Daniela Ravelo PDF

UNIVERSIDAD SIMN BOLVAR
INGENIERA GEOFSICA
INVERSIN E INTERPRETACIN DE DATOS DE

RESISTIVIDAD APARENTE EN 2D ADQUIRIDOS
EN RELIEVE TOPOGRFICO
Por
Daniela Josefina Ravelo Matos
Asesor industrial: Asesor Acadmico:

Octimio Gutierrez Carlos Izarra
Proyecto de Grado
Presentado ante la Ilustre Universidad Simn Bolvar
Como requisito Parcial para optar al Ttulo de
Ingeniero Geofsico
Sartenejas, Abril de 2007

ii
Este trabajo ha sido aprobado en nombre de la Universidad Simn Bolvar por el

siguiente jurado calificador:
________________________________
Presidente
_________________________________
_________________________________
iii
Este trabajo ha sido aprobado en nombre de la Universidad Simn Bolvar por el

siguiente jurado calificador:
________________________________
_________________________________
_________________________________
iv
INVERSIN E INTERPRETACIN DE DATOS DE RESISTIVIDAD APARENTE EN 2D

ADQUIRIDOS EN RELIEVE TOPOGRFICO
POR
DANIELA RAVELO
RESUMEN
En este trabajo se realiz una inversin bidimensional de datos reales de

resistividad aparente sobre relieve topogrfico, los valores de estos datos fueron
adquiridos con una distribucin tanto en profundidad como lateral sobre una
pendiente de inclinacin de 11,2, durante la adquisicin se utilizaron los arreglos
Dipolo-Dipolo y Wenner; los valores obtenidos fueron reflejados en una tomografa
elctrica e invertidos con el Software RES2DINV.
En la tomografa elctrica del arreglo Wenner, se logr observar el efecto de
la pendiente en los valores de resistividad aparente y se obtuvo un modelo elctrico
del subsuelo de 195 metros de largo por 24 metros de profundidad, en los cuales se
observa resistividades caractersticas de sedimentos tamao de grano grava, suelos
aluviales y esquistos tamao bloque.
En la tomografa elctrica del arreglo Dipolo Dipolo no se percibe los efectos
de la topografa y los modelos reales reflejan heterogeneidades laterales en los 240
metros de largo por 8 metros de profundidad prospectados de la lnea de estudio.
Los modelos topogrficos producto de los 3 tipos de inversiones del software
RES2DINV presentaron semejanzas al representar una misma posicin y magnitud
de la resistividad real y pequeas variaciones como el cambio en la geometra de la
zona geoelctrica y en el borde inferior de cada modelo.
La variacin de la topografa introduce un error en el valor de la resistividad
aparente, el cual es pertinente tomarlo en cuenta ya que altera el modelo real o
inverso; en el arreglo Dipolo Dipolo no se apreci y en el arreglo Wenner se apreci
de manera mnima.
Los arreglos de electrodos se adaptaron de manera distintas a las condiciones
sedimentolgicas, el arreglo Wenner se adapt mejor a estas condiciones
permitiendo prospectar a mayor profundidad en la lnea de estudio, adems de
permitir observar el efecto de la topografa, mientras que el arreglo Dipolo Dipolo no
v
permiti prospectar ms haya de las heterogeneidades de las primeras capas de

sedimentos.
vi
Dedicatoria
A quien me regalo la vida antes que yo imaginara
que significaba nacer, al dueo de la inteligencia,
los dones y las virtudes, al amor de los amores, a
quien me lleva grabada en la palma de sus manos,
al que me ha rescatado, s; a ti pap Dios, dulce
husped del alma, luz que iluminas mi vida.
A esos tres seres que me aceptaron en sus vidas y
me dejaron crecer, me alimentaron y me hicieron
rer, llorar y aprender, s; a mis padres de la tierra.
vii
Agradecimientos
Esta lista sera infinita, pero si a alguien olvide chenle la culpa a mi cabeza pero no
a mi corazn, porque en l si estn todos ustedes a quienes les debo un GRACIAS
por acompaarme a vivir.
A mis padres por correr con la cuenta jaja.

A mi abuela por sus concejos y oraciones, aunque tambin corri con la
cuenta varias veces.
A Marina, Sulbey, Patricia, Mara, Noem, Milagros, Ana Mara y cada una de
las misioneras que me han regalado una palabra de vida.
A Juan, Lenis, Elver, Alejandro, Roberto, Jhorman, Ronald, Ronnie Lapoint y
el padre Vinke por su apoyo incondicional por su trabajo en el cuerpo mstico de
Cristo que me alcanza semana tras semana.
A Jos Antonio Lara, Armando, Juan, Lenis, Sal, Randolpk y Laureano por
pasarse de panas en momentos tan difciles pero agradables como los que vivimos.
A la seora Enma y el seor Serllipe, por regalarme ms que cuatro paredes,
ellos me regalaron un hogar.
A Jess Hernandez, por la fortaleza que le regalo a mi alma y a mi ser sus
enseanzas y su dedicacin.
A RandolpK, Yoseln y Sal por soportarme; mentira vale!, simplemente por
existir.
A Alfredito, Luis Anyi y Edgardo por existir en la vida de mi papa y as en la
ma.
A Dinora y Danichelly porque siempre supieron darme una mano amiga o una
palabra de aliento.
A Ana Karina, Yolenis y Liu mis sper geopanas de la universidad, por su
inmensa compaa en las noches y tardes duras de estudio y desesperanza a las
puertas de un parcial.
A Daniel por derrochar sus virtudes sin reservarse nada en cada momento que
comparte conmigo, en especial mientras redactbamos la tesis.
A mis tutores Octimio Gutirrez y Carlos Izarra por mostrar confianza en m y
ofrecerme este proyecto dndome la oportunidad de ser Ingeniero de la Repblica.
A la Ingeniera Gelviz y el Ingeniero Roberto por su apoyo y conocimientos
aportados a mi persona.
viii
NDICE GENERAL
Capitulo I Introduccin
1.1 Antecedente 1
1.2 Definicin del problema 2
1.3 Justificacin 2
Capitulo II Objetivos del estudio 4
Capitulo III Definiciones de inters 6
Capitulo IV Marco terico
4.1 Conceptos Bsicos en la prospeccin geoelctrica 8
4.2 Teora del funcionamiento de los dispositivos de 16

electrodos
4.3 Teora de la adquisicin de una tomografa elctrica 20
4.4 Teora bsica de la inversin 26
Capitulo V La topografa en la inversin
5.1 Mtodo de elementos finitos 31
5.2 RES2DINV y topografa 37
Capitulo VI rea de estudio
6.1 Localizacin geogrfica 39
6.2 Marco geolgico 42
Capitulo VII Marco metodolgico
7.1 Procedimiento administrativo 44
7.2 Mediciones de campo 47
7.2.1.Instrumentacin 48
7.2.2. Procedimiento para la obtencin de datos 52

de campo
7.2 Proceso de inversin 58
Capitulo VII Resultados

ix
8.1 Altimetra 66
8.2 SEV con el arreglo tipo Schlumberger 67
8.3 Tomografa 68
8.3.1 Inversin de tomografa con arreglo dipolo 68

dipolo
8.3.2 Inversin de tomografa con arreglo Wenner 72
8.4 Anlisis e interpretacin 75
Conclusiones y recomendaciones 116
Bibliografa 118
x
NDICE DE FIGURAS
Figura 1. Subsuelo homogneo de resistividad 9
Figura 2. Circuito de emisin de corriente 9
Figura 3. Electrodo puntual 12
Figura 4. Dispositivo electrdico de tres electrodos 13
Figura 5. Subsuelo heterogneo. 16
Figura 6. Arreglo tipo Schlumberger 17
Figura 7. Arreglo tipo Wenner 19
Figura 8. Arreglo tipo Dipolo-Dipolo 19
Figura 9. Distribucin de medidas en SEV 21
Figura 10. Distribucin de medidas en tomografas 21
Figura 11. a) Mediciones del nivel 1 con arreglo Wenner

b) Mediciones del nivel 2 22
Figura 12. a) Niveles de la tomografa tipo Schlumberger

b) Rastreo horizontal y vertical respecto de la posicin
de los electrodos 23
Figura 13. Modelo 1 de adquisicin de datos con el dispositivo

Dipolo-Dipolo. 24
Figura 14. Modelo 2 de adquisicin de datos con el dispositivo

Dipolo-Dipolo. 26
Figura 15. Superficie discretizada 33
Figura 16. Los tres tipos de inversin con topografa del software
RES2DINV 38
Figura 17. Localizacin geogrfica 39
Figura 18. Mapa hipsomtrico de Venezuela 40
Figura 19. Ubicacin relativa de la lnea de estudio 41
Figura 20. Electrodos de corriente o barrenas metlicas 48

Figura 21. Generador elctrico de corriente 49
Figura 22. Fuente de poder y carretes de cable 49

xi
Figura 23. Instrumento GPS, para levantamiento altimtrico 50
Figura 24. Calicata con el arreglo Wenner 54
Figura 25. Medidas para n=1 de la tomografa con el arreglo 55

Dipolo-Dipolo
Figura 26. Nmero total de medidas de n=1 (arreglo Dipolo- 55

Dipolo)
Figura 27. Medidas para n=2 de la tomografa con arreglo Dipolo-

Dipolo 56
Figura 28. Medida totales n=1 y n=2 de la tomografa (arreglo 56

Dipolo-Dipolo)
Figura 29. Ventana del software Mobbile Mapper 59
Figura 30. Modelo del orden de los datos para ser leidos por el
programa RES2DINV 62
Figura 31. Ventana de RES2DINV para leer archivos .dat y/o

.txt 63
Figura 32. Ventana de dilogo de RES2DINV para escoger el

mtodo de inversin y el modelo de discretizacin 64
Figura 33. Ventana de dilogo de RES2DINV para escoger el

mtodo para resolver el problema directo. 65
Figura 34. Altimetra de la lnea de estudio 66
Figura 35. SEV con el arreglo Schlumberger 67
Figura 36. Curvas de resistividad aparente en funcin de la 86

distancia, de la tomografa Dipolo-Dipolo
Figura 37. Inversin de la tomografa Dipolo-Dipolo sin la 87

topografa
Figura 38. a) Zonas geoelctricas de la inversin Dipolo-Dipolo sin 86

la topografa.
b) Diferencia entre resistividades medidas y calculadas.
Figura 39. Inversin de la tomografa Dipolo-Dipolo con modelo
topogrfico distorsin uniforme 87
Figura 40. a) Zonas geoelctricas de la inversin Dipolo-Dipolo

con el modelo topogrfico de distorsin uniforme.
b) Diferencia entre resistividades medidas y calculadas. 88
xii

topogrfico de atenuacin. 89

con el modelo topogrfico de atenuacin.
b) Diferencia entre resistividades medidas y calculadas. 90

topogrfico trasformada SC 91

con el modelo topogrfico de SC.
b) Diferencia entre resistividades medidas y
calculadas. 92
Figura 45. Modelo topogrfico con distorsin uniforme, de la

tomografa Dipolo-Dipolo 93
Figura 46. Modelo topogrfico con atenuacin, de la tomografa

Dipolo-Dipolo 94
Figura 47. Modelo topogrfico con trasformada SC, de la

tomografa Dipolo-Dipolo 95
Figura 48. Curvas de resistividad aparente en funcin de la

distancia, de la tomografa Wenner 96
Figura 49. Curvas de resistividad aparente en funcin de la 97

distancia , de la tomografa Wenner
Figura 50. Resistividades en funcin de la distancia del nivel n=1

de la tomografa Wenner a 2 escalas distintas del eje vertical a y
b. 98
Figura 51. a) Grfico de Resistividades aparentes medidas.

b) Grfico de resistividades calculadas sin tomar en
cuenta la topografa. 99
Figura 52. Modelo de resistividades reales del proceso de

inversin sin topografa. 100
Figura 53. Zonas geoelctricas Modelo de resistividades reales

del proceso de inversin sin topografa. 100

b) Grfico de resistividades calculadas con un modelo
topogrfico de distorsin uniforme 101
xiii

topogrfico de atenuacin. 102

topogrfico usando la transformada SC. 103
Figura 57. . Resistividades reales con topografa modelo de

distorsin uniforme. 104
Figura 58. Zonas geoelctricas. Resistividades reales con

topografa modelo de distorsin uniforme. 104
Figura 59. . Resistividades reales con topografa modelo de

atenuacin. 105

topografa modelo de Atenuacin. 105
Figura 61. Resistividades reales con topografa modelo usando la

transformada SC. 106

topografa modelo usando la trasformada SC. 106
Figura 63. Modelo topogrfico con distorsin uniforme, de la

tomografa Wenner. 107
Figura 64. Modelo topogrfico con atenuacin, de la tomografa

Wenner 108
Figura 65. Modelo topogrfico con trasformada SC, de la

tomografa Wenner. 109
Figura 66. Grficos de la diferencia de resistividades aparentes. 110
Figura 67.Resistividades aparentes de una tomografa hecha en

un subsuelo homogneo de 100ohm.m. 111
Figura 68. Resistividades aparentes de una tomografa hecha en

un subsuelo homogneo de 100ohm.m. 114
Figura 69. Fotografa de la lnea de estudio 115
Figura 70. Sedimentos de la terraza aluvio-coluvial ms joven 115

xiv
Figura 71. Sedimentos de la terraza aluvio-coluvial vieja. 115
Figura 72. Canto tamao bloque que aflora en las riveras del ro 115
Cerro Grande
xv
NDICE DE TABLAS
Tabla a. Costos de adquisicin. Gastos de personal y materiales

de suministro. 45
Tabla b. Costos de adquisicin. Servicios no personales. 46
Tabla c. Costos de adquisicin. Resumen por partidas

generales. 46
Tabla d. Planilla para registrar ordenadamente los datos que se

est almacenando en el GPS. 51
Tabla e. Modelo de hoja de campo para almacenar datos de

sondeos elctricos verticales. 51
Tabla f. Modelo de hoja de campo para la adquisicin de datos

de la tomografa elctrica 52
Tabla g. Formato de los datos del SEV tipo Schlumberger. 58
Tabla h. SEV Schlumberger. 67
Tabla i. Descripcin geoelctrica de la lnea de estudio. 83
Tabla j. Resistividad caracterstica de distintos materiales, Loke 85

(1999)
Capitulo I: INTRODUCCIN
1.1 Antecedentes
En la actualidad existen distintas prcticas tericas que alegan que la

ciencia esta en la era de promover la investigacin de los suelos a travs de
mtodos elctricos en zonas de relieve topogrfico, tal y como lo demuestra
Panagiotis l. Tsourlos en sus trabajos sintticos de investigacin en el ao 1999
quien, con modelado numrico ha logrado determinar tericamente las
proporciones en que una colina o un valle afecta el valor de la resistividad
aparente para alguno de los arreglos de electrodos ms comunes, de esta
manera al conocer con anterioridad el efecto de la topografa sobre la medida
de resistividad aparente es posible hacer una correccin por efecto de la
topografa, demostrando que en el ao 1999 e incluso desde mucho antes, hay
modelos matemticos que explican el fenmeno mencionado. Otros estudios
sintticos muestran que hay modelos matemticos que explican este fenmeno
y prcticas con software de modelado sinttico que aseguran que la
prospeccin geoelctrica sobre topografa relevante no es imposible y tampoco
es una limitacin para investigar a travs de mtodos elctricos la geometra
de las capas y los cuerpos bajo estos ambientes geolgicos.
Las capas del subsuelo del aluvin de Tanaguarena han sido descritas
con anterioridad en trminos de la velocidad de la onda P y la onda S siendo
una de las aproximaciones ms recientes las realizada por el Ing. Eduardo
Rodrguez en el ao 2001, donde se concluye que el abanico posee tres capas
con cambio de velocidad donde las dos primeras capas en la zona mas
meridional tienen 3 y 6 metros de espesor respectivamente. Tambin existen
algunos estudios anteriores sobre la zona, como el de Romero (2006) que
determina que: el nivel fretico se encuentro entre los 5 y 10 m de
profundidad.
2
U.S.B
1.2 Definicin del problema
Los recursos naturales que se pueden detectar con mtodos elctricos

como por ejemplo el agua y otros minerales de alta o baja conductividad, que
yacen bajo suelos de superficies planas han sido explotado durante muchas
dcadas, pero poco aquellos que se encuentran bajo el suelo de un pie de
monte o una sierra, precisamente por las limitaciones tecnolgicas a nivel de
cmputo y la falta de modelos matemticos que expliquen de forma lgica y
convincente lo que ocurre con la resistividad aparente medida en zonas de
declive.
Segn Orellana (1982) Cuando la topografa es relevante, se da por

