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Alexander Bonilla, Diego Sols Prearanda, and Vernica Vquez Vargas

Universidad de Costa Rica, Escuela de Fsica


(Dated: April 21, 2017)
Resumen: En la presente prctica experimental, se utiliz un equipo con la configuracin de
Interfermetro de Michelson a partir de una fuente de luz monocromtica lser de longitud de onda
conocida. Posteriormente se procedi a determinar la longitud de onda del lser y el ndice de
refraccin del aire y de un trozo de vidrio.

Palabras Claves: ter, Interfermetro, Luz, Michelson, Ondas, ptica, Refraccin.

I. INTRODUCCIN las ranuras, se encuentran en fase (llegada simultnea de


crestas o valles). Por lo contrario, las franjas oscuras, se
Durante el siglo XIX se aprueba con xito la teora conocen como puntos de interferencia destructiva, o mni-
ondulatoria de la luz, pues previamente se consideraba mos de interferencia y se obtienen producto del desfase de
la luz nicamente como un flujo de partculas [1]. La las ondas de luz de los haces (no hay llegada simultnea
adaptacin de esta teora inici con la demostracin re- de crestas o valles). [3]
alizada por Thomas Young (1788-1827) en 1801, quin Aos ms tarde en 1881, Albert A. Michelson propor-
demostrara que si la luz nicamente se regua bajo la cionara un nuevo experimento utilizando un principio
teora de partculas, no habra forma de explicar como similar al de Young. Este experimento fue un interfer-
dos o ms partculas podan unirse o cancerlarse entre s, metro, que brinda la posibilidad de analizar ms acerca
es decir la luz deba cumplir con el principio de sobreposi- de la teora ondulatoria de la luz, pues permite medir la
cin de ondas mecnicas, el cual establece que cuando dos longitud de onda de la luz, as como obtener una relacin
o ms ondas coinciden la funcin de onda final es la suma entre la longitud de onda de una fuente de luz conocida
vectorial de las funciones de onda individuales, dejando y distancias a esta[4]. Sin embargo, el propsito ini-
como resultado que la intensidad de onda vare desde un cial del interfermetro no era este, si no que su creador
mnimo a un mximo, este fenmeno se conoce como in- Michelson, tena como objetivo establecer la verasidad de
terferencia [3]. Young logr demostrar la superposicin la hiptesis planteada por cientfico Christiaan Huygens
de la luz a travs de un experimento que consisti en ilu- (1629-1695), la cual establecia que el ter era el medio de
minar con un rayo de luz monocromtico una barrera con propagacin de ondas de la luz, as como el aire el medio
dos pequeas ranuras, de forma que el haz de luz se sep- por el cual se propagan las ondas del sonido [5].
arara en dos haces e incidieran sobre una pantalla, con
lo que se pudo obtener un patrn de interferencia, obser-
vando franjas de luz muy brillantes y franjas oscuras.[2]

FIG. 2. Albert Abraham Michelson, nacido en Strzelno,


Polonia, en 1852 y muri en Pasadena, Estados Unidos, en
1931.Fsico, investig la medicin de la velocidad de la luz,
FIG. 1. Digrama del experimento de doble ranura de Thomas
sentando las bases para la teora de la relatividad de Einstein.
Young. Se emite desde funte F, a la barrera con ranuras S1 y
Premio Novel de la Fsica en 1907 [6]
S2 , separadas una distancia d

Las franjas brillantes que se observan en la figura 1


corresponden a lo que se conoce como interferencia con-
II. MARCO TERICO
structiva o mximo de interferencia, que se obtiene de-
bido a que la ondas de luz de los haces que atraviesan
La base fundamental de la interferometra y del
principio de trabajo del interfermetro de Michelson
es la interferencia de dos ondas luminosas que se en-
alexander.bonilla@ucr.ac.cr cuentran en un punto comn, segn lleguen al mismo
diego.solispenaranda@ucr.ac.cr tiempo o no [7]. El interfermetro de Michelson, que
vviquez2908@gmail.com inicialmente fue diseado para demostrar la existencia
2

del ter, es utilizado como un dispositivo o instrumento calcular con la ecuacin:


para medir longitudes de onda luminosas, investigacin
de propiedades pticas y de clculo de distancias muy 2na da () + 2ng dg ()
2d(Pi Pf ) (3)
pequeas [4]. o

En este equipo, se hace incidir un haz de luz Con da () cambio del patrn a travs del vidrio, dg ()
monocromtica lser a travs de un lente hasta un di- cambio del patrn a travs del aire, na el ndice de re-
visor de haces en el cul la mitad del haz se refleja fraccin del aire y na el ndice de refraccin del vidrio [4].
hasta un espejo fijo y la otra mitad se transmite hasta No obstante, la expresin ?? puede ser transformada por
un espejo mvil, de donde regresan y hacen el proceso facilidad, ya que los valores que se obtienen en la prctica
contrario para luego dirigirse hasta una pantalla visual- permiten que se ajuste de mejor manera a esta forma:
izadora donde se renen y forman un patrn de interfer-
encia en forma de anillos[4]. (2t N o )(1 cos)
na = (4)
2t(1 cos) N o

Donde t representa el grosor del vidrio [4].

