Вы находитесь на странице: 1из 24

Cópia não autorizada

C6pia impressa pelo Sistema CENWIN

APRESENTACAO DE DADOS DE CONFIABILIDADE DE 03.075


COMPONENTES (ou (TENS) ELETRON~COS
NBR 9322

Procedimento ABR11986

SuMAFRO

1 Objetivo
2 Normar complementarer
3 Condi@s gerais
4 Requisites para a aprarentaqb de dador de mnfiabilidade
ANEXO A - Identifica#a dos componentpi Is&o 4.11 e condiwier de snsaio (se@ 4.2’
ANEXO B - ApresentacZo dos dados sobra falhas
ANEXO C - Mudanqas nar caracterkticas: resultados obwvados B aprerentaCgo dos dada derivador

, OBJETIVO

Esta Norma fornece urn guia para apresenta$ao de dados necessf~rios para salientar

as carecteristicas de confiabilidade de urn componente

OS dados podem ser aque.1.es raladionados a falhas t taxa de falhas ou podem 5er

sobre mudan$as ou varia@es das taracteristica,

2 NORMWMPLEMENTARES

Na apl Ica@io desta Norma 5 necesssrio consultar:

NBR 5390 - Comoonentes e equipamentos eletricos - Ensaios de ambiente e resis -

tencia mecanica - Generalidades - Metodo de ensaio

NBR 5462 - Confiabilidade - Terminologia

IEC 68 - Basic env;ronmental testing procedure

IEC 362 - Gt’ide for the collection of reliability, avalability and


maintainability data from field performance of electronic itens

IS0 2602 - Statistical interpretation of test results - Estimation of the


mean - Confidence interval

IS0 2854 - Statistical interpretation of data - Techniques of estimation and

tests relating means and variances.

3 CONDlCdES GERAIS

3.1 A complexidade cada vez maior dos equipamentos eletronicos, a grande quanti

dade de componentes (ou Ttens) usados e 05 requisites de confiabilidade apresen -


origem: ABNT - NB.972/86 (Pmjeto 3:08.56.1-6051
CB.3 - Comit6 Brasileiro de Eletricidade
CE.3:56.t - Cornis& de Estudo de Confiabilidade
Ena Norma foi bareada na IEC-319

I
SISTEMA
METROLOGIA,
NACIONAL
NORMALIZACAO
DE I ABNT - ASSOClACAO BRASILEIRA

DE NORMAS TECNXAS
E OUALIDADE INDUSTRIAL
a
I

Palavras-chave: confiabilidade . comrmnentes eletrkdcos NBR 3 NORMA BRASILEIRA REGISTRADA

CDU: 621.38.03:658.56 Todos 0s direitm ranvdos 24 p&inas


Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
2 NER 9322/1986

tam series dificuladades para o projetista de circuitos e equipamentos.

3.2 As informa@es sobre valores nominais, tolersncias, caracteristicas, dime_?


s&s, etc, s% normalmente fornecidas em especifica@es, cataloga e folhas de
dados. Entretanto para ser possivel prever o desempenho operational de equipa -
mento, sao necess5rios dados detalhados sobre as varia@es nas caracteristicas
e sobre as taxas de falhas dos componentes (ou itens) associados.

3.3 Tais informa@& devem estar disponiveis ao projetista dos circuitos e dos
equipamentos para permitir que avalie corretamente a confiabilidade de seus cir
cuitos e unidades. Essas informa$oes devem ser obtidas a partir de ensaios de
confiabilidade dos componentes elet&icos, feitos em laboratorios e apresenta -
dos coma indicados nesta Norma.

3.4 A validade e o valor das informagoes e dada dos ensaios de confiabilidade


dependem dos procedimentos, metodos e durack dos ensaios, tamanhos das alllOS

tras, condiq&s ambientais, etc, sob OS quais tais dada S&I obtidos. Nk dew
ser superestimada a importkcia de associar OS dados de ensaio corn as especifi -
ca@es a aprtir das quais eles foram obtidos.

3.5 Quando se user os dados de ensaios em laboratorio para se prever a confia -


bilidade de equipamentos em campo, sera necessario usar fatores multiplicadores
apropriados sobre as taxas de falhas em laboratorio.