entendido que la superficie donde estn posados los electrodos de un arreglo
no es plana ni horizontal, por lo que la inversin de estos datos pudiese
conllevar a errores en los espesores de sedimento estimados y no solo en esto
sino tambin en el valor de la resistividad verdadera asociada al sedimento,
para corregir estos efectos en aos anteriores se realizaba un procedimiento de
correccin topogrfica sobre la medida previa a la inversin, este mtodo no ha
sido descontinuado pero existen algoritmos que permiten incluir directamente la
topografa dentro de los datos de resistividad aparente, e invertir todo en
conjunto sin antes corregir los valores de resistividad aparente adquiridos en
campo.
Una vez dibujado los datos de campo como un mapa de contorno que
muestra una foto resistiva 2D o tomografa elctrica de un semiespacio
heterogneo, se puede observar una distribucin de resistividad en el plano
sondeado.
1.3 Justificacin
Las tomografas elctricas 2D son tiles en la actualidad en el campo de

la prospeccin geofsica, sustituyendo a los sondeos elctricos verticales y la
suposicin de que las capas son planas y horizontales por nuevos modelos de
comparacin bidimensionales capaces de incluir cambios horizontales bruscos
como intrusiones, cavernas y mineralizaciones anmalas. An y cuando la
3
U.S.B
prospeccin geoelctrica a dado pasos agigantados en cuanto a la precisin a
travs de los acelerados cmputos capaces de realizar los PC (personal
computer), este mbito en la investigacin del subsuelo con mtodos elctricos
sobre declive no se ha practicado en mayor proporcin, quiz porque los
modelos matemticos todava estn a prueba o por el costo de los equipos que
hacen una adquisicin rentable. Si bien ha sido problemtico realizar trabajos
de esta ndole en dcadas pasadas, ahora se pretende comenzar a explorar en
nuevos ambientes, pero antes es necesario realizar trabajos de prctica
relativamente econmicos que permitan en cierta forma poner a prueba las
nuevas herramientas de prospeccin elctrica como lo son los software de
inversin para la interpretacin sobre medidas de resistividad aparente
tomadas en terrenos y subsuelos conocidos y por su puesto con topografa
sencilla pero apta para la investigacin antes de trabajar en ambientes con
topografa y geologa mas compleja, esto cubriendo la responsabilidad
econmica que implica la exploracin de recursos.
Para dar un inicio en la prospeccin sobre relieve topogrfico dentro del

departamento de proyectos de INGEOMIN (Instituto Nacional de Geologa y
Minera) junto a la tutora del profesor Carlos Izarra del departamento de
geofsica de la Universidad Simn Bolvar se escogi el abanico aluvial de
Tanaguarena, Parroquia Caraballeda en el municipio Vargas del Estado
Vargas que geolgicamente no posee cambios bruscos de inclinacin
exceptundole perfil perpendicular al ro que es caracterstico de dos terrazas
en medio de un ro pero fuera de esto los aluviones no poseen valles ni crestas
ni farallones, en estas terrazas parte del terreno tiene pequeos desniveles
topogrficos, por lo tanto para rastrear cambios en la conductividad
(resistividad) de los sedimentos en esta zona es necesario usar un plan de
prospeccin que contemple la existencia de estos pequeos desniveles sin
incurrir en grandes errores; de la zona se conoce que el basamento pre-
mezosoico se encuentran a una profundidad no mayor de 50m, por encima del
mismo y en contacto disconforme estn los sedimentos ms resiente que
poseen espesores no mayores a 9 metros en la zona mas al sur de la cuenca
(Jos Rodrigues y Javier Snchez, 2001), la cual seria propiamente el rea de
estudio.
CAPITULO II. OBJETIVOS DEL ESTUDIO
Partiendo de la idea que los estudios geoelctricos sobre relieve no se haban

realizado porque se sabia que las leyes fsicas solo estudiaban el fenmeno de
propagacin de la corriente elctrica suponiendo una interfase suelo-atmsfera plana
y conociendo con anterioridad que hay nuevos mtodos matemticos programables
que pueden explicar el comportamiento del potencial generado por una fuente de
corriente aun y cuando el contorno entre la atmsfera y el suelo no sea una lnea a la
misma cota, se pretende conocer las diferencias que existen entre la inversin de
datos de resistividades aparentes que han sido adquiridos sobre una pendiente
cuando se supone que los mismos fueron adquiridos sobre un terreno plano o
cuando se supone el estado real de la superficie del terreno.
Basado en que los cambios topogrficos introducen ruido a los valores de

resistividad aparente se pretende conocer en el caso de la lnea de estudio cual sera
el resultado en los espesores de las zonas geoelctricas y magnitudes en las
resistividades reales si no se toma en cuenta la topografa y si se toma en cuenta la
misma, pues segn estudios tericos deberan observarse cambios notorios.
Objetivo General
Realizar la inversin bidimensional e interpretacin de las medidas de

resistividad aparente tomadas en un plano de 250m de longitud y que a su vez tiene
desniveles altimtricos en la superficie, tomados en el rea de Tanaguarena Estado
Vargas, Venezuela.
Objetivos especficos
Realizar una adquisicin de datos en 2D, en corriente continua con el arreglo

Dipolo-Dipolo en una lnea con desnivel topogrfico.
Realizar una adquisicin de datos en 2D, en corriente continua con el arreglo

tipo Wenner en la misma lnea donde se adquiri con el arreglo tipo Dipolo-Dipolo.
Realizar una adquisicin de datos 1D con sondeos elctricos verticales

especficamente arreglo tipo Schlumberger e invertir los datos con la teora
tradicional de inversin para sondeos elctricos, es decir, asumiendo capas planas
horizontales y con una interfase atmsfera suelo plana.
5
U.S.B
Invertir los datos 2D con RES2DINV utilizando el mode TOPOGRAFA acorde

con las opciones de inversin del software RES2DINV. Con topografa, es posible
utilizar tres formas distintas de inversin, la primera es con distorsin uniforme, la
segunda tiene la opcin de atenuacin exponencial en diferentes porcentajes y la
tercera consiste en utilizar la transformada inversa de Schwarth Christoffel (SC); se
utilizarn los tres mtodos para aprovechar este recurso de inversin.
Invertir los datos 2D con RES2DINV sin utilizar el mode TOPOGRAFIA, es

decir, suponiendo que los datos fueron tomados en una superficie plana.
6
U.S.B
CAPITULO III. DEFINICIONES DE INTERS
Resistividad: es una medida fsica designada como el inverso de la

conductividad y en cierta forma indica el grado de dificultad de un cuerpo para
trasmitir la electricidad.
Conductividad: es la propiedad que tienen los cuerpos de trasmitir el calor o la

electricidad.
Anisotropa: Cambio de las propiedades fsica acorde con la direccin.
Resistividad Aparente: resistividad adquirida con un dispositivo electrdico, en

un medio que no es homogneo.
SEV: Siglas que resumen el ttulo Sondeo Elctrico Vertical, el cual consiste en
determinar valores de potencial elctrico inducido bajo un mismo punto en el
subsuelo a distintas profundidades.
Heterogneo: que tiene diversos elementos.
Homogneo: que tiene un solo elemento.
Estratificacin: Disposicin de las capas en forma de estratos.
Corte geoelctrico: perfil de suelo generado con el mtodo SEV.
RES2DINV: software de inversin de datos bidimensionales, para estimar

resistividades verdaderas a partir de las resistividades aparentes tomadas en campo
con algn dispositivo electrdico.
Subespacio: Todo espacio que este por debajo del arreglo electrdico.
Nivel fretico: Nivel superior de la zona de saturacin del agua subterrnea en

las rocas permeables.
Tomografa elctrica: mapa de contornos que muestra una distribucin espacial,

lateral y en profundidad de la resistividad.
Altimetra: (De alti- y -metra). Parte de la topografa que trata de la medida de las
alturas.
7
U.S.B
Arreglo de electrodos: Disposicin o configuracin geomtrica en el espacio de un

conjunto de electrodos.
Electrodo: (Del fr. electrode, este del ingl. electrode, y este acrn. de electric,
elctrico). Fs. Extremo de un conductor en contacto con un medio, al que lleva o
del que recibe una corriente elctrica (www.rae.com 2007)
Aluvin: Es un sedimento que ha sido arrastrado por las lluvias o por corrientes y
que sufre un proceso de transporte y sedimentacin lejos del protolito, cuando el
mismo es depositado cerca de su protolito es denominado coluvin.
(www.rae.com 2007)
Abanico Aluvial: Es un terreno que se ha formado lentamente por desviaciones o

variaciones en el curso de un ro.
8
U.S.B
CAPITULO IV. MARCO TERICO
Antes de realizar prospeccin geoelctrica es fundamental el conocimiento de

los principios fsicos bsicos por los cuales se rigen los dispositivos utilizados para
realizar las mediciones, ya que debido a la ignorancia de los principios bsicos de
funcionamiento de los dispositivos geoelctricos y de las suposiciones fsicas que se
hacen para construir las ecuaciones matemticas que rigen los fenmenos fsicos en
la prospeccin geoelctrica, se tienden a cometer muchos errores en la utilizacin de
los dispositivos, trayendo como consecuencia la desconfianza en los mtodos de
prospeccin, catalogndolos como inseguros e ineficientes.
Las ecuaciones matemticas que explican el fenmeno fsico, en este caso la
respuesta del subsuelo ante un flujo de corriente es producto de suposiciones
ideales que no siempre se cumplen en la realidad pero que para poder simular
matemticamente estos fenmenos debemos suponerlas as de lo contrario el
problema seria matemticamente irresoluble; es decir; encontrar las soluciones al
sistema nos llevara mucho tiempo. Sin embargo a pesar de la simplificacin, el
problema matemticamente es muy difcil y solo se resuelven los que relativamente
son ms sencillos.
4.1 Conceptos Bsicos en la Prospeccin Geolelctrica
Campo Elctrico En Un Semiespacio Homogneo Producidos Por Una Corriente I
Condiciones: Subsuelo compuesto por un semiespacio homogneo de resistividad

(figura 1). Por encima de este semiespacio otro semiespacio cuya resistividad es
infinita, este semiespacio representar la atmsfera en nuestros caso de estudio.
9
U.S.B
Figura 1. Subsuelo homogneo de resistividad
Se inyecta corriente por un punto A en la superficie del subsuelo la cual regresar

por un punto B (figura 2)
Si el rgimen es estacionario Ia + Ib = 0.
Ia Ib
Figura 2. Circuito de emisin de corriente

10
U.S.B
Para explicar el fenmeno partiremos de las leyes de Maxwell para campos

electromagnticos.
xE=- / (1)
xH=J+D/ (2)
Para los regmenes estacionarios los cambios temporales son nulos por lo
tanto las ecuaciones anteriores se resumen en:
xE=0 (3)
xH=0 (4)
Considerando la ecuacin 32, se entiende que el campo elctrico E es

conservativo o irrotacional, por lo tanto deriva de un potencial escalar U cuya
relacin entre ambos es la que sigue:
(5)
E = U
Donde se incluye el signo por convencionalismos fsicos.
A su vez el campo E debe satisfacer la ley de Ohm en su forma reducida para

medios istropos.
(6)
J = E
La ecuacin anterior expresa que la densidad de corriente J en un punto, tiene

la misma direccin y sentido que el campo E en ese punto y es proporcional al
mismo en un factor de , este valor corresponde a la conductividad del subsuelo que
es el inverso de la resistividad.
11
U.S.B
En todos los puntos del semiespacio homogneo excitado por el flujo de

corriente se satisface la ecuacin de continuidad (7)
/= J (7) que se reduce a J=0 (8)
Combinando la ecuacin 7 con la ecuacin 6 se obtiene la ecuacin

diferencial fundamental de la prospeccin geoelctrica.
r r
J = (E ) = 0 (9)
Desarrollando esta ecuacin, usando las propiedades vectoriales necesarias y

la ecuacin 8 se obtiene lo siguiente:
r r r r r
(E ) = E + E = E U = E 2U
Y conociendo que dentro de cada zona la conductividad es uniforme = 0 se

llega a la conclusin de que el potencial U cumple con la ecuacin de Laplace:
2U = 0 (10)
El potencial satisface esta condicin en todo el espacio semiconductor, pero

no en los electrodos ni en la superficie de discontinuidad resistiva, que aparece en
otros casos.
Si nos imaginamos una superficie semiesfrica alrededor del electrodo A tal y

como se muestra en la figura 3 en cualquier punto de ella encontraremos el mismo
valor de la densidad de corriente J que est dirigida radialmente respecto del centro
A.
12
U.S.B
Figura 3. Electrodo puntual. Se muestra un electrodo

emitiendo corriente en un medio homogneo de resistividad
La integral de J sobre esta superficie semiesfrica ser igual a la intensidad

de la corriente I, por lo que si el radio es r entonces:
2r2J = I (11)
r
Utilizando la ecuacin 6 se sabe que el campo elctrico E tiene el siguiente
comportamiento:
r I I (12)
E = =
2 r 2
2 r 2
La ltima expresin es clara en expresarnos el campo elctrico como funcin de la

corriente I que pasa por el electrodo, la resistividad del subsuelo y la distancia r
desde el punto A.
13
U.S.B
Una unidad que puede medir el geofsico en superficie es la diferencia de

potencial U MN entre dos puntos M y N alejados del electrodo A; el cual guarda
r
relacin con el campo elctrico E , la resistividad del medio homogneo , la corriente
I y la distancia del punto al electrodo.
De la ecuacin 5 se deduce que la diferencia de potencial entre dos puntos M
y N (figura 4) esta dada por:
M
U M
N = E dl (13)
N
a
r
Figura 4. Dispositivo electrodito de tres electrodos
Entonces si r1 y r2 son las distancias respectivas a los electrodos M y N al

electrodo A, la diferencia de potencial entonces:
14
U.S.B
I 1 1
U NM =
2 r1 r 2 (14)
Resistividad Aparente
Hasta ahora hemos hablado de un semiespacio homogneo de resistividad .

Esta condicin rara vez se da en la naturaleza puesto que el subsuelo nunca consta
de capas homogneas. Adems cabe destacar que la homogeneidad lateral es
difcil de esperar, por lo tanto en la prospeccin geofsica se est en la obligacin de
trabajar bajo el concepto de resistividad aparente a el cual se explica a continuacin.
Consideremos en este caso un semiespacio homogneo de resistividad en
cuya superficie colocaremos un dispositivo electrdico ANM (figura 4).
El electrodo puntual A esta conectado a la batera o generador y el campo
elctrico que este produce ser estudiado por medio de los electrodos M y N que
estn conectados al voltmetro y as se mide la diferencia de potencia U MN que se
genera entre ellos. En este caso los tres electrodos deben estar perfectamente
alineados y el electrodo B que cierra el circuito se supone lo suficientemente alejado
para que no influya en los resultados del potencial entre los electrodos M y N.
Entonces si la distancia AM es igual a r y la distancia MN es a entonces la diferencia
de potencial que esperamos medir entre ambos viene dada por:
I 1 | 1
V = U MN =
2 r r + a (15)
15
U.S.B
Como en este caso se necesita resolver es el problema inverso a este; es

decir encontrar la resistividad del espacio homogneo entonces de la ecuacin
anterior se despeja el valor de que viene dada por la ecuacin 16:
r (r + a) V
= 2
a I (16)
Esta frmula puede utilizarse para medir la resistividad en un medio

homogneo, si se miden las magnitudes que estn en el segundo miembro.
En prrafos anteriores se explicaba que la tierra no es homognea,
considerando este aspecto no se puede decir que la resistividad es la resistividad
de un medio homogneo; consideremos un subsuelo como se observa en la figura 5,
si se efectan los parmetros pertinentes es decir se genera un campo elctrico con
corriente continua Ia y se mide el potencial en medio o fuera del circuito dependiendo
del arreglo que se est utilizando y recurrimos a la frmula anterior (16), entonces ya
no estaramos midiendo una resistividad del medio sino mas bien una resistividad
ficticia a. Que en general no es ni 1 ni 2 ni 3 sino que depender de las tres y de
las distancia r y a del arreglo de electrodos.
Como vemos esta resistividad ficticia a se obtiene aplicando a medios
heterogneos las frmulas matemticas que explica el fenmeno en medios
homogneos, pero es que de otra forma no se podra hacer el proceso de inversin
ya que las ecuaciones para medios heterogneos son extremadamente complicadas.
Esta variable experimental es la que se toma como base para la
interpretacin, siempre tomando en cuenta que parte de una suposicin que no
siempre se cumple.
La unidad de resistividad aparente a es ohmio-metro (-m).
16
U.S.B
AMP
1
2
3 a
4
Figura 5. Subsuelo Heterogneo.
4.2 Teora del funcionamiento de los dispositivos electrdicos
Los arreglos de electrodos usados comnmente son aquellos cuyos 4

electrodos AMNB se encuentran en este orden, sobre una misa recta. Cuando los
cuatro electrodos se disponen simtricamente respecto de un centro O, a estos
dispositivos se les llama dispositivo simtrico tal es el caso del dispositivo
schlumberger y el wenner. Sin embargo, tambin se usa la disposicin de electrodos
ABMN para simular un doble dipolo y con el cual tambin se puede estimar la
resistividad aparente; debido a la diferencia en la disposicin de los electrodos, los
arreglo tipo wenner y schlumberger tienden a resolver mejor objetivos horizontales
mientras que el arreglo dipolo-dipolo resuelve objetivos verticales.
Teniendo en cuenta que en los dispositivos simtricos la adicin del electrodo B
duplica la diferencia de potencial entre MN, entonces la expresin 16 para la
resistividad ser:
r (r + a) V
=
a I (17)
17
U.S.B
Dispositivo Slumberger
Este dispositivo electrdico lineal consiste en hacer la distancia a tan pequea

como sea posible (figura 6), es decir, a se hacer tender a cero. En la realidad esto
es difcil de lograr por cuestiones prcticas de medicin, sin embargo es posible su
simulacin.
Figura 6. Arreglo tipo schlumberger
Si se llama la distancia AO=BO=L la ecuacin 16 queda expresada como a

continuacin:
a 2 V
= L2
4 Ia (18)
Si se evala el lim de a cuando tiende a cero se notar que el segundo

miembro de la ecuacin 17 no tiende a cero debido a que el potencial V decrece al
mismo tiempo que a, por lo tanto:
r
2 a 2 V 2 E
a = lim a 0 L a = L
4 aI 2 (19)
18
U.S.B
Ya que el limite de V/a cuando a tiende a cero es el gradiente del potencial, o

sea el campo E.
Entonces se puede usar el dispositivo electrdico de Schlumberger siempre y
cuando se tenga en cuenta que se esta suponiendo esta ecuacin como cierta, si a
es lo suficientemente pequeo y que el campo E es igual a V/a. Es decir que en las
observaciones de campo el valor de la resistividad aparente ser igual a:
V (20)
a = L2
Ia
Para que esta ecuacin sea vlida en los estudios de campo se debe hacer la
distancia a por lo menos la quinta parte de la distancia AB.
En resumen el dispositivo Schlumberger es un dispositivo simtrico en el que
la distancia MN es muy pequea.
Si se coloca el electrodo B lo suficientemente alejado del electrodo A tal que
no influya en el potencial medido entre las distancias MN. Se tiene de esta manera el
dispositivo Schlumberger asimtrico, cuyo valor para la resistividad aparente vendr
dado por:
V (21)
a = L2
Ia
Dispositivo Wenner
Este dispositivo electrdico consiste en hacer la distancia r1 igual a la

distancia a, es decir que en la lnea los electrodos AMNB estn equidistantes entre si
(figura 7).
19
U.S.B
Figura 7. Arreglo tipo Wenner.
Por lo que la ecuacin 16 queda expresada como:

