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Megger

Seminario Terico - Practico


Pruebas SFRA de Mantenimiento y Puesta
en Servicio para Transformadores

1
SFRA Historia
1960: Low Voltage Impulse Method. (mtodo de impulso de
bajo voltaje) propuesto por W. Lech & L. Tyminski en Polonia
para detectar deformaciones de bobinas.
1966: Publicacin de resultados; Detecting Transformer
Winding Damage - The Low Voltage Impulse Method, Lech &
Tyminsk, The Electric Review, ERA, UK
1978: Transformer Diagnostic Testing by Frequency
Response Analysis, E.P. Dick & C.C. Erven, Ontario Hydro,
IEEE Transactions of Power Delivery.
1978: La prueba FRA se desarrolla en Ontario Hydro, Canad

2
SFRA Historia (2)
1988 - 1990s : Se realizan pruebas en diferentes compaas
en Europa y la tecnologa se dispersa a nivel mundial a travs
de CIGRE y muchas otras conferencias y reuniones tcnicas
2004: Se publica el primer estndar de SFRA Frequency
Response Analysis on Winding Deformation of Power
Transformers, DL/T 911-2004, The Electric Power Industry
Standard of Peoples Republic of China
2008: Se publica CIGRE reporte 342, Mechanical-Condition
Assessment of Transformer Windings Using Frequency
Response Analysis (FRA)
2011: IEEE contina con la revisin del documento
PC7.149.D8 previa a su aprobacin final como gua de
pruebas FRA.

3
Mecnica del Transformador
Un transformador esta diseado para soportar ciertas cargas
mecnicas.
Los limites de diseo pueden ser excedidos debido a:
Fuerte impacto mecnico
Transporte
Movimientos ssmicos
Fuertes impactos elctricos
Fallas en el sistema
Fallas en los conmutadores
Falla de sincronizacin
La resistencia mecnica del transformador se debilita con el
paso del tiempo
Aminora la capacidad de soportar estrs mecnico
Incrementa el riesgo de fallas por problemas mecnicos
Incrementa el riesgo de problemas de aislamiento

4
Por qu se analiza la condicin mecnica?

Para detectar posibles desplazamientos del ncleo


y deformaciones en los devanados debido a:
Grandes fuerzas electromagnticas por corrientes de
falla
Transporte y reubicacin de la unidad
Si estas fallas no se detectan a tiempo, el problema
puede evolucionar y terminar en fallas trmicas o
dielctricas que provoque la perdida del
transformador
Periodicidad en las pruebas es esencial

5
Deteccin de Fallas con SFRA
Fallas en devanados
Deformacin
Desplazamiento
Corto circuito
Fallas de ncleo
Movimiento
Puesta a tierra
Fallas/ cambios mecnicos
Estructuras de fijacin
Conexiones

6
Fundamentos de la Prueba SFRA
Prueba con el equipo fuera de
servicio
El transformador se analiza como
como un circuito de filtro RLC
complejo
La respuesta del circuito de filtro se
mide en un gran numero de
frecuencias sobre un extenso rango
de frecuencias y se lo grafica como
una curva de magnitud de respuesta
Los cambios en el circuito de filtro
pueden detectarse y mediante
comparacin en el tiempo
Este mtodo es nico por su
capacidad para detectar una
variedad de fallas en los devanados
o en el ncleo en una sola prueba

7
SFRA Base Terica

Core

Insulation Insulation
H1 Conductor Conductor X1
bushing bushing
Insulation Insulation

Insulation
HV LV
coil coil

Insulation Insulation

Conductor Conductor
H2 X2
bushing Insulation Insulation bushing

8
Qu se esta midiendo?

Cambios en
Cambios
= la Magnitud
Elctricos
de la
Respuesta

Capacitancia Interdevanados

Transformer Tank
Capacitancia entre Devanados y
Ncleo
Capacitancia entre Devanados y
la cuba
Inductancia de la Bobina

