual permite llegar a un modelo muy
simple que se ajusta bastante bien a los datos experimentales y es til
para caracterizar pticamente a un coloide turbio. Como se ver ms
adelante, se puede utilizar para obtener el IR efectivo complejo de co-
loides muy turbios.
Se asume una onda plana monocromtica con una frecuencia w via-
jando en la matriz que incide desde el semiespacio negativo (z< 0) a el
sistema aleatorio de partculas. El campo elctrico esparcido por alguna
de las partculas puede ser expresado en trminos de la corriente indu-
cida dentro de la partcula, como:33

1
(76)

Donde Vn es el volumen ocupado por la n-sima partcula y G(r;r) es


la funcin didica de Green del vector de la ecuacin de Helmholtz a la
frecuencia w con la condicin a la frontera de la radiacin de Sommer-
feld.34 La dependencia en el tiempo exp (iwt) est implcita en todas las
ecuaciones. Para puntos de observacin fuera de las partculas
se puede usar la siguiente expansin en ondas planas de la funcin de
Green didica:35

(77)

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Refractmetro por reflexin difusa 99
donde Los signos + y
son usados para z > z y z < z, respectivamente.
En general se puede escribir,

1
(78)

1
donde es el campo que excita la n-sima partcula y e s
es el llamado operador de transicin para la n-sima partcula. Aqu,
33

ste corresponde al operador de transicin para la partcula embebida


en la matriz. El operador de transicin es un operador lineal el cual
obedece a la ecuacin integral de Lippmann-Schwinger.3 El campo que
excita a la n-sima partcula incluye el campo incidente ms el campo
radiado por todas las otras partculas. Esto es, se excluye el campo indu-
cido por la n-sima partcula por s misma. Este incluye, sin embargo,
el efecto de la n-sima partcula sobre todas las otras partculas.
Para puntos con z > 0 esto es ms grande que la coordenada z
para todos los puntos se puede escribir,

(79)

Ahora, podemos hacer un cambio de variable r = rs + rn, donde rs es el
vector de posicin relativo al centro de la partcula el cual est en rn.
As, tenemos rs = r rn y d3r = d3rs y se escribe,



(80)
La expresin anterior se puede escribir como,

(81)

donde

(82)

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100 Refractometra ptica de medios opacos
La ecuacin (82) es una superposicin lineal de ondas planas viajando
en la matriz.
Ahora, se considera que esas ondas planas viajan en un medio efec-
tivo con un ndice de refraccin efectivo neff el cual es en general com-
plejo. En este caso, reemplazamos k+ y kz con y
respectivamente, donde
Con estos cambios se deben reinterpretar las corrientes inducidas
dentro de las partculas como las corrientes inducidas en exceso de
aquellas corrientes que deberan ser generadas en la matriz de ndice
de refraccin neff y dentro del volumen ocupado por la partcula pero
sin la partcula. Entonces se puede escribir,

(83)

Donde se agrega el superndice eff a seff (kx,ky) para indicar que este tr-
mino viene de usar las corrientes efectivas inducidas en exceso sobre
aquellas inducidas en la matriz de ndice de refraccin neff donde la
n-sima partcula se encuentra localizada.
Obsrvese que el kernel de la ecuacin (83) est dividido por el
cual tiene un mnimo cuando ste puede tomar
el valor de cero si el ndice de refraccin es real. Valores de kx y ky que satis-
facen la ltima ecuacin corresponden a ondas planas viajando paralelas
a la superficie del sistema, esto es, al plano z = 0.
Ahora, se considera que el semiespacio negativo desde donde la
luz incide tiene un ndice de refraccin diferente np el cual se asume
como real. As, se introduce una interfase plana en z = 0 entre dos n-
dices de refraccin reales, np y nm. Al introducir esta interfase, tanto el
campo incidente sobre las partculas como el campo que excita alguna
de las partculas se modifica. El campo incidente se refracta y es mul-
tiplicado por un coeficiente de transmisin en la interfase, y el campo
que excita las partculas (vase ecuacin 78) incluir ahora mltiples
reflexiones de la interfase.
Se propagan las ondas planas de cada una de las partculas al plano
de deteccin. El detector es colocado en el medio incidente a una gran
distancia de la interfase y viendo hacia la superficie.

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Refractmetro por reflexin difusa 101
Primero se propagan los campos justo antes de la interface en z = 0.
Se obtiene,

(84)

El campo justo del otro lado de la interfase en z = 0+ se obtiene por
dividir el campo en su trasversal elctrico TE, y transversal magntico
TM, y multiplicar por el correspondiente coeficiente de transmisin.
Se obtiene
1

(85)
donde
1
(86)

donde tTE y tTM son los coeficientes de trasmisin para ondas polariza-
das TE y TM, respectivamente. Los vectores unitarios TE y TM que
aparecen en la ecuacin (86) estn dados por,

(87)

Puesto que nicamente la componente z de keff puede ser compleja,


se puede ver que es un vector real unitario. Sin embargo, es en
general un vector unitario complejo.
Se puede introducir el factor con
en el kernel de la ecuacin (85) para propagar el campo dentro del me-
dio incidente de ndice de refraccin np. Se puede propagar el campo
de la ecuacin (85) en el campo lejano y usar el mtodo de fase estacio-
naria38 para evaluar el campo. Para este fin, se asume que el sistema se
extiende a lo largo pero finita rea sobre z = 0 y se lleva el punto de ob-
servacin muy lejos comparado a las dimensiones laterales del sistema.
Obteniendo,

1
(88)

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102 Refractometra ptica de medios opacos
Donde y son las coordenadas del
punto de fase estacionaria en el espacio (kx,ky) y son las coorde-
nadas esfricas del punto de observacin r. Tambin, ahora,

(89)

es en general complejo, puesto que neff es
en general un nmero complejo para coloides turbios, incluso en la
ausencia de absorcin.1,4,36
El perfil de intensidad angular en la zona lejana est dado por
la magnitud del promedio en el tiempo del vector de Poynting,
Obteniendo,

(90)

Puesto que los vectores unitarios y son ortogonales uno al otro


se tiene,

1

(91)
Las funciones y son proyecciones de
sobre los vectores unitarios y . Ahora, como ya se
mencion, el medio efectivo para la componente coherente de luz en
un coloide turbio tiene una naturaleza no local y los coeficientes de
reflexin de Fresnel pueden no ser aplicables,32 sin considerar una mag-
netizacin efectiva con un ndice de refraccin efectivo.16 Sin embargo,
para bajas densidades de partculas, los coeficientes no deben diferir
drsticamente de los usuales coeficientes de Fresnel. As, se asume que
el coeficiente de transmisin de Fresnel provee una razonable aproxi-
macin. En este caso, los coeficientes de transmisin tTE y tTM son pro-
porcionales a ,

(92)

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Refractmetro por reflexin difusa 103
donde y , en este caso, son el nmero de onda incidente y trans-
mitido, respectivamente.
Para obtener el perfil de intensidad debemos sumar la contribucin
de todas las partculas que esparcen y tomar el promedio configuracio-
nal sobre su posicin, forma, tamao e ndice de refraccin. Podemos
asumir que todas las partculas son equivalentes y que la densidad de
probabilidad de encontrar el centro de alguna partcula debajo de la in-
terfase es uniforme y est dada por 1/V donde V es el volumen acce-
sible a la partcula. Si se asume que hay N partculas podemos escribir,

1

(93)

donde r = N/V es la densidad en nmero de partculas, significa el
promedio configuracional de las variables apropiadas, y se asume que
las dimensiones laterales del volumen V es un cuadrado de lados L
grandes comparados a la profundidad del volumen iluminado.
k1 y k2 son funciones del ngulo de observacin q y f. El perfil
de intensidad est medido en un pequeo rango comparado a 2p
alrededor de la direccin del borde del cono iluminado. El borde del
cono iluminado es de alrededor de El perfil
de intensidad de luz refractada de regreso al interior del prisma se
mide alrededor del plano de incidencia, esto es, alrededor de f = 0.
Por otro lado, es el espectro de ondas planas de la luz es-
parcida por la n-sima partcula dentro del medio efectivo. ste depende
del espectro angular del campo incidente sobre la partcula, que a su
vez depende de la posicin de la partcula dentro del medio esparci-
dor. Incluso, aunque no se tenga una teora cuantitativa para calcular
o su promedio en un sistema aleatorio de partculas que
esparcen luz, es razonable asumir que es una funcin suave de k1 y k2
y se puede aproximar como una constante dentro del pequeo rango
de inters. As, dentro del rango de inters de las direcciones de obser-
vacin se puede aproximar donde el subndice
se adiciona para indicar que es evaluado en y
f = 0. Es tambin razonable asumir que la magnitud de deber

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104 Refractometra ptica de medios opacos
tener una contribucin proporcional a la magnitud de la componente
coherente de la luz viajando dentro de la muestra turbia ms otra con-
tribucin proporcional en el promedio de la intensidad especfica o
radiancia de la luz difusa promediada sobre todas las direcciones.
Cuando una onda plana incide en la interfase, la componente cohe-
rente decae exponencialmente dentro del medio turbio acorde a un
ndice de refraccin efectivo. Actualmente no se tiene una teora con-
fiable para modelar la luz difusa cerca de la interfase. Sin embargo,
tambin para una onda plana incidente y lejos de las interfases, la luz
difusa tambin decae exponencialmente dentro del medio turbio. Por
lo tanto, es razonable aproximar la dependencia de y
como una funcin exponencial que decae den-
tro del medio turbio. En el experimento se utiliz un haz lser colima-
do el cual por supuesto no es una onda plana. Sin embargo, se asu-
me que las dimensiones laterales del haz ptico incidente son grandes
comparadas con la profundidad dentro de la muestra turbia donde la
luz esparcida y que se propaga con un neff alcanza el plano de deteccin.
Entonces se tiene,

(94)

Donde B es una constante y y pueden ser con-
siderados como constantes dentro del rango angular de inters. En-
tonces se puede escribir,
1

(95)

Donde C es una constante y se tiene,

(96)

donde A = L2. Como ya se ha dicho, el perfil de intensidad se mide
sobre un pequeo rango. Se puede tomar f = 0 en la evaluacin de k1

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Refractmetro por reflexin difusa 105
y k2 en . Agrupando las constantes obtenidas en un solo valor I0 se
obtiene finalmente,

(97)

donde con siendo la parte real


e imaginaria del ndice de refraccin efectivo. Ahora, es posible com-
parar el modelo con los perfiles experimentales.

Diseo experimental para la obtencin del ndice de refraccin efectivo

En esta seccin se propone un diseo experimental para obtener per-


files angulares de intensidad alrededor del ngulo crtico de luz difusa
transmitida desde la muestra turbia al interior de un prisma transpa-
rente. La muestra es iluminada por un haz lser que incide a diferentes
ngulos sobre la muestra turbia a analizar, desde el lado del prisma. El
refractmetro desarrollado permite medir el IR de suspensiones de par-
tculas de mayor turbidez que en trabajos previos. Se usa el refractmetro
para probar el modelo terico y comprobar si puede ser usado para me-
dir el IR efectivo de suspensiones turbias de partculas.
En la seccin anterior se describi el modelo ptico derivado expre-
samente para esta medicin. Bsicamente, el modelo asume que la luz
esparcida difusamente por alguna de las partculas coloidales viaja en un
medio efectivo con un IR complejo y es incoherente con respecto a la
luz esparcida por alguna otra partcula. Para derivar el modelo, la luz
esparcida por una de las partculas es expresada en trminos de una ex-
pansin de ondas planas. Cada componente de onda plana alcanza la
interfase y se refracta dentro de una direccin especfica dentro del pris-
ma. Para obtener el perfil angular de intensidad I(q), primero se obtie-
ne la intensidad de la luz esparcida por una partcula en una direccin
especfica en el plano del detector. Subsecuentemente, se adiciona la
intensidad de la luz esparcida de todas las partculas suma incohe-
rente en esa direccin. Se asume que la densidad de probabilidad de
encontrar una partcula localizada dentro del semiespacio debajo de la
interfase del prisma es constante, y la dependencia angular de la ampli-

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106 Refractometra ptica de medios opacos
tud de las ondas esparcidas por alguna de las partculas es una funcin
suave que puede ser aproximada como una constante dentro de un
intervalo angular pequeo. El modelo tambin asume que la amplitud
de las ondas esparcidas por una partcula en una direccin dada es pro-
porcional a un campo de excitacin efectivo que decae exponencialmen-
te dentro del medio turbio. Por lo que la intensidad de la luz esparcida
en una direccin por una partcula localizada a una distancia z de la in-
terfase, es simplemente proporcional a exp (mzz) el origen es colocado
en la interfase y el eje z apunta hacia afuera de la muestra turbia. El
modelo predice que la cada brusca del perfil de intensidad angular en
el ngulo crtico visto en una muestra transparente es suavizada cuando
la muestra es turbia. Tambin predice que el perfil de intensidad se ex-
tiende ms all del ngulo que uno puede calcular como el ngulo crti-
co, considerando nicamente la parte real del IR efectivo del medio
turbio. El modelo que se desarrolla para el perfil de intensidad angular
de luz esparcida difusamente reflejada al interior del prisma es el des-
crito por la ecuacin (97) y que por claridad repetiremos aqu:

Donde I0 es una constante experimental, q es el ngulo de visin,


k0 es el nmero de onda en el vaco y neff es
el IR efectivo de la muestra turbia. Ntese que neff es el producto de neff
consigo mismo, obtenindose un nmero complejo. La constante de
decaimiento mz es actualmente un parmetro emprico que indica qu
tan rpido decaen las fuentes efectivas dentro del medio efectivo. Por un
ajuste de la ecuacin anterior a perfiles de intensidad angular experi-
mentales cerca del ngulo crtico, se puede obtener el valor complejo del
IR efectivo del medio turbio junto con un estimado del valor de mz.
El decaimiento exponencial de una fuente efectiva con una cons-
tante de decaimiento mz dentro del medio turbio es una de las princi-
pales suposiciones del modelo que lleva a la ecuacin (97). Se espera
que mz sea anlogo a la componente z del vector de onda de la onda
coherente dentro del medio turbio excitado por el haz ptico inciden-
te, pero para una densidad de fuentes efectivas. De esta forma, debera

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Refractmetro por reflexin difusa 107
depender del ngulo de incidencia y sobre el tipo y concentracin de
partculas.