V (22)
= 2a
Ia
Dispositivo Dipolo-Dipolo
Es un dispositivo donde el orden del arreglo lineal de los electrodos es ABMN,

formando as un doble dipolo (figura 8).
Figura 8. Arreglo tipo dipolo-dipolo

20
U.S.B
Este dispositivo se usa comnmente con n >>1 y el factor geomtrico g del

mismo viene dado por:
g = n(n + 1)(n + 2)a(22) (23)
Por lo que la resistividad aparente viene dada por:
V (24)
= n(n + 1)(n + 2 )a
Ia
El valor del potencial que se observa en cada uno de los tres dispositivos
mencionados y con el que se calcula la resistividad aparente es producto de la
interaccin del flujo de corriente con el suelo y del arreglo de electrodos.
4.3 Teora de la adquisicin de una tomografa elctrica.
La tomografa elctrica es un mapa de contornos de datos geoelctricos, que

se adquieren con un mtodo elctrico que permite la adquisicin de valores de
resistividad aparente en dos (2) dimensiones utilizando los dispositivos de electrodos
ms comunes, conocidos en el rea de los mtodos de prospeccin elctrica del
subsuelo como Schlumberger, Wenner y Dipolo-Dipolo. La teora del Funcionamiento
de los Dispositivos Elctrodicos (apartado 4.2 de este trabajo), muestra como los
sondeos elctricos obtienen datos de resistividad aparente bajo un punto de la
superficie de estudio y como con cada medida se adquieren datos a mayor
profundidad (figura 9). Los datos proporcionados por este mtodo estn distribuidos
de manera vertical, por lo que se desconoce la informacin existentes en los
laterales al punto sondeado; con las mediciones realizadas con una tomografa
elctrica, se amplia la cantidad de informacin obtenida, ya que no solo se toma
datos bajo este punto sino que adems permite tener medidas laterales al mismo
(Ver figura 10).
21
U.S.B
Figura 9. Distribucin
de medidas en SEV.
En los sondeos
elctricos se toman los
datos de resistividad
aparente en
profundidad,
Figura 10. Distribucin de medidas
en tomografas.
Las tomografas elctricas tienen una
amplia distribucin de los datos.
La metodologa de campo utilizada para tomar los datos de resistividad

aparente en una tomografa con los arreglos Wenner, Schlumberger o dipolo-dipolo
tienen en comn, que el espaciamiento entre cada electrodo es constante; y se
diferencian en la manera en que va cambiando de posicin los electrodos de
corriente C1 y C2 y de potencial P1 y P2.
Tomografa elctrica con arreglo tipo Wenner
Una tomografa con el dispositivo Wenner con un nmero total de N=25

electrodos, que es la cantidad mnima de electrodos recomendada segn, se colocan
cada uno de ellos a lo largo de la lnea de estudio a una distancia a de separacin
entre ellos; para realizar las medidas en el primer nivel (n=1) se utilizan los primeros
cuatro (4) electrodos donde los electrodos 1 y 4 son los de corriente y los electrodos
2 y 3 son los de potencial (figura 11.a), para la medida nmero 2 del nivel 1 se
utilizan los electrodos 2,3,4 y 5 donde los electrodos 2 y 5 son los de corriente y los
22
U.S.B
electrodos 3 y 4 son los de potencial y as sucesivamente hasta culminar las

mediciones del nivel 1, en total sern 22 medidas para este nivel utilizando el
dispositivo wenner. Para realizar las mediciones a lo largo de la lnea de estudio en
el nivel 2 (n=2), se utilizan los electrodos 1, 3, 5 y 7 donde los electrodos de corriente
son el 1 y el 7 y los de potencial P1 y P2 son lo electrodos 3 y 5, ntese que en este
caso la separacin entre C1 - P1, P1 - P2 y P2 - C1 es na en este caso 2a (figura
11.b), se repite el mismo procedimiento hasta llegar al n deseado.
a)
b)
Figura 11. a) mediciones del nivel 1 con arreglo tipo wenner. b) mediciones del
nivel 2.
23
U.S.B
a)
b)
Figura 12. a) niveles de la tomografa tipo Schlumberger. b) Rastreo

horizontal y vertical respecto de la posicin de los electrodos
Tomografa elctrica con arreglo tipo Schlumberger (Wenner-Schlumberger)
Existe una variante en la adquisicin de la tomografa elctrica donde se

fusionan los dispositivos Wenner y schlumberger, y la cual tiene por nombre Wenner-
Schlumberger, la misma se explica a continuacin.
La metodologa de adquisicin es idntica que la explicada para el dispositivo
Wenner pero en este caso el factor na es la distancia entre los electrodos C1 y P1 o
P2 y C2, para este tipo de adquisicin el arreglo Schlumberger se transforma en un
Wenner para el caso n=1. En la figura 12 se muestra como serian las medidas para
n=1, n=2, n=3 y n=4, adems del rastreo horizontal y vertical para una tomografa de
este tipo.
24
U.S.B
Tomografa elctrica con arreglo tipo dipolo-dipolo
Para realizar una tomografa elctrica con el arreglo dipolo-dipolo se colocan

todos los electrodos necesarios equidistantes a lo largo de la lnea de estudio y se
procede a realizar las mediciones de resistividad aparente; existen dos formas de
realizar las mediciones de tomografa elctrica con este dispositivo, una es por
niveles tal y como se ejemplific para el dispositivo Wenner y la otra es
profundizando y no midiendo a un solo nivel o a una misma profundidad. En la
primera forma los electrodos 1 y 2 son los electrodos de corriente C1 y C2 y los
electrodos 3 y 4 son los de potencial P1 y P2 en este caso la separacin entre C2 y
P1 es na=a con n=1, la segunda medida para este nivel consiste en utilizar los
electrodos 2,3,4 y 5 donde los electrodos 2 y 3 son los de corriente C1 y C2 y los
electrodos 4 y 5 son los de potencial P1 y P2 mantenindose constante la distancia
C2 y P1, notese que lo que se ha hecho es realizar la medida a a metros a la
derecha del primer punto, para realizar la medida en nivel 2 (n=2) se utilizan los
electrodos 1 y 2 como electrodos de corriente C1 y C2 y los electrodos 4 y 5 como
los de potencial P1 y P2 mientras que la separacin entre C2 y P1 se incrementa a
2a asegurando as que se esta midiendo a mayor profundidad. Este procedimiento
se repite hasta llegar al nivel n=6 n=7 (figura 13).
Figura 13. Modelo 1 de adquisicin de datos con el dispositivo Dipolo-Dipolo

25
U.S.B
En la segunda forma de adquisicin se mantienen fijos los electrodos de

corriente y se van moviendo los electrodos de potencial hasta alcanzar los niveles de
medicin que se desean ; por ejemplo si en una adquisicin se desea llegar a un
mximo de 6 niveles, en las primeras 6 mediciones los electrodos de corriente C1 y
C2 sern el 1 y 2 mientras que los electrodos de potencial P1 y P2 sern para la
primera medida el 3 y 4, para la segunda 4 y 5, para la tercera 5 y 6 y as hasta
realizar la sexta medicin ( figura 13). En las prximas mediciones de la 7ma
(sptima) a la 12va (doceava) los electrodos de corriente C1 y C2 sern los
electrodos 2 y 3 mientras que los de potencial P1 y P2 en la medida N 7 sern los
electrodos 4 y 5, en la 8 (octava) sern los electrodos 5 y 6 y as sucesivamente.
Figura 14. Modelo 2 de adquisicin de datos con el dispositivo dipolo-dipolo

26
U.S.B
4.4 Teora Bsica de Inversin

Un modelo en la teora bsica de la inversin es una representacin
matemtica idealizada de una seccin de la tierra, este modelo tiene parmetros a
los que se le llamarn parmetros del modelo, que son cantidades fsicas que se
obtienen de los datos observados en pruebas de laboratorio a muestras de mano o
ncleos.
Del modelo idealizado se pueden obtener respuestas cuando a travs del
mismo se simula la propagacin de un campo o una onda, estas son datos sintticos
que pueden ser calculados a travs de relaciones matemticas, para as definir este
modelo con parmetros que se llamarn parmetros calculados. En prospeccin
geoelectrica 2D los parmetros calculados vienen dados por el mtodo de clculo de
las diferencias finitas y/o elementos finitos aplicado al modelo de parmetros .
Sobre una seccin real del subsuelo donde se propaga un campo o una onda,
se obtienen a travs de distintos instrumentos o dispositivos un conjunto de
mediciones a las que se les llamarn parmetros medidos, estos parmetros fsicos
son estimados mediante ecuaciones que explican el fenmeno de propagacin.
Todo mtodo de inversin procura determinar un modelo idealizado de
subsuelo que este de acuerdo con los parmetros medidos y que est sujeto a
ciertas restricciones.
En el mtodo de inversin en dos dimensiones utilizado por el programa
RES2DINV los parmetros medidos son las resistividades aparentes, los parmetros
calculados son las resistividades calculadas por el software a travs de los
elementos finitos y el modelo de resistividades reales producto de la inversin son
los parmetros del modelo, el cual se acercar a la seccin real del suelo en la
medida en que los parmetros medidos y los calculados se asemejen.
La relacin matemtica que determina la diferencia entre los parmetros
medidos y los calculados viene dada por la aproximacin a mnimos cuadrados.
27
U.S.B
En el tutorial del Dr, Loke (1996-2004) explica la teora bsica de la inversin

de la siguiente manera: Si se tiene un conjunto de datos observados y (parmetros
medidos).
y= col (y1,y2,....,ym) (25)
donde m es el nmero de medidas. Cada dato yj tiene una varianza j.
El modelo de respuesta f (parmetros calculados) puede ser escrita como:

f= col(f1,f2,.....,fm) (26)
Estos parmetros surgen de aplicar una funcional sobre los parmetros del
modelado q, este problema se resuelve a travs de mtodos numricos entre los
cuales esta el mtodo de los elementos fintos ideal para resolver el problema directo
an y cuando existe la topografa.
En los modelos de resistividad es comn usar el logaritmo tanto de la

resistividad aparente de los datos observados y de las respuestas del modelo, y el
logaritmo de los valores del modelo como lo es en este caso. Los parmetros de
modelado pueden ser representados por el siguiente vector:
q= col (q1,q2,.....,qn) (27)
donde n es el nmero de parmetros.
La diferencia entre los datos observados y los datos de las respuestas

modeladas se da por un vector de discrepancia g que se define como:
g= y-f (28)
en el mtodo de optimizacin por mnimos cuadrados.

28
U.S.B
El modelo inicial q es modificado de tal forma que la suma de los errores al

cuadrado E de la diferencia entre la respuesta modelada f y los datos observados
y sea mnima.
n n (29)
E = g T g = g i2 = ( yi f i ) 2
i =1 i =1
i =n
( yi f i ) 2
2 =
i =1 i2 (29.1)
1
RMS = 2
N (29.2)
El ajuste por mnimos cuadrados resulta ser un estimador de verosimilitud.

A su vez el error RMS donde N es el nmero total de mediciones, tambin
representa la bondad del ajuste para alguno de los modelos de resistividades reales.
Para reducir el valor del error, se usa la ecuacin de Gauss-Newton para
determinar el cambio en el modelo de parmetros que se reduciran a la suma de los
errores al cuadrado (Lines y Treitel 1984)
J T Jqi = J T g (30)
Donde q es el cambio en el vector de los modelos parmetros, y J es la

matriz de Jacobiano de las derivadas parciales. Los elementos en la matriz de
Jacobiano vienen dado por:
f i (31)
J ij =
q j
29
U.S.B
Tal que Jij el cambio en el i-simo modelo de respuestas debido al cambio en

el j-simo modelo de parmetros. Una vez obtenido el vector de cambios en los
parmetros es posible obtener un nuevo modelo dado por:
qk+1 = qk+qk . (32)
Este proceso se repite con cada iteracin, hasta que el usuario lo desee o
hasta que el error cuadrtico vare en menos del 10 por ciento de la iteracin
anterior.
30
U.S.B
CAPITULO V. LA TOPOGRAFA EN LA INVERSIN
En adquisicin de datos geoelctricos sobre reas con cambios significativos

en la elevacin de la superficie del terreno, los efectos de la topografa deben ser
tomados en cuenta cuando se lleva a cabo una inversin del conjunto de datos
adquiridos.
Segn Tong y Yang (1990): el uso de los factores de correccin para un
modelo de subsuelo homogneo no da resultados lo suficientemente precisos si hay
grandes variaciones de la resistividad cerca de la superficie, por ejemplo en
ambientes de carbonatos cubiertos de arcillas ocurre una naturaleza muy
heterognea de gran contraste de resistividad entre las arcillas y los carbonatos de
calcio, aunque de por si las rocas de grano fino tamao limo representan un
problema para los mtodos elctricos, cuando los mismos estn en la superficie y
combinados con materiales altamente resistivos dejando un contraste de casi 10:1
no es recomendable el uso de factores de correccin porque los resultados
obtenidos sern poco precisos, sin embargo en ambientes que no presentan las
condiciones antes mencionadas es posible que el mtodo arroje resultados
confiables.
No solo existe la posibilidad de corregir datos de resistividad aparente que
presenten modificacin por efecto de la topografa, con el mtodo de modelado de
subsuelo homogneo, tambin se puede utilizar el mtodo de modelado de inversin
con topografa, que incorpora directamente los datos de altimetra del terreno dentro
de la subrutina de inversin, esto es mucho ms difcil desde el punto de vista de
programacin (Panagiotis, 1999) pero proporciona resultados ms confiables, el
mtodo de inversin con topografa se ha convertido en la actualidad en el ms
utilizado por estar incluido en varios software de inversin muy comerciales.
Para realizar el procedimiento de inversin en 2D con topografa que permite
determinar las resistividades verdaderas del suelo que est en estudio, es necesario
resolver el problema directo, que consiste en calcular los valores de resistividad
aparente resultante para un modelo de resistividades verdaderas conocidas, para
luego comparar los primeros con los valores de resistividad aparente medidos. Para
resolver el problema en presencia de topografa se utiliza en la resolucin del
problema directo el mtodo de clculo conocido como Elemento Finito.
31
U.S.B
5.1 Mtodo de elementos finitos
En la actualidad el mtodo de elemento finitos y el mtodo de las diferencias

finitas son los ms usados para realizar el modelado directo como subrutina dentro
del procesos de inversin pero de estos dos es el mtodo de los elementos finitos el
que se ha destacado por ser el que mejor resuelve la inversin de los datos cuando
los mismos fueron tomados sobre una zona con desniveles topogrficos (Burden,
Faires,1997), ya que en este mtodo de clculo las condiciones de contorno quedan
incorporadas como integrales en la funcional que se requiere minimizar mientras que
en la resolucin por diferencias finitas presenta inconvenientes en el momento de
incluir contornos irregulares. De esta manera el procedimiento de construccin del
mtodo de Elementos Finitos resulta ser independiente de las condiciones de borde
del problema particular (Fazzito Sabrina, Ciencias fisicas 2004).
El objetivo del siguiente mtodo es resolver una ecuacin en derivadas
parciales de la conductividad y el potencial, con la densidad de corriente como
fuente. A continuacin se describe el problema numrico (modificado de Fazzito
Sabrina, Ciencias fsicas 2004) para el caso ms general en que se tiene una
ecuacin diferencial de la siguiente forma:
u u (33)
p( x, y ) + q ( x, y ) + r ( x, y )u ( x, y ) = f ( x, y )
x x y y
Los puntos (x,y) pertenecen a S una regin plana del contorno L. Sobre una
porcin L1 del borde se impone una condicin de la forma u(x,y)=g(x,y) y sobre la
otra, L2, la solucin u(x,y) que debe satisfacer viene dada por:
u u (34)
p ( x, y ) cos 1 + q ( x, y ) cos 2 + g1 ( x, y )u ( x, y ) = g 2 ( x, y )
x dy
donde 1 y 2 son los ngulos directores de la normal a la superficie en el punto (x,y).

