Variacin de la resistencia elctrica con la temperatura

Objetivo general
Determinar la relacin funcional entre la resistencia elctrica de un conductor al variar
la temperatura en un intervalo de 0 a 100C.
Objetivos especficos
Encontrar la relacin entre la resistencia elctrica y la temperatura.
Determinar el coeficiente de resistencia de temperatura del cobre.
Realizar el grafico funcional entre la resistencia y la temperatura.
Fundamento terico
Para que un medio material pueda conducir la corriente elctrica deben existir en su
interior cargas mviles (portadores de carga). Estos portadores pueden ser iones (como
en una disolucin electroltica), electrones (como en los metales) o electrones y huecos
(en los semiconductores).
La resistividad elctrica es una propiedad caracterstica de cada material. En general la
resistividad depende inversamente del tiempo medio entre colisiones que sufren los
portadores () y de la densidad de portadores disponibles n (de masa m y carga e):
1
=
2
A partir de esta expresin podemos explicar por qu la resistencia elctrica de un metal
aumenta con la temperatura; a pesar de que el nmero de portadores es prcticamente el
mismo, cuando aumentar la agitacin trmica de los electrones, hay ms colisiones de
stos con los iones metlicos de la red. Por tanto, disminuye y consecuentemente
aumenta .
En primera aproximacin, la dependencia de la resistencia de un material conductor con
la temperatura viene dada por la expresin:
() = 0 [1 + ( 0 )]
Donde es el coeficiente de variacin con la temperatura, y R0 = R(T0) es el valor que
toma la resistencia a la temperatura de referencia, T0.
En el caso de los semiconductores el nmero de portadores aumenta mucho con la
temperatura y para temperaturas mayores a la temperatura ambiente (depende de cada
semiconductor), la conductividad ( = 1/) vara en la forma:

= 0 (/2)
Donde E es el salto energtico entre la banda de conduccin y la banda de valencia (el
ancho de la banda prohibida), T es la temperatura absoluta y k la constante de
Boltzmann.
Como el nmero de portadores en el semiconductor aumenta con la temperatura,
aumentar por tanto la conductividad y se observar que disminuye la resistencia del
diodo.
Materiales
Bobina de alambre de cobre.
Termopar.
Vaso de precipitacin.
Hornilla.
Dos multmetros.
Hielo y agua.
Soporte universal.
Cables de conexin.
Nicrom Nquel.
Procedimiento experimental

Armar el esquema de la figura.

Colocar la bobina dentro del vaso de agua.
Colocar el termopar; un extremo en el vaso con agua y el otro en el vaso con
hielo, asimismo conectarlo al multmetro (voltmetro).
Realizar la primera medicin del voltaje y la resistencia elctrica con la hornilla
no encendida.
Encender la hornilla y registrar los valores del voltaje y la resistencia elctrica
para los incrementos de voltaje.
Registrar los datos de la resistencia elctrica, el diferencial potencial y la
temperatura que se obtiene con esta ltima.
Datos, clculos, grficos y resultados
Tabla 1 Resistencia, voltaje y temperatura
N R [] V [mV] T [C]
1 18,7 0,8 19,5
2 19,1 1,0 24,4
3 19,5 1,2 29,2
4 19,9 1,4 34,2
5 20,3 1,6 39,0
6 20,7 1,8 43,9
7 21.0 2,0 48,8

Grafico 1 Resistencia vs Temperatura

Grfico 1
21.5

21

20.5
R []

20

19.5

19

18.5
0 10 20 30 40 50 60
T [C]

= +
Resultados
= 17,16336557
= 0,07973406282
= 0,999343066
2
= 2 ( ) = 4671,78

2 = 5,580228521 103

2
2 = = 1,116045704 103
2
 2 2
= = 0,04592187854 0,05

2
= = 1,293149745 103 1 103

= +
= 17,16 + 0,0797

0 = = 4,644522145 103

1 1
= | | = | | 0,05 = 2,913752914 103
17,16
0,0797
= | 2
| = | | 1 103 = 2,706597986 107
17,162

0 = 2 + 2 = 2,913752926 103 3 103

0 = (5+ 3 1
3) 10 [ ]; 60%

Comparacin con el valor real del cobre

0 = 0,00382 1
0,00464 0,00382
%0 = 100 = 21,5%
0,00382
Conclusin
De acuerdo con la relacin R = f(T), se puede concluir que la relacin corresponde a
una lnea recta, del cual se logr determinar la R0 = 17,16 [], tambin se pudo
determinar el coeficiente de resistencia de temperatura del cobre 0 = 0,005 [C-1], la
cual presento un error bastante alto. Al comparar este resultado con el valor real del
cobre tambin se pudo ver una variacin bastante considerable, el cual se puede
justificar por una mala lectura de datos.