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En la figura 38.15 se muestra un dibujo esquemático de un aparato simple que se usa para medir
ángulos en un patrón de difracción. Este aparato es un espectrómetro de rejilla de difracción. La luz
a analizar pasa a través de una rendija, y un haz colimado de luz incide sobre la rejilla. La luz
difractada deja la rejilla a ángulos que satisfacen la ecuación 38.7, y se usa un telescopio para ver
la imagen de la rendija. La longitud de onda se puede determinar al medir los ángulos precisos a
los que aparecen las imágenes de la rendija para los diferentes órdenes.
Espectroscopia atómica
Otra aplicación de las rejillas de difracción es la válvula de luz de rejilla (GLV, grating light value),
que puede competir en el futuro cercano de la video proyección con los dispositivos de micro
espejo digital (DMD) explicados en la sección 35.4. Un GLV es un microchip de silicio ajustado con
un arreglo de cintas de nitruro de silicio paralelas recubiertas con una capa delgada de aluminio
(figura 38.16).
Una pequeña porción de una válvula de luz
de rejilla. Las cintas reflectoras alternas
a diferentes niveles actúan como una rejilla
de difracción, que ofrece control de muy
alta rapidez de la dirección de la luz hacia
un dispositivo de despliegue digital.
Cuando se aplica un voltaje entre una cinta y el electrodo en el sustrato de silicio, una fuerza
eléctrica jala la cinta hacia abajo, más cerca del sustrato. Cintas alternas se pueden bajar, mientras
que las que están en medio permanecen en una configuración elevada.
Como resultado, el arreglo de cintas actúa como una rejilla de difracción tal que la interferencia
constructiva para una longitud de onda particular de luz se puede dirigir hacia una pantalla u otro
sistema de despliegue óptico. Al usar tres de tales dispositivos (cada uno para luz roja, azul y
verde), es posible un despliegue a todo color.
Un GLV tiende a ser más simple de fabricar y a tener mayor resolución que un DMD comparables.
Por otra parte, los DMD ya hicieron su entrada en el mercado. Sera interesante observar esta
competencia de tecnología en años futuros.
Holografia
Diagrama de un espectrometro de rejilla de difraccion. El haz colimado incidente en la rejilla se dispersa en sus
diferentes longitudes de onda componentes, con interferencia constructiva para una longitud de onda particular que
se presenta con los angulos ubrillante que satisfacen la ecuacion d sen ubrillante _ ml, donde m _ 0, 1, 2, . . .