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Ing. Naval
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ndice
Introduccin..3
Objetivos4
Marco terico5
Procedimientos.8
Equipos y materiales...9
Post-Laboratorio.10
Concusiones...16
Bibliografa..17
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INTRODUCCIN
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OBJETIVO GENERAL
OBJETIVO ESPECIFICO
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MARCO TEORICO
Anlisis metalogrfico:
Corte metalogrfico:
Cortar la muestra con una sierra metalogrfica: es un equipo capaz de cortar
con un disco especial de corte por abrasin, mientras suministra un gran caudal de
refrigerante, evitando as el sobrecalentamiento de la muestra. De este modo, no se
alteran las condiciones micro-estructurales de la misma.
Incluido metalogrfico:
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El proceso de embuticin es relativamente rpido. No es un proceso
recomendado en caso de requerimientos de muchas muestras al cabo del da.
Tampoco se recomienda utilizar este mtodo para aquellas piezas que sean frgiles
o sensibles al calor.
Pulido metalogrfico:
Ataque qumico:
Hay una enormidad de ataques qumicos, para diferentes tipos de
metales y situaciones. En general, el ataque es hecho por inmersin o
fregado con algodn embebido en el lquido escogido por la regin a ser
observada, durante algunos segundos hasta que la estructura o defecto sea
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revelada. Uno de los ms usados es el nital, (cido ntrico y alcohol), para la
gran mayora de los metales ferrosos. Una gua de los ataques qumicos
utilizados para revelar las fases y microconstituyentes de metales y
aleaciones se pueden ver en la norma ASTM E407 - 07 Standard Practice
for Microetching Metals and Alloys.
Microscopio:
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PROCEDIMIENTO
Pasar la probeta por la lijadora manual con grano de 220, 320, 400 y
600, teniendo en cuenta que debe girar la probeta 90 cada vez que
cambie de lija.
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MATERIALES Y EQUIPOS
NITAL al 2%
Algodn
Microscopio Metalogrfico
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POSTLABORATORIO
1 - Por qu debe girarse la muestra 90 cada vez que se pasa de una lija a otra de
menor granulometra?
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4 - Enumera las etapas sucesivas del proceso a seguir para determinar el tamao
de grano de una aleacin:
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Pulido fino: El tiempo utilizado y el xito del pulido fino dependen en mucho
del cuidado puesto durante los pasos de pulido previo. La ltima
aproximacin a una superficie plana libre de ralladuras se obtiene mediante
una rueda giratoria hmeda cubierta con un pao especial cargado con
partculas abrasivas cuidadosamente seleccionadas en su tamao. Existe
gran posibilidad de abrasivos para efectuar el ltimo pulido. En tanto que
muchos harn un trabajo satisfactorio parece haber preferencia por la forma
gama del xido de aluminio para pulir materiales ferrosos y de los basados
en cobre, y xido de serio para pulir aluminio, magnesio y sus aleaciones.
Otros abrasivos para pulido final que se emplean a menudo son la pasta de
diamante, xido de cromo y xido de magnesio. La seleccin de un pao
para pulir depende del material que vaya a pulirse y el propsito del estudio
metalogrfico. Se pueden encontrar paos de lanilla o pelillo variable, desde
aquellos que no tienen pelillo (como la seda) hasta aquellos de pelillo
intermedio (como pao de ancho, pao de billar y lonilla) adems de aquellos
de pelillo profundo (como el terciopelo). Tambin se pueden encontrar paos
sintticos para pulir con fines de pulido general, de los cuales el gamal y el
micro pao son los que se utilizan ms ampliamente. Una muestra pulida en
forma de cuadro mostrar nicamente las inclusiones no metlicas; adems,
estar libre de ralladuras.
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Observacin al microscopio: Algunos microscopios t tienen un retculo y una
escala micromtrica para medir la imagen aumentada. Otro retculo que se
utiliza contiene los diferentes tamaos de grano a aumentos de 100X y se
utiliza para comparar o medir el tamao de grano relativo. Los filtros y
polarizadores se utilizan en la iluminacin o el sistema ptico para reducir el
brillo y mejorar la definicin de las estructuras de grano. En poder de aumento
del microscopio puede determinarse si se multiplica el poder del lente objetivo
por el del ocular. Por tanto, un lente objetivo de 40X con un ocular de 12.5X
agrandara la imagen hasta 500X (500 dimetros).
AN = n x sen a
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6 - Qu condiciones deben cumplir las huellas de microdureza para que el valor
obtenido pueda considerarse atribuible a una sola fase? Es conveniente la
realizacin de varios ensayos?
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muestra cristalina comparando las posiciones e intensidades de los picos de su
difractograma con las reflexiones caractersticas de fases puras, medidas
previamente y almacenadas normalmente en bases de datos.
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CONCLUSIONES
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BIBLIOGRAFIA
http://juliocorrea.wordpress.com/2007/08/18/metalografia-aceros-fundiciones-
inoxidables/
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