Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

El AFM fue inventado en el 1986 por Binnig, Quate y Gerber. Su principio de funcionamiento está basado en la
ley de Hook: F= -kx

El AFM es una técnica de medida superficial el cual consiste en la interacción de una punta con la superficie de
la muestra, proporcionando imágenes tridimensionales de superficies con alta resolución en tiempo real. Usa
una micropalanca flexible con una punta muy afilada con una curvatura de nm de diámetro, con es posible medir
la fuerza de interacción entre la punta y la muestra a través de la flexión de dicha palanca, es capaz de detectar
fuerzas del orden de pN, también cuenta con un sistema de deflexión de haz láser con el que es posible medir
flexiones de la micropalanca en el rango de 0.1 Angstrom a unos pocos micrómetros.

La micropalanca que se encuentra en cantiléver con la punta adjunta, la cual puede variar en tamaño que van de
los 20 a 60 nm de acuerdo a la aplicación, constituyen la sonda que será la encargada de interactuar con la
muestra, y por encima de ésta, se encuentra la fuente de rayo láser que apunta hacia la parte trasera de la
micropalanca. El rayo láser reflejado es detectado por un fotodiodo seccionado, generalmente se usa un diodo
de cuatro cuadrantes para detectar los movimientos de flexión y torsión de la micropalanca, si la micropalanca
está en equilibrio el punto láser se ajusta para que las secciones superiores e inferiores proporcionen la misma
intensidad; si la micropalanca está doblada hacia arriba o hacia abajo, el punto láser y la señal de diferencia
entre la sección superior e inferior es una media de la flexión. La información obtenida por los fotodiodos es
amplificada y comparada con una referencia, la cual determina el error de la posición, el cual será procesado y
genera información correcta sobre la superficie de una muestra dentro de la computadora.

El sensor piezoeléctrico en el AFM presenta una característica muy importante , que es el dimorfismo. Este
dispositivo es utilizado para obtener la cercanía apropiada de la muestra hasta la punta, esto es debido al
sistema de retroalimentación del sensor a la computadora. Es un sistema de seguridad para no dañar el
cantiléver, y obtener una cercanía de la punta y la muestra en donde pueden interactuar las fuerzas de Van der
Waals.
El escáner está conectado a un sistema de retroalimentación y responderá con movimientos en los ejes x,y,z.
Los movimientos en los ejes x,y corresponden a movimientos a lo largo del área superficial de la muestra sobre
la cual la sonda entra en contacto. El movimiento en el eje z, responde al sistema de retroalimentación según el
modo de toma de las imágenes.

El funcionamiento del AFM se divide en dos grupos: modos de contacto continuo y modos dinámicos.

Modo de contacto
Es el diseño experimental más simple y fue el primero utilizado. En este modo la punta de la sonda se encuentra
en contacto perpetuo con la muestra por lo que también es llamado modo estático. Durante la toma de
imágenes en modo de contacto la variable control es la deflexión de la micropalanca y se mantiene constante
por medio de un circuito de retroalimentación.
Una de las aplicaciones más importantes en la actualidad de este tipo de método es en el estudio de la
conductividad eléctrica de muestras.

Métodos dinámicos

Como intento de esquivar los problemas intrínsecos al modo de contacto, poco tiempo después de la invención
del AFM fue propuesta la idea de oscilar la micropalanca sobre la muestra, con el objetivo de reducir la
interacción entre la sonda y la muestra.

Método de contacto intermitente o modulación de amplitud (AM-AFM)

Comúnmente conocido como ”tapping mode”, es el método más básico de los métodos dinámicos. En este
método se hace vibrar la micropalanca con amplitudes “grandes”, en el rango de 5 y 200 nm. Lo único que
controla es la amplitud y debe mantenerse a un valor preestablecido (setpoint).
Una de las aplicaciones de AM-AFM ha sido obtener imágenes de moléculas de ADN, anticuerpos, membranas
proteínicas y de moléculas proteínicas individuales.

¿Qué es el tunelamiento? Es un fenómeno que se lleva a cabo a escalas nanométricas, a distancias de décimas
de nanómetros dos metales pueden conducir una pequeña corriente eléctrica sin tocarse, los electrones pueden
atravesar capas delgadas de un aislante, como puede ser el aire. Si la distancia entre estos dos materiales
conductores disminuye, el flujo de electrones aumenta.

¿Qué dispositivos industriales o de uso diario pueden usar el tunelamiento electrónico?

Galvómetro de alta precisión: Es un dispositivo que se usa para medir y detectar corriente eléctrica, tiene como
principio de funcionamiento el efecto Josephson, el cual consiste en el paso de electrones mediante efecto túnel
entre dos superconductores.

Diodo túnel o diodo Esaki: es un diodo semiconductor pn y tienen un dopaje mucho mayor a los diodos
comunes, en un intervalo específico de voltaje en polarización directa tiene una resistencia negativa, cuando
ésto pasa la corriente disminuye al aumentar el voltaje. Los diodos Esaki, se usan en teléfonos y computadoras,
led azul, circuitos de automóviles.

¿De qué nos sirve describir la morfología de sistemas nanométricos? Para describir las propiedades del sistema,
ya que de acuerdo a la forma, pueden variar las propiedades ópticas, temperatura, color, cargas superficiales,
etc. y así poder manipular y fabricar nanoestructuras de acuerdo a la aplicación que se les desea dar, por
ejemplo si se desea la fabricación de nanoestructuras monodispersas con propiedades uniformes.

http://scifunam.fisica.unam.mx/mir/copit/TS0011ES/Noguez.pdf
https://nanotecnologia.fundaciontelefonica.com/2016/02/08/pero-como-conseguimos-el-efecto-tunel-y-de-que-
nos-sirveii/

http://www.revista-nanociencia.ece.buap.mx/10nr1/10Final.pdf
http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/volumenes/numero-28/ART-2-pags-14-23.pdf