Resistencia de la Bobina

Insulation

9
Condicin Normal del Circuito

Core

Configuracin
Mecnica
Normal

HV
coil
LV
coil

Vmedido
Magnitud =
Insulation
Vaplicado

10
Desviacin Mecnica en el Circuito

Core

Variacin Variacin Variacin


=
Mecnica Mecnica Elctrica

HV
coil
LV
coil

Variacin
Elctrica

Vmedido
Magnitud =
Insulation
Vaplicado

11
Seal aplicada = 10 V
Conexiones Seal Medida =
V de respuesta

Cables co-axiales
apantallados

Datos
Tierra

Transformador

Bobina

12
SFRA De dnde proviene la Grafica ?
APLICA 10 Volts a una frecuencia a un terminal de la bobina
MIDE la respuesta de Voltaje al otro extremo de la bobina
MAGNITUD de RESPUESTA a una frecuencia es la relacin entre Vmedido /
V aplicado
REPITA a 1000s de frecuencias en el rango (0.1 Hz -25 MHz), con 10 V
GRAFICO, x=Frecuencia vs. y=Magnitud de la Respuesta
Represente de manera logartmica, 20 log (medido / aplicado)
M easured V M easured V
20 Hz 50,000 Hz

10 Vaplicado V medido
Response = 10 V
M easured V
Response = 10 V
M easured V
70 Hz 100,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V

Magnitud (V/V)
M easured V M easured V
100 Hz 200,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
500 Hz 500,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
1000 Hz 800,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
2000 Hz 1,000,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V
5000 Hz 1,500,000 Hz
Response = 10 V Response = 10 V
M easured V M easured V

Vmedido 10,000 Hz
Response = 10 V
2,000,000 Hz
Response = 10 V

Magnitud =
20 Hz 1000 Hz 10,000 Hz 100,000 kHz 1,000,000 Hz 2,000,000 Hz
Vaplicado Frecuencia (Hz)

13
SFRA Caracterstica de la Grfica
Magnitud de la Respuesta de Barrido de Frecuencia
Modelo elctrico del transformador = circuito RLC
Cada frecuencia tiene una impedancia efectiva

Dominio
Inductivo
Dominio
Capacitivo
10 Vaplicado V medido 20 Hz Response

Magnitud (V/V) 70 Hz Response


1,500,000 Hz Response
50,000 Hz Response
100 Hz Response 2,000,000 Hz
500 Hz Response 100,000 Hz Response Response
1,000,000 Hz Response
10,000 Hz Response
1000 Hz Response 800,000 Hz Response
5000 Hz Response 200,000 Hz Response
Vmedido 2000 Hz Response
500,000 Hz Response
Magnitud =
20 Hz 1000 Hz 10,000 Hz 100,000 kHz 1,000,000 Hz 2,000,000 Hz
Vaplicado
Frecuencia (Hz)

Resonancias
14
Rangos de frecuencia para medicin SFRA
CIGRE 342

Limite de Baja Limite de Alta


Categora
Frecuencia Frecuencia
Transformadores de Potencia, Uw <
< 50 Hz 2 MHz
100 kV
Transformadores de Potencia, Uw >
< 50 Hz 1 MHz
100 kV

Comparacin de mediciones
anteriores y/o mtodos/practicas que < 50 Hz 500 kHz
no se cien at estndar de CIGRE

15
Rangos de frecuencia para medicin SFRA
Ejemplos

Limite de Baja Limite de Alta


Estndar
Frecuencia Frecuencia
Eskom 20 Hz 2 MHz

ABB 10 Hz 2 MHz

Japn (impedancia) 100 Hz 1 MHz

Por defecto el instrumento debe cubrir el rango 20 Hz 2 MHz

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SFRA Resultados Regiones de Frecuencia
Problemas en el transformador
pueden detectarse en diferentes
rangos de frecuencia
Bajas frecuencias
Problemas en el ncleo
Devanados abiertos/corto
circuito
Winding
Malas conexiones/incremento and tap
resistencia leads
Cambios en la impedancia de
Corto-circuito Winding
interaction and
Media frecuencia
deformation
Deformaciones en los
devanados Core + windings
Desplazamiento de devanados
Altas frecuencias
Movimiento de los devanados y
conexionado del conmutador

17
Regiones de Frecuencia segn IEEE
10

0
Winding
-10
Core structure
-20 influence influence
Magnitude, dB

-30

-40

-50

-60 Earthing
Interaction leads
-70 A phase between influence
B phase windings
-80
C phase
-90
1 2 3 4 5 6 7
10 10 10 10 10 10 10
Frequency, Hz