Montaje experimental

Se dise y ensambl el arreglo experimental mostrado en la figura 33.


ste consiste de un prisma semicilndrico hecho de vidrio BK7 de
30 mm de radio, un diodo lser con longitud de onda de 635 nm, una
lente plano-convexa, una lente convexa delgada, una cmara CCD y un
contenedor de la muestra. El contenedor que mantiene la muestra lqui-
da est formado con un empaque de silicn sujeto a la base de un prisma
semicilndrico con un portaobjetos de microscopio. El haz lser incide
en la interfase de la muestra coloidal en la base del prisma en un ngulo
qi, tal como se muestra en la figura 33. La configuracin experimental
permite variar el ngulo de incidencia del lser qi. Cuando el contene-
dor es llenado con una suspensin turbia de partculas, parte del haz
lser es transmitido como un haz coherente dentro del coloide turbio
y parte de l es reflejado coherentemente en la direccin especular. El
haz coherente transmitido se esparce entre las partculas y algo de luz
difusa viaja de regreso al prisma. La luz retroreflejada difusamente es
confinada a un cono de luz fcilmente perceptible por el ojo humano.
La lente plano-cncava tiene su lado curvo con el mismo radio de cur-
vatura del prisma semicilndrico. sta es puesta en contacto con la su-
perficie del prisma a lo largo de la direccin de observacin como se
muestra en la figura 33. El propsito de la lente plano-cncava es redu-
cir el efecto de defocamiento de la superficie del prisma cuando la luz
sale del prisma. La lente delgada convexa se coloca justo detrs de la
lente plano-cncava como se muestra en la figura para mapear la dis-
tribucin angular de la luz transmitida difusamente a una distribucin
espacial de la intensidad de luz en el plano focal de la lente.
La cmara CCD registra la distribucin de intensidad en el plano
focal de la lente. La imagen de intensidad es integrada a lo largo de la
direccin perpendicular al plano de incidencia. La integracin reduce
considerablemente el ruido de speckle y es crucial para obtener perfiles
suaves cuando se usa luz lser. Podemos notar aqu que la lnea del
borde de la regin iluminada en la imagen de la CCD no es una lnea

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108 Refractometra ptica de medios opacos
perfectamente derecha, est ligeramente curveada, (vase recuadro de la
figura 33). En el presente trabajo se ignorar esta pequea curvatura de
la lnea en el borde del cono de luz puesto que cualquier error derivado
de sta es menor que la resolucin alcanzada en nuestras mediciones.

Figura 33. Esquema del diseo experimental. El tamao del rea sensitiva de la cmara
CCD es de 5.2 mm 5 6.7 mm. La distancia desde la base del prisma a la CCD es de aproxi-
madamente 10 cm en nuestra configuracin experimental, y la longitud focal de la lente
simple es de 3.5 cm. Una imagen tpica captada por la CCD se muestra en el recuadro.

En orden a obtener los perfiles de intensidad angular es necesario con-


vertir un punto sobre el plano focal de la lente a un ngulo de viaje de la
luz dentro del prisma. Usando la ley de Snell y la geometra del arreglo
experimental es posible hacer esto (vase el siguiente apartado). Final-
mente, el ngulo crtico de la interfase agua-vidrio a 635 nm fue usado
como punto de referencia para construir la escala angular para el perfil
de intensidad.

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Refractmetro por reflexin difusa 109
Escala angular del arreglo experimental

Usando la ley de Snell y la geometra mostrada a continuacin, se pue-


de relacionar el cambio en el ngulo de viaje de la luz fuera del prisma
semicilndrico al cambio en el ngulo de viaje al interior de ste. Si
consideramos que el IR del vidrio es ng y el del aire es na, tenemos:

Figura 34. Representacin esquemtica del arreglo experimental para la obtencin de la


escala angular.

Se considerar la refraccin que sufre la luz que se mide al salir del


prisma y viajar por el aire para alcanzar el detector. Aplicando la ley de
Snell podemos estimar la variacin de la luz al pasar de un medio a
otro:

(98)

Dado que se conoce la distancia focal de la lente a la salida del arre-


glo experimental Df = 35 mm y las dimensiones laterales de la CCD
LCCD = 6.656 mm se puede determinar la relacin entre un desplaza-
miento en el plano focal y un cambio en el ngulo de viaje de la luz al
salir del prisma de medicin, como se muestra en la figura 35.

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110 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 35. Anlisis del efecto de la lente en el sistema de medicin.

De esta forma, se puede estimar el ngulo de observacin visto por la


CCD.

(99)

Sustituyendo los valores se obtiene

Por lo que el ngulo de observacin de la CCD debido nicamente a


la lente es de y = 5.42. Ahora se relacionar el ngulo de observacin
dentro del prisma que es observado desde la CCD. En referencia a la
figura 35 se puede establecer lo siguiente:
De la suma de los ngulos interiores de un tringulo ABC se ob-
tiene (vase figura 34).

(100)
Por lo que se puede determinar la variacin del ngulo de observacin
en el interior del prisma con el ngulo de salida en la interfase prisma-
aire

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Refractmetro por reflexin difusa 111

(101)

Por lo que la magnitud de un pequeo cambio angular qi en la cara
principal del prisma semicilndrico es proporcional al cambio angular
a en la cara de la lente plano-cncava. El signo negativo indica que con-
forme los rayos se alejan de la normal en la cara principal del prisma
semicilndrico, estos se acercan ms a la normal en la cara de la lente
plano-cncava.
Dado que la CCD slo puede ver alrededor de y sta
se encuentra alineada en la direccin del ngulo crtico de la interface
agua-vidrio (61.62), el ngulo b puede tomar valores del mismo orden
que y, de esta forma se puede determinar el valor de a

(102)

Tomando la ecuacin (80) con el IR del aire na = 1 y el IR del prisma de


vidrio BK7 como ng = 1.515 se puede obtener el factor de proporciona-
lidad al tomar en cuenta la refraccin de la luz al salir del prisma al aire

(103)

Esto implica que el mximo error que se tendr en la escala angular en


los extremos de medicin observados por la CCD ser de slo 0.02.
Sustituyendo los valore anteriores se puede relacionar el desplazamiento
angular en el prisma de medicin a una distribucin espacial observada
en la cmara CCD.

(104)

Esta ltima es la relacin del desplazamiento angular a una distribu-


cin espacial, dadas las dimensiones de la CCD DxCCD es el tamao

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112 Refractometra ptica de medios opacos
de cada pixel de la CCD. En trminos prcticos, la cmara CCD est
viendo alrededor de 7.2 en el interior del prisma de medicin.

Preparacin de muestras de ltex PMMA y TiO2

Se prepararon suspensiones turbias de partculas de ltex poly(metil)


metacrilato (PMMA) y dixido de Titanio (TiO2) (rutilo) en agua tri-des-
tilada. Las partculas de PMMA son esfricas y tienen un dimetro de
375 nm con una distribucin de tamao muy estrecha menor que
una desviacin de 2% del dimetro promedio. Su IR es de 1.48. Las
partculas de TiO2 son en promedio esferoidales y tiene un dimetro
ms probable de 220 nm con una distribucin de tamaos log-normal
con un parmetro de anchura de alrededor de s 1.4. El TiO2 rutilo
es un cristal birrefrigerante. Para las partculas en suspensin de TiO2 el
IR promedio de las partculas de rutilo se toma como 2.7.37
El procedimiento para determinar la fraccin de llenado de cual-
quier muestra como funcin del volumen de agua necesario para alcan-
zar una fraccin determinada, as como de los componentes de la
suspensin turbia original, se describe a continuacin a la cual se le
denominar muestra madre. El procedimiento se describe a conti-
nuacin.
Se parte de la definicin de fraccin de llenado en volumen,

(105)

Donde:
es la fraccin de llenado en volumen de la muestra que se
desea preparar el subndice TiO2 se refiere a las partculas que se uti-
lizarn.
es el volumen de agua que se necesita agregar para alcanzar la
fraccin de volumen deseada.
Vmm es el volumen de la muestra madre de que se dispone.
es el volumen que ocupan las partculas en la muestra madre
que se utilizar para la preparacin.

Refractometra-03.indd 112 14/09/16 13:05


Refractmetro por reflexin difusa 113
El volumen de TiO2 en la muestra madre se puede estimar como

(106)

Donde es la fraccin de volumen de TiO2 en la muestra madre,
es el volumen de TiO2 en la muestra madre, es el volumen
de agua en la muestra madre y Vmm es el volumen de la muestra madre.
De esta forma, a partir de los datos que da el fabricante de las muestras,
esto es, el porcentaje de slidos en la muestra madre (%m*MT donde
0< %m < 1) y haciendo uso de las densidades del agua y de las partcu-
las en este caso de TiO2 conocidas, se puede escribir,

(107)


Por lo tanto, conociendo la densidad de las partculas, as como el por-
centaje de solidos de la muestra madre se puede estimar cualquier otra
muestra,

(108)

La anterior es una frmula simple, muy fcil de utilizar con cualquier


programa desarrollado en MATLAB o LABVIEW, puede ser muy prc-
tica. Slo ingresas la cantidad de muestra madre a utilizar y juegas con
la cantidad de agua que necesitas para alcanzar una muestra con una
fraccin de llenado deseada.
Se obtuvieron suspensiones coloidales muy turbias de partculas de
PMMA y TiO2 directamente del fabricante. A partir de estas muestras
madre se prepararon suspensiones de diferentes concentraciones al adi-
cionar agua tri-destilada: suspensiones de partculas de ltex de 0.5%,

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114 Refractometra ptica de medios opacos
1%, 1.7%, 2%, 4.2%, 6.8%, 8.9%, 11.2%, 12.8%, 15.2%, 17%, 19.6%
y 20.9% en concentracin en volumen, y suspensiones de partculas
de TiO2 de 0.11%, 0.33%, 0.5%, 0.77%, 1%, 2.1% y 4% en concen-
tracin en volumen. Las suspensiones fueron vigorosamente agitadas
seguido por ultrasonificacin para romper los agregados antes de usar-
las. Las suspensiones de partculas de ltex fueron muy estables en el
tiempo, donde se puede observar sedimentacin de las partculas de
TiO2 despus de unas pocas horas; bastante tiempo para hacer las medi-
ciones presentadas en esta investigacin. Sin embargo, la estabilidad de
las suspensiones coloidales fue monitoreada durante los experimentos
para asegurar que no flocularan las partculas mientras las mediciones
se llevaban a cabo.
En el siguiente captulo se presentarn los resultados experimenta-
les obtenidos con el refractmetro por reflexin difusa y su respectivo
anlisis y extraccin de la informacin con base en la ecuacin del mo-
delo ptico.

Notas
1 Bohren y Huffman, 1983.
2 Hulst, 1957.
3 Lax, 1952.

4 Ishimaru, 1999.
5 Champion et al., 1978.

6 Alexander et al., 1981.

7 Tsang, 1982.
8 Meeten y North, 1991.

9 Mohammadi, 1995.
10 Meeten y North 1995.

11 Kuga et al., 1996.

12 Jaaskelainen, 2000.
13 Hespel et al., 2001.

14 Bartlett y Jiang, 2001.


15 Yang et al., 2001.

16 Barrera y Garca-Valenzuela, 2003.

17 Garca-Valenzuela y Barrera, 2003.


18 Reyes-Coronado et al., 2005.

19 Barrera et al., 2007.


20 Ding et al., 2006.

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Refractmetro por reflexin difusa 115
21 Gutirrez-Reyes et al., 2014.
22 Garca-Valenzuela et al., 2008.
23 Garca-Valenzuela et al., 2010.
24 Calhoun et al., 2010.

25 Lai et al., 2010.

26 Ye et al., 2011.
27 Gutirrez-Reyes et al., 2012.

28 Garca-Valenzuela y Contreras-Tello, 2013.

29 Goyal et al., 2013.

30 Garca-Valenzuela et al., 2005.

31 Bohren, 1986.
32 Meeten, 1997b.

33 Tsang et al., 2004.

34 Ishimaru, 1991.

35 Chew, 1999.

36 Ishimaru y Kuga, 1982.


37 Devore, 1951.

38 Collin, 1985.

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116 Refractometra ptica de medios opacos

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Captulo 4

Resultados y anlisis

Medicin del IR efectivo por reflexin difusa

E
l desarrollo experimental consiste en llenar el contenedor con una
suspensin turbia de partculas de una concentracin en volumen
conocida, e iluminar sta con un haz lser a diferentes ngulos de
incidencia (vase figura 33). La configuracin que se usa aqu asegura
que nicamente la luz difusa es refractada dentro del prisma y permite
medir muestras con muy alta turbidez, teniendo la ventaja, a diferen-
cia del refractmetro estndar usado por Meeten y North,1 de que el
contenedor puede ser muy grueso sin interferir con la luz que alcanza
la interfase prisma-muestra. De hecho, para simplificar las cosas, el espe-
sor del recipiente de la muestra se hizo muy grueso aproximadamente
3 mm de manera que la muestra se pueda considerar con un espesor
infinito como un semiespacio. El hecho de que iluminemos la mues-
tra desde el lado del prisma usando un haz colimado es la principal
diferencia con un refractmetro de Abbe.
El procedimiento de calibracin consisti en colocar una cantidad
de agua con partculas que esparcen luz usualmente TiO2 en una
concentracin baja, 20 ppm, pero que fuera capaz de detectar el sen-
sor de la cmara CCD, de esta forma se pudo medir un perfil angular
de intensidad que tiene la forma de una funcin escaln suavizada en
los extremos. Con base en su punto de inflexin se obtiene el ngulo
crtico correspondiente a la interfase agua-vidrio con la cual es posible
construir la escala angular en los perfiles experimentales. La grfica de
la figura 36 muestra una de las curvas de calibracin.

