Caracterização de Aço Lean Duplex Por Técnicas Analíticas

CARACTERIZAO DE UM AO LEAN DUPLEX POR
TCNICAS ANALTICAS
Andrea Pedroza da Rocha Santos
Projeto de Graduao apresentado ao Curso de
Engenharia Metalrgica da Escola Politcnica,
Universidade Federal do Rio de Janeiro, como parte
dos requisitos necessrios obteno do ttulo de
Engenheiro.
Orientadora: Gabriela Ribeiro Pereira
Rio de Janeiro
Agosto de 2014
CARACTERIZAO DE UM AO LEAN DUPLEX POR TCNICAS ANALTICAS
PROJETO DE GRADUAO SUBMETIDO AO CORPO DOCENTE DO CURSO DE
ENGENHARIA METALRGICA DA ESCOLA POLITCNICA DA UNIVERSIDADE
FEDERAL DO RIO DE JANEIRO COMO PARTE DOS REQUISITOS NECESSRIOS
PARA A OBTENO DO GRAU DE ENGENHEIRA METALRGICA.
Examinada por:
RIO DE JANEIRO, RJ - BRASIL
AGOSTO DE 2014
Santos, Andrea Pedroza da Rocha
Caracterizao de um ao Lean Duplex por tcnicas

analticas / Andrea Pedroza da Rocha Santos. Rio de
Janeiro: UFRJ / Escola Politcnica, 2014.
XI, 45 p.: il.; 29,7 cm.
Projeto de Graduao UFRJ / Escola Politcnica /

Curso de Engenharia Metalrgica, 2014.
Referncias Bibliogrficas: p. 42-45.
1. Ao Lean Duplex 2. Difrao de Raios-X In-Situ 3.

