Índice

Resumen............................................................................................................................................. 2
Introducción ....................................................................................................................................... 2
Antecedentes ..................................................................................................................................... 2
Conclusiones ..................................................................................................................................... 5
Bibliografía .......................................................................................... Error! Bookmark not defined.
Resumen
Desde su invención el microscopio de fuerza atómica (AFM) se ha convertido en una herramienta
básica en el estudio de la materia a micro y nano escala. No utiliza ondas electromagnéticas ni haces
de partículas, está limitado a muestras conductivas. Se puede utilizar en condiciones ambientales en
aire o líquidos. En sus inicios fue utilizado en contacto permanente con la muestra, lo cual impulso
inconvenientes como el desgaste de lo punta y el maltrato de la muestra. El propósito de este trabajo
es dar a conocer cómo funciona y algunas de las aplicaciones del Microscopio de Fuerza Atómica.

Introducción
El microscopio de fuerza atómica es un instrumento mecano-óptico que forma imágenes de las
superficies utilizando una sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploración
línea por línea, es decir escanea la muestra en función de la posición generando una imagen. Esta
técnica nos permite obtener imágenes topográficas en 3D, hacer mediciones del orden de los nm,
detectar fuerzas de nanoNewton, hacer mediciones de visco-elasticidad y dureza de la muestra, entre
otras.

Antecedentes
Desde su aparición en los 80’s, el microscopio de fuerza atómica, ha sido un equipo importante para
la elucidación de la microestructura de materiales. Fue inventado por Binning y colaboradores en
1986.
Basado en la interacción local entre la punta y la superficie de la muestra, proporciona imágenes
tridimensionales de superficies con alta resolución espacial en tiempo real. El AFM es utilizado en la
caracterización de materiales para determinar sus propiedades físicas.
El principio de funcionamiento del AFM es sumamente sencillo. Consta de un resorte con una
constante elástica conocida es comprimido por una fuerza arbitraria de magnitud F. La compresión z
del resorte (que tiene una Constante Elástica kz) es una medida directa de la fuerza ejercida, la cual
en el régimen de deformación elástica lineal obedece la ley de Hooke:

𝐹 = 𝑘𝑧 Δ𝑧
El resorte utilizado es una micropalanca flexible que típicamente posee una rigidez de 0.01 N7m a 50
N/m. Si una punta muy afilada (con una curvatura de unos pocos nanómetros de diámetro) se adjunta
a una micropalanca, es posible medir la fuerza de interacción entre la punta y la muestra a través de
la flexión de dicha palanca. En consecuencia, la detección precisa de la flexión de la micropalanca es
la característica clave de un AFM.
Los AFM contemporáneos cuentan con un sistema de deflexión de haz de laser con el que es posible
medir flexiones de la micropalanca en el rango 0.1 Angtrom. Esto responde a una sensibilidad de
fuerza de 10-13 N a 10-5 N.
Su funcionamiento se lleva a cabo de la siguiente manera:
La micropalanca con la punta (tip) adjunta constituyen la sonda que será la encargada de interactuar
con la muestra. Por encima de la sonda se encuentra la fuente de rayo láser que apunta hacia la parte
trasera de la micropalanca. El rayo láser reflejado es detectado por un fotodiodo seccionado
(usualmente se utiliza un diodo de cuatro cuadrantes para detectar los movimientos de flexión y torsión
en la micropalanca). Cuando la micropalanca está en equilibrio el punto laser reflejado se ajusta para
que las secciones superiores e inferiores proporcionen la misma intensidad.
Si la micropalanca se dobla hacia arriba o hacia abajo, el punto laser y la señal de diferencia entre la
sección superior e inferior es una medida de flexión.
El escáner está conectado a un sistema de retroalimentación y responderá a los movimientos en los
ejes “x,y,z”. Los movimientos en los ejes “x,y” del escáner corresponden a movimientos a lo largo del
área superficial de la muestra sobre la cual la sonda tiene contacto. El movimiento en el eje z…
Modo de contacto: Fue el primer método utilizado. En este modo la punta de la sonda se encuentra
en contacto con la muestra por lo que también es llamado modo estático.
La punta se une al final del cantiléver con una baja constante de resorte, menor que la constante de
resorte efectiva que mantienen los átomos de la muestra. Conforme la punta barre la superficie, la
fuerza de contacto origina la flexión del cantiléver de modo que este se adapta a la superficie
topográfica de la muestra.
Como resultado, la fuerza Van der Waals se equilibra con cualquier otra fuerza que intente mantener
juntos a los átomos. Por lo tanto, cuando el cantiléver empuja la punta contra la muestra, este se
flexiona forzando a los átomos de la punta y la muestra a permanecer juntos.