III. MATERIALES Y MTODOS

A. Equipo

FIG. 3. Interfermetro de Michelson [4].


TABLE I. Materiales utilizados.
Mediante la ecuacin: Materiales Cantidad

Base 1
Riel 1
2dm Laser ( = 633nm) 1
= (1) Ajustador de Espejo 1
N
Lente de 48 mm 1
se puede averiguar la longitud de onda. En esta Beam Splitter 1
ecuacun N es el nmero de veces que, al girar el Pantalla Visualizadora (Hoja de Papel) 1
micrmetro y mover una distancia 2dm el espejo movil, Componente de Soporte 1
el patrn de ondas recupera la forma original. Una de Bomba de Vaco con Manmetro 1
las formas utilizadas para variar la relacin de fase entre Puntero Giratorio 1
los dos haces que se interfieren ocasionando el patrn Celda de Vaco 1
de interferencia es a travs de un medio con un ndice Plato de Vidrio 1
de refraccin diferente a la inicial, logrando variar la Espejo Mvil 1
longitud de onda y la velocidad de ese haz.
La expresin para la pendiente de la recta que relaciona
el ndice de refraccin en funcin de la presin es:
B. Montaje

ni nf N o
= (2)
Pi Pf 2d(Pi Pf )

En donde ni y nf son los ndices de refraccin inicial


y final del aire presente en la celda de vaco, Pi y Pf , la
presin inicial y final dentro de la celda; o la longitud
de onda de la luz en vaco y d, la magnitud del espesor
de la celda de vaco [4].
Por otro lado, se analizar el valor de ndice de refrac-
cin de algunos materiales slidos, como un vidrio, con
FIG. 4. Equipo ensamblado en modo Michelson
la ayuda del interfermetro. Sin embargo, no puede cal-
cularse su valor con la ecuacin 2, por lo que se puede
3

C. Mtodo IV. RESULTADOS Y DISCUSIN

A. Muestra de Clculos
1. Introduccin al interfermetro

Clculo del promedio de N


Se ensambl el equipo en modo Michelson, como en
la figura 4. Una vez instalado el equipo, al encender el
lser, se obtuvo un patrn de interferencia en la pantalla 178 + 174 + 196 + 198
visualizadora. Se coloc una marca en una seccin del = 186.5 186 (5)
4
patrn de interferencia y se gir la perilla micromtrica
de la base, de modo que se vari una distancia del espejo Clculo de la distancia variada del espejo mvil ha-
mvil hacia el divisor de haz, ocasionando movimientos cia el divisor de haz, dm .
en el patrn de interferencia. Este proceso de medicin
de franjas se realiz 2 veces. Dos miembros del exper-
imento participaron en la toma de cuentas, las cuales 2 dm
= (6)
fueron promediadas. N

N 186 633x109
dm = = = 1, 18x104 m (7)
2 2
2. El ndice de Refraccin del Aire
ndice de refraccin del aire

Para esta seccin del experimento, se utiliz una


bomba de vaco con manmetro. Esta fue instalada en el N o 14(633x109 )
= = 2, 11x109 (8)
equipo de la figura 4. Se coloc un puntero rotativo a 5o 2d(Pi Pf ) 2(3x102 )(70kP a)
con una celda de vaco entre el espejo y el beam splitter
de forma perpendicular al laser. Adems, se coloc una
bomba de vaco con una presin inicial de 10kPa. Al Dando como resultado la ecuacin de la recta:
aumentar la presin, el patrn de interferencia de la
pantalla visualizadora cambiaba, por lo cual, similar a n(P ) = mP + n0 (9)
la seccin anterior, se coloc una marca en la pantalla y
cada vez que un mnimo tocaba la marca, se tom como
una cuenta. Un miembro del grupo aument la presin
hasta 80 kPa, mientras los dems miembros tomaban donde n0 es el indice de refraccin del vacio, es decir,
las cuentas. Se repiti el procedimiento 3 veces y se n0 = 1.
promedi las cuentas obtenidas.
ndice de refraccin del vidrio de grosor de 0,515cm