3.6 A apresenta@o de dados de campo 6 descrita na norma IEC 367..


Nota: No restante desta Norma o “so da palavra “component& dew ser entendida
cdmo significando “componente 01.4 i tern”.

4 REQUISITOS PARA A APRESENTACAO DE DADOS DE CONFIABILIDADE

4.1 identificagx% dos componenta ens&&x


As informa@es identificando OS componentes devem estar de acordo corn as normas
brasileiras pertinentes ou outras especifica@es de componentes.
As seguintes informa@es devem ser fornecidas:

a) tipo de componente, por exemplo: transistor epitaxial planar de sili -


cio;
b) n;mero da especificask pertinente (corn identificaqao de ediqao e data);
c) codigo (niimero) de tipo e versao, por exemplo: transistores que diferem
pelo valor da tens& maxima;
d) informa@zs pertinentes sobre valores nominais, tolerancias e caracte -
risticas, por exemplo: se estiverem relacionados ensaios de estocagem,
dever-se-& indicar os limites da temperatura de estocagem;
e) fabricate e local de fabricasao;
f) data de fabrica@o ou ntimero do late; se esta informaG& n& estiver
disponivel, indicar a data de recebimento;
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 3

No ta : Estas referkcias devem permitir o acesso a informa@es mais deta


-
lhadas.

g) tipo de prcduqao, por exemplo: produg& em serie, amostras de desenvolvi -


mento, etc;

h) indicar se os componentes foram submetidos aos ensaios normais de prods


C$J ou a processo de sele$k. Devem ser forneceidos OS detalhes do pro-

cesso de seleqk;

i) metodos de retirada de amostras, por exemplo: retiradas de 10 itens por

semana durante urn period0 de 10 semanas ou 100 itens retirados aleatoria


-
mente de urn late de 10.000, etc.

Sempre que possivel, a apresentagao destes dados deve estar de acordo corn o Ane-
xo A.

4.2 Condi&es de ensaio


As condiG&s a serem usadas devem ser aquelas prescritas pelas normas brasilei

ras correspondentes aos ensaios listados na NBR 5390 ou outras especifica@es de

componentes.
As seguintes inform@es devem ser fornecidas:

a) quem obteve os resultados, par exemplo: departamento de “Garantia de qua-

1 idade” do fabricante;

b) descrigk das condi@es de ensaio, por exemplo:

- condi@es el;tricas, meckicas e ambientais;

- ciclo de trabalho coperaG%), etc;


As condi@es de ensaio podem ser identificadas por referkcia 2 especifi
-
cacao de ensaio aplicavel ao componente;

c) quantidade de componentes em ensaio. Quando urn tipo de componente for fa-

bricado em varies valores, por exemplo: resistores, informar:

- valores ensaiados e

- quantidade dd cada valor;

d) descriFk das caracteristicas medidas e as condi@es de medida;

e) descri& do m6todo usado para a medida nos cases em que a especificaS&

permite metodos alternatives;

f) a data do comeso do ensaio, a sua duragao e OS instantes nos quais as me


-
didas forma feitas;

g) se apl icavel, o tempo entre a parada do ensaio e o come~o das medidas e

as condi@es durante este tempo (par exemplo: tens&, temperatura).

Nota: A dura$k do ensaio deve ser expressa por urn nGmero, apropriado 5s cir -

cunstkcias, selecionado de uma das duas tabelas dadas a seguir. Quando a

dura$& 6 expressa em horas, qualquer uma das tabelas pode ser usada.
Quando a dura@% & expressa em ciclos, a Tabela 1 deve ser usada. Quando

“ma durasao de ensaio n&~ prevista nas Tabelas 1 ou 2 e especificada em


Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
4 NBR 9322/1986

urn procedimento padrk de ensaio (par exemplo, na norma IEC 68), deve ser usada
aquela duraGao especifica de ensaio.