Bajo las condiciones de que p,q,r y f sean continuas en G U L, p y q tienen primeras
32
U.S.B
derivadas parciales continuas, g1 y g2 son continuas en S2 y que p(x,y) > 0, q(x,y)>

0, r(x,y) 0 y g1(x,y)>0, se tiene que la solucin a la ecuacin anterior se obtiene si
se minimiza la funcional:
1
2

2
(35)
I [ ] = p ( x, y ) + q ( x , y )
dy r ( x , y ) 2
+ f ( x , y ) dxdy

G 2
x
1
+ g 2 ( x, y ) + g1( x, y ) 2 dG
L2
2
La regin debe ser dividida en un nmero finito de secciones, o elementos de

forma regular, tales como rectngulos o tringulos (Figura 15).
El conjunto de funciones elegidas para hacer la aproximacin es el de

polinomios a trozo de grado fijo en x e y que pueden ser unidos de manera tal que la
funcin resultante sea continua con una derivada de primer o segundo orden
integrable o continua en la regin entera. En general, con elementos triangulares, se
utilizan polinomios lineales en x y en y:
( x, y ) = a + bx + cy (36)
y para los elementos rectangulares suelen ser bilineales:
( x, y ) = a + bx + cy + dxy (37)
por simplicidad se supondr que G esta dividida en elementos triangulares (figura

15). Los vrtices del triangulo se denominan nodos. El mtodo busca una
aproximacin de la forma:
m (38)
( x, y ) = ii ( x, y ),
i =1
33
U.S.B
Normal
2
Figura 15. Superficie discretizada.

Discretizacin de la superficie G con su respectivo contorno
L y representacin de la normal en una porcin plana S
del contorno L1.
donde i son polinomios lineales a trozos y i son constante. Algunas de estas

constantes n+1, n+2, n, son utilizadas para que se satisfaga la condicin de
contorno (x,y)=g(x,y) en S1. Las constantes restantes 1, 2, ..., n son utilizadas para
minimizar la funcional I.
La funcional queda de la forma:

34
U.S.B
m (39)
I [ ] = I i i ( x , y )
i =1
i ( x, y )
2
i ( x, y )
2
m m
p ( x, y ) i + q ( x, y ) i
1 i =1 x i =1 y
2
2
m
r ( x, y ) ii ( x, y )
i =1
I [ ] =
G m

+ f ( x , y ) ( x , y )

i =1
i i

m
1 m
2
+ g 2 ( x, y ) ii ( x, y ) + g1 ( x, y ) ii ( x, y ) dL
L2
i =1 2 i =1
La condicin de mnimo para la funcional I como funcin de las variables 1,

2, ..., n es:
I j = 1,2,..., n. (40)
=0
i
El resultado de derivar la ecuacin (anterior) es:
m
i ( x, y ) j ( x, y ) m
i ( x, y ) j ( x, y ) (41)
I

p ( x , y ) i
x x
+ q ( x , y ) i
y y

= i =1 i =1
dxdy
i G m
r ( x, y ) ( x, y ) ( x, y ) + f ( x, y ) ( x, y )

i =1
i i j j

m

+ g 2 ( x, y ) j ( x, y + g1 ( x, y ) ii ( x, y ) j ( x, y )dL,
L2
i =1
Por lo que para cada j=1,2,...,n valdra:

35
U.S.B
i ( x, y ) j ( x, y ) ( x, y ) j ( x, y ) (42)
p ( x, y ) + q ( x, y ) i
m x x y y
0 = r ( x, y )i ( x, y ) j ( x, y )dxdy i
G
i =1
+ g1 ( x, y )i ( x, y ) j ( x, y )dS
L 2
+ f ( x, y ) j ( x, y )dxdy g 2 ( x, y ) j ( x, y )dL
G L2
Este conjunto de ecuaciones se puede escribir como un sistema lineal:

Ac=b, (43)
donde c= (n+1, n+2, ...., n), A=(ij) y b=(1, 2, ..., n)T si se define:
i ( x, y ) j ( x, y ) m
( x, y ) j ( x, y ) (44)
p ( x , y )
x x
+ q ( x , y ) i i
y y

ij =
i
i =1
G
r ( x, y ) ( x, y ) ( x, y ) dxdy + g ( x, y ) ( x, y ) ( x, y )dS
i j L 2 1 i i j

Para i=1,2, ..., n y j= 1,2,..., m
m (45)
i = f ( x, y )i ( x, y )j ( x, y )dxdy + g 2 ( x, y )i ( x, y )
G

K = n +1
ij k
En el caso particular de la prospeccin geoelctrica, la ecuacin diferencial

que gobierna el potencial en la teora elctrica, que es descrito por la ecuacin que
se obtiene de la ley de Ohm; la misma describe el flujo de corriente directa en un
medio no uniforme que contiene una fuente de corriente:
1 (46)
. = j
( x, y , z )
36
U.S.B
donde es la resistividad de la corriente, es el potencial elctrico y j es la fuente de

corriente elctrica. La integral variacional que se deriva de esta ltima ecuacin es:
1 (47)
= ( ) 2 2 j d
( x, y , z )
La solucin a la ecuacin 46 corresponde a la funcin que hace la integral

estacionaria. Para regiones sin topografa, todas las interfaces entre las distintas
regiones son verticales u horizontales. En el caso que exista topografa, son las
coordenadas verticales las que varan para adaptarse al relieve, para lograrlo la
regin de inters en dos dimensiones se divide en rectngulos y el potencial se
aproxima en cada elemento por un polinomio lineal que se define utilizando los
valores en los nodos de . Sustituyendo el polinomio lineal en la ecuacin 46 e
integrando en la superficie del elemento, a una integral que es independiente de los
valores de . De esta manera la integral total se obtiene imponiendo la anulacin
de la primera derivada de respectos de los puntos nodales. Esto finalmente lleva a
la ecuacin matricial de los elementos finitos:
u = s , (48)
Donde es una matriz de un sistema de bandas, u es un vector de las soluciones

desconocidas de los potenciales en todos los nodos y s figura la fuente.
De esta manera se puede calcular los parmetros calculados de un modelo

idealizado propuesto, una vez calculado dichos parmetros se calcula la diferencia
entre los parmetros medidos y los calculados. Este proceso es iterativo hasta que
los resultados sean satisfactorios para el interpretador o hasta que el error cuadrtico
no vare significativamente.
37
U.S.B
5.2 RES2DINV y topografa
El programa RES2DINV adems de permitir invertir con topografa los datos

bidimensionales de resistividad aparente ya que puede resolver el problema directo
por el mtodo de elementos finitos, tambin tiene tres mtodos diferentes que
pueden ser usados para incorporar la topografa dentro del modelo de inversin
(Loke 2000).
Los tres mtodos son similares en que ellos usan una red distorsionadas de
elementos finitos. En todos estos mtodos, los nodos de la superficie son subidos o
bajados tal que ellos coincidan con la topografa actual. En este caso, la topografa
llega a ser parte de la red y es automticamente incorporada dentro del modelo de
inversin. La diferencia entre estos tres mtodos es la manera en como son
cambiados los nodos en el subsuelo. La aproximacin ms simple, usada por el
primer mtodo de los elementos finitos, es cambiar todos los nodos del subsuelo a lo
largo de la misma lnea vertical en la misma proporcin en que fueron cambiados los
nodos en la superficie. Esto es probablemente aceptable para casos donde la
variacin topogrfica va de pequea a moderada (figura 16a).
En la segunda aproximacin la cantidad en que los nodos del subespacio bajo
la superficie son cambiados es reducido de manera exponencial con la profundidad
tal que a una profundidad lo suficientemente grande los nodos no son cambiados.
Esto viene de la observacin de que los efectos de la topografa son reducidos o
atenuados con la profundidad, esto produce una seccin ms aceptable que el
primer mtodo de los elementos finitos en que cada curvatura de la topografa de la
superficie no es reproducida en todas las capas. Para un conjunto de datos donde la
topografa tiene una curvatura moderada, este es probablemente buen y simple
mtodo (figura16b). Una desventaja de este mtodo es que algunas veces produce
espesores inusuales de las capas donde la topografa se curva hacia arriba.
38
U.S.B
En el tercer mtodo, la transformada inversa de Schwartz-Christoffel (Spiegel

et al. 1980) es usada para calcular la cantidad de cambios en los nodos del
subespacio bajo la superficie (Loke 2000). A partir de que este mtodo toma en
cuenta la curvatura de la topografa de la superficie este puede, para ciertos casos,
evitar algunos de los errores del segundo mtodo de los elementos finitos y
produce un modelo de la seccin que luce ms natural (figura 16c).
16a. Distorsin uniforme
16b. Distorsin con atenuacin

exponencial con la profundidad
16c. Transformada inversa de

schwartz Christoffel
Figura 16. Los tres tipos de inversin con topogrfica del software RES2DINV
39
U.S.B
CAPITULO VI. REA DE ESTUDIO
6.1 Localizacin Geogrfica
La lnea de estudio est ubicada a 1,22 kilmetros de la costa del mar Caribe
en la ribera este del ro Cerro Grande, de la parte mas al sur del abanico aluvial de
Tanaguarena ubicado en la ladera norte del Cerro El vila, perteneciente al sistema
de la cordillera de la costa en Venezuela (figura 17).
a)
Lnea de Estudio
1,22 Km. aprox.
Mar Caribe
b) Tomado y modificado de Google Earth
Tanaguarena
Figura 17. Localizacin geogrfica.

a) Vista en planta del abanico de Tanaguarena. b) Ampliacin de la figura 18.
40
U.S.B
Figura 18.Mapa hipsomtrico de Venezuela.

Tomado de http://www.biosferaca.com/VNZ/IMG3/relieve_b.jpg
Situacin Astronmica
La situacin astronmica de la lnea de estudio es la siguiente:

Latitud 10365,38N
Longitud 664914,81W
41
U.S.B
Situacin Relativa
Ubicada al noreste de caracas, a 25Km al este del aeropuerto internacional de

Maiqueta (figura 19), al lado de la parroquia Caraballeda.
Figura 19. Ubicacin

relativa de la lnea de
estudio.
Tomado de Google earth
Lnea de estudio
42
U.S.B
6.2 Marco Geolgico
El abanico aluvial se ha alimentado desde su formacin de los sedimentos

provenientes del macizo del vila, localizado al norte de Caracas. Este esta
constituido en su totalidad por las formaciones Pea de Mora y los Esquistos de San
Julin (Urbani y Ostos, 1989).
Debido a problemas que surgieron por las posibles relaciones la Formacin
Pea de Mora y los Esquistos de San Julin Urbani y Ostos (1989) propusieron
asignar a dicho macizo el nombre de Complejo vila, para as poder incluir los
gneises granticos y esquistos que afloran en la faja central del macizo de la
cordillera de la costa.
Es muy posible que los afloramientos ms representativos de este complejo sean los
que se ubican en las adyacencias de los causes de los ros San Julin en los corales
y ro Cerro Grande en Tanaguarena.
Las rocas del complejo vila se extienden como una faja ininterrumpida que
va desde el Cabo Codera en el Estado Miranda, hasta las montaas al norte de
Maracay y Valencia.
Las litologas ms resaltantes de esta zona estn conformadas por gneis granticos y
esquistos.
Augengneis de Pea de Mora
La localidad tipo se ubica en Pea de Mora, un tramo de la carretera vieja de

Caracas-LA Guaira.
En general esta unidad esta constituida por augengneis grueso a medio y
gneis grueso a fino, que en su mayora tienen una composicin grantica a
granodiortica, as como abundantes vetas de cuarzo y lentes de mrmol en la parte
superior del gneis. Una muestra tpica del augengneis consiste de cuarzo y
feldespato en un 75% con moscovita, biotita, epidoto, clorita, granata, pirita y titanita
en menor proporcin.
Los contactos con el esquisto de San Julin, si bien usualmente son abruptos,
en muchas ocasiones son gradaciones con intercalaciones de ambos tipos de
litologas.
43
U.S.B
Esquisto de San Julin
Esta unidad recibe el nombre de su localidad tipo que se encuentra en la

quebrada de San Julin, al sur de Caraballeda.
La litologa mas frecuentemente encontrada es el esquisto cuarzo-
plagioclsico-micceo que a veces pasa en forma degradada a una granulometra
ms gruesa adquiriendo un carcter gnisico. Litologas minoritarias al 10% son
mrmol, cuarcita, anfibolita, diorita, granodiorita y gabro.
El esquisto es de color gris oscuro con tonalidades verdes, meteoriza a tonos
pardos y estao muy bien foliado.
Estos esquistos son vulnerables a la meteorizacin qumica y por ende
propensos a deslizarse en laderas de mediana y alta pendiente.
Geologa de superficie en el aluvin
Con geologa de superficie es posible distinguir a las riveras del ro Cerro

Grande la primera capa de sedimento compuestas por grandes cantos incrustados
mal escogidos en una matriz de grava lo que se llama comnmente como
conglomerado, tpico de un flujo torrencial, la mayora de los cantos de mas de dos
metros de dimetros presenta las mismas caractersticas del esquisto de San Julin.
Esta capa se puede subdividir en 2 capaz de edades diferentes, ambas son
terrazas aluviocoluviales formadas por la aportacin de los sedimentos trasportados
por el ro, por los cantos rodados por la gravedad y por los procesos erosivos que
sufre el complejo el vila.
44
U.S.B
CAPITULO VII. MARCO METODOLGICO.
7.1 Procedimiento administrativo

En vista de que el presente proyecto fue realizado bajo la tutora de la U.S.B. e
INGEOMIN, se desarroll una labor administrativa y logstica previa al trabajo de
campo para garantizar la buena ejecucin del proyecto a travs de un equipo
humano que pudiese cumplir con las actividades requeridas durante el trabajo de
campo, y de equipos operativos en ptimas condiciones que permitieran tomar las
mediciones de una manera rpida, eficaz y con el mnimo error o incertidumbre.
En busca de facilitar la labor del equipo de trabajo y para cubrir los gastos
requeridos por el mismo, se realiz una estimacin de gastos necesarios para la
ejecucin del proyecto, que permiti calcular el presupuesto requerido por los entes
administrativos de INGEOMIN, el costo fundamental de la fase de Geofsica de
campo se resume en un total de 2.231.240,00 millones (tabla a, b y c).
Posterior al clculo del presupuesto se procedi a la revisin de los equipos
elctricos, para conocer el estado actual que presentaban, garantizar su alcance y
buen funcionamiento; una vez terminada la revisin y habiendo evaluado todos los
equipos, se solicit ante el Departamento de Proyectos de INGEOMIN la reparacin
de la fuente de poder, por ser esta el nico equipo que presentaba falla operativa.
Antes de iniciar las labores de campo se realiz una visita de reconocimiento
a las posibles reas de estudio entre las que se encontraban Caraballeda, Naiquat
y Tanaguarena, se seleccion el Abanico Aluvial de Tanaguarena; una vez
seleccionada el rea especifica de estudio, se inicio una visita de reconocimiento
ms amplia que comprenda ubicar las vas de acceso al rea, la ubicacin de los
principales servicios, como hospitales y posadas, adems de iniciar una
comunicacin directa con las comunidades aledaas al rea de estudio y ubicar la
lnea con desnivel topogrfico sobre la cual se adquiriran los datos.
45
U.S.B
GASTOS DE PERSONAL
SALARIO DIAS
CARGO N INTEGRAL DIARIO LABORADOS MONTO Bs.
Obreros 5 30,000.00 9 1350000
TOTAL 1,350,000.00
SUB-TOTAL DE GASTOS DE PERSONAL 1,350,000.00
MATERIALES Y SUMINISTROS
ALIMENTOS Y BEBIDAS PARA PERSONAS

UNIDADES TIEMPO DE
DESCRIPCION DIARIAS COSTO UNIDAD USO MONTO Bs.
Agua lts 10 1,500.00 9 135,000.00
Hielo (bolsas) 2 2,500.00 9 5,000.00
TOTAL 140,000.00
COMBUSTIBLES Y LUBRICANTES
TIEMPO DE
DESCRIPCION UNIDADES COSTO UNIDAD USO MONTO Bs.
Lubricantes 2 10,000.00 20,000.00
Bujias 1 25,000.00 25,000.00
Combustible Lts 1320 95.00 6 125,400.00
TOTAL 170,400.00
PRODUCTOS DE SEGURIDAD EN EL TRABAJO

TIEMPO DE
Guantes de carnasa 10 6,000.00 60,000.00
Machete 2 10,000.00 20,000.00
Equipo de primeros auxilios 1 75,000.00 75,000.00
TOTAL 155,000.00
OTROS PRODUCTOS Y UTILES DIVERSOS

TIEMPO DE
Teipe para uso elctrico 2 15,000.00 30,000.00
Bateras AAA 12 2,000.00 24,000.00
Bateras AA 12 2,000.00 24,000.00
Cinta Mtrica 1 60,000.00 60,000.00
TOTAL 138,000.00
SUB-TOTAL DE MATERIALES Y SUMINISTROS 603,400.00
Tabla a: Costos de adquisicin. Gastos de personal y materiales de suministro.