Fase Sigma
I. Pereira, Gabriela Ribeiro. II. Universidade Federal do

Rio de Janeiro, Escola Politcnica, Curso de Engenharia
Metalrgica. III. Caracterizao de um ao Lean Duplex
por tcnicas analticas.
iii
Agradecimentos
Agradeo a Deus, pela fora e f.
Aos meus pais, Francisco e Candida, pela compreenso e incentivo durante todos os
momentos.
Aos meus avs, Newton e Candida, meus amores eternos, agradeo por todo
aprendizado, carinho e rezas.
A Professora Gabriela Pereira, pela orientao e apoio que tornou possvel a realizao
deste trabalho.
A minha chefa, amiga e futura professora Adriana Rocha, pela ajuda, dedicao,
ensinamentos e conselhos em todos os momentos.
Aos amigos do Laboratrio de Ensaios No Destrutivos, Corroso e Soldagem (LNDC),
pela experincia e risadas, tornando o ambiente de trabalho um lugar muito prazeroso.
Aos amigos de faculdade, que tornaram minha vinda ao fundo de segunda a sexta
valer pena e sempre me auxiliaram nessa etapa de graduao.
As minhas migs, agora engenheiras. Maravilhosas pessoas que tive o privilgio de
conhecer na faculdade e que, alm de sempre me apoiarem nos momentos difceis ao
longo do curso, me ensinaram muito e me proporcionaram ter muitas histrias pra contar
(ou no).
Aos amigos do colgio, por quem mantenho um carinho muito especial, e sempre me
apoiaram ao longo de todos esses anos de amizade.
iv
Resumo do Projeto de Graduao apresentado Escola Politcnica/ UFRJ como parte
dos requisitos necessrios para obteno do grau de Engenheiro Metalurgista.
Caracterizao de um ao Lean Duplex por tcnicas analticas.
Agosto / 2014
Curso: Engenharia Metalrgica
Neste trabalho, amostras de ao Lean Duplex UNS S32304 foram submetidas
temperatura de 800C em um forno acoplado a um difratmetro de raios-x durante
intervalos de tempo de 30, 60 e 90 minutos. Com o objetivo de analisar em tempo real
a transformao das fases constituintes, foram realizadas vrias varreduras in-situ
durante os diferentes tempos de permanncia em 800C deste material. Assim,
observou-se a formao da fase sigma neste ao, tanto nos contornos de gro da ferrita
como nas interfaces ferrita/austenita. Os valores de fase sigma obtidos para cada tempo
de exposio foram calculados atravs do mtodo de Rietveld sobre cada difratograma
obtido e variaram de 11% a 17%. Notou-se que a fase sigma exibiu crescimento
contnuo at 60 minutos e variao aps este perodo. Todavia, observou-se que a
formao de fase sigma a 800C ocorre de forma significativa neste material aps 30
minutos de aquecimento, o que pode comprometer as propriedades do mesmo.
Palavras chave: Ao Lean Duplex, Difrao de Raios-X In-Situ, Microestrutura, Fase
Sigma, Fases Secundrias
v
Abstract of Undergraduate Project presented to POLI/ UFRJ as a partial fulfillment of the
requirements for degree of Engineer.
Lean Duplex Steel Characterization by Analytical Methods
August / 2014
Advisor: Gabriela Ribeiro Pereira
Course: Metallurgical Engineering
In this work, samples from a Lean Duplex Steel UNS S32304 were subjected to
a temperature of 800C for different intervals of time, being 30min, 60min and 90 min.
All samples were allocated inside a small high temperature furnace attached to an x-ray
diffractor. The goal of the work was to analyze the phase transformations occurring in
those samples in real time. Formation of sigma phase was observed both in the ferrite
grain boundaries as in the ferrite/austenite interface. The amount of sigma phase formed
was measured by quantitative phase analysis using the Rietveld method and result
values ranged from 11% to 17 % in volume. It was also noticed that the sigma phase
exhibit a continuous growth up to 60 minutes, become stable for a few minutes to then
grow again. In any case, it was observed that sigma phase formed significantly in the
material after 30 minutes soaking, which can lead to a decrease in the material
properties.
Keywords: Lean Duplex Steel, In-Situ X-Ray Diffraction, Microstructure, Sigma Phase,
Secondary Phases
vi
SUMRIO
1. INTRODUO.......................................................................................................... 1
2. REVISO BIBLIOGRFICA ...................................................................................... 3
2.1. Aos Inoxidveis ................................................................................................ 3
2.1.1. Aos Inoxidveis Duplex .............................................................................. 4
2.1.2. Lean Duplex................................................................................................. 6
2.2. Principais Elementos de Liga ............................................................................. 7
2.3. Precipitao de Fases Secundrias ................................................................... 9
2.3.1 Alfa Primrio () ......................................................................................... 10
2.3.2 Austenita Secundria (2) ............................................................................ 10
2.3.3 Carbetos (M23C6, M7C3) ............................................................................... 11
2.3.4 Chi () ......................................................................................................... 12
2.3.5 Nitretos de Cromo (Cr2N, CrN) .................................................................... 13
2.3.6 Sigma () .................................................................................................... 14
2.4. Tcnicas Analticas .......................................................................................... 15
2.4.1. Microscpio ptico .................................................................................... 15
2.4.2. Microscpio Eletrnico de Varredura - MEV............................................... 15
2.4.2.1. EDS ..................................................................................................... 16
2.4.3. Difrao de Raios-X ................................................................................... 17
2.4.3.1. O Espectro de Raios-X ........................................................................ 17
2.4.3.2. Lei de Bragg ........................................................................................ 18
2.4.3.3. Geometria de um difratmetro de raios-x ............................................ 19
2.4.3.4. DRX em alta temperatura .................................................................... 20
2.4.4. Mtodo de Rietveld .................................................................................... 21
3. MATERIAIS E MTODOS ...................................................................................... 23
3.1. Materiais........................................................................................................... 23
3.2. Difrao de Raios-X In-Situ .............................................................................. 24
vii
3.3. Preparao Metalogrfica e Anlise Microestrutural ......................................... 25
3.3. Quantificao de Fases .................................................................................... 26
4. APRESENTAO E ANLISE DOS RESULTADOS.............................................. 27
4.1. Micrografias...................................................................................................... 27
4.2. Difratogramas ................................................................................................... 32
4.3. Quantificao de Fases .................................................................................... 33
5. DISCUSSO........................................................................................................... 35
6. CONCLUSO ......................................................................................................... 40
7. PROPOSTA PARA TRABALHOS FUTUROS ......................................................... 41
8. REFERNCIA BIBLIOGRFICA............................................................................. 42
viii
LISTA DE FIGURAS
Figura 1: Microestrutura bifsica do ao inoxidvel duplex composta por gros de ferrita
e austenita [3]. .............................................................................................................. 5
Figura 2: Cintica de precipitao de diferentes fases nos AID. Adaptado de [2]. ......... 9
Figura 3: Fases observadas nos aos inoxidveis duplex e suas principais
caractersticas. Adaptado de [6]. ................................................................................. 10
Figura 4: Precipitao da 2 a partir da austenita primria e no interior do gro de ferrita
de um ao inoxidvel duplex UNS S32205 [11]. ......................................................... 11
Figura 5: Curvas TTT para um ao UNS S32404 [6]. .................................................. 12
Figura 6: Representao da precipitao de fase em um AID. Adaptado de [15]. .... 12
Figura 7: Precipitao de nitretos Cr2N no ao UNS S32550 (a) no interior do gro de
ferrita e (b) na interface / [11]. ................................................................................. 13
Figura 8: Morfologia da fase sigma em diferentes temperaturas de tratamento: (a) 950C,
(b) 850C, (c) 750C [24]. ........................................................................................... 15
Figura 9: Espectro de EDS e composio qumica para as fases (a) (b) (c) (d) no
AID [27]....................................................................................................................... 17
Figura 10: Representao de um espectro de emisso de raios-x. Adaptado de [29]. 18
Figura 11: Difrao de raios-x por um cristal [30]. ....................................................... 19
Figura 12: Difratmetro de Bragg-Brentano. ............................................................... 20
Figura 13: Difratograma padro do Alumnio [29]. ....................................................... 20
Figura 14: Ajuste pelo Mtodo de Rietveld [32]. .......................................................... 21
Figura 15: Forno acoplado ao difratmetro de raios-x. ................................................ 25
Figura 16: Quantificao pelo mtodo de Rietveld pelo programa TOPAS. ................ 26
Figura 17: Amostra CR (microscpio ptico). .............................................................. 27
Figura 18: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min (microscpio ptico). 27
Figura 19: CP4 com tempo de permanncia a 800C de 60min (microscpio ptico). 28
ix
Figura 20: CP6 com tempo de permanncia a 800C de 90min (microscpio ptico). 28
Figura 21: Amostra CR (MEV). ................................................................................... 29
Figura 22: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min (MEV). ..................... 29
Figura 23: CP4 com tempo de permanncia a 800C de 60min (MEV). ...................... 30
Figura 24: CP6 com tempo de permanncia a 800C de 90min (MEV). ...................... 30
Figura 25: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min (EDS). ..................... 31
Figura 28: Difratograma dos CPs 1 e 2 800C aps 30 minutos.............................. 32
Figura 31: Grfico de evoluo das fases presentes ao longo do tempo de permanncia
a 800C CP1 ............................................................................................................ 35
a 800C CP3 ............................................................................................................ 36
a 800C CP5 ............................................................................................................ 36
Figura 34: Evoluo isotrmica de sigma a 800C CP1 ........................................... 37
Figura 37: Evoluo isotrmica da fase sigma. ........................................................... 39
x
LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Composio qumica do ao Lean Duplex utilizado .................................... 23
Tabela 2: Distribuio dos corpos de provas e tratamentos trmicos.......................... 24
Tabela 3: Quantificao de fases do CP1 ................................................................... 33
xi
1. INTRODUO
Aos inoxidveis duplex (AID) so compostos por fraes volumtricas
aproximadamente iguais de ferrita e austenita, apresentando elevadas propriedades
mecnicas e de resistncia corroso. Com isso, so amplamente utilizados em uma
variada gama de aplicaes, tais como processamento qumico, em ambientes
martimos e em indstrias de petrleo e gs. Na maioria dos casos, AID so escolhidos
com base na sua resistncia e estado de passivao em vrios ambientes.
Os recentes desenvolvimentos em aos inoxidveis so impulsionados, dentre
outros fatores, pelo baixo custo do material final. Este fato levou evoluo do subgrupo
de ao inoxidvel duplex conhecido como Lean Duplex, que possui menor teor de
elementos de liga em relao aos aos inoxidveis duplex padro. Entretanto, suas
propriedades mecnicas so duas vezes maiores que dos aos austenticos, alm de
possurem melhor resistncia corroso e limite de escoamento superior.
No entanto, quando expostos a uma determinada faixa de temperatura e tempo,
o equilbrio de elementos de liga pode ser modificado devido precipitao de vrias
fases secundrias. Os mais comuns so precipitados de austenita secundria (2),
nitretos, carbetos (M23C6) e fases intermetlicas, tais como sigma () e chi (). Suas
presenas podem resultar em fragilidade e reduo das propriedades de corroso do
material, pois retiram elementos constituintes da matriz para sua formao.
1
A formao de fase sigma pode causar uma deteriorao drstica na tenacidade
e resistncia corroso dos AID. A fase sigma uma fase intermetlica cuja
composio enriquecida em Cr e Mo, afetando negativamente as propriedades
mecnicas, a resistncia corroso e a soldabilidade dos aos inoxidveis duplex.
Neste trabalho amostras de ao UNS S32304 foram submetidas temperatura
de 800C por 30, 60 e 90 minutos em um forno acoplado a um difratmetro de raios-x.
Foram realizadas vrias varreduras in-situ, durante os diferentes tempos de
aquecimento deste material, com o objetivo de analisar em tempo real a transformao
das fases constituintes. Observou-se a formao da fase sigma neste ao, tanto nos
contornos de gro da ferrita como nas interfaces ferrita/austenita. Foi realizada uma
anlise quantitativa, utilizando o mtodo de Rietveld, onde constatou-se uma variao
de 11% a 17% de fase sigma. Com isso, observou-se que a formao de fase sigma
na temperatura de 800C ocorre de forma significativa aps 30 minutos de aquecimento,
o que pode comprometer as propriedades do mesmo.
2
2. REVISO BIBLIOGRFICA
2.1. Aos Inoxidveis
Aos inoxidveis so aos a base de ferro, contendo no mnimo 10,5% de cromo
em sua composio, o que o confere uma elevada resistencia corroso.
Outros elementos de liga podem ser adicionados, originando atributos
especficos com relao resistncia mecnica e possibilidade de resistir corroso
em diferentes meios ambientes.
Dependendo da exata composio qumica, o ao inoxidvel apresenta uma
determinada microestrutura, podendo este ser classificado em cinco famlias bsicas:
ferrtico, martenstico, austentico, dplex e endurecvel por precipitao.
Austenticos
So ligas no-magnticas de Fe-Cr-Ni contendo tipicamente 8% de nquel, com
baixo teor de carbono. Possuem microestrutura austentica, com estrutura cbica de
face centrada (CFC) e apresentam boa tenacidade e soldabilidade [1].
Diferentes elementos de liga, como molibdnio, titanio e cobre, podem ser
adicionados para melhorar suas propriedades, bem como garantir melhor resistncia
corroso [1].
Ferrticos
So ligas ferromagnticas de Fe-Cr contendo de 12 a 17% de cromo com baixo
teor de carbono, o que resulta em uma limitada resistncia mecnica. Caracterizam-se
pela microestrutura ferrtica, com estrutura cubica de corpo centrado (CCC) e no so
endurecveis por tratamento trmico [1]. Devido ao baixo teor de nquel, os aos
ferrticos so normalmente de baixo custo.
3
Apresentam boa ductilidade, razovel soldabilidade, mas limitada resistncia
corroso e tenacidade quando comparados com os austenticos mais comuns.
Martensticos
So ligas ferromagnticas de Fe-Cr contendo de 12 a 14% de cromo e com alto
teor de carbono, o que aumenta o potencial de resistncia e dureza, mas diminui a
ductilidade e tenacidade [1]. Apresentam microestrutura martenstica e so endurecveis
por tratamento trmico.
Quando temperados, so muito duros e pouco dteis e nesta condio que
apresentam melhor resistencia corroso.
Endurecveis Por Precipitao
So ligas de Fe-Cr-Ni que so endurecveis por tratamento de envelhecimento
pela precipitao de compostos intermetlicos formados pela adio de elementos
como alumnio, cobre, titnio e nibio [1].
Em geral tem boa ductilidade e tenacidade, com moderada resistencia
corroso.
Duplex
So o tipo de liga tratada neste trabalho, sendo ento apresentadas no tpico a
seguir.
2.1.1. Aos Inoxidveis Duplex
Aos inoxidveis duplex (AID) so assim chamados devido a sua microestrutura
de duas fases, constituda por gros de ferrita (), que apresenta estrutura cbica de
corpo centrado, e austenita (), que apresenta estrutura cbica de face centrada, como
apresentado na figura1.
4
Quando o ao inoxidvel duplex fundido resfriado, ele solidifica a partir da fase
lquida para uma estrutura ferrtica. medida que o material se aproxima da temperatura
ambiente, cerca de metade dos gros ferrticos transformam-se em gros austenticos
[1]. O resultado uma microestrutura com cerca de 50% de ferrita e 50% de austenita.
A balanceada microestrutura de ferrita e austenita faz com que os aos
inoxidveis duplex apresentem uma excelente combinao de resistncia mecnica e
resistncia corroso, garantindo assim muito mais tempo de atividade e menores
custos com manuteno quando comparado aos aos carbono e aos inoxidveis
convencionais.
Alm disso, por causa das suas boas propriedades mecnicas, possvel reduzir
sua espessura, na maioria das aplicaes, permitindo construes mais leves e projetos
mais compactos.
A resistncia corroso por pite em AID est relacionada aos teores de cromo
(Cr), molibdnio (Mo) e nitrognio (N). No final dos anos sessenta, foram sugeridas
algumas relaes referentes aos teores desses elementos qumicos [2]. Essa
resistncia, denominada PRE (pitting resistance equivalente), calculada pela equao
(1).
PRE: %Cr + 3.3%Mo + 16%N (1)
Figura 1: Microestrutura bifsica do ao inoxidvel duplex