TABELA 1 - Duraq%o em horar ou ciclor

1 10.000
2 20.000

5 50.000
10 100.000
20 200.000

50 500.000
100 1.000.000
200 2.000.000
500 5.000.000
1000 10.000.000
2000 20.000.000
5000 50.000.000
100.000.000

TABELA 2 - Dura~o em hors

8
pi6
24
48
96
168
336
672
(ver nota a)

Notas: a) para valores acima de 672h., usar a Tabela 1;


b) podem ser especificadas tolersncias para as duragoes;
c) tanto quanta possivel a apresenta$ao destes dados deve estar de acor -
corn o Anexo A.
Cópia não autorizada

C6pia impressa pelo Sistema CENWIN


NBR 9322/1986 5

4.3 Da&s sobre fathas


4.3.1 Requisites gerais

As seguintes informa@ dtvem ser fornecidas:

a) a quantidade de falhas observadas classificadas por condi$es de en-


saio e tipos, por exemplo: modes de falhas e tolersncias excedidas
(ver 4.3.2.1);
b) OS instantes nos quais as falhas ocorceram ou foram verificadas;
c) eventos especiais durante o,ensaio que possam ter afetado os resul ta-
dos ;
d) indica$es do mecanismo de falha, se conhecido;
e) se alguns dados de ensaios tiverem sido desprezados, esses dados e a>
razzes pelas quais eles nao foram apresentados devem ser mostrados se-
paradamente.

4.3.2 Requisitos adiciaais

4.3.2.1 Crit&io de fathas

OS crit6rios de falhas para as caracteristicas (tanto para as falhas por degra -


dagao quanta para falhas catastt%ficas), Go normalmente definidos pelos requi -
sites dados pela especifica@o indicada no relatcrio de ensaios.
Se os criterios de falhas constarem da especific$ao indicada, eles deverao ser
preestabelecidos.

4.3.2.2 Taxa de faZhas que pode ser cmsideradas constmte


Deve ser indicado o tempo de ensaio dos componentes durante o qua1 a taxa de fa
lhas 6 considerada constante.

4.3.2.3 Taxa de falhas que niio pode ser considerada cmstante

0 tempo total de ensaio deve ser dividido em certo numero de interval0 e OS t-5
sultados de cada urn deles, avaliados separadamente.
OS intervalos de tempo necesssrios, que deverzo ser claramente definidos e o nfi-
met-o de falhas que ocorre durante cada urn deles, set-20 fornecidos.
Se OS resultados puderem ser aproximados satisfatoriamente por uma funsao mate-
matica, poders ser titil apresentar essa fun@o, bem corn0 o interval0 de tempo
a0 qua1 ela 6 aplickel.

4.3.2.4 Inftu&cia da soZicitag&s

Coma as taxas de fal;has 550 dependentes do tipo e da intensidade das solicita-


@es, todos OS dados sobre as mesmas devem ser apresentados corn indica$ao dos
niveis de solicitaFao aplicado. Al&n disso, 6 importante conhecer a correlacao
entre a taxa de falhas e as solicita@%s (temperatura, potgncia, vibra@es,etc).
Portanto, OS valores obtidos corn difernetes niveis de solicita@o devem ser for -
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
6 NBR 9X2/1996

necidos separadamente.

4.3.3 Apresenta+ dos dados


para a apresentagao de informa@ss, tanto sobre falhas catastroficas (ver
NBR 5462 coma sobre falhas por degradagk, as seguintes regras devem ser obser -

vadas :

a) as taxas de falhas de componentes que falharam na amostra ensaiada de


vem ser fornecidas preferencialemnte em termos dos intervalos de en
saio, por exemplo: 4 x 10T6/h em 2000 h, em vez de somente a taxa ,de
falhas, por exemplo: 4 x 10w6/h. Qualquer mudanga na taxa de fal has
que tenha sido observada durante o interval0 deve tambem ser assinala -
da;
b) 0 limite de confianga superior ( e o inferior, quando apropriado) de
ve ser fornecido. Oeve-se dar prefer8nci.a aos niveis de confianga de
60% e 90 %. Oeve ser indicado se a taxa de falhas e observada, estima
da ou extrapolada. Se for extrapolada, devem ser fornecidos OS fat0 _
res usados para a extrapolagk.
A apresentagao destes dados deve estar de acordo corn o Anexo B.

4.4 Dados sobre mudaq?as nas camcteristicas


4.4.1 Requisites gerais
As seguintes informacoes devem ser fornecidas torso parte dos dados de ensaio:

a) dados brutes, torso exemplificado na Tabela 1 do Anexo C;

IJota: 0 numero de componentes ensaiados ou metodo de ensaio pode tornar


impraticavel a apresentacao dos dados acima mencionados.