46
U.S.B
SERVICIOS NO PERSONALES
IMPRENTA Y REPRODUCCIN
TIEMPO DE
DESCRIPCIN UNIDADES COSTO UNIDAD USO MONTO Bs.
Copias de Mapas
topogrficos, de vas
carreteras, geolgicos. 3 25,000.00 75,000.00
TOTAL 75,000.00
SUB-TOTAL DE SERVICIOS NO PERSONAL 75,000.00
Tabla b: Costos de adquisicin. Servicios no personales.
RESUMEN POR PARTIDAS GENERALES. PROYECTO OFERTA ECONMICA PARA LA ASESORIA TCNICA PARA LA
ELABORACIN DE LA CARTOGRAFA GEOLGICA GEOTCNICA EN EL REA DEL LITORAL CENTRAL.
GEOFSICA
NOMBRE DE PARTIDA MONTO Bs.

GASTOS DE PERSONAL 1,350,000.00
MATERIALES Y SUMINISTROS 603,400.00
SERVICIOS NO PERSONALES 75,000.00
IMPROVISTO 10% 202,840.00
TOTAL 2,231,240.00
Tabla c: Costos de adquisicin. Resumen por partidas generales
Posterior al clculo del presupuesto se procedi a la revisin de los equipos

elctricos, para conocer el estado actual que presentaban, garantizar su alcance y
buen funcionamiento; una vez terminada la revisin y habiendo evaluado todos los
equipos, se solicit ante el Departamento de Proyectos de INGEOMIN la reparacin
de la fuente de poder, por ser esta el nico equipo que presentaba falla operativa.
Antes de iniciar las labores de campo se realiz una visita de reconocimiento
a las posibles reas de estudio entre las que se encontraban Caraballeda, Naiguat
y Tanaguarena, se seleccion el Abanico Aluvial de Tanaguarena; una vez
seleccionada el rea especifica de estudio, se inicio una nueva visita de
47
U.S.B
reconocimiento, pero esta vez ms amplia que comprenda ubicar las vas de acceso
al rea, la ubicacin de los principales servicios, como hospitales y posadas, adems
de iniciar una comunicacin directa con las comunidades aledaas al rea de estudio
y ubicar la lnea con desnivel topogrfico sobre la cual se adquiriran los datos.
7.2 Mediciones de Campo

Como parte fundamental del presente estudio de investigacin se procedi a
la toma de datos reales de resistividad aparente, basndose en lo sustentado en los
captulos anteriores, el objetivo fundamental del estudio es realizar la inversin de
datos de resistividad aparente de un suelo y no una mera tarea de modelado e
inversin.
Con el mtodo de prospeccin elctrica en corriente continua se pretende
definir geoelctricamente las capas que componen el subsuelo; por ejemplo si una
arena de 12 metros de espesor esta invadida de agua solo hasta los ltimos 6
metros de profundidad, con el mtodo de prospeccin geoelctrica no podremos
observar la arena de 12 metros, sino dos capas geoelctricas una de 6 metros con
resistividad muy grande en comparacin con la otra de 6 metros con una resistividad
muy pequea, como consecuencia de la presencia de agua en sus poros.
Por lo tanto el mtodo de prospeccin geoelctrica nos permite evidenciar
cambios en la resistividad u/o conductividad del suelo, muy til cuando se trata de
buscar buenos conductores bajo el suelo, pero no logra identificar meramente una
litologa, sin embargo, se pueden asociar ciertos valores de resistividad reales con
tipos de rocas y suelos a travs de tablas que describen propiedades de las rocas y
sedimentos.
Es por esto que la idea de aplicar el mtodo de prospeccin elctrica en
Tanaguarena, es para delimitar las capas geoelctricas del subsuelo del aluvin y de
ser posible encontrar cuerpos buenos, medios y malos conductores bajo el mismo,
donde el ms probable de encontrar de todos los buenos conductores de corriente
bajo este subsuelo es el agua a la altura del nivel fretico.
Aunado a esto, se pretende obtener dichos parmetros de resistividad sobre
una lnea que contiene desniveles altimtricos, y as poder corroborar las
capacidades del mtodo de delimitar dichas capas an y cuando el parmetro fue
medido sobre relieve y no sobre una lnea que guarda la misma altura sobre el nivel
del mar.
48
U.S.B
7.2.1 Instrumentacin
A continuacin se presentar la instrumentacin detallada junto con el

procedimiento de medicin del parmetro de resistividad aparente en el subsuelo de
Tanaguarena, Estado Vargas:
Instrumentos para establecer el campo elctrico: Generador de corriente alterna,

Marca Honda (figura 21), Fuente de poder que trasforma 120V de corriente alterna
en 850V en corriente continua , 2 carretes de cable de baja resistencia por

kilmetro ( figura 22), Dos electrodos (sendas barrenas metlicas figura 20).
Figura 20. Electrodos de corriente o

Barrenas metlicas
49
U.S.B
Carretes de cable
Fuente de poder
Figura 21. Generador elctrico de corriente Figura 22.Fuente de poder y carretes de cable
Circuito de emisin de corriente: Se conecta la fuente generadora de corriente

alterna a la fuente trasformadora de corriente alterna a corriente continua, esta ltima
se conecta a las barrenas metlicas por medio de cables a su vez se conecta un
ampermetro en serie con el circuito para medir la corriente Ia. Como estas barrenas
metlicas son pequeas si las comparamos con el semiespacio homogneo,
entonces podemos decir que estas son como puntos situados en el suelo. La
corriente de intensidad Ia penetrar por el punto A en el subsuelo, regresar por la
barrena B con una intensidad Ib volviendo a la planta transformadora para cerrar el
circuito (figura 2).
Circuito de medicin de la diferencia de potencial: Se conecta un voltmetro en

paralelo a las barrenas metlicas por medio de cables.
Instrumento para medir la altura y la posicin: Dos Sistemas de posicionamiento

global (GPS, segn sus siglas en Ingles) marca Mobile Mapper que tiene la opcin al
procesado de error diferencial, fueron utilizados para medir la latitud, la longitud y la
altura (figura 23).
50
U.S.B
Figura 23. Instrumento

GPS, para
Levantamiento
altimtrico de la lnea
Hojas de campo para almacenar los datos: Los datos deben ser recolectados de
manera ordenada y sistemtica para evitar perder la secuencia en caso de surgir
alguna eventualidad, para lograr este objetivo es necesario tener una hoja de campo
previamente elaborada y pensada para conseguir tal fin. Las tablas d, e y f muestra
tres tipos diferentes de hoja de campo utilizados durante la adquisicin.
La tabla a es el modelo utilizado para registrar en orden los datos del GPS, es
de suma importancia esta rutina para evitar confusiones en el momento de descargar
los archivos desde el GPS al computador; la tabla b es el modelo utilizado de hoja de
campo para la adquisicin de datos del Sondeo Elctrico Vertical tipo Schlumberger
y la tabla c es un modelo de planilla de anotacin de datos de tomografa elctrica.
Debido a que el proceso de adquisicin de datos de tomografa elctrica fue manual
y fraccionado en dos das de adquisicin, se utilizaban varias hojas de campo por lo
que se hace ms importante aun el hecho de mantener orden en la anotacin de los
datos y un chequeo continuo de los electrodos que estaban operativos durante la
medicin.
51
U.S.B
Fecha:
Lugar:
Nombre N
del X Y Z PDOP de Observaciones
Punto Satlites
Tabla d. Planilla para registrar ordenadamente los datos que se est almacenando en el
GPS
Tabla e: Modelo de hoja de campo para almacenar

datos de
52
U.S.B
Tabla f: Modelo de hoja de campo para la adquisicin de datos de la tomografa elctrica.
7.2.2 Procedimiento para la obtencin de datos de campo.
El trabajo de campo se dividi bsicamente en 5 fases, con periodo de

duracin de 9 das de campo: Fase 1, la misma comprenda el levantamiento
altimtrico de la lnea de estudio, Fase 2, calicata superficial tipo Wenner; Fase 3,
sondeo tipo Schlumberger con centro O en la mitad de la pica, fase 4 que
comprenda la realizacin de tomografa dipolo-dipolo a lo largo de toda la lnea y la
fase 5, realizacin de la tomografa tipo Wenner.
Fase 1. Altimetra de la lnea de estudio.
Para poder calcular la altimetra de la lnea de estudio, con el sistema de pos-

procesado de error diferencial del sistema Mobile Mapper, es necesario estar
midiendo cado punto de inters al mismo tiempo en que un punto fijo llamado
estacin base esta siendo medido de la misma manera, durante todo el intervalo de
medicin de los puntos de inters.
53
U.S.B
1.- Debido a que no haba un BM o vrtice geodsico en el rea de estudio se

procedi a levantar una estacin base en la misma; esto se hizo instalando una
estacin de referencia con el GPS Mobile Mapper durante 1 hora en el vrtice
geodsico colocado a 800m del peaje de la autopista La Guaira Los Caracas justo
detrs de las instalaciones de los bomberos, que se encuentra aproximadamente a
25km de la lnea de estudio en Tanaguarena. El GPS ubicado en el vrtice geodsico
cercano al Peaje de la autopista La Guaira Los Caracas grab las medidas de
posicin en MODO estacin de referencia, al mismo tiempo que en una estacin
mvil levantada en el abanico aluvial de Tanaguarena media la posicin del lugar;
como ambos datos se solapaban fue posible procesarlos con el software de Mobile
Mapper y conseguir un valor de latitud, longitud y altitud de 0,002 metros de error
para el punto medido con la estacin mvil colocado en el rea de estudio.
2.-Una vez obtenido un punto geodsico de error casi nulo en el rea de
estudio, se procedi a instalar la estacin de referencia sobre el mismo mientras al
mismo tiempo se tomaban los datos puntuales de latitud, longitud y altitud con la
opcin de pos-procesado para 38 puntos espaciados por 8 metros, cubriendo un total
de 304 metros horizontales sobre la lnea de estudio.
3.- Se procesaron las mediciones con el software de Mobile Mapper,
obteniendo las medidas de posicin y altura de la lnea de estudio.
Fase 2. Rastreo de resistividad aparente de los primeros centmetros de

sedimento para la lnea de estudio.
Conociendo las limitaciones de potencia de la fuente de poder, fue necesario

conocer que tan resistivo eran los primeros centmetros de sedimento de la lnea de
estudio, para tomar medidas preventivas durante las futuras adquisiciones de datos.
Para ello se diseo una calicata tipo Wenner con separacin entre centro y centro de
4 metros y con a=4m.
Con los resultados de la misma (figura 24), se pudo observar que la
resistividad superficial era de 100ohm.m a 600ohm.m, aunque no era muy alta, se
tomo la decisin de que en las prximas adquisiciones se echara agua salada en el
terreno que estaba en contando con los electrodos para aumentar la corriente Ia de
entrada.
54
U.S.B
Adems se pudo contabilizar el tiempo promedio de adquisicin por punto y se

tomaron las medidas preventivas para mejorarlo, entre ellas aumentar el nmero de
obreros, y comenzar las mediciones a tempranas horas de la madrugada, pues el sol
era un factor determinante en la fatiga del personal.
Resistividad aparente vs
Distancia Horizontal
1,000.00
Resistividad ( m.m)
100.00
0.00 8.00 16.00 24.00 32.00 40.00 48.00 56.00 64.00 72.00 80.00 88.00 96.00 104.00 112.00 120.00 128.00
Distancia (m )
Figura 24. Calicata con el a arreglo Wenner. La pseudo-profundidad de la misma es aproximadamente
Fase 3. Sondeo tipo Schlumberger con centro en la parte media de la lnea de

estudio.
Con la finalidad de tener una idea de las capas geoelctricas que conforman
el suelo bajo la lnea de estudio, se realiz un sondeo tipo Schlumberger de 165
metro de ancho AB lo que quiere decir, que AB/2 es de 85m.
Fase 4. Tomografa elctrica con el arreglo entre electrodos Dipolo- Dipolo.
1.- Se procedi a marcar un mecate cada 5 metros.

2.- Se clavaron 52 electrodos cada 5 metros a lo largo de toda la lnea.
3.- Se tomaron las medidas por nmero n de la tomografa, es decir, primero
se determino la resistividad aparente para n=1, luego para n=2 y as hasta llegar a
n=6 (figura 25, 26, 27 y 28).
4.- Se almacenaron cuidadosamente los datos en la hoja de campo y en la
computadora porttil.
55
U.S.B
a na a
A B M N
Medida 1 para n=1
Medida 2 para n=1
Medida 3 para n=1
Figura 25 Medidas para n=1 de la

tomografa con arreglo dipolo-dipolo
Nmero total de medidas para

n=1
Figura 26.Nmero total de medidas de n=1

(arreglo dipolo-dipolo)
56
U.S.B
a na a
A B M N
Medida 1 para n=2
Medida 2 para n=2
Medida 3 para n=2
Figura 27. Medidas para n=2 de la

tomografa con arreglo Dipolo-Dipolo
Nmero total de medidas para

n=1 y n=2
n=1
n=2
Figura 28. Medidas totales n=1 y n=2 de la

tomografa (arreglo Dipolo-Dipolo)
57
U.S.B
Fase 5. Tomografa elctrica con arreglo de electrodos tipo Wenner
1.- Se procedi a marcar un mecate cada 5 metros.