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118 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 36. Perfil angular de intensidad obtenido para calibrar la escala angular de las me-
diciones experimentales.

Despus de calibrar el dispositivo experimental, como ya se describi,


se midieron los perfiles de intensidad angular de luz reflejada difusa-
mente desde una suspensin turbia alrededor del borde del cono de luz
difusa, esto es, alrededor del ngulo crtico. Se hizo esto para diferentes
ngulos de incidencia del haz lser y para todas las muestras de part-
culas de PMMA y TiO2 de diferentes concentraciones en volumen. Se
tomaron las precauciones necesarias para evitar saturar la imagen de la
CCD y perder informacin.
La figura 37 muestra todos los perfiles de intensidad angular de luz
reflejada difusamente al interior del prisma, alrededor del borde del
cono de luz difusa para todos los ngulos de medicin y todas las con-
centraciones utilizadas para la experimentacin, utilizando las muestras
turbias de partculas de PMMA. La figura 38 corresponde a todos los
perfiles medios para las partculas de TiO2. Las figuras 37 y 38 muestran
las imgenes obtenidas por la cmara CCD al realizar la medicin, el
perfil angular de intensidad al procesar la imagen, as como la curva de
ajuste del modelo de la ecuacin (79). Para obtener el perfil de intensi-
dad angular se integr la imagen a lo largo de la direccin perpendicu-
lar al plano de incidencia. La imagen obtenida es una imagen en escala
de grises con una profundidad de 8 bits, es decir, discretizamos el va-
lor de la imagen en 256 valores, correspondiendo el cero a la oscuridad
absoluta y 256 a la mxima intensidad detectada por la cmara.

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Resultados y anlisis 119

Figura 37. a) Perfiles angulares de intensidad medidos para diferentes concentraciones de


partculas de PMMA en agua para una concentracin de: a) f=0.5%.

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120 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. b) PMMA f=1%.

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Resultados y anlisis 121

Figura 37. c) PMMA f=1.7%.

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122 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. d) PMMA f=2%.

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Resultados y anlisis 123

Figura 37. e) PMMA f=4.2%.

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124 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. f) PMMA f=6.8%.

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Resultados y anlisis 125

Figura 37. g) PMMA f=8.9%.

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126 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. h) PMMA f=11.2%.

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Resultados y anlisis 127

Figura 37. i) PMMA f=12.8%.

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128 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. j) PMMA f=15.2%.

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Resultados y anlisis 129

Figura 37. k) PMMA f=17%.

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130 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 37. l) PMMA f=19.6%.

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Resultados y anlisis 131

Figura 37. m) PMMA f=20.9%.

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132 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 38. a) Perfiles angulares de intensidad medidos para diferentes concentraciones de


partculas de TiO2 en agua para una concentracin de: a) f=0.11%.

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Resultados y anlisis 133

Figura 38. b) TiO2 f=0.33%.

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134 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 38. c) TiO2 f=0.5%.

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Resultados y anlisis 135

Figura 38. d) TiO2 f=0.77%.

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136 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 38. e) TiO2 f=1%.

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Resultados y anlisis 137

Figura 38. f) TiO2 f=2.1%.

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138 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 38. g) TiO2 f=4%.

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Resultados y anlisis 139

Figura 39. Perfiles de intensidad angular obtenidos para diferentes concentraciones de


dos tipos de suspensiones de partculas, (a) partculas de PMMA y (b) partculas de TiO2,
para un ngulo de incidencia del lser de 0 grados.

Por claridad en el anlisis de los datos, se mostrarn en las siguientes


grficas slo datos representativos de todas las mediciones. En la figura
39 se observan perfiles de intensidad angular de luz reflejada difusa-
mente al interior del prisma alrededor del borde del cono de luz difusa
para un ngulo de incidencia del lser de 0 y para unas pocas concentra-
ciones en volumen de partculas de PMMA y TiO2. Podemos apreciar
que para las muestras ms diluidas los perfiles de intensidad decaen a
cero abruptamente cerca del ngulo crtico de la interfase prisma-agua
(61.38). Conforme la concentracin de partculas se incrementa, se
puede ver que la transicin a cero llega a ser ms suave. Esta suaviza-
cin es ms fuerte para suspensiones de partculas de TiO2 que para
coloides de partculas de PMMA. Tambin es posible apreciar que el
punto de inflexin en las curvas punto de mxima derivada se mue-
ve hacia ngulos ms grandes de observacin para concentraciones ms
altas de partculas. La ley de refraccin de ondas viajantes en la inter-

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140 Refractometra ptica de medios opacos
fase entre medios homogneos transparentes predice que el perfil de
intensidad I (q) debera de ser cero para ngulos mayores al ngulo
crtico. El perfil de intensidad medido mostrado en la figura 39 mues-
tra claramente que ste no es el caso para suspensiones turbias de par-
tculas. As, esos resultados dejan ver que la luz difusa no puede ser
asumida como ondas viajantes nicamente en la matriz.
En la figura 39 tambin se muestra un ajuste del modelo terico
dado en la ecuacin (97) para cada perfil experimental. Se observa que
el modelo ajusta muy bien todos los perfiles experimentales. Se obtuvie-
ron los perfiles angulares de intensidad para todas las muestras (vanse
figuras 37 y 38) para suspensiones de partculas de PMMA y TiO2. En
todos los casos el modelo ajusta bien los datos experimentales. De los
ajustes podemos obtener un IR efectivo para cada concentracin de
partculas.
Lo siguiente es analizar los perfiles de intensidad para cada mues-
tra, variando el ngulo de incidencia del lser a pasos de 5, desde 0
hasta 45. En la figura 40 se muestran algunos de los perfiles experi-
mentales y el modelo terico que ajusta las suspensiones de partculas
de PMMA con una fraccin de volumen de 4.2% y para suspensiones de
TiO2 de 0.11% en concentracin en volumen para ngulos de inciden-
cia del haz lser desde 0, 20 y 40. Es posible apreciar que aunque
los perfiles son algo distintos para diferentes ngulos de incidencia, el
modelo ajusta bastante bien los perfiles experimentales. ste fue el caso
para los otros ngulos de incidencia considerados para todas las otras
muestras con diferente concentracin en volumen de partculas.

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Resultados y anlisis 141

Figura 40. Grficas de perfiles experimentales y sus ajustes del modelo terico para (a)
partculas de PMMA con una concentracin en volumen de f = 4.2% y (b) suspensiones
de partculas de TiO2 con una concentracin de f = 0.11%.

La parte real del IR efectivo se obtiene del mejor ajuste del modelo te-
rico a los perfiles experimentales para diferentes ngulos de incidencia
y diferente concentracin de partculas, los cuales son dibujados en las
figuras 41a y 41b para suspensiones de PMMA y TiO2, respectivamente.
En las mismas figuras se observa que los valores obtenidos para la parte
real del IR efectivo de diferentes muestras para diferentes ngulos de
incidencia se desvan muy ligeramente de una lnea horizontal, excepto
para suspensiones densas de partculas de TiO2 2.1% y 4% donde se
puede apreciar un fuerte ruido en los datos. La razn es que los perfiles
experimentales correspondientes se aproximan a una lnea recta dentro
de la ventana angular capturada por la CCD, y el ajuste del modelo
llega a estar mal condicionado. La dependencia relativa sobre el ngu-
lo de incidencia de los valores obtenidos para la parte real del IR efec-
tivo para muchas de las muestras significa que el modelo incorpora
adecuadamente el efecto de un IR efectivo dentro de la refraccin de
luz difusa desde la muestra turbia hacia dentro del prisma ptico. Aqu

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142 Refractometra ptica de medios opacos
se tomarn las variaciones de los valores obtenidos de la parte real del
IR efectivo de su valor promedio como su incertidumbre. Con esta
definicin, la incertidumbre en obtener la parte real del IR efectivo
est en la cuarta cifra decimal.

Figura 41. Valores obtenidos de la parte real del IR efectivo para (a) suspensiones de par-
tculas de PMMA y (b) suspensiones de partculas de TiO2, para diferentes ngulos de
incidencia y fraccin de volumen f (indicado en cada curva).

Los valores de la parte imaginaria del IR efectivo obtenido de los mejo-


res ajustes del modelo terico a los perfiles experimentales obtenidos

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Resultados y anlisis 143
para diferentes ngulos de incidencia y diferente concentracin de par-
tculas son graficados en la figura 42 (a) y (b) para suspensiones de
PMMA y TiO2, respectivamente.

Figura 42. Valores obtenidos de la parte imaginaria del IR efectivo para (a) suspensiones
de partculas de PMMA y (b) suspensiones de partculas de TiO2, para diferentes ngulos
de incidencia y fraccin de volumen f (indicado en cada curva).

Se puede observar que los valores obtenidos de la parte imaginaria del


IR efectivo exhiben una notable dependencia sobre el ngulo de inci-
dencia. Este hecho revela la naturaleza aproximada del modelo ptico

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144 Refractometra ptica de medios opacos
aunque el modelo se ajuste muy bien a los perfiles experimentales. Las
limitaciones del modelo pueden venir de alguna de las hiptesis usa-
das para derivar el modelo terico dado en la ecuacin (97). En particular,
podra ser necesario modificar la suposicin de que los campos de ex-
citacin efectivos decaen exponencialmente con una constante de decai-
miento mz. Tambin la suposicin de que la intensidad de luz esparcida
por una partcula dentro del rango angular observado por la CCD es
constante,2 puede no ser suficientemente precisa. Podemos notar en la
figura 42 que los datos para un ngulo de incidencia de 30 y una con-
centracin en volumen de partculas de 11.2%, 15.2% y 20.9% tienen
un cambio en la tendencia comparado con sus respectivas curvas. Esto
podra deberse a algn ordenamiento parcial de las partculas cerca de la
superficie, introduciendo efectos de interferencia a ngulos particulares
de incidencia. Sin embargo, en este punto nosotros tomaremos las va-
riaciones de los valores obtenidos de la parte imaginaria del IR efectivo
como su incertidumbre y an obtendremos mediciones tiles, como
veremos ms adelante. En este caso se puede estimar la incertidumbre
sobre la medicin de la parte imaginaria del IR efectivo de una muestra
de alrededor de 25%.

Comparacin del IR efectivo obtenido con dos modelos existentes

Como vimos en el captulo de antecedentes, el IR efectivo de una


suspensin diluida de partculas est bien aproximada por el IR de
Van de Hulst.3,4 Para una suspensin monodispersa de partculas el IR
efectivo de Van de Hulst, est dado por:5

(109)

donde nm es el IR del medio matriz, el cual se asume que es un medio


transparente y homogneo, S (0) es la amplitud de esparcimiento en
la direccin de incidencia (forward scattering amplitud)3,6 de una part-
cula coloidal de radio a inmersa en la matriz y es una funcin del IR de
la partcula np y del IR de la matriz nm, f es la fraccin de llenado ocupa-
do por las partculas, y xm es el denominado parmetro de tamao dado
por xm = nm k0a, donde k0 = 2p/l y l es la longitud de onda del vaco.

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Resultados y anlisis 145
Para suspensiones moderadamente densas de partculas esparcido-
ras, correcciones al modelo de Van de Hulst pueden ser encontradas en
el modelo de Keller para la constante de propagacin.7 El modelo de
Keller da una frmula relativamente simple si se asume una funcin sim-
ple de correlacin de hoyo (hole correlation) entre un par de partculas:7

(110)

donde r = f/Vp es la densidad en nmero de partculas, con Vp = 4pa3/3


siendo el volumen de una partcula, y km es la constante de propa-
gacin en el medio que rodea a la partcula de IR nm y est dada por
km = 2pnm/l. La funcin I (k) toma la forma:7

(111)

El ndice de refraccin del modelo de Keller puede ser obtenido sim-


plemente como neff = keff/k0.
En la figura 43 se muestran los valores obtenidos para la parte real
del IR efectivo versus la fraccin en volumen de las partculas para sus-
pensiones turbias de partculas de PMMA y la predicha por el modelo
de Van de Hulst y el modelo de Keller. Los dos modelos predicen la
misma lnea recta para este tipo y tamao de partculas. Se puede ver que
los datos experimentales se corresponden muy bien con los modelos
tericos. Los valores obtenidos para la parte imaginaria del IR efectivo
de suspensiones de PMMA muestran un pequeo offset de alrededor de
1 5 10-4 probablemente debido al diseo experimental, a la suaviza-
cin de los perfiles por las aberraciones de la lente y a un poco de
desalineamiento. Se removi el offset y los resultados se muestran en la
figura 44 junto con las predicciones de los modelos de Van de Hulst y
de Keller. En este caso, el modelo de Keller se aleja de una lnea recta
predicha por la frmula del modelo de Van de Hulst. La reduccin en
la eficiencia de esparcimiento por las partculas con el incremento en la
concentracin de las partculas es comnmente referido como el rgi-
men de esparcimiento dependiente.7 Este efecto es bien conocido para
ese tipo de partculas. Se puede notar que los datos experimentales se

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146 Refractometra ptica de medios opacos
corresponden bastante bien con el modelo de Keller hasta en 15% de
la fraccin de volumen de las partculas.

Figura 43. Grfica de los valores obtenidos de la parte real del IR efectivo de suspensio-
nes de partculas de PMMA y las predicciones de los modelos de Van de Hults y Keller
para el IR efectivo.