Neste case a apresentagk deve ser feita conforme a Tabela 2 do


Anexo C.

b) Uma representagk grafica das mudangas de caracteristicas, usando urn


ou mais dos metodos de construcao das Figuras 1, 2 e 3, do Anew C;
c) uma representa+ tabular das mudangas de caracteristicas usando o &-
todo da Tabela 3 do Anexo C;
d) qualquer evento especial durante OS ensaio, que possa ter afetado OS
resultados;
e) se alguns dados de ensaios tiverem sido desprezados, esses dados e as
razoes pelas quais nao foram aproveitados devem ser mostrados separa
damente.

4.4.2 Requisites adicimis


a) se as mudangas puderem ser aproximadas satisfatoriamente por uma fun
$0 matematica, essa fun@ deve ser apresentada juntamente corn o in-
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 7

tervalo de tempo ao qua1 ela 6 aplichel;

b) se a veriasao das caracteristicas depende do tipo e da magnitude da

solicita$o, tais informes devem ser fornecidos corn OS dados.

4.4.3 Apresent&% da dad.oS

Vsrios mgtodos de apresenta@o dos dados podem ser usados:

a) dados brutes;

b) titodos grsficos:

- diagrama de dispersao;

- papel de probabilidade;

- grsfico de percentis;

c) ktodos nu&ricos:

- tabela da distribuiqk de frequencia;

- caracteristicas estatisticas.

A descri$o destas apresent+es 6 dada no Anexo C, COm urn exemplo e uma indica
-
$50 de suas vantagens e desvantagens.

IANEXO A
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
8 NBR 9322/1986
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NER 9322/1986 9

ANExo A - IDENTlFlCAC,&D DOS COMPONENTES (SEC/%0 4.1) E CONDIC6ES DE ENSAIO (SECAO 4.2)

Tipo de componente NO Rela- Data Origem dos resultados (4:2.a)


(4.1 .a) t6rio

Gdigo de tipo e versk (4.1.~: I Fabricante e local de fabricaS: (4.1.e)

Valores nominais, toler%cias t Data de fabrica$o Tipo de prodqao


caracteristicas (4.1.d) (4. I .f) (4.1-g)

Metodo de retirada de amostras (4.1.h)


(4.1.i) ProduGZo normal sim nao
SelesSo sim nZ0
Especificask do componente Detalhes da sele&So:
(4.1.b)
DescriFao da condiqks de ensaio,
Quant idade de component6 e va-
(4.2.b)
lores ensaiados ( 4.2.C)

Data de inicio Dura@o do en-


saio (4.3.3.a) Caracteristicas medidas (4.2.d)

lnstante~ das medidas intermedig i


rias (4.2.f)
Condi@es entre a parada do en- MGtodo de medida (4.2-e)
saio e o inicio das medidas
(4.2.9)

CritGriqs de falha (4.3.2.1)

/ANEXO B
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
10 NBR 9322/1986
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 11

ANEXO B - APRESENTACAO DOS DADOS SOBRE FALHAS

8-l DADOS DE TAXA DE FALHAS

Referkcia Modo I &do I Ii Modo N Total


(I tern)
Critgrio de falha 4.3.2.1

Ncmero acumulado de falhas 4.3.1.a

Taxa de falhas observada 10m6/h 4.3.3.a

Taxa de falhas estimada 10T6/h


4.3.3.b
limite superior de confianga em %

Tempo de val i dade para a taxa de


4.3.3.a
falhas estimada

Informa$ks adicionais 4.3.l.c), d) e e):

B-2 lNFORMACi%O ADICIONAL RECIUERIDA WAND0 A TAXA DE FALHAS NAo PODE SER ASSUMIDA
COMO CDNSTANTE

Tipo de distribqao e estimativa dos par-5-1 Modo I jN.do


Modo I I
II) iModo#p;~
Modo N Total
metros da distribui+
distribuiGkk de faihas (4.3.2.3)
(4.3.2.7)

I I I I

Tempo decorrido NGmero total Falhas acumuladas


em horas em ensaio
: Mode I Modo I I Modo N Total

0(A) ,00(A)

200 100(A)

400 99

600 99

800 99
1000 I 99 I I I I I

(A) Exemp 105

/ ANEXO C
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
12 NBR9322/1986
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 13