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Comparativo de diferentes tcnicas de
diagnostico (CIGRE 342)
Diagnostic technique Advantages Disadvantages
Magnetizing (exciting) current Requires relatively simple equipment. Not sensitive to winding deformation.
Can detect core damage Measurement strongly affected by core
residual magnetism
Impedance (leakage reactance) Traditional method currently specified in Very small changes can be significant.
short-circuits test standards. Reference Limited sensitivity for some failure modes
(nameplate) values are available (best for radial deformation)

Frequency Response of Stray Losses Can be more sensitive than impedance Not a standard use in the industry
(FRSL) measurement.
Almost unique to detect short circuits
between parallel strands
Winding capacitance Can be more sensitive than impedance Limited sensitivity for some failure modes
measurements. (best for radial deformation).
Standard equipment available Relevant capacitance may not be
measurable (e.g. Between
series/common/tap windings for auto
transformers)
Low Voltage Impulse (LVI) (time domain) Recognized as very sensitive Specialist equipment required.
Difficult to achieve repeatability.
Difficult to interpret
Frequency Response Analysis Better repeatability than LVI with the Standardization of techniques required.
same sensitivity. Guide to interpretation required
Easier to interpret than LVI (frequency
instead of time domain). Increasing
number of users

19
Pruebas Comparativas
Transformador A Basado en Diseo

Basado en
Tiempo

Transformador A Transformador B

Basado en el Tipo
Constructivo

20
Comparaciones

Basadas en Tiempo (Las pruebas se levan a cabo en el mismo


transformador en diferentes periodos de tiempo)
Esta es la prueba mas eficaz
Desviaciones entre curvas son fcil de detectar
Basadas en el Tipo Constructivo (Las pruebas se llevan a cabo
en transformadores de un diseo similar)
Se requiere un conocimiento especifico sobre el objeto de prueba y
sus posible modificaciones
Desviaciones menores no son necesariamente un signo de
problemas en la unidad
Basado en Diseo (Las pruebas se realizan en los terminales de los
devanados y boquillas de idntico diseo)
Se requiere un conocimiento especifico sobre el objeto de prueba y
sus posible modificaciones
Desviaciones menores no son necesariamente un signo de
problemas en la unidad

21
Comparacin de Transformadores Similares
(mismo fabricante)
La comparacin entre unidades idnticas de produccin
en serie puede ser sencilla ya que todas las bobinas se
fabrican de la misma manera

22
Comparacin de Transformadores Similares
(diferente fabricante)
Transformadores con similar especificacin pero
diferentes fabricantes difiere por tipo de materiales
y diseo. 2 X 115/34.5 7.5MVA

23
Comparacin de Transformadores Rebobinados
La comparacin es tpicamente complicada puesto
que cada bobina puede tener su caracterstica nica
de construccin.

24
Filosofa de las Mediciones SFRA

Nuevas mediciones = Medicin de Referencia

Entra en Servicio

Nuevas Mediciones Medicin de Referencia

Se requiere pruebas adicionales

25
SFRA Ejemplo de Comparacin
Transformador trifsico 2 devanados mismo transformador, misma fase

Prueba de Aceptacin = Prueba post-falla


Huella Digital

Superposicin de curvas Aceptacin & Post-falla

26
Cundo se realizan las mediciones SFRA?
Pruebas de Fabrica
Control de Calidad en el proceso de manufactura
Verificacin de la unidad despus de la prueba de
corto-circuito
Antes del envo
Instalacin/puesta en servicio
Reubicacin
Luego de una falla pasante en el sistema
Parte de las pruebas de diagnostico de rutina
Eventos catastrficos
Movimientos ssmicos
Huracanes / Tornados
En pruebas por alarmas de la unidad
Buchholz
DGA
Alta Temperatura
Antes-despus de mantenimiento correctivo

