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Mini-Curso
Fabricação e Caracterização de
Nanoestruturas
Por:
Antônio J. Ramirez
Laboratório Nacional de Luz Síncrotron
2006/3-1
z Introdução
Conteúdo z Definições
z Ótica Eletrônica
z Fontes de elétrons
z Lentes magnéticas
z Aberrações
z Interação Elétron Matéria
z Sinais
z Dano na amostra
z Microscopia Eletrônica de Transmissão
(TEM)
z Configuração do equipamento
z Microscopia de transmissão por varredura
z Difração de elétrons
z Tipos de imagem
z Técnicas de microscopia convencional
z Aplicações
z Preparação de Amostras
z Microscopia de alta resolução – contraste de
fase
z Espectroscopia de Raios –X Dispersiva em
Energia (EDS)
z Espectroscopia de Elétrons (EELS)
2006/3-2
Contraste
2006/3-3
Espalhamento Elástico
(Predominantemente Incoerente)
Importante para:
•Amorfos
•Polímeros
•Amostras Biológicas
2006/3-8
Caminho Livre
Médio - TEM
2006/3-9
Partículas de Látex
Microscopia Eletrônica de Transmissão Antônio J. Ramirez
Contraste de Massa –
Espessura TEM
Sombreamento Melhorar:
< abertura
Tingimento < kV
Polímero Tingido
2006/3-10
Contraste de
Massa –
Espessura TEM
STEM
TEM
Pior resolução
“Melhor” contraste
Mais ruído (depende do canhão de elétrons)
Melhor para amostras mais grossas (não tem
aberração cromática) 2006/3-12
2006/3-13
Contraste de Difração
Limitado em STEM
2006/3-14
Contraste Z
>> ângulos
Não contraste de difração (>50 mrad)
Não em two beam (perto do eixo de
zona)
3o
Não esfriar (> espalhamento coerente
HOLZ )
2006/3-15
2006/3-17
TEM HAADF
SrTiO3
2006/3-18
Contraste de Fase
Diferenças de fase entre os feixes espalhados dentro da amostra
2006/3-19
Contraste de Fase
−1
Como um dos faixes é O: ∆g =d
−1
∆g
2006/3-20
Contraste de Fase
Si
[111]
2006/3-21
2006/3-22
2006/3-23
Dislocation Analysis
2006/3-24
AuCu3
Antyphase Boundary
2006/3-25
AuCu3
Antyphase Boundary
2006/3-26
2006/3-27
2006/3-28
2006/3-29
Mesmo espaçamento
Mesmo espaçamento
Diferente espaçamento
2006/3-30
CoCa
Crescido em
GaAs
2006/3-31
HRTEM
2006/3-32
HRTEM
2006/3-33
Optic System
2006/3-35
Optic System
z G(u) = F g(r)
z F(u) = F f(r)
z H(u) = F h(r)
Optic System
2006/3-38
Sample
Potencial Projetado
f
f
2006/3-39
2006/3-40
Ideal CTF
T(u)=0 em u1
2006/3-41
2006/3-42
Contrast
Transfer
Function
Sen χ
2006/3-43
Scherzer Defocus
2006/3-44
Virtual Aperture
Minimum contrast
2006/3-45
Passbands
n=0 Scherzer
2006/3-46
Ge
Microscopia Eletrônica de Transmissão Antônio J. Ramirez
Ge
a, b, c: 5.689 Å 2006/3-48
2006/3-49
Si
Microscopia Eletrônica de Transmissão Scherzer
Antônio J. Ramirez
Si [001]
∆f~-70 nm
a, b, c: 5.431 Å 2006/3-50
Alta Resolução
2006/3-54
Tomografia
2006/3-55
Tomografia
2006/3-56
EDS
2006/3-62
Feixe de Elétrons
2006/3-64
EDS
2006/3-65
Resolução do Detector
2006/3-67
2006/3-69
A cos δ
Ω=
S2
δ
A
S
As close as possible
2006/3-70
2006/3-71
EDS Detector
2006/3-72
2006/3-84
EDS Spectrum
2006/3-85
EDS
2006/3-89
Análise do Espectro
2006/3-90
Efeitos do Feixe
X-ray from C2 aperture and spurious electrons
Thin specimen
2006/3-91
Epalhamento na Amostra
Coherent Bemsstrahlung
ν
β=
Electron velocity
Solution:
Baixo tilt <10o
Thin Sample
Colimador
Adequate Sample Holder 2006/3-93
Epalhamento no Detector
2006/3-94
Peak/Background
2006/3-95
Análise Quantitativa
2006/3-96
Análise Quantitativa
Z
F
2006/3-97
Cliff-Lorimer
CA I
= k AB A
CB IB Erro Relativo:
nN1/ 2
C A + CB = 100% N
100%
CB I
= kBC A n= 1, 67%
CC IC 2, 95%
3, 99,7%
C A + CB + CC = 100%
2006/3-98
2006/3-99
k AB * = K AB ( ACF)
2006/3-100
NiO-MgO
Corrected Mg K line by Ni
2006/3-101
EELS
2006/3-102
Feixe de Elétrons
2006/3-103
Perda de Energia
2006/3-104
z EELS
z Distribuição de perdas de energias
z Identificação de fases e composição
z Seleção de perda de energia para contraste
z Elástico (sem cromaticidade)
z Inelástico (composição)
2006/3-105
Espectro EELS
2006/3-106
Imagem Filtrada
Imagem Filtrada
Difração Filtrada
2006/3-109
Estrutura Fina
2006/3-110
Espectrômetro
2006/3-111
EELS
Post-Column
Informações no Espectro
EELS
Ni
O 2006/3-115
Espectrômetro
Imagem filtrada
Imagem de Core-loss
Imagem Filtrada
2006/3-120
Modo Espectro
Offset do Espectro
Espessura da Amostra
Modelamento do Background
EELS
Extração do Sinal
Spectrum Image
Filtered Image
Electron Holography
2006/3-129
Experimental Setup
2006/3-130
Reference Hologram
Amplitude
Hologram Analysis
Sample Phase
Cos (2Phase)
FeCr disks
[M. Hytch, 2005]
Cos (Phase)
2006/3-133