ANEXO c - MUDANCAS NAS CARACTER@.TICAS: RESULTADOS OBSERVADOS E


APRESENTACAO DOS DADOS DERIVADOS

C- 1 DADOS BRUTDS

0s dados brutes compreendem, para cada item ensaiado, as medidas de uma caracte -
risticas de componente em pontos seqiienciais de tempo ou de nirmero de operaGoes
ou de ciclos. A Tabela 3 mostra, coma exemplo, o efeito de urn ensaio de vida so-
bre o ganho de 50 transistores planares de silicio. A apresentagk contern as in
forma@es completas de urn ensaio de vida, obtidas atra&s das medidas de cada
componente; 6 a base dos mitodos numericos e grsficos descritivos do comporta
mento das respectivas variagoes. Freqiktemente, as medidas nk s% fornecidas

em forma de tabela, mas costumam ser processadas por conversores analogico-digi -


tais cujas saidas podem ser fitas perfuradas fitas magneticas ou algum out ro
meio que permita o use de computador para a avalia@o numgrica e grafica.
Quando o niimero de itens ensaiados 6 grande, a tabela pode torna-se t&o compli -
cada que nk permita uma visk geral das varia@es das caracteristicas do compo-

nente.
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
14 NBR 9322/1986

TAFJELA 3 - Dada brutes

Ntimero
do Ganho de cada componente nos seguintes tempos:

componen te

Oh 168h 336h 672h lOOOh

68 65 59 63 62
118 98 77 50
59 ;:
2,' 2; 2; 63
6': 64 58 62
85 85 75 83 i:
130 108 92 107 107

9
106

i:
113

l3:
2; 111
69
110
68
10
11
12
74
115 100
72 i:
85
89

;:
88

9':
13 58 52 56 56
14 t: 84
15 73 % 58 2: 2
16 62 56 61
17 fit 61 55 59 2:
18 66
19 :c? 476' 42 472 i;
20 54 52
21 62 51 2 z; z;
22 106 99 85 94 94
23 53 49
24 2: 61 54 z; ;i
25 83 80 80
26 2 4'; 49
27 io' z 83
28 64 54 $ s's'
29 54 ;; 49 51 52
30 112 126 108 125 130
31 101 99 84 94 100
82 77 68 75 75
93 114 94 110 113
107 104 90 101 103
89 87 84 84
104 101 8': 98 99
78 76 78
95 LZ :t 81
56
58 2: z:, E
52 51 47 50
70 63 2; 67
:1 53 49 52
63 54 49 :; 52
125 105 103 102
70 2 64 65
65 2 56 60
60 59 :; 58
53 zi
58 :t 49 :: :i
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 15

c-2 METODOS GRAFICOS

As apresenta@es grificas s.% geralmente mais ilustrativas que uma tabela, Elas
dk, em relance, a id6ia da distribuiqk ou depend&cia no tempo dos resultados
do ensaio e permitem a estimativa dos valores &dios, tipo da distribuigao, bem
coma a extrapolask de uma depend&cia no tempo, corn urn minima de esforso mate-
mztico.

C-2.1 Diagrama de dispersZo (Figura I)

0 21) 40 6U 80 100 17u 14u


tamanho da
Ganho no tempo = oh anwstra = SO

FIGURA 1 - Diagrama de dispersh


Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
16 NBR 9322/1986

c-2. I. 1 vmtagens
a) a identidade do componente 6 mantida. 0 diagrama de dispersk mos-
tra os valores reais de cada componente;
b) resultados adicionais podem ser facilmente acrescentados.

C-2.1.2 Desvantagens

a) o mGtodo 6 apropriado somente para aplicaqao a resultados de “antes


e depois”. Nao pode ser usado satisfatoriamente para mostrar o anda-
rrento de uma variqso continua num interval0 de tempo;
b) s6 6 aplicavel a amostras realmente pequenas. Por exemplo, mesmo
corn esta amostra de 50 transistores, nso foi possivel colocar no
diagrama varies dos resultados;
c) o ktodo ddapenas tima idGia muito grosseira da distribuisao de ca-
racteristicas;
d) o tamanho da amostra tern de ser apresentado separadamente.

c-2.2 Represent&h no papel de probabiZi&de (Figtcra 2)