Figura 44. Grfica de los valores obtenidos de la parte imaginaria del IR efectivo de sus-
pensiones de partculas de PMMA y las predicciones de los modelos de Van de Hulst y
Keller para el IR efectivo.

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Resultados y anlisis 147
Las figuras 43 y 44 muestran que el IR efectivo obtenido con el presente
mtodo es el mismo al tradicionalmente usado nicamente para la com-
ponente coherente de luz en medios turbios (vase Reyes-Coronado et
al. 5 y sus referencias). Como ya se ha dicho, este IR tiene una naturaleza
no local,8 y debe ser usado cuidadosamente en las frmulas usuales de
electrodinmica continua para los coeficientes de reflexin.9
En la figura 45 se dibujaron la parte real y la imaginaria del IR efecti-
vo obtenido para las suspensiones de partculas de TiO2 como funcin
de la concentracin en volumen de las partculas.
Es difcil obtener una comparacin significativa de los valores obte-
nidos para el IR efectivo del TiO2 con predicciones tericas de los
modelos de Van de Hulst y Keller. La razn es que las partculas de TiO2
no son esfricas, son birrefrigerantes y tienen una gran polidispersidad.
Sin embargo, an es posible desarrollar una prueba importante en la
correccin de los valores obtenidos para la parte imaginaria para las
suspensiones de TiO2 si se comparan los obtenidos anteriormente con
valores obtenidos de mediciones de extincin de un haz lser atravesan-
do una cubeta de caras paralelas conteniendo una suspensin de TiO2.
Puesto que las mediciones de extincin pueden llevarse a cabo nica-
mente en suspensiones muy diluidas, comparamos la tasa de cambio
de Im (neff) con el incremento en la concentracin de las partculas. Del
ajuste del modelo a los perfiles de intensidad angular se obtuvo:

Mientras que de las mediciones de extincin se obtuvo:

Se pudo constatar que ambos valores son muy concordantes, indicando


que los valores obtenidos con el refractmetro aqu propuesto son tiles
dentro de la incertidumbre experimental.

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148 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 45. Grficas de la parte real Re {neff} e imaginaria Im {neff} versus la concentracin
de partculas para las suspensiones de partculas de TiO2. Aqu, otra vez, la incertidumbre
fue tomada de la dispersin angular de los datos como funcin del ngulo de incidencia
del haz lser.

Valores de la constante de atenuacin de los campos de excitacin

Bajo el ajuste del modelo terico a los perfiles experimentales, adems


de obtener el IR efectivo, tambin se obtienen los valores para la cons-
tante de atenuacin mz en la ecuacin (79). Algunos valores representa-
tivos de mz obtenidos del ajuste del modelo a los datos experimentales
para concentraciones de volumen de 4.2% y 20.9% para PMMA, y de
0.33% y 1% para suspensiones de TiO2, se muestran en la segunda
columna de la tabla 2.
Se compararon los valores de mz dados en la tabla 2 con la cons-
tante de decaimiento de la onda coherente dentro del medio turbio.
Asumiendo una onda plana incidente a un ngulo q desde el lado del
prisma, la onda coherente transmitida en el medio turbio tiene un
vector de onda complejo con una componente z compleja, y su parte
imaginaria est dada por:

(112)

Evaluando la ltima expresin para ngulos de incidencia considera-
dos en la tabla 2 y asumiendo que neff est dado por el IR efectivo de

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Resultados y anlisis 149
van de Hulst dado en la ecuacin (30), obtenemos los valores mostra-
dos en la segunda columna de la tabla 2. Se puede ver que los valores
de mz son ms grandes por alrededor de un orden de magnitud que los
valores obtenidos de la ecuacin (80). El parmetro de decaimiento mz
en el modelo terico es un parmetro emprico que nos indica qu tan
rpido decaen las ondas efectivas que excitan el esparcimiento de las
partculas embebidas en el medio efectivo de IR neff. Los valores repor-
tados en la tabla 2 pueden ser usados como una futura gua para in-
tentar derivar de primeros principios el modelo terico propuesto en
Garca-Valenzuela y Contreras-Tello, 2013.2


PMMA mz (nm-1) Constante de decaimiento
de la onda coherente (nm-1)

f = 4.2% qi = 5 1.36e-4 2.26e-5


qi = 40 2.87e-4 3.28e-5
f = 20.9% qi = 10 6.56e-4 4.62e-5
qi = 40 9.02e-4 4.47e-5
TiO2
f = 0.33 % qi = 5 1.33e-4 3.72e-5
qi = 35 1.98e-4 4.88e-5
f=1% qi = 5 2.31e-4 1.3e-4
qi = 40 5.39e-4 1.9 e-4

Tabla 2. Valores del mejor ajuste del modelo terico en las figuras 37 y 38, y la constante
de decaimiento de la onda coherente.

Usando el punto de inflexin para determinar la parte real del IR efectivo

Cuando la parte imaginaria del IR efectivo es pequea, los perfiles de


intensidad angular decaen bruscamente a cero dentro de un rango an-
gular pequeo. Claramente existe un punto de inflexin en el perfil de
intensidad justo antes de que ste alcance el cero. Aunque, estricta-
mente hablando, cuando el IR es complejo no existe un ngulo crtico,
dentro de algunos lmites el punto de inflexin puede ser considerado
como el equivalente del ngulo crtico.

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150 Refractometra ptica de medios opacos
Para una parte imaginaria no tan grande del IR efectivo, se puede
usar la ley de Snell para determinar la parte real del IR efectivo locali-
zando el punto de inflexin qM. Es decir, es posible usar:

(113)

Se comparan los valores obtenidos con la ecuacin (113) con aquellos


obtenidos del ajuste del modelo terico para todos los perfiles experi-
mentales obtenidos para las suspensiones de PMMA y se encuentra que
son iguales dentro de la incertidumbre experimental. Sin embargo, cuan-
do la parte imaginaria no es lo suficientemente pequea, el punto de
inflexin no reproduce adecuadamente la parte real del IR efectivo.
En resumen, para una parte imaginaria suficientemente grande del
IR efectivo no existe un punto de inflexin, pero a partir del perfil de
intensidad al cual uno puede ajustar el modelo terico se puede obte-
ner el IR efectivo.
Se utiliza el modelo terico dado en la ecuacin (111) para decidir
cundo es posible usar el punto de inflexin para determinar adecua-
damente la parte real del IR efectivo. En la figura 46 dibujamos la de-
rivada angular de los perfiles de intensidad predichos por la ecuacin
(111) para una muestra con Re (neff) = 1.37 e incrementando el valor
de Im (neff). Se asume que el IR del prisma es de 1.515 y se supone que
el valor de mz es 10 veces el valor dado por la ecuacin (80). Se puede
apreciar en la grfica que el punto de inflexin es bsicamente el mismo
ngulo observado hasta una parte imaginaria Im (neff) = 0.001. En estos
casos, usando la ecuacin (81) debera dar un valor exacto de la parte
real del IR efectivo en al menos la tercera cifra decimal. Para la curva
con Im (neff) = 0.01 el error en el valor obtenido de Re (neff) es +0.003.
Finalmente, en la figura 46, se puede apreciar que para valores de Im (neff)
ms grandes que 0.02 no existe punto de inflexin y as, nicamente
ajustando el modelo terico ser posible obtener el valor de Re (neff).

Comentarios finales

En el modelo desarrollado se ajustan bastante bien los perfiles angulares


de intensidad experimental. Los valores de la parte real e imaginaria

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Resultados y anlisis 151
del IR efectivo obtenidos del ajuste del modelo muestran dependencia
con el ngulo de incidencia del lser debido a las limitaciones del mode-
lo. Despus de analizar y corregir los valores obtenidos para las part-
culas de PMMA, se encuentra que los valores obtenidos empatan con
lo predicho por el modelo de Keller hasta 15% de concentracin en vo-
lumen. Una de las ventajas de medir la parte real del IR efectivo es cla-
ramente revelada por nuestros resultados. La parte imaginaria del IR
llega a ser insensible a variaciones en la fraccin de volumen de las par-
tculas a valores moderados de la fraccin de llenado, mientras que la
parte real permanece sensible a valores mucho ms altos de la fraccin
volumtrica de las partculas. Este resultado ilustra muy bien los pros-
pectos de aplicacin de una refractometra validada en medios turbios.

Figura 46. Grficas de la derivada angular de los perfiles de intensidad predichos por el
modelo terico en la ecuacin (79) para Re {neff} = 1.37 y variando los valores de Im {neff}.
Asumimos que el IR del prisma es de 1.515.

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152 Refractometra ptica de medios opacos
Notas
1 Meeten y North, 1991.
2 Garca-Valenzuela y Contreras-Tello, 2013.
3 Bohren y Huffman, 1983.

4 Hulst, 1957.

5 Reyes-Coronado et al., 2005.


6 Ishimaru, 1991.

7 Garca-Valenzuela et al., 2013.

8 Barrera et al., 2007.

9 Gutirrez-Reyes, et al. 2014.

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Captulo 5

Aplicaciones

E
n este captulo se presentan dos ejemplos de sistemas en los cuales
es interesante medir el ndice de refraccin efectivo; en la primera
aplicacin ste se mide en la sangre humana, donde se presentan
resultados preliminares mostrando la fiabilidad de tales mediciones e
indicando de qu forma los eritrocitos modifican el IR de la sangre.
La siguiente aplicacin que se analiza y propone es el monitoreo en el
cambio de tamao de las partculas de una polimerizacin en emul-
sin, donde se establece su viabilidad para monitorear el proceso en
tiempo real.

Medicin de sangre

La sangre es el fluido ms importante del cuerpo humano. Su anlisis es


importante para el diagnstico mdico, debido a que provee informa-
cin sobre la salud del paciente.1 Las mediciones directas del ndice de
refraccin de la sangre han sido un gran reto, y los resultados no han
sido claros. Los mtodos de medicin optoelectrnicos han ganado po-
pularidad en aplicaciones de medicina debido a la velocidad de la me-
dicin y su potencial bajo costo. Sin embargo, el anlisis ptico de la
sangre es difcil debido a su naturaleza; la sangre puede ser considerada
como un coloide puesto que ste puede ser tratado como un fluido ho-
mogneo con partculas embebidas. ste consiste de plasma con un gran
nmero de clulas rojas suspendidas. El plasma de la sangre contiene

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154 Refractometra ptica de medios opacos
casi 90% de agua y 10% de protenas.2 Las clulas rojas consisten prima-
riamente de eritrocitos,3 pero hay otras clulas en menor cantidad. Los
eritrocitos tienen dimensiones geomtricas tpicas de alrededor de
2.2 mm y 8.2 mm en su semi-eje menor y mayor respectivamente.3 A los
eritrocitos tambin se les suele llamar clulas rojas de la sangre. El
hematocrito es el porcentaje en volumen de clulas rojas en la sangre.
El ndice de refraccin efectivo asociado con la sangre depende del
tamao, forma e IR de las clulas rojas as como de su concentracin.
De esta forma, la medicin del ndice de refraccin de la sangre puede
ser usado para caracterizar el hematocrito de la sangre. La parte real del
IR efectivo describe el retraso en fase de la luz que viaja a travs de la
sangre, mientras que la parte imaginaria est asociada con cunta luz se
esparce o es absorbida por la sangre.
Los tejidos biolgicos son medios pticamente inhomogneos que
absorben luz, y cuyo ndice de refraccin es ms alto que el del aire.
ste es el responsable de reflexin parcial de la radiacin en la inter-
fase tejido-aire, mientras que el resto de radiacin penetra el tejido. El
mltiple esparcimiento y la absorcin son responsables del ensancha-
miento del haz lser que incide y eventualmente decae conforme viaja a
travs del tejido, mientras que el esparcimiento en el bulto es la mayor
causa de dispersin de una gran fraccin de la radiacin en la direccin
contraria a la de incidencia. Por lo tanto, la propagacin de luz dentro
de un tejido depende de las propiedades de esparcimiento y absorcin de
sus componentes: clulas, organelos celulares y varias estructuras fibro-
sas.3 El tamao, forma y densidad de esas estructuras, as como sus n-
dices de refraccin relativos entre sus componentes y la radiacin de la
luz incidente juegan un papel muy importante en la propagacin de
la luz en el tejido. La medicin de IR efectivo en los tejidos y sus com-
ponentes constituyentes, en especial la sangre, es un importante foco de
inters en la ptica de tejido debido a que el ndice de refraccin deter-
mina la reflexin y refraccin de luz en la interfase entre el medio con
un IR conocido y el tejido; ste tambin est fuertemente influenciado
por la propagacin de la luz y la distribucin de sta dentro del tejido,
ya que define la velocidad de la luz en el tejido, y caracteriza la absorcin
y el esparcimiento de la luz. El ndice de refraccin de la sangre ha sido
investigado por diferentes tcnicas.1 En esta seccin se explora la medi-

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155
Aplicaciones

cin del IR efectivo de la sangre humana por luz difusa retro-esparcida


cerca del ngulo crtico. El sistema de medicin es el establecido en
el captulo 3 de esta investigacin, utilizando el arreglo experimental
de la figura 33.

Resultados experimentales

Se preparan dos muestras de sangre humana de alrededor de 5 ml. Las


muestras fueron tomadas de dos voluntarios jvenes con parmetros de
la sangre de pacientes sanos. El objetivo de nuestro estudio es investigar
la posibilidad de medir y diferenciar entre dos tipos de sangre de dos
sujetos diferentes al medir su ndice de refraccin efectivo. Tambin in-
vestigamos los cambios en el ndice de refraccin efectivo de diluciones
de sangre en solucin salina.
En la figura 47 se muestran los perfiles de intensidad angular obte-
nidos de dos muestras de sangre a una longitud de onda de 635 nm.
Las curvas rojas corresponden a una misma persona sujeto 1 y las
curvas negras corresponden a otra persona sujeto 2. La curva verde
es la curva de reflectancia en la interfase agua-prisma de medicin. Para
cada muestra de sangre, se midieron tres perfiles angulares de intensi-
dad. Cada perfil corresponde a un ngulo de incidencia del lser de 0,
5 y 10 en el arreglo experimental. Los tres perfiles angulares de mayor
intensidad corresponden a la sangre. Los tres perfiles de ms baja in-
tensidad corresponden a diluciones de sangre en una relacin de 1:192
en solucin salina. El anlisis de los datos experimentales se muestra
en la tabla 3.