27
Deteccin de Fallas en el
Transformador

28
Deteccin de Desplazamiento de Bobinas

Previo a la prueba de SFRA, la integridad mecnica del


transformador fue evaluada con los siguientes
mtodos:
Resistencia de Devanados
Corriente de Excitacin
Medicin de Reactancia de dispersin
Capacitancia inter-devanados
Cada uno de estos mtodos dan una referencia
especifica

29
Importancia de cada Prueba
Type of Test Transformer Characteristic @ 60 Hz
1.) OPEN Circuit Self Admittance

VR
Looks at W inding AND
OPEN Core characteristics Similar to Excitation Test
VM

2.) SHORT Circuit Self Admittance


VR
Similar to Leakage Reactance
SHORT Looks at W inding
VM

3.) CAPACITVE Inter-Winding


VR VM Looks at Capacitance
between W indings Similar to Capacitance

4.) INDUCTIVE Inter-Winding


VR VM
Looks at Inductance of
BOTH W indings
Similar to TTR

30
Configuraciones de Medicin SFRA

31
SFRA configuracin

32
Circuito de Medicin

33
Tipos de Pruebas- Admitancia de circuito
abierto (CA)
Se realiza entre los extremos o
terminales de un mismo
devanado, con todos los
dems terminales flotantes.
La impedancia de
magnetizacin del
transformador es el principal
parmetro que caracteriza la
respuesta de baja frecuencia
(bajo la primera resonancia) en
esta configuracin
Comnmente se la usa por su
simplicidad y la facilidad de
analizar cada devanado por Configuracin de la Prueba SFRA en circuito abierto
separado

34
Admitancia de Circuito Abierto- Ejemplo
Bajas Frecuencias
Puede variar entre mediciones por efecto de magnetizacin
Respuesta tpica de doble-hundimiento en fases simtricas
Fase B normalmente aparece por debajo de las fases A y C (Y)

35
Tipos de Pruebas- Admitancia de
cortocircuito (CC)
Se realiza entre los extremos o terminales de un mismo devanado, mientras el
devanado de bajo voltaje es cortocircuitado.
La influencia del ncleo desaparece por debajo de aproximadamente 10-20 kHz
porque la respuesta de baja frecuencia se caracteriza por la impedancia de
cortocircuito / reactancia de fuga en lugar de la inductancia de magnetizacin
La respuesta en altas frecuencias es similar a la prueba de admitancia en circuito
abierto.

Configuracin de la Prueba SFRA en cortocircuito

36
Admitancia de cortocircuito (CC) - Ejemplo
Bajas Frecuencias
Todas las fases deben ser muy similares. Variaciones > 0.25 dB sugieren
problemas de reactancia de fuga/resistencia de devanados/ conexionado/
conmutadores

37
Tipos de Pruebas Capacitivo interdevanados
(ID)

Se realiza desde uno de los extremos de un devanado a otro, con


todos los otros terminales flotando.
En la respuesta de esta configuracin en bajas frecuencias predomina
la influencia de la capacitancia entre devanados.

Configuracin de la Prueba SFRA en capacitiva entre devanados


38
Capacitivo inter-devanados Ejemplo

39
Tipo de Pruebas Admitancia transferida (VT):
Se realiza desde una fase de uno de los devanados a la misma fase de
otro devanado, con sus respectivos extremos aterrizados. Los dems
terminales que no estn bajo prueba deben permanecer flotantes.
El rango de baja frecuencia se define por la relacin de transformacin
de los devanados

Configuracin de la Prueba SFRA en voltaje transferido

40
Admitancia Transferida (VT)

41
Comparacin de resultados de Prueba

Ncleo sin aterrizar

Ncleo Aterrizado

Repetitividad es la clave del xito!

42
Ejemplo de Repetitividad
105 MVA, Transformador monofsico Elevador
(GSU)
Mediciones SFRA con FRAX 101 antes y despus
de un severo corto-circuito en el generador
Dos unidades de prueba diferentes
Dos tcnicos distintos
Prueba realizada en fechas distintas

43
Antes (2007-05-23) y post-falla (2007-08-29)

Bobina BT

Bobina AT

44
105 MVA, Monofasico GSU
Las mediciones antes y despus del evento
resultaron virtualmente idnticas
Excelente correlacin entre la referencia y la
medicin post-falla.
Conclusin:
No existe indicativos de danos mecnicos internos en el
transformador
El transformador puede ser puesto en servicio