(2 0, 515x102 186o )(1 cos)


ng = = (10)
2 0, 515x102 (1 cos) 186o

3. El ndice de Refraccin del Vidrio

Se instal al equipo de la figura 4 un puntero rotatorio


B. Resultados
al cul se le coloc un plato de vidrio de 0.515 cm de
espesor. El puntero rotatorio se coloc entre el espejo
mvil y el beam splitter. La base posee una escala de 1. Introduccin al interfermetro
grados, la cual marca 5o cuando se coloca el puntero ro-
tatorio. Se gir el puntero de 5o a 15o ocasionando que Los datos obtenidos para el valor N, es decir las franjas
el patrn de interferencia sufriera cambios y de manera contabilizadas producidas por el patrn de interferencia,
similar, se coloc una marca y mientras un miembro del se muestran en la tabla III
grupo giraba el puntero, los dems observaron los cam- Con este valor de N = 186, que se observa en la tabla
bios sufridos del patrn con respecto a la marca colocada. III se calcul la distancia que se vari el espejo mvil
Este procedimiento se realiz dos veces y se promedi las hacia el divisor de haz, utilizado la ecuacin 7 y se obtuvo
cuentas obtenidas. un valor de dm = 1, 18x104 m.
4

TABLE II. Datos obtenidos en la toma de el nmero de franjas TABLE VI. Datos obtenidos en la toma de el nmero de fran-
de luz obtenidos en un patrn de interferencia, con N1 y N2 jas de luz obtenidos en un patrn de interferencia, con puntero
como contador 1 y 2 respectivamente y con = 633nm. rotativo de 5o a 15o , N1 y N2 como contador 1 y 2 respecti-
Repeticin N1 N2 Promedio vamente y vidrio de espesor de 0,515cm
Repeticin N1 N2 Promedio
1 178 196 187
2 174 198 186 1 130 125 127,5
2 111 151 131
N PROMEDIO FINAL 186
N PROMEDIO FINAL 129

TABLE III. Calculo de la distancia que se movio el espejo en


las dos repeticiones. Valor real 10m. TABLE VII. Indice de refraccin obtenido para el vidrio en
Repeticin Nprom dm error las dos corridas y sus errores tomando como valor teorico
nt =1.52.
1 187 59 83% Repeticin N N error
2 186 59 84%
1 127,5 2.0489 34.8%
N PROMEDIO FINAL 186 2 131 2.1102 32.3%

N PROMEDIO FINAL 2.0795


TABLE IV. Datos obtenidos en la toma de el nmero de fran-
jas de luz obtenidos en un patrn de interferencia, con puntero
rotativo a 5o , N1 y N2 como contador 1 y 2 respectivamente, C. Discusin y conclusiones
Pi = 10kPa y Pf = 80kPa .
Repeticin N1 N2 Promedio En la primera parte del experimento se midi el
movimiento del vidrio tomando como conocida longitud
1 15 13 14 de onda del lser (este dato tomado del fabricante). Para
2 14 14 14
esto se procedi a contar las lneas de interferencia for-
3 14 15 14,5
madas en la pantalla. Los resultados de este conteo se
N PROMEDIO FINAL 14 muestran en la tabla II. Luego utilizando la ecuacin 1
se determin la distancia que deba apreciarse en el mi-
crmetro. Los datos obtenidos y el respectivo error se
TABLE V. Datos obtenidos mediante mediante la ecuacin observan en la tabla III. En este experimento se produce
??. La pendiente es la obtenida segn 8 y la interseccin un patrn debido a la interferencia entre los dos rayos de
n0 = 1 el valor correspondiente al vacio. El indice del aire se luz, el que proviene del espejo mvil y el espejo ajustable.
evalua a presin estandar de 101 325 Pa. La calidad de los resultados depende de que esta interfer-
Repeticin Pendiente Indice encia sea lograda con la mayor precisin posible y que el
conteo de las lineas de interferencia sea correcto y claro.
1 2.11x109 1,0002137958 En el experimento por lo tanto surgen como fuentes de
2 2.11x109 1,0002137958 error: la capacidad de ajustar y calibrar el interferometro
3 2.19x109 1,0002214313 antes de proceder, que este se mantenga ajustado pues
cualquier golpe a la mesa lo desajusta y que las lecturas
n PROMEDIO FINAL 1,0002163409 de las lineas de interferencia sean correctas. Este ltimo
punto depende de la capacidad del encargado de obser-
var y de que no hayan perturbaciones en el equipo pues
2. El ndice de Refraccin del Aire incluso, como se experiment, el movimiento de personas
al rededor o golpes al suelo produca que los patrones
Se promedi los datos como se observa en la tabla V. se movieran y fuera difcil hacer la lectura. Tambin el
A partir de estos datos de la tabla V se obtuvo el ndice movimiento del patrn de interferencia depende de la ve-
de refraccin para el aire,obteniendo un valor de na = locidad con la que se mueve el espejo. Tan solo un mi-
1, 00022. crmetro que se moviera produca ya efectos en el patrn
por lo que cualquier movimiento brusco sobre esta parte
del equipo induca a errores. Sin embargo, se logra apre-
ciar los patrones producidos por la luz. El carcter on-
3. El ndice de Refraccin del Vidrio dulatorio de la luz es claro pues estos efectos no se daran
si la luz fuera solo partculas. El experimento requiere de
Se calcul el valor del ndice del vidrio, con la ecuacin mucha precisin pues la magnitud de la longitud de onda
??, de modo que se tiene ng = es de 10-9 y se usa para medir variaciones en el espejo
5