composta por gros de ferrita e austenita [3].
5
2.1.2. Lean Duplex
Os recentes desenvolvimentos em aos inoxidveis so impulsionados, dentre
outros fatores, pelo baixo custo do material final, o que levou evoluo do subgrupo
de ao inoxidvel duplex conhecido como Lean Duplex. O principal objetivo o
desenvolvimento de AID com menor teor de elementos de liga em relao aos aos
inoxidveis duplex padro [4].
Eles apresentam como composio qumica tpica 20-24% de cromo, 1-5% de
nquel, 0,1-0,3% de molibdnio e 0,10-0,22% de nitrognio [5]. O Lean Duplex mais
comum a liga UNS S32304, que ser a utilizada neste trabalho.
Tais ligas substituem com sucesso aos inoxidveis austenticos, pois
apresentam melhor resistncia corroso e limite de escoamento superior. As
propriedades mecnicas do Lean Duplex so mais de duas vezes superior em relao
aos aos inoxidveis austenticos, de modo que possibilitam uma reduo na espessura
dos produtos [5].
Estas vantagens fazem das ligas Lean Duplex alternativas atraentes para muitas
aplicaes. Alguns exemplos incluem tanques de armazenamento e transporte para
uma variedade de substncias, aplicaes estruturais, linhas de fluxo e tubos para a
indstria de petrleo e gs.
Entretanto, ainda so necessrios avanos em termos de pesquisa no que
concerne a fabricao deste tipo de ao, j que a mesma no trivial. Mesmo assim, a
utilizao deste tipo de ao bastante promissora.
6
2.2. Principais Elementos de Liga
A evoluo constante de aos inoxidveis resultou em composies complexas,
contendo quantidades significativas de elementos de liga. Os elementos de liga so
introduzidos no ao com o objetivo principal de obteno de melhores propriedades
mecnicas e/ou de resistncia corroso.
Cobre (Cu)
A adio de cobre eleva os limites de resistncia trao e escoamento. Porm,
a quantidade de Cu nos AID limitada a 2%, pois acima disso ocorre a precipitao de
finos compostos intermetlicos ricos em Cu que diminuem a ductilidade a quente [6].
Cromo (Cr)
O cromo um elemento ferritizante (estabiliza a ferrita) e tem como objetivo
principal conferir melhor resistncia corroso nos aos atravs da formao do filme
de passivao constitudo de xido de cromo (Cr2O3) na superfcie do material [7].
Para maior proteo do ao contra aes corrosivas necessrio um maior teor
desse elemento na liga, porm preciso ter o cromo dissolvido em soluo slida. Aos
de teor de cromo igual ou superior a 20%, como no caso do tipo duplex, so muito
suscetveis formao de intermetlicos ricos em cromo, provocando uma queda
significativa da resistncia corroso e reduo das propriedades mecnicas do
material [6].
Nitrognio (N)
O nitrognio um elemento estabilizador da austenita, sendo muitas vezes
substituto do nquel devido ao baixo custo. A adio de nitrognio pode promover o
endurecimento pelo mecanismo de soluo slida, o que aumenta a resistncia
mecnica do ao. Alm disso, aumenta a resistncia corroso por pites e retarda a
formao de fases intermetlicas nos AID, aprimorando sua tenacidade [6,7].
7
Nquel (Ni)
Elemento estabilizante da austenita, o Ni promove no ao inoxidvel uma
mudana da estrutura cristalina, de ferrtica (CCC) para austentica (CFC) [7]. Nos AID,
a estrutura cbica de face centrada fornece ao material uma melhora significativa na
tenacidade.
A adio de Ni tambm confere uma melhora na resistncia corroso do ao.
Entretanto, sua adio em elevadas propores leva a uma formao excessiva de
austenita, produzindo um enriquecimento de Cr e Mo na ferrita, e assim favorecendo a
precipitao de compostos intermetlicos no intervalo de temperatura entre 650 e
950C. Devido a este fato, seus teores devem respeitar uma quantidade mxima de 7%
nos AID [6].
Mangans (Mn)
O mangans adicionado no ao inoxidvel a fim de melhorar a ductilidade a
quente, assim como a resistncia corroso e ao desgaste abrasivo [8]. Sua adio
aumenta a solubilidade do nitrognio, mas seus teores no devem exceder 5% nos AID
para evitar uma queda brusca na resistncia corroso por pites [6].
Molibdnio (Mo)
Assim como o cromo, um elemento ferritizante. Tem o efeito de aumentar a
resistncia corroso, especialmente corroso por pites [6]. Entretanto, seu teor deve
respeitar um limite de 3% nos AID, pois sua presena aumenta a tendncia de formar
fases intermetlicas prejudiciais [7].
Silcio (Si)
Sua adio aumenta a resistncia corroso da liga, tanto em altas
temperaturas como em solues fortemente oxidantes. Entretanto, seus teores devem
ser limitados em 1% nos AID, pois o Si favorece a precipitao de fase sigma () [6].
8
2.3. Precipitao de Fases Secundrias
Os benefcios da adio de elementos de liga vm anexados a desvantagens
inevitveis, sendo a principal uma instabilidade microestrutural do material. Durante o
processamento ou uso, os aos inoxidveis duplex esto sujeitos a diversas
transformaes de fase a partir de variaes de temperatura e tempo. Na maioria dos
casos, a formao de tais fases indesejvel, pois so prejudiciais s propriedades
mecnicas e de resistncia corroso, sendo necessrio um processamento cuidadoso
para evitar ou, pelo menos, para minimizar que tais transformaes ocorram.
O diagrama esquemtico tempo-temperatura-transformao (TTT) da figura 2
mostra as faixas tpicas de temperatura e tempo para que ocorra a precipitao de
diferentes fases nos AID [3].
Figura 2: Cintica de precipitao de diferentes fases nos AID.