Real (neff)
Sangre del sujeto 1 1.34360.0005
Sangre del sujeto 2 1.34480.0004
Dilucin del sujeto 1 1.33150.0001
Dilucin del sujeto 2 1.33120.0006

Tabla 3. Parte real del IR efectivo medido de dos muestras de sangre y sus diluciones.

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156 Refractometra ptica de medios opacos

Figura 47. Perfil de intensidad angular tomado de dos muestras diferentes de sangre
curvas rojas y negras respectivamente de dos sujetos sanos a diferentes ngulos de
incidencia (0, 5 y 10) con un lser de 635 nm. Las curvas ms ruidosas arriba son
para mediciones en sangre pura y las curvas ms suaves abajo son para diluciones
de sangre en una solucin salina (1:192). Una curva de reflectividad versus el ngulo de
incidencia del agua curva verde se muestra como referencia.

Los resultados de la tabla 3 muestran una diferencia en la parte real del


ndice de refraccin efectivo medido para cada sujeto. Esta diferencia se
debe a las caractersticas especficas de la sangre de cada persona. Los
resultados son similares a aquellos reportados en otros trabajos.1,3 Se
tom una porcin de la sangre y la centrifugamos; se separ el plasma
de la sangre y se midi su ndice de refraccin en un refractmetro co-
mercial. Se obtuvo IR-plasma = 1.3500 0.0005. Tambin se midi el
IR de la solucin salina usada para las diluciones, obteniendo IR-sol.
salina=1.3340 0.0002. El ndice de refraccin de los eritrocitos en la
literatura suele ser dado como 1.406.4,5 El IR del plasma de la sangre,
tanto como el de la solucin salina son mayores que el IR de las dilu-
ciones de sangre, indicando que el hematocrito contribuye negativamen-
te al IR efectivo.
Subsecuentemente, se prepar una tercer muestra de otro sujeto, y
se midi el ndice de refraccin de la sangre entera, y de diluciones sali-

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157
Aplicaciones

nas con sangre en las siguientes proporciones: 75%, 50%, 25%, 12.5%
y 8.33% de sangre en solucin salina. Los resultados se muestran en la
figura 48.

Figura 48. Comparacin del IR efectivo experimental medido en sangre y diluciones de


sangre en solucin salina con lo predicho por el modelo de van de Hulst suponiendo a
los eritrocitos como esferas perfectas.

Conforme se diluy la sangre en solucin salina, tambin se modific el


ndice de refraccin de la matriz. Para obtener el ndice de refraccin
efectivo de cada solucin, el ndice de refraccin del medio matriz en
las soluciones de sangre fue calculado como un promedio ponderado
en volumen de los ndices de refraccin del plasma y la solucin salina.
La curva en color verde de la figura 48 muestra la variacin del IR de
la matriz para diferentes diluciones de la sangre. En este caso es apro-
piado este promedio pues tenemos dos sustancias homogneas trans-
parentes en las cuales dicha aproximacin molecular es adecuada.
Si se usase un promedio ponderado en volumen para calcular la
contribucin de los eritrocitos al IR efectivo del coloide, resultar en
errores importantes como se muestra con los puntos rojos de la figura
48, sobreestimando el ndice de refraccin. En eso radica la importan-
cia de analizar este tipo de sistemas.

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158 Refractometra ptica de medios opacos
Usando los valores obtenidos para la matriz, el IR efectivo para las
diferentes diluciones de sangre fue determinado para una longitud de
onda de 635 nm. Un clculo terico para el ndice de refraccin efectivo
de la sangre usando la frmula de Van de Hulst y asumiendo clulas
esfricas a = 4 mm, l = 635 nm predice una contribucin negativa
de las clulas rojas al ndice de refraccin efectivo mostrado con la
curva continua en color rojo de la figura 48. Si se desarrolla el mismo
clculo con clulas elipsoidales, la contribucin de las clulas rojas al
IR es negativo si estn orientadas de tal forma que la luz las atraviese a
lo largo de su semieje mayor.6 Creemos que ste es el caso de nuestros
experimentos.
Se intent medir la parte imaginaria de la sangre y sus diluciones,
pero la medicin no arroj datos confiables, debido a la dificultad
para llevarla a cabo. Los datos fueron dominados por ruido adems de
mostrar variaciones extremas en la medicin, debido probablemente a
la agitacin de la muestra. Este problema sigue abierto y demostrando
que es difcil medir la parte imaginaria del IR efectivo para muestras
muy turbias.
Hasta el momento, la conclusin ms importante es que bajo las
circunstancias de estos experimentos la contribucin de los eritrocitos
a la parte real del ndice de refraccin efectivo de la sangre es muy pe-
quea, y puede ser despreciable a ciertas longitudes de onda. Por lo
tanto, es posible medir el IR del plasma directamente en la sangre a
pesar de tener concentraciones de 40-45% en volumen de eritrocitos.
Este resultado es nuevo y pensamos que podra ser de utilidad para el
diagnstico de sangre.
Un anlisis y una discusin ms profundos requiere de mayor inves-
tigacin, los resultados mostrados aqu son slo indicativos de la posi-
bilidad de medir el IR efectivo con la nueva metodologa propuesta.

Medicin del tamao de partculas en la polimerizacin en emulsin

Hasta donde sabemos, no se han desarrollado mtodos para caracterizar


y obtener el tamao de las partculas en un reactor de polimerizacin
de emulsin on-line; en la actualidad slo es posible medir el tamao de
partcula al final de la produccin de un lote de ltex. El refractmetro

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159
Aplicaciones

por reflexin difusa podra ser utilizado para medir el tamao de las
partculas en tiempo real. Aqu, una combinacin de la inversin de un
modelo y la refraccin de la luz difusa pueden ser usados para deter-
minar el tamao de las partculas de polmero tpicas en la operacin
de un reactor de polimerizacin en emulsin. En esta seccin se ana-
lizar la factibilidad de medir el tamao de partcula. Los resultados
podran demostrar la aplicabilidad de la refractometra difusa para el
anlisis de tamao de partcula in-situ en reactores de polimerizacin
en emulsin.
El tamao de partcula en un reactor de polimerizacin en emul-
sin tiene un efecto directo en la calidad del producto. Mediciones in
situ del tamao de partcula mejoran la calidad de los modelos del
proceso, los cuales tendrn un subsecuente efecto en mejorar la opti-
mizacin y el control de los reactores de polimerizacin en emulsin.
Existen tcnicas con limitaciones significativas; en particular, muchos
mtodos tienen grandes retrasos antes de que la medicin del tamao
est disponible. Esos retrasos pueden ser el resultado de la preparacin
de la muestra o de la medicin por s misma.
Existe una clara ventaja en monitorear el tamao de las partculas
on-line, en trminos de proveer ms datos para modelar el proceso, pero
tambin para habilitar la optimizacin on-line y la retroalimentacin en
el control del proceso. A lo largo de los aos, muchos analizadores de
tamaos de partculas han estado disponibles: el Coulter-counter7 cuen-
ta las partculas electrnicamente conforme la suspensin pasa a travs
de un orificio; sin embargo, estos tienen pequeos orificios de flujo que
son propensos a la obstruccin y al ruido de fondo.
Dinamic light scattering es una aproximacin para sensar el tamao
de partculas comnmente usado en laboratorios de investigacin. Un
haz lser es dirigido a travs de una celda con la muestra y la luz espar-
cida es colectada. Existen equipos comerciales, como el Malvern, que
utilizan este principio y que dan mediciones tiles para suspensiones
con una muy baja densidad de partculas.8 Usualmente, las suspensio-
nes densas de ltex pueden ser medidas con un muestreo automatizado
y diluyendo la muestra, pero puede ser difcil obtener una muestra repre-
sentativa de tales sistemas. La tcnica de dynamic light scattering es por mu-
cho la ms utilizada para medir el tamao de partculas de polmero.9,10

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160 Refractometra ptica de medios opacos
La tcnica que se ha desarrollado en este trabajo permite medir el
ndice de refraccin efectivo de un coloide aunque sea altamente tur-
bio. Claramente el IR efectivo depender de las propiedades fsicas de
las partculas coloidales y, por lo tanto, su correcta medicin puede ser
usada para caracterizar las partculas coloidales. ste es uno de los inte-
reses prcticos para entender y usar el ndice de refraccin efectivo de
coloides turbios. Como ya se ha visto, todas las tcnicas usadas a la fe-
cha estn limitadas de una forma u otra. Las tcnicas de turbidimetra
son atractivas desde un punto de vista prctico porque la instrumenta-
cin y la metodologa experimental son menos complicadas que otras y
por que pueden ser usadas para coloides ms densos. La principal limi-
tacin de las tcnicas como Dynamic light scattering, por ejemplo, es que
uno necesita conocer con precisin el ndice de refraccin de las partcu-
las en orden a estimar correctamente el tamao de la partcula, y es espe-
calmente crtico cuando las partculas son pequeas comparadas con
la longitud de onda. Usualmente, las tcnicas establecidas para medir
el tamao de partcula miden slo la parte imaginaria del IR y no as
su parte real, lo cual limita su capacidad de medicin.
Como ya se ha demostrado, la medicin de la parte real del ndice de
refraccin efectivo es un parmetro que se puede medir a altas concen-
traciones, en medios muy turbios, por la refraccin de luz difusa, por lo
que se cuenta con una nueva tcnica para implementar en sistemas de
medicin en tiempo real. La medicin del tamao de partculas en sis-
temas on-line sigue siendo de gran inters por las posibles aplicaciones
industriales, y es un tema que al parecer se ha dejado a un lado, no por
falta de inters sino por la escasez en mtodos fciles de implementar.
Aqu se explora la posibilidad de desarrollar una propuesta para deter-
minar el tamao de partcula al medir el ndice de refraccin efectivo.

Polimerizacin en emulsin

Los mtodos principales de polimerizacin son: en bloque, en disolu-


cin y en emulsin. Cada uno de los mtodos tiene sus ventajas y sus
inconvenientes. Por el inters de aplicabilidad se tratar la obtencin
de la polimerizacin en emulsin, para una descripcin ms a fondo de
todas las tcnicas se puede consultar Carraher y Seymour, 2000..

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161
Aplicaciones

Muchos monmeros pueden ser polimerizados por polimerizacin


en emulsin. Esta tcnica es ampliamente usada para la produccin de
un gran nmero de plsticos comerciales y elastmeros. En la polime-
rizacin en emulsin hay algunos ingredientes clave:

1. El monmero deber ser insoluble en agua y polimerizable por


radicales libres.
2. Se cuenta con un iniciador soluble en agua.
3. Agua.
4. Surfactante.

En trminos generales, el proceso de polimerizacin inicia al mezclar el


surfactante en agua y a altas concentraciones se forman micelas. Poste-
riormente se adiciona el monmero que queda en emulsin, en gotas
grandes. Se agrega el iniciador comenzando el proceso de polimeri-
zacin. Usualmente se reconocen tres etapas de la polimerizacin en
emulsin.
La etapa I empieza cuando el monmero se difunde a una micela
vaca desde las gotas de monmero. Con la adicin del iniciador se
generan radicales libres, uno de ellos ingresa en la micela y comienza
el proceso de polimerizacin. La polimerizacin iniciada en las micelas
se convierte en partculas de polmero.
La etapa II se establece cuando no hay ms surfactante disponible
para generar nuevas partculas. El monmero se difunde dentro de un
nmero constante de partculas para mantener un equilibrio con ellas.
Las gotas de monmero disminuyen su tamao y eventualmente son
consumidas. Un equilibrio entre la tensin inter-facial dentro de la mi-
cela y la dilucin de monmero/polmero permite tener una fraccin
de volumen constante.
La etapa III se reconoce cuando todo el monmero ha pasado a las
partculas y por lo tanto las gotas de monmero han desparecido. El
tamao de partcula es constante alcanzando una tasa de conversin
del monmero a polmero de 90 a 100%.11

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162 Refractometra ptica de medios opacos
Viabilidad de medicin

A continuacin se analiza la viabilidad de obtener el tamao de partcu-


la a partir de la medicin del ndice de refraccin efectivo.
Se supone, tentativamente, que el nmero de gotas de monmero
en cada mililitro es rg densidad en nmero y que tiene asociado un
tamao de gota con un radio ag . De la misma forma que el nmero de
partculas de polmero en cada mililitro es rp con un radio ap. Tam-
bin que la fraccin de monmero es constante en todo el proceso, con
un valor aproximado de fT = 55%. La relacin entre el nmero de par-
tculas y la densidad en nmero est dada por f = rV donde V es el
volumen de una partcula.
La fraccin total de monmero es la suma del monmero en las
gotas y el monmero en las partculas (polmero).

(114)

De la relacin anterior se puede obtener el radio de las gotas de mon-


mero como funcin del tamao de las partculas generadas en el proce-
so de polimerizacin,

(115)

El ndice de refraccin efectivo est dado por la frmula de Van de Hulst


donde existe una contribucin de las gotas de polmero y otra de las
partculas de polmero.

(116)

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163
Aplicaciones

Donde:
y ag es estimada con la ecuacin (115).

y ap en este anlisis se supondr que vara linealmente.

