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CASTELBLANCO EDWUAR
CARLOS YESID COMINGUEZ
ANGELA PINZON
METODO DE COMPARACION
METODO PLANIMETRICO
Figura 6. Micrografa De Acero 10/45 Utilizada Para La Determinacin Del
Tamao De Grano Mtodo Planmetrico.
Magnificacin M=500x
N interno= 74 granos
N interceptado= 15 granos
Multiplicador jeffries f=0.0002. M 2
f=0.0002. 5002
f=50
N intercep
Na = f (N inter + ( ))
2
15
Na = 50 (74 + ( ))
2
4075
=
2
Micrografa De Acero 10/45 A 500X Seccin Transversal
Las fases presentes se determinaron de la misma forma que para el aluminio
puro. Esta aleacin presenta una composicin de aluminio en mayor parte,
siendo la fase y rodeada del 0.8%Mg, fase . Los puntos negros son hoyos
de grabado.
DUREZA