Adaptado de [2].
No intervalo de temperatura de 650 a 970C, podem ocorrer precipitao de
fases intermetlicas, principalmente as fases sigma () e chi (), alm de carbetos e
nitretos. Na faixa de temperatura entre 300 e 500C, pode ser formado o alfa-primrio
().
9
A figura 3 apresenta uma tabela a qual resume as principais caractersticas de
algumas das fases mais comuns que podem precipitar nos AID [6].
Figura 3: Fases observadas nos aos inoxidveis duplex e suas principais caractersticas.
Adaptado de [6].
2.3.1 Alfa Primrio ()
A fase pode ser observada em temperaturas entre 300 e 500C e est
relacionada ao fenmeno de fragilizao a 475C [6]. Esta fase paramagntica, rica
em cromo e apresenta estrutura cbica de corpo centrado [2].
Sua formao provoca um considervel aumento do limite de escoamento e da
dureza do material, mas diminui a tenacidade e a resistncia corroso por pites [9].
2.3.2 Austenita Secundria (2)
Em condies de resfriamento rpido a partir de elevadas temperaturas, h uma
alterao no balano entre as fases ferrita e austenita. Aps sofrer um reaquecimento,
seja por um tratamento trmico ou por soldagem, ocorre uma difuso adicional,
resultando no crescimento da austenita primria ou surgimento da austenita secundria
(2) [10].
10
Existem basicamente dois mecanismos de formao da austenita secundria. O
primeiro sua formao a partir da austenita existente. O segundo quando ela se
nucleia no interior da ferrita e est associada aos nitretos de cromo que se precipitaram
anteriormente [11,12]. Ambos esto apresentados na figura 4.
A precipitao de 2 melhora a tenacidade do material, porm compromete a
resistncia corroso do mesmo [11].
Figura 4: Precipitao da 2 a partir da austenita primria

e no interior do gro de ferrita de um ao inoxidvel
duplex UNS S32205 [11].
2.3.3 Carbetos (M23C6, M7C3)
Em temperaturas entre 950 e 1050C, o carbeto M7C3 precipita em
aproximadamente 10 minutos [6]. J a precipitao do carbeto M23C6 ocorre aps um
curto tempo de exposio na faixa de temperatura entre 700 e 900C, conforme figura
5.
Os carbetos se precipitam preferencialmente nas interfaces /, mas podem ser
encontrados tambm nas interfaces / e / [13].
A precipitao de carbetos nos ao inoxidveis duplex pode provocar fragilizao
e diminuio da resistncia corroso. Ela ocorre previamente formao de outras
fases secundrias durante o envelhecimento, e s pode ser evitada por um resfriamento
rpido a partir de uma temperatura elevada [14].
11
Figura 5: Curvas TTT para um ao UNS S32404 [6].
2.3.4 Chi ()
A fase uma fase frgil e seu crescimento ocorre em temperaturas mais baixas
do que a fase sigma, em um intervalo entre 700 e 900C, porm a fase se transformar
em fase aps um longo perodo de permanncia nesta faixa de temperatura [2, 12].
A fase chi nucleia principalmente na interface ferrita/austenita, mas tambm
pode nuclear nos limites dos gros de ferrita/ferrita [2, 15]. uma fase enriquecida de
Cromo, assim como a fase sigma (), porm com um maior teor de molibdnio [15].
Sua presena est associada a efeitos negativos na tenacidade e resistncia
corroso dos aos, sendo estes difceis de distinguir dos efeitos da fase sigma, uma vez
que e frequentemente coexistem [12]. Podemos observar a formao da fase chi e
sua coexistncia com a fase no esquema apresentado na figura 6.
Figura 6: Representao da precipitao de fase em um AID. Adaptado de [15].
12
2.3.5 Nitretos de Cromo (Cr2N, CrN)
Devido ao aumento da adio de nitrognio como elemento de liga nos aos
inoxidveis duplex, a precipitao de nitretos de cromo do tipo Cr2N torna-se um estudo
importante. Os nitretos de cromo se precipitam principalmente em tratamentos trmicos
no intervalo de 700 a 900C ou durante o resfriamento da temperatura de solubilizao
[16].
Depois de submetido a elevadas temperaturas, ao resfriar rapidamente, a
microestrutura ferrtica torna-se supersaturada em nitrognio, resultando em uma
competio entre a precipitao de nitreto de cromo e austenita [10]. A microestrutura
formada neste caso consiste em nitretos intragranulares na ferrita [6, 11].
No caso de tratamento trmico entre 700 e 900C, as partculas de nitreto se
formam preferencialmente nas interfaces / ou particularmente nas interfaces /
[11,12], como mostra a figura 7.
Figura 7: Precipitao de nitretos Cr2N no ao UNS S32550 (a) no interior do gro de ferrita e
(b) na interface / [11].
Precipitados Cr2N apresentam formas de bastonete e seu tamanho tende a
aumentar com a diminuio da taxa de resfriamento [10, 17]. Sua presena resulta na
degradao das propriedades mecnicas e de corroso do material.
Segundo LIAO [17], no apenas Cr2N (estrutura hexagonal), mas tambm
nitretos do tipo CrN (estrutura cbica) foram observados na zona termicamente afetada
(ZTA) em aos duplex. Nitretos CrN se precipitam na adjacncia de precipitados de
Cr2N, exibindo formas de plaquetas.
13
2.3.6 Sigma ()
A fase sigma uma fase intermetlica no magntica e apresenta estrutura
cristalina tetragonal complexa [18]. Sua composio enriquecida em Cr e Mo, afetando
negativamente as propriedades mecnicas, a resistncia corroso e a soldabilidade
dos aos inoxidveis duplex [19, 20, 21]. Sua precipitao ocorre nos AID quando estes
so submetidos a elevadas temperaturas, seja por fundio, soldagem, forjamento, e
envelhecimento [21].
CHARLES [22] mostra que o tungstnio, o molibdnio e o nquel aumentam a
taxa de precipitao de fase sigma e expande a correspondente curva C para
temperaturas mais altas.
Investigaes anteriores mostram que a sigma nucleia preferencialmente nas
interfaces austenita/ferrita, podendo tambm se formar nos contornos de gros de
ferrita/ferrita, e seu crescimento ocorre na ferrita [20, 21, 23].
Tipicamente, a fase sigma se precipita entre 600 e 1000C, sendo a taxa de
precipitao mais rpida ocorrendo em torno de 850C [24]. O principal mecanismo de
precipitao uma transformao eutetide de ferrita em austenita secundria e sigma
[23, 24].
De acordo com a temperatura de precipitao, a morfologia da fase sigma muda,
como esquematizado na figura 8. Quando a precipitao ocorre em temperaturas
inferiores a 750C, uma estrutura semelhante a do coral (ou lamelar) pode ser
encontrada. J em temperaturas mais elevadas que 900C, a fase sigma apresenta
partculas maiores e isoladas [23, 24].
A 850C, a fase sigma pode ser formada por trs mecanismos distintos:
nucleao e crescimento a partir da ferrita original, decomposio eutetide da ferrita (
+ 2) e crescimento a partir da austenita aps o consumo total de ferrita original
[23].
14
Figura 8: Morfologia da fase sigma em diferentes temperaturas de
tratamento: (a) 950C, (b) 850C, (c) 750C [24].
2.4. Tcnicas Analticas
2.4.1. Microscpio ptico
O principal objetivo do microscpio ptico tornar visveis estruturas menores
que a resoluo do olho humano permite, possibilitando a observao de estruturas
inferiores a 100m.
A microscopia ptica possibilita uma anlise de fase rpida, dando informaes
sobre a morfologia e o tamanho dos gros de cada fase [25].
O microscpio ptico ilumina o objeto com luz visvel ou luz ultravioleta. Seu
limite mximo de resoluo estabelecido pelos efeitos de difrao devido ao
comprimento de onda da luz utilizada, podendo se obter um aumento de at 1000 vezes
[26].
2.4.2. Microscpio Eletrnico de Varredura - MEV
A necessidade de aprofundar o conhecimento sobre a microestrutura dos metais
e materiais semicondutores exigiu imagens com aumentos mais significativos do que
aqueles obtidos por microscopia ptica.
15
O Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) um dos principais instrumentos
disponveis para a caracterizao microestrutural dos materiais, sendo muito utilizado
nas reas biomdicas e de engenharia.
A principal razo de seu uso a alta resoluo que pode ser obtida quando as
amostras so observadas, sendo capaz de alcanar uma resoluo da ordem de 1 nm.
Com isso, ele permite a observao da morfologia, constituio e distribuio das fases,
alm de indicar a presena de incluses e trincas no material [26].
Um microscpio eletrnico de varredura utiliza um feixe de eltrons de pequeno
dimetro para explorar a superfcie da amostra. O feixe, interagindo com a amostra,
produz eltrons e ftons que podem ser coletados por detectores adequados e
convertidos em um sinal de vdeo [26].
A imagem formada a partir do sinal captado na varredura eletrnica de uma
superfcie pode apresentar diferentes caractersticas, dependendo dos sinais emitidos
pela amostra. Dentre os sinais emitidos, os mais utilizados para obteno da imagem
so originrios dos eltrons secundrios e dos eltrons retroespalhados.
2.4.2.1. EDS
O uso em conjunto do MEV com o equipamento de EDS (Energy Dispersive X-
Ray Spectroscopy) de grande importncia na caracterizao de materiais. Enquanto
o MEV proporciona ntidas imagens, o EDS permite um mapeamento dos elementos
qumicos sobre a imagem obtida.
Quando o feixe de eltrons incide sobre a amostra, os eltrons mais externos
dos tomos so excitados, mudando de nveis energticos. Ao retornarem para sua
posio inicial, produzem raios X que so caractersticos dos elementos presentes na
amostra. Assim, a anlise de EDS pode ser utilizada para determinar a composio
qumica de pontos individuais ou de uma rea.
A figura 9 mostra um exemplo de espectro obtido para um AID.
16
Figura 9: Espectro de EDS e composio qumica para as fases
(a) (b) (c) (d) no AID [27].
2.4.3. Difrao de Raios-X
A difrao de raios X uma tcnica extremamente importante no campo da
caracterizao microestrutural de materiais, permitindo obter informaes da ordem de
10-8 cm (1) [28].
Suas aplicaes abrangem desde identificao e quantificao das fases
anlise de textura e tenso residual.
2.4.3.1. O Espectro de Raios-X
Raios-x so uma radiao eletromagntica, situada no espectro entre a radiao
ultravioleta e os raios gama, com energia variando no intervalo de 200 eV a 1 MeV. Os
raios-x utilizados na difrao tm comprimentos de onda variando de 0,5 a 2,5 [29].
Em um tubo de raios-x, quando eltrons, acelerados por um campo de alta
tenso, colidem com um alvo metlico, produzem raios X que se irradiam em todas as
17
direes. O espectro de raios X gerado consiste de uma variao de comprimentos de
onda e intensidade, dependendo da tenso do tubo.
A Figura 10 mostra o tipo de espectro obtido, onde se observa dois picos
intensos, denominados de radiao caracterstica, sobrepostos a uma curva contnua,
denominada radiao branca (Bremsstrahlung). As diferentes linhas caractersticas
correspondem s transies dos eltrons entre diferentes nveis de energia, sendo K
a transio de eltrons da camada L para a camada K e K da camada M para a camada
K. Existem ainda outras linhas de intensidades no espectro de emisso, porm
habitualmente apenas a linha K possibilita melhores estudos de difrao de raios-x,
sendo utilizados feixes monocromticos [28, 29].
Figura 10: Representao de um espectro de