 Ventajas:
Amplia gama de muestras a analizar; se pueden realizar medidas de elasticidad, se pueden
realizar medidas en situ en una celda liquida o en una celda electroquímica. Tiene
resoluciones verticales y horizontales muy elevadas.
 Desventajas:
La punta está en contacto con la superficie; problemas de destrucción de la punta o
modificación de la superficie, arrastre de partículas, las capas de agua absorbida generan
problemas de fuerzas de capilaridad; carga electrostática de superficie.
Modo de contacto intermitente (Tapping): También llamado contacto intermitente, mide la
topografía de la muestra tocando intermitentemente la superficie de la muestra con una punta
oscilante. Se eliminan las fuerzas laterales y de presión que pueden dañar las muestras blandas y
reducir la resolución de la imagen. Se puede realizar en aire o medio líquido.
En este método se aplica una señal sinusoidal, haciendo oscilar a la punta a su frecuencia de
resonancia
Imagen de fase: Proporciona una imagen contrastada generada por las diferencias de adhesión en
la superficie de la muestra. Se realiza en modo tapping y se mide como el retraso en la fase de
oscilación de la punta medido en el fotodiodo, con respecto al valor de fase de oscilación
proporcionado por el piezo del soporte de la punta.
No contacto: Se basa en la vibración del cantiléver donde una fuerza incidente sirve para cambiar la
amplitud de la frecuencia vibracional y de resonancia del cantiléver vibrante. El cantiléver en este caso
está a 10 nm alejado de la superficie. Debido a que la muestra se encuentra debajo del cantiléver
vibrante, las medidas del AFM en modo no contacto miden el cambio en los parámetros de vibración
de este. La fuerza total entre la punta y la muestra es aproximadamente 10-12 N.

 Ventajas: las muestras no se contaminan ni se dañan por el acto de formación de imágenes.

Es el método más efectivo para las muestras biológicas suaves.
Mide la topografía de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre la superficie de la
muestra y la punta.
Fuerza magnética: Mide el gradiente de fuerza magnética sobre la superficie de la muestra.
Fuerza eléctrica: Mide el gradiente de fuerza eléctrica de la muestra.
Potencial de superficie: Mide el gradiente de campo eléctrico sobre la superficie de la muestra.
Modo lift: Técnica que utiliza dos modos de operación usando la información topográfica para
mantener la punta a una altura constante sobre la superficie.
Modulación de fuerza: Mide la elasticidad/suavidad relativa de la superficie de las muestras.
Fuerza lateral: Mide la fuerza de fricción entre la punta y la superficie de las muestras.
Microscopia de tunelamiento: Mide la topografía de superficie de la muestra utilizando la corriente
de túnelamiento.
Microscopia electroquímica: Mide la estructura de la superficie y las propiedades de los materiales
conductores inmersos en soluciones electroquímicas.
Litografía: Se emplea una punta especial para grabar información sobre la superficie de la muestra.
Partes del microscopio de fuerza atómica:
1. Tubo de barrido o escáner

2. Soporte de la sonda de barrido

3. Fotodetector
4. Sistema de control de fuerza y retroalimentación
5. Control y adquisición de datos

Tipos de punta: silicio, oro

Preparación de muestras:

 Las muestras no deben ser mayores a 1cmX1cm y con un grosor máximo de 3 mm

 Se puede llevar a cabo el análisis sobre muestras sólidas, polvos, películas delgadas,
muestras biológicas, etc. Sin embargo, la muestra debe ser lo más plana y homogénea
posible, sin importar si no es conductora.

Resolución:
El MFA tiene una resolución mínima de 1 nm
Aplicaciones:
Se utiliza para medir fuerzas de interacción (espectroscopia de fuerzas), Fuerzas repulsivas y
atractivas. También se puede utilizar en diferentes campos como la biología, materiales, ciencias
ambientales, etc.

 Método de contacto:
Su aplicación esa reservada a tipos de muestras que no sean susceptibles a la rápida destrucción por
parte de la punta. Algunos tipos de muestras en los que se usa son metales, óxidos de metales, grafito
altamente orientado y muestras inorgánicas rígidas.
Una de sus aplicaciones más importantes en la actualidad, es el estudio de conductividad eléctrica de
muestras. Para ello se utilizan puntas convencionales de silicio pero revestidas con algún otro metal o
aleación de metales como platino-iridio. En este experimento una diferencia de voltaje se aplica a la
muestra y se mide la conductividad llevando la punta en contacto con la muestra para cerrar el circuito.
¿Qué se puede medir con un MFA?
Topografía, fase, conductividad superficial, campos magnéticos, fuerzas laterales, potencial en la
superficie, viscoelasticidad, fuerzas de interacción (su más grande novedad).

Conclusiones
La microscopia de fuerza atómica es una herramienta versátil para conocer y caracterizar mejor los
materiales poliméricos.
Permite emplear diferentes modos de medida tanto topográficos como funcionales, si bien para
polímeros el más utilizado es el modo contacto intermitente (Tapping).
Bibliografía
Giraldo, M. d. (2015). Estudio por microscopia de fuerza atomica del soporte de TIO2 sobre vidrio
para la degradacion de contaminantes por fotcatalisis heterogenea. universidad
tecnologica de pereira, 35-37.

Maldonado, M. e. (2017). LINAN. Obtenido de Laboratorio nacional de investigaciones en

nanociencias y nanotecnologia: www.linan-
ipicyt.mx/Microscopio_de_Fuerza_Atomica.hml

Solares, -E. A. (2014). El mocroscopio de fuerza atomica: Metodos y Aplicaciones. Revista de la

universidad del valle de Guatemala, 14-23.