del orden de 10-6. A pesar del error, el valor obtenido y debido a la poca interaccin que hay entre la luz y las
el real se encuentran en el mismo orden de magnitud lo partculas que componen al aire. Por este motivo la su-
que demuestra la capacidad del equipo. Equipos que se posicin inicial de que el ajuste es lineal conduce a una
basan en los mismos principios han sido utilizados para buena aproximacin. De no serlo, estrictamente, igual
la deteccin de ondas gravitacionales, posiblemente una los trminos que tuviera provocaran una variacin muy
de las ms finas mediciones de la ciencia. pequea haciendo parecerse ese ajuste real a una linea
Para obtener el valor del indice de reflexin del aire para una muestra grande de datos.
a presin atmosfrica se supuso una relacin lineal en-
tre la presin y indice como se muestra en la ecuacin 9.
La interseccin entonces ser cuando la presin sea cero,
es decir, para el vaci. La pendiente de esta curva se
obtuvo mediante la ecuacin 2 la cual se obtiene relacio-
nando los cambios en la longitud de onda y la cantidad de
lineas de interferencia. La presin se vario en el instru- FIG. 5. Indice de refraccin vs Presin en kPa.
mento entre 10kPa y 80kPa. El experimento depende,
de nuevo, de la medicin de las lineas y la calibracin del Finalmente se obtuvo el indice de refraccin del video
interferometro pero tambin de la capacidad de deter- relacionando los caminos que el rayo de luz toma al pasar
minar exactamente el intervalo de presiones. Una mejor por el aire y por el vidrio variando el anglo de incidencia.
determinacin de la presin dara un mejor valor para la Esto se logra mediante la ecuacin 4 . El ngulo se va var-
pendiente. A pesar de esto los resultados fueron buenos. iando con lo que surgen lineas de interferencia, a partir
El valor pequeo de la pendiente indica que existe una del conteo de estas lineas se obtienen los datos necesar-
pequea variacin del indice por incrementos grandes de ios. El experimento depende mucho de como se realice la
la presin. En la figura 5 se muestra la pequea variacin variacin en el ngulo pues movimientos pequeos pro-
que hay en el indice a pesar de cambiar la presin desde ducen grandes cambios en el patrn de interferencia. El
0 a 3500kPa. El valor del indice de reflexin del aire valor del indice del vidrio segn [1] es de nt = 1, 52 el
es as de pequeo (muy parecido a 1) y varia tan poco valor promedio obtenido tiene un error de 36%.

[1] Serway, R. y Jewett, J. (2009) Fsica para ciencias e in- muerte de la hiptesis del ter y el ojo crtico de Paul
genera con Fsica Moderna. Mxico: CENGAGE Learn- Ehrenfest. Mxico: Instituto Tecnolgico de Monterrey.
ing. [6] Mora, J. (2006) Los libros, aporte bibliogrfico,las bel-
[2] Burbano de Ercilla,S., Burbano, E. y Graca, C. (1993) las artes e investigacin histricas.Tomo I. Colom-
Fsica General. Espaa: Editorial Tbar, S.L. bia:Graficolor.
[3] Crawford,F.(1994) Waves, berkeley physics course. USA: [7] J. E. Duarte, F. Fernndez, and M. Moreno. (2007) Car-
McGraw-Hill. acterizacin de membranas termoneumticas mediante in-
[4] Pasco Scientific.(1990) Precision Interferometer. terferometra ptica.Revista de la Academia Colombiana
USA:PASCO Scientific. de Ciencias Exactas Fsicas y Naturales, vol. 31, no. 2, pp.
[5] Guzmn, R. y Cervera, J. A.(2006) Origen, acenso y 7987.

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