emisso de raios-x. Adaptado de [29].
2.4.3.2. Lei de Bragg
Em 1913, W.L. Bragg abriu o caminho para a utilizao bem-sucedida dessa
tcnica para determinar estruturas cristalinas de metais e ligas, minerais, polmeros,
compostos orgnicos e inorgnicos [29].
Supondo um feixe de raios X que incide sobre um conjunto de planos cristalinos
paralelos, cuja distncia interplanar d, sob um ngulo de incidncia . Para se obter
18
um pico de intensidade acentuada para a radiao espalhada, as ondas de raios-x
incidentes devem sofrer reflexo especular, ou seja, o ngulo de incidncia deve ser
igual ao de reflexo, e os raios refletidos devem se interferir de maneira construtiva [28].
Na figura 11, se observa que a diferena de caminhos entre dois raios dada
por d.sen , onde o ngulo de incidncia. Para que os raios sofram interferncia
construtiva, a diferena de caminhos pode ser expressa em funo de um nmero inteiro
de comprimentos de onda, obtendo assim a equao 2 [28, 30]
2 d sen = n (2)
onde o comprimento de onda da radiao utilizada, e n um nmero inteiro.
A expresso acima conhecida como Lei de Bragg e desempenha papel
fundamental no uso da difrao de raios X para estudos cristalogrficos.
Figura 11: Difrao de raios-x por um cristal [30].
2.4.3.3. Geometria de um difratmetro de raios-x
A geometria mais utilizada para os difratmetros a de Bragg-Brentano, onde
um feixe de radiao monocromtica, fixo, incide em uma amostra, rotacionada em um
ngulo , enquanto os dados so coletados por um detector que se move por um ngulo
2, como esquematizado na figura 12.
19
Figura 12: Difratmetro de Bragg-Brentano.
O padro de difrao obtido por contagens de um detector um difratograma da
intensidade, medida em contagens por segundo, em funo da posio angular, medida
em 2, como apresentado na figura 13. A posio das linhas de difrao contm dados
para identificao de fases, determinao do parmetro de clula e os valores da
distncia interplanar (d) [30].
Figura 13: Difratograma padro do Alumnio [29].
2.4.3.4. DRX em alta temperatura
Um acessrio de alta temperatura para anlises por difrao de raios-x permite
o aquecimento controlado da amostra paralelamente coleta do difratograma. Com
isso, vrios difratogramas podem ser coletados em diferentes condies de temperatura
e tempo, visando estudar o equilbrio do sistema e as mudanas de fases envolvidas.
20
2.4.4. Mtodo de Rietveld
O mtodo de Rietveld um mtodo matemtico que realiza um ajuste de dados
em estruturas cristalinas de materiais analisados por difrao de raios-x. Atravs deste
mtodo, possvel se igualar um difratograma calculado a um difratograma observado,
como representado na figura 14. O mtodo em si, realiza o ajuste de dados levando em
conta a varredura total e no apenas uma fase do material analisado. O refinamento
obtido pelo uso do mtodo dos mnimos quadrados a partir do perfil das intensidades
obtidas no difratograma [31, 32].
Seu uso possibilita uma melhora do padro dos picos, quantificao de fases,
deteco de orientaes preferenciais e rugosidades superficiais, entre outros.
Figura 14: Ajuste pelo Mtodo de Rietveld [32].
A equao 3 [31] contm os parmetros variveis necessrios para o ajuste do
padro de difrao observado, se ajustando ao formato do pico.
= ( ) + (3)
onde = intensidade calculada de radiao no i-simo passo;
= fator de escala;
= representa o ndice de Miller hkl para a determinada reflexo de Bragg;
21
= fator de forma (estrutura);
= funo do perfil de reflexo;
= funo de orientao preferencial;
= fator de absoro do material;
= intensidade do background no i-simo passo.
Para se realizar o ajuste do padro de difrao calculado ao padro observado,
utiliza-se um mtodo estatstico, sendo este o mtodo dos mnimos quadrados [31]. Tal
mtodo minimiza os erros durante os ciclos do refinamento atravs dos valores obtidos
em Sy, como mostra a equao 4.
= ( ) (4)
onde = 1/ ;
= intensidade observada no i-simo passo;
= intensidade calculada no i-simo passo.
O fator de escala uma constante que ajusta a intensidade em relao altura
dos picos, sendo sua correo fundamental para uma melhor anlise quantitativa de
fases. A frao de cada fase dada pela equao 5 [31]:
()
= (5)
= ()
onde = frao em peso da fase p;
= fator de escala de Rietveld;
= nmero atmico da clula unitria;
= massa da clula unitria;
= volume da clula unitria.
22
3. MATERIAIS E MTODOS
3.1. Materiais
Para a realizao deste trabalho foram utilizados sete corpos de prova retirados
de uma chapa de ao Lean Duplex UNS S32304, com composio qumica apresentada
na tabela 1.
Tabela 1: Composio qumica do ao Lean Duplex utilizado

ELEMENTO %peso
Alumnio 0,033
Arsnio 0,037
Bismuto 0,0015
Boro 0,0014
Clcio 0,0014
Carbono 0,036
Chumbo 0,003
Cobalto 0,128
Cobre 0,418
Cromo 22,67
Enxofre 0,0037
Estanho 0,0013
Ferro 70,0
Fsforo 0,0078
Mangans 1,29
Molibdnio 0,117
Nibio 0,035
Nquel 4,64
Nitrognio 0,11
Silcio 0,385
Titnio 0,001
Tungstnio 0,066
Vandio 0,093
Os corpos de provas foram cortados nas dimenses 20mm de comprimento,
20mm de largura com 1,5mm de espessura.
Uma primeira amostra serviu como referncia e foi designada simplesmente
como amostra CR (Como Recebido). Esta amostra no sofreu tratamento trmico.
Os corpos de provas 1 a 6 foram submetidos temperatura de 800C no forno
acoplado ao difratmetro de raios-x, com diferentes tempos de permanncia nessa
temperatura.
23
A tabela 2 apresenta a distribuio dos corpos de prova. Note que foram feitos
os mesmos tratamentos em dois corpos de prova distintos para avaliar a
reprodutibilidade do ensaio.
Tabela 2: Distribuio dos corpos de provas e tratamentos trmicos