Tambin se supondr que el nmero de gotas como el de partculas es


constante a lo largo del proceso. Para este ejemplo especfico se supon-
dr que el tamao de partcula final del proceso es de 250 nm:

ap,max = 250 nm

Y que el tamao inicial de las gotas de monmero es de 100 mm.

ag (t = 0) = 100 mm

De esta forma, conociendo la fraccin de volumen se puede estimar el


nmero de partculas por unidad de volumen:

Si se grafica la ecuacin (116) como funcin del tamao de partcula de


polmero se pueden obtener resultados interesantes. Aqu se hace hin-
capi en que lo que se controla en la prctica es el nmero de partculas
por unidad de volumen y no el radio final. Pero, como se demuestra en
el anlisis, estos dos parmetros en este tipo de reaccin de polimeriza-
cin en emulsin estn relacionados y especificar uno es equivalente a
especificar el otro.
En la figura 49 se puede observar cmo vara el IR efectivo confor-
me se van creciendo las partculas de polmero en la polimerizacin en
emulsin. Cuando el radio de la partcula est por debajo de 60 nm es

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164 Refractometra ptica de medios opacos
imposible monitorear variaciones del tamao a partir de la parte real del
IR efectivo nicamente. Asumiendo que la resolucin en la medicin
de la parte real del IR efectivo es de 1 5 103 en el refractmetro desarro-
llado en este trabajo, se puede determinar que para tamaos pequeos
alrededor de 80 nm y 140 nm, la resolucin alcanzada por nuestra
medicin es de alrededor de 5 nm. Conforme se incrementa el tamao
de la partcula de polmero, la precisin alcanzada en la medicin se
incrementa, pudiendo tener una precisin de alrededor de 1 nm cuan-
do el tamao de la partcula est por arriba de los 200 nm.

Figura 49. Variacin del IR efectivo al cambiar el radio de la partcula en formacin du-
rante un proceso de polimerizacin en emulsin.

Continuando con el anlisis, se simula el comportamiento de la parte


real del IR efectivo al mantener todos los parmetros establecidos en los
prrafos anteriores ft = 55%, ag-monmero = 100 mm, l= 635 nm, pero
nicamente cambiando el tamao de la partcula final de polmero que

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165
Aplicaciones

se desea alcanzar para ap = 60 nm, 250 nm, 1 mm y 2.4 mm. La figura


50 muestra las grficas obtenidas.
En la figura 50a es posible observar el comportamiento de la parte
real del IR efectivo al variar el tamao final de las partculas de polmero
en un proceso de polimerizacin en emulsin. Para tamaos de part-
cula del orden de 250 nm hacia abajo, la contribucin a la parte real
del IR efectivo es pequea. Conforme el tamao de partcula final en
el proceso de polimerizacin se incrementa, la contribucin a la parte
real del IR efectivo, por parte de las partculas, se incrementa, como lo
muestra la curva de color negro y azul correspondiente a un tamao
final de 600 nm y 1 mm, respectivamente; eventualmente, la contribu-
cin puede llegar a ser negativa como se observa para las curvas reali-
zadas con un tamao de partcula de 1.5 mm y 2.4 mm color naranja
y verde oscuro, respectivamente. De esta forma, al establecer la densi-
dad en nmero del proceso de polimerizacin en emulsin parmetro
controlado y medir el IR efectivo, se puede obtener a priori el tamao
de partcula en un proceso de crecimiento en la polimerizacin por
emulsin.
Finalmente, la grfica de abajo de la figura 50b muestra la evolu-
cin del tamao de las partculas de polmero y la gota de monmero.
Cuando el proceso de polimerizacin inicia, el tamao de la gota de
monmero es mxima y conforme avanza la polimerizacin el tamao
de la partcula de polmero incrementa su tamao, de tal forma que,
al finalizar la reaccin, todo el monmero ha pasado de las gotas a for-
mar el polmero.

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166 Refractometra ptica de medios opacos

(a)

(b)

Figura 50. (a) comportamiento del IR efectivo parte real al variar el tamao de par-
tcula de polmero. En el recuadro se muestra un zoom de la grfica hasta 240 nm;
(b) relacin del tamao de la gota de monmero al cambio en el tamao de la partcula
de polmero para diferentes tamaos de polmero.

Como conclusin se destaca que el refractmetro por reflexin difusa


es capaz de monitorear la parte real del IR efectivo, permitiendo medir
coloides muy turbios tales como el ltex y, en el caso especfico, la ge-
neracin de partculas en un proceso de polimerizacin en emulsin.
Las estimaciones realizadas en esta seccin junto con la funcionalidad

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167
Aplicaciones

y resolucin del refractmetro por reflexin difusa vislumbran la posi-


bilidad de medir en tiempo real el proceso de polimerizacin en emul-
sin, siendo interesante ponerlo a prueba.

Notas
1 Vanse Jedrzejewska-Szczerska, 2013 y sus referencias.
2 Li y Xie, 1996.
3 Tuchin, 2007.
4 He et al., 2003.

5 Karlsson et al., 2005.

6 Nahmad Rohen, 2014.

7 Allen, 1990.

8 Eek y Dijkstra, 1995.


9 Cao et al., 1999.

10 Dowding et al., 2000.

11 Carraher y Seymour, 2000.

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168 Refractometra ptica de medios opacos

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Conclusiones

E
n este trabajo se estudia la propagacin de la luz en suspensiones
coloidales turbias a concentraciones altas de partculas y cmo me-
dir sus propiedades pticas. Se definieron los parmetros tiles
para entender la interaccin de la luz con la materia, los cuales son de-
nominados coeficiente de esparcimiento, coeficiente de esparcimiento
reducido, coeficiente de absorcin y coeficiente de extincin. Se esta-
bleci que en mediciones habituales es ms prctico medir el ndice de
refraccin de un sistema que medir la extincin o atenuacin, que es lo
que se hace comnmente.
Se analiz la tcnica denominada como absorbedor aadido pro-
puesta por Zaccanti en 2003, la cual nos permite medir el coeficiente
de extincin como funcin de la fraccin de llenado, as como los coe-
ficientes de esparcimiento reducido y coeficiente de absorcin. Una de
las contribuciones de este trabajo es que se ampli el sistema de medi-
cin para hacerlo espectroscpico, pudiendo medir en toda la regin
del espectro visible, al menos para las partculas de PMMA. Tambin
logramos medir por esta tcnica suspensiones turbias de partculas de
TiO2 a concentraciones relativamente grandes, reportando resultados
que hasta la fecha no se han observado en la literatura especializada.
Encontramos que el comportamiento tanto del coeficiente de extincin
como el de esparcimiento reducido se incrementa con la concentra-
cin de partculas, dicho comportamiento ha sido reportado por mu-
chos autores en la literatura, aunque tambin logramos observar que

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170 Refractometra ptica de medios opacos
las mediciones muestran que estos dos coeficientes alcanzarn un mxi-
mo y eventualmente comenzarn a disminuir al seguir incrementando
la concentracin, en el caso de las partculas de ltex. Curiosamente, en
el caso de las partculas de TiO2 no se alcanza a ver este mximo, cosa
que fue inesperada. El coeficiente de extincin est relacionado con
la parte imaginaria del ndice de refraccin efectivo del material, lo que
nos muestra que eventualmente la medicin de estos parmetros per-
der sensibilidad no slo a la concentracin de partculas, si no al
cambio de otros parmetros como pueden ser el tamao de partcula, el
ndice de refraccin de los elementos que componen el sistema, entre
otros. Analizar estos sistemas demuestra los lmites de la tcnica.
Una forma comn de determinar la parte real del ndice de refrac-
cin de una substancia es por medio del refractmetro de Abbe. ste
depende de la transmisin de la luz cerca del ngulo crtico en la interfa-
se entre la substancia bajo estudio y un prisma de vidrio de ndice de
refraccin mayor. Sin embargo, es difcil medir en medios turbios, pues
la extincin de la luz atena la cantidad de energa que llega al prisma
de medicin en el refractmetro de Abbe, resultando en falsas lecturas.
De esta forma, se estudi cmo la medicin de suspensiones absorben-
tes puede afectar la medicin en el refractmetro de Abbe tradicional.
Implementando un arreglo similar al refractmetro de Abbe y midiendo
muestras de agua con pequeas cantidades de tinta china, obtenemos
perfiles angulares de intensidad de luz, que al analizar nos mostraron
que es posible recuperar la parte real del ndice de refraccin bajo cier-
tas condiciones. Se encontr que el punto de inflexin de las curvas,
asociado a la parte real del ndice de refraccin, permanece bsicamente
igual para pequeas cantidades de absorcin hasta cierto umbral de la
parte imaginaria asociada a la absorcin de la muestra, dependiendo
evidentemente del grosor de la muestra, pero despus de este valor,
el punto de inflexin decrece rpidamente. Para un espesor fijo de la
muestra y una absorcin grande, el punto de inflexin depender nota-
blemente de la parte imaginaria, entonces se puede ajustar el modelo
ptico derivado en la ecuacin (75) a los perfiles experimentales y ex-
traer el ndice de refraccin complejo de la muestra. Los resultados de
este estudio fueron reportados en el artculo de Contreras-Tello et al.,
2014.

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171
Conclusiones

Los dos mtodos descritos muestran las limitantes de implementar


estas tcnicas al estudio de coloides turbios. Por un lado, la medicin
de la extincin de un sistema indica que eventualmente se perder sen-
sibilidad en un sistema de medicin a la concentracin de partculas
as como a otros parmetros, necesitando caracterizar el sistema, en este
caso, con la parte real del ndice de refraccin efectivo, como se comen-
tar ms adelante. Por el otro lado, se demuestra que en un refract-
metro de Abbe se debe tener cuidado con la extincin de un sistema,
pues generalmente es usado sin tener en cuenta las limitaciones de los
instrumentos.
Se obtuvieron perfiles de intensidad angular de luz difusamente
reflejada alrededor del ngulo crtico para suspensiones de partculas
de PMMA y TiO2 de diferentes concentraciones en volumen. Aqu se
ajust un modelo recientemente derivado para los perfiles de intensi-
dad-angular y se obtuvo la parte real e imaginaria del IR efectivo de las
suspensiones de partculas. El modelo de la ecuacin (97) ajusta bas-
tante bien todos los perfiles angulares de intensidad experimentales.
El modelo obtenido fue reportado en Garca-Valenzuela y Contreras-
Tello, 2013.
Los valores obtenidos para la parte real e imaginaria del IR efectivo
de los ajustes del modelo terico muestran variaciones con el ngulo de
incidencia. Para la parte real la dependencia es muy pequea en trmi-
nos relativos, mientras que para la parte imaginaria puede ser relativa-
mente grande. Creemos que esto se debe a las limitaciones del modelo
ptico, por las suposiciones usadas para derivar ste; en particular, la
suposicin de que la intensidad de las fuentes efectivas dentro del me-
dio turbio decae exponencialmente con una constante de decaimiento
mz tendra que ser mejorada. Se consider la dispersin de los valores
obtenidos de la parte real e imaginaria del IR efectivo de las muestras a
diferentes ngulos de incidencia como la incertidumbre. Para la parte
real, la incertidumbre est en la cuarta cifra decimal para muchas mues-
tras, mientras que para la parte imaginaria la incertidumbre es alrede-
dor del 25%. Este valor de incertidumbre parecera en principio muy
grande pero es comparable al que se obtiene en mediciones tradicio-
nales por extincin de luz colimada en una celda de caras paralelas
cuando el medio es muy turbio. Por otro lado, las mediciones por el

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172 Refractometra ptica de medios opacos
mtodo aqu desarrollado se pueden hacer en medios ms turbios que
por extincin directamente.
Para las suspensiones de ltex PMMA de diferentes concentracio-
nes en volumen se compararon los valores obtenidos de la parte real e
imaginaria del IR efectivo con las predicciones del IR de Van de Hulst
y del modelo de Keller. Para la parte real del IR efectivo ambos modelos
coinciden y predicen una dependencia lineal con la concentracin de
partculas. Los valores obtenidos de los perfiles de intensidad compa-
ran muy bien con las predicciones de los modelos. Para la parte imagi-
naria el modelo de Van de Hulst predice una relacin lineal, mientras
que el modelo de Keller predice una curva que se aleja de la lnea recta
doblndose hacia valores ms pequeos. Los valores obtenidos de la
parte imaginaria del IR efectivo de suspensiones de ltex muestran un
pequeo offset que creemos es debido probablemente al arreglo expe-
rimental, debido a la suavizacin de los perfiles por aberraciones de la
lente. Despus de remover este offset, los valores obtenidos comparan
muy bien con las predicciones del modelo de Keller hasta alrededor
de 15% en concentracin de volumen de partculas. Las suspensiones de
partculas de TiO2 tienen una distribucin de tamaos amplia y las par-
tculas no son esfricas. En este caso no se intent una comparacin
con predicciones tericas. Sin embargo, s se compar el valor de incre-
mento de la parte imaginaria del IR efectivo por unidad de cambio en
la concentracin en volumen con el valor obtenido de mediciones de
extincin en la misma muestra y se encontr muy buen acuerdo.
Tambin se verific que para muestras turbias con un IR efectivo
complejo con un relativo corte abrupto en el perfil de intensidad, la
parte real del IR efectivo obtenido de los ajustes coincide muy bien con
los valores que uno obtiene localizando el punto de inflexin de los perfi-
les de intensidad y considerando este ngulo como el ngulo crtico en-
tre dos medios de ndice de refraccin real, y subsecuentemente usando
la ley de Snell para determinar el IR de la muestra turbia nicamente la
parte real. Entonces se usa el modelo terico para investigar el lmite
en usar nicamente el punto de inflexin para determinar la parte real
del IR efectivo.
Una de las ventajas de medir la parte real del IR efectivo es clara-
mente revelada por los presentes resultados. La parte imaginaria del IR