2.- Se clavaron 38 electrodos cada 5 metros a lo largo de toda la lnea, de
manera que para realizar las mediciones no sea necesario desclavar o clavar algn
electrodo, sino que simplemente se cambien los cables a los prximos electrodos
operantes.
3.- Se tomaron las medidas por nmero n de la tomografa, es decir, primero
se determino la resistividad aparente para n=1, luego para n=2 y as hasta llegar a
n=10
4.- Se almacenaron cuidadosamente los datos en la hoja de campo y en la
computadora porttil.
Cabe destacar que el proceso de medicin de las resistividades para una

tomografa elctrica con el mtodo manual de cambiar los cables que conectan los
electrodos operantes para cada medicin es sumamente lento, el tiempo promedio
total de adquisicin de cada tomografa fue de 13 horas consecutivas el primer da y
6 horas del segundo da, lo que da un total de 19 horas por tomografa; durante el
tiempo total invertido en la adquisicin Dipolo - Dipolo se levant 240 metros de largo
por 8,5 metros de profundidad, mientras que con el dispositivo Wenner se levanto
175m de largo por 24m de profundidad.
El primer da es necesario operar el mayor nmero de horas para obtener la
mayor cantidad posible de datos en los primeros metros de profundidad, ya que si las
condiciones climticas cambian, la recuperacin de las condiciones del terreno es
lenta y esto se traduce en mayor cantidad de tiempo en el rea de estudio y por lo
tanto en un excedente en gastos.
Las caractersticas descritas para la adquisicin de tomografas, reflejan las
desventajas del mtodo de adquisicin en el campo de la prospeccin de recursos
minerales y el estudio del subsuelo en reas extensas.
58
U.S.B
7.3 Proceso de inversin
Inversin del SEV con el arreglo tipo Schlumberger
El programa de inversin utilizado fue el IPI2WIN, para realizar el respectivo

proceso de inversin se organizaron los datos en el formato requerido (tabla g) y se
introdujeron en el software.
AB MN SP(mV) Vindu(mV) I (mA)

2 0.4 17 18500 1100 126.625353
3 0.4 13 15250 1470 179.822513
6 0.4 13 6030 1350 313.490157
10 0.4 21 3180 1440 429.8346
20 0.4 25 3050 1380 1720.05446
30 0.4 29 816 1100 1263.44694
40 0.4 30 312 920 962.382013
40 6 295 4120 840 931.766964
50 6 250 2110 940 637.88766
60 6 230 1150 840 510.698571
70 6 210 697 740 418.80245
80 6 203 573 870 354.104176
Tabla g. Formato de los datos del SEV tipo Schlumberger.
Procesamiento de los datos de GPS
El software de procesamiento utilizado para realizar la correccin diferencial

de los datos GPS fue el Mobile Mapper Office de Thales Navegation. El proceso de
correccin consiste en: a) Abrir el archivo mvil (.mmj) que contiene las coordenadas
del punto medido en un periodo de tiempo determinado, b) Abrir la informacin del
punto que operaba como estacin de referencia (figura 29), ntese que la barra
temporal designada con el color amarillo corresponde al tiempo total en que estuvo
midiendo el GPS como estacin de referencia se solapa con la barra temporal color
verde que corresponde a las mediciones realizadas con otro GPS en un punto sobre
la lnea de estudio. El hecho de que estos dos archivos se solapen en tiempo permite
poder corregir la medicin que se ha realizado por un tiempo ms corto, para as
disminuir el error de la medida al orden de los centmetros y c) Finalmente se
59
U.S.B
selecciona la opcin de post-procesado para as obtener el valor de latitud, longitud y

altitud. La altitud medida por el GPS es la altura medida sobre el nivel del mar.
Figura 29. Ventana del software Mobile Mapper. Observe las barras temporales del punto PX16 y de
la estacin de referencia B066C06.32
60
U.S.B
Inversin de los datos de tomografa elctrica
Se organizaron los datos adquiridos en el formato requerido por el software

de inversin RES2DINV, Independientemente cual sea el arreglo de electrodos
utilizado se deben organizar los datos en un documento .dat, o tambin puede ser
un documento de texto con la misma extensin, esto es como sigue a continuacin:
Fila 1 Nombre
Fila 2 Espaciamiento mnimo entre los electrodos
Fila 3 nmero 1, 2, 3, 6, 7 y 8 corresponde al arreglo utilizado Wenner, polo-
polo, dipolo-dipolo, polo-dipolo, schlumberger y ecuatorial dipolo-dipolo
respectivamente.
Fila 4 Nmero total de puntos que contiene la data
Fila 5 Tipo de posicin X del punto. Se coloca 0 si se da la posicin del primer
electrodo del arreglo. Se coloca 1 si se da la posicin del punto medio
del areglo.
Fila 6 Etiqueta para designar los datos de IP (se coloca 0 si se solo existen
datos de resistividad aparente).
Fila 7 Si es arreglo dip-dip son 4 columnas; la primera es la posicin x; la
segunda es la abertura a entre el dipolo; la tercera el nivel n y la cuarta
el valor de resistividad.
Si es el arreglo wenner son 3 columnas; la primera es la posicin x, la
segunda la abertura a del arreglo y la tercera el valor de resistividad.
Despus de la ltima lnea con los valores de resistividad se agregan 6
ceros consecutivos.
61
U.S.B
En caso de tener topografa, estos datos se agregan despus de la ltima
lnea con informacin de resistividad y no se colocan los 6 ceros sino hasta haber
incluido dentro de la data los valores de topografa, el orden en que se almacenan los
datos se explica a continuacin:
195 2 37,4 ltima lnea con informacin de resistividad. Supongamos que es la
lnea N.
Fila N+1 Etiqueta, se coloca 2 si se tienen datos topogrficos sino se coloca 0.
Fila N+2 Esta lnea corresponde al nmero entero K del total datos topogrficos
adquiridos.
Fila N+3 son dos valores, el primero es la posicin x respecto del primer
electrodo y el segundo es el valor de la altura en ese punto. As se
ordenan todos los valores de altimetra en la prximas K lneas.
Luego de la ltima fila con informacin topogrfica, se coloca una fila
con un nmero entero, que corresponde a la posicin en los datos
topogrficos del primer electrodo. Finalmente se agregan 6 ceros.
En este estudio se generaron 4 archivos de datos, 2 para los datos adquiridos

con el dispositivo Wenner y dos para los datos adquiridos con el dispositivo Dipolo-
Dipolo, con topografa y sin topografa respectivamente. Una muestra de ellos se
muestra a continuacin (figura 30):
62
U.S.B
Figura 30. Modelo del orden de los datos para ser leidos por el programa
RES2DINV.
Una vez ordenado los datos en formato requerido se procedi a la inversin

de los mismos, el cual se resume en los siguientes pasos:
1.- Se abre el archivo desde el programa RES2DINV para que el mismo haga la
lectura de los datos (figura 31):
2.- Se escogen los parmetros de inversin con los que se desea trabajar (figura 32).
Para invertir los datos Dipolo-Dipolo se escogi el mtodo de inversin que
incluye un suavizado del modelo de resistividad, opcin que se escoge cuando los
datos son muy ruidosos para obtener un mejor resultado.
63
U.S.B
En el caso de los datos tipo Wenner se pudo usar la inversin robusta por ser
datos que presentaron menos ruido. Con este tipo de inversin es menos sensible al
ruido y puede aumentar el error RMS de las resistividades calculadas si los datos
contienen mucho ruido pero si esto no ocurre da resultados ms satisfactorios de los
que da la restriccin estndar.
Figura 31. Ventana de

RES2DINV Para leer archivos
.dat y/o txt.
64
U.S.B
Figura 32. Ventana

de dialogo de
RES2DINV para
escoger el mtodo de
inversin y el modelo
de discretizacin.
3.- Se escogi el mtodo para resolver el problema directo (figura 33). En este caso
se escogi el mtodo de los elementos finitos para la inversin de los datos sin
topografa. La inversin de los datos con topografa obligatoriamente se debe realizar
por el mtodo de los elementos finitos.
65
U.S.B
Figura 33. Ventana de dialogo de RES2DINV para escoger el mtodo para resolver
el problema directo.
4.- Finalmente se le da la orden al software de realizar el procedimiento de inversin

mediante la aproximacin por mnimos cuadrados (figura 32).
Durante el proceso de inversin aparece una ventana de dialogo que pregunta

si se quiere realizar otra iteracin, la respuesta a la misma queda a juicio del
interpretador. En este caso se realizo un mximo de 8 iteraciones, cabe destacar que
con cada iteracin se recalcula el modelo idealizado y por lo tanto los parmetros
calculados con el fin de aproximar estos ltimos a los parmetros medidos.
Luego de finalizado el proceso de inversin se despliega el resultado del

mismo, el cual consiste en tres grficos, el grfico de los parmetros medidos, el
grfico de los parmetros calculados y el grfico del modelo de resistividades reales
encontrado, tambin se puede desplegar el grfico de la diferencia entre los
parmetros medidos y los calculados.
Con los resultados de la inversin se puede dar paso a la interpretacin y

anlisis de los mismos.
66
U.S.B
CAPITULO VIII RESULTADOS
8.1 Altimetra
Para calcular la altimetra de la lnea de estudio, fueron medidos 38 puntos de
longitud, latitud y altura con el GPS, espaciados por 8 metros; arrojando como
resultado el punto PX0 con una altura mnima 25,1 msnm, el punto PX16 con 50,66
msnm definiendo entre estos dos la mxima inclinacin de la lnea de estudio con un
total de 11,2 y un punto mximo de altitud de 53,57 msnm.
La altimetra de la lnea de estudio presenta mayor variacin por distancia
horizontal entre los puntos PXO y PX16, siendo esta variacin de 25,56 m en 128 m
del punto 0; una mnima variacin de altura por distancia horizontal entre los puntos
PX16 y PX22 de 3,48 m a 176 m del punto 0; y una variacin nula ente los puntos
PX22 y PX38 (Figura 34).
Altimetra
PX22 PX38
PX16
Altura relativa al punto 0 (m)
48
32
16
0
0 16 32 48 64 80 96 112 128 144 160 176 192 208 224 240 256 272 288 304
Distancia desde el punto 0 (m)
Figura 34. Altimetra de la lnea de estudio.

67
U.S.B
8.2 SEV con el arreglo tipo Schlumberger
Segn la curva ajustada a los datos medidos con el software de interpretacin
IPI2WIN con un error del 19.3% (Figura 35) bajo el punto PX16 se distinguen 3
capas geoelctricas una de 270ohm.m y 1,05 metros de espesor, otra de
10.000ohm.m y 9.35 metros de espesor y por ltimo una de 502ohm.m con espesor
desconocido (Ver tabla h).
____ Datos de Campo

_____ Lnea interpretada
Figura 35. SEV con el arreglo Schlumberger en el punto PX16
Tabla h. SEV Schlumberger

68
U.S.B
Se piensa que la magnitud y el espesor de estas capas geoelctricas deben
estar alteradas por la existencia de la pendiente.
8.3 Tomografa
Segn lo previsto en los objetivos especficos, la inversin de los datos de
resistividad aparente consta de dos partes fundamentales: la primera, es la inversin
donde no se toma en cuenta la topografa presente en el terreno en el momento de
adquirir los datos, la segunda es la inversin donde las variaciones topogrficas son
tomadas en cuanta como posibles modificadoras del resultado. La inversin de los
datos de resistividad aparente con topografa a travs del software RES2DINV
presenta tres posibles maneras de incluir el relieve y cada una de ellas poseen un
elemento relacionado con el mallado y con la atenuacin del contorno topogrfico en
profundidad y por ende en el resultado final de la inversin, especficamente en el
espesor de las capas interpretadas (Ver capitulo V Software de inversin y
topografa).
8.3.1Inversin de tomografa arreglo Dipolo-Dipolo
Para la inversin de los datos de resistividad aparente adquirido con el arreglo
Dipolo Dipolo se evala el comportamiento de la resistividad aparente a lo largo de
la distribucin espacial de la adquisicin (Figura 36), se observan 6 curvas que
corresponden a cada nivel n de adquisicin donde la superior es n=1, cada una de
ellas tiene un eje vertical y un eje horizontal, el eje horizontal lo tienen todas en
comn y corresponde a la posicin horizontal respecto de un punto cero de
referencia, en la parte inferior del grfico se puede apreciar que el mismo vara
desde 0m hasta 240m que es la mxima distancia alcanzada para el caso de esta
69
U.S.B
tomografa elctrica con el arreglo Dipolo-Dipolo; el eje vertical corresponde a la
resistividad aparente y en este caso cada grfica posee su propio eje vertical, en
todos se observa que la escala va de 26ohm.m a 2915ohm.m que corresponde al
mnimo y al mximo valor de resistividades aparentes registrados en la adquisicin.
En las 6 curvas de resistividad aparente en funcin de la distancia horizontal,
se observan varios puntos que se salen de lo que es una tendencia constante del
valor de resistividad a lo largo de la horizontal, entre ellos el de menor y mayor
resistividad.
Los dos primeros niveles son las curvas que presenta menor constancia de
los valores de resistividad y alto contraste entre ellas, l mismo se considera
anmalo y se asocia a errores de adquisicin. A diferencia de los primeros niveles
las siguientes 4 curvas suelen ser ms constantes e ininterrumpidas.
En el mapa de contornos de resistividades aparentes medidas donde el eje
vertical corresponde a la pseudo-profundidad, el eje horizontal a la distancia al punto
0 y la escala de colores a las resistividades medidas (Figura 37a) se observa la
distribucin espacial de las mismas y con mayor claridad la fuerte anomala que el
nivel 2 presenta.
El valor de resistividad aparente no aporta suficiente informacin elctrica,
debe compararse con un modelo real de resistividades que genere resistividades
aparentes semejante a los datos medidos, es por esto que el proceso de inversin es
importante y a travs del software de interpretacin RES2DINV se busca un modelo
de resistividades reales que se adapte a las resistividades aparentes medidas en
campo.
70
U.S.B
Inversin sin topografa del arreglo Dipolo-Dipolo
Posterior a la inversin se despliegan tres mapas de contornos, el de
resistividades medidas, el resistividades calculadas y el de resistividades reales
(Figura 37); se observa que el modelo de resistividades aparentes calculadas no es
semejante al modelo de resistividades aparentes medidas por lo que se entiende que
el error RMS cuadrtico sea igual a 59.2%, por lo tanto el modelo calculado difiere
del modelo medido en ms del 50%. En un despliegue de la diferencia entre el
modelo medido y el calculado (Figura 38b) se observa con mejor claridad el grado de
diferencia entre los dos antes mencionados.
El modelo de resistividades reales (Figura 37c) muestra que la profundidad
alcanzada fue de 8.5 metros, se observan cambios laterales muy fuertes, esto tiene
una explicacin fsica desde el punto de vista del arreglo Dipolo-Dipolo. Se
reconocen 5 zonas geoelctricas (Figura 38a), dos superficiales (zona D1 y D2) y
tres profundas a 6m, 2,56m y 4.36m de profundidad (zona D3, D4 y D5), tambin
puede observarse en color verde las resistividades predominantes lo que se asemeja
a una resistividad matriz la cual tiene un valor entre 100ohm.m a 300ohm.m aprox.
Inversin con topografa del arreglo Dipolo-Dipolo
Los datos de altimetra pueden ser incorporados directamente en el software
de inversin de manera que durante el clculo del modelo de resistividades
verdaderas y por ende el modelo de resistividades aparentes calculadas se tome en
cuenta la topografa dentro de la subrutina para resolver el problema directo,
discretizando y calculando el potencial con el mtodo de los elementos finitos.

71
U.S.B
Se invirtieron los datos con los tres tipos de modelos topogrficos que son
modos de propagar el efecto topogrfico en el modelo inverso, con distorsin
uniforme, con atenuacin exponencial de la topografa y con la trasformada de SC.
En el despliegue de las resistividades medidas y calculadas para cada uno de
ellos se observa gran discrepancia entre una y otra (Figura 39, 41 y 43), lo que
explica que el error RMS cuadrtico en cada uno de los modelos sea de 59,4% el
mximo y 59,2 el mnimo.
Las resistividades reales para cada uno de los modelos definen 5 zonas
geoelctricas, todas semejantes y ubicadas en el mismo espacio y con la misma
magnitud de la resistividad pero variando muy suavemente la forma geomtrica de
las zonas, denominadas D1T, D2T, D3T, D4T y D5T (Figura 40, 42 y 44). El resto del
espacio del mapa de contorno de las resistividades reales, est cubierto por los
colores verdes y amarillos conformando as una resistividad matriz o comn en el
grfico, entre 100ohm.m a 300ohm.m. aprox.
Para observar una distribucin aproximada de las zonas geoelctricas bajo la
lnea de estudio, se despliegan los mapas de contornos de cada modelo pero esta
vez cambiando la interfase suelo atmsfera de una lnea recta a una lnea con la
forma de la superficie determinada por las mediciones de altura (Figura 45, 46 y 47)
se observa como en cada uno de los modelo topogrfico el borde inferior del mapa
es distinto, por ejemplo en el modelo con distorsin uniforme el contorno inferior es
sumamente semejante al contorno superior o interfase suelo atmsfera (Figura 45),
mientras que para el modelo con atenuacin exponencial el borde inferior es ms
suave (Figura 46), por su parte el borde inferior del modelo generado con la
trasformada de SC no se parece en lo absoluto al relieve que se observa en la
superficie (Figura 47).

