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Procedimiento:
1. Seleccionar un proceso específico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operación del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medición debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la información
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
7. Calcular la media y desviación estándar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso.
Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275
Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos mostrados en la
siguiente tabla:
Marca
Intervalo Frecuencia Frecuencia
de Frecuencia
de clase relativa acumulada
clase
190-209 199.5 6 0.06 0.06
210-229 219.5 7 0.07 0.13
230-249 239.5 13 0.13 0.26
250-269 259.5 32 0.32 0.58
270-289 279.5 24 0.24 0.82
290-309 299.5 11 0.11 0.93
310-329 319.5 4 0.04 0.97
330-349 339.5 3 0.03 1
Histogram of Datos
El histograma es el siguiente:
40
30
Frequency
X 264.19 S = 32.15
Cp
LSE LIE 330 200 .674 < 1.33, el proceso no es hábil.
6S 192.90
Zi
330 264.19 2.046
32.15
Zs
200 264.19 1.996
32.15
menor Z I , Z S 2
C pk 0.66
3 3
Ventajas
1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el
histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es más sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en
intervalos de clase como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la línea de
ajuste
4. Permite identificar la media y la desviación estándar aproximada del proceso. Así
como la fracción defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk.
Procedimiento
Ejemplo 2 . Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, cálculamos la
probabilidad de su posición (Pj)
Pos.
J Xj Pj
1 197 0.025
2 200 0.075
3 215 0.125
4 221 0.175
5 231 0.225
6 242 0.275
7 245 0.325
8 258 0.375
9 265 0.425
10 265 0.475
11 271 0.525
12 275 0.575
13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975
Con ayuda del gráfico podemos obtener la media, la desviación estándar y el porcentaje
de valores que se encuentran fuera de especificaciones.
Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede
predecirse usando una línea sólida como modelo. Por ejemplo, sólo más del 20% de
los datos del proceso serían valores de 225 o inferiores.
Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean 262.9
StDev 38.13
95 N 20
AD 0.262
90
P-Value 0.667
80
70
Percent
60
50
40
30
20
10
1
150 200 250 300 350 400
Xj
Pj
0.84
0.5
Desv. Estándar
Fracción
Defectiva
LIE X Media Xj
Predicción
Tiempo
R S
ó (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2 C4
Donde,
S = Desviación estándar de la población
d2 = Factor que depende del tamaño del subgrupo en la carta de control X - R
C4 = Ídem al anterior para una carta X - S
Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de control.
En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma rangos / (n
-1)
Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de
que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: x = 64.06 , R = 77.3
Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:
x media de medias
R 77.3
33.23
d 2 2.326
El C pk
200 264.06 = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
3 33.23
especificaciones.
1
(X i X )2
S i 1
n 1
4(n 1)
C4
4n 3
S
LT
C4
Pp
LSE LIE
6 LT
donde:
Pp = Índice de desempeño potencial
LSE = límite superior de especificaciones
LIE = límite inferior de especificaciones
LT = desviación estándar estimada a largo plazo
El índice Pp debe ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones
(LIE, LSE)
LSE X
Zs ;
LT
LIE X
ZI
LT
Para calcular el índice de desempeño real del proceso utilizamos la siguiente fórmula:
menor Z I , Z S
Ppk
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser 1 .33.