45
Factores que Influyen la calidad de la
medicin

Calidad de la conexin de la seal de


medicin
Practica de aterrizaje
Rango dinmico interno del equipo, piso de
ruido
Comprensin de la condicin del ncleo en
la prueba de circuito abierto

46
Mala conexin
Mala conexin se refleja en la distorsin a mayores frecuencias

47
Terminales de conexin

Abrazaderas tipo C aseguran


la calidad del contacto
Penetra capas no
conductivas
Conexin solida a la brida del
buje

48
La Conexin de Puesta a tierra asegura la
repetitividad de la prueba en altas frecuencias

Prctica recomendada Prctica incorrecta

49
Influencia del tipo de Puesta a Tierra

C. Homagk et al, Circuit design for reproducible on-site measurements of


transfer function on large power transformers using the SFRA method, ISH2007

50
Calidad del Equipo de Pruebas
Los transformadores tienen alta impedancia en su
primera resonancia
El ruido interno del equipo es principalmente el
limitante mas critico, no el ruido de la subestacin
Verifique el piso de ruido de su instrumento
realizando una prueba de puntas abiertas

51
Nivel de Ruido Interno Piso de ruido

Rojo = Otra marca


Verde = FRAX 101

52
Ejemplo de problema de ruido interno

H1 H2 mediciones circuito abierto y


corto
Negro = Otra marca
Rojo = FRAX 101

53
Por que se require por lo menos -100 dB..?

Westinghouse 40 MVA, Dyn1, 115/14 kV, HV [open]

54
Influencia del ncleo

Trate de minimizar el efecto, de todas maneras


algunas diferencias se vern y deben aceptarse.
De preferencia:
Realice las mediciones SFRA antes de la
prueba de resistencia de devanados (o
des-magnetice el ncleo antes de la prueba
SFRA)
Use el mismo nivel de voltaje en todas las
mediciones SFRA.

55
Prueba de resistencia de devanados

H1-H2 [open]
Luego de prueba de resistencia de devanados

Luego de la
desmagnetizacin

56
SFRA Efecto del cambiador de tomas

Efecto a bajas Efecto en


frecuencias bobinas

57
Efecto del Voltaje Aplicado

H1-H0 [open]
0.1 V peak-to-peak

10V peak-to peak


El efecto es mayor
en los devanados
de BT

58
Voltaje de Medici on variable

59
Calidad de la Medicin y Repetitividad

La base de las mediciones SFRA es la comparacin y la


repetitividad es de extrema importancia
Para asegurar la repetitividad;
Seleccione un instrumento de calidad, alta precisin con un
amplio rango dinmico e impedancia de entrada/salida que sea
apropiada para el tipo de cable coaxial (tpico 50 Ohm)
Asegure una buena seal de conexin y conecte la pantalla de
los cables coaxiales a la brida de la boquilla usando la tcnica de
la trenza mas corta.
Use el mismo voltaje de prueba en todas las mediciones SFRA
Tenga cuidado de las pruebas de resistencia de devanados y
otras pruebas que puedan magnetizar el ncleo.
Documente su prueba apropiadamente, tome fotografas y detalle
la configuracin de conexiones y posicin de conmutadores

60
SFRA Anlisis

61
Herramientas de anlisis para SFRA

Visual anlisis grafico


Valores iniciales dB
La forma esperada de configuraciones -
Comparacin de huellas tomadas en:
El mismo transformador
Transformadores de construccin y propiedades similares
Fases Simtricas
Nuevas frecuencias de resonancia
Anlisis de Correlacin
Estndar DL/T 911 2004
Especifico de fabrica y usuario final

62
Respuest Tipica de un Transformador en buen estado

HV [cortocircuito]
identico entre fases

LV [abierto] segun
lo esperado para
un trans-r Y
Minima desviacion entre
fases en todas las
pruebas no hay
defectos de devanados
HV [abierto] segun lo
esperado para un
trans-r Y Doble
endidura

63
Transformador con serios Problemas

Grandes Grandes desviaciones


desviaciones entre entre fases en los
fases para BT rangos de meadia y
(abierto) en bajas altas frecuencias son
frecuencias es indicativos de fallas en
indicativo de los devanados
cambios en el
circuito magnetico,
defectos del nucleo