0
x
17.0 .- xxx
.&xxx 0
po: O O

80.-
X- Canho no tempo= oh

0- Ganho no tempo=1 ooah


60 .-
h?FMxx 00
x x x xx-
oo-
40 .-
00
0

I I
0,Ol 0,l I 5 1u
1u 20
20 30 40 50 60 70 80 30 95 3t 99 39,Y 99,vv

Numero de peps exclu;das da apresentaCk = 0 Porcentagen aculmuiada


Tamanho da ar!cztra = 50

FIGURA 2 - Raprenenta@o no papel de probabilidade


Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 17

c-2.2.1 vmtagens
a) o mgtodo mostra claramente de quanta a distribuigao das caracteristi -
cas se afasta da normalidade e de come ela muda corn o tempo,

Nota: Uma caracterjitica distribuida Segundo a lei de distkibtiigao


normal resultars em uma reta em urn papel de probabilidade da
distribui$ao normal. Uma caracteristica corn uma distribuisao
log-normal pode ser desenhada, de mode similar, em urn we 1
de probabilidade log-normal.
Existem tambern outros tipos de papel de probabilidade que po
-
dem ser usados, desde que apnopriados; por exemplo o papel de
Weibull.
b) pode ser utilizado corn qualquer tamanho de amostra.
OS resultados de amostras muito grandes podem ser convenientemente
desenhados. Na Figura 2, somente metade dos resultados disponiveis
entre o 20’ e o 80’ percentis foram locados, sem perda significativa
da informaG:o. Corn amostras maiores seria necesssrio locar )somen te
uma pequena proporqao dos resultados disponiveis.

C-2.2.2 Desvmtagens
a) perde-se a identidade do componente;
b) nZo podem ser colocados resultados adicionais;
C) o m&todo 6 apropriado somente para apl ica$io a resultados de “antes
e depoi 5”. Tentativas para locar simultaneamente mais de duas digtri
-
bui@es levam usualmente 5 confusao, particularmente se as curvas se
cruzam;
d) o tamanho da amostra deve ser fornecido separadamente.

c-2.2.3 Fo'mdas de aproxima+

a) OS valores dos percentis podem ser obtidos pela colocasao dos va l,o
res das caracteristicas em ordem crescente e, em seguida, +pl icando
a seguinte aproxima@o:

Onde:

P = propor$ao correspondeote ao percentil


n = tamanho da amostra
i = nGmero de ordem;
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
18 NBR 932211986

b) para tamanho de amostra de 20 ou menor, 6 melhor usar a aproxima+

de Bernard, a saber:

p = ,oo ( i-0,3)
( n+0,4)

c-2,3 Grcifico dos percentis (Figura 31

40

20

tl
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 IUOO
Tempo (hoi-as)
Njmero de pqas exclu;das da apresenta& = 3
Tamanho da amostra = 50

FIGURA 3 - Gr$fico dos percentis


Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 19

C-2.3.1 Vmtagens

a) o &todo ~5 plenamente aplicsvel 5 representa+ de variaGL5es conti


nuas durante urn interval0 de tempo.
Nzo esta restrito a resultados de “antes e depois”.
Enquanto transcorre o ensaio de vida de urn componente particular, re-
sultados adicionais obtidos para tempos maiores podem ser prontameC
te acrescentados;
b) 6 aplickel a todos os tamanhos de amostras acima de 10. As : ‘turvas
n50 podem se cruzar. 0 grsfico final apresenta o mesmo grau de : corn
-
plexidade para qualquer tamanho de amostra;
c) a forma da distribuiG5o das caracteristicas poderi, em qualquer ins
tante, ser estimada pelo espagamento relative entre as curvas >dos
percentis. Se necessirio, OS resultados poderzo em urn dado moment0
ser realocados em urn papel de probabilidade, apresentando uma ,das
vantagens do @todo do item C-2.2.
d) pode ser feita uma estimativa da curva que relaciona a percentagem
de falhas ao tempo, para qualquer limite especificado de flahas por
degradagao. Ver C-3.1.1 .d.
e) percentis preferenciais, por exemplo: 5%, lo%, SO%, 90% e 95% podem
ser estabelecidos para todos OS itens, permitindo compara@es;
f) embora as informa@es de percentis sejam usualamente apresen tadas
graficamente, elas tambsm podem ser dadas em forma de tabela.