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173
Conclusiones

llega a ser insensible a variaciones en la fraccin de volumen de las par-


tculas a valores moderados de la fraccin de llenado, mientras que la
parte real permanece sensible a valores mucho ms altos de la fraccin
volumtrica de las partculas. Se puede inferir que la prdida en sen-
sibilidad a la concentracin de partculas significa una prdida en la
sensibilidad a otras variables tales como el tamao de partcula, IR, y
as sucesivamente. Al parecer este hecho ilustra muy bien los prospec-
tos de aplicacin de una refractometra validada de medios turbios.
Se muestra que la parte real del IR efectivo se obtiene con buena
precisin sin importar cmo es iluminada la muestra, pero la obtencin
de la parte imaginaria del IR efectivo se realiza con menos precisin;
sin embargo, se pueden obtener mediciones tiles. El ndice de refrac-
cin obtenido con este mtodo se compara muy bien con las llamadas
aproximaciones de Van de Hulst y el derivado del modelo de Keller
de la constante de propagacin efectiva. Todos los resultados obtenidos
con la tcnica descrita fueron enviados y aceptados para su publica-
cin Refractive Index Measurement of Turbid Media by Transmis-
sion of Backscattered Light Near the Critical Angle, Appl. Opt., 53 (21),
4768-4778 (2014).
Es importante destacar que este trabajo tambin contribuye en el
aspecto ms bsico del problema, en el sentido de que muestra que se
puede medir un IR efectivo a partir de la refraccin de luz difusa, y que
ste coincide con el IR de Van de Hulst. Se da evidencia muy clara
de que la luz difusa en su propagacin a travs de un medio turbio ve
un IR efectivo al igual que la componente coherente de la luz. Por la
parte de instrumentacin, se logr alcanzar una sensibilidad y preci-
sin muy altas a pesar de medir en sustancias muy turbias, aspecto
destacable.
Tambin se estudi la posibilidad de medir el IR efectivo de la san-
gre humana por luz difusa retroesparcida cerca del ngulo crtico. Se
obtuvo la parte real del IR efectivo del punto de inflexin del perfil
angular de intensidad medido con la tcnica experimental ya descrita.
Los resultados muestran que la diferencia entre el ndice de refraccin
efectivo de la sangre de dos personas saludables puede ser medible.
La diferencia se debe a la composicin distintiva de la sangre de cada
persona. El llamado hematocrito determina las propiedades de espar-

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174 Refractometra ptica de medios opacos
cimiento y absorcin de la sangre y est directamente asociado con el
IR efectivo.
Se ha demostrado que la contribucin es cuantitativa y cualitati-
vamente muy diferente de aquella que se esperara si se tomara simple-
mente un promedio ponderado en volumen del IR del plasma de la
sangre y los eritrocitos. Mientras que el promedio ponderado predice
una contribucin positiva, la teora de Van de Hulst y los datos experi-
mentales muestran una contribucin negativa en la parte real del ndice
de refraccin efectivo.
Dos muestras no son estadsticamente representativas, sin embar-
go, los resultados aqu mostrados demuestran que la metodologa pro-
puesta puede ser usada como herramienta de anlisis del hematocrito
de la sangre.
Se analiz la posibilidad de medir el tamao de partcula en un pro-
ceso de polimerizacin en emulsin y se encontr que tenemos sensibili-
dad a la parte real del IR efectivo y con ello podemos medir el tamao
de las partculas de polmero durante su proceso de formacin, resul-
tado importante y que puede ser de inters para aquellas personas
o empresas que produzcan polmeros en procesos de polimerizacin en
emulsin.

Nota: del trabajo realizado para este libro se publicaron los siguientes artculos:

Contreras-Tello, Humberto y Augusto Garca-Valenzuela. Refractive Index


Measurement of Turbid Media by Transmission of Backscattered Light
near the Critical Angle, Applied Optics, vol. 53, 2014, pp. 4768-4778.
Contreras-Tello, H., R. Mrquez-Islas, O. Vzquez-Estrada, C. Snchez-Prez,
A. Garca-Valenzuela, Understanding the Performance of Abbe-Type Refrac-
tometers with Optically Absorbing Fluids, Meas. Sci. Technol., 25, 07521,
2014. doi:10.1088/0957-0233/25/7/075201.
Garca-Valenzuela, Augusto y Humberto Contreras-Tello, Optical Model Ena-
bling the Use of Abbe-Type Refractometers on Turbid Suspensions, Op-
tics Letter, 38 (5), 775-777, 2013.

Refractometra-06.indd 174 14/09/16 12:43


175
Conclusiones

Bibliografa

Alexander, Keith, Ainsley Killey, Gerald H. Meeten y Malcolm Senior, Re-


fractive Index of Concentrated Colloidal Dispersions, Journal of the Che-
mical Society, Faraday Transactions, 2 77 (2). The Royal Society of Chemistry:
361, 1981. doi:10.1039/f29817700361.
Allen, Terence, Particle Size Measurement, Chapman and Hall, 1990.
Barrera, Rubn G. y Augusto Garca-Valenzuela, Coherent Reflectance in
a System of Random Mie Scatterers and Its Relation to the Effective-Me-
dium Approach, Journal of the Optical Society of America A, 20 (2). Optical
Society of America: 296, 2003. doi:10.1364/JOSAA.20.000296.
Barrera, Rubn G., Alejandro Reyes-Coronado y Augusto Garca-Valenzuela,
Nonlocal Nature of the Electrodynamic Response of Colloidal Systems,
Physical Review B, 75 (18): 184202, 2007. doi:10.1103/PhysRevB.75.184202.
Bartlett, Matthew A. y Huabei Jiang, Effect of Refractive Index on the Mea-
surement of Optical Properties in Turbid Media,, Applied Optics 40 (10).
Optical Society of America: 1735, 2001. doi:10.1364/AO.40.001735.
Boas, D. A., Diffuse Photon Probes of Structural and Dynamical Properties
of Turbid Media: Theory and Biomedical Applications, PhD University
of Pennsylvania, 1996.
Bohren, Craig F., Applicability of Effective-Medium Theories to Problems of
Scattering and Absorption by Nonhomogeneous Atmospheric Particles,
Journal of the Atmospheric Sciences 43 (5): 468-475, 1986. doi:10.1175/1520-
0469(1986)043<0468:AOEMTT>2.0.CO;2.
Bohren, Craig F. y Donald R. Huffman, Absorption and Scattering of Light by
Small Particles, Wiley, 1983.

Refractometra-06.indd 175 14/09/16 12:43


176 Refractometra ptica de medios opacos
Calhoun, W. R., H. Maeta, A. Combs, L. M. Bali y S. Bali., Measurement of
the Refractive Index of Highly Turbid Media, Optics Letters 35 (8). Optical
Society of America: 1224-1226, 2010. doi:10.1364/OL.35.001224.
Cao, Kun, Bo-Geng Li y Zu-Ren Pan, Micron-Size Uniform Poly(methyl Metha-
crylate) Particles by Dispersion Polymerization in Polar Media. IV. Monomer
Partition and Locus of Polymerization, Colloids and Surfaces A: Physicoche-
mical and Engineering Aspects 153 (1-3): 179-187. 1999. doi:10.1016/S0927-
7757(98)00441-5.
Carraher, Charles E. y Raymond Benedict Seymour, Seymour/Carrahers Polymer
Chemistry, Marcel Dekker, 2000.
Case, Kenneth M. y Paul Frederick Zweifel, Linear Transport Theory, Addison-
Wesley Pub, 1967.
Champion, John V., Gerald H. Meeten y Malcolm Senior, Refractive Index
of Particles in the Colloidal State, Journal of the Chemical Society, Faraday
Transactions 2 74 (enero,. Royal Society of Chemistry: 1319. 1978. doi:10.
1039/f29787401319.
Chandrasekhar, Subrahmanyan, Radiative Transfer, Courier Corporation. 2013.
Chew, Weng Cho, Waves and Fields in Inhomogenous Media, Wiley, 1999.
Chou, Adam y Milton Kerker, The Refractive Index of Colloidal Sols, The
Journal of Physical Chemistry 60 (5), American Chemical Society: 562564,
1956. doi:10.1021/j150539a012.
Collin, Robert E., Antennas and Radiowave Propagation, McGraw-Hill, Higher
Education, 1985.
Contreras-Tello, H. et al, Understanding the Performance of Abbe-Type
Refractometers with Optically Absorbing Fluids, Meas. Sci. Technol., 25
075201, 2014.
_____, Refractive Index Measurement of Turbid Media by Transmission of
Backscattered Light near the Critical Angle, Appl. Opt. 53, 21, 4768-4778,
2014.
Devore, J. R., Refractive Indices of Rutile and Sphalerite, Journal of the Opti-
cal Society of America 41 (6). Optical Society of America: 416, 1951. doi:10.
1364/JOSA.41.000416.
Dick, Vladimir P. y Arkady P. Ivanov, Extinction of Light in Dispersive Media
with High Particle Concentrations: Applicability Limits of the Interferen-
ce Approximation, Journal of the Optical Society of America A 16 (5), Optical
Society of America: 1034, 1999. doi:10.1364/JOSAA.16.001034.
Diebold, Michael, Robert Kwoka y David Mukoda, TiO2 Scattering Optimi-
zation and Not-In-Kind Opacity Alternatives, CoatingsTech, 2013.
Ding, Huafeng, Jun Q. Lu, William A. Wooden, Peter J. Kragel y Xin-Hua Hu,
Refractive Indices of Human Skin Tissues at Eight Wavelengths and Esti-

Refractometra-06.indd 176 14/09/16 12:43


177
Bibliografa

mated Dispersion Relations between 300 and 1600 Nm, Physics in Medicine
and Biology 51 (6): 1479-1489, 2006. doi:10.1088/0031-9155/51/6/008.
Dobbins, Harry M. y Edson R. Peck, Change of Refractive Index of Water as
a Function of Temperature, Journal of the Optical Society of America 63 (3),
Optical Society of America: 318. 1973. doi:10.1364/JOSA.63.000318.
Dodd, Laurence Ellsworth, Limitations of a Blanket Calibration Chart for
Reading Dispersions on the Abbe Refractometer, Journal of the Optical So-
ciety of America 22 (9), Optical Society of America: 477, 1932. doi:10.1364/
JOSA.22.000477.
Dowding, P. J., J. W. Goodwin y B. Vincent, Production of Porous Suspen-
sion Polymers Using a Continuous Tubular Reactor. Colloid & Polymer
Science 278 (4): 346-351, 2000. doi:10.1007/s003960050523.
Durant, Stphane, Olivier Calvo-Perez, Nicolas Vukadinovic y Jean-Jacques
Greffet, Light Scattering by a Random Distribution of Particles Embedded
in Absorbing Media: Diagrammatic Expansion of the Extinction Coeffi-
cient, Journal of the Optical Society of America A 24 (9), Optical Society of
America: 2943, 2007. doi:10.1364/JOSAA.24.002943.
Eek, Rob A. y Sjoerd Dijkstra, Design and Experimental Evaluation of a State
Estimator for a Crystallization Process, Industrial & Engineering Chemistry
Research 34 (2), American Chemical Society: 567-574, 1995. doi:10.1021/
ie00041a017.
Farrell, T. J., M. S. Patterson y B. Wilson, A Diffusion Theory Model of Spa-
tially Resolved, Steady-State Diffuse Reflectance for the Noninvasive Deter-
mination of Tissue Optical Properties in Vivo, Medical Physics 19 (4): 879-
888. 1992.
Garca-Valenzuela, Augusto y Rubn G. Barrera, Electromagnetic Response of
a Random Half-Space of Mie Scatterers within the Effective-Field Approxi-
mation and the Determination of the Effective Optical Coefficients, Jour-
nal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer 79-80 (june): 627-647,
2003. doi:10.1016/S0022-4073(02)00311-4.
Garca-Valenzuela, Augusto, Rubn G. Barrera y Edah Gutirrez-Reyes, Rigo-
rous Theoretical Framework for Particle Sizing in Turbid Colloids Using
Light Refraction, Optics Express 16 (24). Optical Society of America: 19741,
2008. doi:10.1364/OE.16.019741.
Garca-Valenzuela, Augusto, Rubn G. Barrera, Celia Snchez-Prez, Alejandro
Reyes-Coronado y Eugenio R. Mndez, Coherent Reflection of Light from
a Turbid Suspension of Particles in an Internal-Reflection Configuration:
Theory versus Experiment. Optics Express 13 (18). Optical Society of Ame-
rica: 6723, 2005. doi:10.1364/OPEX.13.006723.