64
Transformador con espiras del devanado
en corto
Es la falla mas sencilla de reconocer con SFRA
Tpicamente se produce por una falla de corriente pasante
Las espiras adyacentes pierden papel y se fusionan
resultando en una vuelta solida alrededor del ncleo
SFRA provee un diagnostico claro de la espira en corto
La respuesta de SFRA por cortos de espiras no requiere
de referencia pues su variacin en las bajas frecuencias
es evidente

65
Espira en Corto Circuito
Rango de Corto Circuito entre espiras
Frecuencia Considerando que no existan otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
La falla de corto circuito remueve el efecto de la reluctancia del ncleo de la
prueba de circuito abierto. La respuesta de FRA en circuito abierto toma un
comportamiento similar al de la prueba de corto circuito. La bobina afectada
muestra la mayor variacin. Este tipo de falla afecta tambin aunque de menor
manera las respuestas de otras bobinas.
Prueba de Corto Circuito:
Los resultados no son comparables con datos anteriores o entre fases. La
bobina afectada esta generalmente fuera del trazado.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
En este rango se produce un desplazamiento o nuevos puntos de resonancia.

50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:


En este rango se produce un desplazamiento o nuevos puntos de resonancia.

> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:


En este rango se produce un desplazamiento o nuevos puntos de resonancia.

66
Transformador con espiras en Corto
10 100 1000 10000 100000 1000000
0

-10

-20
Response (dBs)

-30

-40

-50

-60

-70

-80
Fre que ncy (Hz)

HV [open]; fase-B (rojo) debe tener una menor respuesta en comparacion con las
fases A y C pero presenta mayor magnitud / menor impedancia

67
Corto circuito entre Espiras

La impedancia decrece en las


bajas frecuencias en la prueba
de circuito abierto

La impedancia decrece en las


bajas frecuencias en la prueba
de AT corto circuito (solo si el
corto esta en AT)

68
Deformacin Radial de la Bobina
Rango de Deformacin Radial de la Bobina
Frecuencia Considerando que no existen otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
Esta regin (ncleo) generalmente no se ve afectada por deformacin radial.
Prueba de Corto Circuito:
Resulta en un incremento de impedancia. El trazado de FRA por la fase afectada
generalmente muestra una ligera atenuacin en la zona inductiva.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
El rango que representa las bobinas puede desplazarse o se pueden producir
otros nuevas resonancias dependiendo de la severidad del problema. De todas
formas, esta variacin es difcil de identificar. Los cambios son mayores en la
bobina afectada, pero es posible observar cambios en la bobina opuesta. Esta
respuesta debe usarse como evidencia secundaria para corroborar el anlisis.
50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
La deformacin radial de la bobina es mas evidente en este rango. Puede
desplazarse o producir nuevas resonancias dependiendo de la severidad de la
deformacin. Los cambios son mayores en la bobina afectada, pero es posible
observar cambios en la bobina opuesta.
> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Este rango generalmente no se ve afectado, aunque una deformacin muy severa
puede reflejarse en este rango.

69
Deformacin Radial de la Bobina...

Cambios de Resonancia en
las frecuencias medias y
altas en la prueba de
Circuito Abierto

Pequeo pero significativo


incremento de impedancia
en las bajas frecuencias en
la prueba de Corto Circuito

70
Deformacin Axial de la Bobina

Rango de Deformacin Axial de la Bobina


Frecuencia Considerando que no existan otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
Esta regin no se ve generalmente afectada durante la deformacin axial de la
bobina.
Prueba de Corto Circuito:
Resulta en un cambio de impedancia. El trazado de FRA en la bobina afectada
causa una diferencia entre fases o resultados previos en la zona inductiva.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
La deformacin axial de la bobina es mas evidente en este rango. Puede
desplazarse o producir nuevas resonancias dependiendo de la severidad de la
deformacin. Los cambios son mayores en la bobina afectada, pero es posible
observar cambios en la bobina opuesta
50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
La deformacin axial de la bobina presenta desplazamiento o produce resonancias
dependiendo de la severidad de la deformacin. Los cambios son mayores en la
bobina afectada, pero es posible observar cambios en la bobina opuesta

> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:


La respuesta por deformacin axial es impredecible en este rango.