C-2.3.2 ,Desvmtagens

a) perde-se a identidade do componente;


b) perdem-se OS detalhes fines da distrihuiqao de caracteristicas;
c) nao podem ser facilmente acrescentados OS resultados de amostras adi-
cionais. 0 &todo n& 6 portanto, muito apropriado para representar
ensaios de vida nos quais OS resultados de diferentes amostras sao
continuamente agregados;
d) o tamanho da amOstra tern ser apresentado separadamente.

c-2.3.3 F&muZa de qm~xima~~o

a) a representa$o grsfica dos percentis 5 obtida ordenando-se OS vale -


res da caracteristicas de cada ensaio. Para calcular o valor da orde -
nada que corresponde-a urn dado percentil, utiliza-se a formula de
cZlculo do nfimero de ordem “i”, dada a seguir:

i=-+ P.n - 1
100 2
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN

Onde:

i = nGmero de ordem

P = propor$k correspondente ao percentil

n = tamanho da anwstra

Esta equa$o i o inverse daquela dada no item C-2.2.

Quando "i" nZo for inteiro deve ser feita uma interpola+ linear
entre os valores adjacentes da caracteristica;

b) para tamanhos de amostras ati 20 6 preferivel utilizar o inverse da


aproximagk de Bernard, a saber:

i _ P(n+0,4) + o 3

100

C-3 MCTODOS NUM~RICOS

OS Gtodos modernos de execu$% e registro automatico de medidas e de processa

mento de dados aplicados aos ensaios de grandes quantidades de componentes re


-
querem, necessariarwnte, a aplica@o de mgtodos nu@ricos.
At; que ponto OS resultados finais s& tabelados ou colocados em grzficos depen

ders do objetivo da investiga@io.

C-3.1 Tabelas de distribuip% de fmqihcias grupadas em classes (To&la 4)

-
TABELA 4 - Distribui@o de freqihcias grupadas em classe

Niimero de transitores tendo o ganho compreendido


nas classes especificadas, nos seguintes tempos:
Classes de ganhos

Oh 168h 336h 672h IOOOh

lnferiores a 40 0 0 0 0 0

40 - 53 12 17 24 21 18

I- I-
60 - 79 19 15 13 13 14

80 - 99 9 10 12 10 10

100 - 119 8 7 1 5 6

Superiores a 119 2 1 0 1 I

Total 50 50 SO 50 50
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR 9322/1986 21

c-3.1.1 vmtagens

a) o &todo & plenamente aplicavel 5 apresenta@o de varia@es conti -

nuas durante urn interval0 de tempo.

Nk se limita aos resultados de “antes ti depois”;

b) I? aplicivel a amostras de 10 ou mais itens.


Para grandes amostras, pode z.er vantajoso .exprimir as frequGncia5

sob a forma de percentagem do n?waro total de componentes;

c) OS resultados para urn instante particular podem ser locados em urn

papel de probabilidade, o que proporciona algumas das vantagens do

&todo mostrado na Figura 2;

d) para qualquer limite especificado de falhas por degradask, pode

ser estimada a curva que relaciona corn o tempo a porcentagem de

itens que falharam:

e) OS resultados de amostras adicionais submetidas ao mesmo ensaio de

vida podem ser facilmente acrescentados. Esta 6 uma vantagem i,mpor _

tante sobre o &todo dos percentis;

f) o tamanho da amostra fica evidente.

C-3.1.2 Desvmtagens

a) perde-se a identidade do componente;

b) perdem-se OS detalhes da distribuiqad de caracteristicas;

c) nSo ~5 possivel estabelecer as amplitudes de classes preferenciais


aplicaveis a todas as caracterisiticas e a todos OS componentes.

Neste case, a representaG% gr?ifica dos percentis 6 mais vantajosa

pois se pode fixar facilmente OS percentis preferenciais.

Notas: a) o &todo da distribui$o das freqi%cias grupadas e o &

todo da apresentagao grsfica dos percentis sk basicamen -


te similares. No primeiro ~5 dada a quantidade de WIpg

nentes nas diferentes classes das caracteristicas. No se-

gundo S&J dados OS valor-es das caracteristicas que I imi _

tam diferentes porcentagens de componentes.