Tratamento
Amostra
Trmico
CR -
CP1
800C / 30min
CP2
CP3
800C / 60min
CP4
CP5
800C / 90min
CP6
importante ressaltar que nenhuma amostra foi solubilizada com o objetivo de
se obter uma anlise o mais real possvel do uso deste ao em servio. Por exemplo:
ao ser submetido a um processo de soldagem ou utilizado em aplicaes que
demandem temperaturas elevadas.
3.2. Difrao de Raios-X In-Situ
A tcnica de difrao utilizada consiste em um aquecimento controlado da
amostra paralelamente coleta dos difratogramas.
O equipamento utilizado foi um D8 Discover da Bruker com uma cmara de
temperatura acoplada, como ilustrada na figura 15, com temperatura mxima obtida de
900C. A fonte de radiao utilizada foi a de cobalto, com comprimento de onda igual a
1,789.
24
Figura 15: Forno acoplado ao difratmetro de raios-x.
A metodologia para anlise das amostras constou de uma primeira varredura
temperatura ambiente (30C). A amostra foi ento submetida a um nico ciclo de
temperatura, sendo este um aquecimento at 800C, com taxa mdia de 1C/s. Durante
o tempo de permanncia determinado para cada amostra, foram gerados difratogramas
de 10 em 10 minutos. Posteriormente, realizou-se resfriamento ao ar com taxa mdia
de 1C/s at a temperatura ambiente.
As principais fases presentes foram identificadas pela indexao dos picos no
programa EVA utilizando-se o banco de dados de padres de difrao fornecido pelo
PDF Maint.
3.3. Preparao Metalogrfica e Anlise Microestrutural
As amostras foram lixadas em lixas de #400 at #1200, seguido de polimento
eletroltico com soluo de HClO4 + lcool, com 3V por 1 minuto.
Foi ento realizado ataque eletroltico com soluo de NaOH 40%, com 0,2 V
por 300 segundos com objetivo de se obter uma melhor diferenciao entre as fases
secundrias formadas. interessante mencionar que este ataque foi desenvolvido a
partir do princpio de ataque eletroltico e tem como importante caracterstica a
capacidade de distinguir, por microscopia tica em campo claro, fases deletrias como
sigma e chi, alm das fases principais ferrita e austenita [33]. Assim, este tipo de ataque
seletivo se caracteriza como uma importante ferramenta para identificao de diferentes
25
fases num mesmo material, pois possibilita que cada fase se revele com uma colorao
diferente e distinta das outras fases componentes.
Com o objetivo de analisar qualitativamente as fases presentes nas amostras,
anlises metalogrficas foram realizadas em microscpio ptico da marca Zeiss,
utilizando o programa AxioVision Rel. 4.7, atravs da tcnica de reflexo em campo
claro.
Alm disso, foram tambm feitas micrografias em microscpio eletrnico de
varredura (MEV) de 30kV da marca ZEISS-MA, com eltrons retroespalhados e anlise
em EDS.
3.3. Quantificao de Fases
A anlise quantitativa de fases das amostras foi realizada com base no mtodo
de Rietveld [31, 32] utilizando-se o programa Topas, apresentado na figura 16.
Figura 16: Quantificao pelo mtodo de Rietveld pelo programa TOPAS.
26
4. APRESENTAO E ANLISE DOS RESULTADOS
4.1. Micrografias
As figuras 17 a 20 apresentam as micrografias obtidas pelo microscpio ptico,
com um aumento de 200 vezes.
Figura 17: Amostra CR (microscpio ptico).
Figura 18: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min

(microscpio ptico).
27
Figura 19: CP4 com tempo de permanncia a 800C de 60min
(microscpio ptico).
Figura 20: CP6 com tempo de permanncia a 800C de 90min

(microscpio ptico).
Em todas as micrografias observa-se a presena das fases ferrita () e austenita
(), sendo a primeira caracterizada pelos campos cinza e a segunda pelos campos
brancos. Nas amostras tratadas termicamente, alm da ferrita e austenita
caractersticas, tambm se pode observar uma fase de tonalidade marrom, sendo esta
provavelmente a fase sigma (). Estas observaes esto de acordo com os resultados
obtidos por JACKSON et al. [33] para o ataque seletivo das fases em questo.
28
Pela observao destas mesmas amostras no MEV (figuras 21 a 24) e pela
anlise de EDS (figuras 25 a 27) dos pontos em que se detecta a fase de colorao
marrom no tico e colorao mais escura no MEV, nota-se a elevada concentrao de
cromo e ferro dessa fase.
Figura 21: Amostra CR (MEV).
Figura 22: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min (MEV).
29
Figura 23: CP4 com tempo de permanncia a 800C de 60min (MEV).
Figura 24: CP6 com tempo de permanncia a 800C de 90min (MEV).
30
Figura 25: CP2 com tempo de permanncia a 800C de 30 min (EDS).
31
4.2. Difratogramas
Nas figuras 28 a 30 so apresentados os difratogramas de cada corpo de prova,
obtidos ao final do intervalo de tempo de permanncia (30, 60 e 90 minutos)
temperatura de 800C. Atravs destes, possvel constatar a presena das fases ferrita,
austenita e sigma.
Figura 28: Difratograma dos CPs 1 e 2 800C aps 30 minutos.
32
4.3. Quantificao de Fases
Atravs dos difratogramas, foi possvel realizar a quantificao das fases
apresentadas nos mesmos. Para tais anlises quantitativas, foram utilizados os
difratogramas da varredura inicial em temperatura ambiente, e varreduras a 800C. As
tabelas 3 a 5 indicam os valores obtidos para cada fase nos diferentes corpos de provas
analisados.
Tabela 3: Quantificao de fases do CP1
CP1 % Volume Fases

Tempos Ferrita Austenita Sigma
Inicial 72,85 26,84 0,31
1 min 65,98 32,13 1,89
10 min 65,39 31,73 2,88
20 min 64,56 32,3 3,14
30 min 58,65 29,66 11,49
33
CP3 % Volume Fases

Inicial 63,14 36,86 0
1 min 52,8 44,26 2,94
10 min 51,09 42,96 5,95
20 min 48,84 43,81 7,35
30 min 47,11 43,53 9,36
40 min 45,53 43,51 10,96
50 min 43,39 43,00 13,61
60 min 42,45 41,63 15,92
CP5 % Volume Fases

Inicial 72,88 27,12 0
1 min 62,85 36,8 0,35
10 min 61,73 37,17 1,10
20 min 60,17 37,82 2,01
30 min 58,29 38,91 2,80
40 min 57,38 39,23 3,39
50 min 55,87 38,11 6,03
60 min 50,12 34,16 15,72
70 min 49,83 34,51 15,67
80 min 49,3 34,91 15,79
90 min 48,39 34,09 17,52
34
5. DISCUSSO
A anlise das amostras que foram submetidas temperatura de 800C revelou
a presena de uma fase secundria que foi caracterizada atravs de tcnicas de EDS e
DRX como fase sigma (). Atravs da anlise de DRX, foi possvel caracterizar esta
fase como sendo do tipo Fe(Cr,Mo), de estrutura cristalina Ortorrmbica.
Pelas micrografias, tambm foi possvel observar que a precipitao desta fase
(sigma) ocorreu tanto nos contornos de gro da ferrita, como nas interfaces
ferrita/austenita. De fato, muitos autores j observaram este tipo de precipitao [19, 20,
21]. Entretanto, observou-se pelos resultados quantitativos que a evoluo desta fase
difere ao longo do tempo.
O grfico da figura 31 apresenta as curvas de ferrita, austenita e sigma para um
tempo de permanncia de 30 minutos a 800C. Nota-se que a fase ferrita decresce de
volume ao longo do tempo ao mesmo tempo em que o volume da fase sigma aumenta.
Isto est de acordo com a teoria de que a fase sigma nucleia a partir da ferrita e cresce
a expensas da mesma. possvel observar ainda que a fase austenita revela um
pequeno aumento de volume, j que nesta temperatura nos aproximamos do campo de
equilbrio desta fase.
CP1 - 800C Ferrita Austenita Sigma
70
60
50
% Fases
40
30
20
10
0
0 5 10 15 20 25 30 35
Intervalos de Tempo (min)
Figura 31: Grfico de evoluo das fases presentes ao longo do tempo de permanncia a
800C CP1
35
De forma semelhante, a figura 32 apresenta o grfico da evoluo das fases ao
longo do tempo de permanncia a 800C para o CP3.