Refractometra-06.indd 177 14/09/16 12:43


178 Refractometra ptica de medios opacos
Garca-Valenzuela, Augusto y Humberto Contreras-Tello, Optical Model Ena-
bling the Use of Abbe-Type Refractometers on Turbid Suspensions, Optics
Letters 38 (5), Optical Society of America: 775-777, 2013. doi:10.1364/OL.
38.000775.
Garca-Valenzuela, Augusto, Humberto Contreras-Tello, J. A. Olivares y F. L. S.
Cuppo, Insights into the Dependent-Scattering Contributions to the Extin-
ction Coefficient in Highly Scattering Suspensions, Journal of the Optical
Society of America. A, Optics, Image Science, and Vision 30 (7), Optical Society
of America: 1328-1334, 2013. doi:10.1364/JOSAA.30.001328.
Garca-Valenzuela, Augusto, Celia Snchez-Prez, Rubn G. Barrera y Edah
Gutirrez-Reyes, On the Retrieval of Particle Size from the Effective Optical
Properties of Colloids. Physica B: Condensed Matter 405 (14): 3016-3021,
2010. doi:10.1016/j.physb.2010.01.026.
Goyal, K. G., M. L. Dong, V. M. Nguemaha, B. W. Worth, P. T. Judge, W. R.
Calhoun, L. M. Bali y S. Bali, Empirical Model of Total Internal Reflec-
tion from Highly Turbid Media, Optics Letters 38 (22). Optical Society of
America: 4888-4891, 2013. doi:10.1364/OL.38.004888.
Gutirrez-Reyes, Edah, Augusto Garca-Valenzuela y Rubn G. Barrera, Over-
view of an Effective-Medium Approach to the Reflection and Refraction
of Light at a Turbid Colloidal Half-Space, Physica Status Solidi (B) 249 (6):
1140-1147, 2012. doi:10.1002/pssb.201100735.
_____, Extension of Fresnels Formulas for Turbid Colloidal Suspensions: A
Rigorous Treatment, The Journal of Physical Chemistry, B 118 (22), American
Chemical Society: 6015-6031, 2014. doi:10.1021/jp5025558.
He, Jiangping, Anders Karlsson, Johannes Swartling y Stefan Andersson-En-
gels, Numerical Simulations of Light Scattering by Red Blood Cells Book, Gerhard
Kristensson (ed.), Lund, Sweden, open access book, 2003.
Hespel, Laurent, Stphane Mainguy y Jean-Jacques Greffet, Theoretical and
Experimental Investigation of the Extinction in a Dense Distribution of
Particles: Nonlocal Effects, Journal of the Optical Society of America A 18 (12),
Optical Society of America, 3072, 2001. doi:10.1364/JOSAA.18.003072.
Huang, Yingqing y Eva M. Sevick-Muraca, Validating the Assumption to the
Interference Approximation by Use of Measurements of Absorption Effi-
ciency and Hindered Scattering in Dense Suspensions, Applied Optics 43
(4), Optical Society of America: 814, 2004. doi:10.1364/AO.43.000814.
Hull, Edward L., Spectroscopy and Characterization of Turbid Media Within
the Diffusion and P3 Approximations, University of Rochester, 1999.
Hulst, H. C. van de, Light Scattering by Small Particles. Courier Corporation,
1957.

Refractometra-06.indd 178 14/09/16 12:43


179
Bibliografa

Ishimaru, Akira, Electromagnetic Wave Propagation, Radiation, and Scattering, 1


ed., Englewood Cliffs, N. J., Prentice Hall, 1991.
_____. Wave Propagation and Scattering in Random Media, Nueva Jersey, Pren-
tice Hall, 1999.
Ishimaru, Akira y Yasuo Kuga, Attenuation Constant of a Coherent Field in a
Dense Distribution of Particles, Journal of the Optical Society of America 72
(10), Optical Society of America: 1317, 1982. doi:10.1364/JOSA.72.001317.
Jaaskelainen, Anssi J., Estimation of the Refractive Index of Plastic Pig-
ments by Wiener Bounds, Optical Engineering 39 (11), International Socie-
ty for Optics and Photonics: 2959, 2000. doi:10.1117/1.1313767.
Jedrzejewska-Szczerska, M., Measurement of Complex Refractive Index of
Human Blood by Low-Coherence Interferometry. The European Physical
Journal Special Topics 222 (9): 2367-2372, 2013. doi:10.1140/epjst/e2013-
02018-7.
Karlsson, Anders, Jiangping He, Johannes Swartling y Stefan Andersson-Engels,
Numerical Simulations of Light Scattering by Red Blood Cells, IEEE
Transactions on Bio-Medical Engineering 52 (1): 13-18, 2005. doi:10.1109/
TBME.2004.839634.
Keller, Joseph B., Stochastic Equations and Wave Propation in Random Me-
dia, Proceeding of a Symposium in Applied Mathematics of the American Mathema-
tical Society, edited by Richard Bellman, 328. American Mathematical So-
ciety, 1964.
Kohanzadeh, Y., K. W. Ma y J. R. Whinnery, Measurement of Refractive Index
Change with Temperature Using Thermal Self-Phase Modulation, Applied
Optics 12 (7), Optical Society of America: 1584-1587, 1973. doi:10.1364/
AO.12.001584.
Kokhanovsky, Alexander A., Reiner Weichert, Michael Heuer y Wolfgang Witt,
Angular Spectrum of Light Transmitted Through Turbid Media: Theory
and Experiment. Applied Optics 40 (16), Optical Society of America: 2595.
2001. doi:10.1364/AO.40.002595.
Kubelka, Paul, New Contributions to the Optics of Intensely Light-Scatte-
ring Materials Part I, Journal of the Optical Society of America 38 (5), Optical
Society of America: 448, 1948. doi:10.1364/JOSA.38.000448.
Kubelka, Paul y Franz Munk, Ein Beitrag Zur Optik Der Farbanstriche, Z.
Techn. Phys. 12 (11a): 593-601, 1931.
Kuga, Yasuo, D. Rice y R. D. West. Propagation Constant and the Velocity of the
Coherent Wave in a Dense Strongly Scattering Medium. IEEE Transactions
on Antennas and Propagation 44 (3): 326-332, 1996. doi:10.1109/8.486301.
Lai, Jian-Cheng, Ying-Ying Zhang, Zhen-Hua Li, Hai-Jiao Jiang y An-Zhi He,
Complex Refractive Index Measurement of Biological Tissues by Attenua-

Refractometra-06.indd 179 14/09/16 12:43


180 Refractometra ptica de medios opacos
ted Total Reflection Ellipsometry, Applied Optics 49 (16), Optical Society
of America: 32353238, 2010. doi:10.1364/AO.49.003235.
Lax, Melvin, Multiple Scattering of Waves. II. The Effective Field in Dense Sys-
tems, Physical Review 85 (4): 621-629, 1952. doi:10.1103/PhysRev.85.621.
Li, H. y S. Xie, Measurement Method of the Refractive Index of Biotissue by
Total Internal Reflection, Applied Optics 35 (10), Optical Society of Ameri-
ca: 1793-1795, 1996. doi:10.1364/AO.35.001793.
Malacara, Daniel, Geometrical and Instrumental Optics, Boston MA. Academic
Press, 1988.
Marcus, R.T. y P. E. Pierce, An Analysis of the First Surface Correction for
the Color Matching of Organic Coatings from the Viewpoint of Radiative
Transfer Theory, Progress in Organic Coatings 23 (3): 239-264, 1994. doi:10.
1016/0033-0655(94)80002-2.
Meeten, Gerald H., Refraction by Spherical Particles in the Intermediate Scat-
tering Region, Optics Communications 134 (1-6): 233-240. 1997a. doi:10.1016
/S0030-4018(96)00577-9.
_____, Refractive Index Errors in the Critical-Angle and the Brewster-Angle
Methods Applied to Absorbing and Heterogeneous Materials, Measurement
Science and Technology 8 (7): 728-733, 1997b. doi:10.1088/0957-0233/8/
7/006.
Meeten, Gerald H. y A. N. North. Refractive Index Measurement of Turbid Co-
lloidal Fluids by Transmission near the Critical Angle, Measurement Scien-
ce and Technology 2 (5): 441-447, 1991. doi:10.1088/0957-0233/2/5/005.
_____, Refractive Index Measurement of Absorbing and Turbid Fluids by
Reflection near the Critical Angle, Measurement Science and Technology 6 (2),
IOP Publishing: 214-221, 1995. doi:10.1088/0957-0233/6/2/014.
Mohammadi, M., Colloidal Refractometry: Meaning and Measurement of
Refractive Index for Dispersions; the Science That Time Forgot, Advances
in Colloid and Interface Science 62 (1): 17-29, 1995. doi:10.1016/0001-8686
(95)00261-N.
Murphy, Anthony B., Optical Properties of an Optically Rough Coating from
Inversion of Diffuse Reflectance Measurements, Applied Optics 46 (16),
Optical Society of America: 3133, 2007. doi:10.1364/AO.46.003133.
Nahmad Rohen, Alexander, El ndice de refraccin efectivo de la sangre como
herramienta de diagnstico mdico, tesis, Universidad Nacional Autno-
ma de Mxico, 2014.
Plass, G. N., G. W. Kattawar y F. E. Catchings, Matrix Operator Theory of
Radiative Transfer. 1: Rayleigh Scattering, Applied Optics 12 (2), Optical
Society of America: 314-329, 1973. doi:10.1364/AO.12.000314.

Refractometra-06.indd 180 14/09/16 12:43


181
Bibliografa

Reyes-Coronado, Alejandro, Augusto Garca-Valenzuela, Celia Snchez-Prez


y Rubn G. Barrera, Measurement of the Effective Refractive Index of a
Turbid Colloidal Suspension Using Light Refraction, New Journal of Phy-
sics 7 (1), IOP Publishing: 89-89, 2005. doi:10.1088/1367-2630/7/1/089.
Rupert, Claud S., Dosimetric Concepts in Photobiology, Photochemistry and
Photobiology 20 (3): 203-212, 1974. doi:10.1111/j.1751-1097.1974.tb06568.x.
Rupert, Claud S. y Raymond Latarjet, Toward a Nomenclature and Dosime-
tric Scheme Applicable to All Radiations, Photochemistry and Photobiology
28 (1): 3-5, 1978. doi:10.1111/j.1751-1097.1978.tb06923.x.
Saunderson, J. L., Calculation of the Color of Pigmented Plastics, Journal
of the Optical Society of America 32 (12), Optical Society of America: 727,
1942. doi:10.1364/JOSA.32.000727.
Schuster, A., Radiation through a Foggy Atmosphere, The Astrophysical Jour-
nal, 1905.
Tilton, Leory W., Testing and Accurate Use of Abbe-Type Refractometers,
Journal of the Optical Society of America 32 (7), Optical Society of America:
371, 1942. doi:10.1364/JOSA.32.000371.
Tsang, Leung, Effective Propagation Constants for Coherent Electromagnetic
Wave Propagation in Media Embedded with Dielectric Scatters, Journal of
Applied Physics 53 (11). AIP Publishing: 7162, 1982. doi:10.1063/1.331611.
Tsang, Leung, Jin Au Kong y Kung-Hau Ding, Scattering of Electromagnetic Waves,
Theories and Applications, vol. 6, John Wiley & Sons, 2004.
Tuchin, Valerii Viktorovich. Tissue Optics: Light Scattering Methods and Instru-
ments for Medical Diagnosis. SPIE/International Society for Optical Engi-
neering, 2007.
Vargas, William E., Two-Flux Radiative Transfer Model Under Nonisotropic
Propagating Diffuse Radiation, Applied Optics 38 (7), Optical Society of
America: 1077, 1999. doi:10.1364/AO.38.001077.
_____, Difusin y absorcin de luz en materiales no homogneos: modelo de
Kubelka-Munk, V Taller de Medidas Ldar En Latinoamrica, 44: 163-183,
2011.
Vlz, Hans G., Industrial Color Testing: Fundamentals and Techniques, Wiley-VCH,
2001.
Yang, Changhuei, Adam Wax y Michael S. Feld, Measurement of the Ano-
malous Phase Velocity of Ballistic Light in a Random Medium by Use of
a Novel Interferometer, Optics Letters 26 (4), Optical Society of America:
235, 2001. doi:10.1364/OL.26.000235.
Yang, Li y Bjrn Kruse, Revised KubelkaMunk Theory I Theory and Appli-
cation, Journal of the Optical Society of America A 21 (10), Optical Society of
America: 1933, 2004a. doi:10.1364/JOSAA.21.001933.

Refractometra-06.indd 181 14/09/16 12:43


182 Refractometra ptica de medios opacos
Yang, Li, Bjrn Kruse y Stanley J. Miklavcic, Revised KubelkaMunk Theory
II Unified Framework for Homogeneous and Inhomogeneous Optical Me-
dia, Journal of the Optical Society of America A 21 (10), Optical Society of
America: 1942, 2004b. doi:10.1364/JOSAA.21.001942.
Yang, Li y Stanley J. Miklavcic, Revised Kubelka-Munk Theory. III. A General
Theory of Light Propagation in Scattering and Absorptive Media, Journal
of the Optical Society of America A 22 (9), Optical Society of America: 1866,
2005. doi:10.1364/JOSAA.22.001866.
Ye, Qing, Jin Wang, Zhi-Chao Deng, Wen-Yuan Zhou, Chun-Ping Zhang y Jian-
Guo Tian, Measurement of the Complex Refractive Index of Tissue-Mimic-
king Phantoms and Biotissue by Extended Differential Total Reflection
Method, Journal of Biomedical Optics 16 (9). International Society for Op-
tics and Photonics: 097001, 2011. doi:10.1117/1.3615657.
Zaccanti, Giovanni, Samuele del Bianco y Fabrizio Martelli, Measurements
of Optical Properties of High-Density Media, Applied Optics 42 (19), Opti-
cal Society of America: 4023, 2003. doi:10.1364/AO.42.004023.
Zilio, S. C., A Simple Method to Measure Critical Angles for High-Sensitivity
Differential Refractometry, Optics Express 20 (2), Optical Society of Ame-
rica: 1862-1867, 2012. doi:10.1364/OE.20.001862.

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Refractometra ptica de medios opacos
editado por la Coordinacin de Estudios de Posgrado
y el Programa de Maestra y Doctorado en Ingeniera
de la Universidad Nacional Autnoma de Mxico
se termin de imprimir el 31 de agosto de 2016
en Editores e Impresores FOC, S.A. de C.V., con domicilio en
Los Reyes nm. 26, Col. Jardines de Churubusco, Mxico, D.F.

La edicin consta de 200 ejemplares


en offset sobre papel couch mate de 100 gr.
Forro impreso a 4 tintas sobre cartulina couch de 250 gr.

Edicin compuesta en Goudy Old Style 11/13

El cuidado de la edicin y coordinacin editorial estuvo a cargo de


Lic. Lorena Vzquez Rojas

Diseo y formacin: Julio Gustavo Jasso Loperena


Diseo de portada: D.G. Citlali Bazn Lechuga

Imagen de portada:
Alvar Carrillo Gil, Lo viejo, 1952.
leo sobre madera comprimida, 59.5 5 90 cm.
Cortesa Museo de Arte Carrillo Gil / INBA / Secretara de Cultura
Fotografa: Agustn Estrada
Reproduccin autorizada por el
Instituto Nacional de Bellas Artes y Literatura, 2016.

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