72
U.S.B
Comparacin entre inversin sin topografa e inversin con topografa, para el
dispositivo Dipolo-Dipolo.
Los modelo de resistividades reales con topografa son semejantes a los
modelos de resistividades reales adquiridos sin tomar en cuenta los datos
topogrficos dentro de la subrutina de inversin, en ambos se observan 5 zonas
geoelctricas ubicadas espacialmente en el mismo lugar conservando la magnitud;
la diferencia entre ambos modelos es mnima y radica en la forma geomtrica que
presentan pequeas alteraciones casi imperceptibles, ambos presentan
heterogeneidades laterales y una matriz que comprende las resistividades entre
100ohm.m a 300ohm.m.
8.3.2 Inversin de la tomografa con el arreglo Wenner
La adquisicin fue hecha entre el metro 16 y el metro 191 de la lnea de
estudio, se disminuy la cobertura lateral para poder realizar ms niveles de
medicin, acumulando un total de 10 niveles y as alcanzar mayor profundidad, este
se hizo tomando en cuenta las limitaciones del tiempo de adquisicin.
El RES2DINV presenta la opcin de desplegar las resistividades aparentes
(escala logartmica) en funcin de la distancia horizontal al punto 0 (Figura 48),
donde se observa, la cobertura de 175m de espacio lateral de la tomografa, los 195
puntos sondeados representados con cruces negras y 10 curvas, cada una de las
cuales corresponde a un nivel n de medicin. La tendencia de las resistividades
aparentes en escala logartmicas, medidas en funcin de la distancia es constante y
solo 5 puntos salen de la tendencia observada, estos fueron eliminados antes de

73
U.S.B
realizar el procedimiento de inversin tanto sin topografa como con topografa
(Figura 49).
La eliminacin de los 5 puntos que estn fuera de la tendencia produjo un
cambio notorio en las curvas de resistividad en funcin de la distancia horizontal,
producto de un cambio en la escala del eje vertical de cada curva y no a un cambio
en los valores de resistividad (Figura 50a y b).
Se observa que las resistividades aparentes a la derecha de cada curva
presentan una leve disminucin la cual es persistente en todas las curvas. Esta
disminucin se atena con cada nivel, por lo que en los niveles n=8, n=9 y n=10 es
casi imperceptible en escala logartmica (Figura 49).
Inversin sin topografa del arreglo Wenner
Posterior a la inversin de datos de resistividad aparente con el software
RES2DINV se generan los datos de resistividad calculada y real, y se despliegan los
grficos de resistividad medida, calculada y real. A travs de estos grficos se
aprecia congruencia entre las resistividades calculadas y las resistividades medidas
(Figura 51 a y b), indicando de esta manera que el modelo de resistividades reales
(Figura 52) es de alta confiabilidad y se adapta a los valores de resistividades
aparentes encontradas, as lo demuestra el error RMS encontrado el cual result ser
6.2% y el grfico de la diferencia entre las resistividades medidas y resistividades
calculadas (Figura 66a).
Tanto el mapa de contornos de resistividades reales como las calculadas presenta
una disminucin de las resistividades en la parte ms a la derecha del grfico.
En el mapa de contorno de las resistividades reales se observan 4 zonas
geoelctricas demarcadas con el valo azul (zona W1), Cuadrado rojo (zona W2,
74
U.S.B
Cuadrado anaranjado (zona W3) y valo vinotinto (zona W4) (Figura 53). Dos de
alta resistividad zona W3 y W2, y dos de muy baja resistividad zona W1 y W4, donde
la zona W1 por ser muy superficial requiere ser estudiada.
Inversin con topografa del arreglo Wenner
Se invirtieron los datos tomando en cuenta la pendiente de inclinacin del
terreno, se realiz con los tres modelos topogrficos: con distorsin uniforme del
mallado (Figura 57), con una atenuacin de la forma del relieve con la profundidad
(Figura 59) y utilizando la transformada de SC (Figura 61), permitiendo ilustrar las
resistividades reales bajo la superficie del terreno de estudio.
La representacin grfica de resistividades calculada para cada uno de ellos
presenta gran similitud con las resistividades medidas (Figura 54, 55 y 56). Es por
esto que el error RMS cuadrtico para cada una de las inversiones es inferior al 2%.
En la grfica de resistividades aparentes calculadas tambin se observa
disminucin de la resistividad en la parte derecha del grfico.
Para cada uno de los modelos topogrficos se distinguen fundamentalmente 7
zonas geoelctricas (Figura 58, 60 y 62), estas para cada uno de los 3 modelos de
resistividades reales con topografa son similares en magnitud y posicin espacial
pero difieren en la forma geomtrica; se observan pequeas variacin en el contorno
inferior entre un grfico y otro (Figura 63, 64 y 65), siendo el ms notorio el modelo
con distorsin uniforme donde se observa como la base se ajusta a la forma del
relieve.
75
U.S.B
Comparacin de la inversin sin topografa y la inversin con topografa para el
Dispositivo Wenner
La diferencia entre los modelo de resistividades reales producto de la
inversin con y sin topografa, radica en que en los modelo se observan
modificaciones en las zona geoelctrica delimitadas en cada uno de ellos, estas
modificaciones presentan caractersticas como la variacin de la magnitud de la
resistividad, la modificacin de sus formas geomtricas y la creacin de nuevas
zonas geoelctricas o unificacin de las mismas.
La zona geoelctrica W1T es similar a la zona geoelctrica W1 con
disminucin en la magnitud de la resistividad observada, sin embargo ambas se
encuentra situadas en el mismo espacio, la zona geoelctrica W2 para un modelo sin
topografa es observada como tres zonas geoelctricas distintas W2Ta, W2Tb y
W2Tc con aumento en la magnitud de la resistividad observada, para el modelo
generado incluyendo la topografa; la zona geoelctrica W3Ta y W3Tb presenta un
comportamiento similar a la zona W2Ta, W2Tb, W2Tc y la zona geoelctrica W4T
similar al de la zona W1T.
8.4 Anlisis e interpretacin
Los modelos elctricos bidimensionales adquiridos a partir de la inversin y
los datos de campo de resistividades aparentes tanto para la adquisicin
bidimensional Dipolo-Dipolo como para la adquisicin tipo Wenner deben ser
analizados e interpretado.
76
U.S.B
El anlisis de los datos de campo de resistividades aparentes de las
adquisiciones bidimensionales Dipolo Dipolo y Wenner deben realizarse en base a
las observaciones sintticas de Panagiontis (1999); el trabajo de Panagiotis consisti
bsicamente en generar la distribucin de las resistividades aparentes a partir de un
subsuelos homogneos con distintas formas de relieve topogrfico. Panagiotis utiliz
el mtodo numrico de elementos finitos para resolver el problema directo y generar
sus modelos sintticos de resistividad aparente, observ que las resistividades
aparentes tenan disminuciones o aumentos en los puntos donde cambia la
inclinacin del terreno y concluy que el responsable de estas disminuciones o
aumentos era el relieve, puesto que para un suelo homogneo de resistividad
r=100ohm.m la resistividad aparente calculada es 100ohm.m. Los patrones de
resistividades aparentes obtenidos por Panagiotis suponiendo distintas formas de
relieve topogrfico, son tiles para compararlos con datos reales de resistividad
adquiridos sobre relieve topogrfico.
Punto 1. La anomala en las resistividades aparentes de la tomografa Dipolo-Dipolo.
En el mapa de contorno de las resistividades medidas del arreglo
Dipolo-Dipolo tanto con topografa como sin ella, se observ una fuerte anomala
caracterizada por el aumento abrupto de las resistividades en el nivel n=2, segn los
estudios sintticos de Panagiotis (1999) las resistividades aparentes medidas con un
arreglo Dipolo- Dipolo sobre una pendiente muestran un aumento de resistividad
justo debajo de la zona donde termina la pendiente y comienza el terreno plano, es
decir, debajo del punto PX16 de la lnea de estudio (Figura 37a). Es probable que la
77
U.S.B
prueba con el arreglo Dipolo- Dipolo este respondiendo a este patrn, sin embargo lo
que se observa en el nivel n=2 no se observa luego para los otros niveles y tampoco
se observa para el nivel n=1, lo cual pone en duda esta interpretacin, adems el
grfico de las resistividades medidas en campo no se parece al patrn de
resistividades aparentes generado por Panagiotis (Figura 67a).
En el estudio de las diferencia entre el modelo medido y el calculado se
observ que la zona con mayor diferencia es precisamente esta anomala, por lo que
se puede concluir que no hay un modelo real que se ajuste a este fenmeno, incluso
entre los modelos reales con topografa tampoco se encuentra uno que responda al
modelo medido y despliegue un resultado coherente y confiable.
El error RMS cuadrtico en las inversiones de los datos de tomografa con el
arreglo Dipolo-Dipolo nunca fue menor a 59,2%, por lo que no es confiable la
inversin, ya que el modelo de resistividades reales est lejos del comportamiento
elctrico real en el subsuelo. Existen hiptesis de que no siempre un valor RMS alto
indica desconfianza o que un valor RMS bajo indique exactitud pero se sacarn
conclusiones en base al error cuadrtico, pues el mismo indica la diferencia entre el
modelo calculado y las resistividades medidas en campo.
No se descarta la posibilidad de que la anomala presente en el mapa de
contornos de resistividades medidas y posteriormente en el mapa de resistividades
reales este respondiendo realmente a un elemento del subsuelo, pero se sostiene la
posibilidad de que fue un error de medicin.

78
U.S.B
Punto 2. La semejanza entre la inversin con topografa e inversin sin topografa de
la tomografa Dipolo-Dipolo.
No se observaron diferencias importantes entre los modelos reales con y sin
topografa para el arreglo Dipolo-Dipolo, lo que indica que la presencia del dato
topogrfico es indiferente. Esto se debe posiblemente a que el grado de inclinacin
de la pendiente, no es suficientemente como para que las resistividades aparentes y
por ende las reales medidas con el arreglo Dipolo-Dipolo se vean afectadas.
Sin embargo, como las resistividades aparentes no aumentaron semejantes al
patrn Panagiotis, no se puede demostrar si las mismas estn siendo afectadas por
la topografa, ni se pude afirmar que no estn siendo alteradas; aunque los modelos
reales son prcticamente iguales con o sin topografa. Se cree que las resistividades
aparentes estn siendo afectadas por la topografa pero se hace imperceptible por la
presencia de los errores de los datos debido a las heterogeneidades del subsuelo y
al arreglo de electrodos como tal.
Punto 3. La diferencia del borde inferior en los modelos topogrficos de la tomografa
Dipolo-Dipolo.
Los bordes inferiores en los mapas de contorno de resistividades reales para
cada uno de los modelos topogrficos estn acorde con lo que propone la teora, el
modelo de distorsin uniforme se adapta a la forma de la topografa y esta
peculiaridad es observable claramente, as para este modelo se observan las zonas
geoelctricas ms delgadas; para el modelo de atenuacin con la profundidad y con
la trasformada de SC el contorno inferior es ms suave y las zonas geoelctricas se
observan ms grandes, en consecuencia de esto surge una pregunta Cual modelo
se adapta mejor a la realidad morfolgica de las estructuras en el subsuelo?, en este

79
U.S.B
caso no es tan relevante dilucidar cual de los modelos se adapta mejor a la realidad
de la lnea de estudio puesto que todos han resultado semejantes, sin embargo, es
importante conocer la utilidad de cada uno de ellos y para que tipo de estudio se
aplica, y as poder concluir cual es el ms adecuado de acuerdo con la
geomorfologa de la zona.
Punto 4. El modelo obtenido con arreglo Dipolo Dipolo que mejor se adapta al
subsuelo.
En general todos los modelos reales estudiados para el arreglo Dipolo Dipolo
muestran una fuerte heterogeneidad lateral, esta es propia de los suelos
conformados por sedimentos con tamao de grano grava. Se puede demostrar que
los 8 metros prospectados en la lnea de estudio estn conformados por roca tamao
grava por observaciones de geologa de campo.
Esta gran heterogeneidad lateral del subsuelo produce ruido en los datos
generados con el arreglo Dipolo Dipolo, ya que el mismo es sensible a los cambios
de las propiedades elctricas en direccin horizontal o lateral, es decir, es preferible
usar este arreglo cuando se sospecha que el subsuelo es homogneo y presenta
una estructura vertical incrustada en el mismos, pero si se tiene muchas estructuras
o cantos dispuestos de formas aleatoria no es recomendable.
De los 3 modelos topogrficos no se escoge ninguno en particular como
modelo optimista ya que todos son semejantes, sin embargo, si para una pendiente
pobre se observan pequeos cambios geomtricos de las zonas geoelctricas, se
supone que para pendientes mayores los cambios sern otros, ms notorios y
significativos por lo que se debe estudiar a profundidad cada modelo para
seleccionar el que ms conveniente.

80
U.S.B
Punto 5. La disminucin de las resistividades aparentes de las curvas obtenidas con
el arreglo Wenner.
En el mapa de contorno de resistividades medidas con el arreglo Wenner se
observa una disminucin de las resistividades aparentes, las cuales se encuentra
debajo del punto PX16 de la lnea de estudio que es el punto donde termina la
pendiente. Los experimentos sintticos de Panagiotis muestran que el patrn de
resistividades aparentes en una pendiente para el dispositivo Wenner disminuye bajo
la cspide de la pendiente (Figura 67b y 68), este mismo patrn es observado en las
mediciones de campo realizadas, por lo que se supone que las resistividades
aparentes medidas con el dispositivo Wenner sobre la pendiente se ven afectadas
por la presencia del relieve aunque el mismo sea leve, para este estudio 11,2 de
inclinacin.
Punto 6. La diferencia entre el modelo sin topografa y los modelos con topografa
obtenidos con el arreglo Wenner.
Se observa que el modelo de resistividades reales sin topografa es distinto a
los modelos de resistividades reales con topografa y que estos ltimos son
semejantes entre s. Los datos de topografa influyen directamente en el resultado
final de las resistividades reales, esto se debe a que la altimetra esta influyendo en
las medidas de resistividad aparente, como ha sido demostrado con las
observaciones de Panagiotis, quien prueba sintticamente que si se realizan
mediciones aparentes con el arreglo Wenner en un subsuelo homogneo con una
pendiente de inclinacin, las resistividades aparentes que deberan ser la misma en
todo el espacio por ser homogneo sufren disminucin en la regin bajo el punto
81
U.S.B
ms alto. A su vez si el software calcula dos modelos distintos con y sin topografa es
porque para generar el modelo con topografa, se esta realizando previo a la
inversin una correccin; pero esto no se especifica en el manual del RES2DINV,
puede que sea una informacin confidencial la manera en como corrige el error
asociado a la medida de resistividad aparente pero se sabe que esta directamente
relacionado con el calculo del potencial o resolucin del problema directo con el
mtodo numrico de los elementos finitos. No cabe duda que las variaciones de
magnitud de la resistividad aparente (ms que las de geometra) para los modelos
sin y con topografa, es un indicador de que en este ltimo se esta corrigiendo los
efecto de la topografa ya que se conocen las variaciones de altimtricas del terreno,
siendo este proceso de correccin para generar un modelo ms confiables en
cuanto a la magnitud de la resistividad real y a la morfologa.
Punto 7. Bordes inferiores semejantes para los tres tipos de modelo topogrfico de la
Inversin de la tomografa Wenner.
Los bordes inferiores en los mapas de resistividad de los modelos reales
fueron ligeramente semejantes, ya que no se aprecia la curvatura de la superficie de
manera acentuada a diferencia de los modelos generados por el arreglo Dipolo
Dipolo, exceptuando el modelo de distorsin uniforme. Los mapa son semejante,
esto es producto de que la pendiente no es muy abrupta y no hay cambios
altimtricos repentinos, de lo contrario se apreciara como cada modelo topogrfico
generara espesores diferentes de cada una de las zonas geoelctricas.

82
U.S.B
Punto 8. El modelo que mejor se adapta
Luego de demostrar que los modelos topogrfico son ms confiables por
tomar en cuenta las variaciones de la topografa y poder atenuar este efecto, y
tomando en cuenta que el error RMS cuadrtico es menor en los modelos generados
que incluyen los datos topogrficos, el modelo con mejor aproximacin a la realidad
debe ser uno de los tres modelos con topografa generados a partir de la tomografa
Wenner puesto que con el dispositivo Dipolo-Dipolo solo se observaron los primeros
8 metros de sedimento y la bondad del ajuste de las mismos fue mayor al 50% en
todos los casos.
En los modelos generados a partir de la tomografa Wenner, se observan 7
zonas geoelctricas cada una de ellas pueden ser descritas en trminos de la
resistividad real, del espesor, profundidad del tope y la base y la distancia horizontal
respecto del punto cero del rea de estudio (Ver Tabla I), las zonas geoelctricas
delimitadas en cada uno de ellos han sido las mismas pero cambiando ligeramente
su forma y tamao y permaneciendo la magnitud de las resistividades reales en el
mismo orden.
83
U.S.B
Nombre Distancia
De la Resistividad
Zona Profundidad Profundidad horizontal al
Real Espesor (m)
del tope (m) de la base punto cero
(ohm.m)
Descripcin (m)
Zona
26,6 a 65,5 2,5 a 7,76 1,25 3,75 y 9,26 96-156
W1T
Zona 2403 a
14.74 9.26 24 91
W2Ta 5912
Zona 2403 a >
11.6 12.4 24 126
W2Tb 5912
Zona 2403 a >
11.65 3.75 12.4 151
W2Tc 5912
Zona
397 a 976 8.65 1.25 12.4 23.5-46
W3Ta
Zona
397 a 976 5.13 1.25 6.38 51-76
W3Tb
Zona
26,6 a 65,5 Indeterminado 19.8 Indeterminado Indeterminado
W4T
Dispersa por
Matriz 158 a 300 - - -
toda el rea
Tabla I. Descripcin geoelctrica de la lnea de estudio
Los primeros 17 metros de la lnea de estudio pueden ser observados en la
rivera del ro Cerro Grande (figura 69), se observa que la zona a corresponde a la
zona geoelctrica W1T y que los sedimentos son finos con cantos tamao grava de
2cm de dimetros y que es un suelo propicio para el crecimiento de la vegetacin
(figura 71 y regin a de figura 69) adems por geologa de superficie se sabe que
esta zona geoelctrica pertenece a la terraza aluviocoluvial ms antigua y que est
posada sobre la terraza ms joven y de cantos ms grandes; la zona W2T a, b y c de
resistividades ms grandes se asocian a cantos coluviales grandes de 2m a 4m de
dimetro, de esquistos provenientes del complejo vila, cantos como estos pueden
ser observados en el ro y en sus riveras (figura 72).
La regin W3T a y b tambin son sedimentos con una matriz de cantos ms
grandes (figura 70) que los observados en la regin W1T y corresponden a la terraza
ms joven (figura 69 regin b y c).