60
50
40
% Fases
30
20
10
0
0 10 20 30 40 50 60 70
800C CP3
Do grfico da figura 33, correspondente ao CP5, verifica-se que aps 60 minutos,
o volume das fases tende a se estabilizar em um valor relativamente constante.

70
60
50
% Fases
40
30
20
10
0
0 20 40 60 80 100
800C CP5
36
Analisando apenas a evoluo isotrmica da fase sigma na temperatura de
800C, percebe-se um crescimento contnuo em volume at o ponto em que esta fase
tende a se estabilizar. As figuras 34 a 36 indicam como se comportou a fase sigma nos
diferentes intervalos de tempo.
CP1
14
12
10
% fase
8
6
4
2
0
0 5 10 15 20 25 30 35
Intervalo de Tempo (min)
Figura 34: Evoluo isotrmica de sigma a 800C CP1
CP3
20
15
% fase
10
0
0 10 20 30 40 50 60 70

37
CP5
20
% fase 15
10
0
0 20 40 60 80 100
Entretanto, ainda no se pode afirmar que este comportamento da fase sigma
se repetir ou se manter para maiores intervalos de tempo. J existem trabalhos
cientficos mostrando que a formao de sigma s se estabilizaria aps pelo menos 100
minutos em temperatura elevada [34]. Neste caso, o mais correto seria submeter a
amostra a ensaios mais longos, at que a mesma alcanasse um patamar contnuo.
De qualquer forma, constatou-se uma formao de fase sigma bastante
significativa para este ao, variando de 11% a 17% em volume, conforme o tempo de
exposio na temperatura de 800C. Isto pode comprometer as propriedades deste
material em temperaturas elevadas, mesmo sem que este sofra resfriamento posterior.
38
interessante notar que, a princpio, mesmo em amostras diferentes, os
primeiros 30 minutos deveriam apresentar uma mesma cintica de formao de fase
sigma, o que no foi constatado aqui, principalmente ao compararmos os resultados
conjuntos apresentados no grfico da figura 37.
Evoluo Isotrmica de Sigma CP1 CP3 CP5
20
18
16
14
12
% fase
10
8
6
4
2
0
0 20 40 60 80 100
Figura 37: Evoluo isotrmica da fase sigma.
Este fato muito provavelmente deve-se a heterogeneidade da chapa de ao
utilizada, mesmo em campos adjacentes. Esta questo poderia ser alterada com a
prvia solubilizao da amostra.
39
6. CONCLUSO
Amostras de ao UNS32304 submetidas temperatura de 800C por 30, 60 e
90 minutos apresentaram formao de fase sigma em suas microestruturas para todos
os intervalos de tempo do estudo;
A formao da fase sigma ocorreu tanto nos contornos de gro da ferrita como
nas interfaces ferrita/austenita;
Observa-se diferenas na quantidade da fase sigma, para as mesmas condies
de tratamento trmico, para diferentes amostras do mesmo ao. Os valores mximos
de fase sigma obtidos para cada tempo de exposio foram 11,49%vol no cp1,
15,92%vol no cp3 e 17,52%vol no cp5;
A cintica de transformao da fase ferrita mostrou uma diminuio de volume
at o intervalo de 60 minutos, quando ento apresentou taxa de transformao quase
estvel;
De forma similar, a fase austenita mostrou um aumento de volume at o intervalo
de 60 minutos, quando ento apresentou taxa de transformao quase nula;
A fase sigma exibiu crescimento contnuo durante os intervalos de 30 e 60
minutos. No intervalo de 90 minutos, o crescimento em volume de sigma alcana um
patamar nos intervalos de 60 a 80 minutos, voltando a aumentar no intervalo seguinte;
Observou-se que a formao de fase sigma a 800C ocorre de forma
significativa, o que pode comprometer as propriedades do material;
A tcnica de DRX In-Situ se mostrou eficaz na anlise e determinao de fases
formadas em temperaturas diferentes da temperatura ambiente.
40
7. PROPOSTA PARA TRABALHOS FUTUROS
- Realizar os mesmos ensaios com amostras solubilizadas, garantindo uma
microestrutura inicial com quantidades mais equilibradas de ferrita e austenita.
- Analisar por outros mtodos de ensaios no destrutivos como de correntes
parasitas.
- Efetuar um estudo semelhante ao realizado, submetendo as amostras a
intervalos de tempos de permanncia maiores.
41
8. REFERNCIA BIBLIOGRFICA
[1] DAVIS, J.R., ASM Specialty Handbook Stainless Steel, 1 ed., ASM International,
1994
[2] ALVAREZ-ARMAS, I., DEGALLAIX-MOREUI, S., Duplex Stainless Steels. 1 ed.
London, ISTE, 2009.
[3] CHEN, T.H., YANG, J.R. Effects of solution treatment and continuous cooling on -
phase precipitation in a 2205 duplex stainless steel, Materials Science and
Engineering A v. 311, n. 1-2, pp. 28-41, July 2001.
[4] BRYTAN, Z., NIAGAJ, J. The lean duplex stainless steel welded joint after isothermal
aging heat treatment, Archives of Materials Science and Engineering v. 60, n. 1, pp.
24-31, March 2013.
[5] SOUZA, C.S., LINS, V. F. C., SILVEIRA, D. M. Avaliao da Soldagem Multipasse
de Chapas Espessas de Aos Inoxidveis Lean Duplex UNS S32304 Soldadas pelos
Processos SMAW, GMAW e FCAW Parte II: Resistncia Corroso Soldagem e
Inspeo v. 18, n. 03, pp. 257-267, Jul/Set 2013.
[6] GUNN, R.N., Duplex Stainless Steels: Microstructures, Properties and
Applications. 1 ed. England, Abington Publishing, 1997.
[7] Practical Guidelines for the Fabrication of Duplex Stainless Steels, 2 ed.,
London, International Molybdenum Association, 2009.
[8] CHIAVERINI, V., Aos e Ferros Fundidos, 7 ed., So Paulo, ABM 2005.
[9] ALONSO-FALLEIROS, N., URA, M. M., PADILHA, A. F., Influncia da fase alfa linha
sobre a resistncia corroso por pite de aos inoxidveis dplex. In: International
Congress on Metallurgy and Materials Technology - ABM, v. 8, pp. 337-349, So
Paulo, 1994.
42
[10] LIPPOLD, J.C., KOTECKI, D.J., Welding Metallurgy and Weldability of Stainless
Steels. 1 ed. United States of America, Wiley-Interscience, 2005.
[11] RAMIREZ, A.J., LIPPOLD, J.C., BRANDI, S.D. The relationship between chromium
nitride and secondary austenite precipitation in duplex stainless steels, Metallurgical
and Materials Transactions A v. 34, n. 8, pp. 1575-1597, August 2003.
[12] NILSSON, J.O. Overview - Super duplex stainless steels, Materials Science and
Technology v. 8, pp. 685-700, August 1992.
[13] SOLOMON, H. D. e DEVINE, T. M., Duplex stainless steel: a tale of two phases,
1 ed., Ohio, American Society for Metals, 1982.
[14] LEE, K. M., CHO, H. S., CHOI, D. C. Effect of isothermal treatment of SAF 2205
stainless steel on migration of / interface boundary and growth of austenite, Journal
of Alloys and Compounds v. 285, n. 1-2, pp. 156-161, June 1999.
[15] ESCRIBA, D.M., MATERNA-MORRIS, E., PLAUT, R.L., et al. Chi-phase
precipitation in a duplex stainless steel, Materials Characterization v. 60, n. 11, pp.
1214-1219, November 2009.
[16] MELO, E. B., MAGNABOSCO, R., NETO, C.M. Influence of the microstructure on
the degree of sensitization of a duplex stainless steel UNS S31803 aged at 650C,
Materials Research v. 16, n. 6, pp. 1336-1343, Dec 2013.
[17] LIAO, J. Nitride Precipitation in Weld HAZs of a Duplex Stainless Steel, ISIJ
International v. 41, n. 5, pp. 460-467, 2001.
[18] HALL, E. O., ALGIE, S. H. The Sigma Phase, Metallurgical Reviews v. 11, n. 1,
pp. 61-88, January 1966.
[19] CALLIARI, I., BRUNELLI, K., DABALA, M., et al. Measuring Secondary Phases in
Duplex Stainless Steels, JOM v. 61, n. 1, pp. 80-83, January 2009.
43
[20] ELMER, J. W., PALMER, T. A., SPECHT, E. D. In situ observations of sigma phase
dissolution in 2205 duplex stainless steel using synchrotron X-ray diffraction, Materials
Science and Engineering A v. 459, n. 1-2, pp. 151-155, June 2007.
[21] HSIEH, C., WU, W. Overview of Intermetallic Sigma () Phase Precipitation in
Stainless Steels, ISRN Metallurgy v. 2012, pp. 1-16, 2012.
[22] CHARLES, J. Super duplex stainless steels: structure and properties. In: Proc.
Conf. Duplex Stainless Steels'91, Les Editions de Physique, v. 1, pp. 3-48, Les Ulis
Cedex, France, 1991.
[23] MAGNABOSCO, R. Kinetics of Sigma Phase Formation In a Duplex Stainless
Steel, Materials Research v. 12, n. 3, pp. 321-327, 2009.
[24] POHL, M., STORZ, O., GLOGOWSKI, T. Effect of intermetallic precipitations on the
properties of duplex stainless steel, Materials Characterization v. 58, n. 1, pp. 65-71,
January 2007.
[25] RIBEIRO MIRANDA, M. A., SASAKI, J. M., TAVARES, S. S. M., et al. The use of
X-ray diffraction, microscopy, and magnetic measurements for analysing microstructural
features of a duplex stainless steel, Materials Characterization v. 54, n. 4-5, pp. 387-
393, May 2005.
[26] DEDAVID, B.A., GOMES, C.I., MACHADO, G., Microscopia Eletrnica de
Varredura: Aplicaes e preparao de amostras, 1 ed., Porto Alegre, EDIPUCRS,
2007.
[27] CHEN, T. H., WENG, K. L., YANG, J. R. The effect of high-temperature exposure
on the microstructural stability and toughness property in a 2205 duplex stainless steel,
Materials Science and Engineering A v. 338, n. 1-2, pp. 259-270, December 2002.
[28] CULLITY, B.D., Elements of X-Ray Diffraction, 1 ed., Addison-Wesley Publishing
Company, 1978.
44
[29] SURYANARAYANA, C., NORTON, M.G., X-Ray Diffraction: A Practical
Approach, 1 ed., New York, Plenum Press, 1998.
[30] ERDCIA, F. A. B., Difrao de Raios X em Minerais de Bauxita e Anlise
Atravs de Refinamento pelo Mtodo de Rietveld. Tese de M.Sc., UFPA, Belm, PA,
Brasil, 2011.
[31] YOUNG, R.A., The Rietveld Method, 1 ed., New York, Oxford University Press,
1995.
[32] RIETVELD, H. M. A Profile Refinement Method for Nuclear and Magnetic
Structures, J. Appl. Cryst. v. 2, n. 2, pp. 65-71, June 1969.
[33] JACKSON, E. M. L. E. M., VISSER, P. E., CORNISH, L. A. Distinguishing Between
Chi and Sigma Phases in Duplex Stainless Steels Using Potentiostatic Etching,
Materials Characterization v. 31, n. 4, pp. 185-190, December 1993.
[34] FANG, Y. L., LIU, Z.Y., XUE, W.Y., et al. Precipitation of Secondary Phases in Lean
Duplex Stainless Steel 2101 during Isothermal Ageing, ISIJ International v. 50, n. 2,
pp. 286-293, 2010.
45

