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TRABAJO FINAL CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

MIRLEY MARA CRCAMO SERPA

2014116026

ING. RICK ACOSTA VEGA

UNIVERSIDAD DEL MAGDALENA

FACULTAD DE INGENIERA

PROGRAMA DE ING. INDUSTRIAL

SANTA MARTA D.T.C.H.


2017
OPTIMAL SCHEMES FOR RESUBMITTED LOT ACCEPTANCE USING PREVIOUS
DEFECT COUNT DATA
Arturo J. Fernndez
Departamento de Matemticas, Estadstica e Investigacin Operativa, Universidad de La
Laguna, 38071 La Laguna, Canary Islands, Spain
Resumen:
Los esquemas ptimos de inspeccin de defectos por unidad para la seleccin de lotes de
material fabricado se obtienen minimizando el esfuerzo de muestreo esperado. Los lotes no
aceptados pueden volver a presentarse para la inspeccin del remuestreo, mientras que el
modelo de Poisson se utiliza para describir el comportamiento aleatorio del nmero de no
conformidades por unidad muestreada. Se presenta un coeficiente para evaluar el grado de
similitud entre la informacin anterior disponible y la inspeccin actual y se adoptan
distribuciones de gamma truncadas para cuantificar la incertidumbre previa natural sobre la
tasa de defectos usando datos de recuentos anteriores y opiniones de expertos. Se propone
un procedimiento computacional paso a paso para resolver el problema de programacin no
lineal de enteros subyacentes con el fin de encontrar el mejor plan de muestreo de lotes
reenviados con riesgos controlados de productor y consumidor, basados en el conocimiento
objetivo y subjetivo anterior. En muchos casos prcticos, la inclusin de reenvos de lotes e
informacin pasada en el proceso de inspeccin proporciona ahorros sustanciales en el
tamao de la muestra, as como evaluaciones ms confiables de los riesgos existentes del
productor y del consumidor. El enfoque propuesto permite a los profesionales considerar un
intervalo restringido para la tasa de defectos, que es razonable en la prctica e inviable bajo
la perspectiva frecuencial. Adems, se sugiere un mecanismo para actualizar la distribucin
previa basada en el desempeo pasado del plan de inspeccin. Para fines ilustrativos, la
metodologa desarrollada se aplica a la fabricacin de vidrio.
Anlisis:
Como es de nuestro conocimiento, la inspeccin por muestreo es ampliamente utilizado en
el control de calidad industrial para decidir la aceptacin de los lotes de productos entrantes
y salientes. Y que los sistemas de muestreo nico basados en la frecuencia de los datos de
recuento de Poisson emplean slo una muestra para evaluar si la tasa de defectos es
suficientemente pequea y necesitan a veces una cantidad impracticable de pruebas.
Este artculo evidencia que la utilizacin de reenvos de lotes e informacin previa puede
ser de suma importancia para reducir el esfuerzo de muestreo esperado en el diseo de
planes ptimos de aceptacin de defectos por unidad. Suponiendo que los lotes no
aceptados se pueden someter nuevamente a muestreo, el autor propone un criterio de
decisin para diferenciar adecuadamente entre lotes aceptables y rechazables, que se basa
en datos previos de recuento de defectos y en juicios de expertos. El plan de re-muestreo
sugerido garantiza, a los niveles de confianza seleccionados, al productor (contra el rechazo
de lotes buenos) y al consumidor (contra la aceptacin de lotes defectuosos), y minimiza el
nmero esperado de unidades inspeccionadas por lote.

El nmero ptimo de re-emisiones y el tamao de muestra requerido y el nmero de


rechazo se encuentran resolviendo un problema de programacin no lineal entero. El autor
al igual presenta un procedimiento paso a paso eficiente para simplificar y acelerar la
determinacin de la solucin global. Un alto nivel de calidad de produccin se alcanza
generalmente hoy en da. Por lo tanto, el muestreo repetido de lotes tiene a menudo
ventajas sobre el muestreo simple convencional en trminos de coste de inspeccin.
Adems, los reenvos de lotes son beneficiosos cuando la representatividad de la muestra
original es dudosa.

Se concluye en el artculo que el uso de datos histricos de estudios similares anteriores y


conocimiento subjetivo previo puede ser muy til en la inspeccin por muestreo. Las
distribuciones de gamma truncadas se adoptan en este documento para representar
adecuadamente la incertidumbre previa natural sobre la tasa de defectos basada en
informacin histrica. Se introduce un grado de similitud para controlar la influencia del
conocimiento subjetivo y objetivo anterior sobre la distribucin anterior. El enfoque del
autor permite a los profesionales considerar un espacio de parmetro reducido para la tasa
de defectos, lo que es imposible bajo el punto de vista frecuencial, y tambin proporciona
un mecanismo para actualizar la funcin de densidad anterior cuando hay nueva
informacin disponible. La incorporacin de resultados de inspeccin anteriores sobre los
mismos productos o productos similares y los juicios subjetivos de expertos en el proceso
de decisin genera ahorros apreciables en el tamao de la muestra, as como evaluaciones
ms precisas de los riesgos reales del productor y del consumidor.

Estoy de acuerdo con la utilizacin de reenvos de lotes e informacin previa, y a mi


parecer es bastante til e importante, porque les garantiza tanto al productor como al
consumidor que no se rechacen lotes buenos y que no se acepten lotes con defectos. Al
igual que ayuda a disminuir el tamao de la muestra a inspeccionar, lo que significa para la
empresa una disminucin de los costos de inspeccin.