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Energa y Mecnica
Preparatorio Practica 1
Materia: Sistemas de Control
NRC:2003
Profesor:
Ing. Luis Orozco
Alumnos:
Albn Carlos
Frias Diego
Narvaez Andrs
OBJETIVO GENERAL
Modelar e identificar los parmetros de sistemas SISO LTI de primero y segundo orden.
OBJETIVOS ESPECIFICOS
EQUIPOS
Generador de seales
Osciloscopio
Multmetro
MATERIALES
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Resistor = 1K
Capacitor = 1uF
3
Figura 3 Configuracin de Scope
Con los datos de entrada y salida (Vout/Vin) obtenidos con el circuito RC SIMULADO,
proceda a modelar el sistema con una estructura de primer orden (fuera de lnea) y a
identificar sus parmetros siguiendo los pasos descritos a continuacin:
1. Haga clic en Import data y seleccione Time Domain Data para que
aparezca la ventana de la Figura 5.
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Figura 5 Configuracin Import Data
2. Utilice la ventana de la figura 1.5 para importar los datos de entrada y salida
versus el tiempo. Llene los datos Input con las entradas y salidas y en el
Sampling interval coloque el periodo de muestreo constante utilizado, como
se muestra en el ejemplo.
3. Haga Clic en Estimate y escoja Proces Models para que aparezca la
ventana de la figura 6.
5
4. Configure el Model Transfer Function con los puntos inferiores (Figura 7):
Poles: 1 All real
Sin Ceros (No poner un visto en Zero)
Sin Retardos de tiempo (No poner un visto en Delay)
Sin Integrador (No poner un visto en Integrador)
5. Haga Clic en Estimate para estimar los parmetros K y Tp1 del modelo
configurado (Figura 7).
0.90262
() =
1 + 0.00108
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Figura 8 Porcentaje de Ajuste del Sistema
7
2. Configure el generador de seales, una seal cuadrada de 1Vpp, offset = 0.5V
y periodo T=12 [ms] y aplique a la entrada del sistema. Con un osciloscopio,
mida la seal de salida Vout. Si el osciloscopio es digital, guarde estas grficas
o sus valores con respecto al tiempo, o proceda a hacer varias lecturas de las
grficas sealadas con un periodo de muestreo (20 puntos por lo menos,
espaciados con el mismo lapso de tiempo o periodo de muestreo Ts
constante).
Realice en Simulink de Matlab una simulacin del comportamiento del sistema (filtro
de segundo orden), para lo cual debe aplicar al mismo, una entrada escaln y visualizar
su salida con un osciloscopio (Scope) tal como se observa en la figura 10. Simule por un
intervalo de 20 milisegundos (o ms de 20 milisegundos) mantenindolo un Periodo de
muestreo constante (Ej. 100 us), para lo cual se debe usar el men Simulation.
8
Configure el Scope, para que se guarde los datos de entrada y salida en el Wokspace
de Matlab.
Con los datos de entrada y salida (Vout/Vin) obtenidos del filtro activo de segundo
orden, proceda (Off-line) a modelar el sistema con una estructura de segundo orden
subamortiguada (con races imaginarias) y a identificar sus parmetros siguiendo los
pasos descritos en el procedimiento de identificacin del apartado 4.1
Configure el Model Transfer Function con los puntos inferiores (Figura 12)
o Poles: 2 Underdamped
o Sin Ceros (No poner un visto en Zero)
o Sin Retardos de tiempo (No poner un visto en Delay)
o Sin Integrador (No poner un visto en Integrador)
Haga clic en Estimate para estimar los parmetros Zeta y Tw del modelo configurado
(Figura 12).
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Figura 12 Ventanas Process Models
Tome nota de los valores de los parmetros K, Zeta, Tw y exprese el modelo estimado
por el System Identification Tool, para el sistema de primer orden con la forma
k/(1+(2*Zeta*Tw) s+(Tws) ^2). (Ver Figura 11).
1.0002
() =
1 + 0.000309 + 0.00000001 2
Finalmente, en la ventana principal del System Identification Tool, haga clic en Model
Output para verificar el porcentaje de ajuste de la salida que se obtendra con el
modelo calculado con la salida del sistema real que fue importada al inicio (Figura 13)
10
Configure en el generador de seales una seal cuadrada de 1 Vpp, offset=0.5V y
periodo T=20 [ms] y aplique a la entrada del sistema. Con un Osciloscopio mida la
seal de salida Vout. Si el osciloscopio es digital, guarde estas grficas o sus valores
con respecto al tiempo, o proceda a hacer varias lecturas de las grficas sealadas (20
puntos por lo menos espaciados con el mismo lapso o periodo de muestreo Ts
Constante).
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