Caracterização de Aço Lean Duplex Por Técnicas Analíticas

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CARACTERIZAO DE UM AO LEAN DUPLEX POR

Andrea Pedroza da Rocha Santos

Projeto de Graduao apresentado ao Curso de

Engenharia Metalrgica da Escola Politcnica,

Universidade Federal do Rio de Janeiro, como parte

dos requisitos necessrios obteno do ttulo de

Orientadora: Gabriela Ribeiro Pereira

Andrea Pedroza da Rocha Santos

PROJETO DE GRADUAO SUBMETIDO AO CORPO DOCENTE DO CURSO DE

ENGENHARIA METALRGICA DA ESCOLA POLITCNICA DA UNIVERSIDADE

FEDERAL DO RIO DE JANEIRO COMO PARTE DOS REQUISITOS NECESSRIOS

PARA A OBTENO DO GRAU DE ENGENHEIRA METALRGICA.

RIO DE JANEIRO, RJ - BRASIL

Caracterizao de um ao Lean Duplex por tcnicas

XI, 45 p.: il.; 29,7 cm.

Orientadora: Gabriela Ribeiro Pereira

Projeto de Graduao UFRJ / Escola Politcnica /

Referncias Bibliogrficas: p. 42-45.

1. Ao Lean Duplex 2. Difrao de Raios-X In-Situ 3.

I. Pereira, Gabriela Ribeiro. II. Universidade Federal do

Agradeo a Deus, pela fora e f.

aprendizado, carinho e rezas.

ensinamentos e conselhos em todos os momentos.

Aos amigos do Laboratrio de Ensaios No Destrutivos, Corroso e Soldagem (LNDC),

pela experincia e risadas, tornando o ambiente de trabalho um lugar muito prazeroso.

valer pena e sempre me auxiliaram nessa etapa de graduao.

As minhas migs, agora engenheiras. Maravilhosas pessoas que tive o privilgio de

conhecer na faculdade e que, alm de sempre me apoiarem nos momentos difceis ao

apoiaram ao longo de todos esses anos de amizade.

dos requisitos necessrios para obteno do grau de Engenheiro Metalurgista.

Caracterizao de um ao Lean Duplex por tcnicas analticas.

Andrea Pedroza da Rocha Santos

Orientadora: Gabriela Ribeiro Pereira

Curso: Engenharia Metalrgica

Neste trabalho, amostras de ao Lean Duplex UNS S32304 foram submetidas

temperatura de 800C em um forno acoplado a um difratmetro de raios-x durante

intervalos de tempo de 30, 60 e 90 minutos. Com o objetivo de analisar em tempo real

a transformao das fases constituintes, foram realizadas vrias varreduras in-situ

durante os diferentes tempos de permanncia em 800C deste material. Assim,

de exposio foram calculados atravs do mtodo de Rietveld sobre cada difratograma

contnuo at 60 minutos e variao aps este perodo. Todavia, observou-se que a

minutos de aquecimento, o que pode comprometer as propriedades do mesmo.

Palavras chave: Ao Lean Duplex, Difrao de Raios-X In-Situ, Microestrutura, Fase

Sigma, Fases Secundrias

requirements for degree of Engineer.

Lean Duplex Steel Characterization by Analytical Methods

Andrea Pedroza da Rocha Santos

Advisor: Gabriela Ribeiro Pereira

Course: Metallurgical Engineering

2. REVISO BIBLIOGRFICA ...................................................................................... 3

2.1. Aos Inoxidveis ................................................................................................ 3

2.1.1. Aos Inoxidveis Duplex .............................................................................. 4

2.1.2. Lean Duplex................................................................................................. 6

2.2. Principais Elementos de Liga ............................................................................. 7

2.3. Precipitao de Fases Secundrias ................................................................... 9

2.3.1 Alfa Primrio () ......................................................................................... 10

2.3.2 Austenita Secundria (2) ............................................................................ 10

2.3.3 Carbetos (M23C6, M7C3) ............................................................................... 11

2.3.4 Chi () ......................................................................................................... 12

2.3.5 Nitretos de Cromo (Cr2N, CrN) .................................................................... 13

2.3.6 Sigma () .................................................................................................... 14

2.4. Tcnicas Analticas .......................................................................................... 15

2.4.1. Microscpio ptico .................................................................................... 15

2.4.2. Microscpio Eletrnico de Varredura - MEV............................................... 15