71
Defromacion Axial de la Bobina...

Cambios de Resonancia en
las frecuencias medias y altas
en la prueba de Circuito
Abierto

Pequeo pero significativo


incremento de impedancia
en las bajas frecuencias en
la prueba de Corto Circuito

72
Defectos del Ncleo

Defectos del ncleo causan variaciones en el


circuito magntico del ncleo
Calentamiento de laminas del ncleo
Corto entre laminas del ncleo
Mltiples puntos a tierra
Prdida del punto de conexin a tierra del ncleo.

73
Defectos del Ncleo
Rango de Defecto del Ncleo
Frecuencia Considerando que no existan otras fallas:
20 Hz 10 kHz Prueba de Circuito Abierto:
Este tipo de fallas afectan la regin de baja frecuencia, generalmente <10
kHz. Los defectos del ncleo a menudo cambian la forma de la resonancia
primaria del ncleo. Defectos del ncleo pueden esconderse tras el efecto de
magnetizacin residual.
Prueba de Corto Circuito:
Esta regin normalmente no se ve afectada por defectos del ncleo. Todas
las fases deben ser similares.
5 kHz 100 kHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Este rango puede desplazarse o producir nuevas resonancias.
50 kHz 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Generalmente este rango se mantiene sin cambios. Pero si la falla se debe a
un problema de aterrizaje del ncleo, cambios de la capacitancia CL puede
causar desplazamiento de las resonancias en la porcin superior de este
rango.
> 1 MHz Pruebas de Circuito Abierto y Corto Circuito:
Si la falla se debe a un problema de aterrizaje del ncleo, cambios de la
capacitancia CL puede causar desplazamiento de las resonancias.

74
Defectos del Ncleo - Ejemplo

No hay diferencia entre


Importantes (e fases en altas
inesperadas) frecuencias No hay
diferencias entre fases defectos de bobinas...
en las bajas
frecuencias en la
prueba de circuito
abierto BT

75
Defectos del Ncleo...

Variaciones importantes
en el circuito magntico
en la primera resonancia
en la prueba de circuito
abierto

76
FRAX
Unidad de Medicin SFRA

77
FRAX 101 Frequency Response Analyzer

78
FRAX 101 Frecuencia Response Analizar
Alimentacin
11-16VDC,
Batera incorporada
(FRAX 101)

Puerto USB Terminales:


Generador
Referencia
Bluetooth Medicin
en FRAX101

Carcasa de aluminio
protegida

79
SFRA configuracin
Generador y
Referencia

Medicin

80
Bsqueda en la base de Datos
Archivos de datos guardados en formato XML
La funcin de indexacin guarda la informacin relevante en una pequea
base de datos
La funcin de bsqueda despliega y administra los archivos en diferentes
ubicaciones

81
Formatos de Importacin

82
Anlisis de Correlacin

83
SFRA Ejemplos de Aplicacin

84
Ejemplo Comparacin basada en
Tiempo

Transformador elevador monofsico, 400 kV


Mediciones SFRA antes y despus de mantenimiento
programado
El transformador se supona estar en buenas
condiciones y listo para entrar en operacin

85
Ejemplo Comparacin basada en Tiempo

DL/T911-2004 indica Distorsin Obvia (falta conexin a tierra del ncleo)

86
Ejemplo Comparacin basada en Tiempo (reparado)

DL/T911-2004 indica condicin Normal (conexin a tierra del ncl eo


reparada)
87
Comparacin de Unidades Gemelas

Parmetros que Identifican Unidades Gemelas:


Fabricante
Especificaciones Tcnicas Originales
No reparaciones o renovaciones
Ao de Produccin o +/-1 ao para unidades grandes
La unidad es parte de una serie de ordenes

88
Comparacin de Unidades Gemelas
- Ejemplo

Tres unidades de 159 MVA, 144 KV monofsicas


fabricadas en 1960
Salen fuera de servicio para mantenimiento/reparacin
luego de una alarma de alta temperatura del DGA
Unidades idnticas
Las pruebas de Corto Circuito indicaban alta
resistencia en una unidad (confirmado por medicin de
resistencia de devanados)