84
U.S.B
Una de las descripciones cuantitativas mas resientes fue la realizada por Loke
(1999) de las propiedades resistivas de las rocas (Tabla j), en la cual se resalta el
rango de resistividad que comprende las rocas metamrfica de tipo esquisto y de
suelo aluvial; las rocas tipo esquistos comprende un margen de 600ohm.m a
40.000.000 ohm.m, y el suelo aluvial resistividades que van de 10ohm.m a
800ohm.m.
Segn los rangos de valores de esta tabla y acorde con la observacin
geolgica del subsuelo de la lnea en estudio las zonas geoelctricas quedan
identificadas de la siguiente manera:
La zona W1T, W3Ta, W3Tb y W4T estn en el rango de resistividades
caractersticas de suelos aluviales, igual que el resto del rea geoelctrica
denominada matriz.
Las zona geoelctrica W2Ta, W2Tb y W2Tc tienen resistividades superiores a
2000ohm.m por lo que se puede interpretar segn la tabla de resistividades y las
observaciones geolgicas como esquistos tamao bloque, provenientes del complejo
vila.
85
U.S.B
Tabla j. Resistividad caracterstica de distintos materiales, Loke (1999)

Resistividades Aparentes medidas
Figura 36. Curvas de resistividad aparente en funcin de la distancia, de la tomografa dipolo-dipolo. Cada curva corresponde
a un nivel n de medicin.
a)
b)
c)
Figura 37. Inversin de la tomografa dipolo-dipolo si la topografa. a) Resistividades medidas, b) Resistividades calculadas y
c) Resistividades reales o modelo invertido.
Zona D1T
Zona D 2T
Zona D5T
Zona D4T
Zona D3T
a)
b)
Figura 38. a) Zonas geoelctricas de la inversin dipolo-dipolo sin la topografa.

a)
b)
c)
Figura 39. Inversin de la tomografa dipolo-dipolo con modelo topogrfico distorsin uniforme. a) Resistividades medidas,
b) Resistividades calculadas y c) Resistividades reales o modelo invertido.
Zona D1T
Zona D 2T
Zona D5T
Zona D4T
Zona D3T
a)
b)
Figura 40. a) Zonas geoelctricas de la inversin dipolo-dipolo con el modelo topogrfico de distorsin uniforme.
a)
b)
c)
Figura 41. Inversin de la tomografa dipolo-dipolo con modelo topogrfico de atenuacin. a) Resistividades medidas,
Zona D1T
Zona D2T
Zona D4T Zona D5T

Zona D3T
a)
b)
Figura 42. a) Zonas geoelctricas de la inversin dipolo-dipolo con el modelo topogrfico de atenuacin.
a)
b)
c)
Figura 43. Inversin de la tomografa dipolo-dipolo con modelo topogrfico trasformada SC. a) Resistividades medidas,
Zona D1T
Zona D2T
Zona D5T
Zona D4T
Zona D3T
a)
b)
Figura 44. a) Zonas geoelctricas de la inversin dipolo-dipolo con el modelo topogrfico de SC.
Figura 45. Modelo topogrfico con distorsin uniforme, de la tomografa dipolo-dipolo. Ntese que el borde inferior del grfico
es idntico al la forma de la altimetra del rea de estudio.
Figura 46. Modelo topogrfico con atenuacin, de la tomografa dipolo-dipolo. Ntese que el borde inferior del grfico es ms
suave que el del grfico 12.
Figura 47. Modelo topogrfico con trasformada SC, de la tomografa dipolo-dipolo. Ntese que el borde inferior del grfico es
an ms suave que el del grfico 13.
Resistividades aparentes medidas
Figura 48. Curvas de resistividad aparente en funcin de la distancia, de la tomografa Wenner. Cada curva corresponde
a un nivel n de medicin.
Resistividades aparentes medidas sin
puntos malos
Figura 49. Curvas de resistividad aparente en funcin de la distancia, de la tomografa Wenner. Ntese que la eliminacin de
los puntos malos altero la forma de la curva, esto se debe a un cambio en la escala.
Resistividades de n=1 de la tomografa con el arreglo Wenner con puntos malos
1000
a)
Resistividad(ohm.m)
100
10
1
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
Distancia(m)
Resistividades de n=1 de la tomografa con el arreglo Wenner sin puntos malos
b) 1000
Resistividad(ohm.m)
100
10
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
Distancia(m)
Figura 50. Resistividades en funcin de la distancia del nivel n=1 de la tomografa Wenner a 2
escalas distintas del eje vertical a y b.
a)
b)
Ohm.m

b) Grfico de resistividades calculadas sin tomar en cuenta la topografa.
Figura 52. Modelo de resistividades reales del proceso de inversin sin topografa.
Zona W1
Zona W3
Zona W2
Zona W4
Figura 53. Zonas geoelctricas Modelo de resistividades reales del proceso de inversin sin topografa.
a)
Ohm.m
b)

b) Grfico de resistividades calculadas con un modelo topogrfico de distorsin uniforme.
a)
b)
Ohm.m

b) Grfico de resistividades calculadas con un modelo topogrfico de atenuacin.
a)
b)
Ohm.m
Figura 56 a) Grfico de Resistividades aparentes medidas.

b) Grfico de resistividades calculadas con un modelo topogrfico usando la transformada SC.
Figura 57. Resistividades reales con topografa modelo de distorsin uniforme.
Zona
Zona Zona W1T
W3Ta W3Tb
Zona
Zona Zona W2Tc
Zona W2Ta W2Tb
W4T
Figura 58. Zonas geoelctricas. Resistividades reales con topografa modelo de distorsin uniforme
Figura 59. Resistividades reales con topografa modelo de atenuacin.
Zona W1T
Zona Zona
W3Ta W3Tb
Zona
Zona Zona W2Tc
Zona W2Ta W2Tb
W4T
Figura 60. Zonas geoelctricas. Resistividades reales con topografa modelo de Atenuacin.
Figura 61. Resistividades reales con topografa modelo usando la transformada SC
Zona Zona Zona W1T

W3Ta W3Tb
Zona
W2Tc
Zona Zona
Zona W2Ta W2Tb
W4T
Figura 62. Zonas geoelctricas. Resistividades reales con topografa modelo usando la trasformada SC
Figura 63. Modelo topogrfico con distorsin uniforme, de la tomografa Wenner. Ntese que el borde inferior del grfico
es idntico al la forma de la altimetra del rea de estudio.
Figura 64. Modelo topogrfico con atenuacin, de la tomografa Wenner. Ntese que el borde inferior del grfico es ms
suave que el del grfico 30.
Figura 65. Modelo topogrfico con trasformada SC, de la tomografa Wenner. Ntese que el borde inferior del grfico es
an ms suave que el del grfico 31.
Figura 66. Grficos de
la diferencia de
resistividades
a) aparentes.
Para cada modelo se
genera un mapa de
contornos la resta en el
modelo de
resistividades
aparentes medidas y
calculadas, lo que
b) tambin es un indicativo
del error.
El grfico a) es el
correspondiente al
modelo sin topografa y
los grficos b,c,d a los
tres tipos de modelo
con topografa,
distorsin uniforme,
c) atenuacin con la
profundidad y
trasformada de SC
d)
AIRE
a)
b)
Resistividad
Aparente
(ohm.m)
Figura 67. Resistividades aparentes de una tomografa hecha en un subsuelo homogneo de

100ohm.m. a) Arreglo dipolo-dipolo, b) arreglo Wenner. Ntese que las resistividades
deberan ser 100ohm.m pero debido a la pendiente sufren aumento o disminucin.
Tomado de Panagiotis (1999)
Resistividades aparentes de la lnea de estudio medidas con el arreglo Wenner
Ohm.m
Resistividades aparentes sobre pendiente de 15 y subsuelo homogneo de 100ohm.m

medidas con el arreglo Wenner
Ohm.m
Figura 68. Resistividades aparentes de una tomografa hecha en un subsuelo homogneo de

100ohm.m.Comparacin de las resistividades medidas con el patrn de Panagiotis. Arriba: Resistividades
aparentes medidas sobre una rivera del ro cerro grande con pendiente de 11. Abajo: Resistividades aparentes
calculadas sintticamente con el mtodo de los elementos finitos sobre una pendiente de 15 sobre un subsuelo
homogneo. Ntese la semejanza de las tendencias. Las lneas rojas indican fin de la pendiente.
PX16
17m
c
b
Figura 69. Fotografa de la lnea de estudio. Empalme de fotos para que se observen los
metros de sedimentos que afloran en la rivera este del ro cerro grande.
Figura 70. Sedimentos de la terraza aluvio-coluvial Figura 71. Sedimentos de la terraza aluvio- Figura 72. Canto tamao bloque que aflora en
ms joven. Se encuentran ubicados en los coluvial vieja. Se encuentran ubicados en a las riveras del ro Cerro Grande.
recuadros b y c de la figura 34. recuadro anaranjado en figura 34.
CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
La distribucin de resistividades aparentes adquiridas con el arreglo Dipolo-

Dipolo no aumentaron como sustenta Panagiotis, por lo que no se puede demostrar
si las mismas estn siendo afectadas o no por la inclinacin de 11,2 del terreno en
estudio, sin embargo no se niega la posibilidad de que las mismas estn siendo
afectadas bien sea en menor o mayor magnitud.
No se observaron diferencias significativas entre los modelos inversos de
resistividades reales con y sin topografa para la tomografa elctrica adquirida con el
arreglo Dipolo-Dipolo, lo que indica que el dato topogrfico fue indiferente para
generar el modelo final. Estas diferencias insignificantes son atribuidas a la
aleatoriedad del software en el momento del clculo y no a la topografa, aunque no
se descarta que sea por efecto de la misma, que existan esas pequeas variaciones
entre los modelos con y sin topografa.
Los tres tipos de modelo con topografa del arreglo Dipolo-Dipolo presentaron
un comportamiento semejante en la delimitacin de las zonas geoelctricas, la
magnitud de la resistividad aparente de las mismas variando de manera poco
significativa la geometra de las zonas y el borde inferior, por lo que se demuestra
que cada modelo topogrfico se adapta de manera distinta a la topografa y si es
capaz de hacerlo para pendientes pequeas entonces para cambios bruscos como
valles y crestas pueden presentar modelos significativamente diferentes, por lo que
se recomienda estudiar a profundidad este tpico para conocer a cual realidad
morfolgica, estructural y sedimentolgica se adapta mejor cada uno de estos
modelos. Un comportamiento semejante se observ en los modelos topogrficos
generados con el dispositivo Wenner.
En el mapa de contornos de las resistividades aparentes medidas con el
arreglo Wenner se observa la disminucin de las resistividades bajo el punto de
donde culmina la pendiente y los contornos del mapa se pueden comparar con los
obtenidos por Panagiotis en sus pruebas sintticas, por lo que se concluye la
topografa esta cambiando el valor verdadero de las resistividades aparentes y por lo
tanto los datos topogrficos deben ser tomados en cuenta dentro del proceso de
inversin o corregidos de antemano de lo contrario generarn un modelo de
resistividades reales errado.
117
U.S.B
El modelo inverso obtenido sin topografa con el arreglo Wenner es

significativamente diferente a los modelos obtenidos tomando en cuanta la misma,
en magnitud de las resistividades, delimitacin de las zonas geoelctricas y
geometra de las mismas.
Los modelos del comportamiento geoelctrico de la lnea de estudio ms
confiables son cualquiera de los tres modelos topogrficos generados con el arreglo
Wenner.
Al asociar los datos de resistividad a tipos de rocas o suelo a travs de la
tabla de resistividades de la rocas de Loke (1999) se obtiene que el subsuelo esta
compuesto por una matriz de suelo aluvial entre lo que se destaca roca tamao
graba, entre esta matriz de subsuelo se encuentran rocas tamao bloque de mas de
2m de dimetro que presentan resistividades caractersticas de esquistos. Esta
interpretacin surge luego de realizar el estudio de la geologa superficial pertinente.
118
U.S.B
BIBLIOGRAFA
Orellana, E. Prospeccin Geoelctrica En Corriente Continua. Paraninfo, Madrid,

segunda edicin, 1982. p 24-72.
Burden R. L., Faires J. D. Numerical Analysis. Brooks/Cole Publishing Company.

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Loke, M.H. Tutorial: 2-D and 3-D Electrical Imaging Survey. Copyright, p 1-5, 29-35.
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Loke, M.H. Topographic modelling in resistivity imaging inversion. 62nd EAGE

Conference & Technical Exhibition Extended Abstracts, D-2.,(2000).
Lines L.R. and Treitel S. Tutorial : A review of least-squares inversion and its
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Panagiotis, L. Tsourlos, J. The effect of terrain topography on commonly used

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Tong, L., y Yang, C., , Incorporation of topography into 2-D resistivity inversion:
Geophysics, Vol. 55, 354-361, (1990).
Rodrigues, J., Sanchez, J. Vulnerabilidad de la regin de Tanaguarena en el litoral

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Fazzito, S. Incertezas experimentales y teora de errores. Tesis de grado. Buenos

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Romero, M., Cragno, A. Caracterizacin de suelos con mtodos geofsicos en la

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UNIVERSIDAD SIMN BOLVAR

INVERSIN E INTERPRETACIN DE DATOS DE

Asesor industrial: Asesor Acadmico:

Sartenejas, Abril de 2007

Este trabajo ha sido aprobado en nombre de la Universidad Simn Bolvar por el

Este trabajo ha sido aprobado en nombre de la Universidad Simn Bolvar por el

INVERSIN E INTERPRETACIN DE DATOS DE RESISTIVIDAD APARENTE EN 2D

En este trabajo se realiz una inversin bidimensional de datos reales de

permiti prospectar ms haya de las heterogeneidades de las primeras capas de

A mis padres por correr con la cuenta jaja.

1.2 Definicin del problema 2

Capitulo II Objetivos del estudio 4

Capitulo III Definiciones de inters 6

Capitulo IV Marco terico

4.1 Conceptos Bsicos en la prospeccin geoelctrica 8

4.2 Teora del funcionamiento de los dispositivos de 16

4.3 Teora de la adquisicin de una tomografa elctrica 20

4.4 Teora bsica de la inversin 26

Capitulo V La topografa en la inversin

5.1 Mtodo de elementos finitos 31

5.2 RES2DINV y topografa 37

Capitulo VI rea de estudio

6.1 Localizacin geogrfica 39

6.2 Marco geolgico 42

Capitulo VII Marco metodolgico

7.1 Procedimiento administrativo 44

7.2 Mediciones de campo 47

7.2.2. Procedimiento para la obtencin de datos 52

Capitulo VII Resultados

8.2 SEV con el arreglo tipo Schlumberger 67

8.3.1 Inversin de tomografa con arreglo dipolo 68

8.3.2 Inversin de tomografa con arreglo Wenner 72

8.4 Anlisis e interpretacin 75

Conclusiones y recomendaciones 116

Figura 1. Subsuelo homogneo de resistividad 9

Figura 2. Circuito de emisin de corriente 9

Figura 3. Electrodo puntual 12

Figura 4. Dispositivo electrdico de tres electrodos 13

Figura 5. Subsuelo heterogneo. 16

Figura 6. Arreglo tipo Schlumberger 17

Figura 7. Arreglo tipo Wenner 19

Figura 8. Arreglo tipo Dipolo-Dipolo 19

Figura 9. Distribucin de medidas en SEV 21

Figura 10. Distribucin de medidas en tomografas 21

Figura 11. a) Mediciones del nivel 1 con arreglo Wenner

Figura 12. a) Niveles de la tomografa tipo Schlumberger

Figura 13. Modelo 1 de adquisicin de datos con el dispositivo

Figura 14. Modelo 2 de adquisicin de datos con el dispositivo

Figura 15. Superficie discretizada 33

Figura 17. Localizacin geogrfica 39

Figura 18. Mapa hipsomtrico de Venezuela 40

Figura 19. Ubicacin relativa de la lnea de estudio 41

Figura 20. Electrodos de corriente o barrenas metlicas 48

Figura 22. Fuente de poder y carretes de cable 49

Figura 23. Instrumento GPS, para levantamiento altimtrico 50

Figura 24. Calicata con el arreglo Wenner 54

Figura 25. Medidas para n=1 de la tomografa con el arreglo 55

Figura 26. Nmero total de medidas de n=1 (arreglo Dipolo- 55

Figura 27. Medidas para n=2 de la tomografa con arreglo Dipolo-

Figura 28. Medida totales n=1 y n=2 de la tomografa (arreglo 56

Figura 29. Ventana del software Mobbile Mapper 59

Figura 31. Ventana de RES2DINV para leer archivos .dat y/o

Figura 32. Ventana de dilogo de RES2DINV para escoger el