Embora OS percentis costumem ser apresentados graficamen

te e as distribuiGGes de freqbincias grupadas o sejam em

tabelas, na prstica seria indiferente war tabelas 0”

grificos para qualquer dos mGtodos. Alternativawnte a


distribuiqk de freq&cias grupadas pode ser apresenta
da coma uma serie de histogramas, As vantagens e desvan

tagens da Tabela da distribui@o de freqkncias grupadas

sk, basicamente similares Squelas dos grificos de Pel


centis.
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
22 NBR 9322/1986

b) o niimero de classes deve estar, preferencialmente, entre 5 e 10.

c-3.2 Cara&erZticas estatisticas (Tabeta 51

TABELA 5 - ApresentagZa numkica dor parSmetros enatkticot

I
Horas de ensaio 0 168 336 672 j 1000

Tamanho de amostras 50 50 5o 50 5o

Valor mGdio do ganho 77,1 73,v 65,4 70,a 71,6(B)

Desvio padGo estimado 21,4 21,4 17,1 21,l 21 ,a(B)

Coeficiente de correla - - 0,933 0,995 0,969 0,998~~)


F50
I I
I I I I
Valor m&dio do quocien (B)
te de variasao relatiT - -4,2 -24,6 -7,8 -6,4
I
"a

Discrepantes (A) 0 0 0 0 1

Falhas catastrsficas 0 0 0 0 0

(A) Qualquer transistor cujo ganho seja menor que 40;

(6) todos OS valores calculados sao baseados em urn tamanho de amostra igual ao

tamanho orig,inal diminuido do nkro de discrepantes;

neste case 50 - 1 = 49.


Em muitos cases e em particular quando se conhece a forma da distribui$Zo de va-

lores (par exemplo: distribuir$o normal), em urn dado instante para cada caracte -
ristica considerada pode ser util indicar as caracteristicas estatisticas das
distribui@es nesses pontos, das quais as mais interessantes Go:

a) a kdia aritktica da amostra, coma estimativa da msdia arI&tica da

popula@o;
"
I x x.
x =-.
"I=1 '

onde xi 6 o valor medido do componente de nkero i da amostra de tamanho n;

b) desvio padrk da amostra corn0 estimativa do desvio padrao da popula~So,

dado par;
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
NBR9322/1986

c) o coeficiente de correla@o entre duas series de medidas feitas em

pontos sequenciais no tempo, dado por:


c (x&,j-1 - Xj-,) (Xi j - Xj)
i=l
P; =
J
(n-l) sj-,. sj

Onde x. ~5 o valor do componente nhsro i no instante j.


l,j
0 use desta fsrmula permite a rela$o entre medidas consecutivas;

d) o quocinete de variasao absoluta;

A.
l,j - 'Lj

'i,O

e) o quociente de variagso relativa;

d. 'i,j - 'i,O
1,J =
'i,O

N&as: a) Se valores discrepantes aparecem na amostra, eles devem ser


excluidos conforme OS critGrios estabelecidos; esses valores
devem ser identificados e se" nimero indicado nos resultados,

OS valores discrepantes devem ser eliminados dos c5lculos fi -

nais das caracteristicas estatisticas;

b) Para interpretar o significado dos resultados, devem ser con

sultados manuais de estatistica ou normas IS0 sobre testes

de significhcia.
As normas IS0 pertinentes s50: IS0 2602 e IS0 2854.

c-3.2.1 vmtagens
a) a variaiao corn o tempo 6 expressa em termos de varias caracteristi -
Cópia não autorizada
C6pia impressa pelo Sistema CENWIN
24 NBR 9322/1986

cas qua permitem uma avalia@ do conjunto;

b) o Mtodo 6 plenemente aplicivel ‘a apresenta@o de varia@es continuas

durante urn interval0 de tempo;

c) G apli&el a qualquer tamanho de amostra;

d) no case de se dar continuidade ao ensaio de vida de uma amostra particu -


lar, os resultados corn tempos maiores podem se acrescentados;

e) 6 mostrada a estabilidade da tendikcia das varia$es nas caracteristi -


cas dos componentes dentro da distribuigao;

f) os resultados tambern podem ser apresentados graficamente;

g) OS valores discrepantes e as falhas catastvjficas S%J indicados separa -

damente.

C-3.2.2 Desvantagens

a) perde-se a identidade do componente;

b) resultados de amostras adicionais n.% podem ser facilmente acrescen -


tados;

c) perdem-se OS detalhes finos da distribui@z da caracteristica;

IMPRESSA NA ABNT - S/%0 PAUL0

Вам также может понравиться