89
Comparacin de Unidades Gemelas 3x HV [open]

90
Comparacin de Unidades Gemelas 3x HV [short]

91
Comparacin de Unidades Gemelas 3x LV [open]

92
Comparacin en Base a Diseo

Los defectos mecnicos en los devanados del


transformador usualmente generan desplazamientos
asimtricos
Comparando resultados FRA de columnas probadas por
separado puede ser un mtodo apropiado para asesorar la
condicin mecnica
Dependencia del tipo y tamao del transformador, el rango
de frecuencia para comparaciones basadas en diseo va
hasta 1 MHz aproximadamente

93
Comparacin en Base a Diseo- Ejemplo

40 MVA, 114/15 kV, fabricado en 2006


Sale de servicio para quedar como reserva
Se desconocen fallas
No existe referencia de mediciones FRA de
fabrica
La prueba SFRA, comparando fases
simtricas result OK
Los resultados pueden usarse como referencia
para futuras mediciones

94
Comparacin en Base a Diseo HV [open]

95
Comparacin en Base a Diseo HV [short]

96
Comparacin en Base a Diseo LV [open]

97
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla

Transformador de potencia, 25MVA, 55/23kV,


fabricado en 1985
Por error, el transformador fue energizado con
el lado de BT aterrizado
Al energizar nuevamente el transformador,
opera el interruptor (opera la proteccin del
transformador!)
Se decide entonces realizar una prueba de
diagnostico

98
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla
10 100 1000 10000 100000 1000000
0

-10

-20
Response (dBs)

-30

-40

-50

-60

-70

-80
Fre que ncy (Hz)

AT-0, BT abierto
Fases A y C OK, desviacin pronunciada en la fase B
(espira en corto?)

99
Comparacin en Base a Diseo
Luego de una posible Falla
10 100 1000 10000 100000 1000000
0

-10

-20
Response (dBs)

-30

-40

-50

-60
Fre que ncy (Hz)

AT-0 (BT corto circuito)


Fases A y C OK, desviacin en la fase B

100
Y como se vea la columna intermedia?

Columna del ncleo

Casquillo de aislamiento

Bobina BT

101
Anlisis de la Respuesta de Barrido de
Frecuencia

Referencias Tcnicas

102
SFRA Guas y Recomendaciones

Frequency Response Analysis on Winding Deformation of


Power Transformers, DL/T 911-2004, The Electric Power
Industry Standard of Peoples Republic of China
Mechanical-Condition Assessment of Transformer Windings
Using Frequency Response Analysis (FRA), CIGRE report
342, 2008
IEEE PC57.149/D8 Draft Trial-Use Guide for the
Application and Interpretation of Frequency Response
Analysis for Oil Immersed Transformers, 2009 (Draft)
Internal standards by transformer manufacturers, e.g. ABB
FRA Standard v.5

103
Por que se requiere al menos -100 dB...

Westinghouse 40 MVA, Dyn1, 115/14 kV, HV [open]

104
Comparacin del rango de medicin

-100 dB medicin
(CIGRE estndar)
Negro FRAX-101
Rojo Otra marca SFRA

Medicin de ruido interno (abierto)


Verde FRAX-101
Azul Otra marca SFRA

105
Verificacin del Equipo

Verificacin del equipo, cables inclusive


Medicin con terminales abiertos (abrazadera) debe dar una
respuesta cercana al piso de ruido
Medicin con los terminales en corto debe dar una respuesta
cercana a 0 dB
Modulo de verificacin externa con respuesta conocida (FTB-101)

Calibracin
FRAX: Mnimo cada 3 aos

106
Prueba de Integridad del Sistema

Un aparato de verificacin con una


respuesta de barrido de frecuencia
conocida se recomienda en la publicacin
de CIGRE y otras referencias tcnicas
para verificar el funcionamiento optimo de
los equipos antes de la prueba.

107
Conclusiones

SFRA es una metodologa establecida para detectar


cambios electromecnicos en transformadores de
potencia
Obtener curvas de referencia en unidades criticas para la
operacin es una inversin!

108
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